JP2003110189A - Semiconductor laser controller - Google Patents

Semiconductor laser controller

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JP2003110189A
JP2003110189A JP2001305303A JP2001305303A JP2003110189A JP 2003110189 A JP2003110189 A JP 2003110189A JP 2001305303 A JP2001305303 A JP 2001305303A JP 2001305303 A JP2001305303 A JP 2001305303A JP 2003110189 A JP2003110189 A JP 2003110189A
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JP
Japan
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semiconductor laser
offset
signal
offset level
level control
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JP2001305303A
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Japanese (ja)
Inventor
Junji Omori
淳史 大森
Masaaki Ishida
雅章 石田
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a structure capable of preventing the formation of an electrostatic latent image due to offset light emission in an non-image area and substrate contamination due to the attachment of toner, in an image forming apparatus. SOLUTION: A means 34 is provided which sets an offset level control signal for determining an offset current at the time of offset light emission of a semiconductor laser PD to a desired value according to the characteristics, types, individual differences or the like of a semiconductor laser.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザプリンタ、
デジタル複写機等の電子写真プロセスを適用した画像形
成装置において光源として用いられる半導体レーザを駆
動制御するための半導体レーザ制御装置並びにその半導
体レーザ制御装置を適用した画像形成装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser printer,
The present invention relates to a semiconductor laser control device for driving and controlling a semiconductor laser used as a light source in an image forming apparatus to which an electrophotographic process is applied, such as a digital copying machine, and an image forming apparatus to which the semiconductor laser control device is applied.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子写真プロセスを利用した一般的な画
像形成装置の一例の概略構成を図1に示す。
2. Description of the Related Art FIG. 1 shows a schematic structure of an example of a general image forming apparatus utilizing an electrophotographic process.

【0003】図1において、ポリゴンミラー16が回転
することにより半導体レーザユニット15から出力され
たレーザ光はポリゴンミラー16により偏向走査され、
fθレンズ17を介して感光体19表面を露光してそこ
に静電潜像を形成する。この半導体レーザユニット15
は画像処理ユニット11により生成された画像データと
位相同期回路14により位相が設定された画像変調信号
に従ってレーザ駆動回路12を介して半導体レーザの発
光時間をコントロールすることにより、上述の如くに感
光体19表面に形成される静電潜像をコントロールす
る。位相同期回路14は、クロック生成回路13により
生成された変調信号を、上述の如くにポリゴンミラー1
6により偏向走査された半導体レーザからのレーザ光を
検出するフォトディテクタ18によって生成される検出
信号に同期した位相に設定する。
In FIG. 1, when the polygon mirror 16 rotates, the laser beam output from the semiconductor laser unit 15 is deflected and scanned by the polygon mirror 16.
The surface of the photoconductor 19 is exposed through the fθ lens 17 to form an electrostatic latent image thereon. This semiconductor laser unit 15
Controls the light emission time of the semiconductor laser through the laser drive circuit 12 according to the image data generated by the image processing unit 11 and the image modulation signal whose phase is set by the phase synchronization circuit 14, thereby causing the photoconductor to emit light as described above. 19 controls the electrostatic latent image formed on the surface. The phase synchronization circuit 14 applies the modulation signal generated by the clock generation circuit 13 to the polygon mirror 1 as described above.
The phase is set in synchronism with the detection signal generated by the photodetector 18 which detects the laser light from the semiconductor laser which is deflected and scanned by 6.

【0004】ここで使用される半導体レーザはきわめて
小型であり、かつ駆動電流により発生されるレーザ光を
高速に直接変調を行うことが出来るため、近年レーザプ
リンタ等の光源として広く用いられている。しかしなが
ら、半導体レーザの駆動電流と光出力との関係は周囲温
度により著しく変化するため、半導体レーザの光強度を
所望の値に設定しようとする場合、この点を解決する必
要がある。この問題を解決して上記半導体レーザの利点
を活かすために従来様々なAPC(Automatic Power Contro
l)回路が提案されている。このAPC回路の一例として、
特開平11-298079号公報に開示されたものがあ
る。
Since the semiconductor laser used here is extremely small and can directly modulate the laser light generated by the drive current at high speed, it has been widely used as a light source for laser printers in recent years. However, since the relationship between the drive current of the semiconductor laser and the light output changes significantly depending on the ambient temperature, this point needs to be solved when the light intensity of the semiconductor laser is set to a desired value. In order to solve this problem and make full use of the advantages of the above-mentioned laser diode, various APC (Automatic Power Control)
l) A circuit is proposed. As an example of this APC circuit,
There is one disclosed in JP-A-11-298079.

【0005】一般的にAPC回路に適用される方式として
は次に示す3つの方式がある。
Generally, there are the following three methods applied to the APC circuit.

【0006】半導体レーザの光出力を受光素子により
モニタし、受光素子に発生する光出力信号に比例したモ
ニタ電流に比例する信号と発光レベル信号とが等しくな
るように常時光・電気負帰還ループによって半導体レー
ザの順方向電流を制御し、もって半導体レーザの光出力
を所望の値に制御する方式。
The light output of the semiconductor laser is monitored by the light receiving element, and the signal is proportional to the monitor current proportional to the light output signal generated in the light receiving element and the light emission level signal is always made to be equal by the optical / electrical negative feedback loop. A method in which the forward current of the semiconductor laser is controlled, and thus the optical output of the semiconductor laser is controlled to a desired value.

【0007】半導体レーザの光出力を受光素子により
モニタし、パワー設定時間内では発光レベル信号と光出
力に比例したモニタ電流に比例した信号とが等しくなる
ように光・電気負帰還ループによって半導体レーザの順
方向電流を制御し、パワー設定時間外ではパワー設定時
間内に設定した半導体レーザ順方向項電流をサンプルホ
ールド回路により保持しておき光出力を所望の値に設定
すると共に、順方向電流を変調信号に基づいて変調する
ことにより、半導体レーザを変調信号により点灯、オフ
セット発光させる方式。
The light output of the semiconductor laser is monitored by the light receiving element, and the light output level signal and the signal proportional to the monitor current proportional to the light output are equalized within the power setting time by the optical / electrical negative feedback loop. The forward current of the semiconductor laser is controlled by the sample hold circuit to hold the semiconductor laser forward term current set within the power setting time outside the power setting time, and the optical output is set to a desired value. A method in which a semiconductor laser is turned on and offset light is emitted by a modulation signal by modulating it based on a modulation signal.

【0008】半導体レーザの温度を測定し、その測定
した温度信号により半導体レーザの順方向電流を制御し
たり、或いは半導体レーザの温度を一定になるように制
御することで半導体レーザの光出力を所望の値に制御す
る方式。
The optical output of the semiconductor laser is desired by measuring the temperature of the semiconductor laser and controlling the forward current of the semiconductor laser by the measured temperature signal or by controlling the temperature of the semiconductor laser to be constant. Method to control the value of.

【0009】上記の方式のうち、半導体レーザの光出力
として所望の値を得るためにはの方式が望ましいが、
受光素子の応答速度や光・電気負帰還ループを構成する
素子の動作速度などの限界によっての方式の実現が困
難な場合がある。
Of the above methods, the method for obtaining a desired value as the optical output of the semiconductor laser is desirable.
It may be difficult to realize the method depending on the limit of the response speed of the light receiving element and the operation speed of the element forming the optical / electrical negative feedback loop.

【0010】又、の方式では、上記に示すの方式に
おける如くの問題点は発生せず、半導体レーザの高速変
調が可能となる。但し本方式では、半導体レーザの光出
力の常時制御を行っているわけではないため、外乱など
により容易に光出力が変動してしまうという問題点を有
する。また外乱として半導体レーザのドゥループ特性が
考えられ、これによって光出力に数%の誤差を生じてし
まう場合がある。これらの点を改良した方式として特開
平2−205086号公報に開示された方式がある。
Further, in the method (1), the problems as in the method described above do not occur, and the high speed modulation of the semiconductor laser becomes possible. However, in this method, since the optical output of the semiconductor laser is not always controlled, there is a problem that the optical output easily changes due to disturbance or the like. Further, the droop characteristic of the semiconductor laser may be considered as the disturbance, which may cause an error of several% in the optical output. As a method that improves these points, there is a method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-205086.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】この方式では、半導体
レーザのオフセットレベルを制御する際、レーザのオフ
セット発光状態をモニタする一手法として、レーザ駆動
用トランジスタのエミッタ端子と抵抗を接続してトラン
ジスタに流れる電流を電流−電圧変換し、その電圧信号
をレーザ制御回路にフィードバックしている。しかしな
がら、レーザはその種類や個体差などの条件によりその
しきい値電流にバラツキが生じることがあり、その結
果、あるオフセット電流で駆動する場合、前記条件によ
りオフセットレベルにバラツキが生ずる場合がある。
In this method, when controlling the offset level of the semiconductor laser, one method for monitoring the offset light emission state of the laser is to connect the emitter terminal of the laser driving transistor to a resistor and connect the transistor to the transistor. The flowing current is converted into current-voltage, and the voltage signal is fed back to the laser control circuit. However, the threshold current of the laser may vary depending on conditions such as the type and individual difference. As a result, when driven by a certain offset current, the offset level may vary depending on the above conditions.

【0012】また、あるレベルでのオン発光と定常値の
オフセット発光とによる変調を行う場合、オフセット発
光時のオフセット電流値としきい値電流との差が大きい
ほど変調特性が劣化する傾向があるため、しきい値電流
の変動により変調特性に違いが生じてしまう恐れがあ
る。そこで、オフセット発光状態とオン発光状態とを切
替えて変調を行う光出力変調時において個体差等による
バラツキなどに対して高精度に制御を行うためにはオフ
セットレベルを所望の値に設定可能な構成が望ましい。
Further, in the case of performing modulation by ON light emission at a certain level and offset light emission of a steady value, the larger the difference between the offset current value and the threshold current at the time of offset light emission, the more the modulation characteristics tend to deteriorate. However, there is a possibility that the modulation characteristics may differ due to the fluctuation of the threshold current. Therefore, in order to perform highly accurate control of variations due to individual differences during light output modulation that performs modulation by switching between the offset light emission state and the ON light emission state, the offset level can be set to a desired value. Is desirable.

【0013】また半導体レーザは温度変動によりその順
方向電流−光出力特性が、特にLD領域にて変動するた
め、これに対して一定光量で変調を行うために温度変動
に応じてオン発光レベルを制御することは広く行われい
るが、オフセットレベルの制御に関しては順方向電流と
してある定常値で制御を行うのが一般的であった。
Further, since the forward current-light output characteristics of the semiconductor laser fluctuate particularly in the LD region due to temperature fluctuation, the ON emission level is changed according to the temperature fluctuation in order to perform modulation with a constant light amount. Although control is widely performed, it is general to control the offset level with a certain steady value as the forward current.

【0014】また、半導体レーザのオン発光レベル変調
信号によりオフセット発光とオン発光レベルとの異なる
2種類の状態を切替える画像形成装置においては、オフ
セット発光時に非画像領域、オン発光時に画像領域を構
成することにより、変調信号に基づいて画像を形成する
ことが可能となる。しかしながら上記構成の画像形成装
置においては、オフセットレベルにおいてある光量以上
の発光量があると、その光出力により感光体上に微小電
荷が蓄積し、微量ながらトナーが付着することにより画
像として地汚れの原因となり得るという問題点があっ
た。
In an image forming apparatus that switches between two types of states, offset light emission and on light emission level, which differ from each other in accordance with an on light emission level modulation signal of a semiconductor laser, a non-image area is formed during offset light emission and an image area is formed during on light emission. This makes it possible to form an image based on the modulated signal. However, in the image forming apparatus having the above-described configuration, when the light emission amount exceeds a certain light amount at the offset level, a minute charge is accumulated on the photoconductor due to the light output, and a slight amount of toner adheres to the image forming device to cause background stain. There was a problem that it could be the cause.

【0015】この問題点の解決のために通常オフセット
レベルを感光体の感度より低くすることが望ましく、そ
のためオフセットレベルを決めるオフセット電流はレー
ザのしきい値電流よりも充分小さい値に設定されている
ことが望ましい。他方半導体レーザの動作としては、オ
ン発光レベルとオフセットレベルとの間で変調を行う場
合、オフセットレベルがしきい値電流程度に大きい値と
なる場合、光の立上がり特性などを含めた変調特性が良
好となる傾向がある。
To solve this problem, it is usually desirable to make the offset level lower than the sensitivity of the photoconductor, and therefore the offset current that determines the offset level is set to a value sufficiently smaller than the threshold current of the laser. Is desirable. On the other hand, as the operation of the semiconductor laser, when the modulation is performed between the ON emission level and the offset level, when the offset level becomes a value as large as the threshold current, the modulation characteristics including the light rising characteristic are good. Tends to be.

【0016】また、近年レーザプリンタやデジタル複写
機などの画像形成装置において光源として用いられる半
導体レーザにおいては、画像の高密度化に伴いそのレー
ザ光によるビームスポット径の微小化が望まれ、そのた
めの手段として、短波長半導体レーザに対するニーズが
高まっている。
Further, in a semiconductor laser used as a light source in an image forming apparatus such as a laser printer or a digital copying machine in recent years, it is desired to reduce the beam spot diameter by the laser beam as the image density becomes higher. As a means, there is an increasing need for short wavelength semiconductor lasers.

【0017】このような半導体レーザの短波長化に伴
い、上記しきい値電流が高くなる傾向があり、例えば従
来と同様のオフセットレベルで制御を行う条件の電流設
定とした場合、オフセットレベルからオン発光レベルに
至るまでの電流変化量が大きくなってしまう傾向にあっ
た。
As the wavelength of the semiconductor laser becomes shorter, the threshold current tends to increase. For example, when the current is set to control the offset level in the same manner as the conventional one, the threshold level is turned on. There was a tendency that the amount of current change until reaching the light emission level became large.

【0018】また、このようにレーザの短波長化に伴い
しきい値電流が大きくなる傾向があるため、従来と同様
のオフセット電流設定を行う場合には、電流変化量が大
きくなり、その結果高速変調特性が低下するという問題
点が考えられる。
Since the threshold current tends to increase as the wavelength of the laser becomes shorter, the amount of current change becomes large when the offset current is set in the same manner as the conventional one, resulting in high speed. The problem is that the modulation characteristic is degraded.

【0019】そこで本発明では、短波長化のなされた半
導体レーザや個体差の大きい半導体レーザを使用した場
合においても、光出力制御を安定して精度良く出力する
手法を提供する半導体レーザ制御装置を提供することを
目的とする。
Therefore, the present invention provides a semiconductor laser control device which provides a method of stably and accurately outputting light output control even when a semiconductor laser having a short wavelength or a semiconductor laser having a large individual difference is used. The purpose is to provide.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記の半導体レーザ制御
装置における半導体レーザの個体差や短波長化等によ
り、バラツキの生ずるしきい値電流や光出力特性の課題
を解決するため、本発明ではオフセットレベルの制御信
号を所望の値に設定する手段を設け、制御を行う半導体
レーザーのしきい値電流やオフセット発光特性に合わせ
て所望の値にオフセットレベルを制御することにより、
光出力の安定化並びに高精度な制御を行うことを可能に
する。
In order to solve the problems of the threshold current and the optical output characteristics, which are caused by variations due to individual differences of semiconductor lasers and shortening of wavelength in the semiconductor laser control device described above, the present invention provides an offset method. By providing means for setting the level control signal to a desired value, and controlling the offset level to a desired value in accordance with the threshold current and offset emission characteristics of the semiconductor laser to be controlled,
This makes it possible to stabilize the light output and perform highly accurate control.

【0021】そのための手段としては、例えば電流源、
電圧源などを用いて複数のオフセットレベル制御信号を
任意に切り替え得る構成とし、このような構成により光
出力の安定化ないしは高精度な制御を図るものである。
As means for that purpose, for example, a current source,
The configuration is such that a plurality of offset level control signals can be arbitrarily switched using a voltage source or the like, and such a configuration is intended to stabilize or highly accurately control the light output.

【0022】また、オフセットレベル制御信号として複
数の信号レベルを選択可能な構成とすることにより上記
課題を解決するものである。
Further, the above problem is solved by adopting a structure in which a plurality of signal levels can be selected as the offset level control signal.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】次に本発明の実施例について説明
する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, embodiments of the present invention will be described.

【0024】本発明の実施例は、上記図1に示す構成と
同様に、画像変調信号に基づいて光源としての半導体レ
ーザ15を変調駆動し、その半導体レーザ15からのレ
ーザ光を回転駆動される感光体19に対してポリゴンミ
ラー16等の走査手段により偏向走査しながら、同期検
知センサ18により検知される同期信号に基づく所定の
タイミングで露光することによって感光体19表面に所
望の静電潜像を形成する画像形成装置及びそこで適用さ
れる半導体レーザ制御装置として実現される。
In the embodiment of the present invention, similarly to the structure shown in FIG. 1, the semiconductor laser 15 as the light source is modulated and driven based on the image modulation signal, and the laser light from the semiconductor laser 15 is rotationally driven. A desired electrostatic latent image is formed on the surface of the photoconductor 19 by exposing the photoconductor 19 at a predetermined timing based on a synchronization signal detected by the synchronization detection sensor 18 while deflecting and scanning the photoconductor 19 by scanning means such as a polygon mirror 16. And a semiconductor laser control device applied therefor.

【0025】まず、比較として従来の一例の半導体レー
ザ制御装置の構成を図2に示す。
First, as a comparison, the configuration of a conventional semiconductor laser control device is shown in FIG.

【0026】同図の構成では、半導体レーザLDと半導
体レーザの光出力の一部をモニタする受光素子PDから
得られる半導体レーザのオン発光時の光出力に比例した
モニタ信号(モニタ電流)と、オン発光レベル制御信号
により半導体レーザの順方向電流を制御するオン発光レ
ベル制御手段31と、半導体レーザLDを駆動する駆動
トランジスタQ1のコレクタに半導体レーザLDが接続
され、ベースに半導体レーザの順方向電流信号が供給さ
れ、エミッタ・接地間に抵抗RLDが接続され、半導体
レーザLDのオフセット発光時のエミッタ電位がオフセ
ットレベル信号Vb0と等しくなるように半導体レーザL
Dの順方向電流を制御する第1の誤差増幅部32から構
成される第1の光・電気負帰還ループ36と、変調信号
により半導体レーザLDのオン発光、オフセット発光の
順方向電流を切替える電流駆動部33で構成され、変調
信号が'0'のときにオフセット発光用の順方向電流をL
Dに流すように制御を行う構成である。
In the configuration shown in the figure, a monitor signal (monitor current) proportional to the optical output of the semiconductor laser LD and a light receiving element PD for monitoring a part of the optical output of the semiconductor laser when the semiconductor laser is turned on, The on-emission level control means 31 for controlling the forward current of the semiconductor laser by the on-emission level control signal and the semiconductor laser LD are connected to the collector of the drive transistor Q1 for driving the semiconductor laser LD, and the forward current of the semiconductor laser is connected to the base. A signal is supplied, a resistor RLD is connected between the emitter and ground, and the semiconductor laser L is set so that the emitter potential during offset emission of the semiconductor laser LD becomes equal to the offset level signal Vb0.
A first optical / electrical negative feedback loop 36 composed of a first error amplification section 32 for controlling the forward current of D, and a current for switching the forward current of ON emission and offset emission of the semiconductor laser LD by a modulation signal. When the modulation signal is '0', the forward current for offset light emission is L
It is a configuration in which control is performed so as to flow to D.

【0027】ここでオフセットレベル信号Vb0はある一
定値であり、Vb0とオフセット発光時のエミッタ電位と
が等しくなるように制御を行うため、オフセット電流は
常にVb0により決まる一定の値に維持される。
Here, the offset level signal Vb0 has a certain constant value, and control is performed so that Vb0 and the emitter potential at the time of offset light emission become equal, so that the offset current is always maintained at a constant value determined by Vb0.

【0028】次に、本発明の第1の実施例による半導体
レーザ制御装置の構成を図3に示す。
Next, FIG. 3 shows the configuration of a semiconductor laser control device according to the first embodiment of the present invention.

【0029】この実施例では、半導体レーザLDと半導
体レーザのオン発光時のオン発光電流を設定するオン発
光レベル設定手段31と、半導体レーザLDのオフセッ
ト発光時のオフセット電流を制御する第1の制御手段と
から構成され、この第1の制御手段は、半導体レーザL
D駆動用の駆動トランジスタQ1のコレクタに半導体レ
ーザLDが接続され、ベースに半導体レーザの順方向電
流信号が供給され、エミッタ・接地間に抵抗RLDが接続
され、半導体レーザLDのオフセット発光時のエミッタ
電位がオフセットレベル制御信号Vbと等しくなるように
半導体レーザLDの順方向電流を制御する第1の誤差増
幅部32から構成される第1の光・電気負帰還ループと
36よりなる。
In this embodiment, the semiconductor laser LD, the ON emission level setting means 31 for setting the ON emission current during ON emission of the semiconductor laser, and the first control for controlling the offset current during offset emission of the semiconductor laser LD. The first control means is a semiconductor laser L.
The semiconductor laser LD is connected to the collector of the drive transistor Q1 for driving D, the forward current signal of the semiconductor laser is supplied to the base, the resistor RLD is connected between the emitter and ground, and the emitter of the semiconductor laser LD at the time of offset light emission. It is composed of a first optical / electrical negative feedback loop composed of a first error amplification section 32 which controls the forward current of the semiconductor laser LD so that the potential becomes equal to the offset level control signal Vb, and 36.

【0030】この実施例では、変調信号により半導体レ
ーザLDのオン発光、オフセット発光の順方向電流を切
替える電流駆動部33(切り換えスイッチ)を備え、オ
フセットレベル制御信号Vbを所望の値に設定する手段3
4(所定の電圧信号Vbを発生する信号発生回路)を有す
ることにより、オフセットレベル制御信号Vbを任意に設
定することによって半導体レーザLDの所望のオフセッ
ト発光電流が設定可能となり、半導体レーザLDの特
性、種類や個体差等に応じて、前記オフセットレベルを
所望の値に設定することが可能となる。
In this embodiment, a current drive unit 33 (changeover switch) for switching the forward current of ON emission of the semiconductor laser LD and offset emission by a modulation signal is provided, and means for setting the offset level control signal Vb to a desired value. Three
By having 4 (a signal generation circuit for generating a predetermined voltage signal Vb), it becomes possible to set a desired offset emission current of the semiconductor laser LD by arbitrarily setting the offset level control signal Vb, and the characteristics of the semiconductor laser LD It is possible to set the offset level to a desired value according to the type, individual difference, and the like.

【0031】次に、本発明の第2の実施例の構成を図4
に示す。
Next, the configuration of the second embodiment of the present invention is shown in FIG.
Shown in.

【0032】この実施例では、半導体レーザLDと半導
体レーザのオン発光時のオン発光電流を設定するオン発
光レベル設定手段31と、半導体レーザLDのオフセッ
ト発光時のオフセット電流を制御する第1の制御手段3
6と、半導体レーザLDを点灯駆動する変調信号と変調
信号を遅延させた遅延信号との論理積により前記第1の
制御手段の制御タイミングを示す信号を生成する第1の
タイミング生成回路35を設けている。
In this embodiment, the semiconductor laser LD, the ON emission level setting means 31 for setting the ON emission current during ON emission of the semiconductor laser, and the first control for controlling the offset current during offset emission of the semiconductor laser LD. Means 3
6, a first timing generation circuit 35 for generating a signal indicating the control timing of the first control means by the logical product of the modulation signal for driving the semiconductor laser LD to light up and the delay signal obtained by delaying the modulation signal. ing.

【0033】このように遅延回路37と論理積回路38
とを使用することで、誤差増幅部出力32から得られる
光出力のオフセットレベル値をホールドする第1のホー
ルド手段(ホールドコンデンサC1)に対するホールド制
御タイミングを、変調信号が連続した一定期間ボトム制
御を行う同一ステートとなる場合にのみスイッチ39を
閉じてコンデンサC1への充電を行なうようにして第1の
ホールド手段に対する制御を行うようにし、光出力のオ
フセットレベル制御を行ってオフセットレベル制御信号
を所望の値に設定する構成としている。そしてこのよう
にして制御信号に基づいて所望のオフセット電流に設定
可能にしている。
In this way, the delay circuit 37 and the AND circuit 38
By using and, the hold control timing for the first hold means (hold capacitor C1) for holding the offset level value of the optical output obtained from the error amplification unit output 32 is controlled by the bottom control for a fixed period during which the modulation signal is continuous. Only when they are in the same state, the switch 39 is closed to charge the capacitor C1 to control the first holding means, and the offset level control of the optical output is performed to obtain the offset level control signal. The value is set to. In this way, the desired offset current can be set based on the control signal.

【0034】この構成によれば、半導体レーザLDのオ
フセット電流の検出回路の応答速度の影響を受けずにオ
フセット電流を設定でき、また、オフセットレベル制御
信号を所望の値に設定する手段を有することにより、オ
フセットレベル制御信号に基づいて所望のオフセット電
流に設定可能となり、半導体レーザの特性、種類や個体
差に応じて、オフセットレベルを所望の値に設定するこ
とが可能となる。次に本発明の第3の実施例の構成を図
5に示す。
According to this structure, the offset current can be set without being affected by the response speed of the detection circuit of the offset current of the semiconductor laser LD, and means for setting the offset level control signal to a desired value is provided. As a result, it is possible to set a desired offset current based on the offset level control signal, and it is possible to set the offset level to a desired value according to the characteristics, types and individual differences of the semiconductor laser. Next, the configuration of the third embodiment of the present invention is shown in FIG.

【0035】同図の構成では、半導体レーザLDのオフ
セット発光時のオフセット電流を制御する前記第1の制
御手段と、半導体レーザLDのオン発光時のオン発光電
流を制御する前記第2の制御手段とよりなり、更に半導
体レーザLDと半導体レーザの光出力の一部をモニタす
る受光素子PDから得られる半導体レーザのオン発光時
の光出力に比例したモニタ信号とオン発光レベル制御信
号とが等しくなるように半導体レーザの順方向電流を制
御する誤差増幅部42を含む光・電気負帰還ループが設
けられている。
In the configuration shown in the figure, the first control means for controlling the offset current of the semiconductor laser LD during the offset light emission and the second control means for controlling the on light emission current of the semiconductor laser LD during the on light emission. Further, the monitor signal proportional to the optical output at the time of ON emission of the semiconductor laser obtained from the semiconductor laser LD and the light receiving element PD for monitoring a part of the optical output of the semiconductor laser is equal to the ON emission level control signal. As described above, an optical / electrical negative feedback loop including the error amplification unit 42 for controlling the forward current of the semiconductor laser is provided.

【0036】図5の実施例では、半導体レーザLDの光
出力をモニタする受光素子PDはモニタ抵抗RPDにより
電圧に変換され、その端子電圧が第1の誤差増幅器42
に入力され、この第1の誤差増幅器42では、上記端子
電圧がオン発光レベル制御信号と比較される。ここで半
導体レーザLDに接続されたトランジスタQ1への発光
指令信号が'H'の場合、変調信号をインバータ43で反
転した信号によってスイッチSW1が閉じらると共に切
り換えスイッチ33が上方向に切り替わり、第1のホー
ルドコンデンサC1に制御電圧が充電され、その出力に
より半導体レーザLDの端子間電圧を制御することによ
り半導体レーザLDの光出力が所望の値になるように制
御される。また、上記発光指令信号が'L'の場合には、
スイッチSW1が開かれると共に切り換えスイッチ33
が下方向に切り替わり、第1のホールドコンデンサC1
はその制御値を保持する。また、上記発光指令信号が'
L'の場合には、同じに変調信号によってスイッチSW2
が閉じられ、半導体レーザLDに流れる電流検出用の抵
抗RLDの端子間電圧が第2の誤差増幅器32に入力さ
れ、その結果、上記電流が所定のオフセット電流になる
ように第2のホールドコンデンサC2を介して制御がな
される。
In the embodiment shown in FIG. 5, the light receiving element PD for monitoring the optical output of the semiconductor laser LD is converted into a voltage by the monitor resistor RPD, and the terminal voltage thereof is converted into the first error amplifier 42.
Is input to the first error amplifier 42, and the terminal voltage is compared with the ON emission level control signal. Here, when the light emission command signal to the transistor Q1 connected to the semiconductor laser LD is'H ', the switch SW1 is closed by the signal obtained by inverting the modulation signal by the inverter 43, and the changeover switch 33 is switched upward, The hold capacitor C1 of No. 1 is charged with the control voltage, and the voltage across the terminals of the semiconductor laser LD is controlled by the output thereof to control the optical output of the semiconductor laser LD to a desired value. When the light emission command signal is'L ',
The switch SW1 is opened and the changeover switch 33 is opened.
Changes downward, and the first hold capacitor C1
Holds its control value. Also, the light emission command signal is
In the case of L ', the same switch SW2 is used depending on the modulation signal.
Is closed, and the voltage across the resistor RLD for detecting the current flowing through the semiconductor laser LD is input to the second error amplifier 32. As a result, the second hold capacitor C2 is adjusted so that the current becomes a predetermined offset current. Is controlled via.

【0037】このようにして、発光指令信号が'H'の場
合は第1のホールドコンデンサC1の端子電圧が、発光
指令信号が'L'の場合には第2のホールドコンデンサC
2の電圧が半導体レーザLDの端子間に印加される。そ
の結果、発光指令信号が'H'の場合には半導体レーザL
Dの発光レベルが所定のオン発光レベルになるよう制御
され、発光指令信号が'L'の場合には半導体レーザLD
にバイアス電流が流れるように制御される。ここに、第
1の誤差増幅器42および第1のホールドコンデンサC
1により第1の制御ホールド回路が構成され、第2の誤
差増幅器32および第2のホールドコンデンサC2によ
り第2の制御ホールド回路が構成される。
Thus, the terminal voltage of the first hold capacitor C1 is set when the light emission command signal is "H", and the second hold capacitor C is set when the light emission command signal is "L".
The voltage of 2 is applied between the terminals of the semiconductor laser LD. As a result, when the emission command signal is'H ', the semiconductor laser L
When the emission level of D is controlled to a predetermined ON emission level and the emission command signal is'L ', the semiconductor laser LD
The bias current is controlled so that Here, the first error amplifier 42 and the first hold capacitor C
1 configures a first control hold circuit, and the second error amplifier 32 and the second hold capacitor C2 configure a second control hold circuit.

【0038】このような構成では、半導体レーザLDの
オン発光レベルとオフセットレベルの双方を変調信号の
タイミングで制御することが可能となる。
With such a configuration, both the ON emission level and the offset level of the semiconductor laser LD can be controlled at the timing of the modulation signal.

【0039】本発明の第4の実施例の構成を図6に示
す。
The configuration of the fourth embodiment of the present invention is shown in FIG.

【0040】同図の構成では、半導体レーザLDのオフ
セット発光時のオフセット電流を制御する前記第1の制
御手段と、半導体レーザLDのオン発光時のオン発光電
流を制御する前記第2の制御手段と、半導体レーザLD
を点灯する変調信号と変調信号を遅延させた遅延信号と
の論理積により第1の制御手段の制御タイミングを示す
信号を生成する第1のタイミング生成手段35と、半導
体レーザLDを点灯する変調信号と変調信号を遅延させ
た前記遅延信号との論理和により前記第2の制御手段4
1の制御タイミングを示す信号を生成する第2のタイミ
ング生成手段44とよりなる。
In the configuration shown in the figure, the first control means for controlling the offset current when the semiconductor laser LD emits the offset light and the second control means for controlling the ON emission current when the semiconductor laser LD emits the ON light. And laser diode LD
A first timing generation means 35 for generating a signal indicating the control timing of the first control means by a logical product of a modulation signal for turning on and a delay signal obtained by delaying the modulation signal, and a modulation signal for turning on the semiconductor laser LD. And the second control means 4 by the logical sum of the delayed signal obtained by delaying the modulated signal
The second timing generation unit 44 generates a signal indicating the control timing of 1.

【0041】図6の実施例では、半導体レーザLDの光
出力をモニタする受光素子PDはモニタ抵抗RPDにより
電圧に変換され、その端子電圧が第1の誤差増幅器42
に入力され、この第1の誤差増幅器42では、上記端子
電圧がオン発光レベル制御信号と比較される。ここで半
導体レーザLDに接続されたトランジスタQ1への発光
指令信号が'H'の場合、上記(第3実施例の説明参照)
の如く、第1のホールドコンデンサC1に制御電圧が充
電され、その出力により半導体レーザLDの端子間電圧
を制御することにより半導体レーザLDの光出力が所望
の値になるように制御される。また、上記発光指令信号
が'L'の場合にも上記の如く、第1のホールドコンデン
サC1はその制御値を保持する動作を行う。また、上記
発光指令信号が'L'の場合に、やはり上記の如く、半導
体レーザLDに流れる電流検出用の抵抗RLDの端子間電
圧が第2の誤差増幅器32に入力され、それにより、上
記電流が所定のオフセット電流になるように第2のホー
ルドコンデンサC2を介して制御がなされる。
In the embodiment shown in FIG. 6, the light receiving element PD for monitoring the light output of the semiconductor laser LD is converted into a voltage by the monitor resistor RPD, and the terminal voltage thereof is converted into the first error amplifier 42.
Is input to the first error amplifier 42, and the terminal voltage is compared with the ON emission level control signal. Here, when the light emission command signal to the transistor Q1 connected to the semiconductor laser LD is'H ', the above (refer to the description of the third embodiment).
As described above, the first hold capacitor C1 is charged with the control voltage, and the output voltage of the semiconductor laser LD is controlled to control the optical output of the semiconductor laser LD to a desired value. Also, when the light emission command signal is'L ', the first hold capacitor C1 operates to hold the control value as described above. Further, when the light emission command signal is'L ', the terminal voltage of the resistor RLD for detecting the current flowing through the semiconductor laser LD is input to the second error amplifier 32 as described above. Is controlled via the second hold capacitor C2 so that the voltage becomes a predetermined offset current.

【0042】このようにして、発光指令信号が'H'の場
合は第1のホールドコンデンサC1の端子電圧が、発光
指令信号が'L'の場合には第2のホールドコンデンサC
2の電圧が半導体レーザLDの端子間に印加される。そ
の結果、発光指令信号が'H'の場合には半導体レーザL
Dの発光レベルが所定のオン発光レベルになるよう制御
され、発光指令信号が'L'の場合には半導体レーザLD
にバイアス電流が流れるように制御される。ここに、第
1の誤差増幅器42および第1のホールドコンデンサC
1により第1の制御ホールド回路が構成され、第2の誤
差増幅器32および第2のホールドコンデンサC2によ
り第2の制御ホールド回路が構成される。また、この実
施例では、遅延回路37と論理積回路38との組み合わ
せ及び遅延回路37と否定的論理積回路43との組み合
わせにより、上記第1、第2の各誤差増幅部42,32
の出力から得られる光出力のオン発光レベル値、オフセ
ットレベル値を夫々ホールドするピーク、ボトムの2系
統のホールド回路は、変調信号が連続した一定期間同一
ステートとなる場合にのみ自動制御を行うようなタイミ
ングで制御される。これにより、画像形成装置などにお
いて、画像域と非画像域に関わらず、ある一定の期間連
続してオン発光、又はオフセット発光する制御期間にお
いて半導体レーザの順方向電流の制御を行うこととなる
ため、半導体レーザLDのオン発光電流の検出回路の応
答速度の影響を受けずにオン発光電流を制御できる。
又、更に光出力のオフセットレベル制御を行うオフセッ
トレベル制御信号を所望の値に設定する手段を有するこ
とにより、制御信号に基づいて所望のオフセット電流に
設定可能となる。
Thus, the terminal voltage of the first hold capacitor C1 is set when the light emission command signal is "H", and the second hold capacitor C is set when the light emission command signal is "L".
The voltage of 2 is applied between the terminals of the semiconductor laser LD. As a result, when the emission command signal is'H ', the semiconductor laser L
When the emission level of D is controlled to a predetermined ON emission level and the emission command signal is'L ', the semiconductor laser LD
The bias current is controlled so that Here, the first error amplifier 42 and the first hold capacitor C
1 configures a first control hold circuit, and the second error amplifier 32 and the second hold capacitor C2 configure a second control hold circuit. Further, in this embodiment, the first and second error amplifying sections 42 and 32 are combined by the combination of the delay circuit 37 and the logical product circuit 38 and the combination of the delay circuit 37 and the negative logical product circuit 43.
The two-system hold circuit, that is, the peak and bottom that respectively hold the ON emission level value and the offset level value of the optical output obtained from the output of, perform automatic control only when the modulation signal remains in the same state for a certain period of time. Controlled at various timings. As a result, in the image forming apparatus or the like, the forward current of the semiconductor laser is controlled during the control period in which the ON emission or the offset emission is continuously performed for a certain period regardless of the image region and the non-image region. The ON emission current can be controlled without being affected by the response speed of the detection circuit of the ON emission current of the semiconductor laser LD.
Further, by further having means for setting the offset level control signal for performing the offset level control of the light output to a desired value, it becomes possible to set a desired offset current based on the control signal.

【0043】次に本発明の第5実施例による半導体レー
ザ制御装置の構成を図7に示す。
Next, FIG. 7 shows the structure of a semiconductor laser control apparatus according to the fifth embodiment of the present invention.

【0044】同図の実施例による半導体レーザ制御装置
では、光出力のオフセットレベル制御を行うオフセット
レベル制御信号を所望の値に可変可能な構成を有する。
The semiconductor laser control apparatus according to the embodiment shown in the figure has a structure in which the offset level control signal for controlling the offset level of the optical output can be changed to a desired value.

【0045】図2に示す従来技術ではオフセットレベル
信号Vb0は一定値をとるため、例えば異なる半導体レー
ザを同一回路を使用して制御を行う場合、オフセットレ
ベル信号により決まるあるオフセット電流値における光
出力をオフセットレベルとして制御を行うが、一方のレ
ーザが他方に比べ同じ電流値でオフセット発光量が異な
る場合には、オフセットレベルが異なることになり、レ
ーザによってはオフセット発光時に地汚れが発生する恐
れがある。そこで図7に示す如くオフセットレベルを所
望の値に可変可能な手段(切り換えスイッチ)34を設
けることにより、レーザ毎にオフセット電流を所望の値
に設定することが可能となる。また、オフセット電流を
所望の値に設定することで決まるオフセットレベルもま
た所望の値に制御することが可能となる。
In the prior art shown in FIG. 2, since the offset level signal Vb0 has a constant value, for example, when different semiconductor lasers are controlled using the same circuit, the optical output at a certain offset current value determined by the offset level signal is obtained. Control is performed as an offset level, but if one laser has the same current value and a different amount of offset light emission compared to the other, the offset level will be different, and depending on the laser, scumming may occur during offset light emission. . Therefore, as shown in FIG. 7, by providing means (changeover switch) 34 that can change the offset level to a desired value, it becomes possible to set the offset current to a desired value for each laser. Further, the offset level determined by setting the offset current to a desired value can also be controlled to a desired value.

【0046】次に第6の実施例による半導体レーザ制御
装置における実施例を図8に示す。
FIG. 8 shows an embodiment of the semiconductor laser control device according to the sixth embodiment.

【0047】同図の実施例による半導体レーザ制御装置
では、光出力のオフセットレベル制御を行うオフセット
レベル制御信号として、2種類の値に切替可能な手段5
3(切り換えスイッチ)を設けている。
In the semiconductor laser control device according to the embodiment shown in FIG. 5, the offset level control signal for controlling the offset level of the optical output can be switched between two values.
3 (changeover switch) is provided.

【0048】オフセットレベル制御信号をオフセットレ
ベル制御信号1(Vb1)、オフセットレベル制御信号2(Vb
2)の2種類のいずれかに切替え可能とし、どちらか一方
の信号をオフセットレベル制御手段32に入力するよう
に切替える切替手段53を設けることにより、例えばIC
毎にレベルの異なるオフセットレベル制御信号1,2を
設定しておき、制御するレーザの特性、種類、個体差に
より所望のオフセットレベルに近い光出力が得られるオ
フセットレベル制御信号を切替手段53により選択する
よう構成することにより、所望の値に近いオフセット発
光量を選択することが可能となる。
The offset level control signal is the offset level control signal 1 (Vb1) and the offset level control signal 2 (Vb
It is possible to switch to either of two types of 2), and by providing a switching means 53 that switches so as to input one of the signals to the offset level control means 32, for example, an IC
The offset level control signals 1 and 2 having different levels are set for each, and the switching means 53 selects the offset level control signal with which the optical output close to the desired offset level can be obtained depending on the characteristics, type, and individual difference of the laser to be controlled. With such a configuration, it is possible to select an offset light emission amount close to a desired value.

【0049】次に、第7実施例による半導体レーザ制御
装置の構成について図9に示す。
Next, FIG. 9 shows the structure of the semiconductor laser control apparatus according to the seventh embodiment.

【0050】同図の実施例による半導体レーザ制御装置
において、光出力のオフセットレベル制御を行うオフセ
ットレベル制御信号の値を2種類の信号レベル値に切替
可能な手段53(切り換えスイッチ)を備え、かつ切替
える信号レベル値の夫々を所望の値に可変可能な構成を
有するものである。
The semiconductor laser control apparatus according to the embodiment of the figure is provided with means 53 (changeover switch) capable of switching the value of the offset level control signal for controlling the offset level of the optical output to two kinds of signal level values, and Each of the signal level values to be switched has a configuration that can be changed to a desired value.

【0051】この構成では、オフセットレベル制御信号
をオフセットレベル制御信号1(Vb1)、オフセットレベ
ル制御信号2(Vb2)の2種類に切替え可能とし、かつ各
々の信号レベルを夫々可変とすることにより、どちらか
一方の信号をオフセットレベル制御手段32に入力する
構成とされる。例えばIC毎にレベルの異なるオフセット
レベル制御信号1,2を所望の値に設定し、更に制御す
るレーザの特性、種類、個体差により所望のオフセット
レベルに近い光出力が得られるオフセットレベル制御信
号を切替手段53により選択することにより、所望の値
のオフセット発光量を2種類のうちから選択することが
可能となる。
In this configuration, the offset level control signal can be switched between two types, that is, the offset level control signal 1 (Vb1) and the offset level control signal 2 (Vb2), and each signal level can be made variable. Either one of the signals is input to the offset level control means 32. For example, by setting the offset level control signals 1 and 2 having different levels for each IC to desired values, and further controlling the characteristics, type, and individual difference of the laser to be controlled, an offset level control signal that provides an optical output close to the desired offset level can be obtained. By selecting by the switching means 53, it is possible to select the offset light emission amount of a desired value from two types.

【0052】次に本発明の第8実施例による半導体レー
ザ制御装置の構成を図10に示す。
Next, FIG. 10 shows the configuration of a semiconductor laser control device according to the eighth embodiment of the present invention.

【0053】この構成では、オフセットレベル制御を行
うオフセットレベル制御信号を保存するメモリ55を設
け、メモリ55にメモリ設定信号を与えることにより所
望の値を読み出す構成とする。即ち、この構成によって
メモリ55にあらかじめ複数のオフセットレベル制御信
号値を保存しておき、メモリ55から保存したデータを
読み出す場合、与えるメモリ設定信号の信号レベル値に
応じてデータを読み出して所望のオフセットレベル制御
を行うことにより、切替手段などを用いずにオフセット
レベルを複数のレベルから任意に選択可能となる。
In this configuration, the memory 55 for storing the offset level control signal for performing the offset level control is provided, and a desired value is read out by giving a memory setting signal to the memory 55. That is, with this configuration, when a plurality of offset level control signal values are stored in the memory 55 in advance and the stored data is read from the memory 55, the data is read according to the signal level value of the memory setting signal to be given and the desired offset is obtained. By performing the level control, the offset level can be arbitrarily selected from a plurality of levels without using a switching unit or the like.

【0054】次に、第9の実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を図11に示す。
Next, FIG. 11 shows the configuration of a semiconductor laser control device according to the ninth embodiment.

【0055】この構成では、オフセットレベル制御信号
を所望の値に可変に設定する手段として可変抵抗器Rbを
設けている。すなわち、ある定電圧源Vbと可変抵抗器R
bとを設け、可変抵抗Rbの抵抗値を変更することによっ
て可変抵抗の端子から得られるオフセット制御信号レベ
ルVbを所望の値に設定することが可能となり、レーザの
特性、種類、個体差によるオフセット発光特性の影響を
低減することが可能となる。また例えば半導体レーザ制
御回路部をIC化した場合などにおいて可変抵抗部をIC外
部の基板上などに設け、同じく基板上に実装する半導体
レーザの特性に応じて可変抵抗の値を所望の値に変更す
ることにより、オフセットレベルをLDの種類、個体差に
応じて容易に変更することが可能となる。
In this structure, the variable resistor Rb is provided as a means for variably setting the offset level control signal to a desired value. That is, a constant voltage source Vb and a variable resistor R
It is possible to set the offset control signal level Vb obtained from the terminal of the variable resistance to a desired value by providing b and changing the resistance value of the variable resistance Rb. It is possible to reduce the influence of the light emitting characteristics. Also, for example, when the semiconductor laser control circuit unit is integrated into an IC, the variable resistance unit is provided on a substrate outside the IC, and the variable resistance value is changed to a desired value according to the characteristics of the semiconductor laser mounted on the substrate. By doing so, it becomes possible to easily change the offset level according to the type of LD and individual difference.

【0056】次に本発明の第10の実施例による半導体
レーザ制御装置の構成について図12に示す。
Next, FIG. 12 shows the configuration of a semiconductor laser control device according to the tenth embodiment of the present invention.

【0057】ここでは、オフセットレベル値を制御する
オフセットレベル制御手段36と、オン発光レベル値を
制御するオン発光レベル制御手段31とが単一のICに組
み込まれ、オフセットレベル制御信号を入力信号として
入力する構成とされている。このように制御回路をIC化
しICの外部端子よりオフセットレベル制御信号を入力す
ることにより、オフセットレベル制御信号をIC外部か
ら可変制御することが可能となり、例えばレーザの光出
力特性の経時変化に応じて制御信号のレベルを変更する
ことで容易に対応することができる。
Here, the offset level control means 36 for controlling the offset level value and the ON emission level control means 31 for controlling the ON emission level value are incorporated in a single IC, and the offset level control signal is used as an input signal. It is configured to input. By thus forming the control circuit into an IC and inputting the offset level control signal from the external terminal of the IC, it becomes possible to variably control the offset level control signal from outside the IC. This can be easily dealt with by changing the level of the control signal.

【0058】次に本発明の第11の実施例による半導体
レーザ制御装置の構成について図13に示す。
FIG. 13 shows the structure of the semiconductor laser control device according to the eleventh embodiment of the present invention.

【0059】ここでは、前記オフセットレベル値を制御
する光電気負帰還ループと、オン発光レベル値を制御す
る前記オン発光レベル制御手段31とが単一のICに組み
込まれ、オフセットレベル制御信号は、IC外部からの
入力信号を信号変換器61により信号変換して供給され
る構成とされている。このような構成では、制御回路を
IC化しICの外部端子より入力信号を入力し、入力信号を
信号増幅、レベルシフトなどを含めた信号変換してオフ
セットレベル制御信号を供給することにより、経時的に
制御信号を可変制御することが可能となり、例えばレー
ザの光出力特性の経時変化に容易に対応することができ
る。また信号変換器61により入力信号を信号変換する
ため、例えばモニタ電流の非常に小さいレーザなどにお
いてオフセットレベル制御信号が小さくなる場合であっ
ても、入力信号のレベルは大きいままでよく、信号変換
することにより所望のオフセットレベル制御信号が得ら
れ、高精度な制御を行うことが可能となる。
Here, the photoelectric negative feedback loop for controlling the offset level value and the ON emission level control means 31 for controlling the ON emission level value are incorporated in a single IC, and the offset level control signal is The input signal from the outside of the IC is converted by the signal converter 61 and supplied. In such a configuration, the control circuit
The control signal can be variably controlled over time by turning it into an IC and inputting an input signal from the external terminal of the IC, converting the input signal to a signal that includes signal amplification and level shifting, and supplying an offset level control signal. This makes it possible to easily cope with, for example, changes in the optical output characteristics of the laser over time. Further, since the input signal is converted by the signal converter 61, the level of the input signal may remain high even if the offset level control signal becomes small, for example, in a laser having a very small monitor current, and the signal conversion is performed. As a result, a desired offset level control signal can be obtained, and highly accurate control can be performed.

【0060】次に、本発明の第12実施例による半導体
レーザ制御装置の構成について図14に示す。
Next, FIG. 14 shows the structure of a semiconductor laser control device according to the twelfth embodiment of the present invention.

【0061】ここでは、半導体レーザLDからの出射光
を一定方向に回転する回転多面体(ポリゴンミラー1
6、図1参照)により同一方向に周期的に走査する系に
おいて、画像領域を構成する有効走査範囲の内外で、オ
フセットレベル制御信号の信号レベルを切り替える手段
53(切り換えスイッチ)を設けている。図1に上記有
効走査範囲を示す。図1の構成の画像形成装置では、画
像変調信号に基づいて光源としての半導体レーザ15を
変調駆動し、その半導体レーザ15からの光を回転駆動
される感光体19に対してポリゴンミラー等の走査手段
16により偏向走査しながら、同期検知センサ18によ
り検知される同期信号に基づく所定のタイミングで露光
することにより静電潜像を形成する。本実施例では、ポ
リゴンミラー16により偏向走査された半導体レーザ1
5の光は、感光体19上と感光体19の長軸方向に配置
した同期検知センサ18上を通過するが、その走査範囲
に対応する走査期間のうち実際に感光体19上に画像デ
ータの静電潜像を形成する期間を有効走査期間とした場
合、感光体19上の有効走査範囲内に対応する有効走査
期間と範囲外に対応する期間とでオフセットレベル制御
信号を切り替える構成とされている。
Here, a rotating polyhedron (polygon mirror 1) that rotates the light emitted from the semiconductor laser LD in a fixed direction.
6, FIG. 1), a system for periodically scanning in the same direction is provided with a means 53 (switching switch) for switching the signal level of the offset level control signal inside and outside the effective scanning range forming the image area. FIG. 1 shows the effective scanning range. In the image forming apparatus configured as shown in FIG. 1, a semiconductor laser 15 as a light source is modulated and driven based on an image modulation signal, and light from the semiconductor laser 15 is scanned by a polygon mirror or the like with respect to a photoconductor 19 which is rotationally driven. While deflecting and scanning by the means 16, the electrostatic latent image is formed by exposing at a predetermined timing based on the synchronization signal detected by the synchronization detection sensor 18. In this embodiment, the semiconductor laser 1 deflected and scanned by the polygon mirror 16 is used.
The light of No. 5 passes on the photoconductor 19 and the synchronization detection sensor 18 arranged in the long axis direction of the photoconductor 19, but the image data of the image data is actually printed on the photoconductor 19 during the scanning period corresponding to the scanning range. When the period for forming the electrostatic latent image is the effective scanning period, the offset level control signal is switched between the effective scanning period corresponding to the effective scanning range on the photoconductor 19 and the period corresponding to the outside of the effective scanning range. There is.

【0062】例えば有効走査期間内(有効走査範囲に対
応する期間)ではあるオフセットレベル制御信号1と
し、有効走査期間外ではオフセットレベル制御信号1よ
りその値の小さいオフセットレベル制御信号2に切り替
えることにより 、本来画像を形成する必要がないが、
オフセット発光によりわずかな静電潜像を形成してしま
い、その結果発生する電荷によりトナーが付着すること
による地汚れの発生を防止することができ、同時に感光
体19の劣化も低減することができる。また有効走査期
間内では有効走査期間外よりオフセットレベル制御信号
レベルを高い所望の値に設定することにより、オフセッ
ト発光量と変調特性を最適化することができる。
For example, by setting a certain offset level control signal 1 within the effective scanning period (a period corresponding to the effective scanning range), and switching to an offset level control signal 2 having a smaller value than the offset level control signal 1 outside the effective scanning period. , Originally it is not necessary to form an image,
A slight electrostatic latent image is formed by the offset light emission, and it is possible to prevent the occurrence of background stains due to toner adhesion due to the resulting charges, and at the same time, it is possible to reduce deterioration of the photoconductor 19. . Further, by setting the offset level control signal level to a desired higher value within the effective scanning period than outside the effective scanning period, the offset light emission amount and the modulation characteristic can be optimized.

【0063】次に本発明の第13実施例による半導体レ
ーザ制御装置の構成について図15に示す。
FIG. 15 shows the structure of the semiconductor laser control device according to the thirteenth embodiment of the present invention.

【0064】ここでは、複数の基準電圧源71,72
と、これら電圧源71,72との間の電気的接続状態を
切り替える切替手段53(切り換えスイッチ)とを設け
ている。この構成により、複数のオフセットレベル制御
信号から所望のオフセットレベル信号を選択可能とな
る。例えば基準電圧源71,72の出力信号をオフセッ
トレベル制御信号をオフセットレベル制御信号1(Vb
1)、オフセットレベル制御信号2(Vb2)の2種類の切替
え可能な信号で構成し、どちらか一方の信号をオフセッ
トレベル制御回路32に入力するように切替える切替手
段53を設けることにより、例えばIC毎にレベルの異な
るオフセットレベル制御信号1,2を設定しておき、制
御するレーザの種類、個体差により所望のオフセットレ
ベルに近い光出力が得られるオフセットレベル制御信号
を切替手段53により選択することにより、所望の値に
近いオフセット発光量を選択することが可能となる。
Here, a plurality of reference voltage sources 71, 72
And switching means 53 (switching switch) for switching the electrical connection state between these voltage sources 71 and 72. With this configuration, a desired offset level signal can be selected from a plurality of offset level control signals. For example, the output signals of the reference voltage sources 71 and 72 are the offset level control signals and the offset level control signals 1 (Vb
1), the offset level control signal 2 (Vb2) is composed of two types of switchable signals, and by providing switching means 53 for switching to input one of the signals to the offset level control circuit 32, for example, an IC The offset level control signals 1 and 2 having different levels are set for each of them, and the switching means 53 selects the offset level control signal that gives an optical output close to a desired offset level depending on the type of laser to be controlled and individual differences. This makes it possible to select an offset light emission amount close to a desired value.

【0065】次に本発明の第14実施例による半導体レ
ーザ制御装置の構成を図16に示す。
FIG. 16 shows the structure of the semiconductor laser control device according to the fourteenth embodiment of the present invention.

【0066】ここでは、オフセットレベル制御信号の可
変手段として、電流源75と複数の抵抗R1,R2,R
3とを設けている。具体的には、ある定電流源75に直
列に3個の抵抗R1,R2,R3を接続し、各抵抗間の接続部よ
りR1-R2間端子と、R2-R3間端子とから出力電圧をとり、
これらの出力端子を切替える切替え手段53(切り換え
スイッチ)を設けている。定電流源75の電流をI、抵
抗R1,R2,R3の値を各Rとしたとき、各端子に出力する信
号レベルは次の式で求まる。 R1-R2間端子出力=I×2R R2-R3間端子出力=I×R よって上記2種類の信号レベルを切替える切替手段53
を設けることにより、例えばIC毎にレベルの異なるオフ
セットレベル制御信号1,2を設定しておき、制御する
レーザの種類、個体差により所望のオフセットレベルに
近い光出力が得られるオフセットレベル制御信号を切替
手段53により選択することにより、所望の値に近いオ
フセット発光量を選択することが可能となる。
Here, a current source 75 and a plurality of resistors R1, R2, R are used as a means for varying the offset level control signal.
3 and 3 are provided. Specifically, three resistors R1, R2, R3 are connected in series to a certain constant current source 75, and the output voltage is output from the R1-R2 terminal and the R2-R3 terminal from the connection between the resistors. The bird
A switching means 53 (switching switch) for switching these output terminals is provided. When the current of the constant current source 75 is I and the values of the resistors R1, R2, and R3 are R, the signal level output to each terminal is obtained by the following equation. R1-R2 terminal output = I × 2R R2-R3 terminal output = I × R Therefore, the switching means 53 for switching between the above two types of signal levels
By providing the offset level control signals 1 and 2 having different levels for each IC, for example, an offset level control signal for obtaining an optical output close to a desired offset level depending on the type of laser to be controlled and individual difference is provided. By selecting by the switching means 53, it is possible to select an offset light emission amount close to a desired value.

【0067】次に第15実施例による半導体レーザ制御
装置の構成を図17に示す。
FIG. 17 shows the arrangement of the semiconductor laser control apparatus according to the 15th embodiment.

【0068】ここでは、電流源83,84から得られる
定電流をI-V変換器81によりオフセットレベル制御信
号に変換し、電流源83,84との間の電気的接続状態
を切替える切替手段82を設けることにより、複数のオ
フセットレベル制御信号から所望のオフセットレベル制
御信号を選択可能となる。例えば基準電流源83,84
の出力信号としての電流源1(I1)、電流源(I2)の2種類
の信号のどちらか一方の信号をI-V(電流−電圧)変換
器81に入力するように切替える切替手段82を設ける
ことにより、電流源83,84の値とI-V変換器81に
より求まるオフセットレベル制御信号Vb1,Vb2を切替え
可能となる。これにより例えばIC毎にレベルの異なるオ
フセットレベル制御信号1,2を設定しておき、制御す
るレーザの特性、種類、個体差により所望のオフセット
レベルに近い光出力が得られるオフセットレベル制御信
号を切替手段により選択することにより、所望の値に近
いオフセット発光量を選択することが可能となる。
Here, a switching means 82 is provided which converts a constant current obtained from the current sources 83 and 84 into an offset level control signal by the IV converter 81 and switches the electrical connection state between the current sources 83 and 84. As a result, a desired offset level control signal can be selected from the plurality of offset level control signals. For example, reference current sources 83, 84
A switching means 82 for switching so that either one of the two types of signals of the current source 1 (I1) and the current source (I2) as the output signal of the above is input to the IV (current-voltage) converter 81. As a result, the values of the current sources 83 and 84 and the offset level control signals Vb1 and Vb2 obtained by the IV converter 81 can be switched. As a result, for example, the offset level control signals 1 and 2 having different levels are set for each IC, and the offset level control signal that provides the optical output close to the desired offset level is switched depending on the characteristics, type, and individual difference of the laser to be controlled. By selecting by means, it becomes possible to select an offset light emission amount close to a desired value.

【0069】次に本発明の第16実施例による半導体レ
ーザ制御装置の構成を図18に示す。
Next, FIG. 18 shows the structure of a semiconductor laser controller according to the sixteenth embodiment of the present invention.

【0070】ここでは、半導体レーザ制御回路部をIC化
した場合などにおいて、複数個の電圧源91,92,9
3,94ないしは電流源のいずれかとの電気的接続状態
を切り替える切替手段95(切り換えスイッチ)と、電
圧源ないしは電流源91,92,93,94と切替手段
95との間の所望の電気的配線パターンを切断する手段
を設けることにより、複数のオン発光レベル制御信号設
定値のうち所望の信号を得ることが可能となる。具体的
には、図18では、4つの基準電圧源1〜4(91,9
2,93,94)のうち基準電圧源2,3(92,9
3)と切替え手段95との電気的接続パターンをあらか
じめ選択して切断しておくことにより、基準電圧源1
(91)と基準電圧源4(94)とを切替えることによ
りオフセットレベル制御信号1,2を得、その結果絞ら
れた複数のオフセットレベル制御信号から選択可能とな
る。
Here, in the case where the semiconductor laser control circuit unit is formed as an IC, a plurality of voltage sources 91, 92, 9 are used.
Switching means 95 (switching switch) for switching the electrical connection state with any one of 3, 94 or current sources, and desired electrical wiring between the voltage sources or current sources 91, 92, 93, 94 and the switching means 95. By providing the means for cutting the pattern, it becomes possible to obtain a desired signal among the plurality of ON light emission level control signal set values. Specifically, in FIG. 18, four reference voltage sources 1 to 4 (91, 9
2,93,94) of the reference voltage sources 2,3 (92,9)
3) and the electrical connection pattern between the switching means 95 are selected and cut in advance, so that the reference voltage source 1
By switching (91) and the reference voltage source 4 (94), the offset level control signals 1 and 2 are obtained, and as a result, it becomes possible to select from a plurality of narrowed offset level control signals.

【0071】この場合、例えば、基準電圧源91,94
の出力信号としてのオフセットレベル制御信号をオフセ
ットレベル制御信号1(Vb1)、オフセットレベル制御信
号2(Vb4)の2種類の切替え可能な信号で構成し、どち
らか一方の信号をオフセットレベル制御回路32に入力
するように切替える切替手段95を構成することによ
り、例えばIC毎にレベルの異なるオフセットレベル制御
信号1,2を設定しておき、制御するレーザの種類、個
体差により所望のオフセットレベルに近い光出力が得ら
れるオフセットレベル制御信号を切替手段により選択す
ることにより、所望の値に近いオフセット発光量を選択
することが可能となる。
In this case, for example, the reference voltage sources 91, 94
The offset level control signal as an output signal of the offset level control signal 1 (Vb1) and the offset level control signal 2 (Vb4) are composed of two kinds of switchable signals, and one of the signals is used as the offset level control circuit 32. By configuring the switching means 95 for switching to input to, the offset level control signals 1 and 2 having different levels are set for each IC, and the offset level is close to the desired offset level depending on the type of laser to be controlled and individual difference. By selecting the offset level control signal for obtaining the light output by the switching means, it becomes possible to select the offset light emission amount close to a desired value.

【0072】このように、パターン切断によるものと切
り換えスイッチによるものとの2段階で選択できる構成
とすることで、簡易な構成で幅広い選択肢からの選択が
可能となる。
As described above, by adopting the structure in which the selection can be made in two steps, that is, the pattern cutting and the changeover switch, a wide range of options can be selected with a simple structure.

【0073】次に、本発明の第17実施例による半導体
レーザ制御装置の構成を図19に示す。
Next, FIG. 19 shows the structure of a semiconductor laser control apparatus according to the seventeenth embodiment of the present invention.

【0074】ここでは、オフセットレベル制御信号の信
号レベルを切り替えるタイミングを、位相同期検知信号
より生成する構成とされている。
Here, the timing for switching the signal level of the offset level control signal is generated from the phase synchronization detection signal.

【0075】例えば図1に示す如く、画像変調信号に基
づいて光源としての半導体レーザ15を変調駆動し、そ
の半導体レーザ15からの光を回転駆動される感光体1
9に対してポリゴンミラー等の走査手段16により偏向
走査しながら、同期検知センサ18により検知される同
期信号に基づく所定のタイミングで露光することにより
静電潜像を形成する画像形成装置において、前記同期検
知センサ18により得られる位相同期検知信号によっ
て、ポリゴンミラー16により偏向走査された半導体レ
ーザ15からの光が、感光体19上と感光体19の長軸
方向に配置した同期検知センサ18上を通過する期間の
うち、実際に感光体19上に画像データの静電潜像を形
成する期間を有効走査期間(有効走査範囲に対応する期
間)とした場合、感光体19上の有効走査範囲内に対応
する期間と範囲外に対応する期間とでオフセットレベル
制御信号を切り替えるタイミングを示す信号を、前記位
相同期検知信号と所定のクロック信号とから生成するタ
イミング回路により得る構成とする。
For example, as shown in FIG. 1, a semiconductor laser 15 as a light source is modulated and driven based on an image modulation signal, and light from the semiconductor laser 15 is rotationally driven.
In the image forming apparatus for forming an electrostatic latent image by exposing the light beam 9 at a predetermined timing based on a synchronization signal detected by the synchronization detection sensor 18 while deflecting and scanning the scanning means 16 such as a polygon mirror. In accordance with the phase synchronization detection signal obtained by the synchronization detection sensor 18, the light from the semiconductor laser 15 deflected and scanned by the polygon mirror 16 passes over the photoconductor 19 and the synchronization detection sensor 18 arranged in the long axis direction of the photoconductor 19. If the period during which the electrostatic latent image of the image data is actually formed on the photoconductor 19 is the effective scanning period (the period corresponding to the effective scanning range) among the passing periods, it is within the effective scanning range on the photoconductor 19. A signal indicating the timing of switching the offset level control signal between the period corresponding to the above and the period corresponding to the outside of the range. Configuration to be obtained by the timing circuit for generating a clock signal.

【0076】このタイミングを示す信号の生成は、レー
ザ光を偏向走査した場合に一定周期で繰り返し検出され
る位相同期検知信号のタイミングで、クロック信号によ
るカウント動作を開始し、感光体上の有効走査期間に対
応するタイミングをカウント数で定義しておき、そのカ
ウント数に至った際に有効走査期間検知信号を出力し、
これによってオフセットレベル制御信号の信号切替えを
行うものとする。それによって、例えば有効走査期間内
ではあるオフセットレベル制御信号1とし、有効走査期
間外ではオフセットレベル制御信号1より値の小さいオ
フセットレベル制御信号2に切り替えるため、位相同期
検知信号から生成されたタイミング信号に基づいて有効
走査期間の内外を正確に規定することが可能であり、そ
の結果、本来画像を形成する必要がないが、オフセット
発光によりわずかな静電潜像を形成してしまいその結果
発生する電荷によりトナーが付着することによる地汚れ
の発生をより確実に防止することができ、同時に感光体
の劣化も低減することができる。また有効走査期間内で
は有効走査期間外よりオフセットレベル制御信号レベル
を高い所望の値に設定することにより、オフセット発光
量と変調特性を最適化することができる。
The signal indicating this timing is generated by starting the counting operation by the clock signal at the timing of the phase synchronization detection signal which is repeatedly detected at a constant cycle when the laser beam is deflected and scanned, and the effective scanning on the photosensitive member is performed. The timing corresponding to the period is defined by the count number, and when the count number is reached, the effective scanning period detection signal is output,
By this, the offset level control signal is switched. As a result, for example, a certain offset level control signal 1 is set within the effective scanning period and is switched to an offset level control signal 2 having a smaller value than the offset level control signal 1 outside the effective scanning period. Therefore, a timing signal generated from the phase synchronization detection signal It is possible to accurately define the inside and outside of the effective scanning period based on the above. As a result, although it is not necessary to form an image originally, a slight electrostatic latent image is formed due to offset light emission, and as a result, it occurs. It is possible to more reliably prevent the occurrence of background stain due to the adhesion of toner due to the electric charge, and at the same time, to reduce the deterioration of the photoconductor. Further, by setting the offset level control signal level to a desired higher value within the effective scanning period than outside the effective scanning period, the offset light emission amount and the modulation characteristic can be optimized.

【0077】なお、上記第1乃至第17実施例のいずれ
の半導体レーザ制御装置も例えば図1に示される如くの
画像形成装置に適用可能(具体的には、そのレーザ駆動
回路12において適用可能)であり、そのように適用さ
れた画像形成装置の各々もまた、本発明の実施例となり
得、本発明の範囲に含まれる。
The semiconductor laser control device of any of the first to seventeenth embodiments can be applied to the image forming apparatus as shown in FIG. 1, for example (specifically, it can be applied to the laser drive circuit 12 thereof). Each of the image forming apparatuses applied as described above can be an embodiment of the present invention and are included in the scope of the present invention.

【0078】[0078]

【発明の効果】このように、本発明によれば、オフセッ
トレベルの制御を行うオフセットレベル制御信号を所望
の値に設定する手段を有することにより、半導体レーザ
の種類や、個体差等に応じて、オフセット電流、オフセ
ットレベルを所望の値に設定することが可能となる。ま
たLD毎にオフセットレベルを所望の値に設定する手段を
有することにより、画像形成装置における非画像領域に
おけるオフセット発光による静電潜像の形成、トナーの
付着による地汚れの発生を防止することが可能となり、
かつ、オフセットレベルの低減により、エネルギー消費
量の低減や、感光体の長寿命化が可能となる。またオフ
セットレベルにより制御されるオフセット電流を所望の
値に設定することにより、半導体レーザの変調特性の改
善および安定化が可能となる。
As described above, according to the present invention, by providing the means for setting the offset level control signal for controlling the offset level to a desired value, it is possible to respond to the type of semiconductor laser and individual differences. , The offset current and the offset level can be set to desired values. Further, by providing a means for setting the offset level to a desired value for each LD, it is possible to prevent the formation of an electrostatic latent image due to offset light emission in the non-image area of the image forming apparatus and the occurrence of background stain due to toner adhesion. Becomes possible,
Moreover, by reducing the offset level, it is possible to reduce energy consumption and extend the life of the photoconductor. Further, by setting the offset current controlled by the offset level to a desired value, the modulation characteristics of the semiconductor laser can be improved and stabilized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の半導体レーザ制御装置を適用可能な画
像形成装置の概略構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an image forming apparatus to which a semiconductor laser control device of the present invention can be applied.

【図2】従来の一例の半導体レーザ制御装置の構成を示
す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional semiconductor laser control device.

【図3】本発明の第1実施例による半導体レーザ制御装
置の構成を示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2実施例による半導体レーザ制御装
置の構成を示す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3実施例による半導体レーザ制御装
置の構成を示す回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第4実施例による半導体レーザ制御装
置の構成を示す回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第5実施例による半導体レーザ制御装
置の構成を示す回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第6実施例による半導体レーザ制御装
置の構成を示す回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第7実施例による半導体レーザ制御装
置の構成を示す回路図である。
FIG. 9 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a seventh embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第8実施例による半導体レーザ制御
装置の構成を示す回路図である。
FIG. 10 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to an eighth embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第9実施例による半導体レーザ制御
装置の構成を示す回路図である。
FIG. 11 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a ninth embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第10実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 12 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a tenth embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第11実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 13 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to an eleventh embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第12実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 14 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a twelfth embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第13実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 15 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a thirteenth embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第14実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 16 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a fourteenth embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第15実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 17 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a fifteenth embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第16実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 18 is a circuit diagram showing a configuration of a semiconductor laser control device according to a sixteenth embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第17実施例による半導体レーザ制
御装置の構成を示す回路図である。
FIG. 19 is a circuit diagram showing the structure of a semiconductor laser control device according to a seventeenth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

15 半導体レーザユニット 18 フォトデテクタ 31 オン発光レベル制御手段 32 差動増幅器 33 切り換えスイッチ 34 オフセットレベル制御信号発生手段 37 遅延回路 38 論理積回路 39 切り換えスイッチ 41 切り換えスイッチ 42 差動増幅器 43 否定的論理和回路 51,52 オフセットレベル信号発生手段 51’、52’ 可変オフセットレベル信号発生手
段 53 切り換えスイッチ 55 メモリ LD 半導体レーザ PD フォトデテクタ
15 semiconductor laser unit 18 photodetector 31 ON emission level control means 32 differential amplifier 33 changeover switch 34 offset level control signal generating means 37 delay circuit 38 AND circuit 39 changeover switch 41 changeover switch 42 differential amplifier 43 negative OR circuit 51, 52 Offset level signal generating means 51 ', 52' Variable offset level signal generating means 53 Changeover switch 55 Memory LD Semiconductor laser PD Photodetector

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 AA03 AA54 AA56 AA61 DA28 2H076 AB05 AB12 AB22 AB32 AB34 DA04 DA11 DA17 5F073 AB27 AB29 BA07 EA15 GA12 GA18 GA24 GA38    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 2C362 AA03 AA54 AA56 AA61 DA28                 2H076 AB05 AB12 AB22 AB32 AB34                       DA04 DA11 DA17                 5F073 AB27 AB29 BA07 EA15 GA12                       GA18 GA24 GA38

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体レーザからの光ビームを感光体上
に結像、走査して画像記録を行う画像形成装置におい
て、 前記半導体レーザのオフセット発光時のオフセット電流
を決定するオフセットレベル制御信号を、前記半導体レ
ーザの特性、種類や個体差等に応じて所望の値に設定す
る手段を有することを特徴とする半導体レーザ制御装
置。
1. In an image forming apparatus for forming an image by scanning a light beam from a semiconductor laser on a photosensitive member and scanning the image, an offset level control signal for determining an offset current at the time of offset light emission of the semiconductor laser is provided. A semiconductor laser control device comprising means for setting a desired value according to the characteristics, types, individual differences, etc. of the semiconductor laser.
【請求項2】 半導体レーザからの光ビームを感光体上
に結像、走査して画像記録を行う画像形成装置におい
て、 前記半導体レーザのオフセット発光時のオフセット電流
を制御する制御タイミングを、前記半導体レーザを駆動
する変調信号と前記変調信号を遅延させた遅延信号との
論理積により生成するタイミング生成回路と、 前記オフセット電流を決定するオフセットレベル制御信
号を、前記半導体レーザの特性、種類や個体差等に応じ
て所望の値に設定する手段とを有することを特徴とする
半導体レーザ制御装置。
2. In an image forming apparatus for forming and scanning a light beam from a semiconductor laser on a photosensitive member to record an image, a control timing for controlling an offset current at the time of offset emission of the semiconductor laser is set to the semiconductor. A timing generation circuit for generating a logical product of a modulation signal for driving a laser and a delay signal obtained by delaying the modulation signal, and an offset level control signal for determining the offset current, the characteristics, types and individual differences of the semiconductor laser. And a means for setting a desired value according to the above.
【請求項3】 半導体レーザからの光ビームを感光体上
に結像、走査して画像記録を行う画像形成装置におい
て、 前記半導体レーザのオフセット発光時のオフセット電流
を制御する第1の制御手段と、 前記半導体レーザのオン発光時のオン発光電流を制御す
る第2の制御手段と、 前記オフセット電流を決定するオフセットレベル制御信
号を、前記半導体レーザの特性、種類や個体差等に応じ
て所望の値に設定する手段とを有することを特徴とする
半導体レーザ制御装置。
3. An image forming apparatus for forming an image by scanning an image of a light beam from a semiconductor laser on a photoconductor and scanning the image on the photoconductor, and a first control means for controlling an offset current of the semiconductor laser during offset light emission. A second control means for controlling an on-light emission current of the semiconductor laser during on-light emission, and an offset level control signal for determining the offset current, which is desired according to characteristics, types, individual differences, etc. of the semiconductor laser. And a means for setting a value.
【請求項4】 半導体レーザからの光ビームを感光体上
に結像、走査して画像記録を行う画像形成装置におい
て、 前記半導体レーザのオフセット発光時のオフセット電流
を制御する制御タイミングを、前記半導体レーザを点灯
する変調信号と前記変調信号を遅延させた遅延信号との
論理積により生成する第1のタイミング生成手段と、 前記半導体レーザのオン発光時のオン発光電流を制御す
る制御タイミングを、前記半導体レーザを駆動する変調
信号と前記変調信号を遅延させた前記遅延信号との論理
和により生成する第2のタイミング生成手段と、 前記オフセット電流を決定するオフセットレベル制御信
号を、前記半導体レーザの特性、種類や個体差等に応じ
て所望の値に設定する手段とを有することを特徴とする
半導体レーザ制御装置。
4. In an image forming apparatus for forming an image by scanning a light beam from a semiconductor laser on a photoconductor and scanning the image, a control timing for controlling an offset current at the time of offset emission of the semiconductor laser is set to the semiconductor. A first timing generating means for generating a logical product of a modulation signal for turning on a laser and a delay signal obtained by delaying the modulation signal; and a control timing for controlling an ON light emission current at the time of ON light emission of the semiconductor laser, Second timing generation means for generating a logical sum of a modulation signal for driving a semiconductor laser and the delayed signal obtained by delaying the modulation signal; and an offset level control signal for determining the offset current, the characteristics of the semiconductor laser. And a means for setting a desired value according to the type, individual difference and the like.
【請求項5】 更に光出力のオフセットレベル制御を行
うオフセットレベル制御信号を所望の値に可変に設定可
能な手段を有することを特徴とする請求項1乃至4のうち
のいずれか一項に記載の半導体レーザ制御装置。
5. The device according to claim 1, further comprising a unit capable of variably setting an offset level control signal for performing an offset level control of optical output to a desired value. Semiconductor laser controller.
【請求項6】 更に光出力のオフセットレベル制御を行
うオフセットレベル制御信号の値を所定の複数種類の信
号レベル値に切替える手段を有することを特徴とする請
求項1乃至4のいずれか一項に記載の半導体レーザ制御
装置。
6. The apparatus according to claim 1, further comprising means for switching the value of the offset level control signal for performing the offset level control of the optical output to a predetermined plurality of types of signal level values. The semiconductor laser control device described.
【請求項7】 更に光出力のオフセットレベル制御を行
うオフセットレベル制御信号の値を複数種類の信号レベ
ル値に切替える手段と、切替える前記信号レベル値の各
々を所望の値に可変に設定する手段とよりなることを特
徴とする請求項1乃至4のうちのいずれか一項に記載の
半導体レーザ制御装置。
7. A means for switching the value of the offset level control signal for controlling the offset level of the optical output to a plurality of types of signal level values, and a means for variably setting each of the signal level values to be switched to a desired value. The semiconductor laser control device according to claim 1, wherein the semiconductor laser control device comprises:
【請求項8】 更に、オフセットレベル制御を行うオフ
セットレベル制御信号を設定するための情報を保存する
メモリよりなり、前記メモリに設定信号を与え、その信
号に応じた情報を出力させることによって所望のオフセ
ットレベル制御信号を得る構成の請求項1乃至4のうち
のいずれか一項に記載の半導体レーザ制御装置。
8. A memory for storing information for setting an offset level control signal for performing offset level control, wherein a desired signal is output by giving a setting signal to the memory and outputting information according to the signal. The semiconductor laser control device according to claim 1, wherein the semiconductor laser control device is configured to obtain an offset level control signal.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009223236A (en) * 2008-03-18 2009-10-01 Ricoh Co Ltd Evaluation method for electrostatic latent image and evaluation device for electrostatic latent image

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