JP2003126607A - 晶析器の運転方法 - Google Patents

晶析器の運転方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 冷却式晶析操作において、結晶を連続的かつ
安定的に生成させ、後工程の運転を安定化し、それに伴
う生産能力の向上を可能とする晶析器の運転方法を提供
する。 【解決手段】 伝熱面を介して熱交換を行う冷却器を備
えた晶析器の、プロセス側流路に晶析原料溶液を、また
冷媒側流路に冷媒を、それぞれ供給して晶析操作を行う
に当たり、下記式(1): Rp=1/h1+rs1+Cc+rs2 (1) (ただし、式(1)において、h1はプロセス側境膜伝
熱係数を、rs1はプロセス側汚れ係数を、Ccは伝熱面
の寸法及び材質により決定される伝導伝熱抵抗係数を、
s2は冷媒側汚れ係数を、それぞれ表す。)で定義され
るプロセス側伝熱抵抗Rpを継続的に監視し、その値の
変化を指標として、晶析器の運転条件の変更、冷却器の
切り替え、または冷却器の再生処理条件の変更を行う晶
析器の運転方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は晶析器の運転方法に
関する。詳しくは本発明は、晶析器の長期安定化運転の
ための制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】外部循環装置やジャケット装置などで構
成される冷却器の伝熱面を用いた冷却式晶析法によって
結晶を晶出させる場合、長期の連続運転を行うと伝熱面
にスケール(結晶)が成長するので、冷却器の能力は低
下していく。その結果、充分な冷却速度が得られなくな
った場合には、生産負荷を下げるか、あるいは生産を中
断して伝熱面の加熱や溶媒洗浄によるスケールの除去を
行うことが必要となったり、予備冷却器への切替え操作
を順次行って冷却器伝熱面の洗浄を行なったりすること
が多い。
【0003】しかしながら、予備冷却器への切替え操作
を行うにしても、ある特定の冷却器を用いてある特定期
間連続して冷却する場合には、スケール成長に伴い伝熱
能力が低下する。このため、総括伝熱係数の低下を監視
して冷却器能力の指標とすることが多い。例えば、冷媒
流量による晶析温度制御を行う制御では、冷却器のスケ
ール成長に伴って、冷媒流量を増加させる。しかしなが
ら、冷媒側の境膜伝熱係数は冷媒流量増加に伴って増加
するため、総括伝熱係数の変化は小さく、冷却器能力の
指標として感度が鈍いことが問題であった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】晶析器の伝熱面にスケ
ールが成長すると、冷却器のプロセス側の伝熱係数ある
いは汚れ係数は増加することになり、冷媒から冷却器
(または晶析器)への熱伝達速度が低下していくが、従
来の総括伝熱係数を用いた監視は、その感度がにぶいか
あるいは、外乱により変動してしまうため、冷却器能力
監視の指標として不十分であることが問題であった。
さらに、このスケール成長が正確に把握できなかったた
めに、不必要に冷却器を切り替え、晶析器に不要な外乱
を与えて結晶サイズに悪影響を及ぼすことが問題となっ
ていた。あるいは、冷却器の長期間連続して使用してし
まったために、その冷却器の洗浄に従来よりも時間を要
し、その間使用している予備冷却器を長期間使用しすぎ
てしまう結果となり、冷却能力低下の悪循環となること
が問題となっていた。
【0005】本発明は、冷却式晶析操作において、溶液
から結晶を連続的に晶出させるに際し、冷却器の能力を
正確に把握することによって、冷却器に対する適正な措
置を施し、結晶を長期的に連続的かつ安定的に生成させ
ることによって、生産能力の向上を可能とする晶析器の
運転方法を提供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記課題
を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、冷却器伝熱面の特
定の伝熱抵抗の連続的監視によって、冷却式晶析操作に
おける長期の安定的連続運転が可能となることを見出し
て本発明に到達した。即ち本発明の要旨は、伝熱面を介
して熱交換を行う冷却器を備えた晶析器の、プロセス側
流路に晶析原料溶液を、また冷媒側流路に冷媒を、それ
ぞれ供給して晶析操作を行うに当たり、下記式(1):
【0007】
【数2】 Rp=1/h1+rs1+Cc+rs2 (1) (ただし、式(1)において、h1はプロセス側境膜伝
熱係数を、rs1はプロセス側汚れ係数を、Ccは伝熱面
の寸法及び材質により決定される伝導伝熱抵抗係数を、
s2は冷媒側汚れ係数を、それぞれ表す。)で定義され
るプロセス側伝熱抵抗Rpを継続的に監視し、その値の
変化を指標として、晶析器の運転条件の変更、冷却器の
切り替え、または冷却器の再生処理条件の変更を行うこ
とを特徴とする晶析器の運転方法、に存する。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。本発明は一般的には、冷却式晶析操
作において溶液から結晶を連続的に晶出させるに際し、
結晶化熱を冷却によって除去するための冷却器の温度、
冷媒流量、晶析器の温度、晶析原料溶液流量等を連続的
に測定し、これらの晶析装置の運転データあるいは物性
データを解析し、それらの解析によって得られた冷却器
の能力に関する情報あるいは制御性に関する情報に基づ
いて、晶析器温度等を連続的に制御し結晶生成量を安定
化させたり、適切な時期に冷却器の切り替えを実施した
り、冷却器の洗浄処理等の再生処理の条件の変更を行う
ことによって、後工程の運転を安定化したり、それに伴
う生産能力の向上を可能としたりする方法に関する。
【0009】本発明において、晶析器は冷却式の装置で
あれば特に限定されず、連続槽型、完全混合槽型、分級
型など通常用いられるものの中から目的により選択して
用いることができる。晶析器に付属する冷却器として
は、晶析器本体から直接除熱するタイプでも、外部循環
ラインなどから間接的に除熱するタイプでもよく、目的
により適切な形式の熱交換器を選択して用いることがで
きる。
【0010】冷却器の除熱量の制御方法についても特に
限定されず、冷媒の温度を調整したり、流量を調整した
り、その他、目的によって使い分けることができる。予
備冷却器を使用することもできる。さて、冷却器の伝熱
面を介する伝熱(または熱交換)の尺度として総括伝熱
係数がよく用いられる。総括伝熱係数Uの逆数1/Uは
一般的に次式(2)で表すことができる。
【0011】
【数3】 1/U=1/h1+rs1+Cc+rs2+1/h2 (2) (ただし、式(2)において、h1はプロセス側境膜伝
熱係数を、rs1はプロセス側汚れ係数を、Ccは伝熱面
の寸法及び材質により決定される伝導伝熱抵抗係数を、
s2は冷媒側汚れ係数を、またh2は冷媒側境膜伝熱係
数を、それぞれ表す。) なお、伝熱面が平坦面である場合には、伝導伝熱抵抗係
数Ccは、一般的に次式(3)で表すことができる。
【0012】
【数4】Cc=lw/λ (3) (ただし、式(3)において、lwは管壁の厚みを、λ
は管壁の熱伝導率を、それぞれ表す。) ここで、h1およびh2はそれぞれ、プロセス側流体(晶
析原料溶液またはスラリー)および冷媒の流れの状態
(流量)および物性で決まる値である。従って、総括伝
熱係数は熱交換器の能力判断のために通常用いられてい
るけれども、外乱を伴う晶析器の温度制御を行うために
操作する冷媒の流量および物性に大きく依存する値であ
り、従って総括伝熱係数のみを指標としては伝熱面のス
ケールの状態を正確に把握することができないというこ
とができる。
【0013】本発明においては、総括伝熱係数ではな
く、下記式(1):
【0014】
【数5】 Rp=1/h1+rs1+Cc+rs2 (1) (ただし、式(1)において、h1はプロセス側境膜伝
熱係数を、rs1はプロセス側汚れ係数を、Ccは伝熱面
の寸法及び材質により決定される伝導伝熱抵抗係数を、
s2は冷媒側汚れ係数を、それぞれ表す。)で定義され
るプロセス側伝熱抵抗Rpを、伝熱面のスケールの状態
の尺度として使用する。上記プロセス側伝熱抵抗の値を
使用することによって、外乱の伴うプロセスにおいて
も、伝熱面のスケールの状態を正確に把握することが可
能となる。
【0015】晶析器を長時間連続運転することにより冷
却器の伝熱面にスケールが成長するに従って、冷却器の
プロセス側の伝熱抵抗あるいは汚れ係数は増加する。従
って、冷媒から冷却器(または晶析器)への熱伝達速度
が低下することとなるが、その状態は上記プロセス側伝
熱抵抗の値によって、正確に把握することができる。本
発明方法が晶析器の運転の指標とするプロセス側伝熱抵
抗は通常の化学工学の手法により算出することができ
る。例えば上記式(2)及び式(3)から、伝熱面が平
坦面である場合の総括伝熱係数Uは、次式(4)で表す
ことができる。
【0016】
【数6】 1/U=1/h1+rs1+lw/λ+rs2+1/h2 (4) (ただし、式(4)において、h1はプロセス側境膜伝
熱係数を、rs1はプロセス側汚れ係数を、lwは管壁の
厚みを、λは管壁の熱伝導率を、rs2は冷媒側汚れ係数
を、またh2は冷媒側境膜伝熱係数を、それぞれ表
す。) 上記の通り、h1はプロセス側流体の物性および流動状
態の関数、h2は冷媒の物性および流動状態の関数であ
る。連続晶析槽においては、一般に、晶析器の温度やス
ラリー濃度、冷媒温度などの運転条件はほぼ一定である
ため、プロセス側流体の物性および冷媒の物性は一定と
仮定できることが多く、この場合、h1およびh2は、そ
れぞれプロセス側流体および冷媒の流動状態のみの関数
として簡略化することができる。例えば熱交換器が多管
式などの場合は、流量あるいは流速の関数と定義できる
こともある。化学工学的手法によれば、 熱交換器のタ
イプやある運転範囲において、冷媒側境膜伝熱係数h2
を次式(5)で表すことができる。
【0017】
【数7】 1/h2=A(冷媒流量)-0.6 (5) (ただし、式(5)において、h2は冷媒側境膜伝熱係
数を、Aは冷媒物性で決まる定数を、それぞれ表す。) 従って式(1)、式(3)、式(4)および式(5)か
らプロセス側伝熱抵抗Rpを表す次式(6)が導かれ
る。
【0018】
【数8】 Rp=1/U−A(冷媒流量)-0.6 (6) 上式(6)の右辺の各項は、例えばプロセス側流体の温
度及び流量並びに冷媒の温度及び流量等の運転データか
ら算出することができる。従ってこれらの運転データを
継続的に、即ち連続的にまたは短い時間間隔で、測定
し、計算を実施することにより、プロセス側伝熱抵抗R
pの値を継続的に監視することができる。
【0019】プロセス側伝熱抵抗Rpの値によって、外
乱の伴うプロセスにおいても、伝熱面のスケールの状態
を正確に把握することができる。即ちプロセス側伝熱抵
抗Rpの値の増大は冷却器の伝熱面にスケールが成長し
ていることを示しているので、 その値の変化を指標と
して、晶析器の連続運転の常法に従って適切な対応をと
ることができる。そのような対応の代表的なものは、晶
析器の運転条件の変更、冷却器の切り替え、および冷却
器の再生処理条件の変更、である。
【0020】晶析器の運転条件の変更としては、例えば
冷却器の冷却条件(冷媒の温度および流量など)を変更
することが挙げられる。冷却器の切り替えを行った場合
にはそれまで使用されていた冷却器についてそのスケー
ルの除去による再生処理を行う。冷却器の再生処理とし
ては、例えば高温の熱媒を通すことによる冷却器の昇温
処理、高溶解力の溶媒による洗浄処理などがあり、上記
プロセス側伝熱抵抗Rpの値の増大の程度に応じて冷却
器の再生処理条件を変更することにより、適切な程度の
再生処理条件を適用することができる。
【0021】上記プロセス側伝熱抵抗Rpの値がどれだ
け変化したときにそれへの対応を取るべきであるか、ま
た、当該値のある変化に対してどのような大きさの晶析
器の運転条件の変更、あるいは冷却器の再生処理条件の
変更、を行うべきであるか、は、具体的な晶析器の構造
及び材質、晶析原料溶液の成分の種類および組成、晶析
器の運転条件その他の多くの因子に依存し、一律にいう
ことはできないが、これらの各因子を特定した上で、条
件を変化させていくつかの試験的操作をすることによ
り、具体的な好適対応条件を決定することができる。そ
して一旦これらの好適対応条件を決定した上は、本発明
に従ってプロセス側伝熱抵抗Rpの値を継続的に監視す
ることのみで、伝熱面のスケールの状態を正確に把握す
ることができ、その値の変化を指標として、上記の好適
対応条件に従って容易に適切な対応をとることができる
のである。
【0022】
【実施例】次に本発明の具体的態様を実施例によりさら
に詳細に説明するが、本発明はその要旨を越えない限
り、以下の実施例によって限定されるものではない。 [参考例1]図1にプロセス流れ図を示す晶析系で、ビ
スフェノールA製造工程におけるビスフェノールA−フ
ェノール付加物の晶析処理を実施した。図1において、
11は晶析原料溶液を供給するライン、2は晶析器、3
は晶析器の内部温度を操作する外部循環式冷却器、13
は冷却器に冷媒(水)を供給するライン、1は冷却器か
ら冷媒を抜き出すラインの流量を調節する調節弁25を
制御するコンピュータ系、4は固液分離器、また14は
晶出した付加物結晶を抜き出すラインである。冷却器3
のほかに予備冷却器を設置し、冷却器3の除熱能力が低
下した時には冷却器を切り替えることによって連続晶析
を実施した。冷却器3としては、多管式熱交換器を使用
した。晶析原料である不純物を含んだ結晶物および分離
ろ液ライン15からくる母液は、晶析器の入口に戻され
た。晶析原料供給ライン11からの供給量を一定とする
条件下において、晶析原料溶液についての晶析器出口温
度21、冷媒についての冷却器入口温度17および出口
温度24および流量16を連続的に測定し、40℃に制
御された冷媒を操作した。
【0023】[参考例2]参考例1に従って晶析処理を
実施した。前記式(4)および式(6)を使用し、Aの
値として0.032(定数)を用いて、総括伝熱係数U
およびプロセス側伝熱抵抗Rpを1分間隔で算出した。
晶析器からの除熱量を操作するために冷媒流量を強制的
に短時間で減少させたとき、スケールの成長状態は殆ど
変化していないはずであるのに、総括伝熱係数Uははっ
きりと低下した。しかしながら、プロセス側伝熱抵抗R
pはほぼ一定に保たれており、スケールの成長状態、従
って冷却器の実能力を正しく反映していることが確認さ
れた。
【0024】[実施例1]参考例1に示すシステムを使
用して晶析処理を実施した。晶析温度を連続的に監視
し、これを50℃一定となるように冷却器の冷媒量を操
作することにした。冷媒量を操作しつつ、前記式(6)
を使用しAの値として0.032(定数)を用いて、プ
ロセス側伝熱抵抗Rpを1分間隔で算出した。予備的試
験の結果に基づいてプロセス側伝熱抵抗Rpの値が10
%増大した時点で冷却器3を予備冷却器に切り替えるこ
ととしたが、プロセス側伝熱抵抗Rpの値によりスケー
ルの成長状態が正確に把握できていたことにより、冷却
器の連続使用時間をこれまでの経験に基づく12時間か
ら24時間にまで延長することができ、外乱の頻度を半
分に減ずることができた。
【0025】これらの改善により晶析装置内のスラリー
濃度および母液組成が安定化した。それに伴い、晶析器
入り口への母液の還流量および組成の変動が抑えられ、
晶析器供給液の組成および流量が安定化し、固液分離器
から排出されるケーキ量の変動も±2%にまで低減され
た。
【0026】
【発明の効果】本発明によれば、冷媒量の影響を受けず
にスケールの成長を正確かつ継続的に監視することがで
きるので、スケールの成長による冷却器の能力低下に迅
速に対応することができる。これにより、冷却器の最適
な使用および再生スケジュールを確立することが可能と
なり、晶析器の外乱を低減できるため、取り出される結
晶の性状及び量が安定化される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の方法を実施するためのプロセス構成
の例を示すプロセス流れ図である。
【符号の説明】
1 コンピュータ 2 晶析器 3 冷却器 4 固液分離器 5 循環ポンプ 6 送出ポンプ 11 晶析原料溶液供給ライン 12 循環ライン 13 冷媒供給ライン 14 結晶抜き出しライン 15 分離ろ液ライン 16 冷媒流量計 17 冷媒温度計 18 晶析原料流量計 19 晶析原料温度計 20 晶析器内温度計 21 晶析器出口温度計 22 冷却器出口温度計 23 晶析原料流量計 24 冷媒温度計 25 調節弁
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B01D 9/02 620 B01D 9/02 620 B01J 19/00 301 B01J 19/00 301B

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 伝熱面を介して熱交換を行う冷却器を備
    えた晶析器の、プロセス側流路に晶析原料溶液を、また
    冷媒側流路に冷媒を、それぞれ供給して晶析操作を行う
    に当たり、下記式(1): 【数1】 Rp=1/h1+rs1+Cc+rs2 (1) (ただし、式(1)において、h1はプロセス側境膜伝
    熱係数を、rs1はプロセス側汚れ係数を、Ccは伝熱面
    の寸法及び材質により決定される伝導伝熱抵抗係数を、
    s2は冷媒側汚れ係数を、それぞれ表す。)で定義され
    るプロセス側伝熱抵抗Rpを継続的に監視し、その値の
    変化を指標として、晶析器の運転条件の変更、冷却器の
    切り替え、または冷却器の再生処理条件の変更を行うこ
    とを特徴とする晶析器の運転方法。
  2. 【請求項2】 プロセス側伝熱抵抗の値の変化を指標と
    して、冷却器の冷却条件を変更する、請求項1に記載の
    晶析器の運転方法。
  3. 【請求項3】 プロセス側伝熱抵抗の値の変化を指標と
    して、冷却器の切り替えを行う、請求項1に記載の晶析
    器の運転方法。
  4. 【請求項4】 プロセス側伝熱抵抗の値の変化を指標と
    して、冷却器の洗浄条件を変更する、請求項1に記載の
    晶析器の運転方法。
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