JP2006076216A - Image forming device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image forming device capable of suppressing the deterioration by enabling the correspondence depending on the change of temperature of a laser beam source for forming a latent image in a latent-image carrier to prevent an excessive luminescence of a laser beam source. <P>SOLUTION: The laser beam source and the latent image carrier are arranged inside the device. The laser beam modulated by the image data is scanned on the latent image carrier from the laser beam source, and an electrostatic latent image is formed on the latent image carrier. The electrostatic image formed on the carrier is developed with a developer to form an image. At that time a capacitor is charged and discharge using the monitor current of a light-quantity monitoring element for detecting the light-quantity of the laser beam irradiated from the laser beam source. An automatic adjustment of light-quantity is performed utilizing the charge and discharge of the capacitor. The temperature of the inside of the device is measured, and the limit value of the current impressed to the laser beam source at the time of automatically adjusting the light-quantity is changed according to the temperature measured. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、感光体等の潜像担持体に対して静電潜像を形成するレーザ光源の光量を自動調整する画像形成装置に関する。   The present invention relates to an image forming apparatus that automatically adjusts the light amount of a laser light source that forms an electrostatic latent image on a latent image carrier such as a photoconductor.

デジタル複写機、デジタルプリンタ及びデジタルファクシミリ装置等の画像形成装置では、高品質の画像を高速に記録するために、半導体レーザ等のレーザ光源から出射したレーザ光を用いて画像を形成する電子写真方式の画像形成装置が普及している。   In an image forming apparatus such as a digital copying machine, a digital printer, and a digital facsimile apparatus, an electrophotographic system that forms an image using a laser beam emitted from a laser light source such as a semiconductor laser in order to record a high-quality image at high speed. Image forming apparatuses are widely used.

このような電子写真方式の画像形成装置においては、画像品質を良好なものとするために、レーザ光源の出力を一定に保つ必要があり、従来からAPC(Auto Power Control:自動光出力制御)回路を用いて、レーザ光源の出力を一定にしている。   In such an electrophotographic image forming apparatus, it is necessary to keep the output of the laser light source constant in order to improve the image quality. Conventionally, an APC (Auto Power Control) circuit has been used. Is used to keep the output of the laser light source constant.

すなわち、半導体レーザ等のレーザ光源にあっては、その光出力特性が周囲温度の変化に敏感であるため、一定電流でレーザ光源を駆動しても、周囲温度の変化や自己発熱等により、光出力が変動する。この光出力の変動を一定に保つために、レーザ光源のパッケージ中にレーザ光源の光出力をモニタするモニタダイオードを組み込んで、このモニタダイオードの検出結果に基づいて、レーザ光源の駆動電流を制御し、光出力を一定に保つフィードバック機構を備えた半導体レーザの駆動回路としてのAPC回路が用いられるものである。   In other words, a laser light source such as a semiconductor laser has a light output characteristic that is sensitive to changes in ambient temperature. The output fluctuates. In order to keep this light output fluctuation constant, a monitor diode that monitors the light output of the laser light source is incorporated in the package of the laser light source, and the drive current of the laser light source is controlled based on the detection result of the monitor diode. An APC circuit is used as a semiconductor laser drive circuit having a feedback mechanism for keeping the light output constant.

また、電子写真方式の画像形成装置においては、画像データに応じてレーザ光源をオン/オフさせることが行われるが、このような画像形成装置においては、レーザ光源の点灯時間が不規則なため、一般に、画像領域外で一定時間レーザ光源を点灯させて、APC動作を行っている。この場合、レーザの光量を検出する光量モニタ素子のモニタ電流を使用してコンデンサを充放電し、このコンデンサの充電と放電を利用してAPC動作を行っている。   Also, in an electrophotographic image forming apparatus, a laser light source is turned on / off according to image data. In such an image forming apparatus, since the lighting time of the laser light source is irregular, In general, the APC operation is performed by turning on the laser light source for a certain time outside the image area. In this case, the capacitor is charged and discharged using the monitor current of the light amount monitor element for detecting the light amount of the laser, and the APC operation is performed using the charging and discharging of the capacitor.

このようなコンデンサの充放電によってAPC動作を行う画像形成装置においては、APC動作が適切に行われない場合が発生し、画像濃度に異常が発生することがある。これに対し、特許文献1には、レーザ光源から出射されるレーザ光の光量を検出する光量モニタ素子のモニタ電流を使用してコンデンサを充放電し、このコンデンサの充電と放電を利用してレーザ光源の自動光量調整を行うに際して、2つのコンデンサの電位に基づいて自動光量調整の制御状態を判定して画像品質を向上させる画像形成装置が記載されている。
特開2003−25624号公報
In an image forming apparatus that performs an APC operation by charging and discharging such a capacitor, the APC operation may not be performed properly, and an image density may be abnormal. On the other hand, in Patent Document 1, a capacitor is charged / discharged using a monitor current of a light amount monitor element that detects a light amount of laser light emitted from a laser light source, and a laser is charged using the charge and discharge of this capacitor. There is described an image forming apparatus that, when performing automatic light amount adjustment of a light source, determines the control state of automatic light amount adjustment based on the potentials of two capacitors to improve image quality.
JP 2003-25624 A

一般に、APC動作時においては、レーザ光源に供給する電流にリミット値を設けないと、電源投入順序の不具合等によってレーザ光源が過発光して劣化している。これに加えて、レーザ光源では、温度に応じて流れる電流が変化する特性があるため、リミット値を温度に応じて調整する必要がある。
上述した特許文献1の構造では、温度変化に対応できるものではないため、このような温度に応じたリミット値の調整ができず、過発光によるレーザ光源に劣化が発生する問題を有している。
In general, during the APC operation, unless a limit value is provided for the current supplied to the laser light source, the laser light source is excessively emitted due to a failure in the power-on sequence or the like. In addition to this, since the laser light source has a characteristic that the current flowing according to the temperature changes, it is necessary to adjust the limit value according to the temperature.
Since the structure of Patent Document 1 described above cannot cope with temperature changes, the limit value corresponding to such a temperature cannot be adjusted, and there is a problem that the laser light source is deteriorated due to excessive light emission. .

本発明は、このような問題点を考慮してなされたものであり、温度の変化に応じた対応が可能であり、これによりレーザ光源の過発光を防止して、劣化を抑制することが可能な画像形成装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of such problems, and can cope with changes in temperature, thereby preventing over-emission of the laser light source and suppressing deterioration. An object of the present invention is to provide a simple image forming apparatus.

請求項1記載の発明の画像形成装置は、レーザ光源及び潜像担持体が装置本体の内部に配置されており、画像データにより変調したレーザ光をレーザ光源から潜像担持体上に走査して、潜像担持体上に静電潜像を形成し、潜像担持体上の静電潜像を現像剤で現像して画像形成するに際して、レーザ光源から出射されるレーザ光の光量を検出する光量モニタ素子のモニタ電流を使用してコンデンサを充放電し、コンデンサの充電と放電を利用してレーザ光源の自動光量調整を行う画像形成装置であって、装置本体の内部の温度を測定し、測定した温度に応じて自動光量調整時におけるレーザ光源に供給する電流のリミット値を変更することを特徴とする。   In the image forming apparatus according to the first aspect of the present invention, the laser light source and the latent image carrier are disposed inside the apparatus main body, and the laser light modulated by the image data is scanned from the laser light source onto the latent image carrier. When the electrostatic latent image is formed on the latent image carrier, and the electrostatic latent image on the latent image carrier is developed with a developer to form an image, the amount of laser light emitted from the laser light source is detected. An image forming apparatus that charges and discharges a capacitor by using a monitor current of a light intensity monitor element and performs automatic light amount adjustment of a laser light source by using charging and discharging of the capacitor, and measures the temperature inside the apparatus body, The limit value of the current supplied to the laser light source at the time of automatic light quantity adjustment is changed according to the measured temperature.

請求項2記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置であって、コンデンサのサンプル時間とホールド時間の変更が可能となっていることを特徴とする。   A second aspect of the present invention is the image forming apparatus according to the first aspect, wherein the capacitor sample time and hold time can be changed.

請求項3記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置であって、レーザ光源に供給される電流を検知し、検知した値が規定値以上のとき、レーザ光源の異常を警告することを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the image forming apparatus according to the first aspect, the current supplied to the laser light source is detected, and when the detected value is equal to or greater than a specified value, an abnormality of the laser light source is warned. Features.

請求項4記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置であって、コンデンサの容量値の切り替えが可能となっていることを特徴とする。   A fourth aspect of the present invention is the image forming apparatus according to the first aspect, wherein the capacitance value of the capacitor can be switched.

請求項5記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置であって、自動光量調整時における光量調整用の可変抵抗値の切り替えが可能となっていることを特徴とする。   A fifth aspect of the present invention is the image forming apparatus according to the first aspect, wherein the variable resistance value for light amount adjustment during automatic light amount adjustment can be switched.

本発明の画像形成装置によれば、レーザ光源を格納する装置本体の内部の温度に応じて自動光量調整時におけるレーザ光源に供給する電流のリミット値を変更するため、リミット値を装置本体内の温度変化に対応することができ、レーザ光源の過発光を防止しレーザ光源の劣化を抑制することができる。   According to the image forming apparatus of the present invention, in order to change the limit value of the current supplied to the laser light source at the time of automatic light quantity adjustment according to the temperature inside the apparatus body storing the laser light source, the limit value is set in the apparatus body. It is possible to cope with a change in temperature, and it is possible to prevent excessive light emission of the laser light source and suppress deterioration of the laser light source.

以下、本発明を図示する実施の形態により具体的に説明する。図1は、この実施の形態における画像形成装置1の主走査光学系の平面図である。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a plan view of the main scanning optical system of the image forming apparatus 1 in this embodiment.

図1に示すように、画像形成装置1は、LD(レーザダイオード)基板2に取り付けられたレーザ光源としてのLD3、コリメートレンズ4、ポリゴンスキャナ5、fθレンズ6、潜像担持体としての感光体7及び同期検知素子部8等を備えており、これらの部材が装置本体(図示省略)の内部に配置されている。   As shown in FIG. 1, an image forming apparatus 1 includes an LD 3 as a laser light source attached to an LD (laser diode) substrate 2, a collimating lens 4, a polygon scanner 5, an fθ lens 6, and a photosensitive member as a latent image carrier. 7 and the synchronous detection element part 8 etc., and these members are arrange | positioned inside the apparatus main body (illustration omitted).

LD3は、発散性レーザ光を出射し、コリメートレンズ4は、LD3から出射された発散性レーザ光を平行性レーザ光に変換してポリゴンスキャナ5に照射させる。   The LD 3 emits a divergent laser beam, and the collimating lens 4 converts the divergent laser beam emitted from the LD 3 into a parallel laser beam and irradiates the polygon scanner 5 with it.

ポリゴンスキャナ5は、画像形成装置1の画像密度に応じた角速度で高速回転駆動され、ポリゴンスキャナ5から入射されるレーザ光を主走査方向に偏向してfθレンズ6に反射する。   The polygon scanner 5 is driven to rotate at a high speed at an angular velocity corresponding to the image density of the image forming apparatus 1, deflects the laser light incident from the polygon scanner 5 in the main scanning direction and reflects it to the fθ lens 6.

fθレンズ6は、ポリゴンスキャナ5で反射偏向されたレーザ光を感光体(潜像担持体)7上に結像させるとともに、レーザ光の走査線上であって画像形成領域から外れた位置でかつ感光体7に近接して配設された同期検知素子部8にも照射させる。感光体7は、回転駆動されて、図示しない帯電部で一様に帯電された後、上記レーザ光が照射されることで、静電潜像が形成され、その後、図示しない現像部でトナー(現像剤)が付与されてトナー画像が形成される。画像形成装置1は、感光体7上のトナー画像を記録紙に転写し、記録紙上のトナー画像を定着部で定着させることで画像形成する。そして、トナー画像の転写された感光体7をクリーニングした後、帯電部で一様に帯電させて、再度、画像形成を行う。   The fθ lens 6 forms an image of the laser beam reflected and deflected by the polygon scanner 5 on the photosensitive member (latent image carrier) 7 and is also at a position on the scanning line of the laser beam that is out of the image forming area. It also irradiates the synchronous detection element unit 8 disposed in the vicinity of the body 7. The photoconductor 7 is driven to rotate and uniformly charged by a charging unit (not shown), and then the laser beam is irradiated to form an electrostatic latent image. Thereafter, a toner ( A developer image is applied to form a toner image. The image forming apparatus 1 forms an image by transferring the toner image on the photoreceptor 7 onto a recording sheet and fixing the toner image on the recording sheet with a fixing unit. Then, after cleaning the photoreceptor 7 to which the toner image has been transferred, it is uniformly charged by the charging unit, and image formation is performed again.

図2に示すように、同期検知素子部(同期検知手段)8は、フォトダイオード等の同期検知素子10、抵抗R1及びコンパレータ11等を備えており、レーザ光が同期検知素子10に入射される。同期検知素子10にレーザ光が入射されると、同期検知素子10及び抵抗R1に電流Idが流れ、コンパレ−タ11の入力に電圧Vdが入力される。コンパレータ11は、入力電圧Vdが比較電圧Vrefaよりも大きくなると、パルス出力である同期検知信号XDETPを出力する。この同期検知信号XDETPは、図3に示すように、1ライン周期T2において、幅T1の間だけ1回出力され、当該幅T1の間だけローとなる信号である。   As shown in FIG. 2, the synchronization detection element unit (synchronization detection means) 8 includes a synchronization detection element 10 such as a photodiode, a resistor R <b> 1, a comparator 11, and the like, and laser light is incident on the synchronization detection element 10. . When laser light is incident on the synchronization detection element 10, a current Id flows through the synchronization detection element 10 and the resistor R <b> 1, and the voltage Vd is input to the input of the comparator 11. When the input voltage Vd becomes larger than the comparison voltage Vrefa, the comparator 11 outputs a synchronization detection signal XDETP that is a pulse output. As shown in FIG. 3, the synchronization detection signal XDETP is a signal that is output once during the width T1 and becomes low only during the width T1 in one line period T2.

画像形成装置1は、図4に示すAPC回路20を備えている。APC回路20は、PD(フォトダイオード)21、スイッチ回路22、可変抵抗器VR1、VR2、コンパレータ23、スイッチ回路24、コントロール回路25、スイッチSW1、SW2、充電用定電流源26、放電用定電流源27、スイッチ回路28、コンデンサC1、C2、誤差増幅器29、トランジスタTr1、抵抗R2、バイアス電源30、抵抗R3及びA/Dコンバータ31等を備えているとともに、図示しないが、S/H信号制御回路を備えて、当該S/H信号制御回路からコントロール回路25にS/H信号(サンプル/ホールド信号)が入力される。   The image forming apparatus 1 includes an APC circuit 20 shown in FIG. The APC circuit 20 includes a PD (photodiode) 21, a switch circuit 22, variable resistors VR1 and VR2, a comparator 23, a switch circuit 24, a control circuit 25, switches SW1 and SW2, a charging constant current source 26, and a discharging constant current. A source 27, a switch circuit 28, capacitors C1 and C2, an error amplifier 29, a transistor Tr1, a resistor R2, a bias power source 30, a resistor R3, an A / D converter 31 and the like are provided, although not shown, S / H signal control The S / H signal (sample / hold signal) is input to the control circuit 25 from the S / H signal control circuit.

PD(光量モニタ素子)21は、LD3のパッケージ内に組み込まれており、LD3の出射するレーザ光が入射されることで、モニタ電流Imが流れる。このPD21は、スイッチ回路22に接続されているとともに、コンパレータ23の入力に接続されている。スイッチ回路22は、スイッチSW21とスイッチSW22を備えており、切替信号IN1によりスイッチSW21とスイッチSW22を選択的にPD21に接続する。スイッチ回路22は、そのスイッチSW21にLD3の光量設定用の可変抵抗器VR1が接続されており、そのスイッチSW22にLD3の光量設定用の可変抵抗器VR2が接続されている。スイッチ回路22は、切替信号IN1がロー(Low)のとき、スイッチSW21をオン、スイッチSW22をオフにして、PD21をスイッチSW21を介して可変抵抗器VR1に接続し、切替信号INがハイ(High)のとき、スイッチSW21をオフ、スイッチSW22をオンにして、PD21をスイッチSW22を介して可変抵抗器VR2に接続する。   The PD (light quantity monitor element) 21 is incorporated in the package of the LD 3, and the monitor current Im flows when the laser beam emitted from the LD 3 is incident. The PD 21 is connected to the switch circuit 22 and to the input of the comparator 23. The switch circuit 22 includes a switch SW21 and a switch SW22, and selectively connects the switch SW21 and the switch SW22 to the PD 21 by a switching signal IN1. In the switch circuit 22, a variable resistor VR1 for setting the light amount of the LD3 is connected to the switch SW21, and a variable resistor VR2 for setting the light amount of the LD3 is connected to the switch SW22. When the switching signal IN1 is low, the switch circuit 22 turns on the switch SW21, turns off the switch SW22, connects the PD21 to the variable resistor VR1 through the switch SW21, and the switching signal IN is high (High). ), The switch SW21 is turned off, the switch SW22 is turned on, and the PD 21 is connected to the variable resistor VR2 via the switch SW22.

画像形成装置1は、後述するように、光量切替時には、切替信号IN1をハイからロー、あるいは、ローからハイに変化させて、PD21に接続する可変抵抗器VR1と可変抵抗器VR2を切り替え、光量の切り替えを行う。したがって、可変抵抗器VR1及び可変抵抗器VR2は、光量設定用抵抗として機能している。   As will be described later, the image forming apparatus 1 switches the variable resistor VR1 and the variable resistor VR2 connected to the PD 21 by changing the switching signal IN1 from high to low or from low to high when switching the light amount. Switch. Therefore, the variable resistor VR1 and the variable resistor VR2 function as a light amount setting resistor.

PD1のモニタ電流Imは、切替信号IN1信号により、可変抵抗器VR1に流れるラインと可変抵抗器VR2に流れるラインに切り替えられ、スイッチ回路22により、可変抵抗器VR1に接続されると、コンパレータ23の入力電圧V1の電位は、V1=Im*VR1になり、スイッチ回路22により、可変抵抗器VR2に接続されると、コンパレータ23の入力電圧V1の電位は、V1=Im*VR2になる。   The monitor current Im of PD1 is switched between the line flowing through the variable resistor VR1 and the line flowing through the variable resistor VR2 by the switching signal IN1 signal. When the switch circuit 22 is connected to the variable resistor VR1, the monitor current Im The potential of the input voltage V1 is V1 = Im * VR1, and when the switch circuit 22 is connected to the variable resistor VR2, the potential of the input voltage V1 of the comparator 23 is V1 = Im * VR2.

コンパレータ23の比較入力には、スイッチ回路24を介して基準電圧Vref1と基準電圧Vref2が選択的に入力され、スイッチ回路24は、切替信号IN2により、入力される基準電圧Vref1と基準電圧Vref2を選択的に切り替えて、コンパレータ23の比較入力に基準電圧Vrefbとして出力する。コンパレータ23は、入力電圧V1が基準電圧Vrefbよりも小さいときには、ハイ(High)の比較出力V2をコントロール回路25に出力し、入力電圧V1が基準電圧Vrefbよりも大きいときには、ロー(Low)の比較出力V2をコントロール回路25に出力する。   The reference voltage Vref1 and the reference voltage Vref2 are selectively input to the comparison input of the comparator 23 via the switch circuit 24. The switch circuit 24 selects the input reference voltage Vref1 and the reference voltage Vref2 by the switching signal IN2. The reference voltage Vrefb is output to the comparison input of the comparator 23. The comparator 23 outputs a high comparison output V2 to the control circuit 25 when the input voltage V1 is smaller than the reference voltage Vrefb, and compares it low when the input voltage V1 is larger than the reference voltage Vrefb. The output V2 is output to the control circuit 25.

コントロール回路25には、上記コンパレータ23から比較出力V2が入力されるとともに、図示しないS/H信号制御回路からS/H信号が入力され、コントロール回路25は、その出力がスイッチSW1とスイッチSW2に接続されている。コントロ−ル回路25は、S/H信号によりサンプリングモードとホ−ルドモードを切り替える。S/H信号は、ロー(Low)で、サンプリングモード、ハイ(High)で、ホ−ルドモ−ドである。すなわち、コントロール回路25は、S/H信号がローのときには、コンパレータ23からの比較出力V2のハイ/ローに応じて、スイッチSW1とスイッチSW2を選択的にクローズさせるサンプリングモードとなり、S/H信号がハイのときには、スイッチSW1とスイッチSW2をともにオ−プンさせるホールドモードとなる。コントロール回路25は、S/H信号がローであるサンプリングモードにおいては、コンパレータ23の入力電圧V1が基準電圧Vrefbより小さく、コンパレータ23の比較出力V2がハイのときには、スイッチSW2をオフ、スイッチSW1をオンにし、コンパレータ23の入力電圧Vが基準電圧Vrefbよりも大きく、コンパレータ23の比較出力V2がローのときには、スイッチSW1をオフ、スイッチSW2をオンにする。   The control circuit 25 receives the comparison output V2 from the comparator 23 and the S / H signal from an S / H signal control circuit (not shown). The control circuit 25 outputs the output to the switch SW1 and the switch SW2. It is connected. The control circuit 25 switches between the sampling mode and the hold mode according to the S / H signal. The S / H signal is low, the sampling mode is high, and the hold mode is high. That is, when the S / H signal is low, the control circuit 25 enters a sampling mode in which the switch SW1 and the switch SW2 are selectively closed according to the high / low of the comparison output V2 from the comparator 23, and the S / H signal When HI is high, a hold mode in which both the switch SW1 and the switch SW2 are opened is set. In the sampling mode in which the S / H signal is low, the control circuit 25 turns off the switch SW2 and turns off the switch SW1 when the input voltage V1 of the comparator 23 is smaller than the reference voltage Vrefb and the comparison output V2 of the comparator 23 is high. When the input voltage V of the comparator 23 is larger than the reference voltage Vrefb and the comparison output V2 of the comparator 23 is low, the switch SW1 is turned off and the switch SW2 is turned on.

スイッチSW1とスイッチSW2は、充電用定電流源26と放電用定電流源27の間に直列に接続されており、スイッチSW1とスイッチSW2との間は、スイッチ回路28に接続されているとともに、誤差増幅器29の入力端子及びA/Dコンバータ31に接続されている。   The switch SW1 and the switch SW2 are connected in series between the charging constant current source 26 and the discharging constant current source 27, and the switch SW1 and the switch SW2 are connected to the switch circuit 28, and The input terminal of the error amplifier 29 and the A / D converter 31 are connected.

スイッチ回路28には、さらに、そのスイッチ端子にコンデンサC1とコンデンサC2が接続されており、スイッチ回路28は、切替信号IN3により、スイッチSW1とスイッチSW2の間、誤差増幅器29の入力端子及びA/Dコンバータ31をコンデンサC1またはコンデンサC2に選択的に接続する。   The switch circuit 28 further has a capacitor C1 and a capacitor C2 connected to its switch terminals. The switch circuit 28 is connected between the switch SW1 and the switch SW2 and between the input terminal of the error amplifier 29 and the A / The D converter 31 is selectively connected to the capacitor C1 or the capacitor C2.

すなわち、コントロ−ル回路25がスイッチSW1とスイッチSW2がともにオープンするホ−ルドモ−ドのとき、切替信号IN3で選択されたコンデンサC1またはコンデンサC2に充電されている電圧(出力電圧)が、スイッチ回路28を通して誤差増幅器29の入力端子とA/Dコンバータ31に入力電圧V3として入力される。   That is, when the control circuit 25 is in the hold mode in which both the switch SW1 and the switch SW2 are open, the voltage (output voltage) charged in the capacitor C1 or the capacitor C2 selected by the switching signal IN3 is The input voltage V3 is input to the input terminal of the error amplifier 29 and the A / D converter 31 through the circuit 28.

誤差増幅器29は、上述のように、その入力端子に入力電圧V3が入力されるとともに、その基準入力端子に基準電圧Vref3が入力され、入力電圧V3の電位を基準電圧Vref3と誤差増幅してトランジスタTr1のコレクタ電流を増減する。トランジスタTr1のコレクタには、LD3が接続されており、トランジスタTr1のコレクタ電流が増減することで、LD3の駆動電流(LD電流)が増減して、LD3の光量が設定値に調整・保持される。すなわち、APC回路20は、LD3の光量が設定光量より少ないときには、LD電流を増加させ、LD3の光量が設定光量より多いときには、LD電流を減少させる。   As described above, the error amplifier 29 receives the input voltage V3 at its input terminal and the reference voltage Vref3 at its reference input terminal, and amplifies the potential of the input voltage V3 with the reference voltage Vref3 to perform error amplification. Increase or decrease the collector current of Tr1. The LD3 is connected to the collector of the transistor Tr1, and when the collector current of the transistor Tr1 increases or decreases, the drive current (LD current) of the LD3 increases or decreases, and the light amount of the LD3 is adjusted and held at the set value. . That is, the APC circuit 20 increases the LD current when the light amount of the LD 3 is smaller than the set light amount, and decreases the LD current when the light amount of the LD 3 is larger than the set light amount.

さらに、トランジスタTr1のベースには、2つのリミット値1及びリミット値2が入力される。これらのリミット値は、図示を省略した電流リミット回路によって供給され、自動光量調整時における装置本体の内部の温度に応じて変更される。装置本体の内部の温度は、温度測定素子37によって測定され、測定された測定値は、A/Dコンバータに入力されてA/D変換された後、CPU(Central Processing Unit )に出力される。   Further, two limit values 1 and 2 are input to the base of the transistor Tr1. These limit values are supplied by a current limit circuit (not shown) and are changed according to the temperature inside the apparatus main body at the time of automatic light quantity adjustment. The temperature inside the apparatus main body is measured by the temperature measuring element 37, and the measured value is input to an A / D converter and A / D converted, and then output to a CPU (Central Processing Unit).

LD3には、バイアス電流源30により、バイアス電流が流れ、このバイアス電流の値は、固定抵抗R3の値を変えることにより、変更することができる。バイアス電流を流すことにより、LD変調の速度を高速にすることができる。   A bias current flows through LD3 by the bias current source 30, and the value of this bias current can be changed by changing the value of the fixed resistor R3. By flowing a bias current, the speed of LD modulation can be increased.

上記コンデンサC1、C2の容量値が大きいときには、誤差増幅器29の入力電圧V3は、その電位が長い時間一定にホ−ルドされ、コンデンサC1、C2の容量値が小さいときには、誤差増幅器29の入力電圧V3は、その電位が短い時間一定にホ−ルドされる。ただし、APC回路20としては、コンデンサC1、C2の容量値が小さいときには、誤差増幅器29の入力電圧V3の電位が設定値に充電される時間が短くてすむという利点がある。例えば、コンデンサC1を1uF、コンデンサC2を0.1uFとし、コントロ−ル回路25のサンプル信号として同期検知信号XDETPを使用する場合、同期検知信号XDETPの周期が長い場合には、コンデンサC1を選択し、同期検知信号XDETPの周期が短い場合には、コンデンサC2を選択するようにすると好適である。   When the capacitance values of the capacitors C1 and C2 are large, the input voltage V3 of the error amplifier 29 is held constant for a long time, and when the capacitance values of the capacitors C1 and C2 are small, the input voltage of the error amplifier 29 is V3 is held constant for a short period of time. However, the APC circuit 20 has an advantage that when the capacitance values of the capacitors C1 and C2 are small, it takes a short time to charge the potential of the input voltage V3 of the error amplifier 29 to the set value. For example, when the capacitor C1 is 1 uF, the capacitor C2 is 0.1 uF, and the synchronization detection signal XDETP is used as the sample signal of the control circuit 25, the capacitor C1 is selected when the cycle of the synchronization detection signal XDETP is long. When the cycle of the synchronization detection signal XDETP is short, it is preferable to select the capacitor C2.

このように、コンデンサC1の容量値が大きく、コンデンサC2の容量値が小さい場合、スイッチ回路28を切替信号IN3で、コンデンサC2を選択するようにすると、短い時間で設定光量に到達するが、光量が一定にホ−ルドされる時間が短い、また、コンデンサC1を選択すると、設定光量に達する時間は、長くかかるが、光量が一定にホ−ルドされる時間が長くなる。   As described above, when the capacitance value of the capacitor C1 is large and the capacitance value of the capacitor C2 is small, when the switch circuit 28 selects the capacitor C2 with the switching signal IN3, the set light amount is reached in a short time. When the capacitor C1 is selected, it takes a long time to reach the set light amount, but it takes a long time to hold the light amount constant.

コントロール回路25は、上述のように、S/H信号がローでサンプリングモードのときには、コンパレータ23の入力電圧V1が基準電圧Vrefbよりも小さく、コンパレータ23の比較出力V2がハイであると、スイッチSW2をオフ、スイッチSW1をオンにし、スイッチSW1を通して充電用定電流源26により、スイッチ回路28の選択に応じて、コンデンサC1またはコンデンサC2を充電して、誤差増幅器29の入力電圧Vを上昇させ、コンパレータ23の入力電圧V1が基準電圧Vrefbよりも大きく、コンパレータ23の比較出力V2がローであると、スイッチSW1をオフ、スイッチSW2をオンにし、スイッチSW2を通して、スイッチ回路28の選択に応じて、コンデンサC1またはコンデンサC2の電荷を放電させて、誤差増幅器29の入力電圧V3を下降させることで、PD21によるLD3の光量の検出結果に基づいて、コンデンサC1またはコンデンサC2に当該LD3の光量に応じた電荷量をサンプリングして充電させる。このコンデンサC1またはコンデンサC2にサンプリングして充電した電荷量に対応した電圧を、サンプリングモードで誤差増幅器29の入力端子に入力電圧V3として出力して、光量の自動調整を行う。   As described above, when the S / H signal is low and the control circuit 25 is in the sampling mode, when the input voltage V1 of the comparator 23 is smaller than the reference voltage Vrefb and the comparison output V2 of the comparator 23 is high, the switch SW2 Is turned off, the switch SW1 is turned on, the capacitor C1 or the capacitor C2 is charged by the constant current source 26 for charging through the switch SW1 according to the selection of the switch circuit 28, and the input voltage V of the error amplifier 29 is increased. When the input voltage V1 of the comparator 23 is larger than the reference voltage Vrefb and the comparison output V2 of the comparator 23 is low, the switch SW1 is turned off, the switch SW2 is turned on, and through the switch SW2, according to the selection of the switch circuit 28, Discharge the capacitor C1 or the capacitor C2, By lowering the input voltage V3 of the differential amplifier 29, based on the detection result of the amount of LD3 by PD 21, is charged by sampling the amount of charge corresponding to the amount of the LD3 to the capacitor C1 or capacitor C2. A voltage corresponding to the amount of charge sampled and charged in the capacitor C1 or the capacitor C2 is output as an input voltage V3 to the input terminal of the error amplifier 29 in the sampling mode, and the light amount is automatically adjusted.

A/Dコンバータ31には、上述のように、入力電圧V3が入力され、A/Dコンバータ31は、この入力電圧V3をA/D(アナログ/デジタル)変換して、図示しないCPUに出力する。   As described above, the input voltage V3 is input to the A / D converter 31, and the A / D converter 31 performs A / D (analog / digital) conversion on the input voltage V3 and outputs it to a CPU (not shown). .

XDATAはビデオデ−タであり、XDATAがLOWの時LD3にはISW(トランジスタTr1のコレクタ電流)+IBが流れる。XDATAがハイ(H)の時、LD3の電流はIBのみとなり、オフセット発光するのみで、画像は形成されない。APC動作を行う時も、LD3の電流は、トランジスタTr1のコレクタ電流とバイアス電流の和が電流になる。   XDATA is video data. When XDATA is LOW, ISW (collector current of transistor Tr1) + IB flows through LD3. When XDATA is high (H), the current of LD3 is only IB, and only the offset emission occurs, and no image is formed. Even when the APC operation is performed, the current of the LD3 is the sum of the collector current of the transistor Tr1 and the bias current.

この実施の形態では、LD3に供給される電流を検知するものであり、このため、LD3とトランジスタTr1との間には、電位差測定回路35が挿入されている。電位差測定回路35は、LD3に印加される電位を測定し、この電位差データをCPUに出力する。CPUでは、入力された電位差に基づいてLD3に供給される電流を検知する。   In this embodiment, the current supplied to the LD 3 is detected. For this reason, a potential difference measuring circuit 35 is inserted between the LD 3 and the transistor Tr1. The potential difference measuring circuit 35 measures the potential applied to the LD 3 and outputs this potential difference data to the CPU. The CPU detects the current supplied to the LD 3 based on the inputted potential difference.

以上のような画像形成装置においては、図1に示すように、LD3から出射された発散性レーザ光をコリメートレンズ3で平行性レーザ光に変換してポリゴンスキャナ5に照射させ、ポリゴンスキャナ5で主走査方向に偏向させて、fθレンズ6で感光体7上に照射させて画像形成を行うとともに、照射光を同期検知素子部8の同期検知素子10にも照射し、同期検知素子部8の出力する同期検知信号XDETPに基づいて主走査方向の同期調整を行う。   In the image forming apparatus as described above, as shown in FIG. 1, the divergent laser light emitted from the LD 3 is converted into parallel laser light by the collimator lens 3 and irradiated to the polygon scanner 5. An image is formed by deflecting in the main scanning direction and irradiating the photoconductor 7 with the fθ lens 6 and irradiating the irradiation light to the synchronization detection element 10 of the synchronization detection element unit 8. Based on the output synchronization detection signal XDETP, synchronization adjustment in the main scanning direction is performed.

図4に示すAPC回路20では、同期検知信号XDETPがローとなってローのS/H信号がコントロール回路25に入力されるサンプリングモードでは、LD3のパッケージ内に組み込まれたPD21でLD3の光量をサンプリングし、そのときの画像解像度(画素密度)に応じて設定された可変抵抗器VR1または可変抵抗器VR2によって発生する入力電圧V1をコンパレータ23で当該可変抵抗器VR1、VR2に応じて基準電圧Vref1または基準電圧Vref2から選択された基準電圧Vrefbと比較して、入力電圧V1が基準電圧Vrefbよりも大きいか否かで、コントロール回路25がスイッチSW1とスイッチSW2を選択的にオンさせる。スイッチSW1またはスイッチSW2が選択的にオンすることで、同期検知信号XDETPの周期の長短に応じてスイッチ回路28で選択されるコンデンサC1またはコンデンサC2に充電あるいは放電が行われて、コンデンサC1またはコンデンサC2の電位が上昇あるいは下降するとともに、このコンデンサC1またはコンデンサC2の電位が誤差増幅器29の入力端子に入力電圧V3として入力される。   In the APC circuit 20 shown in FIG. 4, in the sampling mode in which the synchronization detection signal XDETP is low and the low S / H signal is input to the control circuit 25, the light quantity of the LD3 is obtained by the PD 21 incorporated in the LD3 package. The input voltage V1 generated by the variable resistor VR1 or the variable resistor VR2 set according to the image resolution (pixel density) at that time is sampled and the reference voltage Vref1 according to the variable resistors VR1 and VR2 by the comparator 23. Alternatively, the control circuit 25 selectively turns on the switch SW1 and the switch SW2 depending on whether or not the input voltage V1 is larger than the reference voltage Vrefb as compared with the reference voltage Vrefb selected from the reference voltage Vref2. When the switch SW1 or the switch SW2 is selectively turned on, the capacitor C1 or the capacitor C2 selected by the switch circuit 28 is charged or discharged according to the cycle of the synchronization detection signal XDETP, and the capacitor C1 or the capacitor C2 As the potential of C2 rises or falls, the potential of the capacitor C1 or C2 is input to the input terminal of the error amplifier 29 as the input voltage V3.

画像形成時には、同期検知信号XDETPがハイとなってハイのS/H信号がコントロール回路25に入力されるホールドモードでは、コントロール回路25がスイッチSW1とスイッチSW2をともにオフさせ、スイッチ回路28で選択されているコンデンサC1またはコンデンサC2の電位がコンデンサC1またはコンデンサC2の容量値に応じた時間だけ一定にホールドされて、誤差増幅器29の入力端子に入力電圧V3として入力される。   At the time of image formation, in the hold mode in which the synchronization detection signal XDETP is high and a high S / H signal is input to the control circuit 25, the control circuit 25 turns off both the switch SW1 and the switch SW2 and selects by the switch circuit 28 The potential of the capacitor C1 or the capacitor C2 being held is held constant for a time corresponding to the capacitance value of the capacitor C1 or the capacitor C2, and is input to the input terminal of the error amplifier 29 as the input voltage V3.

誤差増幅器29は、この入力電圧V3の電位を、基準電圧Vref3と誤差増幅してトランジスタTr1のコレクタ電流を増減し、トランジスタTr1のコレクタ電流が増減することで、LD3の駆動電流(LD電流)が増減して、LD3の光量を一定値に保持する。   The error amplifier 29 amplifies the potential of the input voltage V3 with the reference voltage Vref3 to increase / decrease the collector current of the transistor Tr1, and the collector current of the transistor Tr1 increases / decreases, whereby the drive current (LD current) of the LD3 is increased. Increase / decrease to keep the light quantity of LD3 at a constant value.

画素密度の切替を行う場合、例えば、600dpiと1200dpiの切り替えを行う場合)、1200dpiでは、ポリゴンスキャナ5を回転駆動させるポリゴンモ−タ回転数が高速になり、ビデオクロック周波数が高速になるため、線速を、600dpiの1/2にする場合がある。このような場合には、LD3の光量は、1200dpiのときは、600dpiのときの、1/2になる。   When switching the pixel density (for example, when switching between 600 dpi and 1200 dpi), at 1200 dpi, the polygon motor rotation speed for rotationally driving the polygon scanner 5 becomes high, and the video clock frequency becomes high. The speed may be halved to 600 dpi. In such a case, the light amount of the LD 3 is ½ when it is 1200 dpi and 600 dpi.

そこで、上記可変抵抗器VR1と可変抵抗器VR2を切り替えて、LD3の光量を調整する。例えば、可変抵抗器VR1が1KΩ、可変抵抗器VR2が2KΩであるとすると、600dpiのときに可変抵抗器VR1を選択し、1200dpiのときに可変抵抗器VR2を選択するように、切替信号IN1を制御すると、APC回路20は、コンパレータ23の入力電圧V1が基準電圧Vrefbと同じ値(入力電圧V1=基準電圧Vrefb)になるように制御するため、1200dpiのときのLD3の光量は、600dpiのときのLD3の光量の1/2になる。   Therefore, the light quantity of the LD 3 is adjusted by switching the variable resistor VR1 and the variable resistor VR2. For example, if the variable resistor VR1 is 1 KΩ and the variable resistor VR2 is 2 KΩ, the switching signal IN1 is set so that the variable resistor VR1 is selected at 600 dpi and the variable resistor VR2 is selected at 1200 dpi. When controlled, the APC circuit 20 controls the input voltage V1 of the comparator 23 to be the same value as the reference voltage Vrefb (input voltage V1 = reference voltage Vrefb). Therefore, the light amount of the LD3 at 1200 dpi is 600 dpi. It becomes 1/2 of the light quantity of LD3.

LD3は、電流が供給されることによりレーザ光を発光するが、温度に応じて流れる電流が変化する特性を有している。図5は、これを防止するためのフローであり、温度測定素子37(図4)が測定したAPC動作時の装置本体内部の温度がA/Dコンバータ31を介してCPUに入力される。CPUはこの温度を設定値HK1と比較する(ステップS10)。比較の結果、LD3に供給する電流のリミット値が選択されるものであり、装置本体内の温度が設定値HK1よりも小さい場合には、リミット値1が選択され(ステップS11)、設定値HK1よりも大きい場合には、リミット値2が選択される(ステップS12)。この場合、リミット値2はリミット値1よりも大きな値に設定されている。このようにLD3に供給する電流のリミット値を装置本体内の温度に応じて選択することにより、LD3の過発光を防止することができる。このため、LD3の劣化を抑制することができる。   The LD 3 emits laser light when supplied with a current, but has a characteristic that the flowing current changes depending on the temperature. FIG. 5 is a flow for preventing this, and the temperature inside the apparatus main body during the APC operation measured by the temperature measuring element 37 (FIG. 4) is input to the CPU via the A / D converter 31. The CPU compares this temperature with the set value HK1 (step S10). As a result of the comparison, the limit value of the current supplied to the LD 3 is selected. When the temperature in the apparatus main body is smaller than the set value HK1, the limit value 1 is selected (step S11), and the set value HK1. If it is larger, limit value 2 is selected (step S12). In this case, the limit value 2 is set to a value larger than the limit value 1. Thus, by selecting the limit value of the current supplied to the LD 3 according to the temperature in the apparatus main body, it is possible to prevent the LD 3 from over-emitting. For this reason, deterioration of LD3 can be suppressed.

図6は、同期検知信号XDETPを用いて2つのコンデンサC1、C2のサンプル時間とホールド時間を変更する構成を示す。パルス幅変換回路40は、パルス幅がT1aの信号XDETPが入力されると、これよりも大きな幅T1bの信号XDETP1を出力する。この信号XDETP1をS/H信号に用いることにより、APCを行うコンデンサC1、C2のサンプル時間とホールド時間を変更することができる。これにより、ライン周期が相違する場合にも、良好に対応することができる。   FIG. 6 shows a configuration in which the sampling time and hold time of the two capacitors C1 and C2 are changed using the synchronization detection signal XDETP. When a signal XDETP having a pulse width T1a is input, the pulse width conversion circuit 40 outputs a signal XDETP1 having a larger width T1b. By using this signal XDETP1 as the S / H signal, the sample time and hold time of the capacitors C1 and C2 that perform APC can be changed. Thereby, it is possible to cope with a case where the line periods are different.

図7は、図4における電位差測定回路35の作用を示すフローチャートである。電位差測定回路35は、LD3と直列となっている抵抗器R5の両端の電位差を測定し、CPUに出力する。この電位差データは、LD3に供給される電流に対応し、CPUでは、この電位差データを設定されている規定値と比較する(ステップS20)。比較の結果、電位差データが規定値を上回っている場合には、LD3が劣化していることからその旨の警告を行う(ステップS21)。警告は、ディスプレイあるいは音声等の適宜の手段によって行うことができる。これにより、LD3の劣化を早期に発見することができるため、画像品質が低下することを防止することができる。   FIG. 7 is a flowchart showing the operation of the potential difference measuring circuit 35 in FIG. The potential difference measuring circuit 35 measures the potential difference between both ends of the resistor R5 in series with the LD 3, and outputs the potential difference to the CPU. The potential difference data corresponds to the current supplied to the LD 3, and the CPU compares the potential difference data with a set specified value (step S20). If the potential difference data exceeds the specified value as a result of the comparison, a warning to that effect is given because LD3 has deteriorated (step S21). The warning can be performed by appropriate means such as a display or sound. Thereby, since degradation of LD3 can be discovered early, it can prevent that image quality falls.

この実施の形態において、図4に示すように、スイッチSW1及びSW2からの信号IN3がスイッチ回路28に入力されることにより、コンデンサC1、C2の切り替えが行われる。このような、コンデンサC1、C2の切り替えを行うことにより、作動に必要な容量を有するコンデンサの選択を行うことができる。これにより、例えば、画像形成装置1のプリント速度が異なる場合に対しても良好に対応することができる。   In this embodiment, as shown in FIG. 4, when the signal IN3 from the switches SW1 and SW2 is input to the switch circuit 28, the capacitors C1 and C2 are switched. By switching the capacitors C1 and C2 as described above, it is possible to select a capacitor having a capacity necessary for operation. Thereby, for example, it is possible to cope with the case where the printing speed of the image forming apparatus 1 is different.

さらに、この実施の形態では、スイッチ回路22への入力信号IN1によって可変抵抗器VR1、VR2が選択される。可変抵抗器VR1、VR2は、容量値がそれぞれ異なるものである。このような可変抵抗器VR1、VR2の選択によって、LD3の発光光量を切り替えることができ、例えば、プリント速度が異なる場合に良好に対応することができる。   Furthermore, in this embodiment, the variable resistors VR1 and VR2 are selected by the input signal IN1 to the switch circuit 22. The variable resistors VR1 and VR2 have different capacitance values. By selecting the variable resistors VR1 and VR2, the light emission amount of the LD 3 can be switched. For example, it is possible to cope with a case where the printing speed is different.

本発明の一実施の形態における走査光学系の平面図である。It is a top view of the scanning optical system in one embodiment of the present invention. 同期検知素子部の回路図である。It is a circuit diagram of a synchronous detection element part. 同期検知信号の波形図である。It is a wave form diagram of a synchronous detection signal. APC回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows an APC circuit. 装置本体の内部温度に応じてリミット値を選択するフローチャートである。It is a flowchart which selects a limit value according to the internal temperature of an apparatus main body. パルス幅変換回路の作用を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the effect | action of a pulse width conversion circuit. LDへの電流を検知する場合のフローチャートである。It is a flowchart in the case of detecting the electric current to LD.

符号の説明Explanation of symbols

1 画像形成装置
3 LD
5 ポリゴンスキャナ
7 感光体
8 同期検知素子部
10 同期検知素子
11 コンパレータ
20 APC回路
21 PD
22 スイッチ回路
23 コンパレータ
24 スイッチ回路
25 コントロール回路
28 スイッチ回路
29 誤差増幅器
30 バイアス電源
31 A/Dコンバータ
R1、R2、R3、R5 抵抗
VR1、VR2 可変抵抗器
SW1、SW2 スイッチ
C1、C2 コンデンサ
Tr1 トランジスタ
1 Image forming device 3 LD
5 Polygon Scanner 7 Photoconductor 8 Synchronization Detection Element Unit 10 Synchronization Detection Element 11 Comparator 20 APC Circuit 21 PD
22 switch circuit 23 comparator 24 switch circuit 25 control circuit 28 switch circuit 29 error amplifier 30 bias power supply 31 A / D converter R1, R2, R3, R5 resistor VR1, VR2 variable resistor SW1, SW2 switch C1, C2 capacitor Tr1 transistor

Claims (5)

レーザ光源及び潜像担持体が装置本体の内部に配置されており、画像データにより変調したレーザ光をレーザ光源から前記潜像担持体上に走査して、前記潜像担持体上に静電潜像を形成し、前記潜像担持体上の静電潜像を現像剤で現像して画像形成するに際して、前記レーザ光源から出射されるレーザ光の光量を検出する光量モニタ素子のモニタ電流を使用してコンデンサを充放電し、前記コンデンサの充電と放電を利用して前記レーザ光源の自動光量調整を行う画像形成装置であって、
装置本体の内部の温度を測定し、測定した温度に応じて自動光量調整時における前記レーザ光源に供給する電流のリミット値を変更することを特徴とする画像形成装置。
A laser light source and a latent image carrier are disposed inside the apparatus main body, and a laser beam modulated by image data is scanned from the laser light source onto the latent image carrier and electrostatic latent images are formed on the latent image carrier. When forming an image and developing the electrostatic latent image on the latent image carrier with a developer, the monitor current of the light amount monitor element that detects the amount of laser light emitted from the laser light source is used. An image forming apparatus that charges and discharges a capacitor and performs automatic light amount adjustment of the laser light source using charging and discharging of the capacitor,
An image forming apparatus, comprising: measuring an internal temperature of an apparatus main body; and changing a limit value of a current supplied to the laser light source during automatic light quantity adjustment according to the measured temperature.
前記コンデンサのサンプル時間とホールド時間の変更が可能となっていることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。   2. The image forming apparatus according to claim 1, wherein the capacitor sample time and hold time can be changed. 前記レーザ光源に供給される電流を検知し、検知した値が規定値以上のとき、前記レーザ光源の異常を警告することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。   2. The image forming apparatus according to claim 1, wherein a current supplied to the laser light source is detected, and an abnormality of the laser light source is warned when the detected value is equal to or greater than a specified value. 前記コンデンサの容量値の切り替えが可能となっていることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。   The image forming apparatus according to claim 1, wherein the capacitance value of the capacitor can be switched. 前記自動光量調整時における光量調整用の可変抵抗値の切り替えが可能となっていることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。   The image forming apparatus according to claim 1, wherein a variable resistance value for light amount adjustment during the automatic light amount adjustment can be switched.
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