JP2003107526A - Liquid crystal display panel - Google Patents
Liquid crystal display panelInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜トランジスタ
を用いた液晶表示パネルに係り、特に、ソース配線に断
線があってもそれを容易に救済することのできる液晶表
示パネルに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display panel using a thin film transistor, and more particularly to a liquid crystal display panel capable of easily relieving a disconnection in a source wiring.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のこの種の液晶表示パネルを図4お
よび図5とともに説明する。図4は、従来の液晶表示パ
ネルの薄膜トランジスタ(以下TFTと呼ぶ)アレイ基
板の一部工程順平面図であり、図5は、そのTFT部分
の工程順断面図である。2. Description of the Related Art A conventional liquid crystal display panel of this type will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a plan view of a part of a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) array substrate of a conventional liquid crystal display panel in the order of steps, and FIG. 5 is a cross-sectional view of the TFT part in the order of steps.
【0003】図4および図5において、まず最初に、ガ
ラス基板1上に、アルミニウム,クロム等の金属を用い
てゲート配線2を形成する(図4および図5の
(a))。ゲート配線2は行方向に延在させる。その
後、ゲート絶縁膜として機能するシリコン窒化膜3、お
よびゲート電極の電位によってその抵抗率が変化し、T
FTをスイッチとして機能させる半導体膜4、さらに半
導体膜4とソース、ドレイン電極をオーミックコンタク
トさせるn+半導体膜5を連続して堆積させる。そし
て、TFT部分に半導体膜4とn+半導体膜5からなる
パターンを形成する(図4および図5の(b))。In FIGS. 4 and 5, first, the gate wiring 2 is formed on the glass substrate 1 using a metal such as aluminum or chromium ((a) of FIGS. 4 and 5). The gate wiring 2 extends in the row direction. After that, the resistivity changes depending on the potentials of the silicon nitride film 3 functioning as a gate insulating film and the gate electrode.
A semiconductor film 4 that causes the FT to function as a switch, and an n + semiconductor film 5 that makes ohmic contact between the semiconductor film 4 and the source and drain electrodes are successively deposited. Then, a pattern composed of the semiconductor film 4 and the n + semiconductor film 5 is formed on the TFT portion ((b) of FIGS. 4 and 5).
【0004】次いで、チタン,アルミニウム等の導電体
膜で、ソース電極6a、ドレイン電極6b、および補助
容量7を形成する(図4および図5の(c))。ソース
電極6aに繋がる配線(以下、ソース配線11とする)
は、列方向に延在させる。この時、図5(c)に示した
ように、ソース電極6aとドレイン電極6bをマスクと
して、ソース電極とドレイン電極の間に存在するn+半
導体膜5および半導体膜4の一部をエッチングによって
除去する。また、補助容量7はゲート配線2と層間絶縁
膜(シリコン窒化膜3)を介して重なり、ゲート配線2
との間で容量を形成する。または、ゲート配線とは独立
した配線を、画素中央部を通るように配し、容量を形成
する場合もある。ドレイン電極6bは、ゲート配線2と
層間絶縁膜(シリコン窒化膜3)および半導体層を介し
て重なる。Next, the source electrode 6a, the drain electrode 6b, and the auxiliary capacitance 7 are formed of a conductor film of titanium, aluminum or the like (FIG. 4 and FIG. 5 (c)). Wiring connected to the source electrode 6a (hereinafter referred to as source wiring 11)
Extend in the column direction. At this time, as shown in FIG. 5C, by using the source electrode 6a and the drain electrode 6b as a mask, the n + semiconductor film 5 and the semiconductor film 4 existing between the source electrode and the drain electrode are partially etched. Remove. Further, the auxiliary capacitance 7 overlaps with the gate wiring 2 with the interlayer insulating film (silicon nitride film 3) interposed therebetween,
Form a capacity between and. Alternatively, a wiring independent of the gate wiring may be provided so as to pass through the central portion of the pixel to form a capacitor. The drain electrode 6b overlaps with the gate wiring 2 with the interlayer insulating film (silicon nitride film 3) and the semiconductor layer interposed therebetween.
【0005】次に、絶縁保護膜として機能するシリコン
窒化膜8を堆積させ、ドレイン電極6b上のシリコン窒
化膜上にコンタクトホール8aおよび補助容量7上にコ
ンタクトホール8bを開ける(図4および図5の
(d))。最後に、透明なITOからなる画素電極9を
形成する(図4および図5の(e))。画素電極9は、
シリコン窒化膜8に形成したコンタクトホール8a,8
bを介して、ドレイン電極6bおよび補助容量7と接続
される。画素電極9にはソース配線6aからスイッチの
役割を果たすTFTを通じて信号が入力される。Next, a silicon nitride film 8 functioning as an insulating protection film is deposited, and a contact hole 8a is formed on the silicon nitride film on the drain electrode 6b and a contact hole 8b is formed on the auxiliary capacitor 7 (FIGS. 4 and 5). (D)). Finally, the pixel electrode 9 made of transparent ITO is formed ((e) of FIGS. 4 and 5). The pixel electrode 9 is
Contact holes 8a, 8 formed in the silicon nitride film 8
It is connected to the drain electrode 6b and the auxiliary capacitance 7 via b. A signal is input to the pixel electrode 9 from the source wiring 6a through a TFT that functions as a switch.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ソース
配線11が表示エリアの途中で断線してしまった場合、
断線した部分から先は信号が入力できずに表示ができな
くなってしまう。このような場合、従来は、表示エリア
の外側にソース配線と交差するようにレスキューライン
を複数本配し、断線したソース配線と同じ信号をレスキ
ューラインに通し、断線したソース配線の反対側から信
号を入力して、非表示領域をなくす方法が取られてき
た。However, when the source wiring 11 is broken in the middle of the display area,
The signal cannot be input from the part where the wire is broken, and the display cannot be performed. In such a case, conventionally, a plurality of rescue lines are arranged outside the display area so as to intersect with the source lines, the same signal as the broken source line is passed through the rescue line, and the signal from the opposite side of the broken source line is passed. Has been taken to eliminate the hidden area.
【0007】しかし、レスキューラインの本数には制約
があり、断線を直す数にも限りがあるので、すべてを直
すことは不可能であった。However, there is a limit to the number of rescue lines, and there is a limit to the number of lines that can be broken, so it was impossible to fix all of them.
【0008】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、ソース配線の断線による不良をなくし、高歩留ま
りの液晶表示パネルを提供することを目的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and an object thereof is to provide a liquid crystal display panel having a high yield by eliminating defects due to disconnection of source wiring.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明は、ソース配線の膜上か、あるいは膜下にお
けるゲート配線と同じ層にソースバックアップ配線を配
するものであり、これにより、ソース配線が断線して
も、ソース配線とソースバックアップ配線を導通させる
か、もしくは予め導通させておけば、ソース信号を途切
れさせることなく送ることができる。In order to achieve this object, the present invention is to arrange the source backup wiring on the same layer as the gate wiring on or under the film of the source wiring. Even if the source wiring is disconnected, the source signal can be sent without interruption if the source wiring and the source backup wiring are electrically connected or if they are electrically connected in advance.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら、詳細に説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
【0011】(実施の形態1)図1は、本発明の実施の
形態1における液晶表示パネルの一部平面を示したもの
で、11はソース配線、12はソースバックアップ配線
である。なお、その他の符号は、図3の従来例と同じも
のを使用している。(First Embodiment) FIG. 1 shows a partial plan view of a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention, in which 11 is a source wiring and 12 is a source backup wiring. The other reference numerals are the same as those in the conventional example of FIG.
【0012】図1に示したものは、画素内に補助容量を
持たないタイプであり、ゲート配線2とソース配線11
とが交差する部分を除いたソース配線11の膜上層、ま
たは膜下層のゲート配線と同じ層にソースバックアップ
配線12を配置する。The type shown in FIG. 1 is a type having no auxiliary capacitance in a pixel, and has a gate line 2 and a source line 11.
The source backup wiring 12 is arranged in the same layer as the gate wiring in the film upper layer or the film lower layer of the source wiring 11 excluding the portion where and intersect.
【0013】ソース配線11の膜下にソースバックアッ
プ配線12を配置する場合は、まずゲート配線2をパタ
ーニングする時にソースバックアップ配線12も同時に
パターニングする。この時の線幅は5μm程とする。そ
してその後、ゲート絶縁膜としてシリコン窒化膜3、T
FTをスイッチとして機能させる半導体膜4および半導
体膜とソース、ドレイン電極をオーミックコンタクトさ
せるn+半導体膜5を連続して堆積させ、TFT部分に
半導体膜4とn+半導体膜5からなるパターンを形成す
る。その後、チタン、アルミニウム等の導電体膜でソー
ス電極6a、ドレイン電極6bおよび補助容量7を形成
する。この時のソース配線11の線幅はソースバックア
ップ配線12よりも細い4μm程とし、ソースバックア
ップ配線12の段差によるソース配線11の断線を防
ぐ。この時、ソース配線の、段差による断線を防ぐた
め、ソースバックアップ配線12とソース配線11の各
中心線は合わせておく。そして、ソース配線11がレジ
スト切れ、あるいは異物により、断線した場合、レーザ
ーなどでこのソース配線11とソースバックアップ配線
12をショートさせる。あるいはソース配線11の成膜
前にソースバックアップ配線12上のゲート絶縁膜を除
去する工程を入れ、ソースバックアップ配線12とソー
ス配線11を初めからショートさせておくことで、ソー
ス信号を途切れさせないようにするものである。When the source backup wiring 12 is arranged under the film of the source wiring 11, the source backup wiring 12 is patterned at the same time when the gate wiring 2 is patterned. The line width at this time is about 5 μm. Then, after that, the silicon nitride film 3, T is formed as a gate insulating film.
A semiconductor film 4 that causes the FT to function as a switch and an n + semiconductor film 5 that makes ohmic contact with the semiconductor film and the source and drain electrodes are successively deposited to form a pattern composed of the semiconductor film 4 and the n + semiconductor film 5 in the TFT portion. To do. After that, the source electrode 6a, the drain electrode 6b and the auxiliary capacitor 7 are formed of a conductor film of titanium, aluminum or the like. The line width of the source wiring 11 at this time is set to about 4 μm, which is narrower than that of the source backup wiring 12, to prevent disconnection of the source wiring 11 due to the step of the source backup wiring 12. At this time, the center lines of the source backup wiring 12 and the source wiring 11 are aligned in order to prevent disconnection of the source wiring due to a step. When the source wiring 11 is broken due to the resist being cut off or due to a foreign substance, the source wiring 11 and the source backup wiring 12 are short-circuited by a laser or the like. Alternatively, a step of removing the gate insulating film on the source backup wiring 12 is performed before forming the source wiring 11, and the source backup wiring 12 and the source wiring 11 are short-circuited from the beginning so that the source signal is not interrupted. To do.
【0014】また、ソースバックアップ配線12をソー
ス配線11より後に形成する場合は、ソース配線11の
線幅を5μm、ソースバックアップ配線12の線幅を4
μm程度として、それぞれを形成するものである。When the source backup wiring 12 is formed after the source wiring 11, the line width of the source wiring 11 is 5 μm and the line width of the source backup wiring 12 is 4 μm.
Each of them is formed with a thickness of about μm.
【0015】なお、実施の形態1の変形例として、図2
に示したように、画素電極内に補助容量7を持つタイプ
のものでは、ゲート配線2および補助容量配線とソース
配線11とが交差する部分を除いたソース配線11の膜
上層、または膜下層のゲート配線と同じ層にソースバッ
クアップ配線12を配置する。As a modification of the first embodiment, FIG.
As shown in FIG. 5, in the type having the auxiliary capacitance 7 in the pixel electrode, the source wiring 11 is formed on the upper layer or the lower layer of the source wiring 11 excluding the portion where the gate wiring 2 and the auxiliary capacitance wiring intersect with the source wiring 11. The source backup wiring 12 is arranged on the same layer as the gate wiring.
【0016】(実施の形態2)図3は、本発明の実施の
形態2における液晶表示パネルの一部平面を示したもの
で、11はソース配線、13はソースバックアップ配線
である。なお、その他の符号は、図1と同じものを使用
している。(Second Embodiment) FIG. 3 shows a partial plan view of a liquid crystal display panel according to a second embodiment of the present invention, in which 11 is a source wiring and 13 is a source backup wiring. The other reference numerals are the same as those in FIG.
【0017】この例は、画素内に補助容量を持たないタ
イプであるが、図2のように画素内に補助容量を持って
いても構わない。そして、ソース配線11とゲート配線
2および補助容量との交差する部分を除いたソース配線
11の一部の膜上層、または膜下層でゲート配線2と同
じ層に、ソース配線11と画素電極9との間にできる光
抜け(ドメイン)を防止するように、ソース配線11か
らはみ出したソースバックアップ配線13を配する。こ
の場合、ソース配線11とソースバックアップ配線13
の各中心線はずれてもよい。In this example, the pixel does not have a storage capacitor, but the pixel may have a storage capacitor as shown in FIG. Then, the source line 11 and the pixel electrode 9 are formed on the same layer as the gate line 2 in a film upper layer or a film lower layer of a part of the source line 11 excluding the intersection of the source line 11, the gate line 2 and the auxiliary capacitance. The source backup wiring 13 protruding from the source wiring 11 is arranged so as to prevent light leakage (domain) that occurs during the period. In this case, the source wiring 11 and the source backup wiring 13
The respective center lines of may be deviated.
【0018】ソース配線の膜下にソースバックアップ配
線を配する場合は、まずゲート配線をパターニングする
時にソースバックアップ配線をパターニングする。この
時の線幅は6μm程度とする。その後、ゲート絶縁膜と
してシリコン窒化膜、TFTをスイッチとして半導体膜
4、および半導体膜とソース、ドレイン電極をオーミッ
クコンタクトさせるn+半導体膜5を連続して堆積さ
せ、TFT部分に前記半導体膜とn+半導体膜からなる
パターンを形成する。その後、チタン、アルミニウム等
の導電体膜で、ソース電極6a、ドレイン電極6bを形
成する。When arranging the source backup wiring under the film of the source wiring, the source backup wiring is first patterned when the gate wiring is patterned. The line width at this time is about 6 μm. After that, a silicon nitride film as a gate insulating film, a semiconductor film 4 as a switch for the TFT, and an n + semiconductor film 5 for making ohmic contact with the semiconductor film and the source and drain electrodes are successively deposited, and the semiconductor film and n + A pattern made of a semiconductor film is formed. After that, the source electrode 6a and the drain electrode 6b are formed of a conductor film of titanium, aluminum or the like.
【0019】この時のソース配線11の線幅はソースバ
ックアップ配線13よりも細い4μm程度とする。この
時、ソースバックアップ配線13とソース配線11の各
中心線は0.5μm右あるいは左にずらし、ソース配線
11の段差による断線を防ぐため、ソース配線11はソ
ースバックアップ配線13からはみ出さないようにす
る。At this time, the line width of the source wiring 11 is about 4 μm, which is thinner than the source backup wiring 13. At this time, the center lines of the source backup wiring 13 and the source wiring 11 are shifted to the right or left by 0.5 μm so that the source wiring 11 does not protrude from the source backup wiring 13 in order to prevent disconnection due to the step of the source wiring 11. To do.
【0020】ソース配線とソースバックアップ配線の各
中心線をずらせることで、右あるいは左に多く出された
ソースバックアップ配線によって、ソース配線と11画
素電極9との間にできる光抜け部分を遮光することがで
き、カラーフィルタ側のブラックマトリクスを減らすこ
とができるので、高開口の画素形状を採用することがで
きる。By offsetting the respective center lines of the source wiring and the source backup wiring, a large amount of the right or left source backup wiring shields the light leakage portion formed between the source wiring and the 11 pixel electrode 9. Since it is possible to reduce the black matrix on the color filter side, a pixel shape with a high aperture can be adopted.
【0021】そして、ソース配線がレジスト切れ、ある
いは異物により、断線した場合、レーザーなどでこのソ
ース配線11とソースバックアップ配線13をショート
させる、あるいはソース配線成膜前にソースバックアッ
プ配線上のゲート絶縁膜を除去させる工程を入れ、ソー
スバックアップ配線とソース配線を初めからショートさ
せておくことで、ソース信号を途切れさせないようにす
るものである。When the source wiring is broken due to the resist being cut off or due to a foreign substance, the source wiring 11 and the source backup wiring 13 are short-circuited by a laser, or the gate insulating film on the source backup wiring is formed before the source wiring is formed. In order to prevent the source signal from being interrupted, the source backup wiring and the source wiring are short-circuited from the beginning.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
非常に大画面、狭額縁パネルに対し、レスキューライン
の本数に限界があり、あるいは配することができない場
合でも、ソース配線の断線による不良を無くすことがで
き、高歩留まりの液晶パネル作製をすることができると
いう効果がある。As described above, according to the present invention,
Even with a very large screen and narrow frame panel, even if the number of rescue lines is limited or cannot be arranged, defects due to disconnection of the source wiring can be eliminated and a high yield liquid crystal panel can be manufactured. There is an effect that can be.
【0023】また、ソースバックアップ配線の線幅を広
く取ることにより、ソースバックアップ配線によってソ
ース配線と画素電極との間にできる光抜け(ドメイン)
部分を遮光することができ、高開口にすることができる
とともに、ソース配線断線による不良を無くすことがで
き、高歩留まりの液晶パネル作製をすることができると
いう効果がある。Further, by widening the line width of the source backup wiring, light leakage (domain) formed between the source wiring and the pixel electrode by the source backup wiring.
There is an effect that a part can be shielded from light, a high opening can be obtained, defects due to disconnection of the source wiring can be eliminated, and a liquid crystal panel with a high yield can be manufactured.
【図1】本発明の実施の形態1における液晶表示パネル
の一部平面を示す図FIG. 1 is a diagram showing a partial plan view of a liquid crystal display panel according to Embodiment 1 of the present invention.
【図2】図1の変形例を示す図FIG. 2 is a diagram showing a modification of FIG.
【図3】本発明の実施の形態2における液晶表示パネル
の一部平面を示す図FIG. 3 is a diagram showing a partial plan view of a liquid crystal display panel according to Embodiment 2 of the present invention.
【図4】従来の液晶表示パネルにおけるTFTアレイ基
板の一部工程順平面図FIG. 4 is a plan view showing a partial process sequence of a TFT array substrate in a conventional liquid crystal display panel.
【図5】従来の液晶表示パネルのTFTアレイ基板にお
けるTFT部分の工程順断面図FIG. 5 is a cross-sectional view in order of steps of a TFT portion of a conventional TFT array substrate of a liquid crystal display panel.
1 ガラス基板 2 ゲート配線 3 シリコン窒化膜 4 半導体膜 5 n+半導体膜 6a ソース電極 6b ドレイン電極 7 補助容量 8a,8b コンタクトホール 9 画素電極 11 ソース配線 12,13 ソースバックアップ配線1 glass substrate 2 gate wiring 3 silicon nitride film 4 semiconductor film 5 n + semiconductor film 6a source electrode 6b drain electrode 7 auxiliary capacitors 8a, 8b contact hole 9 pixel electrode 11 source wiring 12, 13 source backup wiring
フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 JA24 JA41 JB31 JB33 JB52 JB71 JB73 NA16 NA29 5F033 HH08 HH18 MM15 VV00 VV15 XX36 5F110 AA27 BB01 CC07 FF03 GG42 HK03 HK04 HK08 HK21 HK32 HM19 NN72 NN73 Continued front page F term (reference) 2H092 JA24 JA41 JB31 JB33 JB52 JB71 JB73 NA16 NA29 5F033 HH08 HH18 MM15 VV00 VV15 XX36 5F110 AA27 BB01 CC07 FF03 GG42 HK03 HK04 HK08 HK21 HK32 HM19 NN72 NN73
Claims (2)
に直交する複数本のソース配線と、前記ゲート配線とソ
ース配線の各交点にそれぞれ配置された薄膜トランジス
タと、前記薄膜トランジスタのドレイン電極に接続され
た画素電極とを備え、あるいはさらに補助容量部を備え
た液晶表示パネルにおいて、 前記ソース配線と前記ゲート配線および前記補助容量と
の交差する部分を除いた前記ソース配線の一部の膜上
層、または膜下層でゲート配線と同じ層に、前記ソース
配線と中心線を合わせたソースバックアップ配線を配し
たことを特徴とする液晶表示パネル。1. A plurality of gate wirings, a plurality of source wirings orthogonal to the gate wirings, a thin film transistor arranged at each intersection of the gate wiring and the source wiring, and a drain electrode of the thin film transistor. A liquid crystal display panel further including a pixel electrode, or further including an auxiliary capacitance portion, in a film upper layer of a part of the source wiring excluding a portion where the source wiring, the gate wiring, and the auxiliary capacitance intersect, or A liquid crystal display panel, characterized in that a source backup wiring whose center line is aligned with the source wiring is arranged in the same layer as the gate wiring under the film.
に直交する複数本のソース配線と、前記ゲート配線とソ
ース配線の各交点にそれぞれ配置された薄膜トランジス
タと、前記薄膜トランジスタのドレイン電極に接続され
た画素電極とを備え、あるいはさらに補助容量部を備え
た液晶表示パネルにおいて、 前記ソース配線と前記ゲート配線および前記補助容量と
の交差する部分を除いた前記ソース配線の一部の膜上
層、または膜下層でゲート配線と同じ層に、前記ソース
配線と画素電極との間にできる光抜け(ドメイン)を防
止するように前記ソース配線からはみ出したソースバッ
クアップ配線を配したことを特徴とする液晶表示パネ
ル。2. A plurality of gate wirings, a plurality of source wirings orthogonal to the gate wirings, a thin film transistor arranged at each intersection of the gate wiring and the source wiring, and a drain electrode of the thin film transistor. A liquid crystal display panel further including a pixel electrode, or further including an auxiliary capacitance portion, in a film upper layer of a part of the source wiring excluding a portion where the source wiring, the gate wiring, and the auxiliary capacitance intersect, or A liquid crystal display characterized by arranging a source backup line protruding from the source line so as to prevent light leakage (domain) formed between the source line and the pixel electrode in the same layer as the gate line below the film. panel.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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