JP2920561B2 - Test method for one-chip microcomputer - Google Patents
Test method for one-chip microcomputerInfo
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Description
この発明は、1チップマイクロコンピュータをインサ
ーキットテスターを用いてテストする方法に関する。The present invention relates to a method for testing a one-chip microcomputer using an in-circuit tester.
1つのボードに、複数個の回路ICが実装されていると
き、各回路ICを個々に良否判定して、すべての回路ICが
良品であるとき、ボード全体として良品と判定するよう
にするテスト方法においては、インサーキットテスター
が用いられる。 例えば、汎用のCPU、つまりプログラムROMが別体で、
プログラムROMを交換することで種々の用途に使用する
ことができるようなCPUを、このインサーキットテスタ
ーでテストする場合には、テスターからCPUに対して命
令コード、データ、割り込み信号等を与え、このCPUか
ら出力されるアドレス信号、データ、制御信号をテスタ
ーで検知することにより、このCPUの良否の判定をする
ようにしている。When multiple circuit ICs are mounted on one board, each circuit IC is individually judged to be good or defective, and when all circuit ICs are good, the whole board is judged to be good. , An in-circuit tester is used. For example, a general-purpose CPU, that is, a program ROM is separate,
When testing a CPU that can be used for various purposes by replacing the program ROM with this in-circuit tester, the tester gives the CPU an instruction code, data, an interrupt signal, etc. The quality of this CPU is determined by detecting the address signal, data, and control signal output from the CPU by a tester.
ところで、例えばエアーコンディショナーや洗濯機、
冷蔵庫等に用いられている1チップマイクロコンピュー
タは、各電気機器の特定の制御のためのプログラムを内
蔵するROMを、1チップ内に内蔵している。 ところが、この種の1チップマイクロコンピュータ
を、インサーキットテスターでテストしようとする場
合、プログラムROMがチップ内にあり、命令の実行手順
を外部からコントロールできないので、上記のような通
常の方法ではテストできない。 このため、チップ毎にアセンブラを解析することによ
りテストしたり、実際の入力信号、例えば「電源スイッ
チがオンされた」という信号を入力したとき、所定の出
力が得られるかどうかを検知することによりテストする
ようにしている。 ところが、アセンブラを解析する方法は、非常に厄介
であり、簡易的なテスト方法には向かない。 また、実際の入力信号をチップに入力してテストする
方法は、内蔵ROMのプログラム内容を知らなければテス
トすることができない。 この発明は、以上の点にかんがみ、誰でもが簡単に1
チップマイクロコンピュータのテストができるテスト方
法を提供することを目的とする。By the way, for example, air conditioners and washing machines,
A one-chip microcomputer used in a refrigerator or the like has a ROM in which a program for specific control of each electric device is built in one chip. However, when trying to test this kind of one-chip microcomputer with an in-circuit tester, the program ROM is in the chip and the execution procedure of the instruction cannot be controlled from the outside, so that it cannot be tested by the usual method as described above. . For this reason, it is possible to test by analyzing the assembler for each chip or to detect whether or not a predetermined output is obtained when an actual input signal, for example, a signal that "the power switch is turned on" is input. I try to test. However, analyzing an assembler is very cumbersome and not suitable for a simple test method. In addition, a method of testing by inputting an actual input signal to the chip cannot be tested without knowing the program contents of the built-in ROM. In view of the above points, the present invention is simple for anyone.
An object of the present invention is to provide a test method capable of testing a chip microcomputer.
この発明は、CPUと、入力ポートと、出力ポートと、R
AMと、予めインサーキットテスト用のプログラムを書き
込んだROMとを備えた1チップマイクロコンピュータ内
の、前記入力ポート、前記出力ポート、前記RAM、前記R
OMのそれぞれをテスト対象として、インサーキットテス
ターによってテストする方法であって、 前記1チップマイクロコンピュータの複数の端子ピン
の内の1ピンをテスト用ピンとし、 前記インサーキットテスターにより、前記テスト用ピ
ンの状態を、一の状態から他の状態にすることにより、
前記1チップマイクロコンピュータ内のテスト対象のテ
ストを開始し、その後、前記テスト用ピンの状態を反転
することにより、前記1チップマイクロコンピュータ内
のテスト対象である前記入力ポート、前記出力ポート、
前記RAM、前記ROMを、予め定められた順序で、順次に変
更してテストするように、前記インサーキットテスター
のテストプログラムと、前記ROMに書き込まれているイ
ンサーキットテスト用プログラムとの同期を取ってテス
トを実行し、 前記インサーキットテスターに得られる、前記1チッ
プマイクロコンピュータ内の前記入力ポート、前記出力
ポート、前記RAM、前記ROMのそれぞれのテスト結果によ
り、前記入力ポート、前記出力ポート、前記RAM、前記R
OMの良否の判断を行うようにしたことを特徴とする。The present invention provides a CPU, an input port, an output port,
The input port, the output port, the RAM, and the R in a one-chip microcomputer including an AM and a ROM in which an in-circuit test program is previously written.
A method of testing each of the OMs by using an in-circuit tester, wherein one of a plurality of terminal pins of the one-chip microcomputer is used as a test pin, and the test pin is used by the in-circuit tester. By changing the state from one state to another,
The test of the test object in the one-chip microcomputer is started, and then, by inverting the state of the test pin, the input port, the output port,
The test program of the in-circuit tester and the in-circuit test program written in the ROM are synchronized so that the RAM and the ROM are sequentially changed and tested in a predetermined order. The input port, the output port, the RAM, and the ROM in the one-chip microcomputer, which are obtained by the in-circuit tester. RAM, R
It is characterized in that the quality of the OM is determined.
内蔵のプログラムROMに、インサーキットテスト用の
プログラムが書き込まれており、テスト用ピンが、例え
ばインサーキットテスターのテストプログラムに従って
制御され、前記1チップ内に内蔵されたROMのインサー
キットテスト用のプログラムとの同期が取られて、1チ
ップマイクロコンピュータ内の各部が順次テストされ
る。テスターは、順次に各部のテスト結果を1チップマ
イクロコンピュータから得ることにより、各部の良否の
判定を行うことができる。A program for an in-circuit test is written in a built-in program ROM, and the test pins are controlled according to, for example, a test program of an in-circuit tester, and a program for an in-circuit test of the ROM built in the one chip is provided. Are synchronized, and each unit in the one-chip microcomputer is sequentially tested. The tester can determine the quality of each part by sequentially obtaining test results of each part from the one-chip microcomputer.
以下、この発明によるテスト方法を図を参照しながら
説明する。 この例の1チップマイクロコンピュータ10は、第1図
に示すように、CPU11と、プログラムROM12と、ワークエ
リアRAM13と、入力ポート14と、出力ポート15とからな
る。プログラムROM12、ワークエリアRAM13、入力ポート
14及び出力ポート15は、CPU11に対してデータバス16及
びアドレスバス17を介して接続されている。 入力ポート14には、入力ピンP00,P01,…,P07が接続さ
れ、また、出力ポート15には、出力ピンP10〜P17が接続
されている。 入力ピンP00〜P07の内、P00は、テスト用ピンとして
使用され、通常「ハイ(=ハイレベル)」にされてい
る。 また、リセットピンRSに供給される信号が、「ハイ」
にされると、この1チップマイクロコンピュータ10は、
リセットされる。 プログラムROM12には、この1チップマイクロコンピ
ュータ10が行う特定の制御のための制御プログラムが書
き込まれていると共に、この1チップマイクロコンピュ
ータ10を、インサーキットテストするための、後述する
ようなテスト用プログラムが書き込まれている。 インサーキットテスター20は、1つのボードに、複数
個の回路ICが実装されているとき、各回路ICを個々に良
否判定して、すべての回路ICが良品であるとき、ボード
全体として良品と判定するようにするテスト方法に用い
られるものである。 そして、このインサーキットテスター20は、前記1チ
ップマイクロコンピュータ10に対して次のように接続さ
れる。すなわち、インサーキットテスター20のドライブ
端子D00〜D07が、入力ピンP00〜P07に接続され、センサ
端子S00〜S07が、出力ポート15の出力ピンP10〜P17に接
続され、さらにドライブ端子D08がリセット端子RSに接
続される。この例の場合、ドライブ端子D00は、テスト
制御信号を入力ピンP00に供給する。そして、入力テス
トデータは、テスター20からのドライブ端子D01〜D07か
らCPU10の入力ピンP01〜P07に供給する。 そして、ROM12のテスト用プログラムにより、テスト
用ピンP00が、例えば「ロー(=ローレベル)」にされ
ると、テスト開始となり、その後、このピンP00の状態
を反転することにより、テストする1チップマイクロコ
ンピュータ10の各部が順次切り替えられるようにされて
いる。 次に、第2図のフローチャート及び第2図の続きであ
る第3図のフローチャートを参照しながら、1チップマ
イクロコンピュータ10のROM12及びテスター20のテスト
用プログラムによる各部のテストを、以下説明する。 先ず、テスター20から1チップマイクロコンピュータ
10のリセットピンRSに「ハイ」の信号が供給されると共
に、入力ピンP00を「ロー」にする信号を与える(ステ
ップ201)。 1チップマイクロコンピュータ10は、これによりリセ
ットされ(ステップ100)、その時のテスト用ピンP00の
状態を判別し(ステップ101)、「ハイ」であれば、通
常の制御プログラムに移る。そして、「ロー」であれば
テスト開始となり、テスト用ピンP00が「ハイ」になる
のを待つ(ステップ102)。 テスター20は、ステップ201の後、1チップマイクロ
コンピュータ10のリセットピンRSに「ロー」の信号を与
え、以降これを保持して、1チップマイクロコンピュー
タ10のリセットを解除する(ステップ202)。次に、入
力ポート14の入力ピンP01〜P07に、例えば[1010101]
なる入力データを与える(ステップ203)。そして、テ
スト用ピンP00を「ハイ」にする(ステップ204)。 1チップマイクロコンピュータ10では、ステップ102
で、このテスト用ピンP00が「ハイ」になったことが検
知されると、入力ポート14と出力ポート15とのチェック
のための動作がなされる。すなわち、入力ピンP01〜P07
を介して入力ポート14に入力されたデータを、そのまま
出力ポート15に出力する(ステップ103)。このとき、
必要に応じて、入力データに演算例えば反転処理を施し
た後、出力ポート15にデータを出力するようにしても良
い。1チップマイクロコンピュータ10は、出力ポート15
にデータを出力した後、テスト用ピンP00が「ロー」に
なるのを待つ(ステップ104)。 一方、テスター20は、ステップ204でピンP00を「ハ
イ」にした後、1チップマイクロコンピュータ10での入
力ポート14及び出力ポート15のチェックのためのCPU11
による処理が終了するのを待ち(ステップ205)、出力
ポート15に出力データが出力されたとき、これを取り込
む(ステップ206)。そして、この取り込んだデータが
期待値か否か判別する(ステップ207)。すなわち、入
力ポート14に入力されたデータがそのまま出力ポート15
に出力されるのであれば、期待値は入力データと等し
く、また、1チップマイクロコンピュータ10で入力デー
タが反転処理されるのであれば、期待値は入力データの
反転データ[0101010]であり、出力データが期待値で
あるか否かにより、入力ポート14及び出力ポート15の良
否の判定ができる。そして、取り込んだデータが期待値
とは異なっていた場合には、エラーメッセージを出力、
例えばプリントアウトした後、(ステップ208)、ステ
ップ209に進み、取り込んだデータが期待値通りであっ
たときは、ステップ209に飛んで、テスト用ピンP00を
「ロー」にする。 1チップマイクロコンピュータ10では、ステップ104
で、テスト用ピンP00が「ロー」になったことが検知さ
れ、ROM12のチェックの動作が行われる(ステップ10
5)。このROM12のチェックは、例えば制御プログラムデ
ータのチェックサムにより行われる。すなわち、ROM12
には、その制御プログラムデータ(2値データ)の、2
値演算による総和が予め求められて、それがROM12内に
記憶されている。そして、このROM12のチェックのステ
ップ105においては、ROM12の制御プログラムデータの2
値演算による総和が求められ、その値と、予め記憶され
ている総和とが比較されて、ROM12のチェックが行われ
る。 このステップ105におけるROM12のチェックの結果によ
り、ROM12の良否が判定され(ステップ106)、ROM12がO
Kであれば出力ポート15に「0」をセットし(ステップ1
08)、OKでなければ出力ポート15に「1」をセットする
(ステップ107)。そして、次にテスト用ピンP00が「ハ
イ」になるのを待つ(ステップ109)。 一方、テスター20は、ステップ209でピンP00を「ロ
ー」にした後、1チップマイクロコンピュータ10でのRO
M12のチェックのためのCPU11による処理が終了するのを
待ち(ステップ210)、出力ポート15に出力データが出
力されたとき、これを取り込む(ステップ211)。そし
て、この取り込んだデータが期待値すなわち「0」か否
か判別する(ステップ211)。そして、取り込んだデー
タが「0」ではなかった場合には、エラーメッセージを
出力、例えばプリントアウトした後(ステップ213)、
ステップ214に進み、取り込んだデータが「0」であっ
たときは、ステップ214に飛んで、テスト用ピンP00を
「ハイ」にする。 1チップマイクロコンピュータ10では、ステップ109
で、このテスト用ピンP00が「ハイ」になったことが検
知され、RAM13のチェックの動作が行われる(ステップ1
10)。このRAM13のチェック動作は、例えば、前記入力
データをRAM13に一旦書き込んで、これを読み出し、書
き込みデータを読み出しデータとを比較して両者が一致
するか否かにより行うことができる。 このステップ110におけるRAM13のチェックの結果によ
り、RAM13の良否が判定され(ステップ111)、RAM13がO
Kであれば出力ポート15に「0」をセットし(ステップ1
13)、OKでなければ出力ポート15に「1」をセットする
(ステップ112)。以上で1チップマイクロコンピュー
タ10側のテスト用プログラムが終了する(ステップ11
4)。 一方、テスター20は、ステップ214でピンP00を「ハ
イ」にした後、1チップマイクロコンピュータ10でのRA
M13のチェックのためのCPU11による処理が終了するのを
待ち(ステップ215)、出力ポート15に出力データが出
力されたとき、これを取り込む(ステップ216)。そし
て、この取り込んだデータが期待値すなわち「0」か否
か判別する(ステップ217)。そして、取り込んだデー
タが「0」ではなかった場合には、エラーメッセージを
出力、例えばプリントアウトした後(ステップ218)、
ステップ219に進み、取り込んだデータが「0」であっ
たときは、ステップ219に飛んで、すべての入力信号を
解除する。そして、プログラム終了となる(ステップ22
0)。 以上のようにして、インサーキットテスター20によっ
て、ROM内蔵1チップマイクロコンピュータ10の内部の
各部、すなわち入力ポート14,出力ポート15、ROM12,RAM
13を順次に、かつ、自動的に、テストすることができ
る。 なお、1チップマイクロコンピュータ10の各部の良否
のチェック方法は、一例であって、種々のチェック方法
が採用できることはいうまでもない。 また、1チップマイクロコンピュータ10の各部のチェ
ックの順番は、上記の例に限らず任意である。 また、テスト用ピンは、入力ピンP00に限られず、他
の入力ピンを使用できることはいうまでもない。 また、エラーメッセージはプリントアウトするのでは
なく、テスター20にディスプレイを用意しておき、その
ディスプレイに表示するようにしても良い。Hereinafter, a test method according to the present invention will be described with reference to the drawings. The one-chip microcomputer 10 of this example includes a CPU 11, a program ROM 12, a work area RAM 13, an input port 14, and an output port 15, as shown in FIG. Program ROM 12, work area RAM 13, input port
The output port 14 and the output port 15 are connected to the CPU 11 via a data bus 16 and an address bus 17. The input port 14 is connected to input pins P00, P01,..., P07, and the output port 15 is connected to output pins P10 to P17. Of the input pins P00 to P07, P00 is used as a test pin and is normally set to “high (= high level)”. Also, the signal supplied to the reset pin RS is “high”.
This one-chip microcomputer 10 is
Reset. A control program for specific control performed by the one-chip microcomputer 10 is written in the program ROM 12, and a test program described later for performing an in-circuit test of the one-chip microcomputer 10 is provided. Is written. When a plurality of circuit ICs are mounted on one board, the in-circuit tester 20 determines whether each circuit IC is good or not, and if all the circuit ICs are good, determines that the whole board is good. This is used for a test method that ensures that The in-circuit tester 20 is connected to the one-chip microcomputer 10 as follows. That is, the drive terminals D00 to D07 of the in-circuit tester 20 are connected to the input pins P00 to P07, the sensor terminals S00 to S07 are connected to the output pins P10 to P17 of the output port 15, and the drive terminal D08 is connected to the reset terminal. Connected to RS. In this example, the drive terminal D00 supplies a test control signal to the input pin P00. Then, the input test data is supplied from the drive terminals D01 to D07 from the tester 20 to the input pins P01 to P07 of the CPU 10. Then, when the test pin P00 is set to, for example, “low (= low level)” by the test program of the ROM 12, the test starts. Thereafter, the state of the pin P00 is inverted to test one chip. Each part of the microcomputer 10 is sequentially switched. Next, with reference to the flow chart of FIG. 2 and the flow chart of FIG. 3, which is a continuation of FIG. First, a one-chip microcomputer from tester 20
A "high" signal is supplied to the ten reset pins RS, and a signal for setting the input pin P00 to "low" is given (step 201). The one-chip microcomputer 10 is thereby reset (step 100), determines the state of the test pin P00 at that time (step 101), and if "high", shifts to a normal control program. If it is "low", the test starts, and it waits for the test pin P00 to become "high" (step 102). After step 201, the tester 20 gives a “low” signal to the reset pin RS of the one-chip microcomputer 10 and thereafter holds this signal to release the reset of the one-chip microcomputer 10 (step 202). Next, for example, [1010101] is applied to the input pins P01 to P07 of the input port 14.
Is given (step 203). Then, the test pin P00 is set to “high” (step 204). In the one-chip microcomputer 10, step 102
When it is detected that the test pin P00 has become “high”, an operation for checking the input port 14 and the output port 15 is performed. That is, the input pins P01 to P07
The data input to the input port 14 via the port is output to the output port 15 as it is (step 103). At this time,
If necessary, the input data may be subjected to a calculation, for example, an inversion process, and then the data may be output to the output port 15. The one-chip microcomputer 10 has an output port 15
After the data is output to the CPU, it waits until the test pin P00 becomes "low" (step 104). On the other hand, after the tester 20 sets the pin P00 to “high” in step 204, the CPU 11 checks the input port 14 and the output port 15 in the one-chip microcomputer 10.
Is completed (step 205), and when output data is output to the output port 15, this is captured (step 206). Then, it is determined whether or not the fetched data is an expected value (step 207). That is, the data input to the input port 14
Is output, the expected value is equal to the input data. If the input data is inverted by the one-chip microcomputer 10, the expected value is the inverted data of the input data [0101010]. Whether the input port 14 and the output port 15 are good or not can be determined based on whether or not the data is an expected value. If the captured data is different from the expected value, an error message is output,
For example, after printing out (step 208), the process proceeds to step 209. If the fetched data is as expected, the process jumps to step 209 to set the test pin P00 to "low". In the one-chip microcomputer 10, step 104
Then, it is detected that the test pin P00 has become “low”, and the operation of checking the ROM 12 is performed (step 10).
Five). The check of the ROM 12 is performed by, for example, a checksum of control program data. That is, ROM12
Contains the control program data (binary data) of 2
The sum by value calculation is obtained in advance, and the sum is stored in the ROM 12. Then, in the step 105 of checking the ROM 12, the control program data 2 of the ROM 12 is checked.
The sum is obtained by a value calculation, and the sum is compared with a previously stored sum to check the ROM 12. Based on the result of the check of the ROM 12 in step 105, the quality of the ROM 12 is determined (step 106).
If K, set “0” to output port 15 (step 1
08) If it is not OK, "1" is set to the output port 15 (step 107). Then, it waits until the test pin P00 becomes “high” (step 109). On the other hand, the tester 20 sets the pin P00 to “low” in step 209 and then sets the RO in the one-chip microcomputer 10 to “low”.
The process waits until the processing by the CPU 11 for checking M12 is completed (step 210), and when output data is output to the output port 15, it is fetched (step 211). Then, it is determined whether or not the fetched data is an expected value, that is, “0” (step 211). If the captured data is not “0”, an error message is output, for example, after printing out (step 213),
Proceeding to step 214, if the fetched data is "0", the process jumps to step 214 and sets the test pin P00 to "high". In the one-chip microcomputer 10, step 109
Then, it is detected that the test pin P00 has become “high”, and the operation of checking the RAM 13 is performed (step 1).
Ten). The check operation of the RAM 13 can be performed, for example, by once writing the input data into the RAM 13, reading the input data, reading the write data, comparing the read data with the read data, and determining whether the two match. Based on the result of the check of the RAM 13 in step 110, the quality of the RAM 13 is determined (step 111).
If K, set “0” to output port 15 (step 1
13) If it is not OK, "1" is set to the output port 15 (step 112). Thus, the test program on the one-chip microcomputer 10 ends (step 11).
Four). On the other hand, the tester 20 sets the pin P00 to “high” in step 214, and then sets the RA
The process waits until the processing by the CPU 11 for checking M13 is completed (step 215), and when output data is output to the output port 15, it is fetched (step 216). Then, it is determined whether or not the fetched data is an expected value, that is, “0” (step 217). If the received data is not "0", an error message is output, for example, after printing out (step 218),
Proceeding to step 219, if the fetched data is "0", the process jumps to step 219 to cancel all input signals. Then, the program ends (step 22).
0). As described above, the in-circuit tester 20 allows the internal parts of the one-chip microcomputer 10 with built-in ROM, that is, the input port 14, the output port 15, the ROM 12, and the RAM.
13 can be tested sequentially and automatically. The method of checking the quality of each part of the one-chip microcomputer 10 is an example, and it goes without saying that various check methods can be adopted. In addition, the order of checking each unit of the one-chip microcomputer 10 is not limited to the above example, but may be arbitrary. Further, the test pin is not limited to the input pin P00, and it goes without saying that another input pin can be used. Instead of printing out the error message, a display may be prepared in the tester 20 and displayed on the display.
以上説明したように、この発明によれば、1チップマ
イクロコンピュータの内蔵ROMに、インサーキットテス
ト用プログラムを記憶させておくと共に、1チップマイ
クロコンピュータの端子ピンの1つをテスト用ピンとし
て使用することにより、インサーキットテスターのイン
サーキットテスト用プログラムと同期させてインサーキ
ットテスター動作させることにより、1チップマイクロ
コンピュータ内の各部を順次にインサーキットテストす
ることができる。 そして、この発明によれば、1チップマイクロコンピ
ュータの内蔵ROMのプログラム内容に関係なく、種々の
1チップマイクロコンピュータのインサーキットテスト
を容易に行うことができる。As described above, according to the present invention, the in-circuit test program is stored in the built-in ROM of the one-chip microcomputer, and one of the terminal pins of the one-chip microcomputer is used as a test pin. By performing the in-circuit tester operation in synchronization with the in-circuit test program of the in-circuit tester, it is possible to sequentially perform the in-circuit test on each unit in the one-chip microcomputer. According to the present invention, in-circuit tests of various one-chip microcomputers can be easily performed irrespective of the program contents of the built-in ROM of the one-chip microcomputer.
第1図は、この発明の方法を実施するシステム構成の一
例を示す図、第2図及び第3図は、この発明の方法の一
実施例を説明するためのフローチャートである。 10;1チップマイクロコンピュータ 11;CPU 12;ROM 13;RAM 14;入力ポート 15;出力ポート 20;インサーキットテスター P00;テスト用ピンFIG. 1 is a diagram showing an example of a system configuration for implementing the method of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are flowcharts for explaining an embodiment of the method of the present invention. 10; 1-chip microcomputer 11; CPU 12; ROM 13; RAM 14; input port 15; output port 20; in-circuit tester P00; test pins
Claims (2)
と、予めインサーキットテスト用のプログラムを書き込
んだROMとを備えた1チップマイクロコンピュータ内
の、前記入力ポート、前記出力ポート、前記RAM、前記R
OMのそれぞれをテスト対象として、インサーキットテス
ターによってテストする方法であって、 前記1チップマイクロコンピュータの複数の端子ピンの
内の1ピンをテスト用ピンとし、 前記インサーキットテスターにより、前記テスト用ピン
の状態を、一の状態から他の状態にすることにより、前
記1チップマイクロコンピュータ内のテスト対象のテス
トを開始し、その後、前記テスト用ピンの状態を反転す
ることにより、前記1チップマイクロコンピュータ内の
テスト対象である前記入力ポート、前記出力ポート、前
記RAM、前記ROMを、予め定められた順序で、順次に変更
してテストするように、前記インサーキットテスターの
テストプログラムと、前記ROMに書き込まれているイン
サーキットテスト用プログラムとの同期を取ってテスト
を実行し、 前記インサーキットテスターに得られる、前記1チップ
マイクロコンピュータ内の前記入力ポート、前記出力ポ
ート、前記RAM、前記ROMのそれぞれのテスト結果によ
り、前記入力ポート、前記出力ポート、前記RAM、前記R
OMの良否の判断を行うようにしたことを特徴とする1チ
ップマイクロコンピュータのテスト方法。1. A CPU, an input port, an output port, and a RAM.
And a ROM in which a program for in-circuit test has been written in advance, the input port, the output port, the RAM, and the R
A method of testing each of the OMs by using an in-circuit tester, wherein one of a plurality of terminal pins of the one-chip microcomputer is used as a test pin, and the test pin is used by the in-circuit tester. The state of the test target in the one-chip microcomputer is started by changing the state of the one-chip microcomputer from the one state to the other state, and thereafter, the state of the test pin is inverted, whereby In the test program of the in-circuit tester, the input port, the output port, the RAM, and the ROM to be tested are sequentially changed in a predetermined order and tested. Execute the test in synchronization with the written in-circuit test program. The input port, the output port, the RAM, the RAM, and the test result of the input port, the output port, the RAM, and the ROM in the one-chip microcomputer obtained by the in-circuit tester. R
A test method for a one-chip microcomputer, wherein the quality of an OM is determined.
ポートに所定の入力データを入力し、この入力データの
CPUからの出力結果を前記出力ポートから得て、前記入
力ポートおよび出力ポートの良否判断を行う工程と、 前記ROM内の制御プログラムデータの2値演算による総
和結果に基づいて、前記ROMの良否判定を行い、その判
定結果を前記1チップマイクロコンピュータから前記イ
ンサーキットテスターに伝達する工程と、 所定のデータの前記RAMに対する書き込み、読み出しを
行って、前記RAMの良否判断を行い、その判定結果を前
記1チップマイクロコンピュータから前記インサーキッ
トテスターに伝達する工程と、 を備えることを特徴とする請求項(1)に記載の1チッ
プマイクロコンピュータのテスト方法。2. The in-circuit tester inputs predetermined input data to the input port, and outputs the input data.
Obtaining an output result from the CPU from the output port, and determining whether the input port and the output port are good or bad; and determining whether the ROM is good or bad based on a total result of a binary operation of the control program data in the ROM. And transmitting the result of the determination from the one-chip microcomputer to the in-circuit tester.Writing and reading of predetermined data to and from the RAM to determine the quality of the RAM, and The method for testing a one-chip microcomputer according to claim 1, further comprising: transmitting the signal from the one-chip microcomputer to the in-circuit tester.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2254848A JP2920561B2 (en) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | Test method for one-chip microcomputer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2254848A JP2920561B2 (en) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | Test method for one-chip microcomputer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04131939A JPH04131939A (en) | 1992-05-06 |
JP2920561B2 true JP2920561B2 (en) | 1999-07-19 |
Family
ID=17270690
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2254848A Expired - Lifetime JP2920561B2 (en) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | Test method for one-chip microcomputer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2920561B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06348867A (en) * | 1993-06-04 | 1994-12-22 | Hitachi Ltd | Microcomputer |
-
1990
- 1990-09-25 JP JP2254848A patent/JP2920561B2/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
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JPH04131939A (en) | 1992-05-06 |
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