JP2002267715A - キャリアラック - Google Patents

キャリアラック

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JP2002267715A
JP2002267715A JP2001066750A JP2001066750A JP2002267715A JP 2002267715 A JP2002267715 A JP 2002267715A JP 2001066750 A JP2001066750 A JP 2001066750A JP 2001066750 A JP2001066750 A JP 2001066750A JP 2002267715 A JP2002267715 A JP 2002267715A
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JP
Japan
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burn
board
rack
roller
rod
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JP2001066750A
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English (en)
Inventor
Tokuyuki Suzuki
徳之 鈴木
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Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】金属補強枠と収納棚との摩擦を低減し、金属粉
(削り屑)の発生を抑制すると共にバーンインボードの
挿抜を容易にすることを目的とする。 【解決手段】摺動状態で挿抜される被収納体を支持部材
上に保持するバーンインボードラック1A(キャリアラ
ック)は、収納棚の代替として複数の棒状ローラ4(支
持部材、回転支持部材)を備えている。この棒状ローラ
4は、バーンインボードラック1Aの両側間にさし渡す
ように設けられており、軸4aと当該軸4aに回転自在
に支持された回転筒4bとから構成されている。また、
この棒状ローラ4は、回転筒4bが非導電性材料で形
成、あるいは回転筒4bの表面に非導電性材料が被覆さ
れている。さらに、各端部は位置調整機構5を介してバ
ーンインボードラック1Aの各側面に固定されている。
被収納体は、棒状ローラ4上を順次移動して、挿抜され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、キャリアラックに
係わり、特に半導体集積回路の温度試験を行うバーンイ
ン装置に収納されるキャリアラックに関する。
【0002】
【従来の技術】ICやLSI等の半導体集積回路の製造
工程で行われるバーンイン試験は、例えば半導体集積回
路を高温環境下で動作させることにより、所望性能を満
足しないものを発見して、正常なもののみを選別するた
めのものである。このようなバーンイン試験では、バー
ンイン装置が用いられる。
【0003】上記バーンイン装置は、図3(a)に示す
ように複数(この図では例示的に4つ)のバーンインボ
ードラック1(キャリアラック)を収納するように構成
されている。このバーンインボードラック1は、図3
(b)に示すように複数の収納棚2が設けられており、
バーンインボード3が保持される。バーンインボード3
は、プリント基板であり、上面に半導体集積回路を装着
するためのICソケットが多数(例えば200個)備え
られると共に、一端部には、バーンインボード3に各半
導体集積回路を動作状態とする各種信号を供給するため
のエッジ・コネクタ3aが設けられている。
【0004】このようなバーンイン装置にバーンインボ
ード3を収納する場合、図3(b)に示すように、バー
ンインボード3をバーンインボードラック1の前方から
挿入して収納棚2上に載置し、そしてバーンインボード
3をさらに押し込むことによりエッジ・コネクタ3aを
バーンイン装置に接続させる。この際、バーンインボー
ド3は、図4に示すように収納棚2に対して前方つまり
略水平方向から挿入され、下面に備えられた金属補強枠
3bが収納棚2と摺動しつつさらに奥に移動される。こ
のようなバーンインボード3の収納作業は、専用装置に
よって自動的に行われる場合が多い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記バーン
インボード3の金属補強枠3bは、例えばアルミニュウ
ム製であり、一方のバーンインボードラック1の収納棚
2は、例えばステンレス製である。また、収納棚2の端
部には、図4に示すようにバーンインボード3が支障な
くバーンインボードラック1内に導入されるように下方
に多少屈曲した導入部2aが形成されている。したがっ
て、金属補強枠3bと収納棚2とが摺動すると、金属補
強枠3bが傷ついて削り屑としての金属粉(アルミ粉)
が発生する。そして、図5(a),(b)に示すよう
に、金属補強枠3bが傷ついて、その傷が導入部2aま
たは収納棚2を傷つけることで、金属粉の発生を助長さ
せる。この結果、金属補強枠3bと収納棚2との摩擦が
増加してバーンインボード3をバーンインボードラック
1内に正常に収納できない事態が発生したり、あるいは
金属粉がバーンインボード3上のICソケットに付着し
て半導体集積回路の動作に異常を来す事態が生じる。
【0006】本発明は、上述する問題点に鑑みてなされ
たもので、金属補強枠と収納棚との摩擦を低減し、金属
粉(削り屑)の発生を抑制すると共にバーンインボード
の挿抜を容易にすることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、第1の手段として、摺動状態で挿抜さ
れる被収納体を支持部材上に保持するキャリアラックに
おいて、支持部材を回転自在な回転支持部材によって構
成するという手段を採用する。
【0008】また、第2の手段として、上記第1の手段
において、回転支持部材を非導電性材料から形成すると
いう手段を採用する。
【0009】第3の手段として、上記第1の手段におい
て、回転支持部材の表面を非導電性材料で被覆するとい
う手段を採用する。
【0010】第4の手段として、上記第1〜第3いずれ
かの手段において、回転支持部材の位置を調整する位置
調整機構を備えるという手段を採用する。
【0011】第5の手段として、上記第1〜第4いずれ
かの手段において、回転支持部材をローラから構成する
という手段を採用する。
【0012】第6の手段として、上記第1〜第5いずれ
かの手段において、被収納体は半導体集積回路が複数搭
載され、当該半導体集積回路の温度試験のためにバーン
イン装置に収納されるバーンインボードであるという手
段を採用する。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
係わるの一実施形態について説明する。なお、以下の説
明では、既に説明した構成要素については、同一符号を
付して、その説明を省略する。
【0014】図1は、本実施形態におけるバーンインボ
ードラック1A(キャリアラック)の構成を示す斜視図
である。このバーンインボードラック1Aは、図1
(a)に示すように、上述した収納棚2の代替えとして
複数の棒状ローラ4(支持部材,回転支持部材)を備え
ている。この棒状ローラ4は、バーンインボードラック
1Aの両側間に指し渡すように設けられており、図1
(b)に示すように軸4aと当該軸4aに回転自在に支
持された回転筒4bとから構成されている。回転筒4b
は、軸4aとの間に多数のベアリングを配置することに
より軸4aに回転自在に支持されている。
【0015】また、この棒状ローラ4は、回転筒が非導
電性材料あるいは回転筒の表面に非導電性材料が被覆さ
れている。この非導電性材料は、例えば比較的摩擦抵抗
が小さいポリテトラフルオロエチレン(通称:テフロン
(登録商標))等の樹脂である。
【0016】さらに、棒状ローラ4の各端部は、図1
(b)に示すように位置調整機構5を介してバーンイン
ボードラック1Aの各側面に固定されている。この位置
調整機構5は、バーンインボードラック1Aの各側面に
設けられた上下方向の長穴5aと該長穴5aから外側に
突出する軸4aの各端部を固定するためのナット5bと
から構成されている。すなわち、軸4aの各端部にはタ
ップが切ってあり、当該各端部は、長穴5aに対する上
下方向の位置決めがなされた上でナット5bによって締
め付け固定されるようになっている。
【0017】上述したようにバーンインボード3の先端
部にはエッジ・コネクタ3aが形成されており、このエ
ッジ・コネクタ3aがバーンイン装置の嵌合コネクタに
挿入されることにより、バーンインボード3上の各半導
体集積回路がバーンイン装置と電気的に接続される。し
たがって、バーンインボード3を収納する場合、バーン
インボード3は、各棒状ローラ4上を順次移動して、最
終的にエッジ・コネクタ3aが嵌合コネクタに挿入され
るので、エッジ・コネクタ3aの位置を嵌合コネクタの
位置に符合させる必要がある。
【0018】この場合、エッジ・コネクタ3aと嵌合コ
ネクタとの上下方向の位置決めが特に重要であり、各棒
状ローラ4の各端部を上記位置調整機構5を介してバー
ンインボードラック1Aの各側面に固定することによ
り、各棒状ローラ4の上下方向の位置決めを容易に実現
することができる。
【0019】また、このような棒状ローラ4を有するバ
ーンインボードラック1Aによれば、棒状ローラ4の回
転(正確には回転筒の回転)によってバーンインボード
3の挿抜時における金属補強枠3bと回転筒との摩擦抵
抗が小さくなるので、当該金属補強枠3bが削れること
による金属粉(アルミ粉)の発生を十分に抑制すること
ができる。
【0020】次に、図2は、上記バーンインボードラッ
ク1Aの変形例を示す図である。上記棒状ローラ4はバ
ーンインボードラック1Aの両側間に指し渡すように設
けられているが、この変形例に係わるバーンインボード
ラック1Bでは、ローラ4Aは、図2(a)に示される
ように当該棒状ローラ4を短くした形状に形成されてお
り、またバーンインボードラック1Aの各々の側面に個
別に設けられている。
【0021】このローラ4Aは、図2(b)に示すよう
に、軸4Aaと該軸4Aaに回転自在に支持された回転筒
4Abとから構成されており、また位置調整機構5を介
してバーンインボードラック1Bの各側面に固定されて
いる。また、回転筒4Abは、ポリテトラフルオロエチ
レン等の樹脂製あるいはその表面にこのような樹脂が被
覆されたものである。このようなローラ4Aを有するバ
ーンインボードラック1Bによっても、上記上記バーン
インボードラック1Aと同様の効果を得ることができ
る。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
支持部材を回転自在な回転支持部材から構成するので、
被収納体を支持部材との摩擦が低減される。したがっ
て、被収納体を支持部材との摩擦による削り屑の発生を
抑制すると共に、バーンインボードの挿抜を容易にする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態の構成を示す斜視図であ
り、(a)は全体構成を示し、(b)は棒状ローラ4の
取付状態を示している。
【図2】 本発明の一実施形態の変形例を示す斜視図で
あり、(a)は全体構成を示し、(b)はローラ4Aの
取付状態を示している。
【図3】 従来のバーンイン装置の外観構成を示す正面
図(a)及びバーンインボードラックとバーンインボー
ドの構成を示す斜視図である。
【図4】 従来のバーンインボードラックとバーンイン
ボードとの接触状態を示す平面図である。
【図5】 従来のバーンインボードラックにおける金属
粉(削り屑)の付着状態を示す平面図である。
【符号の説明】
1,1A,1B……バーンインボードラック(キャリア
ラック) 2……収納棚 2a……導入部 3……バーンインボード 3a……エッジ・コネクタ 3b……金属補強枠 4……棒状ローラ 4a……軸 4b……回転筒 4A……ローラ 4Aa……軸 4Ab……回転筒 5……位置調整機構 5a……長穴 5b……ナット

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 摺動状態で挿抜される被収納体(3)
    を支持部材上に保持するキャリアラックであって、 前記支持部材が、回転自在な回転支持部材(4,4A)
    であることを特徴とするキャリアラック。
  2. 【請求項2】 回転支持部材(4,4A)は、非導電
    性材料から形成されることを特徴とする請求項1記載の
    キャリアラック。
  3. 【請求項3】 回転支持部材(4,4A)の表面に非
    導電性材料が被覆されることを特徴とする請求項1記載
    のキャリアラック。
  4. 【請求項4】 回転支持部材(4,4A)の位置を調
    整する位置調整機構を備えることを特徴とする請求項1
    〜3いずれかに記載のキャリアラック。
  5. 【請求項5】 回転支持部材(4,4A)はローラで
    あることを特徴とする請求項1〜4いずれかに記載のキ
    ャリアラック。
  6. 【請求項6】 被収納体は半導体集積回路が複数搭載
    され、当該半導体集積回路の温度試験のためにバーンイ
    ン装置に収納されるバーンインボードであることを特徴
    とする請求項1〜5いずれかに記載のキャリアラック。
JP2001066750A 2001-03-09 2001-03-09 キャリアラック Withdrawn JP2002267715A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009024459A (ja) * 2007-07-23 2009-02-05 Toyota Motor Corp 錠前

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Effective date: 20080513