JP2003089060A - Sand blasting method and abrasive component for sand blast machining - Google Patents

Sand blasting method and abrasive component for sand blast machining

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JP2003089060A
JP2003089060A JP2001281537A JP2001281537A JP2003089060A JP 2003089060 A JP2003089060 A JP 2003089060A JP 2001281537 A JP2001281537 A JP 2001281537A JP 2001281537 A JP2001281537 A JP 2001281537A JP 2003089060 A JP2003089060 A JP 2003089060A
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abrasive
machining
static electricity
sandblasting
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真治 神田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To machine efficiently in a short time even if an abrasive of small particle size is used when drilling a hole in a machining substrate and performing sand blast machining such as pattern engraving and dicing and suppress the generation of static electricity to reduce the damage to the substrate by static electricity. SOLUTION: After masking a surface by resistant sand blast resist formed by printing such as screen printing or a photo process on the machining substrate, ceramic fine particles having specific gravity of 8 or more, hardness higher than that of the substrate to be machined, average particle diameter of 150 μm or less, and an electric resistance value of 1×10<-3> Ω/cm or less are used for the machining substrate as abrasive and are sprayed using high pressure gas of 0.02 MPa or more to suppress the generation of static electricity in a shorter time than a conventional method in order to perform pattern engraving on a surface of a basic material by sand blast machining.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、電子部品等に使用
されるガラス、シリコンウェハー、セラミック、金属、
プラスチック、化合物半導体等の基板又は基板上に形成
された膜に高圧ガスを使用して研磨材を吹き付けること
により穴あけ加工、ダイシング加工、パターン彫刻加工
等のサンドブラストによるパターンエッチング加工を行
うためのサンドブラスト方法及びサンドブラスト加工用
研磨材組成物に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a glass, a silicon wafer, a ceramic, a metal, which is used for electronic parts and the like.
Sand blasting method for performing pattern etching processing by sand blasting such as drilling, dicing, pattern engraving by spraying an abrasive using a high pressure gas on a substrate such as plastic or compound semiconductor or a film formed on the substrate And an abrasive composition for sandblasting.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、サンドブラスト加工によりガラ
ス、シリコンウェハー、セラミック、金属、プラスチッ
ク、化合物半導体等の基板にパターン切削加工を行う方
法としては、一般的に図2のようにサンドブラスト用ド
ライフィルムを使用し、2−1にてサンドブラスト用ド
ライフィルムを基板にラミネートし、2−2にてガラス
マスク又はフィルムマスク等のパターンを置いて紫外線
にて露光を行い、2−3にて未露光部分を現像液にて洗
い流し基板上にマスクパターンを形成後、2−4にて図
1のようなサンドブラスト装置を使用して、高圧ガスに
て酸化アルミニウム粉末又は炭化ケイ素粉末を吹き付け
てパターン切削加工が行われてきた。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method for pattern cutting a substrate such as glass, silicon wafer, ceramic, metal, plastic, compound semiconductor by sandblasting, a dry film for sandblasting is generally used as shown in FIG. Then, in 2-1 a dry film for sandblasting is laminated on the substrate, in 2-2 a pattern such as a glass mask or a film mask is placed and exposed to ultraviolet rays, and in 2-3 the unexposed part is developed. After rinsing with a liquid to form a mask pattern on the substrate, a pattern cutting process is performed in 2-4 by spraying aluminum oxide powder or silicon carbide powder with a high pressure gas using a sandblasting device as shown in FIG. Came.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記酸化
アルミニウム又は炭化ケイ素粉末を使用する方法では、
パウダーの平均粒子径が150μmより大きな粒径を使
用する場合はサンドブラストの加工速度が速く短時間に
加工できるが、表1から明らかなように研磨材平均粒径
にほぼ比例して加工速度が落ちていき加工時間がかかり
加工コストが高くなる傾向にある。
However, in the method using the above-mentioned aluminum oxide or silicon carbide powder,
When the average particle size of the powder is larger than 150 μm, the sandblasting speed is fast and the processing can be done in a short time, but as is clear from Table 1, the processing speed decreases in proportion to the average particle size of the abrasive. The processing time is long and the processing cost tends to increase.

【0004】[0004]

【表1】 [Table 1]

【0005】ガラス、シリコンウェハー、セラミック、
金属、プラスチック、化合物半導体等の基板をパターン
切削加工を行う場合パターン幅や切削する穴径が小さく
なる傾向にあり、小さなパターンを切削する場合には細
かい粒子径の粉末を使用する必要があり、加工時間が非
常に長くなる傾向にあるため細かい研磨材を使用しても
短時間に加工できる方法が必要になる。
Glass, silicon wafer, ceramic,
When pattern cutting processing is performed on a substrate of metal, plastic, compound semiconductor, etc., the pattern width and the hole diameter to be cut tend to be small, and when cutting a small pattern, it is necessary to use powder with a fine particle diameter, Since the processing time tends to be very long, it is necessary to have a method capable of processing in a short time even if a fine abrasive is used.

【0006】また電子部品で使用するための基板に穴を
あけるか又はパターン切削を行う場合に絶縁性の高い粉
末を使用すると静電気の発生が高く静電気により加工基
板を破壊する問題点があった。
In addition, when a highly insulating powder is used for making holes or pattern cutting a substrate for use in electronic parts, there is a problem that static electricity is generated and the processed substrate is destroyed by the static electricity.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決する手段
として、短時間に基板を加工するために、硬度が加工基
板より高く比重が8以上であり平均粒径が150μm以
下のセラミック粉体を、0.02MPa以上の高圧ガス
を使用してスクリーン印刷等の印刷又はフォトプロセス
により形成された耐サンドブラストレジストにて表面を
マスキングされたガラス、セラミック、金属、プラスチ
ック等の基材に吹き付けることにより基材表面にパター
ン彫刻を行う。
As a means for solving the above problems, in order to process a substrate in a short time, a ceramic powder having a hardness higher than that of the processed substrate, a specific gravity of 8 or more, and an average particle size of 150 μm or less is used. , By spraying onto a substrate such as glass, ceramic, metal, or plastic whose surface is masked with a sandblast resist resist formed by printing such as screen printing or a photo process using a high-pressure gas of 0.02 MPa or more. Pattern engraving is performed on the material surface.

【0008】加工中の静電気発生により加工基板が破壊
されるのを防ぐために電気抵抗値が1×10−3Ω/c
m以下の導電性セラミックを使用する。
The electrical resistance value is 1 × 10 −3 Ω / c in order to prevent the processed substrate from being destroyed by the generation of static electricity during processing.
A conductive ceramic having a size of m or less is used.

【0009】[0009]

【表2】 [Table 2]

【0010】[0010]

【表3】 [Table 3]

【0011】表2からあきらかなように比重の大きな粉
末を使用した場合、粒子径が平均粒径10μmと小さく
なっても短時間に深く加工できることがわかり、また表
3からわかるように電気抵抗の小さな導電性のあるセラ
ミック粉末を使用すると静電気の発生率が小さくなる。
It can be seen from Table 2 that when powder having a large specific gravity is used, it can be deeply processed in a short time even if the average particle diameter is as small as 10 μm. The use of small electrically conductive ceramic powders reduces the rate of static generation.

【0012】比重が8以上であり、電気抵抗値が1×1
−3Ω/cm以下のセラミック粉体としては表に記載
されているW2C,WC,W2B5,WSi2の他にW
B,TaC,TaN,HfB2,TaB2,Mo2B,
MoB等があるが、タングステンを含んだセラミックが
比較的安価であり比重が大きく電気抵抗も小さいためサ
ンドブラスト用の研磨材として望ましい。
It has a specific gravity of 8 or more and an electric resistance value of 1 × 1.
In addition to W2C, WC, W2B5 and WSi2 listed in the table, W can be used as the ceramic powder of 0 -3 Ω / cm or less.
B, TaC, TaN, HfB2, TaB2, Mo2B,
Although there are MoB and the like, a ceramic containing tungsten is relatively inexpensive, has a large specific gravity and a small electric resistance, and is therefore preferable as an abrasive for sandblasting.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明のサンドブラスト方法の実
施の形態について、以下に図を参照して説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the sandblasting method of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0014】本発明に使用されるブラスト装置は、図1
のようにブラスト装置本体31及びサイクロン等の分級
装置32及び集塵機35よりなり、ブラスト装置本体内
には研摩材噴射ノズル20が備えられている。
The blasting device used in the present invention is shown in FIG.
As described above, the blast device main body 31, the classification device 32 such as a cyclone, and the dust collector 35 are provided, and the abrasive material injection nozzle 20 is provided in the blast device main body.

【0015】ブラスト装置本体31は分級装置32と本
体導管34にて連結し、分級機は集塵機35と集塵用導
管39にて連結しており、ブラスト装置本体31は集塵
機35からの負圧により常に外気に対して負圧状態にな
っており、研磨材噴射ノズル20から噴射された研摩材
がブラスト装置本体31から飛散しないようになってい
る。
The blasting device main body 31 is connected to the classifying device 32 by the main body conduit 34, the classifier is connected to the dust collector 35 and the dust collecting conduit 39, and the blasting device main body 31 is connected by the negative pressure from the dust collector 35. It is always in a negative pressure state with respect to the outside air, and the abrasive material injected from the abrasive material injection nozzle 20 is prevented from scattering from the blasting device main body 31.

【0016】研磨材噴射ノズル20から高圧ガスにて噴
射された研摩材は、加工物にあたりブラスト加工され、
研摩材は集塵機35により発生する負圧による空気の流
れによりブラスト装置本体31から分級装置32に流
れ、サイクロン等の分級装置32により使用できる研摩
材と破砕された研摩材及び被加工物を削った粉塵に分離
して、使用できる研摩材は研摩材タンク21に入り研摩
材供給装置10の研摩材層12に供給され、破砕された
研摩材と被加工物を削った粉は集塵機35に捕集され
る。
The abrasive material sprayed from the abrasive material spray nozzle 20 with high pressure gas is blasted as a workpiece.
The abrasive flows from the blasting device main body 31 to the classifying device 32 due to the air flow due to the negative pressure generated by the dust collector 35, and the abrasives that can be used by the classifying device 32 such as a cyclone and the crushed abrasive and the work are scraped. The abrasive that can be separated into dust and used can be supplied to the abrasive tank 21 and supplied to the abrasive layer 12 of the abrasive supply device 10, and the crushed abrasive and the powder obtained by scraping the workpiece are collected by the dust collector 35. To be done.

【0017】研磨材噴射ノズル20はノズル駆動部45
により本体正面から見て左右に高速で移動し加工基板は
ローラーコンベアー43により前後にゆっくり移動する
ことにより均一に加工基板を切削加工する。
The abrasive injection nozzle 20 has a nozzle drive unit 45.
Thus, the work substrate is moved at high speed in the left-right direction when viewed from the front of the main body, and the work substrate is slowly moved forward and backward by the roller conveyor 43 to uniformly cut the work substrate.

【0018】加工の工程としては、マスキングパターン
形成方法としてサンドブラスト用のドライフィルムを使
用する場合は図2のように2−1にて加工基板にサンド
ブラスト用のドライフィルム11をラミネートロール2
2にてラミネートし、2−2にて紫外線にてマスクする
部分のみ紫外線が照射され、サンドブラストで加工する
部分は紫外線が照射されないようにパターン形成された
ガラスマスク又はフィルムマスク10を置いて露光し2
−3にて現像液14を噴霧して未露光部分を除去し、2
−4にてサンドブラスト装置にて、比重が8以上であ
り、硬度が加工する基板より高く、平均粒径が150μ
m以下であり、電気抵抗値が1×10−3Ω/cm以下
のセラミック粉体を研磨材として使用し、0.02MP
a以上の高圧ガスを使用して吹き付けることにより加工
基板上に切削加工を行う。
In the processing step, when a dry film for sandblasting is used as the masking pattern forming method, the dry film 11 for sandblasting is laminated on the processed substrate at 2-1 as shown in FIG.
Laminate at 2, and at 2-2, expose only the portion to be masked with ultraviolet rays to the ultraviolet rays, and place the portion to be processed by sandblasting with a glass mask or film mask 10 that is patterned so as not to be exposed to the ultraviolet rays. Two
At -3, the developer 14 is sprayed to remove the unexposed portion, and 2
-4, the specific gravity is 8 or more, the hardness is higher than that of the substrate to be processed, and the average particle size is 150 μm in the sandblasting device
Ceramic powder having an electric resistance value of 1 × 10 −3 Ω / cm or less is used as an abrasive, and is 0.02MP.
Cutting is performed on the work substrate by spraying using a high pressure gas of a or higher.

【0019】2−5にて剥離液を使用して基板表面のマ
スク材を除去する。
At 2-5, the mask material on the substrate surface is removed by using a stripping solution.

【0020】マスキングパターン形成方法としてスクリ
ーン印刷を使用する場合はスクリーン版上に感光性乳剤
にてパターンを形成したスクリーン版に耐サンドブラス
ト性のインク2を使用して、スキージ5にて加工基板上
に印刷を行い、インクを乾燥又は硬化させ、その後サン
ドブラストにてパターン切削する。
When screen printing is used as a masking pattern forming method, a sandblasting resistant ink 2 is used on a screen plate on which a pattern is formed with a photosensitive emulsion on a screen plate, and a squeegee 5 is used to print on a processed substrate. Printing is performed, the ink is dried or cured, and then pattern cutting is performed by sandblasting.

【0021】スクリーン印刷用の耐サンドブラスト性の
インクとしては塩化ビニールのペーストレジンを原料と
して使用したもの、紫外線にて硬化するウレタンアクリ
レートを原料として使用したもの、2液混合タイプの軟
質エポキシ樹脂又はウレタン樹脂を原料として使用した
ものがある。
As a sandblasting resistant ink for screen printing, a vinyl chloride paste resin is used as a raw material, a UV-curable urethane acrylate is used as a raw material, a two-component mixed type soft epoxy resin or urethane. There is one using resin as a raw material.

【0022】[0022]

【実施例】以下に前述した本発明のサンドブラスト方法
の実施例について具体的に説明する。
EXAMPLES Examples of the sandblasting method of the present invention described above will be specifically described below.

【0023】厚さ1mmのガラス−エポキシ樹脂積層基
板上にデュポン製ラミネータを使用してサンドブラスト
用ドライフィルムとして東京応化工業製のBF−410
をラミネートし、フィルムマスクを使用してオーク製作
所製の露光機HMWー201Bにて200mJの露光量
にて露光を行い、ヤコー製小型の現像機にて0.3%の
炭酸ナトリウム水溶液にて現像を行い、基板上にサンド
ブラスト用ドライフィルムにて0.3ミリの穴パターン
を形成した。
BF-410 manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. as a dry film for sandblasting by using a DuPont laminator on a glass-epoxy resin laminated substrate having a thickness of 1 mm.
Is exposed to light with an exposure amount of 200 mJ using an exposure machine HMW-201B manufactured by Oak Co., Ltd. using a film mask, and developed with a 0.3% sodium carbonate aqueous solution using a small developing machine manufactured by Yako. Then, a hole pattern of 0.3 mm was formed on the substrate with a dry film for sandblasting.

【0024】図1のようなサンドブラスト装置を使用し
て、加工圧力0.3MPaでノズル距離50mm、ノズ
ル速度10m/min、研磨材として平均粒径18μm
のタングステンカーバイト(WC)を使用してサンドブ
ラスト加工を行った。
Using a sandblasting apparatus as shown in FIG. 1, a processing pressure of 0.3 MPa, a nozzle distance of 50 mm, a nozzle speed of 10 m / min, and an average particle diameter of 18 μm as an abrasive material.
Sand blasting was performed using the tungsten carbide (WC).

【0025】従来一般的に使用されていた酸化アルミニ
ウムの平均粒径20μmの粉体を研磨材として使用した
場合と比較して約1/8の時間で加工でき、酸化アルミ
ニウムで加工したときは静電気による基板のピンホール
が観察されたがタングステンカーバイトを使用したとき
には全く見受けられなかった。
It can be processed in about 1/8 the time as compared with the case where powder of aluminum oxide having an average particle size of 20 μm which has been generally used in the past is used as an abrasive, and when processed with aluminum oxide, static electricity is generated. A pinhole on the substrate was observed, but it was not seen at all when using tungsten carbide.

【0026】[0026]

【発明の効果】表面にマスキングパターンを形成した加
工基板に比重が8以上であり、硬度が加工する基板より
高く、平均粒径が150μm以下であり、電気抵抗値が
1×10 −3Ω/cm以下のセラミック粉体を研磨材と
して使用し、0.02MPa以上の高圧ガスを使用して
吹き付けることにより従来の酸化アルミニウム又は炭化
ケイ素等の研磨材をした場合と比較し、短時間に静電気
の発生による基板のダメージが少なく加工することが可
能となる。
EFFECT OF THE INVENTION A masking pattern is formed on the surface.
The specific gravity of the work substrate is 8 or more, and the hardness is higher than that of the processed substrate.
It has a high average particle size of 150 μm or less and an electrical resistance value of
1 x 10 -3Ceramic powder less than Ω / cm as abrasive
And use high pressure gas of 0.02MPa or more
Conventional aluminum oxide or carbonized by spraying
Compared to the case of using an abrasive such as silicon
Can be processed with minimal damage to the board due to
It becomes Noh.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明で使用するサンドブラスト装置の概要を
示す側面図である。
FIG. 1 is a side view showing an outline of a sandblasting device used in the present invention.

【図2】本発明のマスキングとして感光性ドライフィル
ムを使用した場合の工程図である。
FIG. 2 is a process drawing when a photosensitive dry film is used as the masking of the present invention.

【図3】本発明のスクリーン印刷によるマスキング方法
の概要を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an outline of a masking method by screen printing according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 加工基板 2 耐サンドブラスト性スクリーンインク 3 スクリーンメッシュ 5 スキージ 6 研摩材+高圧ガス 10 フィルムマスク 11 サンドブラスト用ドライフィルム 12 パターン形成されたサンドブラスト用ドライフィ
ルム 14 現像液 15 剥離液 20 研摩材噴射ノズル 22 ラミネートローラー 23 スプレーノズル 28 研磨材供給管(研摩材供給ホース) 30 研磨材供給装置 31 ブラスト装置本体 32 分級装置(サイクロン) 33 ホッパー 34 本体導管 35 集塵機 39 集塵用導管 40 ガラス窓 41 研摩材タンク
1 Processed Substrate 2 Sandblast Resistant Screen Ink 3 Screen Mesh 5 Squeegee 6 Abrasive Material + High Pressure Gas 10 Film Mask 11 Dry Film for Sandblasting 12 Dry Film for Sandblasting with Pattern 14 Developer 15 Stripping Solution 20 Abrasive Material Injection Nozzle 22 Laminate Roller 23 Spray nozzle 28 Abrasive material supply pipe (abrasive material supply hose) 30 Abrasive material supply device 31 Blast device main body 32 Classification device (cyclone) 33 Hopper 34 Main body conduit 35 Dust collector 39 Dust collecting conduit 40 Glass window 41 Abrasive material tank

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】スクリーン印刷等の印刷又はフォトプロセ
スにより形成された耐サンドブラストレジストにて表面
をマスキングされたガラス、セラミック、金属、プラス
チック等の基材に比重が8以上であり、硬度が加工する
基板より高く、平均粒径が150μm以下であり、電気
抵抗値が1×10−3Ω/cm以下のセラミック粉体を
研磨材として使用し、0.02MPa以上の高圧ガスを
使用して吹き付けることにより基材表面にパターン彫刻
を行うことを特徴とするサンドブラスト方法。
1. A base material such as glass, ceramic, metal, or plastic whose surface is masked by a sandblast resist resist formed by printing such as screen printing or a photo process, has a specific gravity of 8 or more and is processed into hardness. It is higher than the substrate, has an average particle size of 150 μm or less, and has an electric resistance value of 1 × 10 −3 Ω / cm or less as a polishing material, and sprays it using a high-pressure gas of 0.02 MPa or more. A sand blasting method characterized by performing pattern engraving on the surface of a substrate by means of.
【請求項2】請求項1に使用する研磨材の化学組成とし
て、タングステン元素を含有することを特徴とする研磨
材組成物。
2. An abrasive composition containing the element tungsten as a chemical composition of the abrasive used in claim 1.
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