JP2003163178A - Dicing apparatus - Google Patents

Dicing apparatus

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JP2003163178A
JP2003163178A JP2001362501A JP2001362501A JP2003163178A JP 2003163178 A JP2003163178 A JP 2003163178A JP 2001362501 A JP2001362501 A JP 2001362501A JP 2001362501 A JP2001362501 A JP 2001362501A JP 2003163178 A JP2003163178 A JP 2003163178A
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dicing
dicing apparatus
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康之 酒谷
Kazuya Fukuoka
一也 福岡
Tomoaki Hiruta
倫明 蛭田
Takayuki Asano
貴行 浅野
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dicing apparatus capable of aligning the other piece of work while machining a piece of work and also capable of not only improving the availability factor of an expensive alignment means but also improving the availability factor of the apparatus as a whole, while minimizing a rise in cost of the apparatus. <P>SOLUTION: This dicing apparatus is provided with a plurality of work tables 23 that mount works W and constituted so as to be able to move in the X direction independently from each other and a microscope 80 to observe the work W constituted so as to be able to move to a position over each work table 23 by means of a microscope driving means 70, so that it is possible to perform alignment of the other piece of work W while machining a piece of work W. By this construction, it is possible to improve the availability factor of both the expensive alignment means and the entire dicing apparatus. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はダイシング装置に関
し、特に半導体や電子部品材料等のワークに溝加工や切
断加工を行うダイシング装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a dicing device, and more particularly to a dicing device for performing groove processing and cutting processing on a work such as a semiconductor or an electronic component material.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体や電子部品材料等のワークに溝加
工や切断加工(以下加工と称する)を行う従来のダイシ
ング装置を、図4に示す。この従来のダイシング装置1
10においては、ワークテーブル123に載置されたワ
ークを高速で回転するブレードと称する薄型砥石121
で研削水をかけながらワークを加工する。このダイシン
グ装置110では、前記ブレードを保持したスピンドル
122がY軸方向のインデックス送りとZ軸方向の切込
み送りとがなされ、ワークを載置したワークテーブル1
23がX軸方向に研削送りされるようになっている。ま
た、ワークの上面を観察する顕微鏡180が、ホルダー
アーム181を介して前記ブレードを保持したスピンド
ル122に固定されている。この顕微鏡180を用いて
ワークの上面を観察し、ワークのアライメントを行った
り、あるいは加工後の切り溝の評価を行ったりしてい
る。この顕微鏡180にはCCDカメラが接続されてお
り、このCCDカメラで撮像した画像をパターンマッチ
ング手段等で画像処理を行ってワークのアライメントを
行っている。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a conventional dicing apparatus for performing groove processing and cutting processing (hereinafter referred to as processing) on a work such as a semiconductor or electronic component material. This conventional dicing device 1
10, a thin grindstone 121 called a blade that rotates a work placed on the work table 123 at high speed.
Process the work while applying the grinding water with. In this dicing device 110, the spindle 122 holding the blade is index-feeded in the Y-axis direction and cut-feeded in the Z-axis direction, and the work table 1 on which the work is placed.
23 is fed by grinding in the X-axis direction. A microscope 180 for observing the upper surface of the work is fixed to a spindle 122 holding the blade via a holder arm 181. The microscope 180 is used to observe the upper surface of the work to align the work or to evaluate the kerf after processing. A CCD camera is connected to the microscope 180, and an image picked up by the CCD camera is subjected to image processing by a pattern matching means or the like to align a work.

【0003】ところが、この従来のダイシング装置11
0は、ワークを載置するワークテーブル123が1個、
ワークを撮像するCCDカメラを組込んだ顕微鏡180
が1個設けられているだけなので、ワークを加工してい
る間はワークのアライメントをすることができず、顕微
鏡180やCCDカメラ、及び画像処理手段等の高価な
アライメント手段の稼働率が悪く、また、ダイシング装
置110全体の稼働率も低下していた。このような問題
を解決するものとして、特開昭62−53804号公報
には、ワークテーブルと顕微鏡とを夫々2個設けたダイ
シング装置が示されている。このダイシング装置によれ
ば、一方のワークテーブルに載置されたワークを加工し
ている間に、他方のワークテーブルのワークをアライメ
ントすることができ、ダイシング装置全体の稼働率が向
上する。
However, this conventional dicing apparatus 11
0 is one work table 123 on which a work is placed,
Microscope 180 with built-in CCD camera for imaging work
Since only one is provided, the work cannot be aligned while the work is being processed, and the operation rate of the expensive alignment means such as the microscope 180, the CCD camera, and the image processing means is poor, In addition, the operating rate of the entire dicing device 110 was also reduced. As a solution to such a problem, Japanese Unexamined Patent Publication No. 62-53804 discloses a dicing device provided with two work tables and two microscopes. According to this dicing device, while the work placed on one work table is processed, the work on the other work table can be aligned, and the operating rate of the entire dicing device is improved.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、この特開昭
62−53804号公報で開示されたダイシング装置
は、顕微鏡、CCDカメラ、照明装置、及びそれらを駆
動する駆動手段を夫々2個ずつ必要とし、ダイシング装
置全体のコストが増大するという大きな問題があり、実
用化することができなかった。
However, the dicing device disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 62-53804 requires two microscopes, two CCD cameras, one illuminating device, and two driving means for driving them. However, there is a big problem that the cost of the entire dicing device increases, and it cannot be put to practical use.

【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、装置のコスト増大を最小に抑えながら、ワー
クを加工中に他のワークのアライメントを行うことがで
き、高価なアライメント手段の稼働率を高めるととも
に、装置全体の稼働率も向上することができるダイシン
グ装置を提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of such circumstances, and it is possible to perform alignment of another work during machining of the work while suppressing an increase in the cost of the apparatus, and an expensive alignment means is provided. It is an object of the present invention to provide a dicing device capable of improving the operating rate of the entire device as well as increasing the operating rate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明は、回転ブレードによりワー
クテーブルに載置されたワークの溝加工や切断加工を行
うダイシング装置において、前記ワークテーブルが複数
個設けられるとともに、前記ワークを観察する顕微鏡を
前記複数個のワークテーブルの上方に夫々移動する顕微
鏡駆動手段が設けられていることを特徴としている。
In order to achieve the above object, the invention as set forth in claim 1 is a dicing apparatus for performing a groove processing and a cutting processing of a work placed on a work table by a rotating blade. A plurality of work tables are provided, and microscope driving means for moving the microscope for observing the work above the plurality of work tables are provided.

【0007】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のダイシング装置において、前記複数個のワークテーブ
ルの内の1個のワークテーブルに載置されたワークが前
記回転ブレードによって加工されている間に、前記顕微
鏡は他のワークテーブル上に移動され、他のワークテー
ブル上のワークが観察されアライメントされることを特
徴としている。
According to a second aspect of the present invention, in the dicing apparatus according to the first aspect, the work placed on one of the plurality of work tables is processed by the rotary blade. While the microscope is in operation, the microscope is moved onto another work table, and the work on the other work table is observed and aligned.

【0008】本発明によれば、ワークを載置するワーク
テーブルが複数個設けられ、ワークを観察する顕微鏡が
顕微鏡駆動手段によって各ワークテーブル上に移動され
るので、ワークを加工している間に、他のワークのアラ
イメントを行うことができ、高価なアライメント手段の
稼働率向上とダイシング装置全体の稼働率向上を図るこ
とができる。
According to the present invention, a plurality of work tables on which the work is placed are provided, and the microscope for observing the work is moved onto each work table by the microscope driving means. The other works can be aligned, and the operation rate of the expensive alignment means and the operation rate of the entire dicing apparatus can be improved.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るダイシング装置の好ましい実施の形態について詳説す
る。尚、各図において同一部材には同一の番号、又は符
号を付してある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A preferred embodiment of a dicing apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In each drawing, the same members are given the same numbers or symbols.

【0010】先ず最初に、ダイシング装置の構成につい
て説明する。図1は本発明に係るダイシング装置の外観
を示す斜視図である。ダイシング装置10は、複数のワ
ークが収納されたカセットを外部装置との間で受渡すロ
ードポート60と、吸着部51を有しワークを装置各部
に搬送する搬送手段50と、ワークの上面を観察する顕
微鏡80と、加工部20と、加工後のワークを洗浄し、
乾燥させるスピンナ40、及び装置各部の動作を制御す
るコントローラ100等とから構成されている。加工部
20には、2本対向して配置され、回転ブレード21が
取付けられた高周波モータ内蔵型のエアーベアリング式
スピンドル22、22が設けられており、30,000
rpm〜60,000rpmで高速回転されるととも
に、互いに独立して図のY方向のインデックス送りとZ
方向の切込み送りとがなされる。また、ワークを吸着載
置する2個のワークテーブル23、23が設けられ、夫
々Xテーブル25、25の移動によって図のX方向に研
削送りされるように構成されている。
First, the structure of the dicing apparatus will be described. FIG. 1 is a perspective view showing the outer appearance of a dicing apparatus according to the present invention. The dicing device 10 includes a load port 60 for transferring a cassette containing a plurality of works to and from an external device, a transfer unit 50 having a suction unit 51 for transferring the works to each part of the device, and observing the upper surface of the works. The microscope 80, the processing unit 20, and the processed workpiece are cleaned,
It is composed of a spinner 40 for drying, a controller 100 for controlling the operation of each part of the apparatus, and the like. The processing unit 20 is provided with two high-frequency motor-incorporated air-bearing spindles 22 and 22, which are arranged facing each other and to which a rotary blade 21 is attached.
It is rotated at high speed from rpm to 60,000 rpm, and index feed in the Y direction and Z in the figure are independent of each other.
Directional cutting feed. Further, two work tables 23, 23 for picking up and mounting a work are provided, and are configured to be ground and fed in the X direction in the drawing by the movement of the X tables 25, 25, respectively.

【0011】図2は、ダイシング装置10の主要部を説
明する平面図である。また、図3はその斜視図である。
図2及び図3に示すように、ダイシング装置10には、
マシンベース11上に、2本で1対のガイドレール2
6、26が図の矢印X方向に2組設けられており、夫々
の組のガイドレール26、26で案内され、リニアモー
タ27、27でX方向に駆動される2個のXテーブル2
5、25が設けられている。この2個のXテーブル2
5、25には、夫々Z方向(図2の紙面垂直方向)を軸
にθ回転するθテーブル24を介してワークテーブル2
3が取付けられている。このような機構により、2個の
ワークテーブル23、23に夫々載置された2枚のワー
クW、Wは、各々独立してθ回転されると共にX方向に
移動される。
FIG. 2 is a plan view for explaining the main part of the dicing apparatus 10. Further, FIG. 3 is a perspective view thereof.
As shown in FIGS. 2 and 3, the dicing device 10 includes
Two pairs of guide rails 2 on the machine base 11.
Two sets 6 and 26 are provided in the direction of the arrow X in the figure. The two X tables 2 are guided by the guide rails 26 and 26 of the respective sets and driven in the X direction by the linear motors 27 and 27.
5, 25 are provided. These two X tables 2
5 and 25 are provided with a work table 2 via a θ table 24 that rotates by θ about the Z direction (direction perpendicular to the paper surface of FIG. 2).
3 is attached. With such a mechanism, the two works W, W respectively placed on the two work tables 23, 23 are independently rotated by θ and moved in the X direction.

【0012】また、図2及び図3に示すように、マシン
ベース11上には門型形状のガイドベース12が立設さ
れている。ガイドベース12の左側面12Aには、図の
矢印Y方向に向けて水平にスピンドルYガイド31が取
付けられ、スピンドルYガイド31にガイドされ、図示
しない駆動機構によってY方向にインデックス送りされ
るスピンドルYテーブル32、32が2個設けられてい
る。各々のスピンドルYテーブル32には、図示しない
ガイドレールと駆動機構によって図の矢印Z方向に切込
み送りされるスピンドルZテーブル33が設けられ、各
々のスピンドルZテーブル33には、ホルダ34を介し
てスピンドル22が取付けられている。2本のスピンド
ル22、22は互いに対向するように配置され、各々の
スピンドル22には先端に回転ブレード21が取付けら
ている。この回転ブレード21は薄い円盤状で、ダイヤ
モンド砥粒やCBN砥粒をニッケルで電着した電着ブレ
ードや、樹脂で結合したレジンブレードが用いられる。
尚、回転ブレード21、21は、前面と下面とが開口さ
れた図示しないフランジカバーで覆われ、フランジカバ
ーには回転ブレード21を前後に挟む形で冷却水を供給
する2本の冷却ノズルが設けられている。このような機
構により、2枚の回転ブレード21、21は各々独立し
てZ方向の切込み送りとY方向のインデックス送りとが
される。尚、スピンドルYテーブル32、32、及びス
ピンドルZテーブル33の駆動機構は、リニアモータが
用いられてもよいし、サーボモータとリードスクリュが
用いられてもよい。
As shown in FIGS. 2 and 3, a gate-shaped guide base 12 is erected on the machine base 11. On the left side surface 12A of the guide base 12, a spindle Y guide 31 is attached horizontally in the direction of the arrow Y in the drawing, guided by the spindle Y guide 31, and indexed in the Y direction by a drive mechanism (not shown). Two tables 32, 32 are provided. Each spindle Y table 32 is provided with a spindle Z table 33 which is notched and fed in an arrow Z direction in the drawing by a guide rail and a drive mechanism (not shown), and each spindle Z table 33 has a spindle 34 via a holder 34. 22 is attached. The two spindles 22, 22 are arranged so as to face each other, and a rotary blade 21 is attached to the tip of each spindle 22. The rotary blade 21 has a thin disk shape, and an electrodeposition blade in which diamond abrasive grains or CBN abrasive grains are electrodeposited with nickel or a resin blade in which resin is bonded is used.
The rotary blades 21, 21 are covered with a flange cover (not shown) whose front and bottom surfaces are open, and the flange cover is provided with two cooling nozzles for supplying cooling water such that the rotary blade 21 is sandwiched in front and back. Has been. With such a mechanism, the two rotary blades 21 and 21 are independently feed-cut in the Z direction and index feed in the Y direction. A linear motor may be used for the drive mechanism of the spindle Y tables 32, 32 and the spindle Z table 33, or a servomotor and a lead screw may be used.

【0013】ガイドベース12の右側面12Bには、顕
微鏡駆動手段70が設けられている。顕微鏡駆動手段7
0は、ガイドベース12の右側面12Bに取付けられ図
の矢印Y方向に向けて水平に配置された顕微鏡Yガイド
71と、顕微鏡Yガイド71にガイドされ、図示しない
駆動機構によってY方向に移動される顕微鏡Yテーブル
72、及び顕微鏡Yテーブル72に設けられた図示しな
いガイドレールと駆動機構によって図の矢印Z方向に送
られる顕微鏡Zテーブル73とから構成されている。顕
微鏡Zテーブル73には、ワークWの上面を観察する顕
微鏡80が取付けられている。このように構成された顕
微鏡駆動手段70により、顕微鏡80は図のY方向とZ
方向とに送られる。尚、顕微鏡Yガイド71、及び顕微
鏡Zテーブル73の駆動機構も、リニアモータあるい
は、サーボモータとリードスクリュ等の既知の駆動手段
が用いられる。顕微鏡80には図示しないCCDカメラ
が組込まれており、CCDカメラで撮像したワークWの
画像をコントローラ100内に設けられた画像処理装置
でパターンパッチング処理をして、ワークWのアライメ
ントが行われるようになっている。これら各部の駆動手
段の制御、アライメント動作の制御、加工部20の制
御、搬送手段50の制御等は全てダイシング装置本体内
部に格納されているコントローラ100によって行われ
るようになっている。
A microscope drive means 70 is provided on the right side surface 12B of the guide base 12. Microscope driving means 7
Reference numeral 0 is a microscope Y guide 71 that is attached to the right side surface 12B of the guide base 12 and is horizontally arranged in the direction of the arrow Y in the figure, and is guided by the microscope Y guide 71 and moved in the Y direction by a drive mechanism (not shown). And a guide rail (not shown) provided on the microscope Y table 72 and a microscope Z table 73 which is fed in the direction of arrow Z in the drawing by a drive mechanism. A microscope 80 for observing the upper surface of the work W is attached to the microscope Z table 73. With the microscope driving means 70 configured in this way, the microscope 80 can move the microscope 80 in the Y direction and Z
Sent with directions. As the driving mechanism for the microscope Y guide 71 and the microscope Z table 73, known driving means such as a linear motor or a servo motor and a lead screw is used. A CCD camera (not shown) is incorporated in the microscope 80, and an image processing device provided in the controller 100 performs pattern patching processing on the image of the work W captured by the CCD camera so that the work W is aligned. It has become. The control of the driving means of each of these parts, the control of the alignment operation, the control of the processing part 20, the control of the transfer means 50, etc. are all performed by the controller 100 stored inside the main body of the dicing device.

【0014】次に、このように構成されたダイシング装
置10の作用について説明する。先ずダイシングテープ
を介してフレームに貼着されたワークWが複数枚収納さ
れたカセットが、外部搬送手段によってダイシング装置
10のロードポート60に受け渡される。次にワークW
はダイシング装置10の搬送手段50によって1枚ずつ
カセットから引出され、ワークテーブル23に吸着され
る。その後ワークテーブル23が顕微鏡Yガイド71の
下に移動すると共に、顕微鏡80が顕微鏡Yテーブル7
2によってワークWの上に搬送される。ここで顕微鏡Z
テーブル73によって顕微鏡80の焦点が合わされる。
次にワークWの上面に形成されているパターン部分が顕
微鏡80に組込まれているCCDカメラで撮像され、既
知のパターンマッチング手法を用いてアライメントされ
る。尚、このワークWがアライメントされている時に、
次のワークWがもう一方のワークテーブル23に載置さ
れる。
Next, the operation of the dicing apparatus 10 thus constructed will be described. First, a cassette containing a plurality of works W attached to a frame via a dicing tape is delivered to the load port 60 of the dicing device 10 by the external transport means. Next work W
Are taken out of the cassette one by one by the conveyance means 50 of the dicing device 10 and adsorbed on the work table 23. After that, the work table 23 moves below the microscope Y guide 71, and the microscope 80 moves the microscope Y table 7
It is conveyed onto the work W by 2. Here microscope Z
The table 73 focuses the microscope 80.
Next, the pattern portion formed on the upper surface of the work W is imaged by the CCD camera incorporated in the microscope 80 and aligned by using a known pattern matching method. When this work W is aligned,
The next work W is placed on the other work table 23.

【0015】アライメントされたワークWは、ワークテ
ーブル23によって加工部20に搬送される。ここで
は、2枚の回転ブレード21、21が夫々必要な切込み
送りがされ、XテーブルのX方向研削送りによって2本
の加工領域(ストリート)が同時に加工される。次に回
転ブレード21、21がY方向に必要ピッチ分インデッ
クス送りされて次のストリートに位置付けられ、ワーク
テーブル23のX方向研削送りによってこの2本のライ
ンも加工される。この動作が繰り返されてワークWの1
方向の全てのストリートが加工される。1方向の全ライ
ンが加工されると、θテーブル24の回転によりワーク
Wは90度回転され、先程のストリートと直行するスト
リートが加工される。最初のワークWが加工部20で加
工されている間に、次のワークWが顕微鏡Yガイド71
の下に移動され、顕微鏡80が顕微鏡Yテーブル72に
よってこのワークWの上に搬送される。ここでも同様に
して、顕微鏡Zテーブル73によって顕微鏡80の焦点
が合わされ、次のワークWの上面に形成されているパタ
ーン部分が顕微鏡80に組込まれているCCDカメラで
撮像されてアライメントが行われる。最初のワークWの
加工が終了すると、アライメントの終了した次のワーク
Wが加工部20に搬入され、同様に加工される。
The aligned work W is conveyed to the processing section 20 by the work table 23. Here, the two rotary blades 21 and 21 are respectively fed with the necessary cutting feed, and the two processing regions (streets) are simultaneously processed by the X direction grinding feed of the X table. Next, the rotary blades 21 and 21 are index-fed by the required pitch in the Y direction to be positioned on the next street, and these two lines are also processed by the X-direction grinding feed of the work table 23. This operation is repeated and the work W 1
All streets in the direction are processed. When all the lines in one direction are machined, the work W is rotated by 90 degrees by the rotation of the θ table 24, and the streets that are orthogonal to the streets described above are machined. While the first work W is being processed by the processing unit 20, the next work W is being processed by the microscope Y guide 71.
Then, the microscope 80 is conveyed above the work W by the microscope Y table 72. Here, similarly, the microscope 80 is focused by the microscope Z table 73, and the pattern portion formed on the upper surface of the next work W is imaged by the CCD camera incorporated in the microscope 80 for alignment. When the processing of the first work W is completed, the next work W of which the alignment is completed is carried into the processing unit 20 and processed in the same manner.

【0016】全加工終了した最初のワークWは、必要に
より顕微鏡80下で加工溝の形状やチッピング状況が計
測されて評価される。加工溝の評価が済むと、ワークW
は搬送手段50によってスピンナ40に搬送され、ここ
でスピン洗浄とスピン乾燥とが行われる。洗浄及び乾燥
が終了したワークWは、再び搬送手段50によって元の
カセットに収納される。次のワークWも同様にして、加
工、洗浄、及び乾燥されて、元のカセットに収納され
る。以上のような動作が次々と繰り返されて、カセット
内の全部のワークWが加工される。以上が本発明に係る
ダイシング装置によってワークWを加工するときの流れ
である。
If necessary, the shape of the processing groove and the chipping condition of the first work W after the completion of all processing are measured and evaluated under the microscope 80. Once the machining groove has been evaluated, the workpiece W
Are transported to the spinner 40 by the transport means 50, and spin cleaning and spin drying are performed therein. The work W, which has been cleaned and dried, is stored in the original cassette by the transporting means 50 again. Similarly, the next work W is processed, washed, and dried, and then stored in the original cassette. The above-described operation is repeated one after another to process all the works W in the cassette. The above is the flow of processing the work W by the dicing apparatus according to the present invention.

【0017】以上説明したように、本発明によれば、2
個のワークテーブル23、23に対して1個の顕微鏡8
0が移動して夫々のワークテーブル23に吸着載置され
たワークWにアクセスできるので、一方のワークWが加
工されている間に他方のワークWのアライメントを行う
ことができ、効率よく加工できる。
As described above, according to the present invention, 2
One microscope 8 for each work table 23, 23
Since 0 moves and the work W sucked and placed on each work table 23 can be accessed, the alignment of the other work W can be performed while one work W is being processed, and the work W can be efficiently processed. .

【0018】尚、本実施の形態ではワークテーブル23
を2個設けたが、これに限らず、2個以上設けてもよ
い。
The work table 23 is used in this embodiment.
Although two are provided, the invention is not limited to this, and two or more may be provided.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ワ
ークを載置するワークテーブルが複数個設けられ、ワー
クを観察する顕微鏡が顕微鏡駆動手段によって各ワーク
テーブル上に移動されるので、ワークを加工している間
に、他のワークのアライメントを行うことができ、装置
のコスト増大を最小に抑えながら、高価なアライメント
手段の稼働率向上とダイシング装置全体の稼働率向上を
図ることができる。
As described above, according to the present invention, a plurality of work tables for mounting works are provided, and the microscope for observing the works is moved onto each work table by the microscope driving means. It is possible to perform alignment of other workpieces during machining, and improve the operating rate of expensive alignment means and the operating rate of the entire dicing device while minimizing the cost increase of the device. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係るダイシング装置の外
観を示す斜視図
FIG. 1 is a perspective view showing the outer appearance of a dicing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態に係るダイシング装置の主
要部を説明する平面図
FIG. 2 is a plan view illustrating a main part of the dicing device according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態に係るダイシング装置の主
要部を説明する斜視図
FIG. 3 is a perspective view illustrating a main part of a dicing device according to an embodiment of the present invention.

【図4】従来のダイシング装置を示す斜視図FIG. 4 is a perspective view showing a conventional dicing device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…ダイシング装置、21…回転ブレード、22…ス
ピンドル、23…ワークテーブル、70…顕微鏡駆動手
段、80…顕微鏡、100…コントローラ、W…ワーク
10 ... Dicing device, 21 ... Rotating blade, 22 ... Spindle, 23 ... Work table, 70 ... Microscope driving means, 80 ... Microscope, 100 ... Controller, W ... Work

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蛭田 倫明 東京都三鷹市下連雀9丁目7番1号 株式 会社東京精密内 (72)発明者 浅野 貴行 東京都三鷹市下連雀9丁目7番1号 株式 会社東京精密内   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Noriaki Ebisu             9-7 Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo Stocks             Company Tokyo Seimitsu (72) Inventor Takayuki Asano             9-7 Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo Stocks             Company Tokyo Seimitsu

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回転ブレードによりワークテーブルに載置
されたワークの溝加工や切断加工を行うダイシング装置
において、前記ワークテーブルが複数個設けられるとと
もに、前記ワークを観察する顕微鏡を前記複数個のワー
クテーブルの上方に夫々移動する顕微鏡駆動手段が設け
られていることを特徴とするダイシング装置。
1. A dicing device for grooving or cutting a work placed on a work table with a rotary blade, wherein a plurality of work tables are provided, and a microscope for observing the work is provided with the plurality of work. A dicing device, characterized in that microscope driving means for moving respectively above the table are provided.
【請求項2】前記複数個のワークテーブルの内の1個の
ワークテーブルに載置されたワークが前記回転ブレード
によって加工されている間に、前記顕微鏡は他のワーク
テーブル上に移動され、他のワークテーブル上のワーク
が観察されアライメントされることを特徴とする請求項
1に記載のダイシング装置。
2. The microscope is moved to another work table while the work placed on one work table among the plurality of work tables is being processed by the rotary blade, The dicing apparatus according to claim 1, wherein the workpiece on the workpiece table is observed and aligned.
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