JP2003121506A5 - - Google Patents
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- 238000010998 test method Methods 0.000 claims 1
Claims (8)
- データを相手デバイスに送信するPHYチップであって、
所定の周波数の基準クロック信号を逓倍するPLL(Phase-Locked Loop)回路と、
テスト信号、前記PLL回路から出力される所定の周波数に逓倍された逓倍クロック信号及び外部から供給される前記逓倍クロック信号と同一の周波数の外部クロック信号が入力され、前記逓倍クロック信号又は前記外部クロック信号の何れかを出力する外部クロック回路と、
前記外部クロック回路から出力された前記逓倍クロック信号又は前記外部クロック信号を分周して、前記PHYチップのロジック回路用システムクロック信号と、前記PHYチップの第 1 周波数および第2周波数の出力信号生成回路用クロック信号とを生成して出力する分周回路と、
前記第 1 周波数および前記第2周波数の出力信号生成回路用クロック信号に基づいて出力信号を生成する出力信号生成回路と、
を備え、
前記外部クロック回路は、前記テスト信号がONの時に、前記外部クロック信号を出力する、
ことを特徴とするPHYチップ。 - 前記外部クロック回路は、
前記PLL回路からの前記逓倍クロック信号と前記テスト信号の反転信号を論理積する第1のAND回路と、
前記外部クロック信号と前記テスト信号を論理積する第2のAND回路と、
前記第1のAND回路からの出力信号と、前記第2のAND回路からの出力信号とを論理和して、前記逓倍クロック信号と同一の周波数のクロック信号を出力するOR回路と、
を備える
ことを特徴とする請求項1記載のPHYチップ。 - 前記基準クロック信号は、約25[MHz]の周波数であり、
前記逓倍クロック信号、前記外部クロック信号及び前記逓倍クロック信号は、約400[MHz]、約800[MHz]、約1600[MHz]、又は約3200[MHz]である、
ことを特徴とする請求項1又は2記載のPHYチップ。 - 前記分周回路は、約50[MHz]の周波数の前記ロジック回路用システムクロック信号と、約3200[MHz]、約1600[MHz]、約800[MHz]、約400[MHz]、約200[MHz]、又は約100[MHz]の周波数の出力信号生成回路用クロック信号を生成して出力する、ことを特徴とする請求項3記載のPHYチップ。
- 前記分周回路は、外部から供給されるスピードコードに基づいて前記ロジック回路用システムクロック信号を生成して出力する、ことを特徴とする請求項1乃至4記載のPHYチップ。
- 前記出力信号生成回路は、
IEEE1394に準拠した出力信号を生成することを特徴とする請求項1乃至5記載のPHYチップ。 - 請求項1乃至6記載のPHYチップを有する電子機器
- 所定の周波数の基準クロック信号を逓倍するPLL( Phase-Locked Loop )回路と、前記PLL回路が出力する逓倍クロック信号を分周する分周回路とを有し、データを相手デバイスに送信するPHYチップのテスト方法であって、
前記PLL回路から出力される所定の周波数に逓倍された逓倍クロック信号と同一の周波数の外部クロック信号を前記PHYチップに入力し、
テスト信号を前記PHYチップに入力し、
前記分周回路は、分周するクロック信号を、前記逓倍クロック信号から前記外部クロック信号にし、システムクロック信号と第1周波数の出力信号生成回路用クロック信号およ び第2周波数の出力信号生成回路用クロック信号とを生成することを特徴とするPHYチップのテスト方法。
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Applications Claiming Priority (1)
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Family Applications (1)
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