JP2002299149A - Laminated ceramic capacitor - Google Patents

Laminated ceramic capacitor

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JP2002299149A
JP2002299149A JP2001102686A JP2001102686A JP2002299149A JP 2002299149 A JP2002299149 A JP 2002299149A JP 2001102686 A JP2001102686 A JP 2001102686A JP 2001102686 A JP2001102686 A JP 2001102686A JP 2002299149 A JP2002299149 A JP 2002299149A
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dielectric layer
internal electrode
electrodes
electrode
short side
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JP2001102686A
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Hidetoshi Sato
英俊 佐藤
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Original Assignee
Kyocera Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laminated ceramic capacitor whose capacitance can be increased, while an insulation defect is being prevented and whose cutting deviation or the like in the L direction can be detected easily. SOLUTION: Long sides of a dielectric layer on a third internal electrode 5 are formed, in such a way that they are brought close to short sides of the dielectric layer from their both end parts toward cental parts; formation positions of dummy electrodes 13, 14 are arranged to be separated in both end parts, in regions of the short sides of the dielectric layer corresponding to the short sides of the electrode 5; and the areas of the dummy electrodes 13, 14 are formed to become small as they enter the inside of the dielectric layer from their exposed parts.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、積層セラミックコ
ンデンサ等の電子部品に関するものである。
The present invention relates to an electronic component such as a multilayer ceramic capacitor.

【0002】[0002]

【従来の技術】高耐圧用積層セラミックコンデンサに
は、素子(チップ)を構成する誘電体層を介して対向す
るように配設された、異なる外部電極に接続される第
1、第2内部電極の間に、直列接続の2つのコンデンサ
部が形成されるように、外部電極に接続されない第3内
部電極が配設された構造(2連シリーズ構造)を有する
ものなどがある。
2. Description of the Related Art A high withstand voltage multilayer ceramic capacitor has first and second internal electrodes connected to different external electrodes disposed so as to face each other via a dielectric layer constituting an element (chip). Among them, there is a type having a structure in which a third internal electrode not connected to an external electrode is provided (two-series structure) so that two capacitor portions connected in series are formed.

【0003】このような積層セラミックコンデンサの製
造においては、複数の素子が抽出でき、且つ誘電体層と
なる大型セラミックグリーンシート上に、各素子領域に
対応し、第1及び第2内部電極、第3内部電極となる導
体膜を形成し、これら複数の大型グリーンシートを積層
し、素子領域に応じて所定の寸法に切断して未焼成状態
の積層体を形成していた。その後、この未焼成状態の積
層体は焼成処理され、次いで焼成された積層体の両端面
に第1、第2内部電極と接続する外部電極を形成してい
た。
In the production of such a multilayer ceramic capacitor, a plurality of elements can be extracted and a first and a second internal electrode corresponding to each element region are formed on a large ceramic green sheet serving as a dielectric layer. (3) A conductor film to be an internal electrode is formed, a plurality of these large green sheets are laminated, and cut to a predetermined size according to an element region to form an unfired laminate. Thereafter, the unfired laminate was fired, and external electrodes connected to the first and second internal electrodes were formed on both end surfaces of the fired laminate.

【0004】しかしながら、前述した従来の製造方法に
おいては、第1及び第2内部電極、第3内部電極、誘電
体層を積層して加圧した際に、第3内部電極が積層体本
体の幅方向にずれて、第1、第2内部電極に対して所定
位置に重ならないことがある。
However, in the above-described conventional manufacturing method, when the first and second internal electrodes, the third internal electrode, and the dielectric layer are laminated and pressed, the third internal electrode has a width of the laminated body. In some cases, the first and second internal electrodes do not overlap at a predetermined position.

【0005】このため、静電容量の誤差が規定値を上回
り不良品が発生する。さらに、第3内部電極は積層体の
端面には露出しないため、上記位置ずれをこの切断端面
からは検査することができない。
[0005] For this reason, the error of the capacitance exceeds the specified value, and defective products are generated. Further, since the third internal electrode is not exposed on the end face of the laminated body, the above-mentioned positional deviation cannot be inspected from the cut end face.

【0006】したがって、従来、未焼成状態の積層体
を、任意に抜き取り切断して、印刷ずれを検査してい
た。
Therefore, conventionally, the unfired laminate has been arbitrarily extracted and cut to check for print misregistration.

【0007】しかし、積層セラミックコンデンサは通
常、数mm角と小さく、切断することが非常に困難で検
査しがたい欠点があった。また、検査用に切断した積層
セラミックコンデンサは製品化できないという問題点が
あった。
[0007] However, the multilayer ceramic capacitor is usually as small as a few mm square, and has a drawback that it is very difficult to cut and difficult to inspect. In addition, there is a problem that a laminated ceramic capacitor cut for inspection cannot be commercialized.

【0008】上記の目的を達成するために、図4に示す
ように、第3内部電極45と同じ層に第3内部電極45
の位置に対応して端面に露出する位置確認用のダミー電
極53、54を、第3内部電極45と間隔をおいて配置
した積層セラミックコンデンサ40が特許第27660
85号公報に開示されている。
In order to achieve the above object, as shown in FIG. 4, the third internal electrode 45 is formed on the same layer as the third internal electrode 45.
No. 27660 discloses a multilayer ceramic capacitor 40 in which dummy electrodes 53 and 54 for position confirmation exposed at the end faces corresponding to the positions are arranged at a distance from the third internal electrode 45.
No. 85 discloses this.

【0009】同報によれば、第1、第2内部電極43、
44、第3内部電極45、ダミー電極53、54及び誘
電体層42を積層した後、これを層方向に加圧した際
に、第3内部電極45の位置がずれると、これに対応し
てダミー電極53、54がずれる。従って、端面に露出
したダミー電極53、54を視認することにより、第3
内部電極45の位置を知ることができる。
According to the report, the first and second internal electrodes 43,
After laminating 44, the third internal electrode 45, the dummy electrodes 53 and 54, and the dielectric layer 42 and pressing them in the layer direction, if the position of the third internal electrode 45 shifts, The dummy electrodes 53 and 54 are shifted. Therefore, by visually recognizing the dummy electrodes 53 and 54 exposed on the end surfaces, the third electrodes
The position of the internal electrode 45 can be known.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記積
層セラミックコンデンサによれば、絶縁不良を防ぐため
に、第3内部電極45とダミー電極53、54の距離を
ある程度広げる必要がある。このため、第1、第2内部
電極53、54と第3内部電極45の重なり面積が小さ
くなり、取得容量が小さくなるという問題点があった。
However, according to the multilayer ceramic capacitor, it is necessary to increase the distance between the third internal electrode 45 and the dummy electrodes 53 and 54 to some extent in order to prevent insulation failure. Therefore, there is a problem that the overlapping area between the first and second internal electrodes 53 and 54 and the third internal electrode 45 is reduced, and the acquisition capacity is reduced.

【0011】また、長手方向(以下、L方向:一対の外
部電極が形成される端部方向)の印刷ずれや切断ずれ
は、仮にずれていても、切断面から現れる、第1、第2
内部電極となる導体膜の幅が同一であるため、この切断
端面からは検査することができない。
In addition, even if the printing deviation and the cutting deviation in the longitudinal direction (hereinafter, L direction: the end direction where the pair of external electrodes are formed) are shifted, the first and second deviations appear from the cut surface.
Since the width of the conductor film serving as the internal electrode is the same, inspection cannot be performed from the cut end face.

【0012】ここで、1枚の製版を用いて、偶数層の内
部電極を印刷後、製版をW方向にずらして奇数層の内部
電極を印刷する方法を用いれば、L方向の印刷ずれはほ
とんど発生しない。しかし、L方向の切断ずれは、幅方
向(以下、W方向:外部端子電極が形成されていない端
部方向)の切断ずれと同じ確率で発生する。
Here, if a method of printing the internal electrodes of the even-numbered layers by printing the internal electrodes of the even-numbered layers by using one plate making and printing the internal electrodes of the odd-numbered layers by shifting the plate making in the W direction is used, the printing deviation in the L-direction is almost eliminated. Does not occur. However, the cutting displacement in the L direction occurs with the same probability as the cutting displacement in the width direction (hereinafter, W direction: the end direction where no external terminal electrode is formed).

【0013】本発明は、上記課題に鑑みて案出されたも
のであり、その目的は、絶縁不良を防ぎつつも大容量化
が可能で、かつL方向の切断ずれなども容易に検出する
ことができる積層セラミックコンデンサを提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to make it possible to increase the capacity while preventing insulation failure and to easily detect a displacement in the L direction. It is an object of the present invention to provide a monolithic ceramic capacitor that can achieve the above.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の積層セラミック
コンデンサは、矩形状の誘電体層が複数積層された積層
体と、前記誘電体層の同一平面に、その一方短辺から他
方短辺側に引き出された第1内部電極と、該第1内部電
極と接続されず前記誘電体層の他方短辺から一方短辺側
に引き出された第2内部電極とが形成された第1内部電
極群と、前記誘電体層とは異なる誘電体層の平面に、前
記第1、第2内部電極の双方に誘電体層を介して対向す
る第3内部電極と、前記誘電体層の両短辺側から露出
し、前記第3内部電極と接続されない位置ずれ確認用の
ダミー電極とが形成された第2内部電極群とを有した積
層セラミックコンデンサであって、前記第3内部電極の
誘電体層短辺側が、その両端部から中央部にかけて前記
誘電体層短辺側に近づくように突出して形成してなり、
前記ダミー電極の形成位置が、前記第3内部電極の誘電
体層短辺側と対向する前記誘電体層短辺の領域の両端側
に2つのダミー電極が分離して配置されるとともに、前
記各ダミー電極の面積が前記誘電体層短辺から誘電体層
内部に入るにしたがって小さくなるように形成したこと
を特徴とする。
According to the present invention, there is provided a multilayer ceramic capacitor comprising: a laminated body in which a plurality of rectangular dielectric layers are laminated; A first internal electrode group formed with a first internal electrode extended to the first internal electrode and a second internal electrode extended to the other short side from the other short side of the dielectric layer without being connected to the first internal electrode. A third internal electrode facing both of the first and second internal electrodes via a dielectric layer on a plane of the dielectric layer different from the dielectric layer, and both short sides of the dielectric layer And a second internal electrode group formed with a dummy electrode for confirming misalignment that is exposed from the third internal electrode and is not connected to the third internal electrode. The side is closer to the short side of the dielectric layer from both ends to the center. It was formed to protrude memorial,
The formation position of the dummy electrode is such that two dummy electrodes are separately arranged on both ends of a region of the dielectric layer short side opposed to the dielectric layer short side of the third internal electrode. The area of the dummy electrode is formed so as to decrease as the area from the short side of the dielectric layer to the inside of the dielectric layer.

【作用】本発明によれば、第3内部電極とダミー電極間
のマージンを確保しつつ、ダミー電極の面積が内部にい
くに従って減少した分、第3内部電極の面積を広げるこ
とができる。すなわち、上記マージンを確保することに
より、絶縁不良を防ぎつつも、第1、第2内部電極と第
3内部電極の重なり面積を広げることにより、積層セラ
ミックコンデンサの小型高容量化を実現できる。
According to the present invention, it is possible to increase the area of the third internal electrode as much as the area of the dummy electrode decreases as it goes inside while securing a margin between the third internal electrode and the dummy electrode. That is, by securing the above margin, while preventing insulation failure, the overlapping area of the first and second internal electrodes and the third internal electrode is widened, whereby the miniaturization and high capacity of the multilayer ceramic capacitor can be realized.

【0015】また、L方向の切断ずれが生じた際、端面
に露出するダミー電極の電極切欠部の幅が変化するた
め、外観を検査すれば、セラミック素体の長さ方向の切
断ずれを発見することができる。したがって、検査作業
および切断ずれを検査する画像認識が簡単で検査効率を
向上させることができる。
In addition, when the cutting displacement in the L direction occurs, the width of the electrode cutout portion of the dummy electrode exposed on the end surface changes, and if the appearance is inspected, a cutting displacement in the length direction of the ceramic body is found. can do. Therefore, the inspection work and the image recognition for inspecting the cutting deviation are simple, and the inspection efficiency can be improved.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明の積層セラミックコ
ンデンサを図面に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A multilayer ceramic capacitor according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0017】図1は、本発明の積層セラミックコンデン
サの外観斜視図である。図2は、本発明の積層セラミッ
クコンデンサの(a)横断面図、(b)平面図である。
FIG. 1 is an external perspective view of a multilayer ceramic capacitor according to the present invention. FIG. 2 is a (a) cross-sectional view and (b) a plan view of the multilayer ceramic capacitor of the present invention.

【0018】図において、10は積層セラミックコンデ
ンサ、1は積層体、2は誘電体層、3、4は第1、第2
内部電極、5は第3の内部電極、7、8は外部電極、1
3、14は位置確認用のダミー電極である。第1、第2
内部電極3、4は、第1内部電極群を形成している。ま
た、第3の内部電極及びダミー電極13、14は、第2
内部電極群を形成している。
In the figure, 10 is a multilayer ceramic capacitor, 1 is a laminated body, 2 is a dielectric layer, 3, 4 are first and second layers.
Internal electrodes, 5 is a third internal electrode, 7, 8 are external electrodes, 1
Numerals 3 and 14 are dummy electrodes for position confirmation. 1st, 2nd
The internal electrodes 3 and 4 form a first internal electrode group. The third internal electrode and the dummy electrodes 13 and 14 are
An internal electrode group is formed.

【0019】第1内部電極3は積層体本体1のL方向一
端側に導出され、第2内部電極4は他端側に導出されて
いる。また、第1内部電極3と第2内部電極4は対にし
て同層に配置されると共に、積層体本体1のL方向中央
部において第1内部電極3と第2内部電極4とは誘電体
層2によって絶縁されている。第3内部電極5及びダミ
ー電極13、14は同層に配置され、誘電体層2を介在
して第1、第2内部電極3、4の層に積層されている。
さらに、第3内部電極5は、積層体本体1の端面に露出
しないように積層体本体1の中央部に配置されると共
に、L方向の一端部が第1内部電極3に重なり、他端部
が第2内部電極4に重なるように配置されている。ダミ
ー電極13、14は、第3内部電極5とは絶縁され、積
層体本体1の端面に露出するように第3内部電極5のL
方向の両側にそれぞれ配置されている。
The first internal electrode 3 is led out to one end of the laminate body 1 in the L direction, and the second internal electrode 4 is led out to the other end. Further, the first internal electrode 3 and the second internal electrode 4 are arranged in the same layer as a pair, and the first internal electrode 3 and the second internal electrode 4 Insulated by layer 2. The third internal electrode 5 and the dummy electrodes 13 and 14 are arranged in the same layer, and are stacked on the first and second internal electrodes 3 and 4 with the dielectric layer 2 interposed therebetween.
Further, the third internal electrode 5 is disposed at the center of the multilayer body 1 so as not to be exposed on the end surface of the multilayer body 1, and one end in the L direction overlaps the first internal electrode 3 and the other end. Are arranged so as to overlap the second internal electrode 4. The dummy electrodes 13 and 14 are insulated from the third internal electrode 5, and the L of the third internal electrode 5 is exposed so as to be exposed on the end surface of the multilayer body 1.
It is arranged on each side of the direction.

【0020】ここで、第3内部電極5の誘電体層2短辺
側が、その両端部から中央部にかけて誘電体層2短辺側
に近づくように突出して形成されてなり、ダミー電極1
3、14の形成位置が、第3内部電極5の短辺と対応す
る誘電体層2短辺の領域の両端部に分離して配置される
とともに、ダミー電極13、14の面積が露出部位から
誘電体層2内部に入るに従って小さくなるように形成さ
れている。
Here, the short side of the dielectric layer 2 of the third internal electrode 5 is formed so as to protrude from both end portions to the central portion so as to approach the short side of the dielectric layer 2, and the dummy electrode 1 is formed.
The formation positions of the third and the inner electrodes 5 are separated from each other at both ends of the region of the short side of the dielectric layer 2 corresponding to the short side of the third internal electrode 5, and the area of the dummy electrodes 13 and 14 is It is formed so as to become smaller as it enters the inside of the dielectric layer 2.

【0021】しかもダミー電極13,14は三角形状で
形成されており、誘電体層2の短辺方向に分離されたダ
ミー電極13,14の斜辺で凹状になるように配置し、
この凹状内部に向かって第3内部電極5の誘電体層2短
辺側が突出している。なお、ダミー電極13,14の斜
辺と第3内部電極5の突出部の曲線が略平行となるよう
に配置すると容量を大きくとることができる。
Moreover, the dummy electrodes 13 and 14 are formed in a triangular shape, and are arranged so as to be concave at the oblique sides of the dummy electrodes 13 and 14 separated in the short side direction of the dielectric layer 2.
The short side of the dielectric layer 2 of the third internal electrode 5 protrudes toward the concave inside. The capacitance can be increased by arranging the oblique sides of the dummy electrodes 13 and 14 so that the curves of the protruding portions of the third internal electrodes 5 are substantially parallel to each other.

【0022】さらに、積層体本体1の両端部には、第
1、第2内部電極3、4に導通する外部電極7、8が形
成され、この外部電極7、8を介して外部回路と接続で
きるようになっている。また、ダミー電極13、14も
外部電極7、8に接続されている。
Further, external electrodes 7 and 8 which are connected to the first and second internal electrodes 3 and 4 are formed at both ends of the multilayer body 1, and connected to an external circuit via the external electrodes 7 and 8. I can do it. The dummy electrodes 13 and 14 are also connected to the external electrodes 7 and 8.

【0023】上述の積層セラミックコンデンサ10は次
のように作製する。なお、説明では、誘電体層となるグ
リーンシート、内部電極となる導体膜、積層体は、便宜
上、焼成処理前の符号を付す。
The above-described multilayer ceramic capacitor 10 is manufactured as follows. Note that, in the description, a green sheet serving as a dielectric layer, a conductor film serving as an internal electrode, and a laminated body are denoted by reference numerals before firing treatment for convenience.

【0024】まず、複数素子が抽出可能で、且つ誘電体
層2となる大型のセラミックグリーンシートを用意す
る。具体的には、誘電体セラミックス材料のスラリーを
ドクターブレード法等により、所定厚みとなるように成
形する。
First, a large ceramic green sheet from which a plurality of elements can be extracted and which becomes the dielectric layer 2 is prepared. Specifically, a slurry of a dielectric ceramic material is formed to a predetermined thickness by a doctor blade method or the like.

【0025】次に、大型グリーンシートの各素子領域
に、第1、第2内部電極3、4となる導体膜を、Ag、
Pd、卑金属金属などから成る導電性ペーストを用い
て、スクリーン印刷法等により印刷形成する。
Next, a conductor film to be the first and second internal electrodes 3 and 4 is formed on each element region of the large green sheet by using Ag,
Using a conductive paste made of Pd, a base metal, or the like, printing is performed by a screen printing method or the like.

【0026】同様に、大型グリーンシートの各素子領域
に、第3内部電極5、ダミー電極13、14となる導体
膜を導電性ペーストを用いて形成する。
Similarly, a conductive film to be the third internal electrode 5 and the dummy electrodes 13 and 14 is formed in each element region of the large green sheet using a conductive paste.

【0027】ここで、第3内部電極5には凸部が形成さ
れ、ダミー電極13、14には、第3内部電極5の凸部
と概略同一形状である凹部(電極切欠部)23、24と
なる非電極領域がスクリーン印刷の製版制御により形成
される。
Here, a convex portion is formed on the third internal electrode 5, and concave portions (electrode cutout portions) 23, 24 having substantially the same shape as the convex portion of the third internal electrode 5 are formed on the dummy electrodes 13, 14. The non-electrode region to be formed is formed by plate-making control of screen printing.

【0028】このように、第1、第2内部電極3、4と
なる導体膜が形成された誘電体層となるグリーンシート
と、第3内部電極5、ダミー電極13、14となる導体
膜が形成されたグリーンシートとを交互に積層し、必要
に応じて上部あるいは下部に導体膜が形成されていない
セラミックグリーンシートをさらに積層し、圧着一体化
する。
As described above, the green sheet serving as the dielectric layer on which the conductor films serving as the first and second internal electrodes 3 and 4 are formed, and the conductor film serving as the third internal electrode 5 and the dummy electrodes 13 and 14 are formed. The formed green sheets are alternately laminated, and if necessary, ceramic green sheets having no conductive film formed on the upper or lower part are further laminated and integrated by pressure bonding.

【0029】次に、所定グリーンシートを積層した大型
積層体を、各素子領域に応じて、所定寸法に切断して未
焼成状態の積層体1を形成する。
Next, the large-sized laminate in which the predetermined green sheets are laminated is cut into a predetermined size in accordance with each element region to form the unfired laminate 1.

【0030】次に、上述の大型積層体を所定素子領域に
応じて切断した積層体1の端面のダミー電極13、14
の電極切欠部7の露出状況を目視により確認し、切断ず
れを確認する。尚、ここで、切断ずれと判断できる積層
体1は、製造工程から除去されることになる。
Next, the dummy electrodes 13 and 14 on the end surfaces of the laminate 1 obtained by cutting the large laminate described above in accordance with a predetermined element region.
The state of exposure of the electrode notch 7 is visually confirmed, and a cutting deviation is confirmed. Here, the laminated body 1 that can be determined as a cutting shift is removed from the manufacturing process.

【0031】この切断によって正しい位置で行われた場
合には、積層体1の一方の切断端面におけるダミー電極
13の露出部分の幅は、図3(a)のようになる。
When the cutting is performed at a correct position, the width of the exposed portion of the dummy electrode 13 on one cut end surface of the laminate 1 is as shown in FIG.

【0032】一方、W方向の切断ずれが発生した場合、
図3(b)のようにダミー電極13の露出部分の位置が
変化する。
On the other hand, when a cutting displacement in the W direction occurs,
As shown in FIG. 3B, the position of the exposed portion of the dummy electrode 13 changes.

【0033】また、L方向の切断ずれが発生した場合、
図3(c)のようにダミー電極13の露出部分の幅が変
化する。
When a cutting displacement in the L direction occurs,
The width of the exposed portion of the dummy electrode 13 changes as shown in FIG.

【0034】また、LまたはW方向の印刷ずれや積層ず
れが発生した場合も、同様にダミー電極13の露出部分
の位置が変化する。
Also, when a printing shift or a stacking shift occurs in the L or W direction, the position of the exposed portion of the dummy electrode 13 similarly changes.

【0035】従って、ダミー電極13の露出部分の幅か
らコンデンサの静電容量が規定範囲内にあるか否かを容
易に判定することができ、不良品となる場合はここで作
業を中断することができる。これにより、従来に比べて
時間及び労力の無駄を低減することができる。
Therefore, it can be easily determined from the width of the exposed portion of the dummy electrode 13 whether or not the capacitance of the capacitor is within the specified range. If a defective product is found, the operation should be interrupted here. Can be. Thereby, waste of time and labor can be reduced as compared with the related art.

【0036】次いで、正しく切断された未焼成状態の積
層体1を所定雰囲気、所定温度で焼成処理する。これに
より、誘電体層2の層間に、第1、第2内部電極3、
4、第3内部電極5、ダミー電極13、14が配置され
た積層体1となる。
Next, the uncut fired laminate 1 that has been cut correctly is fired at a predetermined atmosphere and a predetermined temperature. As a result, the first and second internal electrodes 3, between the dielectric layers 2,
4, a laminate 1 in which the third internal electrode 5 and the dummy electrodes 13 and 14 are arranged.

【0037】次に、積層体1の端面を研磨処理し、積層
体1の端面から第1、第2内部電極3、4がその全幅に
渡って露出するようにして、この一対の端面を含む端部
に、外部電極7、8を形成する。具体的には、Ag、C
u、Niなどの厚膜導電性ペーストを焼付けにより下地
導体膜を形成し、その表面にNiメッキ、Snメッキ、
Auメッキなどを被着する。これにより、図1に示す積
層セラミックコンデンサ10を得ることができる。
Next, the end faces of the laminate 1 are polished so that the first and second internal electrodes 3 and 4 are exposed from the end faces of the laminate 1 over the entire width thereof, and include the pair of end faces. External electrodes 7 and 8 are formed at the ends. Specifically, Ag, C
u, Ni or other thick film conductive paste is baked to form a base conductor film, and Ni plating, Sn plating,
Au plating or the like is applied. Thus, the multilayer ceramic capacitor 10 shown in FIG. 1 can be obtained.

【0038】かくして本発明の積層セラミックコンデン
サ10によれば、第3内部電極5の誘電体層2短辺側
が、その両端部から中央部にかけて誘電体層2短辺側に
近づくように突出して形成されてなり、位置確認用のダ
ミー電極13、14の形成位置が、第3内部電極5の短
辺と対応する誘電体層2短辺の領域の両端部に複数のダ
ミー電極13、14が分離して配置されるとともに、ダ
ミー電極13、14の面積が露出部位から誘電体層2内
部に入るにしたがって小さくなるように形成されている
ため、第3内部電極5とダミー電極間13、14のマー
ジンを確保しつつ、ダミー電極13、14の面積が減少
した分、第3内部電極5の面積を広げることができる。
すなわち、上記マージンを確保することにより、絶縁不
良を防ぎつつも、第1、第2内部電極3、4と第3内部
電極5の重なり面積を広げることにより、積層セラミッ
クコンデンサ10の小型高容量化を実現できる。
Thus, according to the multilayer ceramic capacitor 10 of the present invention, the short side of the dielectric layer 2 of the third internal electrode 5 protrudes from both ends to the center so as to approach the short side of the dielectric layer 2. The position of the dummy electrodes 13 and 14 for position confirmation is divided into a plurality of dummy electrodes 13 and 14 at both ends of the region of the short side of the dielectric layer 2 corresponding to the short side of the third internal electrode 5. And the dummy electrodes 13 and 14 are formed so that the area of each of the dummy electrodes 13 and 14 becomes smaller as it enters the dielectric layer 2 from the exposed portion. The area of the third internal electrode 5 can be increased by the reduced area of the dummy electrodes 13 and 14 while securing a margin.
That is, by securing the margin, while preventing insulation failure, the overlapping area of the first and second internal electrodes 3 and 4 and the third internal electrode 5 is increased, so that the multilayer ceramic capacitor 10 is reduced in size and increased in capacitance. Can be realized.

【0039】また、L方向の切断ずれが生じた際、端面
に露出するダミー電極13、14の電極切欠部23、2
4の幅が変化するため、外観を検査すれば、セラミック
素体のL方向の切断ずれを発見することができる。した
がって、検査作業および切断ずれを検査する画像認識が
簡単で検査効率を向上させることができる。
Further, when a cutting shift occurs in the L direction, the electrode cutouts 23, 2 of the dummy electrodes 13, 14 exposed on the end surfaces are formed.
Since the width of 4 changes, it is possible to find out the cutting displacement of the ceramic body in the L direction by inspecting the appearance. Therefore, the inspection work and the image recognition for inspecting the cutting deviation are simple, and the inspection efficiency can be improved.

【0040】また、小型高容量化のために、マージンを
小さくした場合、第3内部電極5とダミー電極13、1
4をはさんだグリーンシートの密着不良が生じるという
問題点があった。すなわち、誘電体層となるグリーンシ
ート同士の密着性に比較して、異種材料の密着性は劣っ
てしまう。ここで、本発明では、上記マージンを同じに
した場合、第3内部電極5とダミー電極13、14間の
面積が大きくなるので、密着不良を低減できるという効
果もある。
When the margin is reduced for the purpose of miniaturization and high capacity, the third internal electrode 5 and the dummy electrodes 13, 1
There is a problem that poor adhesion of the green sheet sandwiching No. 4 occurs. That is, the adhesion between different types of materials is inferior to the adhesion between green sheets serving as dielectric layers. Here, in the present invention, when the margins are set to be the same, the area between the third internal electrode 5 and the dummy electrodes 13 and 14 is increased, so that there is also an effect that poor adhesion can be reduced.

【0041】また、第3内部電極5とダミー電極13、
14の材料を同じにすることにより、第3内部電極5と
ダミー電極13、14を同時に形成することができるの
で、製造工程の大幅な変更を行うこと無く、容易に実施
することができ、コストの上昇を招くこともない。
Further, the third internal electrode 5 and the dummy electrode 13,
By using the same material for the 14, the third internal electrode 5 and the dummy electrodes 13 and 14 can be formed at the same time, so that it can be easily implemented without making a significant change in the manufacturing process, and the cost can be reduced. Does not lead to a rise.

【0042】なお、本実施例では、本発明をセラミック
コンデンサに適用したが、これに限定されることはな
い。例えば、圧電アクチュエ−タ、積層インダクタ等の
積層体の製造にも適用することができる。
In this embodiment, the present invention is applied to a ceramic capacitor. However, the present invention is not limited to this. For example, the present invention can be applied to the manufacture of a laminated body such as a piezoelectric actuator and a laminated inductor.

【0043】また、本実施例では、第3内部電極5の両
側にダミー電極13、14を配置したが、一方のみでも
同様の効果を得ることができる。
In this embodiment, the dummy electrodes 13 and 14 are arranged on both sides of the third internal electrode 5, but the same effect can be obtained by using only one of them.

【0044】また、ダミー電極の凹部と第3内部電極の
凸部の形状は、曲線形状など、どのような形状でもよ
い。重要なことは、マージンが確保できることである。
The shape of the concave portion of the dummy electrode and the shape of the convex portion of the third internal electrode may be any shape such as a curved shape. What is important is that a margin can be secured.

【0045】また、第1、第2内部電極3、4が形成さ
れた層にも、位置ずれ検出マーク等を設けてもよい。
Also, a misregistration detection mark or the like may be provided on the layer on which the first and second internal electrodes 3 and 4 are formed.

【0046】[0046]

【発明の効果】本発明によれば、第3内部電極の誘電体
層短辺側が、その両端部から中央部にかけて誘電体層短
辺側に近づくように突出して形成されてなり、位置確認
用のダミー電極の形成位置が、第1、第2内部電極の短
辺と対応する誘電体層短辺の領域の両端部に複数のダミ
ー電極が分離して配置されるとともに、ダミー電極の面
積が露出部位から誘電体層内部に入るにしたがって小さ
くなるように形成されているため、第3内部電極とダミ
ー電極間のマージンを確保しつつ、ダミー電極の面積が
減少した分、第3内部電極の面積を広げることができ
る。
According to the present invention, the short side of the dielectric layer of the third internal electrode is formed so as to protrude from both ends to the center and approach the short side of the dielectric layer. A plurality of dummy electrodes are separately arranged at both ends of a region of the dielectric layer short side corresponding to the short sides of the first and second internal electrodes, and the area of the dummy electrode is Since it is formed so as to become smaller as it enters the dielectric layer from the exposed portion, a margin between the third internal electrode and the dummy electrode is secured while the area of the dummy electrode is reduced by the reduced area of the third internal electrode. The area can be expanded.

【0047】すなわち、上記マージンを確保することに
より、絶縁不良を防ぎつつも、第1、第2内部電極と第
3内部電極の重なり面積を広げることにより、積層セラ
ミックコンデンサの小型高容量化を実現できる。
That is, by securing the above margin, the overlap area between the first and second internal electrodes and the third internal electrode is widened while preventing insulation failure, thereby realizing the miniaturization and high capacity of the multilayer ceramic capacitor. it can.

【0048】また、L方向の切断ずれが生じた際、端面
に露出するダミー電極の電極切欠部の幅が変化するた
め、外観を検査すれば、セラミック素体の長さ方向の切
断ずれを発見することができる。したがって、検査作業
および切断ずれを検査する画像認識が簡単で検査効率を
向上させることができる。
Further, when the cutting displacement in the L direction occurs, the width of the electrode cutout portion of the dummy electrode exposed on the end face changes, and if the appearance is inspected, the cutting displacement in the longitudinal direction of the ceramic body is found. can do. Therefore, the inspection work and the image recognition for inspecting the cutting deviation are simple, and the inspection efficiency can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の積層セラミックコンデンサの外観斜視
図である。
FIG. 1 is an external perspective view of a multilayer ceramic capacitor according to the present invention.

【図2】(a)は本発明の積層セラミックコンデンサの
横断面図であり、(b)は平面図である。
2A is a cross-sectional view of the multilayer ceramic capacitor of the present invention, and FIG. 2B is a plan view.

【図3】図2の積層セラミックコンデンサの切断ずれ時
の端面の状態を表す図であり、(a)は正しいずれ、
(b)はW方向にずれた場合、(c)はL方向にずれた
場合を示す。
3A and 3B are diagrams illustrating a state of an end face of the multilayer ceramic capacitor of FIG. 2 at the time of cutting displacement, wherein FIG.
(B) shows a case in which it is shifted in the W direction, and (c) shows a case in which it is shifted in the L direction.

【図4】従来の積層セラミックコンデンサ(a)は積層
セラミックコンデンサの横断面図であり、(b)は平面
図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a conventional multilayer ceramic capacitor (a), and FIG. 4 (b) is a plan view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、40 積層セラミックコンデン
サ 1 積層体 2、 誘電体層 3、4 第1、第2内部電極(第
1内部電極群) 5、 第3内部電極(第2内部
電極群) 7、8 外部電極 13、14 ダミー電極(第2内部電
極群) 23、24 凹部
10, 40 multilayer ceramic capacitor 1 multilayer body 2, dielectric layer 3, 4, first and second internal electrodes (first internal electrode group) 5, third internal electrode (second internal electrode group) 7, 8 external electrode 13 , 14 dummy electrode (second internal electrode group) 23, 24 recess

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 矩形状の誘電体層が複数積層された積層
体と、 前記誘電体層の同一平面に、その一方短辺から他方短辺
側に引き出された第1内部電極と、該第1内部電極と接
続されず前記誘電体層の他方短辺から一方短辺側に引き
出された第2内部電極とが形成された第1内部電極群
と、 前記誘電体層とは異なる誘電体層の平面に、前記第1、
第2内部電極の双方に誘電体層を介して対向する第3内
部電極と、前記誘電体層の両短辺側から露出し、前記第
3内部電極と接続されない位置ずれ確認用のダミー電極
とが形成された第2内部電極群とを有した積層セラミッ
クコンデンサであって、 前記第3内部電極の誘電体層短辺側が、その両端部から
中央部にかけて前記誘電体層短辺側に近づくように突出
して形成してなり、前記ダミー電極の形成位置が、前記
第3内部電極の誘電体層短辺側と対向する前記誘電体層
短辺の領域の両端側に2つのダミー電極が分離して配置
されるとともに、前記各ダミー電極の面積が前記誘電体
層短辺から誘電体層内部に入るにしたがって小さくなる
ように形成したことを特徴とする積層セラミックコンデ
ンサ。
A stacked body in which a plurality of rectangular dielectric layers are stacked; a first internal electrode extending from one short side to the other short side on the same plane of the dielectric layer; A first internal electrode group formed with a second internal electrode that is not connected to the first internal electrode but is drawn out from the other short side of the dielectric layer to one short side, and a dielectric layer different from the dielectric layer The first,
A third internal electrode that faces both of the second internal electrodes via a dielectric layer, and a dummy electrode that is exposed from both short sides of the dielectric layer and that is not connected to the third internal electrode, and that is used to confirm a displacement. Wherein the short side of the dielectric layer of the third internal electrode is closer to the short side of the dielectric layer from both ends to the center of the multilayer ceramic capacitor. The two dummy electrodes are separated at both ends of a region of the dielectric layer short side opposite to the dielectric layer short side of the third internal electrode. And the area of each of the dummy electrodes is formed so that the area of each of the dummy electrodes decreases from the short side of the dielectric layer to the inside of the dielectric layer.
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