JP2003172701A - 試料チップ解析装置 - Google Patents
試料チップ解析装置Info
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Abstract
く試料に結合された被検試料に標識された蛍光物質から
の発光を確実、かつ高精度に検出して被検試料の解析作
業を効率化することができる試料チップ解析装置及び解
析方法を提供する。 【解決手段】入射される光を導波可能な基板上に多数の
試料を固定した試料チップを保持する試料チップ保持部
材を試料チップの長手方向及び長手直交方向へそれぞれ
移動する第1及び第2移動装置と、白色光源と、試料チ
ップの試料に反応させる被検試料に標識された蛍光物質
を励起させる波長の光を選択する出力側フィルタ部材
と、透過光を各光照射部材に導入する光ファイバー束
と、一対の光照射部材間の試料チップに相対して設けら
れ、試料チップの試料と反応した被検試料に標識され励
起した蛍光物質から発光を選択的に透過する受光側フィ
ルタ部材と、透過した所定エリア毎の発光に応じた電気
信号を出力する受光装置とを備える。
Description
の遺伝子発現態様を解析したり、抗原抗体反応を解析し
たりする試料チップ解析装置及び解析方法に関する。
スライドガラス上にDNAプローブやRNAプローブ等
のポリヌクレオチドや蛋白質のペプチドプローブ等の各
種試料を、高密度(数十〜数万個/cm2)にマトリク
ス配列して固定した試料チップを使用している。
際には、試料チップ上の各試料に対して細胞や生体組織
から抽出されて調整されると共に蛍光物質が標識された
被検試料を付着させ、付着した試料と被検試料とが相補
的関係の場合には結合し、反対に非相補的関係の場合に
は非結合になる。
被検試料を洗い流した後に試料チップ表面を光学的に走
査して蛍光物質からの蛍光を検出することにより被検試
料が結合した試料に基づいて被検試料を特定している。
から光を試料チップ表面に所定のビーム径で収束させて
照射しながら試料チップからの光を受光する対物レンズ
及び試料チップを相対的に二次元移動させることにより
試料チップ全体を光学的に走査して蛍光物質を励起させ
ている。
からの蛍光と共に反射した蛍光物質の励起光も一緒に受
光されるため、蛍光と励起光とを選別する光学的フィル
タを設ける必要があるが、蛍光に比べて反射励起光の強
度が極めて高いため、蛍光検出に際して励起光の影響を
受け易く、検出精度が悪かった。また、所定形のビーム
で二次元方向へ順に走査するため、走査に時間がかか
り、短時間に測定できなかった。
的に受光するには対物レンズの受光可能範囲を広げる必
要からその径を大きくする必要があり、光照射装置が大
型化する問題をも有していた。
発光の検出精度を上げるには、試料チップに対して対物
レンズを可及的に近接させる必要があるが、対物レンズ
の物理的特性により近接距離に限界があり、蛍光を高精
度に検出できない問題をも有している。
して蛍光物質を励起して発光させる従来の装置にあって
は、試料チップにスポッティングされる試料及び被検試
料が液相状態の場合には液や液中に含まれる蛍光物質も
励起して発光するため、試料に反応する被検試料に標識
された蛍光物質のみを確実に励起して発光させることが
できず、測定精度が悪かった。
ために発明されたものであり、その課題とする処は、蛍
光物質の励起光や外乱光に影響されることなく試料に結
合した被検試料に標識された蛍光物質からの蛍光を確
実、かつ高精度に検出して被検試料の解析作業を効率化
することができる試料チップ解析装置を提供することに
ある。
エリア毎に走査して測定時間を短縮することができる試
料チップ解析装置を提供することにある。
ティングされる試料及び被検試料が液相状態であって
も、液や液中の蛍光物質の励起を抑制した状態で試料に
反応した被検試料に標識された蛍光物質のみ確実に励起
させて測定精度を高くすることができる試料チップ解析
装置を提供することにある。
を導波可能な基板上に多数の試料を固定した試料チップ
を保持する試料チップ保持部材を試料チップの長手方向
及び長手直交方向へそれぞれ移動する第1及び第2移動
装置と、波長400〜700nmの光を出力する白色光源
と、試料チップの試料に反応させる被検試料に標識され
た蛍光物質を励起させる波長の光を選択する出力側フィ
ルタ部材と、試料チップの長手直交方向端面及び長手方
向端面のいずれかに相対して設けられ、第1及び第2移
動装置のいずれかにより相対する端面間方向へ移動する
一対の光照射部材と、出力側フィルタ部材を透過した光
を各光照射部材に導入する光ファイバー束と、一対の光
照射部材間の試料チップに相対して設けられ、試料チッ
プの試料と反応した被検試料に標識されて光により励起
した蛍光物質から発光を選択的に透過する受光側フィル
タ部材と、受光側フィルタ部材を透過した発光に応じた
電気信号を出力する受光装置とを備え、一対の光照射部
材を相対する試料チップの端面間方向へ移動させると共
に試料チップをその長手方向及び長手直交方向へ移動さ
せながら基板内部にて入射される光を全反射させて試料
に反応する被検試料に標識された蛍光物質を励起して発
光させ、受光装置に受光される所定エリア毎の発光に応
じた電気信号に基づいて被検試料を解析可能にすること
を特徴とする。
て説明する。図1〜図6において、試料チップ解析装置
1のケース3内には図示する前後方向に軸線を有し、第
1ステップモータ5に連結された送りねじ(図示せず)
からなる前後送り機構7が取り付けられ、該前後送り機
構7の前後スライダー9には図示する左右方向へ延出す
る第1取付けアーム11が固定される。また、該前後ス
ライダー9には前後方向と直交する図示左右方向に軸線
を有し、第2ステップモータ13に連結された送りねじ
(図示せず)からなる左右送り機構15が固定される。
は上記した送りねじ機構の他にそれぞれのステップモー
タによりベルトを走行させて各スライダーを往復移動さ
せるベルト駆動機構であってもよい。
ー17には図示する左右方向へ延出する第2取付けアー
ム19が設けられる。該第2取付けアーム19の先端部
にはチップ保持部材21が固定される。
左右方向に長尺状の試料チップ23とほぼ一致する大き
さの開口25を有した平面ロ字形で、開口25の図示左
端部及び右端部に応じたチップ保持部材21には位置決
め用の段差部21aがそれぞれ形成される。
チップ保持部材21には図示する左右方向へ伸びる切欠
き部21bが開口25に連続して形成される。更に、チ
ップ保持部材21の図示する右端部にはセットされる試
料チップ23の固定させる押え板27の基端部が回動可
能に支持され、該押え板27の先端部はチップ保持部材
21の図示する左端部に係脱される。図示する押え板2
7は試料チップ23の上面全体を覆う大きさとしたが、
試料チップ23の上面四周を押える平面ロ字形であって
もよい。
端部相互が前後方向に試料チップ23の長手直交方向幅
とほぼ一致する間隔をおいて相対してそれぞれの切欠き
部21b内に位置する前後一対の光照射部材29・31
が取り付けられる。
持部材21は第1ステップモータ5の駆動に伴って前後
方向へ試料チップ23の長手直交方向幅とほぼ一致する
ストロークで移動可能に支持されると共にチップ保持部
材21は光照射部材29・31と独立して第2ステップ
モータ13の駆動に伴って左右方向へ試料チップ23の
長手方向長さとほぼ一致するストロークで往復移動され
る。
プ23は光の導波特性を有したスライドガラスや薄手状
ガラス板、プラスチック板等の基板23a上に、DNA
やRNA等のポリヌクレオチドや蛋白質のペプチド等の
多数の試料23bを所定の密度(数千〜数万個/c
m2)で、互いに所定の間隔(200μm)をおいたマ
トリクス状に付着固定してなる。
フィルタ装置33を介して白色光源35に接続された多
数の光ファイバー束37・39を基板23aの厚さとほ
ぼ一致する幅で長手方向に対する試料チップ23の走査
ストロークの約3倍の長さに束ねるヘッド部材41・4
3と、各ヘッド部材41・43の照射端から照射される
光を基板23aの厚さとほぼ一致する幅で、長手方向に
対する試料チップ23の走査ストロークの約3倍の長さ
に収束させる棒レンズ45・47と、各ヘッド部材41
・43からの光を棒レンズ45・47側へ、また棒レン
ズ45・47からの光を各光照射部材29・31の照射
端にそれぞれ導く鏡面体49・51とから構成される。
棒レンズ45・47の軸線方向長さは、後述する対物レ
ンズ57の受光可能幅に応じて適宜選択され、基板23
aの長手直交方向端面に対して結像させる。
持部材21におけるそれぞれの切欠き部21b内に位置
して試料チップ23の長手直交方向の各端面に対して光
を約40〜50度、望ましくは45度の角度で照射させ
るように相対し、チップ保持部材21と非接触状態で長
手方向へ移動可能に配置される。
で、該帯域における光強度が高い、例えばメタルハライ
ドランプ、キセノンランプ等からなる。メタルハライド
ランプとした場合にあっては、上記した波長の全帯域で
高いピーク強度を得ることができる。
タ33aに連結された回転板33bの周縁に複数のフィ
ルタ33cを周方向へ等間隔に設け、回転板33bの回
転に伴って所望のフィルタ33cを白色光源35の照射
口に選択的に一致させるように構成される。各フィルタ
33cは上記した波長帯域で後述する蛍光物質を蛍光励
起させる励起波長のみを透過させる。そして照射口に相
対する出力側フィルタ装置33の前面には各光ファイバ
ー束37・39の一端部を保持する保持部材33dが設
けられる。
方に応じたケース3内には図示する上下方向及び左右方
向に軸線を有した鏡筒53が設けられ、該鏡筒53にお
ける上下軸と左右軸の接続箇所には45度に傾いた反射
鏡55が設けられる。
部(図示する上端部)には対物レンズ群57が設けら
れ、該対物レンズ群57は試料チップ23における所定
エリア、基板23aにスポッティングされた試料23b
の内、例えば長手直交方向に対しては2スポット分及び
長手方向に対しては2スポット分のエリアに応じた受光
面となるように焦点が設定され、該エリアに応じた試料
チップ23からの蛍光を後述する受光装置61における
受光面に焦点を結ぶように屈折させる。
部)には受光側フィルタ装置59を介して、例えばCC
Dカメラや多数の受光素子をマトリクス状に配列して所
望の受光面を有する受光装置61が設けられる。該受光
装置61は試料チップ23からの蛍光の強度分布を電気
信号へ変換する。受光装置61としては試料チップ23
におけるそれぞれの走査エリア毎を撮像データ又は2値
化データをバッファメモリ(図示せず)に記憶して表示
装置(図示せず)に表示させる。
の出力側フィルタ装置33と同様に電動モータ59aに
連結された回転板59bの周縁側に、被検試料に標識さ
れる各種蛍光物質から励起された蛍光波長のみを透過す
る複数のフィルタ59cが、鏡筒53の出射端面に対し
て選択的に一致するように設けられる。また、受光装置
61の受光端は選択的に一致されるフィルタ59cを介
して鏡筒53の出射端面に相対するように設けられる。
る被検試料の解析作用を説明する。
ると、試料チップ23に配列固定された試料23bに対
して被検試料65をハイブリダイズするには、細胞や生
体組織から抽出して調整され、蛍光物質(図示せず)、
例えば波長485〜530nmの蛍光を励起する蛍光物質
Cy3や波長590〜630nmの蛍光を励起する蛍光物質C
y5が標識された被検試料65を含んだ緩衝液を試料2
3bの表面に付着させて所定時間、放置する。このと
き、被検試料と試料23bとが互いに相補的な場合には
ハイブリダイズして2本鎖構造になり、反対に異なる場
合には非結合状態に保たれる。
ブリダイズするのに必要な時間を経過した後に、試料チ
ップ23の上面を、純水や緩衝液により洗浄し、試料2
3bと非結合の被検試料を洗浄して除去する。
1上に試料チップ23を、その長手方向端部を段差部2
1aにそれぞれ係合させて位置決めしてセットした後に
押え板27を回動操作してその先端部をチップ保持部材
21に掛け止めして試料チップ23の上面を押圧して固
定させる。これにより試料チップ21を二次元方向へ移
動させる際に試料チップ23が振動するのを抑えて対物
レンズ群57の焦点がずれるのを防止している。
1における光照射端はチップ保持部材21の切欠き部2
1b内に位置してセットされた試料チップ23における
長手方向の図示する右端側の長手直交方向の各端面に上
記した所定の角度で光を照射するように相対するように
位置している。また、対物レンズ群57はセットされた
試料チップ23の長手方向の図示する右端側で長手直交
方向の図示する前端側に応じた走査エリア下面に相対し
ている。
に応じて出力側フィルタ装置33の電動モータ33aを
駆動して回転板33bを回転して蛍光物質を蛍光励起さ
せる波長のフィルタ33cを白色光源35の照射口に、
また、受光側フィルタ装置59の電動モータ59aを駆
動して回転板59bを回転して励起された蛍光波長を透
過させるフィルタ59cを受光装置61の受光端に一致
させる。
標識された蛍光物質に応じて選択された所定のフィルタ
33cを透過した光をそれぞれの光ファイバー束37・
39を介して棒レンズ45・47により収束させると共
に試料チップ23における基板23a長手直交方向端面
に所定箇所に入射させながら第1ステップモータ5を駆
動してチップ保持部材21、従って試料チップ23を図
示する前後方向へ移動しながら対物レンズ群57に相対
させる。
査時に入射した光は基板23a内において入射角が臨界
角以上になって全反射しながら他端側に向かって導波さ
せられ、試料チップ23の表裏面においては内部にて全
反射する際にエバネッセン波が発生し、一部が試料チッ
プ23の外面側にしみ出し、しみ出した光の電場により
試料23bにハイブリダイズされた被検試料65に標識
された蛍光物質を励起して発光させる。(図8及び図9
参照)
セン波は光のほぼ1波長分のため、試料チップ23に付
着した被検試料65に標識された蛍光物質のみを励起し
て発光させ、試料チップ23に付着した溶液や被検試料
溶液中の蛍光物質が発光するのを回避している。
57により受光装置61の受光面に焦点を結ぶように屈
折させながら鏡筒53内を通ってフィルタ59cを介し
て受光装置61に受光される。
光物質に応じて選択されているため、励起された蛍光波
長のみを透過させ、外乱光を遮断して蛍光の検出精度を
高くすることができる。
る長手方向の所定走査エリアの長手直交方向後端側に対
物レンズ群57を位置させて該所定エリアの走査が終了
すると、この状態、又は試料チップを長手直交方向の前
端側に戻した後に、第2ステップモータ13を駆動して
試料チップ23を長手方向の右方へ移動して次位の走査
エリアに対物レンズ群57を相対させる。(図7参照)
モータ5を駆動して試料チップ23を長手直交方向へ移
動させながら長手直交方向の端面に対して光を入射させ
て該走査エリアを長手直交方向へ走査して試料23bに
ハイブリダイズした被検試料65に標識された蛍光物質
からの蛍光を検出して被検試料65の解析作業を行う。
る。 1.対物レンズ57に対して試料チップ23をその長手
方向及び長手直交方向へ移動しながら試料チップ23を
対物レンズ57による受光エリアに応じて走査し、試料
23bにハイブリダイズした被検試料65に標識された
蛍光物質からの蛍光を検出可能にするため、対物レンズ
群57として小型のものを使用して試料チップ23に直
下に位置させることにより装置を小型化すると共に外乱
光の影響を少なくして検出精度を高くすることができ
る。
発光させるのに適した各種の波長成分からなる白色光源
35を使用すると共に該光源35からの光をフィルタ3
3cにより、標識された蛍光物質を蛍光励起させる所望
の波長の光のみを透過させて基板23a内を導波させる
ことにより標識される各種蛍光物質を効率的に発光させ
て検出精度を高めることができる。
プを使用する場合にあっては、各波長帯域にて高い強度
の光を得ることができ、蛍光物質を効率的に発光させる
ことができる。
長手直交方向端面に対する光の入射角を約40〜50
度、好ましくは約45度とするため、基板23aの内部
にて光を効率的に全反射させて導波してエバネッセン波
を効率的に発生させることができる。
ア毎に走査して蛍光を検出するため、走査時間を短縮し
て測定時間を単時間に行うことができる。
であっても、試料に反応した被検試料に標識された蛍光
物質のみを励起させる一方、液や液中の蛍光物質が励起
して発光するのを回避して測定精度を高めることができ
る。
囲に含む。 1.チップ保持部材21に対して図示する前後方向が長
尺状の試料チップ23を保持させてその長手方向の各端
面に光照射部材29・31を相対させて基板23aの内
部に光を入射させる構成であってもよい。
交方向の各端面に光照射部材29・31を相対させて基
板23aの内部に光を入射させる構成であってもよい。
料チップ23の上面側に対物レンズ群57、鏡筒53、
受光側フィルタ装置59及び受光装置61を配置して試
料23bに反応した被検試料65に標識された蛍光物質
からの蛍光を検出してもよい。この場合にあっては、押
え部材を枠形状とすればよい。
して試料チップを二次元方向へ移動走査しながら基板の
端面から導入される光により試料に反応した被検試料に
標識された蛍光物質を励起して発光させるものとした
が、例えば試料チップを長手直交方向へ移動させると共
に左右送り機構により光照射部材及び受光装置を試料チ
ップの長手方向へ移動させて二次元走査する機構として
もよい。
試料チップを長手方向へ、また受光装置を長手直交方向
へ移動するように設けて二次元走査する機構としてもよ
い。
影響されることなく試料と結合又は反応した被検試料に
標識された蛍光物質からの発光を確実、かつ高精度に検
出して被検試料の解析作業を効率化することができる。
また、簡易な操作で異なる波長の発光を高精度に検出し
て解析作業を効率化することができる。また、本発明
は、試料チップを所定のエリア毎に走査して測定時間を
短縮することができる。更に本発明は、試料チップにス
ポッティングされる試料及び被検試料が液相状態であっ
ても、液中の蛍光物質の励起を抑制した状態で試料に反
応する被検試料に標識された蛍光物質のみを励起させて
測定精度を高くすることができる。
る。
る。
る。
Claims (8)
- 【請求項1】入射される光を導波可能な基板上に多数の
試料を固定した試料チップを保持する試料チップ保持部
材を試料チップの長手方向及び長手直交方向へ移動させ
る第1及び第2移動装置とと、波長400〜700nmの
光を出力する白色光源と、試料チップの試料に反応させ
る被検試料に標識された蛍光物質を励起させる波長の光
を選択する出力側フィルタ部材と、試料チップの長手直
交方向端面及び長手方向端面のいずれかに相対して設け
られ、第1及び第2移動装置のいずれかにより相対する
端面間方向へ移動する一対の光照射部材と、出力側フィ
ルタ部材を透過した光を各光照射部材に導入する光ファ
イバー束と、一対の光照射部材間の試料チップに相対し
て設けられ、試料チップの試料と反応した被検試料に標
識されて光により励起した蛍光物質から蛍光波長を選択
的に透過する受光側フィルタ部材と、受光側フィルタ部
材を透過した蛍光の強度分布を電気信号に変換して出力
する受光装置とを備え、一対の光照射部材を相対する試
料チップの端面間方向へ移動させると共に試料チップを
その長手方向及び長手直交方向へ移動させながら基板内
部にて入射される光を全反射させて試料に反応する被検
試料に標識された蛍光物質を励起して発光させ、受光装
置に受光される所定エリア毎の蛍光強度分布を電気信号
に変換し、該電気信号に基づいて被検試料を解析可能に
する試料チップ解析装置。 - 【請求項2】白色光源はメタルハライドランプ及びキセ
ノンランプのいずれかとした請求項1の試料チップ解析
装置。 - 【請求項3】一対の光照射部材は基板の入射端面に対し
て光ファイバー束から光を結像させて内部に約40〜5
0度の入射角度で光を入射させる請求項1の試料チップ
解析装置。 - 【請求項4】出力側フィルタ部材は回転板に、被検試料
に標識される異なる種類の蛍光物質を励起させる波長の
光を透過させる複数のフィルタを設け、回転板の回転に
伴って被検試料に標識された蛍光物質に応じたフィルタ
を選択可能にした請求項1の試料チップ解析装置。 - 【請求項5】受光側フィルタ部材は回転板に、異なる波
長の蛍光波長を透過させる複数のフィルタを設け、回転
盤の回転に伴って被検試料に標識された蛍光物質に応じ
たフィルタを選択して所望の蛍光波長のみを受光装置に
受光可能にした請求項1の試料チップ解析装置。 - 【請求項6】入射される光を導波可能な基板上に多数の
試料を固定した試料チップを長手直交方向へ移動させる
第1移動装置と、該第1移動装置に連結され、試料チッ
プを保持する試料チップ保持部材を試料チップの長手方
向へ移動する第2移動装置と、波長400〜700nmの
光を出力する白色光源と、試料チップの試料に反応させ
る被検試料に標識された蛍光物質を励起させる励起光を
選択的に透過させる複数のフィルタを設けた出力側フィ
ルタ部材と、試料チップの長手直交方向端面に相対し、
第1移動装置により長手直交方向へ移動しながら基板内
部に対して光を約40〜50度の角度で入射させる一対
の光照射部材と、出力側フィルタ部材を透過した所望波
長の励起光を各光照射部材に導入する光ファイバー束
と、一対の光照射部材間の試料チップに相対して設けら
れ、試料チップの試料と反応した被検試料に標識されて
光により励起した蛍光物質からの蛍光波長に応じた複数
のフィルタが設けられた受光側フィルタ部材と、受光側
フィルタ部材を透過した発光に応じた電気信号を出力す
る受光装置とを備え、一対の光照射部材を試料チップの
長手直交方向へ移動させると共に試料チップをその長手
方向へ移動させながら基板内部にて入射される光を全反
射させて試料に反応する被検試料に標識された蛍光物質
を励起して発光させて受光装置に受光される蛍光の強度
分布を電気信号に変換し、該電気信号に基づいて被検試
料を解析可能にする試料チップ解析装置。 - 【請求項7】入射される光を導波可能な基板上に多数の
試料を固定した試料チップを保持する試料チップ保持部
材を試料チップの長手方向へ移動させる第1移動装置
と、波長400〜700nmの光を出力する白色光源と、
試料チップの試料に反応させる被検試料に標識された蛍
光物質を励起させる波長の光を選択する出力側フィルタ
部材と、試料チップの長手直交方向端面に相対して設け
られ光照射部材と、出力側フィルタ部材を透過した光を
各光照射部材に導入する光ファイバー束と、一対の光照
射部材間の試料チップに相対して設けられ、試料チップ
の試料と反応した被検試料に標識されて光により励起し
た蛍光物質から蛍光波長を選択的に透過する受光側フィ
ルタ部材と、受光側フィルタ部材を透過した蛍光の強度
分布を電気信号に変換して出力する受光装置と、受光装
置を試料チップの長手直交方向へ移動する第移動装置
とを備え、一対の光照射部材が長手直交方向端面に相対
した状態で試料チップをその長手方向へ移動させると共
に受光装置を試料チップの長手直交方向へ移動して基板
内部にて入射される光を全反射させて試料に反応する被
検試料に標識された蛍光物質を励起して発光させ、受光
装置に受光される所定エリア毎の蛍光強度分布を電気信
号に変換し、該電気信号に基づいて被検試料を解析可能
にする試料チップ解析装置。 - 【請求項8】入射される光を導波可能な基板上に多数の
試料を固定した試料チップを保持する試料チップ保持部
材を試料チップの長手直交方向へ移動させる第1移動装
置と、波長400〜700nmの光を出力する白色光源
と、試料チップの試料に反応させる被検試料に標識され
た蛍光物質を励起させる波長の光を選択する出力側フィ
ルタ部材と、試料チップの長手直交方向端面に相対して
設けられ光照射部材と、出力側フィルタ部材を透過した
光を各光照射部材に導入する光ファイバー束と、一対の
光照射部材間の試料チップに相対して設けられ、試料チ
ップの試料と反応した被検試料に標識されて光により励
起した蛍光物質から蛍光波長を選択的に透過する受光側
フィルタ部材と、受光側フィルタ部材を透過した蛍光の
強度分布を電気信号に変換して出力する受光装置と、一
対の光照射部材及び受光装置を試料チップの長手方向へ
移動する第2移動装置とを備え、試料チップをその長手
方向へ移動させると共に長手直交方向端面に相対する一
対の光照射部材及び受光装置を試料チップの長手方向へ
移動して基板内部にて入射される光を全反射させて試料
に反応する被検試料に標識された蛍光物質を励起して発
光させ、受光装置に受光される所定エリア毎の蛍光強度
分布を電気信号に変換し、該電気信号に基づいて被検試
料を解析可能にする試料チップ解析装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008032420A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | エバネッセント励起蛍光観察における背景蛍光を減弱する方法及び部材 |
JP2008268063A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Sanyo Electric Co Ltd | エバネッセント波発生装置及びそれを用いた観察装置 |
JP2013024795A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Rexxam Co Ltd | 全反射蛍光観察装置 |
CN113670873A (zh) * | 2021-08-18 | 2021-11-19 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种荧光检测系统 |
-
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- 2001-12-07 JP JP2001374432A patent/JP3769226B2/ja not_active Expired - Lifetime
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