JP2003015145A - Electrode forming method and liquid crystal display device - Google Patents

Electrode forming method and liquid crystal display device

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JP2003015145A JP2001198660A JP2001198660A JP2003015145A JP 2003015145 A JP2003015145 A JP 2003015145A JP 2001198660 A JP2001198660 A JP 2001198660A JP 2001198660 A JP2001198660 A JP 2001198660A JP 2003015145 A JP2003015145 A JP 2003015145A
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electrode
reflective electrode
transparent electrode
forming
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Teizo Yugawa
禎三 湯川
Tomihisa Sunada
富久 砂田
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Koninklijke Philips Electronics NV
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrode forming method by which production costs are reduced, and a liquid crystal display device to which the electrode forming method is applied. SOLUTION: After a transparent electrode film 10 and a reflecting electrode film 11 are formed, a resist film 12 is formed, the resist film 12 is removed so that a groove 12a and a thin part 12b can be formed on the resist film 12, and the reflecting electrode film 11 and the transparent electrode film 10 are etched with the resist film 12 on which the groove 12a and the thin part 12b are formed, as a mask. Afterwards, the thin part 12b is removed by ashing the resist film 12, and a reflecting electrode 110 is etched by the resist film 12 from which the thin part 12b is removed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板上の所定領域
に透明電極と反射電極とを形成する電極形成方法及び液
晶表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrode forming method and a liquid crystal display device for forming a transparent electrode and a reflective electrode in a predetermined region on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、透過型と反射型との両方の機能を
備えた、いわゆる半透過型の液晶表示装置が普及してい
る。この半透過型の液晶表示装置は、透過型と反射型と
の両方の機能を発揮することができるように、各画素に
透明電極と反射電極とが形成されている。
2. Description of the Related Art In recent years, so-called transflective liquid crystal display devices having both transmissive and reflective functions have become widespread. In this semi-transmissive liquid crystal display device, a transparent electrode and a reflective electrode are formed in each pixel so that both the transmissive and reflective functions can be exhibited.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】半透過型の液晶表示装
置の製造工程では、透明電極を形成するためのリソグラ
フィ工程と、反射電極を形成するためのリソグラフィ工
程とが必要となるため、製造工程数が増大し、製造コス
トがかかるという問題がある。
The manufacturing process of a semi-transmissive liquid crystal display device requires a lithography process for forming a transparent electrode and a lithography process for forming a reflective electrode. There is a problem that the number increases and the manufacturing cost increases.

【0004】本発明は、上記の事情に鑑み、製造コスト
の削減が図られた電極形成方法、及びこの電極形成方法
が適用された液晶表示装置を提供することを目的とす
る。
In view of the above circumstances, it is an object of the present invention to provide an electrode forming method in which the manufacturing cost is reduced, and a liquid crystal display device to which the electrode forming method is applied.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の電極形成方法は、基板上の所定領域に透明電極と反
射電極とを形成する電極形成方法であって、前記基板上
に前記透明電極用の第1の膜を形成する第1の工程と、
前記第1の膜上に前記反射電極用の第2の膜を形成する
第2の工程と、前記第2の膜上に第3の膜を形成する第
3の工程と、前記第3の膜の前記所定領域に対応する部
分が相対的に膜厚の薄い部分と厚い部分とを有し、且つ
前記第3の膜の前記所定領域の周囲に対応する部分が除
去されるように、第3の膜を加工する第4の工程と、前
記加工された第3の膜をマスクとして前記第1の膜及び
前記第2の膜をエッチングする第5の工程と、前記第3
の膜の膜厚の薄い部分を除去する第6の工程と、前記膜
厚の薄い部分が除去された第3の膜をマスクとして前記
第2の膜をエッチングする第7の工程とを備えたことを
特徴とする。
The electrode forming method of the present invention for achieving the above object is an electrode forming method for forming a transparent electrode and a reflective electrode in a predetermined region on a substrate, wherein the transparent electrode is formed on the substrate. A first step of forming a first film for electrodes,
A second step of forming a second film for the reflective electrode on the first film, a third step of forming a third film on the second film, and the third film Of the third film such that the portion corresponding to the predetermined region has a relatively thin portion and a thick portion, and the portion of the third film corresponding to the periphery of the predetermined region is removed. A fourth step of processing the film, a fifth step of etching the first film and the second film using the processed third film as a mask, and the third step.
And a seventh step of removing the thin film portion of the film, and a seventh step of etching the second film using the third film from which the thin film portion has been removed as a mask. It is characterized by

【0006】本発明の電極形成方法では、第4の工程
で、第3の膜の上記所定領域の周囲に対応する部分が除
去され、且つ上記所定領域に対応する部分に相対的に膜
厚の薄い部分と厚い部分とが形成されるように、第3の
膜は加工される。第5の工程では、このように加工され
た第3の膜をマスクとして透明電極用の第1の膜と反射
電極用の第2の膜とをエッチングするため、透明電極用
の第1の膜と反射電極用の第2の膜とを上記所定領域に
のみ残すことができる。第6の工程では第3の膜の膜厚
の薄い部分は除去される。従って、第7の工程で、この
膜厚の薄い部分が除去された第3の膜をマスクとして用
いることにより、反射電極用の第2の膜をエッチングす
ることが可能となる。このように、本発明の電極形成方
法では、第5の工程において透明電極用の第1の膜と反
射電極用の第2の膜との両方の膜をエッチングした後、
第6の工程において第3の膜の膜厚の薄い部分を除去
し、第7の工程においてこの膜厚の薄い部分が除去され
た第3の膜をマスクとして第2の膜をエッチングしてい
る。つまり、第6の工程で第3の膜の膜厚の薄い部分を
除去することで、透明電極用の第1の膜と反射電極用の
第2の膜とを異なる形状にパターニングすることができ
る。従って、透明電極用の第1の膜のみをエッチングす
るためのマスクと、反射電極用の第2の膜のみをエッチ
ングするためのマスクとを別々に形成しなくても、透明
電極用の第1の膜と反射電極用の第2の膜とを異なる形
状にパターニングすることができ、製造工程数及び製造
コストの削減が図られる。
In the electrode forming method of the present invention, in the fourth step, the portion of the third film corresponding to the periphery of the predetermined region is removed, and the film thickness is relatively increased in the portion corresponding to the predetermined region. The third film is processed so that a thin portion and a thick portion are formed. In the fifth step, the first film for the transparent electrode and the second film for the reflective electrode are etched using the thus processed third film as a mask, so that the first film for the transparent electrode is etched. And the second film for the reflective electrode can be left only in the predetermined region. In the sixth step, the thin portion of the third film is removed. Therefore, in the seventh step, it is possible to etch the second film for the reflective electrode by using the third film from which the thin portion is removed as a mask. As described above, in the electrode forming method of the present invention, after etching both the first film for the transparent electrode and the second film for the reflective electrode in the fifth step,
In the sixth step, the thin film portion of the third film is removed, and in the seventh step, the second film is etched using the third film from which the thin film portion is removed as a mask. . That is, by removing the thin portion of the third film in the sixth step, the first film for the transparent electrode and the second film for the reflective electrode can be patterned into different shapes. . Therefore, even if a mask for etching only the first film for the transparent electrode and a mask for etching only the second film for the reflective electrode are not separately formed, the first mask for the transparent electrode is not formed. The film and the second film for the reflective electrode can be patterned into different shapes, and the number of manufacturing steps and the manufacturing cost can be reduced.

【0007】ここで、本発明の電極形成方法は、前記第
3の膜が感光性膜であり、前記第4の工程が、前記感光
性膜の部位に応じて異なる露光エネルギーが付与される
ように、前記感光性膜を露光する露光工程と、前記露光
された感光性膜を現像する現像工程とを備えたことが好
ましい。
Here, in the electrode forming method of the present invention, the third film is a photosensitive film, and in the fourth step, different exposure energies are applied depending on the portion of the photosensitive film. Preferably, the method further comprises an exposing step of exposing the photosensitive film and a developing step of developing the exposed photosensitive film.

【0008】上記の工程を実行することにより、前記感
光性膜の前記所定領域に対応する部分に相対的に膜厚の
薄い部分と厚い部分とを持たせ、且つ前記感光性膜の前
記所定領域の周囲に対応する部分を除去することが可能
となる。
By performing the above steps, the portion of the photosensitive film corresponding to the predetermined region has a relatively thin portion and a thick portion, and the predetermined region of the photosensitive film. It is possible to remove the portion corresponding to the periphery of.

【0009】さらに、本発明の電極形成方法は、前記第
1の工程実行前に、前記基板上に、凹部又は凸部を有す
る第4の膜を形成する第8の工程を備えたことが好まし
い。
Further, the electrode forming method of the present invention preferably comprises an eighth step of forming a fourth film having concave portions or convex portions on the substrate before the execution of the first step. .

【0010】第1の工程実行前に、凹部又は凸部を有す
る第4の膜を形成することにより、反射電極に凹部又は
凸部を形成することができる。
By forming the fourth film having the concave portion or the convex portion before the first step is performed, the concave portion or the convex portion can be formed in the reflective electrode.

【0011】また、本発明の液晶表示装置は、請求項1
乃至3のいずれか1項に記載の電極形成方法を用いて形
成された反射電極及び透明電極を有することを特徴とす
る。
Further, the liquid crystal display device of the present invention comprises:
It has a reflective electrode and a transparent electrode formed by using the electrode forming method described in any one of 1 to 3.

【0012】ここで、本発明の液晶表示装置は、前記反
射電極が、前記透明電極上に直に形成されたことを特徴
とする。
Here, the liquid crystal display device of the present invention is characterized in that the reflective electrode is formed directly on the transparent electrode.

【0013】さらに、本発明の液晶表示装置は、前記透
明電極又は前記反射電極が積層構造を有していてもよ
い。
Further, in the liquid crystal display device of the present invention, the transparent electrode or the reflective electrode may have a laminated structure.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below.

【0015】図1は、本発明の電極形成方法の一実施形
態を用いて形成された透明電極及び反射電極を有する半
透過型の液晶表示装置の一部断面図である。
FIG. 1 is a partial cross-sectional view of a transflective liquid crystal display device having a transparent electrode and a reflective electrode formed by using an embodiment of the electrode forming method of the present invention.

【0016】この液晶表示装置は、TFT50、透明電
極100及び反射電極110等が形成されたTFT基板
51と、カラーフィルタ等が形成されたカラーフィルタ
基板52とを有している。カラーフィルタ基板52の構
造は、本実施形態の特徴部分とは無関係であるため、図
1には、簡略化して記載されている。TFT基板51と
カラーフィルタ基板52との間には液晶層53が存在し
ている。TFT基板51の背面には、バックライト54
が備えられている。
This liquid crystal display device has a TFT substrate 51 on which a TFT 50, a transparent electrode 100, a reflective electrode 110 and the like are formed, and a color filter substrate 52 on which a color filter and the like are formed. The structure of the color filter substrate 52 is irrelevant to the characteristic part of the present embodiment, and therefore is illustrated in a simplified manner in FIG. 1. A liquid crystal layer 53 exists between the TFT substrate 51 and the color filter substrate 52. A backlight 54 is provided on the back surface of the TFT substrate 51.
Is provided.

【0017】以下、本実施形態の特徴部分である透明電
極100及び反射電極110が形成されたTFT基板5
1の製造方法について説明する。
Hereinafter, the TFT substrate 5 on which the transparent electrode 100 and the reflective electrode 110, which are the characteristic parts of this embodiment, are formed.
The manufacturing method of No. 1 will be described.

【0018】図2は、図1に示すTFT基板51のガラ
ス基板1上にTFT50が形成された直後の様子を示す
平面図、図3は、図2のI−I方向から見た断面図であ
る。
FIG. 2 is a plan view showing a state immediately after the TFT 50 is formed on the glass substrate 1 of the TFT substrate 51 shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a sectional view seen from the direction I--I of FIG. is there.

【0019】先ず、図3に示すように、ガラス基板1上
にゲート電極2及びゲート絶縁膜3を形成する。その
後、このゲート絶縁膜3上に、例えばa−Si:H等の
半導体層4、例えばn+a−Si:H等のオーミックコ
ンタクト層5、ソース電極6及びドレイン電極7を形成
することにより、各画素領域にTFT50を形成する。
図2に示すように、行方向に並ぶTFT50のゲート電
極2は、ゲートバス20により互いに電気的に接続さ
れ、列方向に並ぶTFT50のソース電極6は、ソース
バス60により互いに電気的に接続されている。TFT
50を形成した後、ガラス基板1上に絶縁膜及び平坦化
膜を形成する(図4参照)。
First, as shown in FIG. 3, a gate electrode 2 and a gate insulating film 3 are formed on a glass substrate 1. Then, a semiconductor layer 4 such as a-Si: H, an ohmic contact layer 5 such as n + a-Si: H, a source electrode 6 and a drain electrode 7 are formed on the gate insulating film 3 to form each pixel. The TFT 50 is formed in the area.
As shown in FIG. 2, the gate electrodes 2 of the TFTs 50 arranged in the row direction are electrically connected to each other by the gate bus 20, and the source electrodes 6 of the TFTs 50 arranged in the column direction are electrically connected to each other by the source bus 60. ing. TFT
After forming 50, an insulating film and a flattening film are formed on the glass substrate 1 (see FIG. 4).

【0020】図4は、絶縁膜及び平坦化膜が形成された
ガラス基板の断面図である。
FIG. 4 is a sectional view of a glass substrate on which an insulating film and a flattening film are formed.

【0021】図4に示すように、TFT50を覆うよう
に、ガラス基板1上に絶縁膜8を形成する。次いで、こ
の絶縁膜8全面に感光性を有する材料を塗布して平坦化
膜9を形成する。平坦化膜9を形成した後、この平坦化
膜9を露光、現像する(図5参照)。
As shown in FIG. 4, an insulating film 8 is formed on the glass substrate 1 so as to cover the TFT 50. Then, a photosensitive material is applied to the entire surface of the insulating film 8 to form a flattening film 9. After the flattening film 9 is formed, the flattening film 9 is exposed and developed (see FIG. 5).

【0022】図5は、平坦化膜9を露光、現像した後の
様子を示す断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing a state after the flattening film 9 is exposed and developed.

【0023】平坦化膜9を露光、現像することにより、
この平坦化膜9に、多数の凹部9aと、この平坦化膜9
を貫通するスルーホール9bとを形成する。このスルー
ホール9bは、各TFT50のドレイン電極7の真上に
形成される。図5に示すような凹部9a及びスルーホー
ル9bを形成するためには、平坦化膜9を露光するとき
に、平坦化膜9の凹部9aが形成される部分で吸収され
る露光エネルギーの量と、スルーホール9bが形成され
る部分で吸収される露光エネルギーの量とを異ならせれ
ばよい。これにより、露光後の平坦化膜9を現像した場
合、平坦化膜9の除去される深さを、吸収された露光エ
ネルギーの量に応じて調整することができ、凹部9a及
びスルーホール9bを形成することができる。平坦化膜
9に凹部9aとスルーホール9bとを形成した後、この
平坦化膜9をマスクとして絶縁膜8をエッチングする
(図6参照)。
By exposing and developing the flattening film 9,
In this flattening film 9, a large number of recesses 9a and the flattening film 9 are formed.
And a through hole 9b penetrating therethrough is formed. The through hole 9b is formed right above the drain electrode 7 of each TFT 50. In order to form the recesses 9a and the through holes 9b as shown in FIG. 5, the amount of exposure energy absorbed in the portion of the flattening film 9 where the recesses 9a are formed when the flattening film 9 is exposed. , The amount of exposure energy absorbed at the portion where the through hole 9b is formed may be different. Thus, when the exposed flattening film 9 is developed, the depth of removal of the flattening film 9 can be adjusted according to the amount of the absorbed exposure energy, and the recess 9a and the through hole 9b can be formed. Can be formed. After forming the recess 9a and the through hole 9b in the flattening film 9, the insulating film 8 is etched using the flattening film 9 as a mask (see FIG. 6).

【0024】図6は、絶縁膜8がエッチングされた様子
を示す断面図である。
FIG. 6 is a sectional view showing a state where the insulating film 8 is etched.

【0025】平坦化膜9に形成されたスルーホール9b
は、ドレイン電極7の真上に形成されているため、この
平坦化膜9をマスクとして絶縁膜8をエッチングする
と、この絶縁膜8に、ドレイン電極7を露出させるスル
ーホール8aが形成される。絶縁膜8をエッチングした
後、以下に示す図7乃至図13に示す方法で透明電極と
反射電極とを形成する。以下、図7乃至図13について
説明する。
Through holes 9b formed in the flattening film 9
Is formed right above the drain electrode 7, so that when the insulating film 8 is etched using the flattening film 9 as a mask, a through hole 8a exposing the drain electrode 7 is formed in the insulating film 8. After the insulating film 8 is etched, a transparent electrode and a reflective electrode are formed by the method shown in FIGS. Hereinafter, FIGS. 7 to 13 will be described.

【0026】図7は、透明電極膜10、反射電極膜11
及びレジスト膜12が形成されたガラス基板の断面図で
ある。
FIG. 7 shows a transparent electrode film 10 and a reflective electrode film 11.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a glass substrate on which a resist film 12 is formed.

【0027】絶縁膜8をエッチングした後(図6参
照)、図7に示すように、透明電極の材料及び反射電極
の材料を順次に堆積して透明電極膜10及び反射電極膜
11を形成する。透明電極膜10の材料としては例えば
ITO等を用いることができ、反射電極膜11の材料と
しては、例えばAl合金や、Ag合金等を用いることが
できる。透明電極膜10の下に形成されている平坦化膜
9には、凹部9aが形成されているため(図6参照)、
平坦化膜9の凹部9aの形状に倣って透明電極膜10及
び反射電極膜11にも凹部10a及び11aが形成され
る。透明電極膜10及び反射電極膜11を形成した後、
この反射電極膜11の全面にレジストを塗布してレジス
ト膜12を形成する。レジスト膜12を形成した後、以
下のように、このレジスト膜12の一部を除去する。
After etching the insulating film 8 (see FIG. 6), the transparent electrode material and the reflective electrode material are sequentially deposited to form the transparent electrode film 10 and the reflective electrode film 11, as shown in FIG. . For example, ITO or the like can be used as the material of the transparent electrode film 10, and Al alloy, Ag alloy, or the like can be used as the material of the reflective electrode film 11. Since the flattening film 9 formed under the transparent electrode film 10 has a recess 9a (see FIG. 6),
The recesses 10a and 11a are formed in the transparent electrode film 10 and the reflective electrode film 11 following the shape of the recess 9a of the flattening film 9. After forming the transparent electrode film 10 and the reflective electrode film 11,
A resist is applied to the entire surface of the reflective electrode film 11 to form a resist film 12. After forming the resist film 12, a part of the resist film 12 is removed as follows.

【0028】図8は、レジスト膜12の一部を除去した
後の様子を示す平面図、図9は、図8のII−II方向から
見た断面図である。
FIG. 8 is a plan view showing a state after a part of the resist film 12 is removed, and FIG. 9 is a sectional view taken along the line II-II of FIG.

【0029】レジスト膜12を形成した後(図7参
照)、このレジスト膜12を露光、現像することによ
り、図9に示すように、レジスト膜12を各画素領域毎
に分離するための溝12aと、膜厚の薄い薄肉部12b
とが形成される。この溝12aにより、レジスト膜12
から、各画素領域毎に分離されたレジスト膜(以下、
「分離レジスト膜」と呼ぶ)12cが形成される。図8
では、分離レジスト膜12cを斜線で示し、この分離レ
ジスト膜12c内に形成された薄肉部12bを網目状の
ハッチングで示してある。溝12aは、ゲートバス20
及びソースバス60に沿って、反射電極膜11が露出す
るように形成されており、このため、分離レジスト膜1
2cの周囲はレジスト膜12の材料が除去された状態に
なっている。一方、薄肉部12bは、膜厚が薄くなるよ
うに形成されているため、各分離レジスト膜12cに
は、図9に示すように、相対的に膜厚の厚い部分と薄い
部分が形成されている。従って、溝12aでは反射電極
膜11は露出しているが、一方、薄肉部12bでは反射
電極膜11は露出していない。図9に示すような溝12
a及び薄肉部12bを形成するためには、レジスト膜1
2を露光するときに、レジスト膜12の溝12aが形成
される部分で吸収される露光エネルギーの量と、薄肉部
12bが形成される部分で吸収される露光エネルギーの
量とを異ならせればよい。これにより、露光後の平坦化
膜9を現像した場合、レジスト膜12の除去される深さ
を、吸収された露光エネルギーの量に応じて調整するこ
とができ、溝12a及び薄肉部12bを形成することが
できる。レジスト膜12に溝12a及び薄肉部12bを
形成した後、分離レジスト膜12cをマスクとして反射
電極膜11及び透明電極膜10をエッチングする(図1
0参照)。
After the resist film 12 is formed (see FIG. 7), the resist film 12 is exposed and developed to form a groove 12a for separating the resist film 12 into pixel regions as shown in FIG. And a thin portion 12b having a thin film thickness
And are formed. Due to the groove 12a, the resist film 12
From the resist film separated for each pixel area (hereinafter,
A "separation resist film" 12c is formed. Figure 8
In the figure, the separation resist film 12c is indicated by diagonal lines, and the thin portion 12b formed in the separation resist film 12c is indicated by mesh hatching. The groove 12a is the gate bus 20.
Further, the reflective electrode film 11 is formed so as to be exposed along the source bus 60, and therefore the separation resist film 1 is formed.
The material of the resist film 12 is removed from the periphery of 2c. On the other hand, since the thin portion 12b is formed so as to have a small film thickness, each separation resist film 12c has a relatively thick film portion and a relatively thin film portion, as shown in FIG. There is. Therefore, the reflective electrode film 11 is exposed in the groove 12a, while the reflective electrode film 11 is not exposed in the thin portion 12b. Groove 12 as shown in FIG.
In order to form a and the thin portion 12b, the resist film 1
2 is exposed, the amount of exposure energy absorbed in the portion where the groove 12a of the resist film 12 is formed and the amount of exposure energy absorbed in the portion where the thin portion 12b is formed may be different. . Thereby, when the flattening film 9 after exposure is developed, the depth of the resist film 12 to be removed can be adjusted according to the amount of absorbed exposure energy, and the groove 12a and the thin portion 12b are formed. can do. After forming the groove 12a and the thin portion 12b in the resist film 12, the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 10 are etched by using the separation resist film 12c as a mask (FIG. 1).
0).

【0030】図10は、反射電極膜11及び透明電極膜
10がエッチングされた様子を示す断面図である。
FIG. 10 is a sectional view showing a state where the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 10 are etched.

【0031】反射電極膜11の材料に例えばAl合金や
Ag合金を用いた場合、燐酸、硝酸、酢酸及び水の混合
液をエッチング液として用いることができる。また、透
明電極膜10の材料に例えばITOを用いた場合、塩酸
及び水の混合液をエッチング液として用いることができ
る。分離レジスト膜12cをマスクとして反射電極膜1
1及び透明電極膜10をエッチングすることにより、反
射電極膜11及び透明電極膜10は各画素領域毎に分離
され、各画素領域に透明電極100及び反射電極110
が形成される。以上の工程により、各画素領域に透明電
極100及び反射電極110が形成される。しかしなが
ら、図10では、反射電極110は、透明電極100の
全面を覆うようにしてこの透明電極100に積層されて
いる。従って、反射電極110が透明電極100の全面
を覆っている状態では、液晶表示装置を透過型モードで
使用しようとしたときに、バックライト54(図1参
照)の光が反射電極110に遮蔽されてしまい、バック
ライト54の光を液晶層53に入射させることができな
い。そこで、以下の図11及び図13に示すやり方で、
反射電極110にバックライト54の光を通過させるた
めの通過窓を形成する。
When an Al alloy or an Ag alloy is used as the material of the reflective electrode film 11, a mixed solution of phosphoric acid, nitric acid, acetic acid and water can be used as an etching solution. When ITO is used as the material of the transparent electrode film 10, a mixed solution of hydrochloric acid and water can be used as an etching solution. The reflective electrode film 1 using the separation resist film 12c as a mask
By etching 1 and the transparent electrode film 10, the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 10 are separated for each pixel region, and the transparent electrode 100 and the reflective electrode 110 are provided in each pixel region.
Is formed. Through the above steps, the transparent electrode 100 and the reflective electrode 110 are formed in each pixel area. However, in FIG. 10, the reflective electrode 110 is laminated on the transparent electrode 100 so as to cover the entire surface of the transparent electrode 100. Therefore, when the reflective electrode 110 covers the entire surface of the transparent electrode 100, the light of the backlight 54 (see FIG. 1) is blocked by the reflective electrode 110 when the liquid crystal display device is used in the transmissive mode. Therefore, the light of the backlight 54 cannot enter the liquid crystal layer 53. Therefore, in the manner shown in FIGS. 11 and 13 below,
A passage window for allowing the light of the backlight 54 to pass through is formed in the reflective electrode 110.

【0032】先ず、反射電極膜11及び透明電極膜10
をエッチングした後(図10参照)、図11に示すよう
に、分離レジスト膜12cをアッシングする。
First, the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 10
After etching (see FIG. 10), the isolation resist film 12c is ashed as shown in FIG.

【0033】図11は、分離レジスト膜12cがアッシ
ングされた様子を示す断面図である。
FIG. 11 is a sectional view showing a state where the separation resist film 12c is ashed.

【0034】分離レジスト膜12cをアッシングしてい
くと、分離レジスト膜12cの膜厚が全体的に薄くなっ
ていくが、分離レジスト膜12cには薄肉部12bが形
成されているため(図10参照)、図11に示すよう
に、反射電極110の薄肉部12bに対応する領域Aが
最初に露出する。領域Aが露出した時点でアッシングを
終了する。アッシングの終了後、アッシングされた分離
レジスト膜12cをマスクとして、反射電極110をエ
ッチングする(図12及び13参照)。
As the separation resist film 12c is ashed, the film thickness of the separation resist film 12c becomes thinner as a whole, but the thin portion 12b is formed in the separation resist film 12c (see FIG. 10). ), As shown in FIG. 11, the region A corresponding to the thin portion 12b of the reflective electrode 110 is exposed first. When the area A is exposed, the ashing is finished. After the ashing is completed, the reflective electrode 110 is etched using the ashed separation resist film 12c as a mask (see FIGS. 12 and 13).

【0035】図12は、反射電極110がエッチングさ
れた後の様子を示す平面図、図13は、図12のIII−I
II方向から見た断面図である。
FIG. 12 is a plan view showing a state after the reflective electrode 110 is etched, and FIG. 13 is a III-I line of FIG.
It is the sectional view seen from the II direction.

【0036】反射電極110をエッチングすることによ
り、反射電極110の領域A(図11参照)が除去さ
れ、この反射電極110に、バックライト54の光を通
過させるための通過窓110aが形成される。これによ
り、透明電極100が露出する。透明電極100をこの
ようにして露出させることにより、液晶表示装置を透過
型のモードで用いるときに、バックライト54の光を液
晶層53に入射させる領域を確保することができる。
By etching the reflection electrode 110, the area A (see FIG. 11) of the reflection electrode 110 is removed, and a passage window 110a for passing the light of the backlight 54 is formed in the reflection electrode 110. . As a result, the transparent electrode 100 is exposed. By exposing the transparent electrode 100 in this manner, when the liquid crystal display device is used in the transmissive mode, it is possible to secure a region in which the light of the backlight 54 is incident on the liquid crystal layer 53.

【0037】反射電極をエッチングした後、分離レジス
ト膜12cを剥離する。その後、配向膜13(図1参
照)を印刷しラビング処理を行う。このようにして、T
FT基板51が形成される。
After etching the reflective electrode, the separation resist film 12c is peeled off. Then, the alignment film 13 (see FIG. 1) is printed and a rubbing process is performed. In this way, T
The FT substrate 51 is formed.

【0038】本実施形態では、透明電極膜10及び反射
電極膜11の上にレジスト膜12を形成し、このレジス
ト膜12を露光、現像することにより、このレジスト膜
12を図9に示す形状に加工している。反射電極膜11
及び透明電極膜10は、図9に示す形状の分離レジスト
膜12cをマスクとしてエッチングされるため、各画素
領域毎に分離され、図10に示すように各画素領域毎に
反射電極110及び透明電極100が形成される。その
後、分離レジスト膜12cはアッシングされて図11に
示す形状に加工され、反射電極110は、図11に示す
形状の分離レジスト膜12cをマスクとしてエッチング
され、反射電極110に通過窓110a(図12及び図
13参照)が形成される。このように、本実施形態で
は、レジスト膜12の形状を図9及び図11に示す2段
階に変形させることにより、反射電極膜11と透明電極
膜10との両方の膜を所望の形状にパターニングしてい
る。従って、反射電極膜11と透明電極膜10とを所望
の形状にパターニングするために、反射電極膜11のみ
をパターニングするためのレジスト膜と、透明電極膜1
0のみをパターニングするためのレジスト膜とを別々に
形成する必要はなく、製造工程数及び製造コストの削減
が図られる。
In this embodiment, a resist film 12 is formed on the transparent electrode film 10 and the reflective electrode film 11, and the resist film 12 is exposed and developed to form the resist film 12 into the shape shown in FIG. It is being processed. Reflective electrode film 11
Since the transparent electrode film 10 and the transparent electrode film 10 are etched by using the separation resist film 12c having the shape shown in FIG. 9 as a mask, the transparent electrode film 10 is separated for each pixel region, and as shown in FIG. 100 is formed. After that, the separation resist film 12c is ashed and processed into the shape shown in FIG. 11, and the reflective electrode 110 is etched by using the separation resist film 12c having the shape shown in FIG. And FIG. 13) are formed. As described above, in the present embodiment, by changing the shape of the resist film 12 in two steps shown in FIGS. 9 and 11, both the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 10 are patterned into desired shapes. is doing. Therefore, in order to pattern the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 10 into desired shapes, the resist film for patterning only the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 1
It is not necessary to separately form a resist film for patterning only 0, and the number of manufacturing steps and the manufacturing cost can be reduced.

【0039】また、本実施形態では、反射電極110の
下に形成された平坦化膜9には、多数の凹部9aが形成
されているため、反射電極110にも多数の凹部11a
が形成される。反射電極110に凹部11aを持たせる
ことにより、反射電極110に所望の光反射特性を持た
せることができる。尚、本実施形態では、反射電極11
0に所望の光反射特性を持たせるために、反射電極11
0に凹部11aを形成しているが、反射電極110に凹
部11aを持たせる代わりに凸部を持たせても、反射電
極110に所望の光反射特性を持たせることができる。
反射電極110に凸部を持たせるためには、平坦化膜9
を露光するときの露光パターンを変えればよい。平坦化
膜9の露光パターンを変えることにより、平坦化膜9に
凹部ではなく凸部を持たせることができるため、反射電
極110にも凸部を持たせることができる。尚、反射電
極110に凹部又は凸部を形成することは必ずしも必要
ではないが、反射電極110に所望の光反射特性を持た
せるためには、反射電極110に凹部又は凸部を形成す
ることが好ましい。
Further, in this embodiment, since a large number of recesses 9a are formed in the flattening film 9 formed under the reflective electrode 110, the reflective electrode 110 also has a large number of recesses 11a.
Is formed. By providing the reflective electrode 110 with the concave portion 11a, the reflective electrode 110 can have a desired light reflection characteristic. In the present embodiment, the reflective electrode 11
In order to give 0 a desired light reflection characteristic, the reflection electrode 11
Although the concave portion 11a is formed at 0, the reflecting electrode 110 can have a desired light reflection characteristic even if the reflecting electrode 110 has a convex portion instead of the concave portion 11a.
In order to provide the reflective electrode 110 with a convex portion, the flattening film 9
It suffices to change the exposure pattern when exposing the. By changing the exposure pattern of the flattening film 9, the flattening film 9 can have convex portions instead of concave portions, so that the reflective electrode 110 can also have convex portions. Although it is not always necessary to form the concave portion or the convex portion on the reflective electrode 110, it is necessary to form the concave portion or the convex portion on the reflective electrode 110 in order to give the reflective electrode 110 a desired light reflection characteristic. preferable.

【0040】また、本実施形態では、平坦化膜9の下に
絶縁膜8を形成しているが、この絶縁膜8を省略しても
よい。更に本実施形態では、反射電極110に凹部11
aを形成するために、多数の凹部9aを有する平坦化膜
9を形成しているが、例えば絶縁膜8に凹部を形成する
ことにより、平坦化膜9を形成せずに反射電極110に
凹部を形成することが可能となる。
Further, although the insulating film 8 is formed under the flattening film 9 in this embodiment, the insulating film 8 may be omitted. Further, in this embodiment, the concave portion 11 is formed in the reflective electrode 110.
In order to form a, the flattening film 9 having a large number of recesses 9a is formed. However, by forming the recesses in the insulating film 8, for example, the flattening film 9 is not formed in the reflective electrode 110. Can be formed.

【0041】尚、本実施形態では、透明電極100及び
反射電極110は両方とも単層構造であるが、これら透
明電極100及び反射電極110それぞれは2層以上か
らなる積層構造を有していてもよい。例えば反射電極1
10を積層構造にするためには、レジスト膜12を形成
する前に、反射電極膜11の他に更に別の反射電極膜を
形成しておけばよい。このように複数の反射電極膜を形
成しておき、分離レジスト膜12cをマスクとしてこれ
ら複数の反射電極膜をエッチングすることにより、反射
電極110を積層構造にすることができる。同様に、透
明電極100についても積層構造にすることか可能であ
る。従って、例えば、透明電極及び反射電極を両方とも
二層構造にするためには、透明電極膜を二層形成すると
共に反射電極膜も二層形成しておけばよい。この場合、
透明電極膜と反射電極膜とを合わせて4層の膜が形成さ
れることになるが、レジスト膜12を変形することによ
り、これら4層の膜を所望の形状にパターニングするこ
とができる。
In the present embodiment, both the transparent electrode 100 and the reflective electrode 110 have a single layer structure, but each of the transparent electrode 100 and the reflective electrode 110 may have a laminated structure composed of two or more layers. Good. For example, the reflective electrode 1
In order to form 10 into a laminated structure, another reflective electrode film may be formed in addition to the reflective electrode film 11 before forming the resist film 12. By forming a plurality of reflective electrode films in this way and etching the plurality of reflective electrode films using the separation resist film 12c as a mask, the reflective electrode 110 can have a laminated structure. Similarly, the transparent electrode 100 may have a laminated structure. Therefore, for example, in order to make both the transparent electrode and the reflective electrode have a two-layer structure, it is sufficient to form two transparent electrode films and two reflective electrode films. in this case,
The transparent electrode film and the reflective electrode film are combined to form a four-layer film. By deforming the resist film 12, the four-layer film can be patterned into a desired shape.

【0042】最後に、本実施形態の電極形成方法につい
て、従来の電極形成方法と比較しながら簡単に説明す
る。
Finally, the electrode forming method of this embodiment will be briefly described in comparison with the conventional electrode forming method.

【0043】図14は、従来の電極形成方法の一例を用
いて透明電極及び反射電極が形成された基板の断面図で
ある。
FIG. 14 is a sectional view of a substrate on which a transparent electrode and a reflective electrode are formed by using an example of a conventional electrode forming method.

【0044】従来は、透明電極30を形成した後、例え
ば、絶縁膜31、1層目の平坦化膜32及び2層目の平
坦化膜33を形成し、次いで反射電極34を形成してい
る。従って、透明電極30及び反射電極34を形成する
ためには、透明電極膜のみをパターニングするためのレ
ジスト膜と、反射電極膜のみをパターニングするための
レジスト膜とが必要となる。これに対し、本実施形態の
電極形成方法では、上記のように、レジスト膜12の形
状を2段階で変形することにより、透明電極膜10と反
射電極膜11との両方の膜をパターニングすることがで
きる。従って、従来の方法と比較して、製造工程数及び
製造コストの削減が図られることがわかる。
Conventionally, after forming the transparent electrode 30, for example, the insulating film 31, the first planarizing film 32 and the second planarizing film 33 are formed, and then the reflective electrode 34 is formed. . Therefore, in order to form the transparent electrode 30 and the reflective electrode 34, a resist film for patterning only the transparent electrode film and a resist film for patterning only the reflective electrode film are required. On the other hand, in the electrode forming method of the present embodiment, as described above, the shape of the resist film 12 is deformed in two steps to pattern both the transparent electrode film 10 and the reflective electrode film 11. You can Therefore, it can be seen that the number of manufacturing steps and the manufacturing cost can be reduced as compared with the conventional method.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
製造コストの削減が図られた電極形成方法、及びこの電
極形成方法が適用された液晶表示装置が提供される。
As described above, according to the present invention,
Provided are an electrode forming method which can reduce manufacturing cost, and a liquid crystal display device to which the electrode forming method is applied.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の電極形成方法の一実施形態を用いて形
成された透明電極及び反射電極を有する半透過型の液晶
表示装置の一部断面図である。
FIG. 1 is a partial cross-sectional view of a semi-transmissive liquid crystal display device having a transparent electrode and a reflective electrode formed by using an embodiment of an electrode forming method of the present invention.

【図2】図1に示すTFT基板51のガラス基板1上に
TFT50が形成された直後の様子を示す平面図であ
る。
FIG. 2 is a plan view showing a state immediately after a TFT 50 is formed on the glass substrate 1 of the TFT substrate 51 shown in FIG.

【図3】図2のI−I方向から見た断面図である。3 is a cross-sectional view as seen from the direction I-I in FIG.

【図4】絶縁膜及び平坦化膜が形成されたガラス基板の
断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a glass substrate on which an insulating film and a flattening film are formed.

【図5】平坦化膜9を露光、現像した後の様子を示す断
面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state after the flattening film 9 is exposed and developed.

【図6】絶縁膜8がエッチングされた様子を示す断面図
である。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state where the insulating film 8 is etched.

【図7】透明電極膜10、反射電極膜11及びレジスト
膜12が形成されたガラス基板の断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view of a glass substrate on which a transparent electrode film 10, a reflective electrode film 11 and a resist film 12 are formed.

【図8】レジスト膜12の一部を除去した後の様子を示
す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing a state after a part of the resist film 12 is removed.

【図9】図8のII−II方向から見た断面図である。9 is a cross-sectional view seen from the direction II-II in FIG.

【図10】反射電極膜11及び透明電極膜10がエッチ
ングされた様子を示す断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing how the reflective electrode film 11 and the transparent electrode film 10 are etched.

【図11】レジスト膜12がアッシングされた様子を示
す断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view showing how the resist film 12 is ashed.

【図12】反射電極110がエッチングされた後の様子
を示す平面図である。
FIG. 12 is a plan view showing a state after the reflective electrode 110 is etched.

【図13】図12のIII−III方向から見た断面図であ
る。
13 is a cross-sectional view seen from the direction III-III in FIG.

【図14】従来の電極形成方法の一例を用いて透明電極
及び反射電極が形成された基板の断面図である。
FIG. 14 is a cross-sectional view of a substrate on which a transparent electrode and a reflective electrode are formed by using an example of a conventional electrode forming method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板 2 ゲート電極 3 ゲート絶縁膜 4 半導体層 5 オーミックコンタクト層 6 ソース電極 7 ドレイン電極 8 絶縁膜 8a スルーホール 9 平坦化膜 9a、10a、11a 凹部 9b スルーホール 10 透明電極膜 11 反射電極膜 12 レジスト膜 12a 溝 12b 薄肉部 13 配向膜 50 TFT 51 TFT基板 52 カラーフィルタ基板 53 液晶層 54 バックライト 100 透明電極 110 反射電極 110a 通過窓 1 glass substrate 2 Gate electrode 3 Gate insulation film 4 semiconductor layers 5 Ohmic contact layer 6 Source electrode 7 Drain electrode 8 insulating film 8a through hole 9 Flattening film 9a, 10a, 11a Recess 9b through hole 10 Transparent electrode film 11 Reflective electrode film 12 Resist film 12a groove 12b Thin part 13 Alignment film 50 TFT 51 TFT substrate 52 Color filter substrate 53 Liquid crystal layer 54 Backlight 100 transparent electrode 110 reflective electrode 110a passage window

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 湯川 禎三 兵庫県神戸市西区高塚台4丁目3番1 フ ィリップスモバイルディスプレイシステム ズ神戸株式会社内 (72)発明者 砂田 富久 兵庫県神戸市西区高塚台4丁目3番1 フ ィリップスモバイルディスプレイシステム ズ神戸株式会社内 Fターム(参考) 2H092 GA13 GA17 GA19 JA26 JB07 JB08 JB58 MA15 MA16 MA18 MA19 NA27 PA12 5C094 AA22 AA43 AA44 BA03 BA43 CA19 CA24 DA13 EA04 EA05 EA06 EB02 ED03 ED11 ED13 FA01 FB01 FB02 FB12 FB15 GB10    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Sadazo Yukawa             4-3-1 Takatsukadai, Nishi-ku, Kobe-shi, Hyogo             Philips mobile display system             Within Kobe Co., Ltd. (72) Inventor Tomihisa Sunada             4-3-1 Takatsukadai, Nishi-ku, Kobe-shi, Hyogo             Philips mobile display system             Within Kobe Co., Ltd. F-term (reference) 2H092 GA13 GA17 GA19 JA26 JB07                       JB08 JB58 MA15 MA16 MA18                       MA19 NA27 PA12                 5C094 AA22 AA43 AA44 BA03 BA43                       CA19 CA24 DA13 EA04 EA05                       EA06 EB02 ED03 ED11 ED13                       FA01 FB01 FB02 FB12 FB15                       GB10

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上の所定領域に透明電極と反射電極
とを形成する電極形成方法であって、 前記基板上に前記透明電極用の第1の膜を形成する第1
の工程と、 前記第1の膜上に前記反射電極用の第2の膜を形成する
第2の工程と、 前記第2の膜上に第3の膜を形成する第3の工程と、 前記第3の膜の前記所定領域に対応する部分が相対的に
膜厚の薄い部分と厚い部分とを有し、且つ前記第3の膜
の前記所定領域の周囲に対応する部分が除去されるよう
に、第3の膜を加工する第4の工程と、 前記加工された第3の膜をマスクとして前記第1の膜及
び前記第2の膜をエッチングする第5の工程と、 前記第3の膜の膜厚の薄い部分を除去する第6の工程
と、 前記膜厚の薄い部分が除去された第3の膜をマスクとし
て前記第2の膜をエッチングする第7の工程とを備えた
ことを特徴とする電極形成方法。
1. An electrode forming method for forming a transparent electrode and a reflective electrode in a predetermined region on a substrate, wherein a first film for the transparent electrode is formed on the substrate.
A second step of forming a second film for the reflective electrode on the first film, a third step of forming a third film on the second film, and The portion of the third film corresponding to the predetermined region has a relatively thin portion and a thick portion, and the portion of the third film corresponding to the periphery of the predetermined region is removed. A fourth step of processing the third film, a fifth step of etching the first film and the second film by using the processed third film as a mask, and the third step of A sixth step of removing a thin film portion of the film; and a seventh step of etching the second film using the third film from which the thin film portion is removed as a mask And a method for forming an electrode.
【請求項2】 前記第3の膜が感光性膜であり、 前記第4の工程が、前記感光性膜の部位に応じて異なる
露光エネルギーが付与されるように、前記感光性膜を露
光する露光工程と、前記露光された感光性膜を現像する
現像工程とを備え、 前記第6の工程が、前記現像された感光性膜をアッシン
グすることを特徴とする請求項1に記載の電極形成方
法。
2. The third film is a photosensitive film, and in the fourth step, the photosensitive film is exposed so that different exposure energy is applied depending on a site of the photosensitive film. The electrode formation according to claim 1, further comprising an exposure step and a development step of developing the exposed photosensitive film, wherein the sixth step ashes the developed photosensitive film. Method.
【請求項3】 前記第1の工程実行前に、前記基板上
に、凹部又は凸部を有する第4の膜を形成する第8の工
程を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の電
極形成方法。
3. The method according to claim 1, further comprising an eighth step of forming a fourth film having concave portions or convex portions on the substrate before the execution of the first step. The described electrode forming method.
【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
電極形成方法を用いて形成された反射電極及び透明電極
を有することを特徴とする液晶表示装置。
4. A liquid crystal display device comprising a reflective electrode and a transparent electrode formed by using the electrode forming method according to claim 1.
【請求項5】 前記反射電極が、前記透明電極上に直に
形成されたこと特徴とする請求項5に記載の液晶表示装
置。
5. The liquid crystal display device according to claim 5, wherein the reflective electrode is directly formed on the transparent electrode.
【請求項6】 前記透明電極又は前記反射電極が積層構
造を有することを特徴とする請求項4又は5に記載の液
晶表示装置。
6. The liquid crystal display device according to claim 4, wherein the transparent electrode or the reflective electrode has a laminated structure.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008217030A (en) * 2008-04-14 2008-09-18 Sony Corp Method of manufacturing liquid crystal display device, and liquid crystal display device
JP2012137771A (en) * 2006-11-14 2012-07-19 Mitsubishi Electric Corp Methods for manufacturing multilayer thin film pattern and display device

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200402756A (en) * 2002-03-19 2004-02-16 Koninkl Philips Electronics Nv Manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device and liquid crystal display apparatus
WO2006006110A1 (en) * 2004-07-06 2006-01-19 Koninklijke Philips Electronics N.V. Liquid crystal display
KR101139522B1 (en) 2004-12-04 2012-05-07 엘지디스플레이 주식회사 Thin Film Transistor Substrate of Transflective Type And Method for Fabricating The Same

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6195140B1 (en) * 1997-07-28 2001-02-27 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display in which at least one pixel includes both a transmissive region and a reflective region
WO1999028782A1 (en) * 1997-12-04 1999-06-10 Flat Panel Display Co. (Fpd) B.V. Display device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012137771A (en) * 2006-11-14 2012-07-19 Mitsubishi Electric Corp Methods for manufacturing multilayer thin film pattern and display device
JP2008217030A (en) * 2008-04-14 2008-09-18 Sony Corp Method of manufacturing liquid crystal display device, and liquid crystal display device

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