JP2002277780A - セグメント化されたミラーを用いる複数ビーム式ラスタ出力スキャニングシステム - Google Patents

セグメント化されたミラーを用いる複数ビーム式ラスタ出力スキャニングシステム

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JP2002277780A JP2001385507A JP2001385507A JP2002277780A JP 2002277780 A JP2002277780 A JP 2002277780A JP 2001385507 A JP2001385507 A JP 2001385507A JP 2001385507 A JP2001385507 A JP 2001385507A JP 2002277780 A JP2002277780 A JP 2002277780A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数のビームを個々の揺れ補正ミラー及び光
受容体に対して分離するラスタ出力式スキャニングシス
テムを提供する。 【解決手段】 セグメント化されたミラー100は、ラ
スタ出力スキャナ200のエフシータスキャンレンズ2
38の後の隣接する複数のビームを分離する。光ビーム
が回転ポリゴンミラーの切子面上にサジタル方向に集束
するので、エフシータスキャンレンズの後のビーム寸法
はまだ十分に小さいため、セグメント化されたミラーは
2つのビームを反射し、同時に他の2つのビームを透過
することができる。これにより、複数ビーム式ROSの
高さが1/2に減少される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は複数ビーム式ラスタ
光学スキャニング(ROS)システムに関し、また特
に、複数のビームが単一の共通なラスタ光学スキャニン
グシステムによってスキャンされた後に、複数のビーム
を複数の光受容体に分離するセグメント化されたミラー
に関する。
【0002】
【従来の技術】ラスタ出力スキャナ(すなわち、RO
S)は、従来、その中心軸の周りで回転する多面ポリゴ
ンミラーを有している。一方、輝度変調されたビーム
は、所定の角度でこの回転ポリゴンの方向に向けられ
る。光ビームは切子面によって反射され、その後、感光
性記録媒体上の「スポット」に集束される。ポリゴンの
回転により、このスポットがスキャン方向に感光性媒体
を横切って直線的にスキャンする。その間に、感光性媒
体がスキャン方向に直角な方向に、スキャン速度よりも
比較的ゆっくりと前進する。このように、ビームが感光
性媒体をラスタスキャニング様式でスキャンする。RO
Sが感光性媒体上に形成したイメージは、次に、イメー
ジに静電気的に引き付けられたトナーを転写及び定着す
ることによって、通常普通紙の記録媒体上に永久イメー
ジを作るために使用される。
【0003】単一のROSを使用して、単一のカラー特
に黒をプリントすることができる。フルカラーのプリン
タは、一般に、各シアン、マゼンタ及び黄色の三原色に
対するイメージ及び付加的な黒に対するイメージの4つ
のイメージを必要とする。複数のカラーは、各システム
カラー用スキャナの4ラスタ式光学スキャナのシーケン
スを用いて、システムを通るワンパスで記録媒体上に転
写することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】同じ光学システムを共
有する複数ビームについての現行の問題は、オーバラッ
プするビームによるビームの干渉である。ビーム間の物
理的な間隔が増加すると、共有する光学レンズ及びミラ
ーがより広くまたより大きくなり、より高価になる。ビ
ーム間の間隔が狭いと、複数のビームを複数の光受容体
に分離することが困難になる。
【0005】ラスタスキャナは、一般に、特定の設計を
受け入れるために、多数のレンズ及びミラーを備えてい
る。これらの光学素子の形状及び/又は取付けにおいて
偏差が発生することは避けられないため、光受容体上の
スキャンラインの品質にいくつかの不具合が必然的にも
たらされる。また、ラスタスキャナの各種の光学素子に
よりエラーが累積して、種々のエラーが光ビームに取り
込まれることがある。そのような不具合の1つは反りで
ある。
【0006】光ビームが記録媒体上のスキャンラインの
スキャン方向における理想的な水平の直線からクロスス
キャン方向にオフセットする場合の反りは、スキャンラ
インの望ましくない特性である。スキャンラインの反り
は、ビームが光学システムを通って進行するとき、RO
Sの光学システムの倍率がクロススキャン方向にわたっ
て変化するために発生する。
【0007】ROSにおける偏差のタイプに基づいて、
反りが付いたスキャンラインの2つの端部のポイント
は、反りが付いたスキャンラインの中間点に関して、真
っ直ぐで反りのないラインから離れて、反対方向に湾曲
する。スキャンラインの端部ポイントが下側に位置する
反りをフローン(frown)と呼び、スキャンライン
の端部ポイントが上側にある反りをスマイル(smil
e)と呼ぶ。
【0008】複数のラスタスキャナからのスキャンライ
ンは光受容体上に位置付けられ、次に、記録媒体上の単
一のオーバラップしたラインに記録される。複数ビーム
式スキャナについての別の望ましくない特性は、差動の
反りと呼ばれる。差動の反りは、複数の光ビームがお互
いに対してまた真っ直ぐな反りのないスキャンラインに
対して表面上軸からずれるような複数ビーム式ラスタス
キャナで発生する。
【0009】例えば、1つのROSからの1つの光ビー
ムの反りが付いたスキャンラインがスマイルであり、一
方別のROSからの他のビームの反りが付いたスキャン
ラインがフローンである場合、2つのビーム間の隔離距
離はスキャンに沿って変化する。この現象が差動の反り
と呼ばれる。差動の反りには、反りの形は同じであるが
各スキャンライン上での反りの量が異なっている2つの
スキャンラインのように異なった形状がある。全てのス
キャンラインを真っ直ぐで平行にし、スキャンラインに
わたるビームの隔離距離を均一にして、これにより差動
の反りを除くことが望ましい。
【0010】本来なら、複数のビームが同じ光学システ
ムを共有する場合、複数ビーム式スキャニングシステム
内の差動の反りは減少される。しかしながら、単一の共
通光学システムを用いる複数ビーム式スキャニングシス
テム内の差動の反りは、各ビームがそれぞれの光受容体
に対して異なった一様でない数の反射体を有する場合は
増加する。共有光学素子が同じ場合、各ビームのそのス
キャンライン内の反りの量は同じになる。反射体の数が
同じでない場合、1つのビームの反りが付いたスキャン
ラインが、差動の反りを作っている他のビームの反りが
付いたスキャンラインに対して反転される。
【0011】本発明の目的は、差動反りが減少した、単
一の共通光学システムを有する複数ビーム式ラスタ光学
スキャニング(ROS)システムを提供することであ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、ラスタ
出力式スキャニングシステムの複数のビームが、エフシ
ータスキャンレンズへの共通の光学素子を共有する。セ
グメント化されたミラーが、複数のビームを個々の揺れ
補正ミラー及び光受容体に対して分離する。
【0013】
【発明の実施の形態】ここで図1を参照すると、本発明
の、複数のレーザビームを分離するセグメント化された
ミラー100が示されている。
【0014】図1及び図2のセグメント化されたミラー
のビームスペーサ100は、剛性フレーム110上に第
1の反射面102、第1の透過面104、第2の反射面
106、及び第2の透過面108を有している。このセ
グメント化されたミラーのビームスペーサ100は、反
射面102,106及び透過面104,108が交互に
配置された縦形設計で構成されている。
【0015】反射面102及び106は、レーザ光源が
放射する波長の光を反射する。一般に、これらの反射面
はアルミニウム又は他の何らかの金属面である。この実
施例では、アルミニウムの反射面102及び106が、
プラスチックのフレーム110の前面112上に蒸着さ
れる。
【0016】透過面104及び108は、レーザ光源が
放射する波長の光を透過する。一般に、透過面は透明ガ
ラス又は物理的なホールである。この実施例では、ガラ
スプレートの透過面104及び108が、背面114か
ら前面112にプラスチックのフレーム110を通って
伸びている。
【0017】ここで図2及び図3を参照すると、本発明
の複数のレーザビームを分離するセグメント化されたミ
ラー100を有する、複数ビーム式ラスタ光学スキャニ
ングシステム200が示されている。図2は、複数ビー
ム式ラスタ光学スキャニングシステム200の単一で共
通なポリゴン前段の光学システム及び単一の回転ポリゴ
ンミラーが示されている。図3は、セグメント化された
ミラー100を用いる、複数ビーム式ラスタ光学スキャ
ニングシステム200の単一の回転ポリゴンミラー及び
部分的に共通のポリゴン後段の光学システムを示してい
る。
【0018】具体的には図2では、ラスタ出力式スキャ
ニングシステム200は、第1の光源202、第2の光
源204、第3の光源206及び第4の光源208を備
えている。
【0019】レーザダイオードなどの第1の光源202
は、変調されたコヒーレントな光ビーム212を放射す
る。この第1の光ビーム212は、第1のイメージ出力
コントロール回路214から第1の光源202に送られ
た第1のビデオ信号の中に含まれる情報に基づいて変調
される。
【0020】レーザダイオードなどの第2の光源204
は、変調されたコヒーレントな光ビーム216を放射す
る。この第2の光ビーム216は、第2のイメージ出力
コントロール回路218から第2の光源204に送られ
た第2のビデオ信号の中に含まれる情報に基づいて変調
される。
【0021】レーザダイオードなどの第3の光源206
は、変調されたコヒーレントな光ビーム220を放射す
る。この第3の光ビーム220は、第3のイメージ出力
コントロール回路222から第3の光源206に送られ
たビデオ信号の中に含まれる情報に基づいて変調され
る。
【0022】レーザダイオードなどの第4の光源208
は、変調されたコヒーレントな光ビーム224を放射す
る。この第4の光ビーム224は、第4のイメージ出力
コントロール回路226から第4の光源208に送られ
たビデオ信号の中に含まれる情報に基づいて変調され
る。
【0023】4つの光源202,204,206及び2
08は、同じコントロール回路を共有するか又はそれぞ
れが別のコントロール回路を持つことができる。4つの
光ビーム212,216,220及び224は、独立し
て変調することができる。
【0024】4つの変調された光ビーム212,21
6,220及び224は、4つのビームがROS200
の同じ光学素子を通過するように、互いに平行にまた狭
い間隔で放射される。
【0025】第1の変調された光ビーム212、第2の
変調された光ビーム216、第3の変調された光ビーム
220及び第4の変調された光ビーム224は、単一の
共通なコリメーティングレンズ228によってコリメー
トされる。
【0026】第1の変調されコリメートされた光ビーム
212、第2の変調されコリメートされた光ビーム21
6、第3の変調されコリメートされた光ビーム220及
び第4の変調されコリメートされた光ビーム224は、
次に、単一の共通なシリンドリカルレンズ230によっ
て回転ポリゴンミラー232の切子面上に集束される。
【0027】このシリンドリカルレンズ230は、サジ
タル面すなわちクロススキャン面内でコリメートされた
光ビーム212,216,220及び224を、ビーム
のスキャン部分の平行性を維持しながら、回転多面ポリ
ゴンミラー232の切子面234上に集束させる。それ
ぞれの光ビーム212,216,220及び224は、
このように、切子面234上に分離したラインを形成す
る。
【0028】4つのビーム212,216,220及び
224の間隔が狭いため、単一のコリメーティングレン
ズ228及び単一の集束レンズ230の共通の光学素子
を共有することができる。
【0029】図2及び図3でよく分かるように、本発明
のポリゴンミラー232は、当業者に周知の従来のモー
タ(図示せず)によって回転軸236の周りを回転す
る。
【0030】図3を参照する。第1の光ビーム212、
第2の光ビーム216、第3の光ビーム220及び第4
の光ビーム224は、回転ポリゴンミラー232の切子
面234から反射される。
【0031】切子面234から反射された光ビームはス
キャン面内ではまだコリメートされており、ここではク
ロススキャン面内では発散される。
【0032】第1の光ビーム212、第2の光ビーム2
16、第3の光ビーム220及び第4の光ビーム224
は、次に、2素子エフシータスキャンレンズ238を通
過する。このエフシータスキャンレンズ238は、負の
平球形面レンズ240及び正の平球形面レンズ242か
ら構成する。このエフシータスキャンレンズ238の構
成により、ビーム212,216,220及び224が
スキャン面内で収束される。
【0033】ビームの隔離距離が十分に小さいので、4
つの光ビームは同じ単一のエフシータスキャンレンズ2
38を通過することができる。
【0034】セグメント化されたミラー100は、ビー
ム212,216,220及び224の光軸244に対
して前面112が45度の角度で配置されている。
【0035】第1の光ビーム212は、エフシータスキ
ャンレンズ238の後、セグメント化されたミラー10
0の前面112上の第1の反射面102に入射し、光軸
244に対して直角に反射される。
【0036】第1の光ビーム212はセグメント化され
たミラーから反射されて、第1の折返しミラー246か
ら第2の折返しミラー248に反射される。第1のビー
ム212は、第2の折返しミラー248から第1の揺れ
補正ミラー250に反射される。この揺れ補正ミラーに
は、回転ポリゴンミラー232の揺れ及びその反射され
たスキャニングビームに対する影響を補正する機能があ
る。第1の揺れ補正ミラー250は、また、第1の反射
及び変調されたビーム212を第1の光受容体254上
のスキャンライン252に集束させる。
【0037】第2の光ビーム216は、エフシータスキ
ャンレンズ238の後、セグメント化されたミラー10
0の背面114上の第1の透過面104に入射する。第
2の光ビーム216は、透過面104を通って前面11
2に透過され、光軸244に平行に進行する。
【0038】第2の光ビーム216はセグメント化され
たミラーにより透過されて、第3の折返しミラー256
から第2の揺れ補正ミラー258に反射される。第2の
揺れ補正ミラー258は、また、第2の反射及び変調さ
れたビーム216を第2の光受容体262上のスキャン
ライン260に集束させる。
【0039】第3の光ビーム220は、エフシータスキ
ャンレンズ238の後、セグメント化されたミラー10
0の前面112上の第2の反射面106に入射し、光軸
244に対して直角に反射される。
【0040】第3の光ビーム220はセグメント化され
たミラーから反射されて、第1の折返しミラー246か
ら第4の折返しミラー264に反射される。第3のビー
ム220は、第4の折返しミラー264から第3の揺れ
補正ミラー266に反射される。この第3の揺れ補正ミ
ラー266は、また、第3の反射及び変調されたビーム
220を第3の光受容体270上のスキャンライン26
8に集束させる。
【0041】第4の光ビーム224は、エフシータスキ
ャンレンズ238の後、セグメント化されたミラー10
0の背面114上の第2の透過面108に入射する。第
4の光ビーム224は、透過面108を通って前面11
2に透過され、光軸244に平行に進行する。
【0042】第4の光ビーム224はセグメント化され
たミラーにより透過されて、第4の折返しミラー272
から第4の揺れ補正ミラー274に反射される。第4の
揺れ補正ミラー274は、また、第4の反射及び変調さ
れたビーム224を第4の光受容体278上のスキャン
ライン276に集束させる。
【0043】これらの揺れ補正ミラー250,258,
266及び274は、クロススキャン面では凸面の円柱
状をしており、スキャン面では平坦である。このため、
それぞれの揺れ補正ミラーは、光ビームの前に発散した
クロススキャン部分を収束させるが、エフシータレンズ
により集束された光ビームの収束しているクロススキャ
ン部分が影響されずに通過することを可能にする。反射
されたビームは、光受容体などの感光性媒体上のスキャ
ンラインに集束する。
【0044】セグメント化されたミラー100は、ラス
タ出力スキャナ200のエフシータスキャンレンズ23
8の後の、隣接する複数のビームを分離する。光ビーム
が回転ポリゴンミラーの切子面上にサジタル方向に集束
するので、エフシータスキャンレンズの後のビーム寸法
はまだ十分に小さいため、セグメント化されたミラーは
2つのビームを反射し、同時に他の2つのビームを透過
することができる。これにより、複数ビーム式ROSの
高さが1/2に減少される。
【0045】セグメント化されたミラーは、それぞれの
4つのビームを反射又は透過により別々の揺れ補正ミラ
ー及び別々の光受容体に向けられる。
【0046】各ビームの光学経路内のミラーの全数は、
偶奇性を保存し差動の反りを防ぐために偶数だけ異なっ
ている。セグメント化されたミラーにより反射された2
つのビームは、エフシータスキャンレンズから光受容体
までに4つの反射体を有している。セグメント化された
ミラーにより透過された2つのビームは、エフシータス
キャンレンズから光受容体までに2つの反射体を有して
いる。4つのビームが狭い間隔で整列され、またエフシ
ータスキャンレンズが接線方向のパワーしか持っていな
いので、反り及びスキャンの非直線性についてのエラー
は4つの全てのビームに対して同じである。
【0047】この複数ビーム式ROSのコストは、光学
素子を4つ全てのビームにより共有することができるの
で、それぞれのビームについて指定の光学素子を必要と
する場合よりも減少される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のセグメント化されたミラーを説明す
る図である。
【図2】 本発明の複数ビーム式ラスタ光学スキャニン
グシステムの、単一で共通のポリゴン前段の光学システ
ム及び回転ポリゴンミラーを示す図である。
【図3】 本発明の図1のセグメント化されたミラーを
用いる、図2の複数ビーム式ラスタ光学スキャニングシ
ステムの回転ポリゴンミラー及び部分的に共通のポリゴ
ン後段の光学システムを示す図である。
【符号の説明】
100 セグメント化されたミラー、102 反射面、
104 第1の透過面、106 第2の反射面、108
第2の透過面、110 フレーム、112前面、11
4 背面、200 ラスタ光学スキャニング、202
第1の光源、204 第2の光源、206 第3の光
源、208 第4の光源、212,216,220,2
24 光ビーム、214,218,222,226 出
力コントロール回路、228 コリメーティングレン
ズ、230 シリンドリカルレンズ、232 ポリゴン
ミラー、234 切子面、236 回転軸、238 エ
フシータスキャンレンズ、240 負の平球形面レン
ズ、242 正の平球形面レンズ、244 光軸、24
6,248,256,264,272 折返しミラー、
250,258,266,274 揺れ補正ミラー、2
54,262,270,278 光受容体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 BA50 BA51 BA52 BA71 BA83 BA84 BA86 BA87 BA90 BB46 CA18 CA22 CA39 DA06 DA09 2H042 DA02 DA11 DA22 DC02 DE00 2H045 AA01 BA02 BA22 BA34 CA03 CA63 CB65 DA02 5C072 AA03 BA02 DA02 DA04 DA21 HA06 HA09 HB08 QA14 XA05

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数ビーム式ラスタ出力スキャニングシ
    ステムであって、 入力ビデオデータ信号に基づいて変調される第1の光ビ
    ームを放射する第1の光源と、入力ビデオデータ信号に
    基づいて変調される第2の光ビームを放射する第2の光
    源と、入力ビデオデータ信号に基づいて変調される第3
    の光ビームを放射する第3の光源と、入力ビデオデータ
    信号に基づいて変調される第4の光ビームを放射する第
    4の光源と、 第1の光受容体と、第2の光受容体と、第3の光受容体
    と、第4の光受容体と、 複数の切子面を有する回転ポリゴンミラーと、 前記第1の光ビーム、前記第2の光ビーム、前記第3の
    光ビーム、及び前記第4の光ビームをコリメートするコ
    リメーティングレンズと、前記第1の光ビーム、前記第
    2の光ビーム、前記第3の光ビーム、及び前記第4の光
    ビームを前記コリメーティングレンズから前記回転ポリ
    ゴンミラーの前記切子面上に集束させるシリンドリカル
    レンズと、 前記第1の光ビームを前記回転ポリゴンミラーの前記切
    子面から前記第1の光受容体上に集束させ、前記第2の
    光ビームを前記回転ポリゴンミラーの前記切子面から前
    記第2の光受容体上に集束させ、前記第3の光ビームを
    前記回転ポリゴンミラーの前記切子面から前記第3の光
    受容体上に集束させ、かつ前記第4の光ビームを前記回
    転ポリゴンミラーの前記切子面から前記第4の光受容体
    上に集束させるエフシータスキャンレンズと、 前記第1の光ビームを前記エフシータスキャンレンズか
    ら第1の揺れ補正ミラーに反射させて、前記第1の光ビ
    ームを前記第1の光受容体に集束させる第1の反射面
    と、前記第2の光ビームを前記エフシータスキャンレン
    ズから第2の揺れ補正ミラーに反射させて、前記第2の
    光ビームを前記第2の光受容体に集束させる第1の透過
    面と、前記第3の光ビームを前記エフシータスキャンレ
    ンズから第3の揺れ補正ミラーに反射させて、前記第3
    の光ビームを前記第3の光受容体に集束させる第2の反
    射面と、前記第4の光ビームを前記エフシータスキャン
    レンズから第4の揺れ補正ミラーに反射させて、前記第
    4の光ビームを前記第4の光受容体に集束させる第2の
    透過面と、を有するセグメント化されたミラーであっ
    て、前記反射面及び前記透過面が前記セグメント化され
    たミラー上に交互に存在するセグメント化されたミラー
    と、を備えることを特徴とする複数ビーム式ラスタ出力
    スキャニングシステム。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009031673A (ja) * 2007-07-30 2009-02-12 Konica Minolta Business Technologies Inc 光走査装置
JP2009037170A (ja) * 2007-08-03 2009-02-19 Konica Minolta Business Technologies Inc 光走査装置

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JP2009031673A (ja) * 2007-07-30 2009-02-12 Konica Minolta Business Technologies Inc 光走査装置
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