JP2002277743A - 共焦点光走査プローブ装置 - Google Patents
共焦点光走査プローブ装置Info
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Abstract
画像を得る。 【解決手段】 共焦点光走査プローブ装置1は、スキャ
ナを有するプローブ1と、前記スキャンを駆動する制御
装置2と、前記プローブ1に光を供給し、前記プローブ
1からの光学像を検出して電気信号にする光学ユニット
3と、前記光学ユニット3からの信号を特定の周波数成
分だけ通過させるフィルタ装置501と、前記フィルタ
装置501からの電気信号を画像化する画像化装置4
と、前記画像化装置4からの映像を表示するモニタ5
と、スキャナを駆動する駆動波形の基準となるクロック
を発生させる外部クロック発生器7とを備える。
Description
ブ装置、更に詳しくは光学像の電気信号のノイズ除去部
分に特徴のある共焦点光走査プローブ装置に関する。
8号公報において、マイクロ機械加工された小型の共焦
点顕微鏡について開示されている。また、特開平3−8
7804号公報において、内視鏡ヘッドに搭載した小型
の共焦点顕微鏡システムについて開示されている。ま
た、特開2000−171718号公報、検出信号をA
/D変換により画像化し、画素演算により輸郭強調等を
行う共焦点光走査装置が開示されている。
細胞などを観察する際、構成される固定反射ミラーやフ
ァイバ端面からの反射光や散乱光が、光信号の直流成分
ノイズとして、観察対象の信号に加わってしまう。これ
により、本来必要とする観察対象の信号が直流成分ノイ
ズに埋もれて、十分な観察ができない可能性がある。
出した光信号を電気信号に変換し、それを画像化装置に
て画像化する際、A/D変換が必要であるため、あらか
じめ低域通過フィルタで、検出器からの電気信号を高周
波成分を除去するのが一般的である。しかし、この低域
通過フィルタを、A/D変換時のサンプリング周波数に
近いカットオフ周波数にすると、スキャナの駆動周波数
の高調波成分などの高周波ノイズが画像に入り、画質劣
化の原因となる可能性がある。
出した光信号を電気信号に変換し、それを画像化装置に
て画像化する際、A/D変換が必要であるため、あらか
じめ低域通過フィルタで、検出器からの電気信号を高周
波成分を除去するのが一般的である。しかし、この低域
通過フィルタを、サンプリングの定理による、A/D変
換時のサンプリング周波数に近いカットオフ周波数にす
ると、スキャナの駆動周波数の高調波成分が画像に入
り、ノイズの原因となる可能性がある。
であり、ノイズが少なく、S/Nの良い、鮮明な観察画
像を得ることのできる共焦点光走査プローブ装置を提供
することを目的としている。
ローブ装置は、一方の方向に駆動しなおかつそれと他方
の方向に駆動するスキャナを有するプローブと、前記ス
キャナを駆動する制御装置と、被検部に光を照射する光
源と、前記光源からの光をプローブ先端に導くための光
ファイバと、前記光ファイバからの光を被検部に合焦さ
せ、被検部からの光を前記光ファイバ端面に集光させる
合焦手段と、前記被検部からの戻り光の少なくとも一部
を光源からの光の光路から分離する分離手段と、前記分
離された光を検出する検出器と、前記検出器からの信号
をA/D変換して画像化する画像化装置と、画像を表示
するモニタとを有する共焦点光走査プローブ装置におい
て、前記検出器からの信号のうち少なくとも概直流信号
成分を除去するフィルタ装置を有して構成される。
の実施の形態について述べる。
形態に係わり、図1は共焦点光走査プローブ装置の構成
を示すブロック図、図2は図1のフィルタ装置の構成を
示す構成図、図3は図2のHPFの周波数特性を示す
図、図4は図2のHPFの作用を説明する図、図5は図
2のHPFの第1の変形例の構成を示す図、図6は図2
のHPFの第2の変形例の構成を示す図、図7は図2の
HPFの第3の変形例の構成を示す図、図8は図2のH
PFの第4の変形例の構成を示す図、図9は図2のHP
Fの第5の変形例の構成を示す図、図10は図2のLP
Fの周波数特性を示す図、図11は図2のLPFの第1
の変形例の構成を示す図、図12は図2のLPFの第2
の変形例の構成を示す図、図13は図2のLPFの第3
の変形例の構成を示す図、図14は図2のLPFの第4
の変形例の構成を示す図、図15は図2のLPFの第5
の変形例の構成を示す図、図16は図1のプローブの先
端部を示す断面図、図17は図16のプローブのスキャ
ナの構造を示す断面図、図18は図17のスキャナの構
造を示す平面図、図19は図17のスキャナの詳細構造
を示す平面図である。
光走査プローブ装置1は、スキャナを有するプローブ1
と、前記スキャンを駆動する制御装置2と、前記プロー
ブ1に光を供給し、前記プローブ1からの光学像を検出
して電気信号にする光学ユニット3と、前記光学ユニッ
ト3からの信号を特定の周波数成分だけ通過させるフィ
ルタ装置501と、前記フィルタ装置501からの電気
信号を画像化する画像化装置4と、前記画像化装置4か
らの映像を表示するモニタ5と、スキャナを駆動する駆
動波形の基準となるクロックを発生させる外部クロック
発生器7とを備える。これらは、次のような接続関係に
なっている。
置2と電気的かつ着脱可能に接続され、さらに光ファイ
バ1bにより制御装置2のコネクタ11を介して光学ユ
ニット3のコネクタ17に光学的かつ着脱可能に接続ざ
れている。
イオード(以下、LDと称す)15と、フォトマルチブラ
イアチューブ(以下、PMTと称す)ユニット16と、4
端子カブラ8とからなる。
は、4つの端部8a,8b,8c,8dを有し、端部8
aは光ファイバ1cに光学的に接続され、8bはLD15に
光学的に接続されている。また、端部8dは光ファイバ
終端8hにより終端され、端部8cはPMTユニット1
6に光学的に接続されている。端部8a,8dから入っ
た光はそれぞれ分岐されて端部8b,8cに伝えられ、
逆にまた、端部8b,8cから入った光はそれぞれ分岐
されて、端部8a,8dに伝えられる構成になってい
る。
b、4端子カブラ8、端部8a、コネクタ11、光ファ
イバ1c、コネクタ11、光ファイバ1bを介してプロ
ーブ1へ伝送され、プローブ1内のスキャナ(後述)に
て観察対象を2次元(XY方向)に光走査する。
対象から反射する光信号は、光ファイバ1b、コネクタ
11、光ファイバ1c、コネクタ17、端部8a、4端
子カブラ8、端部8c、を介して、PMTユニット16
に伝送され、ここで、光信号が電気信号に光電変換され
る。 PMTユニット16で光電変換された電気信号
は、信号線16b、コネクタ18、信号線501a、お
よびコネクタ504を介してフィルタ装置501へ伝送
される。
する駆動電源21と、信号線21a、コネクタ19、信
号線16cを介して電気的に接続されている。
線9aを介してコネクタ13に接続されている。また、
制御回路9は信号線9bを介してコネクタ11に電気的
に接続されている。この制御回路9は、コネクタ13か
ら信号線9aを介して入力されるスキャナ駆動信号を取
り込み、これを増幅して、信号線9bを介してコネクタ
11に出力できるようになっている。
であり、コネクタ24,25,26,502を備えてい
る。コネクタ24にはモニタ5が信号線4dを介して電
気的に接続されている。
線4bおよびコネクタ13を介して制御装置2に電気的
に接続されいる。画像化装置4のコネクタ26には、信
号線4eを介して、スキャナを駆動する駆動波形の基準
となるクロックを発生させる外部クロック発生器7が電
気的に接続されている。
線4cおよびコネクタ503を介して光学ユニット3に
電気的に接続され、相互に伝達可能となっており、信号
線16eにより、PMTユニット16内のマルチブライ
アチューブの感度を制御する信号を画像化装置4から伝
送する。
2、信号線501b,コネクタ505を介してフィルタ
装置501と電気的に接続されており、フィルタ装置5
01から出力される信号が入力される。
と、信号線16b、コネクタ18、信号線501a、コ
ネクタ504を介して電気的に接続されて、PMTユニ
ット16内のマルチブライアチューブによって光電変換
された電気信号がフィルタ装置501に入力される。フ
ィルタ装置501において、特定の周波数成分の電気信
号のみを通過させて、コネクタ505、信号線501
b、コネクタ502を介して、画像化装置4へ出力され
る。
フィルタ回路506を有し、フィルタ回路506は高周
波帯域の周波数成分を通過させる高周波通過フィルタ
(以下、HPFと称す)507、低周波帯城の周波数成
分を通過させる低周波通過フィルタ(以下、LPFと称
す)508からなる。
プローブ1により得られる観察対象画像信号の他に、ス
キャナをはじめとする光学系により発生するノイズ信号
も存在する。このノイズ信号を低減するために、次のよ
うに信号処理を行う。なお、ノイズ信号の発生源につい
ての説明は後述する。
はHPF507に入力される。HPF507は抵抗R
1、コンデンサC1により構成され、PMTユニット16
からの電気信号のうち、図3に示すように高域通過カッ
トオフ周波数(電気信号の利得が−3dB=約半分にな
る周波数)fhcより低い周波数成分の信号を減衰させる
周波数特性となっている。なお、高域通過カットオフ周
波数fhcは、以下で算出される。
通過カットオフ周波数fhcは4Hz以下(例えば1H
z)になるように、またスキャナの低速側周波数が20
Hzの場合、高域通過カットオフ周波数fhcは20Hz
以下(例えば10Hz)になるように、各々抵抗R1、
コンデンサC1の値が決定される。
りなくゼロ(直流)に近づけると、図4に示すように、
後述のプローブ1を構成する光学系による直流成分ノイ
ズを含む電気信号(図4(a)参照)から、HPF50
7により直流成分ノイズを除去されて、観察対象からの
電気信号を多く含む交流成分の信号が抽出される(図4
(b)参照)。
R1、コンデンサC1のみで構成されているが、図5のよ
うに、抵抗RとコイルLで構成しても良い。ただし、こ
の時の高域通過カットオフ周波数fhcは、以下のように
なる。
次、あるいは図示しないがそれ以上の多段のフィルタと
しても良い。もちろん、図5の構成を2次、あるいはそ
れ以上の多段としても良い。もちろん、図示しないが抵
抗とコンデンサ、抵抗とコイルとの多段のフィルタとし
ても良い。
素子によりフィルタを構成する代わりに、図7のよう
に、オペアンプなどの能動素子を使ったアクティブフィ
ルタとしても良い。もちろん、抵抗とコンデンサの代わ
りに、図示しないが抵抗とコイルとしても良い。
図8のように2次、あるいは図示しないがそれ以上の多
段のフィルタとしても良い。もちろん、抵抗とコンデン
サの代わりに、図示しないが抵抗とコイルとしても良
い。
うに複数のオペアンプによる多次(図9の場合は5次)
のアクティブフィルタとしても良い。もちろん、図示し
ないが図2,5,6,7,8,9の組み合わせによって
考えられるフィルタ、あるいはその他の素子を含んだ構
成で同様の機能を有するフィルタであれば何でも良い。
それらの組み合わせによって構成されるフィルタにおい
て、抵抗、コンデンサ、コイル等の値を適切に設定し
て、利得を必要に応じて1あるいは1以外になるように
設定しても良い。
は、LPF508に入力される。 LPF508は、図
2に示すように、抵抗R2、コンデンサC2により構成さ
れ、HPF507からの電気信号のうち、図10に示す
ように、低域通過カットオフ周波数flcよりも高い周波
数成分を減衰させる周波数特性となっている。なお、低
域通過カットオフ周波数flcは、以下で算出される。
をX、プローブ1が有する光学的解像度をrとすると、
画像化装置4でA/D変換して画像化する際、スキャナ
の高速駆動側が1往復する間に必要な表示画素数は、少
なくとも2X/rとなる。なお、ここで2倍しているの
はスキャナの高速駆動側周波数fxの1周期の間に走査
される距離は、走査範囲Xを往復するので2倍となるた
めである。よって、画像化装置4でのA/D変換のサン
プリング周波数fsplは、スキャナの高速駆動側が1往
復する間に必要が表示画素数に、スキャナの高速駆動側
周波数fxを乗算すれば良いので、以下のようになる。
fspl/2 以下に低域通過カットオフ周波数を設定する
必要があるので、低域通過カットオフ周波数flcは、以
下のようになる。
m、高速駆動側周波数fxが500Hz、光学的解像度
が0.5μmの場合、式(5)より、低域通過カットオ
フ周波数flcが100kHz以下となるように、式
(2)の抵抗R2、コンデンサC2の値が決定される。
μm、高速駆動側周波数fxが3kHz、光学的解像度が
0.5μmの場合、式(4)より、低域通過カットオフ
周波数flcが600kHz以下となるように、式(2)
の抵抗R2、コンデンサC2の値が決定される。
速駆動側の駆動周波数の高調波による高周波成分のノイ
ズを除去することができる。
R2、コンデンサC2のみで構成されているが、図11の
ように、抵抗RとコイルLで構成しても良い。ただし、
この時の低域通過カットオフ周波数flcは、以下のよう
になる。
次、あるいは図示しないがそれ以上の多段のフィルタと
しても良い。もちろん、図11の構成を2次、あるいは
それ以上の多段としても良い。もちろん、図示しないが
抵抗とコンデンサ、抵抗とコイルとの多段のフィルタと
しても良い。
素子によりフィルタを構成する代わりに、図13のよう
に、オペアンプなどの能動素子を使ったアクティブフィ
ルタとしても良い。もちろん、抵抗とコンデンサの代わ
りに、図示しないが抵抗とコイルとしても良い。
を図14のように2次、あるいは図示しないがそれ以上
の多段のフィルタとしても良い。もちろん、抵抗とコン
デンサの代わりに、図示しないが抵抗とコイルとしても
良い。
5のように複数のオペアンプによる多次(図15の場合
は5次)のアクティブフィルタとしても良い。もちろ
ん、図示しないが図2,11,12,13,14,15
の組み合わせによって考えられるフィルタ、あるいはそ
の他の素子を含んだ構成で同様の機能を有するフィルタ
であれば何でも良い。
5あるいはそれらの組み合わせによって構成されるフィ
ルタにおいて、抵抗、コンデンサ、コイル等の値を適切
に設定して、必要に応じて利得を1あるいは1以外にな
るように設定しても良い。
図16ないし図19を参照して説明する。
うに、円柱状に構成されている。プローブ1の外側は、
チューブ224と、その内部に納められたコイルパイプ
225によって構成されている。また、コイルパイプ2
25の内部には、光ファイバ217と、電気ケーブル2
18とが通っている。先端部には、コイルパイプ止め2
26があり、コイルパイプ225の先端部が接着されて
いる。また、コイルパイプ止め226の内側は、図の網
掛け部のように絶縁物質244で満たされている。ま
た、コイルパイプ止め226にはガイドパイプ227が
接着されており、チュープ224は、図のように糸巻き
接着228によって、これらに固定されている。
法は後述する。スキャニングミラー232は、図のよう
にカバーガラス240、レンズ237を介して図の位置
に配置されており、配線233、基板234、フレキシ
ブル基板235、電気ケーブル218および信号線1a
を介して、制御装置2内の制御回路9と電気的に接続さ
れている。なお、電気ケーブル218からフレキシブル
基板255へ延びる導電性の電線は、図のように絶縁チ
ューブ236で覆われている。
ーガラス台231、間隔管230、光ファイバ217の
先端部を固定的に保持するフェルール229に固定され
ている。ただし、スキャニングミラー232と、光ファ
イバ217と一体的に研磨されテーパ形状をなすフェル
ール229の先端は、接触せず、わずかに隙間があいて
いる。
着固定されており、間隔管239を介してミラー台23
1に固定されている。さらに、レンズ枠238はガイド
パイプ227にも固定されている。さらに、レンズ枠2
38はガイドパイプ227にも固定されている。間隔管
239は、図16(b)に示すように、断面線A−Aに
示す断面構造となっている。
ー蒸着部245が設けられている。
てレンズ枠238に固定されており、さらに先端カバー
241は、ガイドパイプ227にも接着固定されてい
る。先端カバー241には、カバーガラス240が固定
されている。さらに、電気ケーブル218には、信号線
1aを介して制御装置2のGNDに接続されているGN
D線があり、このGND線と、プローブ1の先端部を構
成する導電性のコイルパイプ225、コイルパイプ止め
226、フレキシブル基板235、基板234、間隔管
230、間隔管239、レンズ枠238、先端カバー2
41、および間隔管242が、各々の接触部分で溶接さ
れており、これらすべてが電気的に導通している。ま
た、チューブ224と先端カバー241との隙間は、接
着剤243が充填されている。
すように、シリコン基板250にエッチングを行い、凹
部251を形成させている。また、裏面からもエッチン
グされて、凹部248、貫通穴247を形成している。
プレート252はシリコン基板上に接着され、基板上の
酸化物層によってシリコン基板250と絶縁されてい
る。さらに適切にマスクした後プレート252の上面に
窒化膜253を設け、これをミラー部249に必要な部
分を残してエッチングする。このときのミラー部249
を上面から見た図を図18に示す。図の網かけ部は窒化
膜を設けなかった部分である。
電層を形成し、電極254a,254b,254c,2
54dと、ミラー部249と、配線253a,253
b,253c,253dとを製作する。この電極254
a,254bはミラーの役割も兼ねる。ここで適切にエ
ッチングを行うことにより、窒化膜に覆われていない部
分を取り除く。このとき、ヒンジ部256,257の両
側からアンダーエッチされることにより、窒化膜部分の
みが残り、図19に示すように、この部分を軸にして中
心部255が回転できるようになる。上記電極254
a,254bに互いに位相が反転する正弦波を印加する
ことで、くぼみ部248に形成されるGND部とでキャ
パシタを形成し、ミラー部249がX方向に静電気力で
共振駆動する。また、中心部255の中心には中心穴2
46が設けられている。また、電極253a,253
b,253c,253dは、前述した電気ケーブル21
8、信号線1aを介して制御装置2のコネクタ11に接
続されている。
の動作を説明する。LD15からのレーザ光は、端部8
b、ファイバカプラ8、端部8a、コネクタ17、光フ
ァイバ1c、コネクタ11、光ファイバlbを介して光
ファイバ217のコアに供給される。この光ファイバ2
17のコアからの光は、シリコンミラー250の貫通穴
247、ミラー部249の中心穴246を通って、レン
ズ237へ向かう。この光は、レンズ237表面のミラ
ー蒸着部245によって反射され、広がりながらスキャ
ンニングミラー232のミラー部249へ向かい、これ
により反射される。続いて、この光は、レンズ237で
集光され、カバーガラス240を通って焦点を結ぶ。こ
の焦点からの反射光は入射光と同じ光路を逆方向に通
り、再び、光ファイバ217のコアで焦点を結び、これ
に入射される。このとき、焦点259以外からの反射光
は、入射光と同じ光路を通ることができず、光ファイバ
217のコアにほとんど入射できない。つまり、このコ
アが小さいピンホールの働きをし、共焦点顕微鏡と同等
の解像度を持つようになる。
について説明する。
レンズ237表面のミラー蒸着部245の光ファイバ2
17の出射端部への直接反射光は、スキャニングミラー
232により走査される観察対象の画像情報とは異な
り、ほぼ直流成分のノイズとして、PMTユニット16
まで伝達されて光電変換されることになる。
F507によって高周波帯域成分の信号のみを通過さ
せ、直流成分を除去し、図4(b)に示すように交流信
号へと変換する。これにより、ほぼ直流成分のノイズを
除去することができる。またLPF508によって、低
周波帯域成分の信号のみを通過させ、スキャナの駆動の
影響により発生する高調波などの高周波成分のノイズを
除去できる。
フィルタ装置が別々に構成されているが、これらを統合
して一体化した構成としても良い。また、画像化装置も
合わせて一体的に構成しても良い。また、フィルタ装
置、画像化装置、および光学ユニットのうちの少なくと
も2つを一体化した構成にしても良い。
置により、プローブ内のファイバ端部の散乱光や、レン
ズ表面のミラー蒸着部の直接反射光による直流成分ノイ
ズが除去されるので、ノイズが少なく、S/Nの良い、
鮮明な観察画像が得られる。
高速駆動側の共振周波数が3kHz程度と比較的高く、
単位時間当たりの画像数を多く取得することができる。
すなわち、低速駆動側の周波数も高く、高域通過フィル
タ回路のカットオフ周波数を高く設定することができ、
構成される回路素子の選定が容易となり、安価で構成で
きる。
形態に係わり、図20は共焦点光走査プローブ装置のプ
ローブの先端部の構成例を説明するために示す断面図、
図21は図20のプローブの先端部の構成例を説明する
ための要部斜視図である。
ほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の
構成には同じ符号をつけ説明は省略する。
段としての走査ユニット305と、先端カバーユニット
306と、光学枠307とを備えている。光学枠307
はプローブ1Aのアウターチューブ308の先端部に固
定されている。
定されたベース309を有している。ベース309は、
容易に動かないように、後述するレンズ枠314や合焦
手段としての対物レンズ315よりも重量が重く設定さ
れている。
部が固定されている。
着されている。薄板310には、厚み後方に分極された
圧電素子304が接着されている。圧電素子304に
は、圧電素子304を駆動するための電気ケーブル30
3が接続されている。この電気ケーブル303は、プロ
ーブ1Aの先端部300の内部を通つて、図1の信号線
1aと接続され、コネクタ11を介して制御装置2に接
続されている。
定されている。中間部材311には2枚の平行な薄板3
12a,312bが固定されている。薄板312a,3
12bには圧電素子313a,313bが接着されてい
る。
枠314が固定され、このレンズ枠314には対物レン
ズ315と光ファイバ302の先端部を固定的に保持す
るフェルール316が固定されている。なお、光ファイ
バ302は、フェルール316に固定された後、プロー
ブ1Aの先端部300がフェルール316と一体的に研
磨され、さらに反射防止膜が設けられる。また、圧電素
子313a,313bは、電気ケーブル303を介して
図1の信号線1aに接続され、コネクタ11を介して制
御回路15と接続されている。
314に接着固定されており、電気ケーブル303、信
号線1aを介して、制御装置2と電気的に接続されてい
る。変位センサ350は、スキャナのX方向の位置を、
モニタ5における表示画像の左端を基準とし、最も遠い
位置、すなわち表示画像の右端における位置のときに最
大となるような電圧を出力して、制御装置2内の制御回
路15へ伝送する。
ダ317と、カバーホルダ317に固定されたカバーガ
ラス318とからなり、カバーホルダ317は光学枠3
07の先端部に固定されている。
ブ1Aの先端部300は密開される。
光走査プローブ装置の動作について図1、図20、図2
1を参照して説明する。
端子カプラ8、端部8a、コネクタ17、光ファイバ1
c、コネクタ11、光ファイバ1bを介してプローブ1
Aの先端部300に伝送され、プローブ1Aの先端部3
00の先端面から対物レンズ315に向けて出射され
る。
ェルール316に固定されて一体的に研磨されていると
ともに、研磨された端面に反射防止膜が設けられている
ため、光ファイバ302の端面での反射光はきわめて小
さく抑えられる。
て制御装置2のグランドと接続したグランド線があり、
そのグランド線と、プローブ1Aの先端部300内の導
電部である光学枠307、ベース309、およびカバー
ホルダ317が、各々の接触部分で溶接されており、こ
れらすべてが電気的に導通している。
発せられた光は、対物レンズ315で集光され、カバー
ガラス318を透過して、観察対象物322の内部で焦
点323を結ぶ。
光と同じ光路を逆方向に通り、再び光ファイバ302の
コア321にほとんど入射できない。このコア321が
小さいピンホールの働きをなし、共焦点顕微鏡と同等の
解像度を持つようになる。この状態で制御装置2内の制
御回路9を動作させると制御回路9からの駆動信号は、
信号線9b、コネクタ11、信号線1a、電気ケーブル
303を介して、圧電素子304、圧電素子313a,
313bに伝送される。これにより、圧電素子304
と、圧電素子313a,313bは、電圧に応じて伸縮
する。すると、圧電素子304は薄板310に、圧電素
子313a,313bは薄板312a,312bにそれ
ぞれ張られているために、薄板310と、薄板312
a,312bを曲げるように動作する。
に位相が互いに反転した正弦波を加えると、レンズ枠3
14が振動する。これによって、対物レンズ315、光
ファイバ302の先端部とが移動して、レーザ光の焦点
323の位置がX方向(図20参照)にスキャンされ
る。この場合、このスキャナ系の共振周波数で駆動する
と、大きな変位が得られる。
を伸縮させると、レーザ光の焦点323の位置がX方向
と垂直なY方向にスキャンされる。この場合、Y方向の
振動の周波数をX方向のスキャン周波数よりも十分に遅
くすることによって、焦点323はラスタ走査される。
これに伴って、走査面324の各点の反射光が光ファイ
バ302によって伝送されることになる。
の形態に代えて使用することにより、共焦点光走査プロ
ーブ装置を得ることができる。
ズについて説明する。
で説明したプローブ1のミラー蒸着部245のように、
固定反射物が存在しないものの、光ファイバ302の出
射端部での散乱光が、再び光ファイバ302へと戻るこ
とによる、ほぼ直流成分のノイズが発生し、PMTユニ
ット16まで伝達されて光電変換される。
F507によって高周波帯域成分の信号のみを通過さ
せ、直流成分を除去し、図4(b)に示すように交流信
号へと変換する。これにより、ほぼ直流成分のノイズを
除去することができる。またLPF508によって、低
周波帯域成分の信号のみを通過させ、スキャナの駆動の
影響により発生する高調波などの高周波成分のノイズを
除去できる。
置により、プローブ内のファイバ端部の散乱光による直
流成分ノイズが除去されるので、ノイズが少なく、S/
Nの良い、鮮明な観察画像が得られる。
高速駆動側の共振周波数が500Hz程度と低いので、
低域通過フィルタ回路のカットオフ周波数を低く設定す
ることができ、構成される回路素子の選定が容易とな
り、安価で構成できる。
イズが少なく、S/Nの良い、鮮明な観察画像を得るこ
とができるという効果がある。
プローブ装置の構成を示すブロック図
面図
査プローブ装置のプローブの先端部の構成例を説明する
ために示す断面図
るための要部斜視図
ネクタ 15…LD 16…PMTユニット 501…フィルタ装置 502,503,504,505…コネクタ 506…フィルタ回路 507…HPF 508…LPF
Claims (19)
- 【請求項1】 一方の方向に駆動しなおかつそれと他方
の方向に駆動するスキャナを有するプローブと、前記ス
キャナを駆動する制御装置と、被検部に光を照射する光
源と、前記光源からの光をプローブ先端に導くための光
ファイバと、前記光ファイバからの光を被検部に合焦さ
せ、被検部からの光を前記光ファイバ端面に集光させる
合焦手段と、前記被検部からの戻り光の少なくとも一部
を光源からの光の光路から分離する分離手段と、前記分
離された光を検出する検出器と、前記検出器からの信号
をA/D変換して画像化する画像化装置と、画像を表示
するモニタとを有する共焦点光走査プローブ装置におい
て、 前記検出器からの信号のうち、少なくとも概直流信号成
分を除去するフィルタ装置を有することを特徴とする共
焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項2】 前記スキャナは、一方の方向に高速に駆
動し、なおかつそれと直交する方向に低速に駆動する2
次元スキャナであることを特徴とする請求項1に記載の
共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項3】 前記フィルタ装置は、前記検出器からの
電気信号のうちの高周波成分のみを通過する高城通過フ
ィルタ回路を有することを特徴とする請求項1に記載の
共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項4】 前記高域通過フィルタ回路は、高城通過
カットオフ周波数が、少なくとも前記スキャナの低速側
駆動周波数以下であることを特徴とする請求項3に記載
の共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項5】 前記フィルタ装置は、前記検出器からの
電気信号のうちの低周波成分のみを通過する低城通過フ
ィルタ回路を有することを特徴とする請求項1に記載の
共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項6】 前記低域通過フィルタ回路は、低城通過
カットオフ周波数が、少なくとも以下の式を満たすこと
を特徴とする請求項5に記載の共焦点光走査プローブ装
置。 flc≦(X×fx)/r flc:低城通過カットオフ周波数 X :前記スキャナの高速駆動側の走査範囲 fx :前記スキャナの高速駆動側の周波数 r :前記プローブの光学的分解能 - 【請求項7】 前記スキャナは、半導体プロセスにより
生成された2次元走査マイクロマシンミラーを有するこ
とを特徴とする請求項1に記載の共焦点光走査プローブ
装置。 - 【請求項8】 前記スキャナは、少なくとも2つ以上の
圧電素子により、前記プローブ先端部のレンズおよびフ
ァイバ端部を2次元に一体的に走査することを特徴とす
る請求項1に記載の共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項9】 前記高城通過フィルタ回路は、抵抗素子
およびコンデンサの組み合わせから構成されることを特
徴とする請求項3に記載の共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項10】 前記高域通過フィルタ回路は、抵抗素
子およびコイルの組み合わせから構成されることを特徴
とする請求項3に記載の共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項11】 前記高域通過フィルタ回路は、抵抗素
子とコンデンサと半導体増幅素子の組み合わせから構成
されることを特徴とする請求項3に記載の共焦点光走査
プローブ装置。 - 【請求項12】 前記高域通過フィルタ回路は、抵抗素
子とコイルと半導体増幅素子の組み合わせから構成され
ることを特徴とする請求項3に記載の共焦点光走査プロ
ーブ装置。 - 【請求項13】 前記高域通過フィルタ回路は、抵抗素
子とコンデンサとコイルと半導体増幅素子の組み合わせ
から構成されることを特徴とする請求項3に記載の共焦
点光走査プローブ装置。 - 【請求項14】 前記低域通過フィルタ回路は、抵抗素
子およびコンデンサの組み合わせから構成されることを
特徴とする請求項5に記載の共焦点光走査プローブ装
置。 - 【請求項15】 前記低域通過フィルタ回路は、抵抗素
子およびコイルの組み合わせから構成されることを特徴
とする請求項5に記載の共焦点光走査プローブ装置。 - 【請求項16】 前記低域通過フィルタ回路は、抵抗素
子とコンデンサと半導体増幅素子の組み合わせから構成
されることを特徴とする請求項5に記載の共焦点光走査
プローブ装置。 - 【請求項17】 前記低城通過フィルタ回路は、抵抗素
子とコイルと半導体増幅素子の組み合わせから構成され
ることを特徴とする請求項5に記載の共焦点光走査プロ
ーブ装置。 - 【請求項18】 前記低城通過フィルタ回路は、抵抗素
子とコンデンサとコイルと半導体増幅素子の組み合わせ
から構成されることを特徴とする請求項5に記載の共焦
点光走査プローブ装置。 - 【請求項19】 前記フィルタ装置は、前記検出器と前
記画像化装置の間、前記検出器内、前記画像化装置内、
あるいは前記検出器と前記画像化装置を一体化した装置
内のいずれかに配置されることを特徴とする請求項1に
記載の共焦点光走査プローブ装置。
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---|---|---|---|
JP2001076696A JP5006489B2 (ja) | 2001-03-16 | 2001-03-16 | 共焦点光走査プローブ装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002277743A true JP2002277743A (ja) | 2002-09-25 |
JP5006489B2 JP5006489B2 (ja) | 2012-08-22 |
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JP (1) | JP5006489B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7223232B2 (en) | 2003-01-21 | 2007-05-29 | Pentax Corporation | Endoscope probe system having confocal optical systems |
JP2009139484A (ja) * | 2007-12-04 | 2009-06-25 | Olympus Corp | 顕微鏡装置 |
JP2009258191A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Olympus Corp | 走査型レーザ顕微鏡 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000147384A (ja) * | 1998-11-17 | 2000-05-26 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
JP2000171718A (ja) * | 1998-12-01 | 2000-06-23 | Olympus Optical Co Ltd | 共焦点光走査装置 |
-
2001
- 2001-03-16 JP JP2001076696A patent/JP5006489B2/ja not_active Expired - Fee Related
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