JP2002289884A - 太陽電池、太陽電池装置 - Google Patents

太陽電池、太陽電池装置

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JP2002289884A
JP2002289884A JP2001090915A JP2001090915A JP2002289884A JP 2002289884 A JP2002289884 A JP 2002289884A JP 2001090915 A JP2001090915 A JP 2001090915A JP 2001090915 A JP2001090915 A JP 2001090915A JP 2002289884 A JP2002289884 A JP 2002289884A
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compound semiconductor
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electrode
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Takashi Yamada
隆史 山田
Mitsuo Takahashi
光男 高橋
Naoyuki Yamabayashi
直之 山林
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 積層型化合物半導体太陽電池の上部太陽電池
として特に好適であり、単体の太陽電池としての光電変
換効率を高く維持しつつ、下部太陽電池への光照射が低
下するのを防止できる化合物半導体太陽電池を提供す
る。 【解決手段】 化合物半導体太陽電池1は、太陽光Rが
入射される面に受光領域15を有し、受光領域15の内
部に金属配線9aとパッド9bと備える表面電極9が形
成されている。また、当該太陽電池1には、太陽光Rが
出射される面に窓領域10cが設けられている。受光領
域15から入射した太陽光Rのうち、当該太陽電池1を
透過する光は、裏面電極10に遮蔽されることなく、窓
領域10cを通って当該太陽電池1の外部へと出射す
る。裏面電極10による遮蔽がないため、より多くの光
量の光が、当該太陽電池1の下部に設けられる他の太陽
電池に供給され得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、太陽電池および太
陽電池装置に関する。
【0002】
【従来の技術】化合物半導体を用いた太陽電池の高効率
化するため、複数の太陽電池を積層する構成が提案され
ている。これらの構造には、モノリシック型タンデムセ
ルとメカニカルスタック型タンデムセルとがある。これ
らの構成の試作例が実際にいくつか報告されている。例
えば、モノリシック型タンデムセルでは、1枚の同一基
板上に複数の太陽電池構造をエピタキシャル成長によっ
て連続的に形成する(T.Takamoto,et.al.,Jpn.J.Appl.Ph
ys. vol.36(1997)pp.6215-6220)。しかし、モノリシッ
ク型タンデムセルでは良質なヘテロエピタキシャル界面
が要求され、高度な成長技術が必要である。一方、メカ
ニカルスタック型タンデムセルと呼ばれる積層型太陽電
池装置では、複数の太陽電池を機械的に接合することで
高効率を実現する方式である。この構成では、基本的に
2つ又はそれ以上の太陽電池を別基板上に別プロセスで
形成できるのでエピタキシャル成長への負荷を軽減でき
かつ特性の劣化も少なく、高効率が期待できる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】化合物半導体を用いた
メカニカルスタック型タンデムセルの報告例は、まだあ
まり多くはないが、例えば、文献「H.Matsubara et a
l., Solar Energy Materials and Solar Cells 50 (199
8) pp.177-184.」に示されている。この文献において、
図10に示すとおり、上部太陽電池70(同文献ではG
aAs太陽電池)の基板裏面に形成された電極100の
パターンは、下部太陽電池110(同文献ではGaIn
As太陽電池)に太陽光を透過させるために、表面グリ
ッド電極90と同じ電極パターンで形成されている。特
に、1cm角以上の大面積メカニカルスタック型化合物
太陽電池では、太陽光の吸収によって生成されたフォト
キャリアが、太陽電池の上下に設けられた電極に十分到
達し、大きい電流及び電圧が得られるように、太陽電池
の受光領域、及び基板裏面の電極において、電極配線密
度が均等となるように工夫されている。
【0004】しかしながら、図10に示した上部太陽電
池の電極構成では、上部太陽電池の表面グリッドパター
ンと基板裏面の同じ電極パターンとの位置ずれが生じる
と、本来透過すべき太陽光が裏面の電極により遮られる
ため、上部太陽電池の光透過率が減少してしまう。その
結果、下部太陽電池における発生電力が低下し、積層型
太陽電池装置としての変換効率が低下してしまうという
問題があった。そのため、上部太陽電池の表裏の電極を
形成する際、その位置ずれを最小にするために両面マス
クアライナー装置を用いてミクロン単位の位置合せを行
う必要がある。この位置合せのため、電極パターン作製
工程に時間がかかり、実用化への障害となっていた。特
に、1cm角以上の大面積太陽電池では、太陽電池の全
面にわたって表裏電極の位置合せを行うことは技術的に
非常に困難である。
【0005】大面積超高効率太陽電池をより広く実用化
するためには、太陽電池の製造コストの低減、及び量産
化の容易なプロセスの開発が望まれている。
【0006】そこで、本発明の目的は、積層型化合物半
導体太陽電池の上部太陽電池として特に好適であり、単
体の太陽電池としての光電変換効率を高く維持しつつ、
下部太陽電池への光照射が低下するのを防止できる太陽
電池を提供することである。また、本発明は、上記の化
合物半導体太陽電池を上部太陽電池として用い、変換効
率の高い太陽電池装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の一側面は、太陽
電池に係わる。この太陽電池は、入射面と、出射面と、
基板と、複数の化合物半導体層と、第1の電極と、第2
の電極とを備える。入射面は、所定の軸に沿って入射す
る光を受ける。出射面からは、入射光の一部が出射す
る。基板は、入射面と出射面との間に配置されている。
複数の化合物半導体層は、入射面と出射面との間に配置
されており、入射された光から電力を発生するように設
けられている。第1の電極は、入射面に設けられてい
る。第2の電極は、出射面に設けられている。複数の化
合物半導体層は、基板の主面上に配置されている。入射
面は、その中に第1の電極が配置されている第1の領域
と、この第1の領域と異なる第2の領域とを有する。出
射面は、その中に第2の電極が配置されている第3の領
域と、この第3の領域と異なる第4の領域とを有する。
第1および第4の領域は、光の通過経路と交差してい
る。
【0008】この太陽電池に入射される光は、当該太陽
電池により電力に変換される有効光成分と、当該太陽電
池を透過する透過光成分が含まれる。入射面の第1の領
域に第1の電極を配置すると共に、出射面の第4の領域
に第2の電極を配置したので、透過光成分は、第2の電
極によって遮られることなく出射面から出射する。
【0009】本発明に係わる太陽電池では、第4の領域
の面積は、第1の領域の面積より大きいようにしてもよ
い。この形態によれば、入射光による第1の電極の陰
は、第2の電極と重なることがない。
【0010】本発明に係わる太陽電池では、基板は、出
射面から入射面へ向けて設けられた凹部を有するように
してもよい。凹部では基板の厚さが薄いので、基板自体
により光の吸収が小さくなる。また、本発明に係わる太
陽電池では、基板は、複数の化合物半導体層に到達する
ように出射面から入射面へ向けて設けられた凹部を有す
るようにしてもよい。凹部では、基板自体による光の吸
収がなくなる。
【0011】本発明に係わる太陽電池は、基板と複数の
化合物半導体層との間に設けられたエッチングストップ
層を更に備えるようにしてもよい。エッチングストップ
層によれば、所定のエッチング手法において基板に対し
てエッチング選択比を取ることができる。
【0012】本発明に係わる太陽電池では、複数の化合
物半導体層は、GaAs半導体を含むエミッタ層および
ベース層を有するようにしてもよい。また、本発明に係
わる太陽電池では、複数の化合物半導体層は、GaIn
P/GaAsタンデム型構造を構成するように設けられ
ているようにしてもよい。
【0013】本発明の別の側面は太陽電池装置に係わ
る。太陽電池装置は、第1の太陽電池と、第2の太陽電
池と、積層手段とを備える。第1の太陽電池には、既に
説明された又はこれから説明される太陽電池を適用でき
る。第2の太陽電池は、第1の太陽電池とは異なる波長
領域に主要な感度を有する。積層手段は、第1の太陽電
池と第2の太陽電池とを所定の軸に沿って積層するよう
に働く。積層手段としては、第1の太陽電池を第2の太
陽電池から離間するように支持する部材があるが、これ
に限定されるものではない。積層手段は、さらに、第2
の太陽電池の入射面が第1の太陽電池の出射面と対面す
るように第1および第2の太陽電池を支持するようにし
てもよく、また、第1の太陽電池の第4の領域が第2の
太陽電池の受光領域に位置合わせされるように第1およ
び第2の太陽電池を支持するようにしてもよい。
【0014】第2の太陽電池は、InP基板と、該In
P基板上にGaInAs半導体を含む複数の化合物半導
体層とを有するようにしてもよい。また、第2の太陽電
池は、InP基板と、該InP基板上にGaInAsP
半導体を含む複数の化合物半導体層とを有するようにし
てもよい。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明による化合物半導体
太陽電池の好適な実施形態について説明する。なお、以
下の説明においては、同一の要素には同一の符号を用い
ることとし、重複する説明は省略する。また、図面にお
いては、GaAs基板上に成長される各エピタキシャル
層の層厚の比率など、寸法比率は説明のものとは必ずし
も一致していない。また、以下の説明においては、説明
の便宜上、メカニカルスタック型タンデムセルを単に積
層型太陽電池装置と称す。
【0016】(第1の実施形態)図1(a)は、第1の実施
形態による化合物半導体太陽電池の上面平面図である。
図1(b)は、図1(a)のI−I線に沿った断面図であ
る。図1(c)は、第1の実施形態による化合物半導体太
陽電池の裏面平面図である。
【0017】図1(b)に示すとおり、第1の実施形態の
化合物半導体太陽電池1は、n型GaAs基板2と、基
板2の第1の面2a上に形成されて積層半導体部とを備
える。積層半導体部は、n型GaAsバッファ層3と、
n型GaInP裏面電界層(Back Surface Field:BS
F層)4と、n型GaAsベース層5と、p型GaAs
エミッタ層6と、p型GaInP窓層7と、p型GaA
sコンタクト膜80とを有する。表1は、基板2、各層
3〜7、及びコンタクト膜80の伝導型、キャリア濃
度、及び厚さを例示的に示す。
【0018】
【表1】
【0019】化合物半導体太陽電池1に対して、太陽光
Rは、GaAs基板2の主面2a上に設けられた積層半
導体部側の面から入射される。この太陽光Rが入射され
る面には、図1(a)に示すとおり、八角形といった所定
の形状の受光領域15が設けられている。受光領域15
の八角形の8つの辺のうち1辺おきに配置される4つの
辺は、他の4つの辺に比べ長い。この長い4つの辺(長
辺)のうち向かい合う2つの辺どうしは互いに略平行で
あり、その間隔(L9) は受光領域15の大きさを規定し
ており、例えば50mmである。また、受光領域15に
照射される光が有効光として太陽電池による光電変換に
寄与する。
【0020】受光領域15の内部において、表面電極9
が設けられている。表面電極9は、図1(a)に示す通
り、八角形といった所定の形状を有する。表面電極9は
金属配線9aを有する。例えば、金属配線9aはグリッ
ド状に張り巡らされている。さらに、表面電極9はパッ
ド9bを有している。このパッド9bを介して太陽電池
1は外部回路と接続される。表面電極9の形状は、窓層
7へより多くの光量の光が照射されるとともに、光の照
射により発生されるフォトキャリアが効率よく捕集でき
るように設けられている。図1(a)に表された表面電極
9の形状は、好適な例である。
【0021】n型GaAs基板2の裏面2bには、裏面
電極10が設けられている。裏面電極10は、図1(c)
に示す通り、図1(a)に示した受光領域15と相似形な
窓領域10cを囲むよう設けられている。この窓領域1
0cの対向する2つ辺の距離L10は、52mmとなって
いる。表面電極9における2つの辺の距離L9(50m
m)よりも2mm長く、このため、表面電極9と裏面電
極10との位置合せに数マイクロメートル程度の高度な
精度は要求されず、電極形成が容易になされる。なお、
表面電極9は金(Au)/亜鉛(Zn)/Auといった多層
金属膜とAu膜とからなり、裏面電極10はAu/ゲル
マニウム(Ge)/ニッケル(Ni)といった多層金属膜と
Au膜とからなる。これらの金属膜を用い、また、所定
の熱処理を行うことにより、表面電極9と裏面電極10
とはオーミック電極となる。
【0022】また、窓層7上のコンタクト膜80及び表
面電極9が設けられていない間の領域には反射防止膜1
1が設けられ、基板2の裏面2b上の窓領域10cには
反射防止膜12が設けられている。反射防止膜11,1
2はいずれも、硫化亜鉛(ZnS)層と弗化マグネシウム
(MgF2)層との積層構造からなる。反射防止膜11
は、太陽光のスペクトル成分350nmから1000n
mまでの光が効率よく窓層7へと到達できるように設け
られている。また、反射防止膜12は、化合物半導体太
陽電池1を透過する900nmから1700nmまでの
スペクトル範囲の光が効率良くGaAs基板2から放出
されるよう設けられている。
【0023】次に、化合物半導体太陽電池1、及びこの
化合物半導体太陽電池1を用いた積層型太陽電池装置の
動作について説明する。先ず、表面電極9が形成されて
いる面側から太陽光Rが受光領域15に照射される。照
射された太陽光R(有効光)のうち反射防止膜11に照射
された光は、反射防止膜11と窓層7とを透過し、エミ
ッタ層6、さらにベース層5へと到達する。エミッタ層
6及びベース層5へと到達した太陽光のうち、GaAs
の光吸収端よりも波長の短いスペクトル範囲の光はエミ
ッタ層6とベース層5とに吸収され、電子・正孔対が生
成される。生成された電子・正孔対は、ベース層5(p
型)とエミッタ層6(n型)との界面に形成される内部電
界によって分離される。すなわち、この電界により、電
子はベース層5へとドリフトしていき、正孔はエミッタ
層6へとドリフトして行く。この後、電子はベース層5
からBSF層4、バッファ層3、及びGaAs基板2を
経て裏面電極10へと至る。一方、正孔はエミッタ層6
から窓層7を経て表面電極9へと至る。表面電極9と裏
面電極10とに外部回路が接続されていれば、互いに逆
の方向へとドリフトした電子と正孔とにより生じる起電
力によって、外部回路に対して電力が供給される。すな
わち、化合物半導体太陽電池1は、太陽光から電力を発
生させるように機能する。
【0024】一方、ベース層5とエミッタ層6とに到達
した光のうち、GaAsの光吸収端の波長よりも長波長
の光は、これら2つの層6,5を透過し、BSF層4、
バッファ層3、さらにGaAs基板2へと至る。その
後、GaAs基板2へと到達した光は、GaAs基板2
の内部及び反射防止膜12を透過し、化合物半導体太陽
電池1の外部へと放射される。当該太陽電池1のGaA
s基板2の裏面2bと対面するように第2の太陽電池を
配置すれば、反射防止膜12を透過した光が第2の太陽
電池に到達する。化合物半導体太陽電池1を透過した光
に対して感度を有する第2の太陽電池を用いれば、この
透過光が第2の太陽電池により吸収され、この吸収によ
り発生した電子・正孔対により起電力が発生する。すな
わち、化合物半導体太陽電池1を第1の太陽電池(トッ
プセル)とし、例えば、GaInAs或いはGaInA
sPから成る太陽電池を第2の太陽電池として、積層型
太陽電池装置を構成すれば、太陽光が有するスペクトル
のほぼすべての波長領域の光を発電に利用可能となる。
その結果、積層型太陽電池装置としての変換効率の高い
太陽電池が得られる。
【0025】上述の通り、化合物半導体太陽電池1にお
いては、表面電極9は、受光領域15内に設けられ、そ
の内部にグリッド状の金属配線9aとパッド9bとを備
えて構成される。裏面電極10は、表面電極9の受光領
域15よりも大きな窓領域10cを取り囲むように形成
される。したがって、有効光のうち、GaAsの吸収端
波長よりも波長の長い領域光は、裏面電極10に遮られ
ることなくGaAs基板2の裏面2bを透過する。その
ため、化合物半導体太陽電池1と直列して設けられる第
2の太陽電池に対してより多くの光量の光を提供でき
る。しかも、化合物半導体太陽電池1においては、裏面
電極による光の遮蔽を防ぐために裏面電極を表面電極9
と同一形状に重ねて形成する必要がないので、裏面電極
10は容易に形成される。また、化合物半導体太陽電池
1においては、受光領域15の長辺の間隔は1cm〜1
0cm程度でよく、そのため、本実施の形態によれば、
大面積太陽電池が実現できる。
【0026】続いて、第1の実施形態による化合物半導
体太陽電池1の製造方法について説明する。
【0027】図2(a)〜(c)は、第1の実施形態による
化合物半導体太陽電池の製造方法の工程の断面を示す模
式図である。第1の実施形態の製造方法は、例えば、結
晶成長工程と、電極形成工程と、反射防止膜形成工程と
に分けられ、これらの工程が順次実施される。
【0028】(結晶成長工程)先ず、結晶成長工程におい
て、有機金属気相成長(Metal Organic Vapor PhaseEpit
axy:MOVPE)装置を用いて、n型GaAs基板2上
に、n型GaAsバッファ層3と、n型GaInP裏面
電界(Back Surface Field:BSF)層4と、n型GaA
sベース層5と、p型GaAsエミッタ層6と、p型G
aInP窓層7と、p型GaAsコンタクト層8とを順
次エピタキシャル成長する(図1(a))。上記の各半導体
層を成長するのに用いるn型GaAs基板2は、直径が
3インチであり、厚さは600μm程度である。
【0029】上記の各半導体層3〜8のエピタキシャル
成長は、安全性の向上を狙って、すべての原料を有機金
属原料とした全有機金属原料MOVPE法により行っ
た。原料として、トリエチルガリウム(Triethyl Galliu
m:TEGa)、トリメチルインジウム(Trimethyl Indiu
m:TMIn)、ターシャリーブチルアルシン(Tertiaryb
utylarsine:TBAs)、及びターシャリーブチルホス
フィン(Tertiarybutylphosphine:TBP)を用いた。ま
た、ドーパント不純物の原料としては、n型半導体に対
してはテトラエチルシラン(Tetraethylsilane:TeE
Si)が使用でき、p型半導体に対してはジエチル亜鉛
(Diethyl Zinc:DEZn)が使用できる。上記のガスを
適宜所定の流量で供給することにより、表1に示す通り
の厚さ及びキャリア濃度が実現される。各層3〜8の成
長温度は適宜設定されて良いが、結晶性を考慮すれば、
いずれの層についても550℃〜700℃が好ましい。
【0030】また、BSF層4を構成するInxGa1-x
Pの組成比xは、エピタキシャル成長時のTEGaとT
MInとの流量の比により制御される。具体的には、G
aAs基板2に対して格子整合するように選択され、好
ましくは0.49である。ここで、格子整合とは、格子
定数の差が概ね−0.1〜+0.1%の場合を意味す
る。
【0031】(電極形成工程)次に、電極形成工程につい
て説明する。先ず、結晶成長工程で得られた各層3〜8
を有するGaAs基板2のコンタクト層8の上にネガレ
ジストを塗布する。続いて、表面電極9のパターンを有
するフォトマスクを用いてレジスト膜に同パターンを転
写し、表面電極9のパターンと同一形状の開口部を有す
るレジストマスクを形成する。そして、真空蒸着により
金(Au)、亜鉛(Zn)、及びAuを順次堆積する。その
後、レジストマスクを剥離することにより、レジストマ
スク上に堆積された上記金属膜が除去される。これによ
り、表面電極9のパターンと同一形状の金属膜パターン
が形成される。
【0032】続いて、この金属膜パターンが形成された
GaAs基板2の面上にポジレジスト膜を塗布する。そ
して、通常のフォトリソグラフィにより、この金属膜パ
ターンが露出されるようにポジレジスト膜を除去する。
その後、非シアン系の電解金メッキ液を用いて5〜15
μmの厚さの金を堆積する。これにより、表面電極9が
形成される。
【0033】次に、裏面電極10の形成手順について説
明する。先ず、表面電極9が形成された面を所定の接着
剤を用いてガラス板に貼り付ける。そして、GaAs基
板2の裏面の全面を一様に研磨し、GaAs基板2の厚
さを300μm程度とする。これは、反射防止膜11、
窓層7、エミッタ層6、ベース層5、BSF層4、及び
バッファ層3を順次透過した光がGaAs基板2及び反
射防止膜12を透過して外部へと放出される際、GaA
s基板2での光吸収を低減するためである。
【0034】研磨終了後、研磨された面上にネガレジス
ト膜を塗布し、所定のフォトリソグラフィにより上述の
部分10cのパターンを有するレジストマスクが形成さ
れる。次に、レジストマスクが形成されたGaAs基板
2を真空蒸着装置に載置し、GaAs基板2の裏面にA
u、ゲルマニウム(Ge)、及びニッケル(Ni)といった
金属から成る金属膜が蒸着される。その後、レジストマ
スクを剥離することにより、レジストマスク上に蒸着さ
れた金属膜が除去される。これにより、部分10cの領
域(以下、窓領域)に研磨されたGaAs基板2が露出
し、この窓領域を取り囲む裏面電極10が形成される。
【0035】この後、窒素(N2)ガス雰囲気下で370
℃で3分間熱処理を行うことにより、表面電極9とコン
タクト層8との間にオーミック接触が実現され、裏面電
極10とGaAs基板2と間でオーミック接触が実現さ
れる。
【0036】(反射防止膜形成工程)続けて、反射防止膜
が形成される。先ず、表面電極9が形成された面上にネ
ガレジスト膜を塗布し、表面電極9のパターンと同一形
状であり表面電極9を保護するレジストマスクを形成す
る。また、同様に、裏面電極10が形成された面上にも
ネガレジスト膜を塗布し、裏面電極10のパターンと同
一形状であり裏面電極10を保護するレジストマスクを
形成する。この後、アンモニア(NH4)と過酸化水素水
(H22)との混合水溶液を用いた選択エッチングにより
表面電極9側の面に露出しているコンタクト層8をエッ
チングし、窓層7を露出させる。
【0037】そして、電子ビーム蒸着法により、レジス
トマスクが形成された両方の面にZnSとMgF2とを
順次蒸着する。蒸着終了後、表面電極9及び裏面電極1
0の上に残るレジストマスクを剥離することにより、表
面電極9及び裏面電極10の上に蒸着されたZnSとM
gF2とを取り除く。以上の手順により、反射防止膜1
1,12が形成される。以上で3つの工程が終了し、こ
れにより、第1の実施形態の化合物半導体太陽電池が得
られる。
【0038】(第2の実施形態)次に、本発明に係る化合
物半導体太陽電池の第2の実施形態について説明する。
第2の実施形態においては、下記の点を除いて、第1の
実施形態の化合物半導体太陽電池1と同様の構成を有し
ている。(1)窓領域10cにおけるGaAs基板2の厚
さが薄い、(2)バッファ層3のキャリア濃度が5×10
18cm-3と高い、(3)バッファ層3の膜厚が5μm程度
と第1の実施形態の場合に比べ厚い。以下では、相違点
を主要に説明する。
【0039】図3は、第2の実施形態による太陽電池の
断面図である。同図に示す通り、化合物半導体太陽電池
20では、窓領域2cとその外周に設けられた周囲領域
2dとを有する。GaAs基板2の窓領域2cの厚さ
は、周囲領域2dよりも小さい。窓領域2cにおけるG
aAs基板2の具体的な厚さは100〜300μmであ
るが、機械的強度を考慮して適宜決定されて良い。窓領
域10cの厚さを薄くすれば、エミッタ層6及びベース
層5を透過する光のうちGaAs基板2に吸収されてし
まう光の量が低減され得る。そのため、化合物半導体太
陽電池20を積層型太陽電池装置の第1の太陽電池とし
て用いれば、第2の太陽電池に対して照射される光量の
低減がより防止され得る。その結果、第2の太陽電池に
おける発電量を増加できる。
【0040】また、このような構成は以下のように作製
される。すなわち、先ず、第1の実施形態の化合物半導
体太陽電池1を製造する手順に従って裏面電極10まで
形成する。ただし、n型GaAsバッファ層3の成長時
にはTeESiの供給量を所定の流量に増加させるとと
もに、成長時間を長くすることにより、同バッファ層3
のキャリア濃度を5×1018cm-3程度とし、膜厚を5
μm程度とする。これにより、窓領域におけるGaAs
基板2が後述のように減厚されても、直列抵抗Rsが低
下するのを防ぐことができる。
【0041】その後、表面電極9と裏面電極10とを保
護するようレジスト膜で被覆し、GaAs基板2の裏面
の窓領域を硫酸系エッチング液でエッチングする。この
とき、エッチング量は予備実験等を行って予め求めてお
いたエッチング速度に基づいて決定されて良い。これに
より、窓領域におけるGaAs基板2が減厚される。そ
の後、窓領域に反射防止膜12を電子ビーム蒸着法によ
り堆積し、レジスト膜を剥離することにより、化合物半
導体太陽電池20が得られる。
【0042】(第3の実施形態)次に、本発明に係る化合
物半導体太陽電池の第3の実施形態について説明する。
第3の実施形態においては、窓領域におけるGaAs基
板2が除去されており、この除去のためにエッチングス
トップ層としてのGaInP層がn型GaAsバッファ
層3とGaAs基板2との間に設けられている。これら
の相違点以外は、製造方法を含め、第2の実施形態の化
合物半導体太陽電池20と略同様である。以下では、相
違点を主要に説明する。
【0043】図4は、第3の実施形態による化合物半導
体太陽電池の断面図である。同図に示す通り、化合物半
導体太陽電池30は、窓領域10cにおいてGaAs基
板2が除去されている。また、この除去の後露出したG
aInP層13上に反射防止膜12が設けられている。
このようにすれば、エミッタ層6及びベース層5を透過
する光は、GaAs基板2に吸収されることはない。し
かも、GaInP層13は層5,6を透過する透過光を
実質的に吸収しないので、この透過光はGaInP層1
3も透過できる。そのため、化合物半導体太陽電池30
を積層型太陽電池装置の第1の太陽電池として使用すれ
ば、第2の太陽電池へと照射される長波長光の低減が一
段と抑止され得る。
【0044】また、このような構成は、以下のようにし
て作製される。すなわち、結晶成長工程において、先
ず、GaAs基板2上にエッチングストップ層としての
GaInP層13が形成される。このときの成長条件
は、BSF層4の成長時の条件と同一でよい。また、G
aInP層13の膜厚は、0.1μm程度であってよ
い。続けて、GaInP層13の上に、第1の実施形態
における結晶成長工程と同様にして各半導体層3〜8が
順次成長される。その後、第2の実施形態による化合物
半導体太陽電池20の製造手順と同様にして、窓領域に
おけるGaAs基板2がエッチングされる。このとき使
用する硫酸系エッチング液は、いわゆるエッチング選択
性を有している。すなわち、GaInPに対するエッチ
ング速度は、GaAsに対するエッチング速度よりも十
分に小さい。そのため、窓領域においてGaAs基板2
がエッチングされてGaInP層13が露出した後に
は、エッチングの進行が非常に遅くなる。これにより、
エッチングが実質上停止される。このようにして、窓領
域におけるGaAs基板2が除去され、第3の実施形態
による化合物半導体太陽電池30が製造される。
【0045】以下に、実施例を用いて本発明の化合物半
導体太陽電池を更に詳しく説明する。
【0046】(実施例1)実施例1として、第1の実施形
態の化合物半導体太陽電池1の構成を有する太陽電池に
ついて説明する。実施例1の太陽電池は、GaAs化合
物半導体を用いて構成される(以下、GaAsセル)。す
なわち、GaAsセルは、キャリア濃度が2.5×10
17cm-3程度のn型GaAs基板2上に、MOVPE法
によって、n型GaAsバッファ層3、n型GaInP
−BSF層4、n型GaAsベース層5、p型GaAs
エミッタ層6、p型GaInP窓層7及びp型GaAs
コンタクト層8を順次1回のエピタキシャル成長によっ
て形成した。GaAsセルの表面の受光領域15の大き
さは略1cm×1cmから略10cm×10cmまでで
ある。図1(a)には受光領域15が略5cm×5cmの
場合を示してある。表面電極9の形状は図1(a)に示し
たように距離L9が5cmの八角形逆格子型のグリッド
電極形状であり、1本のグリッドの線幅は約20μmで
ある。また、基板裏面の電極形状は図1(c)に示す通り
である。光を透過するために、表面電極9のパターンよ
り2mm程度大きい最大幅が52mmの八角形の窓領域
を形成した。表裏の電極パターンのマージンが2mm程
度あるので、表裏の電極パターンの位置合せはこれまで
のミクロン単位での位置合せに比べて格段に容易であ
り、かつ透過光量も殆ど電極により遮断されることがな
く安定して所望の太陽光量を透過させることができた。
なお、第1の太陽電池の表面には350nmから100
0nmまでのスペクトルの太陽光の反射を防ぐために、
硫化亜鉛(ZnS)と弗化マグネシウム(MgF2)との多
層構造の反射防止膜11を電子ビーム蒸着法により形成
した。また、GaAs基板2は、この基板2での太陽光
の吸収を低減するために325μmまで研磨により薄く
し、基板2の裏面に図1(c)に示すn型のオーミック電
極を形成後、窓領域に第2の太陽電池の光吸収帯である
900nmから1700nmまでの範囲の光反射を低減
するためにZnS/MgF2からなる2層構造の反射防
止膜12を電子ビーム蒸着法により形成した。
【0047】実施例1のGaAsセルの特性評価結果を
表2に示す。比較のために、基板側の電極抵抗が最も小
さくなる構造として600μmの厚さのGaAs基板上
に形成した同一構造のGaAs太陽電池でかつ基板裏面
全面にn型オーミック電極を形成した太陽電池の特性も
示した。なお、太陽電池特性の評価はAM1.5、10
0mW/cm2の条件にて行った。実施例1のGaAs
セルと、厚膜基板でかつ基板裏面に全面オーミック電極
を形成したGaAs太陽電池とについて、素子抵抗(R
s)及び変換効率を比較した。その結果、表2に示す通
り、開放端電圧V O、短絡電流密度Jsc、フィルファク
タFF、変換効率η、及び直列抵抗Rsといった特性
は、いずれの太陽電池に対しても略同一の値であること
が分かった。本実施例のように、裏面電極10がグリッ
ド状でなく、窓領域10cの周囲に設けられた場合で
も、特性の悪化は認められない。
【0048】
【表2】
【0049】次に、本発明者らは、第1の太陽電池の構
造と積層型太陽電池装置との変換効率の関係を調べるた
めに、第1の太陽電池のGaAs基板厚さ及びキャリア
濃度と積層型太陽電池装置(メカニカルスタック型積層
太陽電池)の変換効率の関係について検討を行った。そ
の結果を以下に説明する。
【0050】太陽電池に太陽光(AM1.5、100m
W/cm2)を照射して、光エネルギーを電気エネルギー
に変換するためには、太陽電池内で発生したフォトキャ
リアをできるだけ多く電極まで到達させることが求めら
れる。電極まで到達するフォトキャリアが減少すればそ
れだけ太陽電池の電流及び電圧が減少するので、変換効
率が低下することになる。フォトキャリアが減少するメ
カニズムは半導体結晶内或いは結晶界面に存在する非発
光センターでのフォトキャリアの非発光再結合とフォト
キャリアが電極まで走行する間の素子抵抗との2つの原
因が考えられる。前者は、半導体結晶の結晶性に起因し
ている。後者の原因としては、第1の太陽電池の基板裏
面構造に窓領域を設けることによる素子の直列抵抗の増
大が考えられる。以下に直列抵抗に関する検討結果につ
いて説明する。
【0051】図5は、受光領域15が略5cm×5cm
のGaAsセルの直列抵抗Rsと変換効率の関係をプロ
ットしたグラフである。直列抵抗Rsが0.1Ωでは2
5%程度の変換効率が得られているが、Rsが0.15
Ωでは変換効率は20%、Rsが0.32Ωでは14.
6%まで変換効率が低下することが分かる。
【0052】実施例1の受光領域15が略5cm×5c
mのGaAsセルにおいて、直列抵抗Rsを0.15Ω
以下とするための、基板の厚さとキャリア濃度の関係と
を計算機シュミレーションにより求めた。すなわち、基
板の厚さと基板のキャリア濃度とをどのような値とすれ
ば、Rs=0.15Ωが実現するかを求め、その際の第
2の太陽電池としてのGaInAsセルの変換効率をシ
ミュレーションにより求めた。その結果を表3に示す。
【0053】
【表3】
【0054】GaAsセルの基板厚及びキャリア濃度を
変化させると、GaAsセルのRsが変化するだけでな
く、太陽光のGaAsセル基板による光吸収量及び光透
過量が変化する。故に、この変化にしたがって第2の太
陽電池の変換効率も変化することになる。表3は、Ga
AsセルとGaInAs第2の太陽電池とを積層してG
aAs/GaInAs積層型太陽電池装置を作製した場
合の総合変換効率の数値実験を示している。なお、総合
変換効率の計算に際して、GaAsセルの変換効率とし
ては、Rs=0.15Ωのときの変換効率である20%
を用いた。計算結果から、Rs=0.15Ωを満たす基
板厚とキャリア濃度との様々な組み合わせに対して、2
5.1%以上の総合変換効率が得られることが分かる。
【0055】図6は、GaAsセルが形成されたGaA
s基板のキャリア濃度及び同基板の厚さの関係と、それ
に対応するGaAs/GaInAs積層型太陽電池装置
の総合変換効率とを示す図である。同図において、曲線
A上の各点は、表3に示す結果をプロットしたものであ
る。GaAs基板のキャリア濃度と厚さとを、これらの
点を繋ぐ曲線A上の点で表される値となるよう選択すれ
ば、表3から分かるように、25.1%以上の総合変換
効率が得られることになる。さらに、この曲線Aよりも
上の点、例えばキャリア濃度を5×1017cm-3とし、
厚さを100μmを示す点を選択すれば、厚さの増加に
よりGaAsセルの直列抵抗Rsは低下するため、図5
の結果から分かるように、GaAsセルの変換効率は増
加する。したがって、図6における曲線Aよりも上の領
域では、積層型太陽電池装置の総合変換効率は、さらに
増加され得る。
【0056】一方、第1の太陽電池のGaAs基板の厚
さを厚くしていくと、第1の太陽電池を透過する光量が
減少するので、第2の太陽電池の変換効率は減少してし
まう虞がある。すなわち、キャリア濃度一定の下でGa
As基板の厚さを増加させていくと、GaAs/GaI
nAs積層型太陽電池装置の総合変換効率は、始めは増
加していくものの所定の厚さで極大となり減少に転じる
可能性がある。本発明者らは、総合変換効率が減少し始
めて25%となる条件について検討を行った。その結
果、図6に示す曲線Bで表される条件のときに総合変換
効率が25%となることが分かった。また、図6中の斜
線部Pで示される範囲におけるキャリア濃度と膜厚とを
選択すれば、総合変換効率25%以上が得られることが
分かった。さらに、閉曲線Qで示される範囲のキャリア
濃度と膜厚とを選択すれば、29%以上といったより高
い総合変換効率が得られることが分かった。なお、閉曲
線Q内の点Q1〜Q4は、実際に作製したGaAs/Ga
InAs積層型太陽電池装置におけるGaAsセルのキ
ャリア濃度と膜厚とを示す点である。これらの点Q1
4で示されるキャリア濃度と膜厚とをそれぞれ有する
GaAs基板2を用いてGaAsセルを作製し、さらに
GaAs/GaInAs積層型太陽電池装置を作製した
ところ、その総合変換効率はいずれも29%を超えた値
となった。
【0057】以上の検討の結果、受光領域15の大きさ
が5cm角のGaAs/GaInAs積層型太陽電池装
置において、第1の太陽電池のGaAs基板厚さとキャ
リア濃度とを図6に斜線部Pで示した範囲とすれば、2
5%以上といった高い変換効率が得られることが分かっ
た。
【0058】続いて、実際に積層型太陽電池装置を作製
した結果について説明する。この積層型太陽電池装置に
おいては、第1の太陽電池(以下、トップセル)として実
施例1の化合物半導体太陽電池1を用いた。また、第2
の太陽電池(以下、ボトムセル)としては、以下の構成の
太陽電池を用いた。
【0059】図7は、積層型太陽電池装置の作製に用い
たGaInAsPボトムセルの断面図である。同図にお
いて、ボトムセル40は、p+型InP基板22と、基
板22の主面22a上に設けられた積層半導体部とを備
える。積層半導体部は、p+型InP−BSF層24
と、p型GaInAsPベース層25と、n+型GaI
nAsPエミッタ層26と、n型InP窓層27とを有
する。また、窓層27の上にはn+型GaInAsコン
タクト膜28が設けられ、コンタクト膜28の上には、
Au、Ge、及びNiといった金属から成る電極29が
設けられている。この電極29のパターンは図1(a)に
示す表面電極9の平面パターンと同一形状を有してい
る。また、窓層27上のコンタクト膜28と電極29と
が設けられていない部分には、反射防止膜211が形成
されている。p+型InP基板22の裏面22bには、
Au及びZnといった金属から成る電極210が設けら
れている。この電極210は、ボトムセル40の下方に
は他の太陽電池が配置されないため、p+型InP基板
22の裏面の全面に設けられて良い。また、ベース層2
5とエミッタ層26とを構成するGaInAsPの組成
は、InP基板22と格子整合するよう調整されてい
る。格子整合とは、上述のように格子定数の差が概ね−
0.1〜+0.1%の場合を意味する。
【0060】上述の通りの構成を有するGaInAsP
ボトムセル40を上記実施の形態の化合物半導体太陽電
池1と組み合わせて積層型太陽電池装置を作製した。
【0061】図8は、積層型太陽電池装置の一構成例を
示す模式図である。図示の通り、積層型太陽電池装置4
1は、GaInAsPボトムセル40と、化合物半導体
太陽電池1とを有する。GaInAsPボトムセル40
は、図7の半導体層24〜27と反射防止膜211とが
外周部において除去されており、GaAs基板22の主
面22a上に基板露出部22cが設けられている。この
基板露出部22c上には、積層用部材42が、その下端
部42aが当該露出部22cと接するよう固定されてい
る。積層用部材42の上端部42bには、この上部42
bと化合物半導体太陽電池1の裏面電極10とが接する
ように化合物半導体太陽電池1が固定されている。ま
た、化合物半導体太陽電池1とGaInAsPボトムセ
ル40とは、図示しない電線により接続されている。ま
た、この電線の接続を変更することにより、化合物半導
体太陽電池1とGaInAsPボトムセル40との特性
が個別に測定され得る。
【0062】積層型太陽電池装置41においては、図8
に示す通り、化合物半導体太陽電池1は、受光領域15
以外の部分の窓層7、エミッタ層6、ベース層5、BS
F層4、及びバッファ層3は除去されている。光電変換
に寄与するのは、受光領域15に入射する有効光のみで
あるので、この除去が変換効率等の特性に与える影響は
ない。また、化合物半導体太陽電池1とボトムセル40
とは、化合物半導体太陽電池1を透過した光がボトムセ
ル40の表面電極に遮られないように、互いの表面電極
が重なり合うよう配置されている。
【0063】表4は、実施の形態1の化合物半導体太陽
電池1と上記ボトムセル40と単体での電流−電圧特性
の結果と、これらを積層した後の電流−電圧特性の結果
とを示す。この測定は実施の形態1と同様に行った。
【0064】
【表4】
【0065】表4より、化合物半導体太陽電池1におい
ては、25.0%(AM1.5、100mW/cm2)と
極めて高い変換効率が得られることが分かった。また、
ボトムセル40は、単体としての変換効率が19.3%
であり、化合物半導体太陽電池1と積層した場合でも
6.1%という高い変換効率を示した。この6.1%と
いう変換効率は、第1の太陽電池である化合物半導体太
陽電池1に入射した光(AM1.5、100mW/c
2)に対して計算した値である。そのため、単体で測定
した場合に比べて、化合物半導体太陽電池1による吸収
の分だけ実際にボトムセル40に照射される光量は少な
い。本発明者らの知見によれば、InP/GaInAs
系のボトムセルを用いた場合には、化合物半導体太陽電
池1と積層した後の変換効率は約5%である。これに比
べ、ボトムセル40を用いた場合は、変換効率は約1%
高いという結果が得られた。
【0066】上述の通り、実施の形態1に示されるよう
に設けられた裏面電極10を備える化合物半導体太陽電
池1においては、当該太陽電池1を透過する光を遮蔽す
ることがなく、その結果、第2の太陽電池に対して十分
な光量の光を提供できる。また、裏面電極10は、窓領
域を取り囲むように設けられているにもかかわらず、直
列抵抗Rsの増加は抑えられ、Rs増加に起因する変換
効率の低下はひく抑えることができることが示された。
特に、基板のキャリア濃度を1×1018cm-3以下で且
つ基板の厚さを100μm以上として化合物半導体太陽
電池1を作製し、第2の太陽電池としてGaAs/Ga
InAs系太陽電池を用いて、両太陽電池を積層すれば
変換効率25%以上という超高効率太陽電池装置が提供
される。以上のことから、実施例1の化合物半導体太陽
電池1が奏する優れた効果が理解される。
【0067】(実施例2)実施例2として、第2の実施形
態の化合物半導体太陽電池20の構成を有するGaAs
太陽電池について説明する。
【0068】実施例1においては、GaAs基板全体の
厚さを研磨により減厚するため、太陽電池の受光領域1
5が大きくなるほど、基板が薄くなるほど素子の機械的
強度が低下し、割れや欠け等が生じ取り扱いが困難とな
る虞があった。そのため、通常のプロセス加工や取り扱
いが容易な基板厚さとして300μm以上の基板厚さが
選択される。実施例2のGaAs太陽電池では、光が透
過する窓領域の基板厚さのみを薄くするので、この機械
的強度を低下させずに光透過量が増加される。結果とし
て高い変換効率を有するメカニカルスタック型積層太陽
電池を実現できる。
【0069】製造工程は、実施例1と同様に第1の太陽
電池においてn型GaAs基板2上にn型GaAsバッ
ファ層3(キャリア濃度5×1018cm-3、厚さ5μ
m)、n型GaInP−BSF層4、n型GaAsベー
ス層5、p型GaAsエミッタ層6、p型GaInP窓
層7及びp型GaAsコンタクト層8を順次1回のエピ
タキシャル成長によって形成した後、グリッド状の表面
電極9及び基板裏面に窓領域を設けた裏面電極10を形
成し、表面電極9を保護しながら、GaAs基板2裏面
の窓領域のみを硫酸系エッチング液(H2SO4:H
22:H2O=3:1:1高速エッチャント)を用いて1
00μm程度までエッチングにより薄くした。このと
き、基板裏面に電極を形成する前に研磨により350μ
m程度まで薄くしておいても良い。
【0070】(実施例3)実施例3として、第3の実施形
態の化合物半導体太陽電池30の構成を有する太陽電池
について説明する。n型GaAs基板上に先ずエッチン
グストップ層としてn型GaInP層13を0.1μ
m、次に高濃度にn型不純物(Si)を添加した厚さ5μ
m以上のn型GaAsバッファ層3(キャリア濃度5×
1018cm- 3、厚さ5μm)、n型GaInP−BSF
層4、n型GaAsベース層5、p型GaAsエミッタ
層6、p型GaInP窓層7及びp型GaAsコンタク
ト層8を順次1回のエピタキシャル成長によって形成し
た後、グリッド状の表面電極9及び基板裏面に窓領域を
設けた裏面電極10を形成し、表面電極9を保護しなが
ら、硫酸系エッチング液(H2SO4:H22:H2O=
3:1:1高速エッチャント)を用いてGaAs基板裏
面の窓領域のみをすべてエッチングにより除去する。エ
ッチングの際、GaAsとGaInPとのエッチング速
度の差を利用してエッチングはGaInP層13で自動
的にエッチングがストップする。このとき、基板裏面に
裏面電極10を形成する前に研磨により350μm程度
に薄くしておいても良い。窓領域の基板部分をすべて除
去したことによる素子抵抗の増加を抑制するために、n
型GaAsバッファ層3のキャリア濃度と厚さとを上記
したように高濃度かつ5μm以上の厚さにした。
【0071】以上、幾つかの実施形態と実施例とを用い
て本発明に係る化合物半導体太陽電池及び化合物半導体
太陽電池装置について説明したが、本発明は上記実施形
態に限られることなく、種々に変形可能である。
【0072】例えば、上記実施形態及び実施例において
は、n型GaAs基板上に形成されるGaAs太陽電池
について説明したが、他の基板を用いた他の材料系の太
陽電池であってもよい。
【0073】また、第1の太陽電池はGaAs太陽電池
に代えて、AlGaAs/GaAs系の太陽電池であっ
てもよい。また、第1の太陽電池は、トンネル接合を介
して第1の太陽電池と第2の太陽電池とが積層されるモ
ノリシック型タンデムセルであってもよい。特に、モノ
リシック型タンデムセルとしては、図9及び表5に示す
ように、GaAs基板上に形成されるGaInP/Ga
Asタンデムセルが好ましい。このモノリシック型タン
デムセル50では、図9中の層54〜58からGaAs
セルが構成され、層61〜66からGaInPセルが構
成される。そして、これら2つのセルがトンネル接合
(層59,60)を介して積層される。また、このモノリ
シック型タンデムセル50は、上述の化合物半導体太陽
電池1と同様な電極と反射防止膜とを有している。この
ようなタンデムセル50から第1の太陽電池を構成し、
例えばGaInAsP太陽電池から第2の太陽電池を構
成すれば、いわゆる3接合積層型太陽電池装置が構成さ
れる。この構成によれば、第1の太陽電池の表面側から
入射する太陽光のスペクトルのうち、350nmから6
80nmまでの範囲の光がGaInPセルに吸収され
る。そして、GaInPセルを透過する680nm以上
の波長の光のうち、680nmから900nmまでの範
囲の光がGaAsセルに吸収される。さらに、GaAs
セル、GaAs基板53、及び反射防止膜52を透過し
てGaInAsPセルに至る900nm以上の波長の光
がGaInAsPセルに吸収される。すなわち、吸収端
波長が異なる半導体材料から各々成る3つのセル又は太
陽電池によって太陽光が効率良く吸収されるため、変換
効率の更に高い積層型太陽電池装置が実現される。
【0074】
【表5】
【0075】また、積層型太陽電池装置の第2の太陽電
池としては、GaInAs系太陽電池及びGaInAs
P系太陽電池のほか、GaSb、Si、Ge、CuIn
Sn、GaInNAs、GaInPN、GaInAsP
N、BGaInAs、或いはBGaInAsPといった
半導体材料を主要部として構成される太陽電池であって
よい。
【0076】第2又は第3の実施形態において、窓領域
のGaAs基板2をエッチングにより減厚又は除去する
に先立って、GaAs基板2の裏面を研磨により厚さが
350μm程度となるよう減厚しておいてもよい。この
ようにすれば、エッチング時間を短縮できる。
【0077】また、上記の実施形態及び実施例において
は、表面電極9は八角形状に形成されていたが、これに
限ることなく、正方形及び長方形といった多角形や、円
形であっても構わない。
【0078】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る太陽
電池においては、受光領域から太陽電池の内部へと入射
する光のうち、当該太陽電池を構成する半導体の吸収端
波長よりも波長の長い光が裏面電極に遮蔽されることな
く当該太陽電池及び基板を透過し得る。よって、この透
過光に対して感度を有する太陽電池を第2の太陽電池と
して用い、当該太陽電池の裏面と対面するよう配置すれ
ば、この第2の太陽電池に十分な光量の光を提供でき
る。また、このように構成された太陽電池装置は、高い
変換効率を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)は、第1の実施形態による化合物半導
体太陽電池の上面平面図である。図1(b)は、図1(a)
のI−I線に沿った断面図である。図1(c)は、第1の
実施形態による化合物半導体太陽電池の裏面平面図であ
る。
【図2】図2(a)〜(c)は、第1の実施形態による化合
物半導体太陽電池の製造方法の工程の断面を示す模式図
である。
【図3】図3は、第2の実施形態による太陽電池の断面
図である。
【図4】図4は、第3の実施形態による太陽電池の断面
図である。
【図5】図5は、受光領域15略5cm×5cmのGa
Asセルの直列抵抗Rsと変換効率との関係を示すグラ
フである。
【図6】図6は、受光領域15略5cm×5cmのGa
AsセルにおけるGaAs基板のキャリア濃度と厚さと
の関係と、GaAsセルの変換効率との関係を示すグラ
フである。
【図7】図7は、積層型太陽電池装置の作製に用いたG
aInAsPボトムセルの断面図である。
【図8】図8は、積層型太陽電池装置の一構成例を示す
模式図である。
【図9】図9は、GaInP/GaAsモノリシック型
タンデムセルの構成の一例を示す断面図である。
【図10】図10は、従来のメカニカルスタック型タン
デムセルの構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
1…化合物半導体太陽電池、2…基板、3…バッファ
層、5…ベース層、6…エミッタ層、7…窓層、8…コ
ンタクト層、9a…金属配線、9b…パッド、9…表面
電極、10c…窓領域、10…裏面電極、11…反射防
止膜、12…反射防止膜、15…受光領域、20…化合
物半導体太陽電池、22…基板、11,12…反射防止
膜、24…BSF層、25…ベース層、26…エミッタ
層、27…窓層、28…コンタクト膜、30…化合物半
導体太陽電池、40…ボトムセル、80…コンタクト
膜。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山林 直之 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内 Fターム(参考) 5F051 AA08 CB08 CB21 DA03 DA15 FA12 HA03

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の軸に沿って入射する光を受ける入
    射面と、 該入射光の一部が出射する出射面と、 前記入射面と出射面との間に配置された基板と、 前記入射面と出射面との間に配置され入射された光から
    電力を発生させるための複数の化合物半導体層と、 前記入射面に設けられた第1の電極と、 前記出射面に設けられた第2の電極とを備え、 前記複数の化合物半導体層は前記基板の主面上に配置さ
    れ、 前記入射面は、その中に前記第1の電極が配置されてい
    る第1の領域と、該第1の領域と異なる第2の領域とを
    有し、 前記出射面は、その中に前記第2の電極が配置されてい
    る第3の領域と、該第3の領域と異なる第4の領域とを
    有し、 前記第1および第4の領域は、該光の通過経路と交差す
    る、太陽電池。
  2. 【請求項2】 前記第4の領域の面積は、前記第1の領
    域の面積よりの大きい、請求項1に記載の太陽電池。
  3. 【請求項3】 前記基板は、前記出射面から前記入射面
    へ向けて設けられた凹部を有する、請求項1または請求
    項2に記載の太陽電池。
  4. 【請求項4】 前記基板は、前記複数の化合物半導体層
    に到達するように前記出射面から前記入射面へ向けて設
    けられた凹部を有する、請求項1または請求項2に記載
    の太陽電池。
  5. 【請求項5】 前記基板と前記複数の化合物半導体層と
    の間に設けられたエッチングストップ層を更に備える、
    請求項4に記載の太陽電池。
  6. 【請求項6】 前記複数の化合物半導体層は、GaAs
    半導体を含むエミッタ層およびベース層を有する、請求
    項1〜5のいずれかに記載の太陽電池。
  7. 【請求項7】 前記複数の化合物半導体層は、GaIn
    P/GaAsタンデム型構造を構成するように設けられ
    ている、請求項1〜5のいずれかに記載の太陽電池。
  8. 【請求項8】 請求項1に記載された第1の太陽電池
    と、 前記第1の太陽電池とは異なる波長領域に主要な感度を
    有する第2の太陽電池と、 前記第1の太陽電池と前記第2の太陽電池とを所定の軸
    に沿って積層するための手段とを備える太陽電池装置。
  9. 【請求項9】 前記第2の太陽電池は、InP基板と、
    該InP基板上にGaInAs半導体を含む複数の化合
    物半導体層とを有する、請求項8に記載の太陽電池装
    置。
  10. 【請求項10】 前記第2の太陽電池は、InP基板
    と、該InP基板上にGaInAsP半導体を含む複数
    の化合物半導体層とを有する、請求項8に記載の太陽電
    池装置。
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