JP2002352447A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 構成部品の磨耗や温度変化によるトラバース
機構のメカ負荷の変動に影響されず、かつメカ負荷学習
動作による通常動作の遅れの発生を抑制した光ディスク
装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク装置の製造時からのトラバー
ス機構の累積シーク距離を記憶する不揮発メモリを備
え、トラバース移動時に、前記累積シーク距離に基づい
て設定した所定の値にトラバースサーボの制御条件を決
定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ピックアップを
用いて光ディスク媒体に情報を記録または再生する光デ
ィスク装置に関し、特に、トラバース機構のメカニカル
負荷（いわゆる機械的負荷）量の経時変化に対応して正
確に光ピックアップを移動させることのできる光ディス
ク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク装置は、民生用途、情報用途
を問わず広く利用されている。特に最近は、コンピュー
タの高性能化、扱うデータ容量の増大に伴い、非常に高
いデータの転送速度が光ディスク装置に対して要求され
るようになってきた。高い転送速度を実現するために
は、光ディスク媒体の回転数の高速化、データ処理回路
の高速化と並んで、光ピックアップをそれに対向する光
ディスク媒体のある半径上の所定の位置に移動させるシ
ーク（アクセス）動作の高速化と安定化が不可欠であ
る。

【０００３】一方、ノートブックパソコン等の可搬型機
器や、カーナビゲーションシステム等の車載型機器で
は、これらの機器の小型化及び薄型化が進んでいる。そ
のため、内蔵される光ディスク装置にシーク動作の安定
化のための機械的構成部を配置することが困難となって
いる。さらに、これらの機器の省電力化のため、光ディ
スク装置の駆動電圧の低電圧化が進んでおり、光ピック
アップを光ディスク媒体の半径方向に移動させ、シーク
動作を行うトラバース機構の駆動電圧のダイナミックレ
ンジが狭くなっている。そのことは、トラバース機構を
帰還制御して駆動するトラバースサーボの安定化に対し
ては不利な要素になっている。

【０００４】また、初期の使用時にはトラバース機構が
安定に動作していても、その後の長時間の使用による部
品の磨耗や温度変化により機械的負荷量が変動し、トラ
バース機構の制御条件に不適合が生じてシーク動作が不
安定になるなどの問題も発生していた。特開平１０−３
３４４７３号公報には、トラバース機構のシーク動作を
安定化させるトラバース制御回路を有する光ディスク装
置が提案されている。以下、特開平１０−３３４４７３
号公報に開示されている従来の光ディスク装置について
図１１のブロック図及び図１２のグラフを参照しつつ説
明する。

【０００５】図１１において、従来の光ディスク装置
は、光ディスク媒体１、光ディスク媒体１を回転させる
ためのスピンドルモータ２、光ディスク媒体１に対向し
て情報の読み出し、書き込むための光ピックアップ３、
光ピックアップ３を光ディスク媒体１の半径方向へ移動
させるためのトラバース機構４を有している。この従来
の光ディスク装置は、光ピックアップ３の出力から各種
の信号を生成するＲＦ回路５、ＲＦ回路５で生成された
各種の信号に基づきトラバース機構４、光ピックアップ
３の図示しない対物レンズアクチュエータ、及びスピン
ドルモータ２等の動作を制御するためのサーボ制御回路
６を有している。

【０００６】サーボ制御回路６は、トラバース機構４を
微小に移動させる外乱信号を送り、そのときに得られる
トラッキングエラー信号からトラバース機構４の機械的
負荷量を測定する、いわゆる機械的負荷学習処理を行う
ことによりトラバースサーボ回路のループゲインを決定
する。図１２の（ａ）は、従来の光ディスク装置が機械
的負荷学習処理を行うときにサーボ制御回路６が発生す
る外乱信号である駆動信号の時間的推移を示し、（ｂ）
は、そのときに得られるトラッキングエラー信号を示し
ている。まず、サーボ制御回路６は、光ピックアップ３
から出射される光ビーム（図示せず）の焦点位置を光デ
ィスク媒体１の記録面上に合焦させるいわゆるフォーカ
スサーボと、光ピックアップ３から出射される光ビーム
（図示せず）の焦点位置を光ディスク媒体１の情報トラ
ックの中央に位置決めするいわゆるトラッキングサーボ
をＯＮにする。

【０００７】この状態で、サーボ制御回路６は、図１２
の（ａ）に示すように、トラバース機構４の出力する電
圧を直線状に徐々に増加させ、起動電圧に達しトラバー
ス機構４が移動した時点ｔ０での印加電圧Ｖ０と、図１
２の（ｂ）に示すトラッキングエラー信号ＴＥ０とから
トラバース機構４の機械的負荷量のレベルを学習する。
そして、トラバースサーボ回路のループゲインを機械的
負荷量のレベルに応じた値に設定することでトラバース
サーボの制御条件を最適化することが可能となる。この
ようにトラバース機構４の起動時に機械的負荷学習処理
を実施することにより、トラバース機構４の機械的負荷
量の経時的な変動に影響されない安定したトラバース制
御が可能となる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光ディ
スク装置では、通常のシーク動作とは別にトラバース機
構４の機械的負荷学習処理が必要なため、例えば光ディ
スク媒体１の挿入時、スピンアップ処理の前に機械的負
荷学習処理を行った場合には、光ディスク媒体１のスピ
ンアップ完了までの時間が長くかかり、またスピンアッ
プ後の装置内部温度上昇による機械的負荷の変動には対
応できない。また、そのような不具合を避けるために、
装置の動作中に機械的負荷学習処理を行った場合には装
置の通常動作に遅れを生じる恐れがある。

【０００９】本発明は、長時間の使用に伴う部品の磨耗
や、温度変化によるトラバース機構の機械的負荷変動に
影響されることのない、かつスピンアップ時間が短く、
通常動作の遅れを最小限に抑えることのできる光ディス
ク装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク装置
は、光ディスク媒体を回転させるためのスピンドルモー
タ、前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報を記
録または再生するための光ピックアップ、光ピックアッ
プがトラックに対応する位置にないときに前記光ピック
アップで検出した信号からトラッキングエラー信号を生
成するエラー検出部、前記光ディスク媒体の半径方向へ
前記光ピックアップを移動（以下、シークという）させ
るトラバース駆動手段、光ディスク装置の製造時からの
前記トラバース駆動手段の累積移動距離（以下、累積シ
ーク距離という）を記憶するための不揮発メモリ、及び
前記不揮発メモリに記憶された累積シーク距離をもとに
決定される制御条件に基づき、前記トラバース駆動手段
を駆動するトラバースサーボ手段を有することを特徴と
する。

【００１１】後述する実施例で説明するように一般にト
ラバース機構の機械的負荷は累積シーク距離の増大にと
もない直線的に微減する特性を有している。それゆえ上
記の構成によれば、累積シーク距離をもとにその特性に
応じて決定される制御条件に基づきトラバース駆動手段
を駆動させることで、トラバース駆動手段の機械的負荷
学習処理が不要となる。その結果、光ディスク媒体のス
ピンアップ完了までの時間は短くできる。また、光ディ
スク装置の動作中に機械的負荷学習処理を行うことがな
いため、通常動作に遅れを生じることはない。

【００１２】本発明の他の観点による光ディスク装置
は、光ディスク媒体を回転させるためのスピンドルモー
タ、前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報を記
録または再生するための光ピックアップ、前記光ディス
ク媒体の半径方向へ前記光ピックアップをシークさせる
トラバース駆動手段、前記トラバース駆動手段の機械的
負荷量を測定し、前記機械的負荷量をもとに制御条件を
決定する機械的負荷学習処理を行い、かつ前記制御条件
に基づき前記トラバース駆動手段を駆動するトラバース
サーボ手段、及び直前の機械的負荷学習処理実施時から
の前記トラバース駆動手段の累積シーク距離を記憶する
ための不揮発メモリを有し、前記不揮発メモリに記憶さ
れた前記累積シーク距離が所定の値を超えたときにのみ
前記トラバースサーボ手段が前記機械的負荷学習処理を
行うようにしたことを特徴とする。

【００１３】この構成によれば、所定の累積シーク距離
ごとにトラバース駆動手段の機械的負荷学習処理を行う
ことで、トラバース駆動手段の機械的負荷学習処理の実
施回数を少なくすることができる。その結果、通常動作
においては、光ディスク媒体のスピンアップ完了までの
時間は短くできる。また、光ディスク装置の動作中に機
械的負荷学習処理を行うことがないため、通常動作に遅
れを生じることはない。

【００１４】本発明のさらに他の観点による光ディスク
装置は、光ディスク媒体を回転させるためのスピンドル
モータ、前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報
を記録または再生するための光ピックアップ、前記光デ
ィスク媒体の半径方向へ前記光ピックアップをシークさ
せるトラバース駆動手段、光ディスク装置の内部の温度
を検出する温度検出器、及び前記温度検出器にて検出し
た温度をもとに決定される制御条件に基づき、前記トラ
バース駆動手段を駆動するトラバースサーボ手段を有す
ることを特徴とする。

【００１５】後述する実施例で説明するように一般にト
ラバース機構の機械的負荷は装置の内部温度の上昇にと
もない直線的に増加する特性を有している。それゆえこ
の構成によれば、装置の内部温度の変化量をもとにその
特性に応じて決定される制御条件に基づきトラバース駆
動手段を駆動させることで、トラバース駆動手段の機械
的負荷学習処理が不要となる。その結果、光ディスク媒
体のスピンアップ完了までの時間は短くできる。また、
光ディスク装置の動作中に機械的負荷学習処理を行うこ
とがないため、通常動作に遅れを生じることはない。

【００１６】本発明のさらに他の観点による光ディスク
装置は、光ディスク媒体を回転させるためのスピンドル
モータ、前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報
を記録または再生するための光ピックアップ、前記光デ
ィスク媒体の半径方向へ前記光ピックアップをシークさ
せるトラバース駆動手段、前記トラバース駆動手段の機
械的負荷量を測定し、前記機械的負荷量をもとに制御条
件を決定する機械的負荷学習処理を行い、かつ前記制御
条件に基づき前記トラバース駆動手段を駆動するトラバ
ースサーボ手段、光ディスク装置の内部の温度を検出す
るための温度検出器、及び直前の機械的負荷学習処理実
施時からの光ディスク装置の内部の温度の変化量を記憶
するための不揮発メモリを有し、前記不揮発メモリに記
憶された前記温度の変化量が所定の値を超えたときにの
み前記トラバースサーボ手段が前記機械的負荷学習処理
を行うようにしたことを特徴とする。

【００１７】この構成によれば、温度の変化量が所定の
値を超えた時にのみトラバース駆動手段の機械的負荷学
習処理を行うことで、トラバース駆動手段の機械的負荷
学習処理の実施回数を少なくすることができる。その結
果、通常動作においては、光ディスク媒体のスピンアッ
プ完了までの時間は短くできる。また、光ディスク装置
の動作中に機械的負荷学習処理を行うことがないため、
通常動作に遅れを生じることはない。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の光ディスク装置の
好適な実施例について添付の図面を参照しつつ説明す
る。

【００１９】《実施例１》図１は、本発明の実施例１の
光ディスク装置の要部を示すブロック図であり、図２
は、その光ディスク装置におけるシーク動作時のトラバ
ース機構の移動を制御する時の処理手順を表すフローチ
ャートである。図１において、実施例１の光ディスク装
置は、光ディスク媒体１、光ディスク媒体１を回転させ
るためのスピンドルモータ２、光ディスク媒体に対向し
て情報の読み出し、書き込むための光ピックアップ３、
光ピックアップ３を光ディスク媒体１の半径方向へ移動
させるためのトラバース機構４を有している。またこの
光ディスク装置は、光ピックアップ３の出力から各種の
信号を生成するＲＦ回路５、ＲＦ回路５で生成された各
種のに基づきトラバース機構４、光ピックアップ３の図
示しない対物レンズアクチュエータ、スピンドルモータ
２等の動作を制御するためのサーボ制御部６を有してい
る。

【００２０】さらに実施例１の光ディスク装置は、その
装置の製造時からのトラバース機構４の累積シーク距離
を記憶するための不揮発メモリ７を備えている。サーボ
制御回路６は、不揮発メモリ７からトラバース機構４の
累積シーク距離を読み出し、その累積シーク距離に応じ
たトラバースサーボの制御条件としてトラバースサーボ
回路のループゲインを決定する。

【００２１】図３は、光ディスク装置におけるトラバー
ス機構の累積シーク距離と機械的負荷量との関係を実験
的に求めたグラフである。図３に示すように、光ディス
ク装置のトラバース機構は、使用時の初期においては、
トラバース機構を構成するネジやガイドなどの部品の摺
動部の潤滑が不充分であるため、機械的負荷量は非常に
大きい。トラバース機構のフルストローク移動を、数回
から数十回程度繰り返すことで摺動部に塗布したグリス
（図示せず）が馴染み、急激に機械的負荷量が小さくな
る（図３のａ領域；以下本発明では負荷激減領域と言
う）。その後は、機構部品の摺動部の磨耗が徐々に進
み、それに伴ってトラバース機構４の機械的負荷量は僅
かずつ小さくなる（図３のｂ領域；以下本発明では負荷
微減領域と言う）。そして、トラバース機構４の摺動部
の部品の磨耗寿命の直前になるとトラバース機構４の機
械的負荷量は急激に増大して故障に至る（図３のｃ領
域；以下本発明では寿命領域と言う）。

【００２２】一般に、光ディスク装置の製造後、出荷前
の調整工程や検査工程の間に図３のａ領域（負荷激減領
域）は終了し、製品出荷時にはｂ領域（負荷微減領域）
に入っていることが多い。したがって、トラバースサー
ボの制御条件を製品出荷時の負荷状態に応じて最適化し
た場合には、図３に示す負荷微減領域に入っているた
め、トラバース機構４の累積シーク距離の増大につれて
トラバースサーボの制御条件とトラバース機構４の実際
の負荷状態の間には徐々に不適合が生じてくる。この不
適合が小さいうちは問題ないが、不適合が大きくなって
くると、サーボが不適合を吸収できなくなり、シーク時
間の大幅な増加やシークエラーが発生し、正常なシーク
動作ができなくなる。

【００２３】したがって、従来の光ディスク装置では、
使用に先立って、機械的負荷学習処理を実施し、その結
果によりトラバースサーボの制御条件を決める必要があ
った。図３のａ領域、ｂ領域における機械的負荷減少直
線の傾き、及びａ領域が終了するまでのトラバース機構
の総移動距離は、いずれもトラバース機構の構成、使用
する部品の材料、グリスの特性などにより異なるが、量
産中の一つの機種の中では大きく異なることはない。そ
こで、図３のｂ領域の機械的負荷減少直線の傾きに相当
する定数を予め実験的に求めておき、トラバース移動時
には前記不揮発メモリ７から総シーク距離を読み出し、
該総シーク距離と前記定数によりトラバースサーボの制
御条件を決定することで、機械的負荷学習処理を行うこ
となく長時間使用による磨耗に伴う機械的負荷の変化に
対応したトラバース制御を行うことが可能となる。

【００２４】以下、実施例１の光ディスク装置における
サーボ制御部６の処理方法の手順について、図２を参照
しつつ説明する。図２に示すように、ステップＳ１０に
おいて、図１のサーボ制御部６がトラバース機構を移動
させようとする。まずステップＳ１１においてサーボ制
御部６は不揮発メモリ７から総シーク距離を読み出す。
そして、ステップＳ１２において、図３のｂ領域の機械
的負荷減少直線の傾きに相当する定数を予め実験的に求
めておき、サーボ制御部６が該総シーク距離と前記定数
によりトラバースサーボのループゲインを決定する。

【００２５】そして、ステップＳ１３において、そのル
ープゲインに基づきサーボ制御部６はトラバースサーボ
回路を動作させてトラバース機構をシークさせる。ステ
ップＳ１４において、サーボ制御部６はそのシーク動作
による移動距離を次ぎの移動時に備えて加算し、不揮発
メモリ７に書き込みステップＳ１５においてその処理を
終了する。ここで、トラバースサーボの制御条件とし
て、シーク時の移動速度の減速を開始するタイミングを
用いても、トラバース機構の動作の安定化に大きな効果
が得られる。

【００２６】《実施例２》図４は、実施例２の光ディス
ク装置における機械的負荷学習処理の処理手順を表すフ
ローチャートである。本実施例２の光ディスク装置の構
成は、実施例１の光ディスク装置と同様であるが、不揮
発メモリ７が前回の機械的負荷学習時からの累積シーク
距離を記憶し、累積シーク距離が一定量を超えたときに
のみトラバース機構４の機械的負荷を測定してトラバー
スサーボの制御条件を最適化する機械的負荷学習処理を
行う点で異なる。したがって、構成についての重複する
説明は省略し、メカ学習処理の処理手順について図４を
参照しつつ説明する。

【００２７】図４に示すように、ステップＳ２０におい
て、図１のサーボ制御部６がトラバース機構４を移動さ
せようとする。ステップＳ２１において、サーボ制御部
６は累積シーク距離を不揮発メモリ７から呼び出す。ス
テップＳ２２において、サーボ制御部６はその累積シー
ク距離が予め設定した値を超えているかどうかをチェッ
クする。累積シーク距離が設定値を超えていない場合
は、ステップＳ２３において、サーボ制御部６はメカ学
習処理を実施せずにこの処理を終了する。累積シーク距
離が設定値を超えている場合は、ステップＳ２４におい
て、サーボ制御部６は従来と同様にメカ学習処理を実施
する。そして、ステップＳ２５において、サーボ制御部
６は不揮発メモリ７の累積シーク距離をリセットし、ス
テップＳ２３において終了する。

【００２８】ここで、その設定値は以下のような基準に
基づいて設定される。上記実施例１で説明したのと同様
に、総シーク距離とトラバース機構４の機械的負荷との
間には図５に示すような関係がある。図５のカーブ及び
領域ａ領域ｂの説明は実施例１で図３において説明した
ものと同様なので図３についての説明を援用する。そし
て製品出荷時には、トラバース機構４の機械的負荷の変
動する領域は、図５のｂ領域（負荷微減領域）に入って
いる。今、トラバースサーボが吸収できるトラバース機
構４の機械的負荷変動の範囲を例えば図５に示すδＬと
する。この場合、前回の機械的負荷学習処理実施時から
の総シーク距離が図５のδｄに到達した時点で再度機械
的負荷学習処理を行えば、シークエラーなどの支障を起
こすことが回避できる。すなわち、予め設定した値とし
てこのδｄを用いる。このことにより、実施例２の光デ
ィスク装置は、機械的負荷学習処理を毎回実施する従来
のものに比べると機械的負荷学習処理の実施回数を大幅
に減らすことが可能となり、機械的負荷学習処理による
通常動作の遅れを最小限に抑えることが可能となる。

【００２９】《実施例３》図６は、本発明の実施例３の
光ディスク装置の要部を示すブロック図であり、図７
は、実施例３の光ディスク装置におけるトラバース移動
時の処理手順を表すフローチャートである。図６におい
て、実施例３の光ディスク装置の構成は、従来の光ディ
スク装置と類似しているが、その装置の内部の温度を検
出する温度検出器８を備えている。そして、トラバース
機構４の移動時には温度検出器８にて検出した温度条件
をもとにトラバースサーボの制御条件を決定する。

【００３０】図８は、光ディスク装置の内部温度とトラ
バース機構４の機械的負荷量との関係を実験的に求めた
グラフである。一般に、光ディスク装置のトラバース機
構４は、高温になるとグリス粘度が低下するため機械的
負荷量が小さくなり、逆に低温になると機械的負荷量が
大きくなる特性を有している。したがって、トラバース
サーボの制御条件を、常温（例えば２０℃）で最適化し
た場合、その装置の設置環境や装置の自己発熱による温
度変化により、トラバースサーボの制御条件と実際の機
械的負荷状態との間に不適合が生じてくる。不適合が小
さいうちは問題ないが、極端な低温環境や高温環境で装
置を使用した場合、サーボが不適合を吸収できなくな
り、シーク時間の大幅な増加やシークエラーが発生し、
正常なシーク動作ができなくなる。

【００３１】図８の直線の傾きは、トラバース機構４の
構成、使用する部品の材料、グリスの特性、モーターや
回路部品の温度特性などにより異なってくるが、量産中
の一つの機種の中で大きく異なることはない。そこで、
図８の直線の傾きに基づいて温度定数を予め実験的に求
めておく。そして、図７に示すように、図６のトラバー
ス機構４の移動時には、ステップＳ３０において、図６
のサーボ制御部６は条件適正化処理を開始する。まずス
テップＳ３１において、サーボ制御部６は温度検出器８
からその時点の温度情報を読み取る。次にステップＳ３
２において、サーボ制御部６はその温度情報と予め求め
た温度定数とによりトラバースサーボの制御条件として
トラバースサーボのループゲインを決定する。そしてス
テップＳ３３において、サーボ制御部６はその制御条件
に基づいてトラバース機構４を移動させ、ステップＳ３
４でその処理を終了する。

【００３２】このようにして、機械的負荷学習処理を行
うことなく、装置の内部温度の変化による機械的負荷の
変化に対応したトラバース制御を行うことが可能とな
る。なお、トラバースサーボの制御条件としてトラバー
ス機構の移動速度の減速を開始するタイミングを決定す
ることにより、同様にトラバース移動の安定化に大きな
効果が期待できる。

【００３３】《実施例４》図１０は、実施例４の光ディ
スク装置における機械的負荷学習処理の処理手順を表す
フローチャートである。本実施例４の光ディスク装置の
構成は、実施例３の光ディスク装置と同様であるが、不
揮発メモリ７が前回の機械的負荷学習時からの内部温度
の変化を記憶し、その変化量が一定量を超えたときにの
みトラバース機構４の機械的負荷を測定してトラバース
サーボの制御条件を最適化する機械的負荷学習処理を行
う点で異なる。したがって、構成についての重複する説
明は省略し、メカ学習処理の処理手順について図１０を
参照しつつ説明する。

【００３４】実施例３で説明した通り、光ディスク装置
の内部温度と図６のトラバース機構４の機械的負荷量と
は図９に示すような関係を有している。そこで、図９に
示すように、例えばトラバースサーボが吸収できるトラ
バース機構４の機械的負荷変動の範囲をδＬとすると、
それに対応する温度の変化量はδＴとなる。そこで以下
に説明する処理を実施する。

【００３５】すなわち、図１０に示すように、トラバー
ス機構の移動時には、ステップＳ４０において、図６の
サーボ制御部６は制御条件適正化処理を開始する。まず
ステップＳ４１において、サーボ制御部６は温度検出器
８からその時点までの温度の変化情報を読み取る。次に
ステップＳ４２において、サーボ制御部６はその温度の
変化量がδＴを超えているかどうかをチェックする。温
度の変化量がδＴを超えていない場合は、ステップＳ４
３でその処理を終了する。

【００３６】温度の変化量がδＴを超えている場合は、
ステップＳ４４において、図６のサーボ制御部６は機械
的負荷学習処理を実施する。そして、ステップＳ４５に
おいて、サーボ制御部６はその時点における光ディスク
装置の内部温度を不揮発メモリ７に記憶して、ステップ
Ｓ４３でその処理を終了する。

【００３７】このように、前回の機械的負荷学習処理実
施時点からの内部温度の変化量がδＴに到達した時点で
再度機械的負荷学習処理を行えば、シークエラーなどの
支障を起すことが回避できる。また、従来の光ディスク
装置に比べると機械的負荷学習処理の回数を大幅に減ら
すことが可能となり、機械的負荷学習処理による通常動
作の遅れを最小限に抑えることが可能となる。

【００３８】また、実施例３及び４の光ディスク装置で
は、装置内部の温度を検出するための専用の温度検出器
８を用いているが、光ピックアップに内蔵された半導体
レーザの光出力や発振波長などの温度特性補正のための
温度センサを共用しても同様な効果が得られる。このこ
とにより、専用の温度センサを追加する必要がなくな
り、コストアップなしに効果が実現できる。なお、実施
例１〜４の光ディスク装置では、累積シーク距離や内部
温度の変化を記憶するために専用の不揮発メモリ７を用
いているが、光ディスク装置の組み込みソフトウェア
（ファームウェア）を格納するためのメモリを共用して
も同様な効果が得られる。

【００３９】

【発明の効果】以上実施例で詳細に説明したように、本
発明の光ディスク装置によれば、長時間の使用による摺
動部の磨耗や装置内部の温度変化に伴うトラバースの機
械的負荷変動に対応した信頼性の高いトラバース動作を
実現することが可能となる。なお、予め設定した機械的
負荷量の変動範囲や温度変化量に基づき機械的負荷学習
処理を実施することにより、通常動作の遅れを最小限に
抑えた光ディスク装置を提供することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１の光ディスク装置におけるト
ラバース機構の構成を示すブロック図

【図２】実施例１の光ディスク装置におけるトラバース
移動時の処理手順を表すフローチャート

【図３】光ディスク装置の総シーク距離とトラバース機
構の機械的負荷の関係を実験的に求めたグラフ

【図４】実施例２の光ディスク装置におけるトラバース
移動時の処理手順を表すフローチャート

【図５】実施例２の光ディスク装置のトラバース機構の
機械的負荷微減領域における設定値決定を説明するグラ
フ

【図６】本発明の実施例３の光ディスク装置におけるト
ラバース機構の構成を示すブロック図

【図７】実施例３の光ディスク装置におけるトラバース
移動時の処理手順を表すフローチャート

【図８】光ディスク装置の内部温度とトラバース機構の
機械的負荷の関係を実験的に求めたグラフ

【図９】実施例４の光ディスク装置におけるトラバース
機構の機械的負荷学習実施に対する温度変化の設定値決
定を説明するグラフ

【図１０】実施例４の光ディスク装置におけるトラバー
ス移動時の処理手順を表すフローチャート

【図１１】従来の光ディスク装置におけるトラバース機
構の構成を示すブロック図

【図１２】従来の光ディスク装置が負荷学習処理を行う
ときにサーボ制御回路６が発生する外乱信号及びそのと
きに得られるトラッキングエラー信号を表すグラフ

【符号の説明】

１ 光ディスク媒体 ２ スピンドルモータ ３ 光ピックアップ ４ トラバース機構 ５ ＲＦ回路 ６ サーボ制御部 ７ 不揮発メモリ ８ 温度検出器 Ｓ１０〜Ｓ１５、Ｓ３０〜Ｓ３４ トラバースサーボ制
御条件決定のステップ Ｓ２０〜Ｓ２５、Ｓ４０〜Ｓ４５ メカ学習処理実施の
ステップ

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D088 NN03 NN13 NN27 PP02 RR06 TT05 UU01 5D117 AA02 CC06 FF24 FF27 FF29

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスク媒体を回転させるためのスピ
   ンドルモータ、 前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報を記録ま
   たは再生するための光ピックアップ、 前記光ディスク媒体の半径方向へ前記光ピックアップを
   移動（以下、シークという）させるトラバース駆動手
   段、 光ディスク装置の製造時からの前記トラバース駆動手段
   の累積移動距離（以下、累積シーク距離という）を記憶
   する不揮発メモリ、及び前記不揮発メモリに記憶された
   累積シーク距離をもとに決定される制御条件に基づき、
   前記トラバース駆動手段を駆動するトラバースサーボ手
   段を有することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 前記累積シーク距離をもとに決定される
   制御条件が、前記トラバースサーボ手段のループゲイン
   であることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装
   置。
3. 【請求項３】 前記累積シーク距離をもとに決定される
   制御条件が、前記シーク時の速度の減速を開始するタイ
   ミングであることを特徴とする請求項１に記載の光ディ
   スク装置。
4. 【請求項４】 光ディスク媒体を回転させるためのスピ
   ンドルモータ、 前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報を記録ま
   たは再生するための光ピックアップ、 前記光ディスク媒体の半径方向へ前記光ピックアップを
   シークさせるトラバース駆動手段、 前記トラバース駆動手段のメカニカル負荷（以下、機械
   的負荷という）量を測定し、前記機械的負荷量をもとに
   制御条件を決定する機械的負荷学習処理を行い、かつ前
   記制御条件に基づき前記トラバース駆動手段を駆動する
   トラバースサーボ手段、及び直前の機械的負荷学習処理
   実施時からの前記トラバース駆動手段の累積シーク距離
   を記憶するための不揮発メモリ、 を有し、 前記不揮発メモリに記憶された前記累積シーク距離が所
   定の値を超えたときにのみ前記トラバースサーボ手段が
   前記機械的負荷学習処理を行うようにしたことを特徴と
   する光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記トラバース駆動手段の機械的負荷量
   をもとに決定する制御条件が、前記トラバースサーボ手
   段のループゲインであることを特徴とする請求項４に記
   載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記トラバース駆動手段の機械的負荷量
   をもとに決定する制御条件が、前記シーク時の速度の減
   速を開始するタイミングであることを特徴とする請求項
   ４に記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 前記累積シーク距離を記憶するための不
   揮発メモリが、光ディスク装置の組み込みソフトウェア
   を格納するために搭載されているメモリを共用したこと
   を特徴とする請求項１ないし６のいずれか１つに記載の
   光ディスク装置。
8. 【請求項８】 光ディスク媒体を回転させるためのスピ
   ンドルモータ、 前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報を記録ま
   たは再生するための光ピックアップ、 前記光ディスク媒体の半径方向へ前記光ピックアップを
   シークさせるトラバース駆動手段、 光ディスク装置の内部の温度を検出するための温度検出
   器、及び前記温度検出器にて検出した温度をもとに決定
   される制御条件に基づき、前記トラバース駆動手段を駆
   動するトラバースサーボ手段を有することを特徴とする
   光ディスク装置。
9. 【請求項９】 前記温度をもとに決定される制御条件
   が、トラバースサーボ手段のループゲインであることを
   特徴とする請求項８に記載の光ディスク装置。
10. 【請求項１０】 前記温度をもとに決定される制御条件
    が、シーク時の速度の減速を開始するタイミングである
    ことを特徴とする請求項８に記載の光ディスク装置。
11. 【請求項１１】 光ディスク媒体を回転させるためのス
    ピンドルモータ、 前記光ディスク媒体に光ビームを照射して情報を記録ま
    たは再生するための光ピックアップ、 前記光ディスク媒体の半径方向へ前記光ピックアップを
    シークさせるトラバース駆動手段、 前記トラバース駆動手段の機械的負荷量を測定し、前記
    機械的負荷量をもとに制御条件を決定する機械的負荷学
    習処理を行い、かつ前記制御条件に基づき前記トラバー
    ス駆動手段を駆動するトラバースサーボ手段、 光ディスク装置の内部の温度を検出するための温度検出
    器、及び直前の機械的負荷学習処理実施時からの光ディ
    スク装置の内部の温度の変化量を記憶するための不揮発
    メモリ、 を有し、 前記不揮発メモリに記憶された前記温度の変化量が所定
    の値を超えたときにのみ、前記トラバースサーボ手段が
    前記機械的負荷学習処理を行うことを特徴とする光ディ
    スク装置。
12. 【請求項１２】 前記機械的負荷学習処理により決定す
    る制御条件が、トラバースサーボ手段のループゲインで
    あることを特徴とする請求項１１に記載の光ディスク装
    置。
13. 【請求項１３】 前記機械的負荷学習処理により決定す
    る制御条件が、シーク時の速度の減速を開始するタイミ
    ングであることを特徴とする請求項１１に記載の光ディ
    スク装置。
14. 【請求項１４】 前記温度検出器として、光ピックアッ
    プに内蔵された温度センサを共用することを特徴とする
    請求項８ないし１３のいずれか１つに記載の光ディスク
    装置。