JP2003051499A - 薄膜形成方法及び装置 - Google Patents

薄膜形成方法及び装置

Info

Publication number
JP2003051499A
JP2003051499A JP2001238752A JP2001238752A JP2003051499A JP 2003051499 A JP2003051499 A JP 2003051499A JP 2001238752 A JP2001238752 A JP 2001238752A JP 2001238752 A JP2001238752 A JP 2001238752A JP 2003051499 A JP2003051499 A JP 2003051499A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
thin film
raw material
film forming
material solution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001238752A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuzo Tsuchida
修三 土田
Kazuhiro Nishikawa
和宏 西川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2001238752A priority Critical patent/JP2003051499A/ja
Publication of JP2003051499A publication Critical patent/JP2003051499A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 CMD法を用いて容易に高抵抗薄膜を形成す
ることが可能な薄膜形成方法及び薄膜形成装置を提供す
る。 【解決手段】 UV照射により重合するモノマー及び開
始剤を混合した原料溶液に対し超音波振動を発生させる
ことで微粒子化し、この微粒子化された原料溶液をキャ
リアガスによって供給路通じて噴霧室へ押し出され、ノ
ズルを介して基板に噴霧される。基板は更に基板輸送装
置によりUV照射室へ輸送され、UV照射されることで
成膜処理が行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子デバイスなど
の製造に利用される薄膜形成方法及び装置に関し、特に
原料溶液を霧化させる手段に特徴があり、基板上に均一
に薄膜を形成させる技術である。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体などの電子デバイスは、急
速に細密化が進んでおり、高精度の表面処理が求められ
ている。このような微細処理技術のうち、特に薄膜形成
を行う場合には、通常、スパッタリング法、プラズマC
VD法などが用いられる。
【0003】これらの方法は、真空雰囲気で薄膜形成す
るために、高価な設備を必要とすることや、大型の基板
を広範囲で薄膜形成する場合などは、コストが高くなる
という問題があることから、最近では、化学的霧化堆積
法(以下「CMD」と称す)を利用して薄膜を形成する
技術が注目されている。CMDとは、Chemical
Mist Depositionの略であり、基本的
な原理は、膜材料溶液を微粒子化させ基板に堆積させた
後、この基板を加熱することで、基板表面に付着した膜
材料溶液を気化させ、薄膜を形成するという技術であ
る。
【0004】以下、具体的な動作手順を、図6を参照し
ながら詳述する。
【0005】微粒子化槽1には、薄膜材料である原料溶
液2が貯えられている。この原料溶液2に対して、超音
波振動子3を起動させると、原料溶液2の液面は微粒子
化され、微粒子4はガス供給装置5から導入されるキャ
リアガスによって、供給路6やノズル7を介して成膜室
8に封入される。このとき、成膜室8はガス排気装置9
によって排気されており、微粒子4は、加熱ヒータ10
に載置された基板11に吹き付けられ、基板11上での
薄膜形成が行われる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述す
る従来のCMD法では、基板11上に膜材料を噴霧した
後、この膜材料を乾燥させる必要があることから、基板
11を所望の温度まで加熱するまで時間を要すること
や、基板11の表面を均一に成膜することが困難である
という問題を有することになる。
【0007】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、基板表面に付着した膜材料を効率良く乾燥させ、
均一性の高い薄膜を形成することが可能な薄膜形成方法
及び装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本願発明は、原料溶液として光重合性の材料を用
い、その溶液を超音波振動子により微粒子化させて基体
に噴霧し、UV光を照射することにより薄膜形成を行う
ことを特徴とする。この方法により、基板を高温に加熱
する必要がなく、容易に薄膜形成が可能となる。
【0009】また、光重合反応は、O2が多量に存在す
ると阻害を受けるため、膜が形成しない、若しくは膜品
質にバラツキが発生するという課題があるため、キャリ
アガスとして不活性ガスを用い、薄膜形成装置内のO2
濃度を1%以下(望ましくは0.01%以下)にするた
めの排気機構を設けたことを特徴とする。
【0010】更に、原料溶液の微粒子を霧化器からノズ
ルに供給する供給路において、微粒子が供給路配管壁面
で液状化するため、うまく微粒子を供給できないことが
ある。そのため供給路の配管を径φ80mm以上、長さ
800mm以内とすることを特徴とする。
【0011】本願発明に係る薄膜形成方法は、材料に光
重合する官能基を有している材料であれば、大多数の材
料が利用可能である。そのため、光重合する官能基以外
の官能基を変化させ、光重合後に生成する膜材質の基本
骨格は同じで、変化させる官能基に特性を膜特性に加え
ることが可能であり、膜特性の設計を容易に行うことが
できる。また、膜材料として一定の分子量を有したポリ
マーを原料溶液と一緒に基板に吹き付けて光重合させる
ことにより、構造が絡みついたポリマーが生成し膜硬度
を向上させることが可能である。
【0012】更に、本願発明は、超音波振動子により微
粒子化させた原料溶液を基板上に噴霧する工程とUV照
射を行う工程を交互に繰り返し膜を形成することを特徴
とした薄膜形成方法及び薄膜形成装置である。この方法
により容易に多層薄膜を形成することが可能となる。
【0013】多層膜形成をするには、原料用液を噴霧す
る工程とUV照射する工程を繰り返すため、広い装置ス
ペースが必要になる。そこで省スペースで多層膜形成を
可能にするために、回転可能なステージを用い、原料用
液を噴霧する工程とUV照射する工程を繰り返すことが
可能になり省スペース化が実現できる。
【0014】しかしこの場合、回転ステージの外周に行
くほど基板の移動速度が速くなるため、基板面内におい
てノズルの下での滞在時間に違いが生じ、原料溶液の噴
霧量が異なってくる。そのため、その違いを無くすよう
に噴霧量を調節するためのシャッターをノズル内に設け
て面内の膜厚均一性を実現させることを特徴とする。
【0015】また、基板へ原料微粒子を噴霧する際に基
板の下方から噴霧することにより、原料微粒子の凝集に
よる液滴の基板上への落下を防止することが可能とな
る。更に、液滴を回収するユニットを導入することによ
り、品質の良い膜形成が可能になる。
【0016】ここで、基板に対してノズルの仰角が15
°以下165°以上に設定すると、基板内に均一に成膜
することができず、また原料溶液の使用効率が悪く無駄
が多いという問題があるため、仰角を15°〜165°
に設定すると効果的である。また、それでも均一性が悪
い場合、基板を回転させることにより更なる均一性向上
を計ることが可能である。
【0017】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)図1に本発明
に係る薄膜形成装置の全体構成を示す。この薄膜形成装
置は、微粒子化槽1、超音波振動子3、ガス供給装置
5、供給路6、ノズル7、成膜室8、搬送手段12、U
V照射室13、UV光源14で構成される。
【0018】以下、同図を参照しながら、本実施形態に
係る具体的な動作手順を詳述する。
【0019】微粒子化槽1には、紫外線(以下「UV」
と称す)照射によって固まるアクリル系のモノマー及び
開始剤を混合した原料溶液2が貯えられている。この原
料溶液2に超音波振動子3を起動させると、原液溶液2
の液面は微粒子化し、微粒子はガス供給装置5から導入
される窒素ガスによって、供給路6やノズル7を介し、
成膜室8に封入される。このとき、成膜室8中はガス排
気装置9によって排気されていることから、原液溶液2
の微粒子は基板11の表面へ噴霧される。
【0020】所望量の微粒子が基板11に噴霧される
と、基板11は搬送手段12によってUV照射室13に
搬送される。このUV照射室13は、UV光源14から
照射される紫外線の光源量を、予め設定した量だけ放出
するように調整されているものとする。基板11に噴霧
された原液溶液2の微粒子は、UV光源14から照射さ
れる紫外線によって固められ、基板11で薄膜を形成す
ることができる。
【0021】ここで、上述したアクリル系モノマーや開
始剤について説明する。
【0022】本実施形態におけるアクリル系モノマー
は、表1に示す溶液を50〜99wt%メタノールに溶
解して利用し、開始剤はこのアクリル系モノマーに対し
て、0.01〜10wt%のα、α−ジメトキシ−α−
フェニルアセトフェノン (好ましくは0.5〜3.0
wt%)を添加した溶液であり、これらのモノマーや開
始剤を利用して薄膜形成が行われる。
【0023】本実施形態では、基板11の表面では、酸
素濃度を0.01%以下に設定し、その後、常温(25
℃)においてモノマー溶液の微粒子を基板11に噴霧さ
せた後、UV照射を10〜20sec行った結果、表1
に示す効果が得られた。
【0024】
【表1】
【0025】以上のことから、本実施形態のような方法
では、従来のCMD法のように、基板表面に微粒子を噴
霧させた後、加熱ヒータを300〜700℃程度まで加
熱する工程を不要とすることから、短時間で容易に薄膜
形成が可能となる。また、基板に熱ストレスを加えない
ため、耐熱性が低い基板でも薄膜形成が可能となる。更
に、印刷法による薄膜形成に比べ、サブミクロン単位の
薄膜を形成することが可能となる。
【0026】(第2の実施形態)第1の実施形態では、
基板表面に噴霧した膜材料溶液を、UV光源から照射さ
れるUVによって固める方法を示した。
【0027】本実施形態では、図1に示す薄膜形成装置
を用いて、原料溶液2として分子量104m・Pa・s
以下程度のポリマーとアクリル酸モノマー50〜99w
t%メタノール溶液及び開始剤としてアクリル酸モノマ
ーに対して0.01〜10wt%のα、α−ジメトキシ
−α−フェニルアセトフェノン(好ましくは0.5〜
3.0wt%)を用い、第1の実施形態と同様な実験を
行った。
【0028】表2に基板11表面に成膜した膜の硬度を
示す。
【0029】
【表2】
【0030】以上のことから、アクリル酸モノマーにポ
リマーを混合させることにより、アクリル酸モノマーが
光重合する際にポリマーに絡みついた状態で新たなポリ
マーを形成するため、高硬度の成膜形成を行うことが可
能となる。
【0031】(第3の実施形態)第1及び第2の実施形
態では、原料溶液の微粒子を噴霧する成膜室8と、成膜
室8で噴霧した微粒子に紫外線を照射するUV照射室1
3を経由することで膜形成を行う仕組みにしている。こ
れに対し、本実施形態では、図2のように、成膜室8と
UV照射室13に続き、成膜室8aとUV照射室13a
を配置し、基板移動装置を用いて基板11を移動させな
がら膜形成を行うことを特徴としている。
【0032】上述する状況において、成膜室8及び8a
における溶液として、アクリル酸モノマーとメタクリル
酸メチルモノマーを使用し、モノマーの濃度及び開始剤
については第1の実施形態と同様にして実験を行った。
【0033】その結果、下表のように良好な多層膜を形
成することができた。
【0034】
【表3】
【0035】以上のことから、基板への微粒子噴霧及び
UV照射が交互に行われることにより容易にかつスピー
ディーに多層の薄膜形成が可能となる。
【0036】(第4の実施形態)第1〜3の実施形態で
は、基板11が一方向に移動する場合を示したが、本実
施形態では、ステージ15上に載置された基板11を回
転させ、成膜室8とUV照射室13を順次経由すること
で、基板11表面に薄膜を形成する方法を示す。
【0037】図3は、回転機構を有する薄膜形成装置で
あって、前記装置を上方から見た図である。以下、同図
を参照しながら、基板11表面に膜を形成する方法を示
す。まず、回転可能なステージ15を設置し、ステージ
15上に載置された基板11に原料溶液の微粒子を噴霧
する成膜室8及び8aとUV照射室13及び13aを配
置することで、成膜処理が可能となる。その際、ステー
ジ15の回転速度を調整するで成膜膜厚を制御すること
が可能である。
【0038】更に、本方法を用いると、ステージ15の
外周に近づくに連れ、基板11がノズルの下に滞在する
時間が短くなり面内均一に成膜することが困難になる。
そのため均一な薄膜を形成するためには、ステージ15
の中心から外周に近づくに連れ、ノズルから噴霧する原
料微粒子の量を増やす構造を設けることが重要となる。
【0039】そこで、本実施形態では、図4に示すノズ
ルを使用する。
【0040】ガス供給装置5により微粒子化された原料
は供給路6を介して第一ノズル16に送られる。この第
一ノズルにはスリット17が空いており、原料微粒子は
第二ズル18に送られ基板11に噴霧される。ここで第
一ノズル16において、シャッター19によってスリッ
ト17を調整する機構にしている。このシャッター19
の調整により、ノズル位置による微粒子噴霧量の整を行
うことが可能である。
【0041】以上のように、回転可能なステージを有す
る機構を設け、基板に噴霧するノズルに特徴を持たせる
ことで、効果的に多層の薄膜形成を行うことが可能とな
る。
【0042】(第5の実施形態)図5は本実施形態にお
ける薄膜形成装置の概略図である。
【0043】同図において、基板11を真空チャックな
どの方法によってステージ15に固定し、基板11に対
して下方向からノズル7を介して微粒子を噴霧する。そ
の際、原料溶液の前記微粒子が供給管20及びノズル内
配管21の壁面に付着して発生した液滴22を液受けユ
ニット23で回収することにより、基板11表面への液
滴防止を防ぐことができる。
【0044】従って、複数の基板11に対して連続して
成膜処理を行う場合、ノズル7から基板11表面への膜
材料液滴の落下を防止することができ、液滴による膜不
均一化を抑えることが可能となる。
【0045】また、基板11表面の膜の均一性を向上さ
せるために、ステージ15を10〜1000rpmの回
転速度で回転させると効果がある。表4は、第1の実施
形態と同様の溶液を用いて、通常方法、回転無しの微粒
子吹き上げ方法、回転ありの微粒子吹き上げ方法によっ
て、成膜処理後の膜均一性を測定した結果である。
【0046】
【表4】
【0047】以上のように、液滴落下を防止する液受け
ユニットを設けることで、基板表面への液滴落下を防ぐ
ことができ、液滴による膜不均一化を抑えることが可能
となる。
【0048】
【発明の効果】本発明の薄膜形成方法及び装置によれ
ば、高抵抗膜薄膜を安価で容易に製膜することが可能と
なる。また複数の基板を連続して成膜することができ、
更に基板上への液滴落下を防止し、膜厚不均一化を改善
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1及び2の実施形態を説明する薄膜
形成装置の基本構成図
【図2】本発明の第3の実施形態を説明する薄膜形成装
置の基本構成図
【図3】本発明の第4の実施形態を説明する薄膜形成装
置の基本構成図
【図4】本発明の第4の実施形態に係るノズルの構造図
【図5】本発明の第5の実施形態を説明する基本構成図
【図6】従来技術を説明する薄膜形成装置の基本構成図
【符号の説明】
1 微粒子化槽 3 超音波振動子 5 ガス供給装置 6 供給路 7 ノズル 8 成膜室 9 ガス排気装置 12 搬送手段 13 UV照射室 14 UV光源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4K044 BA21 BB02 CA15 CA41 CA53 CA55 5F045 AB39 EB19 EK12 5F058 AA03 AC10 AF10 AH01 BG01 BG02

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 原料溶液を微粒子化した上で、基板上に
    吹き付けて成膜処理を行う薄膜形成方法であって、 原料溶液に振動を与えることで前記原料溶液を微粒子化
    し、ガスを導入することで微粒子化された前記原料溶液
    を基板の表面に噴霧し、前記基板に紫外線を照射するこ
    とで成膜処理を行うことを特徴とする薄膜形成方法。
  2. 【請求項2】 原料溶液が光重合性材料であることを特
    徴とする請求項1記載の薄膜形成方法。
  3. 【請求項3】 紫外線を照射する際に、紫外線光の照射
    時間を一定時間、断続的に行うことを特徴とする請求項
    1または2記載の薄膜形成方法。
  4. 【請求項4】 酸素ガスの濃度が1%以下であることを
    特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の薄膜形成方
    法。
  5. 【請求項5】 酸素ガスの濃度が0.01%以下である
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の薄膜
    形成方法。
  6. 【請求項6】 前記光重合性材料が、光重合に関与する
    官能基以外の官能基を操作することで膜特性を設計する
    ことを特徴とする請求項2〜5のいずれか一方に記載の
    薄膜形成方法。
  7. 【請求項7】 前記光重合性材料が、光重合性材料と光
    重合性のないポリマーを混合物、若しくは別々に基板上
    へ吹き付けて成膜することを特徴とする請求項2〜5の
    いずれか一方に記載の薄膜形成方法。
  8. 【請求項8】 原料溶液を微粒子化する手段を設け、基
    板上に吹き付けて成膜処理を行う薄膜形成装置であっ
    て、 原料溶液に振動を与えることで前記原料溶液を微粒子化
    する微粒子化手段と、 前記微粒子化された原料溶液をガスにより押し出す輸送
    手段と、 前記原料用液をノズルを介して基板上に噴霧させる噴霧
    手段と、 前記基板に紫外線を照射する照射手段とを有し、 前記噴霧手段と前記照射手段とを交互に繰り返す手段を
    有することを特徴とする薄膜形成装置。
  9. 【請求項9】 原料用液を微粒子化する微粒子化手段と
    基板に微粒子を吹き付けるノズルとの間の配管の径が8
    0mm以上であることを特徴とする請求項8記載の薄膜
    形成装置。
  10. 【請求項10】 原料用液を微粒子化する微粒子化手段
    と基板に微粒子を吹き付けるノズルとの間の配管の長さ
    が800mm以内であることを特徴とする請求項8また
    は9記載の薄膜形成装置。
  11. 【請求項11】 基板搬送手段として基板回転ステージ
    を用い、所望の膜厚に調整するように前記基板搬送ステ
    ージの回転スピードを制御する機構を有し、 基板搬送ステージの位置に合わせてノズルから吹き付け
    る原料用液を調整する機能を有することを特徴とする請
    求項8〜10のいずれかに記載の薄膜形成装置。
  12. 【請求項12】 原料溶液を微粒子化した上で、基板上
    に吹き付けて成膜処理を行う薄膜形成装置であって、 原料溶液に振動を与えることで前記原料溶液を微粒子化
    する微粒子化手段と、 前記微粒子化された原料溶液をガスにより押し出す輸送
    手段と、 前記原料用液をノズルを介して基板上に噴霧させる噴霧
    手段と、 前記基板に紫外線を照射する照射手段とを有し前記噴霧
    手段は基板の下方から微粒子を吹き上げるノズルを有
    し、ノズル内で発生する液滴を回収するユニットを有す
    ることを特徴とする薄膜形成装置。
  13. 【請求項13】 微粒子を下方から吹き付けるノズルの
    仰角が15〜165°であることを特徴とする請求項1
    2記載の薄膜形成装置。
  14. 【請求項14】 ノズルにより微粒子を吹き付ける噴霧
    手段において、基板を固定したステージを回転させる機
    構を有することを特徴とする請求項13記載の薄膜形成
    装置。
JP2001238752A 2001-08-07 2001-08-07 薄膜形成方法及び装置 Pending JP2003051499A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001238752A JP2003051499A (ja) 2001-08-07 2001-08-07 薄膜形成方法及び装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001238752A JP2003051499A (ja) 2001-08-07 2001-08-07 薄膜形成方法及び装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003051499A true JP2003051499A (ja) 2003-02-21

Family

ID=19069617

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001238752A Pending JP2003051499A (ja) 2001-08-07 2001-08-07 薄膜形成方法及び装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003051499A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009069210A1 (ja) * 2007-11-29 2009-06-04 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics 霧化装置、霧化方法、配線形成装置及び配線形成方法
KR101607570B1 (ko) * 2014-09-29 2016-03-30 주식회사 선익시스템 화학 기상 증착 장치 및 화학 기상 증착 방법
CN106646686A (zh) * 2016-12-26 2017-05-10 电子科技大学 一种批量制备聚光光伏模组二次光学元件增透射膜的装置
JP2018015706A (ja) * 2016-07-27 2018-02-01 株式会社Flosfia 積層構造体の製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009069210A1 (ja) * 2007-11-29 2009-06-04 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics 霧化装置、霧化方法、配線形成装置及び配線形成方法
KR101607570B1 (ko) * 2014-09-29 2016-03-30 주식회사 선익시스템 화학 기상 증착 장치 및 화학 기상 증착 방법
JP2018015706A (ja) * 2016-07-27 2018-02-01 株式会社Flosfia 積層構造体の製造方法
CN106646686A (zh) * 2016-12-26 2017-05-10 电子科技大学 一种批量制备聚光光伏模组二次光学元件增透射膜的装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5778376B2 (ja) コーティングプロセスにおいて材料を噴霧化する方法
CN108472676B (zh) 雾滴涂布成膜装置及雾滴涂布成膜方法
JP2007077435A (ja) 成膜装置
US6709699B2 (en) Film-forming method, film-forming apparatus and liquid film drying apparatus
JPS63503552A (ja) モノマー流体のフラッシュ蒸発
CN106232867A (zh) 膜形成设备、基板处理设备和装置制造方法
TWI315085B (ja)
JP2003051499A (ja) 薄膜形成方法及び装置
US11369990B2 (en) Film forming method
KR100525227B1 (ko) 발수성 부재의 제조방법 및 잉크젯헤드의 제조방법
JP4708130B2 (ja) 成膜装置および透明導電膜の製法
TWI330107B (en) Method and system for coating polymer solution on a substrate in a solvent saturated chamber
WO2019124151A1 (ja) 成膜方法
JP2006297197A (ja) 塗布装置および成膜装置
JP2005334810A (ja) スプレーコート装置及びスプレーコート方法
JP2005014483A (ja) 積層体の製造方法
JP2004267893A (ja) セラミック系薄膜形成用霧化器及びそれを用いた薄膜製造方法
US6558877B1 (en) Jet coating method for semiconductor processing
JP2004066138A (ja) 薄膜形成方法及びパターン形成方法並びにパターン形成装置
JP2006007163A (ja) スプレーコート装置及びこれを用いたスプレーコート方法
TWM642078U (zh) 薄形光阻成形系統及薄形光阻成形設備
JP2614322B2 (ja) 環状フィルムの製造方法
JP2005332943A (ja) 低誘電率膜の形成方法および低誘電率膜の形成装置
JP2003064486A (ja) ポーラスセラミックスを組み込んだシャワープレートを持つエッチング装置
JP2005332944A (ja) 低誘電率膜の形成装置およびその形成方法