JP2003078053A - Positioning jig for machining semiconductor - Google Patents

Positioning jig for machining semiconductor

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JP2003078053A
JP2003078053A JP2001268857A JP2001268857A JP2003078053A JP 2003078053 A JP2003078053 A JP 2003078053A JP 2001268857 A JP2001268857 A JP 2001268857A JP 2001268857 A JP2001268857 A JP 2001268857A JP 2003078053 A JP2003078053 A JP 2003078053A
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JP
Japan
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semiconductor package
jig
positioning
semiconductor
package
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Tsutomu Fukuda
努 福田
Takeshi Takahashi
高橋  健
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Mitsubishi Materials Corp
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Mitsubishi Materials Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve wearing resistance of a clamp 5 to be engaged with a semiconductor package, and to prevent precision in positioning from being deteriorated by sticking solder plating on a lead L by clamping the lead L in a positioning jig 1 for machining a semiconductor package I. SOLUTION: In the positioning jig 1 for machining a semiconductor, the semiconductor package I to be placed on the machining part of the machining process of the semiconductor package I is positioned at a prescribed location in the process. The top end of a main body 2 of jig, which can appear/disappear toward the semiconductor package I placed on the machining part, is provided with the clamp part 5. The lead L protruded from a main body P of package of this semiconductor package I can be clamped, and at least the clamp part 5 of this main body 2 of the jig is made from a very high hardness sintered compact 6 composed of a sintered diamond compact or sintered CBN compact.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体パッケージ
のマーキング工程等において、その工程における加工部
に載置された半導体パッケージを、この加工部の所定の
位置に位置決めするための半導体加工用位置決め治具に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor processing positioning jig for positioning a semiconductor package mounted on a processed portion in a semiconductor package marking step or the like at a predetermined position of the processed portion. It is about ingredients.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば極小型の半導体パッケージに型番
等をマーキング(印字)する工程にあっては、パッケー
ジ本体から突出するリードを把持可能な把持部を備えた
位置決め治具をこの半導体パッケージに向けて出没可能
に設け、上記把持部でリードを把持して半導体パッケー
ジと係合させることにより、当該プリント工程の加工部
に半導体パッケージを位置決めした上で、上記型番等を
パッケージ本体に印字するようにしている。そして、従
来このような位置決め治具は、その寿命を延長する目的
から上記把持部を含めて高硬度の超硬合金によって形成
されていた。
2. Description of the Related Art For example, in the step of marking (printing) a model number or the like on a very small semiconductor package, a positioning jig having a gripping portion capable of gripping a lead protruding from the package body is aimed at this semiconductor package. By mounting the lead with the gripping part and engaging with the semiconductor package, the semiconductor package is positioned in the processing part of the printing process, and the model number etc. is printed on the package body. ing. Further, conventionally, such a positioning jig has been formed of cemented carbide having a high hardness including the above-mentioned grip portion for the purpose of extending the life thereof.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
マーキング工程に用いられる位置決め治具においては、
パッケージ本体にマーキングを行うときのインクが上記
把持部に付着してしまうことがあり、こうして付着した
インク等を除去するために定期的に拭き掃除を行うこと
が必要となる。しかしながら、如何に高硬度の超硬合金
によって形成されているとはいえ、このような拭き掃除
を繰り返すうちにはこの把持部に摩耗が生じることは避
けられず、こうして摩耗が進行すると、半導体パッケー
ジの正確な位置決めができなくなってパッケージ本体へ
のマーキング位置がずれてしまったり、把持部の先端が
鋭くなって半導体パッケージを傷つけてしまったりする
といった問題が生じるため、比較的頻繁に治具の交換を
行う必要があった。また、このように把持部に超硬合金
を用いた位置決め治具においては、半導体パッケージの
リードのはんだメッキが超硬合金の結合相との親和性が
高いために上記把持部に付着し易く、これによってさら
に頻繁に拭き掃除を行わなければならなくなって寿命の
短縮を招いたり、早期に位置決め精度が損なわれてしま
うという問題も生じる。
By the way, in the positioning jig used in such a marking process,
Ink for marking the package body may adhere to the grip portion, and it is necessary to periodically wipe the ink in order to remove the ink or the like thus attached. However, no matter how high the hardness of the cemented carbide is, it is inevitable that the grip portion will be worn during repeated wiping and cleaning. Since it is not possible to perform accurate positioning, the marking position on the package body will shift, and the tip of the gripping part will be sharp and the semiconductor package will be damaged, so it is necessary to change the jig relatively frequently. Had to do. Further, in the positioning jig using the cemented carbide for the grip portion as described above, the solder plating of the leads of the semiconductor package has a high affinity with the binder phase of the cemented carbide, and thus easily adheres to the grip portion, As a result, wiping and cleaning must be performed more frequently, resulting in a shortened life and a problem that the positioning accuracy is impaired at an early stage.

【0004】本発明は、このような事情を鑑みて為され
たもので、上述のような半導体パッケージの加工用の位
置決め治具において、そのリードを把持して半導体パッ
ケージと係合する把持部の耐摩耗性の向上を図り、かつ
リードのはんだメッキの付着による位置決め精度の劣化
を防ぐことが可能な半導体加工用位置決め治具を提供す
ることを目的としている。
The present invention has been made in view of such circumstances, and in a positioning jig for processing a semiconductor package as described above, a holding portion for holding the lead and engaging the semiconductor package. An object of the present invention is to provide a positioning jig for semiconductor processing, which has improved wear resistance and can prevent deterioration of positioning accuracy due to adhesion of lead solder plating.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決して、こ
のような目的を達成するために、本発明は、半導体パッ
ケージの加工工程において当該工程の加工部に載置され
る上記半導体パッケージを所定の位置に位置決めする半
導体加工用位置決め治具であって、上記加工部に載置さ
れた半導体パッケージに向けて出没可能とされる治具本
体の先端に、この半導体パッケージのパッケージ本体か
ら突出するリードを把持可能な把持部を設け、この治具
本体の少なくとも上記把持部を、超高硬度焼結体によっ
て形成したことを特徴とする。すなわち、ダイヤモンド
焼結体やCBN焼結体に代表されるこのような超高硬度
焼結体は、超硬合金などに比べても硬質であって耐摩耗
性が高く、極めて長期の使用や拭き掃除などでは摩耗が
生じることが少ない上、リードのはんだメッキに対する
親和性も少ない。また、上記把持部を形成したこの超高
硬度焼結体は、その表面粗さがJIS B 0601にお
ける最大高さRyにおいて0.05〜0.8μmの範囲
となるように研磨を施したりするのが望ましく、これに
よりリードのはんだメッキの付着等をより確実に防止す
ることが可能となる。
In order to solve the above problems and achieve such an object, the present invention provides a semiconductor package mounted on a processing portion of a semiconductor package processing step. A positioning jig for semiconductor processing for positioning at a predetermined position, which protrudes from the package body of this semiconductor package at the tip of the jig body that can be projected and retracted toward the semiconductor package placed on the processing section. A gripping portion capable of gripping the lead is provided, and at least the gripping portion of the jig body is formed of an ultra-high hardness sintered body. That is, such an ultra-high hardness sintered body typified by a diamond sintered body and a CBN sintered body is harder and has higher wear resistance than a cemented carbide and the like, and is used for a very long time or wiped and cleaned. In addition to causing less abrasion, the affinity of the lead for solder plating is also small. Further, the ultra-high hardness sintered body formed with the gripping portion is polished so that the surface roughness thereof is in the range of 0.05 to 0.8 μm at the maximum height Ry according to JIS B0601. However, this makes it possible to more reliably prevent the solder plating of the leads from adhering.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】図1および図2は、本発明の一実
施形態を示すものであって、本発明を、極小型の半導体
パッケージIの上述のようなマーキング工程あるいはプ
リント(印刷)工程等の加工工程における位置決め治具
に適用した場合を示している。すなわち、このような極
小型の半導体パッケージIにおいては、リードLはパッ
ケージ本体Pの下面のみから突出するように配設されて
おり、本実施形態の位置決め治具1は、このリードLを
把持することによって半導体パッケージIに係合し、上
記加工工程の加工部における半導体パッケージIの位置
を位置決めする。なお、これら図1および図2に示す実
施形態では、直方体状のパッケージ本体Pの長方形をな
す下面から3本のリードL…が直列に並ぶように突出さ
せられていて、これらのリードL…をそれぞれ1つずつ
の位置決め治具1が把持して半導体パッケージIを位置
決めするようになされており、従って図2に示すように
1つの半導体パッケージIに対して3つの位置決め治具
1…が用意される。
1 and 2 show an embodiment of the present invention. The present invention will be described with reference to a marking process or a printing process of a very small semiconductor package I as described above. It shows a case where it is applied to a positioning jig in a machining process such as. That is, in such a very small semiconductor package I, the leads L are arranged so as to project only from the lower surface of the package body P, and the positioning jig 1 of the present embodiment holds the leads L. As a result, the semiconductor package I is engaged, and the position of the semiconductor package I in the processed portion of the above-described processing step is positioned. In addition, in the embodiment shown in FIGS. 1 and 2, three leads L ... Are projected so as to be arranged in series from the rectangular lower surface of the rectangular parallelepiped package body P, and these leads L. One positioning jig 1 is gripped to position the semiconductor package I, and therefore, three positioning jigs 1 ... Are prepared for one semiconductor package I as shown in FIG. It

【0007】ここで、各位置決め治具1は、その治具本
体2が略長方形平板状に形成され、その基端部には、治
具本体2を図示されない出没装置に取り付けるための取
付孔3が形成されている。そして、この治具本体2の先
端部には、上記リードLがその幅方向(図2において上
下方向)に嵌合して挿入可能な間隔をあけて一対の角柱
状の把持爪4,4が互いに平行に突設されており、これ
らの把持爪4,4が上記リードLを上記幅方向に挟み込
むことによって該リードLを把持可能な把持部5とされ
ている。そして、本実施形態では、この把持部5の把持
爪4,4を含めた図中にハッチングを施した部分がダイ
ヤモンド焼結体またはCBN焼結体よりなる超高硬度焼
結体6によって「コ」字型の平板状に形成されており、
このような超高硬度焼結体6が、超硬合金や鋼材によっ
て形成された治具本体2基端部の先端側に形成された凹
所2Aに活性ろう材等によるろう付けによって接合され
て一体化されている。
Here, each positioning jig 1 has a jig body 2 formed in a substantially rectangular flat plate shape, and a mounting hole 3 for attaching the jig body 2 to a retracting device (not shown) at a base end portion thereof. Are formed. A pair of prismatic gripping claws 4, 4 are provided at the tip of the jig body 2 with a space therebetween so that the lead L can be fitted and inserted in the width direction (vertical direction in FIG. 2). The gripping claws 4, 4 are provided so as to project in parallel to each other, and are formed as a gripping portion 5 capable of gripping the lead L by sandwiching the lead L in the width direction. In the present embodiment, the hatched portion in the figure including the gripping claws 4 and 4 of the gripping portion 5 is formed by the ultra-high hardness sintered body 6 made of a diamond sintered body or a CBN sintered body. It is formed in the shape of a flat plate.
Such an ultra-high hardness sintered body 6 is joined to the recess 2A formed on the tip side of the base end of the jig body 2 formed of cemented carbide or steel by brazing with an active brazing material or the like. It is integrated.

【0008】なお、このようにろう付けで接合して超高
硬度焼結体6よりなる把持部5を治具本体2の先端に設
ける代わりに、例えば治具本体2の基端部が同じ焼結体
である超硬合金等によって形成されている場合には、焼
結前の圧粉成形時において把持部5となる部分に超高硬
度焼結体6の原料粉末を充填するとともに、これよりも
後端側には超硬合金等の原料粉末を充填しておいて、こ
れらを一体に焼結するようにしてもよく、また場合によ
っては治具本体2全体を超高硬度焼結体6によって形成
してもよい。さらに、本実施形態では、少なくともこの
超高硬度焼結体6によって形成された把持部5の表面の
うち、特にリードLを把持する把持爪4,4の内側面
は、研磨が施されることにより、その表面粗さがJIS
B 0601における最大高さRyにおいて0.05μ
m〜0.8μmの範囲とされている。なお、このように
把持爪4,4の内側面のみに研磨を施すことが却って煩
雑となる場合は、把持爪4,4全体に研磨を施しても構
わない。
Incidentally, instead of providing the grip portion 5 made of the ultra-high hardness sintered body 6 on the tip end of the jig body 2 by brazing as described above, for example, the base end portion of the jig body 2 is made of the same baked material. When it is formed of a cemented carbide or the like that is a united body, the raw material powder of the ultra-high hardness sintered body 6 is filled in the portion to be the gripping portion 5 during the powder compacting before sintering, and Alternatively, the rear end side may be filled with raw material powder such as cemented carbide, and these may be integrally sintered. In some cases, the entire jig body 2 may be sintered with the ultra-high hardness sintered body 6. It may be formed by. Further, in the present embodiment, at least the inner surface of the gripping claws 4, 4 for gripping the lead L among the surfaces of the gripping portion 5 formed of the ultra-high hardness sintered body 6 is polished. According to JIS
0.05μ at the maximum height Ry at B 0601
The range is from m to 0.8 μm. When it is rather complicated to polish only the inner surfaces of the gripping pawls 4 and 4 as described above, the entire gripping pawls 4 and 4 may be polished.

【0009】このような位置決め治具1…を有する加工
工程においては、その加工部に上記半導体パッケージI
が載置された上で、この半導体パッケージIのパッケー
ジ本体P下面から突出する上記リードL…に向けて位置
決め治具1…が上記出没装置により突出し、上述のよう
に各リードLを把持部5の把持爪4,4が上記幅方向に
挟み込むように把持することにより、位置決め治具1…
と半導体パッケージIとが係合して加工部上において該
半導体パッケージIが位置決めされる。なお、本実施形
態では、上述のように複数本(本実施形態では3本)の
リードL…がその幅方向に直列に並ぶようにパッケージ
本体Pの下面から突出させられているとともに、各リー
ドL…に対して1つずつのやはり複数(本実施形態では
3つ)の位置決め治具1…が、その把持部5がリードL
を上記幅方向に挟み込むように把持して位置決めするよ
うになされており、この幅方向に隣接するリードL,L
を把持する位置決め治具1,1同士が干渉するのを避け
るのに、これら隣接するリードL,Lを把持する位置決
め治具1,1同士は、図2に示すように直列に並んだリ
ードL…の一方の側とこれとは反対の他方の側とに交互
に配設されて、上記出没装置により該リードL…に向け
て出没可能とされている。
In the processing step having such positioning jigs 1 ...
, And the positioning jigs 1 ... project toward the leads L ... projecting from the lower surface of the package body P of the semiconductor package I by the retracting device, and grip the leads L as described above. By grasping the grasping claws 4 and 4 so as to be sandwiched in the width direction, the positioning jig 1 ...
And the semiconductor package I are engaged with each other to position the semiconductor package I on the processed portion. In the present embodiment, as described above, a plurality of (three in the present embodiment) leads L ... Are protruded from the lower surface of the package body P so as to be arranged in series in the width direction thereof, and each lead is ... Also, a plurality (three in the present embodiment) of positioning jigs 1 ... One for each L.
Are arranged so as to be sandwiched in the width direction and positioned so that the leads L, L adjacent to each other in the width direction are positioned.
In order to avoid the interference between the positioning jigs 1 and 1 for holding the lead, the positioning jigs 1 and 1 for holding the adjacent leads L, L are arranged in series as shown in FIG. Are alternately arranged on one side and the other side opposite thereto, and can be projected and retracted toward the leads L by the retracting device.

【0010】従って、このような構成の位置決め治具1
においては、半導体パッケージIのリードLを把持する
把持部5が、ダイヤモンド焼結体やCBN焼結体よりな
る超高硬度焼結体6によって形成されており、従って上
記マーキング工程においてインク等の付着を除去するた
めに拭き掃除を行っても超硬合金等に比べて摩耗が少な
く、これにより長期間に亙って正確かつ安定した位置決
めが可能となるとともに、把持爪4,4の先端が鋭くな
って半導体パッケージIを傷つけたりすることもなくな
り、これらによって位置決め治具1の交換回数を大幅に
低減することができる。また、かかる超高硬度焼結体6
は、半導体パッケージIのリードL表面のはんだメッキ
との親和性が低いため、位置決めを繰り返すうちにはん
だメッキが把持部5の把持爪4,4に付着することもな
く、このようなはんだメッキの付着によって位置決め精
度が損なわれたり、付着したはんだメッキが剥離するこ
とにより粉体となって清浄な環境が要求される半導体パ
ッケージIの加工工程を汚染したりするような事態を未
然に防止することができる。
Therefore, the positioning jig 1 having such a structure
In the above, the gripping portion 5 for gripping the lead L of the semiconductor package I is formed by the ultra-high hardness sintered body 6 made of a diamond sintered body or a CBN sintered body. Even if wiping is performed to remove the dust, the wear is less than that of cemented carbide and the like, which enables accurate and stable positioning over a long period of time, and the tips of the gripping claws 4, 4 become sharp. As a result, the semiconductor package I is not damaged, and the number of times the positioning jig 1 is replaced can be greatly reduced. Further, such an ultra-high hardness sintered body 6
Has a low affinity with the solder plating on the surface of the lead L of the semiconductor package I, so that the solder plating does not adhere to the gripping claws 4 and 4 of the gripping portion 5 during repeated positioning, and such solder plating To prevent such a situation that the adhesion deteriorates the positioning accuracy and that the adhered solder plating is peeled off to become powder and contaminate the process of the semiconductor package I that requires a clean environment. You can

【0011】さらに、本実施形態では、この超高硬度焼
結体6により形成された把持部5において、少なくとも
リードLに接触するその把持爪4,4の内側面が、研磨
されることによってその表面粗さが最大高さRyにおい
て0.05μm〜0.8μmの範囲とされている。この
ため、本実施形態によれば、このように把持爪4,4の
表面粗さが平滑にされることにより、リードLを把持し
てもそのはんだメッキが把持爪4,4に付着するのを一
層確実に防止することが可能となるので、これによって
も長期に亙って正確かつ安定した位置決めを図ることが
できる。なお、このようにはんだメッキの付着を防止し
つつも、研磨に要する労力等の軽減を図るには、上記表
面粗さは同じく最大高さRyにおいて0.1〜0.8μ
mの範囲程度とされるのがより望ましい。
Further, in the present embodiment, in the grip portion 5 formed of the ultra-high hardness sintered body 6, at least the inner side surfaces of the grip claws 4 and 4 which come into contact with the lead L are polished so that The surface roughness is in the range of 0.05 μm to 0.8 μm at the maximum height Ry. Therefore, according to the present embodiment, the surface roughness of the gripping claws 4, 4 is made smooth in this way, so that the solder plating adheres to the gripping claws 4, 4 even if the lead L is gripped. Since it is possible to prevent it more reliably, accurate and stable positioning can be achieved over a long period of time. In order to reduce the labor required for polishing while preventing the adhesion of the solder plating in this way, the surface roughness is 0.1 to 0.8 μm at the same maximum height Ry.
It is more desirable that the range is about m.

【0012】また、本実施形態では、この把持部5が超
高硬度焼結体6によって形成されているため、こうして
把持爪4,4を研磨してその表面粗さを平滑にしても、
例えば従来の把持部に硬質皮膜をコーティングした場合
などのように被膜が失われたり膜厚が損なわれたりする
ことがなく、上述の効果をそのまま維持することができ
る。これは、例えばこの把持部5に万一摩耗が生じた場
合に再研磨して使用するときでも、同様である。また、
本実施形態において治具本体2の材質としては、超高硬
度焼結体6を取付可能な材質であるなら、鋼材のような
ものでもよいが、上述のように極小型の半導体パッケー
ジIを位置決めするには治具本体2も小型化せざるを得
ず、そのような治具本体2の剛性や治具本体2自体の耐
摩耗性を確保するには超硬合金を用いるのが望ましい。
Further, in the present embodiment, since the grip portion 5 is formed of the ultra-high hardness sintered body 6, even if the grip claws 4 and 4 are polished and the surface roughness thereof is smoothed,
For example, unlike the case where the conventional grip portion is coated with a hard coating, the coating is not lost or the film thickness is not damaged, and the above-described effect can be maintained as it is. This is the same, for example, even when the grip portion 5 is used again after being re-polished when it is worn. Also,
In the present embodiment, the jig main body 2 may be made of a material such as steel as long as it can be attached to the ultra-high hardness sintered body 6, but the extremely small semiconductor package I is positioned as described above. In order to do so, the jig body 2 must be downsized, and it is desirable to use cemented carbide in order to secure the rigidity of the jig body 2 and the wear resistance of the jig body 2 itself.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体パッケージのリードを把持して位置決めする位置
決め治具の把持部に、ダイヤモンド焼結体やCBN焼結
体よりなる超高硬度焼結体を用いているので、この把持
部の耐摩耗性を大幅に向上させることができて、位置決
め治具の寿命の延長を図ることができ、摩耗した位置決
め治具の交換・調整作業に要する時間や労力の軽減を促
すとともに、長期に亙って高精度で安定した位置決めを
行うことが可能となる。また、この把持部とリード表面
のはんだメッキとの親和性によってメッキの付着が生じ
るのを抑えることができ、このような付着によって位置
決め精度が損なわれたりするのも防ぐことができる。
As described above, according to the present invention,
Since the ultra-high hardness sintered body made of diamond sintered body or CBN sintered body is used for the holding part of the positioning jig that holds and positions the leads of the semiconductor package, the wear resistance of this holding part is greatly improved. It is possible to extend the life of the positioning jig and to reduce the time and labor required for the replacement and adjustment work of the worn positioning jig, and to achieve high accuracy over a long period of time. It is possible to perform stable positioning. Further, it is possible to suppress the adhesion of plating due to the affinity between the grip portion and the solder plating on the lead surface, and it is possible to prevent the positioning accuracy from being impaired by such adhesion.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施形態を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】 図1に示す実施形態の位置決め治具1…によ
って半導体パッケージIが位置決めされた状態をパッケ
ージ本体Pの下面側から見た図である。
2 is a view of a state in which a semiconductor package I is positioned by a positioning jig 1 ... In the embodiment shown in FIG. 1 as viewed from a lower surface side of a package body P. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 位置決め治具 2 治具本体 4 把持爪 5 把持部 6 超高硬度焼結体 I 半導体パッケージ P パッケージ本体 L リード 1 Positioning jig 2 Jig body 4 gripping claws 5 grip 6 Ultra-hard hardness sintered body I Semiconductor package P package body L lead

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) (72)発明者 高橋 健 岐阜県安八郡神戸町大字横井字中新田1528 番地 株式会社リョウテック耐摩工具工場 内─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) (72) Inventor Ken Takahashi 1528, Nakashinda, Yokoi, Kobe-cho, Anha-gun, Gifu Prefecture in the factory

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体パッケージの加工工程において当
該工程の加工部に載置される上記半導体パッケージを所
定の位置に位置決めする半導体加工用位置決め治具であ
って、上記加工部に載置された半導体パッケージに向け
て出没可能とされる治具本体の先端に、この半導体パッ
ケージのパッケージ本体から突出するリードを把持可能
な把持部が設けられ、上記治具本体の少なくとも上記把
持部が、超高硬度焼結体によって形成されていることを
特徴とする半導体加工用位置決め治具。
1. A semiconductor processing positioning jig for positioning a semiconductor package mounted on a processing portion of a semiconductor package at a predetermined position in the semiconductor package processing step, the semiconductor being mounted on the processing portion. At the tip of the jig body that can be projected and retracted toward the package, a gripping portion capable of gripping a lead protruding from the package body of the semiconductor package is provided, and at least the gripping portion of the jig body has an ultra-high hardness. A positioning jig for semiconductor processing, which is formed of a sintered body.
【請求項2】 上記超高硬度焼結体は、ダイヤモンド焼
結体またはCBN焼結体より成ることを特徴とする請求
項1に記載の半導体加工用位置決め治具。
2. The positioning jig for semiconductor processing according to claim 1, wherein the ultra-high hardness sintered body comprises a diamond sintered body or a CBN sintered body.
【請求項3】 上記把持部を形成した上記超高硬度焼結
体は、その表面粗さがRy0.05〜0.8μmの範囲
とされていることを特徴とする請求項1または請求項2
に記載の半導体加工用位置決め治具。
3. The ultra-high hardness sintered body formed with the grip portion has a surface roughness in a range of Ry of 0.05 to 0.8 μm.
A positioning jig for semiconductor processing as described in.
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