JP2002323664A - マルチビーム走査光学系及びそれを用いた画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 比較的簡単な構成によって高速で高品位の印
字を実現することができるマルチビーム走査光学系及び
それを用いた画像形成装置を得ること。 【解決手段】 主走査方向に対し離して配置した複数の
発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏向
手段に導光する入射光学手段と、偏向手段により偏向さ
れた複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手段
と、偏向手段により偏向された複数の光束の一部を同期
検出用のレンズ部によりスリット面上に集光させた後、
同期検出素子に導光し、同期検出素子からの信号を用い
て被走査面上の走査開始位置のタイミングを複数の光束
毎に制御する同期検出用光学手段とを有するマルチビー
ム走査光学系において、走査光学手段の焦点距離と同期
検出用のレンズ部の焦点距離が異なり、かつ条件式
（Ａ）を満足すること。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はマルチビーム走査光
学系及びそれを用いた画像形成装置に関し、特に比較的
簡単な構成によって高速で高品位の印字が可能な、例え
ばレーザビームプリンターやデジタル複写機等の画像形
成装置に好適なものである。

【０００２】

【従来の技術】従来よりレーザビームプリンターやデジ
タル複写機等の画像形成装置に用いられている走査光学
系は光源から射出された光束を入射光学手段により偏向
手段に導光し、該偏向手段により偏向された光束を走査
光学手段により被走査面である感光ドラム面上にスポッ
ト状に結像させ、該光束で感光ドラム面上を光走査して
いる。

【０００３】近年、画像形成装置の高性能化、高機能化
に伴い、高速化への要求が高まってきており、この要求
に答えるため、複数の光源を用いることが検討されてい
る。例えば特開平９-５４２６３号公報では光源として
１個のチップから一直線上に並んだ複数本のレーザ光を
放射するマルチビームレーザーチップを光源としたマル
チビーム走査光学系を提案している。

【０００４】このようなマルチビーム走査光学系におい
ては画像の書き出し位置を正確に制御するために画像信
号を書き出す直前に同期検出用光学手段（ＢＤ光学系）
を設けるのが一般的である。

【０００５】図１８は従来のマルチビーム走査光学系の
主走査方向の要部断面図（主走査断面図）である。同図
において５１は光源ユニットであり、例えば半導体レー
ザよりなる発光部（光源）を２つ有している。２つの発
光部は主走査方向及び副走査方向に対して各々離して配
置している。５２は開口絞りであり、各発光部から射出
した光束を所望の最適なビーム形状に整形している。５
３はコリメータ−レンズであり、開口絞り５２を通過し
た光束を略平行光束に変換している。５４はシリンドリ
カルレンズであり、副走査方向のみに所定の屈折力を有
している。尚、開口絞り５２、コリメータ−レンズ５
３、そしてシリンドリカルレンズ５４等の各要素は入射
光学手段６２の一要素を構成している。

【０００６】５５は偏向手段であり、例えば回転多面鏡
より成り、モーター等の駆動手段（不図示）により図中
矢印ＰＡ方向に一定速度で回転している。５６はｆθ特
性を有する走査光学手段であり、第１、第２の２枚のｆ
θレンズを有している。走査光学手段５６は副走査断面
内において光偏向器５５の偏向面５５ａ近傍と被走査面
としての感光ドラム面５７近傍との間を共役関係にする
ことにより、倒れ補正機能を有している。

【０００７】５８は折り返しミラー（以下、「ＢＤミラ
ー」と記す。）であり、感光ドラム面５７上の走査開始
位置のタイミングを調整するための同期信号検知用の複
数の光束（ＢＤ光束）を後述する同期検出素子６１側へ
反射させている。５９はスリット（以下、「ＢＤスリッ
ト」と記す。）であり、感光ドラム面５７と等価な位置
に配されている。６０はＢＤレンズであり、ＢＤミラー
５８と同期検出素子６１とを共役な関係にするためのも
のであり、ＢＤミラー５８の面倒れを補正している。６
１は同期検出素子としての光センサー（以下、「ＢＤセ
ンサー」と記す。）である。尚、折り返しミラー５８、
ＢＤスリット５９、ＢＤレンズ６０、そしてＢＤセンサ
ー６１等の各要素は同期検出用光学手段（ＢＤ光学系）
の一要素を構成している。

【０００８】同図においては各発光部から射出したＢＤ
光束ごとにＢＤ検知を行ない、ＢＤセンサー６１からの
出力を用いて感光ドラム面５７上への画像記録の走査開
始位置のタイミングを各発光部から射出した光束毎に調
整している。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで発光部（光
源）が複数個あるマルチビーム光走査光学系において
は、被走査面上において 様々な理由により各光源から
射出した光束のの主走査方向の相対的な位置関係が走査
するに従い変化すると印字される画像は劣化してしま
う。また走査中において各発光部間の主走査方向の相対
的な位置関係が変化しなくても各発光部間で書き出し位
置がずれているとやはり印字される画像は劣化してしま
う。

【００１０】上記の現象を誘発する一因としてＢＤスリ
ット面上におけるＢＤ光束のピント位置ずれ（ＢＤ光束
がＢＤスリット面上にピントが合っておらず集光しな
い）と被走査面上における走査用の光束のピント位置ず
れがあることが考えられる。

【００１１】以下、図１９〜図２６を用いてＢＤスリッ
ト面上におけるＢＤ光束のピント位置ずれを説明してい
く。尚、図が見にくくなるのを防ぐため、前述の図全て
において本来ならば図中上側に書かれるべきＢＤセンサ
ーは省略している。更に図２０（Ａ）、図２３（Ａ）、
図２５（Ａ）、図２６（Ａ）ではマージナル光線を省略
している。

【００１２】図１９（Ａ）は各光束（ここでは一方の発
光部から出射したＡ光線と他方の発光部から出射したＢ
光線を示している）が主走査方向に対して丁度ＢＤスリ
ット上の一端(図では右端)に集光している各瞬間の状態
を表している。図の左から右へ走査されたＡ光線は丁度
ＢＤスリットの右端にきたときに初めてＢＤセンサーに
入射し、このときＢＤセンサーはＡ光線が入射したこと
を知らせる信号を出力する。次に左から右へ走査された
Ｂ光線はＡ光線と同様に丁度ＢＤスリットの右端にきた
ときに初めてＢＤセンサーに入射し、ＢＤセンサーはＢ
光線が入射したことを知らせる信号を出力する。この２
つの信号のタイミングを検知することでＡ、Ｂ光線の書
き出し位置のタイミングを調整している。

【００１３】ところがＢＤ光学系を通ったＡ、Ｂ光線の
主走査断面内でのスリットからみたピントの位置が図２
０（Ａ）に示すように手前側、つまり偏向手段側にδＭ
だけ相対的にずれると以下に記すような現象が起きＡ、
Ｂ光線の書き出し位置がずれる。ピントずれがなければ
ＢＤスリット右端で集光し、ようやくＢＤセンサーに入
射し始めるタイミングのＡ光線はピントずれのため、す
でにＢＤセンサー面上に入射している（図では左側の破
線で本来のＡ光線として示している）。実際にＢＤセン
サーに入射し始めるのは図中左側実線にＡ光線がきたと
きであり（実際のＡ光線として示している）、上記破線
と実線がずれている分だけＡ光線の書き出しタイミング
は速まる。逆にＢ光線は右側破線のときに（本来のＢ光
線として示している）、ＢＤセンサーに入射し始めるべ
きところがピントずれのため入射できず、右側実線の位
置にきて（実際のＢ光線）始めてＢＤセンサーに入射で
きるようになるため、右側破線と右側実線のずれ分だけ
Ｂ光線の書き出しタイミングは遅くなる。このため、Ｂ
Ｄスリット面上における２本の破線の距離に応じてＡ、
Ｂ光線の相対的な書き出し位置はずれることになる。以
下、このときの被走査面上における相対的な書き出し位
置ずれδＹｂを求めていく。

【００１４】上記ＢＤスリット面上における２本の破線
の距離δＹｂ'はスリット面上から見たピントずれ量δ
Ｍと各光線がスリット右端にきた時の入射角度の角度差
θｂ［rａｄ］から決まり、近似的には以下のように記
述できる。

【００１５】 δＹｂ'＝δＭ×θｂ ‥‥‥‥（１） 尚、入射角度の角度差θｂは偏向面で偏向される際のＡ
光線とＢ光線の偏向点がずれていることに起因し、主走
査断面内において偏向面で偏向された光束をスリット面
近傍に集光させるレンズ部を通過する箇所が各光線でず
れるために生じる。

【００１６】上記の様にスリット面上で相対的な位置ず
れδＹｂ'がＡ、Ｂ光線間で生じると、Ａ光線がＢＤセ
ンサーに入射後、Ｂ光線がＢＤセンサーに入射し始める
までに偏向手段(偏向面)が回転する角度φは、ＢＤ光学
系のピントずれがない場合の回転角度と比較して、 φ＝Arctan(（δＹｂ'／２）／Ｆｂ) ‥‥‥（２） だけずれることになる。(２)式においてＦｂは偏向面で
偏向された光束を主走査断面内においてスリット面近傍
に集光させるレンズ部の焦点距離であり、通常δＹｂ'
に対し２桁程度大きいため(２)式は更に以下のように近
似することができる。

【００１７】 φ＝０.５×δＹｂ'／Ｆｂ ‥‥‥‥（３） よって、被走査面上での相対的な書き出し位置ずれδＹ
ｂは走査光学手段の焦点距離をＦｆとすると、走査光学
手段はｆθ特性を有するため δＹｂ＝２×Ｆｆφ ＝（Ｆｆ／Ｆｂ）×δＹｂ' ＝（Ｆｆ／Ｆｂ）×(δＭ×θｂ) ‥‥‥‥（４） と表すことができる。つまり書き出し位置ずれδＹｂは
ＢＤスリット面上での相対的な位置ずれδＹｂ'に対し
同期検出用光学手段と走査光学手段の横倍率の比（Ｆｆ
／Ｆｂ）を掛けた分だけずれることになる。

【００１８】同期検出用光学手段においてスリット面に
対しピント位置がずれていると(４)式で示されるδＹｂ
分だけＡ光線による走査線とＢ光線による走査線は主走
査方向に一律ずれることになる。これに対し同期検出用
光学手段においてピントずれがなくても図２１に示すよ
うに被走査面からみてピントの位置が偏向手段側にδＸ
ずれていると、Ａ光線とＢ光線が交わる箇所がδＸだけ
偏向手段側にずれることになるため、この場合もＡ光線
とＢ光線の主走査方向における相対的な位置ずれδＹｆ
(以下、このような現象を書き出し位置ずれも含め「ド
ット位置ずれ」と呼ぶ。)が発生する。以下、このとき
の相対的なドット位置ずれδＹｆを図２１を参照に求め
ていく。尚、このときのドット位置ずれは走査領域の各
像高の被走査面から見たピントずれに応じて発生するた
め、像面湾曲等の影響によりドット位置ずれの量は一般
には一定にはならない。

【００１９】図２１は各光束（ここではＡ、Ｂ光線）が
手前側、つまり偏向手段側にδＸだけ被走査面から見て
ピントがずれている場合における、Ａ、Ｂ光線が同一像
高を印字しようとしている各瞬間のＡ、Ｂ光線の位置関
係を示している。この場合距離δＸだけピントがずれて
いるため距離δＸだけ手前で各光線の位置関係が一致す
る。しかしながら実際の被走査面は距離δＸだけ奥にあ
るわけであるから両者の位置関係は近似的に δＹｆ＝δＸ×θｆ ‥‥‥‥（５） だけずれることになる。なお、θｆ［rａｄ］は各光線
Ａ，Ｂがそれぞれある像高にきたときの被走査面への入
射角度の角度差を示している。

【００２０】以上より、同期検出用光学手段のピントず
れδＹｂ及び走査光学手段のピントずれδＹｆの両者を
考慮したドット位置ずれδＹは δＹ＝δＹｆ−δＹｂ ＝δＸ×θｆ−（Ｆｆ／Ｆｂ）×δＭ×θｂ ‥‥‥‥（６） となる。尚、(６)式右辺でδＹｆとδＹｂの符号が異な
っているのは以下の理由のためである。ピントずれが手
前に発生したときに同期検出用光学手段によるものはＡ
光線による走査線の書き出し位置がＢ光線による走査線
の書き出し位置に対し書き出し側にずれるのに対し、走
査光学手段によるものはＢ光線の方が書き出し側にずれ
ることを考慮したためである。

【００２１】また、入射角度の角度差θｆ及びθｂは、
偏向面を光源に正対させた時の偏向面上における各光線
の主走査方向の位置ずれ量をｄとすると以下のように近
似することができる。

【００２２】θｂ＝ｄ／Ｆｂ ‥‥‥‥（７ａ） θｆ＝ｄ／Ｆｆ ‥‥‥‥（７ｂ）よって(６)式
は δＹ＝[(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)×δＭ]×θｂ ‥‥（８ａ） または、 δＹ＝[δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)^２×δＭ]×θｆ ‥‥‥（８ｂ） のように変形することができる。

【００２３】これまでの説明は光源が２つであることが
前提のような書き方になっているが、実際には光源の数
が更に多い場合でも成り立ち、各発光部間のドット位置
ずれδＹの最大ずれ量δＹtotalはスリット面上におけ
る各光束の入射角度の最大角度差をθmａx［rad］とす
ると δＹtotal＝[(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)×δＭ]×θmａx ‥（９） となる。

【００２４】よって許容できる各走査線間のドット位置
ずれδＹの最大値をδＹmａxとすると、ピントずれ量δ
Ｍ及びδＸが ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)×δＭ｜≦δＹmａx／θmａx ・・(１０) を満たすようにマルチビーム走査光学系を構成する必要
がある。もっとも上記のように構成した場合、ベストス
ポット位置と被走査面との位置がずれてしまう場合があ
るが、それでもピント位置が許容される深度範囲内にあ
れば画質には殆ど影響を及ぼさない。

【００２５】また、ドット位置ずれの最大値δＹmａxは
副走査方向の解像度の半分程度以下であることが好まし
い。これを超えるようであるならば、隣り合った横線が
ずれたように見え始め印字された結果は非常に見づらい
ものになってしまう。

【００２６】ちなみに、δＹmａx＝１０.５μｍ（１２
００ｄpiの半ドット分に相当）、θmａx＝０.３[deg]、
Ｆｆ=１４０mm、Ｆｂ=７０mmとするとき、 δＭ＝０ならばδＸは δＸ≦４.０mm δＸ＝０ならばδＭは δＭ≦１.０mm となる。

【００２７】尚、これまではピント位置がＢＤスリット
の手前にずれた場合において説明してきたが、ピント位
置がＢＤスリットの奥にずれていたとしても図２２〜図
２６から分かるように上記と同じことがいえる。

【００２８】尚、図２２はピントが奥（反偏向手段）側
にずれたときの各光線の位置関係を示す為の基準状態を
示す説明図、図２３はＢＤスリットに対してピントが相
対的に奥（反偏向手段）側にずれたときの各光線の位置
関係を示した説明図、図２４は被走査面に対してピント
が相対的に奥（反偏向手段）側にずれたときの各光線の
位置関係を示した説明図、図２５はＢＤスリット及び被
走査面に対してピントが相対的に手前（偏向手段）側に
ずれたときの各光線の位置関係を示した説明図、図２６
はＢＤスリット及び被走査面に対してピントが相対的に
奥（反偏向手段）側にずれたときの各光線の位置関係を
示した説明図である。

【００２９】また、各光束の被走査面への入射角度が全
く同じ場合、（７）式よりＢＤスリットへの入射角度も
全て同じになるためθmａx＝０となり、 (９)式から分
かるようにピント位置ずれによるドット位置ずれは発生
しなくなる。 しかしながら上記のような状態にするに
は、各発光部の配置が主走査方向にずれていない状態、
つまり副走査方向に一列に並べた場合、もしくは絞りま
たは絞りの共役点を偏向面上に配置したことにより各光
束の主光線を偏向面上でクロスさせた場合にしかありえ
ない。

【００３０】前者に関しては通常、各発光部をこのよう
な配置にすると特に副走査方向が拡大系に構成されてい
る場合、各発光部間の距離は数μｍから十数μｍ程度と
短くなりすぎ（通常市販されているマルチレーザの発光
部間距離は１００μｍ程度）、クロストークが発生し、
各発光部の光量に差が出るなど安定した発振ができなく
なり、更には寿命が短くなり易い。

【００３１】後者に関しては偏向面上に絞りを配置する
には少なくとも主走査方向に関しては絞りに相当するも
のは置かずに偏向面に絞りとしての機能を持たせること
で所望の状態をなすことができるが、この場合、偏向走
査するに従い偏向される光束の幅が変化するためスポッ
ト径が変化し更に光量も変化するため好ましくない。ま
た、絞りの共役点を偏向面上に設ける方法としてリレー
光学系を用いる方法があるがリレー光学系を用いると必
要となる光学素子が増え、スペース的にもコスト的にも
好ましくない。

【００３２】またＢＤ光学系においてＢＤスリットを持
たないマルチビーム走査光学系の場合、結果としてＢＤ
センサーの縁の部分がＢＤスリットの役割を果たしてお
り、ＢＤスリット右端をＢＤセンサー有効部左端、ＢＤ
スリット面をＢＤセンサーの受光面と置き換えて読めば
よい。

【００３３】また、これまでの説明では走査方向を図中
左方向から右方向としたが、走査方向が逆になっても書
き出しのタイミングを決めるＢＤスリットが右端から図
には図示していない右側のＢＤスリットの左端に変わる
以外、同じことが言える。

【００３４】本発明は比較的簡単な構成によって高速で
高品位の印字を実現できるマルチビーム走査光学系及び
それを用いた画像形成装置の提供を目的とする。

【００３５】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明のマルチ
ビーム走査光学系は、主走査方向に対し離して配置した
複数の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束
を偏向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段によ
り偏向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査
光学手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束の
一部を同期検出用のレンズ部によりスリット面上に集光
させた後、同期検出素子に導光し、該同期検出素子から
の信号を用いて該被走査面上の走査開始位置のタイミン
グを該複数の光束毎に制御する同期検出用光学手段と、
を有するマルチビーム走査光学系において、該走査光学
手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレンズ部の焦点
距離をＦｂ、該スリットから見た該同期検出素子に導光
される光束の主走査断面内でのピント位置ずれ量をδＭ
１、該被走査面上から見た各像高のピント位置ずれ量を
δＸ、許容できる各走査線のドット位置ずれ量をδＹm
ａx、スリット面への各光束の入射角度の最大角度差を
θmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、以下の条件式 ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１｜≦δＹmａx／θmａx ・・(Ａ) を満足することを特徴としている。

【００３６】請求項２の発明は請求項１の発明におい
て、前記許容できる各走査線のドット位置ずれ量は副走
査方向の解像度の１／２以下であることを特徴としてい
る。

【００３７】請求項３の発明は請求項１又は２の発明に
おいて、前記同期検出素子に導光される光束の主走査断
面内でのピント位置を前記スリットから相対的に前記同
期検出用光学手段の光軸方向にずらす補正手段を有して
いることを特徴としている。

【００３８】請求項４の発明は請求項３の発明におい
て、前記スリットまたは該スリットを含むユニットの位
置を前記同期検出用光学手段の光軸方向に対して移動さ
せる補正手段を有していることを特徴としている。

【００３９】請求項５の発明は請求項３の発明におい
て、前記同期検出用のレンズ部は前記偏向手段と前記ス
リットとの間の光路内に設けられ、該同期検出用のレン
ズ部の少なくとも一部のレンズを前記同期検出用光学手
段の光軸方向に対して移動させる補正手段を有している
ことを特徴としている。

【００４０】請求項６の発明は請求項１乃至４の何れか
１項の発明において、前記同期検出用のレンズ部は単レ
ンズより成り、前記入射光学手段を構成する光学素子の
一部と一体化されていることを特徴としている。

【００４１】請求項７の発明のマルチビーム走査光学系
は、主走査方向に対し離して配置した複数の発光部を有
する光源手段から射出した複数の光束を偏向手段に導光
する入射光学手段と、該偏向手段により偏向された複数
の光束を被走査面上に結像させる走査光学手段と、該偏
向手段により偏向された複数の光束の一部を同期検出用
のレンズ部によりスリット面上に集光させた後、同期検
出素子に導光し、該同期検出素子からの信号を用いて該
被走査面上の走査開始位置のタイミングを該複数の光束
毎に制御する同期検出用光学手段と、を有するマルチビ
ーム走査光学系において、該走査光学手段の焦点距離を
Ｆｆ、該同期検出用のレンズ部の焦点距離をＦｂ、該ス
リットから見た該同期検出素子に導光される光束の主走
査断面内でのピント位置ずれ量をδＭ１、該被走査面上
から見た各像高のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、
Ｆｆ≠Ｆｂであり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ
／Ｆｂ)・δＭ１]がある値を持つことによって発生する
該被走査面上における各走査線のドット位置ずれを補正
する補正手段を有していることを特徴としている。

【００４２】請求項８の発明は請求項７の発明におい
て、前記被走査面上における各走査線のドット位置ずれ
量は副走査方向の解像度の１／２以下であることを特徴
としている。

【００４３】請求項９の発明は請求項７又は８の発明に
おいて、前記複数の発光部を副走査方向に対し離して配
置したことを特徴としている。

【００４４】請求項１０の発明は請求項９の発明におい
て、前記スリットまたは該スリットを含むユニットを前
記被走査面上における各走査線のドット位置ずれ量に応
じて副走査方向に傾斜させていることを特徴としてい
る。

【００４５】請求項１１の発明は請求項９の発明におい
て、前記スリットまたは該スリットを含むユニットを前
記被走査面上における各走査線のドット位置ずれ量に応
じて前記同期検出用光学手段の光軸まわりに回転させる
角度調整手段を有していることを特徴としている。

【００４６】請求項１２の発明のマルチビーム走査光学
系は、主走査方向に対し離して配置した複数の発光部を
有する光源手段から射出した複数の光束を偏向手段に導
光する入射光学手段と、該偏向手段により偏向された複
数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手段と、該
偏向手段により偏向された複数の光束の一部を同期検出
用のレンズ部により同期検出素子に導光し、該同期検出
素子からの信号を用いて該被走査面上の走査開始位置の
タイミングを該複数の光束毎に制御する同期検出用光学
手段と、を有するマルチビーム走査光学系において、該
走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレンズ
部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面から見た
該同期検出素子に導光される光束の主走査断面内でのピ
ント位置ずれ量をδＭ２、該被走査面上から見た各像高
のピント位置ずれ量をδＸ、許容できる各走査線のドッ
ト位置ずれ量をδＹmａx、該受光面への各光束の入射角
度の最大角度差をθmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであ
り、以下の条件式 ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ２｜≦δＹmａx／θmａx ・・(Ｂ) を満足することを特徴としている。

【００４７】請求項１３の発明は請求項１２の発明にお
いて、前記許容できる各走査線のドット位置ずれ量は副
走査方向の解像度の１／２以下であることを特徴として
いる。

【００４８】請求項１４の発明は請求項１２又は１３の
発明において、前記同期検出素子に導光される光束の主
走査断面内でのピント位置を該同期検出素子の受光面か
ら相対的に前記同期検出用光学手段の光軸方向にずらす
補正手段を有していることを特徴としている。

【００４９】請求項１５の発明は請求項１４の発明にお
いて、前記同期検出素子または該同期検出素子を含むユ
ニットの位置を前記同期検出用光学手段の光軸方向に対
して移動させる補正手段を有していることを特徴として
いる。

【００５０】請求項１６の発明は請求項１４の発明にお
いて、前記同期検出用のレンズ部は前記偏向手段と前記
同期検出素子との間の光路内に設けられ、該同期検出用
のレンズ部の少なくとも一部のレンズを前記同期検出用
光学手段の光軸方向に対して移動させる補正手段を有し
ていることを特徴としている。

【００５１】請求項１７の発明は請求項１２乃至１６の
何れか１項の発明において、前記同期検出用のレンズ部
は単レンズより成り，前記入射光学手段を構成する光学
素子の一部と一体化されていることを特徴としている。

【００５２】請求項１８の発明のマルチビーム走査光学
系は、主走査方向に対し離して配置した複数の発光部を
有する光源手段から射出した複数の光束を偏向手段に導
光する入射光学手段と、該偏向手段により偏向された複
数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手段と、該
偏向手段により偏向された複数の光束の一部を同期検出
用のレンズ部により同期検出素子に導光し、該同期検出
素子からの信号を用いて該被走査面上の走査開始位置の
タイミングを該複数の光束毎に制御する同期検出用光学
手段と、を有するマルチビーム走査光学系において、該
走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレンズ
部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面から見た
該同期検出素子に導光される光束の主走査断面内でのピ
ント位置ずれ量をδＭ２、該被走査面上から見た各像高
のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであ
り、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ
２]がある値を持つことによって発生する該被走査面上
における各走査線のドット位置ずれを補正する補正手段
を有していることを特徴としている。

【００５３】請求項１９の発明は請求項１８の発明にお
いて、前記被走査面上における各走査線のドット位置ず
れ量は副走査方向の解像度の１／２以下であることを特
徴としている。

【００５４】請求項２０の発明は請求項１８又は１９の
発明において、前記複数の発光部を副走査方向に対し離
して配置したことを特徴としている。

【００５５】請求項２１の発明のマルチビーム走査光学
系は、主走査方向に対し離して配置した複数の発光部を
有する光源手段から射出した複数の光束を偏向手段に導
光する入射光学手段と、該偏向手段により偏向された複
数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手段と、該
偏向手段により偏向された複数の光束の一部を同期検出
用のレンズ部によりスリット面上に集光させた後、同期
検出素子に導光し、該同期検出素子からの信号を用いて
該被走査面上の走査開始位置のタイミングを該複数の光
束毎に制御する同期検出用光学手段と、を有するマルチ
ビーム走査光学系において、該走査光学手段の焦点距離
をＦｆ、該同期検出用のレンズ部の焦点距離をＦｂ、該
スリットから見た該同期検出素子に導光される光束の主
走査断面内でのピント位置ずれ量をδＭ１、前記被走査
面上から見た各像高のピント位置ずれ量をδＸとしたと
き、Ｆｆ≠Ｆｂであり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−
(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１]がある値を持つことによって発
生する該被走査面上における各走査線のドット位置ずれ
量が副走査方向の解像度の１／２以下であることを特徴
としている。

【００５６】請求項２２の発明のマルチビーム走査光学
系は、主走査方向に対し離して配置した複数の発光部を
有する光源手段から射出した複数の光束を偏向手段に導
光する入射光学手段と、該偏向手段により偏向された複
数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手段と、該
偏向手段により偏向された複数の光束の一部を同期検出
用のレンズ部により同期検出素子に導光し、該同期検出
素子からの信号を用いて該被走査面上の走査開始位置の
タイミングを該複数の光束毎に制御する同期検出用光学
手段と、を有するマルチビーム走査光学系において、該
走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレンズ
部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面から見た
該同期検出素子に導光される光束の主走査断面内でのピ
ント位置ずれ量をδＭ２、前記被走査面上から見た各像
高のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂで
あり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δ
Ｍ２]がある値を持つことによって発生する該被走査面
上における各走査線のドット位置ずれ量が副走査方向の
解像度の１／２以下であることを特徴としている。

【００５７】請求項２３の発明の画像形成装置は、請求
項１乃至２２の何れか１項に記載のマルチビーム走査光
学系と、前記被走査面に配置された感光体と、前記マル
チビーム走査光学系で走査された光束によって前記感光
体上に形成された静電潜像をトナー像として現像する現
像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転写
器と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着
器とを有することを特徴としている。

【００５８】請求項２４の発明の画像形成装置は、請求
項１乃至２２の何れか１項に記載のマルチビーム走査光
学系と、外部機器から入力したコードデータを画像信号
に変換して前記マルチビーム走査光学系に入力せしめる
プリンタコントローラとを有していることを特徴として
いる。

【００５９】

【発明の実施の形態】［実施形態１］図１は本発明の実
施形態１のマルチビーム走査光学系の主走査方向の要部
断面図（主走査断面図）である。

【００６０】尚、本明細書においては走査光学手段の光
軸と光偏向器により偏向された光束とが形成する面を主
走査断面、走査光学手段の光軸を含み主走査断面と直交
する面を副走査断面と定義する。

【００６１】同図において１は光源ユニット（光源手
段）であり、例えば半導体レーザよりなる２つの発光部
（光源）１ａ，１ｂを有している。尚、発光部は３つ以
上でも良い。２つの発光部１ａ，１ｂは図２に示すよう
に主走査方向及び副走査方向に対して各々離して配置し
ており、発光部間の距離は副走査方向よりも主走査方向
の方が長い。これは実際に必要な副走査方向の発光部間
の距離に対し実際の発光部間の距離の方が長く、２つの
発光部１ａ，１ｂを持つ光源ユニット１を回転すること
によって、副走査方向の発光部間距離を所望の値にして
いるためである。

【００６２】２はコリメータ−レンズであり、各発光部
１ａ，１ｂから出射された発散光束を略平行光束に変換
している。

【００６３】４はシリンドリカルレンズであり、副走査
方向のみに所定の屈折力を有している。尚、シリンドリ
カルレンズ４は後述するＢＤレンズ部８と一体成形され
ている。

【００６４】３は開口絞りであり、各発光部１ａ，１ｂ
から射出し、コリメータ−レンズ２及びシリンドリカル
レンズ４を透過した光束を所望の最適なビーム形状に整
形している。本実施形態ではこの開口絞り３を後述する
偏向手段５の偏向面５ａに近づけることにより各発光部
１ａ，１ｂから照射される光束の偏向点を近づけドット
位置ずれを軽減している。つまり前記式(７ａ)及び(７
ｂ)のｄの値を小さくすることで偏向面への入射角度の
角度差を小さくし、最終的にドット位置ずれδＹを軽減
している。

【００６５】尚、コリメータ−レンズ２、シリンドリカ
ルレンズ４、そして開口絞り３等の各要素は入射光学手
段１４の一要素を構成している。

【００６６】５は偏向手段としての光偏向器であり、例
えば回転多面鏡より成り、モーター等の駆動手段（不図
示）により図中矢印ＰＡ方向に一定速度で回転してい
る。

【００６７】６はｆθ特性を有する走査光学手段であ
り、第１、第２の２枚の光学素子（ｆθレンズ）６ａ，
６ｂを有し、光偏向器５により偏向された２つの光束を
被走査面７上にスポット状に結像させ、２本の走査線を
形成している。走査光学手段６は副走査断面内において
光偏向器５の偏向面５ａもしくはその近傍と感光ドラム
面７もしくはその近傍との間を共役関係にすることによ
り、倒れ補正機能を有している。

【００６８】８は同期検出用のレンズ部（以下、「ＢＤ
レンズ部」と記す。）であり、単一のアナモフィックな
レンズより成り、シリンドリカルレンズ４と一体的に形
成されており、光偏向器５と後述するＢＤスリット９と
の間の光路内に設けられている。このＢＤレンズ部８は
後述する同期検出素子１０の近傍に設けたスリット９面
上に同期信号検知用の２つの光束（ＢＤ光束）を結像さ
せている。

【００６９】９は同期検出用のスリット（以下、「ＢＤ
スリット」と記す。）であり、ＢＤレンズ部８により収
束されたＢＤ光束の集光点もしくはその近傍に配されて
おり、画像の書き出し位置を決めている。

【００７０】１０は同期検出素子としての光センサー
（以下、「ＢＤセンサー」と記す。）であり、本実施形
態では該ＢＤセンサー１０からの出力信号を検知して得
られた同期信号（ＢＤ信号）を用いて感光ドラム面７上
への画像記録の走査開始位置のタイミングを各発光部か
ら射出した光束毎に調整している。

【００７１】本実施形態における上記のＢＤレンズ部８
はスペース的な問題点から、該ＢＤレンズ部８の焦点距
離Ｆｂを走査光学手段６の焦点距離Ｆｆよりも短くなる
ように設定している。また本実施形態においては上記の
如くシリンドリカルレンズ４とＢＤレンズ部８とを一体
成形することで、簡易に構成している。更にＢＤレンズ
部８に入射する光束は主走査断面内においては略平行光
束、副走査断面内においては発散光束となっており、こ
の光束をＢＤスリット上で集光させるため ＢＤレンズ
部８はアナモフィックなレンズとしている。 尚、ＢＤ
レンズ部８、ＢＤスリット９、そしてＢＤセンサー１０
等の各要素は同期検出用光学手段（ＢＤ光学系）の一要
素を構成している。

【００７２】本実施形態において画像情報に応じて光源
ユニット１から光変調され射出した２つの光束はコリメ
ータ−レンズ２により略平行光束に変換され、シリンド
リカルレンズ４に入射する。シリンドリカルレンズ４に
入射した光束のうち主走査断面内においてはそのままの
状態で射出する。また副走査断面内においては収束して
開口絞り３を介して光偏向器５の偏向面５ａにほぼ線像
（主走査方向に長手の線像）として結像する。その際、
開口絞り３によってその光束断面の大きさが制限され
る。そして光偏向器５の偏向面５ａで反射偏向された２
つの光束は走査光学手段６により感光ドラム面７上にス
ポット状に結像され、該光偏向器５を矢印ＰＡ方向に回
転させることによって、該感光ドラム面７上を矢印ＳＢ
方向（主走査方向）に等速度で光走査している。これに
より記録媒体である感光ドラム面７上に画像記録を行な
っている。

【００７３】このとき感光ドラム面７上を光走査する前
に該感光ドラム面７上の走査開始位置のタイミングを調
整する為に、光偏向器５で反射偏向された２つの光束の
一部の同期信号検知用の光束（ＢＤ光束）をＢＤレンズ
部８により主走査断面に対しＢＤスリット９面上に集光
させた後、ＢＤセンサー１０に導光している。そしてＢ
Ｄセンサー１０からの出力信号を検知して得られた同期
信号（ＢＤ信号）を用いて感光ドラム面７上への画像記
録の走査開始位置のタイミングを各発光部から射出され
た光束毎に調整している。

【００７４】また、このときＢＤスリット９面上から見
たＢＤ光束のピント位置と被走査面７上から見た走査用
の光束のピント位置がずれていると、図１９〜図２６を
用いて前述した如くＡ，Ｂ光線の書き出し位置がずれた
り、走査中のＡ，Ｂ光線の主走査方向の相対的な位置関
係が変化したりして印字画像が劣化するという問題点が
発生する。

【００７５】そこで本実施形態では以下に示す条件式
（Ａ）を満足するように各要素を設定することにより、
上記の問題点を解決している。即ち、走査光学手段の焦
点距離をＦｆ、該同期検出用光学手段の焦点距離をＦ
ｂ、ＢＤスリット９から見たＢＤセンサー１０に導光さ
れる光束の主走査断面内でのピント位置ずれ量をδＭ
１、被走査面上から見た各像高のピント位置ずれ量をδ
Ｘ、許容できる各走査線のドット位置ずれ量をδＹmａ
x、ＢＤスリット９面への各光束の入射角度の最大角度
差をθmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、以下の条件
式（Ａ） ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１｜≦δＹmａx／θmａx ‥(Ａ) を満足させている。

【００７６】具体的な数値としては副走査方向の解像度
を１２００ｄpiとし、δＹmａx＝１０.５μm，θmａx＝
０.３[deg]、走査光学手段の焦点距離Ｆｆ＝１４０mm、
同期検出用のレンズ部の焦点距離Ｆｂ＝７０mmと設定し
たとき、条件式（Ａ）の左辺（｜(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−
(Ｆｆ／Ｆｂ)×δＭ｜）の値を２mm以下になるように設
定している。ちなみに、 δＭ１＝０ならば、δＸは δＸ ≦４.０mm、 δＸ ＝０ならば、δＭ１は δＭ１≦１.０mm となる。これにより本実施形態では高速で高品位な印字
を実現している。

【００７７】尚、本実施形態では許容できる各走査線の
ドット位置ずれ量δＹmaxを副走査方向の解像度の１／
２以下となるように設定している。

【００７８】次に許容できる各走査線のドット位置ずれ
量は副走査方向の解像度の１／２以下が好ましい理由を
以下に説明する。仮に光源の数を２つとし、ドットずれ
量が１ドット分あると仮定した場合、本来の印字箇所お
いて、１ドット分前もしくは１ドット分後の画像が印字
され、本来印字されなくても良い箇所で印字されたり、
逆に印字されるべき箇所で印字されないと言うことが起
こり、非常に見づらい印字状態になってしまう。上記の
ような現象を考えるとドットずれ量は０であることが望
ましいのであるが、実際に行うには非常に困難である。
また、１／２ドット(１２００ｄpiでは１０μm程度)以
下と少量であるならば、実際に印字された画像を見ても
見づらさを感じることはない。逆に１／２ドットを超え
るほどのドットずれが発生すると実際に印字される画像
にもよるが目で見ても次第に認識できるようになり印字
状態として良い状態とはいえなくなる。

【００７９】以上の説明は話をあまり複雑にしないため
に光源の数を２つに限定したが、このような現象は光源
の数に限らず発生するため、ドットずれ量の最大値を１
／２ドット以下にする必要がある。

【００８０】また本実施形態ではＡ光線がＢＤセンサー
１０に入射し、ＢＤセンサー１０から出力信号が発生し
てから感光ドラム７に印字を開始するまでの時間間隔と
Ｂ光線がＢＤセンサー１０に入射し、ＢＤセンサー１０
から出力信号が発生してから感光ドラム７に印字を開始
するまでの時間間隔は等しいものとしている。

【００８１】尚、本実施形態においてはコリメータ−レ
ンズ２によって光源ユニット１から射出した各光束を略
平行光束に変換しているが、これに限らず、例えば収束
光束もしくは発散光束に変換しても前述の実施形態１と
同様な効果を得ることができる。

【００８２】また本実施形態では２本の光束（レーザー
ビーム）を用いる場合について説明したが、これに限ら
ず、３本以上の光束でも良い。また本実施形態では走査
光学手段を２枚のレンズより構成したが、これに限ら
ず、１枚もしくは３枚以上で構成しても良い。

【００８３】［実施形態２］図３は本発明の実施形態２
のマルチビーム走査光学系の主走査方向の要部断面図
（主走査断面図）、図４は図３に示した本発明に適用さ
れる調整手段の要部概略図である。図３，図４において
図１に示した要素と同一要素には同符番を付している。

【００８４】本実施形態においては前述の実施形態１と
異なる点はＢＤセンサー１０に導光されるＢＤ光束の主
走査断面内でのピント位置を補正手段の一要素を構成す
る調整手段によりＢＤスリット９から相対的にＢＤ光学
系の光軸方向にずらして構成することによって前記条件
式（Ａ）を満足させたことである。その他の構成及び光
学的作用は実施形態１と略同様であり、これにより同様
な効果を得ている。

【００８５】即ち、走査光学手段６の像面湾曲の状態が
平坦に近く、かつピント位置にＢＤスリット９を配置す
ると条件式（Ａ）の左辺（｜(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−(Ｆ
ｆ／Ｆｂ)×δＭ｜）の値が無視できない値を持つよう
な場合は、図３に示すように始めからＢＤスリット９を
調整手段２２０（図４）によってピント位置からＢＤ光
学系の光軸方向に移動させることによって、条件式
（Ａ）を満足させている。これにより高速で高品位の印
字を実現している。

【００８６】次にドットずれを調整する調整手段２２０
について図４を用いて説明する。

【００８７】同図におけるＢＤスリット９は調整手段２
２０によりＢＤ光学系の光軸方向へ移動調整が可能であ
る。即ち、同図に示すようにＢＤスリット９は支持体２
２１に接着等により固定されている。支持体２２１はガ
イド２２２に嵌装されて光軸方向へ移動可能となってい
る。保持体２２３は画像形成装置内に固定されている。
ガイド２２２は装置の不動部材に固定された「コ字形
状」の保持体２２３に固定されている。保持体２２３と
支持体２２１との間には圧縮性のバネ２２４が介在し、
支持体２２１に図の左方へ向かう弾性力を作用させてい
る。保持体２２３に螺装された調整螺子２２５は、その
先端部を調整手段２２０に右側から当接させて上記バネ
２２４の弾性力による支持体の移動を留める。従って調
整螺子２２５を送れば支持体２２１を図の右側へ、また
調整螺子２２５を弛めれば支持体２２１を左側へ変位さ
せることができ、測定された被走査面上のＡ、Ｂ光線の
ドット位置ずれ量δＹに基づいて、条件式（Ａ）を満た
すようにＢＤスリット９の位置を光軸方向において移動
調整する。

【００８８】［実施形態３］図５は本発明の実施形態３
のマルチビーム走査光学系の主走査方向の要部断面図
（主走査断面図）である。同図において図１に示した要
素と同一要素には同符番を付している。

【００８９】本実施形態において前述の実施形態１と異
なる点はＢＤスリット９を含むユニット１３を補正手段
の一要素を構成する調整手段２２０によりＢＤ光学系の
光軸方向に移動させることによって条件式（Ａ）を満足
させたことと、光偏向器の回転方向を逆方向（図中矢印
Ｃ方向）に回転させて構成したこと、及びシリンドリカ
ルレンズ４とＢＤレンズ部８を別部材としたことであ
る。その他の構成及び光学的作用は実施形態１と略同様
であり、これにより同様な効果を得ている。

【００９０】即ち、本実施形態においては光偏向器５を
モーター等の駆動手段（不図示）により実施形態１の回
転方向とは逆方向の図中矢印Ｃ方向に一定速度で回転さ
せている。これはスペースの問題で走査光学手段６と入
射光学手段１４との間に同期検出用光学手段（ＢＤ光学
系）を配置することができなくなった為の処置である。

【００９１】このとき実施形態１と同様にＢＤスリット
９面上における各ＢＤ光束のピントの位置と被走査面７
上における走査用の光束のピントの位置がずれている
と、前述した如くＡ，Ｂ光線の書き出し位置がずれた
り、走査中のＡ，Ｂ光線の主走査方向の相対的な位置関
係が変化したりして印字画像が劣化するという問題点が
発生する。

【００９２】特に本実施形態においては高画質化を達成
するためδＹmax＝６μm、θmax＝０.３[deg]としてい
るため、条件式（Ａ）の左辺（｜(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−
(Ｆｆ／Ｆｂ)×δＭ｜）の値は１.１５mm以下に設定す
る必要があり、調整無しでこれだけの光学性能を有する
マルチビーム走査光学系を安定して構成するのは非常に
難しい。

【００９３】そこで本実施形態では調整手段（図４）に
よりＢＤスリット９を含むユニット１３を図５に示す矢
印Ｄの如くＢＤ光学系の光軸方向に移動させることによ
って、ＢＤスリット９面上におけるＢＤ光束の主走査断
面内での集光状態を調整し、ドット位置ずれを改善して
いる。これにより上記の仕様、即ち条件式（Ａ）を満足
させ、高速で高品位の印字を実現している。

【００９４】［実施形態４］図６は本発明の実施形態４
のマルチビーム走査光学系の主走査方向の要部断面図
（主走査断面図）である。同図において図５に示した要
素と同一要素には同符番を付している。

【００９５】本実施形態において前述の実施形態３と異
なる点はＢＤスリット９及び該ＢＤスリット９を含むユ
ニット１３を固定とし、ＢＤレンズ部８を補正手段の一
要素を構成する調整手段によりＢＤ光学系の光軸方向に
移動させることによって条件式（Ａ）を満足させたこと
である。その他の構成及び光学的作用は実施形態３と略
同様であり、これにより同様な効果を得ている。

【００９６】即ち、本実施形態ではＢＤスリット９及び
該ＢＤスリット９を含むユニット１３を固定しており、
単一のレンズを有するＢＤレンズ部８を前述の実施形態
３と同様にシリンドリカルレンズ４とは一体化せずに別
個に構成している。

【００９７】このとき実施形態１と同様にＢＤスリット
９面上における各ＢＤ光束のピントの位置と被走査面７
上における走査用の光束のピントの位置がずれている
と、前述した如くＡ，Ｂ光線の書き出し位置がずれた
り、走査中のＡ，Ｂ光線の主走査方向の間隔が変化した
りして印字画像が劣化するという問題点が発生する。

【００９８】そこで本実施形態では調整手段によりＢＤ
レンズ部８を図中矢印Ｆに示す如くＢＤ光学系の光軸方
向に移動させることによって、ＢＤスリット９面上にお
けるＢＤ光束の主走査断面内での集光状態を調整し、こ
れにより上記の条件式（Ａ）を満足させ、高品位の印字
を実現している。

【００９９】尚、本実施形態においては走査光学手段６
の像面湾曲の程度が製品毎にかなり安定し、かつピント
位置にＢＤスリット９を配置すると条件式（Ａ）の左辺
（｜(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)×δＭ｜）の値
が無視できない値を持つような場合は、予めＢＤレンズ
部８の位置を光軸上ずらしておくことにより主走査断面
内でのピントの位置を変えておき、これにより条件式
（Ａ）を満たすようにしても良い。

【０１００】［実施形態５］図７は本発明の実施形態５
のマルチビーム走査光学系の主走査方向の要部断面図
（主走査断面図）、図８は図７に示した角度調整手段の
要部斜視図である。図７において図１に示した要素と同
一要素には同符番を付している。

【０１０１】本実施形態においては走査光学手段６の焦
点距離をＦｆ、同期検出用のレンズ部８の焦点距離をＦ
ｂ、ＢＤスリット９から見たＢＤセンサー１０に導光さ
れるＢＤ光束の主走査断面内でのピント位置ずれ量をδ
Ｍ１、被走査面７上から見た各像高のピント位置ずれ量
をδＸとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、かつ、上記条件
式（Ａ）の左辺（｜(Ｆｂ／Ｆｆ)×δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)
×δＭ１｜）がある値を持つことによって発生する被走
査面上における各走査線のドット位置ずれを図８に示す
補正手段の一要素を構成する角度調整手段１５によりＢ
Ｄスリット９または該ＢＤスリット９を含むユニット１
６を上記被走査面上における各走査線のドット位置ずれ
量に応じてＢＤ光学系の光軸周りに回転させることによ
って補正している。

【０１０２】尚、本実施形態では被走査面上における各
走査線のドット位置ずれ量が副走査方向の解像度の１／
２以下と成るように設定している。

【０１０３】本実施形態における光源ユニット１は前記
図２に示すように副走査方向においても各発光部１ａ，
１ｂが離れて配置されており、副走査方向に対して光線
の通過する箇所が各発光部１ａ，１ｂに対応するＡ，Ｂ
光線で異なっている。

【０１０４】そこで本実施形態では角度調整手段１５に
より図９（Ａ），（Ｂ）及び図１０（Ａ），（Ｂ）に示
すようにＢＤスリット９を所定方向へ回転させることに
より、Ａ光線に対してＢ光線がＢＤセンサー１０に入射
し始めるタイミングを変えている。

【０１０５】尚、図９（Ａ），（Ｂ）は各々ＢＤスリッ
ト９の傾斜と各光線Ａ，Ｂの印字位置（調整前）を示す
説明図、図１０（Ａ），（Ｂ）は各々ＢＤスリット９の
傾斜と各光線Ａ，Ｂの印字位置（調整後）を示す説明図
である。

【０１０６】このように本実施形態では上述の如くＢＤ
センサー１０に導光される各ＢＤ光束の主走査断面内で
のピント位置ずれδＭ１と、被走査面７上における各像
高のピント位置ずれδＸとによって本来なら発生するは
ずのドットずれを角度調整手段１５を用いてＢＤスリッ
ト９を回転調整することにより補正（キャンセル）して
いる。これにより高速で高品位な印字を実現している。

【０１０７】尚、本実施形態においてマルチビーム走査
光学系を用いて画像形成を行なう光学的作用は前述の実
施形態１と略同様である。

【０１０８】［実施形態６］図１１は本発明の実施形態
６のマルチビーム走査光学系の主走査方向の要部断面図
（主走査断面図）、図１２（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）は各
々図１１のＢＤスリット９の要部斜視図である。図１
１、図１２において図７に示した要素と同一要素には同
符番を付している。

【０１０９】本実施形態において前述の実施形態５と異
なる点は角度調整手段を持たず、始めからＢＤスリット
９または該ＢＤスリット９を含むユニット１６を被走査
面上における各走査線のドット位置ずれ量に応じて副走
査方向に傾斜させることによってドットずれを補正（キ
ャンセル）したことである。その他の構成及び光学的作
用は実施形態５と略同様であり、これにより同様な効果
を得ている。

【０１１０】即ち、走査光学手段６の像面湾曲の程度が
製品毎にかなり安定し、かつピント位置にＢＤスリット
９を配置すると条件式（Ａ）の左辺（｜(Ｆｂ／Ｆｆ)×
δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)×δＭ１｜）が無視できない値を持
つような場合は、図１１及び図１２に示すように始めか
らＢＤスリット９を被走査面上における各走査線のドッ
ト位置ずれ量に応じて副走査方向に傾斜させることによ
って、ドットずれを補正（キャンセル）している。これ
により高速で高品位な印字を実現している。

【０１１１】［実施形態７，８，９，１０］図１３，図
１４，図１５，図１６は各々順に本発明の実施形態７，
８，９，１０のマルチビーム走査光学系の主走査方向の
要部断面図（主走査断面図）である。図１３，図１４，
図１５，図１６において図１，図３，図５，図６に示し
た要素と同一要素には同符番を付している。

【０１１２】尚、実施形態７は実施形態１と、実施形態
８は実施形態２と、実施形態９は実施形態３と、実施形
態１０は実施形態４と対応しており、これら各実施形態
７，８，９，１０において前述の実施形態１，２，３，
４と共通して異なる点は装置全体の簡素化及び低コスト
化を図るためにＢＤスリット９を用いずに構成したこと
である。その他の構成及び光学的作用は対応する実施形
態１，２，３，４と略同様であり、これにより同様な効
果を得ている。

【０１１３】即ち、各実施形態７，８，９，１０におい
てＢＤセンサー１０の有効端が前述の対応する各実施形
態１，２，３，４におけるＢＤスリット９に相当する作
用をする。よって各実施形態７，８，９，１０において
は対応する各実施形態１，２，３，４で行った内容をＢ
Ｄスリット９面をＢＤセンサー１０の受光面と置き換え
て実施している。これにより前述の対応する実施形態と
同様な効果を得ている。

【０１１４】各実施形態７，８，９，１０においてはＢ
Ｄセンサー１０の受光面から見た該ＢＤセンサー１０に
導光される光束の主走査断面内でのピント位置ずれ量を
δＭ２、被走査面上から見た各像高のピント位置ずれ量
をδＸ、許容できる各走査線のドット位置ずれ量をδＹ
mａx、ＢＤセンサー１０の受光面への各光束の入射角度
の最大角度差をθmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、
以下の条件式 ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ２｜≦δＹmａx／θmａx ‥(Ｂ） を満足するように各要素を設定している。

【０１１５】このように各実施形態７，８，９，１０に
おいてはＢＤスリット及びＢＤレンズを用いずに構成す
ることにより、装置全体の簡素化及び低コスト化を図り
つつ比較的簡単な構成によって高速で高品位の印字を実
現している。

【０１１６】［画像形成装置］図１７は、前述した実施
形態１乃至１０の何れかのマルチビーム走査光学系を用
いた画像形成装置（電子写真プリンタ）の実施形態を示
す副走査方向の要部断面図である。図１７において、符
号１０４は画像形成装置を示す。この画像形成装置１０
４には、パーソナルコンピュータ等の外部機器１１７か
らコードデータＤｃが入力する。このコードデータＤｃ
は、装置内のプリンタコントローラ１１１によって、画
像データ（ドットデータ）Ｄｉに変換される。この画像
データＤｉは、各実施形態１乃至１０の何れかで示した
光走査ユニット１００に入力される。そして、この光走
査ユニット（マルチビーム走査光学系）１００からは、
画像データＤｉに応じて変調された光ビーム（光束）１
０３が出射され、この光ビーム１０３によって感光ドラ
ム１０１の感光面が主走査方向に走査される。

【０１１７】静電潜像担持体（感光体）たる感光ドラム
１０１は、モータ１１５によって時計廻りに回転させら
れる。そして、この回転に伴って、感光ドラム１０１の
感光面が光ビーム１０３に対して、主走査方向と直交す
る副走査方向に移動する。感光ドラム１０１の上方に
は、感光ドラム１０１の表面を一様に帯電せしめる帯電
ローラ１０２が表面に当接するように設けられている。
そして、帯電ローラ１０２によって帯電された感光ドラ
ム１０１の表面に、前記光走査ユニット１００によって
走査される光ビーム１０３が照射されるようになってい
る。

【０１１８】先に説明したように、光ビーム１０３は、
画像データＤｉに基づいて変調されており、この光ビー
ム１０３を照射することによって感光ドラム１０１の表
面に静電潜像を形成せしめる。この静電潜像は、上記光
ビーム１０３の照射位置よりもさらに感光ドラム１０１
の回転方向の下流側で感光ドラム１０１に当接するよう
に配設された現像器１０７によってトナー像として現像
される。

【０１１９】現像器１０７によって現像されたトナー像
は、感光ドラム１０１の下方で、感光ドラム１０１に対
向するように配設された転写ローラ（転写器）１０８に
よって被転写材たる用紙１１２上に転写される。用紙１
１２は感光ドラム１０１の前方（図１７において右側）
の用紙カセット１０９内に収納されているが、手差しで
も給紙が可能である。用紙カセット１０９端部には、給
紙ローラ１１０が配設されており、用紙カセット１０９
内の用紙１１２を搬送路へ送り込む。

【０１２０】以上のようにして、未定着トナー像を転写
された用紙１１２はさらに感光ドラム１０１後方（図１
７において左側）の定着器へと搬送される。定着器は内
部に定着ヒータ（図示せず）を有する定着ローラ１１３
とこの定着ローラ１１３に圧接するように配設された加
圧ローラ１１４とで構成されており、転写部から撒送さ
れてきた用紙１１２を定着ローラ１１３と加圧ローラ１
１４の圧接部にて加圧しながら加熱することにより用紙
１１２上の未定着トナー像を定着せしめる。更に定着ロ
ーラ１１３の後方には排紙ローラ１１６が配設されてお
り、定着された用紙１１２を画像形成装置の外に排出せ
しめる。

【０１２１】図１７においては図示していないが、プリ
ントコントローラ１１１は、先に説明したデータの変換
だけでなく、モータ１１５を始め画像形成装置内の各部
や、光走査ユニット１００内のポリゴンモータなどの制
御を行う。

【０１２２】

【発明の効果】本発明によれば前述の如くＢＤスリット
（尚、ＢＤスリットを持たない場合は同期検出素子の受
光面）から見た同期検出素子に導光される光束の主走査
断面内でのピント位置ずれ量をδＭ、被走査面から見た
各像高のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、該ピント
位置ずれ量δＭ及びδＸが条件式（Ａ）［ＢＤスリット
を持たない場合は条件式（Ｂ）］を満足するように各要
素を設定することにより、比較的簡単な構成によって高
速で高品位の印字を実現することができるマルチビーム
走査光学系及びそれを用いた画像形成装置を達成するこ
とができる。

【０１２３】更に本発明によれば前述の如くＢＤスリッ
ト（尚、ＢＤスリットを持たない場合は同期検出素子の
受光面）から見た同期検出素子に導光される光束の主走
査断面内でのピント位置ずれδＭと、被走査面から見た
各像高のピント位置ずれδＸにより条件式（Ａ）［ＢＤ
スリットを持たない場合は条件式（Ｂ）］の左辺がある
値を持つことによって発生するドットずれを補正手段に
より補正することにより、比較的簡単な構成によって高
速で高品位の印字を実現することができるマルチビーム
走査光学系及びそれを用いた画像形成装置を達成するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施形態１の主走査断面図

【図２】 各発光部の配置を示す説明図

【図３】 本発明の実施形態２の主走査断面図

【図４】 本発明に係わる調整手段の説明図

【図５】 本発明の実施形態３の主走査断面図

【図６】 本発明の実施形態４の主走査断面図

【図７】 本発明の実施形態５の主走査断面図

【図８】 本発明の実施形態５の角度調整手段

【図９】 本発明の実施形態５のスリットの傾斜と各光
線の印字位置（調整前）を示す説明図

【図１０】 本発明の実施形態５のスリットの傾斜と各
光線の印字位置（調整後）を示す説明図

【図１１】 本発明の実施形態６の主走査断面図

【図１２】 本発明の実施形態６のスリットの要部斜視
図

【図１３】 本発明の実施形態７の主走査断面図

【図１４】 本発明の実施形態８の主走査断面図

【図１５】 本発明の実施形態９の主走査断面図

【図１６】 本発明の実施形態１０の主走査断面図

【図１７】 本発明の光走査装置を用いた画像形成装置
（電子写真プリンタ）の構成例を示す副走査方向の要部
断面図

【図１８】 従来のマルチビーム走査光学系の主走査断
面図

【図１９】 ピントがずれていないときの各光線の位置
関係を示した説明図

【図２０】 ＢＤスリットに対してピントが手前（偏向
手段）側にずれたときの各光線の位置関係を示した説明
図

【図２１】 被走査面に対してピントが手前（偏向手
段）側にずれたときの各光線の位置関係を示した説明図

【図２２】 ピントがずれていないときの各光線の位置
関係を示した説明図

【図２３】 ＢＤスリットに対してピントが奥（反偏向
手段）側にずれたときの各光線の位置関係を示した説明
図

【図２４】 被走査面に対してピントが奥（反偏向手
段）側にずれたときの各光線の位置関係を示した説明図

【図２５】 ＢＤスリット及び被走査面に対してピント
が手前（偏向手段）側にずれたときの各光線の位置関係
を示した説明図

【図２６】 ＢＤスリット及び被走査面に対してピント
が奥（反偏向手段）側にずれたときの各光線の位置関係
を示した説明図

【符号の説明】

１ａ，１ｂ発光部（半導体レーザ） １ 光源ユニット ２ コリメータ−レンズ ３ 開口絞り ４ シリンドリカルレンズ ５ 偏向手段（光偏向器） ５ａ 偏向面 ６ 走査光学手段 ６ａ 第１の光学素子 ６ｂ 第２の光学素子 ７ 被走査面（感光ドラム面） ８ レンズ部 ９ スリット １０ 同期検出素子 １３ ユニット １４ 入射光学手段 １００ 光走査装置 １０１ 感光ドラム １０２ 帯電ローラ １０３ 光ビーム １０４ 画像形成装置 １０７ 現像装置 １０８ 転写ローラ １０９ 用紙カセット １１０ 給紙ローラ １１１ プリンタコントローラ １１２ 転写材（用紙） １１３ 定着ローラ １１４ 加圧ローラ １１５ モータ １１６ 排紙ローラ １１７ 外部機器

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成１４年４月９日（２００２．４．９）

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３５

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３５】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明のマルチ
ビーム走査光学系は、少なくとも主走査方向に対し離し
て配置した複数の発光部を有する光源手段から射出した
複数の光束を偏向手段に導光する入射光学手段と、該偏
向手段により偏向された複数の光束を被走査面上に結像
させる走査光学手段と、該偏向手段により偏向された複
数の光束を同期検出用のレンズ部によりスリット面上に
集光させた後、同期検出素子に導光し、該同期検出素子
からの信号を用いて該被走査面上の走査開始位置のタイ
ミングを該複数の光束に対して制御する同期検出用光学
手段と、を有するマルチビーム走査光学系において、該
走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレンズ
部の焦点距離をＦｂ、該スリットから見た該同期検出素
子に導光される光束の主走査断面内でのピント位置ずれ
量をδＭ１、該被走査面上から見た各像高のピント位置
ずれ量をδＸ、許容できる各走査線のドット位置ずれ量
をδＹmａx、スリット面への各光束の入射角度の最大角
度差をθmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、以下の条
件式 ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１｜≦δＹ
mａx／θmａx を満足することを特徴としている。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４１

【補正方法】変更

【補正内容】

【００４１】請求項７の発明のマルチビーム走査光学系
は、少なくとも主走査方向に対し離して配置した複数の
発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏向
手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏向
された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手
段と、該偏向手段により偏向された複数の光束を同期検
出用のレンズ部によりスリット面上に集光させた後、同
期検出素子に導光し、該同期検出素子からの信号を用い
て該被走査面上の走査開始位置のタイミングを該複数の
光束に対して制御する同期検出用光学手段と、を有する
マルチビーム走査光学系において、該走査光学手段の焦
点距離をＦｆ、該同期検出用のレンズ部の焦点距離をＦ
ｂ、該スリットから見た該同期検出素子に導光される光
束の主走査断面内でのピント位置ずれ量をδＭ１、該被
走査面上から見た各像高のピント位置ずれ量をδＸとし
たとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δ
Ｘ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１]がある値を持つことによっ
て発生する該被走査面上における各走査線のドット位置
ずれを補正する補正手段を有していることを特徴として
いる。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４６

【補正方法】変更

【補正内容】

【００４６】請求項１２の発明のマルチビーム走査光学
系は、少なくとも主走査方向に対し離して配置した複数
の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束を同期
検出用のレンズ部により同期検出素子に導光し、該同期
検出素子からの信号を用いて該被走査面上の走査開始位
置のタイミングを該複数の光束に対して制御する同期検
出用光学手段と、を有するマルチビーム走査光学系にお
いて、該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用
のレンズ部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面
から見た該同期検出素子に導光される光束の主走査断面
内でのピント位置ずれ量をδＭ２、該被走査面上から見
た各像高のピント位置ずれ量をδＸ、許容できる各走査
線のドット位置ずれ量をδＹmａx、該受光面への各光束
の入射角度の最大角度差をθmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆ
ｂであり、以下の条件式 ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ２｜≦δＹ
mａx／θmａx を満足することを特徴としている。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５２

【補正方法】変更

【補正内容】

【００５２】請求項１８の発明のマルチビーム走査光学
系は、少なくとも主走査方向に対し離して配置した複数
の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束を同期
検出用のレンズ部により同期検出素子に導光し、該同期
検出素子からの信号を用いて該被走査面上の走査開始位
置のタイミングを該複数の光束に対して制御する同期検
出用光学手段と、を有するマルチビーム走査光学系にお
いて、該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用
のレンズ部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面
から見た該同期検出素子に導光される光束の主走査断面
内でのピント位置ずれ量をδＭ２、該被走査面上から見
た各像高のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ≠
Ｆｂであり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆ
ｂ)・δＭ２]がある値を持つことによって発生する該被
走査面上における各走査線のドット位置ずれを補正する
補正手段を有していることを特徴としている。

【手続補正６】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５５

【補正方法】変更

【補正内容】

【００５５】請求項２１の発明のマルチビーム走査光学
系は、少なくとも主走査方向に対し離して配置した複数
の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束を同期
検出用のレンズ部によりスリット面上に集光させた後、
同期検出素子に導光し、該同期検出素子からの信号を用
いて該被走査面上の走査開始位置のタイミングを該複数
の光束に対して制御する同期検出用光学手段と、を有す
るマルチビーム走査光学系において、該走査光学手段の
焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレンズ部の焦点距離を
Ｆｂ、該スリットから見た該同期検出素子に導光される
光束の主走査断面内でのピント位置ずれ量をδＭ１、前
記被走査面上から見た各像高のピント位置ずれ量をδＸ
としたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)
・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１]がある値を持つことに
よって発生する該被走査面上における各走査線のドット
位置ずれ量が副走査方向の解像度の１／２以下であるこ
とを特徴としている。

【手続補正７】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５６

【補正方法】変更

【補正内容】

【００５６】請求項２２の発明のマルチビーム走査光学
系は、少なくとも主走査方向に対し離して配置した複数
の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束を同期
検出用のレンズ部により同期検出素子に導光し、該同期
検出素子からの信号を用いて該被走査面上の走査開始位
置のタイミングを該複数の光束に対して制御する同期検
出用光学手段と、を有するマルチビーム走査光学系にお
いて、該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用
のレンズ部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面
から見た該同期検出素子に導光される光束の主走査断面
内でのピント位置ずれ量をδＭ２、前記被走査面上から
見た各像高のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ
≠Ｆｂであり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆ
ｂ)・δＭ２]がある値を持つことによって発生する該被
走査面上における各走査線のドット位置ずれ量が副走査
方向の解像度の１／２以下であることを特徴としてい
る。

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０３Ｇ 15/043 Ｇ０３Ｇ 15/04 １２０ ５Ｃ０７２ Ｈ０４Ｎ 1/036 Ｈ０４Ｎ 1/04 １０４Ａ 1/113 Ｆターム(参考） 2C362 AA07 AA10 BA45 BA84 BA89 BB29 2H045 BA22 BA32 CA88 CA98 DA02 2H076 AB05 AB06 AB08 AB12 AB16 AB18 AB22 AB33 AB67 EA04 EA24 2H087 KA08 KA19 LA22 PA02 PA17 PB02 RA01 5C051 AA02 CA07 DB02 DB22 DB24 DB30 DC04 DC07 DE02 DE22 FA01 5C072 AA03 BA03 HA02 HA09 HA13 HB08 HB13 RA12

Claims (24)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 主走査方向に対し離して配置した複数の
   発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏向
   手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏向
   された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手
   段と、該偏向手段により偏向された複数の光束の一部を
   同期検出用のレンズ部によりスリット面上に集光させた
   後、同期検出素子に導光し、該同期検出素子からの信号
   を用いて該被走査面上の走査開始位置のタイミングを該
   複数の光束毎に制御する同期検出用光学手段と、を有す
   るマルチビーム走査光学系において、 該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレン
   ズ部の焦点距離をＦｂ、該スリットから見た該同期検出
   素子に導光される光束の主走査断面内でのピント位置ず
   れ量をδＭ１、該被走査面上から見た各像高のピント位
   置ずれ量をδＸ、許容できる各走査線のドット位置ずれ
   量をδＹmａx、スリット面への各光束の入射角度の最大
   角度差をθmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、以下の
   条件式 ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１｜≦δＹ
   mａx／θmａx を満足することを特徴とするマルチビーム走査光学系。
2. 【請求項２】 前記許容できる各走査線のドット位置ず
   れ量は副走査方向の解像度の１／２以下であることを特
   徴とする請求項１記載のマルチビーム走査光学系。
3. 【請求項３】 前記同期検出素子に導光される光束の主
   走査断面内でのピント位置を前記スリットから相対的に
   前記同期検出用光学手段の光軸方向にずらす補正手段を
   有していることを特徴とする請求項１又は２記載のマル
   チビーム走査光学系。
4. 【請求項４】 前記スリットまたは該スリットを含むユ
   ニットの位置を前記同期検出用光学手段の光軸方向に対
   して移動させる補正手段を有していることを特徴とする
   請求項３記載のマルチビーム走査光学系。
5. 【請求項５】 前記同期検出用のレンズ部は前記偏向手
   段と前記スリットとの間の光路内に設けられ、該同期検
   出用のレンズ部の少なくとも一部のレンズを前記同期検
   出用光学手段の光軸方向に対して移動させる補正手段を
   有していることを特徴とする請求項３記載のマルチビー
   ム走査光学系。
6. 【請求項６】 前記同期検出用のレンズ部は単レンズよ
   り成り、前記入射光学手段を構成する光学素子の一部と
   一体化されていることを特徴とする請求項１乃至４の何
   れか１項に記載のマルチビーム走査光学系。
7. 【請求項７】 主走査方向に対し離して配置した複数の
   発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏向
   手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏向
   された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手
   段と、該偏向手段により偏向された複数の光束の一部を
   同期検出用のレンズ部によりスリット面上に集光させた
   後、同期検出素子に導光し、該同期検出素子からの信号
   を用いて該被走査面上の走査開始位置のタイミングを該
   複数の光束毎に制御する同期検出用光学手段と、を有す
   るマルチビーム走査光学系において、 該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレン
   ズ部の焦点距離をＦｂ、該スリットから見た該同期検出
   素子に導光される光束の主走査断面内でのピント位置ず
   れ量をδＭ１、該被走査面上から見た各像高のピント位
   置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、かつ、
   [(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１]がある値
   を持つことによって発生する該被走査面上における各走
   査線のドット位置ずれを補正する補正手段を有している
   ことを特徴とするマルチビーム走査光学系。
8. 【請求項８】 前記被走査面上における各走査線のドッ
   ト位置ずれ量は副走査方向の解像度の１／２以下である
   ことを特徴とする請求項７記載のマルチビーム走査光学
   系。
9. 【請求項９】 前記複数の発光部を副走査方向に対し離
   して配置したことを特徴とする請求項７又は８記載のマ
   ルチビーム走査光学系。
10. 【請求項１０】 前記スリットまたは該スリットを含む
    ユニットを前記被走査面上における各走査線のドット位
    置ずれ量に応じて副走査方向に傾斜させていることを特
    徴とする請求項９記載のマルチビーム走査光学系。
11. 【請求項１１】 前記スリットまたは該スリットを含む
    ユニットを前記被走査面上における各走査線のドット位
    置ずれ量に応じて前記同期検出用光学手段の光軸まわり
    に回転させる角度調整手段を有していることを特徴とす
    る請求項９記載のマルチビーム走査光学系。
12. 【請求項１２】 主走査方向に対し離して配置した複数
    の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
    向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
    向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
    手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束の一部
    を同期検出用のレンズ部により同期検出素子に導光し、
    該同期検出素子からの信号を用いて該被走査面上の走査
    開始位置のタイミングを該複数の光束毎に制御する同期
    検出用光学手段と、を有するマルチビーム走査光学系に
    おいて、 該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレン
    ズ部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面から見
    た該同期検出素子に導光される光束の主走査断面内での
    ピント位置ずれ量をδＭ２、該被走査面上から見た各像
    高のピント位置ずれ量をδＸ、許容できる各走査線のド
    ット位置ずれ量をδＹmａx、該受光面への各光束の入射
    角度の最大角度差をθmａxとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであ
    り、以下の条件式 ｜(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ２｜≦δＹ
    mａx／θmａx を満足することを特徴とするマルチビーム走査光学系。
13. 【請求項１３】 前記許容できる各走査線のドット位置
    ずれ量は副走査方向の解像度の１／２以下であることを
    特徴とする請求項１２記載のマルチビーム走査光学系。
14. 【請求項１４】 前記同期検出素子に導光される光束の
    主走査断面内でのピント位置を該同期検出素子の受光面
    から相対的に前記同期検出用光学手段の光軸方向にずら
    す補正手段を有していることを特徴とする請求項１２又
    は１３記載のマルチビーム走査光学系。
15. 【請求項１５】 前記同期検出素子または該同期検出素
    子を含むユニットの位置を前記同期検出用光学手段の光
    軸方向に対して移動させる補正手段を有していることを
    特徴とする請求項１４記載のマルチビーム走査光学系。
16. 【請求項１６】 前記同期検出用のレンズ部は前記偏向
    手段と前記同期検出素子との間の光路内に設けられ、該
    同期検出用のレンズ部の少なくとも一部のレンズを前記
    同期検出用光学手段の光軸方向に対して移動させる補正
    手段を有していることを特徴とする請求項１４記載のマ
    ルチビーム走査光学系。
17. 【請求項１７】 前記同期検出用のレンズ部は単レンズ
    より成り，前記入射光学手段を構成する光学素子の一部
    と一体化されていることを特徴とする請求項１２乃至１
    ６のいずれか一項に記載のマルチビーム走査光学系。
18. 【請求項１８】 主走査方向に対し離して配置した複数
    の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
    向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
    向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
    手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束の一部
    を同期検出用のレンズ部により同期検出素子に導光し、
    該同期検出素子からの信号を用いて該被走査面上の走査
    開始位置のタイミングを該複数の光束毎に制御する同期
    検出用光学手段と、を有するマルチビーム走査光学系に
    おいて、 該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレン
    ズ部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面から見
    た該同期検出素子に導光される光束の主走査断面内での
    ピント位置ずれ量をδＭ２、該被走査面上から見た各像
    高のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂで
    あり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δ
    Ｍ２]がある値を持つことによって発生する該被走査面
    上における各走査線のドット位置ずれを補正する補正手
    段を有していることを特徴とするマルチビーム走査光学
    系。
19. 【請求項１９】 前記被走査面上における各走査線のド
    ット位置ずれ量は副走査方向の解像度の１／２以下であ
    ることを特徴とする請求項１８記載のマルチビーム走査
    光学系。
20. 【請求項２０】 前記複数の発光部を副走査方向に対し
    離して配置したことを特徴とする請求項１８又は１９記
    載のマルチビーム走査光学系。
21. 【請求項２１】 主走査方向に対し離して配置した複数
    の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
    向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
    向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
    手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束の一部
    を同期検出用のレンズ部によりスリット面上に集光させ
    た後、同期検出素子に導光し、該同期検出素子からの信
    号を用いて該被走査面上の走査開始位置のタイミングを
    該複数の光束毎に制御する同期検出用光学手段と、を有
    するマルチビーム走査光学系において、 該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレン
    ズ部の焦点距離をＦｂ、該スリットから見た該同期検出
    素子に導光される光束の主走査断面内でのピント位置ず
    れ量をδＭ１、前記被走査面上から見た各像高のピント
    位置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂであり、か
    つ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・δＭ１]があ
    る値を持つことによって発生する該被走査面上における
    各走査線のドット位置ずれ量が副走査方向の解像度の１
    ／２以下であることを特徴とするマルチビーム走査光学
    系。
22. 【請求項２２】 主走査方向に対し離して配置した複数
    の発光部を有する光源手段から射出した複数の光束を偏
    向手段に導光する入射光学手段と、該偏向手段により偏
    向された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学
    手段と、該偏向手段により偏向された複数の光束の一部
    を同期検出用のレンズ部により同期検出素子に導光し、
    該同期検出素子からの信号を用いて該被走査面上の走査
    開始位置のタイミングを該複数の光束毎に制御する同期
    検出用光学手段と、を有するマルチビーム走査光学系に
    おいて、 該走査光学手段の焦点距離をＦｆ、該同期検出用のレン
    ズ部の焦点距離をＦｂ、該同期検出素子の受光面から見
    た該同期検出素子に導光される光束の主走査断面内での
    ピント位置ずれ量をδＭ２、前記被走査面上から見た各
    像高のピント位置ずれ量をδＸとしたとき、Ｆｆ≠Ｆｂ
    であり、かつ、[(Ｆｂ／Ｆｆ)・δＸ−(Ｆｆ／Ｆｂ)・
    δＭ２]がある値を持つことによって発生する該被走査
    面上における各走査線のドット位置ずれ量が副走査方向
    の解像度の１／２以下であることを特徴とするマルチビ
    ーム走査光学系。
23. 【請求項２３】 請求項１乃至２２の何れか１項に記載
    のマルチビーム走査光学系と、前記被走査面に配置され
    た感光体と、前記マルチビーム走査光学系で走査された
    光束によって前記感光体上に形成された静電潜像をトナ
    ー像として現像する現像器と、現像されたトナー像を被
    転写材に転写する転写器と、転写されたトナー像を被転
    写材に定着させる定着器とを有することを特徴とする画
    像形成装置。
24. 【請求項２４】 請求項１乃至２２の何れか１項に記載
    のマルチビーム走査光学系と、外部機器から入力したコ
    ードデータを画像信号に変換して前記マルチビーム走査
    光学系に入力せしめるプリンタコントローラとを有して
    いることを特徴とする画像形成装置。