JP2003207533A - Article inspection method and inspection device - Google Patents

Article inspection method and inspection device

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JP2003207533A
JP2003207533A JP2002002383A JP2002002383A JP2003207533A JP 2003207533 A JP2003207533 A JP 2003207533A JP 2002002383 A JP2002002383 A JP 2002002383A JP 2002002383 A JP2002002383 A JP 2002002383A JP 2003207533 A JP2003207533 A JP 2003207533A
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JP
Japan
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inspection
article
data
capacitor
double layer
Prior art date
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Application number
JP2002002383A
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Japanese (ja)
Inventor
Hironori Ono
浩徳 小野
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Nef KK
Original Assignee
Nef KK
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Publication date
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a manufacturing cost of an article by heightening work efficiency of inspection, while keeping consistency between measurement data and the article, concerning the article requiring a plurality of inspection processes. <P>SOLUTION: In this inspection method of the article A requiring the plurality of inspection processes, data D for specifying the article A and data E for showing an inspection result in a former inspection process are printed on the article A or an object C integrated with the article A, and printed data D, E are read in a latter inspection process, and the data E for showing the inspection result in the former inspection process is compared with the data for showing the inspection result in the latter inspection process. An electrical double layer capacitor or the like requiring an overload test between the former inspection process and the latter inspection process can be inspected by the inspection method. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、物品検査方法及び
検査装置に関し、特に、電気二重層コンデンサ等のよう
に複数の検査工程を必要とする物品の検査方法及び検査
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for an article, and more particularly to an inspection method and an inspection apparatus for an article such as an electric double layer capacitor which requires a plurality of inspection steps.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば、電気二重層コンデンサ
(以下、適宜「コンデンサ」と略称する)を出荷する前
に、特性の良否を判定するため、図9に示すような検査
が実施されていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, before shipping an electric double layer capacitor (hereinafter, abbreviated as “capacitor” as appropriate), an inspection as shown in FIG. .

【0003】このコンデンサは、温度変化に弱いため、
ステップS1の前工程の後、ステップS2において、過
負荷試験として高温保管試験を実施し、初期不良の低減
を行う。この過負荷試験は、例えば、60℃の温度で4
0時間程度実施する。その後、ステップS3においてコ
ンデンサの特性測定を行い、ステップS4において良品
か不良品かを判断し、良品であれば、ステップS5にお
いて次工程に移行し、不良品であれば、ステップS6に
おいて製品を回収していた。
Since this capacitor is vulnerable to temperature changes,
After the previous step of step S1, in step S2, a high temperature storage test is performed as an overload test to reduce initial defects. This overload test is performed at a temperature of 60 ° C, for example, 4
Carry out about 0 hours. Then, in step S3, the characteristics of the capacitor are measured, and in step S4, it is determined whether the product is a good product or a defective product. If the product is a good product, the process proceeds to the next step in step S5. Was.

【0004】上述の検査方法によれば、製品が不良であ
った場合には、過負荷試験において不良と判断されたの
か、前工程により不良となったのかを判断できないた
め、過負荷試験前後の測定データを比較する必要があっ
た。
According to the above-described inspection method, when the product is defective, it cannot be determined whether the product is defective in the overload test or defective in the previous process. It was necessary to compare the measured data.

【0005】このような比較を行うためには、被測定物
と測定データが一致していることが前提となる。そのた
め、被測定物をトレー等に順番に並べて収納し、この順
番を変えないようにして各種測定を行い、測定データを
記憶媒体に収納し、過負荷試験後の測定も、同じトレー
から被測定物を順番に取り出して測定し、測定データの
比較作業を行っていた。
In order to make such a comparison, it is premised that the object to be measured and the measurement data match. Therefore, the objects to be measured are arranged in a tray in order and stored, various measurements are performed without changing this order, the measurement data is stored in a storage medium, and the measurement after the overload test is performed from the same tray. Items were taken out in order and measured, and the measurement data were compared.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の検査方
法では、被測定物と測定データとの整合性が不明確にな
るおそれがあった。例えば、作業者がトレーの番号を間
違えたり、床にトレーを落としてしまって被測定物の並
びが変化したり、記憶媒体のデータを消失したような場
合は、測定データと被測定物との整合性が崩れ、誤判定
の原因となっていた。
However, in the above-mentioned inspection method, there is a possibility that the consistency between the object to be measured and the measurement data becomes unclear. For example, if the operator mistakes the tray number, drops the tray on the floor and changes the arrangement of the DUT, or loses the data in the storage medium, the measured data and the DUT are The consistency was broken, which was a cause of erroneous judgment.

【0007】そこで、本発明は、上記従来の検査方法に
おける問題点に鑑みてなされたものであって、複数の検
査工程が存在する場合でも、測定データと被測定物との
整合性を保ち、どの検査工程で不良となったのかを明確
に把握することができるとともに、検査の作業効率を上
げて製造コストを低減することのできる検査方法を提供
することを目的とする。
Therefore, the present invention has been made in view of the above problems in the conventional inspection method, and maintains the consistency between the measurement data and the object to be measured even when there are a plurality of inspection steps. An object of the present invention is to provide an inspection method capable of clearly ascertaining in which inspection process a defect has occurred, and at the same time increasing the inspection work efficiency and reducing the manufacturing cost.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明は、複数の検査工程を必要とす
る物品の検査方法であって、物品を特定するデータと、
前検査工程における検査結果を示すデータとを該物品ま
たは該物品に一体化されたものに印字し、後検査工程に
おいて、前記印字されたデータを読み取り、前記前検査
工程における検査結果を示すデータと該後検査工程にお
ける検査結果を示すデータとを比較することを特徴とす
る。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is a method of inspecting an article which requires a plurality of inspection steps, and comprises data for specifying the article,
Data indicating an inspection result in the pre-inspection step is printed on the article or an article integrated with the article, the printed data is read in the post-inspection step, and data indicating an inspection result in the pre-inspection step It is characterized by comparing with data showing an inspection result in the post-inspection step.

【0009】請求項2記載の発明は、請求項1記載の物
品検査方法の一形態として、前記物品は、電気二重層コ
ンデンサであって、前記前検査工程と前記後検査工程と
の間に過負荷試験を行うことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, as one form of the article inspection method according to the first aspect, the article is an electric double-layer capacitor, and is provided between the pre-inspection step and the post-inspection step. It is characterized by performing a load test.

【0010】また、請求項3記載の発明は、複数の検査
工程を必要とする物品の検査装置であって、物品を特定
するデータと、前検査工程における検査結果を示すデー
タとを該物品または該物品に一体化されたものに印字す
る手段と、後検査工程において、前記印字されたデータ
を読み取る手段とを備えたことを特徴とする。
The invention according to claim 3 is an inspection apparatus for an article which requires a plurality of inspection steps, wherein the data for specifying the article and the data showing the inspection result in the pre-inspection step are provided for the article or It is characterized in that it is provided with means for printing on an article integrated with the article and means for reading the printed data in the post-inspection step.

【0011】請求項4記載の発明は、請求項3記載の物
品検査装置の一形態として、前記物品は、電気二重層コ
ンデンサであって、前記印字手段によって、過負荷試験
前の電気二重層コンデンサの特性測定データ及び該電気
二重層コンデンサの識別番号とを該電気二重層コンデン
サに印字し、過負荷試験後に、前記読取手段によって、
前記電気二重層コンデンサの前記特性測定データと前記
識別番号とを読み取ることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the invention, as an embodiment of the article inspection apparatus according to the third aspect, the article is an electric double layer capacitor, and the electric double layer capacitor before the overload test is performed by the printing means. The characteristic measurement data and the identification number of the electric double layer capacitor are printed on the electric double layer capacitor, and after the overload test, by the reading means,
The characteristic measurement data and the identification number of the electric double layer capacitor are read.

【0012】そして、本発明によれば、前検査工程にお
ける検査結果を示すデータと物品を特定するデータとを
物品に印字するため、トレー等に物品を整列させて後試
験工程に移行する必要がなく、作業者がトレーの番号を
間違えたり、床にトレーを落としてしまって物品の並び
が変化したり、記憶媒体のデータを消失したような場合
でも、検査データと物品の整合性を維持することができ
る。また、後検査工程において、前記印字されたデータ
を読み取るため、予め前試験工程での検査データを記憶
媒体に記憶させたり、検査データを物品と一緒に工程間
を移動させる必要がない。これによって、物品と検査デ
ータの不一致による誤判定をなくすことができるととも
に、検査データの消去による、比較判定の未実施等を防
止することができる。
Further, according to the present invention, since the data indicating the inspection result in the pre-inspection step and the data for specifying the article are printed on the article, it is necessary to align the article on a tray or the like and shift to the post-test step. Even if the operator mistakes the tray number, drops the tray on the floor and changes the arrangement of the articles, or loses the data in the storage medium, the consistency between the inspection data and the article is maintained. be able to. Further, since the printed data is read in the post-inspection step, it is not necessary to store the inspection data in the pre-test step in a storage medium in advance or move the inspection data together with the article between the steps. As a result, it is possible to eliminate erroneous determination due to a mismatch between the article and the inspection data, and to prevent non-execution of comparison determination due to deletion of the inspection data.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】次に、本発明にかかる物品検査方
法及び検査装置の実施の形態の具体例を図面を参照しな
がら説明する。尚、以下の説明においては、検査対象と
なる物品を電気二重層コンデンサとする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, specific examples of embodiments of an article inspection method and an inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, the article to be inspected is an electric double layer capacitor.

【0014】図1は、本発明にかかる第1の電気二重層
コンデンサ検査装置(以下、「検査装置」と略称する)
を示す平面図であって、この装置の中央には、インデッ
クステーブル1が設けられ、インデックステーブル1
は、矢印方向に一定ピッチ間隔で間欠的に回転する。
FIG. 1 shows a first electric double layer capacitor inspection apparatus according to the present invention (hereinafter abbreviated as "inspection apparatus").
FIG. 2 is a plan view showing the index table 1 provided at the center of the device.
Rotates intermittently in the direction of the arrow at constant pitch intervals.

【0015】インデックステーブル1の上面には、コン
デンサAを一個づつ保持するとともに、端子受けとして
絶縁ブロック3(図3参照)を有するブロック2が、上
記インデックステーブル1の回転ピッチと同一間隔で設
けられている。
On the upper surface of the index table 1, blocks 2 each holding a capacitor A one by one and having an insulating block 3 (see FIG. 3) as a terminal receiver are provided at the same pitch as the rotation pitch of the index table 1. ing.

【0016】インデックステーブル1の周囲には、コン
デンサAをブロック2に供給する供給部4と、コンデン
サAを充電する充電部5、6と、残存電圧を測定する電
圧測定部7と、等価直列抵抗を測定するESR測定部8
と、図2に示すように、識別番号Dと測定データEをラ
ベルCに印字し、このラベルCを製品に貼り付ける印字
・貼付部9と、不良のコンデンサAを排出する排出部1
0と、良品としてのコンデンサAを収納する収納部11
とが配置されている。
Around the index table 1, a supply unit 4 for supplying the capacitor A to the block 2, charging units 5, 6 for charging the capacitor A, a voltage measuring unit 7 for measuring the residual voltage, and an equivalent series resistance. ESR measuring unit 8 for measuring
As shown in FIG. 2, the identification number D and the measurement data E are printed on the label C, and the printing / pasting section 9 for sticking the label C on the product and the discharging section 1 for discharging the defective capacitor A.
0 and a storage unit 11 for storing a capacitor A as a good product
And are arranged.

【0017】尚、本実施例では、識別番号Cと測定デー
タEを印字したラベルCをコンデンサAに貼付けるよう
にしているが、インクジェット方式または、レーザ方式
により、ラベルCを使用せずに直接コンデンサAに識別
番号Cと測定データEを印字するようにしてもよい。
In this embodiment, the label C on which the identification number C and the measurement data E are printed is attached to the capacitor A. However, the label C is directly used without using the label C by the ink jet method or the laser method. The identification number C and the measurement data E may be printed on the capacitor A.

【0018】充電部5、6、電圧測定部7、及びESR
測定部8には、図3に示すプローブユニットが設けられ
る。このプロ−ブユニットは、コンデンサAの端子Bと
接触するプローブ25を上下方向に移動させるエアーシ
リンダユニット23と、プローブ固定ブロック24と、
コンデンサAの浮き上がりを防止する図示しない押さえ
ピン等を備える。そして、コンデンサAが、保持部2に
搭載されてプローブ25の下方に到達すると、プローブ
25が下降し、コンデンサAの端子Bと接触する。プロ
ーブ25のもう片端は、各測定器の測定端子と電気的に
接続されて各々の測定を行う。
Charging unit 5, 6, voltage measuring unit 7, and ESR
The measuring unit 8 is provided with the probe unit shown in FIG. This probe unit includes an air cylinder unit 23 that vertically moves a probe 25 that comes into contact with a terminal B of a capacitor A, a probe fixing block 24, and a probe fixing block 24.
A holding pin or the like (not shown) for preventing the capacitor A from floating is provided. When the capacitor A is mounted on the holding unit 2 and reaches below the probe 25, the probe 25 descends and comes into contact with the terminal B of the capacitor A. The other end of the probe 25 is electrically connected to the measurement terminal of each measuring device to perform each measurement.

【0019】図4は、本発明にかかる第2の検査装置を
示す平面図であって、この装置の中央には、インデック
ステーブル1が設けられ、インデックステーブル1は、
一定ピッチ間隔で間欠的に回転する。
FIG. 4 is a plan view showing a second inspection apparatus according to the present invention. An index table 1 is provided at the center of this apparatus, and the index table 1 is
It rotates intermittently at regular intervals.

【0020】インデックステーブル1の上面には、コン
デンサAを一個づつ保持するとともに、端子受けとして
絶縁ブロック3(図3参照)を有するブロック2が、上
記インデックステーブル1の回転ピッチと同一間隔で設
けられている。
On the upper surface of the index table 1, blocks 2 each holding a capacitor A one by one and having an insulating block 3 (see FIG. 3) as a terminal receiver are provided at the same pitch as the rotation pitch of the index table 1. ing.

【0021】インデックステーブル1の周囲には、コン
デンサAをブロック2に供給する供給部4と、コンデン
サAを充電する充電部5、6と、残存電圧を測定する電
圧測定部7と、等価直列抵抗を測定するESR測定部8
と、静電容量を測定する容量測定部12と、測定データ
Eと識別番号Cの読取装置13と、不良のコンデンサA
を排出する排出部10と、良品としてのコンデンサAを
収納する収納部11とが配置されている。
Around the index table 1, a supply unit 4 for supplying the capacitor A to the block 2, charging units 5, 6 for charging the capacitor A, a voltage measuring unit 7 for measuring the residual voltage, and an equivalent series resistance. ESR measuring unit 8 for measuring
A capacitance measuring unit 12 for measuring electrostatic capacitance, a reading device 13 for measuring data E and an identification number C, and a defective capacitor A.
A discharge section 10 for discharging the capacitor and a storage section 11 for storing the non-defective capacitor A are arranged.

【0022】本実施例では、測定データEと識別番号C
の読取装置に、二次元バーコード方式を採用している。
また、上述の検査装置第1と同様に、各充電部5、6、
測定部7、8には、図3に示すプローブユニットを設け
てあり、コンデンサAの端子Bと接触するプローブ25
を備えている。
In this embodiment, measurement data E and identification number C
Uses a two-dimensional bar code system.
Further, similar to the above-described inspection device first, the charging units 5, 6,
The measuring units 7 and 8 are provided with the probe unit shown in FIG. 3, and the probe 25 that comes into contact with the terminal B of the capacitor A is used.
Is equipped with.

【0023】次に、上記構成を有する第1及び第2の検
査装置の動作について、図5及び図6を中心に参照しな
がら説明する。
Next, the operation of the first and second inspection devices having the above-mentioned structure will be described with reference to FIGS. 5 and 6.

【0024】図5に示すように、第1の検査装置は、ブ
ロック2に供給されたコンデンサAをインデックステー
ブル1にて順次搬送し、ステップS1、S2において、
各充電部5、6によって充電を行い、ステップS3にお
いて電圧測定部7によって残存電圧を測定する。ステッ
プS3において、不良と判定された場合には、ステップ
S8において排出部10に回収する。
As shown in FIG. 5, the first inspection apparatus sequentially conveys the capacitor A supplied to the block 2 on the index table 1, and in steps S1 and S2,
Charging is performed by the charging units 5 and 6, and the residual voltage is measured by the voltage measuring unit 7 in step S3. If it is determined to be defective in step S3, it is collected in the discharge unit 10 in step S8.

【0025】ステップS3において良品と判定された場
合には、ステップS4としてESR測定部8によってE
SR測定を行い、不良と判定された場合には、ステップ
S8において排出部10に回収する。ステップS4にお
いて良品と判定された場合には、ステップS5、S6に
おいて、この測定データEと認識番号Dを印字・貼付部
9によってラベルCに印字してコンデンサAに貼り付
け、ステップS7において収納部11に収納する。
If it is determined in step S3 that the product is non-defective, the ESR measuring unit 8 performs E in step S4.
If SR measurement is performed and it is determined to be defective, it is collected in the discharge unit 10 in step S8. If it is determined in step S4 that the product is non-defective, then in steps S5 and S6, the measurement / data E and the identification number D are printed on the label C by the printing / adhesive unit 9 and affixed to the capacitor A. Store in 11.

【0026】図6に示すように、第2の検査装置は、ブ
ロック2に供給されたコンデンサAをインデックステー
ブル1にて順次搬送し、ステップS1、S2において、
各充電部5、6によって充電を行い、ステップS3にお
いて電圧測定部7によって残存電圧を測定する。ステッ
プS3において、不良と判定された場合には、ステップ
S9において排出部10に回収する。
As shown in FIG. 6, the second inspection apparatus sequentially conveys the capacitor A supplied to the block 2 on the index table 1, and in steps S1 and S2,
Charging is performed by the charging units 5 and 6, and the residual voltage is measured by the voltage measuring unit 7 in step S3. If it is determined to be defective in step S3, it is collected in the discharge unit 10 in step S9.

【0027】ステップS3において良品と判定された場
合には、ステップS4としてESR測定部8によってE
SR測定を行い、不良と判定された場合には、ステップ
S9において排出部10に回収する。ステップS4にお
いて良品と判定された場合には、ステップS5として容
量測定部12によって静電容量を測定し、不良と判定さ
れた場合には、ステップS9において排出部10に回収
する。
If it is determined in step S3 that the product is non-defective, the ESR measuring section 8 determines E in step S4.
If SR measurement is performed and it is determined to be defective, it is collected in the discharge unit 10 in step S9. When it is determined that the product is non-defective in step S4, the capacitance is measured by the capacitance measuring unit 12 in step S5, and when it is determined that the product is defective, the capacitance is collected in the discharging unit 10 in step S9.

【0028】ステップS5において良品と判定された場
合には、ステップS6において、コンデンサAの印字デ
ータを読み込み、ステップS7において上記各測定デー
タと読み込んだデータとの比較を行い、不良と判定され
た場合には、ステップS9において排出部10に回収
し、良品と判定された場合には、ステップS8において
収納部11に収納する。
If it is judged as a non-defective product in step S5, the print data of the capacitor A is read in step S6, and the measured data is compared with the read data in step S7. In step S9, the product is collected in the discharge unit 10, and if it is determined as a non-defective product, it is stored in the storage unit 11 in step S8.

【0029】次に、上記第1及び第2の検査装置の動作
を含む本発明にかかる検査方法の全体の動作について、
図7を中心に参照しながら説明する。
Next, regarding the overall operation of the inspection method according to the present invention, including the operations of the first and second inspection devices,
A description will be given with reference mainly to FIG. 7.

【0030】まず、ステップS1において前工程での試
験を行い、ステップS2において上述の第1の検査装置
による検査を行う。次に、ステップS3においてコンデ
ンサAの良不良を判定し、不良と判定された場合には、
ステップS8において回収する。一方、ステップS3に
おいて良品と判定された場合には、ステップS4におい
て過負荷試験を行う。この過負荷試験は、上述のよう
に、60℃の温度で40時間程度の高温保管を行うもの
であって、初期不良を低減させるものである。
First, in step S1, the test in the previous process is performed, and in step S2, the inspection by the above-described first inspection apparatus is performed. Next, in step S3, it is determined whether the capacitor A is good or bad, and if it is determined as bad,
It collects in step S8. On the other hand, if it is determined in step S3 that the product is non-defective, an overload test is performed in step S4. As described above, this overload test is a high temperature storage at a temperature of 60 ° C. for about 40 hours to reduce the initial failure.

【0031】そして、ステップS4の後、ステップS5
において上述の第2の検査装置による検査を行う。次
に、ステップS6においてコンデンサAの良不良を判定
し、不良と判定された場合には、ステップS8において
回収する。一方、ステップS6において良品と判定され
た場合には、ステップS7において次工程に移行する。
Then, after step S4, step S5
In, the inspection by the above-mentioned second inspection device is performed. Next, in step S6, it is determined whether the capacitor A is good or bad, and if it is determined to be bad, the capacitor A is collected in step S8. On the other hand, when it is determined in step S6 that the product is non-defective, the process proceeds to the next step in step S7.

【0032】以上説明したように、本発明にかかる検査
方法によれば、第1の検査装置による測定データEと識
別番号CとがコンデンサAに印字されているため、次の
第2の検査装置による検査を行うにあたって、トレー等
にコンデンサAを整列させて移行する必要がなく、作業
者がトレーの番号を間違えたり、床にトレーを落として
しまってコンデンサAの並びが変化したり、記憶媒体の
データを消失したような場合でも、検査データとコンデ
ンサAの整合性を維持することができる。また、第2の
検査装置による検査において、印字された測定データE
と識別番号Cを読み取るため、予め第1の検査装置によ
る測定データEを記憶媒体に記憶させたり、測定データ
Eを記載した用紙等をコンデンサAと一緒に工程間を移
動させる必要がない。これによって、コンデンサAと第
1及び第2の検査装置による検査データの不一致による
誤判定をなくすことができるとともに、検査データの消
去による、比較判定の未実施等を防止することができ
る。
As described above, according to the inspection method of the present invention, since the measurement data E and the identification number C by the first inspection device are printed on the capacitor A, the following second inspection device is used. It is not necessary to align and transfer the capacitors A to a tray or the like for the inspection by the operator, and the operator may make a mistake in the tray number or drop the tray on the floor to change the arrangement of the capacitors A, or the storage medium. Even if the data of 1 is lost, the consistency between the inspection data and the capacitor A can be maintained. Also, in the inspection by the second inspection device, the printed measurement data E
Since the identification number C is read, it is not necessary to store the measurement data E by the first inspection device in the storage medium in advance, or to move the paper or the like on which the measurement data E is written together with the capacitor A between the steps. As a result, it is possible to eliminate erroneous determination due to mismatch of the inspection data between the capacitor A and the first and second inspection devices, and it is possible to prevent non-execution of comparison determination due to deletion of the inspection data.

【0033】図8は、上記第1及び第2の検査装置の一
実施例を示す。各測定器は、パーソナルコンピュータS
1のPCI拡張スロットを利用し、インターフェイスボ
ード、例えば、GP−IBボードS9を使用し、各測定
器との通信を行っている。また、同様に、ラベルプリン
タS6、メカ制御ユニットS8、バーコード読取器S7
は、例えばRS−232CボードS10を使用して通信
を行っている。各インターフェイスボードと測定器及び
制御ユニット等とは、専用ケーブルにて接続されてい
る。
FIG. 8 shows an embodiment of the first and second inspection devices. Each measuring device is a personal computer S
Using one PCI expansion slot, an interface board such as a GP-IB board S9 is used to communicate with each measuring instrument. Similarly, a label printer S6, a mechanical control unit S8, a bar code reader S7.
Are communicating using, for example, the RS-232C board S10. Each interface board, measuring instrument, control unit, etc. are connected by a dedicated cable.

【0034】第1の検査装置及び第2の検査装置の供給
部4には、レーザセンサによりコンデンサAのエッジを
検出して表裏判定を行う表裏判定機構を設けることがで
きる。また、コンデンサAの供給機構及び収納部11で
の取出し機構としては、真空吸着パットとピック&プレ
ースユニットを併用することもできる。さらに、各停止
位置では、コンデンサAの有無を検出するための検出機
能、例えば、光電センサ等を配置し、これにより、例え
ば、作業者が保持部2から測定中のコンデンサAを取り
出してしまう等の突発的な事故が発生しても、各停止位
置にて検出を行っていることから、測定データとコンデ
ンサAの不一致を最小限にすることができる。
The supply section 4 of the first inspection device and the second inspection device may be provided with a front / back surface determination mechanism for detecting the edge of the capacitor A by a laser sensor and performing front / back surface determination. Further, as a supply mechanism of the condenser A and a take-out mechanism in the storage section 11, a vacuum suction pad and a pick & place unit can be used together. Further, at each stop position, a detection function for detecting the presence or absence of the capacitor A, for example, a photoelectric sensor or the like is arranged, whereby, for example, an operator takes out the capacitor A being measured from the holding unit 2 or the like. Even if a sudden accident occurs, the detection data is detected at each stop position, so that the mismatch between the measured data and the capacitor A can be minimized.

【0035】前記印字データと第2の検査装置により測
定したデータの比較方法としては、印字データに対して
測定データの変化率を算出し、例えば10%程度の変化
率を境として良否判定を行うことができる。
As a method of comparing the print data with the data measured by the second inspection device, the change rate of the measured data is calculated with respect to the print data, and the pass / fail judgment is performed with the change rate of about 10% as a boundary. be able to.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数の検査工程が存在する場合でも、測定データと被測
定物との整合性を保ち、どの検査工程で不良となったの
かを明確に把握することができるとともに、検査の作業
効率を上げて製造コストを低減することのできる物品検
査方法及び検査装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention,
Even if there are multiple inspection processes, it is possible to maintain consistency between the measurement data and the object to be measured, to clearly understand which inspection process caused the defect, and to increase the inspection work efficiency and manufacture. It is possible to provide an article inspection method and an inspection apparatus that can reduce costs.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明にかかる第1の検査装置を示す概略平面
図である。
FIG. 1 is a schematic plan view showing a first inspection apparatus according to the present invention.

【図2】本発明にかかるコンデンサを示す概略図であっ
て、(a)は平面図、(b)は側面図である。
FIG. 2 is a schematic view showing a capacitor according to the present invention, in which (a) is a plan view and (b) is a side view.

【図3】本発明にかかる検査装置のプローブユニットを
示す側面図である。
FIG. 3 is a side view showing a probe unit of the inspection device according to the present invention.

【図4】本発明にかかる第2の検査装置を示す概略平面
図である。
FIG. 4 is a schematic plan view showing a second inspection apparatus according to the present invention.

【図5】図1の第1の検査装置の動作を示すフロー図で
ある。
5 is a flowchart showing the operation of the first inspection device in FIG.

【図6】図4の第2の検査装置の動作を示すフロー図で
ある。
6 is a flowchart showing the operation of the second inspection device of FIG.

【図7】本発明にかかる検査方法の全体の動作を示すフ
ロー図である。
FIG. 7 is a flowchart showing the overall operation of the inspection method according to the present invention.

【図8】本発明にかかる検査方法を実施するシステムの
一実施例を示す構成図である。
FIG. 8 is a configuration diagram showing an embodiment of a system for carrying out the inspection method according to the present invention.

【図9】従来の検査方法のフロー図である。FIG. 9 is a flowchart of a conventional inspection method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 インデックステーブル 2 ブロック 3 絶縁ブロック 4 供給部 5 充電部 6 充電部 7 電圧測定部 8 ESR測定部 9 印字・貼付部 10 排出部 11 良品収納部 12 容量測定部 13 読取装置 23 エアーシリンダユニット 24 プローブ固定ブロック 25 プローブ A コンデンサ B 端子 C ラベル D 認識番号 E 測定データ S1 パーソナルコンピュータ S2 電源 S3 電圧測定器 S4 ESR測定器 S5 容量測定器 S6 ラベルプリンタ S7 バーコード読取器 S8 メカ制御ユニット S9 GP−IBボード S10 RS−232Cボード 1 Index table 2 blocks 3 insulating blocks 4 Supply Department 5 charging section 6 charging section 7 Voltage measurement section 8 ESR measurement section 9 Printing / pasting section 10 Discharge part 11 Goods storage 12 Capacity measurement section 13 Reader 23 Air cylinder unit 24 Probe fixing block 25 probes A capacitor B terminal C label D identification number E measurement data S1 personal computer S2 power supply S3 voltage measuring instrument S4 ESR measuring instrument S5 capacity measuring instrument S6 Label printer S7 barcode reader S8 Mechanical control unit S9 GP-IB board S10 RS-232C board

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の検査工程を必要とする物品の検査
方法であって、 物品を特定するデータと、前検査工程における検査結果
を示すデータとを該物品または該物品に一体化されたも
のに印字し、 後検査工程において、前記印字されたデータを読み取
り、前記前検査工程における検査結果を示すデータと該
後検査工程における検査結果を示すデータとを比較する
ことを特徴とする物品検査方法。
1. A method for inspecting an article which requires a plurality of inspection steps, wherein the data for specifying the article and the data showing the inspection result in the pre-inspection step are integrated with the article or the article. The method of inspecting an article, wherein the printed data is read in a post-inspection step, and the data indicating the inspection result in the pre-inspection step is compared with the data indicating the inspection result in the post-inspection step. .
【請求項2】 前記物品は、電気二重層コンデンサであ
って、前記前検査工程と前記後検査工程との間に過負荷
試験を行うことを特徴とする請求項1記載の物品検査方
法。
2. The article inspection method according to claim 1, wherein the article is an electric double layer capacitor, and an overload test is performed between the pre-inspection step and the post-inspection step.
【請求項3】 複数の検査工程を必要とする物品の検査
装置であって、 物品を特定するデータと、前検査工程における検査結果
を示すデータとを該物品または該物品に一体化されたも
のに印字する手段と、 後検査工程において、前記印字されたデータを読み取る
手段とを備えたことを特徴とする物品検査装置。
3. An inspection apparatus for an article requiring a plurality of inspection steps, wherein the data for specifying the article and the data showing the inspection result in the pre-inspection step are integrated with the article or the article. And a means for reading the printed data in a post-inspection step.
【請求項4】 前記物品は、電気二重層コンデンサであ
って、 前記印字手段によって、過負荷試験前の電気二重層コン
デンサの特性測定データ及び該電気二重層コンデンサの
識別番号とを該電気二重層コンデンサに印字し、 過負荷試験後に、前記読取手段によって、前記電気二重
層コンデンサの前記特性測定データと前記識別番号とを
読み取ることを特徴とする請求項3記載の物品検査装
置。
4. The electric double layer capacitor, wherein the printing means prints characteristic measurement data of the electric double layer capacitor before an overload test and an identification number of the electric double layer capacitor by the printing means. 4. The article inspection apparatus according to claim 3, wherein the characteristic measuring data of the electric double layer capacitor and the identification number are read by the reading means after printing on a capacitor and after an overload test.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010060290A (en) * 2008-09-01 2010-03-18 Sansha Electric Mfg Co Ltd Inspection apparatus
CN111902780A (en) * 2018-03-29 2020-11-06 松下知识产权经营株式会社 Electronic component, method for manufacturing electronic component, method for managing electronic component, and program

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