JP2002335068A - 電子部品の位置矯正方法、および電子部品の位置矯正装置 - Google Patents
電子部品の位置矯正方法、および電子部品の位置矯正装置Info
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- JP2002335068A JP2002335068A JP2001140463A JP2001140463A JP2002335068A JP 2002335068 A JP2002335068 A JP 2002335068A JP 2001140463 A JP2001140463 A JP 2001140463A JP 2001140463 A JP2001140463 A JP 2001140463A JP 2002335068 A JP2002335068 A JP 2002335068A
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- electronic component
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 導電性接着剤を用いた電子部品の実装におい
て、電子部品の搭載位置ズレを簡易な方法で矯正可能な
位置矯正方法、およびその位置矯正装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】 電子部品の主要外郭稜21と略相似形の
凹形状15を形成した位置ズレ矯正ジグ14で電子部品
の位置ズレを矯正しつつ、電子部品を加圧する。これに
より、従来提供されている導電性接着剤を用いた電子部
品の実装技術に比べて、搭載位置精度と接続信頼性を大
幅に向上させることができる。
て、電子部品の搭載位置ズレを簡易な方法で矯正可能な
位置矯正方法、およびその位置矯正装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】 電子部品の主要外郭稜21と略相似形の
凹形状15を形成した位置ズレ矯正ジグ14で電子部品
の位置ズレを矯正しつつ、電子部品を加圧する。これに
より、従来提供されている導電性接着剤を用いた電子部
品の実装技術に比べて、搭載位置精度と接続信頼性を大
幅に向上させることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の実装分
野において、導電性接着剤を介して電子部品を回路基板
の所定位置に実装する位置矯正方法、およびその位置矯
正装置に関するものであって、特には電子部品を回路基
板に搭載した時に搭載位置ズレが発生した場合におい
て、導電性接着剤が未硬化の状態で該搭載位置を所定の
正規位置に矯正する方法と、その装置に関するものであ
る。
野において、導電性接着剤を介して電子部品を回路基板
の所定位置に実装する位置矯正方法、およびその位置矯
正装置に関するものであって、特には電子部品を回路基
板に搭載した時に搭載位置ズレが発生した場合におい
て、導電性接着剤が未硬化の状態で該搭載位置を所定の
正規位置に矯正する方法と、その装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】最近の環境問題への認識の高まりから、
エレクトロニクス実装の分野では、はんだ合金中の鉛に
対する規制が行われようとしており、電子部品の実装に
鉛を用いない接合技術の確立が急務となっている。鉛フ
リー実装技術としては、主として鉛フリーはんだおよび
導電性接着剤が挙げられるが、接合部の柔軟性、実装温
度の低温化等のメリットが期待される導電性接着剤は、
より注目されている。
エレクトロニクス実装の分野では、はんだ合金中の鉛に
対する規制が行われようとしており、電子部品の実装に
鉛を用いない接合技術の確立が急務となっている。鉛フ
リー実装技術としては、主として鉛フリーはんだおよび
導電性接着剤が挙げられるが、接合部の柔軟性、実装温
度の低温化等のメリットが期待される導電性接着剤は、
より注目されている。
【0003】従来の導電性接着剤は一般的に、樹脂系接
着成分中に導電フィラを分散させたものであり、導電性
接着剤を介在して電子部品の接続端子と回路基板の接続
端子とを接続した後に樹脂を硬化させ、導電フィラ同士
の接触により接続部分の導通を確保し、一方、樹脂系接
着剤によって電子部品を回路基板に接着固定するもので
ある。従って、接続部分が樹脂で接着されているため、
熱や外力による変形に対して柔軟に対応でき、また接続
部分が合金であるはんだと比較して、接続部分に亀裂が
発生しにくいというメリットを有していることから、は
んだの代替材料として期待されている。
着成分中に導電フィラを分散させたものであり、導電性
接着剤を介在して電子部品の接続端子と回路基板の接続
端子とを接続した後に樹脂を硬化させ、導電フィラ同士
の接触により接続部分の導通を確保し、一方、樹脂系接
着剤によって電子部品を回路基板に接着固定するもので
ある。従って、接続部分が樹脂で接着されているため、
熱や外力による変形に対して柔軟に対応でき、また接続
部分が合金であるはんだと比較して、接続部分に亀裂が
発生しにくいというメリットを有していることから、は
んだの代替材料として期待されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら導電性接
着剤を用いた従来の電子部品の実装技術では、電子部品
の搭載位置ズレが発生した場合には正規の搭載位置に矯
正することが不可能であった。その理由は、ハンダを用
いた電子部品の実装技術ではハンダのセルフアライメン
ト作用によってハンダ溶融時に搭載位置の矯正が自動的
になされるが、導電性接着剤は前記セルフアライメント
作用がなく、またその他の搭載位置の矯正作用も備えて
いないためである。
着剤を用いた従来の電子部品の実装技術では、電子部品
の搭載位置ズレが発生した場合には正規の搭載位置に矯
正することが不可能であった。その理由は、ハンダを用
いた電子部品の実装技術ではハンダのセルフアライメン
ト作用によってハンダ溶融時に搭載位置の矯正が自動的
になされるが、導電性接着剤は前記セルフアライメント
作用がなく、またその他の搭載位置の矯正作用も備えて
いないためである。
【0005】また、導電性接着剤は電子部品のリペアが
困難なため、たとえば上記のような電子部品の搭載位置
ズレのまま導電性接着剤を硬化してしまうと、リペアに
よる搭載位置の矯正も困難である。
困難なため、たとえば上記のような電子部品の搭載位置
ズレのまま導電性接着剤を硬化してしまうと、リペアに
よる搭載位置の矯正も困難である。
【0006】従って、電子部品の実装工程において、導
電性接着剤をいったん硬化してしまうと電子部品の搭載
位置ズレが発生していても搭載位置の矯正が不可能であ
る。このため、電子部品の位置ズレによって基板電極と
の接触面積が減少し、接続抵抗が増大することにより耐
久性が悪化するため、実際のアプリケーションとして用
いるには支障を来す場合があった。
電性接着剤をいったん硬化してしまうと電子部品の搭載
位置ズレが発生していても搭載位置の矯正が不可能であ
る。このため、電子部品の位置ズレによって基板電極と
の接触面積が減少し、接続抵抗が増大することにより耐
久性が悪化するため、実際のアプリケーションとして用
いるには支障を来す場合があった。
【0007】以上記したように従来の導電性接着剤を介
した電子部品の実装技術では、電子部品の搭載位置ズレ
を矯正することが不可能であった。
した電子部品の実装技術では、電子部品の搭載位置ズレ
を矯正することが不可能であった。
【0008】そこで本発明は、導電性接着剤を介して電
子部品を回路基板の所定位置に搭載する実装技術であっ
て、電子部品の搭載位置ズレを簡易な方法で矯正可能な
位置矯正方法、およびその位置矯正装置を提供すること
を目的とする。
子部品を回路基板の所定位置に搭載する実装技術であっ
て、電子部品の搭載位置ズレを簡易な方法で矯正可能な
位置矯正方法、およびその位置矯正装置を提供すること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、導電性接着剤が未硬化の状態で電子部品の
位置ズレを矯正する技術である。さらには、前記位置ズ
レ矯正と電子部品の加圧を同時に実施することを特徴と
している。
に本発明は、導電性接着剤が未硬化の状態で電子部品の
位置ズレを矯正する技術である。さらには、前記位置ズ
レ矯正と電子部品の加圧を同時に実施することを特徴と
している。
【0010】具体的には、電子部品を導電性接着剤を介
して回路基板の所定位置に実装する電子部品の位置矯正
方法であって、回路基板の所定位置に導電性接着剤を形
成する導電性接着剤形成工程と、各電子部品を所定位置
に搭載する搭載工程と、前記搭載された電子部品の前記
搭載位置を、凹形状を有する矯正手段により矯正する矯
正工程と、前記導電性接着剤を硬化させる硬化工程とを
含むものとしたものである。
して回路基板の所定位置に実装する電子部品の位置矯正
方法であって、回路基板の所定位置に導電性接着剤を形
成する導電性接着剤形成工程と、各電子部品を所定位置
に搭載する搭載工程と、前記搭載された電子部品の前記
搭載位置を、凹形状を有する矯正手段により矯正する矯
正工程と、前記導電性接着剤を硬化させる硬化工程とを
含むものとしたものである。
【0011】また、本発明の電子部品の位置矯正方法に
おいては、前記搭載された電子部品の前記搭載位置を矯
正する矯正工程の後に、前記搭載された電子部品を上部
から加圧する加圧工程を含むものとしたものである。
おいては、前記搭載された電子部品の前記搭載位置を矯
正する矯正工程の後に、前記搭載された電子部品を上部
から加圧する加圧工程を含むものとしたものである。
【0012】また、以上の電子部品の位置矯正方法を具
現化する形態として特に好適な位置矯正装置は、電子部
品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実装す
るための位置決めジグを具備した電子部品の位置矯正装
置であって、前記ジグの主要形状は回路基板上に搭載さ
れる電子部品の各所定位置に対向して形成された凹形状
となっており、前記凹形状の各凹内面は、対応する各電
子部品の外郭とほぼ相似形状で、各電子部品より若干大
きい寸法の形状であって、前記ジグで上部から電子部品
を矯正することにより、電子部品に対し、搭載位置の位
置決めが実施されるものとしたものである。
現化する形態として特に好適な位置矯正装置は、電子部
品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実装す
るための位置決めジグを具備した電子部品の位置矯正装
置であって、前記ジグの主要形状は回路基板上に搭載さ
れる電子部品の各所定位置に対向して形成された凹形状
となっており、前記凹形状の各凹内面は、対応する各電
子部品の外郭とほぼ相似形状で、各電子部品より若干大
きい寸法の形状であって、前記ジグで上部から電子部品
を矯正することにより、電子部品に対し、搭載位置の位
置決めが実施されるものとしたものである。
【0013】ただし、電子部品を回路基板の所定位置に
たとえば印刷法などによって形成した導電性接着剤上に
搭載した後、搭載位置ズレを検出し、導電性接着剤の硬
化前にその搭載位置を手直しすることも考えられるが、
この場合には別の不具合が発生しやすくなる。具体的に
は、接続信頼性に関する不具合であって、特に電子部品
の電極がたとえばハンダ、スズなどの酸化しやす金属で
構成されている場合、高温高湿環境での接続抵抗が増加
する、などである。その理由は、前記形成された導電性
接着剤上に電子部品を実装機で搭載した直後は、電子部
品のたとえばハンダメッキ電極表面の表面に形成されて
いる酸化層を貫通して導電性接着剤中の導電性フィラー
と前記電極金属とが金属と金属との接触をしており、こ
のため前記のような高温高湿環境中でも接続抵抗は比較
的安定している。しかしながら、前記のように搭載位置
をただ単に手直しした場合は前記の初期での導電性フィ
ラーと前記電極金属とが金属と金属との接触が離れて、
良好な接続状態ではなくなる場合もありうる。その結
果、高温高湿環境中で電極表面の酸化層が成長し、接続
抵抗が増加しやすくなり、耐久性を悪化させることとな
る。
たとえば印刷法などによって形成した導電性接着剤上に
搭載した後、搭載位置ズレを検出し、導電性接着剤の硬
化前にその搭載位置を手直しすることも考えられるが、
この場合には別の不具合が発生しやすくなる。具体的に
は、接続信頼性に関する不具合であって、特に電子部品
の電極がたとえばハンダ、スズなどの酸化しやす金属で
構成されている場合、高温高湿環境での接続抵抗が増加
する、などである。その理由は、前記形成された導電性
接着剤上に電子部品を実装機で搭載した直後は、電子部
品のたとえばハンダメッキ電極表面の表面に形成されて
いる酸化層を貫通して導電性接着剤中の導電性フィラー
と前記電極金属とが金属と金属との接触をしており、こ
のため前記のような高温高湿環境中でも接続抵抗は比較
的安定している。しかしながら、前記のように搭載位置
をただ単に手直しした場合は前記の初期での導電性フィ
ラーと前記電極金属とが金属と金属との接触が離れて、
良好な接続状態ではなくなる場合もありうる。その結
果、高温高湿環境中で電極表面の酸化層が成長し、接続
抵抗が増加しやすくなり、耐久性を悪化させることとな
る。
【0014】このため、本願発明では上記したように、
電子部品の搭載位置を矯正した後に該電子部品を上部か
ら加圧するものであり、この加圧によって前記課題の対
策は可能となるものである。
電子部品の搭載位置を矯正した後に該電子部品を上部か
ら加圧するものであり、この加圧によって前記課題の対
策は可能となるものである。
【0015】以上記した本願発明の電子部品の実装技術
によれば、従来の導電性接着剤を用いた電子部品の実装
技術において課題となっていた電子部品の位置ズレ矯正
問題が解決できることとなり、はんだ接続と同程度の実
装精度が実現できる。
によれば、従来の導電性接着剤を用いた電子部品の実装
技術において課題となっていた電子部品の位置ズレ矯正
問題が解決できることとなり、はんだ接続と同程度の実
装精度が実現できる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【0017】図1は本発明の各実施の形態で製造された
電子部品実装基板の全体構成の概略図であり、回路基板
1の所定基板電極2上には導電性接着剤3を介してチッ
プ抵抗4、チップコンデンサ5、モールドトランジスタ
6、電解コンデンサ7、メモリICパッケージのSOP
8、およびマイコンICパッケージのQFP9が接続さ
れた完成状態を示している。
電子部品実装基板の全体構成の概略図であり、回路基板
1の所定基板電極2上には導電性接着剤3を介してチッ
プ抵抗4、チップコンデンサ5、モールドトランジスタ
6、電解コンデンサ7、メモリICパッケージのSOP
8、およびマイコンICパッケージのQFP9が接続さ
れた完成状態を示している。
【0018】回路基板1は厚み0.5mmのFR−4基
板で、基板電極2は厚み12μmの銅箔パターン表面
に、メッキで厚み1μmのNiを形成し、さらにNi表
面にメッキで厚み約0.05μmのAuを形成したもの
を用いた。導電性接着剤3はナミックス(株)製のXN
H9626−7を用いて、厚み0.1mmのステンレス
製メタル印刷版で、前記回路基板の所定位置に印刷形成
した。チップ抵抗4、およびチップコンデンサ5は32
16サイズであって、端子電極は今回実施の形態では、
ハンダメッキ、スズメッキ、および金メッキしたものを
用いた。モールドトランジスタ6、電解コンデンサ7、
SOP8、およびQFP9 の端子電極も前記と同様に
ハンダメッキ、スズメッキ、および金メッキしたものを
用いた。ただし、前記各端子電極のメッキは、同一基板
上には同じメッキをした各電子部品を実装して図1に示
す電子部品実装基板を製造した。
板で、基板電極2は厚み12μmの銅箔パターン表面
に、メッキで厚み1μmのNiを形成し、さらにNi表
面にメッキで厚み約0.05μmのAuを形成したもの
を用いた。導電性接着剤3はナミックス(株)製のXN
H9626−7を用いて、厚み0.1mmのステンレス
製メタル印刷版で、前記回路基板の所定位置に印刷形成
した。チップ抵抗4、およびチップコンデンサ5は32
16サイズであって、端子電極は今回実施の形態では、
ハンダメッキ、スズメッキ、および金メッキしたものを
用いた。モールドトランジスタ6、電解コンデンサ7、
SOP8、およびQFP9 の端子電極も前記と同様に
ハンダメッキ、スズメッキ、および金メッキしたものを
用いた。ただし、前記各端子電極のメッキは、同一基板
上には同じメッキをした各電子部品を実装して図1に示
す電子部品実装基板を製造した。
【0019】電子部品の搭載位置ズレは本実施例では、
部品マウンターで特定の3216チップ抵抗4を搭載す
る時の搭載プログラムを調整し、故意に搭載位置ズレを
発生させた。かかる後に前記搭載位置ズレを各発明の実
施の形態によって矯正した。前記故意に発生させた搭載
位置ズレは、以下に記す各実施の形態にもよるが、基板
のX−Y方向(mm)と、回転方向( ゜)である。
部品マウンターで特定の3216チップ抵抗4を搭載す
る時の搭載プログラムを調整し、故意に搭載位置ズレを
発生させた。かかる後に前記搭載位置ズレを各発明の実
施の形態によって矯正した。前記故意に発生させた搭載
位置ズレは、以下に記す各実施の形態にもよるが、基板
のX−Y方向(mm)と、回転方向( ゜)である。
【0020】以下に、上記のように製造された電子部品
実装基板10の評価試験について記す。前記実装基板1
0は、回路基板チェッカーのコンタクトプローブを回路
基板のチェックランド電極に当接し、該コンタクトラン
ドでの出力電圧を測定することによって実装基板の動作
試験を行った。入力はDC5.5vを前記実装基板の入
力ランド電極に印加した。従来のハンダ実装で本回路を
形成した場合の定格出力は5.3±0.2vである。
実装基板10の評価試験について記す。前記実装基板1
0は、回路基板チェッカーのコンタクトプローブを回路
基板のチェックランド電極に当接し、該コンタクトラン
ドでの出力電圧を測定することによって実装基板の動作
試験を行った。入力はDC5.5vを前記実装基板の入
力ランド電極に印加した。従来のハンダ実装で本回路を
形成した場合の定格出力は5.3±0.2vである。
【0021】この動作試験では、実装基板の製造初期
と、信頼性試験後において行った。前記信頼性試験は、
85℃/85%RHの高温高湿試験で時間が1000時
間、−40℃/85℃の温度雰囲気に各30分放置して
1サイクルとする気相ヒートサイクル試験を1000サ
イクル行うものである。
と、信頼性試験後において行った。前記信頼性試験は、
85℃/85%RHの高温高湿試験で時間が1000時
間、−40℃/85℃の温度雰囲気に各30分放置して
1サイクルとする気相ヒートサイクル試験を1000サ
イクル行うものである。
【0022】試験結果の良否判定は、前記出力電圧が前
記のように5.3±0.2vとした。評価した電子部品
実装基板は各実施の形態ともに10セットづつである。 (実施の形態1)本発明の請求項1に記載の発明は、電
子部品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実
装する電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所
定位置に導電性接着剤を形成する導電性接着剤形成工程
と、各電子部品を所定位置に搭載する搭載工程と、前記
電子部品の搭載位置を検査する検査工程と、前記検出の
結果において搭載位置が所定位置からズレている電子部
品に対し、位置ズレを矯正させる位置矯正工程と、前記
導電性接着剤を硬化させる硬化工程とを含むものとした
ものであり、導電性接着剤を用いた電子部品の実装にお
いて、簡易な方法で電子部品の位置ズレを矯正できると
いう作用を有する。これにより、電子部品の実装位置精
度が格段に向上し、かつ接続信頼性、および耐久性も著
しく高い電子部品実装基板を提供することができる。
記のように5.3±0.2vとした。評価した電子部品
実装基板は各実施の形態ともに10セットづつである。 (実施の形態1)本発明の請求項1に記載の発明は、電
子部品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実
装する電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所
定位置に導電性接着剤を形成する導電性接着剤形成工程
と、各電子部品を所定位置に搭載する搭載工程と、前記
電子部品の搭載位置を検査する検査工程と、前記検出の
結果において搭載位置が所定位置からズレている電子部
品に対し、位置ズレを矯正させる位置矯正工程と、前記
導電性接着剤を硬化させる硬化工程とを含むものとした
ものであり、導電性接着剤を用いた電子部品の実装にお
いて、簡易な方法で電子部品の位置ズレを矯正できると
いう作用を有する。これにより、電子部品の実装位置精
度が格段に向上し、かつ接続信頼性、および耐久性も著
しく高い電子部品実装基板を提供することができる。
【0023】本発明の請求項5に記載の発明は、請求項
1ないし請求項4のいずれかに記載の電子部品の位置矯
正方法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズ
レていた場合の位置矯正工程の後に、導電性接着剤を該
当位置に補充する工程も含むものとしたものであり、導
電性接着剤を該当位置に補充しない場合と比べて、接着
性が向上するという作用を有する。これにより、導電性
接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上さ
せ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部
品実装基板を提供することができる。
1ないし請求項4のいずれかに記載の電子部品の位置矯
正方法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズ
レていた場合の位置矯正工程の後に、導電性接着剤を該
当位置に補充する工程も含むものとしたものであり、導
電性接着剤を該当位置に補充しない場合と比べて、接着
性が向上するという作用を有する。これにより、導電性
接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上さ
せ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部
品実装基板を提供することができる。
【0024】図2は、図1に示した電子部品実装基板を
本願発明の請求項1、および請求項5に基づく発明で製
造する場合の一実施の形態の電子部品の位置矯正方法の
概略図を示すものである。図2(a)、図2(b)、図
2(c)、図2(d)、図2(e)および図2(f)
は、本実施の形態による電子部品の位置矯正方法の工程
例を示す図である。
本願発明の請求項1、および請求項5に基づく発明で製
造する場合の一実施の形態の電子部品の位置矯正方法の
概略図を示すものである。図2(a)、図2(b)、図
2(c)、図2(d)、図2(e)および図2(f)
は、本実施の形態による電子部品の位置矯正方法の工程
例を示す図である。
【0025】前記工程例において、まず、回路基板1が
実装ラインに配置され(図2(a)参照)、続いて前記
基板電極2の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印
刷形成し(図2(b)参照)、前記導電性接着剤3上に
各電子部品を部品マウンターにて位置決めして搭載した
後に電子部品の搭載位置を検査が終わり、位置ズレ発生
のチップ抵抗4を光学検査により検出する(図2(c)
参照)。搭載位置ズレ量は図2(c)に示すδである。
前記位置ズレ量δをナイフエッヂ形状の矯正ジグ11を
当接し移動することで正規位置に戻し(図2(d)参
照)、位置ズレを矯正したのちに導電性接着剤を電子部
品の接続部分にディスペンサー12によって補充する
(図2(e)参照)。ディスペンサー12は武蔵エンジ
ニアリング(株)製のものを用いた。導電性接着剤3は
前記と同様でナミックス(株)製のXNH9626−7
である。
実装ラインに配置され(図2(a)参照)、続いて前記
基板電極2の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印
刷形成し(図2(b)参照)、前記導電性接着剤3上に
各電子部品を部品マウンターにて位置決めして搭載した
後に電子部品の搭載位置を検査が終わり、位置ズレ発生
のチップ抵抗4を光学検査により検出する(図2(c)
参照)。搭載位置ズレ量は図2(c)に示すδである。
前記位置ズレ量δをナイフエッヂ形状の矯正ジグ11を
当接し移動することで正規位置に戻し(図2(d)参
照)、位置ズレを矯正したのちに導電性接着剤を電子部
品の接続部分にディスペンサー12によって補充する
(図2(e)参照)。ディスペンサー12は武蔵エンジ
ニアリング(株)製のものを用いた。導電性接着剤3は
前記と同様でナミックス(株)製のXNH9626−7
である。
【0026】かかる後に電子部品を搭載した回路基板1
を150℃に調整された硬化オーブンに30分間投入し
導電性接着剤を硬化させる。図2(f)は以上の工程手
順で製造された電子部品実装基板10である。
を150℃に調整された硬化オーブンに30分間投入し
導電性接着剤を硬化させる。図2(f)は以上の工程手
順で製造された電子部品実装基板10である。
【0027】この電子部品実装基板に対し、前記の評価
を実施した。その結果を表1に記す。表1では、前記評
価基準に基づいて判定した良品基板数を全10セットで
除した割合(%)を示した。
を実施した。その結果を表1に記す。表1では、前記評
価基準に基づいて判定した良品基板数を全10セットで
除した割合(%)を示した。
【0028】
【表1】 表1に示すように、矯正を行わない場合では電子部品の
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。前記良品率は、電子部品
の電極メッキ材質、ディスペンサーによる導電性接着剤
の補充の有無に関係していることがわかる。 (実施の形態2)本発明の請求項2に記載の発明は、前
記請求項1に記載の電子部品の位置ズレ矯正位置矯正方
法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズレて
いた場合の位置矯正工程の後に、前記矯正された電子部
品を上部から加圧する工程を含むものとしたものであ
り、加圧することにより、導電フィラが表面酸化層を打
ち破って電子電極表面に密に接するので酸化層が介在し
なくなり、加圧しない場合と比べて、電子部品の位置ズ
レ量が大きい場合でも接着性が向上するという作用を有
する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部品の実
装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、および
耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供することが
できる。
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。前記良品率は、電子部品
の電極メッキ材質、ディスペンサーによる導電性接着剤
の補充の有無に関係していることがわかる。 (実施の形態2)本発明の請求項2に記載の発明は、前
記請求項1に記載の電子部品の位置ズレ矯正位置矯正方
法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズレて
いた場合の位置矯正工程の後に、前記矯正された電子部
品を上部から加圧する工程を含むものとしたものであ
り、加圧することにより、導電フィラが表面酸化層を打
ち破って電子電極表面に密に接するので酸化層が介在し
なくなり、加圧しない場合と比べて、電子部品の位置ズ
レ量が大きい場合でも接着性が向上するという作用を有
する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部品の実
装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、および
耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供することが
できる。
【0029】本発明の請求項5に記載の発明は、請求項
1ないし請求項4のいずれかに記載の電子部品の位置矯
正方法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズ
レていた場合の位置矯正工程の後に、導電性接着剤を該
当位置に補充する工程も含むものとしたものであり、導
電性接着剤を該当位置に補充しない場合と比べて、接着
性が向上するという作用を有する。これにより、導電性
接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上さ
せ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部
品実装基板を提供することができる。
1ないし請求項4のいずれかに記載の電子部品の位置矯
正方法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズ
レていた場合の位置矯正工程の後に、導電性接着剤を該
当位置に補充する工程も含むものとしたものであり、導
電性接着剤を該当位置に補充しない場合と比べて、接着
性が向上するという作用を有する。これにより、導電性
接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上さ
せ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部
品実装基板を提供することができる。
【0030】図3は、図1に示した電子部品実装基板を
本願発明の請求項2、および請求項5に基づく発明で製
造する場合の一実施の形態の電子部品の位置矯正方法の
概略図を示すものである。前記実施の形態1と同一の部
材には同一の符号で記している。図3(a)、図3
(b)、図3(c)、図3(d)、図3(e)、図3
(f)および図3(g)は、本実施の形態による電子部
品の位置矯正方法の工程例を示す図である。
本願発明の請求項2、および請求項5に基づく発明で製
造する場合の一実施の形態の電子部品の位置矯正方法の
概略図を示すものである。前記実施の形態1と同一の部
材には同一の符号で記している。図3(a)、図3
(b)、図3(c)、図3(d)、図3(e)、図3
(f)および図3(g)は、本実施の形態による電子部
品の位置矯正方法の工程例を示す図である。
【0031】前記工程例において、回路基板1が実装ラ
インに配置され(図3(a)参照)、続いて前記回路基
板1の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷形成
し(図3(b)参照)、前記導電性接着剤3上に各電子
部品を部品マウンターにて位置決めして搭載した後に電
子部品の搭載位置を検査が終わり、位置ズレ発生のチッ
プ抵抗4を検出する(図3(c)参照)。搭載位置ズレ
量は図3(c)のδで記す。前記位置ズレ量δをナイフ
エッヂ形状の矯正ジグ11を当接し移動することで正規
位置に戻し(図3(d)参照)、位置ズレを矯正したの
ちに導電性接着剤を電子部品の接続部分にディスペンサ
ー12によって補充する(図3e)参照)。ディスペン
サー12は武蔵エンジニアリング(株)製の“SHOT
mini”を用いた。導電性接着剤3は前記と同様で
ナミックス(株)製のXNH9626−7である。
インに配置され(図3(a)参照)、続いて前記回路基
板1の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷形成
し(図3(b)参照)、前記導電性接着剤3上に各電子
部品を部品マウンターにて位置決めして搭載した後に電
子部品の搭載位置を検査が終わり、位置ズレ発生のチッ
プ抵抗4を検出する(図3(c)参照)。搭載位置ズレ
量は図3(c)のδで記す。前記位置ズレ量δをナイフ
エッヂ形状の矯正ジグ11を当接し移動することで正規
位置に戻し(図3(d)参照)、位置ズレを矯正したの
ちに導電性接着剤を電子部品の接続部分にディスペンサ
ー12によって補充する(図3e)参照)。ディスペン
サー12は武蔵エンジニアリング(株)製の“SHOT
mini”を用いた。導電性接着剤3は前記と同様で
ナミックス(株)製のXNH9626−7である。
【0032】本実施の形態では図3(f)に示すよう
に、ディスペンサー12で導電性接着剤3が補充された
後に位置ズレ矯正された該当電子部品の上部から、加圧
ジグ13によって加圧される。本実施の形態では、図3
(f)に記すように先端が平面のステンレス製角柱をロ
ードセルに直結して加圧力を制御しつつ加圧した。今
回、図3(f)に示す3216サイズのチップ抵抗を加
圧した前記加圧ジグ13のサイズは1.0mm×2.0
mmである。
に、ディスペンサー12で導電性接着剤3が補充された
後に位置ズレ矯正された該当電子部品の上部から、加圧
ジグ13によって加圧される。本実施の形態では、図3
(f)に記すように先端が平面のステンレス製角柱をロ
ードセルに直結して加圧力を制御しつつ加圧した。今
回、図3(f)に示す3216サイズのチップ抵抗を加
圧した前記加圧ジグ13のサイズは1.0mm×2.0
mmである。
【0033】かかる後に電子部品を搭載した回路基板1
を150℃に調整された硬化オーブンに30分間投入し
導電性接着剤を硬化させる。図3(g)は以上の工程手
順で製造された電子部品実装基板10である。
を150℃に調整された硬化オーブンに30分間投入し
導電性接着剤を硬化させる。図3(g)は以上の工程手
順で製造された電子部品実装基板10である。
【0034】この電子部品実装基板に対し前記の評価を
実施した。その結果を表2に記す。表2では、前記実施
の形態1で位置ズレ矯正、および導電性接着剤の補充を
行っても不良率が発生した、ハンダ、およびスズメッキ
の電子部品電極のものに関してのみ実験を行い、実施の
形態1との比較をした。
実施した。その結果を表2に記す。表2では、前記実施
の形態1で位置ズレ矯正、および導電性接着剤の補充を
行っても不良率が発生した、ハンダ、およびスズメッキ
の電子部品電極のものに関してのみ実験を行い、実施の
形態1との比較をした。
【0035】
【表2】 表2に示すように、加圧を行わない場合では電子部品の
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
【0036】また、本願発明の位置特徴の電子部品の加
圧によって、電子部品電極がはんだ、およびスズメッキ
の場合でも金メッキの場合と同レベルの良品率となって
おり、本願発明の効果が確認できた。 (実施の形態3)本発明の請求項3に記載の発明は、電
子部品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実
装する電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所
定位置に導電性接着剤を形成する導電性接着剤形成工程
と、各電子部品を所定位置に搭載する搭載工程と、前記
搭載された電子部品の前記搭載位置を、凹形状を有する
矯正手段により矯正する矯正工程と、前記導電性接着剤
を硬化させる硬化工程とを含むものとしたものであり、
前記実施の形態1および実施の形態2のように各電子部
品の搭載位置を検査することなく、一度に電子部品の搭
載位置を矯正するという作用を有する。これにより、導
電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向
上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電
子部品実装基板を効率的に提供することができる。本発
明の請求項4に記載の発明は、前記請求項3に記載の電
子部品の位置矯正方法において、前記搭載された電子部
品の前記搭載位置の矯正を実施する工程の後に、前記搭
載された電子部品を上部から加圧する工程を含むものと
したものであり、加圧しない場合と比べて、電子部品の
位置ズレ量が大きい場合でも接着性が向上するという作
用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部
品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、
および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供する
ことができる。
圧によって、電子部品電極がはんだ、およびスズメッキ
の場合でも金メッキの場合と同レベルの良品率となって
おり、本願発明の効果が確認できた。 (実施の形態3)本発明の請求項3に記載の発明は、電
子部品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実
装する電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所
定位置に導電性接着剤を形成する導電性接着剤形成工程
と、各電子部品を所定位置に搭載する搭載工程と、前記
搭載された電子部品の前記搭載位置を、凹形状を有する
矯正手段により矯正する矯正工程と、前記導電性接着剤
を硬化させる硬化工程とを含むものとしたものであり、
前記実施の形態1および実施の形態2のように各電子部
品の搭載位置を検査することなく、一度に電子部品の搭
載位置を矯正するという作用を有する。これにより、導
電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向
上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電
子部品実装基板を効率的に提供することができる。本発
明の請求項4に記載の発明は、前記請求項3に記載の電
子部品の位置矯正方法において、前記搭載された電子部
品の前記搭載位置の矯正を実施する工程の後に、前記搭
載された電子部品を上部から加圧する工程を含むものと
したものであり、加圧しない場合と比べて、電子部品の
位置ズレ量が大きい場合でも接着性が向上するという作
用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部
品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、
および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供する
ことができる。
【0037】本発明の請求項9に記載の発明は、前記請
求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
ジグで上部から電子部品を矯正し、電子部品の搭載位置
の位置決めをした後、さらに加圧することにより、電子
部品に対し、加圧と搭載位置の微小な位置決めとが同時
に実施されるものとしたものであり、前記実施の形態1
および実施の形態2のように電子部品の搭載位置を検査
することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正すると
いう作用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた
電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信
頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を効
率的に提供することができる。
求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
ジグで上部から電子部品を矯正し、電子部品の搭載位置
の位置決めをした後、さらに加圧することにより、電子
部品に対し、加圧と搭載位置の微小な位置決めとが同時
に実施されるものとしたものであり、前記実施の形態1
および実施の形態2のように電子部品の搭載位置を検査
することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正すると
いう作用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた
電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信
頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を効
率的に提供することができる。
【0038】本発明の請求項10に記載の発明は、前記
請求項9に記載の電子部品の位置矯正装置において、前
記電子部品に対する加圧と搭載位置の微小な位置決めと
が、前記凹形状に形成されたテーパ面によって実施され
るものとしたものであり、確実に電子部品の搭載位置を
矯正するという作用を有する。これにより、導電性接着
剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、
かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実
装基板を提供することができる。
請求項9に記載の電子部品の位置矯正装置において、前
記電子部品に対する加圧と搭載位置の微小な位置決めと
が、前記凹形状に形成されたテーパ面によって実施され
るものとしたものであり、確実に電子部品の搭載位置を
矯正するという作用を有する。これにより、導電性接着
剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、
かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実
装基板を提供することができる。
【0039】本発明の請求項11に記載の発明は、前記
請求項9に記載の電子部品の位置矯正装置において、前
記電子部品に対する加圧が、前記凹形状の天井面によっ
て実施されるものとしたものであり、各電子部品に対し
て均一に加圧するという作用を有する。これにより、導
電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向
上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電
子部品実装基板を提供することができる。
請求項9に記載の電子部品の位置矯正装置において、前
記電子部品に対する加圧が、前記凹形状の天井面によっ
て実施されるものとしたものであり、各電子部品に対し
て均一に加圧するという作用を有する。これにより、導
電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向
上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電
子部品実装基板を提供することができる。
【0040】図4は、図1に示した電子部品実装基板を
本願発明の請求項3、請求項4、および請求項9ないし
請求項11に基づく発明で製造する場合の一実施の形態
の電子部品の位置矯正方法の概略図を示すものである。
前記実施の形態1と同一の部材には同一の符号で記して
いる。図4(a)、図4(b)、図4(c)、図4
(d)、図4(e)、および図4(f)は、本実施の形
態による電子部品の位置矯正装置を用いた位置矯正方法
の工程例である。
本願発明の請求項3、請求項4、および請求項9ないし
請求項11に基づく発明で製造する場合の一実施の形態
の電子部品の位置矯正方法の概略図を示すものである。
前記実施の形態1と同一の部材には同一の符号で記して
いる。図4(a)、図4(b)、図4(c)、図4
(d)、図4(e)、および図4(f)は、本実施の形
態による電子部品の位置矯正装置を用いた位置矯正方法
の工程例である。
【0041】前記工程例において、まず回路基板1が実
装ラインに配置され(図4(a)参照)、続いて前記回
路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷
形成する(図4(b)参照)。ここで、前記導電性接着
剤3上に各電子部品を部品マウンターにて位置決めして
搭載した後に、チップ抵抗4は位置ズレが発生している
(図4(c)参照)。搭載位置ズレ状態は図4(c)の
αで記す。前記位置ズレ状態αを矯正ジグ14を電子部
品と位置合わせし(図4(d)参照)、かかる後に矯正
ジグ14を各電子部品と当接して加圧することで正規位
置に戻す(図4(e)参照)。この後に電子部品を搭載
した回路基板1を150℃に調整された硬化オーブンに
30分間投入し導電性接着剤を硬化させる。図4(f)
は以上の工程手順で製造された電子部品実装基板10で
ある。
装ラインに配置され(図4(a)参照)、続いて前記回
路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷
形成する(図4(b)参照)。ここで、前記導電性接着
剤3上に各電子部品を部品マウンターにて位置決めして
搭載した後に、チップ抵抗4は位置ズレが発生している
(図4(c)参照)。搭載位置ズレ状態は図4(c)の
αで記す。前記位置ズレ状態αを矯正ジグ14を電子部
品と位置合わせし(図4(d)参照)、かかる後に矯正
ジグ14を各電子部品と当接して加圧することで正規位
置に戻す(図4(e)参照)。この後に電子部品を搭載
した回路基板1を150℃に調整された硬化オーブンに
30分間投入し導電性接着剤を硬化させる。図4(f)
は以上の工程手順で製造された電子部品実装基板10で
ある。
【0042】ここで、前記αの詳細について図6に詳述
する。図6は図4に示す矯正ジグ14の断面形状概略、
および本願発明の特徴を概説するための一例図であっ
て、図6(a)は図4に示す矯正ジグ14の断面形状概
略、図6(b)はチップ部品の位置ズレ矯正に対応する
前記ジグの形状詳細を示す三面図であり、図6(c)は
前記図4(c)に示したαの詳述図であり、図6(d)
は前記位置ズレしたチップ部品4が前記チップ部品に対
応する矯正形状によって矯正する作用を概説する図であ
り、図6(e)は前記矯正作用の結果矯正され、かつ前
記矯正形状によって加圧も同時にされて、チップ部品4
が凹形状15内に収まっている状態を示す図である。α
は状態であって、具体的数値はx(mm)、y(m
m)、およびθ(゜)である。
する。図6は図4に示す矯正ジグ14の断面形状概略、
および本願発明の特徴を概説するための一例図であっ
て、図6(a)は図4に示す矯正ジグ14の断面形状概
略、図6(b)はチップ部品の位置ズレ矯正に対応する
前記ジグの形状詳細を示す三面図であり、図6(c)は
前記図4(c)に示したαの詳述図であり、図6(d)
は前記位置ズレしたチップ部品4が前記チップ部品に対
応する矯正形状によって矯正する作用を概説する図であ
り、図6(e)は前記矯正作用の結果矯正され、かつ前
記矯正形状によって加圧も同時にされて、チップ部品4
が凹形状15内に収まっている状態を示す図である。α
は状態であって、具体的数値はx(mm)、y(m
m)、およびθ(゜)である。
【0043】この矯正作用について図6を用いて詳述す
る。
る。
【0044】図6(a)は前記矯正ジグ14の断面概略
図であって、前記ジグは本実施の形態で製造する電子部
品実装基板に搭載されるチップ抵抗4、チップコンデン
サ、電解コンデンサ、モールドトランジスタ、SOP、
およびQFPの外郭形状に沿い、かつ各該当する電子部
品の主要稜21と当接する形状凹形状15に成型されて
いる。
図であって、前記ジグは本実施の形態で製造する電子部
品実装基板に搭載されるチップ抵抗4、チップコンデン
サ、電解コンデンサ、モールドトランジスタ、SOP、
およびQFPの外郭形状に沿い、かつ各該当する電子部
品の主要稜21と当接する形状凹形状15に成型されて
いる。
【0045】図6(b)は前記成型された凹形状の代表
例としてチップ抵抗の位置ズレを矯正する凹形状の3面
図を示す。図6(b)において、3つの図面は前記凹形
状を前記ジグの下方から見たときの上面図、および前記
側面断面図、正面断面図である。前記凹形状は該当する
チップ抵抗の外郭とほぼ相似形状で、前記チップ抵抗よ
り若干大きい寸法の直方体形状部分と、前記直方体形状
の上部に傾斜角45゜の傾斜屋根部分と天井部分から構
成されている。本実施例で図6(b)に示す凹形状15
は電子部品である3216チップ抵抗4に対応するもの
であって同図に前記各寸法(mm)を示す。
例としてチップ抵抗の位置ズレを矯正する凹形状の3面
図を示す。図6(b)において、3つの図面は前記凹形
状を前記ジグの下方から見たときの上面図、および前記
側面断面図、正面断面図である。前記凹形状は該当する
チップ抵抗の外郭とほぼ相似形状で、前記チップ抵抗よ
り若干大きい寸法の直方体形状部分と、前記直方体形状
の上部に傾斜角45゜の傾斜屋根部分と天井部分から構
成されている。本実施例で図6(b)に示す凹形状15
は電子部品である3216チップ抵抗4に対応するもの
であって同図に前記各寸法(mm)を示す。
【0046】図6(c)は前記のように本実施の形態で
示す位置ズレ量x、y、およびθを示す。
示す位置ズレ量x、y、およびθを示す。
【0047】図6(d)は図6(c)に示した位置ズレ
したチップ抵抗4が矯正ジグ14の凹形状15と当接
し、加圧されることによって矯正されつつある状態を矯
正ジグの下方から見た図である。本実施の形態での位置
ズレ矯正は、まず図6(c)で示すチップ抵抗4の主要
稜21が矯正ジグ14の当接面22と当接すると、前記
ジグ14は位置ズレしたチップ抵抗4の正規所定位置に
位置合わせされているため、前記当接面22は前記主要
稜21を正規位置方向に矯正し始める。その後、図6
(d)から図6(e)へと前記ジグを基板方向に加圧し
ていく結果、位置ズレしたチップ抵抗4の位置矯正が終
了する。
したチップ抵抗4が矯正ジグ14の凹形状15と当接
し、加圧されることによって矯正されつつある状態を矯
正ジグの下方から見た図である。本実施の形態での位置
ズレ矯正は、まず図6(c)で示すチップ抵抗4の主要
稜21が矯正ジグ14の当接面22と当接すると、前記
ジグ14は位置ズレしたチップ抵抗4の正規所定位置に
位置合わせされているため、前記当接面22は前記主要
稜21を正規位置方向に矯正し始める。その後、図6
(d)から図6(e)へと前記ジグを基板方向に加圧し
ていく結果、位置ズレしたチップ抵抗4の位置矯正が終
了する。
【0048】本実施の形態では、前記のように電子部品
の位置矯正と加圧とが同一手段によって同時に実施され
るため、電子部品の位置精度と接続信頼性が優れたもの
が実現できる。
の位置矯正と加圧とが同一手段によって同時に実施され
るため、電子部品の位置精度と接続信頼性が優れたもの
が実現できる。
【0049】また、従来のマウンターによる加圧では、
抵抗値の向上にとっては不十分であり、各電子部品に対
し個々に加圧するので時間がかかっていたが、本実施の
形態によるジグによれば十分に加圧でき、時間的にも短
縮できる。
抵抗値の向上にとっては不十分であり、各電子部品に対
し個々に加圧するので時間がかかっていたが、本実施の
形態によるジグによれば十分に加圧でき、時間的にも短
縮できる。
【0050】以上の形態で作製した電子部品実装基板を
前記の評価を実施した。その結果を表3に記す。表3で
は、ハンダ、およびスズメッキの電子部品電極のものに
関してのみ実験を行った。
前記の評価を実施した。その結果を表3に記す。表3で
は、ハンダ、およびスズメッキの電子部品電極のものに
関してのみ実験を行った。
【0051】
【表3】 表3に示すように、矯正を行わない場合では電子部品の
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
【0052】また、本願発明の位置特徴の電子部品の加
圧によって、電子部品電極がはんだ、およびスズメッキ
の場合でも金メッキの場合と同レベルの良品率となって
おり、本願発明の効果が確認できた。 (変形例)本発明の請求項3に記載の発明は、電子部品
を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実装する
電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所定位置
に導電性接着剤を形成する工程と、電子部品を所定位置
に搭載する工程と、前記搭載された電子部品の前記搭載
位置の矯正を実施する工程と、前記導電性接着剤の硬化
工程とを含むものとしたものであり、前記実施の形態1
および実施の形態2のように電子部品の搭載位置を検査
することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正すると
いう作用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた
電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信
頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提
供することができる。本発明の請求項4に記載の発明
は、前記請求項3に記載の電子部品の位置矯正方法にお
いて、前記搭載された電子部品の前記搭載位置の矯正を
実施する工程の後に、前記搭載された電子部品を上部か
ら加圧する工程を含むものとしたものであり、加圧しな
い場合と比べて、電子部品の位置ズレ量が大きい場合で
も、接着性を向上させるという作用を有する。これによ
り、導電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格
段に向上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく
高い電子部品実装基板を提供することができる。
圧によって、電子部品電極がはんだ、およびスズメッキ
の場合でも金メッキの場合と同レベルの良品率となって
おり、本願発明の効果が確認できた。 (変形例)本発明の請求項3に記載の発明は、電子部品
を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実装する
電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所定位置
に導電性接着剤を形成する工程と、電子部品を所定位置
に搭載する工程と、前記搭載された電子部品の前記搭載
位置の矯正を実施する工程と、前記導電性接着剤の硬化
工程とを含むものとしたものであり、前記実施の形態1
および実施の形態2のように電子部品の搭載位置を検査
することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正すると
いう作用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた
電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信
頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提
供することができる。本発明の請求項4に記載の発明
は、前記請求項3に記載の電子部品の位置矯正方法にお
いて、前記搭載された電子部品の前記搭載位置の矯正を
実施する工程の後に、前記搭載された電子部品を上部か
ら加圧する工程を含むものとしたものであり、加圧しな
い場合と比べて、電子部品の位置ズレ量が大きい場合で
も、接着性を向上させるという作用を有する。これによ
り、導電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格
段に向上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく
高い電子部品実装基板を提供することができる。
【0053】本発明の請求項5に記載の発明は、請求項
1ないし請求項4のいずれかに記載の電子部品の位置矯
正方法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズ
レていた場合の位置矯正工程の後に、導電性接着剤を該
当位置に補充する工程も含むものとしたものであり、導
電性接着剤を該当位置に補充しない場合と比べて、接着
性が向上するという作用を有する。これにより、導電性
接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上さ
せ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部
品実装基板を提供することができる。
1ないし請求項4のいずれかに記載の電子部品の位置矯
正方法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズ
レていた場合の位置矯正工程の後に、導電性接着剤を該
当位置に補充する工程も含むものとしたものであり、導
電性接着剤を該当位置に補充しない場合と比べて、接着
性が向上するという作用を有する。これにより、導電性
接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上さ
せ、かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部
品実装基板を提供することができる。
【0054】本発明の請求項6に記載の発明は、電子部
品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実装す
るための位置決めジグを具備した電子部品の位置矯正装
置であって、前記ジグの主要形状は回路基板上に搭載さ
れる電子部品の各所定位置に対向して形成された凹形状
となっており、前記凹形状の各凹内面は、対応する各電
子部品の外郭とほぼ相似形状で、各電子部品より若干大
きい寸法の形状であって、前記ジグで上部から電子部品
を矯正することにより、電子部品に対し、搭載位置の位
置決めが実施されるものとしたものであり、前記実施の
形態1および実施の形態2のように電子部品の搭載位置
を検査することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正
するという作用を有する。これにより、導電性接着剤を
用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ
接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基
板を提供することができる。
品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実装す
るための位置決めジグを具備した電子部品の位置矯正装
置であって、前記ジグの主要形状は回路基板上に搭載さ
れる電子部品の各所定位置に対向して形成された凹形状
となっており、前記凹形状の各凹内面は、対応する各電
子部品の外郭とほぼ相似形状で、各電子部品より若干大
きい寸法の形状であって、前記ジグで上部から電子部品
を矯正することにより、電子部品に対し、搭載位置の位
置決めが実施されるものとしたものであり、前記実施の
形態1および実施の形態2のように電子部品の搭載位置
を検査することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正
するという作用を有する。これにより、導電性接着剤を
用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ
接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基
板を提供することができる。
【0055】本発明の請求項7に記載の発明は、前記請
求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
凹形状の各々においては、その入り口部分がテーパ形状
であるものとしたものであり、電子部品が大幅に位置ズ
レしている場合でも、電子部品が凹形状に入りやすくな
るという作用を有する。これにより、導電性接着剤を用
いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接
続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板
を提供することができる。
求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
凹形状の各々においては、その入り口部分がテーパ形状
であるものとしたものであり、電子部品が大幅に位置ズ
レしている場合でも、電子部品が凹形状に入りやすくな
るという作用を有する。これにより、導電性接着剤を用
いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接
続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板
を提供することができる。
【0056】本発明の請求項8に記載の発明は、前記請
求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
凹形状の各々においては、その凹内面は、円錐面または
角錐面のいずれかのテーパ形状であるものとしたもので
あり、確実に電子部品の搭載位置を矯正するという作用
を有する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部品
の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、お
よび耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供するこ
とができる。
求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
凹形状の各々においては、その凹内面は、円錐面または
角錐面のいずれかのテーパ形状であるものとしたもので
あり、確実に電子部品の搭載位置を矯正するという作用
を有する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部品
の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、お
よび耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供するこ
とができる。
【0057】図5は、図1に示した電子部品実装基板を
本願発明の請求項3、請求項4、および請求項6ないし
請求項8に基づく発明で製造する場合の一実施の形態の
電子部品の位置矯正方法の概略図を示すものである。前
記実施の形態1と同一の部材には同一の符号で記してい
る。図5(a)、図5(b)、図5(c)、図5
(d)、図5(e)、および図5(f)は、本実施の形
態による電子部品の位置矯正装置を用いた位置矯正方法
の工程例であり、図5(g)は凹形状の入り口部分が電
子部品が凹形状に入りやすくし、かつ位置矯正をしやす
くするためのテーパー部分の拡大図であり、また図5
(h)凹形状が角錐台形状とした凹形状の拡大図であ
る。
本願発明の請求項3、請求項4、および請求項6ないし
請求項8に基づく発明で製造する場合の一実施の形態の
電子部品の位置矯正方法の概略図を示すものである。前
記実施の形態1と同一の部材には同一の符号で記してい
る。図5(a)、図5(b)、図5(c)、図5
(d)、図5(e)、および図5(f)は、本実施の形
態による電子部品の位置矯正装置を用いた位置矯正方法
の工程例であり、図5(g)は凹形状の入り口部分が電
子部品が凹形状に入りやすくし、かつ位置矯正をしやす
くするためのテーパー部分の拡大図であり、また図5
(h)凹形状が角錐台形状とした凹形状の拡大図であ
る。
【0058】前記工程例において、まず回路基板1が実
装ラインに配置され(図5(a)参照)、続いて前記回
路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷
形成する(図5(b)参照)。ここで、前記導電性接着
剤3上に各電子部品を部品マウンターにて位置決めして
搭載した後に、チップ抵抗4は位置ズレが発生している
(図5(c)参照)は、。搭載位置ズレ状態は図5
(c)のαで記す。前記位置ズレ状態αを矯正ジグ16
を電子部品と位置合わせし(図5(d)参照)、かかる
後に矯正ジグ16を各電子部品と当接して加圧すること
で正規位置に戻す(図5(e)参照)。αは状態であっ
て、具体的数値は回路基板のx方向ズレ(mm)、回路
基板のy方向ズレ(mm)、θズレ(°)である。この
後に電子部品を搭載した回路基板1を150℃に調整さ
れた硬化オーブンに30分間投入し導電性接着剤を硬化
させる。図5(f)は以上の工程手順で製造された電子
部品実装基板10である。
装ラインに配置され(図5(a)参照)、続いて前記回
路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷
形成する(図5(b)参照)。ここで、前記導電性接着
剤3上に各電子部品を部品マウンターにて位置決めして
搭載した後に、チップ抵抗4は位置ズレが発生している
(図5(c)参照)は、。搭載位置ズレ状態は図5
(c)のαで記す。前記位置ズレ状態αを矯正ジグ16
を電子部品と位置合わせし(図5(d)参照)、かかる
後に矯正ジグ16を各電子部品と当接して加圧すること
で正規位置に戻す(図5(e)参照)。αは状態であっ
て、具体的数値は回路基板のx方向ズレ(mm)、回路
基板のy方向ズレ(mm)、θズレ(°)である。この
後に電子部品を搭載した回路基板1を150℃に調整さ
れた硬化オーブンに30分間投入し導電性接着剤を硬化
させる。図5(f)は以上の工程手順で製造された電子
部品実装基板10である。
【0059】本実施の形態では、矯正ジグ16の凹形状
は図5(g)に示すように凹形状の入り口部分がテーパ
形状18である凹形状17、および図5(h)に示すよ
うに凹内面が角錐台形状である凹形状19を用いた。
は図5(g)に示すように凹形状の入り口部分がテーパ
形状18である凹形状17、および図5(h)に示すよ
うに凹内面が角錐台形状である凹形状19を用いた。
【0060】ここで、前記αの詳細について図6に詳述
する。図6は図5に示す矯正ジグ16の断面形状概略、
および本願発明の特徴を概説するための一例図であっ
て、図6(a)は図5に示す矯正ジグ16の断面形状概
略、図6(b)はチップ部品の位置ズレ矯正に対応する
前記ジグの形状詳細を示す三面図、図6(c)は前記図
5(c)に示したαの詳述図であり、図6(d)は前記
位置ズレしたチップ部品4が前記チップ部品に対応する
矯正形状によって矯正する作用を概説する図であり、図
6(e)は前記矯正作用の結果矯正され、かつ前記矯正
形状によって加圧も同時にされて、チップ部品4が凹形
状17、または19内に収まっている状態を示す図であ
る。
する。図6は図5に示す矯正ジグ16の断面形状概略、
および本願発明の特徴を概説するための一例図であっ
て、図6(a)は図5に示す矯正ジグ16の断面形状概
略、図6(b)はチップ部品の位置ズレ矯正に対応する
前記ジグの形状詳細を示す三面図、図6(c)は前記図
5(c)に示したαの詳述図であり、図6(d)は前記
位置ズレしたチップ部品4が前記チップ部品に対応する
矯正形状によって矯正する作用を概説する図であり、図
6(e)は前記矯正作用の結果矯正され、かつ前記矯正
形状によって加圧も同時にされて、チップ部品4が凹形
状17、または19内に収まっている状態を示す図であ
る。
【0061】本実施の形態では、前記のように電子部品
の位置矯正と加圧が同一手段によって同時に実施される
ため、電子部品の位置精度と接続信頼性が優れたものが
実現できる。
の位置矯正と加圧が同一手段によって同時に実施される
ため、電子部品の位置精度と接続信頼性が優れたものが
実現できる。
【0062】以上の形態で作製した電子部品実装基板に
対し前記の評価を実施した。その結果を表4に記す。表
4では、ハンダ、およびスズメッキの電子部品電極のも
のに関してのみ実験を行った。
対し前記の評価を実施した。その結果を表4に記す。表
4では、ハンダ、およびスズメッキの電子部品電極のも
のに関してのみ実験を行った。
【0063】
【表4】 表4に示すように、矯正を行わない場合では電子部品の
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
【0064】なお、本実施の形態において、ジグによる
電子部品の位置ズレ矯正をした後、必要に応じて導電性
接着剤を補充することにより、接着性を高めることも可
能である。 (実施の形態4)本発明の請求項3に記載の発明は、電
子部品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実
装する電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所
定位置に導電性接着剤を形成する工程と、各電子部品を
所定位置に搭載する工程と、前記搭載された電子部品の
前記搭載位置の矯正を実施する工程と、前記導電性接着
剤の硬化工程とを含むものとしたものであり、前記実施
の形態1および実施の形態2のように電子部品の搭載位
置を検査することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯
正するという作用を有する。これにより、導電性接着剤
を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、か
つ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装
基板を提供することができる。本発明の請求項4に記載
の発明は、前記請求項3に記載の電子部品の位置矯正方
法において、前記搭載された電子部品の前記搭載位置の
矯正を実施する工程の後に、前記搭載された電子部品を
上部から加圧する工程を含むものとしたものであり、加
圧しない場合と比べて、電子部品の位置ズレ量が大きい
場合でも、接着性が向上するという作用を有する。これ
により、導電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度
を格段に向上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著
しく高い電子部品実装基板を提供することができる。
電子部品の位置ズレ矯正をした後、必要に応じて導電性
接着剤を補充することにより、接着性を高めることも可
能である。 (実施の形態4)本発明の請求項3に記載の発明は、電
子部品を導電性接着剤を介して回路基板の所定位置に実
装する電子部品の位置矯正方法であって、回路基板の所
定位置に導電性接着剤を形成する工程と、各電子部品を
所定位置に搭載する工程と、前記搭載された電子部品の
前記搭載位置の矯正を実施する工程と、前記導電性接着
剤の硬化工程とを含むものとしたものであり、前記実施
の形態1および実施の形態2のように電子部品の搭載位
置を検査することなく、一度に電子部品の搭載位置を矯
正するという作用を有する。これにより、導電性接着剤
を用いた電子部品の実装位置精度を格段に向上させ、か
つ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実装
基板を提供することができる。本発明の請求項4に記載
の発明は、前記請求項3に記載の電子部品の位置矯正方
法において、前記搭載された電子部品の前記搭載位置の
矯正を実施する工程の後に、前記搭載された電子部品を
上部から加圧する工程を含むものとしたものであり、加
圧しない場合と比べて、電子部品の位置ズレ量が大きい
場合でも、接着性が向上するという作用を有する。これ
により、導電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度
を格段に向上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著
しく高い電子部品実装基板を提供することができる。
【0065】本発明の請求項12に記載の発明は、前記
請求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前
記凹形状の内部に、前記電子部品を上部から補助的に加
圧する機構を備えたものであり、前記実施の形態1およ
び実施の形態2のように電子部品の搭載位置を検査する
ことなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正するという
作用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた電子
部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼
性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供
することができる。
請求項6に記載の電子部品の位置矯正装置において、前
記凹形状の内部に、前記電子部品を上部から補助的に加
圧する機構を備えたものであり、前記実施の形態1およ
び実施の形態2のように電子部品の搭載位置を検査する
ことなく、一度に電子部品の搭載位置を矯正するという
作用を有する。これにより、導電性接着剤を用いた電子
部品の実装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼
性、および耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供
することができる。
【0066】本発明の請求項13に記載の発明は、請求
項12に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
電子部品を上部から補助的に加圧する機構は、加圧力を
制御する機構を備えたものであり、強度の異なる電子部
品に対して同時に加圧しても、強度の弱い電子部品を破
損することなく接着させるという作用を有する。これに
より、導電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を
格段に向上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著し
く高い電子部品実装基板を提供することができる。
項12に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
電子部品を上部から補助的に加圧する機構は、加圧力を
制御する機構を備えたものであり、強度の異なる電子部
品に対して同時に加圧しても、強度の弱い電子部品を破
損することなく接着させるという作用を有する。これに
より、導電性接着剤を用いた電子部品の実装位置精度を
格段に向上させ、かつ接続信頼性、および耐久性も著し
く高い電子部品実装基板を提供することができる。
【0067】本発明の請求項14に記載の発明は、請求
項13に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
加圧力を制御する機構は、各電子部品の所定加圧力に応
じたバネ常数を有するバネを備えたものであり、強度の
異なる電子部品に対して同時に加圧しても、強度の弱い
電子部品を破損することなく接着させるという作用を有
する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部品の実
装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、および
耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供することが
できる。
項13に記載の電子部品の位置矯正装置において、前記
加圧力を制御する機構は、各電子部品の所定加圧力に応
じたバネ常数を有するバネを備えたものであり、強度の
異なる電子部品に対して同時に加圧しても、強度の弱い
電子部品を破損することなく接着させるという作用を有
する。これにより、導電性接着剤を用いた電子部品の実
装位置精度を格段に向上させ、かつ接続信頼性、および
耐久性も著しく高い電子部品実装基板を提供することが
できる。
【0068】図7は、図1に示した電子部品実装基板を
本願発明の請求項3、請求項4、および請求項12ない
し請求項14に基づく発明で製造する場合の一実施の形
態の電子部品の位置矯正方法の概略図を示すものであ
る。前記実施の形態1、および実施の形態3と同一の部
材には同一の符号で記している。図7(a)、図7
(b)、および図7(c)は、前記実施の形態3におけ
る電子部品の位置矯正ジグの凹形状15内部に電子部品
の加圧手段として加圧バネ23を装着したものの一例を
示している。本実施の形態での電子部品の実装基板の製
造工程は、前記実施の形態3に示す工程と基本手順は類
似しているが、前記のように電子部品の加圧が図7に示
す加圧バネ23で実施することを特徴としている。
本願発明の請求項3、請求項4、および請求項12ない
し請求項14に基づく発明で製造する場合の一実施の形
態の電子部品の位置矯正方法の概略図を示すものであ
る。前記実施の形態1、および実施の形態3と同一の部
材には同一の符号で記している。図7(a)、図7
(b)、および図7(c)は、前記実施の形態3におけ
る電子部品の位置矯正ジグの凹形状15内部に電子部品
の加圧手段として加圧バネ23を装着したものの一例を
示している。本実施の形態での電子部品の実装基板の製
造工程は、前記実施の形態3に示す工程と基本手順は類
似しているが、前記のように電子部品の加圧が図7に示
す加圧バネ23で実施することを特徴としている。
【0069】加圧バネ23はスリーブ25内に装着され
ており、本実施の形態では図7(c)のように加圧バネ
23によって加圧板24を介して電子部品を加圧する。
前記加圧バネ23、加圧板24、および加圧力は各電子
部品に対応して形状、寸法、およびバネ常数が適切に選
定される。たとえば前記実施の形態3で示したように、
3216チップ抵抗への電子部品への加圧力は5N以
上、好ましくは10N以上であったため、単位面積あた
りの圧力としては3MPa以上、好ましくは6MPa以
上と設計することが好ましい。本実施の形態では電子部
品の加圧状態において0MPa(加圧せず)、3MP
a、6MPa、あるいは18MPaとなるようにバネ2
3を選定して比較評価を実施した。
ており、本実施の形態では図7(c)のように加圧バネ
23によって加圧板24を介して電子部品を加圧する。
前記加圧バネ23、加圧板24、および加圧力は各電子
部品に対応して形状、寸法、およびバネ常数が適切に選
定される。たとえば前記実施の形態3で示したように、
3216チップ抵抗への電子部品への加圧力は5N以
上、好ましくは10N以上であったため、単位面積あた
りの圧力としては3MPa以上、好ましくは6MPa以
上と設計することが好ましい。本実施の形態では電子部
品の加圧状態において0MPa(加圧せず)、3MP
a、6MPa、あるいは18MPaとなるようにバネ2
3を選定して比較評価を実施した。
【0070】以下に本実施の形態での電子部品の実装基
板の製造工程例を記す。図4(a)と同一の回路基板1
を配置し、続いて図4(b)のように前記回路基板1の
所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷形成する。
引き続き図4(c)のように前記導電性接着剤3上に各
電子部品を部品マウンターにて位置決めして搭載する。
搭載位置ズレが発生したチップ抵抗4の状態は図4
(c)のαで記す。図4(d)は前記位置ズレ状態αを
矯正ジグ14を電子部品と位置合わせした状態を示し、
かかる後に図4(e)に示すように矯正ジグを電子部品
と当接して加圧することで正規位置に戻す工程を示す。
板の製造工程例を記す。図4(a)と同一の回路基板1
を配置し、続いて図4(b)のように前記回路基板1の
所定位置に導電性接着剤3をメタル版で印刷形成する。
引き続き図4(c)のように前記導電性接着剤3上に各
電子部品を部品マウンターにて位置決めして搭載する。
搭載位置ズレが発生したチップ抵抗4の状態は図4
(c)のαで記す。図4(d)は前記位置ズレ状態αを
矯正ジグ14を電子部品と位置合わせした状態を示し、
かかる後に図4(e)に示すように矯正ジグを電子部品
と当接して加圧することで正規位置に戻す工程を示す。
【0071】電子部品の位置ズレ矯正の作用は前記実施
の形態3に示したのと同様である。
の形態3に示したのと同様である。
【0072】その後に前記基板1を150℃に調整され
た硬化オーブンに30分間投入し導電性接着剤を硬化さ
せると電子部品実装基板が完成するる。
た硬化オーブンに30分間投入し導電性接着剤を硬化さ
せると電子部品実装基板が完成するる。
【0073】本実施の形態では、前記のように電子部品
の位置矯正と加圧が同一手段によって同時に実施される
ため、電子部品の位置精度と接続信頼性が優れたものが
実現できる。
の位置矯正と加圧が同一手段によって同時に実施される
ため、電子部品の位置精度と接続信頼性が優れたものが
実現できる。
【0074】以上の形態で作製した電子部品実装基板に
対し前記の評価を実施した。その結果を表5に記す。表
5ではハンダ、およびスズメッキの電子部品電極のもの
に関してのみ実験を行った。
対し前記の評価を実施した。その結果を表5に記す。表
5ではハンダ、およびスズメッキの電子部品電極のもの
に関してのみ実験を行った。
【0075】
【表5】 表5に示すように、矯正を行わない場合では電子部品の
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
位置ズレ量が大きくなるに従い、製造初期、および試験
後とも良品率は低下したが、本願発明では電子部品実装
基板の良品率が向上している。
【0076】また、本願発明の位置特徴の電子部品の加
圧によって、電子部品電極がはんだ、およびスズメッキ
の場合でも金メッキの場合と同レベルの良品率となって
おり、本願発明の効果が確認できた。
圧によって、電子部品電極がはんだ、およびスズメッキ
の場合でも金メッキの場合と同レベルの良品率となって
おり、本願発明の効果が確認できた。
【0077】なお、本実施の形態において、ジグによる
電子部品の位置ズレ矯正をした後、必要に応じて導電性
接着剤を補充することにより、接着性を高めることも可
能である。
電子部品の位置ズレ矯正をした後、必要に応じて導電性
接着剤を補充することにより、接着性を高めることも可
能である。
【0078】本発明の実施の形態において、電子部品の
位置矯正ジグの作用は電子部品としてチップ抵抗の場合
を説明したが、半導体パッケージ、およびコネクターな
どに関しても矯正ジグ凹形状を各電子部品の主要外郭稜
に対応した形状とすればよい。また、フィルム電解コン
デンサ等の主要外郭稜が円の場合の凹形状は、円錐、又
は円錐台が適している。
位置矯正ジグの作用は電子部品としてチップ抵抗の場合
を説明したが、半導体パッケージ、およびコネクターな
どに関しても矯正ジグ凹形状を各電子部品の主要外郭稜
に対応した形状とすればよい。また、フィルム電解コン
デンサ等の主要外郭稜が円の場合の凹形状は、円錐、又
は円錐台が適している。
【0079】
【発明の効果】以上のように、電子部品の実装位置ズレ
を矯正する技術に関するものであって、特には矯正手段
に特徴を有したのもである。本発明によれば以上記した
ように従来の導電性接着剤を用いた電子部品の方法では
困難であった電子部品の実装位置精度が格段に向上し、
かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実
装基板が提供できる。
を矯正する技術に関するものであって、特には矯正手段
に特徴を有したのもである。本発明によれば以上記した
ように従来の導電性接着剤を用いた電子部品の方法では
困難であった電子部品の実装位置精度が格段に向上し、
かつ接続信頼性、および耐久性も著しく高い電子部品実
装基板が提供できる。
【0080】また、以上の実施の形態では本願発明の電
子部品の位置矯正方法、および電子部品の位置矯正装置
に関して記したが、本願発明では、前記位置矯正装置を
具備した電子部品の実装機であっても、また本願発明の
位置矯正装置を従来の電子部品の実装機に装着しても、
同様な効果が発揮でき、産業上の効果は顕著であること
は言うまでもない。
子部品の位置矯正方法、および電子部品の位置矯正装置
に関して記したが、本願発明では、前記位置矯正装置を
具備した電子部品の実装機であっても、また本願発明の
位置矯正装置を従来の電子部品の実装機に装着しても、
同様な効果が発揮でき、産業上の効果は顕著であること
は言うまでもない。
【0081】更に、本発明においては電子部品および電
子部品実装体の鉛フリー化も実現でき、近年、注目を集
めている環境問題に対しても有用である。
子部品実装体の鉛フリー化も実現でき、近年、注目を集
めている環境問題に対しても有用である。
【図1】本発明で製造した電子部品実装基板を示す概略
図である。
図である。
【図2】本発明の実施の形態1による位置ズレした電子
部品を正規位置に矯正した後、導電性接着剤を補給し、
かかる後に導電性接着剤を硬化させる電子部品の位置矯
正方法を示す工程図と、その結果製造された電子部品実
装基板を示す図である。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である。 (b)前記基板電極2の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に電子部品の搭載位置
を検査が終わり、位置ズレ発生のチップ抵抗4を検出し
た状態を示す図である。 (d)前記位置ズレ量δをナイフエッヂ形状の矯正ジグ
11を当接し移動することで正規位置に戻す工程を示す
図である。 (e)位置ズレを矯正したのちに導電性接着剤を電子部
品の接続部分にディスペンサー12によって補充する工
程を示す図である。 (f)上記(a)から(e)の工程手順で製造された電
子部品実装基板10を示す図である。
部品を正規位置に矯正した後、導電性接着剤を補給し、
かかる後に導電性接着剤を硬化させる電子部品の位置矯
正方法を示す工程図と、その結果製造された電子部品実
装基板を示す図である。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である。 (b)前記基板電極2の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に電子部品の搭載位置
を検査が終わり、位置ズレ発生のチップ抵抗4を検出し
た状態を示す図である。 (d)前記位置ズレ量δをナイフエッヂ形状の矯正ジグ
11を当接し移動することで正規位置に戻す工程を示す
図である。 (e)位置ズレを矯正したのちに導電性接着剤を電子部
品の接続部分にディスペンサー12によって補充する工
程を示す図である。 (f)上記(a)から(e)の工程手順で製造された電
子部品実装基板10を示す図である。
【図3】本発明の実施の形態2による位置ズレした電子
部品を正規位置に矯正した後、導電性接着剤を補給し、
さらに該電子部品を加圧した後に導電性接着剤を硬化さ
せる電子部品の位置矯正方法を示す工程図と、その結果
製造された電子部品実相基板を示す図。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である。 (b)前記回路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に電子部品の搭載位置
を検査が終わり、位置ズレ発生のチップ抵抗4を検出し
た状態を示す図である。 (d)前記位置ズレ量δをナイフエッヂ形状の矯正ジグ
11を当接し移動することで正規位置に戻す工程を示す
図である。 (e)位置ズレを矯正したのちに導電性接着剤を電子部
品の接続部分にディスペンサー12によって補充する工
程を示す図である。 (f)ディスペンサー12で導電性接着が剤補充された
後に位置ズレ矯正された該当電子部品の上部から、加圧
ジグ13によって加圧される状態を示す図である。 (g)以上の工程手順で製造された電子部品実装基板1
0を示す図である。
部品を正規位置に矯正した後、導電性接着剤を補給し、
さらに該電子部品を加圧した後に導電性接着剤を硬化さ
せる電子部品の位置矯正方法を示す工程図と、その結果
製造された電子部品実相基板を示す図。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である。 (b)前記回路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に電子部品の搭載位置
を検査が終わり、位置ズレ発生のチップ抵抗4を検出し
た状態を示す図である。 (d)前記位置ズレ量δをナイフエッヂ形状の矯正ジグ
11を当接し移動することで正規位置に戻す工程を示す
図である。 (e)位置ズレを矯正したのちに導電性接着剤を電子部
品の接続部分にディスペンサー12によって補充する工
程を示す図である。 (f)ディスペンサー12で導電性接着が剤補充された
後に位置ズレ矯正された該当電子部品の上部から、加圧
ジグ13によって加圧される状態を示す図である。 (g)以上の工程手順で製造された電子部品実装基板1
0を示す図である。
【図4】本発明の実施の形態3による位置ズレした電子
部品を位置ズレ矯正ジグによって正規位置に矯正しつつ
同時に該電子部品を加圧した後に導電性接着剤を硬化さ
せる電子部品の位置矯正方法を示す工程図と、その結果
製造された電子部品実相基板を示す図である。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である、 (b)前記回路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に位置ズレが発生した
チップ抵抗4を示す図である。 (d)前記位置ズレ状態αを矯正ジグ14を電子部品と
位置合わせした状態を示す図である。 (e)矯正ジグ14を各電子部品と当接して正規位置に
戻す工程を示す図である。 (f)上記(a)から(e)の工程手順で製造された電
子部品実装基板10である。
部品を位置ズレ矯正ジグによって正規位置に矯正しつつ
同時に該電子部品を加圧した後に導電性接着剤を硬化さ
せる電子部品の位置矯正方法を示す工程図と、その結果
製造された電子部品実相基板を示す図である。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である、 (b)前記回路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に位置ズレが発生した
チップ抵抗4を示す図である。 (d)前記位置ズレ状態αを矯正ジグ14を電子部品と
位置合わせした状態を示す図である。 (e)矯正ジグ14を各電子部品と当接して正規位置に
戻す工程を示す図である。 (f)上記(a)から(e)の工程手順で製造された電
子部品実装基板10である。
【図5】本発明の実施の形態3の変形例による位置ズレ
した電子部品を位置ズレ矯正ジグによって正規位置に矯
正しつつ同時に該電子部品を加圧した後に導電性接着剤
を硬化させる電子部品の位置矯正方法を示す工程図と、
その結果製造された電子部品実相基板を示す図である。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である。 (b)前記回路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に位置ズレが発生した
チップ抵抗4を示す図である。 (d)前記位置ズレ状態αを矯正ジグ14を電子部品と
位置合わせした状態を示す図である。 (e)矯正ジグ14を各電子部品と当接して正規位置に
戻す工程を示す図である。 (f)上記工程(a)から工程(e)の工程手順で製造
された電子部品実装基板10である。 (g)凹形状の入り口部分が電子部品が凹形状に入りや
すくし、かつ位置矯正をしやすくするためのテーパー部
分の拡大図である。 (h)凹形状が角錐台形状とした凹形状の拡大図であ
る。
した電子部品を位置ズレ矯正ジグによって正規位置に矯
正しつつ同時に該電子部品を加圧した後に導電性接着剤
を硬化させる電子部品の位置矯正方法を示す工程図と、
その結果製造された電子部品実相基板を示す図である。 (a)回路基板1が実装ラインに配置された状態を示す
図である。 (b)前記回路基板1の所定位置に導電性接着剤3をメ
タル版で印刷形成した後の状態を示す図である。 (c)前記導電性接着剤3上に各電子部品を部品マウン
ターにて位置決めして搭載した後に位置ズレが発生した
チップ抵抗4を示す図である。 (d)前記位置ズレ状態αを矯正ジグ14を電子部品と
位置合わせした状態を示す図である。 (e)矯正ジグ14を各電子部品と当接して正規位置に
戻す工程を示す図である。 (f)上記工程(a)から工程(e)の工程手順で製造
された電子部品実装基板10である。 (g)凹形状の入り口部分が電子部品が凹形状に入りや
すくし、かつ位置矯正をしやすくするためのテーパー部
分の拡大図である。 (h)凹形状が角錐台形状とした凹形状の拡大図であ
る。
【図6】本発明の実施の形態3およびその変形例による
位置ズレ矯正ジグによって電子部品が位置ズレが矯正さ
れる作用を示す概略図である。 (a)図4に示す矯正ジグ14の断面形状概略である。 (b)チップ部品の位置ズレ矯正に対応する前記ジグの
形状詳細を示す三面図である。 (c)前記図4(c)に示したαの詳述図である。 (d)前記位置ズレしたチップ部品4が前記チップ部品
対応矯正形状によって矯正する作用を概説する図であ
る。 (e)は前記矯正作用の結果矯正され、かつ前記矯正形
状によって加圧も同時にされて、チップ部品4が凹形状
15内に収まっている状態を示す図である。
位置ズレ矯正ジグによって電子部品が位置ズレが矯正さ
れる作用を示す概略図である。 (a)図4に示す矯正ジグ14の断面形状概略である。 (b)チップ部品の位置ズレ矯正に対応する前記ジグの
形状詳細を示す三面図である。 (c)前記図4(c)に示したαの詳述図である。 (d)前記位置ズレしたチップ部品4が前記チップ部品
対応矯正形状によって矯正する作用を概説する図であ
る。 (e)は前記矯正作用の結果矯正され、かつ前記矯正形
状によって加圧も同時にされて、チップ部品4が凹形状
15内に収まっている状態を示す図である。
【図7】本発明の実施の形態4による電子部品の加圧手
段としてバネを用いた位置ズレ矯正ジグの構造概略例を
示す断面図である。
段としてバネを用いた位置ズレ矯正ジグの構造概略例を
示す断面図である。
1 回路基板 2 基板電極 3 導電性接着剤 4 チップ抵抗 5 チップコンデンサ 6 モールドトランジスタ 7 電解コンデンサ 8 SOP 9 QFP 10 電子部品実装基板 11,14,16 位置ズレ矯正ジグ 12 ディスペンサ 13 加圧ジグ 15,17,19 凹形状 18 入り口部分テーパー 20 テーパー面 21 主要稜 22 当接面 23 加圧バネ 24 加圧板 25 スリーブ δ, α 搭載位置ズレ量
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹沢 弘輝 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 石丸 幸宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 北江 孝史 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5E319 AA03 AB01 AB05 AC02 BB12 CC61 CD04 CD13 CD29 GG09
Claims (14)
- 【請求項1】 電子部品を導電性接着剤を介して回路基
板の所定位置に実装する電子部品の位置矯正方法であっ
て、 回路基板の所定位置に導電性接着剤を形成する導電性接
着剤形成工程と、 各電子部品を所定位置に搭載する搭載工程と、 前記電子部品の搭載位置を検査する検査工程と、 前記検出の結果において搭載位置が所定位置からズレて
いる電子部品に対し位置ズレを矯正させる位置矯正工程
と、 前記導電性接着剤を硬化させる硬化工程とを含む電子部
品の位置矯正方法。 - 【請求項2】 前記請求項1に記載の電子部品の位置矯
正方法において、電子部品の搭載位置が所定位置からズ
レていた場合の位置矯正工程の後に、前記矯正された電
子部品を上部から加圧する加圧工程を含む電子部品の位
置矯正方法。 - 【請求項3】 電子部品を導電性接着剤を介して回路基
板の所定位置に実装する電子部品の位置矯正方法であっ
て、 回路基板の所定位置に導電性接着剤を形成する導電性接
着剤形成工程と、 各電子部品を所定位置に搭載する搭載工程と、 前記搭載された電子部品の前記搭載位置を、凹形状を有
する矯正手段により矯正する位置矯正工程と、 前記導電性接着剤を硬化させる硬化工程とを含む電子部
品の位置矯正方法。 - 【請求項4】 前記請求項3に記載の電子部品の位置矯
正方法において、 前記搭載された電子部品の前記搭載位置を矯正する矯正
工程の後に、前記搭載された電子部品を上部から加圧す
る加圧工程を含む電子部品の位置矯正方法。 - 【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかに記
載の電子部品の位置矯正方法において、 電子部品の搭載位置が所定位置からズレていた場合の位
置矯正工程の後に、導電性接着剤を該当位置に補充する
補充工程も含む電子部品の位置矯正方法。 - 【請求項6】 電子部品を導電性接着剤を介して回路基
板の所定位置に実装するための位置決めジグを具備した
電子部品の位置矯正装置であって、 前記ジグの主要形状は回路基板上に搭載される電子部品
の各所定位置に対向して形成された凹形状となってお
り、 前記凹形状の各凹内面は、対応する各電子部品の外郭と
ほぼ相似形状で、各電子部品より若干大きい寸法の形状
であって、 前記ジグで上部から電子部品を矯正することにより、電
子部品に対し、搭載位置の位置決めが実施されることを
特徴とする電子部品の位置矯正装置。 - 【請求項7】 前記請求項6に記載の電子部品の位置矯
正装置において、 前記凹形状の各々においては、その入り口部分がテーパ
形状であることを特徴とする電子部品の位置矯正装置。 - 【請求項8】 前記請求項6に記載の電子部品の位置矯
正装置において、 前記凹形状の各々においては、その凹内面は、円錐面ま
たは角錐面のいずれかのテーパ形状であることを特徴と
する電子部品の位置矯正装置。 - 【請求項9】 前記請求項6に記載の電子部品の位置矯
正装置において、 前記ジグで上部から電子部品を矯正し、電子部品の搭載
位置の位置決めをした後、さらに加圧することにより、
電子部品に対し、加圧と搭載位置の微小な位置決めとが
同時に実施されることを特徴とする電子部品の位置矯正
装置。 - 【請求項10】 前記請求項9に記載の電子部品の位置
矯正装置において、 前記電子部品に対する加圧と搭載位置の微小な位置決め
とが、前記凹形状に形成されたテーパ面によって実施さ
れることを特徴とする電子部品の位置矯正装置。 - 【請求項11】 前記請求項9に記載の電子部品の位置
矯正装置において、 前記電子部品に対する加圧が、前記凹形状の天井面によ
って実施されることを特徴とする電子部品の位置矯正装
置。 - 【請求項12】 前記請求項6に記載の電子部品の位置
矯正装置において、 前記凹形状の内部に、前記電子部品を上部から補助的に
加圧する機構を備えたことを特徴とする電子部品の位置
矯正装置。 - 【請求項13】 請求項12に記載の電子部品の位置矯
正装置において、 前記電子部品を上部から補助的に加圧する機構は、加圧
力を制御する機構を備えたものであることを特徴とする
電子部品の位置矯正装置。 - 【請求項14】 請求項13に記載の電子部品の位置矯
正装置において、 前記加圧力を制御する機構は、各電子部品の所定加圧力
に応じたバネ常数を有するバネを備えたものであること
を特徴とする電子部品の位置矯正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001140463A JP2002335068A (ja) | 2001-05-10 | 2001-05-10 | 電子部品の位置矯正方法、および電子部品の位置矯正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001140463A JP2002335068A (ja) | 2001-05-10 | 2001-05-10 | 電子部品の位置矯正方法、および電子部品の位置矯正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002335068A true JP2002335068A (ja) | 2002-11-22 |
Family
ID=18987067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001140463A Pending JP2002335068A (ja) | 2001-05-10 | 2001-05-10 | 電子部品の位置矯正方法、および電子部品の位置矯正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002335068A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017119114A1 (ja) * | 2016-01-08 | 2017-07-13 | 富士機械製造株式会社 | リペア装置及びリペア方法 |
CN114271038A (zh) * | 2019-08-23 | 2022-04-01 | 株式会社富士 | 电子电路装置及其制造方法 |
-
2001
- 2001-05-10 JP JP2001140463A patent/JP2002335068A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017119114A1 (ja) * | 2016-01-08 | 2017-07-13 | 富士機械製造株式会社 | リペア装置及びリペア方法 |
JPWO2017119114A1 (ja) * | 2016-01-08 | 2018-11-01 | 株式会社Fuji | リペア装置及びリペア方法 |
CN114271038A (zh) * | 2019-08-23 | 2022-04-01 | 株式会社富士 | 电子电路装置及其制造方法 |
CN114271038B (zh) * | 2019-08-23 | 2024-05-03 | 株式会社富士 | 电子电路装置及其制造方法 |
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