JP2002245626A - 情報記録装置及び記録媒体 - Google Patents
情報記録装置及び記録媒体Info
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- JP2002245626A JP2002245626A JP2001043536A JP2001043536A JP2002245626A JP 2002245626 A JP2002245626 A JP 2002245626A JP 2001043536 A JP2001043536 A JP 2001043536A JP 2001043536 A JP2001043536 A JP 2001043536A JP 2002245626 A JP2002245626 A JP 2002245626A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】単一のパルスでマークの大きさを制御してより
多値記録を行う。 【解決手段】レーザ光１９のパワーレベルを３段階Ｐ
１，Ｐ２，Ｐ３とし、パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３の
大きさはＰ１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係として、パワーレベル
Ｐ２は各記録単位間で一定レベルとし、記録単位毎にＰ
２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順序及びＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順
序でパワーレベルを変えるとともにパワーレベルＰ１，
Ｐ３を保持する時間であるパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えて
レーザ光１９を変調して、記録マーク２０１のディスク
タンジェンシャル方向と半径方向の長さ変えて、単一パ
ルスで多値情報を情報記録媒体１に記録する。
多値記録を行う。 【解決手段】レーザ光１９のパワーレベルを３段階Ｐ
１，Ｐ２，Ｐ３とし、パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３の
大きさはＰ１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係として、パワーレベル
Ｐ２は各記録単位間で一定レベルとし、記録単位毎にＰ
２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順序及びＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順
序でパワーレベルを変えるとともにパワーレベルＰ１，
Ｐ３を保持する時間であるパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えて
レーザ光１９を変調して、記録マーク２０１のディスク
タンジェンシャル方向と半径方向の長さ変えて、単一パ
ルスで多値情報を情報記録媒体１に記録する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光メモリに情報
を記録し再生する情報記録装置及び記録媒体、特に多値
記録により高記録密度化の実現に関するものである。
を記録し再生する情報記録装置及び記録媒体、特に多値
記録により高記録密度化の実現に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】レーザービームにより情報を記録再生す
る光記録媒体においては、記録マークエッジでの反射光
量の立ち上がり、立ち下がりの２値記録が一般的であ
る。また、１つの記録単位（ユニット）に複数の情報を
書き込む多値記録方式がいくつか提案されている。例え
ば、特開平８−２８７４６８号公報に示されているよう
に、記録マーク位置，配置の組み合わせを複数定義する
方法や、特開平１１−２５４５６号公報に示されている
ように、平均反射率が多段階になるように、記録ピット
の面積や形状，構造を変化させる方法がある。
る光記録媒体においては、記録マークエッジでの反射光
量の立ち上がり、立ち下がりの２値記録が一般的であ
る。また、１つの記録単位（ユニット）に複数の情報を
書き込む多値記録方式がいくつか提案されている。例え
ば、特開平８−２８７４６８号公報に示されているよう
に、記録マーク位置，配置の組み合わせを複数定義する
方法や、特開平１１−２５４５６号公報に示されている
ように、平均反射率が多段階になるように、記録ピット
の面積や形状，構造を変化させる方法がある。
【０００３】このように多値記録によって記録密度を上
げるためには、１つのユニットの大きさを縮小する必要
である。また、反射光量の階調の線形性がとれているこ
とが信号処理上重要である。
げるためには、１つのユニットの大きさを縮小する必要
である。また、反射光量の階調の線形性がとれているこ
とが信号処理上重要である。
【０００４】ＤＶＤで使われているマルチパルスの記録
ストラテジを使た８値データの記録例を図１０に示す。
図１０において、（ａ）は記録媒体の記録領域の模式図
であり、１０１はグルーブ端部、１０２は記録ユニット
Ａ〜Ｈを説明するための枠線（実際の記録媒体には存在
しない）、１０３は記録マークである。１０４はレーザ
光である。記録ユニットＡは未記録状態であり、記録ユ
ニットＢ〜Ｈには長さが異なるマークが記録されてい
る。（ｂ）は記録パルスストラテジであり、Ｐ１は記録
レベル、Ｐ２は消去レベル、Ｐ３はバイアスレベルのレ
ーザパワーを示す。このようなマルチパルスを使って８
値データを記録する場合、パルスの数でマーク長を変え
ることになる。
ストラテジを使た８値データの記録例を図１０に示す。
図１０において、（ａ）は記録媒体の記録領域の模式図
であり、１０１はグルーブ端部、１０２は記録ユニット
Ａ〜Ｈを説明するための枠線（実際の記録媒体には存在
しない）、１０３は記録マークである。１０４はレーザ
光である。記録ユニットＡは未記録状態であり、記録ユ
ニットＢ〜Ｈには長さが異なるマークが記録されてい
る。（ｂ）は記録パルスストラテジであり、Ｐ１は記録
レベル、Ｐ２は消去レベル、Ｐ３はバイアスレベルのレ
ーザパワーを示す。このようなマルチパルスを使って８
値データを記録する場合、パルスの数でマーク長を変え
ることになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらユニット
サイズを縮小して多値数を上げようとすると、１つのパ
ルス幅を短くしなければならない。このためには、レー
ザービームの高速変調手段が必要になり、情報記録装置
が高価になる。また、レーザービームの高速変調には限
界がある。また、マルチパルスを使ってマークサイズを
変えた場合、ディスクタンジェンシャル方向におけるマ
ーク長は変えられるが、マークの幅を変えることができ
ない。このために、反射光強度の階調に線形性を持たせ
ることは困難である。
サイズを縮小して多値数を上げようとすると、１つのパ
ルス幅を短くしなければならない。このためには、レー
ザービームの高速変調手段が必要になり、情報記録装置
が高価になる。また、レーザービームの高速変調には限
界がある。また、マルチパルスを使ってマークサイズを
変えた場合、ディスクタンジェンシャル方向におけるマ
ーク長は変えられるが、マークの幅を変えることができ
ない。このために、反射光強度の階調に線形性を持たせ
ることは困難である。
【０００６】この発明は、このような短所を改善し、単
一のパルスでマークの大きさを制御してより多値記録を
行うことができる情報記録装置と、その記録ストラテジ
に適した記録媒体を提供することを目的とするものであ
る。
一のパルスでマークの大きさを制御してより多値記録を
行うことができる情報記録装置と、その記録ストラテジ
に適した記録媒体を提供することを目的とするものであ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明の情報記録装置
は、記録媒体に情報を示す記録マークを記録する記録単
位はディスク接線方向において一定周期であり、記録単
位内において多値データに対応させて記録マークの大き
さを変えて記録し、記録マークの大きさによる反射光量
の変化を検出して多値データを再生する情報記録装置に
おいて、レーザ光のパワーレベルを３段階Ｐ１，Ｐ２，
Ｐ３とし、パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３の大きさはＰ
１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係として、パワーレベルＰ２は各記
録単位間で一定レベルとし、記録単位毎にＰ２，Ｐ１，
Ｐ３，Ｐ２の順序及びＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順序でパワー
レベルを変えるとともにパワーレベルＰ１，Ｐ３を保持
する時間であるパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えてレーザ光を
変調して、記録データに対応させて記録マークのディス
クタンジェンシャル方向と半径方向の長さ変えることを
特徴とする。
は、記録媒体に情報を示す記録マークを記録する記録単
位はディスク接線方向において一定周期であり、記録単
位内において多値データに対応させて記録マークの大き
さを変えて記録し、記録マークの大きさによる反射光量
の変化を検出して多値データを再生する情報記録装置に
おいて、レーザ光のパワーレベルを３段階Ｐ１，Ｐ２，
Ｐ３とし、パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３の大きさはＰ
１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係として、パワーレベルＰ２は各記
録単位間で一定レベルとし、記録単位毎にＰ２，Ｐ１，
Ｐ３，Ｐ２の順序及びＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順序でパワー
レベルを変えるとともにパワーレベルＰ１，Ｐ３を保持
する時間であるパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えてレーザ光を
変調して、記録データに対応させて記録マークのディス
クタンジェンシャル方向と半径方向の長さ変えることを
特徴とする。
【０００８】上記記録マークを記録する記録単位はディ
スクタンジェンシャル方向において一定周期であり、そ
の周期Ｌは、レーザ光の波長をλ、対物レンズの開口数
をＮＡとすると、最小0.4×λ／ＮＡから最大0.8×λ／
ＮＡの範囲にあることが望ましい。
スクタンジェンシャル方向において一定周期であり、そ
の周期Ｌは、レーザ光の波長をλ、対物レンズの開口数
をＮＡとすると、最小0.4×λ／ＮＡから最大0.8×λ／
ＮＡの範囲にあることが望ましい。
【０００９】また、上記記録媒体に記録した記録マーク
の電子線を使った観測方法でコントラスト変化として検
知されるディスク接線方向又は半径方向のどちらか長い
方のマーク長を、マークを記録するレーザービームの波
長をλ、対物レンズの開口数をＮＡとすると、記録情報
に応じて最小0.1×λ／ＮＡから最大0.7×λ／ＮＡの範
囲で変化させると良い。
の電子線を使った観測方法でコントラスト変化として検
知されるディスク接線方向又は半径方向のどちらか長い
方のマーク長を、マークを記録するレーザービームの波
長をλ、対物レンズの開口数をＮＡとすると、記録情報
に応じて最小0.1×λ／ＮＡから最大0.7×λ／ＮＡの範
囲で変化させると良い。
【００１０】さらに、上記レーザ光のパワーレベルをＰ
１レベルに保持する時間をＴ１とするとＴ１≦60ｎsec
であることが望ましい。
１レベルに保持する時間をＴ１とするとＴ１≦60ｎsec
であることが望ましい。
【００１１】そしてＴ１≦60ｎsecで、パワーレベルの
比率Ｐ３／Ｐ２をＰ３／Ｐ２≦１の範囲で記録データに
応じて変えると良い。
比率Ｐ３／Ｐ２をＰ３／Ｐ２≦１の範囲で記録データに
応じて変えると良い。
【００１２】また、Ｔ１≦60ｎsecで、パワーレベルＰ
１，Ｐ３を保持する時間をＴ１，Ｔ３とすると、Ｔ３／
Ｔ１比を記録データに応じて変えたり、Ｔ１≦60ｎsec
でＰ３/Ｐ２比をP３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３
/Ｔ１比を記録データに応じて変えると良い。
１，Ｐ３を保持する時間をＴ１，Ｔ３とすると、Ｔ３／
Ｔ１比を記録データに応じて変えたり、Ｔ１≦60ｎsec
でＰ３/Ｐ２比をP３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３
/Ｔ１比を記録データに応じて変えると良い。
【００１３】また、レーザ光のパワーレベルＰ１，Ｐ
２，Ｐ３を発生する少なくとも２つの波形発生器を有
し、一方の波形発生器ではＰ１レベルのレーザーパワー
変調信号を発生し、他方の波形発生器ではＰ２レベルと
Ｐ３レベルのレーザーパワー変調信号を発生し、２つの
信号を合成してレーザーパワーを変調すると良い。
２，Ｐ３を発生する少なくとも２つの波形発生器を有
し、一方の波形発生器ではＰ１レベルのレーザーパワー
変調信号を発生し、他方の波形発生器ではＰ２レベルと
Ｐ３レベルのレーザーパワー変調信号を発生し、２つの
信号を合成してレーザーパワーを変調すると良い。
【００１４】この発明に係る記録媒体は、前記情報記録
装置で記録マークを記録するものであり、相変化型記録
材料から形成され、記録マークは非晶質状態であること
を特徴とする。
装置で記録マークを記録するものであり、相変化型記録
材料から形成され、記録マークは非晶質状態であること
を特徴とする。
【００１５】上記相変化記録材料は、Ｓｂ／Ｔｅ比が２
から５の範囲にあるＳｂＴｅと、Ａｇ，Ｉｎ，Ｇｅ，Ｇ
ａ，Ｂ，Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｎの群から選ばれる少なくとも
１種の元素を含有すると良い。
から５の範囲にあるＳｂＴｅと、Ａｇ，Ｉｎ，Ｇｅ，Ｇ
ａ，Ｂ，Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｎの群から選ばれる少なくとも
１種の元素を含有すると良い。
【００１６】
【発明の実施の形態】この発明の光ディスク等の情報記
録媒体に情報を記録したり、情報記録媒体に記録された
情報を読み取る情報記録再生装置は、パソコン等の認識
情報変換部と、制御部と、レーザ出力制御部と、ターン
テーブルと、ターンテーブルを回転する回転モータと、
光ピックアップ装置及び光ピックアップ装置を移動する
送りモータを有する。そして認識情報変換部から出力す
る認識情報に応じて制御部で回転モータと送りモータを
駆動制御してターンテーブルに載置された情報記録媒体
に、レーザ出力変換部でパワーレベルとパルス幅を変換
したレーザ光を光ピックアップ装置から照射して情報を
記録したり、情報記録媒体に記録された情報を読み取
る。
録媒体に情報を記録したり、情報記録媒体に記録された
情報を読み取る情報記録再生装置は、パソコン等の認識
情報変換部と、制御部と、レーザ出力制御部と、ターン
テーブルと、ターンテーブルを回転する回転モータと、
光ピックアップ装置及び光ピックアップ装置を移動する
送りモータを有する。そして認識情報変換部から出力す
る認識情報に応じて制御部で回転モータと送りモータを
駆動制御してターンテーブルに載置された情報記録媒体
に、レーザ出力変換部でパワーレベルとパルス幅を変換
したレーザ光を光ピックアップ装置から照射して情報を
記録したり、情報記録媒体に記録された情報を読み取
る。
【００１７】この情報記録再生装置で情報記録媒体に記
録マークを記録するとき、レーザ光のパワーレベルの大
きさをＰ１，Ｐ２，Ｐ３の３段階とし、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ
３の関係にしてパワーレベルＰ２は各記録単位で一定レ
ベルとし、記録単位毎にパワーレベルＰ２，Ｐ１，Ｐ
３，Ｐ２の順序及びパワーレベルＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順
序でパワーレベルを変えるとともにパワーレベルＰ１，
Ｐ３を保持する時間であるパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えて
レーザ光を変調して、単一のパルスで記録マークのディ
スクタンジェンシャル方向におけるマーク長と半径方向
におけるマーク長を変える。
録マークを記録するとき、レーザ光のパワーレベルの大
きさをＰ１，Ｐ２，Ｐ３の３段階とし、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ
３の関係にしてパワーレベルＰ２は各記録単位で一定レ
ベルとし、記録単位毎にパワーレベルＰ２，Ｐ１，Ｐ
３，Ｐ２の順序及びパワーレベルＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順
序でパワーレベルを変えるとともにパワーレベルＰ１，
Ｐ３を保持する時間であるパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えて
レーザ光を変調して、単一のパルスで記録マークのディ
スクタンジェンシャル方向におけるマーク長と半径方向
におけるマーク長を変える。
【００１８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例の構成図である。
図に示すように、光ディスク等の情報記録媒体１に情報
を記録したり、情報記録媒体１に記録された情報を読み
取る情報記録再生装置は、パソコン等の認識情報変換部
２と、制御部３と、レーザ出力制御部４と、ターンテー
ブル５と、ターンテーブル５を回転する回転モータ６
と、光ピックアップ装置７及び光ピックアップ装置７を
移動する送りモータ８を有する。そして認識情報変換部
２から出力する認識情報に応じて制御部３で回転モータ
６と送りモータ８を駆動制御してターンテーブル５に載
置された情報記録媒体１に、レーザ出力変換部４でパワ
ーレベルとパルス幅を変換したレーザ光を光ピックアッ
プ装置７から照射して情報を記録したり、情報記録媒体
１に記録された情報を読み取る。
図に示すように、光ディスク等の情報記録媒体１に情報
を記録したり、情報記録媒体１に記録された情報を読み
取る情報記録再生装置は、パソコン等の認識情報変換部
２と、制御部３と、レーザ出力制御部４と、ターンテー
ブル５と、ターンテーブル５を回転する回転モータ６
と、光ピックアップ装置７及び光ピックアップ装置７を
移動する送りモータ８を有する。そして認識情報変換部
２から出力する認識情報に応じて制御部３で回転モータ
６と送りモータ８を駆動制御してターンテーブル５に載
置された情報記録媒体１に、レーザ出力変換部４でパワ
ーレベルとパルス幅を変換したレーザ光を光ピックアッ
プ装置７から照射して情報を記録したり、情報記録媒体
１に記録された情報を読み取る。
【００１９】情報記録媒体１は相変化型の記録材料から
なり、非晶質（アモルファス）相を形成し情報マークと
する。このアモルファスマークの大きさは、記録ストラ
テジによって制御することができる。この記録材料は、
母相にＳｂＴｅを用い、ＳｂＴｅの比率Ｓｂ／Ｔｅ＝２
〜５とする。このＳｂＴｅを母層として添加元素として
Ａｇ，Ｉｎ，Ｇｅ，Ｇａ，Ｂ，Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｎの群か
ら選ばれる少なくとも１種の元素を含有した組成とす
る。好ましくは、上記Ｓｂ／Ｔｅ比のＧｅＳｂＴｅ，Ａ
ｇＩｎＳｂＴｅ，ＧｅＡｇＩｎＳｂＴｅやＧｅＩｎＳｂ
Ｔｅなどで形成すると良い。
なり、非晶質（アモルファス）相を形成し情報マークと
する。このアモルファスマークの大きさは、記録ストラ
テジによって制御することができる。この記録材料は、
母相にＳｂＴｅを用い、ＳｂＴｅの比率Ｓｂ／Ｔｅ＝２
〜５とする。このＳｂＴｅを母層として添加元素として
Ａｇ，Ｉｎ，Ｇｅ，Ｇａ，Ｂ，Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｎの群か
ら選ばれる少なくとも１種の元素を含有した組成とす
る。好ましくは、上記Ｓｂ／Ｔｅ比のＧｅＳｂＴｅ，Ａ
ｇＩｎＳｂＴｅ，ＧｅＡｇＩｎＳｂＴｅやＧｅＩｎＳｂ
Ｔｅなどで形成すると良い。
【００２０】光ピックアップ装置７は、図２の構成図に
示すように、半導体レーザ素子（以下、ＬＤという）１
１とコリメータレンズ１２と偏光ビームスプリッタ１３
と１／４波長板１４と対物レンズ１５と凸球面レンズ１
６と集光レンズ１７及び受光素子１８を有する。凸球面
レンズ１６は対物レンズ１５と情報記録媒体１の間に配
置され、凸球面レンズ１６は情報記録媒体１に対して0.
1ｍｍ程度の間隔で配置されている。
示すように、半導体レーザ素子（以下、ＬＤという）１
１とコリメータレンズ１２と偏光ビームスプリッタ１３
と１／４波長板１４と対物レンズ１５と凸球面レンズ１
６と集光レンズ１７及び受光素子１８を有する。凸球面
レンズ１６は対物レンズ１５と情報記録媒体１の間に配
置され、凸球面レンズ１６は情報記録媒体１に対して0.
1ｍｍ程度の間隔で配置されている。
【００２１】この光ピックアップ装置７において、記録
情報に応じてＬＤ１１から出射されたレーザ光１９は、
コリメータレンズ１２により平行光となり、偏光ビーム
スプリッタ１３と１／４波長板１４で構成された光アイ
ソレータを通って直線偏光から円偏光に変わり、対物レ
ンズ１５と凸球面レンズ１６を通って集光されて情報記
録媒体１に入射して結晶・非晶質間の反射率変化を利用
して記録を行う。また、情報記録媒体１に記録された情
報を再生するときは、ＬＤ１１から出射されたレーザ光
１９は、コリメータレンズ１２により平行光となり、偏
光ビームスプリッタ１３と１／４波長板１４で構成され
た光アイソレータを通って直線偏光から円偏光に変わ
り、対物レンズ１５と凸球面レンズ１６を通って集光さ
れて情報記録媒体１に入射する。情報記録媒体１に入射
したレーザ光１９は情報記録媒体１で反射する。この反
射するときに円偏光の旋回方向が変化し、凸球面レンズ
１６と対物レンズ１５を通り１／４波長板１４に入射
し、１／４波長板１４を通るときに、紙面に対して垂直
な光となり、偏光ビームスプリッタ１３で反射して集光
レンズ１７により受光素子１８に集光され、情報記録媒
体１の情報が再生される。このように光ピックアップ装
置６で情報記録媒体１の情報を再生したり記録するとき
に、対物レンズ１５と凸球面レンズ１６で集光したスポ
ットが情報記録媒体１上で最良の状態で形成されるよう
に、光ピックアップ装置６はアクチュエータに搭載さ
れ、情報記録媒体１と常に一定間隔を保つように上下方
向に移動する。
情報に応じてＬＤ１１から出射されたレーザ光１９は、
コリメータレンズ１２により平行光となり、偏光ビーム
スプリッタ１３と１／４波長板１４で構成された光アイ
ソレータを通って直線偏光から円偏光に変わり、対物レ
ンズ１５と凸球面レンズ１６を通って集光されて情報記
録媒体１に入射して結晶・非晶質間の反射率変化を利用
して記録を行う。また、情報記録媒体１に記録された情
報を再生するときは、ＬＤ１１から出射されたレーザ光
１９は、コリメータレンズ１２により平行光となり、偏
光ビームスプリッタ１３と１／４波長板１４で構成され
た光アイソレータを通って直線偏光から円偏光に変わ
り、対物レンズ１５と凸球面レンズ１６を通って集光さ
れて情報記録媒体１に入射する。情報記録媒体１に入射
したレーザ光１９は情報記録媒体１で反射する。この反
射するときに円偏光の旋回方向が変化し、凸球面レンズ
１６と対物レンズ１５を通り１／４波長板１４に入射
し、１／４波長板１４を通るときに、紙面に対して垂直
な光となり、偏光ビームスプリッタ１３で反射して集光
レンズ１７により受光素子１８に集光され、情報記録媒
体１の情報が再生される。このように光ピックアップ装
置６で情報記録媒体１の情報を再生したり記録するとき
に、対物レンズ１５と凸球面レンズ１６で集光したスポ
ットが情報記録媒体１上で最良の状態で形成されるよう
に、光ピックアップ装置６はアクチュエータに搭載さ
れ、情報記録媒体１と常に一定間隔を保つように上下方
向に移動する。
【００２２】この情報記録再生装置で情報記録媒体１に
情報マークを記録するときの動作を図３のマーク長と記
録ストラテジを示す模式図を参照して説明する。図３に
おいて、２０１は情報を示す記録マーク、２０２はレー
ザービームの移動方向、２０３はディスクタンジェンシ
ャル方向のマーク長、２０４は半径方向のマーク長を示
す。２０５は記録パルスストラテジを示す。レーザ光の
パワーレベルの大きさはＰ１，Ｐ２，Ｐ３の３段階あ
り、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係にあり、パワーレベルＰ２
は各記録単位で一定レベルとし、記録単位毎にパワーレ
ベルＰ２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順序及びパワーレベルＰ
２，Ｐ１，Ｐ２の順序でレーザ光１９を変調する。ここ
でＴ１，Ｔ２はパワーレベルＰ１，Ｐ３を保持する時間
を示し、記録単位とは多値情報を表す１つの領域を表
す。
情報マークを記録するときの動作を図３のマーク長と記
録ストラテジを示す模式図を参照して説明する。図３に
おいて、２０１は情報を示す記録マーク、２０２はレー
ザービームの移動方向、２０３はディスクタンジェンシ
ャル方向のマーク長、２０４は半径方向のマーク長を示
す。２０５は記録パルスストラテジを示す。レーザ光の
パワーレベルの大きさはＰ１，Ｐ２，Ｐ３の３段階あ
り、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係にあり、パワーレベルＰ２
は各記録単位で一定レベルとし、記録単位毎にパワーレ
ベルＰ２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順序及びパワーレベルＰ
２，Ｐ１，Ｐ２の順序でレーザ光１９を変調する。ここ
でＴ１，Ｔ２はパワーレベルＰ１，Ｐ３を保持する時間
を示し、記録単位とは多値情報を表す１つの領域を表
す。
【００２３】この各記録単位で多値情報を表すためにレ
ーザ出力変換部４はレーザ光１９のパワーを変えて記録
マーク２０１の大きさを変える。この記録マーク２０１
の大きさを変えるときに、記録単位毎にパワーレベルＰ
２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順序及びパワーレベルＰ２，Ｐ
１，Ｐ２の順序でパワーレベルを変えるとともにパルス
幅Ｔ１，Ｔ２を変えてレーザ光１９を変調することによ
り、単一のパルスにおいても記録マーク２０１のディス
クタンジェンシャル方向におけるマーク長２０３と半径
方向におけるマーク長２０４を変えることができる。こ
のように記録マーク２０１の大きさを変えることによっ
て反射光量を変化させることができる。
ーザ出力変換部４はレーザ光１９のパワーを変えて記録
マーク２０１の大きさを変える。この記録マーク２０１
の大きさを変えるときに、記録単位毎にパワーレベルＰ
２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順序及びパワーレベルＰ２，Ｐ
１，Ｐ２の順序でパワーレベルを変えるとともにパルス
幅Ｔ１，Ｔ２を変えてレーザ光１９を変調することによ
り、単一のパルスにおいても記録マーク２０１のディス
クタンジェンシャル方向におけるマーク長２０３と半径
方向におけるマーク長２０４を変えることができる。こ
のように記録マーク２０１の大きさを変えることによっ
て反射光量を変化させることができる。
【００２４】このようにして記録マーク２０１を記録す
るとき、記録単位のディスクタンジェンシャル方向にお
ける周期をＬ、レーザ光１９の波長をλ、対物レンズ１
５の開口数をＮＡとした場合、タンジェンシャル方向に
隣接するマーク周期が約0.6×λ／ＮＡ以下になると、
回折限界となって解像できなくなる。このような状態に
おいては、記録マーク２０１の部分と未記録部分が占め
る割合に応じて反射光強度が変化することから、疑似的
に中間状態の反射光強度レベルが形成できる。このよう
に記録マーク２０１の部分と未記録部分の面積比により
反射光強度に階調を持たせるため、記録単位のディスク
タンジェンシャル方向における周期Ｌは、 Ｌ＝0.4〜0.8×λ／ＮＡ の範囲になるように周期Ｌと波長λ及び対物レンズ１５
の開口数ＮＡを設定すると良い。
るとき、記録単位のディスクタンジェンシャル方向にお
ける周期をＬ、レーザ光１９の波長をλ、対物レンズ１
５の開口数をＮＡとした場合、タンジェンシャル方向に
隣接するマーク周期が約0.6×λ／ＮＡ以下になると、
回折限界となって解像できなくなる。このような状態に
おいては、記録マーク２０１の部分と未記録部分が占め
る割合に応じて反射光強度が変化することから、疑似的
に中間状態の反射光強度レベルが形成できる。このよう
に記録マーク２０１の部分と未記録部分の面積比により
反射光強度に階調を持たせるため、記録単位のディスク
タンジェンシャル方向における周期Ｌは、 Ｌ＝0.4〜0.8×λ／ＮＡ の範囲になるように周期Ｌと波長λ及び対物レンズ１５
の開口数ＮＡを設定すると良い。
【００２５】また、情報記録媒体１の相変化型の記録材
料として、母相にＳｂＴｅを用い、ＳｂＴｅの比率Ｓｂ
／Ｔｅ＝２〜５とし、このＳｂ／Ｔｅ比のＧｅＳｂＴ
ｅ，ＡｇＩｎＳｂＴｅ，ＧｅＡｇＩｎＳｂＴｅやＧｅＩ
ｎＳｂＴｅなどを使用することにより、記録マーク２０
１を記録するときにアモルファスマークの大きさを記録
ストラテジによって制御することができるとともに単位
時間あたりの温度低下量を大きくすること、すなわち急
冷状態を形成することによりアモルファスマークを形成
することができる。また、パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ
３及びパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えることにり急冷状態と
なる領域を制御することができ、記録マーク２０１の大
きさを変えることができる。
料として、母相にＳｂＴｅを用い、ＳｂＴｅの比率Ｓｂ
／Ｔｅ＝２〜５とし、このＳｂ／Ｔｅ比のＧｅＳｂＴ
ｅ，ＡｇＩｎＳｂＴｅ，ＧｅＡｇＩｎＳｂＴｅやＧｅＩ
ｎＳｂＴｅなどを使用することにより、記録マーク２０
１を記録するときにアモルファスマークの大きさを記録
ストラテジによって制御することができるとともに単位
時間あたりの温度低下量を大きくすること、すなわち急
冷状態を形成することによりアモルファスマークを形成
することができる。また、パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ
３及びパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えることにり急冷状態と
なる領域を制御することができ、記録マーク２０１の大
きさを変えることができる。
【００２６】また、各記録単位に記録された記録マーク
２０１のマーク形状は、電子線を使った観測方法、例え
ば透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）や走査型電子顕微鏡（Ｓ
ＥＭ）により観測することができる。これらの観察方法
では電子線像のコントラスト変化として相変化マークが
検知できる。前記相変化型記録材料の場合、例えば、波
長λ＝650ｎｍ、開口数ＮＡ＝0.65のレーザ光１９で記
録した記録マーク２０１の長さを電子線を使った観測方
法で観測した結果、100ｎｍ〜700ｎｍの範囲、すなわち
0.1〜0.7×λ／ＮＡの範囲にあると、情報記録媒体１内
における記録マーク２０１のマーク長のばらつきを抑制
できることが確認された。したがって記録情報に応じて
変える記録マーク２０１のマーク長を、最小0.1×λ／
ＮＡから最大0.7×λ／ＮＡの範囲で変化させると良
い。
２０１のマーク形状は、電子線を使った観測方法、例え
ば透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）や走査型電子顕微鏡（Ｓ
ＥＭ）により観測することができる。これらの観察方法
では電子線像のコントラスト変化として相変化マークが
検知できる。前記相変化型記録材料の場合、例えば、波
長λ＝650ｎｍ、開口数ＮＡ＝0.65のレーザ光１９で記
録した記録マーク２０１の長さを電子線を使った観測方
法で観測した結果、100ｎｍ〜700ｎｍの範囲、すなわち
0.1〜0.7×λ／ＮＡの範囲にあると、情報記録媒体１内
における記録マーク２０１のマーク長のばらつきを抑制
できることが確認された。したがって記録情報に応じて
変える記録マーク２０１のマーク長を、最小0.1×λ／
ＮＡから最大0.7×λ／ＮＡの範囲で変化させると良
い。
【００２７】次に、単一パルスストラテジにより記録マ
ーク２０１のマーク長を変調するときの最適な条件につ
いて確認した結果を説明する。
ーク２０１のマーク長を変調するときの最適な条件につ
いて確認した結果を説明する。
【００２８】情報記録媒体１を、ポリカーボネート基板
／Ａｇ140ｎｍ／ＺｎＳ・ＳｉＯ２20ｎｍ／ＡｇＩｎＳ
ｂＴｅ15ｎｍ／ＺｎＳ・ＳｉＯ２20ｎｍの層構造で構成
し、ＡｇＩｎＳｂＴｅにおけるＳｂ／Ｔｅ比を2.5とし
た。また、トラックピッチは740ｎｍである。レーザ光
１９のビーム波長λは650ｎｍ、対物レンズ１５の開口
数ＮＡは0.65であり、パワーレベルＰ２＝12ｍＷ、パワ
ーレベルＰ２＝6.5ｍＷ、パワーレベルＰ３＝0.1ｍＷと
し、パワーレベルＰ２は一定で、パワーレベルＰ１及び
パワーレベルＰ３は、時間Ｔ１と時間Ｔ３のパルス幅で
変調した。ここで時間Ｔ３は19ｎsec一定で、時間Ｔ１
を38ｎsecから86ｎsecまで変えて記録マーク２０１を記
録した。この記録した記録マーク２０１のトラック中心
におけるタンジェンシャル方向のマーク長を走査型電子
顕微鏡（ＳＥＭ）で測定した結果を図４に示す。図４に
おいて、丸印はディスク面内５０点のマーク長の平均値
であり、最大と最小を示すエラーバーはマーク長の最大
値と最小値を示す。図４に示すように、時間Ｔ１が60ｎ
sec以上になるとマーク長の面内ばらっきが大きくな
る。したがって各記録単位におけるレーザ光１９のパワ
ーレベルＰ１をＰ１≦60ｎsecに設定すると良い。
／Ａｇ140ｎｍ／ＺｎＳ・ＳｉＯ２20ｎｍ／ＡｇＩｎＳ
ｂＴｅ15ｎｍ／ＺｎＳ・ＳｉＯ２20ｎｍの層構造で構成
し、ＡｇＩｎＳｂＴｅにおけるＳｂ／Ｔｅ比を2.5とし
た。また、トラックピッチは740ｎｍである。レーザ光
１９のビーム波長λは650ｎｍ、対物レンズ１５の開口
数ＮＡは0.65であり、パワーレベルＰ２＝12ｍＷ、パワ
ーレベルＰ２＝6.5ｍＷ、パワーレベルＰ３＝0.1ｍＷと
し、パワーレベルＰ２は一定で、パワーレベルＰ１及び
パワーレベルＰ３は、時間Ｔ１と時間Ｔ３のパルス幅で
変調した。ここで時間Ｔ３は19ｎsec一定で、時間Ｔ１
を38ｎsecから86ｎsecまで変えて記録マーク２０１を記
録した。この記録した記録マーク２０１のトラック中心
におけるタンジェンシャル方向のマーク長を走査型電子
顕微鏡（ＳＥＭ）で測定した結果を図４に示す。図４に
おいて、丸印はディスク面内５０点のマーク長の平均値
であり、最大と最小を示すエラーバーはマーク長の最大
値と最小値を示す。図４に示すように、時間Ｔ１が60ｎ
sec以上になるとマーク長の面内ばらっきが大きくな
る。したがって各記録単位におけるレーザ光１９のパワ
ーレベルＰ１をＰ１≦60ｎsecに設定すると良い。
【００２９】また、前記のように構成した情報記録媒体
１を使用し、パワーレベルＰ１＝12ｎＷ、パワーレベル
Ｐ２＝6.5ｍＷとし、パワーレベルＰ３を記録条件によ
って異ならせた。また、パワーレベルＰ２は一定で、パ
ワーレベルＰ１及びパワーレベルＰ３は時間Ｔ１と時間
Ｔ３のパルス幅で変調した。記録条件１は時間Ｔ１＝19
ｎsec、記録条件２は時間Ｔ１＝38ｎsecであり、どちら
もＰ３／Ｐ２＝１、すなわちパワーレベルＰ１からパワ
ーレベルＰ２への２値変調で記録した。記録条件３は時
間Ｔ１＝38ｎsec、Ｐ３／Ｐ２＝0.02、Ｔ３／Ｔ１＝0.2
5であり、パワーレベルを３値変調した。この記録条件
１，２，３で記録マーク２０１を記録し、タンジェンシ
ャル方向と半径方向のマーク長を走査型電子顕微鏡（Ｓ
ＥＭ）で測定した結果を図５に示す。図５に示すよう
に、Ｐ３／Ｐ２を0.02から１、すなわち記録条件３から
記録条件２にすることによって、タンジェンシャル方向
と半径方向のマーク長が縮小できることが確認された。
また、Ｐ３／Ｐ２＝１の状態で時間Ｔ１を38ｎsecから1
9ｎsecと短くすることにより、タンジェンシャル方向と
半径方向の両方向ともマーク長をさらに縮小できた。し
たがって、時間Ｔ１≦60secでパワーレベルの比率Ｐ３
／Ｐ２≦１の範囲で記録データに応じて変えることによ
り、タンジェンシャル方向と半径方向の両方向ともマー
ク長を縮小することができる。
１を使用し、パワーレベルＰ１＝12ｎＷ、パワーレベル
Ｐ２＝6.5ｍＷとし、パワーレベルＰ３を記録条件によ
って異ならせた。また、パワーレベルＰ２は一定で、パ
ワーレベルＰ１及びパワーレベルＰ３は時間Ｔ１と時間
Ｔ３のパルス幅で変調した。記録条件１は時間Ｔ１＝19
ｎsec、記録条件２は時間Ｔ１＝38ｎsecであり、どちら
もＰ３／Ｐ２＝１、すなわちパワーレベルＰ１からパワ
ーレベルＰ２への２値変調で記録した。記録条件３は時
間Ｔ１＝38ｎsec、Ｐ３／Ｐ２＝0.02、Ｔ３／Ｔ１＝0.2
5であり、パワーレベルを３値変調した。この記録条件
１，２，３で記録マーク２０１を記録し、タンジェンシ
ャル方向と半径方向のマーク長を走査型電子顕微鏡（Ｓ
ＥＭ）で測定した結果を図５に示す。図５に示すよう
に、Ｐ３／Ｐ２を0.02から１、すなわち記録条件３から
記録条件２にすることによって、タンジェンシャル方向
と半径方向のマーク長が縮小できることが確認された。
また、Ｐ３／Ｐ２＝１の状態で時間Ｔ１を38ｎsecから1
9ｎsecと短くすることにより、タンジェンシャル方向と
半径方向の両方向ともマーク長をさらに縮小できた。し
たがって、時間Ｔ１≦60secでパワーレベルの比率Ｐ３
／Ｐ２≦１の範囲で記録データに応じて変えることによ
り、タンジェンシャル方向と半径方向の両方向ともマー
ク長を縮小することができる。
【００３０】また、前記のように構成した情報記録媒体
１を使用し、パワーレベルＰ１＝12ｍＷ、パワーレベル
Ｐ２＝6.5ｍＷ、パワーレベルＰ３＝0.1ｍＷとし、パワ
ーレベルＰ２は一定で、パワーレベルＰ１及びパワーレ
ベルＰ３は時間Ｔ１と時間Ｔ３のパルス幅で変調した。
時間Ｔ１は38ｎsec一定とし、Ｔ３／Ｔ１を0.25〜２の
範囲で変え記録マーク２０１を記録した。このときのト
ラック中心におけるタンジェンシャル方向のマーク長を
走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で測定し、ディスク面内５
０点のマーク長の平均値を算出した結果を図６に示す。
図６に示すように、Ｔ３／Ｔ１比を変えることによりマ
ーク長を可変制御することができ、単一パルスでも、時
間Ｔ１≦60secでＴ３／Ｔ１比を大きくすることによっ
てタンジェンシャル方向にマーク長を大きくできること
を確認することができた。
１を使用し、パワーレベルＰ１＝12ｍＷ、パワーレベル
Ｐ２＝6.5ｍＷ、パワーレベルＰ３＝0.1ｍＷとし、パワ
ーレベルＰ２は一定で、パワーレベルＰ１及びパワーレ
ベルＰ３は時間Ｔ１と時間Ｔ３のパルス幅で変調した。
時間Ｔ１は38ｎsec一定とし、Ｔ３／Ｔ１を0.25〜２の
範囲で変え記録マーク２０１を記録した。このときのト
ラック中心におけるタンジェンシャル方向のマーク長を
走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で測定し、ディスク面内５
０点のマーク長の平均値を算出した結果を図６に示す。
図６に示すように、Ｔ３／Ｔ１比を変えることによりマ
ーク長を可変制御することができ、単一パルスでも、時
間Ｔ１≦60secでＴ３／Ｔ１比を大きくすることによっ
てタンジェンシャル方向にマーク長を大きくできること
を確認することができた。
【００３１】次に時間Ｔ１≦60ｎsecで、Ｐ３/Ｐ２比を
P３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３/Ｔ１比を記録デ
ータに応じて変えた場合について、図７を参照して説明
する。図７において、（ａ）は記録媒体の記録領域の模
式図であり、７０１はグルーブ端部、７０２は記録ユニ
ットＡ〜Ｈを説明するための枠線（実際の記録媒体には
存在しない）である。レーザ光１９の波長λ＝650ｎ
ｍ、対物レンズ１５の開口数ＮＡ＝0.65である。記録ユ
ニットＡ〜Ｈのピッチｄは0.6×660ｎｍ／0.65＝610ｎ
ｍに設定した。トラックピッチは7４0ｎｍである。記録
ユニットＡは未記録状態であり、記録ユニットＢ〜Ｈに
は大きさが異なる記録マーク２０１が記録されている。
（b）は記録パルスストラテジである。パワーレベルＰ
１は記録レベル、パワーレベルＰ２は消去レベル、パワ
ーレベルＰ３はバイアスレベルのレーザパワーを示す。
７０３には各記録ユニットＡ〜Ｈの記録条件を示す。パ
ワーレベルＰ１の保持時間Ｔ１は６０ｎsec以下とし
て、Ｐ３／Ｐ２≦１でＰ３/Ｐ２比を大きくすることに
より、例えば記録ユニットＢ，Ｃに示すように、記録マ
ーク２０１のタンジェンシャル方向と半径方向ともにマ
ーク長を縮小し、Ｔ３/Ｔ１比を大きくすることによっ
て、例えば記録ユニットＧ，Ｈに示すように、記録マー
ク２０１をタンジェンシャル方向にに伸ばす。このよう
な記録ストラテジを用いることによって、タンジェンシ
ャル方向と半径方向ともにマーク長を変えて多値データ
を記録できる。
P３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３/Ｔ１比を記録デ
ータに応じて変えた場合について、図７を参照して説明
する。図７において、（ａ）は記録媒体の記録領域の模
式図であり、７０１はグルーブ端部、７０２は記録ユニ
ットＡ〜Ｈを説明するための枠線（実際の記録媒体には
存在しない）である。レーザ光１９の波長λ＝650ｎ
ｍ、対物レンズ１５の開口数ＮＡ＝0.65である。記録ユ
ニットＡ〜Ｈのピッチｄは0.6×660ｎｍ／0.65＝610ｎ
ｍに設定した。トラックピッチは7４0ｎｍである。記録
ユニットＡは未記録状態であり、記録ユニットＢ〜Ｈに
は大きさが異なる記録マーク２０１が記録されている。
（b）は記録パルスストラテジである。パワーレベルＰ
１は記録レベル、パワーレベルＰ２は消去レベル、パワ
ーレベルＰ３はバイアスレベルのレーザパワーを示す。
７０３には各記録ユニットＡ〜Ｈの記録条件を示す。パ
ワーレベルＰ１の保持時間Ｔ１は６０ｎsec以下とし
て、Ｐ３／Ｐ２≦１でＰ３/Ｐ２比を大きくすることに
より、例えば記録ユニットＢ，Ｃに示すように、記録マ
ーク２０１のタンジェンシャル方向と半径方向ともにマ
ーク長を縮小し、Ｔ３/Ｔ１比を大きくすることによっ
て、例えば記録ユニットＧ，Ｈに示すように、記録マー
ク２０１をタンジェンシャル方向にに伸ばす。このよう
な記録ストラテジを用いることによって、タンジェンシ
ャル方向と半径方向ともにマーク長を変えて多値データ
を記録できる。
【００３２】また、図８に示すように、レーザ出力制御
部４に２つの波形発生器４１，４２を設け、一方の波形
発生器４１では図７（ｃ）に示すようにＰ１レベルのレ
ーザパワー変調信号７０４を発生し、他方の波形発生器
４２ではＰ２レベルとＰ３レベルのレーザパワー変調信
号７０５を発生し、２つのレーザパワー変調信号７０
３，７０４を合成して図７（ｂ）に示すの記録ストラテ
ジを形成し、レーザ光１９を変調すると良い。
部４に２つの波形発生器４１，４２を設け、一方の波形
発生器４１では図７（ｃ）に示すようにＰ１レベルのレ
ーザパワー変調信号７０４を発生し、他方の波形発生器
４２ではＰ２レベルとＰ３レベルのレーザパワー変調信
号７０５を発生し、２つのレーザパワー変調信号７０
３，７０４を合成して図７（ｂ）に示すの記録ストラテ
ジを形成し、レーザ光１９を変調すると良い。
【００３３】このように、記録マーク２０１の大きさを
変えるときに、時間Ｔ１≦60ｎsecで、Ｐ３/Ｐ２比をP
３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３/Ｔ１比を記録デ
ータに応じて変えた場合と、従来例で示したようにマル
チパルスを使った場合との反射光強度の変化特性を図９
に示す。図９において、（ａ）は従来例のようにマルチ
パルスを使った場合、（ｂ）は単一パルスを使い、時間
Ｔ１≦60ｎsecで、Ｐ３/Ｐ２比をP３/P２≦１の範囲で
変え、Ｔ３/Ｔ１比を記録データに応じて変えた場合で
あり、レーザ光１９が記録ユニットＡからＨ方向に移動
した際に、各記録ユニットＡ〜Ｈの中心のタイミングで
反射光強度を検出した。（ａ）に示すように、マルチパ
ルスでは反射光強度の線形性が十分にとれていなく、特
に、記録ユニットＡから記録ユニットＢで反射光強度が
大きく変化するが、（ｂ）に示すように、この実施例の
場合には反射光強度の線形性が十分にとれて階調の線形
性を確保することができた。
変えるときに、時間Ｔ１≦60ｎsecで、Ｐ３/Ｐ２比をP
３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３/Ｔ１比を記録デ
ータに応じて変えた場合と、従来例で示したようにマル
チパルスを使った場合との反射光強度の変化特性を図９
に示す。図９において、（ａ）は従来例のようにマルチ
パルスを使った場合、（ｂ）は単一パルスを使い、時間
Ｔ１≦60ｎsecで、Ｐ３/Ｐ２比をP３/P２≦１の範囲で
変え、Ｔ３/Ｔ１比を記録データに応じて変えた場合で
あり、レーザ光１９が記録ユニットＡからＨ方向に移動
した際に、各記録ユニットＡ〜Ｈの中心のタイミングで
反射光強度を検出した。（ａ）に示すように、マルチパ
ルスでは反射光強度の線形性が十分にとれていなく、特
に、記録ユニットＡから記録ユニットＢで反射光強度が
大きく変化するが、（ｂ）に示すように、この実施例の
場合には反射光強度の線形性が十分にとれて階調の線形
性を確保することができた。
【００３４】
【発明の効果】この発明は以上説明したように、レーザ
光のパワーレベルを３段階Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３とし、パワ
ーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３の大きさはＰ１＞Ｐ２＞Ｐ３
の関係として、パワーレベルＰ２は各記録単位間で一定
レベルとし、記録単位毎にＰ２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順
序及びＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順序でパワーレベルを変える
とともにパワーレベルＰ１，Ｐ３を保持する時間である
パルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えてレーザ光を変調して、記録
データに対応させて記録マークのディスクタンジェンシ
ャル方向と半径方向の長さ変えることにより、単一パル
スで多値情報を記録媒体に記録することができ、高密度
化、高速化にも十分に対応することができる。
光のパワーレベルを３段階Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３とし、パワ
ーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３の大きさはＰ１＞Ｐ２＞Ｐ３
の関係として、パワーレベルＰ２は各記録単位間で一定
レベルとし、記録単位毎にＰ２，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ２の順
序及びＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順序でパワーレベルを変える
とともにパワーレベルＰ１，Ｐ３を保持する時間である
パルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えてレーザ光を変調して、記録
データに対応させて記録マークのディスクタンジェンシ
ャル方向と半径方向の長さ変えることにより、単一パル
スで多値情報を記録媒体に記録することができ、高密度
化、高速化にも十分に対応することができる。
【００３５】また、記録マークを記録する記録単位はデ
ィスクタンジェンシャル方向において一定周期であり、
その周期Ｌは、レーザ光の波長をλ、対物レンズの開口
数をＮＡとすると、最小0.4×λ／ＮＡから最大0.8×λ
／ＮＡの範囲にすることにより、記録マークの部分と未
記録部分の面積比により反射光強度に階調を持たせるこ
とができる。
ィスクタンジェンシャル方向において一定周期であり、
その周期Ｌは、レーザ光の波長をλ、対物レンズの開口
数をＮＡとすると、最小0.4×λ／ＮＡから最大0.8×λ
／ＮＡの範囲にすることにより、記録マークの部分と未
記録部分の面積比により反射光強度に階調を持たせるこ
とができる。
【００３６】さらに、記録媒体に記録した記録マークの
電子線を使った観測方法でコントラスト変化として検知
されるディスク接線方向又は半径方向のどちらか長い方
のマーク長を、マークを記録するレーザービームの波長
をλ、対物レンズの開口数をＮＡとすると、記録情報に
応じて最小0.1×λ／ＮＡから最大0.7×λ／ＮＡの範囲
で変化させることにより、記録マークのマーク長のばら
つきを抑制することができる。
電子線を使った観測方法でコントラスト変化として検知
されるディスク接線方向又は半径方向のどちらか長い方
のマーク長を、マークを記録するレーザービームの波長
をλ、対物レンズの開口数をＮＡとすると、記録情報に
応じて最小0.1×λ／ＮＡから最大0.7×λ／ＮＡの範囲
で変化させることにより、記録マークのマーク長のばら
つきを抑制することができる。
【００３７】また、レーザ光のパワーレベルをＰ１レベ
ルに保持する時間をＴ１とするとＴ１≦60ｎsecにする
ことにより、記録マークのマーク長の面内ばらっきを小
さくすることができる。
ルに保持する時間をＴ１とするとＴ１≦60ｎsecにする
ことにより、記録マークのマーク長の面内ばらっきを小
さくすることができる。
【００３８】また、Ｔ１≦60ｎsecで、パワーレベルの
比率Ｐ３／Ｐ２をＰ３／Ｐ２≦１の範囲で記録データに
応じて変えることにより、記録マークのタンジェンシャ
ル方向と半径方向の両方向ともマーク長を縮小すること
ができる。
比率Ｐ３／Ｐ２をＰ３／Ｐ２≦１の範囲で記録データに
応じて変えることにより、記録マークのタンジェンシャ
ル方向と半径方向の両方向ともマーク長を縮小すること
ができる。
【００３９】さらに、Ｔ１≦60ｎsecで、パワーレベル
Ｐ１，Ｐ３を保持する時間をＴ１，Ｔ３とすると、Ｔ３
／Ｔ１比を記録データに応じて変えることにより、記録
マークのタンジェンシャル方向にマーク長を大きくする
ことができる。
Ｐ１，Ｐ３を保持する時間をＴ１，Ｔ３とすると、Ｔ３
／Ｔ１比を記録データに応じて変えることにより、記録
マークのタンジェンシャル方向にマーク長を大きくする
ことができる。
【００４０】また、Ｔ１≦60ｎsecで、Ｐ３/Ｐ２比をP
３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３/Ｔ１比を記録デ
ータに応じて変えることにより、記録マークのタンジェ
ンシャル方向と半径方向ともにマーク長を変えて多値情
報を記録することができる。
３/P２≦１の範囲で変え、かつ、Ｔ３/Ｔ１比を記録デ
ータに応じて変えることにより、記録マークのタンジェ
ンシャル方向と半径方向ともにマーク長を変えて多値情
報を記録することができる。
【００４１】さらに、レーザ光のパワーレベルＰ１，Ｐ
２，Ｐ３を発生する少なくとも２つの波形発生器を設
け、一方の波形発生器ではＰ１レベルのレーザーパワー
変調信号を発生し、他方の波形発生器ではＰ２レベルと
Ｐ３レベルのレーザーパワー変調信号を発生し、２つの
信号を合成してレーザーパワーを変調して記録マークを
記録することにより、反射光強度の線形性が十分にとれ
て階調の線形性を確保することができる。
２，Ｐ３を発生する少なくとも２つの波形発生器を設
け、一方の波形発生器ではＰ１レベルのレーザーパワー
変調信号を発生し、他方の波形発生器ではＰ２レベルと
Ｐ３レベルのレーザーパワー変調信号を発生し、２つの
信号を合成してレーザーパワーを変調して記録マークを
記録することにより、反射光強度の線形性が十分にとれ
て階調の線形性を確保することができる。
【００４２】また、記録マークを記録する記録媒体を相
変化型記録材料で形成し、記録マークを非晶質状態にし
て記録することにより、記録マークの大きさを容易に変
えることができる。
変化型記録材料で形成し、記録マークを非晶質状態にし
て記録することにより、記録マークの大きさを容易に変
えることができる。
【００４３】この相変化記録材料を、Ｓｂ／Ｔｅ比が２
から５の範囲にあるＳｂＴｅと、Ａｇ，Ｉｎ，Ｇｅ，Ｇ
ａ，Ｂ，Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｎの群から選ばれる少なくとも
１種の元素を含有するように形成することにより、パワ
ーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３及びパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変
えることにり急冷状態となる領域を制御することがで
き、記録マークの大きさを任意に変えることができる。
から５の範囲にあるＳｂＴｅと、Ａｇ，Ｉｎ，Ｇｅ，Ｇ
ａ，Ｂ，Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｎの群から選ばれる少なくとも
１種の元素を含有するように形成することにより、パワ
ーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３及びパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変
えることにり急冷状態となる領域を制御することがで
き、記録マークの大きさを任意に変えることができる。
【図１】この発明の実施例の構成図である。
【図２】光ピックアップ装置の構成図である。
【図３】記録マークのマーク長と記録ストラテジを示す
模式図である。
模式図である。
【図４】時間Ｔ１に対するマーク長の面内ばらつきの分
布図である。
布図である。
【図５】記録条件１，２，３に対するマーク長の面内ば
らつきの分布図である。
らつきの分布図である。
【図６】Ｔ３／Ｔ１比の変化に対するマーク長の変化特
性図である。
性図である。
【図７】８値データの記録を示す記録マークと記録スト
ラテジを示す模式図である。
ラテジを示す模式図である。
【図８】レーザ出力制御部の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図９】この発明の実施例と従来例で記録した記録マー
クの反射光強度の変化特性図である。
クの反射光強度の変化特性図である。
【図１０】従来例の記録マークのマーク長と記録ストラ
テジを示す模式図である。
テジを示す模式図である。
１；情報記録媒体、２；認識情報変換部、３；制御部、
４；レーザ出力制御部、５；ターンテーブル、６；回転
モータ、７；光ピックアップ装置、８；送りモータ、１
１；ＬＤ、１２；コリメータレンズ、１３；偏光ビーム
スプリッタ、１４；１／４波長板、１５；対物レンズ１
５、１６；凸球面レンズ、１７；集光レンズ、１８；受
光素子、１９；レーザ光、２０１；記録マーク。
４；レーザ出力制御部、５；ターンテーブル、６；回転
モータ、７；光ピックアップ装置、８；送りモータ、１
１；ＬＤ、１２；コリメータレンズ、１３；偏光ビーム
スプリッタ、１４；１／４波長板、１５；対物レンズ１
５、１６；凸球面レンズ、１７；集光レンズ、１８；受
光素子、１９；レーザ光、２０１；記録マーク。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 7/24 ５６３ Ｇ１１Ｂ 7/24 ５６３Ｍ
Claims (10)
- 【請求項１】 記録媒体に情報を示す記録マークを記録
する記録単位はディスク接線方向において一定周期であ
り、記録単位内において多値データに対応させて記録マ
ークの大きさを変えて記録し、記録マークの大きさによ
る反射光量の変化を検出して多値データを再生する情報
記録装置において、 レーザ光のパワーレベルを３段階Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３と
し、パワーレベルＰ１，Ｐ２，Ｐ３の大きさはＰ１＞Ｐ
２＞Ｐ３の関係として、パワーレベルＰ２は各記録単位
間で一定レベルとし、記録単位毎にＰ２，Ｐ１，Ｐ３，
Ｐ２の順序及びＰ２，Ｐ１，Ｐ２の順序でパワーレベル
を変えるとともにパワーレベルＰ１，Ｐ３を保持する時
間であるパルス幅Ｔ１，Ｔ２を変えてレーザ光を変調し
て、記録データに対応させて記録マークのディスクタン
ジェンシャル方向と半径方向の長さ変えることを特徴と
する情報記録装置。 - 【請求項２】 上記記録マークを記録する記録単位はデ
ィスクタンジェンシャル方向において一定周期であり、
その周期Ｌは、レーザ光の波長をλ、対物レンズの開口
数をＮＡとすると、最小0.4×λ／ＮＡから最大0.8×λ
／ＮＡの範囲にある請求項１記載の情報記録装置。 - 【請求項３】 上記記録媒体に記録した記録マークの電
子線を使った観測方法でコントラスト変化として検知さ
れるディスク接線方向又は半径方向のどちらか長い方の
マーク長を、マークを記録するレーザービームの波長を
λ、対物レンズの開口数をＮＡとすると、記録情報に応
じて最小0.1×λ／ＮＡから最大0.7×λ／ＮＡの範囲で
変化させる請求項１記載の情報記録装置。 - 【請求項４】 上記レーザ光のパワーレベルをＰ１レベ
ルに保持する時間をＴ１とするとＴ１≦60ｎsecである
請求項１記載の情報記録装置。 - 【請求項５】 上記パワーレベルの比率Ｐ３／Ｐ２は、
Ｐ３／Ｐ２≦１の範囲で記録データに応じて変える請求
項４記載の情報記録装置。 - 【請求項６】 上記パワーレベルＰ１，Ｐ３を保持する
時間をＴ１，Ｔ３とすると、Ｔ３／Ｔ１比を記録データ
に応じて変える請求項４記載の情報記録装置。 - 【請求項７】 上記Ｐ３/Ｐ２比をP３/P２≦１の範囲で
変え、かつ、Ｔ３/Ｔ１比を記録データに応じて変える
請求項４記載の情報記録装置。 - 【請求項８】 上記レーザ光のパワーレベルＰ１，Ｐ
２，Ｐ３を発生する少なくとも２つの波形発生器を有
し、一方の波形発生器ではＰ１レベルのレーザーパワー
変調信号を発生し、他方の波形発生器ではＰ２レベルと
Ｐ３レベルのレーザーパワー変調信号を発生し、２つの
信号を合成してレーザーパワーを変調する請求項１乃至
７のいずれかに記載の情報記録装置。 - 【請求項９】 請求項１乃至８の情報記録装置で記録マ
ークを記録する記録媒体であって、 相変化型記録材料から形成され、記録マークは非晶質状
態であることを特徴とする記録媒体。 - 【請求項１０】 上記相変化記録材料は、Ｓｂ／Ｔｅ比
が２から５の範囲にあるＳｂＴｅと、Ａｇ，Ｉｎ，Ｇ
ｅ，Ｇａ，Ｂ，Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｎの群から選ばれる少な
くとも１種の元素を含有する請求項９記載の記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001043536A JP2002245626A (ja) | 2001-02-20 | 2001-02-20 | 情報記録装置及び記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001043536A JP2002245626A (ja) | 2001-02-20 | 2001-02-20 | 情報記録装置及び記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002245626A true JP2002245626A (ja) | 2002-08-30 |
Family
ID=18905681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001043536A Pending JP2002245626A (ja) | 2001-02-20 | 2001-02-20 | 情報記録装置及び記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002245626A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004107327A1 (ja) * | 2003-05-28 | 2004-12-09 | Ricoh Company, Ltd. | 最適記録条件で多値データを記録する情報記録方法 |
| WO2005038787A1 (ja) * | 2003-10-17 | 2005-04-28 | Ricoh Company, Ltd. | 情報記録方法、情報記録装置、光ディスク、プログラム及びコンピュータ読み取り可能記録媒体 |
| JP2005339765A (ja) * | 2004-04-28 | 2005-12-08 | Ricoh Co Ltd | 多値データ記録再生方法と多値データ記録再生装置 |
| US7593302B2 (en) | 2005-10-25 | 2009-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording strategy in multilevel recording |
-
2001
- 2001-02-20 JP JP2001043536A patent/JP2002245626A/ja active Pending
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| WO2005038787A1 (ja) * | 2003-10-17 | 2005-04-28 | Ricoh Company, Ltd. | 情報記録方法、情報記録装置、光ディスク、プログラム及びコンピュータ読み取り可能記録媒体 |
| US7751294B2 (en) | 2003-10-17 | 2010-07-06 | Ricoh Company, Ltd. | Information recording method, information recording apparatus, optical disk, program and computer readable recording medium |
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| US7593302B2 (en) | 2005-10-25 | 2009-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording strategy in multilevel recording |
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