JP2003170352A - Mask for organic molecule vapor deposition and its manufacturing method - Google Patents

Mask for organic molecule vapor deposition and its manufacturing method

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JP2003170352A
JP2003170352A JP2001370912A JP2001370912A JP2003170352A JP 2003170352 A JP2003170352 A JP 2003170352A JP 2001370912 A JP2001370912 A JP 2001370912A JP 2001370912 A JP2001370912 A JP 2001370912A JP 2003170352 A JP2003170352 A JP 2003170352A
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predetermined
ceramic substrate
mask
photosensitive resin
vapor deposition
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Japanese (ja)
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Masabumi Mogi
正文 茂木
Yasuyuki Nakamura
泰之 中村
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Alps Engineering Co Ltd
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Alps Engineering Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To form a mask for organic molecule vapor deposition of a ceramic material of less thermal deformation. <P>SOLUTION: The ceramic made mask having a specified opening pattern is formed by devising both surfaces of a ceramic made substrate 1 having specified thickness to have specified surface roughness by applying a blast working means on them on its foundation, providing a photosensitive resin material on the both surfaces applied with such surface work, forming specified masking patterns 2, 2' under a photoresist method and forming a through part 11 having a specified opening form on the ceramic made substrate 1 by applying specified blast work from the both surface sides on the ceramic made substrate 1 on both surfaces of which the masking patterns 2, 2' are formed. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、有機エレクトロル
ミネッセンス素子(以下有機EL素子と言う)または有
機発光ダイオード(以下有機LEDと言う)を有機分子
蒸着法にて製造する場合に用いられるマスクに関するも
のであり、特に、当該マスクをセラミック製平板材を基
礎に形成するようにした有機分子蒸着用マスク及びその
製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mask used for manufacturing an organic electroluminescence element (hereinafter referred to as an organic EL element) or an organic light emitting diode (hereinafter referred to as an organic LED) by an organic molecule vapor deposition method. In particular, the present invention relates to a mask for organic molecule vapor deposition in which the mask is formed on the basis of a ceramic flat plate material and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、有機EL素子あるいは有機LE
Dは、図5に示す如く、ガラス基盤10上に設けられた
陽極電極20と、金属電極からなる陰極70との間に、
正孔発生層30、正孔輸送層40、発光層50、電子輸
送層60が設けられるようになっているものである。そ
して、これら各層が封止キャップ80にて覆われるとと
もに、内部に窒素ガスが封入された状態で密閉されるよ
うになっているものである。ところで、このような構成
からなる素子の形成(製造)、特に、発光層50の形成
に当っては、所定の発光物質を所定のパターンを有する
マスクを透過させた状態で上記ガラス基盤10上に蒸着
させる有機分子蒸着法が採用されるようになっている。
そして、この有機分子蒸着法において用いられるマスク
としては、鉄(Fe)系の金属材料からなるメタルマス
クが採用されている。
2. Description of the Related Art Generally, an organic EL element or an organic LE is used.
As shown in FIG. 5, D is between the anode electrode 20 provided on the glass substrate 10 and the cathode 70 made of a metal electrode,
The hole generating layer 30, the hole transporting layer 40, the light emitting layer 50, and the electron transporting layer 60 are provided. Then, each of these layers is covered with a sealing cap 80, and is hermetically sealed with nitrogen gas sealed inside. By the way, in forming (manufacturing) an element having such a structure, particularly in forming the light emitting layer 50, a predetermined light emitting substance is passed through a mask having a predetermined pattern on the glass substrate 10. An organic molecular vapor deposition method for vapor deposition has been adopted.
As a mask used in this organic molecule vapor deposition method, a metal mask made of an iron (Fe) -based metal material is adopted.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このメタル
マスクを用いた有機分子蒸着法においては、有機分子蒸
着作業時に、上記メタルマスクが熱膨張による変形をし
てマスクパターンに誤差が生ずると言う問題点がある。
また、蒸着作業時に、上記有機物質がマスクパターンの
周辺部に付着した場合、マスク自体がステンレススチー
ル等の金属材料からなるものであるので、上記付着物質
を化学溶剤等にて簡単に除去することができないと言う
問題点がある。このような問題点を解決するために、マ
スクをセラミック製板材を基礎に、これにブラスト加工
手段を施すことによって形成させるようにした、有機分
子蒸着用セラミックマスク及びその製造方法を提供しよ
うとするのが、本発明の目的(課題)である。
By the way, in the organic molecule vapor deposition method using this metal mask, the metal mask is deformed due to thermal expansion during the organic molecule vapor deposition work, resulting in an error in the mask pattern. There is a point.
Further, when the organic substance adheres to the peripheral portion of the mask pattern during the vapor deposition operation, the mask itself is made of a metal material such as stainless steel. Therefore, the attached substance should be easily removed with a chemical solvent or the like. There is a problem that you cannot do it. In order to solve such a problem, it is an object of the present invention to provide a ceramic mask for organic molecule vapor deposition and a method for manufacturing the same, in which a mask is formed by applying a blasting process to a ceramic plate material as a base. That is the object (problem) of the present invention.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明においては次のような手段を講ずることとし
た。すなわち、請求項1記載の発明においては、有機エ
レクトロルミネッセンス素子等の発光部を有機分子蒸着
法により形成する際に用いられるマスクに関して、所定
の厚さを有するセラミック製基板を基礎に、その両面に
ブラスト加工手段を施すことによって当該両表面が所定
の表面粗さを有するようにし、このような表面加工の施
された両表面に感光性樹脂材を設けるとともに、ここに
フォトレジスト法にて所定のマスキングパターンを形成
させ、このような両面にマスキングパターンの形成され
た上記セラミック製基板上に、両面側から所定のブラス
ト加工を施すことによって上記セラミック製基板に所定
の開口形態を有する貫通部を形成させ、これによって所
定の開口パターンを有するセラミック製マスクを形成さ
せるようにした構成を採ることとした。このような構成
を採ることにより、本発明のものにおいては、耐熱性に
優れた、かつ、付着した有機物質等を化学溶剤にて簡単
に除去することができて再利用に適した蒸着用マスクを
効率良く得ることができるようになる。
In order to solve the above-mentioned problems, the following measures are taken in the present invention. That is, in the invention according to claim 1, a mask used for forming a light emitting portion of an organic electroluminescence element or the like by an organic molecule vapor deposition method is based on a ceramic substrate having a predetermined thickness, and both surfaces thereof are formed. Both surfaces are made to have a predetermined surface roughness by applying blasting means, and a photosensitive resin material is provided on both surfaces subjected to such surface processing, and a predetermined method is applied there by a photoresist method. A masking pattern is formed, and a blasting process having a predetermined opening form is formed on the ceramic substrate by performing a predetermined blasting process on both sides of the ceramic substrate on which masking patterns are formed on both sides. Then, a structure is formed by which a ceramic mask having a predetermined opening pattern is formed. Was Rukoto. By adopting such a configuration, in the present invention, a vapor deposition mask excellent in heat resistance and capable of easily removing attached organic substances and the like with a chemical solvent and suitable for reuse. Can be obtained efficiently.

【0005】次に、請求項2記載の発明について説明す
る。このものも、その基本的な点は上記請求項1記載の
ものと同じであり、その特徴とするところは有機分子蒸
着法に用いられるマスクの製造方法に関する点である。
すなわち、本発明においては、有機エレクトロルミネッ
センス素子等の発光部を有機分子蒸着法にて形成する際
に用いられるマスクの製造方法に関して、所定の厚さを
有するセラミック製基板を基礎に、その両面に、ブラス
ト加工手段にて上記両面が所定の表面粗さを有するよう
に成形加工をする表面調整工程と、当該所定の表面粗さ
を有するように形成された上記両面上に感光性樹脂材か
らなる被膜層を形成するとともに、当該感光性樹脂被膜
層のところにフォトレジスト法にて所定の形態からなる
マスキングパターンを設けるマスキングパターン形成工
程と、当該マスキングパターンの設けられた一方の面側
から所定のブラスト加工手段を施すことによって上記セ
ラミック製基板の一方の面側を凹陥状に成形加工する第
一のブラスト研削工程と、当該凹陥状にブラスト加工さ
れた面側の上記感光性樹脂製マスキングパターンの上側
に、更に感光性樹脂材からなる被膜を設けて全体を覆う
被膜形成工程と、このような被膜の設けられた面側とは
反対の面側のところを所定のブラスト加工手段にて成形
加工し上記セラミック製基板の部分に所定の貫通部が形
成されるようにブラスト加工を施す第二のブラスト研削
工程と、このようにセラミック製基板のところに所定の
貫通部の形成された状態のものの、その両表面側に設け
られている感光性樹脂材からなるマスキングパターン及
び被膜を所定の溶剤にて除去する感光性樹脂材除去工程
と、からなるようにした。
Next, the invention according to claim 2 will be described. This is also the same as the first aspect of the invention, and its characteristic is the method of manufacturing a mask used in the organic molecule vapor deposition method.
That is, in the present invention, with respect to a method of manufacturing a mask used when forming a light emitting portion such as an organic electroluminescence element by an organic molecule vapor deposition method, based on a ceramic substrate having a predetermined thickness, on both sides thereof. A surface adjusting step of forming by blasting means so that both surfaces have a predetermined surface roughness, and a photosensitive resin material formed on both surfaces so as to have the predetermined surface roughness. A masking pattern forming step of forming a coating layer and providing a masking pattern of a predetermined form on the photosensitive resin coating layer by a photoresist method, and a predetermined pattern from one surface side on which the masking pattern is provided. First blast grinding for forming one surface side of the ceramic substrate into a concave shape by applying blast processing means And a step of forming a coating film made of a photosensitive resin material on the upper side of the masking pattern made of the photosensitive resin on the surface side that has been blasted into the concave shape to cover the whole, and the provision of such a coating film. A second blast grinding step in which the surface side opposite to the formed surface side is formed by a predetermined blast processing means and blast processing is performed so that a predetermined penetrating portion is formed in the portion of the ceramic substrate. And, in such a state that a predetermined penetrating portion is formed on the ceramic substrate, the masking pattern and the film made of the photosensitive resin material provided on both surface sides of the ceramic substrate are removed by a predetermined solvent. And a photosensitive resin material removing step.

【0006】このような工程を採ることにより、本発明
のものにおいては、熱変形に強い、かつ、付着した有機
物質等を化学溶剤にて簡単に除去することができて再利
用に適したマスクを効率良く製造することができるよう
になる。特に、本発明においては、上記表面調整工程に
おいてセラミック基板の表面を適度な粗さに仕上げるよ
うにしているので、感光性樹脂材の密着度が増すととも
に、研削手段にて所定の厚さを有するように成形加工さ
れた上記セラミック製基板内に蓄積された残留応力等
を、両表面に所定のブラスト加工を施すことによって除
去することができるようになり、上記セラミック製基板
の歪、ソリ等を除去することができるようになる。ま
た、上記セラミック製基板に所定の貫通部(貫通孔)を
設けるに当って、最初にブラスト研削加工を施して所定
の凹陥部を形成させるようにした、その面側に、更に感
光性樹脂材による被膜を設け、この面側を樹脂製被膜に
て覆うようにすることによって、反対側からのブラスト
研削加工時に、上記樹脂製被膜のところで研磨材を反射
させることによって、貫通孔の壁面にダレ等のない、円
滑な壁面を有する貫通孔を得ることができるようにな
る。これによって、貫通孔がシャープな形状に成形加工
(孔あけ加工)されるようになる。その結果、正確なパ
ターンを有するマスクが形成されることとなる。
By adopting such a process, the mask of the present invention is suitable for reuse because it is resistant to thermal deformation and the attached organic substances can be easily removed with a chemical solvent. Can be manufactured efficiently. Particularly, in the present invention, since the surface of the ceramic substrate is finished to have an appropriate roughness in the surface adjusting step, the degree of adhesion of the photosensitive resin material is increased, and the grinding means has a predetermined thickness. The residual stress accumulated in the ceramic substrate molded as described above can be removed by subjecting both surfaces to a predetermined blasting process, and distortion, warpage, etc. of the ceramic substrate can be removed. You will be able to remove it. Further, in providing a predetermined through-hole (through-hole) on the ceramic substrate, a blast grinding process is first performed to form a predetermined recess, and a photosensitive resin material is further formed on the surface side. By coating the resin coating on this surface side, the abrasive material is reflected at the resin coating at the time of blast grinding from the opposite side, so that the wall surface of the through hole is sagged. Thus, it is possible to obtain a through hole having a smooth wall surface having no unevenness. As a result, the through holes can be formed (drilled) into a sharp shape. As a result, a mask having an accurate pattern is formed.

【0007】次に、請求項3記載の発明について説明す
る。このものも、その基本的な点は上記請求項2記載の
ものと同じである。すなわち、本発明においては、請求
項2記載の有機分子蒸着用マスクの製造方法に関して、
上記表面調整工程におけるセラミック製基板の両表面粗
さを、JIS規格における表面粗さ表示法において、R
aの値が0.1〜0.3μmの範囲内に、または、Rma
xの値が1〜5μmの範囲内に入るように設定するよう
にした。このような表面粗さを有するように上記両面に
ブラスト加工を施すことによって、上記セラミック製基
板の表面に微細な凹凸部が無数に形成されるようにな
り、このような無数の凹凸部の作用により、感光性樹脂
被膜の密着度が、より高められるようになる。その結
果、このようなマスキングパターンを基礎に、そこにブ
ラスト研削加工が施されることとなるので、このブラス
ト研削加工にて形成されるマスクの貫通部の形状は、そ
の輪郭形状がより明確に形成されることとなる。
Next, the invention according to claim 3 will be described. This one is also the same as the one described in claim 2 in the basic point. That is, in the present invention, the method for manufacturing the organic molecule vapor deposition mask according to claim 2,
Both surface roughnesses of the ceramic substrate in the above-mentioned surface adjusting step are represented by R in the surface roughness display method in JIS standard.
The value of a is within the range of 0.1 to 0.3 μm, or Rma
The value of x is set to fall within the range of 1 to 5 μm. By subjecting both surfaces to blasting so as to have such a surface roughness, innumerable fine irregularities are formed on the surface of the ceramic substrate, and the action of such innumerable irregularities As a result, the degree of adhesion of the photosensitive resin film can be further increased. As a result, since the blast grinding process is performed on the basis of such a masking pattern, the shape of the penetrating portion of the mask formed by this blast grinding process has a more clearly defined contour shape. Will be formed.

【0008】次に、請求項4記載の発明について説明す
る。このものも、その基本的な点は上記請求項2記載の
ものと同じである。すなわち、本発明においては、請求
項2記載の有機分子蒸着用マスクの製造方法に関して、
上記セラミック製基板の両側に設けられる感光性樹脂製
の被膜層からなるマスキングパターンの、それぞれの対
応する開口部の開口幅を、いずれか一方の面側に形成さ
れるものの方が他方の面側に形成されるものよりも、若
干小さ目の値を有するように設定することとした。この
ように設定することによって、第一のブラスト研削工程
及び第二のブラスト研削工程にて形成されるセラミック
製基板に設けられる貫通孔(貫通部)の断面形状が、例
えば図2の最終工程図に示す如く、一方の表面側に沿っ
てテーパ状に形成されるようになる。その結果、テーパ
状貫通孔(貫通部)の一方の表面側に形成される開口部
であって幅の小さく形成された側の端面形状はシャープ
な形態に形成されることとなる。従って、このような開
口部パターンを有するマスクを基準にして、ガラス基盤
上等に発光物質を蒸着させることによって発光部の輪郭
形態をシャープな形状に形成させることができるように
なる。
Next, the invention according to claim 4 will be described. This one is also the same as the one described in claim 2 in the basic point. That is, in the present invention, the method for manufacturing the organic molecule vapor deposition mask according to claim 2,
The masking pattern made of a photosensitive resin coating layer provided on both sides of the ceramic substrate has the opening width of each corresponding opening portion which is formed on one surface side is the other surface side. It was decided to set the value to be slightly smaller than that formed in the above. By setting in this way, the cross-sectional shape of the through hole (penetrating portion) provided in the ceramic substrate formed in the first blast grinding step and the second blast grinding step is, for example, the final step diagram in FIG. As shown in FIG. 5, the taper shape is formed along one surface side. As a result, the end face shape of the opening formed on one surface side of the tapered through hole (penetrating part) and having a small width is formed in a sharp shape. Therefore, by using the mask having such an opening pattern as a reference, a light emitting material is vapor-deposited on a glass substrate or the like, so that the outline shape of the light emitting portion can be formed in a sharp shape.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図1
ないし図4を基に説明する。本実施の形態に関するもの
は、図3に示すような有機エレクトロルミネッセンス素
子のガラス基盤10上に、所定の発光物体110を、真
空蒸着法等の所定の手段にて蒸着形成させる際に用いら
れるマスクに関するものであり、特に、そのマスクを形
成する素材としてセラミック材を用いるようにしたこと
を特徴とするものである。なお、この場合に用いられる
セラミック材としては、窒化ケイ素(SiN)系のも
の、アルミナ系のもの、あるいは硬質ガラス成分の所定
量混ぜ合わされたガラス含有セラミック材(通称ガラセ
ラ材と言う)等が挙げられる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.
4 to FIG. 4. The present embodiment relates to a mask used when a predetermined light emitting object 110 is vapor-deposited and formed on a glass substrate 10 of an organic electroluminescence device as shown in FIG. 3 by a predetermined means such as a vacuum vapor deposition method. In particular, it is characterized in that a ceramic material is used as a material for forming the mask. As the ceramic material used in this case, a silicon nitride (SiN) -based material, an alumina-based material, or a glass-containing ceramic material in which a predetermined amount of hard glass components are mixed (commonly referred to as a glass ceramic material), etc. To be

【0010】次に、このようなセラミック製マスクの製
造方法について、図1を基に説明する。まず、図1の
(A)に示す表面調整工程において、マスクを形成する
セラミック製基板1の、その両面にブラスト加工を施
す。この場合、上記両表面の表面粗さはJIS規格の表
示法において、Ra=0.1〜0.3μmの範囲内に、
あるいはRmax=1〜5μmの範囲内に入るように表面
調整を行なう。これによって、上記マスクを形成するセ
ラミック製基板1には、当該セラミック製基板1の厚さ
が0.1〜0.3mmの値になるように研削加工されたと
きに内部に残っている残留応力等が除去されるようにな
り、本セラミック製基板1の平面性が確保されるように
なる。また、上記表面調整工程におけるブラスト加工に
よってセラミック製基板1の各表面には微細な凹凸が形
成されることとなり、両表面はスリガラス状に形成され
ることとなる。
Next, a method for manufacturing such a ceramic mask will be described with reference to FIG. First, in the surface adjustment step shown in FIG. 1A, both surfaces of the ceramic substrate 1 for forming a mask are blasted. In this case, the surface roughness of both surfaces is within the range of Ra = 0.1 to 0.3 μm in the JIS standard display method.
Alternatively, the surface is adjusted so that Rmax is in the range of 1 to 5 μm. As a result, the residual stress that remains inside the ceramic substrate 1 forming the mask when the ceramic substrate 1 is ground to a thickness of 0.1 to 0.3 mm As a result, the flatness of the ceramic substrate 1 is ensured. In addition, fine ruggedness is formed on each surface of the ceramic substrate 1 by the blasting in the surface adjusting step, and both surfaces are formed like ground glass.

【0011】次に、このようなセラミック製基板1の、
その両表面側に、図1の(B)に示すマスキングパター
ン形成工程において、まず、感光性樹脂材を塗布して感
光性樹脂被膜層2、2’を形成させる。そして、ここの
ところに所定の模様パターンを有するスクリーン3、
3’を介して紫外線を照射する。これによって、上記セ
ラミック製基板1の両表面部のところには感光性樹脂被
膜層からなるマスキングパターン2、2’が形成される
こととなる。このようなマスキングパターン2、2’
は、その接触面(接着面)のところがセラミック製基板
1の表面に形成された微細な凹凸面と接することとなる
ので、密着度が高められ、マスキングパターン2、2’
はセラミック製基板1の表面に強固に接着されるように
なる。また、フォトレジスト法に基づくマスキングパタ
ーン形成のための紫外線照射時において、上記セラミッ
ク製基板1の両面には微細凹凸面が形成されているの
で、この凹凸面からなるスリガラス効果により、紫外線
が一方の面側から他方の面側へと透過するようなことが
なくなり、両面における感光性樹脂被膜層2、2’への
紫外線照射時に干渉現象等が生じないようになる。その
結果、正確なマスキングパターン2、2’を形成させる
ことができるようになる。
Next, the ceramic substrate 1
In the masking pattern forming step shown in FIG. 1B, a photosensitive resin material is first applied to both surface sides to form the photosensitive resin coating layers 2 and 2 '. And here, the screen 3 having a predetermined pattern,
Irradiate with ultraviolet rays through 3 '. As a result, masking patterns 2 and 2 ′ made of a photosensitive resin coating layer are formed on both surface portions of the ceramic substrate 1. Such masking patterns 2, 2 '
Since the contact surface (adhesive surface) thereof comes into contact with the fine uneven surface formed on the surface of the ceramic substrate 1, the degree of adhesion is enhanced and the masking patterns 2, 2 '
Is firmly bonded to the surface of the ceramic substrate 1. Further, during irradiation of ultraviolet rays for forming a masking pattern based on the photoresist method, since fine irregularities are formed on both sides of the ceramic substrate 1, the frosted glass effect formed by the irregularities causes one of the ultraviolet rays to become There is no transmission from one surface side to the other surface side, and the interference phenomenon and the like will not occur when the photosensitive resin coating layers 2, 2'on both surfaces are irradiated with ultraviolet rays. As a result, accurate masking patterns 2, 2'can be formed.

【0012】次に、このようにして、両面に感光性樹脂
材からなるマスキングパターン2、2’の形成されたも
のを、図1の(C)及び(D)に示す第一及び第二のブ
ラスト研削工程において、上記セラミック製基板1のと
ころに所定の開口形態からなる貫通部(貫通孔)11を
形成させるようにする。そして、所定の形態からなる貫
通部(貫通孔)11を有するようにブラスト研削加工さ
れたものを、図1の(E)に示す感光性樹脂材除去工程
において、その両表面部に残されているマスキングパタ
ーン2、2’及び被膜22を、所定の溶剤にて洗い流し
て除去する。これによって所定の形態からなる貫通部
(貫通孔)11を有するセラミック製マスク1が形成さ
れることとなる。
Next, the masking patterns 2 and 2'made of a photosensitive resin material are formed on both surfaces in the above-described manner to obtain the first and second masking patterns shown in FIGS. 1 (C) and 1 (D). In the blast grinding step, a through portion (through hole) 11 having a predetermined opening shape is formed at the ceramic substrate 1. Then, what was blast-ground so as to have a through portion (through hole) 11 having a predetermined shape is left on both surface portions in the photosensitive resin material removing step shown in FIG. The masking patterns 2 and 2'and the coating film 22 that are present are washed away with a predetermined solvent and removed. As a result, the ceramic mask 1 having the through portion (through hole) 11 having a predetermined shape is formed.

【0013】ところで、上記一連のブラスト研削工程に
おいて、本実施の形態においては、更に、図2に示すよ
うな特別な処理を施すこととしている。まず、図2の
(イ)において、マスキングパターン2、2’のうちの
開口幅の値が小さ目(d)に設定されたものの表面側か
ら先にブラスト研削加工を施すこととする。すなわち、
第一のブラス研削加工を、開口幅の値が小さ目に設定さ
れたマスキングパターン2側から施すようにする。そし
て、このような第一のブラスト研削工程(図2の
(イ))において、セラミック製基板1の表面側から約
20〜50μmの深さの凹陥部が形成されるようにブラ
スト加工を施す。このような状態において、次に、図2
の(ロ)において、上記凹陥状に研削加工された、その
表面に、全面を覆うように、新たに感光性樹脂材からな
る被膜22を設ける。次に、このような状態のものを、
図2の(ロ)に示す如く、裏返し状態にするとともに、
次の図2の(ハ)に示すように、第二のブラスト研削工
程にて、開口幅の値が大き目(D)に設定された方の表
面側からブラスト研削加工を施す。そして、図2の
(ハ)における破線図示のようなテーパ状の貫通部(貫
通孔)11が形成されるようにブラスト加工を続ける。
By the way, in the above-described series of blast grinding steps, in the present embodiment, a special treatment as shown in FIG. 2 is further performed. First, in FIG. 2A, the blast grinding process is performed from the front surface side of the masking patterns 2 and 2 ′ having the smaller opening width value (d). That is,
The first brass grinding process is performed from the side of the masking pattern 2 having a smaller opening width value. Then, in such a first blast grinding step ((a) in FIG. 2), blast processing is performed so that a recessed portion having a depth of about 20 to 50 μm is formed from the front surface side of the ceramic substrate 1. In such a state, next, as shown in FIG.
In (b), a coating 22 made of a photosensitive resin material is newly provided on the surface of the concave-shaped grinding so as to cover the entire surface. Next, in this state,
As shown in FIG. 2B, while turning the inside out,
As shown in (c) of FIG. 2 below, in the second blast grinding step, the blast grinding process is performed from the surface side having the larger opening width value (D). Then, the blasting is continued so that a tapered through portion (through hole) 11 as shown by a broken line in FIG. 2C is formed.

【0014】なお、この第一及び第二のブラスト研削加
工時において用いられる研磨材としては、上記セラミッ
ク製基板1に貫通部(貫通孔)が生じるまでの間は比較
的粒径の大きなもの、例えば粒径の値が20〜50μm
の範囲内のものを用いるようにするとともに、貫通部
(貫通孔)11が形成された後は粒径の小さなもの、例
えば粒径の値が10〜18μm程度のものを用いるよう
にする。このように途中の工程において被膜22を設け
ること、更には研磨材を使い分けることによって、ダレ
等のないきれいなテーパ面を有するシャープな形態から
なる貫通部(貫通孔)11を形成することができるよう
になる。特に、本実施の形態においては、第二のブラス
ト研削工程において、例えば図2の(ハ)に示す如く、
貫通部11が形成された後においては、当該貫通部11
内に噴射された研磨材が、一方の開口部側を塞ぐように
形成された被膜22のところで反射して、貫通部11の
側壁に残された部分を研削加工するようになり、最終的
には、図2の(ニ)に示すような円滑なテーパ面からな
る貫通部(貫通孔)11が形成されることとなる。従っ
て、図4に示す如く、従来懸念されていたダレ部11’
等が生じないようになる。その結果、このようなセラミ
ック製マスク1を用いて、図3に示すような蒸着作業が
進められると、基盤10上には有機物質からなる発光体
110がシャープな輪郭形態を有した状態で形成される
こととなる。
The abrasive used in the first and second blast grinding processes has a relatively large grain size until a through portion (through hole) is formed in the ceramic substrate 1. For example, the value of particle size is 20 to 50 μm
In addition to using a material having a particle diameter within a range of 10 to 18 μm after the through portion (through hole) 11 is formed, for example, a material having a particle diameter of about 10 to 18 μm is used. In this way, by providing the coating film 22 in the middle of the process, and by using different abrasives, it is possible to form the penetrating portion (through hole) 11 having a sharp shape with a clean tapered surface without sagging. become. In particular, in the present embodiment, in the second blast grinding step, for example, as shown in FIG.
After the penetration portion 11 is formed, the penetration portion 11
The abrasive sprayed inside reflects at the coating film 22 formed so as to close one opening side, and the portion left on the side wall of the penetrating portion 11 is ground, finally. In this case, the through portion (through hole) 11 having a smooth tapered surface as shown in FIG. 2D is formed. Therefore, as shown in FIG. 4, the sagging portion 11 ′ that has been a concern in the past
Etc. will not occur. As a result, when the deposition work as shown in FIG. 3 is performed using the ceramic mask 1, the light emitting body 110 made of an organic material is formed on the substrate 10 in a state of having a sharp contour. Will be done.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明によれば、有機エレクトロルミネ
ッセンス素子等の発光部を有機分子蒸着法により形成す
る際に用いられるマスクに関して、所定の厚さを有する
セラミック製基板を基礎に、その両面にブラスト加工手
段を施すことによって当該両表面が所定の表面粗さを有
するようにし、このような表面加工の成された両表面に
感光性樹脂材を設けるとともに、ここにフォトレジスト
法にて所定のマスキングパターンを形成させ、このよう
な両面にマスキングパターンの形成された上記セラミッ
ク製基板上に、両面側から所定のブラスト加工を施すこ
とによって上記セラミック製基板に所定の開口形態を有
する貫通部を形成させ、これによって所定の開口パター
ンを有するセラミック製マスクを形成させるようにした
構成を採ることとしたので、耐熱性に優れた、かつ、付
着した有機物質等を化学溶剤にて簡単に除去することが
できて再利用に適した蒸着用マスクを効率良く得ること
ができるようになった。
EFFECTS OF THE INVENTION According to the present invention, a mask used for forming a light emitting portion of an organic electroluminescence element or the like by an organic molecule vapor deposition method is based on a ceramic substrate having a predetermined thickness on both sides thereof. Both surfaces are provided with a predetermined surface roughness by applying a blast processing means, and a photosensitive resin material is provided on both surfaces subjected to such surface processing. A masking pattern is formed, and a blasting process having a predetermined opening form is formed on the ceramic substrate by performing a predetermined blasting process on both sides of the ceramic substrate on which masking patterns are formed on both sides. And thereby adopting a structure in which a ceramic mask having a predetermined opening pattern is formed. Was so excellent in heat resistance, and it has become possible to the attached organic substances efficiently obtain deposition mask suitable for reuse can be easily removed by chemical solvents.

【0016】また、このようなセラミック製マスクの製
造方法を、所定の厚さを有するセラミック製基板を基礎
に、その両面に、ブラスト加工手段にて上記両面が所定
の表面粗さを有するように成形加工をする表面調整工程
と、当該所定の表面粗さを有するように形成された上記
両面上に感光性樹脂材からなる被膜層を形成するととも
に、当該感光性樹脂被膜層のところにフォトレジスト法
にて所定の形態からなるマスキングパターンを設けるマ
スキングパターン形成工程と、当該マスキングパターン
の設けられた一方の面側から所定のブラスト加工手段を
施すことによって上記セラミック製基板の一方の面側を
凹陥状に成形加工をする第一のブラスト研削工程と、当
該凹陥状にブラスト加工された面側の上記感光性樹脂製
マスキングパターンの上側に、更に感光性樹脂材からな
る被膜を設けて全体を覆う被膜形成工程と、このような
被膜の設けられた面側とは反対の面側のところを所定の
ブラスト加工手段にて成形加工し上記セラミック製基板
の部分に所定の貫通部が形成されるようにブラスト加工
を施す第二のブラスト研削工程と、このようにセラミッ
ク製基板のところに所定の貫通部の形成された状態のも
のの、その両表面側に設けられている感光性樹脂材から
なるマスキングパターン及び被膜を所定の溶剤にて除去
する感光性樹脂材除去工程と、からなるようにしたの
で、熱変形に強い、かつ、付着した有機物質等を化学溶
剤にて簡単に除去することができて再利用に適したマス
クを効率良く製造することができるようになった。特
に、本発明においては、上記表面調整工程においてセラ
ミック基板の表面を適度な粗さに仕上げるようにしてい
るので、感光性樹脂材の密着度が増すとともに、研削手
段にて所定の厚さを有するように成形加工された上記セ
ラミック製基板内に蓄積された残留応力等を両表面に所
定のブラスト加工を施すことによって除去することがで
きるようになり、上記セラミック製基板の歪、ソリ等を
除去することができるようになった。また、上記セラミ
ック製基板に所定の貫通部(貫通孔)を設けるに当っ
て、最初にブラスト研削加工を施した面側に、更に感光
性樹脂材による被膜を設け、この面側を樹脂製被膜にて
覆うようにすることによって、反対側からのブラスト研
削加工による貫通孔形成時に、研磨材が上記被膜のとこ
ろで反射して上記貫通孔壁面を研削するようになり、貫
通孔の側壁にはダレ等のない、円滑な壁面を有する貫通
孔を得ることができるようになった。その結果、正確な
パターンを有するマスクを形成(製造)することができ
るようになった。
Further, in the method for manufacturing such a ceramic mask, a ceramic substrate having a predetermined thickness is used as a base, and both surfaces thereof have a predetermined surface roughness by blasting means. A surface adjusting step of forming and forming a coating layer made of a photosensitive resin material on both surfaces formed so as to have the predetermined surface roughness, and a photoresist at the photosensitive resin coating layer. Masking pattern forming step of providing a masking pattern of a predetermined form by a method, and pitting one surface side of the ceramic substrate by applying a predetermined blast processing means from one surface side provided with the masking pattern. First blast grinding step of forming into a shape, and the photosensitive resin masking pattern on the surface blasted into the concave shape Forming a coating film made of a photosensitive resin material on the upper side of the whole to cover the entire surface, and molding the surface side opposite to the surface side provided with such a coating with a predetermined blasting means. A second blast grinding step of processing and subjecting the ceramic substrate to blasting so that a predetermined penetrating portion is formed on the ceramic substrate part, and a state where the predetermined penetrating portion is formed on the ceramic substrate in this manner. However, since it is composed of a photosensitive resin material removing step of removing the masking pattern and the coating film made of the photosensitive resin material provided on both surface sides with a predetermined solvent, it is resistant to thermal deformation, and The attached organic substances can be easily removed with a chemical solvent, and a mask suitable for reuse can be efficiently manufactured. Particularly, in the present invention, since the surface of the ceramic substrate is finished to have an appropriate roughness in the surface adjusting step, the degree of adhesion of the photosensitive resin material is increased, and the grinding means has a predetermined thickness. It becomes possible to remove the residual stress accumulated in the ceramic substrate molded as described above by subjecting both surfaces to a predetermined blasting process, and removing the distortion, warpage, etc. of the ceramic substrate. I was able to do it. Further, in providing a predetermined penetrating portion (penetrating hole) on the ceramic substrate, a film made of a photosensitive resin material is further provided on the surface side that is first subjected to blast grinding, and this surface side is made of a resin film. When the through hole is formed by blast grinding from the opposite side, the abrasive material reflects at the coating film and grinds the wall surface of the through hole. It is now possible to obtain a through hole having a smooth wall surface with no such problem. As a result, it has become possible to form (manufacture) a mask having an accurate pattern.

【0017】また、本発明においては、上記表面調整工
程におけるセラミック製基板の両表面粗さを、JIS規
格における表面粗さ表示法においてRaの値が0.1〜
0.3μmの範囲内に、または、Rmaxの値が1〜5μ
mの範囲内に入るようにしたので、上記セラミック製基
板の表面に微細な凹凸部が無数に形成されるようにな
り、このような無数の凹凸部の作用により、感光性樹脂
被膜の密着度が更に高められるようになった。その結
果、このようなマスキングパターンを基礎に、そこにブ
ラスト研削加工が施されることとなるので、このブラス
ト研削加工にて形成されるマスクの貫通部の形状は、そ
の輪郭形状が、より明確に形成されるようになった。
Further, in the present invention, both surface roughnesses of the ceramic substrate in the above-mentioned surface adjusting step have a Ra value of 0.1 to 0.1 in the surface roughness display method according to the JIS standard.
Within the range of 0.3 μm, or the value of Rmax is 1 to 5 μm
Since the number of fine irregularities is formed on the surface of the ceramic substrate, the degree of adhesion of the photosensitive resin film is increased by the action of the numerous irregularities. Has become even higher. As a result, since the blast grinding process is performed on the basis of such a masking pattern, the shape of the penetrating portion of the mask formed by this blast grinding process has a more clear outline shape. Began to form.

【0018】また、本発明においては、上記セラミック
製基板の両側に設けられる感光性樹脂製の被膜層からな
るマスキングパターンの、それぞれの対応する開口部の
開口幅を、いずれか一方の面側に形成されるものの方が
他方の面側に形成されるものよりも若干小さ目の値を有
するように設定することとしたので、第一のブラスト研
削工程及び第二のブラスト研削工程にて形成されるセラ
ミック製基板に設けられる貫通孔(貫通部)の断面形状
が、一方の表面側に沿ってテーパ状に形成されるように
なるとともに、テーパ状貫通孔(貫通部)の一方の表面
側に形成される開口部であって幅の小さく形成された側
の端面形状はシャープな形態に形成されるようになっ
た。その結果、このような開口部パターンを有するマス
クを基準にして、ガラス基盤上等に発光物質を蒸着させ
ることによって発光部の輪郭形態をシャープな形状に形
成させることができるようになった。
Further, in the present invention, the opening width of each corresponding opening portion of the masking pattern formed of the coating layer made of a photosensitive resin provided on both sides of the ceramic substrate is set to one surface side. Since it is set so that the formed one has a value slightly smaller than that formed on the other surface side, it is formed in the first blast grinding step and the second blast grinding step. The cross-sectional shape of the through hole (penetration part) provided in the ceramic substrate is tapered along one surface side and is formed on one surface side of the tapered through hole (penetration part). The end face shape on the side of the formed opening having a small width has been formed to be a sharp shape. As a result, it has become possible to form the outline shape of the light emitting portion into a sharp shape by depositing the light emitting material on the glass substrate or the like with the mask having such an opening pattern as a reference.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明にかかる製造工程の全体構成を示す概略
図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an overall configuration of a manufacturing process according to the present invention.

【図2】本発明における第一及び第二のブラスト研削工
程を示す工程説明図である。
FIG. 2 is a process explanatory view showing first and second blast grinding processes in the present invention.

【図3】本発明にかかるセラミック製マスクを用いて蒸
着作業を行なう場合の概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram when performing a vapor deposition operation using the ceramic mask according to the present invention.

【図4】従来の工法にてブラスト加工を施した場合にお
ける貫通部の形態を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a form of a penetrating portion when blasting is performed by a conventional method.

【図5】本発明に関連する有機EL素子の全体構成を示
す概念図である。
FIG. 5 is a conceptual diagram showing an overall configuration of an organic EL element related to the present invention.

【符号の説明】 1 セラミック製マスク(セラミック製基板) 11 貫通部(貫通孔) 11’ ダレ部 2 感光性樹脂製被膜層(マスキングパターン) 2’ 感光性樹脂製被膜層(マスキングパターン) 22 樹脂製被膜 3 スクリーン 3’ スクリーン 10 ガラス基盤 110 発光体[Explanation of symbols] 1 Ceramic mask (ceramic substrate) 11 Penetration part (penetration hole) 11 'Dull part 2 Photosensitive resin coating layer (masking pattern) 2'Photosensitive resin coating layer (masking pattern) 22 Resin coating 3 screen 3'screen 10 glass substrate 110 luminous body

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3K007 AB18 DB03 FA01 4K029 AA09 BA62 BB02 CA01 DB06 HA03    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 3K007 AB18 DB03 FA01                 4K029 AA09 BA62 BB02 CA01 DB06                       HA03

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の厚さを有するセラミック製基板を
基礎に、その両面にブラスト加工手段を施すことによっ
て当該両表面が所定の表面粗さを有するようにし、この
ような表面加工の施された両表面に感光性樹脂材を設け
るとともに、ここにフォトレジスト法にて所定のマスキ
ングパターンを形成させ、このような両面にマスキング
パターンの形成された上記セラミック製基板上に、両面
側から所定のブラスト加工を施すことによって上記セラ
ミック製基板に所定の開口形態を有する貫通部を形成さ
せ、これによって所定の開口パターンを有するようにし
たことを特徴とする有機分子蒸着用マスク。
1. A ceramic substrate having a predetermined thickness is used as a base, and both surfaces thereof are subjected to a blasting process so that both surfaces have a predetermined surface roughness. A photosensitive resin material is provided on both surfaces, and a predetermined masking pattern is formed on this surface by a photoresist method, and a predetermined masking pattern is formed on both surfaces of the ceramic substrate. A mask for organic molecule vapor deposition, characterized in that a piercing portion having a predetermined opening form is formed on the ceramic substrate by blasting so that the ceramic substrate has a predetermined opening pattern.
【請求項2】 所定の厚さを有するセラミック製基板を
基礎に、その両面に、ブラスト加工手段にて上記両面が
所定の表面粗さを有するように成形加工をする表面調整
工程と、当該所定の表面粗さを有するように形成された
上記両面上に感光性樹脂材からなる被膜層を形成すると
ともに、当該感光性樹脂被膜層のところにフォトレジス
ト法にて所定の形態からなるマスキングパターンを設け
るマスキングパターン形成工程と、当該マスキングパタ
ーンの設けられた一方の面側から所定のブラスト加工手
段を施すことによって上記セラミック製基板の一方の面
側を凹陥状に成形加工する第一のブラスト研削工程と、
当該凹陥状にブラスト加工された面側の上記感光性樹脂
製マスキングパターンの上側に、更に感光性樹脂材から
なる被膜を設けて全体を覆う被膜形成工程と、このよう
な被膜の設けられた面側とは反対の面側のところを所定
のブラスト加工手段にて成形加工し上記セラミック製基
板の部分に所定の貫通部が形成されるようにブラスト加
工を施す第二のブラスト研削工程と、このようにセラミ
ック製基板のところに所定の貫通部の形成された状態の
ものの、その両表面側に設けられている感光性樹脂材か
らなるマスキングパターン及び被膜を所定の溶剤にて除
去する感光性樹脂材除去工程と、からなることを特徴と
する有機分子蒸着用マスクの製造方法。
2. A surface adjustment step of forming a ceramic substrate having a predetermined thickness on both sides by blasting means so that the both surfaces have a predetermined surface roughness, and the predetermined step. A coating layer made of a photosensitive resin material is formed on both surfaces formed so as to have a surface roughness of, and a masking pattern having a predetermined shape is formed on the photosensitive resin coating layer by a photoresist method. A masking pattern forming step to be provided, and a first blast grinding step of forming one surface side of the ceramic substrate into a concave shape by applying a predetermined blasting means from one surface side provided with the masking pattern. When,
A film forming step of covering the entire surface by further providing a film made of a photosensitive resin material on the upper side of the photosensitive resin masking pattern on the surface side that has been blasted into the concave shape, and the surface provided with such a film. A second blast grinding step in which the surface opposite to the side is formed by a predetermined blasting means and subjected to blasting so that a predetermined penetrating portion is formed in the portion of the ceramic substrate, Photosensitive resin for removing a masking pattern and a coating made of a photosensitive resin material provided on both surface sides of the ceramic substrate with a predetermined penetrating portion using a predetermined solvent. A method for manufacturing a mask for organic molecule vapor deposition, comprising: a material removing step.
【請求項3】 請求項2記載の有機分子蒸着用マスクの
製造方法において、上記表面調整工程におけるセラミッ
ク製基板の両表面粗さを、JIS規格における表面粗さ
表示法において、Raの値が0.1〜0.3μmの範囲
内に、または、Rmaxの値が1〜5μmの範囲内に設定
されるようにしたことを特徴とする有機分子蒸着用マス
クの製造方法。
3. The method for manufacturing a mask for organic molecule vapor deposition according to claim 2, wherein both surface roughnesses of the ceramic substrate in the surface adjusting step have a Ra value of 0 in a surface roughness display method according to JIS standard. A method for manufacturing a mask for organic molecule vapor deposition, characterized in that the value of Rmax is set within the range of 1 to 0.3 μm, or the value of Rmax is set within the range of 1 to 5 μm.
【請求項4】 請求項2記載の有機分子蒸着用マスクの
製造方法において、上記セラミック製基板の両側に設け
られる感光性樹脂製の被膜層からなるマスキングパター
ンの、それぞれの対応する開口部の開口幅を一方の面側
に形成されるものの方が他方の面側に形成されるものよ
りも、若干小さ目の値を有するように設定することとし
たことを特徴とする有機分子蒸着用マスクの製造方法。
4. The method for manufacturing a mask for organic molecule vapor deposition according to claim 2, wherein openings of respective corresponding openings of a masking pattern made of a photosensitive resin coating layer provided on both sides of the ceramic substrate. Manufacture of a mask for organic molecular vapor deposition characterized in that the width formed on one surface side is set to have a slightly smaller value than that formed on the other surface side Method.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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