JP2504827Y2 - 分析用粒子採取装置 - Google Patents
分析用粒子採取装置Info
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- JP2504827Y2 JP2504827Y2 JP1988152603U JP15260388U JP2504827Y2 JP 2504827 Y2 JP2504827 Y2 JP 2504827Y2 JP 1988152603 U JP1988152603 U JP 1988152603U JP 15260388 U JP15260388 U JP 15260388U JP 2504827 Y2 JP2504827 Y2 JP 2504827Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、環境大気などの気体中に浮遊する粒子状物
質の物理的又は化学的性状を分析するための粒子採取装
置に関するものである。
質の物理的又は化学的性状を分析するための粒子採取装
置に関するものである。
(従来技術及び考案が解決しようとする課題) 一般に、気体中に浮遊する粒子状物質の元素や組成の
定性及び定量分析、または濃度を測定する場合、粒子を
含む気体から当該粒子を分離捕集した後、分析装置を用
いて分析を行っている。この捕集方法としては、粒子
の慣性力を利用して衝突板により捕集する慣性法、粒
子を帯電させた上で静電場内において捕集電極板上に捕
集する乾式電気集じん法、ろ紙に捕集するろ過法、
液体中に気体を吹き込み、液体との接触により捕集する
バブリング気法などが知られているが、,,の場
合、捕集した粒子を捕集板やろ紙から分離する操作が必
要であるため、捕集した粒子の組成分析を実時間で行え
ないという問題点があり、またの場合、粒子の捕集率
が低く、連続分析も不可能であるなどの問題点があっ
た。
定性及び定量分析、または濃度を測定する場合、粒子を
含む気体から当該粒子を分離捕集した後、分析装置を用
いて分析を行っている。この捕集方法としては、粒子
の慣性力を利用して衝突板により捕集する慣性法、粒
子を帯電させた上で静電場内において捕集電極板上に捕
集する乾式電気集じん法、ろ紙に捕集するろ過法、
液体中に気体を吹き込み、液体との接触により捕集する
バブリング気法などが知られているが、,,の場
合、捕集した粒子を捕集板やろ紙から分離する操作が必
要であるため、捕集した粒子の組成分析を実時間で行え
ないという問題点があり、またの場合、粒子の捕集率
が低く、連続分析も不可能であるなどの問題点があっ
た。
本考案は、これら従来の問題点に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、気体中の粒子状物質
の実時間での組成分析を可能とし、さらには連続分析も
可能とした分析用粒子採取装置を提供することにある。
であり、その目的とするところは、気体中の粒子状物質
の実時間での組成分析を可能とし、さらには連続分析も
可能とした分析用粒子採取装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本考案に係る分析用粒子採
取装置は、気体の吸入口と排出口を備えた筒体の底部に
水平に置かれた平板状の捕集電極とその上方に位置する
針状の放電電極を設けるとともに、前記捕集電極の表面
に捕集液の均一な液体膜を形成させ、両電極間に静電場
を形成することによって吸引した気体中の帯電粒子を前
記捕集液中に取り込むように構成したものである。
取装置は、気体の吸入口と排出口を備えた筒体の底部に
水平に置かれた平板状の捕集電極とその上方に位置する
針状の放電電極を設けるとともに、前記捕集電極の表面
に捕集液の均一な液体膜を形成させ、両電極間に静電場
を形成することによって吸引した気体中の帯電粒子を前
記捕集液中に取り込むように構成したものである。
そして、捕集液を一定流量で前記捕集電極上に流送し
て均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子を取り込ん
だ捕集液を装置外に排出する連続採取機構を備えた構成
にするか、或いは、前記捕集電極の表面に捕集液を噴霧
又は流下して均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子
を取り込んだ捕集液を装置外に排出する連続採取機構を
備えた構成にすることが好ましい。
て均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子を取り込ん
だ捕集液を装置外に排出する連続採取機構を備えた構成
にするか、或いは、前記捕集電極の表面に捕集液を噴霧
又は流下して均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子
を取り込んだ捕集液を装置外に排出する連続採取機構を
備えた構成にすることが好ましい。
(実施例) 以下、本考案の実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は本考案の一実施例としての分析用粒子採取装
置を示す概略断面図であり、図示の如く気体の吸入口1
と排出口2を備えた筒体3の内部に針状の放電電極4と
平板状の捕集電極5が対向して配置されている。すなわ
ち、筒体3の底部に水平状態で設置した捕集電極5の上
方に位置して放電電極4が配置された状態になってお
り、各電極4,5は直流高圧電源6に接続されて両者の間
で静電場を形成するようになっている。さらに、捕集電
極6の水平な表面を覆うようにして捕集液7を冠水する
ことにより均一な液体膜が形成されている。
置を示す概略断面図であり、図示の如く気体の吸入口1
と排出口2を備えた筒体3の内部に針状の放電電極4と
平板状の捕集電極5が対向して配置されている。すなわ
ち、筒体3の底部に水平状態で設置した捕集電極5の上
方に位置して放電電極4が配置された状態になってお
り、各電極4,5は直流高圧電源6に接続されて両者の間
で静電場を形成するようになっている。さらに、捕集電
極6の水平な表面を覆うようにして捕集液7を冠水する
ことにより均一な液体膜が形成されている。
上記の採取装置において、排出口2に接続する吸引ポ
ンプ(図示せず)により吸入口1から粒子を含む気体を
吸引し、放電電極4と捕集電極5により形成される静電
場内に粒子が入ると、両電極4,5の間で生成された正コ
ロナ放電により粒子が正極に帯電され、その粒子は気流
から逸脱して捕集電極5の表面を覆う捕集液7と接触
し、捕集液7中に取り込まれる。この場合、水平面上に
捕集液7の均一な液体膜を形成するので、少量の捕集液
7でも粒子を取り込むことができる。このように捕集液
7の量を少なくすれば、捕集液7中の粒子の個数濃度を
高めることができる。そして、粒子を捕集した捕集液7
は、筒体3から流出させて取り出され、そのまま化学分
析装置により組成分析用として又は液相の粒径分布測定
装置により粒径分布測定用として供される。
ンプ(図示せず)により吸入口1から粒子を含む気体を
吸引し、放電電極4と捕集電極5により形成される静電
場内に粒子が入ると、両電極4,5の間で生成された正コ
ロナ放電により粒子が正極に帯電され、その粒子は気流
から逸脱して捕集電極5の表面を覆う捕集液7と接触
し、捕集液7中に取り込まれる。この場合、水平面上に
捕集液7の均一な液体膜を形成するので、少量の捕集液
7でも粒子を取り込むことができる。このように捕集液
7の量を少なくすれば、捕集液7中の粒子の個数濃度を
高めることができる。そして、粒子を捕集した捕集液7
は、筒体3から流出させて取り出され、そのまま化学分
析装置により組成分析用として又は液相の粒径分布測定
装置により粒径分布測定用として供される。
第2図に示される実施例では、捕集液7を送液ポンプ
8により一定流量で捕集電極5上に流送して均一な液体
膜を形成させながら、帯電粒子を取り込んだ捕集液7を
排液ポンプ9により同流量で装置外に排出するようにな
っている。このような連続採取機構を備えたものでは、
搬出された捕集液7を容器10,10′・・・と順次一定量
ずつ採取することにより、捕集粒子の時間的変化等の測
定が可能である。なお、図中11は捕集液7の液溜であ
る。
8により一定流量で捕集電極5上に流送して均一な液体
膜を形成させながら、帯電粒子を取り込んだ捕集液7を
排液ポンプ9により同流量で装置外に排出するようにな
っている。このような連続採取機構を備えたものでは、
搬出された捕集液7を容器10,10′・・・と順次一定量
ずつ採取することにより、捕集粒子の時間的変化等の測
定が可能である。なお、図中11は捕集液7の液溜であ
る。
第3図に示される実施例では、図2に示す如き連続採
取機構を備えたものにおいて、排液ポンプ9で排出した
帯電粒子を含む捕集液をそのまま化学分析装置12又は液
相の粒径分布測定装置13に流送するようにしたものであ
り、実時間における粒子の化学組成、又は粒子濃度、粒
径分布等の物理的性状の変動の測定が可能である。
取機構を備えたものにおいて、排液ポンプ9で排出した
帯電粒子を含む捕集液をそのまま化学分析装置12又は液
相の粒径分布測定装置13に流送するようにしたものであ
り、実時間における粒子の化学組成、又は粒子濃度、粒
径分布等の物理的性状の変動の測定が可能である。
第4図に示される実施例は、捕集電極5の上に捕集液
7を噴霧して均一な液体膜を形成するようにした形式の
一例であり、液溜11から送液ポンプ8により一定量で放
電電極4に捕集液7を供給し、捕集液7を連続的に噴霧
して均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子を取り込
んだ捕集液7を排液ポンプ9により同流量で装置外に排
出するようにしたものである。なお、排液ポンプ9を使
用せずに、一定量を冠水させて溢流させる形式で排出す
るようにしてもよい。
7を噴霧して均一な液体膜を形成するようにした形式の
一例であり、液溜11から送液ポンプ8により一定量で放
電電極4に捕集液7を供給し、捕集液7を連続的に噴霧
して均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子を取り込
んだ捕集液7を排液ポンプ9により同流量で装置外に排
出するようにしたものである。なお、排液ポンプ9を使
用せずに、一定量を冠水させて溢流させる形式で排出す
るようにしてもよい。
第5図に示される実施例は、捕集電極5の形状により
捕集液の液体膜の均一化を図ったもので、第5図(ア)
では矩形状の捕集電極5は表面に数条の溝を設けること
により各溝を通って捕集液が均一に流れ出るようにした
ものであり、第5図(イ)では捕集電極5に複数個の孔
に設けることにより各孔から均一に捕集液が流れ出るよ
うにしたものである。
捕集液の液体膜の均一化を図ったもので、第5図(ア)
では矩形状の捕集電極5は表面に数条の溝を設けること
により各溝を通って捕集液が均一に流れ出るようにした
ものであり、第5図(イ)では捕集電極5に複数個の孔
に設けることにより各孔から均一に捕集液が流れ出るよ
うにしたものである。
従来、気体中の粒子に含まれる元素などの組成の分析
において、粒子を採取した後、ただちに分析すること
は、粒子が微小量であることや濃度が低いことなどによ
り不可能であったが、本考案の分析用粒子採取装置と誘
導プラズマ発光分析装置などの超微量元素分析器とを結
合させることにより、粒子数が微量でも濃度が低くても
分析が可能となる。また、連続採取機構を備えさせ、捕
集液を連続的に供給して取り出すように装置を構成する
ことにより、粒子の特定元素についての時間的変動の測
定が可能となるなどの多くの利点がある。
において、粒子を採取した後、ただちに分析すること
は、粒子が微小量であることや濃度が低いことなどによ
り不可能であったが、本考案の分析用粒子採取装置と誘
導プラズマ発光分析装置などの超微量元素分析器とを結
合させることにより、粒子数が微量でも濃度が低くても
分析が可能となる。また、連続採取機構を備えさせ、捕
集液を連続的に供給して取り出すように装置を構成する
ことにより、粒子の特定元素についての時間的変動の測
定が可能となるなどの多くの利点がある。
また、従来、気体中における0.1μm以下の粒子の粒
径分布測定は光散乱法においては不可能であったが、本
考案の粒子採取装置により液体中に不溶性粒子を捕集し
た上で、その粒径分布を測定するならば0.005μmまで
の超微粒子の測定も可能となる。
径分布測定は光散乱法においては不可能であったが、本
考案の粒子採取装置により液体中に不溶性粒子を捕集し
た上で、その粒径分布を測定するならば0.005μmまで
の超微粒子の測定も可能となる。
このように、本考案の装置は誘導プラズマ発光分析装
置などと組み合わせることにより実時間で濃度変化の測
定を行うための粒子採取装置として非常に有効である。
置などと組み合わせることにより実時間で濃度変化の測
定を行うための粒子採取装置として非常に有効である。
(考案の効果) 以上説明したように、本考案の分析用粒子採取装置
は、気体の吸入口と排出口を備えた筒体の内部に水平に
置かれた平板状の捕集電極とその上方に位置する針状の
放電電極を設けるとともに、前記捕集電極の表面に捕集
液の均一な液体膜を形成させ、両電極間に静電場を形成
することによって吸引した気体中の帯電粒子を前記捕集
液中に取り込むようにしたので、この粒子を取り込んだ
捕集液に何等他の操作を加えることなく、装置外に流出
させて取り出し、そのまま分析装置や測定装置にかける
ことにより、気体中に浮遊する粒子状物質の実時間での
組成分析を行うことができる。しかも、水平面の上に捕
集液の均一な液体膜を形成するので、少量の捕集液でも
粒子を取り込むことが可能であり、したがって捕集液中
の粒子の個数濃度を高くして精度のよい分析を行うこと
ができる。
は、気体の吸入口と排出口を備えた筒体の内部に水平に
置かれた平板状の捕集電極とその上方に位置する針状の
放電電極を設けるとともに、前記捕集電極の表面に捕集
液の均一な液体膜を形成させ、両電極間に静電場を形成
することによって吸引した気体中の帯電粒子を前記捕集
液中に取り込むようにしたので、この粒子を取り込んだ
捕集液に何等他の操作を加えることなく、装置外に流出
させて取り出し、そのまま分析装置や測定装置にかける
ことにより、気体中に浮遊する粒子状物質の実時間での
組成分析を行うことができる。しかも、水平面の上に捕
集液の均一な液体膜を形成するので、少量の捕集液でも
粒子を取り込むことが可能であり、したがって捕集液中
の粒子の個数濃度を高くして精度のよい分析を行うこと
ができる。
また、捕集電極上に捕集液を供給して均一な液体膜を
形成させながら、帯電粒子を捕集した捕集液を装置外に
取り出すようにした連続採取機構を備えさせることによ
り、実時間での粒子の化学組成や物理的性状の変動の測
定を行うことができる。この場合も、捕集液の流量をで
きるだけ少なくすることにより、捕集液中の粒子の個数
濃度を高くでき、その結果、経時変化も測定することが
できる。
形成させながら、帯電粒子を捕集した捕集液を装置外に
取り出すようにした連続採取機構を備えさせることによ
り、実時間での粒子の化学組成や物理的性状の変動の測
定を行うことができる。この場合も、捕集液の流量をで
きるだけ少なくすることにより、捕集液中の粒子の個数
濃度を高くでき、その結果、経時変化も測定することが
できる。
第1図は本考案の一実施例である分析用粒子採取装置の
概略断面図、第2図は連続採取機構を備えた装置構成例
を示す概略断面図、第3図は第2図の変形例を示す概略
構成図、第4図は他の連続採取機構を備えた装置構成例
を示す概略断面図、第5図(ア)(イ)は液体膜の均一
化を図る捕集電極を使用した場合の概略構成図である。 1……吸入口 2……排出口 3……筒体 4……放電電極 5……捕集電極 6……直流高圧電源 7……捕集液 8……送液ポンプ 9……排液ポンプ 10……粒子捕集液容器 11……捕集液容器 12……化学分析装置 13……粒径分布測定装置
概略断面図、第2図は連続採取機構を備えた装置構成例
を示す概略断面図、第3図は第2図の変形例を示す概略
構成図、第4図は他の連続採取機構を備えた装置構成例
を示す概略断面図、第5図(ア)(イ)は液体膜の均一
化を図る捕集電極を使用した場合の概略構成図である。 1……吸入口 2……排出口 3……筒体 4……放電電極 5……捕集電極 6……直流高圧電源 7……捕集液 8……送液ポンプ 9……排液ポンプ 10……粒子捕集液容器 11……捕集液容器 12……化学分析装置 13……粒径分布測定装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 白波瀬 雅明 茨城県つくば市小野川16番3 工業技術 院公害資源研究所内 (56)参考文献 特開 昭49−30973(JP,A) 特開 昭51−110769(JP,A) 実開 昭61−46443(JP,U) 実開 昭63−168044(JP,U) 実公 昭30−7694(JP,Y1) 実公 昭43−22398(JP,Y1)
Claims (3)
- 【請求項1】気体の吸入口と排出口を備えた筒体の内部
に水平に置かれた平板状の捕集電極とその上方に位置す
る針状の放電電極を設けるとともに、前記捕集電極の表
面に捕集液の均一な液体膜を形成させ、両電極間に静電
場を形成することによって吸引した気体中の帯電粒子を
前記捕集液中に取り込むようにしたことを特徴とする分
析用粒子採取装置。 - 【請求項2】捕集液を一定流量で前記捕集電極上に流送
して均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子を取り込
んだ捕集液を装置外に排出する連続採取機構を備えた請
求項1に記載の分析用粒子採取装置。 - 【請求項3】前記捕集電極の表面に捕集液を噴霧又は流
下して均一な液体膜を形成させながら、帯電粒子を取り
込んだ捕集液を装置外に排出する連続採取機構を備えた
請求項1に記載の分析用粒子採取装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988152603U JP2504827Y2 (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 分析用粒子採取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988152603U JP2504827Y2 (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 分析用粒子採取装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0272960U JPH0272960U (ja) | 1990-06-04 |
JP2504827Y2 true JP2504827Y2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=31427679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1988152603U Expired - Lifetime JP2504827Y2 (ja) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | 分析用粒子採取装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2504827Y2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4019267B2 (ja) * | 2002-11-21 | 2007-12-12 | 株式会社島津製作所 | 大気中の浮遊粒子状物質の捕集装置 |
JP4058624B2 (ja) * | 2002-11-28 | 2008-03-12 | 株式会社島津製作所 | 大気中の浮遊粒子状物質の捕集・測定装置 |
JP2005283212A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Shimadzu Corp | 浮遊粒子状物質の捕集装置 |
JP5081897B2 (ja) * | 2007-03-15 | 2012-11-28 | 日本碍子株式会社 | 粒子状物質検出装置及び粒子状物質検出方法 |
JP2012518186A (ja) * | 2009-02-18 | 2012-08-09 | バッテル メモリアル インスティチュート | 小領域静電エアロゾルコレクタ |
JP5359850B2 (ja) * | 2009-12-18 | 2013-12-04 | Jfeスチール株式会社 | 高炉排ガス中ダストの連続分析方法および連続分析装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4930973A (ja) * | 1972-07-18 | 1974-03-19 | ||
JPS51110769A (ja) * | 1975-03-25 | 1976-09-30 | Japan Steel Works Ltd | Shitsushikiseidenshikihaigasuseijokasochi |
JPS6146443U (ja) * | 1984-08-29 | 1986-03-28 | 工業技術院長 | ダストサンプラ− |
JPH0239576Y2 (ja) * | 1987-04-24 | 1990-10-23 |
-
1988
- 1988-11-22 JP JP1988152603U patent/JP2504827Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0272960U (ja) | 1990-06-04 |
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