JP2002312744A - Integrated circuit device, manufacturing method therefor and ic card using the same - Google Patents

Integrated circuit device, manufacturing method therefor and ic card using the same

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JP2002312744A
JP2002312744A JP2001110980A JP2001110980A JP2002312744A JP 2002312744 A JP2002312744 A JP 2002312744A JP 2001110980 A JP2001110980 A JP 2001110980A JP 2001110980 A JP2001110980 A JP 2001110980A JP 2002312744 A JP2002312744 A JP 2002312744A
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JP
Japan
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integrated circuit
resin
circuit device
conductor
hole
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JP2001110980A
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Japanese (ja)
Inventor
Masanori Kashima
正憲 鹿島
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly reliable integrated circuit device of high quality and an IC card using it. SOLUTION: The integrated circuit device 21 is constituted by providing a resin frame body 24 on a wiring board 28 provided with a conductor 22 to be a terminal for external connection and covering an integrated circuit element 25 and a connection means 26 formed on the inner side of the resin frame body 24 with a sealing resin 27.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばICカード
等に搭載される集積回路装置とその製造方法およびこの
集積回路装置を用いたICカードに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit device mounted on, for example, an IC card and the like, a method of manufacturing the same, and an IC card using the integrated circuit device.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、マイクロコンピュータ、メモリ等
の集積回路素子をプラスティックカードに搭載したIC
カードが実用化されてきている。このICカードは既に
大量に使用されている磁気ストライプカードに比べ、記
憶容量が大きくセキュリティ性に優れていることから、
個人認証用、課金処理用、あるいは個人データ記録用等
の巾広い用途に採用されつつある。
2. Description of the Related Art In recent years, ICs in which integrated circuit elements such as microcomputers and memories are mounted on plastic cards.
Cards have been put to practical use. Since this IC card has a large storage capacity and excellent security compared to magnetic stripe cards already used in large quantities,
It is being used in a wide range of applications such as for personal authentication, billing, and personal data recording.

【0003】このICカードに搭載される従来の集積回
路装置は、図12、図13に示されるような構成であっ
た。
A conventional integrated circuit device mounted on this IC card has a configuration as shown in FIGS.

【0004】即ち、図12、図13に示すように、配線
基板8は、片面銅張ガラスエポキシ積層絶縁基板3に外
部接続用端子となる導体2を有するものであって、この
絶縁基板3は導体2を電気的に接続するための貫通孔3
aを有している。又、絶縁基板3の導体を設けた面とは
反対側の配線基板8に、接着剤9で固定した金属枠体4
と、この金属枠体4の内部にダイスボンド樹脂10で接
着固定した集積回路素子5と、集積回路素子5上に設け
られた入出力電極5aと導体2とを第1の貫通孔3aを
通してワイヤーボンディング法により電気的に接続した
金線6と、集積回路素子5及び金線6をポッティング法
により金属枠体4の上部近傍まで覆った紫外線硬化型の
エポキシ樹脂7aとを設けることにより、厚さ0.65
mm程度の極めて薄い集積回路装置1aが構成される。
[0004] That is, as shown in FIGS. 12 and 13, a wiring board 8 has a conductor 2 serving as an external connection terminal on a single-sided copper-clad glass epoxy laminated insulating board 3. Through hole 3 for electrically connecting conductor 2
a. A metal frame 4 fixed with an adhesive 9 to a wiring board 8 opposite to the surface on which the conductor of the insulating board 3 is provided.
And an integrated circuit element 5 bonded and fixed inside the metal frame 4 with a dice bond resin 10, and an input / output electrode 5a and the conductor 2 provided on the integrated circuit element 5 through a first through hole 3a. By providing a gold wire 6 electrically connected by a bonding method and an ultraviolet curable epoxy resin 7a covering the integrated circuit element 5 and the gold wire 6 to the vicinity of the upper portion of the metal frame 4 by a potting method, the thickness is increased. 0.65
An extremely thin integrated circuit device 1a of about mm is formed.

【0005】その後、図14に示すように、塩化ビニル
樹脂、あるいはABS樹脂を主成分とする厚さ0.76
mm程度のカード材12に穴12aを設け、この穴12a
に導体2を上にして集積回路装置1aを配置し、絶縁基
板3の外縁部8aをシアノアクリエート系接着剤13等
を用いて接着固定することにより、ICカード14を製
造していた。
[0005] Thereafter, as shown in FIG.
A hole 12a is provided in the card material 12 of about mm.
The IC card 14 is manufactured by arranging the integrated circuit device 1a with the conductor 2 facing upward and bonding and fixing the outer edge 8a of the insulating substrate 3 using a cyanoacrylate adhesive 13 or the like.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】集積回路装置は、IC
カードを組み立てる際に、厚みにおいて極めて薄く、か
つバラツキの少ないことが必要とされている。しかし、
従来の集積回路装置1aにおいては、金属枠体を接着固
定しているため、厚み方向のバラツキが発生しやすいと
いう問題があった。また集積回路素子5及び金線6を紫
外線硬化型の封止方法であるポッティング法では、供給
樹脂量がバラつくため、完全に封止されない場合が起こ
り、集積回路素子5や金線6が露出し、電気的不調を起
こすというICカード上の信頼性面における課題があっ
た。また、逆にエポキシ樹脂7aが多くなった場合は、
封止樹脂が金属枠体上面より高くなり、ICカード用の
集積回路装置として必要とされる厚み精度を確保できな
いという問題があった。
SUMMARY OF THE INVENTION An integrated circuit device has an IC
When assembling a card, it is required that the thickness of the card be extremely thin and that the dispersion be small. But,
In the conventional integrated circuit device 1a, since the metal frame is bonded and fixed, there is a problem that variation in the thickness direction is likely to occur. In the potting method, which is an ultraviolet curing type sealing method, the integrated circuit element 5 and the gold wire 6 are not completely sealed because the amount of supplied resin varies, and the integrated circuit element 5 and the gold wire 6 are exposed. However, there has been a problem in terms of reliability on an IC card that causes an electrical malfunction. On the contrary, when the amount of the epoxy resin 7a increases,
There is a problem that the sealing resin is higher than the upper surface of the metal frame, and the thickness accuracy required as an integrated circuit device for an IC card cannot be secured.

【0007】さらに、金属枠体4を接着剤により接着固
定するため、接着剤が完全硬化する前に位置ずれが起き
たり、金属枠体を用いているので重いことから携帯性面
における問題があった。
Further, since the metal frame 4 is bonded and fixed with an adhesive, there is a problem in terms of portability due to misalignment before the adhesive is completely cured, or because the metal frame is heavy and heavy. Was.

【0008】本発明はこれらの問題点を解決した高品位
の集積回路装置、及びICカードを提供することを目的
とするものである。
An object of the present invention is to provide a high-quality integrated circuit device and an IC card which solve these problems.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の請求項1記載の集積回路装置は、外部接続用
端子となる導体が設けられ、かつ第1の貫通孔を有する
配線基板と、前記配線基板の前記導体とは反対側の主面
に、集積回路素子、この集積回路素子に形成された入出
力電極、前記導体を前記第1の貫通孔を通して電気的に
接続する接続手段、この接続手段を囲うように設けられ
た樹脂枠体、及びこの樹脂枠体の内側に前記集積回路素
子及び前記接続手段を覆った封止樹脂とを備えたことを
特徴とするものである。この構成によれば、金属枠体よ
り軽い樹脂枠体を用いているので、重量を軽くすること
ができるため、携帯性に優れたものとすることができ
る。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device comprising: a wiring board provided with a conductor serving as an external connection terminal and having a first through hole; An integrated circuit element, an input / output electrode formed on the integrated circuit element, and connection means for electrically connecting the conductor through the first through-hole on a main surface of the wiring board opposite to the conductor. A resin frame provided so as to surround the connecting means, and a sealing resin which covers the integrated circuit element and the connecting means inside the resin frame. According to this configuration, since the resin frame body that is lighter than the metal frame body is used, the weight can be reduced, and the portability can be improved.

【0010】また、本発明の請求項2記載の集積回路装
置は、請求項1記載の集積回路装置において、前記絶縁
基板上に配置された前記樹脂枠体が、熱可塑性樹脂によ
り形成されたことを特徴とするものである。この構成に
よれば、熱可塑性樹脂からなる樹脂枠体に比べ、曲げ強
度を高くすることができる。
According to a second aspect of the present invention, in the integrated circuit device of the first aspect, the resin frame disposed on the insulating substrate is formed of a thermoplastic resin. It is characterized by the following. According to this configuration, the bending strength can be increased as compared with a resin frame made of a thermoplastic resin.

【0011】また、本発明の請求項3記載の集積回路装
置は、請求項1記載の集積回路装置において、前記絶縁
基板に、前記樹脂枠体を保持するための第2の貫通孔を
有することを特徴とするものである。この構成によれ
ば、物理的強度に優れたものとするとともに、位置ずれ
の発生を抑制することができる。
According to a third aspect of the present invention, in the integrated circuit device according to the first aspect, the insulating substrate has a second through hole for holding the resin frame. It is characterized by the following. According to this configuration, the physical strength can be excellent, and the occurrence of the displacement can be suppressed.

【0012】また、本発明の請求項4記載の集積回路装
置は、請求項1記載の集積回路装置において、前記封止
樹脂は、成形金型を用いて形成されたことを特徴とす
る。この構成によれば、樹脂量を過不足なく封入した封
止樹脂を得ることができるため、厚み方向において極め
て薄く、厚さ精度に優れたものとすることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device according to the first aspect, wherein the sealing resin is formed using a molding die. According to this configuration, it is possible to obtain a sealing resin in which the amount of the resin is sealed without excess or shortage, so that the resin can be extremely thin in the thickness direction and have excellent thickness accuracy.

【0013】また、本発明の請求項5記載の集積回路装
置は、カードに設けた穴部に請求項1から請求項4のい
ずれかに記載された集積回路装置を接着固定したICカ
ードである。この構成によれば、本発明の集積回路を搭
載したICカードを提供することができる。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device wherein the integrated circuit device according to any one of the first to fourth aspects is bonded and fixed to a hole provided in the card. . According to this configuration, an IC card equipped with the integrated circuit of the present invention can be provided.

【0014】また、本発明の請求項6記載の集積回路装
置の製造方法は、外部接続用端子となる導体が設けら
れ、かつ第1の貫通孔を有する配線基板の前記導体とは
反対側の主面に、成形金型を用いて樹脂枠体を成形する
工程と、前記樹脂枠体の内部に集積回路素子を搭載する
工程と、前記集積回路素子の入出力電極と前記導体とを
前記第1の貫通孔を通して電気的に接続する工程と、前
記樹脂枠体の内側に封止樹脂で前記集積回路素子、前記
貫通孔および前記電気的接続部分を覆う工程とを有する
ことを特徴とするものである。この構成によれば、樹脂
枠体の位置精度を向上させ、また薄バリの発生を防止す
ることができる。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an integrated circuit device, wherein a conductor serving as an external connection terminal is provided and a wiring board having a first through hole is provided on a side opposite to the conductor. Forming a resin frame on a main surface using a molding die, mounting an integrated circuit element inside the resin frame, and connecting the input / output electrode and the conductor of the integrated circuit element to the first surface; A step of electrically connecting through the first through-hole, and a step of covering the integrated circuit element, the through-hole, and the electrical connection portion with a sealing resin inside the resin frame. It is. According to this configuration, it is possible to improve the positional accuracy of the resin frame and prevent the occurrence of thin burrs.

【0015】また、本発明の請求項7記載の集積回路装
置の製造方法は、外部接続用端子となる導体が設けら
れ、かつ第1の貫通孔を有する配線基板の前記導体とは
反対側の主面に、樹脂枠体を成形する工程と、前記樹脂
枠体の内部に集積回路素子を搭載する工程と、前記集積
回路素子の入出力電極と前記導体とを前記第1の貫通孔
を通して電気的に接続する工程と、成形金型を用いて前
記樹脂枠体の内側に封止樹脂で前記集積回路素子、前記
貫通孔および前記電気的接続部分を覆う工程とを有する
ことを特徴とするものである。この構成によれば、樹脂
枠体を成形金型により成形するため、樹脂量を過不足な
く封入することができるため、電気的接続部分が露出す
ることにより、電気的不良を起こすという信頼性面の課
題を解決することができる。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an integrated circuit device, wherein a conductor serving as an external connection terminal is provided and a wiring board having a first through hole is provided on a side opposite to the conductor. Forming a resin frame on the main surface, mounting an integrated circuit element inside the resin frame, and electrically connecting the input / output electrode of the integrated circuit element and the conductor through the first through hole. And a step of covering the integrated circuit element, the through hole and the electrical connection portion with a sealing resin inside the resin frame using a molding die. It is. According to this configuration, since the resin frame is molded by a molding die, the amount of resin can be sealed without excess or shortage, so that an electrical connection portion is exposed, which causes an electrical failure. Can be solved.

【0016】また、本発明の請求項9記載の集積回路装
置の製造方法は、請求項6または請求項7記載の集積回
路装置の製造方法において、前記樹脂枠体に、前記集積
回路素子及び前記接続手段を覆うための封止樹脂を封入
するための段差部を有することを特徴とするものであ
る。この構成によれば、量産性に優れたものを提供する
ことができる。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an integrated circuit device according to the sixth or seventh aspect, wherein the integrated circuit element and the integrated circuit element are mounted on the resin frame. It has a stepped portion for enclosing a sealing resin for covering the connection means. According to this configuration, a product excellent in mass productivity can be provided.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】(実施の形態)図1は、本発明の実施の形
態における集積回路装置21の断面図であり、図2はそ
の平面図である。
(Embodiment) FIG. 1 is a sectional view of an integrated circuit device 21 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view thereof.

【0019】まず、配線基板28は、絶縁基板23と、
この絶縁基板23に形成された外部接続用端子となる導
体22と、この絶縁基板23に設けられた接続手段26
を通すための第1の貫通孔23aとにより構成される。
First, the wiring board 28 includes the insulating substrate 23 and
A conductor 22 serving as an external connection terminal formed on the insulating substrate 23 and a connecting means 26 provided on the insulating substrate 23
And a first through-hole 23a for passing through.

【0020】また、導体22が形成された絶縁基板23
の反対側の主面には、ダイスボンド樹脂29で接着した
集積回路素子25と、集積回路素子25上に設けられた
入出力電極25aと導体22とを第1の貫通孔23aを
通した接続手段26である金線とが設けられる。また、
絶縁基板23に複数の第2の貫通孔23bが集積回路素
子25を囲うように接続手段26より外側に形成され、
この第2の貫通孔23bに重ねて樹脂枠体24が形成さ
れる。この樹脂枠体24の内部に封止樹脂27が充填さ
れることにより集積回路装置21が構成される。
The insulating substrate 23 on which the conductor 22 is formed
The main surface on the opposite side is connected to an integrated circuit element 25 bonded with a die bond resin 29, and an input / output electrode 25a provided on the integrated circuit element 25 and the conductor 22 through a first through hole 23a. And a gold wire as means 26 are provided. Also,
A plurality of second through holes 23b are formed in the insulating substrate 23 outside the connection means 26 so as to surround the integrated circuit element 25;
The resin frame 24 is formed so as to overlap with the second through hole 23b. The integrated circuit device 21 is configured by filling the sealing resin 27 into the resin frame 24.

【0021】以上の構成による集積回路装置21の製造
方法を以下に説明する。
A method of manufacturing the integrated circuit device 21 having the above configuration will be described below.

【0022】図3は、本発明の実施の形態における配線
基板28の平面図である。
FIG. 3 is a plan view of the wiring board 28 according to the embodiment of the present invention.

【0023】図3に示すように、第1の貫通孔23aと
第2の貫通孔23bとが後に搭載される集積回路素子2
5を囲うようにそれぞれ複数形成された絶縁基板23の
一主面に、パターン化された導体22を設けることによ
り、厚さ略0.14mmの配線基板28が形成される。
As shown in FIG. 3, an integrated circuit element 2 in which a first through hole 23a and a second through hole 23b are mounted later.
By providing a patterned conductor 22 on one main surface of a plurality of insulating substrates 23 formed so as to surround the wiring substrate 5, a wiring substrate 28 having a thickness of approximately 0.14 mm is formed.

【0024】ここで、導体22を絶縁基板23に設ける
方法は、ICカード用プリント基板(特開昭63−28
1896号)に開示されているような技術を用いる。す
なわち、絶縁基板23として厚さ0.1mmのガラスエポ
キシ基材を使用し、その上に、0.035mmの銅箔と、
導体22として露出する部分に1〜3μmのNiメッキ
と、Niメッキ上に0.3〜0.5μmのAuメッキと
を施すことにより3層状の導体22が設けられることに
より配線基板28を構成する。
Here, the method of providing the conductor 22 on the insulating substrate 23 is described in a printed circuit board for an IC card (JP-A-63-28163).
No. 1896). That is, a glass epoxy base material having a thickness of 0.1 mm is used as the insulating substrate 23, and a copper foil of 0.035 mm is formed thereon,
The wiring board 28 is formed by providing the three-layered conductor 22 by performing Ni plating of 1 to 3 μm on the portion exposed as the conductor 22 and Au plating of 0.3 to 0.5 μm on the Ni plating. .

【0025】次に、配線基板28の絶縁基板23上に、
樹脂枠体24を形成するが、図4はその樹脂枠体が構成
された断面図である。
Next, on the insulating substrate 23 of the wiring substrate 28,
A resin frame 24 is formed. FIG. 4 is a cross-sectional view in which the resin frame is formed.

【0026】まず、図5に示すように、配線基板28の
第2の貫通孔23b上に、上型31、下型30、ゲート
31bを有する成形金型を搭載する。次に、樹脂枠体2
4に設けられた凹部24aに、成形金型のゲート31b
よりピンゲート方式でPPS(ポリフェニレンサルファ
イド)樹脂を注入する。この凹部24aは、ゲート残り
によりゲート部に凸部ができ、集積回路装置21の厚み
が増加するのを防止するために設けたものである。この
方法により、高さ0.4mm、巾0.7mmの樹脂枠体24
を形成することができる。
First, as shown in FIG. 5, a molding die having an upper die 31, a lower die 30, and a gate 31b is mounted on the second through hole 23b of the wiring board 28. Next, the resin frame 2
4 is provided with a gate 31b of a molding die.
PPS (polyphenylene sulfide) resin is injected by a pin gate method. The concave portion 24a is provided to prevent the gate portion from forming a convex portion due to the remaining gate and to prevent the thickness of the integrated circuit device 21 from increasing. By this method, a resin frame 24 having a height of 0.4 mm and a width of 0.7 mm is used.
Can be formed.

【0027】なお、本実施の形態では、上述のピンゲー
ト方式により樹脂の注入を行う方法を示したものである
が、樹脂枠体24を形成するためのゲート方式としては
樹脂枠体24の側壁部24bから樹脂の注入を行うトン
ネルゲート方式を用いてもよい。
In this embodiment, the method of injecting the resin by the above-described pin gate method is described. However, the gate method for forming the resin frame 24 is not limited to the side wall portion of the resin frame 24. A tunnel gate system in which resin is injected from 24b may be used.

【0028】また、樹脂枠体24の材料としては、流動
性と曲げ強さに優れるガラス繊維強化のPPS(ポリフ
ェニレンサルファイド)樹脂を使用したが、LCP(液
晶ポリマー)樹脂を使用してもよい。これらの樹脂によ
れば、熱硬化性のエポキシ樹脂に比べ、強度を高めるこ
とができる。すなわち、熱硬化性のエポキシ樹脂7bで
の曲げ強度は略12〜14kgf/mm2であるのに対し、樹
脂枠体24として検討したガラス繊維強化PPS樹脂の
曲げ強度は略23kgf/mm2と、格段に曲げ強度が高くす
ることができるため、ICカードを構成した時の物理的
な信頼性を高めることができる。
As the material of the resin frame 24, a glass fiber reinforced PPS (polyphenylene sulfide) resin having excellent fluidity and bending strength is used, but an LCP (liquid crystal polymer) resin may be used. According to these resins, the strength can be increased as compared with a thermosetting epoxy resin. That is, while the bending strength of the thermosetting epoxy resin 7b is approximately 12 to 14 kgf / mm 2 , the bending strength of the glass fiber reinforced PPS resin studied as the resin frame 24 is approximately 23 kgf / mm 2 , Since the bending strength can be remarkably increased, the physical reliability when configuring the IC card can be improved.

【0029】また、従来の集積回路装置1aで用いられ
ている金属枠体は、通常、青銅系(Cu−Sn)であ
る。この金属枠体は比重が略8であるが、本発明の実施
の形態における樹脂枠体24のガラス繊維強化PPS樹
脂では比重が1.7であることにより同一サイズ(略厚
み0.7mm、高さ 0.4mm)で樹脂枠体24を形成した
場合、集積回路装置21として0.2gの軽量化が可能
となる。ICカードは全体の重さが略4gであるため、
0.2gの軽量化は全体として略5%の軽量化を実現す
ることができる。
The metal frame used in the conventional integrated circuit device 1a is usually made of bronze (Cu-Sn). Although the specific gravity of this metal frame is approximately 8, the glass frame reinforced PPS resin of the resin frame 24 in the embodiment of the present invention has a specific gravity of 1.7, so that it has the same size (approximately 0.7 mm in thickness and high height). When the resin frame 24 is formed with a thickness of 0.4 mm, the integrated circuit device 21 can be reduced in weight by 0.2 g. Since the total weight of an IC card is approximately 4 g,
The weight reduction of 0.2 g can realize a weight reduction of approximately 5% as a whole.

【0030】また、樹脂枠体24を形成するに当たっ
て、絶縁基板23と樹脂枠体24との密着性が必要とさ
れるため、周知の技術であるコロナ放電処理を絶縁基板
23に行い絶縁基板23の表面を活性化させて形成する
ことが好ましい。
In forming the resin frame 24, the insulating substrate 23 and the resin frame 24 need to be in close contact with each other. It is preferable to form by activating the surface.

【0031】また、本実施の形態では、樹脂枠体24と
導体22とが接するように絶縁基板23に複数個の第2
の貫通孔23bを設ける構成としているため、物理的に
密着性を向上させることができる。
Further, in the present embodiment, a plurality of second substrates are provided on the insulating substrate 23 so that the resin frame 24 and the conductor 22 are in contact with each other.
Since the through hole 23b is provided, the adhesion can be physically improved.

【0032】また、本実施の形態における樹脂枠体24
は、絶縁基板23に設けられた貫通孔23bに係合する
ように導体22上に形成したが、図6に示すように、導
体にも設けられた貫通孔22aにも樹脂が嵌まる構成と
してもよい。この場合、導体22に設けた孔22aは絶
縁基板23に設けた第2の貫通孔23bより大きくする
ことにより、アンカー効果を大きくすることができ、よ
り物理的強度を向上させることができる。なお、この図
6に示す構成の場合には、ICカードと通信するリーダ
ーライター側と導通不良を起こす可能性があるため、I
SO7816に定めるコンタクトの位置以外の場所に導
体22に貫通する孔22aが設けられなければならな
い。
The resin frame 24 according to the present embodiment
Is formed on the conductor 22 so as to engage with the through hole 23b provided in the insulating substrate 23, but as shown in FIG. 6, the resin is fitted into the through hole 22a provided on the conductor as well. Is also good. In this case, by making the hole 22a provided in the conductor 22 larger than the second through hole 23b provided in the insulating substrate 23, the anchor effect can be increased and the physical strength can be further improved. In the case of the configuration shown in FIG. 6, there is a possibility that a poor connection may occur with the reader / writer that communicates with the IC card.
A hole 22a penetrating through the conductor 22 must be provided in a place other than the position of the contact specified in SO7816.

【0033】次に、樹脂枠体24が設けられた配線基板
28の絶縁基板23上に、集積回路素子25を実装する
が、図7はその集積回路素子が実装された断面図を示す
ものである。
Next, the integrated circuit element 25 is mounted on the insulating substrate 23 of the wiring board 28 provided with the resin frame 24. FIG. 7 is a sectional view showing the mounting of the integrated circuit element. is there.

【0034】まず図7に示すように、樹脂枠体24の内
側に、集積回路素子25を絶縁基板23上に周知のダイ
スボンディング法によりダイスボンド樹脂29を使用し
て接着固定する。
First, as shown in FIG. 7, an integrated circuit element 25 is bonded and fixed to the inside of a resin frame 24 on an insulating substrate 23 by a known die bonding method using a dice bond resin 29.

【0035】ここでは、絶縁基板23上に集積回路素子
25を接着固定したが、より薄型にするために当該接着
固定場所の絶縁基板23を除去し、導体22上に直接接
着固定してもよい。この場合、ダイスボンド樹脂29と
してAgを含んだ導電性のダイスボンド樹脂より、絶縁
性のダイスボンド樹脂を使用する。
Here, the integrated circuit element 25 is bonded and fixed on the insulating substrate 23. However, the insulating substrate 23 at the bonding and fixing place may be removed and the integrated circuit element 25 may be bonded and fixed directly on the conductor 22 in order to make it thinner. . In this case, an insulating dice bond resin is used as the dice bond resin 29 rather than a conductive dice bond resin containing Ag.

【0036】次に、集積回路素子25上に形成された入
出力電極25aと導体22とを、第1の貫通孔23aを
通して周知のワイヤーボンディング法によって接続手段
26が形成される。ここで接続手段26としては直径2
5μmの金線を用いる。
Next, connection means 26 is formed between the input / output electrode 25a formed on the integrated circuit element 25 and the conductor 22 through the first through hole 23a by a known wire bonding method. Here, the connecting means 26 has a diameter of 2
Use a 5 μm gold wire.

【0037】その後、樹脂枠体24の内部に封止樹脂2
7を充填する。
Thereafter, the sealing resin 2 is placed inside the resin frame 24.
7 is filled.

【0038】この封止方法は、図8に示すように、上型
32、下型33、ゲート34、ランナー35を有する成
形金型を用いて形成される。
This sealing method is, as shown in FIG. 8, formed using a molding die having an upper die 32, a lower die 33, a gate 34, and a runner 35.

【0039】まず、樹脂枠体24に設けられた約0.2
mmの段差部24dに、成形金型のゲート34を合わせ、
樹脂枠体24の内側に、平均粒径15μmのシリカを含
有する熱硬化性エポキシ樹脂をランナー35から注入す
る。
First, about 0.2 mm provided on the resin frame 24,
Align the gate 34 of the molding die with the step portion 24d of
A thermosetting epoxy resin containing silica having an average particle diameter of 15 μm is injected from the runner 35 into the resin frame 24.

【0040】樹脂硬化後、成形金型を開き、ランナー3
5と共にエジェクター(図示せず)で、上型32を分離
した後、ゲート34、ランナー35を除去することによ
り封止樹脂27を有する集積回路装置21が完成する。
After the resin is cured, the molding die is opened and the runner 3
After separating the upper mold 32 with an ejector (not shown) together with 5, the gate 34 and the runner 35 are removed to complete the integrated circuit device 21 having the sealing resin 27.

【0041】本実施の形態によれば、配線基板28に樹
脂枠体24が形成されているため、樹脂枠体24が成形
樹脂の流れ止めとなるため、金型のパーティング面32
に発生する薄バリを抑制することができる。
According to the present embodiment, since the resin frame 24 is formed on the wiring board 28, the resin frame 24 stops the flow of the molding resin.
The thin burrs generated on the surface can be suppressed.

【0042】また、本実施の形態における樹脂枠体24
は、PPS樹脂あるいはLCP樹脂を使用しているの
で、より薄バリの発生を抑制することができる。すなわ
ち、熱硬化性のエポキシ樹脂の樹脂枠体を設ける場合、
金型に樹脂を注入する際、水のように粘度が低くなり金
型のパーティング面により薄バリが発生し易いという問
題がある。本実施の形態によれば、この問題を解決する
ことができ、バリの発生により不要な樹脂が形成される
ことによるICカードの組み立ての際の障害といった問
題点も発生しない。
The resin frame 24 according to the present embodiment
Since PPS resin or LCP resin is used, the generation of thin burrs can be suppressed. That is, when providing a resin frame of a thermosetting epoxy resin,
When the resin is injected into the mold, there is a problem that the viscosity becomes low like water and thin burrs are easily generated on the parting surface of the mold. According to the present embodiment, this problem can be solved, and there is no problem such as a trouble in assembling an IC card due to the formation of unnecessary resin due to the generation of burrs.

【0043】なお、本発明の集積回路装置21を量産す
る場合は、図9に示すように、複数の集積回路素子25
をテープ状の配線基板28上に形成する。
When mass-producing the integrated circuit device 21 of the present invention, as shown in FIG.
Is formed on a tape-shaped wiring substrate 28.

【0044】次に、図9に示す2点鎖線の大きさのもの
をプレス加工することにより、この個片状態の集積回路
装置21を得ることができる。
Next, an integrated circuit device 21 in this individual state can be obtained by pressing a product having a size indicated by a two-dot chain line shown in FIG.

【0045】次に、本発明の実施の形態による集積回路
装置21をICカード36に組み立てる。
Next, the integrated circuit device 21 according to the embodiment of the present invention is assembled on an IC card 36.

【0046】図10は、集積回路装置21を組み立てた
ICカードの平面図、また図11はその断面図である。
FIG. 10 is a plan view of an IC card in which the integrated circuit device 21 is assembled, and FIG. 11 is a sectional view thereof.

【0047】ICカードのカード材37は、塩化ビニル
樹脂、あるいはABS樹脂を主成分とする厚さ0.76
mm程度のものを用いる。このカード材37に穴37aを
設け、この穴37aの平坦部37bに、集積回路装置2
1が備えられた配線基板28を組み込む。この孔37a
の外縁部に、シアノアクリエート系接着剤、所謂瞬間接
着剤、あるいは熱活性型両面接着フィルム38を用いて
集積回路装置21を接着固定する。これにより、ICカ
ード36を形成することができる。
The card material 37 of the IC card has a thickness of 0.76 mainly composed of vinyl chloride resin or ABS resin.
Use the one of about mm. A hole 37a is provided in the card material 37, and the flat portion 37b of the hole 37a is
1 is incorporated. This hole 37a
The integrated circuit device 21 is bonded and fixed to the outer edge of the device using a cyanoacrylate-based adhesive, a so-called instant adhesive, or a heat-activated double-sided adhesive film 38. Thereby, the IC card 36 can be formed.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上の実施の形態の説明からも明らかな
ように、本発明の集積回路装置によれば、位置精度と物
理的強度に優れた樹脂枠体を設け、また成形金型を用い
て封止樹脂を形成したので、厚さ精度がよく、また封止
樹脂の漏れによるバリのない高品位の集積回路装置を得
ることができる。また、このような集積回路装置をカー
ドに組み立てることにより、携帯性、電気的信頼性に優
れたICカードを提供することができる。
As is clear from the above description of the embodiment, according to the integrated circuit device of the present invention, a resin frame excellent in positional accuracy and physical strength is provided, and a molding die is used. Since the encapsulating resin is formed by the encapsulation, it is possible to obtain a high-quality integrated circuit device with good thickness accuracy and no burrs due to leakage of the encapsulating resin. Further, by assembling such an integrated circuit device into a card, an IC card excellent in portability and electrical reliability can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態における集積回路装置の断
面図
FIG. 1 is a sectional view of an integrated circuit device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態における集積回路装置の平
面図
FIG. 2 is a plan view of the integrated circuit device according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態における配線基板の平面図FIG. 3 is a plan view of the wiring board according to the embodiment of the present invention;

【図4】本発明の実施の形態における樹脂枠体が形成さ
れた配線基板の断面図
FIG. 4 is a cross-sectional view of a wiring board on which a resin frame according to the embodiment of the present invention is formed.

【図5】本発明の実施の形態における成形金型により樹
脂枠体を形成する配線基板の断面図
FIG. 5 is a sectional view of a wiring board on which a resin frame is formed by a molding die according to the embodiment of the present invention;

【図6】本発明の実施の形態における樹脂枠体が形成さ
れた配線基板の断面図
FIG. 6 is a cross-sectional view of the wiring board on which the resin frame according to the embodiment of the present invention is formed.

【図7】本発明の実施の形態における集積回路素子が実
装された集積回路装置の断面図
FIG. 7 is a sectional view of an integrated circuit device on which the integrated circuit element according to the embodiment of the present invention is mounted.

【図8】本発明の実施の形態における封止樹脂を成形金
型により形成する集積回路装置の断面図
FIG. 8 is a cross-sectional view of an integrated circuit device in which a sealing resin is formed by a molding die according to the embodiment of the present invention.

【図9】本発明の実施の形態における量産時の集積回路
装置を示す平面図
FIG. 9 is a plan view showing an integrated circuit device during mass production according to the embodiment of the present invention.

【図10】本発明の実施の形態のICカードの平面図FIG. 10 is a plan view of the IC card according to the embodiment of the present invention.

【図11】本発明の実施の形態のICカードの要部断面
FIG. 11 is a sectional view of an essential part of the IC card according to the embodiment of the present invention;

【図12】従来の集積回路装置の平面図FIG. 12 is a plan view of a conventional integrated circuit device.

【図13】従来の集積回路装置の断面図FIG. 13 is a sectional view of a conventional integrated circuit device.

【図14】従来の集積回路装置を用いたICカードの要
部断面図
FIG. 14 is a sectional view of a main part of an IC card using a conventional integrated circuit device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21,1a 集積回路装置 22,2 導体 23,3 絶縁基板 23a 第1の貫通孔 23b 第2の貫通孔 24 樹脂枠体 24d 段差部 25,5 集積回路素子 25a,5a 入出力電極 26,6 接続手段 27,7a 封止樹脂 36,14 ICカード 37,12 カード材 37a,12a カード材に設けた穴 21, 1a Integrated circuit device 22, 2 Conductor 23, 3 Insulating substrate 23a First through hole 23b Second through hole 24 Resin frame 24d Step 25, 5 Integrated circuit element 25a, 5a Input / output electrode 26, 6 Connection Means 27, 7a Sealing resin 36, 14 IC card 37, 12 Card material 37a, 12a Hole provided in card material

フロントページの続き Fターム(参考) 2C005 MA19 NA03 NB37 PA09 5B035 AA03 AA07 BA05 BB09 CA02 CA08 5F061 AA02 BA03 CA06 CA21 FA03Continued on the front page F-term (reference) 2C005 MA19 NA03 NB37 PA09 5B035 AA03 AA07 BA05 BB09 CA02 CA08 5F061 AA02 BA03 CA06 CA21 FA03

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外部接続用端子となる導体が設けられ、
かつ第1の貫通孔を有する配線基板と、前記配線基板の
前記導体とは反対側の主面に、集積回路素子、この集積
回路素子に形成された入出力電極、前記導体を前記第1
の貫通孔を通して電気的に接続する接続手段、この接続
手段を囲うように設けられた樹脂枠体、及びこの樹脂枠
体の内側に前記集積回路素子及び前記接続手段を覆った
封止樹脂とを備えたことを特徴とする集積回路装置。
A conductor serving as an external connection terminal is provided;
And a wiring board having a first through-hole, and an integrated circuit element, an input / output electrode formed on the integrated circuit element, and the conductor provided on the main surface of the wiring board opposite to the conductor.
Connecting means for electrically connecting through the through holes, a resin frame provided to surround the connecting means, and a sealing resin which covers the integrated circuit element and the connecting means inside the resin frame. An integrated circuit device comprising:
【請求項2】 前記配線基板上に設けられた前記樹脂枠
体が、熱可塑性樹脂により形成されたことを特徴とする
請求項1記載の集積回路装置。
2. The integrated circuit device according to claim 1, wherein said resin frame provided on said wiring board is formed of a thermoplastic resin.
【請求項3】 前記配線基板に、前記樹脂枠体を保持す
るための第2の貫通孔を有することを特徴とする請求項
1記載の集積回路装置。
3. The integrated circuit device according to claim 1, wherein said wiring board has a second through hole for holding said resin frame.
【請求項4】 前記封止樹脂は、成形金型を用いて形成
されたことを特徴とする請求項1記載の集積回路装置。
4. The integrated circuit device according to claim 1, wherein said sealing resin is formed using a molding die.
【請求項5】 カードに設けた穴部に請求項1から請求
項4のいずれかに記載された集積回路装置を接着固定し
たICカード。
5. An IC card in which the integrated circuit device according to claim 1 is bonded and fixed to a hole provided in the card.
【請求項6】 外部接続用端子となる導体が設けられ、
かつ第1の貫通孔を有する配線基板の前記導体とは反対
側の主面に、成形金型を用いて樹脂枠体を成形する工程
と、前記樹脂枠体の内部に集積回路素子を搭載する工程
と、前記集積回路素子の入出力電極と前記導体とを前記
第1の貫通孔を通して電気的に接続する工程と、前記樹
脂枠体の内側に封止樹脂で前記集積回路素子、前記貫通
孔および前記電気的接続部分を覆う工程とを有する集積
回路装置の製造方法。
6. A conductor serving as an external connection terminal is provided,
Forming a resin frame using a molding die on a main surface of the wiring board having the first through hole opposite to the conductor; and mounting an integrated circuit element inside the resin frame. A step of electrically connecting an input / output electrode of the integrated circuit element and the conductor through the first through-hole; and forming the integrated circuit element and the through-hole with a sealing resin inside the resin frame. And a step of covering the electrical connection portion.
【請求項7】 外部接続用端子となる導体が設けられ、
かつ第1の貫通孔を有する配線基板の前記導体とは反対
側の主面に、樹脂枠体を成形する工程と、前記樹脂枠体
の内部に集積回路素子を搭載する工程と、前記集積回路
素子の入出力電極と前記導体とを前記第1の貫通孔を通
して電気的に接続する工程と、成形金型を用いて前記樹
脂枠体の内側に封止樹脂で前記集積回路素子、前記貫通
孔および前記電気的接続部分を覆う工程とを有する集積
回路装置の製造方法。
7. A conductor serving as an external connection terminal is provided,
Forming a resin frame on the main surface of the wiring board having the first through hole on the side opposite to the conductor; mounting an integrated circuit element inside the resin frame; Electrically connecting the input / output electrode of the element and the conductor through the first through-hole, and using a molding die to seal the integrated circuit element and the through-hole inside the resin frame with a sealing resin. And a step of covering the electrical connection portion.
【請求項8】 前記封止樹脂が、樹脂成形金型を用いて
形成されたものであることを特徴とする請求項7記載の
集積回路装置の製造方法。
8. The method for manufacturing an integrated circuit device according to claim 7, wherein said sealing resin is formed using a resin molding die.
【請求項9】 前記樹脂枠体に、前記集積回路素子及び
前記接続手段を覆うための封止樹脂を封入するための段
差部を有することを特徴とする請求項6または請求項7
記載の集積回路装置の製造方法。
9. The resin frame according to claim 6, further comprising a step for enclosing a sealing resin for covering the integrated circuit element and the connection means.
A manufacturing method of the integrated circuit device described in the above.
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US9741633B2 (en) 2015-06-02 2017-08-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package including barrier members and method of manufacturing the same

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