JP2003046877A - 画像撮影装置および放射線撮像システム - Google Patents

画像撮影装置および放射線撮像システム

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 読み出し装置の基準電位変動に起因するクロ
ストークを防ぐ。 【解決手段】 入射するエネルギーを電気信号に変換す
るエリアセンサと、基準電位に基づいて動作し、エリア
センサからの前記電気的信号を読み出すための読み出し
手段3と、を、有する画像撮影装置において、読み出し
手段に基準電位を与える電源をエリアセンサに電位を与
える電源とは独立して設けた。エリアセンサは光電変換
素子と薄膜トランジスタとを含む画素を二次元的に配列
して構成され、光電変換素子と薄膜トランジスタのドレ
イン電極、薄膜トランジスタのゲート電極と共通ゲート
ライン、薄膜トランジスタのソース電極と共通データラ
インがそれぞれ接続され、共通データラインが前記読み
出し手段に、共通ゲートラインがゲート駆動手段に接続
され、読み出し手段及び前記ゲート駆動手段を用いてマ
トリクス動作が行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は画像撮影装置および
放射線撮像システムに関するものである。詳しくはマト
リクス駆動を行うエリアセンサと、基準電位を供給して
動作させる読み出し装置とを有する画像撮影装置および
放射線撮像システムに関するものである。さらには単電
源で駆動する画像撮影装置であって、読み出し装置に供
給する基準電位を低インピーダンスで供給する、あるい
は複数のブロックに分割して基準電位を供給することを
特徴とし、クロストークを低減し良好な画像の取得を可
能とする画像撮影装置および放射線撮像システムに関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】以下、従来技術について図を用いて説明
する。
【0003】図8は従来の画像撮影装置の模式的回路図
であり、図9は従来の画像撮影装置の動作タイミング図
である。
【0004】図8に示すように、従来の画像撮影装置は
フォトダイオードPDと薄膜トランジスタTからなる画
素(フォトダイオードPDxと薄膜トランジスタTxか
らなる画素を画素Mxとする(xは1以上の自然数;こ
こではx=1〜9)。例えばフォトダイオードPD1と
薄膜トランジスタT1とで画素M1を構成する。)を二
次元に配列しマトリクス駆動を行うエリアセンサ1と、
エリアセンサ1からの信号を読み出す読み出し装置3
と、エリアセンサ1の薄膜トランジスタTのゲートを駆
動するゲート駆動装置2を有している。エリアセンサの
各画素の薄膜トランジスタのゲート電極は共通ゲートラ
インVg1〜VgNに接続されており、共通ゲートラインは図
示しないシフトレジスタなどで構成されるゲート駆動装
置2に接続される。一方各薄膜トランジスタTのソース
電極は共通データラインsig1〜sigMに接続され、容量C
fが入出力端子間に設けられたプリアンプ、スイッチと
容量で構成されるサンプルホールド回路、アナログマル
チプレクサなどで構成される読み出し装置3に接続され
る。
【0005】ここで従来の画像撮影装置においては単電
源駆動が行われており、読み出し装置3にプリアンプの
リセット電位となる正の基準電位Vrefが供給されてい
る。また基準電位Vrefは、エリアセンサ1のフォトダイ
オードのカソード側に供給されるセンサバイアスVsを抵
抗R1と抵抗R2により抵抗分圧することにより作ら
れ、かつ読み出し装置3の各チャンネルのプリアンプに
対し共通に供給されている。つまり、単一電源により、
基準電位VrefとセンサバイアスVsとが与えられる。
【0006】さらに上記画像撮影装置の動作について図
9のタイミングを用いて説明する。図中、RESは読み出
し装置3のプリアンプのリセットを、Vg1〜Vg 3は各共
通ゲートラインへのゲートパルスのタイミングを、SMPL
は読み出し装置3のサンプルホールドのサンプリングタ
イミングを、CLKは読み出し装置3内のアナログマルチ
プレクサからのアナログ同期信号をそれぞれ示す。始め
に信号RESがハイレベルとなって、アンプの入出力間が
スイッチにより短絡されてアンプのリセットが行われ、
次にエリアセンサ1の第1行目の共通ゲートラインに接
続される各画素の薄膜トランジスタのゲートに印加され
るゲートパルス(Vg1)をハイレベルとすることによ
り、フォトダイオードPD1〜PD3の信号電荷が読み
出し装置3のアンプに転送され、サンプルホールドでサ
ンプリングされ、アナログマルチプレクサからアナログ
出力として、CLKに同期して出力される。図中S1〜S
9は図8の各画素M1〜M9の出力に対応したアナログ
出力である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来の画像撮
影装置は単電源駆動を行っている。単電源駆動の場合、
プリアンプのダイナミックレンジの関係で、読み出し装
置3に正の基準電位Vrefを供給する必要がある。図8で
は抵抗R1と抵抗R2による抵抗分圧によりリセット電
位Vrefを作成し、読み出し装置3へ供給している。
【0008】ここで、画像撮影装置の読み出し装置3は
プリアンプの入力と出力の間にCpで示される寄生容量
を有する場合がある。この寄生容量Cpにより、従来の
画像撮影装置ではクロストークという画像の劣化が生じ
る場合があった。
【0009】寄生容量Cpによるクロストークについ
て、図10を用いて説明する。図10の(a)〜(e)
はそれぞれ以下の波形を示す。
【0010】(a).アナログ同期クロック(CLK) (b).画素M1,M2,M3に入力(光)が入射した
場合のアナログ出力 (c).画素M1,M2,M3に入力(光)が入射しな
い場合のアナログ出力 (d).画素M1,M2に入力(光)が入射し、画素M
3には入射しない場合のアナログ出力 (e).画素M1に入力(光)が入射し、画素M2,M
3には入射しない場合のアナログ出力 図10の(d)、(e)、例えば、図10の(d)では
画素M1,M2の出力が寄生容量Cpを介して読み出し
装置3の基準電位Vrefを変動させ、結果として画素M3
の出力にクロストークが現れている。このように従来の
画像撮影装置は基準電位Vrefを共通にアンプに供給し、
かつ抵抗R1、R2のインピーダンスを介して供給して
いるため、寄生容量Cpの影響で基準電位Vrefが変動を
受けクロストークを生じる場合があった。またこのクロ
ストークが画像の正確な再現の妨げとなる場合があっ
た。
【0011】特にX線画像撮影装置への応用など、高い
精度での画像データ再現が必要とされる場合、これらの
クロストークが大きな問題となる場合があった。
【0012】すなわち従来の画像撮影装置は、基準電位
を共通かつインピーダンスを介して供給するためクロス
トークを生じ、画質を劣化させる場合があるという課題
を有していた。
【0013】さらに従来の画像撮影装置は、このクロス
トークにより高画質の撮影システムの構築が困難である
といる課題を有していた。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の画像撮影装置は、入射するエネルギー(例え
ば可視光、赤外光等の光、X線等の放射線)を電気信号
に変換するエリアセンサと、基準電位に基づいて動作
し、前記エリアセンサからの前記電気的信号を読み出す
ための読み出し手段と、を、有する画像撮影装置におい
て、前記読み出し手段に前記基準電位を与える電源を前
記エリアセンサに電位を与える電源とは独立して設けた
ことを特徴とする画像撮影装置である。
【0015】本発明においては、単電源で駆動され、エ
リアセンサと、基準電位を供給して動作する読み出し手
段とを有し、基準電位をオペアンプなどを用い低インピ
ーダンスで供給可能な構成であることが望ましい。ある
いは読み出し手段を複数のブロックに分割し、それぞれ
のブロックに対して個別に基準電位を供給可能な構成で
あることが望ましい。
【0016】また、読み出し手段を複数のブロックに分
割し、それぞれのブロックに対して個別にかつ低インピ
ーダンスで基準電位を供給可能な構成とすることは、よ
り望ましい。
【0017】また分割するブロックの単位は、基準電位
を供給するオペアンプなどの電流供給能力で定めること
が望ましく、各チャンネル、各IC、各パネル単位などが
選択可能である。
【0018】またその際のアンプは低ノイズタイプが選
択されることがより望ましい。
【0019】なお、放射線とはX線やα,β,γ線等を
いい、光は光電変換素子により検出可能な波長領域の電
磁波であり、赤外光,可視光を含む。
【0020】
【実施例】以下、本発明の実施例について図を用いて詳
しく説明する。
【0021】<第1の実施例>図1は本発明の画像撮影
装置の第1実施例の模式的回路図である。図2は本実施
例のアナログ出力の説明図である。なお、図1におい
て、図8に示す構成部材と同一構成部材については同一
符号を付して説明を省略する。また図8と比べてエリア
センサ1の領域の図示も省略している。エリアセンサの
画素構成はフォトダイオードと薄膜トランジスタからな
る画素に限られ、必要に応じてフォトダイオードからの
電荷を蓄積する容量や、該電荷に基づき増幅して信号を
出力するアンプ、画素をリセットするためのリセット手
段等を画素に設けてもよい。
【0022】図8の従来例の構成と比較して、本実施例
では読み出し装置3の各プリアンプに供給される基準電
位Vrefを与える電源が、エリアセンサにバイアス電位V
sを与える電源とは独立に設けられており、かつインピ
ーダンスを経ないでプリアンプの一方の入力端子に接続
されていることである。このような構成により、図8の
従来例の構成とは異なり、寄生容量Cpがあってもプリ
アンプの出力により基準電位Vrefが変動することがな
い。すなわち、図2の(d)に示す、画素M1,M2に
入力(光)が入射し、画素M3には入射しない場合のア
ナログ出力、図2の(e)に示す、画素M1に入力
(光)が入射し、画素M2,M3には入射しない場合の
アナログ出力のように、クロストークのない、又は低減
された画像を取得することができる。
【0023】<第2の実施例>図3は本発明の画像撮影
装置の第2実施例の模式的回路図である。図1に示す第
1実施例の構成との差異は基準電位VrefをオペアンプA
mで供給している点である。動作および効果については
図2に示す第1実施例と同じである。すなわち、基準電
位Vrefは出力インピーダンスが十分低いボルテージホロ
ア回路としてのオペアンプAmpの出力としてアンプに
供給されているので、寄生容量Cpの影響で基準電位Vr
efが変動することはなく、又はその変動は低減されるの
で、クロストークのない、又は低減された画像を取得す
ることができる。ここで用いるオペアンプはノイズ密度
が3.0nV/√Hz以下(特に100Hz〜100kHzの周波数領域に
おいて)であることが望ましい。これは画像撮影装置の
ノイズを低減するためである。
【0024】<第3の実施例>図4は本発明の画像撮影
装置の第3実施例の模式的回路図である。第1、2実施
例との差異は読み出し装置3を各チャンネル毎(プリア
ンプ毎)に分割し、それぞれに対して独立したオペアン
プAm1〜Am3で基準電位Vref1〜Vref3を供給してい
る点である。効果については図2に示す第1実施例と同
じである。第2の実施例と同様に、この際用いるオペア
ンプのノイズ密度は3.0nV/√Hz以下であることが望まし
い。
【0025】図4では読み出し装置をチャンネル毎に分
割し、それぞれに対して基準電位を個別に供給している
が、分割のパターンはいくつか考えられる。
【0026】たとえばアンプIC単位、パネル単位などと
しても良い。
【0027】パネル単位はセンサモジュール単位を意味
する。センサモジュールの定義については以下に記す。
【0028】分割の方法についてまず図11を用いて説
明する。図11において、読み出し装置は結晶シリコン
の2つの集積回路(アンプIC)で構成されている。各集
積回路はデータラインに接続されたプリアンプなどで構
成されている。本実施例では読み出し装置が結晶シリコ
ンを材料とする複数の集積回路で構成され、かつそれぞ
れの集積回路に対応するオペアンプなどで基準電位を供
給している。
【0029】さらに分割方法の別の例について図12及
び図13を用いて説明する。図12はエリアセンサ、集
積回路(アンプIC)、ドライブIC、プリント基板Aおよ
びプリント基板Dにより構成されるセンサモジュールの
模式図である。本実施例ではこのセンサモジュールを図
13に示すように複数枚(ここでは4枚)貼り合わせて
受光部を拡大している。このような構成はX線撮影装置
などに用いられる場合がある。本実施例では各センサモ
ジュールに対応する図示しないオペアンプなどで基準電
位が供給される。すなわち本実施例ではセンサモジュー
ルを複数枚貼り合わせる構成において、各センサモジュ
ールに対応するオペアンプなどで基準電位を供給してい
る。
【0030】さらに読み出し装置を複数のブロックに分
割し、それぞれのブロックに独立した電源で基準電位を
供給する際には、以下の関係を満たしていることが望ま
しい。
【0031】すなわち、プリアンプの出力の最大振幅を
ΔV、プリアンプの出力端子と基準電位入力端子間の寄
生容量をCp、ひとつのブロックに含まれるデータライン
数(チャンネル数)をN、基準電位を供給する各電源の
出力電流をImax、1ラインの読み出しに必要な時間をT
l、としたとき、これらの間に以下の関係式が成り立つ
ことが望ましい。
【0032】ΔV・Cp・N ≦ Imax・Tl このような関係を成り立たせることによりブロック内で
発生するクロストークを防ぐことができ、ブロック間の
段差などが生じないようにすることができる。
【0033】<第4の実施例>図5は本発明の画像撮影
装置を用いたX線撮像システムへの応用例である。X線
発生源としてのX線チューブ6050で発生したX線6
060は患者あるいは被検体6061の胸部などの観察
部分6062を透過し、第1〜第3の実施例で説明した
画像撮影装置たる光電変換装置6040に入射する。こ
の入射したX線には被検体6061の内部の情報が含ま
れている。X線の入射に対応して画像撮影装置は電気的
情報を得る。この情報はデジタルに変換されイメージプ
ロセッサ6070により画像処理され制御室(コントロ
ールルーム)のディスプレイ6080で観察できる。
【0034】また、この情報は電話回線や無線6090
等の伝送手段により遠隔地などへ転送でき、別の場所の
ドクタールームなどでディスプレイ6081に表示もし
くはフィルムなどの出力により遠隔地の医師が診断する
ことも可能である。得られた情報はフィルムプロセッサ
などの記録手段6100により光ディスク、光磁気ディ
スク、磁気ディスクなどの各種記録材料を用いた記録媒
体、フィルムや紙などの記録媒体6110に記録や保存
することもできる。
【0035】医療診断用や内部検査用のような非破壊検
査に用いられているX線撮像システムに用いられる画像
撮影装置は高精度で画像を読み取ることが必要である。
本発明の画像撮影装置はラインノイズの影響を低減して
いるため、このような応用例に好適である。
【0036】図6は本実施例の画像撮影装置の画素の一
例の断面図である。画素はガラス基板10上にフォトダ
イオード11と薄膜トランジスタ(TFT)12で構成さ
れている。また画素上には保護層14を介して入射した
X線を可視光に変換するための蛍光体13が設けられて
いる。フォトダイオード11と薄膜トランジスタ(TF
T)12はアモルファスシリコンやポリシリコンを材料
にすることが好ましく、蛍光体はヨウ化セシウムやガド
リニウム系の材料を用いるのが好ましい。
【0037】フォトダイオード11はpin型フォトダ
イオードあるいはMIS型センサで構成することができ
る。具体的な構成を示す公報としては、特開平09-26655
2号公報、特開2000-131444号公報などがある。
【0038】図7は本実施例の画像撮影装置の別の画素
の例の断面図である。この例では画素はX線を直接電荷
に変換する半導体材料(X線−電子変換層)25と、そ
れに接続用バンプ23を介して接続された蓄積容量21
及び薄膜トランジスタ(TFT)22で構成されている。
X線−電子変換層25は下電極24と上電極26とに挟
まれている。図6の例と同様にTFTはアモルファスシリ
コンやポリシリコンを材料にすることが好ましい。さら
にX線−電子変換層の材料は例えばガリウム砒素、ガリ
ウムリン、ヨウ化鉛、ヨウ化水銀、アモルファスセレ
ン、CdZn、CdZnTeなどを用いることができる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
以下の効果を得ることができる。・単電源駆動であって
も、読み出し手段の基準電位変動に起因するクロストー
クを防ぐことができる。・X線画像撮影装置のように、
高い画像再現性が求められる用途であっても、クロスト
ークの影響が小さく高画質な撮影システムを実現でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の模式的回路図である。
【図2】本発明の第1実施例の動作説明図である。
【図3】本発明の第2実施例の模式的回路図である。
【図4】本発明の第3実施例の模式的回路図である。
【図5】本発明の第4実施例のシステム図である。
【図6】本発明の第4実施例の画素断面図である。
【図7】本発明の第4実施例の他の構成を示す画素断面
図である。
【図8】従来例の模式的回路図である。
【図9】従来例の駆動タイミング図である。
【図10】従来例の動作説明図である。
【図11】分割の方法について説明する図である。
【図12】分割方法の別の例について説明する図であ
る。
【図13】分割方法の別の例について説明する図であ
る。
【符号の説明】
1 エリアセンサ 2 ゲートドライバ(ゲート駆動装置) 3 読み出し装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4M118 AA05 AB01 CA05 CA19 CB02 CB05 CB11 CB20 FB03 FB09 FB13 FB22 FB25 FB30 GA10 HA22 HA27 HA31 5C024 AX12 CX11 GX03 GY31 HX40 HX46

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入射するエネルギーを電気信号に変換す
    るエリアセンサと、基準電位に基づいて動作し、前記エ
    リアセンサからの前記電気的信号を読み出すための読み
    出し手段と、を、有する画像撮影装置において、前記読
    み出し手段に前記基準電位を与える電源を前記エリアセ
    ンサに電位を与える電源とは独立して設けたことを特徴
    とする画像撮影装置。
  2. 【請求項2】 前記エリアセンサは光電変換素子と薄膜
    トランジスタとを含む画素を二次元的に配列して構成さ
    れ、前記光電変換素子と前記薄膜トランジスタのドレイ
    ン電極、前記薄膜トランジスタのゲート電極と共通ゲー
    トライン、前記薄膜トランジスタのソース電極と共通デ
    ータラインがそれぞれ接続され、前記共通データライン
    が前記読み出し手段に、前記共通ゲートラインがゲート
    駆動手段に接続され、前記読み出し手段及び前記ゲート
    駆動手段を用いてマトリクス動作が行われることを特徴
    とする請求項1記載の画像撮影装置。
  3. 【請求項3】 前記読み出し手段は前記共通データライ
    ンのそれぞれに対応するプリアンプを有し、前記プリア
    ンプの一方の入力端子が各共通データラインに接続さ
    れ、前記プリアンプの別の入力端子は前記基準電位に設
    定される構成であることを特徴とする請求項2記載の画
    像撮影装置。
  4. 【請求項4】 前記読み出し手段は複数のブロックに分
    割されており、前記読み出し手段に前記基準電位を与え
    る電源は複数の電源からなり、これら複数の電源のそれ
    ぞれは各ブロックに対し独立した基準電位を供給するこ
    とを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の画
    像撮影装置。
  5. 【請求項5】 前記読み出し手段を複数のブロックに分
    割する際の分割の単位が各共通データライン毎であり、
    前記複数の電源のそれぞれは共通データラインに対応す
    るプリアンプそれぞれに対し独立した基準電位を供給す
    ることを特徴とする請求項4記載の画像撮影装置。
  6. 【請求項6】 前記読み出し手段に前記基準電位を与え
    る電源はオペアンプで構成されていることを特徴とする
    請求項1〜5のいずれか1項に記載の画像撮影装置。
  7. 【請求項7】 前記読み出し手段は、結晶シリコンを材
    料とする複数の集積回路で構成されており、前記複数の
    電源のそれぞれは、各集積回路に対応して独立した基準
    電位を供給することを特徴とする請求項4又は請求項5
    に記載の画像撮影装置。
  8. 【請求項8】 前記エリアセンサと、ゲート駆動手段
    と、基準電位を供給して動作する読み出し手段とで構成
    されるセンサモジュールを複数貼り合わせて構成する画
    像撮影装置において、各センサモジュールに対し独立し
    た基準電位を供給可能な電源を有することを特徴とする
    請求項4又は請求項5に記載の画像撮影装置。
  9. 【請求項9】 前記読み出し手段を複数のブロックに分
    割し、それぞれのブロックに独立した電源で基準電位を
    供給する際に、プリアンプの出力の最大振幅はΔV、プ
    リアンプの出力端子と基準電位入力端子間の寄生容量は
    Cp、ひとつのブロックに含まれるデータライン数(チ
    ャンネル数)はN、基準電位を供給する各電源の出力電
    流はImax、1ラインの読み出しに必要な時間はTlと
    したとき、以下の関係を満たしていることを特徴とする
    請求項3〜8のいずれか1項に記載の画像撮影装置。 ΔV・Cp・N ≦ Imax・Tl
  10. 【請求項10】 前記基準電位を供給可能なオペアンプ
    のノイズ密度は3.0nV/√Hz以下であることを特
    徴とする請求項6記載の画像撮影装置。
  11. 【請求項11】 前記光電変換素子および前記薄膜トラ
    ンジスタはアモルファスシリコンまたはポリシリコンを
    材料としていることを特徴とする請求項2〜10のいず
    れか1項に記載の画像撮影装置。
  12. 【請求項12】 前記光電変換素子はpin型フォトダ
    イオードあるいはMIS型センサであることを特徴とす
    る請求項11記載の画像撮影装置。
  13. 【請求項13】 前記エリアセンサは、入射する放射線
    を光に変換する蛍光体を有する放射線エリアセンサであ
    ることを特徴とする請求項1〜12のいずれか1項に記
    載の画像撮影装置。
  14. 【請求項14】 前記エリアセンサは半導体層に入射し
    た放射線を直接電荷に変換して読み出す光電変換素子を
    有することを特徴とする請求項1〜12のいずれか1項
    に記載の画像撮影装置。
  15. 【請求項15】 前記光電変換素子は半導体層の材料と
    してガリウム砒素、ガリウムリン、ヨウ化鉛、ヨウ化水
    銀、アモルファスセレン、CdZn、CdZnTeから選択される
    少なくとも一つ材料を用いていることを特徴とする請求
    項14に記載の画像撮影装置。
  16. 【請求項16】 請求項13〜15のいずれかの1項に
    記載の画像撮影撮像装置と、 前記画像撮影装置からの信号を処理する信号処理手段
    と、 前記信号処理手段からの信号を記録するための記録手段
    と、 前記信号処理手段からの信号を表示するための表示手段
    と、 前記信号処理手段からの信号を伝送するための伝送処理
    手段と、 前記放射線を発生させるための放射線源とを具備するこ
    とを特徴とする放射線撮像システム。
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