JP2003076574A - Method for inspecting electronic unit - Google Patents

Method for inspecting electronic unit

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JP2003076574A
JP2003076574A JP2001263089A JP2001263089A JP2003076574A JP 2003076574 A JP2003076574 A JP 2003076574A JP 2001263089 A JP2001263089 A JP 2001263089A JP 2001263089 A JP2001263089 A JP 2001263089A JP 2003076574 A JP2003076574 A JP 2003076574A
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JP
Japan
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electronic unit
inspection
terminal
control program
external memory
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JP2001263089A
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Japanese (ja)
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Naoki Tei
尚▲煕▼ 鄭
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for inspecting an electronic unit 1 in which no control program for inspection is erroneously executed in cases except the inspection. SOLUTION: In this method for inspecting the electronic unit, a terminal T11 for connecting external memory and a switching signal input terminal T10 to the electronic unit 1 is provided, a function that executes a control program for inspection in an external memory 43 connected with the terminal T11 for connecting the external memory is provided to its microcomputer 3 based on a switching signal to be inputted via the switching signal input terminal T10, the external memory 43 is connected with the electronic unit 1 only in the case of the inspection, the microcomputer 3 is made to read and execute the control program for inspection in the external memory 43 based on the switching signal and no control program for inspection is left in the electronic unit 1 by detaching the external memory 43 from the electronic unit 1 after termination of the inspection.

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、通常モード時には
通常用制御プログラムに従うと共に検査モードには検査
用制御プログラムに従って所定の入力端子から入力され
る入力信号に対して所定の出力信号を所定の出力端子か
ら出力する電子ユニットの検査方法に関する。 【0002】 【従来の技術】図3は、従来の電子ユニットの検査方法
における電子ユニット及び検査機の各構成の一例を示す
図であり、図4は、従来の電子ユニットの検査方法を採
用した場合に生じる虞のある電子ユニットの誤動作を説
明する図である。 【0003】この種の電子ユニットは、例えば車両に搭
載され、種々の車載スイッチや種々の車載センサ等と接
続されると共に駆動モータやランプ等の負荷と接続さ
れ、それらスイッチ及びセンサ等からの信号(SW信
号、センサ信号等)に応じてそれら負荷を駆動したり、
車載LANと接続されて他の車載機器との間でデータ通
信を行うものである。 【0004】かかる電子ユニット101は、一般的に
は、例えば図3に示す如く、複数の入力端子(電源入力
端子T1、通信信号入出力端子T2、1つ以上(図では
2つ)のSW信号入力端子T3,T4、1つ以上(図で
は2つ)のセンサ信号入力端子T5,T6)と、複数の
出力端子(アース出力端子T7、負荷駆動用の駆動信号
を出力する1つ以上(図では2つ)の駆動信号出力端子
T8,T9)と、マイコン103と、電源回路5と、通
信回路7と、SW入力回路9と、AD入力回路11と、
出力回路13とを備えて構成される。電源入力端子T1
は電源回路5を介してマイコン103に接続され、通信
信号入出力端子T2は通信回路7を介してマイコン10
3に接続され、SW信号入力端子T3,T4はSW入力
回路9を介してマイコン103に接続され、センサ信号
入力端子T5,T6はAD入力回路11を介してマイコ
ン103に接続され、アース出力端子T7はマイコン1
03に接続されると共に電子ユニット101内でアース
され、駆動信号出力端子T8,T9は出力回路13を介
してマイコン103に接続されている。 【0005】ここで、電源回路5は、電源入力端子T1
に入力される外部からの電源電流及び電源電圧をマイコ
ンレベルの電流及び電圧に変換してマイコン103に入
力する。通信回路7は、通信信号入出力端子T2に入力
される通信相手からの通信信号をマイコンレベルの信号
に変換してマイコン103に入力し、マイコン103か
らの信号を通信信号に変換して通信信号入出力端子T2
から通信相手に出力する。SW入力回路9は、各SW信
号入力端子T3,T4に入力される外部からのSW信号
をマイコンレベルの信号に変換してマイコン103に入
力する。AD入力回路11は、各センサ信号入力端子T
5,T6に入力される外部からのセンサ信号をマイコン
レベルの信号に変換してマイコン103に入力する。出
力回路13は、マイコン103からの各制御信号に応じ
て各負荷を駆動する駆動信号を各駆動信号出力端子T
8,T9から出力する。 【0006】マイコン103は、その内部メモリ103
aにマイコン103の処理動作を規定する制御プログラ
ム(即ち、各入力端子T1〜T6に入力される外部から
の各信号に対して、どの出力端子T2,T7〜T9から
どのような出力信号を出力するのかが規定されると共に
通信信号入出力端子T2に入力される外部からの通信信
号に対してどのような処理動作を行うのかが規定された
プログラム)が設定されると共に、電源回路5から電源
が投入されて当該マイコン103が起動した時に、その
制御プログラムを実行して通常モードとなり、その制御
プログラムに従って動作するように設定されている。 【0007】そして、従来の電子ユニット101の検査
方法では、更に、マイコン103の内部メモリ103a
に検査用制御プログラム(制御プログラムの内容を電子
ユニット101の検査に適した内容に変更したプログラ
ム、以後検査用制御プログラムに対して上記制御プログ
ラムを通常用制御プログラムと呼ぶ)が設定されると共
に、マイコン103に対して、所定の入力端子(例えば
通信信号入出力端子T2)を介して検査用制御プログラ
ムを実行すべき旨の信号(切替信号)が入力された場合
にだけ、検査用制御プログラムを実行して強制的に検査
モードに切り替わり、その検査用制御プログラムに従っ
て動作するように設定されている。なお、通常用制御プ
ログラムに移行する場合はマイコン103を再起動させ
る。 【0008】そして、かかる電子ユニット101を検査
する検査機119は、一般的には、例えば図3に示す如
く構成される。即ち、入出力端子群として、複数の出力
端子(電源出力端子S1、通信信号入出力端子S2、1
以上(図では1つ)のSW信号出力端子S3、1つ以上
(図では1つ)のセンサ信号出力端子S5)と、複数の
入力端子(アース入力端子S7、1つ以上(図では2
つ)の駆動信号入力端子S8,S9)とを備える。ま
た、制御部121と、電源出力端子S1に電源スイッチ
25を介して接続された電源23と、制御部121の制
御により電源スイッチ25をオンオフする電源SW制御
回路27と、通信信号入出力端子S2と制御部121と
の間に接続された通信回路29と、SW信号出力端子S
3とアースとの間に接続された模擬スイッチ31と、制
御部121の制御により模擬スイッチ31をオンオフ制
御するSW制御回路33と、センサ信号出力端子S5と
アースとの間に接続された模擬センサ35と、制御部1
21の制御により模擬センサ35のセンサ出力を制御す
るセンサ出力制御回路37と、駆動信号入力端子S8と
電源23との間に接続された模擬負荷39と、模擬負荷
39に入力される駆動信号を検出する検出回路41とを
備える。なお、アース入力端子S7は検査機119内で
アースされる。 【0009】ここで、通信回路29は、通信信号入出力
端子S2に入力される電子ユニット101側からの通信
信号を制御部レベルの信号に変換して制御部121に入
力し、制御部121からの信号を通信信号に変換して通
信信号入出力端子S2から電子ユニット101側に出力
する。検出回路41は、模擬負荷39に入力される駆動
信号を制御部レベルの信号に変換して制御部121に入
力する。 【0010】制御部121は、例えば操作者の入力操作
等により起動され、起動後は、まず、電源SW制御回路
27により電源スイッチ25をオン制御し、電源出力端
子S1から電子ユニット101側の電源入力端子T1に
電源23による電力供給を開始する。次いで、通信回路
29により通信信号入出力端子S2から電子ユニット1
01側の通信信号入出力端子T2に切替信号を出力し
て、電子ユニット101に対してその内部メモリ103
a内の検査用制御プログラムを実行させて、電子ユニッ
ト101の動作モードを検査モードに切り替える。そし
て、この検査モードの下で、通信回路29、SW制御回
路33及びセンサ出力制御回路37により各端子S2,
S3,S5から電子ユニット101側の各端子T2,T
3,T5に、検査用信号として所定の通信信号、所定の
SW信号及び所定のセンサ信号を順次出力しながら、同
時にそれら各検査用信号の出力に応答して電子ユニット
101側の各端子T2,T8,T9から出力されて、検
査機119側の各端子S2,S8,S9及び各回路2
9,41を介して得られる各信号をモニタし、所定の検
査用信号に対し所定の出力信号が得られるか否かをみる
ことにより、電子ユニット101に接続不良や素子不良
が有るか否かを判断して電子ユニット101の良否を検
査するように設定されている。 【0011】そして、従来の上記電子ユニット101を
検査機119を用いて検査する際は、まず、検査機11
9の各端子S1〜S3,S5,S7〜S9を電子ユニッ
ト101の対応する各端子T1〜T3,T5,T7〜T
9に接続し、検査機119を始動させる。これにより、
検査機119側の端子S1から電源23による電力が電
子ユニット101側の端子T1,電源回路5を介してマ
イコン103に供給されて電子ユニット101が起動さ
れ、次いで、検査機119側の端子S2から切替信号が
出力されて電子ユニット101側の端子T2,通信回路
7を介してマイコン103に入力され、これにより電子
ユニット101により内部メモリ103a内の検査用制
御プログラムが起動されて電子ユニット101が検査モ
ードに切り替えられる。そして、この検査モードの下
で、検査機119側の各端子S2,S3,S5から順に
各検査用信号が出力されて電子ユニット101側の各端
子T2,T3,T5に入力され、その各検査用信号の入
力に応答して電子ユニット101側の各端子T2,T8
から応答信号が出力されて検査機119側の各端子S
2,S8に入力され、その応答信号に基づき、検査機1
19により電子ユニット101の良否が検査される。そ
して、その検査終了後に、電子ユニット101から検査
機119が外される。 【0012】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
電子ユニット101の検査方法では、検査用制御プログ
ラムが電子ユニット101のマイコン103の内部メモ
リ103aに常設的に設定され、必要な時(検査時)だ
け切替信号の入力により電子ユニット101(マイコン
103)に対して検査用制御プログラムを強制的に実行
させる構成を用いるため、電子ユニット101において
図4に示す誤動作が生じる虞がある。 【0013】即ち、ステップU1で、電子ユニット10
1が例えば車両に組み込まれて通常用制御プログラムを
実行して通常モード(通常制御状態)にある場合に、ス
テップU2で、マイコン103に故障が生じたり端子
(例えば通信信号入出力端子T2)にノイズが生じたり
しなければステップU1に戻り通常モードが維持される
が、検査用制御プログラムの誤実行を引き起こす故障が
マイコン103に生じたり、切替信号と同じ波形パター
ンのノイズ等が端子(例えば通信信号入出力端子T2)
に印加されると、ステップU3に進み、検査用制御プロ
グラムが誤実行されて通常モードから検査モードに誤移
行し、ステップU4に進み、電子ユニット101におい
て通常モードでないといけないところで検査用動作(誤
動作)が起こる虞がある(通常制御異常)。 【0014】そこで、この発明の課題は、検査時以外の
場合に検査用制御プログラムが誤実行されることの無い
電子ユニットの検査方法を提供することにある。 【0015】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
には、請求項1に記載の発明は、通常モード時には通常
用制御プログラムに従うと共に検査モードには検査用制
御プログラムに従って所定の入力端子から入力される入
力信号に対して所定の出力信号を所定の出力端子から出
力する電子ユニットの検査方法であって、前記電子ユニ
ットは、前記検査用制御プログラムが設定された所定の
外部メモリが着脱自在に接続される外部メモリ接続用端
子と、切替信号が入力される切替信号入力端子とを備え
ると共に、前記切替信号入力端子に入力された前記切替
信号に基づき前記外部メモリ接続用端子に接続された前
記外部メモリ内の前記検査用制御プログラムを実行する
機能を有し、前記電子ユニットの前記外部メモリ接続用
端子に、前記検査用制御プログラムが設定された前記外
部メモリを接続する第1工程と、前記電子ユニットの前
記切替信号入力端子に前記切替信号を入力して前記電子
ユニットに対して前記検査用制御プログラムを実行させ
ることで、前記電子ユニットの動作モードを前記検査モ
ードに切り替える第2工程と、前記検査モード時に検査
機により前記電子ユニットの所定の入力端子に検査用信
号を順次入力しながら、その検査用信号の入力に応答し
て、前記検査用制御プログラムに従って前記電子ユニッ
トの所定の出力端子から出力される出力信号をモニタす
ることで前記電子ユニットの良否を検査する第3工程
と、前記電子ユニットの前記検査の終了後に、前記電子
ユニットの前記外部メモリ接続用端子から前記外部メモ
リを外す第4工程と、を含むものである。 【0016】 【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の形態に係
る電子ユニットの検査方法における電子ユニット及び検
査機の各概略的構成を示す図であり、図2は、本発明の
実施の形態に係る電子ユニットの検査方法を含む電子ユ
ニットの検査工程を説明する図である。 【0017】この実施の形態に係る電子ユニットの検査
方法では、検査用制御プログラムが電子ユニットのマイ
コン内の内部メモリに設定されるのではなく所定の外部
メモリに設定され、検査の時だけ上記外部メモリが電子
ユニットに接続され、電子ユニットにより上記外部メモ
リに設定された検査用制御プログラムを読み出させて実
行させる方式が用いられる。 【0018】従って、この実施の形態に係る電子ユニッ
ト1の検査方法における電子ユニット1は、図1に示す
如く、従来法における電子ユニット101と比べて、更
に、検査用制御プログラムが設定された所定の外部メモ
リが着脱自在に接続される外部メモリ接続用端子T11
と、電子ユニット1のマイコン3に対して外部メモリ接
続用端子T11に接続された外部メモリ内の検査用制御
プログラムを実行させるための信号(切替信号)が入力
される切替信号入力端子T10とを備える。切替信号入
力端子T10及び外部メモリ接続用端子T11はそれぞ
れマイコン3に接続されている。 【0019】そして、マイコン3は、従来のマイコン1
03と比べて、その内部メモリ3aに検査用制御プログ
ラムが設定されずに通常用制御プログラムだけが設定さ
れると共に、更に、切替信号入力端子T10を介して電
子ユニット1に切替信号が入力された場合は、その切替
信号に基づき外部メモリ接続用端子T11に接続された
外部メモリ内の検査用制御プログラムを実行してその動
作モードを検査モードに切り替え、他方、切替信号入力
端子T10を介して電子ユニット1に切替信号が入力さ
れない場合は、その内部メモリ3aに設定された通常用
制御プログラムを実行してその動作モードを通常モード
に切り替える機能を備える点が異なる以外は同様に構成
されている。 【0020】ここでは、上記マイコン3としては、例え
ば、オプション端子T12を有すると共に、その起動時
にそのオプション端子T12に切替信号が入力されてい
なければ、その内部メモリ3aに設定されたプログラム
(ここでは通常用制御プログラム)を読み出して実行
し、その起動時にそのオプション端子T12に切替信号
が入力されていれば、外部メモリ接続用端子T11に接
続された外部メモリに設定されたプログラム(ここでは
検査用制御プログラム)を優先して読み出して実行する
機能を有するものが用いられる。 【0021】なお、電子ユニット1の他の構成部分は、
従来技術で説明した電子ユニット101(図3)と同様
に構成される為、対応する構成部分には同一符号を付し
て説明を省略する。 【0022】これに対応して、かかる電子ユニット1を
検査する検査機19は、従来法における検査機119と
比べて、更に、電子ユニット1側の切替信号入力端子T
10に着脱自在に接続する切替信号出力端子S10と、
電子ユニット1側の外部メモリ接続用端子T11に着脱
自在に接続する外部メモリ提供用端子S11と、上記外
部メモリとして機能する検査用制御プログラムが設定さ
れた記憶装置43を備える。切替信号出力端子S10は
制御部21に接続され、外部メモリ提供用端子S11は
記憶装置43に接続されている。 【0023】そして、その検査機19の制御部21は、
従来の制御部121と比べて、その電源SW制御回路2
7により電源スイッチ25をオン制御して、電源23の
電力を端子S1,T1を介し電子ユニット1側の電源回
路5に投入してマイコン3を起動させた後、その通信回
路29により従来の切替信号を端子S2,T2を介し電
子ユニット1側の通信回路7に入力することで、電子ユ
ニット1のマイコン3に対して検査用制御プログラムを
実行させる代わりに、制御部21から端子S10を介し
て本願の切替信号を出力し、その切替信号を電子ユニッ
ト1側の端子T10を介して電子ユニット1側のマイコ
ン3に入力した状態で、その電源SW制御回路27によ
り電源スイッチ25をオン制御して、電源23の電力を
端子S1,T1を介し電子ユニット1側の電源回路5に
投入してマイコン3を起動させることで、電子ユニット
1のマイコン3に対して電子ユニット1の外部メモリ接
続用端子T11に接続された記憶装置43(外部メモ
リ)内の検査用制御プログラムを優先的に実行させるよ
うに設定されている点が異なる以外は同様に構成されて
いる。なお、検査機19から電子ユニット1に出力され
る本願の切替信号は、例えばマイコン起動後に出力停止
される。 【0024】なお、検査機19の他の構成部分は、従来
技術で説明した検査機119(図3)と同様である為、
対応する構成部分については同一符号を付して説明を省
略する。 【0025】次に、図2に基づいて電子ユニット1の検
査方法を説明する。まず、ステップV1で、電子部品が
組み付けられると共に電子ユニット1のマイコン3の内
部メモリ3aに通常用制御プログラムが設定されて電子
ユニット1が組み立てられる。 【0026】そして、ステップV2で、検査機19の各
端子S1〜S3,S5,S7〜S11を電子ユニット1
の対応する各端子T1〜T3,T5,T7〜T11に接
続して電子ユニット1に検査機19を接続する。 【0027】そして、ステップV3で、検査機19を操
作して検査機19を始動させる。これにより、検査機1
9側の切替信号出力端子S10から切替信号が出力され
て電子ユニット1側の切替信号入力端子T10を介して
マイコン3に入力された状態で、検査機19側の端子S
1から電源23の電力が電子ユニット1側の端子T1,
電源回路5を介しマイコン3に供給されて電子ユニット
1が起動させられる。 【0028】そして、ステップV4で、上記の電子ユニ
ット1の起動により、電子ユニット1により外部メモリ
接続用端子T11に接続された外部メモリ(検査機19
側の記憶装置43)内の検査用制御プログラムが読み出
されて実行されて電子ユニット1が検査モードに移行さ
せられる。そして、この検査モードの下で、従来と同様
に、検査機19側の各端子S2,S3,S5から順に各
検査用信号が出力されて電子ユニット1側の各端子T
2,T3,T5に入力され、その各検査用信号の入力に
応答して電子ユニット1側の各端子T2,T8から応答
信号が出力されて検査機19側の各端子S2,S8に入
力され、その応答信号に基づき、検査機19により電子
ユニット1の良否が検査される。例えば、スイッチ入力
のチェック、AD入力のチェック、出力のチェック等の
順で検査が行われる。 【0029】そして、ステップV5で、電子ユニット1
の検査結果が判断され、その検査結果の判断が不良品
(NG)の場合は、ステップV6に進み、その電子ユニ
ット1は一度検査ルーチンから外されて解析され、その
解析でOKになれば、もう一度ステップV2から検査を
やり直す。他方、その検査結果の判断が良品(OK)の
場合は、ステップV7に進み、電子ユニット1から検査
機19(即ち外部メモリ43)が外されてステップV8
に進み、電子ユニット1において通常用制御プログラム
が一部実行されて通常用制御プログラムが正常に実行さ
れるかが確認されて(通常制御動作確認)検査が終了す
る。そして、ステップV9で、電子ユニット1が梱包さ
れ出荷される。 【0030】以上のように、上記の電子ユニット1の検
査方法によれば、電子ユニット1に、外部メモリ接続用
端子T11と切替信号入力端子T10とが備えられると
共に、そのマイコン3に、切替信号入力端子T10を介
して入力される切替信号に基づき外部メモリ接続用端子
T11に接続された外部メモリ(検査機19内の記憶装
置43)内の検査用制御プログラムを実行する機能が持
たされ、検査の時だけ、電子ユニット1に外部メモリ4
3が接続されて、マイコン3に対し、切替信号に基づき
外部メモリ43内の検査用制御プログラムを読み出させ
て実行させ、検査終了後は電子ユニット1から外部メモ
リ43を外すことで電子ユニット1内に検査用制御プロ
グラムが残らないようにしているため、従来法のように
検査用制御プログラムがマイコン103の内部メモリ1
03a内に常設的に設定されることが無くなり、従っ
て、従来のように、マイコン3の故障や端子へのノイズ
の印加により、通常用制御プログラムにより通常制御す
べきところで検査用制御プログラムが誤実行されて誤動
作することが防止できる。 【0031】 【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、電子ユ
ニットに、外部メモリ接続用端子と切替信号入力端子と
が備えられると共に、切替信号入力端子を介して入力さ
れる切替信号に基づき外部メモリ接続用端子に接続され
た外部メモリ内の検査用制御プログラムを実行する機能
が持たされ、検査の時だけ、電子ユニットに対し、外部
メモリを接続して、切替信号に基づき外部メモリ内の検
査用制御プログラムを読み出させて実行させ、検査終了
後は電子ユニットから外部メモリを外すことで電子ユニ
ット内に検査用制御プログラムが残らないようにしてい
るため、従来法のように検査用制御プログラムが電子ユ
ニット内に常設的に設定されることが無くなり、従っ
て、従来のように電子ユニットの故障や端子へのノイズ
の印加により、検査用制御プログラムが誤実行されるこ
とが防止できる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an input signal input from a predetermined input terminal in a normal mode according to a normal control program and in a test mode according to a test control program. The present invention relates to a method for inspecting an electronic unit that outputs a predetermined output signal from a predetermined output terminal. 2. Description of the Related Art FIG. 3 is a view showing an example of the configuration of an electronic unit and an inspection machine in a conventional electronic unit inspection method, and FIG. 4 employs a conventional electronic unit inspection method. FIG. 9 is a diagram for explaining a malfunction of the electronic unit that may occur in such a case. An electronic unit of this type is mounted on a vehicle, for example, and is connected to various on-vehicle switches and various on-vehicle sensors, and is also connected to loads such as a driving motor and a lamp. (SW signal, sensor signal, etc.) to drive those loads,
It is connected to an in-vehicle LAN to perform data communication with other in-vehicle devices. Such an electronic unit 101 generally has a plurality of input terminals (a power supply input terminal T1, a communication signal input / output terminal T2, and one or more (two in the figure) SW signals) as shown in FIG. Input terminals T3, T4, one or more (two in the figure) sensor signal input terminals T5, T6) and a plurality of output terminals (earth output terminal T7, one or more for outputting a drive signal for driving a load (FIG. Two) drive signal output terminals T8, T9), microcomputer 103, power supply circuit 5, communication circuit 7, SW input circuit 9, AD input circuit 11,
An output circuit 13 is provided. Power input terminal T1
Is connected to the microcomputer 103 via the power supply circuit 5, and the communication signal input / output terminal T2 is connected to the microcomputer 10 via the communication circuit 7.
3, the SW signal input terminals T3 and T4 are connected to the microcomputer 103 via the SW input circuit 9, the sensor signal input terminals T5 and T6 are connected to the microcomputer 103 via the AD input circuit 11, and the ground output terminal. T7 is microcomputer 1
The drive signal output terminals T 8 and T 9 are connected to the microcomputer 103 via the output circuit 13. Here, the power supply circuit 5 has a power supply input terminal T1.
The power supply current and the power supply voltage from the outside that are input to the microcomputer 103 are converted into currents and voltages at the microcomputer level and input to the microcomputer 103. The communication circuit 7 converts a communication signal from a communication partner input to the communication signal input / output terminal T2 into a microcomputer-level signal, inputs the signal to the microcomputer 103, converts a signal from the microcomputer 103 into a communication signal, and converts the communication signal into a communication signal. Input / output terminal T2
Output to the communication partner. The SW input circuit 9 converts an external SW signal input to each of the SW signal input terminals T3 and T4 into a microcomputer-level signal and inputs the signal to the microcomputer 103. The AD input circuit 11 is connected to each sensor signal input terminal T
5, the external sensor signal input to T6 is converted into a microcomputer level signal and input to the microcomputer 103. The output circuit 13 outputs a drive signal for driving each load according to each control signal from the microcomputer 103 to each drive signal output terminal T
8. Output from T9. The microcomputer 103 has an internal memory 103
a, a control program that defines the processing operation of the microcomputer 103 (ie, what output signals are output from which output terminals T2, T7 to T9 for each external signal input to each input terminal T1 to T6). And a processing that defines what processing operation is to be performed on an external communication signal input to the communication signal input / output terminal T2). Is turned on and the microcomputer 103 is started, the control program is executed, the mode is set to the normal mode, and operation is performed according to the control program. In the conventional method of inspecting the electronic unit 101, the internal memory 103 a of the microcomputer 103 is further added.
In addition, a control program for inspection (a program in which the content of the control program is changed to a content suitable for inspection of the electronic unit 101, hereinafter the control program is referred to as a control program for normal use for the control program for inspection) is set, and Only when a signal (switching signal) indicating that the inspection control program should be executed is input to the microcomputer 103 via a predetermined input terminal (for example, a communication signal input / output terminal T2), the inspection control program is executed. After execution, the mode is forcibly switched to the inspection mode and set to operate according to the inspection control program. When shifting to the normal control program, the microcomputer 103 is restarted. An inspection machine 119 for inspecting the electronic unit 101 is generally configured as shown in FIG. That is, as an input / output terminal group, a plurality of output terminals (power supply output terminal S1, communication signal input / output terminal S2, 1
The above (one in the figure) SW signal output terminal S3, one or more (one in the figure) sensor signal output terminal S5) and a plurality of input terminals (earth input terminal S7, one or more (2 in the figure)
Drive signal input terminals S8, S9). Also, a control unit 121, a power supply 23 connected to the power output terminal S1 via the power switch 25, a power SW control circuit 27 for turning on and off the power switch 25 under the control of the control unit 121, and a communication signal input / output terminal S2 A communication circuit 29 connected between the control unit 121 and the SW signal output terminal S
3 and a ground switch, a SW control circuit 33 for turning on and off the simulated switch 31 under the control of the control unit 121, and a simulated sensor connected between the sensor signal output terminal S5 and ground. 35 and the control unit 1
A sensor output control circuit 37 for controlling the sensor output of the simulation sensor 35 under the control of the control circuit 21, a simulation load 39 connected between the drive signal input terminal S 8 and the power supply 23, and a drive signal input to the simulation load 39. And a detection circuit 41 for detecting. The ground input terminal S7 is grounded in the inspection machine 119. Here, the communication circuit 29 converts the communication signal from the electronic unit 101, which is input to the communication signal input / output terminal S2, into a signal at the control unit level and inputs the signal to the control unit 121. Is converted into a communication signal and output from the communication signal input / output terminal S2 to the electronic unit 101 side. The detection circuit 41 converts the drive signal input to the simulated load 39 into a signal at the control unit level and inputs the signal to the control unit 121. The control unit 121 is activated by, for example, an input operation of an operator. After the activation, first, the power switch 25 is turned on by the power SW control circuit 27, and the power of the electronic unit 101 is supplied from the power output terminal S1. Power supply from the power supply 23 to the input terminal T1 is started. Next, the communication unit 29 connects the electronic unit 1 to the communication signal input / output terminal S2.
A switching signal is output to the communication signal input / output terminal T2 on the 01 side, and the internal memory 103 is sent to the electronic unit 101.
The inspection control program in a is executed to switch the operation mode of the electronic unit 101 to the inspection mode. Then, under this inspection mode, the communication circuit 29, the SW control circuit 33, and the sensor output control circuit 37 operate the terminals S2 and S2.
Terminals T2, T on the electronic unit 101 side from S3, S5
3 and T5, while sequentially outputting a predetermined communication signal, a predetermined SW signal, and a predetermined sensor signal as test signals, and simultaneously responding to the output of each test signal, each terminal T2 on the electronic unit 101 side. Output from T8, T9, each terminal S2, S8, S9 of the inspection machine 119 side and each circuit 2
By monitoring each signal obtained through the components 9 and 41 and checking whether a predetermined output signal is obtained with respect to a predetermined test signal, it is determined whether the electronic unit 101 has a connection failure or an element failure. Is determined so that the quality of the electronic unit 101 is inspected. When the conventional electronic unit 101 is inspected by using the inspection machine 119, first, the inspection unit 11
9 are connected to corresponding terminals T1 to T3, T5, T7 to T of the electronic unit 101, respectively.
9 and start the inspection machine 119. This allows
Power from the power supply 23 is supplied from the terminal S1 on the inspection machine 119 side to the microcomputer 103 via the terminal T1 on the electronic unit 101 side and the power supply circuit 5 to start the electronic unit 101, and then from the terminal S2 on the inspection machine 119 side. The switching signal is output and input to the microcomputer 103 via the terminal T2 on the electronic unit 101 side and the communication circuit 7, whereby the electronic unit 101 activates the inspection control program in the internal memory 103a and inspects the electronic unit 101. Mode. In this inspection mode, each inspection signal is sequentially output from each of the terminals S2, S3, and S5 on the inspection machine 119 side, and is input to each of the terminals T2, T3, and T5 on the electronic unit 101 side. Terminals T2 and T8 on the electronic unit 101 side in response to the input of the
A response signal is output from each terminal S on the inspection machine 119 side.
2, the inspection machine 1 based on the response signal
19 checks the quality of the electronic unit 101. Then, after the inspection is completed, the inspection machine 119 is removed from the electronic unit 101. However, in the above-described method for inspecting the electronic unit 101, the control program for inspection is permanently set in the internal memory 103 a of the microcomputer 103 of the electronic unit 101, and is used when necessary. Only when an inspection is performed, a configuration is used in which the electronic unit 101 (microcomputer 103) is forced to execute the inspection control program by inputting the switching signal, so that the electronic unit 101 may malfunction as shown in FIG. That is, in step U1, the electronic unit 10
If the microcomputer 103 is in a normal mode (normal control state) by executing a normal control program incorporated in a vehicle, for example, in step U2, a failure occurs in the microcomputer 103 or a failure occurs in a terminal (for example, a communication signal input / output terminal T2). If no noise occurs, the process returns to step U1 and the normal mode is maintained. However, a failure that causes erroneous execution of the inspection control program occurs in the microcomputer 103, and noise or the like having the same waveform pattern as the switching signal is supplied to the terminal (for example, communication). Signal input / output terminal T2)
Is applied, the process proceeds to step U3, the inspection control program is erroneously executed, and the mode is erroneously shifted from the normal mode to the inspection mode. Then, the process proceeds to step U4, where the electronic unit 101 is required to be in the normal mode. ) May occur (normal control abnormality). An object of the present invention is to provide a method of inspecting an electronic unit in which an inspection control program is not erroneously executed except during an inspection. [0015] In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 is provided in accordance with a normal control program in a normal mode and a predetermined mode in a test mode in accordance with a test control program. An inspection method of an electronic unit that outputs a predetermined output signal from a predetermined output terminal in response to an input signal input from an input terminal, wherein the electronic unit includes a predetermined external memory in which the control program for inspection is set. An external memory connection terminal, which is detachably connected, and a switching signal input terminal to which a switching signal is input, and to the external memory connection terminal based on the switching signal input to the switching signal input terminal. A terminal for connecting the external memory of the electronic unit, the terminal having a function of executing the inspection control program in the connected external memory; A first step of connecting the external memory in which the inspection control program is set; and inputting the switching signal to the switching signal input terminal of the electronic unit to execute the inspection control program for the electronic unit. A second step of switching the operation mode of the electronic unit to the inspection mode, and sequentially performing an inspection signal to a predetermined input terminal of the electronic unit by the inspection machine in the inspection mode, A third step of inspecting the quality of the electronic unit by monitoring an output signal output from a predetermined output terminal of the electronic unit in accordance with the inspection control program in response to the input of the use signal; A fourth step of removing the external memory from the external memory connection terminal of the electronic unit after completion of the inspection. Is Dressings. FIG. 1 is a view showing a schematic configuration of an electronic unit and an inspection machine in an electronic unit inspection method according to an embodiment of the present invention, and FIG. It is a figure explaining the inspection process of the electronic unit including the inspection method of the electronic unit concerning the embodiment. In the electronic unit inspection method according to this embodiment, the inspection control program is set not in the internal memory of the microcomputer of the electronic unit but in a predetermined external memory. A method is used in which a memory is connected to an electronic unit, and the electronic control unit reads and executes an inspection control program set in the external memory. Therefore, as shown in FIG. 1, the electronic unit 1 in the method of inspecting the electronic unit 1 according to this embodiment is different from the electronic unit 101 in the conventional method in that a predetermined control program for the inspection is set. External memory connection terminal T11 to which the external memory is detachably connected
And a switching signal input terminal T10 for inputting a signal (switching signal) for causing the microcomputer 3 of the electronic unit 1 to execute the inspection control program in the external memory connected to the external memory connection terminal T11. Prepare. The switching signal input terminal T10 and the external memory connection terminal T11 are connected to the microcomputer 3 respectively. The microcomputer 3 is a conventional microcomputer 1
Compared to 03, the control program for inspection is not set in the internal memory 3a, only the control program for normal is set, and further, a switching signal is input to the electronic unit 1 via the switching signal input terminal T10. In this case, based on the switching signal, an inspection control program in the external memory connected to the external memory connection terminal T11 is executed to switch the operation mode to the inspection mode, and on the other hand, electronically via the switching signal input terminal T10. When the switching signal is not input to the unit 1, the configuration is the same except that a function for switching the operation mode to the normal mode by executing the normal control program set in the internal memory 3a is provided. Here, the microcomputer 3 has, for example, an option terminal T12, and if a switching signal is not input to the option terminal T12 at the time of activation, a program (here, a program) set in the internal memory 3a is set. A normal control program is read out and executed. If a switching signal is input to the option terminal T12 at the time of activation, a program (here, an inspection program) set in the external memory connected to the external memory connection terminal T11 is used. A program having a function of reading out and executing the control program) with priority is used. The other components of the electronic unit 1 are as follows.
Since the configuration is the same as that of the electronic unit 101 (FIG. 3) described in the related art, corresponding components are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted. Correspondingly, the inspection machine 19 for inspecting the electronic unit 1 is further provided with a switching signal input terminal T on the electronic unit 1 side, as compared with the inspection machine 119 in the conventional method.
A switching signal output terminal S10 detachably connected to
An external memory providing terminal S11 is detachably connected to the external memory connecting terminal T11 of the electronic unit 1, and a storage device 43 in which an inspection control program functioning as the external memory is set. The switching signal output terminal S10 is connected to the control unit 21, and the external memory providing terminal S11 is connected to the storage device 43. The control unit 21 of the inspection machine 19
Compared to the conventional control unit 121, its power SW control circuit 2
7, the power supply switch 25 is turned on, the power of the power supply 23 is supplied to the power supply circuit 5 of the electronic unit 1 via the terminals S1 and T1, and the microcomputer 3 is started. By inputting a signal to the communication circuit 7 on the electronic unit 1 side via the terminals S2 and T2, instead of causing the microcomputer 3 of the electronic unit 1 to execute the inspection control program, the control unit 21 transmits the signal via the terminal S10. The power switch 25 is turned on by the power SW control circuit 27 while the switching signal of the present application is output, and the switching signal is input to the microcomputer 3 of the electronic unit 1 via the terminal T10 of the electronic unit 1. The power of the power supply 23 is supplied to the power supply circuit 5 of the electronic unit 1 via the terminals S1 and T1 to start the microcomputer 3, so that the microcomputer 3 of the electronic unit 1 The configuration is the same except that the test control program in the storage device 43 (external memory) connected to the external memory connection terminal T11 of the electronic unit 1 is set to be preferentially executed. ing. Note that the switching signal of the present application output from the inspection device 19 to the electronic unit 1 is stopped after the microcomputer is started, for example. The other components of the inspection machine 19 are the same as those of the inspection machine 119 (FIG. 3) described in connection with the prior art.
Corresponding components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. Next, a method for inspecting the electronic unit 1 will be described with reference to FIG. First, in step V1, electronic components are assembled, and a normal control program is set in the internal memory 3a of the microcomputer 3 of the electronic unit 1, whereby the electronic unit 1 is assembled. At step V2, the terminals S1 to S3, S5, S7 to S11 of the inspection machine 19 are connected to the electronic unit 1
To the corresponding terminals T1 to T3, T5, T7 to T11 to connect the inspection unit 19 to the electronic unit 1. Then, in step V3, the inspection machine 19 is operated to start the inspection machine 19. Thereby, the inspection machine 1
In the state where the switching signal is output from the switching signal output terminal S10 on the 9th side and is input to the microcomputer 3 via the switching signal input terminal T10 on the electronic unit 1 side, the terminal S on the inspection machine 19 side
1 to the terminal T1 on the electronic unit 1 side.
The electronic unit 1 is supplied to the microcomputer 3 via the power supply circuit 5 and is started. Then, in step V4, by the activation of the electronic unit 1, the external memory (inspection machine 19) connected to the external memory connection terminal T11 by the electronic unit 1 is started.
The inspection control program in the storage device 43) is read and executed, and the electronic unit 1 is shifted to the inspection mode. In this test mode, each test signal is sequentially output from each of the terminals S2, S3, and S5 on the tester 19 side and each terminal T on the electronic unit 1 side, as in the prior art.
2, T3, and T5, response signals are output from the terminals T2 and T8 of the electronic unit 1 in response to the input of the inspection signals, and input to the terminals S2 and S8 of the inspection machine 19. The inspection unit 19 inspects the quality of the electronic unit 1 based on the response signal. For example, the inspection is performed in the order of a switch input check, an AD input check, an output check, and the like. Then, in step V5, the electronic unit 1
In the case where the inspection result is judged to be defective (NG), the process proceeds to step V6, and the electronic unit 1 is once removed from the inspection routine and analyzed. The inspection is performed again from step V2. On the other hand, if the judgment of the inspection result is non-defective (OK), the process proceeds to step V7, where the inspection machine 19 (that is, the external memory 43) is removed from the electronic unit 1 and the process proceeds to step V8.
In the electronic unit 1, it is confirmed whether the normal control program is partially executed in the electronic unit 1 and the normal control program is normally executed (normal control operation confirmation), and the inspection is completed. Then, in step V9, the electronic unit 1 is packed and shipped. As described above, according to the method for inspecting the electronic unit 1, the electronic unit 1 is provided with the external memory connection terminal T11 and the switching signal input terminal T10, and the microcomputer 3 is provided with the switching signal. A function of executing a test control program in an external memory (the storage device 43 in the tester 19) connected to the external memory connection terminal T11 based on a switching signal input via the input terminal T10 is provided. Only when the electronic unit 1 has the external memory 4
The microcomputer 3 is connected to the microcomputer 3 to read and execute the inspection control program in the external memory 43 based on the switching signal, and removes the external memory 43 from the electronic unit 1 after the inspection is completed. The control program for inspection does not remain in the internal memory 1 of the microcomputer 103 as in the conventional method.
Therefore, the inspection control program is not erroneously executed at the place where the normal control program should normally control due to the failure of the microcomputer 3 or the application of noise to the terminal as in the related art. Malfunction can be prevented. According to the first aspect of the present invention, the electronic unit is provided with the external memory connection terminal and the switching signal input terminal, and the switching input through the switching signal input terminal. A function to execute a control program for inspection in the external memory connected to the external memory connection terminal based on a signal is provided.Only at the time of inspection, an external memory is connected to the electronic unit, and an external control is performed based on the switching signal. The inspection control program in the memory is read and executed, and after the inspection is completed, the external memory is removed from the electronic unit so that the inspection control program does not remain in the electronic unit. The control program for inspection is no longer permanently set in the electronic unit, so that the failure of the electronic unit and the application of noise to the terminals as in the conventional case are eliminated. This can prevent the inspection control program from being erroneously executed.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施の形態に係る電子ユニットの検査
方法における電子ユニット及び検査機の各概略的構成を
示す図である。 【図2】本発明の実施の形態に係る電子ユニットの検査
方法を含む電子ユニットの検査工程を説明する図であ
る。 【図3】従来の電子ユニットの検査方法における電子ユ
ニット及び検査機の各構成の一例を示す図である。 【図4】従来の電子ユニットの検査方法を採用した場合
に生じる虞のある電子ユニットの誤動作を説明する図で
ある。 【符号の説明】 1 電子ユニット 19 検査機 43 記憶装置 T1〜T9 入力端子、出力端子 T10 切替信号入力端子 T11 外部メモリ接続用端子
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a view showing each schematic configuration of an electronic unit and an inspection machine in an electronic unit inspection method according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram illustrating an electronic unit inspection process including an electronic unit inspection method according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram showing an example of each configuration of an electronic unit and an inspection machine in a conventional electronic unit inspection method. FIG. 4 is a diagram illustrating a malfunction of an electronic unit which may occur when a conventional method for inspecting an electronic unit is employed. [Description of Signs] 1 Electronic unit 19 Inspection machine 43 Storage device T1 to T9 Input terminal, output terminal T10 Switching signal input terminal T11 External memory connection terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 通常モード時には通常用制御プログラム
に従うと共に検査モードには検査用制御プログラムに従
って所定の入力端子から入力される入力信号に対して所
定の出力信号を所定の出力端子から出力する電子ユニッ
トの検査方法であって、 前記電子ユニットは、前記検査用制御プログラムが設定
された所定の外部メモリが着脱自在に接続される外部メ
モリ接続用端子と、切替信号が入力される切替信号入力
端子とを備えると共に、前記切替信号入力端子に入力さ
れた前記切替信号に基づき前記外部メモリ接続用端子に
接続された前記外部メモリ内の前記検査用制御プログラ
ムを実行する機能を有し、 前記電子ユニットの前記外部メモリ接続用端子に、前記
検査用制御プログラムが設定された前記外部メモリを接
続する第1工程と、 前記電子ユニットの前記切替信号入力端子に前記切替信
号を入力して前記電子ユニットに対して前記検査用制御
プログラムを実行させることで、前記電子ユニットの動
作モードを前記検査モードに切り替える第2工程と、 前記検査モード時に検査機により前記電子ユニットの所
定の入力端子に検査用信号を順次入力しながら、その検
査用信号の入力に応答して、前記検査用制御プログラム
に従って前記電子ユニットの所定の出力端子から出力さ
れる出力信号をモニタすることで前記電子ユニットの良
否を検査する第3工程と、 前記電子ユニットの前記検査の終了後に、前記電子ユニ
ットの前記外部メモリ接続用端子から前記外部メモリを
外す第4工程と、を含むことを特徴とする電子ユニット
の検査方法。
In a normal mode, a predetermined output signal is output in response to an input signal input from a predetermined input terminal in a test mode according to a control program for the normal mode and in a test mode. A method for inspecting an electronic unit output from a terminal, wherein the electronic unit receives an external memory connection terminal to which a predetermined external memory in which the inspection control program is set is detachably connected, and a switching signal. And a function of executing the inspection control program in the external memory connected to the external memory connection terminal based on the switching signal input to the switching signal input terminal. Connecting the external memory in which the control program for inspection is set to the external memory connection terminal of the electronic unit. A step of inputting the switching signal to the switching signal input terminal of the electronic unit and causing the electronic unit to execute the inspection control program, thereby changing the operation mode of the electronic unit to the inspection mode. A second step of switching to, and while sequentially inputting a test signal to a predetermined input terminal of the electronic unit by the tester in the test mode, responding to the input of the test signal, according to the test control program, A third step of inspecting the quality of the electronic unit by monitoring an output signal output from a predetermined output terminal of the electronic unit; and after the inspection of the electronic unit is completed, the third step of connecting the external memory of the electronic unit. A fourth step of removing the external memory from a terminal.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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