JP2003177085A - 乾式粒径分布測定装置 - Google Patents
乾式粒径分布測定装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来において気中分散の常識として分散の限
界が１μｍであるとされてきた粉粒体試料を、粒径がサ
ブミクロンといった微粒子の状態にまで分散させること
ができ、所望の粒径分布測定を精度よく行うことのでき
る乾式粒径分布測定装置を提供すること。 【解決手段】 粉粒体状の試料５を、空気を流動させて
いるフローセル２に供給するとともに、このフローセル
２にレーザ光６を照射して、前記試料５による散乱光お
よび／または回折光の検出出力に基づいて試料の粒径分
布を測定する乾式粒径分布測定装置において、前記フロ
ーセル２に供給される前の試料５を臨界圧および亜音速
に達する一次分散流３０によって一次分散させ、その
後、前記試料５を前記一次分散流３０とは方向が異なる
とともに臨界圧および亜音速に達する二次分散流３１に
よって二次分散させるようにした。
界が１μｍであるとされてきた粉粒体試料を、粒径がサ
ブミクロンといった微粒子の状態にまで分散させること
ができ、所望の粒径分布測定を精度よく行うことのでき
る乾式粒径分布測定装置を提供すること。 【解決手段】 粉粒体状の試料５を、空気を流動させて
いるフローセル２に供給するとともに、このフローセル
２にレーザ光６を照射して、前記試料５による散乱光お
よび／または回折光の検出出力に基づいて試料の粒径分
布を測定する乾式粒径分布測定装置において、前記フロ
ーセル２に供給される前の試料５を臨界圧および亜音速
に達する一次分散流３０によって一次分散させ、その
後、前記試料５を前記一次分散流３０とは方向が異なる
とともに臨界圧および亜音速に達する二次分散流３１に
よって二次分散させるようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、粉状や粒状また
はそれらの混合体などの所謂粉粒体を試料とし、この試
料を空気でフローさせて、その試料における粒径分布を
測定する乾式粒径分布測定装置に関する。
はそれらの混合体などの所謂粉粒体を試料とし、この試
料を空気でフローさせて、その試料における粒径分布を
測定する乾式粒径分布測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】前記乾式粒径分布測定装置は、医薬品の
顆粒、インスタントラーメンなどの乾燥食品、乾燥塗
料、コーティング粒子など液体に溶けやすい粉粒体の粒
径分布を測定するのに広く用いられているところであ
る。
顆粒、インスタントラーメンなどの乾燥食品、乾燥塗
料、コーティング粒子など液体に溶けやすい粉粒体の粒
径分布を測定するのに広く用いられているところであ
る。
【０００３】ところで、前記粉粒体は、それが乾燥して
いる状態であっても粉粒体相互において作用する静電気
力やファンデルワールス力、磁力などによって凝集し、
粉粒体が一粒一粒に完全に分離した所謂一次粒子ではな
く、二次粒子（一次粒子が数個凝集したもの）や三次粒
子（二次粒子が数個結合したもの）になっていることが
ある。このように、一次粒子のみならず、二次粒子や三
次粒子を含むような粉粒体を試料としてフローセルに供
給し、これに光を照射して測定を行った場合、その粉粒
体における真の粒径分布結果を得ることができない。
いる状態であっても粉粒体相互において作用する静電気
力やファンデルワールス力、磁力などによって凝集し、
粉粒体が一粒一粒に完全に分離した所謂一次粒子ではな
く、二次粒子（一次粒子が数個凝集したもの）や三次粒
子（二次粒子が数個結合したもの）になっていることが
ある。このように、一次粒子のみならず、二次粒子や三
次粒子を含むような粉粒体を試料としてフローセルに供
給し、これに光を照射して測定を行った場合、その粉粒
体における真の粒径分布結果を得ることができない。
【０００４】そこで、従来の乾式粒径分布測定装置にお
いては、試料としての粉粒体を、投入口からその下方の
フローセルに向けて供給するのに、試料投入口の外周に
おいて圧縮空気を注入し、これによって、試料を分散し
て試料中における二次粒子や三次粒子をできるだけ一次
粒子になるようにしていた。
いては、試料としての粉粒体を、投入口からその下方の
フローセルに向けて供給するのに、試料投入口の外周に
おいて圧縮空気を注入し、これによって、試料を分散し
て試料中における二次粒子や三次粒子をできるだけ一次
粒子になるようにしていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の乾式粒径分布測定装置における試料分散方式は、分
散が一回しか行われないため、凝集または結合した粉粒
体を一次粒子にまで完全に分散させることは困難であ
る。そして、特に、高濃度の試料が投入されたときや、
粒径が１μｍ未満の所謂サブミクロンの粉粒体を試料と
して投入した場合、二次粒子状態の１μｍ止まりの分散
しか行われないといった不都合があった。
来の乾式粒径分布測定装置における試料分散方式は、分
散が一回しか行われないため、凝集または結合した粉粒
体を一次粒子にまで完全に分散させることは困難であ
る。そして、特に、高濃度の試料が投入されたときや、
粒径が１μｍ未満の所謂サブミクロンの粉粒体を試料と
して投入した場合、二次粒子状態の１μｍ止まりの分散
しか行われないといった不都合があった。
【０００６】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、従来において気中分散の常識と
して分散の限界が１μｍであるとされてきた粉粒体試料
を、粒径がサブミクロンといった微粒子の状態にまで分
散させることができ、所望の粒径分布測定を精度よく行
うことのできる乾式粒径分布測定装置を提供することで
ある。
たもので、その目的は、従来において気中分散の常識と
して分散の限界が１μｍであるとされてきた粉粒体試料
を、粒径がサブミクロンといった微粒子の状態にまで分
散させることができ、所望の粒径分布測定を精度よく行
うことのできる乾式粒径分布測定装置を提供することで
ある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、粉粒体状の試料を、空気を流動させて
いるフローセルに供給するとともに、このフローセルに
レーザ光を照射して、前記試料による散乱光および／ま
たは回折光の検出出力に基づいて試料の粒径分布を測定
する乾式粒径分布測定装置において、前記フローセルに
供給される前の試料を臨界圧および亜音速に達する一次
分散流によって一次分散させ、その後、前記試料を前記
一次分散流とは方向が異なるとともに臨界圧および亜音
速に達する二次分散流によって二次分散させるようにし
たことを特徴としている（請求項１）。
め、この発明は、粉粒体状の試料を、空気を流動させて
いるフローセルに供給するとともに、このフローセルに
レーザ光を照射して、前記試料による散乱光および／ま
たは回折光の検出出力に基づいて試料の粒径分布を測定
する乾式粒径分布測定装置において、前記フローセルに
供給される前の試料を臨界圧および亜音速に達する一次
分散流によって一次分散させ、その後、前記試料を前記
一次分散流とは方向が異なるとともに臨界圧および亜音
速に達する二次分散流によって二次分散させるようにし
たことを特徴としている（請求項１）。
【０００８】上記乾式粒径分布測定装置においては、一
次分散流によって一次分散させられることによって、粉
粒体がその最終目標である一次粒子状態に完全になって
いなくても、前記一次分散流とは方向の異なる二次分散
流によって二次分散されることにより、前記粉粒体の全
てが一次粒子状態になる。
次分散流によって一次分散させられることによって、粉
粒体がその最終目標である一次粒子状態に完全になって
いなくても、前記一次分散流とは方向の異なる二次分散
流によって二次分散されることにより、前記粉粒体の全
てが一次粒子状態になる。
【０００９】そして、前記二次分散流は、試料の落下方
向に対して順方向の角度を有するようにしてあってもよ
く（請求項２）、また、試料の落下方向に対して垂直で
あってもよい（請求項３）。さらに、二次分散された後
の試料の流れに対してシースフローを形成するようにし
てあってもよい（請求項４）。
向に対して順方向の角度を有するようにしてあってもよ
く（請求項２）、また、試料の落下方向に対して垂直で
あってもよい（請求項３）。さらに、二次分散された後
の試料の流れに対してシースフローを形成するようにし
てあってもよい（請求項４）。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、この発明の詳細を、図を参
照しながら説明する。図１および図２は、この発明の一
つの実施の形態を示すものである。そして、図１は、こ
の発明の乾式粒径分布測定装置の全体構成を概略的に示
すものであり、図２は、その要部の構成を拡大して示す
ものである。まず、図１において、１は測定部である。
この測定部１は、次のように構成されている。すなわ
ち、２は上下方向に設けられる筒状のフローセルで、そ
の対向する側面には光学窓３，４が形成されている。そ
して、一方の光学窓３の外方には、フローセル２内を落
下する試料（粉粒体）５に対してレーザ光６を照射する
ためのレーザ光源部７が一方の光学窓３に対向するよう
に配置されるとともに、他方の光学窓４の外方には、レ
ーザ光６が試料５に照射されたときに生ずる散乱光およ
び／または回折光を受光するための光検出部８が他方の
光学窓４に対向するように配置されている。
照しながら説明する。図１および図２は、この発明の一
つの実施の形態を示すものである。そして、図１は、こ
の発明の乾式粒径分布測定装置の全体構成を概略的に示
すものであり、図２は、その要部の構成を拡大して示す
ものである。まず、図１において、１は測定部である。
この測定部１は、次のように構成されている。すなわ
ち、２は上下方向に設けられる筒状のフローセルで、そ
の対向する側面には光学窓３，４が形成されている。そ
して、一方の光学窓３の外方には、フローセル２内を落
下する試料（粉粒体）５に対してレーザ光６を照射する
ためのレーザ光源部７が一方の光学窓３に対向するよう
に配置されるとともに、他方の光学窓４の外方には、レ
ーザ光６が試料５に照射されたときに生ずる散乱光およ
び／または回折光を受光するための光検出部８が他方の
光学窓４に対向するように配置されている。
【００１１】９はフローセル２の上方に設けられる試料
導入部としてのエジェクタで、漏斗状部１０を備えると
ともに、この漏斗状部１０の下方にはフローセル２に連
なる試料ガイド部１１が連設されている。そして、漏斗
状部１０の下面側には、圧縮空気（後述する）を試料ガ
イド部１１内に導入する空気流路１２が形成されてい
る。また、試料ガイド部１１は、フローセル２に挿入接
続され、その下端部には、光学窓３，４の上端付近まで
延びた仕切り部１３を備えている。１４は試料ガイド部
１１がセル２に挿入接続される部分の周囲に仕切り部１
３と平行になるように設けられる整流板で、外気１５を
吸引し、この吸引された外気１５によってフローセル２
内にシースフロー１６が形成されるようにしてある。
導入部としてのエジェクタで、漏斗状部１０を備えると
ともに、この漏斗状部１０の下方にはフローセル２に連
なる試料ガイド部１１が連設されている。そして、漏斗
状部１０の下面側には、圧縮空気（後述する）を試料ガ
イド部１１内に導入する空気流路１２が形成されてい
る。また、試料ガイド部１１は、フローセル２に挿入接
続され、その下端部には、光学窓３，４の上端付近まで
延びた仕切り部１３を備えている。１４は試料ガイド部
１１がセル２に挿入接続される部分の周囲に仕切り部１
３と平行になるように設けられる整流板で、外気１５を
吸引し、この吸引された外気１５によってフローセル２
内にシースフロー１６が形成されるようにしてある。
【００１２】１７は例えば１〜３気圧程度の圧縮空気１
８をエジェクタ９内および試料ガイド部１１内に供給す
るための圧縮空気供給路で、その上流側は圧縮空気源
（図示していない）に接続されるとともに、例えばディ
ジタルバルブレギュレータなどの調圧弁１９を備えてお
り、この調圧弁１９の下流側において二つの流路１７
ａ，１７ｂに分岐し、一方の圧縮空気供給路１７ａの下
流側端は、エジェクタ９とその側部において連通接続さ
れ、他方の圧縮空気供給路１７ｂの下流側端は、試料ガ
イド部１１とその側部において連通接続されており、そ
れぞれ、圧縮空気１８ａ，１８ｂをエジェクタ９内およ
び試料ガイド部１１内に供給するように構成されてい
る。
８をエジェクタ９内および試料ガイド部１１内に供給す
るための圧縮空気供給路で、その上流側は圧縮空気源
（図示していない）に接続されるとともに、例えばディ
ジタルバルブレギュレータなどの調圧弁１９を備えてお
り、この調圧弁１９の下流側において二つの流路１７
ａ，１７ｂに分岐し、一方の圧縮空気供給路１７ａの下
流側端は、エジェクタ９とその側部において連通接続さ
れ、他方の圧縮空気供給路１７ｂの下流側端は、試料ガ
イド部１１とその側部において連通接続されており、そ
れぞれ、圧縮空気１８ａ，１８ｂをエジェクタ９内およ
び試料ガイド部１１内に供給するように構成されてい
る。
【００１３】そして、この実施の形態においては、図２
に示すように、エジェクタ９内に供給される圧縮空気１
８ａは、エジェクタ９内を落下する試料５の落下方向と
垂直になるように、圧縮空気供給路１７ａの最下流端の
吹き出し口１７ａ’からエジェクタ９内に水平方向に吹
き出されるが、試料ガイド部１１内に供給される圧縮空
気１８ｂは、試料５の落下方向と順方向にある角度をな
すように、圧縮空気供給路１７ｂの最下流端の吹き出し
口１７ｂ’から試料ガイド部１１内に斜め下方向に吹き
出される。特に、前記吹き出し口１７ｂ’の位置は、前
記圧縮空気１８ａによる試料５に対する分散力が最も大
きくなる位置、すなわち、圧縮空気１８ａによる外周流
が収束する点において、試料５に対して圧縮空気１８ｂ
を吹き付けることができるように設定される。
に示すように、エジェクタ９内に供給される圧縮空気１
８ａは、エジェクタ９内を落下する試料５の落下方向と
垂直になるように、圧縮空気供給路１７ａの最下流端の
吹き出し口１７ａ’からエジェクタ９内に水平方向に吹
き出されるが、試料ガイド部１１内に供給される圧縮空
気１８ｂは、試料５の落下方向と順方向にある角度をな
すように、圧縮空気供給路１７ｂの最下流端の吹き出し
口１７ｂ’から試料ガイド部１１内に斜め下方向に吹き
出される。特に、前記吹き出し口１７ｂ’の位置は、前
記圧縮空気１８ａによる試料５に対する分散力が最も大
きくなる位置、すなわち、圧縮空気１８ａによる外周流
が収束する点において、試料５に対して圧縮空気１８ｂ
を吹き付けることができるように設定される。
【００１４】また、２０はフローセル２下端側に形成さ
れる試料回収流路で、吸引機２１を備えている。さら
に、２２はエジェクタ９の上方に設けられるホッパで、
試料供給部（後述する）から落下する試料５をエジェク
タ９内に導くものである。
れる試料回収流路で、吸引機２１を備えている。さら
に、２２はエジェクタ９の上方に設けられるホッパで、
試料供給部（後述する）から落下する試料５をエジェク
タ９内に導くものである。
【００１５】そして、２３はホッパ２２の上方に設けら
れる試料供給部で、例えばトラフ２４とリニアフィーダ
２５とからなり、コントローラ２６によって制御される
リニアフィーダ２５が振動し、この振動がトラフ２４に
伝えられてその上面部に載置された試料５をトラフ２４
の一端に設けられた試料落下孔２４ａから矢印２７で示
すように落下させることができる。
れる試料供給部で、例えばトラフ２４とリニアフィーダ
２５とからなり、コントローラ２６によって制御される
リニアフィーダ２５が振動し、この振動がトラフ２４に
伝えられてその上面部に載置された試料５をトラフ２４
の一端に設けられた試料落下孔２４ａから矢印２７で示
すように落下させることができる。
【００１６】さらに、２８は演算制御部で、例えばパソ
コンよりなり、装置全体を制御するとともに、測定部１
からの出力信号を基にしてフランホーファ解析理論やミ
−散乱理論に則った演算式を用いて粒径分布を演算し、
試料５における粒径分布を求め、その演算結果などをデ
ィスプレイ２８ａに表示したり、内部に設けられたメモ
リ部または着脱自在に装着されるメモリカードやメモリ
ディスクなどに収納する機能を備えている。
コンよりなり、装置全体を制御するとともに、測定部１
からの出力信号を基にしてフランホーファ解析理論やミ
−散乱理論に則った演算式を用いて粒径分布を演算し、
試料５における粒径分布を求め、その演算結果などをデ
ィスプレイ２８ａに表示したり、内部に設けられたメモ
リ部または着脱自在に装着されるメモリカードやメモリ
ディスクなどに収納する機能を備えている。
【００１７】上述のように構成された乾式粒径分布測定
装置においては、まず、試料５をフローセル２に供給し
ない状態で、レーザ光源部７からレーザ光６をフローセ
ル２に照射し、そのときの光検出部８に入射する光強度
を測定するところの所謂ブランク測定を行い、ブランク
値を得る。
装置においては、まず、試料５をフローセル２に供給し
ない状態で、レーザ光源部７からレーザ光６をフローセ
ル２に照射し、そのときの光検出部８に入射する光強度
を測定するところの所謂ブランク測定を行い、ブランク
値を得る。
【００１８】そして、前記ブランク測定の後、試料５の
粒径測定に入るのであるが、まず、吸引機２１を動作さ
せるとともに、圧縮空気供給路１７に所定圧力の圧縮空
気１８が流れるようにする。この圧縮空気１８の一部
は、圧縮空気供給路１７ａを経てエジェクタ９内に圧縮
空気１８ａとして吹き出され、他の部分は、圧縮空気供
給路１７ｂを経て試料ガイド部１１内に圧縮空気１８ｂ
として吹き出される。
粒径測定に入るのであるが、まず、吸引機２１を動作さ
せるとともに、圧縮空気供給路１７に所定圧力の圧縮空
気１８が流れるようにする。この圧縮空気１８の一部
は、圧縮空気供給路１７ａを経てエジェクタ９内に圧縮
空気１８ａとして吹き出され、他の部分は、圧縮空気供
給路１７ｂを経て試料ガイド部１１内に圧縮空気１８ｂ
として吹き出される。
【００１９】試料ガイド部１１内には吸引機２１による
空気の流れ２９と、この流れ２９の周囲にこれと同心円
状の前記圧縮空気１８ａに起因する臨界圧・亜音速に達
する外周流（一次分散流）３０が生ずる。この状態で試
料供給部２３から乾燥した粉粒体よりなる試料５を矢印
２７で示すように落下させると、前記第１分散流３０と
試料５の流れ２７との差により乱流が発生し、これによ
って、試料５の一次分散が行われる。
空気の流れ２９と、この流れ２９の周囲にこれと同心円
状の前記圧縮空気１８ａに起因する臨界圧・亜音速に達
する外周流（一次分散流）３０が生ずる。この状態で試
料供給部２３から乾燥した粉粒体よりなる試料５を矢印
２７で示すように落下させると、前記第１分散流３０と
試料５の流れ２７との差により乱流が発生し、これによ
って、試料５の一次分散が行われる。
【００２０】前記試料５の一次分散では、最終的な目標
である粉粒体が一次粒子の状態には至ってなく、二次粒
子の状態のものも含まれている。そこで、前記外周流３
０が収束し分散力の最も大きい位置１１ａにおいて、圧
縮空気供給路１７ｂを経て試料ガイド部１１内にピンポ
イント的に吹き出される臨界圧・亜音速に達しかつ試料
５の落下方向に対して順方向の角度を有する圧縮空気１
８ｂによって横方向からの衝撃流（二次分散流）３１に
よって前記一次分散後の試料５が二次分散される。この
二次分散により、前記一次分散後においても一次粒子の
状態にならなかった粉粒体が完全に一次粒子の状態にま
で分散され，したがって、試料５はフローセル２に供給
される前の段階において一次粒子の状態になっている。
である粉粒体が一次粒子の状態には至ってなく、二次粒
子の状態のものも含まれている。そこで、前記外周流３
０が収束し分散力の最も大きい位置１１ａにおいて、圧
縮空気供給路１７ｂを経て試料ガイド部１１内にピンポ
イント的に吹き出される臨界圧・亜音速に達しかつ試料
５の落下方向に対して順方向の角度を有する圧縮空気１
８ｂによって横方向からの衝撃流（二次分散流）３１に
よって前記一次分散後の試料５が二次分散される。この
二次分散により、前記一次分散後においても一次粒子の
状態にならなかった粉粒体が完全に一次粒子の状態にま
で分散され，したがって、試料５はフローセル２に供給
される前の段階において一次粒子の状態になっている。
【００２１】前記一次、二次の二度にわたる分散を受け
た試料５は、一次粒子の状態で下方のフローセル２内を
下降し、この下降する試料５に対してレーザ光６が照射
されることにより、散乱光や回折光が生ずる。
た試料５は、一次粒子の状態で下方のフローセル２内を
下降し、この下降する試料５に対してレーザ光６が照射
されることにより、散乱光や回折光が生ずる。
【００２２】前記散乱光や回折光は、光検出部８におい
て検出され、光検出部８からは粒径に応じた散乱／回折
光強度信号が出力され、この信号が演算制御装置として
のパソコン２８に入力される。このパソコン２８におい
ては、フランホーファ解析理論やミ−散乱理論に則った
演算式を用いて粒径分布が演算され、試料５における粒
径分布が求められ、測定結果がパソコン２８の表示装置
２８ａに表示されたり、例えばパソコン２８内のメモリ
に収納される。なお、測定に供された試料５は、吸引機
２１に集められる。
て検出され、光検出部８からは粒径に応じた散乱／回折
光強度信号が出力され、この信号が演算制御装置として
のパソコン２８に入力される。このパソコン２８におい
ては、フランホーファ解析理論やミ−散乱理論に則った
演算式を用いて粒径分布が演算され、試料５における粒
径分布が求められ、測定結果がパソコン２８の表示装置
２８ａに表示されたり、例えばパソコン２８内のメモリ
に収納される。なお、測定に供された試料５は、吸引機
２１に集められる。
【００２３】上述のように、この発明の乾式粒径分布測
定装置においては、フローセル２に供給される前の試料
５を臨界圧および亜音速に達する上下方向の一次分散流
３０によって一次分散させ、その後、この一次分散され
た試料５に対して、一次分散流３０とは方向の異なる
（この場合、水平方向）かつ臨界圧および亜音速に達す
る二次分散流３１によって二次分散されるので、測定に
供される試料５が完全な一次粒子状態でなくても、エジ
ェクタ９通過後に、互いに方向の異なる分散流３０，３
１によって二度にわたって分散されることにより、粉粒
体の全てが一次粒子状態になり、所望の測定を精度よく
行うことができる。そして、従来において気中分散の常
識として分散の限界が１μｍであるとされてきた粉粒体
試料を、粒径がサブミクロンといった微粒子の状態にま
で分散させることができるようになった。
定装置においては、フローセル２に供給される前の試料
５を臨界圧および亜音速に達する上下方向の一次分散流
３０によって一次分散させ、その後、この一次分散され
た試料５に対して、一次分散流３０とは方向の異なる
（この場合、水平方向）かつ臨界圧および亜音速に達す
る二次分散流３１によって二次分散されるので、測定に
供される試料５が完全な一次粒子状態でなくても、エジ
ェクタ９通過後に、互いに方向の異なる分散流３０，３
１によって二度にわたって分散されることにより、粉粒
体の全てが一次粒子状態になり、所望の測定を精度よく
行うことができる。そして、従来において気中分散の常
識として分散の限界が１μｍであるとされてきた粉粒体
試料を、粒径がサブミクロンといった微粒子の状態にま
で分散させることができるようになった。
【００２４】そして、上述の実施の形態においては、試
料５に対する二次分散流３１を試料５の落下方向に対し
て順方向の角度をなすようにしていたが、図３に示すよ
うに、前記落下方向に対して垂直に、すなわち、試料ガ
イド部１１内に水平方向に吹き出すようにしてもよい。
また、二次分散された後の試料５の流れに対してシース
フロー１６を形成する場合、そのシースフロー源として
は、上述の実施の形態のように大気１４であってもよい
が、図３に示すように、圧縮空気１４Ａを用いるように
してもよい。
料５に対する二次分散流３１を試料５の落下方向に対し
て順方向の角度をなすようにしていたが、図３に示すよ
うに、前記落下方向に対して垂直に、すなわち、試料ガ
イド部１１内に水平方向に吹き出すようにしてもよい。
また、二次分散された後の試料５の流れに対してシース
フロー１６を形成する場合、そのシースフロー源として
は、上述の実施の形態のように大気１４であってもよい
が、図３に示すように、圧縮空気１４Ａを用いるように
してもよい。
【００２５】さらに、二次分散流３１を生じさせるため
の臨界圧・亜音速に達する圧縮空気１８ｂの吹出口１７
ｂ’を、試料ガイド部１１内における外周流３０ａの収
束点１１ａの周囲に複数箇所設けるようにしてもよい。
の臨界圧・亜音速に達する圧縮空気１８ｂの吹出口１７
ｂ’を、試料ガイド部１１内における外周流３０ａの収
束点１１ａの周囲に複数箇所設けるようにしてもよい。
【００２６】
【発明の効果】この発明の粒径分布測定装置において
は、空気を流動させているフローセルに供給するととも
に、このフローセルにレーザ光を照射して、前記試料に
よる散乱光および／または回折光の検出出力に基づいて
試料の粒径分布を測定する乾式粒径分布測定装置におい
て、前記フローセルに供給される前の試料を臨界圧およ
び亜音速に達する一次分散流によって一次分散させ、そ
の後、前記試料を前記一次分散流とは方向が異なるとと
もに臨界圧および亜音速に達する二次分散流によって二
次分散させるようにしているので、従来において気中分
散の常識として分散の限界が１μｍであるとされてきた
粉粒体試料を、粒径がサブミクロンといった微粒子の状
態にまで分散させることができ、所望の粒径分布測定を
精度よく行うことができるようになった。
は、空気を流動させているフローセルに供給するととも
に、このフローセルにレーザ光を照射して、前記試料に
よる散乱光および／または回折光の検出出力に基づいて
試料の粒径分布を測定する乾式粒径分布測定装置におい
て、前記フローセルに供給される前の試料を臨界圧およ
び亜音速に達する一次分散流によって一次分散させ、そ
の後、前記試料を前記一次分散流とは方向が異なるとと
もに臨界圧および亜音速に達する二次分散流によって二
次分散させるようにしているので、従来において気中分
散の常識として分散の限界が１μｍであるとされてきた
粉粒体試料を、粒径がサブミクロンといった微粒子の状
態にまで分散させることができ、所望の粒径分布測定を
精度よく行うことができるようになった。
【図１】この発明の乾式粒径分布測定装置の全体構成の
一例を概略的に示すものである。
一例を概略的に示すものである。
【図２】前記乾式粒径分布測定装置の要部の構成を拡大
して示すものである。
して示すものである。
【図３】前記乾式粒径分布測定装置の要部の構成の他の
例を拡大して示すものである。
例を拡大して示すものである。
２…フローセル、５…試料、６…光、１６…シースフロ
ー、３０…一次分散流、３１…二次分散流。
ー、３０…一次分散流、３１…二次分散流。
Claims (4)
- 【請求項１】 粉粒体状の試料を、空気を流動させてい
るフローセルに供給するとともに、このフローセルにレ
ーザ光を照射して、前記試料による散乱光および／また
は回折光の検出出力に基づいて試料の粒径分布を測定す
る乾式粒径分布測定装置において、前記フローセルに供
給される前の試料を臨界圧および亜音速に達する一次分
散流によって一次分散させ、その後、前記試料を前記一
次分散流とは方向が異なるとともに臨界圧および亜音速
に達する二次分散流によって二次分散させるようにした
ことを特徴とする乾式粒径分布測定装置。 - 【請求項２】 二次分散流が試料の落下方向に対して順
方向の角度を有する請求項１に記載の乾式粒径分布測定
装置。 - 【請求項３】 二次分散流が試料の落下方向に対して垂
直である請求項１に記載の乾式粒径分布測定装置。 - 【請求項４】 二次分散された後の試料の流れに対して
シースフローを形成するようにした請求項１〜３のいず
れかに記載の乾式粒径分布測定装置。
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| JP2008256363A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-23 | Nippon Steel Corp | 連続式降下粉塵計測装置 |
| JP2020085644A (ja) * | 2018-11-26 | 2020-06-04 | 株式会社セイシン企業 | 粉体の分散解析方法及び粉体分散解析装置 |
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| DE102005004273A1 (de) * | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Anatec As | Meßvorrichtung zur Bestimmung des Staubungsverhaltens von dispersen Systemen |
| US7440102B1 (en) | 2005-08-26 | 2008-10-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Systems and methods for analyzing polarized light scattered from a sample |
| CN100430689C (zh) * | 2006-11-29 | 2008-11-05 | 上海理工大学 | 基于激光回馈效应的细微颗粒测量方法 |
| JP5188758B2 (ja) * | 2007-07-17 | 2013-04-24 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
| CN101871807B (zh) * | 2010-04-16 | 2012-01-04 | 华南师范大学 | 次声波检测装置及次声波检测方法 |
| CN102353615B (zh) * | 2011-06-13 | 2013-04-17 | 东北石油大学 | 颗粒堆积物弥散度测量装置及测量方法 |
| US9074969B2 (en) * | 2012-04-18 | 2015-07-07 | Cooper Environmental Services Llc | Sample fluid stream probe |
| US9157871B2 (en) * | 2012-07-11 | 2015-10-13 | Met One Instruments, Inc. | Method and apparatus to enhance collection of particles in particulate mass measurement device |
| CN102854098B (zh) * | 2012-09-07 | 2014-07-23 | 首钢总公司 | 一种激光测试喷嘴粒度装置 |
| CN102841042B (zh) * | 2012-09-07 | 2014-08-27 | 首钢总公司 | 一种激光测试喷嘴粒度的方法 |
| US9746397B2 (en) | 2015-07-20 | 2017-08-29 | Cooper Environmental Services Llc | Sample fluid stream probe gas sheet nozzle |
| CN105445155B (zh) * | 2015-12-24 | 2019-02-01 | 上海微谱化工技术服务有限公司 | 顺丁橡胶中炭黑粒径的分析方法 |
| US10147592B2 (en) * | 2016-05-18 | 2018-12-04 | Perkinelmer Health Sciences Canada, Inc. | Spray chambers and methods of using them |
| JP6549747B2 (ja) * | 2017-04-14 | 2019-07-24 | リオン株式会社 | 粒子測定装置および粒子測定方法 |
| KR102068115B1 (ko) * | 2018-10-31 | 2020-01-20 | 주식회사 에이치시티엠 | 입자 측정 시스템 |
| CN115791554B (zh) * | 2023-01-06 | 2023-05-12 | 南京理工大学 | 粉体动态浓度测量装置及方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT8323712V0 (it) | 1983-12-01 | 1983-12-01 | Illycaffe Spa | Camera di osservazione di un materiale pulverulento. |
| JP3328032B2 (ja) * | 1993-11-04 | 2002-09-24 | シスメックス株式会社 | 粒子分析装置 |
| JP3164190B2 (ja) | 1994-09-23 | 2001-05-08 | 株式会社堀場製作所 | 乾式粒度分布測定装置 |
| US5579107A (en) | 1995-05-25 | 1996-11-26 | Horiba Instruments, Inc. | Method and apparatus for dry particle analysis |
| US6063194A (en) * | 1998-06-10 | 2000-05-16 | Delsys Pharmaceutical Corporation | Dry powder deposition apparatus |
| AU1808100A (en) * | 1998-10-28 | 2000-05-15 | Vitaly V. Romanenko | Electrodynamic particle size analyzer |
| US6384128B1 (en) * | 2000-07-19 | 2002-05-07 | Toray Industries, Inc. | Thermoplastic resin composition, molding material, and molded article thereof |
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- 2001-12-12 JP JP2001379029A patent/JP3809099B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2002
- 2002-12-11 US US10/316,555 patent/US6744507B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-11 EP EP02027641A patent/EP1319937B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-11 DE DE60228391T patent/DE60228391D1/de not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-12 CN CNB021567115A patent/CN1330960C/zh not_active Expired - Fee Related
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| EP1319937A1 (en) | 2003-06-18 |
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