JP2003046187A - レーザダイオードの制御回路 - Google Patents
レーザダイオードの制御回路Info
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- JP2003046187A JP2003046187A JP2001230445A JP2001230445A JP2003046187A JP 2003046187 A JP2003046187 A JP 2003046187A JP 2001230445 A JP2001230445 A JP 2001230445A JP 2001230445 A JP2001230445 A JP 2001230445A JP 2003046187 A JP2003046187 A JP 2003046187A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザダイオードの劣化に伴う発光波長の変
動の補償を波長フィルタを使用せずに実現し、全体の制
作費用の低減化を実現すること。 【解決手段】 補償電流算出回路２８は、光量センサ２
６の検出光量を目標光量と比較し、レーザダイオード２
２を駆動する際の補償電流ΔＩを求める。加算回路２９
は、目標駆動電流にその補償電流ΔＩを加算する。レー
ザダイオード駆動回路３０は、その加算電流に基づきレ
ーザダイオード２２を駆動する。補償温度算出回路３１
は、その補償電流ΔＩに基づいてレーザダイオード２２
を温度制御する際の補償温度ΔＴを求める．加算回路３
２は、目標温度にその補償温度ΔＴを加算する。温度制
御回路３３は、温度センサ２７の検出温度をその修正目
標温度と比較し、その両者が一致するような制御信号を
生成する。ペルチェ素子駆動回路３４は、その制御信号
に基づきペルチェ素子２４を駆動する。
動の補償を波長フィルタを使用せずに実現し、全体の制
作費用の低減化を実現すること。 【解決手段】 補償電流算出回路２８は、光量センサ２
６の検出光量を目標光量と比較し、レーザダイオード２
２を駆動する際の補償電流ΔＩを求める。加算回路２９
は、目標駆動電流にその補償電流ΔＩを加算する。レー
ザダイオード駆動回路３０は、その加算電流に基づきレ
ーザダイオード２２を駆動する。補償温度算出回路３１
は、その補償電流ΔＩに基づいてレーザダイオード２２
を温度制御する際の補償温度ΔＴを求める．加算回路３
２は、目標温度にその補償温度ΔＴを加算する。温度制
御回路３３は、温度センサ２７の検出温度をその修正目
標温度と比較し、その両者が一致するような制御信号を
生成する。ペルチェ素子駆動回路３４は、その制御信号
に基づきペルチェ素子２４を駆動する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザダイオード
の制御回路に関し、特に、レーザダイオード（半導体レ
ーザ）の劣化に伴う発光波長の補償を行うようにしたも
のである。
の制御回路に関し、特に、レーザダイオード（半導体レ
ーザ）の劣化に伴う発光波長の補償を行うようにしたも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のレーザダイオードの制御
回路としては、例えば図２に示すようなものが知られて
いる。この従来回路は、図２に示すように、レーザダイ
オード・モジュール１に含まれるレーザダイオード２の
駆動電流を制御することによりその発光量の補償を行う
発光制御部３と、熱電素子、例えばペルチェ素子４の駆
動制御によりレーザダイオード２の加熱、冷却を行って
その発光波長の補償を行う温度制御部５とを備えてい
る。
回路としては、例えば図２に示すようなものが知られて
いる。この従来回路は、図２に示すように、レーザダイ
オード・モジュール１に含まれるレーザダイオード２の
駆動電流を制御することによりその発光量の補償を行う
発光制御部３と、熱電素子、例えばペルチェ素子４の駆
動制御によりレーザダイオード２の加熱、冷却を行って
その発光波長の補償を行う温度制御部５とを備えてい
る。
【０００３】レーザダイオード・モジュール１は、レー
ザダイオード２、ペルチェ素子４の他に、光量センサ６
と、分波器７と、波長フィルタ８、９と、２つの光量セ
ンサ１０、１１とを含んでいる。ペルチェ素子４は、レ
ーザダイオード２の冷却または加熱を行うものである。
光量センサ６は、レーザダイオード２の発生光量を検出
するセンサである。分波器７は、レーザダイオード２の
発生する光を２つに分けるものである。
ザダイオード２、ペルチェ素子４の他に、光量センサ６
と、分波器７と、波長フィルタ８、９と、２つの光量セ
ンサ１０、１１とを含んでいる。ペルチェ素子４は、レ
ーザダイオード２の冷却または加熱を行うものである。
光量センサ６は、レーザダイオード２の発生光量を検出
するセンサである。分波器７は、レーザダイオード２の
発生する光を２つに分けるものである。
【０００４】波長フィルタ８、９は、その分波器７で分
けられた各光のうちの所定の各波長の成分をそれぞれ通
過させるフィルタである。光量センサ１０、１１は、波
長フィルタ８、９を通過した各波長毎の光の量を検出す
るセンサである。発光制御部３は、光量センサ６と、発
光制御回路１２と、レーザダイオード駆動回路１３とか
らなる。
けられた各光のうちの所定の各波長の成分をそれぞれ通
過させるフィルタである。光量センサ１０、１１は、波
長フィルタ８、９を通過した各波長毎の光の量を検出す
るセンサである。発光制御部３は、光量センサ６と、発
光制御回路１２と、レーザダイオード駆動回路１３とか
らなる。
【０００５】発光制御回路１２は、光量センサ６の検出
光量を目標値と比較し、その両者を一致させるための制
御信号を生成する回路である。レーザダイオード駆動回
路１３は、その制御信号に基づいてレーザダイオード２
を駆動する回路である。温度制御部５は、光量センサ１
０、１１と、温度制御回路１４と、ペルチェ素子駆動回
路１５とからなる。
光量を目標値と比較し、その両者を一致させるための制
御信号を生成する回路である。レーザダイオード駆動回
路１３は、その制御信号に基づいてレーザダイオード２
を駆動する回路である。温度制御部５は、光量センサ１
０、１１と、温度制御回路１４と、ペルチェ素子駆動回
路１５とからなる。
【０００６】温度制御回路１４は、光量センサ１０、１
１の各検出光量を、その各検出した光の各波長に対応す
る第１および第２の目標値とそれぞれ比較し、その各比
較結果がそれぞれ一致するような制御信号を出力する回
路である。ペルチェ素子駆動回路１５は、その制御信号
に基づき、ペルチェ素子４がレーザダイオード２の冷却
または加熱を行うようにペルチェ素子４を駆動する回路
である。
１の各検出光量を、その各検出した光の各波長に対応す
る第１および第２の目標値とそれぞれ比較し、その各比
較結果がそれぞれ一致するような制御信号を出力する回
路である。ペルチェ素子駆動回路１５は、その制御信号
に基づき、ペルチェ素子４がレーザダイオード２の冷却
または加熱を行うようにペルチェ素子４を駆動する回路
である。
【０００７】次に、このような構成からなる従来回路の
動作例について、図２を参照して説明する。光量センサ
６は、レーザダイオード２の発生する光量を検出し、こ
の検出光量を発光制御回路１２に供給する。発光制御回
路１２は、その検出光量をレーザダイオード２の発光量
の目標値と比較し、その検出光量が目標値になるような
制御信号を生成し、これをレーザダイオード駆動回路１
３に出力する。レーザダイオード駆動回路１３は、その
制御信号に基づきレーザダイオード２を駆動する．一
方、光量センサ１０、１１は、波長フィルタ８、９を通
過した各波長毎の光量を検出し、その各検出光量を温度
制御回路１４に供給する。温度制御回路１４は、その各
検出光量を、各波長に対応する各光量の第１および第２
の目標値とそれぞれ比較し、その各検出光量が第１およ
び第２の目標値となるような制御信号を生成する。ペル
チェ素子駆動回路１５は、その制御信号に基づき、ペル
チェ素子４がレーザダイオード２の冷却または加熱を行
うようにペルチェ素子４を駆動する。
動作例について、図２を参照して説明する。光量センサ
６は、レーザダイオード２の発生する光量を検出し、こ
の検出光量を発光制御回路１２に供給する。発光制御回
路１２は、その検出光量をレーザダイオード２の発光量
の目標値と比較し、その検出光量が目標値になるような
制御信号を生成し、これをレーザダイオード駆動回路１
３に出力する。レーザダイオード駆動回路１３は、その
制御信号に基づきレーザダイオード２を駆動する．一
方、光量センサ１０、１１は、波長フィルタ８、９を通
過した各波長毎の光量を検出し、その各検出光量を温度
制御回路１４に供給する。温度制御回路１４は、その各
検出光量を、各波長に対応する各光量の第１および第２
の目標値とそれぞれ比較し、その各検出光量が第１およ
び第２の目標値となるような制御信号を生成する。ペル
チェ素子駆動回路１５は、その制御信号に基づき、ペル
チェ素子４がレーザダイオード２の冷却または加熱を行
うようにペルチェ素子４を駆動する。
【０００８】このような動作により、従来回路では、発
光制御部３によりレーザダイオード２の劣化に伴う発光
量の補償を行い、温度制御部５によりレーザダイオード
２の劣化に伴う発光波長の補償を行っている。
光制御部３によりレーザダイオード２の劣化に伴う発光
量の補償を行い、温度制御部５によりレーザダイオード
２の劣化に伴う発光波長の補償を行っている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】このように、図２に示
すような従来回路では、レーザダイオード２の発生する
光を分波器７で２つに分割し、この分割光を波長フィル
タ８、９を通過させることにより各波長毎の光を取り出
し、この取り出した各光の量を光量センサ１０、１１で
それぞれ検出するようにしている。
すような従来回路では、レーザダイオード２の発生する
光を分波器７で２つに分割し、この分割光を波長フィル
タ８、９を通過させることにより各波長毎の光を取り出
し、この取り出した各光の量を光量センサ１０、１１で
それぞれ検出するようにしている。
【００１０】このため、レーザダイオードの劣化に伴う
発光波長の補償は正確であるが、複数の波長フィルタが
必要になる。波長フィルタは、一般に高価であり全体の
制作費用が嵩むという不都合がある。従って、波長フィ
ルタを使用せずに、全体の制作費用の低減化の実現が望
まれる。そこで、本発明の目的は、上記の点に鑑み、レ
ーザダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波
長フィルタを使用せずに実現するようにし、もって全体
の制作費用の低減化を実現できるレーザダイオードの制
御回路を提供することにある。
発光波長の補償は正確であるが、複数の波長フィルタが
必要になる。波長フィルタは、一般に高価であり全体の
制作費用が嵩むという不都合がある。従って、波長フィ
ルタを使用せずに、全体の制作費用の低減化の実現が望
まれる。そこで、本発明の目的は、上記の点に鑑み、レ
ーザダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波
長フィルタを使用せずに実現するようにし、もって全体
の制作費用の低減化を実現できるレーザダイオードの制
御回路を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し、本発
明の目的を達成するために、請求項１〜請求項３に記載
の各発明は、以下のように構成した。すなわち、請求項
１に記載の発明は、レーザダイオードの発光量を検出す
る光量センサと、前記光量センサの検出光量を前記レー
ザダイオードの使用初期における目標光量と比較し、そ
の比較結果に応じて前記レーザダイオードを駆動する際
の補償電流を求める補償電流算出手段と、前記レーザダ
イオードの使用初期の目標駆動電流に、前記補償電流算
出手段で求めた補償電流を加算し、その加算電流により
前記レーザダイオードを駆動する発光制御手段と、熱電
素子により冷却または加熱される前記レーザダイオード
の温度を検出する温度センサと、前記補償電流算出手段
で求めた補償電流に基づいて前記レーザダイオードを温
度制御する際の補償温度を求める補償温度算出手段と、
前記レーザダイオードの使用初期の目標温度を、前記補
償温度算出手段で求めた補償温度で修正する修正手段
と、前記温度センサの検出温度を前記修正手段で修正し
た目標温度と比較し、その両者が一致するように前記熱
電素子を駆動制御して前記レーザダイオードの温度制御
を行う温度制御手段と、を備えたことを特徴とするもの
である。
明の目的を達成するために、請求項１〜請求項３に記載
の各発明は、以下のように構成した。すなわち、請求項
１に記載の発明は、レーザダイオードの発光量を検出す
る光量センサと、前記光量センサの検出光量を前記レー
ザダイオードの使用初期における目標光量と比較し、そ
の比較結果に応じて前記レーザダイオードを駆動する際
の補償電流を求める補償電流算出手段と、前記レーザダ
イオードの使用初期の目標駆動電流に、前記補償電流算
出手段で求めた補償電流を加算し、その加算電流により
前記レーザダイオードを駆動する発光制御手段と、熱電
素子により冷却または加熱される前記レーザダイオード
の温度を検出する温度センサと、前記補償電流算出手段
で求めた補償電流に基づいて前記レーザダイオードを温
度制御する際の補償温度を求める補償温度算出手段と、
前記レーザダイオードの使用初期の目標温度を、前記補
償温度算出手段で求めた補償温度で修正する修正手段
と、前記温度センサの検出温度を前記修正手段で修正し
た目標温度と比較し、その両者が一致するように前記熱
電素子を駆動制御して前記レーザダイオードの温度制御
を行う温度制御手段と、を備えたことを特徴とするもの
である。
【００１２】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
のレーザダイオードの制御回路において、前記補償温度
算出手段は、前記補償電流算出手段が求めた補償電流
と、前記レーザダイオード毎に予め設定されている変換
係数とに基づき、前記補償温度を求めるようになってい
ることを特徴とするものである。請求項３に記載の発明
は、請求項２に記載のレーザダイオードの制御回路にお
いて、前記変換係数は、前記レーザダイオード毎に予め
メモリに格納されており、そのメモリから読み出すこと
により前記補償温度算出手段に設定できるようになって
いることを特徴とするものである。
のレーザダイオードの制御回路において、前記補償温度
算出手段は、前記補償電流算出手段が求めた補償電流
と、前記レーザダイオード毎に予め設定されている変換
係数とに基づき、前記補償温度を求めるようになってい
ることを特徴とするものである。請求項３に記載の発明
は、請求項２に記載のレーザダイオードの制御回路にお
いて、前記変換係数は、前記レーザダイオード毎に予め
メモリに格納されており、そのメモリから読み出すこと
により前記補償温度算出手段に設定できるようになって
いることを特徴とするものである。
【００１３】このように本発明では、光量センサが検出
するレーザダイオードの検出光量をレーザダイオードの
使用初期における基準光量値と比較し、その比較結果に
応じてレーザダイオードを駆動する際の補償電流を求め
るようにした。ここで、その補償電流は、レーザダイオ
ードの劣化に伴って生ずる発光量の低下を補償するため
のものである。
するレーザダイオードの検出光量をレーザダイオードの
使用初期における基準光量値と比較し、その比較結果に
応じてレーザダイオードを駆動する際の補償電流を求め
るようにした。ここで、その補償電流は、レーザダイオ
ードの劣化に伴って生ずる発光量の低下を補償するため
のものである。
【００１４】また、その求めた補償電流に基づいてレー
ザダイオードを温度制御する際の補償温度を求め、この
補償温度でレーザダイオードの使用初期の目標温度を修
正するようにした。ここで、その補償温度は、レーザダ
イオードの劣化に伴って生ずる発光波長の変動を補償を
するためのものである。さらに、その温度センサの検出
温度をその修正した目標温度と比較し、その両者が一致
するように熱電素子を駆動制御してレーザダイオードの
温度制御を行うようにした。
ザダイオードを温度制御する際の補償温度を求め、この
補償温度でレーザダイオードの使用初期の目標温度を修
正するようにした。ここで、その補償温度は、レーザダ
イオードの劣化に伴って生ずる発光波長の変動を補償を
するためのものである。さらに、その温度センサの検出
温度をその修正した目標温度と比較し、その両者が一致
するように熱電素子を駆動制御してレーザダイオードの
温度制御を行うようにした。
【００１５】このため、本発明によれば、レーザダイオ
ードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波長フィルタ
を使用せずに実現でき、もって全体の制作費用の低減化
を実現できる。
ードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波長フィルタ
を使用せずに実現でき、もって全体の制作費用の低減化
を実現できる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。図１は、本発明のレーザダイ
オードの制御回路の実施形態の構成を示す全体の回路図
である。この実施形態に係るレーザダイオードの制御回
路は、図１に示すように、レーザダイオード・モジュー
ル２１に含まれるレーザダイオード（半導体レーザ）２
２の駆動電流を制御することによりその発光量の補償を
行う発光制御部２３と、熱電素子として例えばペルチェ
素子２４の駆動制御によりレーザダイオード２２の加
熱、冷却を行ってその発光波長の補償を行う温度制御部
２５と、を備えている。
図面を参照して説明する。図１は、本発明のレーザダイ
オードの制御回路の実施形態の構成を示す全体の回路図
である。この実施形態に係るレーザダイオードの制御回
路は、図１に示すように、レーザダイオード・モジュー
ル２１に含まれるレーザダイオード（半導体レーザ）２
２の駆動電流を制御することによりその発光量の補償を
行う発光制御部２３と、熱電素子として例えばペルチェ
素子２４の駆動制御によりレーザダイオード２２の加
熱、冷却を行ってその発光波長の補償を行う温度制御部
２５と、を備えている。
【００１７】レーザダイオード・モジュール２１は、レ
ーザダイオード２２、ペルチェ素子２４の他に、光量セ
ンサ２６と、温度センサ２７とを含んでいる。ペルチェ
素子２４は、レーザダイオード２２の冷却または加熱を
行うものである。光量センサ２６は、レーザダイオード
２２が発生する光量を検出するセンサである。温度セン
サ２７は、レーザダイオード２２の温度を検出するセン
サである。
ーザダイオード２２、ペルチェ素子２４の他に、光量セ
ンサ２６と、温度センサ２７とを含んでいる。ペルチェ
素子２４は、レーザダイオード２２の冷却または加熱を
行うものである。光量センサ２６は、レーザダイオード
２２が発生する光量を検出するセンサである。温度セン
サ２７は、レーザダイオード２２の温度を検出するセン
サである。
【００１８】発光制御部２３は、光量センサ２６と、補
償電流算出回路２８と、加算回路２９と、レーザダイオ
ード駆動回路３０とからなる。補償電流算出回路２８
は、光量センサ２６の検出光量（検出電流）を使用初期
の目標光量（目標電流）と比較し、その比較結果に応じ
て、レーザダイオード２２を駆動する際の補償電流ΔＩ
を算出する回路である。
償電流算出回路２８と、加算回路２９と、レーザダイオ
ード駆動回路３０とからなる。補償電流算出回路２８
は、光量センサ２６の検出光量（検出電流）を使用初期
の目標光量（目標電流）と比較し、その比較結果に応じ
て、レーザダイオード２２を駆動する際の補償電流ΔＩ
を算出する回路である。
【００１９】ここで、補償電流ΔＩは、レーザダイオー
ド２２の劣化に伴って生ずる発光量の低下を補償するた
めのものである。加算回路２９は、予め設定されている
レーザダイオード２２の使用初期における目標駆動電流
と、上記の補償電流ΔＩとの加算を行う回路である。レ
ーザダイオード駆動回路３０は、加算回路２９から出力
される加算電流に基づき、レーザダイオード２２を駆動
する回路である。
ド２２の劣化に伴って生ずる発光量の低下を補償するた
めのものである。加算回路２９は、予め設定されている
レーザダイオード２２の使用初期における目標駆動電流
と、上記の補償電流ΔＩとの加算を行う回路である。レ
ーザダイオード駆動回路３０は、加算回路２９から出力
される加算電流に基づき、レーザダイオード２２を駆動
する回路である。
【００２０】温度制御部２５は、温度センサ２７と、補
償温度算出回路３１と、加算回路３２と、温度制御回路
３３と、ペルチェ素子駆動回路３４とからなる。補償温
度算出回路３１は、補償電流算出回路２８が算出した補
償電流ΔＩと、予め設定されている変換係数αとに基づ
き、レーザダイオード２２を温度制御する際の補償温度
ΔＴを、次の（１）式から算出するものである。
償温度算出回路３１と、加算回路３２と、温度制御回路
３３と、ペルチェ素子駆動回路３４とからなる。補償温
度算出回路３１は、補償電流算出回路２８が算出した補
償電流ΔＩと、予め設定されている変換係数αとに基づ
き、レーザダイオード２２を温度制御する際の補償温度
ΔＴを、次の（１）式から算出するものである。
【００２１】ΔＴ＝α×ΔＩ ・・・・（１）
ここで、補償温度ΔＴは、レーザダイオード２２の劣化
に伴って生ずる発光波長の変動を補償をするためのもの
である。加算回路３２は、予め設定されているレーザダ
イオード２２の使用初期における目標温度に、補償温度
算出回路３１が求めた補償温度ΔＴを加算し、目標温度
の修正を行う回路である。
に伴って生ずる発光波長の変動を補償をするためのもの
である。加算回路３２は、予め設定されているレーザダ
イオード２２の使用初期における目標温度に、補償温度
算出回路３１が求めた補償温度ΔＴを加算し、目標温度
の修正を行う回路である。
【００２２】温度制御回路３３は、温度センサ２７の検
出温度を、加算回路３２で修正された目標温度と比較
し、その両者が一致するような制御信号を出力する回路
である。ペルチェ素子駆動回路３４は、その制御信号に
基づき、ペルチェ素子２４がレーザダイオード２２の冷
却または加熱を行うようにペルチェ素子２４を駆動する
回路である。
出温度を、加算回路３２で修正された目標温度と比較
し、その両者が一致するような制御信号を出力する回路
である。ペルチェ素子駆動回路３４は、その制御信号に
基づき、ペルチェ素子２４がレーザダイオード２２の冷
却または加熱を行うようにペルチェ素子２４を駆動する
回路である。
【００２３】加算回路２９に設定されるレーザダイオー
ド２２の使用初期における目標駆動電流、補償温度算出
回路３１に設定される変換係数α、および加算回路３２
に設定されるレーザダイオード２２の使用初期における
目標温度は、制御対象であるレーザダイオード毎に予め
メモリ（図示せず）にそれぞれ格納しており、メモリか
ら対応する各値を読み出し、その読み出した各値を対応
する各回路に設定できるようになっている。
ド２２の使用初期における目標駆動電流、補償温度算出
回路３１に設定される変換係数α、および加算回路３２
に設定されるレーザダイオード２２の使用初期における
目標温度は、制御対象であるレーザダイオード毎に予め
メモリ（図示せず）にそれぞれ格納しており、メモリか
ら対応する各値を読み出し、その読み出した各値を対応
する各回路に設定できるようになっている。
【００２４】次に、このような構成からなる実施形態の
動作の一例について、図１を参照して説明する。光量セ
ンサ２６は、レーザダイオード２２の発生する光量を検
出し、この検出光量を補償電流算出回路２８に出力す
る。補償電流算出回路２８は、その検出光量（検出電
流）をレーザダイオード２２の使用初期の目標光量（目
標電流）と比較し、その比較結果に応じて、レーザダイ
オード２２を駆動する際の補償電流ΔＩを算出する。
動作の一例について、図１を参照して説明する。光量セ
ンサ２６は、レーザダイオード２２の発生する光量を検
出し、この検出光量を補償電流算出回路２８に出力す
る。補償電流算出回路２８は、その検出光量（検出電
流）をレーザダイオード２２の使用初期の目標光量（目
標電流）と比較し、その比較結果に応じて、レーザダイ
オード２２を駆動する際の補償電流ΔＩを算出する。
【００２５】加算回路２９は、設定されているレーザダ
イオード２２の使用初期における目標駆動電流と、上記
の補償電流ΔＩとの加算を行う。レーザダイオード駆動
回路３０は、加算回路２９から出力される加算電流に基
づき、レーザダイオード２２を駆動する。一方、補償温
度算出回路３１は、補償電流算出回路２８が算出した補
償電流ΔＩと、予め設定されている変換係数αとによ
り、レーザダイオード２２の温度制御をする際の補償温
度ΔＴを、（１）式から算出する。加算回路３２は、設
定されているレーザダイオード２２の使用初期における
目標温度に、その補償温度ΔＴを加算し、その目標温度
の修正を行う。
イオード２２の使用初期における目標駆動電流と、上記
の補償電流ΔＩとの加算を行う。レーザダイオード駆動
回路３０は、加算回路２９から出力される加算電流に基
づき、レーザダイオード２２を駆動する。一方、補償温
度算出回路３１は、補償電流算出回路２８が算出した補
償電流ΔＩと、予め設定されている変換係数αとによ
り、レーザダイオード２２の温度制御をする際の補償温
度ΔＴを、（１）式から算出する。加算回路３２は、設
定されているレーザダイオード２２の使用初期における
目標温度に、その補償温度ΔＴを加算し、その目標温度
の修正を行う。
【００２６】温度制御回路３３は、温度センサ２７の検
出温度を、加算回路３２で修正された目標温度と比較
し、その両者が一致するような制御信号を出力する。ペ
ルチェ素子駆動回路３４は、その制御信号に基づき、ペ
ルチェ素子２４がレーザダイオード２２の冷却または加
熱を行うようにペルチェ素子２４を駆動する。次に、レ
ーザダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償の具
体例について説明する。
出温度を、加算回路３２で修正された目標温度と比較
し、その両者が一致するような制御信号を出力する。ペ
ルチェ素子駆動回路３４は、その制御信号に基づき、ペ
ルチェ素子２４がレーザダイオード２２の冷却または加
熱を行うようにペルチェ素子２４を駆動する。次に、レ
ーザダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償の具
体例について説明する。
【００２７】いま、例えば、レーザダイオードとして、
その発光波長と温度の関係が０．１ｎｍ／℃（温度が１
℃あたりで、発光波長が０．１ｎｍずれることを意味す
る）、およびその補償電流ΔＩと発光波長の関係が０．
０１ｎｍ／ｍＡ（補償電流ΔＩが１ｍＡあたりで、発光
波長を０．０１ｎｍ補償できることを意味する）の場合
を考える。
その発光波長と温度の関係が０．１ｎｍ／℃（温度が１
℃あたりで、発光波長が０．１ｎｍずれることを意味す
る）、およびその補償電流ΔＩと発光波長の関係が０．
０１ｎｍ／ｍＡ（補償電流ΔＩが１ｍＡあたりで、発光
波長を０．０１ｎｍ補償できることを意味する）の場合
を考える。
【００２８】この場合には、（１）式における変換係数
αを、α＝−０．１℃／ｍＡとすることで、レーザダイ
オードの劣化時の発光波長の補償が可能となる。以上説
明したように、この実施形態によれば、光量センサ２６
が検出するレーザダイオード２２の検出光量を、レーザ
ダイオード２２の使用初期における目標光量と比較し、
その比較結果に応じてレーザダイオード２２を駆動する
際の補償電流を求めるようにした。
αを、α＝−０．１℃／ｍＡとすることで、レーザダイ
オードの劣化時の発光波長の補償が可能となる。以上説
明したように、この実施形態によれば、光量センサ２６
が検出するレーザダイオード２２の検出光量を、レーザ
ダイオード２２の使用初期における目標光量と比較し、
その比較結果に応じてレーザダイオード２２を駆動する
際の補償電流を求めるようにした。
【００２９】また、その求めた補償電流に基づいてレー
ザダイオード２２を温度制御する際の補償温度を求め、
この補償温度をレーザダイオード２２の使用初期の目標
温度に加算し、その目標温度を修正するようにした。さ
らに、その温度センサ２７の検出温度をその修正された
目標温度と比較し、その両者が一致するようにペルチェ
素子２４を駆動制御してレーザダイオード２２の温度制
御を行うようにした。
ザダイオード２２を温度制御する際の補償温度を求め、
この補償温度をレーザダイオード２２の使用初期の目標
温度に加算し、その目標温度を修正するようにした。さ
らに、その温度センサ２７の検出温度をその修正された
目標温度と比較し、その両者が一致するようにペルチェ
素子２４を駆動制御してレーザダイオード２２の温度制
御を行うようにした。
【００３０】このため、この実施形態によれば、レーザ
ダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波長フ
ィルタを使用せずに実現でき、もって全体の制作費用の
低減化を実現できる。
ダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波長フ
ィルタを使用せずに実現でき、もって全体の制作費用の
低減化を実現できる。
【００３１】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、レ
ーザダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波
長フィルタを使用せずに実現でき、もって全体の制作費
用の低減化を実現できる。
ーザダイオードの劣化に伴う発光波長の変動の補償を波
長フィルタを使用せずに実現でき、もって全体の制作費
用の低減化を実現できる。
【図１】本発明の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】従来回路の構成を示すブロック図である。
２１ レーザダイオード・モジュール
２２ レーザダイオード（半導体レーザ）
２３ 発光制御部
２４ ペルチェ素子
２５ 温度制御部
２６ 光量センサ
２７ 温度センサ
２８ 補償電流算出回路
２９、３２ 加算回路
３０ レーザダイオード駆動回路
３１ 補償温度算出回路
３３ 温度制御回路
３４ ペルチェ素子駆動回路
Claims (3)
- 【請求項１】 レーザダイオードの発光量を検出する光
量センサと、 前記光量センサの検出光量を前記レーザダイオードの使
用初期における目標光量と比較し、その比較結果に応じ
て前記レーザダイオードを駆動する際の補償電流を求め
る補償電流算出手段と、 前記レーザダイオードの使用初期の目標駆動電流に、前
記補償電流算出手段で求めた補償電流を加算し、その加
算電流により前記レーザダイオードを駆動する発光制御
手段と、 熱電素子により冷却または加熱される前記レーザダイオ
ードの温度を検出する温度センサと、 前記補償電流算出手段で求めた補償電流に基づいて前記
レーザダイオードを温度制御する際の補償温度を求める
補償温度算出手段と、 前記レーザダイオードの使用初期の目標温度を、前記補
償温度算出手段で求めた補償温度で修正する修正手段
と、 前記温度センサの検出温度を前記修正手段で修正した目
標温度と比較し、その両者が一致するように前記熱電素
子を駆動制御して前記レーザダイオードの温度制御を行
う温度制御手段と、 を備えたことを特徴とするレーザダイオードの制御回
路。 - 【請求項２】 前記補償温度算出手段は、前記補償電流
算出手段が求めた補償電流と、前記レーザダイオード毎
に予め設定されている変換係数とに基づき、前記補償温
度を求めるようになっていることを特徴とする請求項１
に記載のレーザダイオードの制御回路。 - 【請求項３】 前記変換係数は、前記レーザダイオード
毎に予めメモリに格納されており、そのメモリから読み
出すことにより前記補償温度算出手段に設定できるよう
になっていることを特徴とする請求項２に記載のレーザ
ダイオードの制御回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001230445A JP2003046187A (ja) | 2001-07-30 | 2001-07-30 | レーザダイオードの制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001230445A JP2003046187A (ja) | 2001-07-30 | 2001-07-30 | レーザダイオードの制御回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003046187A true JP2003046187A (ja) | 2003-02-14 |
Family
ID=19062657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001230445A Withdrawn JP2003046187A (ja) | 2001-07-30 | 2001-07-30 | レーザダイオードの制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003046187A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005085871A (ja) * | 2003-09-05 | 2005-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ装置 |
| JP2016147378A (ja) * | 2015-02-10 | 2016-08-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 発光素子駆動制御装置、液滴乾燥装置、画像形成装置 |
-
2001
- 2001-07-30 JP JP2001230445A patent/JP2003046187A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005085871A (ja) * | 2003-09-05 | 2005-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ装置 |
| JP2016147378A (ja) * | 2015-02-10 | 2016-08-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 発光素子駆動制御装置、液滴乾燥装置、画像形成装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20070402 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20070402 |
|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20081007 |