JP2002266087A - Etchant for copper and method for manufacturing printed circuit board using the same - Google Patents

Etchant for copper and method for manufacturing printed circuit board using the same

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JP2002266087A
JP2002266087A JP2001063714A JP2001063714A JP2002266087A JP 2002266087 A JP2002266087 A JP 2002266087A JP 2001063714 A JP2001063714 A JP 2001063714A JP 2001063714 A JP2001063714 A JP 2001063714A JP 2002266087 A JP2002266087 A JP 2002266087A
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copper
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sulfuric acid
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直之 浦崎
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豊樹 伊藤
Shigeharu Ariga
茂晴 有家
Akishi Nakaso
昭士 中祖
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an etchant which is capable of suppressing the generation of root remaining of copper foil even in inner layer conductor circuits subjected to rust preventive treatment, such as chromate treatment, abating the shorting defect between the conductor circuits and providing printed circuit boards having excellent circuit formability, and a method for manufacturing the printed circuit boards using this etchant. SOLUTION: The etchant for copper which contains a sulfate exclusive of copper sulfate and/or a hydrogensulate, sulfuric acid and hydrogen peroxide and in which the molar ratio of the sulfate exclusive of the sulfric acid and copper sulfate and/or the hydrogensulfate is >=1 and more particularly the sulfate and the hydrogensulate are ions of a metal baser than sulfuric acid ions and hydrogen.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板に
関し、クロメート処理等の防錆処理がされた銅箔に好適
なエッチング液およびそれを用いたプリント配線板の製
造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board, and more particularly to an etching solution suitable for a copper foil which has been subjected to a rust-preventive treatment such as a chromate treatment, and a method for manufacturing a printed wiring board using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小型、軽量、高速化の
要求が高まり、プリント配線板の高密度化が進んでい
る。従来の、銅をエッチングして作製するプリント配線
板は、サイドエッチングの影響により配線の微細化には
限界があることから、基板の高密度化には限界があっ
た。そこで最近は、電気めっきを用いたセミアディティ
ブ法によるプリント配線板の製造方法が注目されてい
る。このセミアディティブ法は、導体層である5μm以
下の銅箔上にホトレジスト層を形成し、露光現像後、電
気めっき回路を形成し、レジストを除去した後、不要な
導体層をエッチング除去することで回路を形成して、プ
リント配線板を製造する方法である。
2. Description of the Related Art In recent years, demands for smaller, lighter, and faster electronic devices have been increasing, and the density of printed wiring boards has been increasing. Conventional printed wiring boards made by etching copper have a limit in miniaturization of wiring due to the influence of side etching, and thus have a limit in increasing the density of a substrate. Therefore, recently, a method of manufacturing a printed wiring board by a semi-additive method using electroplating has attracted attention. This semi-additive method forms a photoresist layer on a copper foil of 5 μm or less as a conductor layer, forms an electroplating circuit after exposure and development, removes the resist, and removes unnecessary conductor layers by etching. This is a method of manufacturing a printed wiring board by forming a circuit.

【0003】上記のセミアディティブ法により回路形成
を行う場合、回路が微細になってくると、給電層をエッ
チング除去する際に、導体回路間の銅残りが発生しやす
く、ショート不良の原因となる。
In the case of forming a circuit by the above-described semi-additive method, when the circuit becomes finer, when the power supply layer is removed by etching, copper residue between conductor circuits is likely to occur, which causes a short circuit failure. .

【0004】この銅残りは、塩化鉄、塩化銅を主成分と
するエッチング液において顕著に見られる。
[0004] This copper residue is remarkably observed in an etching solution containing iron chloride and copper chloride as main components.

【0005】また、エッチング時間を延ばすことでショ
ート不良の発生を減少させることができるが、この場合
には、導体回路が溶解する不具合が発生しやすくなる。
Further, the occurrence of short-circuit defects can be reduced by extending the etching time, but in this case, the problem that the conductor circuit is melted tends to occur.

【0006】一方、特開2000−286531号公報
には、硫酸と過酸化水素と銅イオンとを主成分とする化
学反応律速型のエッチング液を用いることで、回路形成
性を改善した発明が開示されている。
[0006] On the other hand, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-286531 discloses an invention in which a circuit-forming property is improved by using a chemical reaction-controlled etching solution containing sulfuric acid, hydrogen peroxide and copper ions as main components. Have been.

【0007】しかしながら、プリント配線板の製造工程
では、絶縁樹脂層の密着性を向上させるために、内層の
導体回路を粗化面にして、その上にクロメート処理等の
防錆処理を施すことが多い。この場合、前述の硫酸−過
酸化水素系のエッチング液では、クロム等の防錆処理用
の金属を溶解することが困難であるために、銅箔の根残
りが発生し、その後無電解ニッケル/金めっき処理を行
う場合に、樹脂上にニッケル/金めっきが析出してしま
うという不具合が発生しやすい。
However, in the process of manufacturing a printed wiring board, in order to improve the adhesion of the insulating resin layer, it is necessary to roughen the conductor circuit of the inner layer and to perform a rust prevention treatment such as a chromate treatment thereon. Many. In this case, it is difficult to dissolve a metal for rust prevention treatment such as chromium with the above-mentioned sulfuric acid-hydrogen peroxide-based etchant, so that the root of the copper foil is generated. When performing a gold plating process, a problem that nickel / gold plating is deposited on a resin is likely to occur.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、クロメート
処理等の防錆処理が施された内層導体回路においても、
銅箔の根残りの発生を抑え、それにより導体回路間のシ
ョート不良が少なく、回路形成性に優れたプリント配線
板を提供し得るエッチング液を提供すること、およびこ
のエッチング液を用いたプリント配線板の製造方法を提
供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to an inner conductor circuit which has been subjected to rust prevention treatment such as chromate treatment.
Provided is an etching solution that can suppress the generation of root residue of copper foil, thereby reducing short-circuit failure between conductor circuits and providing a printed wiring board excellent in circuit formability, and printed wiring using the etching solution. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a board.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の銅のエッチング
液は、硫酸銅を除く硫酸塩および/または硫酸水素塩
と、硫酸と、過酸化水素とを含み、硫酸と硫酸銅を除く
硫酸塩および/または硫酸水素塩とのモル比が1以上で
あることを特徴とする銅のエッチング液である。特に、
前記硫酸銅を除く硫酸塩および/または硫酸水素塩が、
硫酸イオンと水素よりも卑な金属のイオンである銅のエ
ッチング液である。また、前記硫酸銅を除く硫酸塩は、
硫酸アルカリ金属塩、硫酸アルカリ土類金属塩、硫酸
鉄、および硫酸亜鉛からなる群より選ばれるものが好ま
しく、前記硫酸水素塩は、硫酸水素アルカリ金属塩であ
ることが好ましい。
The copper etching solution of the present invention contains a sulfate and / or hydrogen sulfate except copper sulfate, sulfuric acid, and hydrogen peroxide, and contains a sulfate other than sulfuric acid and copper sulfate. And / or a molar ratio to hydrogensulfate of 1 or more. In particular,
The sulfate and / or hydrogen sulfate except for the copper sulfate,
This is an etching solution for copper, which is a metal ion that is lower than sulfuric acid and hydrogen. Further, the sulfate except for the copper sulfate,
Those selected from the group consisting of alkali metal sulfates, alkaline earth metal sulfates, iron sulfate, and zinc sulfate are preferable, and the hydrogen sulfate is preferably an alkali metal hydrogen sulfate.

【0010】本発明のプリント配線板の製造方法は、
(1)内層回路が形成された内層板の上下に銅箔付き樹
脂をラミネートする工程と、(2)前記銅箔付き樹脂に
インタースティシャルバイアホール(以下「IVH」と
いう)を設け、前記銅箔上および前記IVH内部にめっ
き層を形成する工程と、(3)前記めっき層上の回路形
成箇所を除いてレジストパターンを形成する工程と、
(4)前記回路形成箇所に電気めっきにより導体回路を
形成する工程と、(5)前記形成したレジストを剥離す
る工程と、(6)硫酸銅を除く硫酸塩および/または硫
酸水素塩と、硫酸と、過酸化水素とを含み、硫酸と硫酸
銅を除く硫酸塩および/または硫酸水素塩とのモル比が
1以上である銅のエッチング液を用いて、導体回路とな
るべき部分以外の銅をエッチング除去する工程と、を含
む方法である。
The method for manufacturing a printed wiring board of the present invention comprises:
(1) a step of laminating a resin with a copper foil on the upper and lower surfaces of an inner layer plate on which an inner circuit is formed; and (2) providing an interstitial via hole (hereinafter referred to as “IVH”) in the resin with a copper foil, A step of forming a plating layer on the foil and inside the IVH, and (3) a step of forming a resist pattern except for a circuit formation portion on the plating layer,
(4) a step of forming a conductor circuit by electroplating at the circuit formation location; (5) a step of removing the formed resist; (6) a sulfate and / or hydrogen sulfate except copper sulfate; And hydrogen peroxide, and using a copper etchant having a molar ratio of sulfate and / or hydrogen sulfate other than sulfuric acid and copper sulfate of at least 1 to remove copper other than the portion to become a conductor circuit. And removing by etching.

【0011】また、前記銅箔付き樹脂が、樹脂に接着す
る銅箔面がクロメート処理されている場合の製造方法、
および前記導体回路の最表面に、さらに、無電解のニッ
ケルめっき/金めっきを施す製造方法である。
[0011] Further, a method for producing the resin with copper foil, wherein the copper foil surface to be adhered to the resin is subjected to a chromate treatment,
And a method of further performing electroless nickel plating / gold plating on the outermost surface of the conductor circuit.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明におけるエッチング液は、
硫酸および過酸化水素を基本組成とする。硫酸と過酸化
水素を基本組成とするエッチング液は、塩化鉄、塩化銅
等を基本組成とするエッチング液とは異なり、難溶性で
ある一価の銅イオンができにくいために、化学反応が反
応律速となり、均一エッチング性が優れることで知られ
ている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The etching solution in the present invention is:
The basic composition is sulfuric acid and hydrogen peroxide. Unlike an etchant having a basic composition of sulfuric acid and hydrogen peroxide, an etchant having a basic composition of iron chloride, copper chloride, or the like, it is difficult to form monovalent copper ions, which are hardly soluble, so that a chemical reaction occurs. It is known that it is rate-determining and has excellent uniform etching properties.

【0013】本発明においては、この基本組成に硫酸イ
オンを加えることで、銅以外の金属、たとえばクロムの
溶解性を向上させることを基本思想とする。すなわち、
クロムは、王水や硝酸、硫酸などの強酸雰囲気下では、
6価に酸化され、H2CrO4の形態をとると考えられて
いる。H2CrO4が溶解するためには、プロトンを解離
する必要があるが、強酸雰囲気下、すなわち硫酸存在下
では、プロトンは解離できないので、難溶性となる。一
方、クロムは、硫酸存在下では、H2CrO4⇔HCrO
4 -+H+の平衡状態をとるので、この系に硫酸イオンを
加えると、硫酸イオンはプロトンアクセプターとなり、
クロムの溶解性が向上する。ここで硫酸イオンは、あく
までもプロトンアクセプターとなる必要があるので、対
イオンがCu++のような貴のイオンであると、そのイオ
ンはOH-イオンと錯体を形成し難いので、硫酸イオン
による効果が少ない。
The basic idea of the present invention is to improve the solubility of metals other than copper, for example, chromium, by adding sulfate ions to the basic composition. That is,
Chromium is produced in a strong acid atmosphere such as aqua regia, nitric acid, sulfuric acid, etc.
It is believed that it is hexavalently oxidized and takes the form of H 2 CrO 4 . In order to dissolve H 2 CrO 4 , it is necessary to dissociate protons. However, in a strong acid atmosphere, that is, in the presence of sulfuric acid, protons cannot be dissociated, resulting in poor solubility. On the other hand, chromium is H 2 CrO 4 ⇔HCrO in the presence of sulfuric acid.
4 - + H + of so balancing state, the addition of sulfate ions to the system, the ion becomes proton acceptor sulfate,
The solubility of chromium is improved. Here sulfate ions, it is necessary to merely a proton acceptor, the counterion is a noble ions such as Cu ++, the ions OH - Since it is difficult to form an ion complex with by sulfate ions Less effective.

【0014】硫酸イオンは、硫酸銅を除く硫酸塩とし
て、加えることができる。たとえば、硫酸カルシウム、
硫酸リチウム、硫酸カリウム、硫酸鉄、硫酸ナトリウ
ム、硫酸マグネシウム、硫酸亜鉛、または硫酸ベリウム
である。硫酸銅は、上記したように、硫酸イオンによる
効果が少なく、クロムを溶解することができないので、
本発明では使用することができない。硫酸イオンは、上
記した硫酸塩の代わって、またはそれと併用して、硫酸
水素塩を加えることができる。硫酸濃度は5〜300g/
L、硫酸塩および/または硫酸水素塩の濃度は1〜30
0g/L、過酸化水素は5〜200g/Lに調節するのが好適
である。硫酸塩および/または硫酸水素塩の濃度が高い
と均一エッチング性が悪くなる。したがって、硫酸濃度
は、モル濃度として硫酸塩および/または硫酸水素塩の
濃度より、高濃度であることが好ましい。
The sulfate ion can be added as a sulfate salt excluding copper sulfate. For example, calcium sulfate,
It is lithium sulfate, potassium sulfate, iron sulfate, sodium sulfate, magnesium sulfate, zinc sulfate, or beryllium sulfate. As described above, copper sulfate has little effect of sulfate ions and cannot dissolve chromium,
It cannot be used in the present invention. Sulfate ions can add hydrogen sulfate instead of or in combination with the above-mentioned sulfate. Sulfuric acid concentration is 5-300g /
The concentration of L, sulfate and / or hydrogen sulfate is from 1 to 30
It is preferable to adjust 0 g / L and hydrogen peroxide to 5-200 g / L. If the concentration of sulfate and / or hydrogen sulfate is high, the uniform etching property deteriorates. Therefore, it is preferable that the sulfuric acid concentration is higher than the concentration of sulfate and / or hydrogen sulfate as a molar concentration.

【0015】このエッチング液は、銅箔にクロム、ニッ
ケル、亜鉛等の異種金属層が形成されていてもエッチン
グ性が損なわれることがなく、回路形成性が良好であ
る。なお、エッチング液に、助剤として公知の過酸化水
素の安定剤を加えることもできる。過酸化水素の安定剤
としては、アルカンスルホン酸群、アルカノールスルホ
ン酸群、ヒドロキシ酸群から選ばれた少なくとも1種の
酸もしくはその塩類等が挙げられる。
This etchant has good circuit formability without impairing the etchability even when a dissimilar metal layer such as chromium, nickel and zinc is formed on the copper foil. Note that a known hydrogen peroxide stabilizer can also be added as an auxiliary agent to the etching solution. Examples of the hydrogen peroxide stabilizer include at least one acid selected from an alkanesulfonic acid group, an alkanolsulfonic acid group, and a hydroxy acid group, and salts thereof.

【0016】本発明によるエッチング液の実施の形態
を、図1を用いて説明する。まず、図1(a)に示すよ
うに、絶縁基板2の表面に、内層導体回路1を形成した
配線基板を作製する。この絶縁基板への導体回路の形成
は、銅張積層板をエッチングして行なうサブトラクティ
ブ法か、またはガラスエポキシ基板やポリイミド基板、
セラミック基板などの絶縁基板の表面に無電解めっき用
の接着剤層を形成し、この接着剤層の表面を粗化し、銅
めっきにより回路を形成するアディティブ法がある。図
1(a)は両面板の例を示したが、この絶縁基板は多層
板であってもよい。
An embodiment of the etching solution according to the present invention will be described with reference to FIG. First, as shown in FIG. 1A, a wiring substrate having an inner conductor circuit 1 formed on a surface of an insulating substrate 2 is manufactured. The formation of the conductor circuit on the insulating substrate is performed by a subtractive method performed by etching a copper-clad laminate, or a glass epoxy substrate or a polyimide substrate,
There is an additive method in which an adhesive layer for electroless plating is formed on the surface of an insulating substrate such as a ceramic substrate, the surface of the adhesive layer is roughened, and a circuit is formed by copper plating. FIG. 1 (a) shows an example of a double-sided board, but this insulating substrate may be a multilayer board.

【0017】次に、絶縁基板1上の表面の内層導体回路
2を粗化面とし、この導体回路2の上に形成される絶縁
樹脂層4との密着性を向上させる。具体的には、内層導
体回路2の上に針状の無電解めっきを形成する方法、内
層導体回路2を酸化(黒化)−還元処理する方法、内層
導体回路2をエッチングする方法等がある。
Next, the inner conductor circuit 2 on the surface of the insulating substrate 1 is roughened to improve the adhesion to the insulating resin layer 4 formed on the conductor circuit 2. Specifically, there are a method of forming a needle-like electroless plating on the inner conductor circuit 2, a method of oxidizing (blackening) and reducing the inner conductor circuit 2, a method of etching the inner conductor circuit 2, and the like. .

【0018】次に、前記図1(a)で作製した配線基板
の上に、図1(b)に示すように、銅箔3付き絶縁樹脂を
ラミネートとする。絶縁樹脂としては、エポキシ系樹脂
やポリイミド系樹脂を主成分として含むものであり、他
にもアクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ベンゾシクロブテ
ン樹脂、フッ素樹脂、シアネートエステル樹脂、PPE
樹脂等や、その含有物であってもよい。樹脂絶縁層の厚
みは、10〜100μmが好ましく、20〜60μmがよ
り好ましい。また、銅箔の厚みは、1〜5μmが好適であ
る。銅箔の粗化面には、クロメート処理等の密着性を向
上させるための防錆処理が施されていてもよい。
Next, as shown in FIG. 1B, an insulating resin with a copper foil 3 is laminated on the wiring board prepared in FIG. 1A. The insulating resin contains an epoxy resin or a polyimide resin as a main component. In addition, an acrylic resin, a polyimide resin, a benzocyclobutene resin, a fluorine resin, a cyanate ester resin, PPE
It may be a resin or the like or a content thereof. The thickness of the resin insulating layer is preferably from 10 to 100 μm, more preferably from 20 to 60 μm. Further, the thickness of the copper foil is preferably from 1 to 5 μm. The roughened surface of the copper foil may be subjected to a rust prevention treatment such as a chromate treatment for improving adhesion.

【0019】次いで、図1(c)に示すように、銅箔3
の上から樹脂絶縁層4にIVH5を形成する。IVH5
を形成する方法としては、レーザを用いるのが好適であ
る。ここで用いることができるレーザとしては、C
2、エキシマ等の気体レーザやYAG等の固体レーザ
がある。容易に大出力を得られることから、CO2レー
ザがφ50μm以上のIVHの加工に適している。φ5
0μm以下の微細なIVHを加工する場合は、より短波
長で集光性のよいYAGレーザが適している。
Next, as shown in FIG.
IVH5 is formed on the resin insulating layer 4 from above. IVH5
It is preferable to use a laser as a method of forming the. The laser that can be used here is C
There are gas lasers such as O 2 and excimer and solid state lasers such as YAG. Since a large output can be easily obtained, a CO 2 laser is suitable for processing an IVH having a diameter of 50 μm or more. φ5
In the case of processing a fine IVH of 0 μm or less, a YAG laser having a shorter wavelength and a good condensing property is suitable.

【0020】次いで過マンガン酸塩、クロム酸塩、また
はクロム酸のような酸化剤を用いて、IVH内部の樹脂
残さの除去を行う。
Next, the resin residue inside the IVH is removed using an oxidizing agent such as permanganate, chromate or chromate.

【0021】次いで、銅箔上およびIVH内部にめっき
触媒核を付与する。めっき触媒核の付与には、貴金属や
パラジウムのコロイドを使用することが好ましい。特に
パラジウムコロイドを使用するのが安価であり、より好
ましい。
Next, plating catalyst nuclei are provided on the copper foil and inside the IVH. It is preferable to use a colloid of a noble metal or palladium for providing the plating catalyst nucleus. In particular, the use of palladium colloid is more inexpensive and more preferable.

【0022】次に、図1(d)に示すように、めっき触
媒核を付与した銅箔3上およびIVH5内部に、薄付け
の無電解めっき層6を形成する。この無電解めっきに
は、ホルマリン、硫酸銅、水酸化ナトリウムおよびED
TAを主成分とするCUST2000(日立化成工業株
式会社製、商品名)、またはホルマリン、硫酸銅、水酸
化ナトリウムおよびロッシェル塩を主成分とするCUS
T201(日立化成工業株式会社製、商品名)等の市販
の無電解銅めっきが使用できる。めっきの厚さは、次の
電気めっきが行なえる厚さであればよく、0.3〜1μ
m程度で十分である。
Next, as shown in FIG. 1D, a thin electroless plating layer 6 is formed on the copper foil 3 provided with the plating catalyst nuclei and inside the IVH 5. This electroless plating includes formalin, copper sulfate, sodium hydroxide and ED
CUST2000 containing TA as a main component (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) or CUS containing formalin, copper sulfate, sodium hydroxide and Rochelle salt as main components
Commercially available electroless copper plating such as T201 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) can be used. The thickness of the plating may be any thickness as long as the next electroplating can be performed, and is 0.3 to 1 μm.
About m is enough.

【0023】次に、図1(e)に示すように、無電解め
っきを行った上にレジスト7を形成する。レジストの厚
さは、その後にめっきする導体の厚さと同程度か、より
厚い膜厚にするのが好適である。レジストに使用できる
樹脂としては、PMER P−LA900PM(東京応
化株式会社製、商品名)のような液状レジストや、HW
−425(日立化成工業株式会社、商品名)、RY−3
025(日立化成工業株式会社、商品名)等のドライフ
ィルムがある。バイアホール上と、導体回路となるべき
個所は、レジストを形成しない。
Next, as shown in FIG. 1E, a resist 7 is formed after performing electroless plating. The thickness of the resist is preferably equal to or greater than the thickness of the conductor to be subsequently plated. Examples of the resin usable for the resist include liquid resists such as PMER P-LA900PM (trade name, manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) and HW
-425 (Hitachi Chemical Industries, Ltd., trade name), RY-3
025 (Hitachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name). No resist is formed on the via hole and on the portion that is to be a conductor circuit.

【0024】次に、図1(f)に示すように、電気めっ
き8により回路パターンを形成する。電気めっきには、
通常プリント配線板で使用される硫酸銅電気めっきやピ
ロリン酸電気めっきが使用できる。めっき厚さは、回路
導体として使用することができる厚さであればよい。1
〜100μmの範囲であることが好ましく、5〜50μm
の範囲であることがより好ましい。
Next, as shown in FIG. 1 (f), a circuit pattern is formed by electroplating 8. For electroplating,
Copper sulfate electroplating and pyrophosphate electroplating, which are usually used for printed wiring boards, can be used. The plating thickness may be any thickness as long as it can be used as a circuit conductor. 1
100100 μm, preferably 5-50 μm
More preferably, it is within the range.

【0025】次に、アルカリ性剥離液、硫酸または市販
のレジスト剥離液を用いて、レジストの剥離を行う。
Next, the resist is stripped using an alkaline stripping solution, sulfuric acid or a commercially available resist stripping solution.

【0026】次に、図1(g)に示すように、導体パタ
ーン部以外の銅を本発明によるエッチング液を用いて除
去して、回路形成が終了する。さらに、図1(h)に示
すように、回路上に無電解のニッケルめっき/金めっき
9を行うこともできる。
Next, as shown in FIG. 1 (g), the copper other than the conductor pattern portion is removed using the etching solution according to the present invention, and the circuit formation is completed. Further, as shown in FIG. 1H, electroless nickel plating / gold plating 9 can be performed on the circuit.

【0027】[0027]

【実施例】実施例1 図1(a)に示すように、絶縁基板に厚さ18μmの銅
箔を両面に貼り合わせた、厚さ0.2mmのガラス布基材
エポキシ銅張積層板(日立化成工業株式会社製、商品
名:MCL−E−679)を用い、その不要な箇所の銅
箔をエッチング除去し、スルーホールを形成して、内層
導体回路1を形成し、内層回路板を作製した。
EXAMPLE 1 As shown in FIG. 1 (a), a glass cloth-based epoxy copper-clad laminate (Hitachi, Ltd.) having a thickness of 0.2 mm in which an 18 μm-thick copper foil was bonded to both sides of an insulating substrate. Using a product name: MCL-E-679 manufactured by Kasei Kogyo Co., Ltd.), the unnecessary portion of the copper foil is removed by etching, a through hole is formed, an inner conductor circuit 1 is formed, and an inner circuit board is produced. did.

【0028】その内層回路板の内層導体回路1の銅箔表
面を、MEC etch BONDCZ−8100(メッ
ク株式会社製、商品名)を用い、液温35℃、スプレー
圧0.15MPaの条件で、スプレー噴霧処理し、銅表面
を粗化処理し、粗さ3μm程度の凹凸を作り、次いで、
MEC etch BOND CL−8300(メック株
式会社製、商品名)を用いて、液温25℃、浸漬時間2
0秒間の条件で浸漬して、粗化した銅箔表面に防錆処理
を行なった。
The surface of the copper foil of the inner conductor circuit 1 of the inner circuit board was sprayed on the surface of the copper foil using MEC etch BODCZ-8100 (trade name, manufactured by MEC Corporation) at a liquid temperature of 35 ° C. and a spray pressure of 0.15 MPa. Spraying, roughening the copper surface to make irregularities with a roughness of about 3 μm,
Using MEC etch BOND CL-8300 (manufactured by MEC Corporation, trade name), liquid temperature 25 ° C., immersion time 2
The surface of the roughened copper foil was immersed in a condition of 0 second to perform a rustproofing treatment.

【0029】次いで、図1(b)に示すように、内層回
路板の両面に、銅箔3付き絶縁接着剤(日立化成工業株
式会社製、商品名:MCF−7000LX、銅箔は三井
金属鉱業株式会社製、商品名:三井マイクロシン、厚さ
3μmを使用)を、170℃、3MPaの条件で60分加熱
加圧して、厚さ40μmの絶縁層4を形成した。
Next, as shown in FIG. 1B, an insulating adhesive with copper foil 3 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name: MCF-7000LX, copper foil is Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) (Manufactured by Mitsui Microsyn Co., Ltd., thickness: 3 μm) was heated and pressed at 170 ° C. and 3 MPa for 60 minutes to form an insulation layer 4 having a thickness of 40 μm.

【0030】次いで、図1(c)に示すように、銅箔3
上から炭酸ガスインパクトレーザ穴あけ機(住友重機械
工業株式会社製、商品名:L−500)を用いて、直径
80μmの非貫通穴(IVH)5を設け、そして過マン
ガン酸カリウム65g/Lと水酸化ナトリウム40g/Lの混
合水溶液に、液温70℃で20分間浸漬し、スミアの除
去を行なった。その後、パラジウムコロイド溶液(日立
化成工業株式会社製、商品名:HS−202B)に、2
5℃で15分間浸漬し、めっき触媒を付与した後、無電
解銅めっきを行ない、図1(d)に示すように厚さ0.
3μmの無電解銅めっき層6を形成した。なお、無電解
銅めっきは、上記した日立化成工業株式会社製、商品
名:CUST−201を使用し、液温25℃、30分の
条件で行なった。
Next, as shown in FIG.
A non-through hole (IVH) 5 having a diameter of 80 μm was provided from above using a carbon dioxide impact laser drilling machine (trade name: L-500, manufactured by Sumitomo Heavy Industries, Ltd.), and 65 g / L of potassium permanganate. It was immersed in a mixed aqueous solution of 40 g / L of sodium hydroxide at a liquid temperature of 70 ° C. for 20 minutes to remove smear. Then, a palladium colloid solution (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name: HS-202B) was added to the palladium colloid solution.
After immersion at 5 ° C. for 15 minutes to apply a plating catalyst, electroless copper plating was performed, and a thickness of 0.1 mm as shown in FIG.
An electroless copper plating layer 6 of 3 μm was formed. The electroless copper plating was performed under the conditions of a liquid temperature of 25 ° C. and 30 minutes using CUST-201 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.).

【0031】次いで、図1(e)に示すように、レジス
トを無電解めっき層6の表面にラミネートし、電解銅め
っきを行なう箇所をマスクしたホトマスクを介して紫外
線を露光し、現像してめっきレジスト7を形成した。な
お、レジストは、ドライフィルムホトレジストである日
立化成工業株式会社製、商品名:RY−3025を使用
した。
Next, as shown in FIG. 1E, a resist is laminated on the surface of the electroless plating layer 6, and is exposed to ultraviolet rays through a photomask masking a portion to be subjected to electrolytic copper plating, developed and plated. A resist 7 was formed. The resist used was RY-3025 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) which is a dry film photoresist.

【0032】次いで、図1(f)に示すように、硫酸銅
浴を用いて、液温25℃、電流密度1.0A/dm2の条件
で、電解銅めっきを行ない、厚さ20μmの電解銅めっ
き層8を形成した。このとき、回路導体幅/回路導体間
隔(L/S)は、35/25μmとなるようにした。
Next, as shown in FIG. 1 (f), electrolytic copper plating was performed using a copper sulfate bath under the conditions of a liquid temperature of 25 ° C. and a current density of 1.0 A / dm 2 to obtain a 20 μm thick electrolytic copper plating. A copper plating layer 8 was formed. At this time, the ratio of circuit conductor width / circuit conductor interval (L / S) was 35/25 μm.

【0033】次に、図1(g)に示すように、レジスト
剥離液に浸漬してドライフィルムの除去を行った。レジ
スト剥離液は、ニチゴー・モートン株式会社製の商品
名:HTOを使用した。その後、表1の実施例1に示す
組成のエッチング液を用いて、導体パターン部以外の銅
をエッチング除去した。エッチング時は、基板を片面1
dm2の小片に切断した後、1リットルビーカーに入れ、
40℃まで加温した後、マグネティックスターラでエッ
チング液を攪拌しながらエッチングを行った。
Next, as shown in FIG. 1 (g), the dry film was removed by dipping in a resist stripper. As the resist stripping solution, HTO manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd. was used. Thereafter, using an etching solution having the composition shown in Example 1 of Table 1, copper other than the conductor pattern portion was removed by etching. When etching, put the substrate on one side
After cutting into small pieces of dm 2, placed in a 1-liter beaker,
After heating to 40 ° C., etching was performed while stirring the etching solution with a magnetic stirrer.

【0034】最後に、図1(h)に示すように、導体回
路8上に無電解ニッケルめっき/無電解金めっき層9を
形成し、プリント配線板を作製した。無電解めっきの条
件を表2に示す。
Finally, as shown in FIG. 1 (h), an electroless nickel plating / electroless gold plating layer 9 was formed on the conductor circuit 8 to produce a printed wiring board. Table 2 shows the conditions of the electroless plating.

【0035】[0035]

【表1】 [Table 1]

【0036】[0036]

【表2】 [Table 2]

【0037】実施例2〜10 表1の実施例2〜10に示すエッチング液を用いた以外
は、実施例1と同様ににしてプリント配線板を作製し
た。
Examples 2 to 10 A printed wiring board was produced in the same manner as in Example 1 except that the etching solutions shown in Examples 2 to 10 in Table 1 were used.

【0038】比較例1〜3 表1の比較例1〜3に示すエッチング液を用いた以外
は、実施例1と同様にしてプリント配線板を作製した。
Comparative Examples 1 to 3 Printed wiring boards were prepared in the same manner as in Example 1 except that the etching solutions shown in Comparative Examples 1 to 3 in Table 1 were used.

【0039】こうして作製した実施例1〜10および比
較例1〜3について、プリント配線板の回路間エッチン
グ残り、回路間ニッケルめっき/金めっき析出および配
線ばらつきσを評価した。結果を、エッチング液のエッ
チング速度、エッチング時間と併せて表3に示す。
With respect to Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 3 thus produced, the residual etching between circuits of the printed wiring board, nickel plating / gold plating deposition between circuits, and wiring variation σ were evaluated. Table 3 shows the results together with the etching rate and the etching time of the etching solution.

【0040】なお、回路間エッチング残りおよび回路間
ニッケルめっき/金めっき析出は、図2に示したよう
に、回路から裾をひくような形状で発生する。そこで、
回路導体の上面の間隔(St)と底面の間隔(Sb)の
差をとり、この差の1/2を裾の幅とし、裾の幅が5μ
m以上ある場合を、回路間エッチング残りおよび回路間
ニッケルめっき/金めっき析出ありとした。また、配線
ばらつきσは、上面の回路導体幅(L)35μmを任意
に20点測定した。ここで、上面の回路導体幅(L)お
よび回路導体の上面の間隔(St)と底面の間隔(S
b)について、任意に20点を選び、光学顕微鏡を用い
て、基板上部から写真撮影を行ない、画像処理を行っ
た。
As shown in FIG. 2, the etching residue between the circuits and the nickel plating / gold plating deposition between the circuits occur in such a manner that the bottom of the circuit is cut off. Therefore,
The difference between the interval (St) between the top surface of the circuit conductor and the interval (Sb) between the bottom surface is taken, and 1/2 of this difference is defined as the width of the hem, and the width of the hem is 5 μm.
In the case where the distance was not less than m, it was determined that the etching residue between the circuits and the nickel plating / gold plating deposition between the circuits were present. The wiring variation σ was arbitrarily measured at 20 points of the circuit conductor width (L) 35 μm on the upper surface. Here, the circuit conductor width (L) on the upper surface, the interval (St) between the upper surface of the circuit conductor and the interval (S
Regarding b), 20 points were arbitrarily selected, a photograph was taken from above the substrate using an optical microscope, and image processing was performed.

【0041】[0041]

【表3】 [Table 3]

【0042】実施例1〜10で作製したプリント配線板
は、回路間エッチング残りとAuめっき析出がなく、配
線ばらつきも少なく回路形成性が良好であった。一方、
比較例1で作製したプリント配線板は、硫酸/硫酸塩の
モル比が1未満であり、エッチング液は均一エッチング
性に乏しいために、配線ばらつきが大きかった。また比
較例2〜3で作製したプリント配線板は、本発明の硫酸
塩を含有しない、あるいは硫酸銅を含有したエッチング
液であり、クロメート処理したクロムの影響で、回路間
のエッチング残りとAuめっき析出が発生した。
The printed wiring boards prepared in Examples 1 to 10 had no etching residue between circuits and no Au plating deposition, had little wiring variation, and had good circuit formability. on the other hand,
The printed wiring board produced in Comparative Example 1 had a sulfuric acid / sulfate molar ratio of less than 1, and the etching solution was poor in uniform etching properties, so wiring variation was large. The printed wiring boards prepared in Comparative Examples 2 and 3 are etching solutions containing no sulfate or copper sulfate according to the present invention, and the etching residue between circuits and Au plating are affected by the effect of chromate-treated chromium. Precipitation occurred.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上に示したように、本発明によるエッ
チング液を用いることで、スミア処理で使用したクロム
の影響を除去でき、その結果、導体回路間のショート不
良が少なく、回路形成性のよいプリント配線板を作製す
ることができる。
As described above, by using the etching solution according to the present invention, the influence of chromium used in the smear treatment can be removed, and as a result, short-circuit defects between conductor circuits are reduced, and circuit formability is reduced. A good printed wiring board can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るプリント配線板の製造方法の一実
施の形態を説明する断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating one embodiment of a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention.

【図2】回路導体幅(L)および回路導体間隔(S)を
説明する断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a circuit conductor width (L) and a circuit conductor interval (S).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 絶縁基板 2 内層導体回路 3 絶縁樹脂層 4 銅箔 5 IVH 6 無電解銅めっき層 7 レジスト 8 電気めっき層 9 無電解ニッケルめっき/金めっき層 REFERENCE SIGNS LIST 1 insulating substrate 2 inner layer conductor circuit 3 insulating resin layer 4 copper foil 5 IVH 6 electroless copper plating layer 7 resist 8 electroplating layer 9 electroless nickel plating / gold plating layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 豊樹 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社総合研究所内 (72)発明者 有家 茂晴 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社総合研究所内 (72)発明者 中祖 昭士 茨城県下館市大字小川1500番地 日立化成 工業株式会社総合研究所内 Fターム(参考) 4K057 WA10 WB04 WE03 WE25 WG01 WN01 5E339 AC01 BC02 BE17 DD03 5E343 AA07 AA15 AA16 AA17 AA18 AA19 BB23 BB24 BB44 BB67 CC34 CC46 CC50 CC73 DD76 EE54 ER16 ER18 GG13 5E346 AA43 CC08 CC09 CC10 CC14 CC32 CC37 CC38 CC54 CC58 DD12 DD24 EE33 FF07 FF14 GG15 HH07  ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor: Toyoki Ito 1500, Oji Ogawa, Shimodate City, Ibaraki Prefecture Inside Hitachi Chemical Co., Ltd. (72) Inventor Shoji Nakaso 1500 Ogawa, Shimodate, Ibaraki Pref.Hitachi Kasei Kogyo Co., Ltd.F-term (reference) 4K057 WA10 WB04 WE03 WE25 WG01 WN01 5E339 AC01 BC02 BE17 DD03 5E343 AA07 AA15 AA16 AA17 AA18 AA19 BB23 BB24 BB44 BB67 CC34 CC46 CC50 CC73 DD76 EE54 ER16 ER18 GG13 5E346 AA43 CC08 CC09 CC10 CC14 CC32 CC37 CC38 CC54 CC58 DD12 DD24 EE33 FF07 FF14 GG15 HH07

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 硫酸銅を除く硫酸塩および/または硫酸
水素塩と、硫酸と、過酸化水素とを含み、硫酸と硫酸銅
を除く硫酸塩および/または硫酸水素塩とのモル比が1
以上であることを特徴とする銅のエッチング液。
1. A sulfate and / or hydrogen sulfate salt excluding copper sulfate, sulfuric acid, and hydrogen peroxide, wherein the molar ratio of sulfuric acid to sulfate and / or hydrogen sulfate salt other than copper sulfate is 1
A copper etching solution characterized by the above.
【請求項2】 前記硫酸銅を除く硫酸塩および/または
硫酸水素塩が、硫酸イオンと水素よりも卑な金属のイオ
ンの塩である、請求項1記載の銅のエッチング液。
2. The copper etching solution according to claim 1, wherein the sulfate and / or hydrogen sulfate other than copper sulfate is a salt of sulfate ions and ions of a metal that is lower than hydrogen.
【請求項3】 前記硫酸銅を除く硫酸塩が、硫酸アルカ
リ金属塩、硫酸アルカリ土類金属塩、硫酸鉄、および硫
酸亜鉛からなる群から選ばれる硫酸塩である、請求項1
または2記載の銅のエッチング液。
3. The sulfate other than the copper sulfate is a sulfate selected from the group consisting of alkali metal sulfates, alkaline earth metal sulfates, iron sulfate, and zinc sulfate.
Or a copper etching solution according to 2.
【請求項4】 前記硫酸銅を除く硫酸水素塩が、硫酸水
素アルカリ金属塩である、請求項1または2記載の銅の
エッチング液。
4. The copper etching solution according to claim 1, wherein the hydrogen sulfate except copper sulfate is an alkali metal hydrogen sulfate.
【請求項5】 (1)内層回路が形成された内層板の上
下に、銅箔付き樹脂をラミネートする工程と、(2)前
記銅箔付き樹脂にインタースティシャルバイアホール
(IVH)を設け、前記銅箔上および前記IVH内部に
めっき層を形成する工程と、(3)前記めっき層上の回
路形成箇所を除いてレジストを形成する工程と、(4)
前記回路形成箇所に電気めっきにより導体回路を形成す
る工程と、(5)前記形成したレジストを剥離する工程
と、(6)硫酸銅を除く硫酸塩および/または硫酸水素
塩と、硫酸と、過酸化水素とを含み、硫酸と硫酸銅を除
く硫酸塩および/または硫酸水素塩とのモル比が1以上
である銅のエッチング液を用いて、導体回路となるべき
部分以外の銅をエッチング除去する工程と、を含むこと
を特徴とするプリント配線板の製造方法。
5. A step of laminating a resin with a copper foil on the upper and lower sides of an inner layer board on which an inner layer circuit is formed, and (2) providing an interstitial via hole (IVH) in the resin with a copper foil; A step of forming a plating layer on the copper foil and inside the IVH; (3) a step of forming a resist except for a circuit formation location on the plating layer; (4)
Forming a conductive circuit by electroplating at the circuit formation location, (5) stripping the formed resist, (6) sulfate and / or hydrogen sulfate except copper sulfate, and sulfuric acid. Using a copper etchant containing hydrogen oxide and having a molar ratio of sulfuric acid other than sulfuric acid and copper sulfate and / or hydrogensulfate of 1 or more, copper other than a portion to be a conductor circuit is etched away. And a process for producing a printed wiring board.
【請求項6】 前記銅箔付き樹脂が、樹脂に接着する銅
箔面がクロメート処理されている、請求項5記載のプリ
ント配線板の製造方法。
6. The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 5, wherein the copper foil surface of the resin with copper foil adhered to the resin is subjected to a chromate treatment.
【請求項7】 前記導体回路の最表面に、さらに、無電
解ニッケルめっき/無電解金めっきを施す、請求項5ま
たは6記載のプリント配線板の製造方法。
7. The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 5, wherein the outermost surface of the conductive circuit is further subjected to electroless nickel plating / electroless gold plating.
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