JPH0635531A - Diagnostic method and device for controller - Google Patents

Diagnostic method and device for controller

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Publication number
JPH0635531A
JPH0635531A JP4186819A JP18681992A JPH0635531A JP H0635531 A JPH0635531 A JP H0635531A JP 4186819 A JP4186819 A JP 4186819A JP 18681992 A JP18681992 A JP 18681992A JP H0635531 A JPH0635531 A JP H0635531A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
learning
pattern
control device
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP4186819A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenjiro Soejima
健次郎 副島
Koji Ikuta
公司 生田
Katsunori Kawabe
勝則 河辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koyo Electronics Industries Co Ltd
Original Assignee
Koyo Electronics Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koyo Electronics Industries Co Ltd filed Critical Koyo Electronics Industries Co Ltd
Priority to JP4186819A priority Critical patent/JPH0635531A/en
Publication of JPH0635531A publication Critical patent/JPH0635531A/en
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  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a learning pattern in accordance with the input/output state of a controller despite the different systems of the controller by comparing the learning pattern formed by the input/output signals with the measurement pattern of the controller to be diagnosed. CONSTITUTION:It is supposed that a PC main body 10 is previously checked and normally functions to drive and control a controlled unit 16 in a normal way. Under such conditions, the sampling time of the input data is set by a sampling time setter 36 of a diagnosing device 20 of a controller. At the same time, a mode switch 38 is set in a learning mode. When the drive of the device 20 is started, a CPU 22 fetches the sampling time of the input data set by the setter 36 and the learning mode set by the switch 38 and then stores them in a RAM 26. Then the CPU 22 stores the input signal supplied to an input unit 12 and the output signal sent from an output unit 14 into the RAM 26 and forms a learning pattern in a prescribed time unit.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は制御装置の診断方法及び
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diagnostic method and device for a control device.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来よ
り制御装置としてプログラマブルコントローラ(以下P
Cという)を使用するケースが多いが、その診断に際し
てはPCの機種に対応した専用の診断プログラムを必要
としていた。従って、PCの機種が変われば診断ができ
なくなるという問題点があった。また、最近のPCには
診断専用モジュールを設けて診断を可能とした機種もあ
るが、目的の診断を行わせる為には相当の診断プログラ
ムを設ける必要がある。更に、リレー制御盤に至って
は、その種の診断装置など全く考慮されていない、とい
う問題点があった。本発明は、このような問題点を解決
するためになされたものであり、PCの機種や制御装置
の種類を問わず又使用者が特別のプログラム等を必要と
せずに診断できるようにした制御装置の診断方法及び装
置を提供することを目的とする。
2. Description of the Related Art Conventionally, a programmable controller (hereinafter referred to as P
C) is often used, but a dedicated diagnostic program corresponding to the PC model is required for the diagnosis. Therefore, there is a problem that diagnosis cannot be performed if the model of the PC changes. Also, although there are models of recent PCs that are capable of performing a diagnosis by providing a dedicated module for diagnosis, it is necessary to provide a considerable diagnostic program in order to perform the desired diagnosis. Further, there is a problem in that the relay control panel does not consider such a diagnostic device at all. The present invention has been made in order to solve such a problem, and makes it possible to perform a diagnosis regardless of the model of the PC or the type of the control device and the user's diagnosis without requiring a special program or the like. An object of the present invention is to provide a diagnostic method and device for a device.

【0003】[0003]

【課題を解決するための手段】本発明に係る制御装置の
診断方法は、正常に機能している制御装置の入出力信号
を取り込んで学習パターンを形成する工程と、診断しよ
うとする制御装置の入出力信号を取り込んで計測パター
ンを形成する工程と、計測パターンと学習パターンとを
比較し、両者が不一致のときには異常であると判断する
工程とを有する。本発明に係る制御装置の診断装置は、
制御装置の入出力端子の信号を取り込む入力回路と、記
憶手段と、正常に機能している制御装置の入出力信号を
入力回路を介して入力し、その入力信号に対応した学習
パターンを形成して記憶手段に格納しておき、更に、診
断しようとする制御装置の入出力信号を入力回路を介し
て入力しその入力信号に対応した計測パターンを形成
し、次に、計測パターンと学習パターンとを比較し、両
者のパターンを判断し異常を推定する演算手段とを有す
る。
A diagnostic method for a control device according to the present invention comprises a step of taking an input / output signal of a normally functioning control device to form a learning pattern, and a control device of a control device to be diagnosed. The method includes a step of taking an input / output signal and forming a measurement pattern, and a step of comparing the measurement pattern and the learning pattern and determining that they are abnormal when the two do not match. The diagnostic device of the control device according to the present invention,
An input circuit for receiving the signal of the input / output terminal of the control device, a storage means, and an input / output signal of the control device which is functioning normally are input through the input circuit, and a learning pattern corresponding to the input signal is formed. Stored in the storage means, and further, input / output signals of the control device to be diagnosed are input through the input circuit to form a measurement pattern corresponding to the input signal. And an arithmetic means for estimating the abnormality by judging the patterns of the both.

【0004】[0004]

【作用】本発明においては、診断しようとする制御装置
と同機種でかつ正常な機能を有する制御装置の入出力端
子の信号を取り入れて学習パターンを形成しておき、次
に診断しようとする制御装置の入出力端子の信号を取り
入れて計測パターンを形成し、その計測パターンと学習
パターンとを比較してその一致又は不一致により正常又
は異常を判断する。従って、制御装置が異なってもその
制御装置に対応した学習パターンが得られ、そして、計
測パターンとその学習パターンとを比較すればよいの
で、制御内容が同じであれば異った種類の制御装置も診
断することができる。
In the present invention, the learning pattern is formed in advance by taking in the signals of the input / output terminals of the control device of the same model as the control device to be diagnosed and having a normal function, and the control for the next diagnosis is performed. A signal from the input / output terminal of the device is taken in to form a measurement pattern, and the measurement pattern and the learning pattern are compared with each other to determine whether the measurement pattern is normal or abnormal. Therefore, even if the control device is different, a learning pattern corresponding to the control device can be obtained, and the measurement pattern can be compared with the learning pattern. Can also be diagnosed.

【0005】[0005]

【実施例】図1は本発明の一実施例に係る制御装置の診
断装置の構成を示すブロック図である。図において、2
0は制御装置の診断装置であり、22はCPU、24は
システムプログラム等が格納されているROM、26は
学習パターン等のデータが格納されるRAM、28は各
種の文字コメント等が格納されているRAM、30は表
示器用インタフェースであり、32はPC等の制御装置
に診断結果を出力するための出力ポートである。34は
後述する制御装置の入力ユニット及び出力ユニットから
の信号を入力する入力ユニットである。36は入力信号
のサンプリング時間を設定するサンプル時間設定器、3
8は学習モードと診断モードとを切り替えるモード切替
器である。
1 is a block diagram showing the configuration of a diagnostic device for a control device according to an embodiment of the present invention. In the figure, 2
Reference numeral 0 is a diagnostic device for the control device, 22 is a CPU, 24 is a ROM that stores system programs and the like, 26 is a RAM that stores data such as learning patterns, and 28 is various character comments and the like. The RAM, 30 is a display interface, and 32 is an output port for outputting a diagnostic result to a control device such as a PC. Reference numeral 34 is an input unit for inputting signals from an input unit and an output unit of the control device described later. 36 is a sample time setting device for setting the sampling time of the input signal, 3
Reference numeral 8 is a mode switch for switching between the learning mode and the diagnosis mode.

【0006】図2は図1の診断装置を制御装置の1例と
してPCに接続している状態を示すブロック図である。
図において、10はPC本体であり、これには図示のよ
うに入力ユニット12及び出力ツニット14が装着され
ている。16は被制御器であり、これは入力ユニット1
2及び出力ユニット14に接続され、所望の制御がなさ
れる。診断装置20もPC本体10の入力ユニット12
及び出力ユニット14にそれぞれ接続されており、被制
御器16から入力ユニット12に入力する入力信号及び
出力ユニット14から被制御器16に供給される出力信
号(制御信号)をそれぞれ取り込む。又、図1の診断装
置は図3の如くPCの入出力ユニット12,14に直接
接続せず、中継用端子台17を経由する配線構造の場合
は端子台に接続してもよい。
FIG. 2 is a block diagram showing a state in which the diagnostic device of FIG. 1 is connected to a PC as an example of a control device.
In the figure, 10 is a PC main body, to which an input unit 12 and an output unit 14 are mounted as shown. Reference numeral 16 is a controlled device, which is an input unit 1
2 and the output unit 14, and desired control is performed. The diagnostic device 20 is also the input unit 12 of the PC body 10.
And an output signal (control signal) supplied to the controlled device 16 from the output unit 14 and an input signal input from the controlled device 16 to the input unit 12, respectively. Further, the diagnostic device of FIG. 1 may not be directly connected to the input / output units 12 and 14 of the PC as in FIG. 3, but may be connected to the terminal block in the case of a wiring structure through the relay terminal block 17.

【0007】次に制御装置の診断装置20の学習モード
の動作説明をする。まず、図2の状態に各装置を接続す
る。このとき、PC本体10は予めチエックされて正常
に機能していると判断されたものを用い、被制御器16
を正常に駆動制御しているものとする。この状態におい
て、制御装置の診断装置20のサンプル時間設定器36
により入力データのサンプル時間を設定し、モード切替
器38を学習モードに設定しておく。制御装置の診断装
置20を駆動し始めると、CPU22は、サンプル時間
設定器36により設定された入力データのサンプル時間
及びモード切替器38により設定された学習モードを取
り込んで例えばRAM26に格納する。そして、CPU
22は、サンプル時間に従ったタイミングで、PC本体
10の入力ユニット12に入力する入力信号及び出力ユ
ニット14から出力される出力信号を入力ポート34を
介して取り込んでRAM26に格納し、所定の時間単位
で学習パターンを形成する。
Next, the operation of the learning mode of the diagnostic device 20 of the control device will be described. First, each device is connected in the state of FIG. At this time, the PC main body 10 that has been previously checked and judged to be functioning normally is used.
Drive is normally controlled. In this state, the sample time setting device 36 of the diagnostic device 20 of the control device is
The input data sampling time is set by, and the mode switch 38 is set to the learning mode. When the diagnostic device 20 of the control device is started to be driven, the CPU 22 takes in the sample time of the input data set by the sample time setting device 36 and the learning mode set by the mode switching device 38 and stores it in the RAM 26, for example. And CPU
22 is a timing according to the sample time, which captures an input signal input to the input unit 12 of the PC main body 10 and an output signal output from the output unit 14 via the input port 34 and stores them in the RAM 26 for a predetermined time. A learning pattern is formed in units.

【0008】図4はRAM26に格納された学習パター
ンの一例を示す説明図である。図示のように、複数の学
習パターン40a,40b…が格納されている。所定数
の学習パターンがRAM26に格納されると、学習モー
ドの動作は終了する。なお、学習モードでは全ての入力
をサンプリングして所期の学習パターンを抽出する以外
に、制御装置の診断装置20の特定の入力回路に印加さ
れた信号波形の1周期間にわたる全信号をサンプリング
して学習パターンとする方式も容易に可能である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of the learning pattern stored in the RAM 26. As shown, a plurality of learning patterns 40a, 40b ... Are stored. When the predetermined number of learning patterns are stored in the RAM 26, the learning mode operation ends. In the learning mode, in addition to sampling all inputs to extract a desired learning pattern, all signals for one cycle of the signal waveform applied to a specific input circuit of the diagnostic device 20 of the control device are sampled. It is also possible to easily adopt a learning pattern.

【0009】次に制御装置の診断装置20の診断モード
の動作説明をする。この場合も図2の状態に各装置を接
続する。この状態において、制御装置の診断装置20の
モード切替器38を診断モードに設定しておく。このP
C本体10は上述の学習モードのときのものとは異な
り、これからまさに診断を受けようとするものである。
制御装置の診断装置20を駆動し始めると、CPU22
は、上述の場合と同じサンプル時間に従ったタイミング
で、PC本体10の入力ユニット12に入力する入力信
号及び出力ユニット14から出力される出力信号を入力
ポート34を介して取り込んでRAM26に格納し、所
定の時間単位で計測パターンを形成する。そして、CP
U22はここで得られた計測パターンと既に格納されて
いる学習パターンとを比較し、一致しているものがあれ
ば、正常である旨のメッセージをRAM28から読み出
して表示用インタフェース30又は出力ポート32を介
して外部機器(図示せず)に出力する。一致しているも
のがない場合には、その不一致の状況に応じたメッセー
ジをRAM28から読み出して表示用インタフェース3
0又は出力ポート32を介して外部機器に出力する。
Next, the operation of the diagnostic device 20 of the control device in the diagnostic mode will be described. Also in this case, each device is connected in the state shown in FIG. In this state, the mode switch 38 of the diagnostic device 20 of the control device is set to the diagnostic mode. This P
Unlike the one in the learning mode described above, the C body 10 is about to receive a diagnosis.
When the diagnostic device 20 of the control device is started to drive, the CPU 22
The input signal input to the input unit 12 of the PC body 10 and the output signal output from the output unit 14 are fetched via the input port 34 and stored in the RAM 26 at the timing according to the same sample time as the above case. , Forming a measurement pattern in a predetermined time unit. And CP
U22 compares the measurement pattern obtained here with the already stored learning pattern, and if there is a match, it reads a message indicating that it is normal from the RAM 28 and displays it on the display interface 30 or the output port 32. Via an external device (not shown). If there is no match, a message corresponding to the mismatch condition is read from the RAM 28 and the display interface 3 is read.
0 or output to an external device via the output port 32.

【0010】図5はRAM26の格納される学習パター
ンの他の例を示す説明図である。この実施例入力ポート
34に所定のタイミング入力する入力信号をパターン化
41a,41b…している。学習モードにおいてこのよ
うな学習パターンを上述の場合と同様にして作成する。
各学習パターンは図示のように入出力信号の端子番号に
相当する部分42とその信号43とから構成されてい
る。診断モードにおいては計測パターンがその学習パタ
ーンと一致するかどうかを判断し、一致しなければ異常
があるとして判断される。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing another example of the learning pattern stored in the RAM 26. The input signal input to the input port 34 of this embodiment at a predetermined timing is patterned 41a, 41b .... In the learning mode, such a learning pattern is created in the same manner as the above case.
Each learning pattern is composed of a portion 42 corresponding to the terminal number of the input / output signal and its signal 43 as shown in the figure. In the diagnostic mode, it is determined whether the measured pattern matches the learned pattern, and if not, it is determined that there is an abnormality.

【0011】ところで、学習パターンと計測パターンは
被制御機器の種類によっては正常動作時でも両者のタイ
ミングは都度変るものもある。この様な装置では学習パ
ターンと計測パターンに一定の時間的余裕度を持たせら
れることは云うまでもない。更に、本発明においては多
機能な被制御機器では動作パターンが複数ある場合もあ
る。この場合は複数の学習パターンを記憶しておき、現
在入力している計測パターンがどのパターンかを判断
し、診断する機能も当然有するものである。なお、本発
明は、図2の場合診断しようとするPCと同機種でかつ
正常な機能を有する制御装置の入出力端子の信号を取り
入れて学習パターンを形成しておき、次に診断しようと
するPCの入出力端子の信号を取り入れて計測パターン
を形成し、その計測パターンと学習パターンとを比較し
てその一致又は不一致により正常又は異常を判断するよ
うなものであればよく、上述の実施例に限定されるもの
ではない。
By the way, the learning pattern and the measurement pattern may change in timing depending on the type of controlled device even during normal operation. It goes without saying that in such a device, the learning pattern and the measurement pattern can be given a certain time margin. Further, in the present invention, a multifunctional controlled device may have a plurality of operation patterns. In this case, it naturally has a function of storing a plurality of learning patterns, determining which pattern is the currently input measurement pattern, and making a diagnosis. In the present invention, in the case of FIG. 2, the learning pattern is formed by taking in the signals of the input / output terminals of the control device of the same model as the PC to be diagnosed and having a normal function, and the next diagnosis is made. It suffices that the measurement pattern is formed by taking in signals from the input / output terminals of the PC, the measurement pattern is compared with the learning pattern, and normality or abnormality is judged based on the match or mismatch. It is not limited to.

【0012】[0012]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、正常な機
能を有する制御装置の入出力信号に基いて形成された学
習パターンと、診断しようとする制御装置の入出力信号
に基いた計測パターンとを比較してその一致又は不一致
により正常又は異常を判断するようにしたので、制御装
置の方式が異なってもその入出力状態に対応した学習パ
ターンが得られ、そして、計測パターンとその学習パタ
ーンとを比較すればよいので、全ての制御装置に適用す
ることができる。
As described above, according to the present invention, the learning pattern formed based on the input / output signal of the control device having a normal function and the measurement based on the input / output signal of the control device to be diagnosed. Since it is determined whether the pattern is normal or abnormal by comparing the pattern with the matching or non-matching, a learning pattern corresponding to the input / output state can be obtained even if the control device method is different, and the measurement pattern and the learning Since it only has to be compared with the pattern, it can be applied to all control devices.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は本発明の一実施例に係る制御装置の診断
装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a diagnostic device for a control device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の診断装置をPCに接続している状態を示
すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a state in which the diagnostic device of FIG. 1 is connected to a PC.

【図3】図1の診断装置の他の接続例を示すブロック図
である。
FIG. 3 is a block diagram showing another connection example of the diagnostic device of FIG.

【図4】RAMに格納される学習パターンの一例を示す
説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of a learning pattern stored in a RAM.

【図5】RAMに格納される学習パターンの他の例を示
す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing another example of a learning pattern stored in a RAM.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 正常に機能している制御装置の入出力信
号を取り込んで学習パターンを形成する工程と、 診断しようとする制御装置の入出力信号を取り込んで計
測パターンを形成する工程と、 前記計測パターンと前記学習パターンとを比較し、両者
が不一致のときには異常であると判断する工程とを有す
る制御装置の診断方法。
1. A step of capturing an input / output signal of a normally functioning control device to form a learning pattern, a step of capturing an input / output signal of a control device to be diagnosed to form a measurement pattern, A method of diagnosing a control device, comprising: comparing a measurement pattern with the learning pattern, and determining an abnormality when they do not match.
【請求項2】 制御装置の入出力端子の信号を取り込む
入力回路と、 記憶手段と、 正常に機能している制御装置の入出力信号を前記入力回
路を介して入力しその信号に対応した学習パターンを形
成して前記記憶手段に格納しておき、更に、診断しよう
とする制御装置の入出力信号を前記入力回路を介して入
力してその信号に対応した計測パターンを形成し、次
に、前記計測パターンと前記学習パターンとを比較し、
両者が不一致のときには異常であると判断する演算手段
とを有する制御装置の診断装置。
2. An input circuit for taking in a signal of an input / output terminal of a control device, a storage means, and an input / output signal of a control device which is functioning normally, and a learning corresponding to the input signal. A pattern is formed and stored in the storage means, and further, an input / output signal of the control device to be diagnosed is input through the input circuit to form a measurement pattern corresponding to the signal, and then, Comparing the measurement pattern and the learning pattern,
A diagnostic device for a control device, which has an arithmetic means for determining an abnormality when the two do not match.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6832337B2 (en) 2000-04-28 2004-12-14 Denso Corporation Method and apparatus for monitoring microcomputer in electronic control unit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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