JP2003141727A - 光情報記録装置 - Google Patents
光情報記録装置Info
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- JP2003141727A JP2003141727A JP2001334257A JP2001334257A JP2003141727A JP 2003141727 A JP2003141727 A JP 2003141727A JP 2001334257 A JP2001334257 A JP 2001334257A JP 2001334257 A JP2001334257 A JP 2001334257A JP 2003141727 A JP2003141727 A JP 2003141727A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 光変調制御信号波形の歪みやスキュー等によ
る光変調波形の所望値からのずれを抑制し、情報記録の
高速化と情報記録媒体への高密度化記録などの要求に対
しても、コストと性能などを犠牲にすることなく実現で
きるようにする。 【解決手段】 複数のパルス列波形の各パルス幅を示す
タイミング情報を記憶し、そのタイミング情報から光源
１０２の照射レベルの変化タイミングを示す変調信号を
生成し、上記タイミング情報から上記照射レベルに対応
する状態の遷移を指示する状態遷移信号を生成し、上記
変調信号と上記状態遷移信号と予め設定された遷移規則
とから上記状態の遷移を制御し、選択された状態に対応
した変調データを生成し、上記変調信号と上記変調デー
タとから光源１０２を駆動する。
る光変調波形の所望値からのずれを抑制し、情報記録の
高速化と情報記録媒体への高密度化記録などの要求に対
しても、コストと性能などを犠牲にすることなく実現で
きるようにする。 【解決手段】 複数のパルス列波形の各パルス幅を示す
タイミング情報を記憶し、そのタイミング情報から光源
１０２の照射レベルの変化タイミングを示す変調信号を
生成し、上記タイミング情報から上記照射レベルに対応
する状態の遷移を指示する状態遷移信号を生成し、上記
変調信号と上記状態遷移信号と予め設定された遷移規則
とから上記状態の遷移を制御し、選択された状態に対応
した変調データを生成し、上記変調信号と上記変調デー
タとから光源１０２を駆動する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ＣＤ−Ｒドライ
ブ装置，ＣＤ−ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ−Ｒドライブ
装置，ＤＶＤ−ＲＷドライブ装置及びＤＶＤ−ＲＡＭド
ライブ装置などの記録可能な情報記録媒体に対する情報
の記録を行う光情報記録装置に関する。
ブ装置，ＣＤ−ＲＷドライブ装置，ＤＶＤ−Ｒドライブ
装置，ＤＶＤ−ＲＷドライブ装置及びＤＶＤ−ＲＡＭド
ライブ装置などの記録可能な情報記録媒体に対する情報
の記録を行う光情報記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より記録可能な光ディスク（情報記
録媒体）に対して光源から照射するレーザ光の光変調に
よって情報の記録を行う光ディスク装置においては、１
ビームオーバーライト技術や、高密度化のための記録マ
ーク形状制御のために光変調波形をマルチパルス化，多
値レベル化（例えば、図４の（ｃ）の光変調波形を参
照）して制御する技術が必須になっており、それにとも
なって光源駆動部（以下、「ＬＤドライバ」とも称す
る）においては複数の電流をスイッチングする必要があ
り、その結果入力される信号線が増加する。
録媒体）に対して光源から照射するレーザ光の光変調に
よって情報の記録を行う光ディスク装置においては、１
ビームオーバーライト技術や、高密度化のための記録マ
ーク形状制御のために光変調波形をマルチパルス化，多
値レベル化（例えば、図４の（ｃ）の光変調波形を参
照）して制御する技術が必須になっており、それにとも
なって光源駆動部（以下、「ＬＤドライバ」とも称す
る）においては複数の電流をスイッチングする必要があ
り、その結果入力される信号線が増加する。
【０００３】また、光ディスクに対する高速記録及び高
密度記録のため、今後さらにデータの転送レートを増大
することと、パルス分割幅をより細分化することと、さ
らにパワーのレベル数を増加することが要求されてい
る。さらに、上記光源を搭載したピックアップは光ディ
スクの半径方向に可動（この動作を「シーク動作」と呼
ぶ）させるため、上記ピックアップと信号処理部等を搭
載している回路基板とは可撓性回路（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ
Ｐｒｉｎｔ Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＦＰＣ）基板と呼ばれ
る曲げの可能な基板で接続するようにするのが一般的で
あり、ＬＤドライバはピックアップに搭載された光源
（ＬＤ）の近傍に配置し、上記信号制御部からＬＤドラ
イバまでは上記ＦＰＣ基板を用いて配線している。
密度記録のため、今後さらにデータの転送レートを増大
することと、パルス分割幅をより細分化することと、さ
らにパワーのレベル数を増加することが要求されてい
る。さらに、上記光源を搭載したピックアップは光ディ
スクの半径方向に可動（この動作を「シーク動作」と呼
ぶ）させるため、上記ピックアップと信号処理部等を搭
載している回路基板とは可撓性回路（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ
Ｐｒｉｎｔ Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＦＰＣ）基板と呼ばれ
る曲げの可能な基板で接続するようにするのが一般的で
あり、ＬＤドライバはピックアップに搭載された光源
（ＬＤ）の近傍に配置し、上記信号制御部からＬＤドラ
イバまでは上記ＦＰＣ基板を用いて配線している。
【０００４】しかし、光変調制御信号を供給するＦＰＣ
基板はある程度の長さとなることは避けられないため、
光変調制御信号波形の歪み，遅延（特に複数の制御信号
間の遅延差（スキュー））等によるＬＤ駆動電流のスイ
ッチタイミングのずれが生じ、スイッチが同時に切り換
わる時点で波形に乱れが生じ、光源を所望の光波形でレ
ーザ発光させることができなくなる（図１３参照）。そ
のため、光ディスク上に形成されるマーク形状やマーク
の位置の精度が損なわれ、その結果としてデータエラー
の原因になる。さらに、ＦＰＣ基板からの不要輻射の問
題が発生し、ノイズ発生の原因ともなる。
基板はある程度の長さとなることは避けられないため、
光変調制御信号波形の歪み，遅延（特に複数の制御信号
間の遅延差（スキュー））等によるＬＤ駆動電流のスイ
ッチタイミングのずれが生じ、スイッチが同時に切り換
わる時点で波形に乱れが生じ、光源を所望の光波形でレ
ーザ発光させることができなくなる（図１３参照）。そ
のため、光ディスク上に形成されるマーク形状やマーク
の位置の精度が損なわれ、その結果としてデータエラー
の原因になる。さらに、ＦＰＣ基板からの不要輻射の問
題が発生し、ノイズ発生の原因ともなる。
【０００５】このような問題を解決するものとして、複
数の電流源の電流をスイッチ手段を介して光源（ＬＤ）
に供給するＬＤ駆動手段と、光ディスク（情報記録媒
体）に記録する２値化記録信号に対応してＬＤを駆動す
る駆動波形（光変調波形）を復元し、上記スイッチ手段
を制御する駆動波形復元手段とを同一のレーザ駆動集積
回路に備えた光源駆動装置（例えば、特開平１１−２８
３２４９号公報参照）が提案されている。
数の電流源の電流をスイッチ手段を介して光源（ＬＤ）
に供給するＬＤ駆動手段と、光ディスク（情報記録媒
体）に記録する２値化記録信号に対応してＬＤを駆動す
る駆動波形（光変調波形）を復元し、上記スイッチ手段
を制御する駆動波形復元手段とを同一のレーザ駆動集積
回路に備えた光源駆動装置（例えば、特開平１１−２８
３２４９号公報参照）が提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
光源駆動装置は、今後さらに情報記録の高速化と光ディ
スクに対する高密度化記録とが求められると、上記駆動
波形復元手段（光変調制御信号生成部）のより高速動作
及びレーザ駆動集積回路の高集積化が求められるために
微細なＣＭＯＳプロセスが好適となる。一方、上記ＬＤ
駆動部には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つＬＤが接続
されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖな
ど）が要求される。しかしながら、通常、微細なＣＭＯ
Ｓプロセスでは高耐圧にすることは困難（例えば、０．
１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しか
ない）であるため、高速化の実現が困難であったり、あ
るいは大幅なコストアップや、消費電力の増大や、集積
回路サイズの増大などの問題が生じる。
光源駆動装置は、今後さらに情報記録の高速化と光ディ
スクに対する高密度化記録とが求められると、上記駆動
波形復元手段（光変調制御信号生成部）のより高速動作
及びレーザ駆動集積回路の高集積化が求められるために
微細なＣＭＯＳプロセスが好適となる。一方、上記ＬＤ
駆動部には、１〜数Ｖ程度の動作電圧を持つＬＤが接続
されるため、高耐圧プロセス（例えば５Ｖや３．３Ｖな
ど）が要求される。しかしながら、通常、微細なＣＭＯ
Ｓプロセスでは高耐圧にすることは困難（例えば、０．
１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．８Ｖ程度の耐圧しか
ない）であるため、高速化の実現が困難であったり、あ
るいは大幅なコストアップや、消費電力の増大や、集積
回路サイズの増大などの問題が生じる。
【０００７】この発明は上記の課題を解決するためにな
されたものであり、光変調制御信号波形の歪みやスキュ
ー等による光変調波形の所望値からのずれを抑制し、情
報記録の高速化と情報記録媒体への高密度化記録などの
要求に対しても、コストと性能などを犠牲にすることな
く実現できるようにすることを目的とする。
されたものであり、光変調制御信号波形の歪みやスキュ
ー等による光変調波形の所望値からのずれを抑制し、情
報記録の高速化と情報記録媒体への高密度化記録などの
要求に対しても、コストと性能などを犠牲にすることな
く実現できるようにすることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、次の（１）〜（１０）の各光情報記録装
置を提供するものである。 （１）光源を情報記録媒体に記録する二値化信号に対応
する多値の照射レベルに基づく複数のパルス列波形で発
光させ、その発光させた光を上記情報記録媒体に照射し
て上記二値化信号に対応する記録マークを形成する光情
報記録装置において、上記複数のパルス列波形の各パル
ス幅を示すタイミング情報を記憶する駆動波形生成情報
保持手段と、その駆動波形生成情報保持手段に記憶した
タイミング情報に基づいて上記照射レベルの変化タイミ
ングを示す変調信号を生成する変調信号生成手段と、上
記駆動波形生成情報保持手段に記憶したタイミング情報
に基づいて上記照射レベルに対応する状態の遷移を指示
する状態遷移信号を生成する状態遷移信号生成手段と、
上記変調信号生成手段によって生成した変調信号と上記
状態遷移信号生成手段によって生成した状態遷移信号と
予め設定された遷移規則とに基づいて上記状態の遷移を
制御し、選択された状態に対応した変調データを生成す
る状態制御手段と、上記変調信号生成手段によって生成
した変調信号と上記状態制御手段によって生成した変調
データとに基づいて上記光源を駆動する光源駆動手段を
設けた光情報記録装置。
達成するため、次の（１）〜（１０）の各光情報記録装
置を提供するものである。 （１）光源を情報記録媒体に記録する二値化信号に対応
する多値の照射レベルに基づく複数のパルス列波形で発
光させ、その発光させた光を上記情報記録媒体に照射し
て上記二値化信号に対応する記録マークを形成する光情
報記録装置において、上記複数のパルス列波形の各パル
ス幅を示すタイミング情報を記憶する駆動波形生成情報
保持手段と、その駆動波形生成情報保持手段に記憶した
タイミング情報に基づいて上記照射レベルの変化タイミ
ングを示す変調信号を生成する変調信号生成手段と、上
記駆動波形生成情報保持手段に記憶したタイミング情報
に基づいて上記照射レベルに対応する状態の遷移を指示
する状態遷移信号を生成する状態遷移信号生成手段と、
上記変調信号生成手段によって生成した変調信号と上記
状態遷移信号生成手段によって生成した状態遷移信号と
予め設定された遷移規則とに基づいて上記状態の遷移を
制御し、選択された状態に対応した変調データを生成す
る状態制御手段と、上記変調信号生成手段によって生成
した変調信号と上記状態制御手段によって生成した変調
データとに基づいて上記光源を駆動する光源駆動手段を
設けた光情報記録装置。
【０００９】（２）光源を情報記録媒体に記録する二値
化信号に対応する多値の照射レベルに基づく複数のパル
ス列波形で発光させ、その発光させた光を上記情報記録
媒体に照射して上記二値化信号に対応する記録マークを
形成する光情報記録装置において、上記複数のパルス列
波形の各パルス幅を示すタイミング情報をそれぞれ少な
くとも一つ以上記憶する駆動波形生成情報保持手段と、
上記二値化信号に基づいて上記各タイミング情報毎にそ
の一つを選択するタイミング情報選択手段と、そのタイ
ミング情報選択手段によって選択されたタイミング情報
に基づいて上記照射レベルの変化タイミングを示す変調
信号を生成する変調信号生成手段と、上記タイミング情
報選択手段によって選択されたタイミング情報に基づい
て上記照射レベルに対応する状態の遷移を指示する状態
遷移信号を生成する状態遷移信号生成手段と、上記変調
信号生成手段によって生成した変調信号と上記状態遷移
信号生成手段によって生成した状態遷移信号と予め設定
された遷移規則とに基づいて上記状態の遷移を制御し、
選択された状態に対応した変調データを生成する状態制
御手段と、上記変調信号生成手段によって生成した変調
信号と上記状態制御手段によって生成した変調データと
に基づいて上記光源を駆動する光源駆動手段を設けた光
情報記録装置。
化信号に対応する多値の照射レベルに基づく複数のパル
ス列波形で発光させ、その発光させた光を上記情報記録
媒体に照射して上記二値化信号に対応する記録マークを
形成する光情報記録装置において、上記複数のパルス列
波形の各パルス幅を示すタイミング情報をそれぞれ少な
くとも一つ以上記憶する駆動波形生成情報保持手段と、
上記二値化信号に基づいて上記各タイミング情報毎にそ
の一つを選択するタイミング情報選択手段と、そのタイ
ミング情報選択手段によって選択されたタイミング情報
に基づいて上記照射レベルの変化タイミングを示す変調
信号を生成する変調信号生成手段と、上記タイミング情
報選択手段によって選択されたタイミング情報に基づい
て上記照射レベルに対応する状態の遷移を指示する状態
遷移信号を生成する状態遷移信号生成手段と、上記変調
信号生成手段によって生成した変調信号と上記状態遷移
信号生成手段によって生成した状態遷移信号と予め設定
された遷移規則とに基づいて上記状態の遷移を制御し、
選択された状態に対応した変調データを生成する状態制
御手段と、上記変調信号生成手段によって生成した変調
信号と上記状態制御手段によって生成した変調データと
に基づいて上記光源を駆動する光源駆動手段を設けた光
情報記録装置。
【００１０】（３）上記（１）又は（２）の光情報記録
装置において、上記変調信号生成手段が、上記二値化信
号から生成された基準時刻に対して上記駆動波形生成情
報保持手段に記憶した各タイミング情報を順次加算する
ことによって上記変調信号を生成する手段である光情報
記録装置。 （４）上記（１）又は（２）の光情報記録装置におい
て、上記変調信号生成手段が、上記二値化信号から生成
された二つ以上の基準時刻のそれぞれの基準時刻に対し
て上記駆動波形生成情報保持手段に記憶したタイミング
情報の一部を順次加算して変調タイミングパルスを生成
する複数個のタイミングパルス生成手段を有し、そのタ
イミングパルス生成手段によって生成した変調タイミン
グパルスを合成して上記変調信号を生成する手段である
光情報記録装置。 （５）上記（４）の光情報記録装置において、上記二つ
以上の基準時刻の間隔を上記二値化信号に応じて変化す
るようにした光情報記録装置。
装置において、上記変調信号生成手段が、上記二値化信
号から生成された基準時刻に対して上記駆動波形生成情
報保持手段に記憶した各タイミング情報を順次加算する
ことによって上記変調信号を生成する手段である光情報
記録装置。 （４）上記（１）又は（２）の光情報記録装置におい
て、上記変調信号生成手段が、上記二値化信号から生成
された二つ以上の基準時刻のそれぞれの基準時刻に対し
て上記駆動波形生成情報保持手段に記憶したタイミング
情報の一部を順次加算して変調タイミングパルスを生成
する複数個のタイミングパルス生成手段を有し、そのタ
イミングパルス生成手段によって生成した変調タイミン
グパルスを合成して上記変調信号を生成する手段である
光情報記録装置。 （５）上記（４）の光情報記録装置において、上記二つ
以上の基準時刻の間隔を上記二値化信号に応じて変化す
るようにした光情報記録装置。
【００１１】（６）上記（３）乃至（５）のいずれか一
項の光情報記録装置において、上記タイミング情報のパ
ルス幅設定分解能を設定するようにした光情報記録装
置。 （７）上記（６）の光情報記録装置において、上記基準
時刻を上記タイミング情報のパルス幅設定分解能に応じ
て変更するようにした光情報記録装置。 （８）上記（１）乃至（７）のいずれか一項の光情報記
録装置において、上記変調信号又は上記状態遷移信号の
生成エラーを検出するエラー検出手段と、そのエラー検
出手段によって検出した生成エラーに対して所定の処理
を行うエラー処理手段を設けた光情報記録装置。 （９）上記（８）の光情報記録装置において、上記エラ
ー検出手段に、上記状態制御手段と同一の動作を行う状
態模擬手段を設けた光情報記録装置。 （１０）上記（８）又は（９）の光情報記録装置におい
て、上記エラー処理手段が、上記変調信号及び上記状態
遷移信号に上記状態制御手段が所定の状態に遷移するよ
うに状態訂正パルスをそれぞれ挿入する処理を行う手段
である光情報記録装置。
項の光情報記録装置において、上記タイミング情報のパ
ルス幅設定分解能を設定するようにした光情報記録装
置。 （７）上記（６）の光情報記録装置において、上記基準
時刻を上記タイミング情報のパルス幅設定分解能に応じ
て変更するようにした光情報記録装置。 （８）上記（１）乃至（７）のいずれか一項の光情報記
録装置において、上記変調信号又は上記状態遷移信号の
生成エラーを検出するエラー検出手段と、そのエラー検
出手段によって検出した生成エラーに対して所定の処理
を行うエラー処理手段を設けた光情報記録装置。 （９）上記（８）の光情報記録装置において、上記エラ
ー検出手段に、上記状態制御手段と同一の動作を行う状
態模擬手段を設けた光情報記録装置。 （１０）上記（８）又は（９）の光情報記録装置におい
て、上記エラー処理手段が、上記変調信号及び上記状態
遷移信号に上記状態制御手段が所定の状態に遷移するよ
うに状態訂正パルスをそれぞれ挿入する処理を行う手段
である光情報記録装置。
【００１２】この発明の請求項１記載の光情報記録装置
によれば、上記のように構成することにより、光変調波
形の変化タイミングが変調信号のみによって決まり、供
給される信号間にスキューがあっても光波形には影響を
及ぼさず、正確な発光波形が得られ、正確な記録マーク
を形成することができる。また、この発明の請求項２記
載の光情報記録装置によれば、上記のように構成するこ
とにより、上記請求項１と同様の効果に加えて、より高
精度な記録マーク形成制御が行える。さらに、この発明
の請求項３記載の光情報記録装置によれば、上記のよう
に構成することにより、簡便な構成で確実に変調信号を
生成することができる。また、この発明の請求項４記載
の光情報記録装置によれば、上記のように構成すること
により、記録動作中にタイミング情報を変更しても、別
の基準時刻から決めている変調タイミングには影響しな
いので、ＣＡＶ記録等のように記録動作中に記録線速に
応じて順次タイミング情報を変更するような場合に好適
である。さらに、この発明の請求項５記載の光情報記録
装置によれば、上記のように構成することにより、一部
のタイミング情報を共通化することができ、駆動波形生
成情報保持手段のメモリ容量の低減を図ることができ
る。
によれば、上記のように構成することにより、光変調波
形の変化タイミングが変調信号のみによって決まり、供
給される信号間にスキューがあっても光波形には影響を
及ぼさず、正確な発光波形が得られ、正確な記録マーク
を形成することができる。また、この発明の請求項２記
載の光情報記録装置によれば、上記のように構成するこ
とにより、上記請求項１と同様の効果に加えて、より高
精度な記録マーク形成制御が行える。さらに、この発明
の請求項３記載の光情報記録装置によれば、上記のよう
に構成することにより、簡便な構成で確実に変調信号を
生成することができる。また、この発明の請求項４記載
の光情報記録装置によれば、上記のように構成すること
により、記録動作中にタイミング情報を変更しても、別
の基準時刻から決めている変調タイミングには影響しな
いので、ＣＡＶ記録等のように記録動作中に記録線速に
応じて順次タイミング情報を変更するような場合に好適
である。さらに、この発明の請求項５記載の光情報記録
装置によれば、上記のように構成することにより、一部
のタイミング情報を共通化することができ、駆動波形生
成情報保持手段のメモリ容量の低減を図ることができ
る。
【００１３】また、この発明の請求項６記載の光情報記
録装置によれば、上記のように構成することにより、情
報記録媒体や記録線速度などの用途に応じて好適な設定
を選択することができる。さらに、この発明の請求項７
記載の光情報記録装置によれば、上記のように構成する
ことにより、追記や書換えなどの際にパルス幅設定分解
能を変更しても形成される記録マーク位置が変動しない
ようにできる。また、この発明の請求項８記載の光情報
記録装置によれば、上記のように構成することにより、
万が一、駆動波形生成情報に不正なデータが記憶された
り、あるいは駆動波形生成情報の組み合わせによって不
正になっても、光波形生成エラーの伝播を防いで誤った
データを記録し続けることを防止することができる。さ
らに、この発明の請求項９記載の光情報記録装置によれ
ば、上記のように構成することにより、確実に光波形生
成エラーの検出を行える。さらにまた、この発明の請求
項１０記載の光情報記録装置によれば、上記のように構
成することにより、光波形生成エラーの処理をすぐに行
える。
録装置によれば、上記のように構成することにより、情
報記録媒体や記録線速度などの用途に応じて好適な設定
を選択することができる。さらに、この発明の請求項７
記載の光情報記録装置によれば、上記のように構成する
ことにより、追記や書換えなどの際にパルス幅設定分解
能を変更しても形成される記録マーク位置が変動しない
ようにできる。また、この発明の請求項８記載の光情報
記録装置によれば、上記のように構成することにより、
万が一、駆動波形生成情報に不正なデータが記憶された
り、あるいは駆動波形生成情報の組み合わせによって不
正になっても、光波形生成エラーの伝播を防いで誤った
データを記録し続けることを防止することができる。さ
らに、この発明の請求項９記載の光情報記録装置によれ
ば、上記のように構成することにより、確実に光波形生
成エラーの検出を行える。さらにまた、この発明の請求
項１０記載の光情報記録装置によれば、上記のように構
成することにより、光波形生成エラーの処理をすぐに行
える。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施形態を図面
に基づいて具体的に説明する。まず、本発明の光情報記
録装置の一実施形態である情報記録再生装置の全体構成
及び動作概要を図面に基づいて説明する。図１は、本発
明の光情報記録装置の一実施形態である情報記録再生装
置の全体構成を示すブロック図である。図１において、
情報記録媒体１００は、再生すべき情報が予め記録され
たＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＯＭ等の光ディスク、また
は情報が未記録であってユーザが任意に新規の情報を記
録可能なＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−
ＲＡＭ，ＭＤ，ＭＯなどの光ディスクである。
に基づいて具体的に説明する。まず、本発明の光情報記
録装置の一実施形態である情報記録再生装置の全体構成
及び動作概要を図面に基づいて説明する。図１は、本発
明の光情報記録装置の一実施形態である情報記録再生装
置の全体構成を示すブロック図である。図１において、
情報記録媒体１００は、再生すべき情報が予め記録され
たＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＯＭ等の光ディスク、また
は情報が未記録であってユーザが任意に新規の情報を記
録可能なＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−
ＲＡＭ，ＭＤ，ＭＯなどの光ディスクである。
【００１５】ピックアップ１０１は、光源（例えば半導
体レーザ（ＬＤ））１０２からの出射光を情報記録媒体
１００に照射して情報の記録を行ったり、情報記録媒体
１００からの反射光を受光して受光信号に変換するもの
であり、光源１０２やその光源１０２を駆動する光源駆
動部（公知であり、図示を省略）、反射光を受光して受
光信号に変換する受光部１０３などが配置されている。
また、ピックアップ１０１には光源１０２の出射光の一
部をモニタするモニタ受光部（同じく公知であり、図示
を省略）も配置されており、その出力であるモニタ信号
に基づいて光源１０２の出射光量変動を制御する。
体レーザ（ＬＤ））１０２からの出射光を情報記録媒体
１００に照射して情報の記録を行ったり、情報記録媒体
１００からの反射光を受光して受光信号に変換するもの
であり、光源１０２やその光源１０２を駆動する光源駆
動部（公知であり、図示を省略）、反射光を受光して受
光信号に変換する受光部１０３などが配置されている。
また、ピックアップ１０１には光源１０２の出射光の一
部をモニタするモニタ受光部（同じく公知であり、図示
を省略）も配置されており、その出力であるモニタ信号
に基づいて光源１０２の出射光量変動を制御する。
【００１６】さらに、情報記録媒体１００の照射光に対
する傾き（「チルト」と呼ぶ）を検知するためのチルト
検出受光部（同じく公知であり、図示を省略）などが配
置される場合もある。さらにまた、異なる媒体フォーマ
ットが定められた複数種類の情報記録媒体に対応する情
報記録再生装置の場合（例えば、ＤＶＤ及びＣＤ両対応
装置など）、それぞれの情報記録媒体に好適な波長の光
源を持つ場合があり、それぞれの光源出射時に情報記録
媒体からの反射光を受光する受光部やモニタ受光部を別
個に備える場合もある。
する傾き（「チルト」と呼ぶ）を検知するためのチルト
検出受光部（同じく公知であり、図示を省略）などが配
置される場合もある。さらにまた、異なる媒体フォーマ
ットが定められた複数種類の情報記録媒体に対応する情
報記録再生装置の場合（例えば、ＤＶＤ及びＣＤ両対応
装置など）、それぞれの情報記録媒体に好適な波長の光
源を持つ場合があり、それぞれの光源出射時に情報記録
媒体からの反射光を受光する受光部やモニタ受光部を別
個に備える場合もある。
【００１７】信号処理部１０４は、ピックアップ１０１
に配置された各種受光部からの受光信号が入力され、様
々な信号処理が行われる。例えば、受光信号から情報を
再生したり、情報記録媒体１００の回転に伴う面振れや
トラックの半径方向の振れなどの変動に対して常に所定
の誤差内で光を照射するように制御（フォーカスサーボ
制御及びトラックサーボ制御）するために受光信号から
サーボエラー信号を生成し、そのサーボエラー信号に従
ってピックアップ１０１を制御する。また、記録すべき
情報を所定の規則に従って変調し、記録信号として光源
１０２（または光源駆動部）に出力したり、光源１０２
の出力光量制御を行う。
に配置された各種受光部からの受光信号が入力され、様
々な信号処理が行われる。例えば、受光信号から情報を
再生したり、情報記録媒体１００の回転に伴う面振れや
トラックの半径方向の振れなどの変動に対して常に所定
の誤差内で光を照射するように制御（フォーカスサーボ
制御及びトラックサーボ制御）するために受光信号から
サーボエラー信号を生成し、そのサーボエラー信号に従
ってピックアップ１０１を制御する。また、記録すべき
情報を所定の規則に従って変調し、記録信号として光源
１０２（または光源駆動部）に出力したり、光源１０２
の出力光量制御を行う。
【００１８】回転駆動部１０５は、情報記録媒体１００
を回転させるものであり、信号処理部１０４によって回
転速度が制御（スピンドルサーボ制御）される。ＣＬＶ
回転制御を行う際には、より精度よく回転制御をするた
めに情報記録媒体１００に埋め込まれた回転制御信号を
ピックアップ１０１を介して検出し、その回転制御信号
に基づいて回転制御を行う。回転制御信号には、例えば
再生情報記録媒体などでは記録された情報に所定間隔で
配置された同期信号や、記録可能な情報記録媒体では記
録トラックが所定の周波数で蛇行したウォブルなどを用
いる。
を回転させるものであり、信号処理部１０４によって回
転速度が制御（スピンドルサーボ制御）される。ＣＬＶ
回転制御を行う際には、より精度よく回転制御をするた
めに情報記録媒体１００に埋め込まれた回転制御信号を
ピックアップ１０１を介して検出し、その回転制御信号
に基づいて回転制御を行う。回転制御信号には、例えば
再生情報記録媒体などでは記録された情報に所定間隔で
配置された同期信号や、記録可能な情報記録媒体では記
録トラックが所定の周波数で蛇行したウォブルなどを用
いる。
【００１９】コントローラ１０６は、ホストコンピュー
タとの記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行って
装置全体の制御を行う。なお、ピックアップ１０１は情
報記録媒体半径方向に可動（この動作を「シーク動作」
と呼ぶ）させるため、ピックアップ１０１と信号処理部
１０４等が搭載されている回路基板とはフレキシブルプ
リント回路（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ Ｐｒｉｎｔ Ｃｉｒｃ
ｕｉｔ：ＦＰＣ）基板（またはケーブル）と呼ばれる基
板（またはケーブル）で接続されるのが一般であり、光
源１０２や受光部１０３等のピックアップ１０１に搭載
される部品はこのＦＰＣ基板に実装されることも多い。
タとの記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行って
装置全体の制御を行う。なお、ピックアップ１０１は情
報記録媒体半径方向に可動（この動作を「シーク動作」
と呼ぶ）させるため、ピックアップ１０１と信号処理部
１０４等が搭載されている回路基板とはフレキシブルプ
リント回路（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ Ｐｒｉｎｔ Ｃｉｒｃ
ｕｉｔ：ＦＰＣ）基板（またはケーブル）と呼ばれる基
板（またはケーブル）で接続されるのが一般であり、光
源１０２や受光部１０３等のピックアップ１０１に搭載
される部品はこのＦＰＣ基板に実装されることも多い。
【００２０】次に、上記情報記録再生装置の信号処理部
１０４の内部構成及び動作概略について説明する。図２
は、図１に示した信号処理部１０４の内部構成を示すブ
ロック図である。本実施形態の信号処理部１０４は、異
なるフォーマットの情報記録媒体へ対応させるために上
記光源（ＬＤ）１０２として二つの光源ＬＤ１とＬＤ２
を備えており、上記受光部１０３として受光部ＰＤ１〜
ＰＤ５を備えており、光源ＬＤ１とＬＤ２の照射光の一
部をそれぞれ受光部ＰＤ２及びＰＤ５でモニタする。
１０４の内部構成及び動作概略について説明する。図２
は、図１に示した信号処理部１０４の内部構成を示すブ
ロック図である。本実施形態の信号処理部１０４は、異
なるフォーマットの情報記録媒体へ対応させるために上
記光源（ＬＤ）１０２として二つの光源ＬＤ１とＬＤ２
を備えており、上記受光部１０３として受光部ＰＤ１〜
ＰＤ５を備えており、光源ＬＤ１とＬＤ２の照射光の一
部をそれぞれ受光部ＰＤ２及びＰＤ５でモニタする。
【００２１】受光部ＰＤ１では光源ＬＤ１の照射時に情
報記録媒体からの反射光を受光し、受光部ＰＤ４では光
源ＬＤ２の照射時に情報記録媒体からの反射光を受光す
る。受光部ＰＤ３はチルト量を検知するための受光部で
ある。受光部ＰＤ１とＰＤ３とＰＤ４は、複数に分割さ
れた分割受光素子によって受光している。なお、ピック
アップによっては光源ＬＤ１とＬＤ２の出射光を同一の
受光部でモニタする場合もある。同様に、情報記録媒体
からの反射光を受光する受光部も同一とする場合もあ
る。
報記録媒体からの反射光を受光し、受光部ＰＤ４では光
源ＬＤ２の照射時に情報記録媒体からの反射光を受光す
る。受光部ＰＤ３はチルト量を検知するための受光部で
ある。受光部ＰＤ１とＰＤ３とＰＤ４は、複数に分割さ
れた分割受光素子によって受光している。なお、ピック
アップによっては光源ＬＤ１とＬＤ２の出射光を同一の
受光部でモニタする場合もある。同様に、情報記録媒体
からの反射光を受光する受光部も同一とする場合もあ
る。
【００２２】受光信号処理部２は、受光部ＰＤ１とＰＤ
３とＰＤ４の出力する各受光信号を入力し、各受光信号
のオフセット調整及びゲイン調整などの処理を行う。サ
ーボ信号演算処理部１３は、受光信号処理部２から供給
される各受光信号からサーボエラー信号の生成を行う。
同時に、オフセット調整，ゲイン調整も行って生成した
サーボエラー信号をサーボプロセッサ１４へ供給する。
ＲＦ選択部４は、受光部ＰＤ１及び受光部ＰＤ４の出力
する受光信号を入力し、後段の回路に必要な信号を選択
あるいは一部加減算などの演算を行って供給する。
３とＰＤ４の出力する各受光信号を入力し、各受光信号
のオフセット調整及びゲイン調整などの処理を行う。サ
ーボ信号演算処理部１３は、受光信号処理部２から供給
される各受光信号からサーボエラー信号の生成を行う。
同時に、オフセット調整，ゲイン調整も行って生成した
サーボエラー信号をサーボプロセッサ１４へ供給する。
ＲＦ選択部４は、受光部ＰＤ１及び受光部ＰＤ４の出力
する受光信号を入力し、後段の回路に必要な信号を選択
あるいは一部加減算などの演算を行って供給する。
【００２３】ウォブル信号生成部６は、記録可能な情報
記録媒体にプリフォーマットされたウォブルを検出する
ものである。ウォブル信号処理部１５は、ウォブル信号
生成部６の出力する信号から二値化ウォブル信号を抽出
し、ＷＣＫ生成部１７及び回転制御部１８へ供給する。
また、情報記録媒体毎に所定の規則でウォブルに変調さ
れたアドレス情報を復調し、コントローラ１９へ供給す
る。
記録媒体にプリフォーマットされたウォブルを検出する
ものである。ウォブル信号処理部１５は、ウォブル信号
生成部６の出力する信号から二値化ウォブル信号を抽出
し、ＷＣＫ生成部１７及び回転制御部１８へ供給する。
また、情報記録媒体毎に所定の規則でウォブルに変調さ
れたアドレス情報を復調し、コントローラ１９へ供給す
る。
【００２４】ＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部１６は、ＲＦ信
号処理部によってＲＦ選択部４から入力された再生ＲＦ
信号から二値化ＲＦ信号を生成し、再生している情報記
録媒体の変調方式規則に則って復調を行う。またＰＬＬ
部（ＰＬＬ回路）によって二値化ＲＦ信号から再生クロ
ックを抽出する。復調したデータはコントローラ１９に
供給する。また二値化ＲＦ信号に所定間隔で挿入された
同期信号によって回転制御信号を抽出して回転制御部１
８へ供給する。回転制御部１８は、ウォブル信号処理部
１５またはＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部１６から入力され
る信号から回転制御を行うためのスピンドルエラー信号
を生成し、サーボプロセッサ１４へ供給する。また、情
報記録媒体を角速度一定（ＣＡＶ）で回転させる場合は
回転制御駆動部（公知であり、図示を省略）から出力さ
れるディスク回転を示す信号（同じく公知であり、図示
を省略）に基づいてスピンドルエラー信号を生成する。
号処理部によってＲＦ選択部４から入力された再生ＲＦ
信号から二値化ＲＦ信号を生成し、再生している情報記
録媒体の変調方式規則に則って復調を行う。またＰＬＬ
部（ＰＬＬ回路）によって二値化ＲＦ信号から再生クロ
ックを抽出する。復調したデータはコントローラ１９に
供給する。また二値化ＲＦ信号に所定間隔で挿入された
同期信号によって回転制御信号を抽出して回転制御部１
８へ供給する。回転制御部１８は、ウォブル信号処理部
１５またはＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部１６から入力され
る信号から回転制御を行うためのスピンドルエラー信号
を生成し、サーボプロセッサ１４へ供給する。また、情
報記録媒体を角速度一定（ＣＡＶ）で回転させる場合は
回転制御駆動部（公知であり、図示を省略）から出力さ
れるディスク回転を示す信号（同じく公知であり、図示
を省略）に基づいてスピンドルエラー信号を生成する。
【００２５】サーボプロセッサ１４は、コントローラ１
９からの指令に基づき、入力される各種サーボエラー信
号からサーボ制御信号を生成し、サーボドライバ２０へ
出力する。サーボドライバ２０は入力されるサーボ制御
信号に基づいてサーボドライブ信号を生成する。各駆動
部は供給されたサーボドライブ信号によってサーボ制御
動作を行う。ここでは、フォーカス制御，トラック制
御，シーク制御，スピンドル制御及びチルト制御であ
る。
９からの指令に基づき、入力される各種サーボエラー信
号からサーボ制御信号を生成し、サーボドライバ２０へ
出力する。サーボドライバ２０は入力されるサーボ制御
信号に基づいてサーボドライブ信号を生成する。各駆動
部は供給されたサーボドライブ信号によってサーボ制御
動作を行う。ここでは、フォーカス制御，トラック制
御，シーク制御，スピンドル制御及びチルト制御であ
る。
【００２６】ＷＣＫ生成部１７は、ウォブル信号処理部
１５から供給された二値化ウォブル信号に基づいて記録
クロック信号ＷＣＫを生成し、ＬＤ変調信号生成部１０
とコントローラ１９の各部へ供給する。記録時にはその
記録クロック信号ＷＣＫを基準にして記録データの生成
などが行われる。記録時には、コントローラ１９から記
録クロック信号ＷＣＫに同期して記録データ信号Ｗｄａ
ｔａがＬＤ変調信号生成部１０へ供給される。その記録
データ信号Ｗｄａｔａは記録すべき情報が所定の規則に
従って変調されている。
１５から供給された二値化ウォブル信号に基づいて記録
クロック信号ＷＣＫを生成し、ＬＤ変調信号生成部１０
とコントローラ１９の各部へ供給する。記録時にはその
記録クロック信号ＷＣＫを基準にして記録データの生成
などが行われる。記録時には、コントローラ１９から記
録クロック信号ＷＣＫに同期して記録データ信号Ｗｄａ
ｔａがＬＤ変調信号生成部１０へ供給される。その記録
データ信号Ｗｄａｔａは記録すべき情報が所定の規則に
従って変調されている。
【００２７】ＬＤ変調信号生成部１０は、ＷＣＫ生成部
１７から入力される記録クロック信号ＷＣＫ及びコント
ローラ１９から入力される記録データ信号Ｗｄａｔａか
ら光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を変調するためのＬＤ
変調信号を生成し、ＬＤ駆動部１２へ供給する。ＬＤ制
御部９は、受光部ＰＤ２あるいは受光部ＰＤ５からのモ
ニタ受光信号を入力し、そのモニタ受光信号に基づいて
光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の出射光量が所望の値になるよ
うにＬＤ駆動部１２へ対してＬＤ制御信号を供給する
（いわゆるＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ
Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う）。ＬＤ駆動部１２は、Ｌ
Ｄ制御部９から入力されるＬＤ制御信号及びＬＤ変調信
号生成部１０から入力されるＬＤ変調信号に基づいて光
源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を電流駆動して発光させ
る。また、コントローラ１９からは各部の制御信号が出
力される。
１７から入力される記録クロック信号ＷＣＫ及びコント
ローラ１９から入力される記録データ信号Ｗｄａｔａか
ら光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を変調するためのＬＤ
変調信号を生成し、ＬＤ駆動部１２へ供給する。ＬＤ制
御部９は、受光部ＰＤ２あるいは受光部ＰＤ５からのモ
ニタ受光信号を入力し、そのモニタ受光信号に基づいて
光源ＬＤ１と光源ＬＤ２の出射光量が所望の値になるよ
うにＬＤ駆動部１２へ対してＬＤ制御信号を供給する
（いわゆるＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ
Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う）。ＬＤ駆動部１２は、Ｌ
Ｄ制御部９から入力されるＬＤ制御信号及びＬＤ変調信
号生成部１０から入力されるＬＤ変調信号に基づいて光
源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２を電流駆動して発光させ
る。また、コントローラ１９からは各部の制御信号が出
力される。
【００２８】次に、上記ＬＤ制御部９及びＬＤ駆動部１
２の詳細な実施形態を説明する。図３は、図２に示した
ＬＤ制御部９及びＬＤ駆動部１２を集積化したＬＤ駆動
集積回路１の構成図である。図４は、図３に示したＬＤ
駆動集積回路１の各部の出力信号の一例を示す波形図で
ある。図３に示すＬＤ駆動集積回路１は、駆動する光源
ＬＤ１及び光源ＬＤ２の近傍に配置されており、ピック
アップ１０１に搭載される。一方、ＬＤ駆動集積回路１
にＬＤ変調信号ＷＳＰを供給するＬＤ変調信号生成部１
０は、他の信号処理部と共に回路基板に搭載され、両者
を接続する信号線はＦＰＣ基板上を伝送される。
２の詳細な実施形態を説明する。図３は、図２に示した
ＬＤ制御部９及びＬＤ駆動部１２を集積化したＬＤ駆動
集積回路１の構成図である。図４は、図３に示したＬＤ
駆動集積回路１の各部の出力信号の一例を示す波形図で
ある。図３に示すＬＤ駆動集積回路１は、駆動する光源
ＬＤ１及び光源ＬＤ２の近傍に配置されており、ピック
アップ１０１に搭載される。一方、ＬＤ駆動集積回路１
にＬＤ変調信号ＷＳＰを供給するＬＤ変調信号生成部１
０は、他の信号処理部と共に回路基板に搭載され、両者
を接続する信号線はＦＰＣ基板上を伝送される。
【００２９】また、ＬＤ変調信号生成部１０は、記録ク
ロック信号ＷＣＫを基準にして記録データ信号Ｗｄａｔ
ａから、図４に示すようなＬＤ変調信号ＷＳＰ（ｆ）及
びステート信号ＳＴＥＮ（ｅ−１）を生成する。図４で
は図示を簡便にするために信号ＷＳＰ及びＳＴＥＮの記
録データＷｄａｔａに対する遅延は無視して図示してい
る（通常は生成回路の都合上所定クロック遅延する）。
またこの時、ＬＤ変調信号ＷＳＰは所要の情報記録媒体
に最適なパルス幅制御が行われているものとする。さら
にはコマンド信号ＳＴＣＭＤも生成している。
ロック信号ＷＣＫを基準にして記録データ信号Ｗｄａｔ
ａから、図４に示すようなＬＤ変調信号ＷＳＰ（ｆ）及
びステート信号ＳＴＥＮ（ｅ−１）を生成する。図４で
は図示を簡便にするために信号ＷＳＰ及びＳＴＥＮの記
録データＷｄａｔａに対する遅延は無視して図示してい
る（通常は生成回路の都合上所定クロック遅延する）。
またこの時、ＬＤ変調信号ＷＳＰは所要の情報記録媒体
に最適なパルス幅制御が行われているものとする。さら
にはコマンド信号ＳＴＣＭＤも生成している。
【００３０】ＬＤ駆動集積回路１は、ＬＤ変調信号生成
部１０から供給されるステート信号ＳＴＥＮとコマンド
信号ＳＴＣＭＤとからＬＤ照射レベルや照射モードを示
すモード制御信号ＳｅｑＭｏｄｅに変換するコマンドデ
コーダ（ＣＭＤＤｅｃｏｒｄｅｒ）２２と、同じくＬＤ
変調信号生成部１０から供給されるＬＤ変調信号ＷＳＰ
とステート信号ＳＴＥＮ及びモード制御信号ＳｅｑＭｏ
ｄｅに基づいてＬＤ照射レベルの制御を行うシーケンサ
（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ）２１と、シーケンサ２１から供
給される変調データＤｍｏｄＬ，ＤｍｏｄＨ及び変調信
号ＭＯＤに基づいてＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを生成する変
調部（Ｄａｔａ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）２３を備えて
いる。
部１０から供給されるステート信号ＳＴＥＮとコマンド
信号ＳＴＣＭＤとからＬＤ照射レベルや照射モードを示
すモード制御信号ＳｅｑＭｏｄｅに変換するコマンドデ
コーダ（ＣＭＤＤｅｃｏｒｄｅｒ）２２と、同じくＬＤ
変調信号生成部１０から供給されるＬＤ変調信号ＷＳＰ
とステート信号ＳＴＥＮ及びモード制御信号ＳｅｑＭｏ
ｄｅに基づいてＬＤ照射レベルの制御を行うシーケンサ
（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ）２１と、シーケンサ２１から供
給される変調データＤｍｏｄＬ，ＤｍｏｄＨ及び変調信
号ＭＯＤに基づいてＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを生成する変
調部（Ｄａｔａ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）２３を備えて
いる。
【００３１】また、光源の出射光の一部をモニタするモ
ニタ受光部からのモニタ受光信号を入力してオフセット
調整及びゲイン調整を行うＰＤアンプ部（ＰＤ−ＡＭ
Ｐ）２６と、ＰＤアンプ部２６から供給されるモニタ信
号Ｉｍｏｎがシーケンサ２１から供給される目標レベル
信号Ｄｔａｒｇｅｔから生成される基準信号Ｉｔａｒｇ
ｅｔと一致するようにバイアス電流Ｉａｐｃを制御する
バイアス電流制御部（Ｂｉａｓ−Ｃｏｎｔｒｏｌ）２７
と、バイアス電流制御部２７の出力するバイアス電流Ｉ
ｂｉａｓと外部から供給されるバイアス電流Ｉｅｘｔと
を選択して電流Ｉｂｉａｓを出力するバイアス電流選択
部（ＭＵＸ）２９と、モニタ信号Ｉｍｏｎから駆動して
いる光源ＬＤ（光源ＬＤ１または光源ＬＤ２）の微分量
子効率ηを検出してその検出結果に応じてＬＤ変調電流
のスケールＳｃａｌｅを制御する微分量子効率制御部
（η−Ｃｏｎｔｒｏｌ）２８も備えている。
ニタ受光部からのモニタ受光信号を入力してオフセット
調整及びゲイン調整を行うＰＤアンプ部（ＰＤ−ＡＭ
Ｐ）２６と、ＰＤアンプ部２６から供給されるモニタ信
号Ｉｍｏｎがシーケンサ２１から供給される目標レベル
信号Ｄｔａｒｇｅｔから生成される基準信号Ｉｔａｒｇ
ｅｔと一致するようにバイアス電流Ｉａｐｃを制御する
バイアス電流制御部（Ｂｉａｓ−Ｃｏｎｔｒｏｌ）２７
と、バイアス電流制御部２７の出力するバイアス電流Ｉ
ｂｉａｓと外部から供給されるバイアス電流Ｉｅｘｔと
を選択して電流Ｉｂｉａｓを出力するバイアス電流選択
部（ＭＵＸ）２９と、モニタ信号Ｉｍｏｎから駆動して
いる光源ＬＤ（光源ＬＤ１または光源ＬＤ２）の微分量
子効率ηを検出してその検出結果に応じてＬＤ変調電流
のスケールＳｃａｌｅを制御する微分量子効率制御部
（η−Ｃｏｎｔｒｏｌ）２８も備えている。
【００３２】さらに、高周波重畳信号と高周波重畳時に
バイアス電流に印加するオフセット電流Ｉｈｆｍｏｆｓ
を生成する高周波変調部（ＨＦ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏ
ｎ）３０と、バイアス電流Ｉｂｉａｓと変調電流Ｉｍｏ
ｄを加算して高周波重畳オフセット電流Ｉｈｆｍｏｆｓ
を減算する電流加算部２４と、その電流加算部２４から
供給される電流を増幅して光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ
２の駆動電流ＩＬＤを供給する電流駆動部２５と、コン
トローラ１９から（あるいはＬＤ変調信号生成部１０を
介して）供給される制御コマンドを受けて各部へ制御信
号を供給する制御部３３を備えている。
バイアス電流に印加するオフセット電流Ｉｈｆｍｏｆｓ
を生成する高周波変調部（ＨＦ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏ
ｎ）３０と、バイアス電流Ｉｂｉａｓと変調電流Ｉｍｏ
ｄを加算して高周波重畳オフセット電流Ｉｈｆｍｏｆｓ
を減算する電流加算部２４と、その電流加算部２４から
供給される電流を増幅して光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ
２の駆動電流ＩＬＤを供給する電流駆動部２５と、コン
トローラ１９から（あるいはＬＤ変調信号生成部１０を
介して）供給される制御コマンドを受けて各部へ制御信
号を供給する制御部３３を備えている。
【００３３】また、図４に示す各部の信号波形は一例で
あり、ここで想定する情報記録媒体は相変化型記録媒体
（例えばＣＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＷなどの光ディスク）
とし、記録クロック信号ＷＣＫ（ａ）及び記録データ信
号Ｗｄａｔａ（ｂ）に基づき、図４の（ｃ）のような光
変調波形で光源ＬＤを発光させて記録マーク（同図の
（ｄ））を形成する。相変化型情報記録媒体は、一般に
は、ライトパワーＰｗ，イレースパワーＰｅ，ボトムパ
ワーＰｂの三値のマルチパルスで記録マークが形成され
る。この時、記録パワーレベル及び各パルスのパルス幅
・パルス間隔を精度よく制御することによって正確な記
録がなされる。さらに、本実施形態では、図４の（ｃ）
において破線枠（ｉ）と（ｉｉ）と（ｉｉｉ）で示すよ
うに、先頭パルスや最終パルスあるいは最終ボトムパル
ス（「クーリングパルス」と呼ぶ）のパワーを設定可能
にしている。
あり、ここで想定する情報記録媒体は相変化型記録媒体
（例えばＣＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＷなどの光ディスク）
とし、記録クロック信号ＷＣＫ（ａ）及び記録データ信
号Ｗｄａｔａ（ｂ）に基づき、図４の（ｃ）のような光
変調波形で光源ＬＤを発光させて記録マーク（同図の
（ｄ））を形成する。相変化型情報記録媒体は、一般に
は、ライトパワーＰｗ，イレースパワーＰｅ，ボトムパ
ワーＰｂの三値のマルチパルスで記録マークが形成され
る。この時、記録パワーレベル及び各パルスのパルス幅
・パルス間隔を精度よく制御することによって正確な記
録がなされる。さらに、本実施形態では、図４の（ｃ）
において破線枠（ｉ）と（ｉｉ）と（ｉｉｉ）で示すよ
うに、先頭パルスや最終パルスあるいは最終ボトムパル
ス（「クーリングパルス」と呼ぶ）のパワーを設定可能
にしている。
【００３４】通常、情報記録媒体あるいはその記録線速
度によってはマークが形成されるとき、隣接のスペース
長によって媒体上で熱的影響を受け、マークのエッジが
隣接スペース長によってさまざまに変動する場合があ
る。これを避けるために、従来では隣接のスペース長を
考慮して光変調波形の各パルス幅を変えている。本実施
形態のように、加えて、隣接のスペース長を考慮してパ
ワーを変えられるようにすれば、媒体に与える熱量とし
ては隣接スペース長に応じてパルス幅補正をするのと等
価になるので、実質的にパルス幅制御分解能の細分化を
行っているのと同等になり、高速記録化対応に適したも
のとなる。
度によってはマークが形成されるとき、隣接のスペース
長によって媒体上で熱的影響を受け、マークのエッジが
隣接スペース長によってさまざまに変動する場合があ
る。これを避けるために、従来では隣接のスペース長を
考慮して光変調波形の各パルス幅を変えている。本実施
形態のように、加えて、隣接のスペース長を考慮してパ
ワーを変えられるようにすれば、媒体に与える熱量とし
ては隣接スペース長に応じてパルス幅補正をするのと等
価になるので、実質的にパルス幅制御分解能の細分化を
行っているのと同等になり、高速記録化対応に適したも
のとなる。
【００３５】ここで、各部詳細説明の前に、駆動・制御
対象となる光源ＬＤについて説明する。図８は、駆動電
流−光出力特性の一例を示す線図である。通常、光源Ｌ
Ｄの駆動電流ＩＬＤに対する光出力Ｐｏは次の数１に示
す式に基づいて近似することができる。ここで、η：微
分量子効率，Ｉｔｈ：閾値電流である。
対象となる光源ＬＤについて説明する。図８は、駆動電
流−光出力特性の一例を示す線図である。通常、光源Ｌ
Ｄの駆動電流ＩＬＤに対する光出力Ｐｏは次の数１に示
す式に基づいて近似することができる。ここで、η：微
分量子効率，Ｉｔｈ：閾値電流である。
【００３６】
【数１】Ｐｏ＝η・（ＩＬＤ−Ｉｔｈ）
【００３７】所望の光変調波形Ｐ（図８の（ｂ））を得
るためには、ＬＤ駆動電流ＩＬＤをバイアス電流Ｉｂと
変調電流Ｉｍの和（Ｉｂ＋Ｉｍ）とした場合、バイアス
電流Ｉｂは閾値電流Ｉｔｈにほぼ等しく、変調電流Ｉｍ
は同図の（ｃ）のようなＰ＝η・Ｉｍになる電流を駆動
すればよい。しかし、一般に、この閾値電流Ｉｔｈと、
微分量子効率ηは個体間のばらつきのみならず、温度変
化によっても変動するため、所望の光変調波形Ｐを常時
得るためには、閾値電流Ｉｔｈ及び微分量子効率ηの変
動に伴ってバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍを制御する
ことが望ましい。例えば、図８の（ｉｉ）のように閾値
電流がＩｔｈ′に、微分量子効率がη′に変動した場
合、所望の光変調波形Ｐを得るためには、バイアス電流
Ｉｂ′をＩｔｈ′に、変調電流Ｉｍ′を同図の（ｄ）の
ようにＰ＝η′・Ｉｍ′となるように制御すればよい。
るためには、ＬＤ駆動電流ＩＬＤをバイアス電流Ｉｂと
変調電流Ｉｍの和（Ｉｂ＋Ｉｍ）とした場合、バイアス
電流Ｉｂは閾値電流Ｉｔｈにほぼ等しく、変調電流Ｉｍ
は同図の（ｃ）のようなＰ＝η・Ｉｍになる電流を駆動
すればよい。しかし、一般に、この閾値電流Ｉｔｈと、
微分量子効率ηは個体間のばらつきのみならず、温度変
化によっても変動するため、所望の光変調波形Ｐを常時
得るためには、閾値電流Ｉｔｈ及び微分量子効率ηの変
動に伴ってバイアス電流Ｉｂと変調電流Ｉｍを制御する
ことが望ましい。例えば、図８の（ｉｉ）のように閾値
電流がＩｔｈ′に、微分量子効率がη′に変動した場
合、所望の光変調波形Ｐを得るためには、バイアス電流
Ｉｂ′をＩｔｈ′に、変調電流Ｉｍ′を同図の（ｄ）の
ようにＰ＝η′・Ｉｍ′となるように制御すればよい。
【００３８】図３に示したＬＤ駆動集積回路１では、主
にバイアス電流制御部２７がバイアス電流の制御機能
を、微分量子効率制御部２８が変調電流の制御機能をそ
れぞれ果たす。
にバイアス電流制御部２７がバイアス電流の制御機能
を、微分量子効率制御部２８が変調電流の制御機能をそ
れぞれ果たす。
【００３９】以下、図３に示したＬＤ駆動集積回路１の
各部の動作と詳細構成について説明する。 ［シーケンサ］シーケンサ２１は、ＬＤ変調信号ＷＳＰ
とステート信号ＳＴＥＮに基づいて光源のＬＤ照射レベ
ルの制御を行う。図５は図３に示したシーケンサ２１の
状態遷移図である。各ステートは光源ＬＤの照射レベル
に対応し、ＳＭａ，ＳＭｂの各ステートマシンは各々独
立に動作する。そして、ＳＭａ，ＳＭｂの各ステートマ
シンのそれぞれ現在のステートｓｔａｔｅ０，ｓｔａｔ
ｅ１に従って変調データＤｍｏｄＬとＤｍｏｄＨを出力
する。
各部の動作と詳細構成について説明する。 ［シーケンサ］シーケンサ２１は、ＬＤ変調信号ＷＳＰ
とステート信号ＳＴＥＮに基づいて光源のＬＤ照射レベ
ルの制御を行う。図５は図３に示したシーケンサ２１の
状態遷移図である。各ステートは光源ＬＤの照射レベル
に対応し、ＳＭａ，ＳＭｂの各ステートマシンは各々独
立に動作する。そして、ＳＭａ，ＳＭｂの各ステートマ
シンのそれぞれ現在のステートｓｔａｔｅ０，ｓｔａｔ
ｅ１に従って変調データＤｍｏｄＬとＤｍｏｄＨを出力
する。
【００４０】すなわち、予め各ステートに対応した変調
データを設定しておき、それぞれのステートマシンの現
在のステートに対応した変調データを選択出力する。ま
た、記録時にはＬＤ変調信号ＷＳＰが、再生時にはロー
（Ｌｏｗ）の信号が変調信号ＭＯＤとして出力される。
なお、図３においては変調信号ＭＯＤはマルチプレクサ
ＭＵＸ６５を経由して変調部２３へ供給されているが、
ここでＭＵＸ６５は変調信号ＭＯＤを選択出力している
ものとする。
データを設定しておき、それぞれのステートマシンの現
在のステートに対応した変調データを選択出力する。ま
た、記録時にはＬＤ変調信号ＷＳＰが、再生時にはロー
（Ｌｏｗ）の信号が変調信号ＭＯＤとして出力される。
なお、図３においては変調信号ＭＯＤはマルチプレクサ
ＭＵＸ６５を経由して変調部２３へ供給されているが、
ここでＭＵＸ６５は変調信号ＭＯＤを選択出力している
ものとする。
【００４１】次段の変調部２３では、この変調信号ＭＯ
Ｄがロー（Ｌｏｗ）の時は変調データＤｍｏｄＬが、ハ
イ（Ｈｉｇｈ）の時には変調データＤｍｏｄＨが選択さ
れるので、ＳＭａ内の各ステートはＬＤ変調信号ＷＳＰ
がロー（Ｌｏｗ）の時の照射レベルに、ＳＭｂ内の各ス
テートはＷＳＰがハイ（Ｈｉｇｈ）の時の照射レベルに
対応する。例えば、ｓｔａｔｅ０＝ＳＰｂで変調信号Ｍ
ＯＤ＝ロー（Ｌｏｗ）の時、光源ＬＤの照射レベルはボ
トムパワーＰｂとなり、ｓｔａｔｅ１＝ＳＰｍｐで変調
信号ＭＯＤ＝ハイ（Ｈｉｇｈ）の時、光源ＬＤの照射レ
ベルはライトパワーＰｗとなる。
Ｄがロー（Ｌｏｗ）の時は変調データＤｍｏｄＬが、ハ
イ（Ｈｉｇｈ）の時には変調データＤｍｏｄＨが選択さ
れるので、ＳＭａ内の各ステートはＬＤ変調信号ＷＳＰ
がロー（Ｌｏｗ）の時の照射レベルに、ＳＭｂ内の各ス
テートはＷＳＰがハイ（Ｈｉｇｈ）の時の照射レベルに
対応する。例えば、ｓｔａｔｅ０＝ＳＰｂで変調信号Ｍ
ＯＤ＝ロー（Ｌｏｗ）の時、光源ＬＤの照射レベルはボ
トムパワーＰｂとなり、ｓｔａｔｅ１＝ＳＰｍｐで変調
信号ＭＯＤ＝ハイ（Ｈｉｇｈ）の時、光源ＬＤの照射レ
ベルはライトパワーＰｗとなる。
【００４２】なお、ステートマシンＳＭａはＬＤ変調信
号ＷＳＰの立ち上がりエッジで状態遷移が行われ、ステ
ートマシンＳＭｂはＬＤ変調信号ＷＳＰの立ち下がりエ
ッジで状態遷移が行われるようにしている。すなわち、
それぞれの出力する変調データが出力選択されていない
時に状態の遷移を（変調データの変化を）するようにし
ているので、変調データ変化時でも光源ＬＤの照射レベ
ルの変動は生じない。
号ＷＳＰの立ち上がりエッジで状態遷移が行われ、ステ
ートマシンＳＭｂはＬＤ変調信号ＷＳＰの立ち下がりエ
ッジで状態遷移が行われるようにしている。すなわち、
それぞれの出力する変調データが出力選択されていない
時に状態の遷移を（変調データの変化を）するようにし
ているので、変調データ変化時でも光源ＬＤの照射レベ
ルの変動は生じない。
【００４３】また、先頭パルスＰｔｐや最終パルスＰｌ
ｐあるいは最終ボトムパルスパワーＰｃｌに対応する各
変調データは記録データパターンなどに応じて動的に変
更可能としている。すなわち、予め設定しておいた複数
個の変調データ（例えばＰｔｐを４値、Ｐｔｐ０〜３）
をコマンドデコーダ２２から供給されるパワー選択信号
ＰｗｒＳｅｌによって選択する。その選択するパワーレ
ベルはコマンド信号ＳＴＣＭＤによって指示され、コマ
ンドデコーダ２２によってパワー選択信号ＰｗｒＳｅｌ
に変換される。
ｐあるいは最終ボトムパルスパワーＰｃｌに対応する各
変調データは記録データパターンなどに応じて動的に変
更可能としている。すなわち、予め設定しておいた複数
個の変調データ（例えばＰｔｐを４値、Ｐｔｐ０〜３）
をコマンドデコーダ２２から供給されるパワー選択信号
ＰｗｒＳｅｌによって選択する。その選択するパワーレ
ベルはコマンド信号ＳＴＣＭＤによって指示され、コマ
ンドデコーダ２２によってパワー選択信号ＰｗｒＳｅｌ
に変換される。
【００４４】次に、各ステートマシンの遷移条件を説明
する。図４の（ｇ−１）と（ｇ−２）は状態遷移の一例
であり、ＬＤ変調信号ＷＳＰ（同図の（ｆ））の変化時
刻を図のようにｔ０〜ｔ２７とする。また、ステート信
号ＳＴＥＮ２はステート信号ＳＴＥＮをＬＤ変調信号Ｗ
ＳＰの立下りで取り直したものであり、ステートマシン
ＳＭａではこれに従い状態遷移を行う。これにより、ス
テートマシンＳＭａでの状態遷移の基準となるＷＳＰの
立上りに対してステート信号ＳＴＥＮ２のデータ確定時
間が十分確保できるので安定した動作が行える。
する。図４の（ｇ−１）と（ｇ−２）は状態遷移の一例
であり、ＬＤ変調信号ＷＳＰ（同図の（ｆ））の変化時
刻を図のようにｔ０〜ｔ２７とする。また、ステート信
号ＳＴＥＮ２はステート信号ＳＴＥＮをＬＤ変調信号Ｗ
ＳＰの立下りで取り直したものであり、ステートマシン
ＳＭａではこれに従い状態遷移を行う。これにより、ス
テートマシンＳＭａでの状態遷移の基準となるＷＳＰの
立上りに対してステート信号ＳＴＥＮ２のデータ確定時
間が十分確保できるので安定した動作が行える。
【００４５】＊ステートマシンＳＭａ
特に断らない限り、ＬＤ変調信号ＷＳＰの立上りに同期
して遷移するものとする。 ｛状態ＳＰｒ｝初期状態。再生時（ライト信号Ｒ／Ｗ＝
０（Ｒｅａｄ）の時）はここに滞留する。記録開始（Ｒ
／Ｗ立ち上り）で状態Ｐｅに遷移する。この遷移はＬＤ
変調信号ＷＳＰに同期しないようにしてもよい。 ｛状態ＳＰｅ｝ステート信号ＳＴＥＮ２＝ハイ（Ｈｉｇ
ｈ）で次の状態に遷移する。通常は状態ＳＰｂに遷移す
るが（例えば、時刻ｔ３）、後述する特殊条件（Ａ）に
より状態ＳＰｃｌに遷移することもある（例えば、時刻
ｔ２５）。また、記録終了（Ｒ／Ｗ立下り）で状態ＳＰ
ｒに遷移する。
して遷移するものとする。 ｛状態ＳＰｒ｝初期状態。再生時（ライト信号Ｒ／Ｗ＝
０（Ｒｅａｄ）の時）はここに滞留する。記録開始（Ｒ
／Ｗ立ち上り）で状態Ｐｅに遷移する。この遷移はＬＤ
変調信号ＷＳＰに同期しないようにしてもよい。 ｛状態ＳＰｅ｝ステート信号ＳＴＥＮ２＝ハイ（Ｈｉｇ
ｈ）で次の状態に遷移する。通常は状態ＳＰｂに遷移す
るが（例えば、時刻ｔ３）、後述する特殊条件（Ａ）に
より状態ＳＰｃｌに遷移することもある（例えば、時刻
ｔ２５）。また、記録終了（Ｒ／Ｗ立下り）で状態ＳＰ
ｒに遷移する。
【００４６】｛状態ＳＰｂ｝ＳＴＥＮ２＝ロー（Ｌｏ
ｗ）で次の状態に遷移する。図４の波形例では状態ＳＰ
ｃｌに遷移する（例えば、時刻ｔ７）。また、モード制
御信号ＳｅｑＭｏｄｅによっては状態ＳＰｅに遷移す
る。 ｛状態ＳＰｃｌ｝状態Ｐｅに遷移する（例えば、時刻ｔ
９）。また、状態ＳＰｒ（再生モード）への復帰は、Ｒ
／Ｗ＝Ｒａｅｄになった後、最初に状態ＳＰｅに戻った
後移行するようにしてもよいし、Ｒ／Ｗ＝Ｒｅａｄによ
り強制的に移行するようにしてもよい。
ｗ）で次の状態に遷移する。図４の波形例では状態ＳＰ
ｃｌに遷移する（例えば、時刻ｔ７）。また、モード制
御信号ＳｅｑＭｏｄｅによっては状態ＳＰｅに遷移す
る。 ｛状態ＳＰｃｌ｝状態Ｐｅに遷移する（例えば、時刻ｔ
９）。また、状態ＳＰｒ（再生モード）への復帰は、Ｒ
／Ｗ＝Ｒａｅｄになった後、最初に状態ＳＰｅに戻った
後移行するようにしてもよいし、Ｒ／Ｗ＝Ｒｅａｄによ
り強制的に移行するようにしてもよい。
【００４７】＊ステートマシンＳＭｂ
特に断りない限り、ＬＤ変調信号ＷＳＰの立下りに同期
して遷移するものとする。 ｛状態ＳＰｅ｝初期状態。ステート信号ＳＴＥＮ＝ハイ
（Ｈｉｇｈ）で状態ＳＰｔｐに遷移する（例えば、時刻
ｔ２）。 ｛状態ＳＰｔｐ｝ステート信号ＳＴＥＮ＝ハイ（Ｈｉｇ
ｈ）の時、状態ＳＰｍｐに遷移する（時刻ｔ４）。ま
た、ステート信号ＳＴＥＮ＝ロー（Ｌｏｗ）の時、状態
ＳＰｌｐに遷移する（時刻ｔ１８）。後述する特殊条件
（Ａ）によって状態ＳＰｅに遷移することもある。
して遷移するものとする。 ｛状態ＳＰｅ｝初期状態。ステート信号ＳＴＥＮ＝ハイ
（Ｈｉｇｈ）で状態ＳＰｔｐに遷移する（例えば、時刻
ｔ２）。 ｛状態ＳＰｔｐ｝ステート信号ＳＴＥＮ＝ハイ（Ｈｉｇ
ｈ）の時、状態ＳＰｍｐに遷移する（時刻ｔ４）。ま
た、ステート信号ＳＴＥＮ＝ロー（Ｌｏｗ）の時、状態
ＳＰｌｐに遷移する（時刻ｔ１８）。後述する特殊条件
（Ａ）によって状態ＳＰｅに遷移することもある。
【００４８】｛状態ＳＰｍｐ｝ステート信号ＳＴＥＮ＝
ロー（Ｌｏｗ）の時、状態ＳＰｌｐに遷移する（時刻ｔ
６）。ステート信号ＳＴＥＮ＝ハイ（Ｈｉｇｈ）ならば
ここに滞留。 ｛状態ＳＰｌｐ｝状態ＳＰｅに遷移する（時刻ｔ８）。
また、本実施形態ではコマンドデコーダ２２を介してス
テートマシンの遷移モードを動的に変更可能としてい
る。例えば、図４において一点鎖線枠（Ａ）で囲んだ波
形（Ｐｔｐ→Ｐｃｌ）を生成する場合は、時刻ｔ（Ａ）
の時点でモードを指定し、上述したステートマシンを特
殊条件（Ａ）で遷移させればよい。また、各々のステー
トマシンの初期化は制御部３３を介してコマンド発行に
より行ってもよい。これは例えば強制的に初期状態に戻
したい場合などに有効である。
ロー（Ｌｏｗ）の時、状態ＳＰｌｐに遷移する（時刻ｔ
６）。ステート信号ＳＴＥＮ＝ハイ（Ｈｉｇｈ）ならば
ここに滞留。 ｛状態ＳＰｌｐ｝状態ＳＰｅに遷移する（時刻ｔ８）。
また、本実施形態ではコマンドデコーダ２２を介してス
テートマシンの遷移モードを動的に変更可能としてい
る。例えば、図４において一点鎖線枠（Ａ）で囲んだ波
形（Ｐｔｐ→Ｐｃｌ）を生成する場合は、時刻ｔ（Ａ）
の時点でモードを指定し、上述したステートマシンを特
殊条件（Ａ）で遷移させればよい。また、各々のステー
トマシンの初期化は制御部３３を介してコマンド発行に
より行ってもよい。これは例えば強制的に初期状態に戻
したい場合などに有効である。
【００４９】［コマンドデコーダ］コマンドデコーダ２
２は、ステート信号ＳＴＥＮとコマンド信号ＳＴＣＭＤ
とから光源ＬＤの照射レベルや照射モードを指定するモ
ード制御信号ＳｅｑＭｏｄｅに変換する。そのモード制
御信号ＳｅｑＭｏｄｅには、上述したパワー選択信号Ｐ
ｗｒＳｅｌやステートマシンの遷移モード信号が含まれ
る。コマンドデコーダ２２は、ステート信号ＳＴＥＮを
クロックとし、コマンド信号ＳＴＣＭＤをデータとして
ステート信号ＳＴＥＮの両エッジでデータの取り込みを
行う。
２は、ステート信号ＳＴＥＮとコマンド信号ＳＴＣＭＤ
とから光源ＬＤの照射レベルや照射モードを指定するモ
ード制御信号ＳｅｑＭｏｄｅに変換する。そのモード制
御信号ＳｅｑＭｏｄｅには、上述したパワー選択信号Ｐ
ｗｒＳｅｌやステートマシンの遷移モード信号が含まれ
る。コマンドデコーダ２２は、ステート信号ＳＴＥＮを
クロックとし、コマンド信号ＳＴＣＭＤをデータとして
ステート信号ＳＴＥＮの両エッジでデータの取り込みを
行う。
【００５０】本実施形態では、コマンド信号ＳＴＣＭＤ
を３ビット（Ｂｉｔ）とし、ステート信号ＳＴＥＮの立
上りエッジで最終パルスパワー選択信号ＰＥＰ（２ｂｉ
ｔ）とＣＬパルス遷移モード信号ＣＬＭｏｄｅ（１ｂｉ
ｔ）を取り込み、ステート信号ＳＴＥＮの立下りエッジ
で先頭パルスパワー選択信号ＰＴＰ（２ｂｉｔ）を取り
込み、それぞれシーケンサ２１へ供給する。最終パルス
パワー選択信号ＰＥＰは最終パルスパワーＰｌｐとクー
リングパルスパワーＰｃｌを選択し、ＣＬパルス遷移モ
ード信号ＣＬＭｏｄｅは前述の特殊遷移条件（Ａ）のモ
ードを指定する。また、先頭パルスパワー選択信号ＰＴ
Ｐは先頭パルスパワーＰｔｐを選択する。これらのモー
ド制御信号ＳｅｑＭｏｄｅは本実施形態の振り分けだけ
でなく、所望の光波形に適合するように定めればよい。
を３ビット（Ｂｉｔ）とし、ステート信号ＳＴＥＮの立
上りエッジで最終パルスパワー選択信号ＰＥＰ（２ｂｉ
ｔ）とＣＬパルス遷移モード信号ＣＬＭｏｄｅ（１ｂｉ
ｔ）を取り込み、ステート信号ＳＴＥＮの立下りエッジ
で先頭パルスパワー選択信号ＰＴＰ（２ｂｉｔ）を取り
込み、それぞれシーケンサ２１へ供給する。最終パルス
パワー選択信号ＰＥＰは最終パルスパワーＰｌｐとクー
リングパルスパワーＰｃｌを選択し、ＣＬパルス遷移モ
ード信号ＣＬＭｏｄｅは前述の特殊遷移条件（Ａ）のモ
ードを指定する。また、先頭パルスパワー選択信号ＰＴ
Ｐは先頭パルスパワーＰｔｐを選択する。これらのモー
ド制御信号ＳｅｑＭｏｄｅは本実施形態の振り分けだけ
でなく、所望の光波形に適合するように定めればよい。
【００５１】［変調部］変調部２３は、シーケンサ２１
から供給される変調データＤｍｏｄＬとＤｍｏｄＨ及び
変調信号ＭＯＤに基づいてＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを生成
する。ＰｂＤＡＣ４０は変調データＤｍｏｄＬに基づい
て電流を供給する電流出力ＤＡＣ（Ｄ／Ａコンバータ）
であり、ＰｔｐＤＡＣ４１は変調データＤｍｏｄＨに基
づいて電流を供給する電流出力ＤＡＣである。スイッチ
４２はＭＵＸ６５から供給される選択信号（記録時には
変調信号ＭＯＤつまりＬＤ変調信号ＷＳＰが供給され
る）に従って、ＰｂＤＡＣ４０あるいはＰｔｐＤＡＣ４
１の出力電流を選択してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを出力す
る。ここで、選択信号つまり変調信号ＭＯＤがハイ（Ｈ
ｉｇｈ）ならばＰｔｐＤＡＣ４１の出力を、ロー（Ｌｏ
ｗ）ならばＰｂＤＡＣ４０の出力を選択する。
から供給される変調データＤｍｏｄＬとＤｍｏｄＨ及び
変調信号ＭＯＤに基づいてＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを生成
する。ＰｂＤＡＣ４０は変調データＤｍｏｄＬに基づい
て電流を供給する電流出力ＤＡＣ（Ｄ／Ａコンバータ）
であり、ＰｔｐＤＡＣ４１は変調データＤｍｏｄＨに基
づいて電流を供給する電流出力ＤＡＣである。スイッチ
４２はＭＵＸ６５から供給される選択信号（記録時には
変調信号ＭＯＤつまりＬＤ変調信号ＷＳＰが供給され
る）に従って、ＰｂＤＡＣ４０あるいはＰｔｐＤＡＣ４
１の出力電流を選択してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを出力す
る。ここで、選択信号つまり変調信号ＭＯＤがハイ（Ｈ
ｉｇｈ）ならばＰｔｐＤＡＣ４１の出力を、ロー（Ｌｏ
ｗ）ならばＰｂＤＡＣ４０の出力を選択する。
【００５２】また、ＰｂＤＡＣ４０とＰｔｐＤＡＣ４１
のフルスケールＩｓｃｌはスケールＤＡＣ（Ｓｃａｌｅ
ＤＡＣ）４３から供給され、それは微分量子効率制御部
２８から供給されるスケール信号Ｓｃａｌｅに従って設
定される。さらに、スケールＤＡＣ４３のフルスケール
ＩｆｕｌｌはηＲＥＦから供給され、使用する光源ＬＤ
の微分量子効率から定めればよい。フルスケールＩｓｃ
ｌの算出・設定方法については後述する。したがって、
ＰｂＤＡＣ４０とＰｔｐＤＡＣ４１のそれぞれの出力電
流Ｉ０とＩ１は次の数２と数３に示す式に基づく演算に
よって得られる。ここでは、ＰｂＤＡＣ４０，ＰｔｐＤ
ＡＣ４１及びスケールＤＡＣ４３は８ビット（ｂｉｔ）
ＤＡＣとしている。
のフルスケールＩｓｃｌはスケールＤＡＣ（Ｓｃａｌｅ
ＤＡＣ）４３から供給され、それは微分量子効率制御部
２８から供給されるスケール信号Ｓｃａｌｅに従って設
定される。さらに、スケールＤＡＣ４３のフルスケール
ＩｆｕｌｌはηＲＥＦから供給され、使用する光源ＬＤ
の微分量子効率から定めればよい。フルスケールＩｓｃ
ｌの算出・設定方法については後述する。したがって、
ＰｂＤＡＣ４０とＰｔｐＤＡＣ４１のそれぞれの出力電
流Ｉ０とＩ１は次の数２と数３に示す式に基づく演算に
よって得られる。ここでは、ＰｂＤＡＣ４０，ＰｔｐＤ
ＡＣ４１及びスケールＤＡＣ４３は８ビット（ｂｉｔ）
ＤＡＣとしている。
【００５３】
【数２】Ｉ０＝（ＤｍｏｄＬ／２５５）＊（Ｓｃａｌｅ
／２５５）＊Ｉｆｕｌｌ
／２５５）＊Ｉｆｕｌｌ
【００５４】
【数３】Ｉ１＝（ＤｍｏｄＨ／２５５）＊（Ｓｃａｌｅ
／２５５）＊Ｉｆｕｌｌ
／２５５）＊Ｉｆｕｌｌ
【００５５】また、前述したように変調データＤｍｏｄ
Ｌ及びＤｍｏｄＨの変化タイミングはスイッチ４２で選
択されていない時となっているので、ＰｂＤＡＣ４０と
ＰｔｐＤＡＣ４１の応答速度が十分高速ならばＰｂＤＡ
Ｃ４０とＰｔｐＤＡＣ４１のそれぞれの出力電流Ｉ０と
Ｉ１の変化もスイッチ４２で選択されていない間に行わ
れ、変調電流Ｉｍｏｄの変化は変調信号ＭＯＤの変化タ
イミングのみによって決まる。
Ｌ及びＤｍｏｄＨの変化タイミングはスイッチ４２で選
択されていない時となっているので、ＰｂＤＡＣ４０と
ＰｔｐＤＡＣ４１の応答速度が十分高速ならばＰｂＤＡ
Ｃ４０とＰｔｐＤＡＣ４１のそれぞれの出力電流Ｉ０と
Ｉ１の変化もスイッチ４２で選択されていない間に行わ
れ、変調電流Ｉｍｏｄの変化は変調信号ＭＯＤの変化タ
イミングのみによって決まる。
【００５６】図６は、図３に示した変調部２３の他の構
成例を示すブロック図である。シーケンサ２１からはス
テートマシンＳＭａとＳＭｂの各ステートに対応する変
調データ（ＰｒＤａｔａ〜ＰｌｐＤａｔａ）が供給さ
れ、ＰｒＤＡＣ８０ａ，ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ
８０ｃ，ＰｃｌＤＡＣ８０ｄと、ＰｅＤＡＣ８１ａ，Ｐ
ｔｐＤＡＣ８１ｂ，ＰｍｐＤＡＣ８１ｃ，ＰｌｐＤＡＣ
８１ｄとはそれらの変調データに基づいてそれぞれ電流
Ｉ０ａ〜Ｉ０ｄと、Ｉ１ａ〜Ｉ１ｄの各電流を出力す
る。スイッチ８２はステートマシンＳＭａの現在のステ
ート示す信号ｓｔａｔｅ０に従って電流Ｉ０ａ〜Ｉ０ｄ
のうちの１つを選択出力する。同様に、スイッチ８３は
ステートマシンＳＭｂの現在のステート示す信号ｓｔａ
ｔｅ１に従って電流Ｉ１ａ〜Ｉ１ｄのうちの１つを選択
出力する。
成例を示すブロック図である。シーケンサ２１からはス
テートマシンＳＭａとＳＭｂの各ステートに対応する変
調データ（ＰｒＤａｔａ〜ＰｌｐＤａｔａ）が供給さ
れ、ＰｒＤＡＣ８０ａ，ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ
８０ｃ，ＰｃｌＤＡＣ８０ｄと、ＰｅＤＡＣ８１ａ，Ｐ
ｔｐＤＡＣ８１ｂ，ＰｍｐＤＡＣ８１ｃ，ＰｌｐＤＡＣ
８１ｄとはそれらの変調データに基づいてそれぞれ電流
Ｉ０ａ〜Ｉ０ｄと、Ｉ１ａ〜Ｉ１ｄの各電流を出力す
る。スイッチ８２はステートマシンＳＭａの現在のステ
ート示す信号ｓｔａｔｅ０に従って電流Ｉ０ａ〜Ｉ０ｄ
のうちの１つを選択出力する。同様に、スイッチ８３は
ステートマシンＳＭｂの現在のステート示す信号ｓｔａ
ｔｅ１に従って電流Ｉ１ａ〜Ｉ１ｄのうちの１つを選択
出力する。
【００５７】スイッチ８２は、図３と同様にして、ＭＵ
Ｘ６５から供給される選択信号に従ってスイッチ８２と
スイッチ８３からそれぞれ供給される電流Ｉ０又は電流
Ｉ１を選択してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを出力する。ま
た、スケールＤＡＣ４３も図３と同様にＰｒＤＡＣ８０
ａ，ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０ｃ，ＰｃｌＤＡ
Ｃ８０ｄと、ＰｅＤＡＣ８１ａ，ＰｔｐＤＡＣ８１ｂ，
ＰｍｐＤＡＣ８１ｃ，ＰｌｐＤＡＣ８１ｄのフルスケー
ルを決める。この実施形態によれば、スイッチ８４で選
択されていない時にスイッチ８２あるいはスイッチ８３
に切り換えが行われるので、出力電流Ｉ０とＩ１の変化
もスイッチ８４で選択されていない間に行われ、図３の
実施形態と同様に、変調電流Ｉｍｏｄの変化は変調信号
ＭＯＤの変化タイミングのみによって決まる。
Ｘ６５から供給される選択信号に従ってスイッチ８２と
スイッチ８３からそれぞれ供給される電流Ｉ０又は電流
Ｉ１を選択してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを出力する。ま
た、スケールＤＡＣ４３も図３と同様にＰｒＤＡＣ８０
ａ，ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０ｃ，ＰｃｌＤＡ
Ｃ８０ｄと、ＰｅＤＡＣ８１ａ，ＰｔｐＤＡＣ８１ｂ，
ＰｍｐＤＡＣ８１ｃ，ＰｌｐＤＡＣ８１ｄのフルスケー
ルを決める。この実施形態によれば、スイッチ８４で選
択されていない時にスイッチ８２あるいはスイッチ８３
に切り換えが行われるので、出力電流Ｉ０とＩ１の変化
もスイッチ８４で選択されていない間に行われ、図３の
実施形態と同様に、変調電流Ｉｍｏｄの変化は変調信号
ＭＯＤの変化タイミングのみによって決まる。
【００５８】また、出力電流Ｉ０とＩ１の変化速度はス
イッチ８２と８３の切り換え速度によって決まり、Ｐｒ
ＤＡＣ８０ａ，ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０ｃ，
ＰｃｌＤＡＣ８０ｄと、ＰｅＤＡＣ８１ａ，ＰｔｐＤＡ
Ｃ８１ｂ，ＰｍｐＤＡＣ８１ｃ，ＰｌｐＤＡＣ８１ｄの
応答速度は高速でなくともよい。したがって、高速ＤＡ
Ｃの実現が困難な場合などに有効である。また、出力電
流Ｉ０ｂとＩ１ａは同じ電流を出力するのでこれらのＤ
ＡＣを共通化してもよい。さらに、ＰｒＤＡＣ８０ａは
再生時に、ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０ｃ，Ｐｃ
ｌＤＡＣ８０ｄは記録時に使用するものであるので、Ｐ
ｒＤＡＣ８０ａをＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０
ｃ，ＰｃｌＤＡＣ８０ｄのうちの１つと共通化してもよ
い。
イッチ８２と８３の切り換え速度によって決まり、Ｐｒ
ＤＡＣ８０ａ，ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０ｃ，
ＰｃｌＤＡＣ８０ｄと、ＰｅＤＡＣ８１ａ，ＰｔｐＤＡ
Ｃ８１ｂ，ＰｍｐＤＡＣ８１ｃ，ＰｌｐＤＡＣ８１ｄの
応答速度は高速でなくともよい。したがって、高速ＤＡ
Ｃの実現が困難な場合などに有効である。また、出力電
流Ｉ０ｂとＩ１ａは同じ電流を出力するのでこれらのＤ
ＡＣを共通化してもよい。さらに、ＰｒＤＡＣ８０ａは
再生時に、ＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０ｃ，Ｐｃ
ｌＤＡＣ８０ｄは記録時に使用するものであるので、Ｐ
ｒＤＡＣ８０ａをＰｅＤＡＣ８０ｂ，ＰｂＤＡＣ８０
ｃ，ＰｃｌＤＡＣ８０ｄのうちの１つと共通化してもよ
い。
【００５９】図１１は、図３に示した変調部２３のさら
に他の構成例を示すブロック図である。図１２は図１１
の各部の出力信号を示す波形図である。図１１に示すよ
うに、シーケンサ２１からは変調データＤｍｏｄＬとＤ
ｍｏｄＨに加え、加算データｅｘＤａｔａＬとｅｘＤａ
ｔａＨが供給される。これらの加算データもステートマ
シンＳＭａとＳＭｂに従って出力される。Ｐｂ＋ＤＡＣ
９０，ＰｂＤＡＣ９１，Ｐｔ＋ＤＡＣ９２，ＰｔＤＡＣ
９３はそれらのデータに基づいて電流を出力する。加算
器９４と９５はそれぞれ、Ｐｂ＋ＤＡＣ９０とＰｂＤＡ
Ｃ９１の出力電流の加算、Ｐｔ＋ＤＡＣ９２とＰｔＤＡ
Ｃ９３の出力電流の加算を行い、それぞれ電流Ｉ０とＩ
１を出力する。
に他の構成例を示すブロック図である。図１２は図１１
の各部の出力信号を示す波形図である。図１１に示すよ
うに、シーケンサ２１からは変調データＤｍｏｄＬとＤ
ｍｏｄＨに加え、加算データｅｘＤａｔａＬとｅｘＤａ
ｔａＨが供給される。これらの加算データもステートマ
シンＳＭａとＳＭｂに従って出力される。Ｐｂ＋ＤＡＣ
９０，ＰｂＤＡＣ９１，Ｐｔ＋ＤＡＣ９２，ＰｔＤＡＣ
９３はそれらのデータに基づいて電流を出力する。加算
器９４と９５はそれぞれ、Ｐｂ＋ＤＡＣ９０とＰｂＤＡ
Ｃ９１の出力電流の加算、Ｐｔ＋ＤＡＣ９２とＰｔＤＡ
Ｃ９３の出力電流の加算を行い、それぞれ電流Ｉ０とＩ
１を出力する。
【００６０】スイッチ９６は、変調信号ＭＯＤに従って
出力電流Ｉ０とＩ１を選択してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを
出力する。また、スケールＤＡＣ４３は図３と同様にし
てＰｂ＋ＤＡＣ９０，ＰｂＤＡＣ９１，Ｐｔ＋ＤＡＣ９
２，ＰｔＤＡＣ９３のフルスケールを決める。Ｐｂ＋Ｄ
ＡＣ９０とＰｔ＋ＤＡＣ９２は加算分を出力するだけな
のでダイナミックレンジを大きくとる必要はなく、その
フルスケールをＰｂＤＡＣ９１とＰｔＤＡＣ９３のフル
スケールより小さくし、加算データビット数を低減して
もよい。このようにすればデータを保持しておくレジス
タのビット数を低減できる。
出力電流Ｉ０とＩ１を選択してＬＤ変調電流Ｉｍｏｄを
出力する。また、スケールＤＡＣ４３は図３と同様にし
てＰｂ＋ＤＡＣ９０，ＰｂＤＡＣ９１，Ｐｔ＋ＤＡＣ９
２，ＰｔＤＡＣ９３のフルスケールを決める。Ｐｂ＋Ｄ
ＡＣ９０とＰｔ＋ＤＡＣ９２は加算分を出力するだけな
のでダイナミックレンジを大きくとる必要はなく、その
フルスケールをＰｂＤＡＣ９１とＰｔＤＡＣ９３のフル
スケールより小さくし、加算データビット数を低減して
もよい。このようにすればデータを保持しておくレジス
タのビット数を低減できる。
【００６１】［電流駆動部］電流駆動部２５は、電流加
算部２４から供給される電流を増幅して光源ＬＤ１ある
いは光源ＬＤ２の駆動電流ＩＬＤを供給する。スイッチ
４４は選択信号ＩｏｕｔＳｅｌに従って、入力電流を電
流アンプ４５あるいは４６へ供給する。電流アンプ４５
及び４６は、スイッチ４４から供給される電流を所定の
増幅率Ａｉで増幅して、光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２
に駆動電流ＩＬＤを供給する。したがって、この時、Ｌ
Ｄ駆動電流ＩＬＤは次の数４に示す式に基づく演算によ
って得られる。
算部２４から供給される電流を増幅して光源ＬＤ１ある
いは光源ＬＤ２の駆動電流ＩＬＤを供給する。スイッチ
４４は選択信号ＩｏｕｔＳｅｌに従って、入力電流を電
流アンプ４５あるいは４６へ供給する。電流アンプ４５
及び４６は、スイッチ４４から供給される電流を所定の
増幅率Ａｉで増幅して、光源ＬＤ１あるいは光源ＬＤ２
に駆動電流ＩＬＤを供給する。したがって、この時、Ｌ
Ｄ駆動電流ＩＬＤは次の数４に示す式に基づく演算によ
って得られる。
【００６２】
【数４】ＩＬＤ＝Ａｉ＊（Ｉｂｉａｓ＋Ｉｍｏｄ−Ｉｈ
ｆｍｏｆｓ）
ｆｍｏｆｓ）
【００６３】但し、Ｉｈｆｍｏｆｓは高周波重畳を行わ
ない時は０となる。また、オフセット電流Ｉｈｆｍｏｆ
ｓを高周波重畳時にオフ、高周波重畳を行わない時に加
算するようにしてもよい。また、Ｉｂ＝Ａｉ＊（Ｉｂｉ
ａｓ−Ｉｈｆｍｏｆｓ），Ｉｍ＝Ａｉ＊Ｉｍｏｄとし、
図８に示したように、Ｉｂが閾値電流Ｉｔｈと等しくな
るように制御されれば、Ｉｍすなわち変調電流Ｉｍｏｄ
は光波形に比例した波形になる。なお、本実施形態では
光源ＬＤ１とＬＤ２を同時に照射することは想定してい
ない。
ない時は０となる。また、オフセット電流Ｉｈｆｍｏｆ
ｓを高周波重畳時にオフ、高周波重畳を行わない時に加
算するようにしてもよい。また、Ｉｂ＝Ａｉ＊（Ｉｂｉ
ａｓ−Ｉｈｆｍｏｆｓ），Ｉｍ＝Ａｉ＊Ｉｍｏｄとし、
図８に示したように、Ｉｂが閾値電流Ｉｔｈと等しくな
るように制御されれば、Ｉｍすなわち変調電流Ｉｍｏｄ
は光波形に比例した波形になる。なお、本実施形態では
光源ＬＤ１とＬＤ２を同時に照射することは想定してい
ない。
【００６４】以上からわかるように、光源ＬＤの光変調
波形のパルス幅は変調信号ＷＳＰのみによって決まり、
ＬＤ変調信号生成部１０の出力の二つの信号間（ＷＳ
Ｐ，ＳＴＥＮ）にスキューがあっても光波形には影響を
及ぼさず、正確な記録マークが形成できる。したがっ
て、ＬＤ変調信号生成部１０はＬＤ駆動部１２とは異な
る集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路
特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、
コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
すなわち、ＬＤ変調信号生成部では高速動作及び高集積
化が求められるために微細なＣＭＯＳプロセスが好適で
ある。
波形のパルス幅は変調信号ＷＳＰのみによって決まり、
ＬＤ変調信号生成部１０の出力の二つの信号間（ＷＳ
Ｐ，ＳＴＥＮ）にスキューがあっても光波形には影響を
及ぼさず、正確な記録マークが形成できる。したがっ
て、ＬＤ変調信号生成部１０はＬＤ駆動部１２とは異な
る集積回路で構成してもよく、それぞれ要望される回路
特性にあった半導体プロセスを選択できるようになり、
コスト・性能に見合った装置を構成することができる。
すなわち、ＬＤ変調信号生成部では高速動作及び高集積
化が求められるために微細なＣＭＯＳプロセスが好適で
ある。
【００６５】一方、ＬＤドライバには、１〜数Ｖ程度の
動作電圧を持つＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス
（例えば、５Ｖや３．３Ｖなど）が要求される。通常、
微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難で
ある（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．
８Ｖ程度の耐圧しかない）が、本実施形態によれば、そ
れぞれを好適なプロセスで構成できるようになる。
動作電圧を持つＬＤが接続されるため、高耐圧プロセス
（例えば、５Ｖや３．３Ｖなど）が要求される。通常、
微細なＣＭＯＳプロセスでは高耐圧にすることは困難で
ある（例えば、０．１８μｍＣＭＯＳプロセスでは１．
８Ｖ程度の耐圧しかない）が、本実施形態によれば、そ
れぞれを好適なプロセスで構成できるようになる。
【００６６】［ＰＤアンプ部］ＰＤアンプ部２６は、光
源の出射光の一部をモニタするモニタ受光部からのモニ
タ受光信号を入力してオフセット調整及びゲイン調整を
行う。モニタ受光部には、受光素子単体（ＰＤ：Ｐｈｏ
ｔｏ Ｄｅｔｅｃｔｏｒなど）でモニタ受光信号が電流
として出力されるタイプのものと、電流電圧変換器を内
蔵し、モニタ受光信号が電圧として出力されるタイプの
ものがある。本実施形態ではどちらのタイプでも対応可
能としており、ＭＵＸ４８で選択する。つまり、電流出
力型の場合は入力されるモニタ受光信号が電流電圧変換
器（Ｉ／Ｖ）４７で電圧に変換したものを、電圧出力型
の場合は電流電圧変換器４７を経由しない信号を選択す
る。
源の出射光の一部をモニタするモニタ受光部からのモニ
タ受光信号を入力してオフセット調整及びゲイン調整を
行う。モニタ受光部には、受光素子単体（ＰＤ：Ｐｈｏ
ｔｏ Ｄｅｔｅｃｔｏｒなど）でモニタ受光信号が電流
として出力されるタイプのものと、電流電圧変換器を内
蔵し、モニタ受光信号が電圧として出力されるタイプの
ものがある。本実施形態ではどちらのタイプでも対応可
能としており、ＭＵＸ４８で選択する。つまり、電流出
力型の場合は入力されるモニタ受光信号が電流電圧変換
器（Ｉ／Ｖ）４７で電圧に変換したものを、電圧出力型
の場合は電流電圧変換器４７を経由しない信号を選択す
る。
【００６７】加算器５０はモニタ受光信号のオフセット
調整をするものであり、オフセットＤＡＣ（Ｏｆｆｓｅ
ｔＤＡＣ）４９から供給されるオフセット電圧を加減算
する。ゲイン切換えアンプ（Ｘ１／Ｘ４／Ｘ８／Ｘ１６
ＡＭＰ）５１は、オフセット調整したモニタ受光信号を
ゲイン切換え信号ＰＤＧａｉｎに従ってゲインを切り換
え（例えば、１／４／８／１６倍の４段階切換え）てゲ
イン調整を行う。一般に再生光量と記録光量とは大きく
異なるので、記録／再生時でゲインを切り換えるように
するとよい。ＰＤの受光電流Ｉｐｄは、光源ＬＤの出射
光Ｐｏに対する光利用効率をα、受光部ＰＤの受光感度
をＳとすると、次の数５に示す式に基づく演算によって
得られる。
調整をするものであり、オフセットＤＡＣ（Ｏｆｆｓｅ
ｔＤＡＣ）４９から供給されるオフセット電圧を加減算
する。ゲイン切換えアンプ（Ｘ１／Ｘ４／Ｘ８／Ｘ１６
ＡＭＰ）５１は、オフセット調整したモニタ受光信号を
ゲイン切換え信号ＰＤＧａｉｎに従ってゲインを切り換
え（例えば、１／４／８／１６倍の４段階切換え）てゲ
イン調整を行う。一般に再生光量と記録光量とは大きく
異なるので、記録／再生時でゲインを切り換えるように
するとよい。ＰＤの受光電流Ｉｐｄは、光源ＬＤの出射
光Ｐｏに対する光利用効率をα、受光部ＰＤの受光感度
をＳとすると、次の数５に示す式に基づく演算によって
得られる。
【００６８】
【数５】Ｉｐｄ＝α・Ｓ・Ｐｏ
【００６９】また、電流電圧変換器（４７あるいはモニ
タ受光部内蔵のもの）の変換ゲインをＧｉｖ、ゲイン切
換えアンプ５１のゲインをＧｐｄとすると、モニタ信号
Ｉｍｏｎは、次の数６に示す式に基づく演算によって得
られる。
タ受光部内蔵のもの）の変換ゲインをＧｉｖ、ゲイン切
換えアンプ５１のゲインをＧｐｄとすると、モニタ信号
Ｉｍｏｎは、次の数６に示す式に基づく演算によって得
られる。
【００７０】
【数６】Ｉｍｏｎ＝Ｇｐｄ・Ｇｉｖ・Ｉｐｄ＝Ｇｐｄ・
Ｋｐｄ・Ｐｏ
Ｋｐｄ・Ｐｏ
【００７１】ここで、Ｋｐｄ＝Ｇｉｖ・α・Ｓとなる。
なお、オフセットＤＡＣ４９から供給されるオフセット
電圧は便宜上省略した。また、光源ＬＤ１とＬＤ２の出
射光をモニタするモニタ受光部を別個に設ける場合は、
ＰＤアンプ部２６の入力を２つ設け、それぞれにモニタ
受光部から供給されるモニタ受光信号を入力し、照射し
ている光源ＬＤに対応するモニタ受光信号を選択するよ
うにすればよい。
なお、オフセットＤＡＣ４９から供給されるオフセット
電圧は便宜上省略した。また、光源ＬＤ１とＬＤ２の出
射光をモニタするモニタ受光部を別個に設ける場合は、
ＰＤアンプ部２６の入力を２つ設け、それぞれにモニタ
受光部から供給されるモニタ受光信号を入力し、照射し
ている光源ＬＤに対応するモニタ受光信号を選択するよ
うにすればよい。
【００７２】［バイアス電流制御部］バイアス電流制御
部２７は、ＰＤアンプ部２６から供給されるモニタ信号
Ｉｍｏｎがシーケンサ２１から供給される目標レベル信
号Ｄｔａｒｇｅｔから生成される基準信号Ｉｔａｒｇｅ
ｔと一致するようにバイアス電流Ｉａｐｃを制御する。
本実施形態では次の三通りの制御方法から選択できる。
部２７は、ＰＤアンプ部２６から供給されるモニタ信号
Ｉｍｏｎがシーケンサ２１から供給される目標レベル信
号Ｄｔａｒｇｅｔから生成される基準信号Ｉｔａｒｇｅ
ｔと一致するようにバイアス電流Ｉａｐｃを制御する。
本実施形態では次の三通りの制御方法から選択できる。
【００７３】（１）平均値制御方法
二つの目標レベル信号Ｄｔａｒｇｅｔには変調データＤ
ｍｏｄＬとＤｍｏｄＨと同じデータを供給し、Ｐ−ＢＤ
ＡＣ５２とＰ−ＰＤＡＣ５３とスイッチ５４とで発光量
に比例した基準信号Ｉｔａｒｇｅｔを生成する。Ｐ−Ｂ
ＤＡＣ５２，Ｐ−ＰＤＡＣ５３及びスイッチ５４の動作
は、それぞれＰｂＤＡＣ４０，ＰｔｐＤＡＣ４１及びス
イッチ４２の動作と同様である。ここで、出射光量Ｐｏ
と基準信号Ｉｔａｒｇｅｔとの比例係数をＫとすると、
次の数７に示す関係が得られる。
ｍｏｄＬとＤｍｏｄＨと同じデータを供給し、Ｐ−ＢＤ
ＡＣ５２とＰ−ＰＤＡＣ５３とスイッチ５４とで発光量
に比例した基準信号Ｉｔａｒｇｅｔを生成する。Ｐ−Ｂ
ＤＡＣ５２，Ｐ−ＰＤＡＣ５３及びスイッチ５４の動作
は、それぞれＰｂＤＡＣ４０，ＰｔｐＤＡＣ４１及びス
イッチ４２の動作と同様である。ここで、出射光量Ｐｏ
と基準信号Ｉｔａｒｇｅｔとの比例係数をＫとすると、
次の数７に示す関係が得られる。
【００７４】
【数７】Ｉｔａｒｇｅｔ＝Ｋ・Ｐｏ
【００７５】また、この比例係数Ｋはバイアススケール
ＤＡＣ（ＢＳｃａｌｅＤＡＣ）７０によってＰ−ＢＤＡ
Ｃ５２とＰ−ＰＤＡＣ５３のスケールを設定することに
よって決定され、予めＫ＝Ｋｐｄになるように設定す
る。Ｋｐｄは使用する受光部ＰＤの光源ＬＤの出射光Ｐ
ｏに対する光利用効率α，受光感度Ｓのバラツキによっ
て変わるので、初期調整時にこの設定を行うとよい。ま
た、ゲイン切換えアンプ５１のゲインＧｐｄに合わせて
バイアススケール設定値ＢｉａｓＳｃａｌｅを変更す
る。そして、この基準信号Ｉｔａｒｇｅｔが目標出射光
量を示すことになるので、出射光量をモニタしているモ
ニタ信号Ｉｍｏｎが基準信号Ｉｔａｒｇｅｔと一致する
ようにすればＬＤを目標照射光量で照射させることがで
きる。
ＤＡＣ（ＢＳｃａｌｅＤＡＣ）７０によってＰ−ＢＤＡ
Ｃ５２とＰ−ＰＤＡＣ５３のスケールを設定することに
よって決定され、予めＫ＝Ｋｐｄになるように設定す
る。Ｋｐｄは使用する受光部ＰＤの光源ＬＤの出射光Ｐ
ｏに対する光利用効率α，受光感度Ｓのバラツキによっ
て変わるので、初期調整時にこの設定を行うとよい。ま
た、ゲイン切換えアンプ５１のゲインＧｐｄに合わせて
バイアススケール設定値ＢｉａｓＳｃａｌｅを変更す
る。そして、この基準信号Ｉｔａｒｇｅｔが目標出射光
量を示すことになるので、出射光量をモニタしているモ
ニタ信号Ｉｍｏｎが基準信号Ｉｔａｒｇｅｔと一致する
ようにすればＬＤを目標照射光量で照射させることがで
きる。
【００７６】誤差アンプ５５は、基準信号Ｉｔａｒｇｅ
ｔとモニタ信号Ｉｍｏｎとの差分信号を増幅して次段に
供給する。Ｓ／Ｈ積分器（Ｓ／ＨＩｎｔｅｇ．）５６
は、誤差アンプ５５から供給される増幅された差分信号
を積分してバイアス電流Ｉａｐｃを出力する。Ｓ／Ｈ積
分器５６は、この制御方法の場合は常に積分動作を行
う。また、ＳＲＳｅｌ信号によって制御速度を変更する
ことができる。これは積分器への充放電電流（例えば、
誤差アンプ５５の出力電流）を変更することによって行
う。これにより、記録／再生時にそれぞれ制御速度を最
適値に設定することが可能となる。また、Ｒ−Ｃｏｎｔ
は充放電電流の設定可能範囲を設定する。
ｔとモニタ信号Ｉｍｏｎとの差分信号を増幅して次段に
供給する。Ｓ／Ｈ積分器（Ｓ／ＨＩｎｔｅｇ．）５６
は、誤差アンプ５５から供給される増幅された差分信号
を積分してバイアス電流Ｉａｐｃを出力する。Ｓ／Ｈ積
分器５６は、この制御方法の場合は常に積分動作を行
う。また、ＳＲＳｅｌ信号によって制御速度を変更する
ことができる。これは積分器への充放電電流（例えば、
誤差アンプ５５の出力電流）を変更することによって行
う。これにより、記録／再生時にそれぞれ制御速度を最
適値に設定することが可能となる。また、Ｒ−Ｃｏｎｔ
は充放電電流の設定可能範囲を設定する。
【００７７】図１４は、上記バイアス電流制御部２７の
動作説明に供する各信号波形の一例を示す図である。同
図の（ａ）は発光波形である光波形であり、（ｂ）はモ
ニタ信号Ｉｍｏｎである。使用する受光部ＰＤによって
帯域制限を受けているものとする。また、図中の破線部
は平均レベルを示す。同図に示すように、照射パワーや
デューティを変化させると平均レベルが変動する。この
場合、従来のように予め算出した所定の平均値との誤差
制御を行う方法では正確な制御ができなくなる。また、
同図の（ｃ）は基準信号Ｉｔａｒｇｅｔであり、上述し
たように照射波形に比例した波形になる。その破線部は
バイアス制御帯域での信号である。このように照射波形
に比例した基準信号を生成し、これを誤差制御に用いる
ことにより、照射パワーやデューティ変化によって平均
レベルが変動する場合でも正確なバイアス制御ができ
る。
動作説明に供する各信号波形の一例を示す図である。同
図の（ａ）は発光波形である光波形であり、（ｂ）はモ
ニタ信号Ｉｍｏｎである。使用する受光部ＰＤによって
帯域制限を受けているものとする。また、図中の破線部
は平均レベルを示す。同図に示すように、照射パワーや
デューティを変化させると平均レベルが変動する。この
場合、従来のように予め算出した所定の平均値との誤差
制御を行う方法では正確な制御ができなくなる。また、
同図の（ｃ）は基準信号Ｉｔａｒｇｅｔであり、上述し
たように照射波形に比例した波形になる。その破線部は
バイアス制御帯域での信号である。このように照射波形
に比例した基準信号を生成し、これを誤差制御に用いる
ことにより、照射パワーやデューティ変化によって平均
レベルが変動する場合でも正確なバイアス制御ができ
る。
【００７８】（２）サンプルホールド制御方法
Ｓ／Ｈ積分器５６は、ＡｐｃＳｍｐ信号によってサンプ
ル時（例えば、ＡｐｃＳｍｐ＝Ｈｉｇｈとする）には積
分動作を行ってバイアス電流制御を行い、ホールド時に
は制御値であるバイアス電流Ｉａｐｃをホールドする。
したがって、ホールド時は誤差アンプ５５の出力を積分
しないので、誤差アンプ５５の回路オフセットによる制
御値のドリフトなどを低減できる。また、基準信号Ｉｔ
ａｒｇｅｔの生成は上述と同様にしてもよいが、サンプ
ル時の目標照射パワーに相当する一定の基準信号Ｉｔａ
ｒｇｅｔとしてもよい。本実施形態ではＡｐｃＳｍｐ信
号の生成はシーケンサ２１で行い、ＬＤ変調信号とステ
ート信号によって生成する（ステートマシンにより制御
する）。
ル時（例えば、ＡｐｃＳｍｐ＝Ｈｉｇｈとする）には積
分動作を行ってバイアス電流制御を行い、ホールド時に
は制御値であるバイアス電流Ｉａｐｃをホールドする。
したがって、ホールド時は誤差アンプ５５の出力を積分
しないので、誤差アンプ５５の回路オフセットによる制
御値のドリフトなどを低減できる。また、基準信号Ｉｔ
ａｒｇｅｔの生成は上述と同様にしてもよいが、サンプ
ル時の目標照射パワーに相当する一定の基準信号Ｉｔａ
ｒｇｅｔとしてもよい。本実施形態ではＡｐｃＳｍｐ信
号の生成はシーケンサ２１で行い、ＬＤ変調信号とステ
ート信号によって生成する（ステートマシンにより制御
する）。
【００７９】この波形例を図４の（ｉ）に示す。Ａｐｃ
Ｓｍｐ信号はハイ（Ｈｉｇｈ）がサンプル期間を、ロー
（Ｌｏｗ）がホールド期間をそれぞれ示す。ＡｐｃＳｍ
ｐ信号の立上りは、ステートｓｔａｔｅ０＝ＳＰｅの
時、ステート信号ＳＴＥＮ２＝ロー（Ｌｏｗ）でＬＤ変
調信号ＷＳＰの立上りに同期する。また、立下りは次の
ＬＤ変調信号ＷＳＰの立上りで行う（ステートｓｔａｔ
ｅ０＝ＳＰｅ，ステート信号ＳＴＥＮ２＝Ｈｉｇｈ）。
このようにすれば、信号線を新たに追加する必要がな
い。その他は（１）の制御方法と同様の動作を行う。
Ｓｍｐ信号はハイ（Ｈｉｇｈ）がサンプル期間を、ロー
（Ｌｏｗ）がホールド期間をそれぞれ示す。ＡｐｃＳｍ
ｐ信号の立上りは、ステートｓｔａｔｅ０＝ＳＰｅの
時、ステート信号ＳＴＥＮ２＝ロー（Ｌｏｗ）でＬＤ変
調信号ＷＳＰの立上りに同期する。また、立下りは次の
ＬＤ変調信号ＷＳＰの立上りで行う（ステートｓｔａｔ
ｅ０＝ＳＰｅ，ステート信号ＳＴＥＮ２＝Ｈｉｇｈ）。
このようにすれば、信号線を新たに追加する必要がな
い。その他は（１）の制御方法と同様の動作を行う。
【００８０】（３）ＡＣＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｃｕ
ｒｒｅｎｔ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御方法 本実施形態ではＡＰＣ制御を行わず、ＡＣＣ制御を行う
こともできる。誤差アンプ５５をバイパスして、ＡＣＣ
データに従ったＰ−ＢＤＡＣ５２の出力をバイアス電流
Ｉａｐｃとして出力する。その際、Ｓ／Ｈ積分器５６に
Ｐ−ＢＤＡＣ５２の出力をホールドしておくと、このモ
ードから他の制御モード（上記（１）または（２））に
移行する際、積分器の初期値がホールドしていたＡＣＣ
データになるので、バイアス電流が不連続とならず、切
り換わり時に光源ＬＤが過剰発光したり、消灯したりす
るのを防ぐことができる。
ｒｒｅｎｔ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御方法 本実施形態ではＡＰＣ制御を行わず、ＡＣＣ制御を行う
こともできる。誤差アンプ５５をバイパスして、ＡＣＣ
データに従ったＰ−ＢＤＡＣ５２の出力をバイアス電流
Ｉａｐｃとして出力する。その際、Ｓ／Ｈ積分器５６に
Ｐ−ＢＤＡＣ５２の出力をホールドしておくと、このモ
ードから他の制御モード（上記（１）または（２））に
移行する際、積分器の初期値がホールドしていたＡＣＣ
データになるので、バイアス電流が不連続とならず、切
り換わり時に光源ＬＤが過剰発光したり、消灯したりす
るのを防ぐことができる。
【００８１】逆に、ＡＰＣ制御モードからこのＡＣＣモ
ードに切り換える際には、バイアス電流Ｉａｐｃの値を
モニタして取得しておき、それをＡＣＣデータとして設
定しておけばよい。その制御モードへの切り換えはＡＣ
ＣＳｅｌ信号によって指示する。本実施形態では、上記
バイアス電流制御部２７を用いず、外部からバイアス電
流Ｉｅｘｔを印加することも可能にしている。図示は省
くが、このとき前述したのと同様に外部バイアス電流Ｉ
ｅｘｔをＳ／Ｈ積分器５６にホールドしておくと、内部
のバイアス電流制御部２７に切り換える際に移行を確実
にかつ速やかに行える。
ードに切り換える際には、バイアス電流Ｉａｐｃの値を
モニタして取得しておき、それをＡＣＣデータとして設
定しておけばよい。その制御モードへの切り換えはＡＣ
ＣＳｅｌ信号によって指示する。本実施形態では、上記
バイアス電流制御部２７を用いず、外部からバイアス電
流Ｉｅｘｔを印加することも可能にしている。図示は省
くが、このとき前述したのと同様に外部バイアス電流Ｉ
ｅｘｔをＳ／Ｈ積分器５６にホールドしておくと、内部
のバイアス電流制御部２７に切り換える際に移行を確実
にかつ速やかに行える。
【００８２】図７は、図３に示したバイアス電流制御部
２７の他の構成例を示すブロック図である。目標レベル
信号Ｄｔａｒｇｅｔ２は前述の変調データＤｍｏｄＬと
ＤｍｏｄＨを変調信号ＭＯＤでスイッチングして生成し
たデータであり、バイアスＤＡＣ（ＢｉａｓＤＡＣ）７
１によって発光量の平均値である基準信号Ｉｔａｒｇｅ
ｔを生成する。バイアスＤＡＣ７１は発光量の平均値を
生成するのが目的であるので、変調部２３のＰｂＤＡＣ
４０，ＰｔｐＤＡＣ４１ほどの高速動作は必要ない。こ
の実施形態によれば、基準信号Ｉｔａｒｇｅｔ生成部の
構成を簡便化でき、ＤＡＣの応答速度も低減できるの
で、チップサイズや消費電流の低減を図ることができ
る。その他のブロックは図３に示したものと同様の動作
をし、制御方法も上記（１）〜（３）が同様に適用でき
る。
２７の他の構成例を示すブロック図である。目標レベル
信号Ｄｔａｒｇｅｔ２は前述の変調データＤｍｏｄＬと
ＤｍｏｄＨを変調信号ＭＯＤでスイッチングして生成し
たデータであり、バイアスＤＡＣ（ＢｉａｓＤＡＣ）７
１によって発光量の平均値である基準信号Ｉｔａｒｇｅ
ｔを生成する。バイアスＤＡＣ７１は発光量の平均値を
生成するのが目的であるので、変調部２３のＰｂＤＡＣ
４０，ＰｔｐＤＡＣ４１ほどの高速動作は必要ない。こ
の実施形態によれば、基準信号Ｉｔａｒｇｅｔ生成部の
構成を簡便化でき、ＤＡＣの応答速度も低減できるの
で、チップサイズや消費電流の低減を図ることができ
る。その他のブロックは図３に示したものと同様の動作
をし、制御方法も上記（１）〜（３）が同様に適用でき
る。
【００８３】［微分量子効率制御部］微分量子効率制御
部２８は、駆動している光源ＬＤ（光源ＬＤ１または光
源ＬＤ２）の微分量子効率ηを検出してその検出結果に
応じてＬＤ変調電流のスケールＳｃａｌｅを制御する。
これは所定の２点間の照射光量の差分を検出して基準値
ηｔａｒｇｅｔと比較し、その比較結果に基づいてスケ
ールＳａｃｌｅ値を増減することによって行う。サンプ
ルホールド回路（Ｓ／Ｈ）５７は、基準となる照射光量
時（Ｐ１とする）のモニタ信号ＩｍｏｎをＥｔａＳｍｐ
信号に従ってサンプル／ホールドする。差分器５８は、
サンプルホールド回路５７の出力とモニタ信号Ｉｍｏｎ
との差分信号を生成する。
部２８は、駆動している光源ＬＤ（光源ＬＤ１または光
源ＬＤ２）の微分量子効率ηを検出してその検出結果に
応じてＬＤ変調電流のスケールＳｃａｌｅを制御する。
これは所定の２点間の照射光量の差分を検出して基準値
ηｔａｒｇｅｔと比較し、その比較結果に基づいてスケ
ールＳａｃｌｅ値を増減することによって行う。サンプ
ルホールド回路（Ｓ／Ｈ）５７は、基準となる照射光量
時（Ｐ１とする）のモニタ信号ＩｍｏｎをＥｔａＳｍｐ
信号に従ってサンプル／ホールドする。差分器５８は、
サンプルホールド回路５７の出力とモニタ信号Ｉｍｏｎ
との差分信号を生成する。
【００８４】ｅｔａｒｅｆＤＡＣ５９は、基準値ηｔａ
ｒｇｅｔを出力する。比較器（Ｃｏｍｐ）６１は、差分
器５８の出力と基準値ηｔａｒｇｅｔとを比較し、差分
器５８の出力が基準値ηｔａｒｇｅｔより小さかったら
Ｕｐ信号を、大きかったらＤｏｗｎ信号をカウンタ（Ｃ
ｏｕｎｔ）６２へ出力する。この比較器６１の比較タイ
ミングはＣｏｍｐＣＫ信号に従って行われ、ＣｏｍｐＣ
Ｋ信号の立上りで比較開始する。カウンタ６２は、比較
器６１の出力する比較結果Ｕｐ／Ｄｏｗｎ信号によって
カウンタ値を増減する。そのカウンタ値の更新はＣｏｍ
ｐＣＫ信号の立下りで行う。このカウント値をＳｃａｌ
ｅ信号として変調部２３へ供給し、そのＳｃａｌｅ信号
の増減に併せて発光量も増減する。カウンタ６２の初期
値には、ＰＳｃａｌｅ（記録時初期値）あるいはＲＳｃ
ａｌｅ（再生時初期値）が設定される。
ｒｇｅｔを出力する。比較器（Ｃｏｍｐ）６１は、差分
器５８の出力と基準値ηｔａｒｇｅｔとを比較し、差分
器５８の出力が基準値ηｔａｒｇｅｔより小さかったら
Ｕｐ信号を、大きかったらＤｏｗｎ信号をカウンタ（Ｃ
ｏｕｎｔ）６２へ出力する。この比較器６１の比較タイ
ミングはＣｏｍｐＣＫ信号に従って行われ、ＣｏｍｐＣ
Ｋ信号の立上りで比較開始する。カウンタ６２は、比較
器６１の出力する比較結果Ｕｐ／Ｄｏｗｎ信号によって
カウンタ値を増減する。そのカウンタ値の更新はＣｏｍ
ｐＣＫ信号の立下りで行う。このカウント値をＳｃａｌ
ｅ信号として変調部２３へ供給し、そのＳｃａｌｅ信号
の増減に併せて発光量も増減する。カウンタ６２の初期
値には、ＰＳｃａｌｅ（記録時初期値）あるいはＲＳｃ
ａｌｅ（再生時初期値）が設定される。
【００８５】また、図示は省くがカウント値を平均化す
る手段を設け、カウント値の移動平均値をＳｃａｌｅ信
号にしてもよい。このように、平均化することによって
制御値（Ｓｃａｌｅ）の発振を防止できる。さらに、比
較器６１に不感帯を設け、両者がほぼ一致するときはＵ
ｐ／Ｄｏｗｎ信号のどちらも出力しないようにしても同
様の効果が得られる。また、ｅｔａｒｅｆＤＡＣ５９の
フルスケールは、バイアススケールＤＡＣ７０によって
設定される。光源ＬＤの出射光量Ｐｏとモニタ信号Ｉｍ
ｏｎとの関係式は上述の数６で表され、係数Ｋｐｄは使
用する受光部ＰＤの光源ＬＤの出射光Ｐｏに対する光利
用効率α及び受光感度Ｓのバラツキによって変化する。
る手段を設け、カウント値の移動平均値をＳｃａｌｅ信
号にしてもよい。このように、平均化することによって
制御値（Ｓｃａｌｅ）の発振を防止できる。さらに、比
較器６１に不感帯を設け、両者がほぼ一致するときはＵ
ｐ／Ｄｏｗｎ信号のどちらも出力しないようにしても同
様の効果が得られる。また、ｅｔａｒｅｆＤＡＣ５９の
フルスケールは、バイアススケールＤＡＣ７０によって
設定される。光源ＬＤの出射光量Ｐｏとモニタ信号Ｉｍ
ｏｎとの関係式は上述の数６で表され、係数Ｋｐｄは使
用する受光部ＰＤの光源ＬＤの出射光Ｐｏに対する光利
用効率α及び受光感度Ｓのバラツキによって変化する。
【００８６】つまり、基準値ηｔａｒｇｅｔも装置毎に
ばらつくが、バイアススケールＤＡＣ７０によってｅｔ
ａｒｅｆＤＡＣ５９のフルスケールを調整することによ
ってバラツキを吸収することができる。したがって、当
然係数Ｋｐｄに合わせて基準値ηｔａｒｇｅｔを算出・
設定してもよい。なお、バイアススケールＤＡＣ７０は
上述のようにバイアス電流制御部２７の基準信号Ｉｔａ
ｒｇｅｔを調整するものでもあるので、共通に調整で
き、調整工程が簡略化できる。
ばらつくが、バイアススケールＤＡＣ７０によってｅｔ
ａｒｅｆＤＡＣ５９のフルスケールを調整することによ
ってバラツキを吸収することができる。したがって、当
然係数Ｋｐｄに合わせて基準値ηｔａｒｇｅｔを算出・
設定してもよい。なお、バイアススケールＤＡＣ７０は
上述のようにバイアス電流制御部２７の基準信号Ｉｔａ
ｒｇｅｔを調整するものでもあるので、共通に調整で
き、調整工程が簡略化できる。
【００８７】次に、微分量子効率制御方法の一例を説明
する。相変化型記録媒体への記録動作中の制御方法を、
図４の波形図に基づいて説明する。この制御方法は、図
４の（ｃ）光波形のようにロングスペース中に所定期間
η検出用パワーＰ２で発光させ（破線部（Ｂ））、この
期間にＳ／Ｈ回路５７でサンプルする（サンプル信号は
（ｊ）のＥｔａＳｍｐ）。また、その後のイレースパワ
ーＰ１の照射中に比較器６１で基準値との比較を行う
（同図の（ｋ）ＣｏｍｐＣＫ）。つまりＰ１とＰ２との
差分から微分量子効率ηを検出する。
する。相変化型記録媒体への記録動作中の制御方法を、
図４の波形図に基づいて説明する。この制御方法は、図
４の（ｃ）光波形のようにロングスペース中に所定期間
η検出用パワーＰ２で発光させ（破線部（Ｂ））、この
期間にＳ／Ｈ回路５７でサンプルする（サンプル信号は
（ｊ）のＥｔａＳｍｐ）。また、その後のイレースパワ
ーＰ１の照射中に比較器６１で基準値との比較を行う
（同図の（ｋ）ＣｏｍｐＣＫ）。つまりＰ１とＰ２との
差分から微分量子効率ηを検出する。
【００８８】通常、ＣＤ−ＲＷなどの相変化型記録媒体
はイレースパワーの多少の変動に対しては記録特性をほ
とんど悪化させない。また、微分量子効率の変動は温度
変化によるものが主因なので、この制御帯域は遅くても
よく、この特殊パワーＰ２での発光頻度も少なくてよい
ので、この制御方法による記録性能への悪影響はない。
さらに、記録開始直後などのようにＳｃａｌｅの初期値
ＰＳｃａｌｅがずれている可能性がある場合のみ、サン
プル頻度を増やして制御速度を上げてもよい。このよう
にすれば、記録性能に影響与えることなく、微分量子効
率の変動を自動的に制御し、所望の光量でＬＤを発光さ
せることができる。
はイレースパワーの多少の変動に対しては記録特性をほ
とんど悪化させない。また、微分量子効率の変動は温度
変化によるものが主因なので、この制御帯域は遅くても
よく、この特殊パワーＰ２での発光頻度も少なくてよい
ので、この制御方法による記録性能への悪影響はない。
さらに、記録開始直後などのようにＳｃａｌｅの初期値
ＰＳｃａｌｅがずれている可能性がある場合のみ、サン
プル頻度を増やして制御速度を上げてもよい。このよう
にすれば、記録性能に影響与えることなく、微分量子効
率の変動を自動的に制御し、所望の光量でＬＤを発光さ
せることができる。
【００８９】また、この制御信号であるＥｔａＳｍｐ信
号及びＣｏｍｐＣＫ信号はシーケンサ２１において、Ｌ
Ｄ変調信号及びステート信号から生成できる。以下に生
成方法を説明する。まず、ＬＤ変調信号（ＷＳＰ信
号）、ステート信号（ＳＴＥＮ信号）は所望のη検出用
パワーＰ２の発光タイミングに合わせて、図４の一点鎖
線枠（Ｃ）で囲んだ部分のような信号を生成する。（ｅ
−２）ＳＴＥＮ２信号はＷＳＰ信号とＳＴＥＮ信号から
生成され、同様に破線のようになる。このときシーケン
サ２１のステートマシンＳＭａとＳＭｂは以下に示す状
態遷移を行う。
号及びＣｏｍｐＣＫ信号はシーケンサ２１において、Ｌ
Ｄ変調信号及びステート信号から生成できる。以下に生
成方法を説明する。まず、ＬＤ変調信号（ＷＳＰ信
号）、ステート信号（ＳＴＥＮ信号）は所望のη検出用
パワーＰ２の発光タイミングに合わせて、図４の一点鎖
線枠（Ｃ）で囲んだ部分のような信号を生成する。（ｅ
−２）ＳＴＥＮ２信号はＷＳＰ信号とＳＴＥＮ信号から
生成され、同様に破線のようになる。このときシーケン
サ２１のステートマシンＳＭａとＳＭｂは以下に示す状
態遷移を行う。
【００９０】｛ステートマシンＳＭａ｝状態ＳＰｅの
時、ステート信号ＳＴＥＮ２＝ロー（Ｌｏｗ）かつＬＤ
変調信号ＷＳＰ↑（「↑」は立上りエッジを表す）なら
ば（時刻ｔ１３）、状態ＳＰｃｌに遷移する。この時、
最終ボトムパルスパワーＰｃｌに対応した変調データは
所定期間η検出用パワーＰ２（＝Ｐｅｔａ）のものを出
力する。つまり、この状態（Ｐｅｔａ）でＬＤ変調信号
ＷＳＰ＝ロー（Ｌｏｗ）のときに所定期間η検出用パワ
ーＰ２で発光する。また、これに合わせＥｔａＳｍｐ信
号をハイ（Ｈｉｇｈ）（サンプル）とする。そして、次
のＬＤ変調信号ＷＳＰ↑で状態ＳＰｅに戻る（時刻ｔ１
５）。また、この状態への遷移に合わせてＣｏｍｐＣＫ
をハイ（Ｈｉｇｈ）とし、次に状態ＳＰｂに遷移する時
にロー（Ｌｏｗ）とする。以降は通常と同じである。
時、ステート信号ＳＴＥＮ２＝ロー（Ｌｏｗ）かつＬＤ
変調信号ＷＳＰ↑（「↑」は立上りエッジを表す）なら
ば（時刻ｔ１３）、状態ＳＰｃｌに遷移する。この時、
最終ボトムパルスパワーＰｃｌに対応した変調データは
所定期間η検出用パワーＰ２（＝Ｐｅｔａ）のものを出
力する。つまり、この状態（Ｐｅｔａ）でＬＤ変調信号
ＷＳＰ＝ロー（Ｌｏｗ）のときに所定期間η検出用パワ
ーＰ２で発光する。また、これに合わせＥｔａＳｍｐ信
号をハイ（Ｈｉｇｈ）（サンプル）とする。そして、次
のＬＤ変調信号ＷＳＰ↑で状態ＳＰｅに戻る（時刻ｔ１
５）。また、この状態への遷移に合わせてＣｏｍｐＣＫ
をハイ（Ｈｉｇｈ）とし、次に状態ＳＰｂに遷移する時
にロー（Ｌｏｗ）とする。以降は通常と同じである。
【００９１】｛ステートマシンＳＭｂ｝時刻ｔ１２での
ＬＤ変調信号ＷＳＰ↓（「↓」は立下りエッジを表す）
ではステート信号ＳＴＥＮ＝ロー（Ｌｏｗ）なので、状
態ＳＰｅに留まる。時刻ｔ１４でも同様である。時刻ｔ
１６でのＬＤ変調信号ＷＳＰ↓にはステート信号ＳＴＥ
Ｎ＝ハイ（Ｈｉｇｈ）であるので状態Ｐｔｐに遷移す
る。以降は通常と同じである。
ＬＤ変調信号ＷＳＰ↓（「↓」は立下りエッジを表す）
ではステート信号ＳＴＥＮ＝ロー（Ｌｏｗ）なので、状
態ＳＰｅに留まる。時刻ｔ１４でも同様である。時刻ｔ
１６でのＬＤ変調信号ＷＳＰ↓にはステート信号ＳＴＥ
Ｎ＝ハイ（Ｈｉｇｈ）であるので状態Ｐｔｐに遷移す
る。以降は通常と同じである。
【００９２】［高周波変調部］一般に、光ディスク装置
では情報媒体からの戻り光による光源のノイズを抑制す
るため、再生時には高周波信号で変調を行う、いわゆる
高周波重畳を行っている。高周波変調部３０は、高周波
重畳信号ＨＦＭＯＤと高周波重畳時にバイアス電流に印
加するオフセット電流Ｉｈｆｍｏｆｓを生成する。ま
た、本実施形態では高周波変調自体は変調部２３を利用
して行うので、高周波重畳時の変調部２３の動作も併せ
て説明する。ＶＣＯ６４は、ＦｒｅｑＤＡＣ６３の出力
する周波数設定信号に従った周波数の信号ＨＦＭＯＤを
発生させる発振器である。
では情報媒体からの戻り光による光源のノイズを抑制す
るため、再生時には高周波信号で変調を行う、いわゆる
高周波重畳を行っている。高周波変調部３０は、高周波
重畳信号ＨＦＭＯＤと高周波重畳時にバイアス電流に印
加するオフセット電流Ｉｈｆｍｏｆｓを生成する。ま
た、本実施形態では高周波変調自体は変調部２３を利用
して行うので、高周波重畳時の変調部２３の動作も併せ
て説明する。ＶＣＯ６４は、ＦｒｅｑＤＡＣ６３の出力
する周波数設定信号に従った周波数の信号ＨＦＭＯＤを
発生させる発振器である。
【００９３】ＭＵＸ６５はＨＦ−ＯＮ信号に従って、こ
の高周波重畳信号ＨＦＭＯＤとシーケンサ２１の出力す
る変調信号ＭＯＤとを選択出力し、変調部２３に供給す
る。ここでは高周波重畳時について説明するのでＨＦＭ
ＯＤ信号が選択されるものとする。また、ＨＦＢＤＡＣ
６６及びバッファアンプ６７で付加するオフセット電流
Ｉｈｆｍｏｆｓを生成し、スイッチ６８で印加の有無を
設定する。さらに、ＶＣＯ６４は高周波重畳を行わない
時（ＨＦ−ＯＮにより指示）は、発振を停止させるよう
にしておくと不必要な電力消費を抑制できる。変調部２
３は高周波重畳時は以下の動作をする。
の高周波重畳信号ＨＦＭＯＤとシーケンサ２１の出力す
る変調信号ＭＯＤとを選択出力し、変調部２３に供給す
る。ここでは高周波重畳時について説明するのでＨＦＭ
ＯＤ信号が選択されるものとする。また、ＨＦＢＤＡＣ
６６及びバッファアンプ６７で付加するオフセット電流
Ｉｈｆｍｏｆｓを生成し、スイッチ６８で印加の有無を
設定する。さらに、ＶＣＯ６４は高周波重畳を行わない
時（ＨＦ−ＯＮにより指示）は、発振を停止させるよう
にしておくと不必要な電力消費を抑制できる。変調部２
３は高周波重畳時は以下の動作をする。
【００９４】変調データＤｍｏｄＬとＤｍｏｄＨにはそ
れぞれボトムレベルとトップレベルに対応したデータを
与え、ＰｂＤＡＣ４０とＰｔｐＤＡＣ４１はそれぞれＩ
ｂｔｍとＩｔｏｐを出力する。この変調データを変更す
ることによって変調度を変更できる。そして、スイッチ
４２で高周波重畳信号ＨＦＭＯＤに従って変調電流Ｉｍ
ｏｄを生成する。
れぞれボトムレベルとトップレベルに対応したデータを
与え、ＰｂＤＡＣ４０とＰｔｐＤＡＣ４１はそれぞれＩ
ｂｔｍとＩｔｏｐを出力する。この変調データを変更す
ることによって変調度を変更できる。そして、スイッチ
４２で高周波重畳信号ＨＦＭＯＤに従って変調電流Ｉｍ
ｏｄを生成する。
【００９５】ＬＤ駆動電流は上記数４に示した式に基づ
く演算によって得られ、光変調波形は図９に示す線図の
ようになる（図９では、便宜上電流駆動部の増幅率Ａｉ
は省略している）。そして、平均光量Ｐａｖｇが目標光
量Ｐｔａｒｇｅｔになるようにバイアス電流が制御され
る。また、上述の説明と同等にＰｂＤＡＣ４０とＰｔｐ
ＤＡＣ４１のフルスケールはＳｃａｌｅ信号によって設
定され、再生中は微分量子効率制御部２８による制御動
作は行わないとすると、再生時のＳｃａｌｅ信号の初期
値ＲＳｃａｌｅが一定に与えられる。
く演算によって得られ、光変調波形は図９に示す線図の
ようになる（図９では、便宜上電流駆動部の増幅率Ａｉ
は省略している）。そして、平均光量Ｐａｖｇが目標光
量Ｐｔａｒｇｅｔになるようにバイアス電流が制御され
る。また、上述の説明と同等にＰｂＤＡＣ４０とＰｔｐ
ＤＡＣ４１のフルスケールはＳｃａｌｅ信号によって設
定され、再生中は微分量子効率制御部２８による制御動
作は行わないとすると、再生時のＳｃａｌｅ信号の初期
値ＲＳｃａｌｅが一定に与えられる。
【００９６】［ＤＣ／ＤＣコンバータ］ＤＣ／ＤＣコン
バータ３２は、ＬＤ駆動集積回路１に供給される電源電
圧から集積回路の内部電源電圧に変換して各部へ供給す
る。また内部電源電圧値はＰｗｒＲｅｇ信号によって設
定される。ＬＤ駆動集積回路１を高速動作させるには、
Ｃ−ＭＯＳ微細プロセスで実現し、そのプロセスの許容
電圧付近で動作させることが望ましい。また、駆動する
光源ＬＤは、通常２〜３Ｖの動作電圧を有し、ＬＤ駆動
部には３〜４Ｖの電源電圧が最適である。これよりも大
きいと消費電力が増大し、発熱も大きくなるからであ
る。これらの条件を満足するためには、例えば０．３５
ｕｍのＣ−ＭＯＳプロセスを用いて３〜４Ｖの電源電圧
で動作させるようにするとよい。
バータ３２は、ＬＤ駆動集積回路１に供給される電源電
圧から集積回路の内部電源電圧に変換して各部へ供給す
る。また内部電源電圧値はＰｗｒＲｅｇ信号によって設
定される。ＬＤ駆動集積回路１を高速動作させるには、
Ｃ−ＭＯＳ微細プロセスで実現し、そのプロセスの許容
電圧付近で動作させることが望ましい。また、駆動する
光源ＬＤは、通常２〜３Ｖの動作電圧を有し、ＬＤ駆動
部には３〜４Ｖの電源電圧が最適である。これよりも大
きいと消費電力が増大し、発熱も大きくなるからであ
る。これらの条件を満足するためには、例えば０．３５
ｕｍのＣ−ＭＯＳプロセスを用いて３〜４Ｖの電源電圧
で動作させるようにするとよい。
【００９７】しかし、情報記録再生装置としてはこの最
適電圧が供給されていない場合がある（例えば５Ｖと１
２Ｖのみ供給されている）。そのため、別途電圧変換し
て生成し供給する必要があるが、ＦＣＰ基板を介して供
給する電源供給線が増加してしまう。また、ピックアッ
プ部に電圧変換部を設けるには小型化の望まれるピック
アップとしてはスペース的に困難である。一方、動作速
度は遅いが５Ｖ耐圧トランジスタを搭載するにはコスト
アップ無しに容易に可能であり、電圧変換部を構成する
にはこのトランジスタで十分である。
適電圧が供給されていない場合がある（例えば５Ｖと１
２Ｖのみ供給されている）。そのため、別途電圧変換し
て生成し供給する必要があるが、ＦＣＰ基板を介して供
給する電源供給線が増加してしまう。また、ピックアッ
プ部に電圧変換部を設けるには小型化の望まれるピック
アップとしてはスペース的に困難である。一方、動作速
度は遅いが５Ｖ耐圧トランジスタを搭載するにはコスト
アップ無しに容易に可能であり、電圧変換部を構成する
にはこのトランジスタで十分である。
【００９８】したがって、本実施形態のように電圧変換
部（ＤＣ／ＤＣコンバータ３２）をＬＤ駆動集積回路１
に内蔵することによって上記課題を解決できる。さら
に、電圧変換部として、ＤＣ／ＤＣコンバータ（いわゆ
るスイッチングレギュレータ）を用いれば、変換損失を
低くすることができ、消費電力及び発熱量を低減するこ
とができる。また、ＤＣ／ＤＣコンバータ３２はＰｗｒ
Ｒｅｇ信号によって内部電源電圧値を設定可能にしてい
るので、最適な電源電圧に設定することができる。ＤＣ
／ＤＣコンバータ３１は、外部との入出力インタフェー
ス用の電圧変換部である。これにより、ＦＰＣ基板の電
源供給線を増やすことなく様々なインタフェース電圧に
対応することができる。
部（ＤＣ／ＤＣコンバータ３２）をＬＤ駆動集積回路１
に内蔵することによって上記課題を解決できる。さら
に、電圧変換部として、ＤＣ／ＤＣコンバータ（いわゆ
るスイッチングレギュレータ）を用いれば、変換損失を
低くすることができ、消費電力及び発熱量を低減するこ
とができる。また、ＤＣ／ＤＣコンバータ３２はＰｗｒ
Ｒｅｇ信号によって内部電源電圧値を設定可能にしてい
るので、最適な電源電圧に設定することができる。ＤＣ
／ＤＣコンバータ３１は、外部との入出力インタフェー
ス用の電圧変換部である。これにより、ＦＰＣ基板の電
源供給線を増やすことなく様々なインタフェース電圧に
対応することができる。
【００９９】上記説明では図４の（ｃ）の光波形を出力
する場合の動作について説明したが、ステート信号ＳＴ
ＥＮや設定値などを変更すれば他の光波形を出力するこ
とができる。図１０は、その他の出力信号の一例を示す
波形図である。図１０に示すように、記録マークの後で
エッジ位置制御を行うのに、最終パルスパワーＰｌｐ及
びクーリングパルスパワーＰｃｌの制御を付加するので
はなく、イレースの先頭パワーＰｅｐ（図１０の破線部
（ｉｖ））制御をパルス幅制御に付加する方法を実現す
るものである。ＬＤ変調信号ＷＳＰ，ステート信号ＳＴ
ＥＮは同図のように与えられる。図４の場合と異なるの
はステート信号ＳＴＥＮの立下りタイミングのみであ
る。また、ステートマシンＳＭａとＳＭｂも遷移条件を
一部変更するだけで対応可能である。
する場合の動作について説明したが、ステート信号ＳＴ
ＥＮや設定値などを変更すれば他の光波形を出力するこ
とができる。図１０は、その他の出力信号の一例を示す
波形図である。図１０に示すように、記録マークの後で
エッジ位置制御を行うのに、最終パルスパワーＰｌｐ及
びクーリングパルスパワーＰｃｌの制御を付加するので
はなく、イレースの先頭パワーＰｅｐ（図１０の破線部
（ｉｖ））制御をパルス幅制御に付加する方法を実現す
るものである。ＬＤ変調信号ＷＳＰ，ステート信号ＳＴ
ＥＮは同図のように与えられる。図４の場合と異なるの
はステート信号ＳＴＥＮの立下りタイミングのみであ
る。また、ステートマシンＳＭａとＳＭｂも遷移条件を
一部変更するだけで対応可能である。
【０１００】したがって、遷移条件に光波形モード設定
による条件を追加しておけばよい。つまり、図５のステ
ートマシンＳＭａにおいて、光波形モードにより（ａ）
または（ｂ）の遷移を行うようにすればよい。なお、状
態ＳＰｌｐには照射パワーＰｅｐが対応する。このよう
に、ステートマシンの各状態に対応する照射パワーや、
遷移条件を変更すれば様々な光波形を発生させることが
できる。
による条件を追加しておけばよい。つまり、図５のステ
ートマシンＳＭａにおいて、光波形モードにより（ａ）
または（ｂ）の遷移を行うようにすればよい。なお、状
態ＳＰｌｐには照射パワーＰｅｐが対応する。このよう
に、ステートマシンの各状態に対応する照射パワーや、
遷移条件を変更すれば様々な光波形を発生させることが
できる。
【０１０１】次に、上記ＬＤ変調信号生成部１０につい
て詳細に説明する。図１５は、ＬＤ変調信号生成部１０
の構成を示す図である。ＬＤ変調信号生成部１０は、記
録クロック信号ＷＣＫからｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫ
及びそのクロック信号ＰＣＫと所定量づつ位相の異なる
複数のクロック信号を生成するＰＬＬ部１１０と、図２
のコントローラ１９から供給される記録データ信号Ｗｄ
ａｔａのランレングスを検出してランレングス信号Ｌｅ
ｎ０〜Ｌｅｎ２を供給し、所定量の記録データ信号を遅
延させた遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａを出力するラ
ンレングス検出部（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈ Ｄｅｔ．）１
１１と、駆動波形生成情報を格納しておき、ランレング
ス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に対応した情報を遅延記録デ
ータ信号ｄＷｄａｔａに合わせて出力する駆動波形生成
情報保持部（Ｓｔｒａｔｅｇｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１１２
を備えている。
て詳細に説明する。図１５は、ＬＤ変調信号生成部１０
の構成を示す図である。ＬＤ変調信号生成部１０は、記
録クロック信号ＷＣＫからｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫ
及びそのクロック信号ＰＣＫと所定量づつ位相の異なる
複数のクロック信号を生成するＰＬＬ部１１０と、図２
のコントローラ１９から供給される記録データ信号Ｗｄ
ａｔａのランレングスを検出してランレングス信号Ｌｅ
ｎ０〜Ｌｅｎ２を供給し、所定量の記録データ信号を遅
延させた遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａを出力するラ
ンレングス検出部（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈ Ｄｅｔ．）１
１１と、駆動波形生成情報を格納しておき、ランレング
ス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に対応した情報を遅延記録デ
ータ信号ｄＷｄａｔａに合わせて出力する駆動波形生成
情報保持部（Ｓｔｒａｔｅｇｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１１２
を備えている。
【０１０２】また、駆動波形生成情報保持部１１２から
出力された駆動波形生成情報から変調タイミング信号を
生成するタイミング信号生成部１１３と、そのタイミン
グ信号生成部１１３によって生成された変調タイミング
信号からＬＤ変調信号ＷＳＰを生成する変調信号生成部
１１４と、同じくタイミング信号生成部１１３によって
生成された変調タイミング信号からステート信号ＳＴＥ
Ｎを生成するステート信号生成部（ＳＴＥＮ Ｇｅ
ｎ．）１１５と、駆動波形生成情報保持部１１２から出
力された駆動波形生成情報からコマンド信号ＳＴＣＭＤ
を生成するステートコマンド生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅ
ｎ．）１１６と、記録データ信号Ｗｄａｔａからサンプ
ルホールド方式のＡＰＣ制御用サンプル信号を生成する
サンプル信号生成部（Ｓａｍｐｌｅ Ｔｉｍｉｎｇ Ｇ
ｅｎ．）１１７と、図２のコントローラ１９から供給さ
れる制御コマンドを受けて各部へ制御信号を供給する制
御部１１８も備えている。
出力された駆動波形生成情報から変調タイミング信号を
生成するタイミング信号生成部１１３と、そのタイミン
グ信号生成部１１３によって生成された変調タイミング
信号からＬＤ変調信号ＷＳＰを生成する変調信号生成部
１１４と、同じくタイミング信号生成部１１３によって
生成された変調タイミング信号からステート信号ＳＴＥ
Ｎを生成するステート信号生成部（ＳＴＥＮ Ｇｅ
ｎ．）１１５と、駆動波形生成情報保持部１１２から出
力された駆動波形生成情報からコマンド信号ＳＴＣＭＤ
を生成するステートコマンド生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅ
ｎ．）１１６と、記録データ信号Ｗｄａｔａからサンプ
ルホールド方式のＡＰＣ制御用サンプル信号を生成する
サンプル信号生成部（Ｓａｍｐｌｅ Ｔｉｍｉｎｇ Ｇ
ｅｎ．）１１７と、図２のコントローラ１９から供給さ
れる制御コマンドを受けて各部へ制御信号を供給する制
御部１１８も備えている。
【０１０３】次に、図１５に示したＬＤ変調信号生成部
１０の各部の詳細な内部構成とその動作について説明す
る。 ［ＰＬＬ］ＰＬＬ部１１０は、記録クロック信号ＷＣＫ
からｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫを生成し、そのクロッ
ク信号ＰＣＫと所定量づつ位相の異なる複数のクロック
信号（本実施形態ではＣＫ０〜ＣＫ７の８つのクロック
信号とし、ＣＫ０をクロック信号ＰＣＫとする）を生成
する。また、記録チャネルクロック信号ＣＫｃｈも生成
する。
１０の各部の詳細な内部構成とその動作について説明す
る。 ［ＰＬＬ］ＰＬＬ部１１０は、記録クロック信号ＷＣＫ
からｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫを生成し、そのクロッ
ク信号ＰＣＫと所定量づつ位相の異なる複数のクロック
信号（本実施形態ではＣＫ０〜ＣＫ７の８つのクロック
信号とし、ＣＫ０をクロック信号ＰＣＫとする）を生成
する。また、記録チャネルクロック信号ＣＫｃｈも生成
する。
【０１０４】ＰＬＬ部１１０内のＭ分周器（１／Ｍ）１
２０，位相比較器（ＰＣ）１２１，ループフィルタ（Ｆ
ｉｌｔｅｒ）１２２，発振器（ＶＣＯ）１２３及びＮ分
周器（１／Ｎ）１２４は、ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃ
ｋｅｄ Ｌｏｏｐ）回路を構成する。上記各部の動作は
通常のＰＬＬ回路と同様なのでその詳細な説明は省略す
る。Ｍ分周器１２０は、記録クロック信号ＷＣＫをＭ分
周する。その分周比１／Ｍは設定可能とし（例えば、Ｍ
＝２，４）、記録クロック信号ＷＣＫが記録チャネルク
ロック信号ＣＫｃｈを分周した信号で供給される場合に
対応する。したがって、記録クロック信号ＷＣＫの周波
数を下げて転送をすることによってノイズの発生を低減
することができる。
２０，位相比較器（ＰＣ）１２１，ループフィルタ（Ｆ
ｉｌｔｅｒ）１２２，発振器（ＶＣＯ）１２３及びＮ分
周器（１／Ｎ）１２４は、ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃ
ｋｅｄ Ｌｏｏｐ）回路を構成する。上記各部の動作は
通常のＰＬＬ回路と同様なのでその詳細な説明は省略す
る。Ｍ分周器１２０は、記録クロック信号ＷＣＫをＭ分
周する。その分周比１／Ｍは設定可能とし（例えば、Ｍ
＝２，４）、記録クロック信号ＷＣＫが記録チャネルク
ロック信号ＣＫｃｈを分周した信号で供給される場合に
対応する。したがって、記録クロック信号ＷＣＫの周波
数を下げて転送をすることによってノイズの発生を低減
することができる。
【０１０５】発振器１２３は、所定量づつ位相の異なる
ｍ個のクロック信号（本実施形態ではＣＫ０〜ＣＫ７の
８つのクロック（ｍ＝８）とし、ＣＫ０をＰＣＫとす
る）を生成する。これは例えばリングオシレータなどに
よって構成する。Ｎ分周器１２４は、発振器１２３の出
力する一つのクロック信号（例えばＣＫ０）をＮ分周す
る。その分周比１／Ｎは設定可能とし、Ｎ／Ｍが記録ク
ロック信号ＷＣＫに対するｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫ
の逓倍数ｎになる。また、Ｍ／Ｎ分周器１２５によって
ｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫをＭ／Ｎ分周して記録チャ
ネルクロック信号ＣＫｃｈを生成し、各部へ供給する。
後述するように、ＬＤ変調信号ＷＳＰはクロック信号Ｃ
Ｋ０〜ＣＫ７を基準にして生成する。つまり、分周比１
／Ｎ，１／Ｍを設定することによってＬＤ変調信号ＷＳ
Ｐのパルス幅設定分解能を設定することができる。
ｍ個のクロック信号（本実施形態ではＣＫ０〜ＣＫ７の
８つのクロック（ｍ＝８）とし、ＣＫ０をＰＣＫとす
る）を生成する。これは例えばリングオシレータなどに
よって構成する。Ｎ分周器１２４は、発振器１２３の出
力する一つのクロック信号（例えばＣＫ０）をＮ分周す
る。その分周比１／Ｎは設定可能とし、Ｎ／Ｍが記録ク
ロック信号ＷＣＫに対するｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫ
の逓倍数ｎになる。また、Ｍ／Ｎ分周器１２５によって
ｎ逓倍のクロック信号ＰＣＫをＭ／Ｎ分周して記録チャ
ネルクロック信号ＣＫｃｈを生成し、各部へ供給する。
後述するように、ＬＤ変調信号ＷＳＰはクロック信号Ｃ
Ｋ０〜ＣＫ７を基準にして生成する。つまり、分周比１
／Ｎ，１／Ｍを設定することによってＬＤ変調信号ＷＳ
Ｐのパルス幅設定分解能を設定することができる。
【０１０６】例えば、供給される記録クロック信号ＷＣ
Ｋが記録チャネルクロックＣＫｃｈと同一周波数で転送
されるものとし、Ｍ＝４，Ｎ＝１６と設定すると、クロ
ック信号ＰＣＫはチャネルクロック信号ＣＫｃｈの４逓
倍の周波数になり、ＬＤ変調信号ＷＳＰはチャネルクロ
ック信号ＣＫｃｈに対して１／３２（＝ｍ・Ｍ／Ｎ）の
パルス幅設定分解能で生成することができる。以下、こ
れをパルス幅設定ステップと称する（また適宜、単にス
テップと称する）。上記例の場合、３２ステップが１チ
ャネルクロック周期に相当する。
Ｋが記録チャネルクロックＣＫｃｈと同一周波数で転送
されるものとし、Ｍ＝４，Ｎ＝１６と設定すると、クロ
ック信号ＰＣＫはチャネルクロック信号ＣＫｃｈの４逓
倍の周波数になり、ＬＤ変調信号ＷＳＰはチャネルクロ
ック信号ＣＫｃｈに対して１／３２（＝ｍ・Ｍ／Ｎ）の
パルス幅設定分解能で生成することができる。以下、こ
れをパルス幅設定ステップと称する（また適宜、単にス
テップと称する）。上記例の場合、３２ステップが１チ
ャネルクロック周期に相当する。
【０１０７】［ランレングス検出部］ランレングス検出
部１１１は、図２のコントローラ１９から供給される記
録データ信号Ｗｄａｔａのランレングスを検出し、ラン
レングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２を供給する。記録デー
タ信号Ｗｄａｔａは、ＮＲＺＩ（Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ
ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）の二値化信号で
ハイ（Ｈ）区間が記録マークを、ロー（Ｌ）区間がスペ
ースを表すものとする。つまり、ランレングス検出部１
１１は記録データのマーク長及びスペース長を検出す
る。ここでは、Ｌｅｎ１がマーク長を、Ｌｅｎ０が直前
スペース長を、Ｌｅｎ２が直後スペース長をそれぞれ供
給するものとする。
部１１１は、図２のコントローラ１９から供給される記
録データ信号Ｗｄａｔａのランレングスを検出し、ラン
レングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２を供給する。記録デー
タ信号Ｗｄａｔａは、ＮＲＺＩ（Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ
ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）の二値化信号で
ハイ（Ｈ）区間が記録マークを、ロー（Ｌ）区間がスペ
ースを表すものとする。つまり、ランレングス検出部１
１１は記録データのマーク長及びスペース長を検出す
る。ここでは、Ｌｅｎ１がマーク長を、Ｌｅｎ０が直前
スペース長を、Ｌｅｎ２が直後スペース長をそれぞれ供
給するものとする。
【０１０８】また、ランレングス検出部１１１は適用す
る記録データ信号の最小最大ランレングスに応じて構成
し、本実施形態ではＤＶＤフォーマットの記録媒体（Ｄ
ＶＤ＋ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＡＭなどの光ディ
スク）に対する情報の記録を行う光情報記録装置への適
用を想定し、記録データ信号ＷｄａｔａはＥＦＭ＋変調
を行った信号を想定して説明する。つまり、ランレング
スは３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔはチャネルクロック周
期）になる。さらに、ランレングスを検出するのに必要
な所定時間及び各回路遅延時間などを考慮して記録デー
タを所定量遅延させて遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ
を出力する。
る記録データ信号の最小最大ランレングスに応じて構成
し、本実施形態ではＤＶＤフォーマットの記録媒体（Ｄ
ＶＤ＋ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＡＭなどの光ディ
スク）に対する情報の記録を行う光情報記録装置への適
用を想定し、記録データ信号ＷｄａｔａはＥＦＭ＋変調
を行った信号を想定して説明する。つまり、ランレング
スは３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔはチャネルクロック周
期）になる。さらに、ランレングスを検出するのに必要
な所定時間及び各回路遅延時間などを考慮して記録デー
タを所定量遅延させて遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ
を出力する。
【０１０９】図１６は、ランレングス検出部１１１の内
部の詳細な構成例を示す図である。また、図１７は図１
６に示したランレングス検出部１１１内の各部が出力す
る信号の波形図である。カウンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ）１
４０は、記録チャネルクロック信号ＣＫｃｈ（図１７の
（ａ））により、記録データ信号Ｗｄａｔａ（同図の
（ｂ））のランレングス（ハイレベル区間及びローレベ
ル区間）を計数して出力する（ｃｏｕｎｔ：同図の
（ｃ））。カウンタ１４０によって計数されたランレン
グスデータは一旦ＦＩＦＯ１４３に順次保持する。遅延
回路（Ｄｅｌａｙ）１４１はシフトレジスタなどによっ
て構成し、記録データ信号Ｗｄａｔａを所定量（ｄｌ
ｙ）遅延させた遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ（図１
７の（ｄ））を出力する。また、各部制御信号生成のた
めの遅延量の異なる信号も生成してＦＩＦＯ制御部（Ｆ
ＩＦＯ Ｃｔｒｌ）１４２に供給する。
部の詳細な構成例を示す図である。また、図１７は図１
６に示したランレングス検出部１１１内の各部が出力す
る信号の波形図である。カウンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ）１
４０は、記録チャネルクロック信号ＣＫｃｈ（図１７の
（ａ））により、記録データ信号Ｗｄａｔａ（同図の
（ｂ））のランレングス（ハイレベル区間及びローレベ
ル区間）を計数して出力する（ｃｏｕｎｔ：同図の
（ｃ））。カウンタ１４０によって計数されたランレン
グスデータは一旦ＦＩＦＯ１４３に順次保持する。遅延
回路（Ｄｅｌａｙ）１４１はシフトレジスタなどによっ
て構成し、記録データ信号Ｗｄａｔａを所定量（ｄｌ
ｙ）遅延させた遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ（図１
７の（ｄ））を出力する。また、各部制御信号生成のた
めの遅延量の異なる信号も生成してＦＩＦＯ制御部（Ｆ
ＩＦＯ Ｃｔｒｌ）１４２に供給する。
【０１１０】ＦＩＦＯ制御部１４２は、ＦＩＦＯ１４３
の書込み・読み出し制御及び各部制御信号を供給する。
レジスタ（Ｒｅｇ）１４４は、ＦＩＦＯ１４３から読み
出したランレングスデータを保持して出力する（Ｌｅｎ
０，Ｌｅｎ１，Ｌｅｎ２）。ＦＩＦＯ１４３の読み出し
タイミング（レジスタ１４４の保持タイミング）は、遅
延記録データ信号ｄＷｄａｔａと一致するようにＦＩＦ
Ｏ制御部１４２から供給する制御信号によって決定す
る。つまり、図１７に示すように、遅延記録データ信号
ｄＷｄａｔａにそのマーク長Ｌｅｎ１，直前スペース長
Ｌｅｎ０，直後スペース長Ｌｅｎ２が合うようにする
（またはＬｅｎ０〜Ｌｅｎ２によって変換される駆動波
形生成情報（ｆ）が合うようにする）。なお、遅延量ｄ
ｌｙやＦＩＦＯ１４３のサイズはＦＩＦＯのエンプテ
ィ，フルが生じないように記録データＷｄａｔａの最小
・最大ランレングス及び各回路遅延などを考慮して決定
すればよい。
の書込み・読み出し制御及び各部制御信号を供給する。
レジスタ（Ｒｅｇ）１４４は、ＦＩＦＯ１４３から読み
出したランレングスデータを保持して出力する（Ｌｅｎ
０，Ｌｅｎ１，Ｌｅｎ２）。ＦＩＦＯ１４３の読み出し
タイミング（レジスタ１４４の保持タイミング）は、遅
延記録データ信号ｄＷｄａｔａと一致するようにＦＩＦ
Ｏ制御部１４２から供給する制御信号によって決定す
る。つまり、図１７に示すように、遅延記録データ信号
ｄＷｄａｔａにそのマーク長Ｌｅｎ１，直前スペース長
Ｌｅｎ０，直後スペース長Ｌｅｎ２が合うようにする
（またはＬｅｎ０〜Ｌｅｎ２によって変換される駆動波
形生成情報（ｆ）が合うようにする）。なお、遅延量ｄ
ｌｙやＦＩＦＯ１４３のサイズはＦＩＦＯのエンプテ
ィ，フルが生じないように記録データＷｄａｔａの最小
・最大ランレングス及び各回路遅延などを考慮して決定
すればよい。
【０１１１】［駆動波形生成情報保持部］駆動波形生成
情報保持部１１２は、駆動波形生成情報を格納しておく
ものであり、ランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に対
応した情報を遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａに合わせ
て出力する。図１８は、本実施形態における駆動波形生
成情報と光波形との関係を示すタイミングチャート図で
ある。図１９は、複数のタイミング情報毎の駆動波形生
成情報の組み合わせ例を示す一覧表の図である。
情報保持部１１２は、駆動波形生成情報を格納しておく
ものであり、ランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２に対
応した情報を遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａに合わせ
て出力する。図１８は、本実施形態における駆動波形生
成情報と光波形との関係を示すタイミングチャート図で
ある。図１９は、複数のタイミング情報毎の駆動波形生
成情報の組み合わせ例を示す一覧表の図である。
【０１１２】駆動波形生成情報は、光波形の照射レベル
変化タイミング、つまりＬＤ変調信号ＷＳＰの変化タイ
ミングを表すタイミング情報とＬＤ照射レベルなどのコ
マンド信号ＳＴＣＭＤとして転送するコマンド情報とか
らなる。このタイミング情報はパルス幅設定ステップ数
で表され、図１８に示す各タイミング情報（ＴＳＳ，Ｔ
ＳＰ，・・・）を基準時刻（例えば遅延記録データ立上
りエッジ）から累積していくことによってＬＤ変調信号
ＷＳＰの変化タイミングを決めていく。また、ＮＭＰは
ＴＭＳ及びＴＭＰの繰り返し回数である。このようにし
て、マルチパルス周期及びデューティを任意に設定する
ことができる。
変化タイミング、つまりＬＤ変調信号ＷＳＰの変化タイ
ミングを表すタイミング情報とＬＤ照射レベルなどのコ
マンド信号ＳＴＣＭＤとして転送するコマンド情報とか
らなる。このタイミング情報はパルス幅設定ステップ数
で表され、図１８に示す各タイミング情報（ＴＳＳ，Ｔ
ＳＰ，・・・）を基準時刻（例えば遅延記録データ立上
りエッジ）から累積していくことによってＬＤ変調信号
ＷＳＰの変化タイミングを決めていく。また、ＮＭＰは
ＴＭＳ及びＴＭＰの繰り返し回数である。このようにし
て、マルチパルス周期及びデューティを任意に設定する
ことができる。
【０１１３】なお、本実施形態では最終パルスの立上り
エッジ（ａ）と立下りエッジ（ｂ）を基準時刻からの累
積ではなく独立に設定するようにしている（また、タイ
ミング（ｃ），（ｄ）は（ｂ）からの累積とする）。多
くの種類の情報記録媒体では、それらのタイミングが形
成する記録マークの後エッジ位置制御に大きく依存す
る。一方、記録マークの前エッジ位置制御にはＴＳＳ，
ＴＳＰなどのタイミング情報が重要になる。それらの前
後それぞれのエッジ位置制御に主要なパラメータを独立
に設定することにより、各パラメータの設定値によって
最終パルスタイミングへの波及がなくなり、記録マーク
エッジ位置への影響度が限られる。
エッジ（ａ）と立下りエッジ（ｂ）を基準時刻からの累
積ではなく独立に設定するようにしている（また、タイ
ミング（ｃ），（ｄ）は（ｂ）からの累積とする）。多
くの種類の情報記録媒体では、それらのタイミングが形
成する記録マークの後エッジ位置制御に大きく依存す
る。一方、記録マークの前エッジ位置制御にはＴＳＳ，
ＴＳＰなどのタイミング情報が重要になる。それらの前
後それぞれのエッジ位置制御に主要なパラメータを独立
に設定することにより、各パラメータの設定値によって
最終パルスタイミングへの波及がなくなり、記録マーク
エッジ位置への影響度が限られる。
【０１１４】すなわち、記録動作中に各パラメータ設定
値を変更する場合、各パラメータを順次変更していって
も記録マーク形状には影響度は少ない。例えば、高精度
な記録マーク形状制御のためには各パラメータを記録線
速に応じて変更する必要があり、ＣＡＶ記録を行う際に
は記録動作中に記録線速に応じた設定値に変更するた
め、このような場合に好適となる。また、回路の簡便化
のため、タイミング（ａ），（ｂ）は破線で示すように
それぞれタイミング情報ＴＬＳ，ＴＬＭを累積して決め
てもよい。
値を変更する場合、各パラメータを順次変更していって
も記録マーク形状には影響度は少ない。例えば、高精度
な記録マーク形状制御のためには各パラメータを記録線
速に応じて変更する必要があり、ＣＡＶ記録を行う際に
は記録動作中に記録線速に応じた設定値に変更するた
め、このような場合に好適となる。また、回路の簡便化
のため、タイミング（ａ），（ｂ）は破線で示すように
それぞれタイミング情報ＴＬＳ，ＴＬＭを累積して決め
てもよい。
【０１１５】また、本実施形態では、駆動波形を記録デ
ータ信号Ｗｄａｔａのマーク長とその隣接するスペース
長によって変化させ、形成する記録マークエッジ位置を
高精度に制御するようにしている。記録マークが形成さ
れる時、隣接のスペース長によって情報記録媒体上で熱
的影響を受け、エッジが隣接スペース長によって変化す
る。それを避けるために、隣接のスペース長を考慮して
駆動波形を変化させるものである。つまり、マーク長及
び直前直後のスペース長の各組み合わせに対応した駆動
波形生成情報を格納しておき、ランレングス検出部１１
１によって検出したランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ
２に応じて対応した駆動波形生成情報を供給する。
ータ信号Ｗｄａｔａのマーク長とその隣接するスペース
長によって変化させ、形成する記録マークエッジ位置を
高精度に制御するようにしている。記録マークが形成さ
れる時、隣接のスペース長によって情報記録媒体上で熱
的影響を受け、エッジが隣接スペース長によって変化す
る。それを避けるために、隣接のスペース長を考慮して
駆動波形を変化させるものである。つまり、マーク長及
び直前直後のスペース長の各組み合わせに対応した駆動
波形生成情報を格納しておき、ランレングス検出部１１
１によって検出したランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ
２に応じて対応した駆動波形生成情報を供給する。
【０１１６】なお、マーク長及び隣接スペース長が所定
値以上の場合は熱的影響やその変化分は少ない。そのた
め、全ての組み合わせに対応した駆動波形生成情報を用
意する必要はない。例えば、図１９に示すように、予め
影響度の大きい組み合わせのみを登録したテーブルを用
意すれば情報の保持に必要なメモリ容量を低減すること
ができる。また、この実施形態では、各パラメータに応
じて用意する組み合わせも変え、メモリ容量の低減化と
マーク形状制御の高精度化の両立を図っている。
値以上の場合は熱的影響やその変化分は少ない。そのた
め、全ての組み合わせに対応した駆動波形生成情報を用
意する必要はない。例えば、図１９に示すように、予め
影響度の大きい組み合わせのみを登録したテーブルを用
意すれば情報の保持に必要なメモリ容量を低減すること
ができる。また、この実施形態では、各パラメータに応
じて用意する組み合わせも変え、メモリ容量の低減化と
マーク形状制御の高精度化の両立を図っている。
【０１１７】図２０は、図１５に示す駆動波形生成情報
保持部１１２の詳細な内部構成例を示す図である。各パ
ラメータを格納するメモリ１５２ａ〜１５２ｎはそれぞ
れ独立に動作し、ランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２
をそれぞれアドレス変換部（Ａｄｄｒ Ｃｏｎｖｅｒｔ
ｅｒ）１５０ａ〜１５０ｎによって変換し、セレクタ１
５１ａ〜１５１ｎを介してメモリ１５２ａ〜１５２ｎの
アドレス信号として供給する。出力バッファ１５３ａ〜
１５３ｎは、制御部１１８からリード要求のあったメモ
リに対応するリードデータの出力制御を行う。レジスタ
アクセス制御部１５４によって出力イネーブル信号を生
成し、各出力バッファに供給している。
保持部１１２の詳細な内部構成例を示す図である。各パ
ラメータを格納するメモリ１５２ａ〜１５２ｎはそれぞ
れ独立に動作し、ランレングス信号Ｌｅｎ０〜Ｌｅｎ２
をそれぞれアドレス変換部（Ａｄｄｒ Ｃｏｎｖｅｒｔ
ｅｒ）１５０ａ〜１５０ｎによって変換し、セレクタ１
５１ａ〜１５１ｎを介してメモリ１５２ａ〜１５２ｎの
アドレス信号として供給する。出力バッファ１５３ａ〜
１５３ｎは、制御部１１８からリード要求のあったメモ
リに対応するリードデータの出力制御を行う。レジスタ
アクセス制御部１５４によって出力イネーブル信号を生
成し、各出力バッファに供給している。
【０１１８】レジスタアクセス制御部（Ｒｅｇｉｓｔｅ
ｒ Ａｃｃｅｓｓ Ｃｏｎｔｒｏｌ）１５４は、図１５
の制御部１１８からのライト／リード要求に対して各メ
モリ１５２ａ〜１５２ｎへのアクセス制御を行う。セレ
クタ１５１ａ〜１５１ｎは、レジスタアクセス制御部１
５４から当該メモリへのアクセスがある場合、アドレス
変換部１５０ａ〜１５０ｎから供給されるアドレスとレ
ジスタアクセス制御部１５４から供給されるアドレスと
を切り換える。また、レジスタアクセス制御部１５４
は、記録動作中のメモリアクセス要求に対してスペース
期間中にメモリ１５２ａ〜１５２ｎへのアクセスをする
ようにしている。
ｒ Ａｃｃｅｓｓ Ｃｏｎｔｒｏｌ）１５４は、図１５
の制御部１１８からのライト／リード要求に対して各メ
モリ１５２ａ〜１５２ｎへのアクセス制御を行う。セレ
クタ１５１ａ〜１５１ｎは、レジスタアクセス制御部１
５４から当該メモリへのアクセスがある場合、アドレス
変換部１５０ａ〜１５０ｎから供給されるアドレスとレ
ジスタアクセス制御部１５４から供給されるアドレスと
を切り換える。また、レジスタアクセス制御部１５４
は、記録動作中のメモリアクセス要求に対してスペース
期間中にメモリ１５２ａ〜１５２ｎへのアクセスをする
ようにしている。
【０１１９】［タイミング信号生成部及び変調信号生成
部］タイミング信号生成部１１３は、駆動波形生成情報
（タイミング情報）から変調タイミング信号を生成す
る。その変調タイミング信号は、ｎ逓倍のクロック信号
ＰＣＫに同期したタイミングパルス信号と位相選択信号
とからなる。変調信号生成部１１４は、タイミング信号
生成部１１３の供給する変調タイミング信号からＬＤ変
調信号ＷＳＰを生成する。その生成の際はクロック信号
ＣＫ０〜ＣＫ７を基準とし、それらのクロック信号の位
相差に相当する時間がＬＤ変調信号ＷＳＰのパルス幅設
定分解能になる。
部］タイミング信号生成部１１３は、駆動波形生成情報
（タイミング情報）から変調タイミング信号を生成す
る。その変調タイミング信号は、ｎ逓倍のクロック信号
ＰＣＫに同期したタイミングパルス信号と位相選択信号
とからなる。変調信号生成部１１４は、タイミング信号
生成部１１３の供給する変調タイミング信号からＬＤ変
調信号ＷＳＰを生成する。その生成の際はクロック信号
ＣＫ０〜ＣＫ７を基準とし、それらのクロック信号の位
相差に相当する時間がＬＤ変調信号ＷＳＰのパルス幅設
定分解能になる。
【０１２０】図２１は、タイミング信号生成部１１３及
び変調信号生成部１１４の詳細な内部構成例を示す図で
ある。図２２及び図２３は、図２１に示したタイミング
信号生成部１１３及び変調信号生成部１１４の各部の出
力する信号の波形図である。図２４は、図２１に示すタ
イミング制御部１６０内の２つのシーケンサの動作を示
す説明図である。この図２１乃至図２４に基づいて、駆
動波形生成情報からタイミングパルス信号及び位相選択
信号の生成を経由してＬＤ変調信号ＷＳＰを生成する動
作概要を説明する。
び変調信号生成部１１４の詳細な内部構成例を示す図で
ある。図２２及び図２３は、図２１に示したタイミング
信号生成部１１３及び変調信号生成部１１４の各部の出
力する信号の波形図である。図２４は、図２１に示すタ
イミング制御部１６０内の２つのシーケンサの動作を示
す説明図である。この図２１乃至図２４に基づいて、駆
動波形生成情報からタイミングパルス信号及び位相選択
信号の生成を経由してＬＤ変調信号ＷＳＰを生成する動
作概要を説明する。
【０１２１】図２１に示すタイミング制御部（Ｔｉｍｉ
ｎｇ Ｃｔｒｌ）１６０は、図２３に示す２つのシーケ
ンサの動作に基づいて後述する各部の制御信号を生成す
る。また、遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａから所定時
間Δ（ＰＣＫ単位）を遅らせたＬＤ変調信号ＷＳＰのパ
ルス列の基準時刻を生成する。タイミング演算部１６１
は、タイミング制御部１６０から供給される演算指示信
号に基づいて駆動波形生成情報保持部１１２から供給さ
れるタイミング情報から次の変調タイミングまでのパル
ス幅設定ステップ数を算出する。
ｎｇ Ｃｔｒｌ）１６０は、図２３に示す２つのシーケ
ンサの動作に基づいて後述する各部の制御信号を生成す
る。また、遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａから所定時
間Δ（ＰＣＫ単位）を遅らせたＬＤ変調信号ＷＳＰのパ
ルス列の基準時刻を生成する。タイミング演算部１６１
は、タイミング制御部１６０から供給される演算指示信
号に基づいて駆動波形生成情報保持部１１２から供給さ
れるタイミング情報から次の変調タイミングまでのパル
ス幅設定ステップ数を算出する。
【０１２２】本実施形態では回路の高速動作実現のため
に立上り変調タイミングと立下り変調タイミングとを別
々に処理しており、次の立上り変調タイミングＮｅｘｔ
Ｔｉｍｉｎｇ１と次の立下り変調タイミングＮｅｘｔＴ
ｉｍｉｎｇ２をそれぞれ算出する。そして、その算出し
た次の立上り変調タイミングＮｅｘｔＴｉｍｉｎｇ１ま
でのステップ数は上位５ビットがカウンタ（Ｃｏｕｎｔ
ｅｒ）１６３ａに、下位３ビットが位相選択信号として
位相選択信号保持部（Ｒｅｇ）１６４ａに供給される
（ここではパルス幅設定ステップ数は８ビットとす
る）。同様にして、次の立下り変調タイミングＮｅｘｔ
Ｔｉｍｉｎｇ２までのステップ数は上位５ビットがカウ
ンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ）１６３ｂに、下位３ビットが位
相選択信号保持部（Ｒｅｇ）１６４ｂに供給される。
に立上り変調タイミングと立下り変調タイミングとを別
々に処理しており、次の立上り変調タイミングＮｅｘｔ
Ｔｉｍｉｎｇ１と次の立下り変調タイミングＮｅｘｔＴ
ｉｍｉｎｇ２をそれぞれ算出する。そして、その算出し
た次の立上り変調タイミングＮｅｘｔＴｉｍｉｎｇ１ま
でのステップ数は上位５ビットがカウンタ（Ｃｏｕｎｔ
ｅｒ）１６３ａに、下位３ビットが位相選択信号として
位相選択信号保持部（Ｒｅｇ）１６４ａに供給される
（ここではパルス幅設定ステップ数は８ビットとす
る）。同様にして、次の立下り変調タイミングＮｅｘｔ
Ｔｉｍｉｎｇ２までのステップ数は上位５ビットがカウ
ンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ）１６３ｂに、下位３ビットが位
相選択信号保持部（Ｒｅｇ）１６４ｂに供給される。
【０１２３】さらに同様にして、タイミング演算部１６
２は、図２２に示すＬＤ変調信号ＷＳＰのパルス（ｉ）
と（ｉｉ）の立上り／立下り変調タイミングをそれぞれ
算出し（それぞれ立上り変調タイミング信号ＮｅｘｔＴ
ｉｍｉｎｇ３と立下り変調タイミング信号ＮｅｘｔＴｉ
ｍｉｎｇ４）、それぞれカウンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ）１
６３ｃと１６３ｄ及び位相選択信号保持部（Ｒｅｇ）１
６４ｃと１６４ｄに供給する。また、タイミング制御部
１６０は、遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａから（ｎ−
３）チャネルクロック（ｎは遅延記録データ信号ｄＷｄ
ａｔａのマーク長）と所定時間Δを遅らせた第２基準時
刻を生成する。変調タイミング信号ＮｅｘｔＴｉｍｉｎ
ｇ３及びＮｅｘｔＴｉｍｉｎｇ４は第２基準時刻を基準
にして生成する。
２は、図２２に示すＬＤ変調信号ＷＳＰのパルス（ｉ）
と（ｉｉ）の立上り／立下り変調タイミングをそれぞれ
算出し（それぞれ立上り変調タイミング信号ＮｅｘｔＴ
ｉｍｉｎｇ３と立下り変調タイミング信号ＮｅｘｔＴｉ
ｍｉｎｇ４）、それぞれカウンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ）１
６３ｃと１６３ｄ及び位相選択信号保持部（Ｒｅｇ）１
６４ｃと１６４ｄに供給する。また、タイミング制御部
１６０は、遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａから（ｎ−
３）チャネルクロック（ｎは遅延記録データ信号ｄＷｄ
ａｔａのマーク長）と所定時間Δを遅らせた第２基準時
刻を生成する。変調タイミング信号ＮｅｘｔＴｉｍｉｎ
ｇ３及びＮｅｘｔＴｉｍｉｎｇ４は第２基準時刻を基準
にして生成する。
【０１２４】カウンタ１６３ａ〜１６３ｄは、クロック
信号ＰＣＫによって次の変調タイミングまでの時間を計
数するものであり、タイミング制御部１６０から供給さ
れるロード信号ｌｏａｄ１又はｌｏａｄ２に従ってタイ
ミング演算部１６１と１６２の算出する次の変調タイミ
ングまでのステップ数を取り込み、クロック信号ＰＣＫ
によってダウンカウントする。そして、カウント値がゼ
ロになった時点でそれぞれセットパルス信号（Ｆｓｅ
ｔ，Ｒｓｅｔ）／リセットパルス信号（Ｆｒｓｔ，Ｒｒ
ｓｔ）（これらを「タイミングパルス信号」と総称す
る）を出力する。位相選択信号保持部１６４ａ〜１６４
ｄは、それぞれ位相選択信号ｃｋｐｈ１〜ｃｋｐｈ４を
保持して次段へ供給する。その保持タイミングはタイミ
ング制御部１６０から供給される信号に基づいて決定す
る（図示を省略）。
信号ＰＣＫによって次の変調タイミングまでの時間を計
数するものであり、タイミング制御部１６０から供給さ
れるロード信号ｌｏａｄ１又はｌｏａｄ２に従ってタイ
ミング演算部１６１と１６２の算出する次の変調タイミ
ングまでのステップ数を取り込み、クロック信号ＰＣＫ
によってダウンカウントする。そして、カウント値がゼ
ロになった時点でそれぞれセットパルス信号（Ｆｓｅ
ｔ，Ｒｓｅｔ）／リセットパルス信号（Ｆｒｓｔ，Ｒｒ
ｓｔ）（これらを「タイミングパルス信号」と総称す
る）を出力する。位相選択信号保持部１６４ａ〜１６４
ｄは、それぞれ位相選択信号ｃｋｐｈ１〜ｃｋｐｈ４を
保持して次段へ供給する。その保持タイミングはタイミ
ング制御部１６０から供給される信号に基づいて決定す
る（図示を省略）。
【０１２５】タイミングパルス信号制御部１６５は、カ
ウンタ１６３ａ〜１６３ｄからそれぞれ供給されるタイ
ミングパルス信号Ｆｓｅｔ，Ｒｓｅｔ，Ｆｒｓｔ，Ｒｒ
ｓｔからフリップフロップ１６７ａ〜１６７ｄのそれぞ
れに対するセット／リセット信号を生成する。また、位
相選択信号保持部１６４ａ〜１６４ｄからそれぞれ供給
される位相選択信号ｃｋｐｈ１〜ｃｋｐｈ４をそれぞれ
クロックセレクタ１６６ａ〜１６６ｄに供給する。フリ
ップフロップ１６７ａは、セットパルス信号Ｆｓｅｔ
（又はＲｓｅｔ）に従って出力信号ｑ＿Ａをハイ（Ｈ）
にする。その時に立上り変調タイミング信号は位相選択
信号ｃｋｐｈＡに従ってクロックセレクタ１６６ａによ
って選択されたクロック信号（ＣＫ０〜ＣＫ７の何れ
か）で決まる。例えば、図２３は図２２の（Ｐ）の部分
の拡大図であるが、図２３に示すように、ＣＫ２が選択
されている。
ウンタ１６３ａ〜１６３ｄからそれぞれ供給されるタイ
ミングパルス信号Ｆｓｅｔ，Ｒｓｅｔ，Ｆｒｓｔ，Ｒｒ
ｓｔからフリップフロップ１６７ａ〜１６７ｄのそれぞ
れに対するセット／リセット信号を生成する。また、位
相選択信号保持部１６４ａ〜１６４ｄからそれぞれ供給
される位相選択信号ｃｋｐｈ１〜ｃｋｐｈ４をそれぞれ
クロックセレクタ１６６ａ〜１６６ｄに供給する。フリ
ップフロップ１６７ａは、セットパルス信号Ｆｓｅｔ
（又はＲｓｅｔ）に従って出力信号ｑ＿Ａをハイ（Ｈ）
にする。その時に立上り変調タイミング信号は位相選択
信号ｃｋｐｈＡに従ってクロックセレクタ１６６ａによ
って選択されたクロック信号（ＣＫ０〜ＣＫ７の何れ
か）で決まる。例えば、図２３は図２２の（Ｐ）の部分
の拡大図であるが、図２３に示すように、ＣＫ２が選択
されている。
【０１２６】一方、フリップフロップ１６７ｂは、リセ
ットパルス信号Ｆｒｓｔ（又はＲｒｓｔ）に従って出力
信号ｑ＿Ｂをロー（Ｌ）にする。その時に立下り変調タ
イミング信号は位相選択信号ｃｋｐｈＢに従ってクロッ
クセレクタ１６６ｂによって選択されたクロック信号
（ＣＫ０〜ＣＫ７の何れか）で決まる。そして、出力信
号ｑ＿Ａとｑ＿Ｂの論理積をとってＬＤ変調信号ＷＳＰ
を生成する。
ットパルス信号Ｆｒｓｔ（又はＲｒｓｔ）に従って出力
信号ｑ＿Ｂをロー（Ｌ）にする。その時に立下り変調タ
イミング信号は位相選択信号ｃｋｐｈＢに従ってクロッ
クセレクタ１６６ｂによって選択されたクロック信号
（ＣＫ０〜ＣＫ７の何れか）で決まる。そして、出力信
号ｑ＿Ａとｑ＿Ｂの論理積をとってＬＤ変調信号ＷＳＰ
を生成する。
【０１２７】なお、フリップフロップ１６７ａのリセッ
トパルス信号Ｒｓｔ＿Ａと、フリップフロップ１６７ｂ
のセットパルス信号Ｓｅｔ＿Ｂは、それぞれセットパル
ス信号Ｆｓｅｔ（又はＲｓｅｔ）及びリセットパルス信
号Ｆｒｓｔ（又はＲｒｓｔ）に応じて生成する。同様に
して、フリップフロップ１６７ｃと１６７ｄ及びクロッ
クセレクタ１６６ｃと１６６ｄでもＬＤ変調信号ＷＳＰ
を生成し、高速回路動作実現のために、図２１中の一点
鎖線枠で示す（Ｉ）と（ＩＩ）の部分が交互に動作し、
最終的にその論理和をとってＬＤ変調信号ＷＳＰを生成
する。タイミングパルス信号制御部１６５は、その交互
動作をさせるためにタイミングパルス信号Ｆｓｅｔ，Ｒ
ｓｅｔ，Ｆｒｓｔ，Ｒｒｓｔ及び位相選択信号ｃｋｐｈ
１〜ｃｋｐｈ４の振り分け機能も果たす。論理回路１６
８は、上述した出力信号ｑ＿Ａとｑ＿Ｂの論理積及び出
力信号ｑ＿Ｃとｑ＿Ｄの論理積をとり、そしてそれらの
論理積出力値の論理和をとってＬＤ変調信号ＷＳＰを生
成するものである。
トパルス信号Ｒｓｔ＿Ａと、フリップフロップ１６７ｂ
のセットパルス信号Ｓｅｔ＿Ｂは、それぞれセットパル
ス信号Ｆｓｅｔ（又はＲｓｅｔ）及びリセットパルス信
号Ｆｒｓｔ（又はＲｒｓｔ）に応じて生成する。同様に
して、フリップフロップ１６７ｃと１６７ｄ及びクロッ
クセレクタ１６６ｃと１６６ｄでもＬＤ変調信号ＷＳＰ
を生成し、高速回路動作実現のために、図２１中の一点
鎖線枠で示す（Ｉ）と（ＩＩ）の部分が交互に動作し、
最終的にその論理和をとってＬＤ変調信号ＷＳＰを生成
する。タイミングパルス信号制御部１６５は、その交互
動作をさせるためにタイミングパルス信号Ｆｓｅｔ，Ｒ
ｓｅｔ，Ｆｒｓｔ，Ｒｒｓｔ及び位相選択信号ｃｋｐｈ
１〜ｃｋｐｈ４の振り分け機能も果たす。論理回路１６
８は、上述した出力信号ｑ＿Ａとｑ＿Ｂの論理積及び出
力信号ｑ＿Ｃとｑ＿Ｄの論理積をとり、そしてそれらの
論理積出力値の論理和をとってＬＤ変調信号ＷＳＰを生
成するものである。
【０１２８】図２４は、図２１に示すタイミング制御部
１６０内に設けた２つのシーケンサの状態遷移図であ
り、（ａ）シーケンサ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ）１及び
（ｂ）シーケンサ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ）２の二つのシ
ーケンサによって各部の制御を行う。次に、そのシーケ
ンサ１と２の遷移条件を説明する。また、図２２及び図
２３に状態遷移の一例を示す。
１６０内に設けた２つのシーケンサの状態遷移図であ
り、（ａ）シーケンサ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ）１及び
（ｂ）シーケンサ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ）２の二つのシ
ーケンサによって各部の制御を行う。次に、そのシーケ
ンサ１と２の遷移条件を説明する。また、図２２及び図
２３に状態遷移の一例を示す。
【０１２９】（ａ）シーケンサ１
状態Ｉｄｌｅ：初期状態。遅延記録データ信号ｄＷｄａ
ｔａの立上りによって状態ＳＰに遷移する。それまでは
ここに滞留する。 状態ＳＰ：基準時刻に発行されるｌｏａｄ１信号によっ
て次の状態に遷移し、その他はここに滞留する。その
時、駆動波形生成情報（ＴＳＭＳ及びＴＭＳ）によって
遷移先が異なる。つまり、ＴＳＭＳ≒０の時は状態ＳＭ
Ｐへ、ＴＳＭＳ＝０かつＴＭＳ≒０の時は状態ＭＰへ、
それ以外の時（ＴＳＭＳ＝０かつＴＭＳ＝０）は状態Ｌ
Ｐへそれぞれ遷移する。 状態ＳＭＰ：リセットパルス信号Ｆｒｓｔと同時に発行
されるｌｏａｄ１信号によって次の状態に遷移し、その
他はここに滞留する。その時、駆動波形生成情報（ＴＭ
Ｓ）によって遷移先が異なる。つまり、ＴＭＳ≒０の時
は状態ＭＰへ、ＴＭＳ＝０の時は状態ＬＰへそれぞれ遷
移する。
ｔａの立上りによって状態ＳＰに遷移する。それまでは
ここに滞留する。 状態ＳＰ：基準時刻に発行されるｌｏａｄ１信号によっ
て次の状態に遷移し、その他はここに滞留する。その
時、駆動波形生成情報（ＴＳＭＳ及びＴＭＳ）によって
遷移先が異なる。つまり、ＴＳＭＳ≒０の時は状態ＳＭ
Ｐへ、ＴＳＭＳ＝０かつＴＭＳ≒０の時は状態ＭＰへ、
それ以外の時（ＴＳＭＳ＝０かつＴＭＳ＝０）は状態Ｌ
Ｐへそれぞれ遷移する。 状態ＳＭＰ：リセットパルス信号Ｆｒｓｔと同時に発行
されるｌｏａｄ１信号によって次の状態に遷移し、その
他はここに滞留する。その時、駆動波形生成情報（ＴＭ
Ｓ）によって遷移先が異なる。つまり、ＴＭＳ≒０の時
は状態ＭＰへ、ＴＭＳ＝０の時は状態ＬＰへそれぞれ遷
移する。
【０１３０】状態ＭＰ：リセットパルス信号Ｆｒｓｔと
同時に発行されるｌｏａｄ１信号によって状態ＬＰに遷
移する。但し、ＮＭＰによって指定されるＭＰ繰返し回
数はここに滞留する。図２２はＮＭＰ＝２の場合を示
す。 状態ＬＰ：リセットパルス信号Ｆｒｓｔによって状態Ｗ
ａｉｔに遷移する。 状態Ｗａｉｔ：シーケンサ２によって各部制御が行われ
ている時の待機状態。シーケンサ２の初期状態への遷移
後、状態Ｉｄｌｅに遷移する。
同時に発行されるｌｏａｄ１信号によって状態ＬＰに遷
移する。但し、ＮＭＰによって指定されるＭＰ繰返し回
数はここに滞留する。図２２はＮＭＰ＝２の場合を示
す。 状態ＬＰ：リセットパルス信号Ｆｒｓｔによって状態Ｗ
ａｉｔに遷移する。 状態Ｗａｉｔ：シーケンサ２によって各部制御が行われ
ている時の待機状態。シーケンサ２の初期状態への遷移
後、状態Ｉｄｌｅに遷移する。
【０１３１】（ｂ）シーケンサ２
状態Ｉｄｌｅ：初期状態。遅延記録データ信号ｄＷｄａ
ｔａの立上りによって次の状態に遷移する。遅延記録デ
ータ信号ｄＷｄａｔａの立上りから（ｎ−３）Ｔ（ｎ：
マーク長，Ｔ：チャネルクロック周期）の間はウエイト
信号が出されており、その場合は状態Ｗａｉｔに遷移す
る。一方、ｎ＝３でウエイト信号が出されていない時は
状態ＬＭＰに遷移する。 状態Ｗａｉｔ：ウエイト信号が出されている間はここに
滞留する。ウエイト解除によって状態ＬＭＰに遷移す
る。 状態ＬＭＰ：（ウエイト解除所定時間Δ後に発行され
る）ｌｏａｄ２信号によって状態ＥＰに遷移する。 状態ＥＰ：リセットパルス信号Ｒｒｓｔと同時に発行さ
れるｌｏａｄ２信号によって状態Ｅｎｄに遷移する。 状態Ｅｎｄ：リセットパルス信号Ｒｒｓｔによって状態
Ｉｄｌｅに遷移する。
ｔａの立上りによって次の状態に遷移する。遅延記録デ
ータ信号ｄＷｄａｔａの立上りから（ｎ−３）Ｔ（ｎ：
マーク長，Ｔ：チャネルクロック周期）の間はウエイト
信号が出されており、その場合は状態Ｗａｉｔに遷移す
る。一方、ｎ＝３でウエイト信号が出されていない時は
状態ＬＭＰに遷移する。 状態Ｗａｉｔ：ウエイト信号が出されている間はここに
滞留する。ウエイト解除によって状態ＬＭＰに遷移す
る。 状態ＬＭＰ：（ウエイト解除所定時間Δ後に発行され
る）ｌｏａｄ２信号によって状態ＥＰに遷移する。 状態ＥＰ：リセットパルス信号Ｒｒｓｔと同時に発行さ
れるｌｏａｄ２信号によって状態Ｅｎｄに遷移する。 状態Ｅｎｄ：リセットパルス信号Ｒｒｓｔによって状態
Ｉｄｌｅに遷移する。
【０１３２】次に、タイミング演算部１６１と１６２に
おいて算出するそれぞれのシーケンサの各状態毎のタイ
ミング算出式を示す。 ｛タイミング演算部１６１｝ NextTiming1 =TSS @Idle or SP TSMS + ckph2 @SMP TMS + ckph2 @MP NextTiming2 =TSS + TSP @Idle or SP TSMS + TSMP + ckph2 @SMP TMS + TMP + ckph2 @MP ｛タイミング演算部１６２｝ NextTiming3 =TLMP @Idle or Wait or LMP TES + ckph4 @EP NextTiming4 =TEMP @Idle or Wait or LMP TES + TEP + ckph4 @EP
おいて算出するそれぞれのシーケンサの各状態毎のタイ
ミング算出式を示す。 ｛タイミング演算部１６１｝ NextTiming1 =TSS @Idle or SP TSMS + ckph2 @SMP TMS + ckph2 @MP NextTiming2 =TSS + TSP @Idle or SP TSMS + TSMP + ckph2 @SMP TMS + TMP + ckph2 @MP ｛タイミング演算部１６２｝ NextTiming3 =TLMP @Idle or Wait or LMP TES + ckph4 @EP NextTiming4 =TEMP @Idle or Wait or LMP TES + TEP + ckph4 @EP
【０１３３】図２５は、図２１に示すタイミングパルス
信号制御部１６５における信号削除処理の説明に供する
波形図である。また、セットパルス信号Ｆｓｅｔ，リセ
ットパルス信号Ｆｒｓｔの生成とセットパルス信号Ｒｓ
ｅｔ，リセットパルス信号Ｒｒｓｔの生成とは独立に行
われているので、図２５に示すように、セットパルス信
号Ｆｓｅｔとリセットパルス信号Ｆｒｓｔとで生成され
るパルス信号ＷＳＰ＿Ｆと、セットパルス信号Ｒｓｅｔ
とリセットパルス信号Ｒｒｓｔとで生成されるパルス信
号ＷＳＰ＿Ｒとが重なる場合がある。その場合は、タイ
ミングパルス信号制御部１６５においてリセットパルス
信号Ｆｒｓｔ及びセットパルス信号Ｒｓｅｔの削除（そ
の削除箇所を図２５に丸く囲んで示す）を行い、セット
パルス信号Ｆｓｅｔとリセットパルス信号Ｒｒｓｔとで
ＬＤ変調信号ＷＳＰが生成されるように次段への信号供
給を行う。
信号制御部１６５における信号削除処理の説明に供する
波形図である。また、セットパルス信号Ｆｓｅｔ，リセ
ットパルス信号Ｆｒｓｔの生成とセットパルス信号Ｒｓ
ｅｔ，リセットパルス信号Ｒｒｓｔの生成とは独立に行
われているので、図２５に示すように、セットパルス信
号Ｆｓｅｔとリセットパルス信号Ｆｒｓｔとで生成され
るパルス信号ＷＳＰ＿Ｆと、セットパルス信号Ｒｓｅｔ
とリセットパルス信号Ｒｒｓｔとで生成されるパルス信
号ＷＳＰ＿Ｒとが重なる場合がある。その場合は、タイ
ミングパルス信号制御部１６５においてリセットパルス
信号Ｆｒｓｔ及びセットパルス信号Ｒｓｅｔの削除（そ
の削除箇所を図２５に丸く囲んで示す）を行い、セット
パルス信号Ｆｓｅｔとリセットパルス信号Ｒｒｓｔとで
ＬＤ変調信号ＷＳＰが生成されるように次段への信号供
給を行う。
【０１３４】上述した実施形態では説明を簡単にするた
めに各回路の遅延を無視して説明しているが、実際の回
路は各信号線にクロック信号ＰＣＫによる保持回路を挿
入するので数ＰＣＫクロック分の遅延を生じる。したが
って、出力されるＬＤ変調信号ＷＳＰ、つまりは光波形
は基準時刻から数ＰＣＫクロック分（Δ′とする）遅延
し、記録チャネルクロック信号ＣＫｃｈに同期した遅延
記録データ信号ｄＷｄａｔａからは計Δ＋Δ′だけ遅延
する。ところで、前述したようにクロック信号ＰＣＫの
記録チャネルクロック信号に対する逓倍数は設定可能な
ので、追記や書換えの際にこの逓倍数を変更したとする
と、記録チャネルクロック信号に対する記録マークはず
れてしまう。そのような場合には、基準時刻を生成する
遅延量ΔをＰＣＫ逓倍数に応じて設定するようにすれば
よい。例えば、回路遅延Δ′＝３ＰＣＫ，Δ＋Δ′＝２
ＣＫｃｈとすると、逓倍数が２（１ＣＫｃｈ＝２ＰＣ
Ｋ）のときはΔ＝１ＰＣＫにし、逓倍数が４のときはΔ
＝５ＰＣＫにすればよい。
めに各回路の遅延を無視して説明しているが、実際の回
路は各信号線にクロック信号ＰＣＫによる保持回路を挿
入するので数ＰＣＫクロック分の遅延を生じる。したが
って、出力されるＬＤ変調信号ＷＳＰ、つまりは光波形
は基準時刻から数ＰＣＫクロック分（Δ′とする）遅延
し、記録チャネルクロック信号ＣＫｃｈに同期した遅延
記録データ信号ｄＷｄａｔａからは計Δ＋Δ′だけ遅延
する。ところで、前述したようにクロック信号ＰＣＫの
記録チャネルクロック信号に対する逓倍数は設定可能な
ので、追記や書換えの際にこの逓倍数を変更したとする
と、記録チャネルクロック信号に対する記録マークはず
れてしまう。そのような場合には、基準時刻を生成する
遅延量ΔをＰＣＫ逓倍数に応じて設定するようにすれば
よい。例えば、回路遅延Δ′＝３ＰＣＫ，Δ＋Δ′＝２
ＣＫｃｈとすると、逓倍数が２（１ＣＫｃｈ＝２ＰＣ
Ｋ）のときはΔ＝１ＰＣＫにし、逓倍数が４のときはΔ
＝５ＰＣＫにすればよい。
【０１３５】また、タイミング信号生成部１１３は、ス
テート信号ＳＴＥＮの生成のための変調タイミング信号
を生成するＳＴＥＮタイミングパルス生成部１７０も備
える。さらには、図３に示したバイアス電流制御部２
７，微分量子効率制御部２８によって駆動する光源（Ｌ
Ｄ）の照射光量の制御を行う場合には、各種サンプル信
号（ＡｐｃＳｍｐ信号，ＥｔａＳｍｐ信号）生成のため
にＬＤ変調信号ＷＳＰにサンプリングタイミングを示す
パルスを挿入する。例えば、図４や図１０に示した信号
波形図では、ｔ１１〜ｔ１２，ｔ１３〜ｔ１４，ｔ１５
〜ｔ１６などに挿入したパルスが相当する。
テート信号ＳＴＥＮの生成のための変調タイミング信号
を生成するＳＴＥＮタイミングパルス生成部１７０も備
える。さらには、図３に示したバイアス電流制御部２
７，微分量子効率制御部２８によって駆動する光源（Ｌ
Ｄ）の照射光量の制御を行う場合には、各種サンプル信
号（ＡｐｃＳｍｐ信号，ＥｔａＳｍｐ信号）生成のため
にＬＤ変調信号ＷＳＰにサンプリングタイミングを示す
パルスを挿入する。例えば、図４や図１０に示した信号
波形図では、ｔ１１〜ｔ１２，ｔ１３〜ｔ１４，ｔ１５
〜ｔ１６などに挿入したパルスが相当する。
【０１３６】ＡＰＣタイミングパルス生成部１７１は、
そのための変調タイミング信号を生成するものであり、
その生成した変調タイミング信号をタイミングパルス信
号制御部１６５に供給し、前述と同様にしてＬＤ変調信
号ＷＳＰを生成する。なお、これらの変調タイミング信
号の生成はタイミング制御部１６０からの制御信号によ
って行う。このようにして、ＬＤ変調信号ＷＳＰにサン
プリングタイミングを示すパルスを挿入することによ
り、信号線を追加することなくサンプリングタイミング
を指示できるので、ＦＰＣ基板上を伝送する信号供給線
を低減することができる。
そのための変調タイミング信号を生成するものであり、
その生成した変調タイミング信号をタイミングパルス信
号制御部１６５に供給し、前述と同様にしてＬＤ変調信
号ＷＳＰを生成する。なお、これらの変調タイミング信
号の生成はタイミング制御部１６０からの制御信号によ
って行う。このようにして、ＬＤ変調信号ＷＳＰにサン
プリングタイミングを示すパルスを挿入することによ
り、信号線を追加することなくサンプリングタイミング
を指示できるので、ＦＰＣ基板上を伝送する信号供給線
を低減することができる。
【０１３７】図２６は、図２１に示すＳＴＥＮタイミン
グパルス生成部１７０によるＳＴＥＮタイミングパルス
信号及びＡＰＣタイミングパルス生成部１７１によるＡ
ＰＣタイミングパルス信号の生成例の説明に供する波形
図である。 ［ＡＰＣタイミングパルス生成部］タイミング制御部１
６０は、二つ目のリセットパルス信号Ｒｒｓｔと同時に
ＡＰＣカウントスタート信号を出力する。ＡＰＣタイミ
ングパルス生成部１７１では、そのＡＰＣカウントスタ
ート信号を受け、内部のカウンタによって所定値ＡＰＣ
Ｓ（ＰＣＫ単位）のカウントを行い、そのカウント後に
ＡＰＣＳｅｔパルス信号を出力する。
グパルス生成部１７０によるＳＴＥＮタイミングパルス
信号及びＡＰＣタイミングパルス生成部１７１によるＡ
ＰＣタイミングパルス信号の生成例の説明に供する波形
図である。 ［ＡＰＣタイミングパルス生成部］タイミング制御部１
６０は、二つ目のリセットパルス信号Ｒｒｓｔと同時に
ＡＰＣカウントスタート信号を出力する。ＡＰＣタイミ
ングパルス生成部１７１では、そのＡＰＣカウントスタ
ート信号を受け、内部のカウンタによって所定値ＡＰＣ
Ｓ（ＰＣＫ単位）のカウントを行い、そのカウント後に
ＡＰＣＳｅｔパルス信号を出力する。
【０１３８】また、ＡＰＣＲｓｔパルス信号はＡＰＣＳ
ｅｔパルス信号よりも所定値（例えば、１ＰＣＫ）後に
出力する。さらに、η検出時にはＥｔａＤｅｔＯｎ信号
がハイ（Ｈ）になって供給されて、上記カウンタによっ
て続けて所定値ＥｔａＳとＥｔａＣをカウントし、それ
ぞれＡＰＣＳｅｔパルス信号を出力する。ＡＰＣＲｓｔ
パルス信号は、上述と同様にしてＡＰＣＳｅｔパルス信
号よりも所定値（例えば、１ＰＣＫ）後に出力する。
ｅｔパルス信号よりも所定値（例えば、１ＰＣＫ）後に
出力する。さらに、η検出時にはＥｔａＤｅｔＯｎ信号
がハイ（Ｈ）になって供給されて、上記カウンタによっ
て続けて所定値ＥｔａＳとＥｔａＣをカウントし、それ
ぞれＡＰＣＳｅｔパルス信号を出力する。ＡＰＣＲｓｔ
パルス信号は、上述と同様にしてＡＰＣＳｅｔパルス信
号よりも所定値（例えば、１ＰＣＫ）後に出力する。
【０１３９】なお、ＥｔａＤｅｔＯｎ信号は、図２のコ
ントローラ１９から所定の間隔で出されるη検出指示が
あり、かつスペース長が所定値ＥｔａＬｅｎ以上ある場
合にハイ（Ｈ）になり、タイミングパルス信号生成処理
後に自動的にη検出指示をクリアする。一方、ＥｔａＤ
ｅｔＯｎ信号がロー（Ｌ）である場合は、図２６中に丸
く囲んだ枠（Ｄ）内のＡＰＣＳｅｔパルス信号，ＡＰＣ
Ｒｓｔパルス信号は生成されず、ＬＤ変調信号ＷＳＰに
は同図中の（Ｂ）（Ｃ）のパルスは出現しない。
ントローラ１９から所定の間隔で出されるη検出指示が
あり、かつスペース長が所定値ＥｔａＬｅｎ以上ある場
合にハイ（Ｈ）になり、タイミングパルス信号生成処理
後に自動的にη検出指示をクリアする。一方、ＥｔａＤ
ｅｔＯｎ信号がロー（Ｌ）である場合は、図２６中に丸
く囲んだ枠（Ｄ）内のＡＰＣＳｅｔパルス信号，ＡＰＣ
Ｒｓｔパルス信号は生成されず、ＬＤ変調信号ＷＳＰに
は同図中の（Ｂ）（Ｃ）のパルスは出現しない。
【０１４０】［ＳＴＥＮタイミングパルス生成部］前述
したように、本実施形態ではステート信号ＳＴＥＮの立
下り変調タイミングを変えることによって光波形を変更
することができる。図４に示した波形をＬＰモード、図
１０に示した波形をＥＰモードと呼び、それぞれのモー
ドにおける（それぞれＬＰ／ＥＰＭｏｄｅによって指示
する）ＳＴＥＮタイミングパルス信号の生成について説
明する。図２６に示すように、ＳＴＥＮＲｓｔパルス信
号はＥＰモードの時はＳｅｑ．２＝ＥＰかつＲｓｅｔパ
ルスと同時に出力し（図２６中の（ア））、ＬＰモード
の時はＳｅｑ．１＝ＬＰかつＦｓｅｔパルスと同時に出
力する（図２６中の矢印付き破線（イ））。また、ＳＴ
ＥＮＳｅｔパルス信号の出力タイミングはＥｔａＤｅｔ
Ｏｎ信号によって変わり、それぞれ図２６に示すタイミ
ングで出力する。さらに、同様にしてサンプリングタイ
ミングだけでなく、コマンド指示なども信号線を追加す
ることなく転送することができる。
したように、本実施形態ではステート信号ＳＴＥＮの立
下り変調タイミングを変えることによって光波形を変更
することができる。図４に示した波形をＬＰモード、図
１０に示した波形をＥＰモードと呼び、それぞれのモー
ドにおける（それぞれＬＰ／ＥＰＭｏｄｅによって指示
する）ＳＴＥＮタイミングパルス信号の生成について説
明する。図２６に示すように、ＳＴＥＮＲｓｔパルス信
号はＥＰモードの時はＳｅｑ．２＝ＥＰかつＲｓｅｔパ
ルスと同時に出力し（図２６中の（ア））、ＬＰモード
の時はＳｅｑ．１＝ＬＰかつＦｓｅｔパルスと同時に出
力する（図２６中の矢印付き破線（イ））。また、ＳＴ
ＥＮＳｅｔパルス信号の出力タイミングはＥｔａＤｅｔ
Ｏｎ信号によって変わり、それぞれ図２６に示すタイミ
ングで出力する。さらに、同様にしてサンプリングタイ
ミングだけでなく、コマンド指示なども信号線を追加す
ることなく転送することができる。
【０１４１】［ステート信号生成部］図１５に示すステ
ート信号生成部１１５は、タイミング信号生成部１１３
において駆動波形生成情報（タイミング情報）から生成
した変調タイミング信号であるＳＴＥＮタイミングパル
ス信号からステート信号ＳＴＥＮを生成する。ステート
信号生成部１１５の内部構成は、図２１の一点鎖線枠
（Ｉ）内と同様に構成すればよく、ステート信号ＳＴＥ
Ｎの生成はＬＤ変調信号ＷＳＰほど高速ではないので交
互動作をさせる必要はない。また、ステート信号ＳＴＥ
Ｎのエッジ位置精度もＬＤ変調信号ＷＳＰほど必要がな
いので、位相選択信号も３ビット全て使用する必要はな
く、クロック信号ＣＫ０〜ＣＫ７のうちの何れか一つに
固定してもよいし、位相選択信号のビットを減らしても
よい。
ート信号生成部１１５は、タイミング信号生成部１１３
において駆動波形生成情報（タイミング情報）から生成
した変調タイミング信号であるＳＴＥＮタイミングパル
ス信号からステート信号ＳＴＥＮを生成する。ステート
信号生成部１１５の内部構成は、図２１の一点鎖線枠
（Ｉ）内と同様に構成すればよく、ステート信号ＳＴＥ
Ｎの生成はＬＤ変調信号ＷＳＰほど高速ではないので交
互動作をさせる必要はない。また、ステート信号ＳＴＥ
Ｎのエッジ位置精度もＬＤ変調信号ＷＳＰほど必要がな
いので、位相選択信号も３ビット全て使用する必要はな
く、クロック信号ＣＫ０〜ＣＫ７のうちの何れか一つに
固定してもよいし、位相選択信号のビットを減らしても
よい。
【０１４２】［ステートコマンド生成部］ステートコマ
ンド生成部１１６は、駆動波形生成情報（コマンド情
報）からコマンド信号ＳＴＣＭＤを生成する。コマンド
信号ＳＴＣＭＤは、前述したようにコマンドデコーダ２
２においてステート信号ＳＴＥＮの両エッジで取り込ま
れる。したがって、コマンド信号ＳＴＣＭＤのデータ変
更タイミングは、ステート信号ＳＴＥＮのエッジ前後で
十分取り込み時間が確保されていればよい。ここでは、
基準時刻とＡＰＣカウントスタート時間を切換えタイミ
ングとし、供給されるコマンド情報を順次ＬＤ駆動集積
回路（ＬＤドライバ）１に供給する。
ンド生成部１１６は、駆動波形生成情報（コマンド情
報）からコマンド信号ＳＴＣＭＤを生成する。コマンド
信号ＳＴＣＭＤは、前述したようにコマンドデコーダ２
２においてステート信号ＳＴＥＮの両エッジで取り込ま
れる。したがって、コマンド信号ＳＴＣＭＤのデータ変
更タイミングは、ステート信号ＳＴＥＮのエッジ前後で
十分取り込み時間が確保されていればよい。ここでは、
基準時刻とＡＰＣカウントスタート時間を切換えタイミ
ングとし、供給されるコマンド情報を順次ＬＤ駆動集積
回路（ＬＤドライバ）１に供給する。
【０１４３】［サンプル信号生成部］サンプル信号生成
部１１７は、記録データ信号Ｗｄａｔａからサンプルホ
ールド方式のＡＰＣ制御用サンプル信号を生成する。光
源の発光波形は記録データ信号Ｗｄａｔａに対してラン
レングス検出部１１１での遅延分遅れるので、発光波形
に合わせてサンプル信号を生成する。但し、前述の通
り、ここで生成するサンプル信号は図３に示した構成で
ＡＰＣ制御を行う場合は用いない。
部１１７は、記録データ信号Ｗｄａｔａからサンプルホ
ールド方式のＡＰＣ制御用サンプル信号を生成する。光
源の発光波形は記録データ信号Ｗｄａｔａに対してラン
レングス検出部１１１での遅延分遅れるので、発光波形
に合わせてサンプル信号を生成する。但し、前述の通
り、ここで生成するサンプル信号は図３に示した構成で
ＡＰＣ制御を行う場合は用いない。
【０１４４】［エラー検出部及びエラー処理部］何らか
のアクシデントによって駆動波形生成情報に不正なデー
タが記憶された場合、あるいは駆動波形生成情報の組み
合わせによって不正になる場合、ＬＤ変調信号ＷＳＰ及
びステート信号ＳＴＥＮは所望のタイミングでパルス信
号を発生できなくなり、これらを受けてＬＤの駆動を行
うＬＤ駆動集積回路１では所望の光波形を得られず、誤
った情報が記録されてしまう恐れがある。また、次以降
のマークまでエラーが伝播してしまったり、高パワーで
の発光が続いてＬＤの破壊に至ってしまう恐れもある。
のアクシデントによって駆動波形生成情報に不正なデー
タが記憶された場合、あるいは駆動波形生成情報の組み
合わせによって不正になる場合、ＬＤ変調信号ＷＳＰ及
びステート信号ＳＴＥＮは所望のタイミングでパルス信
号を発生できなくなり、これらを受けてＬＤの駆動を行
うＬＤ駆動集積回路１では所望の光波形を得られず、誤
った情報が記録されてしまう恐れがある。また、次以降
のマークまでエラーが伝播してしまったり、高パワーで
の発光が続いてＬＤの破壊に至ってしまう恐れもある。
【０１４５】図２７は、ＬＤ変調信号生成部１０にエラ
ー検出手段とエラー処理手段を付加した実施形態の構成
例を示すブロック図である。エラー検出部１８０は、タ
イミング信号生成部１１３内のタイミング制御部１６０
のシーケンサの状態と遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ
とからエラーの発生を検知する。例えば、記録データ信
号ｄＷｄａｔａがスペースとなって所定時間たってもシ
ーケンサＳｅｑ１とＳｅｑ２が状態Ｉｄｌｅに戻らない
場合、エラーとしてエラー発生信号を出力する。また、
駆動波形生成情報（タイミング情報）から演算してエラ
ーの判別をしてもよい。
ー検出手段とエラー処理手段を付加した実施形態の構成
例を示すブロック図である。エラー検出部１８０は、タ
イミング信号生成部１１３内のタイミング制御部１６０
のシーケンサの状態と遅延記録データ信号ｄＷｄａｔａ
とからエラーの発生を検知する。例えば、記録データ信
号ｄＷｄａｔａがスペースとなって所定時間たってもシ
ーケンサＳｅｑ１とＳｅｑ２が状態Ｉｄｌｅに戻らない
場合、エラーとしてエラー発生信号を出力する。また、
駆動波形生成情報（タイミング情報）から演算してエラ
ーの判別をしてもよい。
【０１４６】エラー処理部１８１は、エラー発生信号の
入力により、タイミング信号生成部１１３へ変調タイミ
ング信号の供給停止とシーケンサの初期状態への復帰を
指示し、ＬＤ駆動集積回路１内のシーケンサ２１を初期
状態にリセットするようにＬＤ変調信号ＷＳＰとステー
ト信号ＳＴＥＮを生成するため、変調信号生成部１１４
とステート信号生成部１１５にエラー処理パルスを供給
する。さらに、エラー発生信号をコントローラ１９に直
接（又は制御部１１８を介して）供給することにより、
駆動波形生成情報（タイミング情報）の訂正を指示す
る。このようにすれば、エラーの伝播を防ぎ誤ったデー
タを記録し続けることを防止することができる。
入力により、タイミング信号生成部１１３へ変調タイミ
ング信号の供給停止とシーケンサの初期状態への復帰を
指示し、ＬＤ駆動集積回路１内のシーケンサ２１を初期
状態にリセットするようにＬＤ変調信号ＷＳＰとステー
ト信号ＳＴＥＮを生成するため、変調信号生成部１１４
とステート信号生成部１１５にエラー処理パルスを供給
する。さらに、エラー発生信号をコントローラ１９に直
接（又は制御部１１８を介して）供給することにより、
駆動波形生成情報（タイミング情報）の訂正を指示す
る。このようにすれば、エラーの伝播を防ぎ誤ったデー
タを記録し続けることを防止することができる。
【０１４７】また、第２エラー検出部１８２はエラー検
出の他の実施形態を示すものであり、シーケンサ２１と
同様のものを備えて、ＬＤ変調信号ＷＳＰ及びステート
信号ＳＴＥＮを入力し、ＬＤ駆動集積回路１での照射レ
ベル状態を擬似モニタしている。このようにして、エラ
ーの発生を検知して上記と同様のエラー処理を行う。
出の他の実施形態を示すものであり、シーケンサ２１と
同様のものを備えて、ＬＤ変調信号ＷＳＰ及びステート
信号ＳＴＥＮを入力し、ＬＤ駆動集積回路１での照射レ
ベル状態を擬似モニタしている。このようにして、エラ
ーの発生を検知して上記と同様のエラー処理を行う。
【０１４８】［コマンド信号及びコマンドデコーダの他
の実施形態］図２８は、ステートコマンド生成部及びコ
マンドデコーダの他の実施形態の構成例を示す図であ
る。また、図２９は図２８に示す各部の出力する信号の
波形図である。図２８に示すように、ステートコマンド
生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅｎ．）１９０は、変調タイミ
ング信号に基づいてＬＤ変調信号ＷＳＰに同期してコマ
ンド信号ＳＴＣＭＤを出力する。コマンドデコーダ（Ｃ
ＭＤ Ｄｅｃｏｄｅｒ）１９１は、ＬＤ変調信号ＷＳＰ
とコマンド信号ＳＴＣＭＤとからＬＤ照射レベルや照射
モードを指定するモード制御信号ＳｅｑＭｏｄｅに変換
する。このようにすれば、コマンド信号ＳＴＣＭＤの信
号線数を低減することができる。
の実施形態］図２８は、ステートコマンド生成部及びコ
マンドデコーダの他の実施形態の構成例を示す図であ
る。また、図２９は図２８に示す各部の出力する信号の
波形図である。図２８に示すように、ステートコマンド
生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅｎ．）１９０は、変調タイミ
ング信号に基づいてＬＤ変調信号ＷＳＰに同期してコマ
ンド信号ＳＴＣＭＤを出力する。コマンドデコーダ（Ｃ
ＭＤ Ｄｅｃｏｄｅｒ）１９１は、ＬＤ変調信号ＷＳＰ
とコマンド信号ＳＴＣＭＤとからＬＤ照射レベルや照射
モードを指定するモード制御信号ＳｅｑＭｏｄｅに変換
する。このようにすれば、コマンド信号ＳＴＣＭＤの信
号線数を低減することができる。
【０１４９】次に、上記実施形態におけるこの発明の各
請求項の構成要件に係わる部分を明記する。 （１）この発明の請求項１に係わる部分 図１５の駆動波形生成情報保持部１１２が上記駆動波形
生成情報保持手段に、図１５のタイミング信号生成部１
１３及び変調信号生成部１１４が上記変調信号生成手段
に、図１５のステート信号生成部１１５が上記状態遷移
信号生成手段にそれぞれ相当する。また、図３のシーケ
ンサ２１が上記状態制御手段に、図３の変調部２３及び
電流駆動部２５が上記光源駆動手段にそれぞれ相当す
る。 （２）この発明の請求項２に係わる部分 請求項１と共通する部分は上記（１）と同じであり、図
１５又は図２０の駆動波形生成情報保持部１１２が上記
タイミング情報選択手段の機能を果たす。
請求項の構成要件に係わる部分を明記する。 （１）この発明の請求項１に係わる部分 図１５の駆動波形生成情報保持部１１２が上記駆動波形
生成情報保持手段に、図１５のタイミング信号生成部１
１３及び変調信号生成部１１４が上記変調信号生成手段
に、図１５のステート信号生成部１１５が上記状態遷移
信号生成手段にそれぞれ相当する。また、図３のシーケ
ンサ２１が上記状態制御手段に、図３の変調部２３及び
電流駆動部２５が上記光源駆動手段にそれぞれ相当す
る。 （２）この発明の請求項２に係わる部分 請求項１と共通する部分は上記（１）と同じであり、図
１５又は図２０の駆動波形生成情報保持部１１２が上記
タイミング情報選択手段の機能を果たす。
【０１５０】（３）この発明の請求項３に係わる部分
図１８又は図２２に基づく記載内容がその説明である。
（４）この発明の請求項４に係わる部分
図２２に基づく記載内容がその説明である。
（５）この発明の請求項５に係わる部分
図２２に基づく記載内容がその説明である。
（６）この発明の請求項６に係わる部分
上記段落番号［０１０５］と［０１０６］の記載内容が
その説明である。 （７）この発明の請求項７に係わる部分 上記段落番号［０１３４］の記載内容がその説明であ
る。
その説明である。 （７）この発明の請求項７に係わる部分 上記段落番号［０１３４］の記載内容がその説明であ
る。
【０１５１】（８）この発明の請求項８に係わる部分
図２７のエラー検出部１８０が上記エラー検出手段に、
同じく図２７のエラー処理部１８１が上記エラー処理手
段にそれぞれ相当する。 （９）この発明の請求項９に係わる部分 図２７の第２エラー検出部１８２が上記エラー検出手段
の機能を果たす。 （１０）この発明の請求項１０に係わる部分 上記段落番号［０１４６］の記載内容がその説明であ
る。
同じく図２７のエラー処理部１８１が上記エラー処理手
段にそれぞれ相当する。 （９）この発明の請求項９に係わる部分 図２７の第２エラー検出部１８２が上記エラー検出手段
の機能を果たす。 （１０）この発明の請求項１０に係わる部分 上記段落番号［０１４６］の記載内容がその説明であ
る。
【０１５２】
【発明の効果】以上説明してきたように、この発明の光
情報記録装置によれば、光変調制御信号波形の歪みやス
キュー等による光変調波形の所望値からのずれを抑制
し、情報記録の高速化と情報記録媒体への高密度化記録
などの要求に対しても、コストと性能などを犠牲にする
ことなく実現することができる。
情報記録装置によれば、光変調制御信号波形の歪みやス
キュー等による光変調波形の所望値からのずれを抑制
し、情報記録の高速化と情報記録媒体への高密度化記録
などの要求に対しても、コストと性能などを犠牲にする
ことなく実現することができる。
【図１】本発明の光情報記録装置の一実施形態である情
報記録再生装置の全体構成を示すブロック図である。
報記録再生装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した信号処理部１０４の内部構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図３】図２に示したＬＤ制御部９及びＬＤ駆動部１２
が集積化されたＬＤ駆動集積回路１の構成図である。
が集積化されたＬＤ駆動集積回路１の構成図である。
【図４】図３に示したＬＤ駆動集積回路１の各部の出力
信号の一例を示す波形図である。
信号の一例を示す波形図である。
【図５】図３に示したシーケンサ２１の状態遷移図であ
る。
る。
【図６】図３に示した変調部２３の他の構成例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図７】図３に示したバイアス電流制御部２７の他の構
成例を示すブロック図である。
成例を示すブロック図である。
【図８】駆動電流−光出力特性の一例を示す線図であ
る。
る。
【図９】光変調波形の一例を示す線図である。
【図１０】図３に示したＬＤ駆動集積回路１の各部の出
力信号の他の例を示す波形図である。
力信号の他の例を示す波形図である。
【図１１】図３に示した変調部２３のさらに他の構成例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図１２】図１１に示した変調部２３の各部の出力信号
を示す波形図である。
を示す波形図である。
【図１３】ＬＤ駆動電流のスイッチタイミングのずれに
基づく光波形の乱れの説明に供する線図である。
基づく光波形の乱れの説明に供する線図である。
【図１４】図３に示したバイアス電流制御部２７の動作
説明に供する各信号波形の一例を示す図である。
説明に供する各信号波形の一例を示す図である。
【図１５】図２に示したＬＤ変調信号生成部１０の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図１６】図１５に示したランレングス検出部１１１の
内部の詳細な構成例を示す図である。
内部の詳細な構成例を示す図である。
【図１７】図１６に示したランレングス検出部１１１内
の各部が出力する信号の波形図である。
の各部が出力する信号の波形図である。
【図１８】この実施形態における駆動波形生成情報と光
波形との関係を示すタイミングチャート図である。
波形との関係を示すタイミングチャート図である。
【図１９】複数のタイミング情報毎の駆動波形生成情報
の組み合わせ例を示す一覧表の図である。
の組み合わせ例を示す一覧表の図である。
【図２０】図１５に示した駆動波形生成情報保持部１１
２の詳細な内部構成例を示す図である。
２の詳細な内部構成例を示す図である。
【図２１】図１５に示したタイミング信号生成部１１３
及び変調信号生成部１１４の詳細な内部構成例を示す図
である。
及び変調信号生成部１１４の詳細な内部構成例を示す図
である。
【図２２】図２１に示したタイミング信号生成部１１３
及び変調信号生成部１１４の各部の出力する信号の波形
図である。
及び変調信号生成部１１４の各部の出力する信号の波形
図である。
【図２３】同じく図２１に示したタイミング信号生成部
１１３及び変調信号生成部１１４の各部の出力する信号
の波形図である。
１１３及び変調信号生成部１１４の各部の出力する信号
の波形図である。
【図２４】図２１に示したタイミング制御部１６０内の
２つのシーケンサの動作を示す説明図である。
２つのシーケンサの動作を示す説明図である。
【図２５】図２１に示したタイミングパルス信号制御部
１６５における信号削除処理の説明に供する波形図であ
る。
１６５における信号削除処理の説明に供する波形図であ
る。
【図２６】図２１に示したＳＴＥＮタイミングパルス生
成部１７０によるＳＴＥＮタイミングパルス信号及びＡ
ＰＣタイミングパルス生成部１７１によるＡＰＣタイミ
ングパルス信号の生成例の説明に供する波形図である。
成部１７０によるＳＴＥＮタイミングパルス信号及びＡ
ＰＣタイミングパルス生成部１７１によるＡＰＣタイミ
ングパルス信号の生成例の説明に供する波形図である。
【図２７】図２に示したＬＤ変調信号生成部１０にエラ
ー検出手段とエラー処理手段を付加した実施形態の構成
例を示すブロック図である。
ー検出手段とエラー処理手段を付加した実施形態の構成
例を示すブロック図である。
【図２８】この発明の他の実施形態のステートコマンド
生成部及びコマンドデコーダの構成例を示す図である。
生成部及びコマンドデコーダの構成例を示す図である。
【図２９】図２８に示した各部の出力する信号の波形図
である。
である。
１：ＬＤ駆動集積回路 ２：受光信号処理部
４：ＲＦ選択部 ６：ウォブル信号生成部
９：ＬＤ制御部 １０：ＬＤ変調信号生成部
１２：ＬＤ駆動部 １３：サーボ信号演算処理
部 １４：サーボプロセッサ １５：ウォブル信号処理部 １６：ＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部 １７：ＷＣＫ生成部 １８：回転制御部 １９：コントローラ ２０：サーボドライバ ２１：シーケンサ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ） ２２：コマンドデコーダ（ＣＭＤＤｅｃｏｒｄｅｒ） ２３：変調部（Ｄａｔａ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ） ２４：電流加算部 ２５：電流駆動部 ２６：ＰＤアンプ部（ＰＤ−ＡＭＰ） ２７：バイアス電流制御部（Ｂｉａｓ−Ｃｏｎｔｒｏ
ｌ） ２８：微分量子効率制御部（η−Ｃｏｎｔｒｏｌ） ２９：バイアス電流選択部（ＭＵＸ） ３０：高周波変調部（ＨＦ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ） ３１，３２：ＤＣ／ＤＣコンバータ ３３：制御部 ４０：ＰｂＤＡＣ ４１：ＰｔｐＤＡＣ ４２，４４，５４，９６：スイッチ ４３：スケールＤＡＣ（ＳｃａｌｅＤＡＣ） ４５，４６：電流アンプ ４７：電流電圧変換器（Ｉ
／Ｖ） ４８，６５：ＭＵＸ ４９：オフセットＤＡＣ（ＯｆｆｓｅｔＤＡＣ） ５０：加算器 ５１：ゲイン切換えアンプ（Ｘ１／Ｘ４／Ｘ８／Ｘ１６
ＡＭＰ） ５２：Ｐ−ＢＤＡＣ ５３：Ｐ−ＰＤＡＣ ５５：誤差アンプ ５６：Ｓ／Ｈ積分器（Ｓ／ＨＩｎｔｅｇ．） ５７：サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ） ５８：差分器 ５９：ｅｔａｒｅｆＤＡＣ ６１：比較器（Ｃｏｍｐ） ６２：カウンタ（Ｃｏｕｎ
ｔ） ６３：ＦｒｅｑＤＡＣ ６４：ＶＣＯ ６５：ＭＵＸ ６６：ＨＦＢＤＡＣ ６７：バッファアンプ ７０：バイアススケールＤＡＣ（ＢＳｃａｌｅＤＡＣ） ７１：バイアスＤＡＣ（ＢｉａｓＤＡＣ） ８０ａ：ＰｒＤＡＣ ８０ｂ：ＰｅＤＡＣ ８０ｃ：ＰｂＤＡＣ ８０ｄ：ＰｃｌＤＡＣ ８１ａ：ＰｅＤＡＣ ８１ｂ：ＰｔｐＤＡＣ ８１ｃ：ＰｍｐＤＡＣ ８１ｄ：ＰｌｐＤＡＣ Ｉ０，Ｉ０ａ〜Ｉ０ｄ，Ｉ１，Ｉ１ａ〜Ｉ１ｄ：電流 ８２，８３，８４：スイッチ ９０：Ｐｂ＋ＤＡＣ ９１：ＰｂＤＡＣ ９２：Ｐｔ＋ＤＡＣ ９３：ＰｔＤＡＣ ９４，９５：加算器 ＩＬＤ：駆動電流 １００：情報記録媒体 １０１：ピックアップ １０２：光源（ＬＤ） １０３：受光部 １０４：信号処理部 １０５：回転駆動部 １０６：コントローラ １１０：ＰＬＬ部 １１１：ランレングス検出部（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈ Ｄ
ｅｔ．） １１２：駆動波形生成情報保持部（Ｓｔｒａｔｅｇｙ
Ｍｅｍｏｒｙ） １１３：タイミング信号生成部 １１４：変調信号生成
部 １１５：ステート信号生成部（ＳＴＥＮ Ｇｅｎ．） １１６：ステートコマンド生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅ
ｎ．） １１７：サンプル信号生成部（Ｓａｍｐｌｅ Ｔｉｍｉ
ｎｇ Ｇｅｎ．） １１８：制御部 １２０：Ｍ分周器（１
／Ｍ） １２１：位相比較器（ＰＣ） １２２：ループフィル
タ（Ｆｉｌｔｅｒ） １２３：発振器（ＶＣＯ） １２４：Ｎ分周器（１
／Ｎ） １２５：Ｍ／Ｎ分周器 １４０：カウンタ（Ｃ
ｏｕｎｔｅｒ） １４１：遅延回路（Ｄｅｌａｙ） １４２：ＦＩＦＯ制御部（ＦＩＦＯ Ｃｔｒｌ） １４３：ＦＩＦＯ １４４：レジスタ（Ｒ
ｅｇ） １５０ａ〜１５０ｎ：アドレス変換部（Ａｄｄｒ Ｃｏ
ｎｖｅｒｔｅｒ） １５１ａ〜１５１ｎ：セレクタ １５２ａ〜１５２ｎ：
メモリ １５４：レジスタアクセス制御部（Ｒｅｇｉｓｔｅｒ
Ａｃｃｅｓｓ Ｃｏｎｔｒｏｌ） １６０：タイミング制御部（Ｔｉｍｉｎｇ Ｃｔｒｌ） １６１，１６２：タイミング演算部 １６３ａ〜１６３ｄ：カウンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ） １６４ａ〜１６４ｄ：位相選択信号保持部（Ｒｅｇ） １６５：タイミングパルス信号制御部 １６６ａ〜１６６ｄ：クロックセレクタ １６７ａ〜１６７ｄ：フリップフロップ １７０：ＳＴＥＮタイミングパルス生成部 １７１：ＡＰＣタイミングパルス生成部 １８０：エラー検出部 １８１：エラー処理部 １８２：第２エラー検出部 １９０：ステートコマンド生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅ
ｎ．） １９１：コマンドデコーダ（ＣＭＤ Ｄｅｃｏｄｅｒ） ＩｏｕｔＳｅｌ：選択信号 ＰＤ１〜ＰＤ５：受光
部 ＬＤ１，ＬＤ２：光源
部 １４：サーボプロセッサ １５：ウォブル信号処理部 １６：ＲＦ信号処理部／ＰＬＬ部 １７：ＷＣＫ生成部 １８：回転制御部 １９：コントローラ ２０：サーボドライバ ２１：シーケンサ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｒ） ２２：コマンドデコーダ（ＣＭＤＤｅｃｏｒｄｅｒ） ２３：変調部（Ｄａｔａ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ） ２４：電流加算部 ２５：電流駆動部 ２６：ＰＤアンプ部（ＰＤ−ＡＭＰ） ２７：バイアス電流制御部（Ｂｉａｓ−Ｃｏｎｔｒｏ
ｌ） ２８：微分量子効率制御部（η−Ｃｏｎｔｒｏｌ） ２９：バイアス電流選択部（ＭＵＸ） ３０：高周波変調部（ＨＦ−Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ） ３１，３２：ＤＣ／ＤＣコンバータ ３３：制御部 ４０：ＰｂＤＡＣ ４１：ＰｔｐＤＡＣ ４２，４４，５４，９６：スイッチ ４３：スケールＤＡＣ（ＳｃａｌｅＤＡＣ） ４５，４６：電流アンプ ４７：電流電圧変換器（Ｉ
／Ｖ） ４８，６５：ＭＵＸ ４９：オフセットＤＡＣ（ＯｆｆｓｅｔＤＡＣ） ５０：加算器 ５１：ゲイン切換えアンプ（Ｘ１／Ｘ４／Ｘ８／Ｘ１６
ＡＭＰ） ５２：Ｐ−ＢＤＡＣ ５３：Ｐ−ＰＤＡＣ ５５：誤差アンプ ５６：Ｓ／Ｈ積分器（Ｓ／ＨＩｎｔｅｇ．） ５７：サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ） ５８：差分器 ５９：ｅｔａｒｅｆＤＡＣ ６１：比較器（Ｃｏｍｐ） ６２：カウンタ（Ｃｏｕｎ
ｔ） ６３：ＦｒｅｑＤＡＣ ６４：ＶＣＯ ６５：ＭＵＸ ６６：ＨＦＢＤＡＣ ６７：バッファアンプ ７０：バイアススケールＤＡＣ（ＢＳｃａｌｅＤＡＣ） ７１：バイアスＤＡＣ（ＢｉａｓＤＡＣ） ８０ａ：ＰｒＤＡＣ ８０ｂ：ＰｅＤＡＣ ８０ｃ：ＰｂＤＡＣ ８０ｄ：ＰｃｌＤＡＣ ８１ａ：ＰｅＤＡＣ ８１ｂ：ＰｔｐＤＡＣ ８１ｃ：ＰｍｐＤＡＣ ８１ｄ：ＰｌｐＤＡＣ Ｉ０，Ｉ０ａ〜Ｉ０ｄ，Ｉ１，Ｉ１ａ〜Ｉ１ｄ：電流 ８２，８３，８４：スイッチ ９０：Ｐｂ＋ＤＡＣ ９１：ＰｂＤＡＣ ９２：Ｐｔ＋ＤＡＣ ９３：ＰｔＤＡＣ ９４，９５：加算器 ＩＬＤ：駆動電流 １００：情報記録媒体 １０１：ピックアップ １０２：光源（ＬＤ） １０３：受光部 １０４：信号処理部 １０５：回転駆動部 １０６：コントローラ １１０：ＰＬＬ部 １１１：ランレングス検出部（ＲｕｎＬｅｎｇｔｈ Ｄ
ｅｔ．） １１２：駆動波形生成情報保持部（Ｓｔｒａｔｅｇｙ
Ｍｅｍｏｒｙ） １１３：タイミング信号生成部 １１４：変調信号生成
部 １１５：ステート信号生成部（ＳＴＥＮ Ｇｅｎ．） １１６：ステートコマンド生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅ
ｎ．） １１７：サンプル信号生成部（Ｓａｍｐｌｅ Ｔｉｍｉ
ｎｇ Ｇｅｎ．） １１８：制御部 １２０：Ｍ分周器（１
／Ｍ） １２１：位相比較器（ＰＣ） １２２：ループフィル
タ（Ｆｉｌｔｅｒ） １２３：発振器（ＶＣＯ） １２４：Ｎ分周器（１
／Ｎ） １２５：Ｍ／Ｎ分周器 １４０：カウンタ（Ｃ
ｏｕｎｔｅｒ） １４１：遅延回路（Ｄｅｌａｙ） １４２：ＦＩＦＯ制御部（ＦＩＦＯ Ｃｔｒｌ） １４３：ＦＩＦＯ １４４：レジスタ（Ｒ
ｅｇ） １５０ａ〜１５０ｎ：アドレス変換部（Ａｄｄｒ Ｃｏ
ｎｖｅｒｔｅｒ） １５１ａ〜１５１ｎ：セレクタ １５２ａ〜１５２ｎ：
メモリ １５４：レジスタアクセス制御部（Ｒｅｇｉｓｔｅｒ
Ａｃｃｅｓｓ Ｃｏｎｔｒｏｌ） １６０：タイミング制御部（Ｔｉｍｉｎｇ Ｃｔｒｌ） １６１，１６２：タイミング演算部 １６３ａ〜１６３ｄ：カウンタ（Ｃｏｕｎｔｅｒ） １６４ａ〜１６４ｄ：位相選択信号保持部（Ｒｅｇ） １６５：タイミングパルス信号制御部 １６６ａ〜１６６ｄ：クロックセレクタ １６７ａ〜１６７ｄ：フリップフロップ １７０：ＳＴＥＮタイミングパルス生成部 １７１：ＡＰＣタイミングパルス生成部 １８０：エラー検出部 １８１：エラー処理部 １８２：第２エラー検出部 １９０：ステートコマンド生成部（ＳＴＣｍｄ Ｇｅ
ｎ．） １９１：コマンドデコーダ（ＣＭＤ Ｄｅｃｏｄｅｒ） ＩｏｕｔＳｅｌ：選択信号 ＰＤ１〜ＰＤ５：受光
部 ＬＤ１，ＬＤ２：光源
Claims (10)
- 【請求項１】 光源を情報記録媒体に記録する二値化信
号に対応する多値の照射レベルに基づく複数のパルス列
波形で発光させ、該発光させた光を前記情報記録媒体に
照射して前記二値化信号に対応する記録マークを形成す
る光情報記録装置において、 前記複数のパルス列波形の各パルス幅を示すタイミング
情報を記憶する駆動波形生成情報保持手段と、該駆動波
形生成情報保持手段に記憶したタイミング情報に基づい
て前記照射レベルの変化タイミングを示す変調信号を生
成する変調信号生成手段と、前記駆動波形生成情報保持
手段に記憶したタイミング情報に基づいて前記照射レベ
ルに対応する状態の遷移を指示する状態遷移信号を生成
する状態遷移信号生成手段と、前記変調信号生成手段に
よって生成した変調信号と前記状態遷移信号生成手段に
よって生成した状態遷移信号と予め設定された遷移規則
とに基づいて前記状態の遷移を制御し、選択された状態
に対応した変調データを生成する状態制御手段と、前記
変調信号生成手段によって生成した変調信号と前記状態
制御手段によって生成した変調データとに基づいて前記
光源を駆動する光源駆動手段とを設けたことを特徴とす
る光情報記録装置。 - 【請求項２】 光源を情報記録媒体に記録する二値化信
号に対応する多値の照射レベルに基づく複数のパルス列
波形で発光させ、該発光させた光を前記情報記録媒体に
照射して前記二値化信号に対応する記録マークを形成す
る光情報記録装置において、 前記複数のパルス列波形の各パルス幅を示すタイミング
情報をそれぞれ少なくとも一つ以上記憶する駆動波形生
成情報保持手段と、前記二値化信号に基づいて前記各タ
イミング情報毎にその一つを選択するタイミング情報選
択手段と、該タイミング情報選択手段によって選択され
たタイミング情報に基づいて前記照射レベルの変化タイ
ミングを示す変調信号を生成する変調信号生成手段と、
前記タイミング情報選択手段によって選択されたタイミ
ング情報に基づいて前記照射レベルに対応する状態の遷
移を指示する状態遷移信号を生成する状態遷移信号生成
手段と、前記変調信号生成手段によって生成した変調信
号と前記状態遷移信号生成手段によって生成した状態遷
移信号と予め設定された遷移規則とに基づいて前記状態
の遷移を制御し、選択された状態に対応した変調データ
を生成する状態制御手段と、前記変調信号生成手段によ
って生成した変調信号と前記状態制御手段によって生成
した変調データとに基づいて前記光源を駆動する光源駆
動手段とを設けたことを特徴とする光情報記録装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の光情報記録装置に
おいて、 前記変調信号生成手段が、前記二値化信号から生成され
た基準時刻に対して前記駆動波形生成情報保持手段に記
憶した各タイミング情報を順次加算することによって前
記変調信号を生成する手段であることを特徴とする光情
報記録装置。 - 【請求項４】 請求項１又は２記載の光情報記録装置に
おいて、 前記変調信号生成手段が、前記二値化信号から生成され
た二つ以上の基準時刻のそれぞれの基準時刻に対して前
記駆動波形生成情報保持手段に記憶したタイミング情報
の一部を順次加算して変調タイミングパルスを生成する
複数個のタイミングパルス生成手段を有し、該タイミン
グパルス生成手段によって生成した変調タイミングパル
スを合成して前記変調信号を生成する手段であることを
特徴とする光情報記録装置。 - 【請求項５】 請求項４記載の光情報記録装置におい
て、 前記二つ以上の基準時刻の間隔を前記二値化信号に応じ
て変化するようにしたことを特徴とする光情報記録装
置。 - 【請求項６】 請求項３乃至５のいずれか一項に記載の
光情報記録装置において、 前記タイミング情報のパルス幅設定分解能を設定するよ
うにしたことを特徴とする光情報記録装置。 - 【請求項７】 請求項６記載の光情報記録装置におい
て、 前記基準時刻を前記タイミング情報のパルス幅設定分解
能に応じて変更するようにしたことを特徴とする光情報
記録装置。 - 【請求項８】 請求項１乃至７のいずれか一項に記載の
光情報記録装置において、 前記変調信号又は前記状態遷移信号の生成エラーを検出
するエラー検出手段と、該エラー検出手段によって検出
した生成エラーに対して所定の処理を行うエラー処理手
段とを設けたことを特徴とする光情報記録装置。 - 【請求項９】 請求項８記載の光情報記録装置におい
て、 前記エラー検出手段に、前記状態制御手段と同一の動作
を行う状態模擬手段を設けたことを特徴とする光情報記
録装置。 - 【請求項１０】 請求項８又は９記載の光情報記録装置
において、 前記エラー処理手段が、前記変調信号及び前記状態遷移
信号に前記状態制御手段が所定の状態に遷移するように
状態訂正パルスをそれぞれ挿入する処理を行う手段であ
ることを特徴とする光情報記録装置。
Priority Applications (8)
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|---|---|---|---|
| JP2001334257A JP3839300B2 (ja) | 2001-10-31 | 2001-10-31 | 光情報記録装置 |
| DE60221333T DE60221333T2 (de) | 2001-10-22 | 2002-10-18 | Treibereinheit einer Lichtquelle und optische Speichervorrichtung |
| EP07007772A EP1808854B8 (en) | 2001-10-22 | 2002-10-18 | Light source driving unit and optical storage apparatus |
| ES02257244T ES2290251T3 (es) | 2001-10-22 | 2002-10-18 | Unidad de mando de fuente de luz y aparato de almacenamiento optico. |
| EP02257244A EP1304686B1 (en) | 2001-10-22 | 2002-10-18 | Light source driving unit and optical storage apparatus |
| US10/274,193 US7200091B2 (en) | 2001-10-22 | 2002-10-21 | Light source driving unit and optical storage apparatus |
| US11/581,150 US7573790B2 (en) | 2001-10-22 | 2006-10-16 | Light source driving unit and optical storage apparatus |
| US11/581,110 US7518969B2 (en) | 2001-10-22 | 2006-10-16 | Light source driving unit and optical storage apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001334257A JP3839300B2 (ja) | 2001-10-31 | 2001-10-31 | 光情報記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003141727A true JP2003141727A (ja) | 2003-05-16 |
| JP3839300B2 JP3839300B2 (ja) | 2006-11-01 |
Family
ID=19149413
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001334257A Expired - Fee Related JP3839300B2 (ja) | 2001-10-22 | 2001-10-31 | 光情報記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3839300B2 (ja) |
-
2001
- 2001-10-31 JP JP2001334257A patent/JP3839300B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3839300B2 (ja) | 2006-11-01 |
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