JP2002509332A - 感熱センサによって変形可能な部材を備えたマイクロシステム - Google Patents
感熱センサによって変形可能な部材を備えたマイクロシステムInfo
- Publication number
- JP2002509332A JP2002509332A JP2000539496A JP2000539496A JP2002509332A JP 2002509332 A JP2002509332 A JP 2002509332A JP 2000539496 A JP2000539496 A JP 2000539496A JP 2000539496 A JP2000539496 A JP 2000539496A JP 2002509332 A JP2002509332 A JP 2002509332A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- deformable member
- substrate
- layer
- sacrificial material
- region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 63
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 34
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 23
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 71
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 37
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 14
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 9
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 9
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 5
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003362 replicative effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 description 9
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 7
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/0036—Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS]
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B3/00—Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
- B81B3/0018—Structures acting upon the moving or flexible element for transforming energy into mechanical movement or vice versa, i.e. actuators, sensors, generators
- B81B3/0024—Transducers for transforming thermal into mechanical energy or vice versa, e.g. thermal or bimorph actuators
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G5/00—Capacitors in which the capacitance is varied by mechanical means, e.g. by turning a shaft; Processes of their manufacture
- H01G5/16—Capacitors in which the capacitance is varied by mechanical means, e.g. by turning a shaft; Processes of their manufacture using variation of distance between electrodes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/01—Switches
- B81B2201/012—Switches characterised by the shape
- B81B2201/016—Switches characterised by the shape having a bridge fixed on two ends and connected to one or more dimples
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/03—Microengines and actuators
- B81B2201/032—Bimorph and unimorph actuators, e.g. piezo and thermo
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/0036—Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS]
- H01H2001/0042—Bistable switches, i.e. having two stable positions requiring only actuating energy for switching between them, e.g. with snap membrane or by permanent magnet
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H37/00—Thermally-actuated switches
- H01H2037/008—Micromechanical switches operated thermally
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/42—Piezoelectric device making
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49105—Switch making
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49128—Assembling formed circuit to base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49155—Manufacturing circuit on or in base
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Micromachines (AREA)
- Thermally Actuated Switches (AREA)
Abstract
Description
ムに関するものである。このようなマイクロシステムは、電気回路を開閉するた
めのマイクロスイッチに応用することができ、また、微小流体応用のためのマイ
クロバルブに応用することができる。
形態とされた部材を備えている。開状態と閉状態という2つの状態間を迅速にシ
フトさせるためには、大きな非線形特性が求められる。
したものであるように構成する必要がある。
クロセンサは、動作原理に基づいて3つの主要なカテゴリーに分類することがで
きる。第1の感熱センサは、1つまたはいくつかの構成部材の熱膨張を使用する
ものである。第2に、互いに異なる電荷を有した2つの部材間に生成される静電
力を使用する静電センサがある。最後に、磁界によって誘起される力を使用する
磁気センサがある。
うに思われる。これに対し、静電センサや磁気センサや圧電材料とか磁歪材料と
かを使用するセンサは、一般に、従来の微小機械加工プロセスにおいて使用する
ことが困難であり、特に、マイクロエレクトロニクスに適合した技術を使用する
プロセスにおいて使用することが困難である。加えて、感熱センサの場合には、
制御されたマイクロスイッチの使用を、熱マイクロスイッチへと一般化すること
(臨界温度に基づく状態変化)、あるいは、回路遮断器へと一般化すること(臨
界電流強度に基づく状態変化)、が容易である。
の技術においては、互いに異なる熱膨張係数を有した2つの材料層を使用する。
この場合、ユニット全体の温度が変化すると、バイメタルの反り(撓み)が引き
起こされる。温度上昇は、バイメタルをなす2つの層の一方内に電流を直接流す
ことによりまたはバイメタルをなす2つの層の一方上に形成された抵抗器内に電
流を直接流すことにより得られる。また、2つの層の一方がシリコン製である場
合には、例えば打込によって、温度上昇が得られる。
ーとされたバイメタルに対しての、すなわち、両端が何に対しても取り付けられ
ていないバイメタルに対しての、熱応力の影響による変形を示している。ここで
、バイメタルは、互いに異なる熱膨張係数を有した層1と層2とから構成されて
いる。一点鎖線は、熱応力がない場合のバイメタルの平均位置を示している。理
論的には、この場合の曲率半径ρは、一様である。層2の熱膨張係数が層1の熱
膨張係数よりも大きい場合には、曲率半径ρは、負である。
膨張の影響が湾曲方向に作用するような場所にバイメタルを配置することが好ま
しい。バイメタルの配置に基づいて、温度が上昇することによって、構造が一方
向にまたは他方向に曲がることとなる。
構造は、第1層3と第2層4という2つの部材から形成されている。一点鎖線は
、熱応力がない場合のバイメタルの平均位置を示している。層4の熱膨張係数の
方が層3の熱膨張係数よりも大きいことにより、膨張の影響によるバイメタル構
造の変形は、図2に示すような向きである。
イメタル構造は、両端が支持されている第1層5と、この第1層5の中央部分上
に配置されている第2層6と、を備えている。一点鎖線は、熱応力がない場合の
バイメタルの平均位置を示している。層6の熱膨張係数の方が層5の熱膨張係数
よりも大きいことにより、膨張の影響によるこのバイメタル構造の変形は、図3
に示すような向きである。
しかしながら、変形が周囲温度に依存しないような構造的配置とすることができ
る。
り現象、等)のために、状態変化(開状態から閉状態へのシフト)ができるだけ
迅速であるようなシステムとしておくことが好ましい。理想は、その温度を超え
ると機械的平衡状態が変化するような臨界温度を有するようにシステムを構成す
ることである。しかしながら、これは、バイメタルでは得ることができない。
合わせてなる、微小機械加工された熱スイッチが開示されている。バイメタルが
変形していないときには静電力は弱く、バイメタルは、静電力と構造の機械的復
元力との間の平衡状態にある。温度が上昇したときには、バイメタル効果は、機
械的復元力に十分に打ち勝ち得るほど静電力が大きくなるまで、センサの両電極
を互いに近接させる。これにより、構造の瞬時的シフトがトリガーされる。
加熱することである。図4は、支持された膜7を示している。この場合、一点鎖
線によって、膜7の休止状態が示されており、実線によって、膜7の変形状態が
示されている。熱膨張が構造を圧縮している。理論的には、それを超えると構造
が曲がるという臨界圧縮応力(よって、臨界温度)が存在する。IEEE review,
pages 188-192 (1994) における D.S.Popescu 氏他による“Buckled Membranes
for Microstructures” と題する文献には、圧縮状態の構造が記載されている。
熱膨張係数がαであるような材料から形成されて厚さがhとされかつ長さがLと
された梁の場合には、臨界圧縮応力は、次式によって与えられる。
、fの符号が確定できないことである。図4に示すように、膜7は、反対方向に
変形することができて、一点鎖線で示す位置をとることができる。式(2)は、
また、表面技術によって形成された構造においては、つまり、薄い層内において
は、大きな変形強度を得ることが困難であることを示している。
ある。これは、例えばシリコン酸化物膜を使用することによって得られる。この
システムは、2つの安定な状態を有している。
他方の状態へとシフトさせるためには、付加的な機械的作用が必要である。上記
のD.S.Popescu 氏他による文献においては、この付加的な機械的作用は、膜に印
加される圧力から得られる。
vol. 11, pages 233-255, 1925における TIMOSHENKO 氏による“Analysis of Mi-metal Thermostats”と題する文献において研究されている。この文献は、特
に、図5に示す構造の理論的研究を与えている。変形可能な構造は、バイメタル
から構成されている梁10であり、梁10の両端は、2つの固定支持体11,1
2によって保持されている。両端の保持は、並進移動に関しての自由度を禁止し
ているものの、図面に対して垂直な軸回りの回転に関しての自由度は可能として
残している。休止時には、すなわち、バイメタル効果による熱応力が起こらない
ような温度下においては、梁は、図5において実線で示すように曲率半径がρ0
であるような初期変形を示す。温度が上昇したときには、以下の効果が引き起こ
される。
、圧縮力を受ける。
とにより、図5に示すような梁の下方変形が起こる。
内部圧縮応力が誘起される。
度を超えると、梁のシフトが起こる。そして、梁は、図5において一点鎖線で示
すような位置をとる。
めの、温度と変形との間の非線形性、 −正に熱膨張効果だけを生成するようなセンサ、 −変形可能な膜のための堅固な支持を要するような薄膜製造技術の使用、 というような利点を有しているような熱膨張効果を使用して膜または梁を変形さ
せるためのマイクロセンサを、形成することができないような特性を示している
。
部材(梁または膜)を備えたマイクロシステムが提案される。この場合の初期的
な曲がりは、撓みのようなものではない。よって、変形可能部材は、構成が非平
面的である。この変形可能部材が支持されて、熱膨張に基づいて感熱センサに誘
起されたバイメタル効果や曲げ現象(撓み現象)によって、変形可能部材の変形
が引き起こされる。休止状態においては、支持は、変形可能部材に何らの力をも
及ぼさない。
機能状態と第2機能状態との間のシフトを起こすマイクロシステムに関するであ
って、感熱センサが、基板に対して両端が取り付けられた変形可能部材を備え、
この変形可能部材は、応力を有することなく基板の対向面に対して本来的な曲げ
を有した状態で、基板に対して取り付けられ、この本来的な曲げが、第1機能状
態を決定し、第2機能状態へのシフトが、温度変化の影響により感熱センサが変
形可能部材の変形を誘起することにより、すなわち、温度変化の影響により感熱
センサが変形可能部材に対して圧縮力を印加することによって本来的な曲げが解
消されて変形可能部材が本来的な曲げとは逆向きに曲がることにより、引き起こ
されるようになっているマイクロシステムに関するものである。感熱センサによ
る温度制御が解除されたときには、マイクロシステムは、第1機能状態へと復帰
する。
対応したものとすることができ、かつ、第2機能状態は、変形可能部材が基板の
対向面に対して最も近くに位置した状態に対応したものとすることができる。ま
た、これとは逆の関係とすることもできる。
スイッチに関するものであって、マイクロシステムには、基板の対向面上と変形
可能部材上とに、複数の電極が設けられ、これら電極は、第1機能状態および第
2機能状態の一方においては互いに導通状態とされかつ第1機能状態および第2
機能状態の他方においては互いに絶縁状態とされるようにして、設けられている
マイクロスイッチに関するものである。
バルブに関するものであって、マイクロシステムには、少なくとも1つの流体連
通オリフィスが設けられ、このオリフィスは、第1機能状態および第2機能状態
の一方においては閉塞されかつ第1機能状態および第2機能状態の他方において
は開放されるようにして、設けられているマイクロバルブに関するものである。
るものであって、 −変形可能部材を構成する層を、基板の対向面の上方でアーチ形状をなしている
部分以外の部分において対向面に対して連結されているようにして対向面上に適
切な材料から成膜することによって、変形可能部材を形成し、 −変形可能部材と協働してバイメタル効果を示す感熱センサを構成する手段を、
変形可能部材に密着させるようにして、成膜によって形成する、 ような方法に関するものである。
り、後の行程で犠牲材料製所定形状領域が除去されたときに変形可能部材の形状
が制限されるようにして、アーチ形状をなす部分を形成し、この場合、犠牲材料
製所定形状領域が除去され終わった本方法の最終時点において変形可能部材が基
板の対向面に対する応力を有することなく本来的な曲げを有しているという結果
が得られるように、犠牲材料製所定形状領域を構成する。
るような材料からなる所定領域を形成し、 −変形可能部材の所望アーチ形状に対応した所定形状領域を形成するように、所
定領域を部分的に除去し、 −基板の対向面上に所定形状領域の形状を複製した犠牲材料製所定形状領域だけ
が残るように、犠牲材料製層の一部と所定形状領域とをエッチングし、 −変形可能部材を構成することとなる層を成膜し、 −変形可能部材と協働して感熱センサを構成するための手段を成膜し、 −犠牲材料製所定形状領域を除去する。
ように感光性樹脂層をエッチングすることにより、所定領域を形成することがで
きる。
質的に対応した階段形状を有した犠牲材料製所定形状領域を形成し、 −変形可能部材を形成するための層を成膜し、 −変形可能部材と協働して感熱センサを構成するための手段を成膜し、 −犠牲材料製所定形状領域を除去する。
形状領域を残しておくべき変形可能部材設置場所以外の部分については基板面が
露出されるまで、犠牲材料製層を部分的にエッチングすることにより、犠牲材料
製所定形状領域が形成される。
牲材料製所定形状領域を形成し、 −変形可能部材を形成するために、変形可能部材の基をなす層のうちの犠牲材料
製所定形状領域を覆っている部分が本来的に応力を有しているようにして、変形
可能部材の基をなす層を成膜し、 −上記において成膜された変形可能部材の基をなす層上に、変形可能部材と協働
して感熱センサを構成する手段を形成することとなる層を、本方法の最終時点に
おいて変形可能部材が本来的な曲げを有しているという結果が得られるような所
定温度でもって、成膜し、 −変形可能部材と協働して感熱センサを構成するための手段を形成するために、
上記において成膜された層をエッチングし、 −犠牲材料製所定形状領域を除去する。
層を部分的にエッチングすることにより、犠牲材料製所定形状領域が形成される
。
めの開口を、変形可能部材に形成するというステップを行うことができる。
た以下の説明により、より明瞭に理解されるであろう。
な部材を備えたデバイスを示す図である。 図6A〜図6Hは、本発明による、感熱センサの効果によって変形可能な部材
を備えたマイクロシステムの製造方法の第1実施形態を示す図である。 図7A〜図7Hは、本発明による、感熱センサの効果によって変形可能な部材
を備えたマイクロシステムの製造方法の第2実施形態を示す図である。 図8A〜図8Hは、本発明による、感熱センサの効果によって変形可能な部材
を備えたマイクロシステムの製造方法の第3実施形態を示す図である。 図9は、本発明によるマイクロスイッチを示す断面図であって、この場合、マ
イクロスイッチは、開状態である。 図10は、本発明による他のマイクロスイッチを示す断面図であって、この場
合、マイクロスイッチは、閉状態である。 図11は、本発明によるさらに他のマイクロスイッチを示す断面図であって、
この場合、マイクロスイッチは、開状態である。 図12は、本発明によるマイクロバルブを示す断面図であって、この場合、マ
イクロバルブは、開状態である。
いる。よって、本来的に曲がった梁または膜の製造には、特別の注意を要する。
なる犠牲層と称される層上に、変形可能な部材を成膜する。Si3N4製とされる
変形可能部材(梁または膜)は、タングステン製犠牲層を使用して形成すること
ができる。
でありかつ力がかかっていない状態とされた変形可能部材(梁または膜)を備え
たマイクロシステムが形成される。まず最初に、例えばガラス製とされた基板2
0上に(例えばタングステン製とされた)犠牲層21が成膜され、その後、感光
性樹脂層22が成膜される(図6A)。樹脂層22をエッチングすることによっ
て、所望の変形可能部材によって決まる樹脂領域23が残される(図6B)。熱
処理によって、感光性樹脂の持ち去りが引き起こされる。これにより、所望の変
形可能部材がなすべきアーチ形状に対応した(相補的な)形状の所定形状領域2
4が形成される(図6C)。
プを示している。この状況では、犠牲層21は、樹脂の所定形状領域24によっ
てマスクされていない領域については、厚さの一部分がエッチングによって除去
されている。図6Eは、例えば反応性イオンエッチングによって、樹脂の所定形
状領域24が除去され終わった第2エッチングステップを示している。この状況
においては、犠牲層も同時にエッチングされており、図6Dにおける所定形状領
域24の形状が複製されている。このようにして、犠牲材料からなる所定形状領
域25が得られる。
部材の各製造ステップにおいて劣化を起こすことなく耐え得るものでありまた所
定に除去できるものである限りにおいては、有機材料(例えばポリイミド)を使
用して直接的に得ることができる。
Si3N4やシリコンといったような材料からなる層26によって被覆され、さら
に、例えばアルミニウムや金やニッケルといったような導電材料からなる層27
によって被覆される(図6F参照)。これら層26,27は、互いに異なる熱膨
張係数を有したものである必要があり、かつ、変形可能部材を自由化するという
後段のステップにおいて互いに適合性を有したものである必要がある。
画定される(図6G参照)。
所望されている形状(梁または膜)に依存して決められる。さらに、変形可能部
材に開口を形成した後に、犠牲材料製所定形状領域25が除去される。
変形可能部材29を備えたマイクロシステムが得られる。
平面的でありかつ力がかかっていない状態とされた変形可能部材を備えたマイク
ロシステムが形成される。まず最初に、基板30の表面上に、犠牲層31が成膜
される(図7A)。その後、犠牲層31を複数回にわたってエッチングする。こ
の場合、階段形状とされた犠牲材料製所定形状領域32が得られるように、各エ
ッチングステップにおいてそれぞれ適切なマスクが使用される。ここで、所定形
状領域32の形状は、変形可能部材として要望されているアーチ形状に実質的に
対応した形状である。犠牲材料製所定形状領域32の周囲においては、基板面が
露出されている(図7B)。その後、上記と同様に、変形可能部材および感熱セ
ンサを形成するために、層33,34が成膜される。
れる。同様に、層33が、変形可能部材として所望されている形状に依存して、
エッチングされる。さらに、変形可能部材に開口を形成した後に、犠牲材料製所
定形状領域32が除去される。
変形可能部材36を備えたマイクロシステムが得られる。使用される材料は、上
記に例示した材料と同じものとすることができる。
平面的でありかつプレストレスが与えられた変形可能部材を備えたマイクロシス
テムが形成される。この場合には、バイメタルをなす2つの部材の形成時に温度
差が調節される。
エッチングすることによって、将来的に変形可能部材が配置されることとなると
ころに一様厚さを有した領域41が形成される(図8A参照)。その後、例えば
SiO2 やSi3N4からなる層42が、犠牲層41を覆うようにしてかつ基板の
露出面を覆うようにして、成膜される。これにより、層42上には、犠牲材料製
領域41上において直線的でありかつ自然的に応力がかかったような部分43が
形成される(図8B参照)。次に、周囲温度よりも高温でもって、第2層44が
成膜される。このため、方法の最終時点において、変形可能部材の本来的な曲が
りが形成される。
れる(図8C参照)。同様に、層42が、変形可能部材として所望されている形
状に依存して、エッチングされる。さらに、変形可能部材に開口を形成した後に
、犠牲材料製所定形状領域41が除去される。
変形可能部材43を備えたマイクロシステムが得られる。層42内におけるプレ
ストレスの値は、バイメタル構造が駆動されるときにのみ曲げがもたらされるよ
うに、調節される必要がある。
うなSi3N4製の梁から形成することができる。梁の(室温における)初期曲が
りは、2μmとすることができる。バイメタル構造の残りの部分は、アルミニウ
ムから形成することができ、1μmという厚さとすることができる。このバイメ
タル構造は、100〜120℃の間の温度変化においてシフトする。得られる曲
げの大きさは、5μmの程度である。一方、0〜100℃の間の温度変化におい
ては、曲げの大きさは、1μmより小さなものである。
の応用例を示している。
は、例えば梁の形態とされた変形可能部材51と、2つの領域52と、から構成
されている。マイクロシステムの製造時に、電極53,54,55が製造された
。電極53,54は、犠牲材料の成膜前に予め形成された。電極55は、バイメ
タル層の成膜前に、犠牲材料上に形成された。
を構成することもできる。このマイクロスイッチは、基板60上に形成された。
バイメタルは、変形可能部材61(梁または膜)と、領域62と、から構成され
ている。電極63,64は、犠牲材料の成膜前に予め形成された。電極65は、
バイメタル層の成膜前に、犠牲材料上に形成された。
施形態を使用し、さらに、変形可能部材61の中央に領域62を形成することに
より、得られる。
状態への移行が起こることは、明らかである。図9においては、バイメタルのシ
フトにより、開状態から閉状態への移行が起こる。これにより、電極55が電極
53,54に対して当接する。図10のマイクロシステムは、これとは逆に機能
する。
クトを得るためには、図11に示すような変更を加えることが有利である。図1
1は、電極74,75が形成されている基板70上に形成された、常態において
開状態とされているマイクロスイッチを示している。変形可能部材71は、局所
的に薄いものとされた厚い層から形成されている。すなわち、中央部分72に形
成されている電極73のところにおいて厚くなっていることにより、中央部分7
2が剛直なものとされている。このことは、また、電極73によって誘起される
熱膨張の影響を制限する。
と電極74,75との間のコンタクト領域を局在化させることも有利である。こ
れは、犠牲層を平面化させるステップによって得ることができる。あるいは、図
11に示すように、犠牲層の光エッチングによって得られる突起(あるいは、イ
ンセット)76を形成することによって得ることができる。
1において符号80で示すような部分を形成することである。この部分80は、
変形可能部材に隣接して形成された第1層81を有している。この第1層81は
、高抵抗な層であって(例えば、TiNから形成されている)、加熱部材として
機能する。第1層81上に形成されている第2層82は、大きな熱膨張係数を有
したものであって、熱的役割および機械的役割を果たす。第2層82は、アルミ
ニウムから形成することができる。使用されている材料に応じて、保護材料から
なる薄い層83によって、層81,82を隔離することができる。
91が形成されている基板90を備えて構成されている。孔91は、基板90の
両面間にわたって貫通している。マイクロバルブは、変形可能部材92と1つま
たは複数の領域93とから構成されているバイメタルを備えている。変形可能部
材は、バイメタルに誘起された温度に応じて、貫通孔91を開閉する。
す図である。
す図である。
す図である。
す図である。
す図である。
形可能な部材を備えたマイクロシステムの製造方法の第1実施形態を示す図であ
る。
形可能な部材を備えたマイクロシステムの製造方法の第2実施形態を示す図であ
る。
形可能な部材を備えたマイクロシステムの製造方法の第3実施形態を示す図であ
る。
、マイクロスイッチは、開状態である。
の場合、マイクロスイッチは、閉状態である。
て、この場合、マイクロスイッチは、開状態である。
、マイクロバルブは、開状態である。
Claims (17)
- 【請求項1】 基板(50,60,70,90)上に形成され、バイメタル
効果を示す感熱センサによって第1機能状態と第2機能状態との間のシフトを起
こすマイクロシステムであって、 前記感熱センサが、前記基板に対して両端が取り付けられた変形可能部材(5
1,61,71,92)を備え、 該変形可能部材は、応力を有することなく前記基板の対向面に対して本来的な
曲げを有した状態で、前記基板に対して取り付けられ、 前記本来的な曲げが、前記第1機能状態を決定し、 前記第2機能状態へのシフトが、温度変化の影響により前記感熱センサが前記
変形可能部材(51,61,71,92)の変形を誘起することにより、すなわ
ち、温度変化の影響により前記感熱センサが前記変形可能部材に対して圧縮力を
印加することによって前記本来的な曲げが解消されて前記変形可能部材が前記本
来的な曲げとは逆向きに曲がることにより、引き起こされるようになっているこ
とを特徴とするマイクロシステム。 - 【請求項2】 請求項1記載のマイクロシステムにおいて、 前記第1機能状態は、前記変形可能部材(51)が前記基板(50)の前記対
向面から最も遠くに位置した状態に対応し、 前記第2機能状態は、前記変形可能部材(51)が前記基板(50)の前記対
向面に対して最も近くに位置した状態に対応していることを特徴とするマイクロ
システム。 - 【請求項3】 請求項1記載のマイクロシステムにおいて、 前記第1機能状態は、前記変形可能部材(61)が前記基板(60)の前記対
向面に対して最も近くに位置した状態に対応し、 前記第2機能状態は、前記変形可能部材(61)が前記基板(60)の前記対
向面から最も遠くに位置した状態に対応していることを特徴とするマイクロシス
テム。 - 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載のマイクロシステムにおいて
、 前記変形可能部材(71)が、周縁部よりも厚く形成された中央部(72)を
有していることを特徴とするマイクロシステム。 - 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載のマイクロシステムにおいて
、 前記基板(50,60,70,90)が、ガラスまたはシリコンから形成され
ていることを特徴とするマイクロシステム。 - 【請求項6】 請求項1〜5のいずれかに記載のマイクロシステムにおいて
、 前記変形可能部材(51,61,71,92)が、Si3N4またはSiO2 か
ら形成されていることを特徴とするマイクロシステム。 - 【請求項7】 請求項1〜5のいずれかに記載のマイクロシステムにおいて
、 前記バイメタル効果を示す前記感熱センサが、Si3N4またはSiO2 から形
成された層と、アルミニウム層と、を備えて構成されていることを特徴とするマ
イクロシステム。 - 【請求項8】 請求項1〜7のいずれかに記載されたマイクロシステムを備
えて構成されたマイクロスイッチであって、 前記マイクロシステムには、前記基板(50)の前記対向面上と前記変形可能
部材(51)上とに、複数の電極(53,54,55)が設けられ、 これら電極は、前記第1機能状態および前記第2機能状態の一方においては互
いに導通状態とされかつ前記第1機能状態および前記第2機能状態の他方におい
ては互いに絶縁状態とされるようにして、設けられていることを特徴とするマイ
クロスイッチ。 - 【請求項9】 請求項8記載のマイクロスイッチにおいて、 前記電極に、局所的コンタクト領域(76)が形成されていることを特徴とす
るマイクロスイッチ。 - 【請求項10】 請求項1〜7のいずれかに記載されたマイクロシステムを
備えて構成されたマイクロバルブであって、 前記マイクロシステムには、少なくとも1つの流体連通オリフィス(91)が
設けられ、 該オリフィスは、前記第1機能状態および前記第2機能状態の一方においては
閉塞されかつ前記第1機能状態および前記第2機能状態の他方においては開放さ
れるようにして、設けられていることを特徴とするマイクロバルブ。 - 【請求項11】 請求項1に記載されたマイクロシステムを製造するための
方法であって、 −前記変形可能部材を構成する層(26,33,42)を、前記基板(20,3
0,40)の前記対向面の上方でアーチ形状をなしている部分以外の部分におい
て前記対向面に対して連結されているようにして前記対向面上に適切な材料から
成膜することによって、前記変形可能部材(29,35,43)を形成し、 −前記変形可能部材(29,35,43)と協働してバイメタル効果を示す前記
感熱センサを構成する手段(28,35,45)を、前記変形可能部材(29,
35,43)に密着させるようにして、成膜によって形成する、 ことを特徴とする方法。 - 【請求項12】 請求項11記載の方法において、 前記基板(20,30,40)の前記対向面上に犠牲材料製所定形状領域(2
5,32,41)を予め成膜することにより、後の行程で該犠牲材料製所定形状
領域(25,32,41)が除去されたときに前記変形可能部材の形状が制限さ
れるようにして、アーチ形状をなす前記部分を形成し、 この場合、前記犠牲材料製所定形状領域(25,32,41)が除去され終わ
った本方法の最終時点において前記変形可能部材(29,35,43)が前記基
板(20,30,40)の前記対向面に対する応力を有することなく本来的な曲
げを有しているという結果が得られるように、前記犠牲材料製所定形状領域(2
5,32,41)を構成することを特徴とする方法。 - 【請求項13】 請求項12記載の方法において、 −前記基板(20)の前記対向面上に、犠牲材料製層(21)を成膜し、 −前記犠牲材料製層(21)上に、前記基板(20)および前記犠牲材料製層(
21)を変質させることなく除去され得るような材料からなる領域(23)を形
成し、 −前記変形可能部材の所望アーチ形状に対応した所定形状領域(24)を形成す
るように、前記領域(23)を部分的に除去し、 −前記基板の前記対向面上に前記所定形状領域(24)の形状を複製した前記犠
牲材料製所定形状領域(25)だけが残るように、前記犠牲材料製層(21)の
一部と前記所定形状領域(24)とをエッチングし、 −前記変形可能部材(29)を構成することとなる層(26)を成膜し、 −前記変形可能部材(29)と協働して前記感熱センサを構成するための前記手
段(28)を成膜し、 −前記犠牲材料製所定形状領域(25)を除去する、 ことを特徴とする方法。 - 【請求項14】 請求項13記載の方法において、 前記犠牲材料製層(21)上に感光性樹脂層(22)を成膜しその後前記領域
(23)だけが残るように前記感光性樹脂層をエッチングすることにより、前記
領域(23)を形成することを特徴とする方法。 - 【請求項15】 請求項12記載の方法において、 −前記基板(30)の前記対向面上に、前記変形可能部材として要望されている
前記アーチ形状に対して実質的に対応した階段形状を有した犠牲材料製所定形状
領域(32)を形成し、 −前記変形可能部材(36)を形成するための層(33)を成膜し、 −前記変形可能部材(36)と協働して前記感熱センサを構成するための前記手
段(35)を成膜し、 −前記犠牲材料製所定形状領域(32)を除去する、 ことを特徴とする方法。 - 【請求項16】 請求項12記載の方法において、 −前記基板(40)の前記対向面上に、前記変形可能部材(43)が形成される
べき位置に一様厚さとされた犠牲材料製所定形状領域(41)を形成し、 −前記変形可能部材(43)を形成するために、前記層(42)のうちの前記犠
牲材料製所定形状領域(41)を覆っている部分が本来的に応力を有しているよ
うにして、前記層(42)を成膜し、 −上記において成膜された層(42)上に、前記変形可能部材(43)と協働し
て前記感熱センサを構成する前記手段を形成することとなる層(44)を、本方
法の最終時点において前記変形可能部材(43)が本来的な曲げを有していると
いう結果が得られるような所定温度でもって、成膜し、 −前記変形可能部材と協働して前記感熱センサを構成するための前記手段(45
)を形成するために、上記において成膜された層(44)をエッチングし、 −前記犠牲材料製所定形状領域(41)を除去する、 ことを特徴とする方法。 - 【請求項17】 請求項13〜16のいずれかに記載の方法において、 前記犠牲材料製所定形状領域(29,36,43)の除去を可能とするための
開口を、前記変形可能部材(29,36,43)に形成するというステップを行
うことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9715931A FR2772512B1 (fr) | 1997-12-16 | 1997-12-16 | Microsysteme a element deformable sous l'effet d'un actionneur thermique |
FR97/15931 | 1997-12-16 | ||
PCT/FR1998/002719 WO1999031689A1 (fr) | 1997-12-16 | 1998-12-14 | Microsysteme a element deformable sous l'effet d'un actionneur thermique |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002509332A true JP2002509332A (ja) | 2002-03-26 |
Family
ID=9514668
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000539496A Pending JP2002509332A (ja) | 1997-12-16 | 1998-12-14 | 感熱センサによって変形可能な部材を備えたマイクロシステム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6812820B1 (ja) |
EP (1) | EP1040492B1 (ja) |
JP (1) | JP2002509332A (ja) |
DE (1) | DE69804352T2 (ja) |
FR (1) | FR2772512B1 (ja) |
WO (1) | WO1999031689A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100929601B1 (ko) | 2001-08-20 | 2009-12-03 | 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 | 스냅작동식 열 스위치 |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2772512B1 (fr) | 1997-12-16 | 2004-04-16 | Commissariat Energie Atomique | Microsysteme a element deformable sous l'effet d'un actionneur thermique |
US6367252B1 (en) * | 2000-07-05 | 2002-04-09 | Jds Uniphase Corporation | Microelectromechanical actuators including sinuous beam structures |
FR2818795B1 (fr) * | 2000-12-27 | 2003-12-05 | Commissariat Energie Atomique | Micro-dispositif a actionneur thermique |
EP1456699B1 (en) * | 2001-07-05 | 2008-12-31 | International Business Machines Corporation | Microsystem switches |
KR100421222B1 (ko) * | 2001-11-24 | 2004-03-02 | 삼성전자주식회사 | 저전압 구동의 마이크로 스위칭 소자 |
KR100485787B1 (ko) * | 2002-08-20 | 2005-04-28 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 스위치 |
AU2003901253A0 (en) * | 2003-03-17 | 2003-04-03 | Zip Holdings Pty Ltd | Temperature Sensing Devices, Systems and Methods |
FR2857153B1 (fr) * | 2003-07-01 | 2005-08-26 | Commissariat Energie Atomique | Micro-commutateur bistable a faible consommation. |
FR2865724A1 (fr) * | 2004-02-04 | 2005-08-05 | St Microelectronics Sa | Microsysteme electromecanique pouvant basculer entre deux positions stables |
FR2868591B1 (fr) * | 2004-04-06 | 2006-06-09 | Commissariat Energie Atomique | Microcommutateur a faible tension d'actionnement et faible consommation |
US7239064B1 (en) | 2004-10-15 | 2007-07-03 | Morgan Research Corporation | Resettable latching MEMS temperature sensor apparatus and method |
US7283030B2 (en) * | 2004-11-22 | 2007-10-16 | Eastman Kodak Company | Doubly-anchored thermal actuator having varying flexural rigidity |
US7665300B2 (en) * | 2005-03-11 | 2010-02-23 | Massachusetts Institute Of Technology | Thin, flexible actuator array to produce complex shapes and force distributions |
US7339454B1 (en) * | 2005-04-11 | 2008-03-04 | Sandia Corporation | Tensile-stressed microelectromechanical apparatus and microelectromechanical relay formed therefrom |
TW200728605A (en) * | 2006-01-20 | 2007-08-01 | Univ Tamkang | Thermo-buckled micro-actuator unit made of polymer with high thermal expansion coefficient |
JP2008039502A (ja) * | 2006-08-03 | 2008-02-21 | Alps Electric Co Ltd | 接触子およびその製造方法 |
US8206025B2 (en) * | 2007-08-07 | 2012-06-26 | International Business Machines Corporation | Microfluid mixer, methods of use and methods of manufacture thereof |
FR2930457B1 (fr) * | 2008-04-24 | 2010-06-25 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication de microcanaux reconfigurables |
US8779886B2 (en) * | 2009-11-30 | 2014-07-15 | General Electric Company | Switch structures |
US11001494B2 (en) * | 2011-06-23 | 2021-05-11 | Duality Reality Energy, LLC | Multi-zone microstructure spring |
US9085454B2 (en) * | 2011-07-05 | 2015-07-21 | Duality Reality Energy, LLC | Reduced stiffness micro-mechanical structure |
FR2982424B1 (fr) | 2011-11-09 | 2014-01-10 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de conversion d'energie thermique en energie electrique a efficacite amelioree |
US9076961B2 (en) | 2012-01-31 | 2015-07-07 | Duality Reality Energy, LLC | Energy harvesting with a micro-electro-machanical system (MEMS) |
WO2013119834A1 (en) | 2012-02-10 | 2013-08-15 | Northeastern University | Sealable microvalve that can be repeatedly opened and sealed |
WO2013122585A1 (en) * | 2012-02-15 | 2013-08-22 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for buidlling three-dimensional mems elements |
US9573802B2 (en) | 2012-02-15 | 2017-02-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for building three-dimensional MEMS elements |
US9511995B2 (en) | 2012-02-15 | 2016-12-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for building three-dimensional MEMS elements |
US9217755B2 (en) | 2012-02-15 | 2015-12-22 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for building three-dimensional MEMS elements |
FR2988912A1 (fr) | 2012-04-02 | 2013-10-04 | St Microelectronics Crolles 2 | Dispositif de recuperation d'energie |
FR2988911A1 (fr) * | 2012-04-02 | 2013-10-04 | St Microelectronics Crolles 2 | Plaque incurvee et son procede de fabrication |
KR102019098B1 (ko) * | 2013-04-19 | 2019-11-04 | 엘지이노텍 주식회사 | 멤스 소자 |
KR102085803B1 (ko) * | 2013-06-28 | 2020-04-14 | 엘지이노텍 주식회사 | 멤스 소자 및 카메라 모듈 |
KR102107584B1 (ko) * | 2013-08-29 | 2020-05-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 멤스 소자 |
DE102016112762B4 (de) | 2016-07-12 | 2019-07-11 | Infineon Technologies Ag | Schichtstruktur und Verfahren zum Herstellen einer Schichtstruktur |
EP3301425B1 (en) | 2016-09-30 | 2021-01-20 | Sciosense B.V. | Pressure sensor device and method for forming a pressure sensor device |
US11693295B2 (en) * | 2019-06-28 | 2023-07-04 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Auto-focusing device and method of fabricating the same |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2453757C3 (de) | 1974-11-13 | 1980-07-24 | Pierburg Gmbh & Co Kg, 4040 Neuss | Thermoventil für Brennkraftmaschinen |
US4027828A (en) * | 1976-06-14 | 1977-06-07 | Mackay Center Specialties, Inc. | Perforating machine |
JPH0670429B2 (ja) * | 1985-04-03 | 1994-09-07 | 時枝 直満 | 直線運動型アクチュエータ |
CA1340955C (en) | 1988-02-24 | 2000-04-11 | Michael Klaus | Stilbene derivatives |
DE3814150A1 (de) * | 1988-04-27 | 1989-11-09 | Draegerwerk Ag | Ventilanordnung aus mikrostrukturierten komponenten |
US5065978A (en) * | 1988-04-27 | 1991-11-19 | Dragerwerk Aktiengesellschaft | Valve arrangement of microstructured components |
DE3844669A1 (de) * | 1988-12-09 | 1990-06-13 | Fraunhofer Ges Forschung | Mikromechanische einrichtung |
US5490034A (en) * | 1989-01-13 | 1996-02-06 | Kopin Corporation | SOI actuators and microsensors |
US5061914A (en) * | 1989-06-27 | 1991-10-29 | Tini Alloy Company | Shape-memory alloy micro-actuator |
US5058856A (en) * | 1991-05-08 | 1991-10-22 | Hewlett-Packard Company | Thermally-actuated microminiature valve |
US5325880A (en) * | 1993-04-19 | 1994-07-05 | Tini Alloy Company | Shape memory alloy film actuated microvalve |
US5681024A (en) * | 1993-05-21 | 1997-10-28 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Forderung der angerwanden Forschung e.V. | Microvalve |
JPH06338244A (ja) * | 1993-05-28 | 1994-12-06 | Sharp Corp | マイクロリレー |
US5619061A (en) * | 1993-07-27 | 1997-04-08 | Texas Instruments Incorporated | Micromechanical microwave switching |
DE19516997C2 (de) * | 1994-05-10 | 1998-02-26 | Sharp Kk | Tintenstrahlkopf und Verfahren zu dessen Herstellung |
US5536963A (en) * | 1994-05-11 | 1996-07-16 | Regents Of The University Of Minnesota | Microdevice with ferroelectric for sensing or applying a force |
US5529279A (en) * | 1994-08-24 | 1996-06-25 | Hewlett-Packard Company | Thermal isolation structures for microactuators |
DE4437260C1 (de) * | 1994-10-18 | 1995-10-19 | Siemens Ag | Mikromechanisches Relais |
US5619177A (en) * | 1995-01-27 | 1997-04-08 | Mjb Company | Shape memory alloy microactuator having an electrostatic force and heating means |
FR2736205B1 (fr) * | 1995-06-30 | 1997-09-19 | Motorola Semiconducteurs | Dispositif detecteur a semiconducteur et son procede de formation |
JPH0982199A (ja) | 1995-09-11 | 1997-03-28 | Omron Corp | 継電器 |
US5638946A (en) * | 1996-01-11 | 1997-06-17 | Northeastern University | Micromechanical switch with insulated switch contact |
JPH09213183A (ja) | 1996-02-05 | 1997-08-15 | Eiko Takahashi | 小型サーモスタット |
US5796152A (en) * | 1997-01-24 | 1998-08-18 | Roxburgh Ltd. | Cantilevered microstructure |
FR2772512B1 (fr) | 1997-12-16 | 2004-04-16 | Commissariat Energie Atomique | Microsysteme a element deformable sous l'effet d'un actionneur thermique |
US6236300B1 (en) * | 1999-03-26 | 2001-05-22 | R. Sjhon Minners | Bistable micro-switch and method of manufacturing the same |
US6239685B1 (en) * | 1999-10-14 | 2001-05-29 | International Business Machines Corporation | Bistable micromechanical switches |
-
1997
- 1997-12-16 FR FR9715931A patent/FR2772512B1/fr not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-12-14 EP EP98959979A patent/EP1040492B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-14 JP JP2000539496A patent/JP2002509332A/ja active Pending
- 1998-12-14 DE DE69804352T patent/DE69804352T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-14 US US09/554,272 patent/US6812820B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-14 WO PCT/FR1998/002719 patent/WO1999031689A1/fr active IP Right Grant
-
2004
- 2004-09-24 US US10/949,800 patent/US7356913B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100929601B1 (ko) | 2001-08-20 | 2009-12-03 | 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 | 스냅작동식 열 스위치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1040492B1 (fr) | 2002-03-20 |
US7356913B2 (en) | 2008-04-15 |
FR2772512A1 (fr) | 1999-06-18 |
DE69804352D1 (de) | 2002-04-25 |
WO1999031689A1 (fr) | 1999-06-24 |
DE69804352T2 (de) | 2002-10-10 |
US6812820B1 (en) | 2004-11-02 |
US20050046541A1 (en) | 2005-03-03 |
FR2772512B1 (fr) | 2004-04-16 |
EP1040492A1 (fr) | 2000-10-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002509332A (ja) | 感熱センサによって変形可能な部材を備えたマイクロシステム | |
JP4130736B2 (ja) | 熱アクチュエータを備えたマイクロデバイス | |
US5955817A (en) | Thermal arched beam microelectromechanical switching array | |
US6275320B1 (en) | MEMS variable optical attenuator | |
US6299462B1 (en) | Self positioning, passive MEMS mirror structures | |
JP4068346B2 (ja) | エアギャップを有するマイクロマシン静電アクチュエータ | |
JP4704398B2 (ja) | マイクロ電気機械システムバルブ及びその製造方法 | |
US6507138B1 (en) | Very compact, high-stability electrostatic actuator featuring contact-free self-limiting displacement | |
JP5138144B2 (ja) | 双安定微小電子機械システムに基づくシステム、その作動方法及びその製造方法 | |
EP1121694B1 (en) | Microelectromechanical device having single crystalline components and metallic components and associated fabrication methods | |
US6367252B1 (en) | Microelectromechanical actuators including sinuous beam structures | |
WO2010061363A2 (en) | Electromechanical transducer device and method of forming a electromechanical transducer device | |
US6707121B2 (en) | Micro electro mechanical systems and devices | |
US20070247018A1 (en) | Electrostatic actuation method and electrostatic actuator with integral electrodes for microelectromechanical systems | |
JP2006310854A (ja) | 可変容量電気機械的マイクロキャパシタおよびそのようなマイクロキャパシタの製造方法 | |
EP1251099A2 (en) | Method of improving mechanical strength in micro electro mechanical systems and devices produced thereof | |
JP6818299B2 (ja) | 微細素子およびその製造方法 | |
Hsieh et al. | Fabrication of micro torsional actuator using surface plus bulk micromachining processes | |
Okamoto et al. | Large Deflection Electrostatic Spiral Actuator with Twisted-beams | |
JPH06131960A (ja) | マイクロアクチュエータ、マイクロアクチュエータの製造方法、電気リレーおよび電磁リレー |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070619 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20070919 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20070927 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080304 |