JP2003067933A - マルチレベル光記録媒体 - Google Patents

マルチレベル光記録媒体

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JP2003067933A
JP2003067933A JP2001259538A JP2001259538A JP2003067933A JP 2003067933 A JP2003067933 A JP 2003067933A JP 2001259538 A JP2001259538 A JP 2001259538A JP 2001259538 A JP2001259538 A JP 2001259538A JP 2003067933 A JP2003067933 A JP 2003067933A
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JP2001259538A
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English (en)
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Takashi Doi
高志 洞井
Hiroyuki Arioka
博之 有岡
Shuji Tsukamoto
修司 塚本
Shigetoshi Fukuzawa
成敏 福澤
Yutaka Taya
裕 田家
Motohiro Inoue
素宏 井上
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Original Assignee
TDK Corp
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  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 適切なアシンメトリを有するマルチレベル光
記録媒体を提供する。 【解決手段】 1の仮想記録セルにマルチレベル記録が
可能なマルチレベル光記録媒体であって、第1の情報が
記録された仮想記録セルS0と第1の情報とは異なる第
2の情報が記録された仮想記録セルS7との間における
アシンメトリが、−20%〜20%の範囲内に設定され
ている。これにより、シンボルエラーレート(SER)
を十分に低い値とすることができる。さらに、アシンメ
トリを−15%〜10%の範囲内に設定すれば、ビット
エラーレート(BER)を十分に低い値とすることがで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マルチレベル光記
録媒体に関し、さらに詳細には、適切なアシンメトリを
有するマルチレベル光記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、デジタルデータを記録するた
めの記録媒体として、CDやDVDに代表される光記録
媒体が広く利用されており、そのデータ記録方式として
は、記録すべきデータをトラックに沿ったピットの長さ
に変調するという方式が広く用いられている。
【0003】このような記録方式を用いた場合、データ
の読み出しに際しては再生用レーザービームが光記録媒
体のトラックに沿って照射され、その反射光を検出する
ことによりピットの有無が判別される。また、データの
書き込みに際しては記録用レーザービームが光記録媒体
のトラックに沿って照射され、所定の長さを持ったピッ
トが形成される。
【0004】しかしながら、近年、光記録媒体に対する
いっそうの高密度記録が求められており、これを実現す
る手法として、いわゆる「マルチレベル記録方式」が提
案されている。マルチレベル記録方式は、上述した従来
の記録方式とは異なり、互いに異なる意味を持つ複数の
記録マークのうちの一つを1の仮想記録セルに割り当て
る方式であり、データの読み出しに際しては、再生用レ
ーザービームがマルチレベル光記録媒体のトラックに沿
って照射され、その反射光を検出することにより、各仮
想記録セルに割り当てられた記録マークの種類が判別さ
れる。また、データの書き込みに際しては記録用レーザ
ービームがマルチレベル光記録媒体のトラックに沿って
照射され、割り当てるべき記録マークが各仮想記録セル
に記録される。
【0005】互いに異なる記録マークが割り当てられた
仮想記録セルは、再生用レーザービームに対する光透過
率が互いに異なっている。したがって、データの書き込
みに際しては、記録用レーザービームの照射量を各仮想
記録セルごとにマルチレベルに制御することによって、
各仮想記録セルごとに上記光透過率がマルチレベルに制
御される。
【0006】ここで、「光透過率」とは、仮想記録セル
に照射した再生用レーザービームに対して、仮想記録セ
ルを通過したレーザービームの割合をいう。したがっ
て、データの読み出しに際しては、仮想記録セルに照射
された再生用レーザービームが仮想記録セルを通過し、
反射層で反射された後に同じ仮想記録セルを再度通過し
てマルチレベル光記録媒体の外部に出射されるレーザー
ビームの強度が検出され、これにより、各仮想記録セル
に割り当てられた記録マークの種類が判別される。
【0007】以上から明らかなとおり、マルチレベル光
記録媒体に対してより高密度にデータを記録するために
は、各仮想記録セル毎の光反射率をより多段階に制御す
ることが有効である。例えば、各仮想記録セル毎の光反
射率を4段階に制御すれば、1つの仮想記録セルに格納
される情報は2ビットであるが、各仮想記録セル毎の光
反射率を8段階に制御すれば、1つの仮想記録セルに格
納される情報は3ビットとなる。光反射率の制御をより
多段階で可能とするするためには、光透過率の最も高い
記録マークが割り当てられた仮想記録セルの光反射率
と、光透過率の最も低い記録マークが割り当てられた仮
想記録セルの光反射率との差、いわゆるダイナミックレ
ンジが十分に広いことが要求される。このため、マルチ
レベル光記録媒体に用いる記録層としては、十分なダイ
ナミックレンジを確保することができる素材が選択され
る。
【0008】一方、マルチレベル光記録媒体に対してよ
り高密度にデータを記録するための他の方法として、各
仮想記録セルの物理的な面積をより縮小するという方法
がある。各仮想記録セルの面積を縮小すれば、1つのマ
ルチレベル光記録媒体に含まれる仮想記録セルの数を増
やすことができ、これにより、いっそうの高密度記録が
可能となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、各仮想
記録セルの面積が再生用レーザービームの集光面積より
も小さくなると、再生用レーザービームを単一の仮想記
録セルにのみ照射することはできなくなる。この場合、
再生用レーザービームは、読み出すべき仮想記録セルの
みならず、隣接する他の仮想記録セルにも不可避的に照
射されてしまうことから、その反射光量は、読み出すべ
き仮想記録セルに割り当てられた記録マークのみなら
ず、隣接する他の仮想記録セルに割り当てられた記録マ
ークの影響を受けてしまう。
【0010】このため、同じ記録マークが割り当てられ
た仮想記録セルであっても、隣接する仮想記録セルの内
容によってその反射光量が異なるという現象が起きる。
このため、検出される反射光量の振幅は、前後の仮想記
録セルの内容によって変化するが、この場合、前後の仮
想記録セルの内容によって振幅の中心が大きく変動する
と、正確なデータの再生ができなくなるおそれがある。
このような振幅の中心の変動特性は「アシンメトリ」と
呼ばれ、マルチレベル光記録媒体の開発及び製造に際し
ては、これを所定の範囲内に収めることが必要である。
【0011】したがって、本発明の目的は、適切なアシ
ンメトリを有するマルチレベル光記録媒体を提供するこ
とである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のかかる目的は、
1の仮想記録セルにマルチレベル記録が可能なマルチレ
ベル光記録媒体であって、第1の情報が記録された仮想
記録セルと前記第1の情報とは異なる第2の情報が記録
された仮想記録セルとの間におけるアシンメトリが、−
20%〜20%の範囲内であることを特徴とするマルチ
レベル光記録媒体によって達成される。
【0013】本発明によれば、シンボルエラーレート
(SER)を十分に低い値とすることができる。
【0014】本発明の好ましい実施態様においては、前
記アシンメトリが−15%〜10%の範囲内である。
【0015】本発明の好ましい実施態様によれば、さら
に、ビットエラーレート(BER)を十分に低い値とす
ることができる。
【0016】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記第1の情報が、最も光反射率の高い仮想記録セ
ルに対応する情報である。
【0017】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記第2の情報が、最も光反射率の低い仮想記録セ
ルに対応する情報である。
【0018】本発明のさらに好ましい実施態様において
は、前記アシンメトリが、前記第1の情報が記録された
仮想記録セルが複数個連続的に形成された第1の仮想記
録セル列に含まれる仮想記録セルの絶対光反射率をa、
前記第2の情報が記録された仮想記録セルが複数個連続
的に形成された第2の仮想記録セル列に含まれる仮想記
録セルの絶対光反射率をb、前記第1の情報が記録され
た仮想記録セル及び前記第2の情報が記録された仮想記
録セルが交互に配置された第3の仮想記録セル列に含ま
れる仮想記録セルのうち前記第1の情報が記録された仮
想記録セルの絶対光反射率をc、前記第3の仮想記録セ
ル列に含まれる仮想記録セルのうち前記第2の情報が記
録された仮想記録セルの絶対光反射率をdとした場合
に、
【0019】
【数2】 で定義される。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の好ましい実施態様について詳細に説明する。
【0021】図1は、マルチレベル光記録媒体1(以
下、「光記録媒体1」ともいう)の構成を示す切り欠き
斜視図である。
【0022】光記録媒体1は、ここではCD−R型の光
記録媒体(追記型光記録媒体)であって、図1に示すよ
うに、基板11、記録層12、反射膜13および保護層
14を備えて構成されている。基板11は、透明な樹脂
を基材として円盤状に形成されている。この基板11の
一方の面(図1における上面)には、その中心部近傍か
ら外縁部に向けて、レーザービームガイド用のグルーブ
11a、およびランド11bが螺旋状に形成されてい
る。記録層12は、シアニン色素、メロシアニン色素、
メチン系色素およびその誘導体、ベンゼンチオール金属
錯体、フタロシアニン色素、ナフタロシアニン色素、ア
ゾ色素などの有機色素からなり、この有機色素がグルー
ブ11aおよびランド11bを覆うように塗布されて形
成されている。この記録層12は、記録装置によって記
録用レーザービームが照射されることで分解変質し、そ
のレーザービームの照射量に応じて、その光透過率が変
化する。反射膜13は、光記録媒体1に記録された記録
データの再生時に基板11および記録層12を通過した
再生用レーザービームを反射するための薄膜層であっ
て、金や銀などの金属を主原料として記録層12の上に
例えばスパッタリングによって形成されている。保護層
14は、反射膜13および記録層12を保護する層であ
って、反射膜13の外面を覆うように形成されている。
【0023】次に、光記録媒体1の記録原理について、
図面を参照して説明する。
【0024】この光記録媒体1では、図1に示すよう
に、その回転方向(円周方向)に沿ってグルーブ11a
を仮想的に分割した仮想記録セルS,S・・が記録単位
として規定されている。
【0025】図2は、光記録媒体1に記録された記録マ
ークMa〜Mgを概念的に示す概念図である。図2に示
されるように、仮想記録セルSのグルーブ11aに沿っ
た方向の長さは、集光ビーム径(ビームウエストの直
径)Dよりも短く規定されている。尚、各仮想記録セル
Sは、あくまで光記録再生装置側において想定される仮
想的なセルであり、図2に示すように各仮想記録セルS
の境界を画定する区画が光記録媒体1内に存在する訳で
はない。
【0026】この場合、記録装置のピックアップから出
射される記録用レーザービームの照射時間(すなわち、
レーザービームの照射量)を記録データの値に応じて多
段階に制御することで、図2に示すように、記録層12
(主として有機色素)の分解変質の度合いが異なる記録
マークMa〜Mg(以下、区別しないときには「記録マ
ークM」ともいう)が仮想記録セルS内に形成される。
なお、同図では、分解変質の度合いを記録マークMの大
きさで概念的に図示している。また、記録用レーザービ
ームによって記録データを記録する際には、光記録媒体
1を回転させつつ記録用レーザービームを照射するた
め、記録マークMは、照射時間に応じた長さの長円形と
なる。
【0027】したがって、この光記録媒体1にマルチレ
ベル記録する際には、仮想記録セルSに再生用レーザー
ビームを照射した際の光反射率が例えば7段階(未記録
部分を含めて8段階)となるように、記録マークMa〜
Mgのそれぞれの分解変質度合い(光透過率の変化量)
を規定する。この場合、光反射率は、記録層12の分解
変質度合いが小さいほど大きくなる。このため、記録マ
ークMが割り当てられていない仮想記録セルSが最大光
反射率の特性を有し、最も小さな記録マークMaが割り
当てられた仮想記録セルSが記録マークMのうち最も大
きい光反射率の特性を有し、以降、記録マークMb〜M
fが割り当てられた仮想記録セルSの順に光反射率が低
下し、最も大きな記録マークMgが割り当てられた仮想
記録セルSが最小光反射率の特性を有する。したがっ
て、レーザービームの照射量を制御して分解変質部分の
面積比(つまり記録層12の光透過率)を適宜設定する
ことにより、光反射率が7段階となる記録マークMa〜
Mgを形成することが可能となる。
【0028】次に、光記録媒体1の記録層12に使用さ
れる有機色素の特性について、図面を参照して説明す
る。
【0029】記録層12に使用される有機色素は、一般
的に、記録用レーザービームの照射時間(照射量)の増
加に伴い分解変質の度合いも増加するという特性を有す
る。その一方、この際の光反射率の変化は、記録用レー
ザービームの照射時間(照射量)に対して直線的ではな
い。また、記録用レーザービームの照射時間(照射量)
に伴う分解変質は、照射開始から暫くの間はその度合い
が緩やかで、所定時間経過後にその度合いが急峻かつ直
線的となり、その後、その度合いが再び緩やかとなっ
て、ある照射時間を超えた後には、その度合いが殆ど増
加しないという特性を示す。
【0030】また、分解変質されていない有機色素の光
透過率、最も大きく分解変質した有機色素(分解変質の
度合いが殆ど増加しない状態となるまで分解変質させら
れた状態の有機色素)の光透過率、および分解変質の度
合いに応じた光透過率の変化量も、使用する有機色素の
材質によって様々である。したがって、例えば互いに異
なる有機色素で記録層12が形成される5種類の光記録
媒体1を作製した場合、各光記録媒体1の各記録層12
における絶対光反射率は互いに相違する。ここで、「絶
対光反射率」とは、平滑な表面に例えばスパッタリング
などによって金などの薄膜が施された円盤体の光反射率
の値を100%とした場合における、各光記録媒体1の
未記録部分(未記録の仮想記録セルS)での光反射率を
意味する。
【0031】図3は、各種有機色素を使用した光記録媒
体1の相対光反射率特性を示す特性図である。
【0032】各光記録媒体1の各記録層12における相
対光反射率の特性も、図3の特性C1〜C5に示すよう
に、互いに相違する。なお、同図に示すように、上記し
た分解変質の度合いが特性C1〜C5の曲線における傾
きに寄与している。ここで、「相対光反射率」とは、各
光記録媒体1の未記録部分(つまり未記録の仮想記録セ
ルS)の絶対光反射率の値を100%とした場合におけ
る、対応する光記録媒体1の各記録部分(つまり記録さ
れている仮想記録セルS)の光反射率を意味する。
【0033】また、絶対光反射率および相対光反射率が
各有機色素毎に相違することに起因して、各光記録媒体
1についての相対ダイナミックレンジ(D07)、アシ
ンメトリ(Asymm07)、およびB.E.R(ビッ
トエラーレート)などの各種特性も相違する。さらに、
これらの各種特性は、有機色素の材質だけではなく、有
機色素の塗布厚、グルーブ11aの構造(溝の深さや幅
あるいは形状)および反射膜13の材質などの各種パラ
メータに応じても相違する。ここで、「相対ダイナミッ
クレンジ(D07)」とは、各光記録媒体1の未記録部
分(つまり未記録の仮想記録セルS)の絶対光反射率の
値をI0aとし、最も大きな記録マークMgが割り当て
られた仮想記録セルSの絶対光反射率の値をI7aとし
た場合に、 (I0a−I7a)×100/I0a ・・・(1) で定義される。
【0034】ここで、絶対光反射率I0aとしては、こ
れが最も大きな値となる条件下において得られた値が用
いられ、絶対光反射率I7aとしては、これが最も小さ
な値となる条件下において得られた値が用いられる。
尚、同じ内容を持つ仮想記録セルSより得られる絶対反
射率が、条件によって異なるのは次の理由による。
【0035】すなわち、マルチレベル光記録媒体1にお
いては、上述の通り、仮想記録セルSのグルーブ11a
に沿った方向の長さが、集光ビーム径(ビームウエスト
の直径)Dよりも短く規定されていることから、再生用
レーザービームを単一の仮想記録セルSにのみ照射する
ことはできず、隣接する他の仮想記録セルSにも再生用
レーザービームが照射されてしまう。このため、再生用
レーザービームの絶対光反射率は、隣接する他の仮想記
録セルSに割り当てられた記録マークの影響を受けてし
まう。つまり、各仮想記録セルSより得られる絶対光反
射率は、隣接する仮想記録セルSにどのような記録マー
クが割り当てられているかによって異なるのである。
【0036】尚、光記録媒体1の光反射率を多段階で正
確に制御して初めてマルチレベルの記録が可能となる以
上、光反射率が最も大きい未記録の仮想記録セルSの絶
対光反射率がある程度大きく(例えば、40%〜80
%)、かつ、絶対光反射率が最も大きい仮想記録セルS
(記録マークMaが割り当てられた仮想記録セルS)
と、最も小さい仮想記録セルS(記録マークMgが割り
当てられた仮想記録セルS)との光反射率の差がある程
度大きくなければ、マルチレベルで記録された記録デー
タの再生が困難となる。かかる観点から、相対ダイナミ
ックレンジ(D07)は、50%以上であることが好ま
しい。
【0037】一方、「アシンメトリ(Asymm0
7)」とは、光反射率が最も大きい仮想記録セルS(未
記録の仮想記録セルS)と光反射率が最も小さい仮想記
録セルS(記録マークMgが割り当てられた仮想記録セ
ルS)との反射率の差(振幅)が最も小さくなる条件下
において得られた未記録の仮想記録セルSの絶対光反射
率の値をI0bとし、同条件下において得られた記録マ
ークMgが割り当てられた仮想記録セルSの絶対光反射
率の値をI7bとした場合に、
【0038】
【数3】 で定義される。
【0039】このようなアシンメトリ(Asymm0
7)は、光反射率が最も大きい仮想記録セルS(未記録
の仮想記録セルS)と光反射率が最も小さい仮想記録セ
ルS(記録マークMgが割り当てられた仮想記録セル
S)との反射率の差(振幅)が最も大きくなるようなパ
ターンと、光反射率が最も大きい仮想記録セルS(未記
録の仮想記録セルS)と光反射率が最も小さい仮想記録
セルS(記録マークMgが割り当てられた仮想記録セル
S)との反射率の差(振幅)が最も小さくなるようなパ
ターンを形成し、これらパターンに対して再生用レーザ
ビームを照射することによって測定することが可能とな
る。
【0040】図4は、アシンメトリ測定用パターン20
が形成された仮想記録セル列を概念的に示す概念図であ
る。
【0041】図4に示されるように、アシンメトリ測定
用パターン20は、連続する10個の未記録の仮想記録
セル列S00と、連続する10個の記録マークMgが割
り当てられた仮想記録セル列S77と、未記録の4個の
仮想記録セルS0及び記録マークMgが割り当てられた
4個の仮想記録セルS7が交互に配置された仮想記録セ
ル列S07からなる。特に限定されるものではないが、
このようなアシンメトリ測定用パターン20を形成する
位置としては、リードインエリアが好ましい。リードイ
ンエリアは、光記録媒体1を記録再生装置に装填した際
に最初に読み出される領域であって、光記録媒体1で
は、最大光反射率情報および最小光反射率情報に加え
て、光記録媒体1がマルチレベル光記録媒体である旨の
情報(以下、「媒体特定情報」ともいう)、および記録
マークMの未記録部分を含まずに例えば7段階のマルチ
レベル記録によって記録するまたは記録されている旨の
情報(以下、「記録データ段階情報」ともいう)などの
各種情報が記録されている。
【0042】尚、図4に示したアシンメトリ測定用パタ
ーン20においては、上流側から、仮想記録セル列S0
0、仮想記録セル列S77及び仮想記録セル列S07の
順に配置しているが、これら配置順については特に限定
されない。
【0043】アシンメトリ(Asymm07)の測定に
おいては、このようなアシンメトリ測定用パターン20
に対して再生用レーザービームを照射し、仮想記録セル
列S00に含まれるセルの絶対光反射率と、仮想記録セ
ル列S77に含まれるセルの絶対光反射率と、仮想記録
セル列S07に含まれる仮想記録セルS0の絶対光反射
率と、仮想記録セル列S07に含まれる仮想記録セルS
7の絶対光反射率とをそれぞれ測定し、仮想記録セル列
S00に含まれるセルの絶対光反射率をI0aとし、仮
想記録セル列S77に含まれるセルの絶対光反射率をI
7aとし、仮想記録セル列S07に含まれる仮想記録セ
ルS0の絶対光反射率をI0bとし、仮想記録セル列S
07に含まれる仮想記録セルS7の絶対光反射率をI7
bとして、これらを上記(1)式及び(2)式に代入す
ることによってアシンメトリを算出する。
【0044】ここで、絶対光反射率I0aとしては、仮
想記録セル列S00のうち、最初の仮想記録セルS00
−start及び最後の仮想記録セルS00−end以
外の仮想記録セルSから得られた絶対光反射率が用いら
れ、絶対光反射率I7aとしては、仮想記録セル列S7
7のうち、最初の仮想記録セルS77−start及び
最後の仮想記録セルS77−end以外の仮想記録セル
Sから得られた絶対光反射率が用いられる。また、絶対
光反射率I0bとしては、仮想記録セル列S07のう
ち、最初の仮想記録セルS07−start及び最後の
仮想記録セルS07−end以外の仮想記録セルS0か
ら得られた絶対光反射率が用いられ、絶対光反射率I7
bとしては、仮想記録セル列S07のうち、最初の仮想
記録セルS07−start及び最後の仮想記録セルS
07−end以外の仮想記録セルS7から得られた絶対
光反射率が用いられる。
【0045】ここで、仮想記録セルS07−start
及び仮想記録セルS07−endは、それぞれ仮想記録
セルS0であってもS7であっても構わない。図4にお
いては、仮想記録セルS07−startが仮想記録セ
ルS0であり、仮想記録セルS07−endが仮想記録
セルS7である例を示している。
【0046】これにより、最も大きな値となる条件下に
おける絶対光反射率I0aと、最も小さな値となる条件
下における絶対光反射率I7aとを得ることができるの
で、これらを用いて相対ダイナミックレンジ(D07)
を得ることができるとともに、光反射率が最も大きい仮
想記録セルS(未記録の仮想記録セルS)と光反射率が
最も小さい仮想記録セルS(記録マークMgが割り当て
られた仮想記録セルS)との反射率の差(振幅)が最も
小さくなる条件下における未記録の仮想記録セルSの絶
対光反射率I0bと、同条件下における記録マークMg
が割り当てられた仮想記録セルSの絶対光反射率I7b
とを得ることができるので、これらをさらに用いること
によってアシンメトリ(Asymm07)を得ることが
できる。
【0047】このように、アシンメトリ測定用パターン
20を用いたアシンメトリ(Asymm07)の測定に
よれば、各条件を満たした絶対光反射率I0a、I7
a、I0b、I7bを容易に得ることができるので、簡
単にアシンメトリ(Asymm07)を測定することが
可能となる。
【0048】次に、アシンメトリ(Asymm07)と
光記録媒体1の各種特性との関係について説明する。
尚、測定に用いた光記録媒体1としては、グルーブ11
aの深さが200nmであり、グルーブ11aの幅が7
20nmであり、記録膜12にフタロシアニン系色素を
用いた光記録媒体1を用い、アシンメトリ(Asymm
07)の測定には、上述した方法を用いた。
【0049】図5は、アシンメトリ(Asymm07)
とシンボルエラーレート(SER)との関係を示すグラ
フである。
【0050】図5に示されるように、シンボルエラーレ
ート(SER)はアシンメトリ(Asymm07)が0
%に近い領域において低い値が得られている。一般に、
シンボルエラーレート(SER)は0.04以下である
ことが要求されるため、これを考慮すれば、光記録媒体
1のアシンメトリ(Asymm07)としては約−20
%〜約20%の範囲であることが好ましい。
【0051】図6は、アシンメトリ(Asymm07)
とビットエラーレート(BER)との関係を示すグラフ
である。
【0052】図6に示されるように、ビットエラーレー
ト(BER)はアシンメトリ(Asymm07)が0%
に近い領域において低い値が得られている。一般に、ビ
ットエラーレート(BER)は1×10−4以下である
ことが要求されるため、これを考慮すれば、光記録媒体
1のアシンメトリ(Asymm07)としては約−15
%〜約10%の範囲であることが好ましい。
【0053】続いて、この光記録媒体1に対する記録デ
ータの記録、および記録データの再生を実行する光記録
再生装置40について説明する。
【0054】図7は、光記録再生装置40の構成を概略
的に示すブロック図である。
【0055】図7に示されるように、光記録再生装置4
0は、いわゆるCD−Rレコーダであり、スピンドルサ
ーボ41、スピンドルモータ42、ピックアップ43、
フォーカストラッキングサーボ44、送りサーボ45お
よび制御装置46を備えている。スピンドルモータ42
は、スピンドルサーボ41によって駆動制御され、光記
録媒体1を線速度一定の条件で回転させる。ピックアッ
プ43は、制御装置46の制御下でレーザードライバに
よってレーザー光源(共に図示せず)が駆動されて光記
録媒体1に対して記録用レーザービームまたは再生用レ
ーザービームを照射する。これにより、仮想記録セルS
に対する記録マークMの記録、および仮想記録セルSか
らの反射レーザのレベルに応じた電気的信号の出力が行
われる。この場合、記録データの記録時において、ピッ
クアップ43のレーザードライバは、制御装置46の制
御に従い、記録する記録データの内容に応じて、1つの
仮想記録セルSに対して照射するレーザービームの照射
量(レーザーパルス数、及び/又は、照射パワー、パル
ス高など)を調整する。なお、レーザービームの照射量
を調整する方法としては、レーザードライバによる調整
方法の他に、レーザービームの光路上に光変調器を配置
し、この光変調器を制御装置46によって駆動制御する
ことで調整することもできる。
【0056】また、ピックアップ43は、対物レンズお
よびハーフミラー(共に図示せず)を備え、記録用また
は再生用のレーザービームを光記録媒体1の記録層12
に集光させる。具体的には、フォーカストラッキングサ
ーボ44によって対物レンズがフォーカストラッキング
制御され、これにより、記録用または再生用のレーザー
ビームが光記録媒体1の記録層12に集光させられる。
このピックアップ43は、光記録媒体1の直径方向に沿
ってその内周側と外周側との間を送りサーボ45によっ
て往復動させられる。制御装置46は、スピンドルサー
ボ41、ピックアップ43、フォーカストラッキングサ
ーボ44および送りサーボ45の駆動を制御すると共
に、ピックアップ43から出力された電気的信号に基づ
いて記録層12に記録されている記録データを判読す
る。
【0057】このように、光記録媒体1のアシンメトリ
を約−20%〜約20%の範囲内に設定すれば、シンボ
ルエラーレート(SER)を十分に低い値とすることが
でき、さらに、アシンメトリを約−15%〜約10%の
範囲内に設定すれば、ビットエラーレート(BER)を
十分に低い値とすることができる。
【0058】本発明は、以上の実施態様に限定されるこ
となく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で種
々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含
されるものであることはいうまでもない。
【0059】例えば、上記実施態様においては、アシン
メトリ測定用パターン20に、連続する10個の未記録
の仮想記録セル列S00と、連続する10個の記録マー
クMgが割り当てられた仮想記録セル列S77が含まれ
ているが、未記録の仮想記録セル列S00を構成する仮
想記録セルSの数及び記録マークMgが割り当てられた
仮想記録セル列S77を構成する仮想記録セルSの数は
10個に限定されず、他の数であっても構わない。同様
に、上記実施態様においては、アシンメトリ測定用パタ
ーン20に、未記録の4個の仮想記録セルS0及び記録
マークMgが割り当てられた4個の仮想記録セルS7が
交互に配置された仮想記録セル列S07が含まれている
が、仮想記録セル列S07を構成する未記録の仮想記録
セルS0の数及び記録マークMgが割り当てられた仮想
記録セルS7の数は4個に限定されず、他の数であって
も構わない。
【0060】但し、上述の通り、最初の仮想記録セルS
00−start、S77−start及びS07−s
tartや、最後の仮想記録セルS00−end、S7
7−end及びS07−endは、絶対光反射率の測定
及びアシンメトリの測定に適していないことから、仮想
記録セル列S00を構成する仮想記録セルSの数及び仮
想記録セル列S77を構成する仮想記録セルSの数とし
ては、最低でも3個必要であり、仮想記録セル列S07
を構成する仮想記録セルSの数としては、最低でも4個
必要である。一方、これら仮想記録セル列S00、仮想
記録セル列S77及び仮想記録セル列S07を構成する
仮想記録セルSの数が多すぎると、情報の記録に利用可
能な仮想記録セルの数が少なくなることから、これら仮
想記録セル列S00、S77、S07を構成する仮想記
録セルSの数としては、50個以内に設定することが好
ましい。さらに、仮想記録セル列S00を構成する仮想
記録セルSの数と、仮想記録セル列S77を構成する仮
想記録セルSの数とが一致している必要はなく、これら
が互いに異なっていても構わない。
【0061】さらに、上記実施態様においては、未記録
の仮想記録セル列S00と、記録マークMgが割り当て
られた仮想記録セル列S77と、未記録の仮想記録セル
S0及び記録マークMgが割り当てられた仮想記録セル
S7が交互に配置された仮想記録セル列S07によって
アシンメトリ測定用パターン20が構成されているが、
アシンメトリ測定用パターンとしてはこれに限定され
ず、他の組み合わせからなる複数の仮想記録セル列によ
ってアシンメトリ測定用パターンを構成しても構わな
い。例えば、未記録の仮想記録セル列S00と、記録マ
ークMdが割り当てられた仮想記録セル列S44と、未
記録の仮想記録セルS0及び記録マークMdが割り当て
られた仮想記録セルS4が交互に配置された仮想記録セ
ル列S04によってアシンメトリ測定用パターンを構成
してもよく、記録マークMaが割り当てられた仮想記録
セル列S11と、記録マークMfが割り当てられた仮想
記録セル列S66と、記録マークMaが割り当てられた
仮想記録セルS1及び記録マークMfが割り当てられた
仮想記録セルS6が交互に配置された仮想記録セル列S
16によってアシンメトリ測定用パターンを構成しても
よい。前者のアシンメトリ測定用パターンを用いた場
合、未記録の仮想記録セルSの絶対光反射率と、記録マ
ークMdが割り当てられた仮想記録セルSの絶対光反射
率との間におけるアシンメトリ(Asymm04)を正
確に測定することができ、後者のアシンメトリ測定用パ
ターンを用いた場合、記録マークMaが割り当てられた
仮想記録セルSと、記録マークMfが割り当てられた仮
想記録セルSの絶対光反射率との間におけるアシンメト
リ(Asymm16)を正確に測定することができる。
【0062】さらに、上記実施態様においては、アシン
メトリ測定用パターン20を構成する3つの仮想記録セ
ル列S00、S77及びS07が連続的に形成されてい
るが、これら仮想記録セル列S00、S77及びS07
との間に他の仮想記録セルが存在しても構わない。
【0063】また、上記実施態様においては、記録層1
2として有機色素を採用した例を挙げて説明したが、本
発明におけるマルチレベル光記録媒体は、これに限定さ
れず、上記以外の有機色素あるいは無機材料を記録層1
2に用いたマルチレベル光記録媒体にも適用できるし、
相変化記録層等によるマルチレベル記録用のマルチレベ
ル光記録媒体にも適用することができる。
【0064】さらに、上記実施態様においては、光記録
媒体1をCD−R型の光記録媒体として構成した例を示
したが、本発明は、これに限定されるものでなく、他の
光記録媒体に一般に適用されるものであり、またディス
ク状の回転体に限定されるものではない。
【0065】また、上記実施態様においては、光記録媒
体1は、基板11側から記録用および再生用のレーザー
ビームを照射する構成としたが、基板上に反射層、記録
層、保護層が順次積層され、保護層側から記録用および
再生用のレーザービームを照射する構成の光記録媒体に
対しても適用することができる。
【0066】さらに、上記実施態様においては、仮想記
録セルに互いに分解変質の度合いが異なる7段階の記録
マークMa〜Mgを記録することによって、一つの仮想
記録セルに3ビットの情報を格納しているが、記録の段
階数としてはこれに限定されず、一つの仮想記録セルに
1ビットを超える情報を格納可能である限り、何段階で
あっても構わない。
【0067】
【発明の効果】このように、本発明によれば、アシンメ
トリが適切な範囲に設定されているので、良好な特性を
有するマルチレベル光記録媒体を提供することが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】マルチレベル光記録媒体1の構成を示す切り欠
き斜視図である。
【図2】光記録媒体1に記録された記録マークMa〜M
gを概念的に示す概念図である。
【図3】各種有機色素を使用した光記録媒体1の相対光
反射率特性を示す特性図である。
【図4】アシンメトリ測定用パターン20が形成された
仮想記録セル列を概念的に示す概念図である。
【図5】アシンメトリ(Asymm07)とシンボルエ
ラーレート(SER)との関係を示すグラフである。
【図6】アシンメトリ(Asymm07)とビットエラ
ーレート(BER)との関係を示すグラフである。
【図7】光記録再生装置40の構成を概略的に示すブロ
ック図である。
【符号の説明】
1 マルチレベル光記録媒体 11 基板 11a グルーブ 11b ランド 12 記録層 13 反射膜 14 保護層 20 アシンメトリ測定用パターン 40 光記録再生装置 41 スピンドルサーボ 42 スピンドルモータ 43 ピックアップ 44 フォーカストラッキングサーボ 45 送りサーボ 46 制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 塚本 修司 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 福澤 成敏 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 田家 裕 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 井上 素宏 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 Fターム(参考) 5D029 JA04 JB11 JC20 5D090 AA01 BB03 BB04 BB12 CC01 DD03

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1の仮想記録セルにマルチレベル記録が
    可能なマルチレベル光記録媒体であって、第1の情報が
    記録された仮想記録セルと前記第1の情報とは異なる第
    2の情報が記録された仮想記録セルとの間におけるアシ
    ンメトリが、−20%〜20%の範囲内であることを特
    徴とするマルチレベル光記録媒体。
  2. 【請求項2】 前記アシンメトリが−15%〜10%の
    範囲内であることを特徴とする請求項1に記載のマルチ
    レベル光記録媒体。
  3. 【請求項3】 前記第1の情報が、最も光反射率の高い
    仮想記録セルに対応する情報であることを特徴とする請
    求項1または2に記載のマルチレベル光記録媒体。
  4. 【請求項4】 前記第2の情報が、最も光反射率の低い
    仮想記録セルに対応する情報であることを特徴とする請
    求項1乃至3のいずれか1項に記載のマルチレベル光記
    録媒体。
  5. 【請求項5】 前記アシンメトリが、前記第1の情報が
    記録された仮想記録セルが複数個連続的に形成された第
    1の仮想記録セル列に含まれる仮想記録セルの絶対光反
    射率をa、前記第2の情報が記録された仮想記録セルが
    複数個連続的に形成された第2の仮想記録セル列に含ま
    れる仮想記録セルの絶対光反射率をb、前記第1の情報
    が記録された仮想記録セル及び前記第2の情報が記録さ
    れた仮想記録セルが交互に配置された第3の仮想記録セ
    ル列に含まれる仮想記録セルのうち前記第1の情報が記
    録された仮想記録セルの絶対光反射率をc、前記第3の
    仮想記録セル列に含まれる仮想記録セルのうち前記第2
    の情報が記録された仮想記録セルの絶対光反射率をdと
    した場合に、 【数1】 で定義されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれ
    か1項に記載のマルチレベル光記録媒体。
JP2001259538A 2001-08-10 2001-08-29 マルチレベル光記録媒体 Withdrawn JP2003067933A (ja)

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PCT/JP2002/007781 WO2003021582A1 (fr) 2001-08-10 2002-07-31 Procede permettant de determiner des donnees caracteristiques d'un support d'enregistrement optique multi-niveau et support d'enregistrement optique multi-niveau

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009205795A (ja) * 2003-11-14 2009-09-10 Lg Electron Inc 光記録媒体の表面上の耐汚染レベルの評価方法および装置並びに光記録媒体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009205795A (ja) * 2003-11-14 2009-09-10 Lg Electron Inc 光記録媒体の表面上の耐汚染レベルの評価方法および装置並びに光記録媒体

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