JP2002289750A - Multi-chip module and its radiation structure - Google Patents

Multi-chip module and its radiation structure

Info

Publication number
JP2002289750A
JP2002289750A JP2001088411A JP2001088411A JP2002289750A JP 2002289750 A JP2002289750 A JP 2002289750A JP 2001088411 A JP2001088411 A JP 2001088411A JP 2001088411 A JP2001088411 A JP 2001088411A JP 2002289750 A JP2002289750 A JP 2002289750A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat
heat sink
chip module
module according
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001088411A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazufumi Takahashi
和史 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2001088411A priority Critical patent/JP2002289750A/en
Publication of JP2002289750A publication Critical patent/JP2002289750A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multi-chip module and its radiation structure for preventing thermal interference between a plurality of LSI chips. SOLUTION: A first LSI chip 1, a second LSI chip 2, a dielectric substrate 3, the rear face 4 of the first LSI chip, the rear face 5 of the second LSI chip, a heat sink 6, fins 7, grooves 8, a heat insulator 9 and a lead frame 12 are provided. Thermal fluxes 10, 11 are generated by each part. The groove 8 is provided on the heat sink 6 in the multi-chip module, the heat insulator 9 of low thermal conductivity is fitted to the grooves 8 by comparing the heat sink 6, and the groove 8 of the heat sink 6 is sandwiched to arrange the first LSI chip 1 and the second LSI chip 2. Thus, the flux direction of the thermal fluxes 10, 11 by heat generation from the LSI chips 1, 2 is regulated to prevent mutual thermal interference of the LSI chips.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、マルチチップモジ
ュールおよびその放熱構造に関し、特に、性能維持、寿
命延長化のため温度上昇抑制を図ったマルチチップモジ
ュールおよびその放熱構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-chip module and a heat radiating structure thereof, and more particularly to a multi-chip module and a heat radiating structure thereof for suppressing temperature rise for maintaining performance and extending life.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、マルチチップモジュールおよびそ
の放熱構造は一般に、放熱を考慮した構造体に構成され
る。このマルチチップモジュールおよびその放熱構造に
おいて、LSIを正常に動作させるためには放熱が重要
であり、放熱手段としてはLSIにヒートシンクを接触
させ、外気等へ熱を放散させるという手法がよく用いら
れている。このため、一般的にヒートシンクには熱伝導
性の良い材料を使用する。
2. Description of the Related Art Conventionally, a multi-chip module and its heat dissipation structure are generally constructed in a structure taking heat dissipation into consideration. In this multi-chip module and its heat dissipation structure, heat dissipation is important for normal operation of the LSI. As a heat dissipation means, a method of contacting a heat sink with the LSI and dissipating the heat to the outside air is often used. I have. Therefore, a material having good heat conductivity is generally used for the heat sink.

【0003】本発明と技術分野の類似する先願発明例1
として、特開平10−41440号公報に開示の「モジ
ュール部品」がある。本先願発明例1では、複数の回路
素子を実装した基板を支える金属ベースに熱遮断溝を穿
設し、金属ベースに対する特定の回路素子の実装領域投
影部分を区画し、特定の回路素子に隣接する他の回路素
子の実装領域投影部分とこの実装領域投影部分とを結ぶ
熱伝導路を狭める構成としている。
[0003] Prior application invention example 1 similar to the present invention in the technical field
There is a "module component" disclosed in JP-A-10-41440. In Inventive Example 1 of the prior application, a heat insulating groove is formed in a metal base supporting a substrate on which a plurality of circuit elements are mounted, and a mounting area projected portion of a specific circuit element with respect to the metal base is partitioned. The configuration is such that the heat conduction path connecting the mounting area projected portion of another adjacent circuit element and the mounting area projected portion is narrowed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術において、複数のLSIが近接して搭載されたマ
ルチチップモジュールでは、外形寸法等の制約で、複数
のLSIを同一のヒートシンクに接触させざるを得なく
なる。この時、前述の通りヒートシンクは、熱伝導性に
優れているため、図11に示す通り、LSIの発熱によ
る熱流束10、11がヒートシンクを介して他方のLS
Iに伝わり動作温度を上昇させ、LSI動作条件を低下
させてしまう、という問題がある。
However, in the above-mentioned prior art, in a multi-chip module in which a plurality of LSIs are mounted close to each other, the plurality of LSIs must be brought into contact with the same heat sink due to restrictions on external dimensions and the like. No longer. At this time, as described above, since the heat sink has excellent thermal conductivity, as shown in FIG. 11, the heat fluxes 10, 11 due to the heat generated by the LSI are transferred to the other LS through the heat sink.
There is a problem that the operating temperature is increased and the operating condition of the LSI is reduced.

【0005】本発明は、複数のLSIチップ間の熱的干
渉の防止を図ったマルチチップモジュールおよびその放
熱構造を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a multi-chip module for preventing thermal interference between a plurality of LSI chips and a heat dissipation structure thereof.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、本発明のマルチチップモジュールは、溝が設けられ
たヒートシンクと、溝へはめ込まれた断熱材と、溝を挟
んで配置され、それぞれの裏面がヒートシンクへ接触さ
れた複数のLSIチップとを有することを特徴としてい
る。
In order to achieve the above object, a multi-chip module according to the present invention is provided with a heat sink provided with a groove, a heat insulating material fitted in the groove, and a groove interposed therebetween. It is characterized by having a plurality of LSI chips whose back surface is in contact with a heat sink.

【0007】また、断熱材の材料は、ヒートシンクの材
料より熱伝導率が低いことを特徴とする。
[0007] The material of the heat insulating material is characterized by having a lower thermal conductivity than the material of the heat sink.

【0008】なお、ヒートシンクの材料にはより熱伝導
率の高いアルミニウム、銅、銅タングステン、モリブデ
ンの何れかを用いてもよく、断熱材の材料にはヒートシ
ンクの材質より熱伝導率の低い鉄58%−ニッケル42
%合金、鉄67%−クロム18%−ニッケル10%合金
の何れかを用いてもよい。また、ヒートシンクの材料
は、より熱伝導率の高い材料であれば上記以外の材料、
例えば非金属でもよい。また、断熱材の材料は、より熱
伝導率の低い材料であれば上記以外の材料、例えば非金
属でもよい。
The heat sink may be made of any of aluminum, copper, copper tungsten, and molybdenum having higher thermal conductivity, and the heat insulating material may be iron 58 having lower thermal conductivity than the heat sink. %-Nickel 42
% Alloy, or 67% iron-18% chromium-10% nickel alloy. Also, the material of the heat sink is a material other than the above as long as the material has a higher thermal conductivity,
For example, it may be non-metallic. Further, the material of the heat insulating material may be a material other than the above, for example, a nonmetal as long as the material has a lower thermal conductivity.

【0009】断熱材は断面形状をくさび形に形成し、ヒ
ートシンクには放熱効率を高めるためのフィンがさらに
設けられているとよい。
The heat insulating material may be formed in a wedge-shaped cross section, and the heat sink may be further provided with fins for improving heat radiation efficiency.

【0010】さらに、上記溝は、ヒートシンク幅の一部
分に構成し、ヒートシンクの厚み方向へ貫通するとよ
い。または、ヒートシンクの全幅に渡り構成してもよ
い。
Further, it is preferable that the groove is formed in a part of the width of the heat sink and penetrates in a thickness direction of the heat sink. Alternatively, it may be formed over the entire width of the heat sink.

【0011】なお、複数のLSIチップは、所定の誘電
体基板上に搭載され、それぞれのジャンクション面を誘
電体基板に向けて電気的接続をとり、この電気的接続
は、フリップチップと称される接続工法による接続とす
るとよい。
A plurality of LSI chips are mounted on a predetermined dielectric substrate, and make electrical connections with their respective junction surfaces facing the dielectric substrate. This electrical connection is called a flip chip. It is recommended to use the connection method.

【0012】本発明によるマルチチップモジュールの放
熱構造は、溝が設けられたヒートシンクと、溝へはめ込
まれた断熱材と、溝を挟んで配置され、それぞれの裏面
がヒートシンクへ接触された複数のLSIチップとを有
することを特徴としている。
A heat dissipation structure of a multi-chip module according to the present invention comprises a heat sink provided with a groove, a heat insulating material fitted in the groove, and a plurality of LSIs arranged with the groove interposed therebetween, the back surfaces of which are in contact with the heat sink. And a chip.

【0013】また、断熱材の材料は、ヒートシンクの材
料より熱伝導率が低いことを特徴とする。
Further, the material of the heat insulating material is characterized by having a lower thermal conductivity than the material of the heat sink.

【0014】なお、ヒートシンクの材料にはより熱伝導
率の高いアルミニウム、銅、銅タングステン、モリブデ
ンの何れかを用いてもよく、断熱材の材料にはヒートシ
ンクの材質より熱伝導率の低い鉄58%−ニッケル42
%合金、鉄67%−クロム18%−ニッケル10%合金
の何れかを用いてもよい。また、ヒートシンクの材料
は、より熱伝導率の高い材料であれば上記以外の材料、
例えば非金属でもよい。また、断熱材の材料は、より熱
伝導率の低い材料であれば上記以外の材料、例えば非金
属でもよい。
The heat sink may be made of any of aluminum, copper, copper tungsten, and molybdenum having higher thermal conductivity, and the heat insulating material may be iron 58 having lower thermal conductivity than the heat sink. %-Nickel 42
% Alloy, or 67% iron-18% chromium-10% nickel alloy. Also, the material of the heat sink is a material other than the above as long as the material has a higher thermal conductivity,
For example, it may be non-metallic. The material of the heat insulating material may be a material other than the above, for example, a non-metal, as long as the material has a lower thermal conductivity.

【0015】断熱材は断面形状をくさび形に形成し、ヒ
ートシンクには放熱効率を高めるためのフィンがさらに
設けられているとよい。
The heat insulating material may be formed in a wedge-shaped cross section, and the heat sink may be further provided with fins for improving heat radiation efficiency.

【0016】さらに、上記溝は、ヒートシンク幅の一部
分に構成し、ヒートシンクの厚み方向へ貫通するとよ
い。または、ヒートシンクの全幅に渡り構成してもよ
い。
Further, it is preferable that the groove is formed in a part of the width of the heat sink and penetrates in a thickness direction of the heat sink. Alternatively, it may be formed over the entire width of the heat sink.

【0017】なお、複数のLSIチップは、所定の誘電
体基板上に搭載され、それぞれのジャンクション面を誘
電体基板に向けて電気的接続をとり、この電気的接続
は、フリップチップと称される接続工法による接続とす
るとよい。
The plurality of LSI chips are mounted on a predetermined dielectric substrate, and make electrical connections with their respective junction surfaces facing the dielectric substrate. This electrical connection is called a flip chip. It is recommended to use the connection method.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に、図面を参照して本発明によ
るマルチチップモジュールおよびその放熱構造の実施の
形態を詳細に説明する。図1から図10を参照すると、
本発明のマルチチップモジュールおよびその放熱構造の
一実施形態が示されている。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view of a multi-chip module according to the present invention; Referring to FIGS. 1 to 10,
One embodiment of the multi-chip module of the present invention and its heat dissipation structure is shown.

【0019】本発明の第1の実施例について図1を用い
て説明する。図1は、実施例1のマルチチップモジュー
ルの構成例を示す断面図である。本実施形態に適用され
るマルチチップモジュールおよびその放熱構造は、第1
のLSIチップ1と、第2のLSIチップ2と、誘電体
基板3と、第1のLSIチップの裏面4と、第2のLS
Iチップの裏面5と、ヒートシンク6と、フィン7と、
溝8と、断熱材9と、リードフレーム12と、を有す
る。そして、以上の各部により熱流束10、11が発生
する。
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration example of the multichip module according to the first embodiment. The multi-chip module and its heat dissipation structure applied to the present embodiment are the first
LSI chip 1, second LSI chip 2, dielectric substrate 3, back surface 4 of first LSI chip, and second LS
A back surface 5, a heat sink 6, a fin 7,
It has a groove 8, a heat insulating material 9, and a lead frame 12. Then, the heat fluxes 10 and 11 are generated by the above-described components.

【0020】上記構成のマルチチップモジュールおよび
その放熱構造において、第1のLSIチップ1と第2の
LSIチップ2とが、誘電体基板3上に搭載されてい
る。この第1のLSIチップ1と第2のLSIチップ2
とは、それぞれのジャンクション面を誘電体基板3に向
け、フリップチップと称される接続工法によって電気的
接続をとっている。
In the multi-chip module having the above-described structure and its heat dissipation structure, the first LSI chip 1 and the second LSI chip 2 are mounted on the dielectric substrate 3. The first LSI chip 1 and the second LSI chip 2
Is that the respective junction surfaces face the dielectric substrate 3 and electrical connection is established by a connection method called flip chip.

【0021】また、第1のLSIチップ1と第2のLS
Iチップ2のそれぞれの裏面4、5は、ヒートシンク6
と接触されている。ヒートシンク6には、放熱性を高め
るためのフィン7が複数付いている。さらに、ヒートシ
ンク6には、第1のLSIチップ1と第2のLSIチッ
プ2との間に溝8が設けられ、そこにヒートシンク6と
は異なる材料で形成された断熱材9がはめ込まれてい
る。
The first LSI chip 1 and the second LS
The back surfaces 4, 5 of the I chip 2
Is in contact with The heat sink 6 has a plurality of fins 7 for improving heat dissipation. Further, a groove 8 is provided in the heat sink 6 between the first LSI chip 1 and the second LSI chip 2, and a heat insulating material 9 formed of a material different from that of the heat sink 6 is fitted therein. .

【0022】図2は、図1を上から見た第1の平面図で
ある。なお、本発明の構成の把握を容易にするため、本
図2において、フィン7を図中から省略している。この
ように、断熱材9は、ヒートシンク6幅に対し部分的で
あってもよい。
FIG. 2 is a first plan view of FIG. 1 as viewed from above. Note that the fins 7 are omitted from FIG. 2 to facilitate understanding of the configuration of the present invention. Thus, the heat insulating material 9 may be partial with respect to the width of the heat sink 6.

【0023】(動作例)本発明の実施例1の動作につい
て、図1に示すマルチチップモジュール断面図を用いて
説明する。第1のLSIチップ1と第2のLSIチップ
2の、それぞれの発熱は、熱流束10、11としてヒー
トシンク6に伝わる。この伝熱動作において、第1のL
SIチップ1が発した熱流束10は、断熱材9により第
2のLSIチップ2側に伝わることなく、フィン7を経
て外気に放熱される。
(Operation Example) The operation of the first embodiment of the present invention will be described with reference to the cross-sectional view of the multi-chip module shown in FIG. The respective heat generated by the first LSI chip 1 and the second LSI chip 2 is transmitted to the heat sink 6 as heat fluxes 10 and 11. In this heat transfer operation, the first L
The heat flux 10 emitted from the SI chip 1 is radiated to the outside air via the fins 7 without being transmitted to the second LSI chip 2 by the heat insulating material 9.

【0024】ヒートシンク6に使用される材料は、アル
ミニウム(熱伝導率:238W/mK)、銅(熱伝導
率:394W/mK)等の熱伝導性の良い物質材を用い
る。一方、断熱材9に使用される材料としては、鉄58
%−ニッケル42%合金(熱伝導率:12.5W/m
K)等の熱伝導性に劣る物質材を用いる。鉄58%−ニ
ッケル42%合金は、同じ体積の銅に比べ、熱抵抗は3
1.5倍もの大きさになる。なお、この熱抵抗は、熱抵
抗=[1/熱伝導率]×[長さ/面積]、で得られる。
The material used for the heat sink 6 is a material having good thermal conductivity such as aluminum (thermal conductivity: 238 W / mK) and copper (thermal conductivity: 394 W / mK). On the other hand, the material used for the heat insulating material 9 is iron 58
% -Nickel 42% alloy (thermal conductivity: 12.5 W / m
A material having poor thermal conductivity such as K) is used. A 58% iron-42% nickel alloy has a thermal resistance of 3% compared to copper of the same volume.
1.5 times as large. In addition, this thermal resistance is obtained by thermal resistance = [1 / thermal conductivity] × [length / area].

【0025】さらに、断熱材9は、ヒートシンク6には
め込まれただけなので、表面の加工の凹凸により実際に
接触している面積が少なくなり、この部位で熱抵抗はさ
らに大きくなる。よってヒートシンク6内では、第1の
LSIチップ1側と第2のLSIチップ2側との間で熱
が伝わりにくくなる。
Furthermore, since the heat insulating material 9 is merely fitted into the heat sink 6, the area actually in contact with the surface is reduced due to irregularities in the surface processing, and the thermal resistance is further increased at this portion. Therefore, in the heat sink 6, heat is hardly transmitted between the first LSI chip 1 side and the second LSI chip 2 side.

【0026】(実施例1の効果)上記の実施例1によれ
ば、ヒートシンク6の第1のLSIチップ1と第2のL
SIチップ2との間にあたる部位に溝8を設け、断熱材
9をはめ込んだことにより、その部位の熱抵抗を大きく
することができる。この熱抵抗を大きくしたことによ
り、第1のLSIチップ1と第2のLSIチップ2との
間の熱の回り込みが生じ難くなる。
(Effects of the First Embodiment) According to the first embodiment, the first LSI chip 1 and the second L
By providing the groove 8 in a portion corresponding to the SI chip 2 and inserting the heat insulating material 9, the thermal resistance in that portion can be increased. By increasing the thermal resistance, it becomes difficult for heat to flow between the first LSI chip 1 and the second LSI chip 2.

【0027】第1のLSIチップ1と第2のLSIチッ
プ2との間の熱的隔離により、発熱を、ヒートシンク
6、フィン7等で構成される放熱構造部へ誘導すること
ができ、放熱効率を高めることができる。この熱的隔離
をもたらす構造により、一方のLSIの発熱により他方
のLSIの温度上昇を抑制することができ、隣接するL
SIチップの発熱による温度上昇により生じる、特性劣
化の問題を回避することができる。
The thermal isolation between the first LSI chip 1 and the second LSI chip 2 allows heat to be guided to the heat radiation structure composed of the heat sink 6, the fins 7, etc. Can be increased. With the structure that provides this thermal isolation, it is possible to suppress the temperature rise of the other LSI due to the heat generated by one of the LSIs.
It is possible to avoid the problem of characteristic deterioration caused by temperature rise due to heat generation of the SI chip.

【0028】(他の実施例)図3は、本発明の第2の実
施例であるマルチチップモジュールおよびその放熱構造
の断面図を示している。本実施例2では、実施例1と比
較して、図1および図3を対比して明らかなように、は
んだボール13が追加されている。図1では、誘電体基
板3にリードフレーム12が付いた構成としているが、
図3のように、はんだボール13が付いた構成であって
も良い。なお、このハンダボール13は、表面積を拡大
し、放熱特性を向上させる効果を生じさせる。
(Other Embodiment) FIG. 3 is a cross-sectional view of a multi-chip module according to a second embodiment of the present invention and a heat dissipation structure thereof. In the second embodiment, as compared with the first embodiment, a solder ball 13 is added as apparent from comparison between FIGS. 1 and 3. In FIG. 1, the lead frame 12 is attached to the dielectric substrate 3.
As shown in FIG. 3, a configuration with solder balls 13 may be used. The solder balls 13 have the effect of increasing the surface area and improving the heat radiation characteristics.

【0029】また図4は、本発明の第3の実施例の断面
図を示している。本図4の第3の実施例のように、ヒー
トシンク6にフィン7が付かないものであっても良い。
FIG. 4 is a sectional view of a third embodiment of the present invention. As in the third embodiment in FIG. 4, the fins 7 may not be attached to the heat sink 6.

【0030】図5は、本発明の第4の実施例を示す平面
図であり、図2に対比する図である。なお、本図5も図
2と同様に、本発明の構成の把握を容易にするため、図
中からフィン7を省略している。また本図5では、断熱
材9は、ヒートシンク6幅に対し全域に構成されてい
る。
FIG. 5 is a plan view showing a fourth embodiment of the present invention, and is a view comparing with FIG. In FIG. 5, as in FIG. 2, the fins 7 are omitted from the figure to facilitate understanding of the configuration of the present invention. In FIG. 5, the heat insulating material 9 is formed in the entire area with respect to the width of the heat sink 6.

【0031】図6は、本発明の第5の実施例を示す断面
図である。図1では、断熱材9はヒートシンク6の厚み
方向の途中までに挿入していたが、図6のように上まで
貫通していても良い。また、ヒートシンク6の材質は、
前述のアルミニウムや銅に限らず、銅タングステン(熱
伝導率:230W/mK)やモリブデン(熱伝導率:1
55W/mK)、その他熱伝導率の高い材料であれば上
記以外の材料、例えば非金属であっても良い。さらに、
断熱材9の材質も、前述の鉄58%−ニッケル42%合
金に限らず、鉄67%−クロム18%−ニッケル10%
合金(熱伝導率:16W/mK)、その他熱伝導率の低
い材料であれば上記以外の材料、例えば非金属であって
も良い。
FIG. 6 is a sectional view showing a fifth embodiment of the present invention. In FIG. 1, the heat insulating material 9 is inserted halfway in the thickness direction of the heat sink 6, but may be penetrated to the upper side as shown in FIG. The material of the heat sink 6 is
Not limited to the aforementioned aluminum and copper, copper tungsten (thermal conductivity: 230 W / mK) and molybdenum (thermal conductivity: 1)
55W / mK), and other materials having high thermal conductivity, other materials, such as non-metals, may be used. further,
The material of the heat insulating material 9 is not limited to the above-mentioned alloy of 58% iron and 42% nickel, but 67% iron-18% chromium-10% nickel.
An alloy (thermal conductivity: 16 W / mK) or any other material having a low thermal conductivity may be a material other than the above, for example, a nonmetal.

【0032】図7は、本発明の第6の実施例を示す断面
図である。さらに、断熱材9の断面形状は、図7のよう
に、くさび形でも良い。
FIG. 7 is a sectional view showing a sixth embodiment of the present invention. Further, the cross-sectional shape of the heat insulating material 9 may be a wedge shape as shown in FIG.

【0033】図8は、本発明の第7の実施例を示す断面
図である。断熱材9の固定に、図8のように、接着剤1
4を介して構成しても良い。
FIG. 8 is a sectional view showing a seventh embodiment of the present invention. To fix the heat insulating material 9, as shown in FIG.
4 may be provided.

【0034】図9は、本発明の第8の実施例を示す平面
図である。本図9に示すように、大型の(または発熱量
のより大きい)LSIチップ15と、小型の(または発
熱量のより小さい)LSIチップ16が載る場合は、溝
8で区切るヒートシンク6のそれぞれの面積を変えたも
のに構成しても良い。
FIG. 9 is a plan view showing an eighth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 9, when a large (or larger calorific value) LSI chip 15 and a smaller (or smaller calorific value) LSI chip 16 are mounted, each of the heat sinks 6 separated by the groove 8 is provided. You may comprise what changed the area.

【0035】図10は、本発明の第9の実施例を示す平
面図である。本図10に示すように、第3のLSIチッ
プ17までを搭載する場合には、図に示すような溝18
と断熱材19を用いることによりLSIチップが2つで
ある場合と同様の効果がある。このように、LSI数が
3つ以上である場合にも、その数に見合った分割を行う
溝18と断熱材19を用いて良い。以上のように、LS
I数が増えた場合にも、同様の分割を行ったものが適用
対象となることは言うまでもない。
FIG. 10 is a plan view showing a ninth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 10, when mounting up to the third LSI chip 17, the groove 18 as shown in the figure is used.
The use of the heat insulator 19 has the same effect as the case where the number of LSI chips is two. As described above, even when the number of LSIs is three or more, the groove 18 and the heat insulating material 19 that perform division according to the number may be used. As described above, LS
It goes without saying that even when the number of I is increased, the same division is applied.

【0036】上記の各実施例では、複数のLSIを有す
るマルチチップモジュールで、LSIからの放熱用にヒ
ートシンクを設けた構造において、ヒートシンクのLS
I相互間の部位に溝を設け、その溝にヒートシンクの材
質より熱伝導率の低い材料がはめ込まれた構造を特徴と
している。
In each of the above embodiments, in a multi-chip module having a plurality of LSIs and a structure in which a heat sink is provided for radiating heat from the LSI, the LS
It is characterized in that a groove is provided in a portion between I, and a material having a lower thermal conductivity than the material of the heat sink is fitted in the groove.

【0037】なお、上述の実施形態は本発明の好適な実
施の一例である。ただし、これに限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形
実施が可能である。
The above embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention. However, the present invention is not limited to this, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上の説明により明らかなように、本発
明のマルチチップモジュールおよびその放熱構造は、ヒ
ートシンクに溝を設け、この溝へ断熱材をはめ込み、複
数のLSIチップをそれぞれこのヒートシンクの溝を挟
むように配置し、それぞれの裏面をヒートシンクへ接触
させている。この構造により、それぞれのLSIチップ
からの発熱の流束方向が規制され、LSIチップ相互の
熱干渉を防止することができる。
As is apparent from the above description, the multi-chip module and the heat dissipation structure of the present invention have a heat sink provided with a groove, a heat insulating material is fitted into the groove, and a plurality of LSI chips are respectively inserted into the groove of the heat sink. Are arranged so as to sandwich them, and the respective back surfaces are in contact with the heat sink. With this structure, the direction of the heat flux from each LSI chip is regulated, and thermal interference between the LSI chips can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1のマルチチップモジュールの構成例を
示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration example of a multichip module according to a first embodiment.

【図2】実施例1のマルチチップモジュールを上から見
た平面図である。
FIG. 2 is a plan view of the multichip module of Example 1 as viewed from above.

【図3】第2の実施例のマルチチップモジュールの断面
図である。
FIG. 3 is a sectional view of a multichip module according to a second embodiment.

【図4】第3の実施例のマルチチップモジュールの断面
図である。
FIG. 4 is a sectional view of a multi-chip module according to a third embodiment.

【図5】第4の実施例のマルチチップモジュールを上か
ら見た平面図である。
FIG. 5 is a plan view of a multichip module according to a fourth embodiment as viewed from above.

【図6】第5の実施例のマルチチップモジュールを示す
断面図である。
FIG. 6 is a sectional view showing a multichip module according to a fifth embodiment.

【図7】第6の実施例のマルチチップモジュールを示す
断面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing a multichip module according to a sixth embodiment.

【図8】第7の実施例のマルチチップモジュールを示す
断面図である。
FIG. 8 is a sectional view showing a multichip module according to a seventh embodiment.

【図9】第8の実施例のマルチチップモジュールを上か
ら見た平面図である。
FIG. 9 is a plan view of a multichip module according to an eighth embodiment as viewed from above.

【図10】第9の実施例のマルチチップモジュールを上
から見た平面図である。
FIG. 10 is a plan view of a multichip module according to a ninth embodiment as viewed from above.

【図11】従来のマルチチップモジュールおよびその放
熱構造の構造例を示す断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a structural example of a conventional multi-chip module and a heat dissipation structure thereof.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1のLSIチップ 2 第2のLSIチップ 3 誘電体基板 4 第1のLSIチップの裏面 5 第2のLSIチップの裏面 6 ヒートシンク 7 フィン 8 溝 9 断熱材 10、11 熱流束 12 リードフレーム 13 はんだボール 14 接着剤 15 大型のLSIチップ 16 小型のLSIチップ 17 第3のLSIチップ 18 (LSI数に見合う分割を行うための)溝 19 (LSI数に見合う分割を行うための)断熱材 REFERENCE SIGNS LIST 1 first LSI chip 2 second LSI chip 3 dielectric substrate 4 back surface of first LSI chip 5 back surface of second LSI chip 6 heat sink 7 fin 8 groove 9 heat insulating material 10, 11 heat flux 12 lead frame 13 Solder ball 14 Adhesive 15 Large LSI chip 16 Small LSI chip 17 Third LSI chip 18 Groove (for performing division corresponding to the number of LSIs) 19 Insulating material (for performing division corresponding to the number of LSIs)

Claims (20)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 溝が設けられたヒートシンクと、 前記溝へはめ込まれた断熱材と、 前記溝を挟んで配置され、それぞれの裏面が前記ヒート
シンクへ接触された複数のLSIチップと、を有するこ
とを特徴とするマルチチップモジュール。
1. A heat sink provided with a groove, a heat insulating material fitted in the groove, and a plurality of LSI chips arranged with the groove interposed and having respective back surfaces contacting the heat sink. A multi-chip module characterized by the following.
【請求項2】 前記断熱材の材料は、前記ヒートシンク
の材料より熱伝導率が低いことを特徴とする請求項1記
載のマルチチップモジュール。
2. The multi-chip module according to claim 1, wherein the heat insulating material has a lower thermal conductivity than the heat sink material.
【請求項3】 前記断熱材は、断面形状がくさび形に形
成されていることを特徴とする請求項1または2記載の
マルチチップモジュール。
3. The multichip module according to claim 1, wherein the heat insulating material has a wedge-shaped cross section.
【請求項4】 前記ヒートシンクには放熱効率を高める
ためのフィンがさらに設けられていることを特徴とする
請求項1から3の何れか1項に記載のマルチチップモジ
ュール。
4. The multi-chip module according to claim 1, wherein the heat sink is further provided with fins for improving heat radiation efficiency.
【請求項5】 前記溝は、前記ヒートシンクの幅の一部
分に構成されることを特徴とする請求項1から4の何れ
か1項に記載のマルチチップモジュール。
5. The multi-chip module according to claim 1, wherein the groove is formed in a part of a width of the heat sink.
【請求項6】 前記溝は、前記ヒートシンクの厚み方向
へ貫通して構成されることを特徴とする請求項5に記載
のマルチチップモジュール。
6. The multi-chip module according to claim 5, wherein the groove penetrates in a thickness direction of the heat sink.
【請求項7】 前記溝は、前記ヒートシンクの全幅に渡
り構成されることを特徴とする請求項1から4の何れか
1項に記載のマルチチップモジュール。
7. The multi-chip module according to claim 1, wherein the groove is formed over the entire width of the heat sink.
【請求項8】 前記複数のLSIチップは、所定の誘電
体基板上に搭載されていることを特徴とする請求項1か
ら7の何れか1項に記載のマルチチップモジュール。
8. The multi-chip module according to claim 1, wherein said plurality of LSI chips are mounted on a predetermined dielectric substrate.
【請求項9】 前記複数のLSIチップは、それぞれの
ジャンクション面を前記誘電体基板に向けて電気的接続
をとっていることを特徴とする請求項8に記載のマルチ
チップモジュール。
9. The multi-chip module according to claim 8, wherein the plurality of LSI chips are electrically connected with their respective junction surfaces facing the dielectric substrate.
【請求項10】 前記電気的接続は、フリップチップと
称される接続工法による接続であることを特徴とする請
求項9に記載のマルチチップモジュール。
10. The multichip module according to claim 9, wherein the electrical connection is a connection by a connection method called flip chip.
【請求項11】 溝が設けられたヒートシンクと、 前記溝へはめ込まれた断熱材と、 前記溝を挟んで配置され、それぞれの裏面が前記ヒート
シンクへ接触された複数のLSIチップと、を有するこ
とを特徴とするマルチチップモジュールの放熱構造。
11. A heat sink provided with a groove, a heat insulating material fitted into the groove, and a plurality of LSI chips arranged with the groove interposed and having respective back surfaces in contact with the heat sink. Heat dissipation structure of multi-chip module characterized by the following.
【請求項12】 前記断熱材の材料は、前記ヒートシン
クの材料より熱伝導率が低いことを特徴とする請求項1
1記載のマルチチップモジュールの放熱構造。
12. The material of the heat insulator has a lower thermal conductivity than the material of the heat sink.
2. The heat dissipation structure of the multichip module according to 1.
【請求項13】 前記断熱材は、断面形状がくさび形に
形成されていることを特徴とする請求項11または12
記載のマルチチップモジュールの放熱構造。
13. The heat insulating material according to claim 11, wherein the heat insulating material has a wedge-shaped cross section.
Heat dissipation structure of the described multi-chip module.
【請求項14】 前記ヒートシンクには放熱効率を高め
るためのフィンがさらに設けられていることを特徴とす
る請求項11から13の何れか1項に記載のマルチチッ
プモジュールの放熱構造。
14. The heat radiating structure for a multi-chip module according to claim 11, wherein the heat sink is further provided with fins for improving heat radiating efficiency.
【請求項15】 前記溝は、前記ヒートシンクの幅の一
部分に構成されることを特徴とする請求項11から14
の何れか1項に記載のマルチチップモジュールの放熱構
造。
15. The heat sink according to claim 11, wherein the groove is formed in a part of a width of the heat sink.
The heat dissipation structure of the multi-chip module according to any one of the above.
【請求項16】 前記溝は、前記ヒートシンクの厚み方
向へ貫通して構成されることを特徴とする請求項15に
記載のマルチチップモジュールの放熱構造。
16. The heat radiating structure for a multi-chip module according to claim 15, wherein the groove is configured to penetrate in a thickness direction of the heat sink.
【請求項17】 前記溝は、前記ヒートシンクの全幅に
渡り構成されることを特徴とする請求項11から14の
何れか1項に記載のマルチチップモジュールの放熱構
造。
17. The heat dissipation structure for a multi-chip module according to claim 11, wherein the groove is formed over the entire width of the heat sink.
【請求項18】 前記複数のLSIチップは、所定の誘
電体基板上に搭載されていることを特徴とする請求項1
1から17の何れか1項に記載のマルチチップモジュー
ルの放熱構造。
18. The semiconductor device according to claim 1, wherein the plurality of LSI chips are mounted on a predetermined dielectric substrate.
18. The heat dissipation structure for a multi-chip module according to any one of 1 to 17.
【請求項19】 前記複数のLSIチップは、それぞれ
のジャンクション面を前記誘電体基板に向けて電気的接
続をとっていることを特徴とする請求項18に記載のマ
ルチチップモジュールの放熱構造。
19. The heat dissipation structure for a multi-chip module according to claim 18, wherein the plurality of LSI chips are electrically connected with their respective junction surfaces facing the dielectric substrate.
【請求項20】 前記電気的接続は、フリップチップと
称される接続工法による接続であることを特徴とする請
求項19に記載のマルチチップモジュールの放熱構造。
20. The heat dissipation structure according to claim 19, wherein the electrical connection is performed by a connection method called a flip chip.
JP2001088411A 2001-03-26 2001-03-26 Multi-chip module and its radiation structure Pending JP2002289750A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001088411A JP2002289750A (en) 2001-03-26 2001-03-26 Multi-chip module and its radiation structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001088411A JP2002289750A (en) 2001-03-26 2001-03-26 Multi-chip module and its radiation structure

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002289750A true JP2002289750A (en) 2002-10-04

Family

ID=18943509

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001088411A Pending JP2002289750A (en) 2001-03-26 2001-03-26 Multi-chip module and its radiation structure

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002289750A (en)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7154751B2 (en) 2003-08-19 2006-12-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Interface module-mounted LSI package
JP2006345798A (en) * 2005-06-17 2006-12-28 Toppan Printing Co Ltd Reactor vessel
WO2008029636A1 (en) * 2006-09-04 2008-03-13 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Motor control device
JP2009230505A (en) * 2008-03-24 2009-10-08 Fujitsu Ltd Board unit and electronic apparatus
JP2011023593A (en) * 2009-07-16 2011-02-03 Denso Corp Electronic control unit
WO2011096218A1 (en) * 2010-02-04 2011-08-11 パナソニック株式会社 Heat radiation device and electronic equipment using the same
KR20130020570A (en) * 2011-08-18 2013-02-27 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 Semiconductor device
JP2017103153A (en) * 2015-12-03 2017-06-08 コニカミノルタ株式会社 Organic el module, optical writing device and image forming device
JP2019169664A (en) * 2018-03-26 2019-10-03 株式会社デンソー Integrated circuit device and electronic device
EP3779640A4 (en) * 2018-05-24 2021-05-26 Huawei Technologies Co., Ltd. Heat-dissipating apparatus and manufacturing method thereof and server
JP2021526738A (en) * 2018-06-20 2021-10-07 東莞市李群自動化技術有限公司QKM Technology (Dong Guan) Co., Ltd Integrated heat sink with temperature gradient
CN114937660A (en) * 2022-04-21 2022-08-23 盛合晶微半导体(江阴)有限公司 Electronic packaging structure
WO2024060786A1 (en) * 2022-09-20 2024-03-28 华为技术有限公司 Optical transceiver module and communication device

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7330352B2 (en) 2003-08-19 2008-02-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Interface module-mounted LSI package
US7554806B2 (en) 2003-08-19 2009-06-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Interface module-mounted LSI package
US7154751B2 (en) 2003-08-19 2006-12-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Interface module-mounted LSI package
JP2006345798A (en) * 2005-06-17 2006-12-28 Toppan Printing Co Ltd Reactor vessel
WO2008029636A1 (en) * 2006-09-04 2008-03-13 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Motor control device
JPWO2008029636A1 (en) * 2006-09-04 2010-01-21 株式会社安川電機 Motor control device
US7898806B2 (en) 2006-09-04 2011-03-01 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Motor controller
JP2009230505A (en) * 2008-03-24 2009-10-08 Fujitsu Ltd Board unit and electronic apparatus
US8355254B2 (en) 2009-07-16 2013-01-15 Denso Corporation Electronic control unit
JP2011023593A (en) * 2009-07-16 2011-02-03 Denso Corp Electronic control unit
US8913389B2 (en) 2010-02-04 2014-12-16 Panasonic Corporation Heat radiation device and electronic equipment using the same
WO2011096218A1 (en) * 2010-02-04 2011-08-11 パナソニック株式会社 Heat radiation device and electronic equipment using the same
EP2533281A4 (en) * 2010-02-04 2017-08-02 Panasonic Corporation Heat radiation device and electronic equipment using the same
KR102005313B1 (en) * 2011-08-18 2019-07-30 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 Semiconductor device
KR20130020570A (en) * 2011-08-18 2013-02-27 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 Semiconductor device
JP2017103153A (en) * 2015-12-03 2017-06-08 コニカミノルタ株式会社 Organic el module, optical writing device and image forming device
JP7043918B2 (en) 2018-03-26 2022-03-30 株式会社デンソー Integrated circuit equipment and electronic equipment
JP2019169664A (en) * 2018-03-26 2019-10-03 株式会社デンソー Integrated circuit device and electronic device
EP3779640A4 (en) * 2018-05-24 2021-05-26 Huawei Technologies Co., Ltd. Heat-dissipating apparatus and manufacturing method thereof and server
US11490545B2 (en) 2018-05-24 2022-11-01 Huawei Technologies Co., Ltd. Heat dissipation apparatus and server
US11737242B2 (en) 2018-05-24 2023-08-22 Huawei Technologies Co., Ltd. Heat dissipation apparatus and server
JP2021526738A (en) * 2018-06-20 2021-10-07 東莞市李群自動化技術有限公司QKM Technology (Dong Guan) Co., Ltd Integrated heat sink with temperature gradient
JP7071545B2 (en) 2018-06-20 2022-05-19 東莞市李群自動化技術有限公司 Integrated heat sink with temperature gradient
CN114937660A (en) * 2022-04-21 2022-08-23 盛合晶微半导体(江阴)有限公司 Electronic packaging structure
WO2024060786A1 (en) * 2022-09-20 2024-03-28 华为技术有限公司 Optical transceiver module and communication device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7431072B2 (en) Heat sink with increased cooling capacity and semiconductor device comprising the heat sink
US7772692B2 (en) Semiconductor device with cooling member
KR200448519Y1 (en) Heat sink for protrusion type ic package
JP2007335663A (en) Semiconductor module
US7148562B2 (en) Power semiconductor device and power semiconductor module
JP2002289750A (en) Multi-chip module and its radiation structure
WO2013172183A1 (en) Power module
JP2009224571A (en) Power module substrate with heat sink, and power module with the heat sink
JP2005116702A (en) Power semiconductor module
US20060220188A1 (en) Package structure having mixed circuit and composite substrate
JP2000156439A (en) Power semiconductor module
JP2803603B2 (en) Multi-chip package structure
JP3193142B2 (en) Board
JP2003060140A (en) Heat sink and heat radiation device
JP2003152368A (en) Electronic equipment
JPH09213847A (en) Semiconductor integrated circuit device, manufacture thereof, and electronic device equipped therewith
TW202032874A (en) Semiconductor laser light source device equipped with a plurality of semiconductor laser elements and capable of realizing both high density and high heat dissipation
JP2008171963A (en) Semiconductor chip cooling structure
JP4460791B2 (en) Heat sink for semiconductor devices
JP4573467B2 (en) Power semiconductor device
CN220753407U (en) Power tube assembly and PCB assembly
CN209232776U (en) A kind of deviding device frame structure
WO2022270161A1 (en) Semiconductor module
JPH10125831A (en) Heat sink radiation fin
JP2017199830A (en) Power module

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030826