JP2003004432A - 封入封緘装置および誤封入検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 封入封緘装置において、封筒に同封物や帳票
を自動的に封入した際の誤封入の検出精度を向上させ、
誤封入検出方法において、誤封入の検出精度を著しく向
上させる。 【解決手段】 封入封緘装置において、封筒厚さ測定手
段と、検出対象厚さ測定手段と、同一パターンデータ検
出手段と、第一次封筒厚さ判別手段と、第二次封筒厚さ
判別手段と、一時記憶手段とを備える。誤封入検出方法
において、封筒厚さ測定工程Ｓ３と、検出対象厚さ測定
工程Ｓ４と、同一パターンデータ検出工程Ｓ１７と、第
一次封筒厚さ判別工程Ｓ７と、第二次封筒厚さ判別工程
Ｓ８と、パターンデータ更新工程Ｓ１０と、一時記憶工
程Ｓ９とを経る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、封入封緘装置およ
び誤封入検出方法に関し、特に、種々の内容物を自動的
に封筒に封入・封緘する際の誤封入を検出する誤封入検
出手段を備えた封入封緘装置と、高精度な誤封入検出操
作を達成する誤封入検出方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、省力化を目的として、銀行等のカ
ード使用明細書や株式等の取引明細書または種々のチラ
シ等の内容物を自動的に封筒に封入し、封緘する装置が
提案され、実用化されている。この自動封入封緘装置
は、前記したような封入・封緘作業の自動化を達成した
反面、機械的・人為的なミスにより同封物が正しく封筒
に封入されずに封緘されてしまうことがある。そこで、
この同封物の封入洩れや過剰封入（以下、「誤封入」と
いう）を検出する方式が種々提案されている。

【０００３】従来の誤封入検出する方式としては、例え
ば、あらかじめ基準となる封入・封緘封筒の厚さを測定
して基準厚さとして記憶させたティーチング基準値、ま
たは、あらかじめ帳票毎に設定した理論的厚さを同封内
容の組み合わせに応じて加算して得た理論基準値（以上
および以下において、これらを「パターンデータ」と総
称する）を設定し、このパターンデータと、実際に測定
された封筒の厚さとを比較して、これらの差の絶対値
が、最も薄い同封物の厚さ（以上および以下において、
「検出対象厚さ」という）に所定の閾値を乗じて得た所
定の許容値以下であるか否かを判別し、前記絶対値が前
記許容値より大きい場合には誤封入であると判断する、
という方式が挙げられる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記したよ
うな封筒の厚さの測定は、通常、以下のような手順で行
われる。すなわち、封緘ユニットに設けられた所定の載
置台の上に載置した封筒の高さを測定し、封筒を載置し
なかった場合の基準高さ（以上および以下において、
「ゼロ厚値」という）を別途測定し、前記封筒の高さか
ら前記ゼロ厚値を減ずることによって、封筒の厚さを測
定していた。

【０００５】しかし、前記ゼロ厚値は、測定センサや測
定機構の温度特性などによって、測定する際の温度環境
に応じて種々異なる値となることが多く、このゼロ厚値
の誤差によって封筒厚さの正確な値が得られないことが
あった。このような場合には、基準となるはずのパター
ンデータ（特にティーチング基準値）が正確に得られ
ず、かつ、実際に測定した封筒厚さも誤差のあるものと
なり、結果的に、十分に誤封入を検出することができな
い場合があった。

【０００６】また、前記検出対象厚さも、測定機構動作
のばらつきや、測定センサ・測定機構の温度特性、測定
される同封物や同封帳票の耐圧性、厚さばらつき、操作
ミスなどの種々の要因により、正確な値が測定できない
場合があった。このような場合には、誤封入を検出する
際の重要なパラメータである許容値が正確に得られない
ため、結果的に十分に誤封入を検出することができない
場合があった。

【０００７】ここで、前記したように許容値が正確に得
られないことに起因して誤封入が発生するという問題を
解決するために、閾値の値をあらかじめ小さく設定して
許容値を小さくすると、誤封入されていない正常な封筒
を誤封入された封筒と判断してしまうことが多く、この
ような場合、封入封緘作業が遅々として進まず、作業効
率が著しく劣るという問題があった。

【０００８】本発明の目的は、封入封緘装置において、
封筒に同封物や帳票を自動的に封入した際の封入洩れや
過剰封入（誤封入）をきわめて高精度に検出し、ひいて
は、封入封緘の際の作業効率を向上させることであり、
かつ、誤封入検出方法において、誤封入の検出精度を著
しく向上させることである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項１記載の封入封緘装置は、例えば図
１に示したように、前記誤封入検出手段が、封筒厚さ測
定手段と、最も薄い同封物の厚さ（検出対象厚さ）を測
定する検出対象厚さ測定手段と、測定した封筒と同一封
入内容の封筒厚さの基準値（パターンデータ）が記憶さ
れているか否かを検出する同一パターンデータ検出手段
と、測定した封筒厚さと前記基準値（パターンデータ）
との差の絶対値（第一絶対値）が、前記検出対象厚さに
所定の閾値を乗じて得た第一許容値以下であるか否かを
判別し、前記第一絶対値が前記第一許容値より大きい場
合に誤封入と判断する第一次封筒厚さ判別手段と、前記
第一絶対値が前記第一許容値以下である場合に、測定し
た封筒厚さと、この封筒と同一封入内容の封筒厚さであ
って一時的に記憶させたものの中で時間的に最も近い値
（一時記憶値）との差の絶対値（第二絶対値）が、前記
検出対象厚さに所定の閾値を乗じて得た第二許容値以下
であるか否かを判別し、前記第二絶対値が前記第二許容
値より大きい場合に誤封入と判断する第二次封筒厚さ判
別手段と、測定された封筒厚さを一時的に記憶させる一
時記憶手段とを備えることを特徴とする。

【００１０】請求項１記載の発明によれば、前記第一絶
対値が第一許容値以下であるかを判別し、かつ、一時記
憶値を仮のパターンデータとして有効に活用することに
より、第二次封筒厚さ判別手段によってきわめて高精度
に誤封入を検出することができる。

【００１１】請求項２記載の発明は、請求項１記載の封
入封緘装置において、測定された封筒と同一封入内容の
封筒厚さの基準値（同一パターン）が記憶されていない
場合に、複数のパターンデータを記憶させたパターンデ
ータ記憶手段と、前記パターンデータ記憶手段から、測
定された封筒と封入された帳票群と同封物群との組み合
わせが近いパターンデータを２つ以上検出し、検出され
たパターンデータより、測定された封筒の厚さに対する
基準値の代用となる期待値を算出する手段と、算出した
前記期待値と、測定された封筒厚さとの差の絶対値（第
三絶対値）が第三許容値以下であるか否かを判別し、前
記第三絶対値が前記第三許容値以下である場合にパター
ンデータを更新するパターンデータ更新手段とを備える
ことを特徴とする。

【００１２】請求項２記載の発明によれば、パターンデ
ータ更新手段を備えるので、同一の同封物・帳票を封入
しても温度環境などによって封筒厚さの測定値が安定し
ない場合にも、随時パターンデータを更新して最適なパ
ターンデータと実測値とを比較することができるので、
きわめて高精度に誤封入を検出することができる。

【００１３】請求項３記載の発明は、請求項１または２
記載の封入封緘装置において、前記封筒厚さ測定手段
が、封筒高さを測定する封筒高さ測定手段と、封筒を載
置しない状態の基準高さ（ゼロ厚値）を測定するゼロ厚
値測定手段と、前記ゼロ厚値を一時的に記憶させる一時
記憶手段とを備え、測定した封筒高さと前記ゼロ厚値と
から封筒厚さを測定するものであって、前記ゼロ厚値測
定時、測定されたゼロ厚値と一時的に記憶されたゼロ厚
値の中で時間的に最も近いゼロ厚値（一時記憶値）との
差の絶対値（第四絶対値）が、第四許容値以下であるか
否かを判別し、前記第四絶対値が前記第四許容値以下で
ある場合に前記ゼロ厚値を更新するゼロ厚値更新手段を
備えることを特徴とする。

【００１４】請求項３記載の発明によれば、作業環境変
化などによって測定センサや測定機構の温度特性が変わ
ることによって、ゼロ厚値が著しく変動した場合、変動
を見逃すことなく検出でき、変動後のゼロ厚値をそのま
ま使用することがなくなり、結果的に誤封入の検出精度
を向上させることができる。

【００１５】請求項４記載の発明は、請求項１、２また
は３記載の封入封緘装置において、前記検出対象厚さ測
定手段が、検出対象を複数枚供給する検出対象供給手段
と、供給した検出対象の厚さを１枚毎に測定する厚さ測
定手段と、前記厚さ測定手段によって得た複数の測定値
から検出対象１枚の厚さの平均値を算出する平均厚さ算
出手段とからなることを特徴とする。

【００１６】また、請求項５記載の発明は、請求項１、
２または３記載の封入封緘装置において、前記検出対象
厚さ測定手段が、複数枚重ねた状態の検出対象の厚さを
まとめて測定する厚さ測定手段と、前記厚さ測定手段に
よって得た測定値から検出対象１枚の厚さの平均値を算
出する平均厚さ算出手段とからなることを特徴とする。

【００１７】さらに、請求項６記載の発明は、請求項
１、２または３記載の封入封緘装置において、前記検出
対象厚さ測定手段が、供給した１枚の検出対象の厚さを
複数回測定する厚さ測定手段と、前記厚さ測定手段によ
って得た複数の測定値から検出対象１枚の厚さの平均値
を算出する平均厚さ算出手段と、からなることを特徴と
する。

【００１８】請求項４ないし６記載の発明によれば、検
出対象厚さをきわめて高精度に測定することができる。
このため、測定された前記検出対象厚さに所定の閾値を
乗じることによって、きわめて妥当な第一許容値または
第二許容値を算出することができ、この第一許容値およ
び第二許容値を、それぞれ第一次封筒厚さ判別手段と第
二次封筒厚さ判別手段に適用することにより、きわめて
高精度に誤封入を検出することができる。

【００１９】請求項７記載の発明は、例えば図３に示し
たように、封筒に帳票や同封物を封入した際の誤封入を
検出する方法であって、封筒厚さ測定工程Ｓ３と、検出
対象厚さを測定する検出対象厚さ測定工程Ｓ４と、測定
した封筒と同一封入内容の封筒厚さの基準値（パターン
データ）が記憶されているか否かを検出するパターンデ
ータ検出工程Ｓ１７と、前記基準値（パターンデータ）
と、測定した封筒厚さとの差の絶対値（第一絶対値）
が、前記検出対象厚さに所定の閾値を乗じて得た第一許
容値以下であるか否かを判別し、前記第一絶対値が前記
第一許容値より大きい場合に誤封入と判断する第一次封
筒厚さ判別工程Ｓ７と、前記第一絶対値が前記第一許容
値以下である場合に、測定した封筒厚さと、この封筒と
同一の同封内容を封入した封筒の厚さであって一時的に
記憶させたものの中で時間的に最も近い値（一時記憶
値）との差の絶対値（第二絶対値）が、第二許容値以下
であるか否かを判別し、前記第二絶対値が前記第二許容
値より大きい場合に誤封入と判断する第二次封筒厚さ判
別工程Ｓ８と、測定された封筒厚さを一時的に記憶させ
る一時記憶工程Ｓ９とを経ることを特徴とする。

【００２０】請求項７記載の発明によれば、第一絶対値
が第一許容値以下であるかを判別し、かつ、一時記憶値
を仮のパターンデータとして第二次封筒厚さ判別手段に
有効に活用することにより、きわめて高精度に誤封入を
検出することができる。

【００２１】請求項８記載の発明は、請求項７記載の誤
封入検出方法において、例えば図４に示したように、前
記パターンデータ検出工程において、測定された封筒と
同一のパターンデータが記憶されておらず検出されなか
った場合に、測定された封筒の封入された帳票群と同封
物群との組み合わせが近いパターンデータを検出する近
似パターンデータ検出工程Ｓ１１と、測定された封筒の
封入内容に近いパターンデータが２つ以上検出された場
合に、近似パターンデータより測定された封筒厚さに対
する基準値の代用となる期待値を算出する期待値算出工
程Ｓ１２と、算出された期待値と測定された封筒厚さと
の差の絶対値（第三絶対値）が、第三許容値以下である
か否かを判別する第三次封筒厚さ判別工程Ｓ１３と、前
記第三絶対値が前記第三許容値以下である場合に測定さ
れた封筒厚さをパターンデータとして更新するパターン
データ更新工程Ｓ１４とを前記一時記憶工程Ｓ９の前に
経ることを特徴とする。

【００２２】請求項８記載の発明によれば、測定された
封筒厚さをパターンデータ、一時記憶値として記憶させ
る前に、第三絶対値が第三許容値以下であるか否かを判
別するため、高精度のパターンデータ、一時記憶値の記
憶（更新）を行うことができ、結果的に誤封入の検出精
度を向上させることができる。

【００２３】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。

【００２４】まず、本発明の実施の形態に係る封入封緘
装置の構成図を図１に示す。この図１に示すように、封
入封緘装置は、連続帳票を切り出して単票とするカッタ
ユニット１と、切り出された単票を折りたたむ折りユニ
ット２と、同一宛先の帳票を一群にまとめるプールユニ
ット３と、このプールユニット３に蓄えられた帳票群を
下流ユニットに搬送するＭＪユニット４と、前記カッタ
ユニット１で読み取ったマークに対応したマークが印刷
された同封物群を供給してその厚さを測定し、この同封
物群を前記ＭＪユニット４から送られてくる帳票群に重
ねる同封物供給ユニット５と、これら帳票群および同封
物群を封筒に封入する封入ユニット６と、この封入ユニ
ット６で封入された封筒の厚さを測定し、誤封入の有無
を確認し、誤封入がなかった場合には封緘を行う封緘ユ
ニット７と、各ユニットを制御するコントロールユニッ
ト８とを備える。

【００２５】カッタユニット１、折りユニット２、プー
ルユニット３、ＭＪユニット４、同封物供給ユニット
５、封入ユニット６、封緘ユニット７には、各々、制御
ＣＰＵ１ａ〜７ａ、入力手段である操作スイッチ群１ｂ
〜７ｂ、操作ガイダンスなどを表示する操作パネル１ｃ
〜７ｃ、業務設定など各種データを記憶する記憶手段
（ＲＡＭ）１ｄ〜７ｄが備えられている。

【００２６】コントロールユニット８には、宛名情報な
どを入力する入力手段であるキーボード９と、操作ガイ
ダンスやシステム稼動状況などを表示する表示手段であ
るモニタ１０と、検出対象厚さ、ゼロ厚値、パターンデ
ータなどの各種データを記憶する記憶手段であるＲＡＭ
１１と、各種データを出力する出力装置１２とが接続さ
れている。

【００２７】封入封緘処理を行う際、業務開始時にＲＡ
Ｍ１１に記憶されている各種データが、コントロールユ
ニット８から、各ユニットの制御ＣＰＵ１ａ〜７ａを中
継して各ユニットに搭載されているＲＡＭ１ｄ〜７ｄに
ダウンロードされる。各ユニットは、ＲＡＭ１ｄ〜７ｄ
にダウンロードされたデータに基づいて封入封緘処理を
行う。また、業務終了時には、各ユニットのＲＡＭ１ｄ
〜７ｄに一時的に収集したデータが、制御ＣＰＵ１ａ〜
７ａおよびコントロールユニット８を中継してＲＡＭ１
１にアップロードされる。

【００２８】前記封緘ユニット７には、いずれも図示し
ていないが、所定の載置台に載置された封筒高さを測定
する封筒高さ測定手段と、ゼロ厚値を測定するゼロ厚値
測定手段とが備えられており、測定した前記封筒高さか
ら前記ゼロ厚値を減ずることによって、封筒厚さが測定
される。この算出は、封緘ユニット７の制御ＣＰＵ７ａ
で行われる。

【００２９】また、前記同封物供給ユニット５と封入ユ
ニット６と封緘ユニット７とにおいて、以下の手順で、
検出対象厚さの測定が行われる。まず、検出対象を、同
封物供給ユニット５にｎ枚挿入し、この検出対象を前記
封入ユニット６を経由して封緘ユニット７に１枚ずつ搬
送し、ｎ枚の検出対象の厚さを１枚ずつ測定した後、封
緘ユニット７の制御ＣＰＵ７ａで検出対象１枚の厚さを
算出する。すなわち、これら同封物供給ユニット５、封
入ユニット６、封緘ユニット７は、検出対象厚さ測定手
段である。

【００３０】前記記憶手段であるＲＡＭ１１には、複数
のパターンデータが記憶されている。図２にその一例を
示す。パターンデータは、業務開始時にＲＡＭ１１から
封緘ユニット７に搭載されているＲＡＭ７ｄにダウンロ
ードされ、封緘ユニット７における封筒厚さ判別に用い
られる。新たな帳票群と同封物群との組み合わせが封緘
ユニット７に搬入されると、新規のパターンデータとし
て厚さ測定が行われ、封緘ユニット７のＲＡＭ７ｄに一
時的に記憶された後、業務終了時にコントローラ８内の
ＲＡＭ１１にアップロードされる。

【００３１】なお、パターンデータ測定の際には、温度
環境がデータに与える影響を明らかにするために、ゼロ
厚値と、検出対象厚さとをそれぞれ測定している。図２
に、平成１３年（２００１年）の１月、２月、３月およ
び４月におけるこれらゼロ厚値および検出対象厚さの測
定値を記載した。

【００３２】封緘ユニット７の制御ＣＰＵ７ａは、前記
パターンデータと、測定した封筒厚さとの差の絶対値
（第一絶対値）が、前記検出対象厚さに所定の閾値を乗
じて得た第一許容値以下であるか否かを判別し、前記第
一絶対値が前記第一許容値より大きい場合には誤封入と
判断する。すなわち、封緘ユニット７の制御ＣＰＵ７ａ
は、第一次封筒厚さ判別手段である。また、封緘ユニッ
ト７の制御ＣＰＵ７ａは、測定した封筒厚さと一時記憶
値との差の絶対値（第二絶対値）が、第二許容値以下で
あるか否かを判別し、前記第二絶対値が前記第二許容値
より大きい場合に誤封入と判断する。すなわち、封緘ユ
ニット７の制御ＣＰＵ７ａは、第二次封筒厚さ判別手段
でもある。

【００３３】封緘ユニット７の制御ＣＰＵ７ａで測定さ
れた封筒厚さと一時記憶値との差の絶対値（第二絶対
値）が、前記第二許容値以下である場合、すなわち、誤
封入と判断されなかった場合には、封緘ユニット７のＲ
ＡＭ７ｄに、測定した封筒厚さを一時的に記憶させる。
すなわち、封緘ユニット７のＲＡＭ７ｄは一時記憶手段
でもある。

【００３４】また、本実施の形態に係る封入封緘装置に
おいては、封緘ユニット７のＲＡＭ７ｄに測定した封筒
厚さをパターンデータとして一時的に記憶させる前に、
パターンデータ確認を行うこともできる。すなわち、同
一パターンデータが記憶されていない場合に、封緘ユニ
ット７の制御ＣＰＵ７ａは、測定された封筒に封入され
た帳票群と同封物群との組み合わせが近いパターンデー
タ（近似パターンデータ）が２つ以上記憶されているか
否かを検出し、近似パターンデータが２つ以上記憶され
ている場合には、近似パターンデータから測定した封筒
厚さに対する基準値の代用となる期待値を算出し、この
期待値と、測定した封筒厚さとの差の絶対値（第三絶対
値）が第三許容値以下であるか否かを判別し、前記第三
絶対値が前記第三許容値以下である場合にパターンデー
タを更新する。すなわち、前記封緘ユニット７の制御Ｃ
ＰＵ７ａは、パターンデータ検出手段、近似パターンデ
ータ検出手段およびパターンデータ更新手段である。

【００３５】なお、封緘ユニット７の制御ＣＰＵ７ａ
は、前記第三絶対値が前記第三許容値より大きい場合に
は警告信号を発し、この警告信号は表示手段である操作
パネル７ｃに送られ、操作パネル７ｃはこの警告信号に
基づいて警告表示を行う。すなわち、操作パネル７ｃは
警告表示手段である。

【００３６】以下、本実施の形態に係る封入封緘装置を
用いて誤封入を検出する工程を、図３のフローチャート
を用いて説明する。

【００３７】まず、所定の帳票・同封物が封入された封
筒が、封緘ユニット７へと搬送され、この封緘ユニット
７で、封筒高さを測定する（Ｓ２）。この封筒高さの測
定値は封緘ユニット７の制御ＣＰＵ７ａに送信され、こ
の封筒高さの測定値と、あらかじめ測定して記憶させて
おいたゼロ厚値（Ｓ１）とによって、封筒の厚さが測定
される（Ｓ３）。

【００３８】ステップＳ３によって測定した封筒厚さ
は、ステップ１７によって同一パターンデータがすでに
記憶されているか否か判断され、記憶されている場合
は、封緘ユニット７のＲＡＭ７ｄにダウンロードされて
いる同一の帳票群および同封物群を封入した封筒のパタ
ーンデータと比較され、封緘ユニット７の制御ＣＰＵ７
ａで、これらの差の絶対値（第一絶対値）が算出され
る。この第一絶対値は、あらかじめ測定しておいた検出
対象厚さ（Ｓ４）に、所定の閾値ｍを乗じて算出した第
一許容値α（Ｓ５）と比較され、前記第一絶対値が前記
第一許容値α以下である場合には、誤封入がないものと
して、次のステップＳ８へ進む（Ｓ７）。また、前記第
一絶対値が前記第一許容値αより大きい場合には、誤封
入がなされたものと判断して、エラー終了する。このよ
うに第一絶対値と第一許容値αとを比較して誤封入を判
断する工程が、第一次封筒厚さ判別工程である。

【００３９】前記第一次封筒厚さ判別工程（Ｓ７）にお
いて誤封入がないものとされた場合、次のステップの第
二次封筒厚さ判別工程（Ｓ８）に移行する。この工程で
は、今回の封筒厚さの測定値と、一時記憶値との比較を
行う。すなわち、封緘ユニット７のＲＡＭ７ｄに記憶さ
せておいた一時記憶値を、いわば仮のパターンデータと
して使用し、この一時記憶値と、今回の封筒厚さの測定
値との差の絶対値（第二絶対値）を封緘ユニット７の制
御ＣＰＵ７ａで算出する。この第二絶対値は、前記検出
対象厚さに、所定の閾値ｍ’を乗じて算出した第二許容
値α’（Ｓ６）と比較され、前記第二絶対値が前記第二
許容値α’以下である場合には、誤封入がないものとし
て、次のステップＳ９へ進む（Ｓ８）。また、前記第二
絶対値が前記第二許容値α’より大きい場合には、誤封
入がなされたものと判断して、エラー終了する。

【００４０】前記第二次封筒厚さ判別工程（Ｓ８）にお
いて誤封入がないものとされた場合、必要に応じて（後
述の）パターンデータ更新工程（Ｓ１０）を経た後、次
のステップ（Ｓ９）に移行する。この工程では、今回の
封筒厚さの測定値を、封緘ユニット７のＲＡＭ７ｄに一
時的に記憶させ、次回の第二次封筒厚さ判別工程におい
て、いわば仮のパターンデータとして使用することとな
る。このステップ（Ｓ９）を経て、誤封入の検出作業を
終了する。

【００４１】以下、図３のフローチャートに示した工程
によって誤封入を検出する工程を具体的に説明する。パ
ターンデータの例としては、すでに図２で示した１０種
類のパターンデータを挙げ、この中から、誤封入を検出
したい封筒の内容物と同一の内容物を封入したパターン
データを選ぶ。例えば、誤封入を検出したい封筒の内容
物が、連帳１枚と同封物（３）１枚である場合には、図
２のパターンデータ「１５０」を設定する。

【００４２】また、検出対象厚さを「５０」とし、所定
の閾値ｍの値を０．４とすると、第一許容値αは、 α＝５０×０．４＝２０ と算出される。例えば、封筒厚さ算出工程であるステッ
プＳ３において測定した封筒厚さが「１６０（ｍｍ）」
である場合には、 第一絶対値＝｜１６０−１５０｜＝１０ と算出され、この第一絶対値と前記第一許容値αとを比
較すると、αよりも第一絶対値の方が小さいため、第一
次封筒厚さ判別工程（Ｓ７）から第二次封筒厚さ判別工
程（Ｓ８）へと移行することができる。

【００４３】第二次封筒厚さ判別工程（Ｓ８）において
は、所定の閾値ｍ’の値を０．３とし、第二許容値α’
は、 α’＝５０×０．３＝１５ と算出される。ここで、今回測定した封筒厚さ「１６０
（ｍｍ）」と同一の同封内容を封入した封筒の厚さであ
って一時的に記憶させたものの中で時間的に最も近い値
を「１５５（ｍｍ）」とすると、 第二絶対値＝｜１６０−１５５｜＝５ と算出され、この第二絶対値と前記第二許容値α’とを
比較すると、α’よりも第二絶対値の方が小さい。よっ
て、第二次封筒厚さ判別工程であるステップＳ８から一
時記憶工程であるステップＳ９へと移行することができ
る。

【００４４】一時記憶工程であるステップＳ９では、今
回測定された封筒厚さ「１６０（ｍｍ）が、封緘ユニッ
ト７のＲＡＭ７ｄに一時的に記憶され、次回の誤封入検
出操作の第二次封筒厚さ判別工程に使用される。

【００４５】ここで、同一パターンが記憶されていない
場合や、記憶されていても温度環境などによって封筒厚
さの算出値が安定しない場合には、随時パターンデータ
を更新する必要がある。以下、図４のフローチャートを
用いて、パターンデータ更新工程（Ｓ１０）を説明す
る。この際、図３に示した工程と同一の工程に関しては
説明を省略する。

【００４６】まず、測定した封筒と封入された帳票群と
同封物群との組み合わせが近いパターンデータ（近似パ
ターンデータ）が２つ以上記憶されているか否かを検出
する（Ｓ１１）。近似パターンデータが記憶されていな
い場合には、表示手段として機能する操作パネル７ｃに
警告表示を行い（Ｓ１５）、パターンデータを更新する
か否かをオペレータに判断させる。その結果、パターン
データをそのまま更新する（Ｓ１４）か、あるいはエラ
ー処理になる。

【００４７】一方、近似パターンデータが２つ以上記憶
されている場合には、記憶されている近似パターンデー
タから測定した封筒の厚さに対する基準値の代用となる
期待値を算出する（Ｓ１２）。次いで、この算出した期
待値と測定した封筒厚さとの差の絶対値（第三絶対値）
が、第三許容値以下であるか否かを判別する（Ｓ１
３）。第三絶対値が第三許容値以下である場合には、パ
ターンデータとして測定した封筒厚さを記憶する（Ｓ１
４）。そして、第三絶対値が第三許容値を超える場合に
は、前記した警告表示工程（Ｓ１５）、パターンデータ
更新判断工程（Ｓ１８）に進む。なお、第三許容値は、
第一許容値および第二許容値を算出する工程（Ｓ５、Ｓ
６）と同時に、あらかじめ算出しておく（Ｓ１６）。

【００４８】前記した具体例において、連帳１枚と同封
物（３）２枚が封入された封筒が搬送された場合を想定
する。この連帳１枚と同封物（３）２枚が封入された封
筒厚さの測定値が「２０２」であるとして、連帳１枚と
同封物（３）１枚の場合のパターンデータ「１５０」
（Ｐ１）と、連帳１枚と同封物（３）３枚の場合のパタ
ーンデータ「２５０」（Ｐ３）から、以下の計算式 Ｐ２の期待値＝（Ｐ１＋Ｐ３）／２ によって、パターンデータ（Ｐ２）の期待値を算出する
（Ｓ１２）。この算出したパターンデータ（Ｐ２）の期
待値「２００」と封筒厚さの測定値「２０２」との差の
絶対値「２」が前記第三許容値以下であるかを判別し、
この絶対値「２」が第三許容値以下である場合には、パ
ターンデータ（Ｐ２）を「２０２」に更新する。

【００４９】前記した具体例において、パターンデータ
「２５０」（Ｐ３）が記憶されておらず、連帳１枚と同
封物（３）５枚の場合のパターンデータ「３５０」（Ｐ
５）が記憶されている場合には、以下の計算式 Ｐ２の期待値＝Ｐ１＋（Ｐ５−Ｐ１）／４ によって、パターンデータ（Ｐ２）の期待値を算出する
こともできる（Ｓ１２）。

【００５０】なお、本実施の形態において使用したパタ
ーンデータは、前記したような実測値を用いるほか、公
知の手段、すなわち、特開平６―１３５４２２号公報に
記載されているように、封筒厚さ測定値信号、同封物厚
さ測定値信号、折数信号、枚数信号から算出した理論厚
さを用いることもできる。

【００５１】また、本実施の形態において、封筒厚さを
より高い信頼性で測定するために、ゼロ厚値をより高い
信頼性で随時更新することもできる。この場合、パター
ンデータ更新手段と同様の手段を採用することができ
る。

【００５２】すなわち、ゼロ厚値を一時的に記憶させる
一時記憶手段によって記憶された過去のゼロ厚値の中
で、最も時間的に近いゼロ厚値と、測定したゼロ厚値と
の差の絶対値（第四絶対値）が、第四許容値以下である
か否かを判別し、第四絶対値が第四許容値以下である場
合に、使用しているゼロ厚値ならびに一時記憶ゼロ厚値
を更新するゼロ厚値更新手段を設けることができる。

【００５３】前記ゼロ厚値更新手段によると、作業環境
の変動により測定センサや測定機構の温度特性が変わ
り、その結果ゼロ厚値が著しく変動した場合でも、各状
況においてより高い信頼性のもと更新されるので、封筒
厚さをより正確に測定することができる。

【００５４】また、本実施の形態において、検出対象厚
さの測定は、検出対象を同封物供給ユニット５にｎ枚挿
入し、この検出対象を前記封入ユニット６を経て封緘ユ
ニット７に１枚ずつ搬送し、これらｎ枚の検出対象の厚
さを１枚ずつ測定した後、これらｎ個の測定値から封緘
ユニット７の制御ＣＰＵ７ａで検出対象１枚の厚さを算
出するという手法を用いているが、以下のような手法で
検出対象の測定を行うこともできる。

【００５５】例えば、（１）人手によって、検出対象を
ｎ枚重ねた状態で封緘ユニット７に供給してこのｎ枚分
の厚さを測定し、この測定値から、封緘ユニット７の制
御ＣＰＵ７ａで検出対象１枚分の厚さの平均値を算出す
る手法や、（２）人手によって、１枚の検出対象を封緘
ユニット７に供給してこの１枚分の厚さを測定し、この
操作をｎ回繰り返し、これらｎ個の測定値から、封緘ユ
ニット７の制御ＣＰＵ７ａで、検出対象１枚分の厚さの
平均値を算出する手法などを挙げることができる。

【００５６】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、測定され
た封筒厚さとパターンデータとの差の絶対値（第一絶対
値）が、第一許容値以下であるかを判別し、かつ、一時
記憶値を仮のパターンデータとして第二次封筒厚さ判別
手段に有効に活用することにより、第二次判別手段によ
ってきわめて高精度に誤封入を検出することができる。

【００５７】このため、誤封入を十分に検出するととも
に、誤封入されていない正常な封筒を誤封入された封筒
と判断してしまうことが著しく少なくなり、結果的に、
封入封緘作業の作業効率を著しく向上させることができ
る。

【００５８】請求項２記載の発明によれば、パターンデ
ータを記憶更新する際、記憶しようとしている封筒厚さ
が、パターンデータの期待値と第三許容値以上に差がな
いかを判別することにより、パターンデータの更新がよ
り高い精度のもと行われ、結果的に、高精度に誤封入を
検出することができる。

【００５９】請求項３記載の発明によれば、作業環境の
変動で測定センサや測定機構の温度特性が変化し、ゼロ
厚値が著しく変動した場合でも、ゼロ厚値の更新を高い
信頼性で行うことができる。また、前記封筒厚さのみで
なく、パターンデータ（特にティーチング基準値）や検
出対象厚さをもきわめて正確に測定することができ、結
果的に、誤封入の検出精度を格段に向上させることがで
きる。

【００６０】請求項４ないし６記載の発明によれば、検
出対象厚さをきわめて高精度に測定することができる。
このため、前記検出対象厚さ測定手段によって測定され
た前記検出対象厚さに、所定の閾値を乗じることによっ
て、きわめて妥当な第一許容値または第二許容値を算出
することができ、この第一許容値および第二許容値を、
それぞれ第一次封筒厚さ判別手段と第二次封筒厚さ判別
手段に適用することにより、きわめて高精度に誤封入を
検出することができる。

【００６１】請求項７記載の発明によれば、算出された
封筒厚さとパターンデータとの差の絶対値（第一絶対
値）が、第一許容値以下であるかを判別し、かつ、一時
記憶値を仮のパターンデータとして第二次封筒厚さ判別
手段に有効に活用することにより、きわめて高精度に誤
封入を検出することができる。

【００６２】このため、誤封入を十分に検出するととも
に、誤封入されていない正常な封筒を誤封入された封筒
と判断してしまうことが著しく少なくなり、結果的に、
封入封緘作業の作業効率を著しく向上させることができ
る。

【００６３】請求項８記載の発明によれば、パターンデ
ータを記憶更新する際、記憶しようとしている封筒厚さ
が、パターンデータの期待値と第三許容値以上に差がな
いか否かを判別することによって、パターンデータの更
新がより高い精度で行われ、結果的に、高精度に誤封入
を検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る封入封緘装置のブロ
ック図である。

【図２】同封内容毎のパターンデータの例を示した図表
である。

【図３】本発明の実施の形態に係る誤封入検出方法を説
明するためのフローチャートである。

【図４】パターンデータ更新工程を導入した誤封入検出
方法を説明するためのフローチャートである。

【符号の説明】

１ カッタユニット １ａ 制御ＣＰＵ １ｂ 入力手段 １ｃ 操作パネル １ｄ ＲＡＭ ２ 折りユニット ２ａ 制御ＣＰＵ ２ｂ 入力手段 ２ｃ 操作パネル ２ｄ ＲＡＭ ３ プールユニット ３ａ 制御ＣＰＵ ３ｂ 入力手段 ３ｃ 操作パネル ３ｄ ＲＡＭ ４ ＭＪユニット ４ａ 制御ＣＰＵ ４ｂ 入力手段 ４ｃ 操作パネル ４ｄ ＲＡＭ ５ 同封物供給ユニット ５ａ 制御ＣＰＵ ５ｂ 入力手段 ５ｃ 操作パネル ５ｄ ＲＡＭ ６ 封入ユニット ６ａ 制御ＣＰＵ ６ｂ 入力手段 ６ｃ 操作パネル ６ｄ ＲＡＭ ７ 封緘ユニット ７ａ 制御ＣＰＵ ７ｂ 入力手段 ７ｃ 操作パネル ７ｄ ＲＡＭ ８ コントロールユニット ９ 入力手段 １０ 表示手段 １１ ＲＡＭ １２ 出力手段 Ｓ１ ゼロ厚値測定工程 Ｓ２ 封筒高さ測定工程 Ｓ３ 封筒厚さ測定工程 Ｓ４ 検出対象厚さ測定工程 Ｓ５ 第一次許容値算出工程 Ｓ６ 第二次許容値算出工程 Ｓ７ 第一次封筒厚さ判別工程 Ｓ８ 第二次封筒厚さ判別工程 Ｓ９ 一時記憶工程 Ｓ１０ パターンデータ更新工程 Ｓ１１ 近似パターンデータ検出工程 Ｓ１２ 期待値算出工程 Ｓ１３ 第三次封筒厚さ判別工程 Ｓ１４ パターンデータ更新工程 Ｓ１５ 警告表示工程 Ｓ１６ 第三次許容値算出工程 Ｓ１７ 同一パターンデータ検出工程 Ｓ１８ パターンデータ更新判断工程

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 麻生 文彦 東京都府中市府中町１丁目14番地の１ ジ ューキ電子工業株式会社内 (72)発明者 畠山 祥和 東京都府中市府中町１丁目14番地の１ ジ ューキ電子工業株式会社内 (72)発明者 岡田 信也 東京都府中市府中町１丁目14番地の１ ジ ューキ電子工業株式会社内 Ｆターム(参考） 2F069 AA42 AA46 BB40 DD15 GG72 GG74 NN26

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】封筒に帳票や同封物を封入した際の誤封入
   を検出する誤封入検出手段を備える封入封緘装置におい
   て、 前記誤封入検出手段が、 封筒厚さ測定手段と、 最も薄い同封物の厚さ（検出対象厚さ）を測定する検出
   対象厚さ測定手段と、 測定した封筒と同一封入内容の封筒厚さの基準値（パタ
   ーンデータ）が記憶されているか否かを検出する同一パ
   ターンデータ検出手段と、 測定した封筒厚さと前記基準値（パターンデータ）との
   差の絶対値（第一絶対値）が、前記検出対象厚さに所定
   の閾値を乗じて得た第一許容値以下であるか否かを判別
   し、前記第一絶対値が前記第一許容値より大きい場合に
   誤封入と判断する第一次封筒厚さ判別手段と、 前記第一絶対値が前記第一許容値以下である場合に、測
   定した封筒厚さと、この封筒と同一封入内容の封筒厚さ
   であって一時的に記憶させたものの中で時間的に最も近
   い値（一時記憶値）との差の絶対値（第二絶対値）が、
   前記検出対象厚さに所定の閾値を乗じて得た第二許容値
   以下であるか否かを判別し、前記第二絶対値が前記第二
   許容値より大きい場合に誤封入と判断する第二次封筒厚
   さ判別手段と、 測定された封筒厚さを一時的に記憶させる一時記憶手段
   とを備えることを特徴とする封入封緘装置。
2. 【請求項２】測定された封筒と同一封入内容の封筒厚さ
   の基準値（同一パターンデータ）が記憶されていない場
   合に、 複数のパターンデータを記憶させたパターンデータ記憶
   手段と、 前記パターンデータ記憶手段から、測定された封筒と封
   入された帳票群と同封物群との組み合わせが近いパター
   ンデータを２つ以上検出し、検出されたパターンデータ
   より、測定された封筒の厚さに対する基準値の代用とな
   る期待値を算出する手段と、 算出した前記期待値と、測定された封筒厚さとの差の絶
   対値（第三絶対値）が第三許容値以下であるか否かを判
   別し、前記第三絶対値が前記第三許容値以下である場合
   にパターンデータを更新するパターンデータ更新手段と
   を備えることを特徴とする請求項１記載の封入封緘装
   置。
3. 【請求項３】前記封筒厚さ測定手段が、 封筒高さを測定する封筒高さ測定手段と、 封筒を載置しない状態の基準高さ（ゼロ厚値）を測定す
   るゼロ厚値測定手段と、 前記ゼロ厚値を一時的に記憶させる一時記憶手段とを備
   え、測定した封筒高さと前記ゼロ厚値とから封筒厚さを
   測定するものであって、 前記ゼロ厚値測定時、測定されたゼロ厚値と一時的に記
   憶されたゼロ厚値の中で時間的に最も近いゼロ厚値（一
   時記憶値）との差の絶対値（第四絶対値）が、第四許容
   値以下であるか否かを判別し、前記第四絶対値が前記第
   四許容値以下である場合に前記ゼロ厚値を更新するゼロ
   厚値更新手段とを備えることを特徴とする請求項１また
   は２記載の封入封緘装置。
4. 【請求項４】前記検出対象厚さ測定手段が、 検出対象を複数枚供給する検出対象供給手段と、 供給した検出対象の厚みを１枚毎に測定する厚さ測定手
   段と、 前記厚さ測定手段によって得た複数の測定値から検出対
   象１枚の厚さの平均値を算出する平均厚さ算出手段とか
   らなることを特徴とする請求項１、２または３記載の封
   入封緘装置。
5. 【請求項５】前記検出対象厚さ測定手段が、 複数枚重ねた状態の検出対象の厚さをまとめて測定する
   厚さ測定手段と、 前記厚さ測定手段によって得た測定値から検出対象１枚
   の厚さの平均値を算出する平均厚さ算出手段とからなる
   ことを特徴とする請求項１、２または３記載の封入封緘
   装置。
6. 【請求項６】前記検出対象厚さ測定手段が、 供給した１枚の検出対象の厚さを複数回測定する厚さ測
   定手段と、 前記厚さ測定手段によって得た複数の測定値から検出対
   象１枚の厚さの平均値を算出する平均厚さ算出手段と、
   からなることを特徴とする請求項１、２または３記載の
   封入封緘装置。
7. 【請求項７】封筒に帳票や同封物を封入した際の誤封入
   を検出する方法であって、 封筒厚さ測定工程と、 検出対象厚さを測定する検出対象厚さ測定工程と、 測定した封筒と同一封入内容の封筒厚さの基準値（パタ
   ーンデータ）が記憶されているか否かを検出する同一パ
   ターンデータ検出工程と、 測定した封筒厚さと前記基準値（パターンデータ）との
   差の絶対値（第一絶対値）が、前記検出対象厚さに所定
   の閾値を乗じて得た第一許容値以下であるか否かを判別
   し、前記第一絶対値が前記第一許容値より大きい場合に
   誤封入と判断する第一次封筒厚さ判別工程と、 前記第一絶対値が前記第一許容値以下である場合に、測
   定した封筒厚さと、この封筒と同一の同封内容を封入し
   た封筒の厚さであって一時的に記憶させたものの中で時
   間的に最も近い値（一時記憶値）との差の絶対値（第二
   絶対値）が、第二許容値以下であるか否かを判別し、前
   記第二絶対値が前記第二許容値より大きい場合に誤封入
   と判断する第二次封筒厚さ判別工程と、 測定された封筒厚さを一時的に記憶させる一時記憶工程
   とを経ることを特徴とする誤封入検出方法。
8. 【請求項８】前記パターンデータ検出工程において、測
   定された封筒と同一のパターンデータが記憶されておら
   ず検出されなかった場合に、 測定された封筒の封入された帳票群と同封物群との組み
   合わせが近いパターンデータを検出する近似パターンデ
   ータ検出工程と、 測定された封筒の封入内容に近いパターンデータが２つ
   以上検出された場合に、近似パターンデータより測定さ
   れた封筒厚さに対する基準値の代用となる期待値を算出
   する期待値算出工程と、 算出された期待値と測定された封筒厚さとの差の絶対値
   （第三絶対値）が、第三許容値以下であるか否かを判別
   する第三次封筒厚さ判別工程と、 前記第三絶対値が前記第三許容値以下である場合に測定
   された封筒厚さをパターンデータとして更新するパター
   ンデータ更新工程とを前記一時記憶工程の前に経ること
   を特徴とする請求項７記載の誤封入検出方法。