JP2002244072A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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JP2002244072A
JP2002244072A JP2001041883A JP2001041883A JP2002244072A JP 2002244072 A JP2002244072 A JP 2002244072A JP 2001041883 A JP2001041883 A JP 2001041883A JP 2001041883 A JP2001041883 A JP 2001041883A JP 2002244072 A JP2002244072 A JP 2002244072A
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Japan
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laser light
laser
lens
incident
laser beam
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JP2001041883A
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English (en)
Inventor
Yukio Kudokoro
之夫 久所
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】光エンコーダを使用したガルバノメータのみで
のレーザ光の走査より高精度の走査ができる。 【解決手段】光音響回折素子2により、レーザ発振器1
が出射するレーザ光を入射角Θで受け、予め定めた周波
数Fの振動から変化させた周波数F+ΔFの振動が加わ
ることによりレーザ光を出射角Θ+ΔΘで出射し、予め
定めた精度を有する光エンコーダ4を備えたガルバノメ
ータ5により、光音響回折素子2が出射したレーザ光を
受けこの予め定めた精度で、反射方向を変動させながら
この受けたレーザ光を反射し、fθレンズ6により、こ
のレーザ光を屈折させて照射するようにして、このガル
バノメータ5が受けたレーザ光を予め定めた照射面上に
走査する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザ加工装置に関
し、特に、ガルバノメータとこのガルバノメータが反射
したレーザ光をこのレーザ光の入射角と自レンズの焦点
距離との積に比例した距離の位置に照射するように屈折
させるfθレンズとにより、ガルバノメータが受けたレ
ーザ光を照射面上に走査するレーザ加工装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のレーザ加工装置は、ガル
バノメータでレーザビームを走査し,高精度に穴あけ加
工,切断加工,表面処理などを行うために用いられ、主
に、大面積の高精度レーザパターニングやφ100[μ
m]以下の微細レーザ穴あけを実施する場合に不可欠と
なる技術である。液晶や半導体製造装置,太陽電池製造
装置などから、光硬化樹脂を使用した型を作成するラピ
ットプロトタイピングなどにまで広範囲に適用できるも
のである。
【0003】この従来のレーザ加工装置の構成図を示す
図6を参照すると、従来のレーザ加工装置は、レーザ光
を出射するレーザ発振器1と、このレーザ光を受け反射
方向を変動させながらこのレーザ光を反射する予め定め
た精度を有する光エンコーダ4を備えたガルバノメータ
5と、この反射した前記レーザ光を入射し、予め定めた
照射面上での、この入射した前記レーザ光の入射角と自
レンズの焦点距離との積に比例した距離の位置に、前記
受けた前記レーザ光を照射するように屈折させるfθレ
ンズ6と、を有する構成である。このスキャン光学系3
(ガルバノメータ5とfθレンズ6)により、レーザ発
振器1が出射するレーザ光を予め定めた照射面上に走査
し、照射面上に予め置いた加工対象をレーザ光により加
工するようにしている。
【0004】ガルバノメータ5を使用したスキャン光学
系3において、ガルバノメータ5をフルクローズドルー
プ制御するための位置センサーとして、XYステージで
使用しているリニアエンコーダのような0.1[μm]
以下の分解能が得られるようなタイプのロータリ(レー
ザ)光エンコーダ4を使用するのが理想である。しかし
ながら、現在レーザ加工装置のスキャン光学系3に使用
されているロータリ光エンコーダ4は精度が1角度秒
(4.85[μrad])であり、これは焦点距離f=
250[mm](通常は150〜250[mm]を使
用)のfθレンズ6を使用した場合には、1.21[μ
m]の分解能にあたる(0.25[m]x4.85[μ
rad]=1.21[μm])。今後要求される0.1
[μm]以下の分解能は達成できない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のレーザ
加工装置は、予め定めた精度(1角度秒=4.85[μ
rad])を有する光エンコーダを備えたガルバノメー
タにより、レーザ発振器が出射したレーザ光を受け反射
方向を変動させながらこのレーザ光を反射し、焦点距離
f=250[mm]のfθレンズにより、この反射した
レーザ光を入射し、この入射したレーザ光を予め定めた
照射面上に照射するように屈折させることにより、この
スキャン光学系(ガルバノメータとfθレンズ)によ
り、レーザ発振器が出射するレーザ光を予め定めた照射
面上に走査し、照射面上に予め置いた加工対象をレーザ
光により加工するようにしているため、1角度秒の精度
の光エンコーダを有するガルバノメータにより入射した
レーザ光を反射方向を変動させながら反射し、焦点距離
f=250[mm]のfθレンズを使用して、この反射
したレーザ光を入射してこのレーザ光を予め定めた照射
面上に走査しているので、1.21[μm]程度の分解
能しか得られないという問題がある。
【0006】本発明の目的はこのような従来の欠点を除
去するため、現在使用されている精度の光エンコーダを
使用して、この光エンコーダを使用したガルバノメータ
のみでのレーザ光の走査より高精度の走査ができ、今後
要求される0.1[μm]以下の分解能での走査ができ
るレーザ加工装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の第1のレーザ加
工装置は、レーザ光を受け反射方向を変動させながら前
記受けたレーザ光を反射するガルバノメータと、この反
射した前記レーザ光を入射し、予め定めた照射面上で
の、この入射した前記レーザ光の入射角と自レンズの焦
点距離との積に比例した距離の位置に、前記受けた前記
レーザ光を照射するように屈折させるfθレンズとを有
するスキャン光学系を備え、前記ガルバノメータが受け
た前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上に走査す
るレーザ加工装置において、前記レーザ光を出射する前
記レーザ発振器と前記スキャン光学系との間に設けら
れ、前記レーザ発振器が出射する前記レーザ光を入射角
Θで受け、予め定めた周波数Fの振動から変化させた周
波数F+ΔFの振動が加わることにより前記レーザ光を
前記入射角Θに前記ΔFに応じた前記Θの変動分を加え
た出射角Θ+ΔΘで出射する光音響回折素子と、予め定
めた精度を有する光エンコーダを備えた前記ガルバノメ
ータにより、前記光音響回折素子が出射した前記レーザ
光を受け前記予め定めた精度で、反射方向を変動させな
がら前記受けたレーザ光を反射し、前記fθレンズによ
り、この反射した前記レーザ光を入射し、前記予め定め
た照射面上での、前記入射した前記レーザ光の前記fθ
レンズへの入射角θと前記fθレンズの焦点距離fとの
積f・θに比例した距離の位置に、前記入射した前記レ
ーザ光を屈折させて照射するようにして、前記ガルバノ
メータが受けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射
面上に走査する前記スキャン光学系と、を備えて構成さ
れている。
【0008】本発明の第2のレーザ加工装置は、レーザ
光を受け反射方向を変動させながら前記受けたレーザ光
を反射するガルバノメータと、この反射した前記レーザ
光を入射し、予め定めた照射面上での、この入射した前
記レーザ光の入射角と自レンズの焦点距離との積に比例
した距離の位置に、前記受けた前記レーザ光を照射する
ように屈折させるfθレンズとを有するスキャン光学系
を備え、前記ガルバノメータが受けた前記レーザ光を前
記予め定めた前記照射面上に走査するレーザ加工装置に
おいて、前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前
記スキャン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器
が出射する前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの
振動を受けているときには、前記受けた前記レーザ光を
このレーザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射
し、周波数F+ΔFの振動を受けているときには、前記
受けた前記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた
前記Θの変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音
響回折素子と、予め定めた精度を有する光エンコーダを
備えた前記照射面上の第1の軸(Y軸と記載する。)に
沿って走査するための前記ガルバノメータにより、前記
光音響回折素子が出射した前記レーザ光を受け前記予め
定めた精度で、反射方向を変動させながら前記Y軸に対
応する方向に前記受けた前記レーザ光を反射し、前記f
θレンズにより、この反射した前記レーザ光を入射し、
前記予め定めた照射面上での、前記入射した前記レーザ
光の前記Y軸に対応する方向の前記fθレンズへの入射
角θyと前記fθレンズの焦点距離fとの積f・θyに
比例した前記Y軸方向の距離の位置に、前記入射した前
記レーザ光を屈折させて照射するようにして、前記ガル
バノメータが受けた前記レーザ光を前記予め定めた前記
照射面上に走査する前記スキャン光学系と、を備えて構
成されている。
【0009】本発明の第3のレーザ加工装置は、レーザ
光を受け反射方向を変動させながら前記受けたレーザ光
を反射するガルバノメータと、この反射した前記レーザ
光を入射し、予め定めた照射面上での、この入射した前
記レーザ光の入射角と自レンズの焦点距離との積に比例
した距離の位置に、前記受けた前記レーザ光を照射する
ように屈折させるfθレンズとを有するスキャン光学系
を備え、前記ガルバノメータが受けた前記レーザ光を前
記予め定めた前記照射面上に走査するレーザ加工装置に
おいて、前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前
記スキャン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器
が出射する前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの
振動を受けているときには、前記受けた前記レーザ光を
このレーザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射
し、周波数F+ΔFの振動を受けているときには、前記
受けた前記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた
前記Θの変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音
響回折素子と、予め定めた精度を有する光エンコーダを
備えた前記照射面上の第2の軸(X軸と記載する。)に
沿って走査するための前記ガルバノメータにより、前記
光音響回折素子が出射した前記レーザ光を受け前記予め
定めた精度で、反射方向を変動させながら前記X軸に対
応する方向に前記受けた前記レーザ光を反射し、前記f
θレンズにより、この反射した前記レーザ光を入射し、
前記予め定めた照射面上での、前記入射した前記レーザ
光の前記X軸に対応する方向の前記fθレンズへの入射
角θxと前記fθレンズの焦点距離fとの積f・θxに
比例した前記X軸方向の距離の位置に、前記入射した前
記レーザ光を屈折させて照射するようにして、前記ガル
バノメータが受けた前記レーザ光を前記予め定めた前記
照射面上に走査する前記スキャン光学系と、を備えて構
成されている。
【0010】本発明の第4のレーザ加工装置は、レーザ
光を受け反射方向を変動させながら前記受けたレーザ光
を反射するガルバノメータと、この反射した前記レーザ
光を入射し、予め定めた照射面上での、この入射した前
記レーザ光の入射角と自レンズの焦点距離との積に比例
した距離の位置に、前記受けた前記レーザ光を照射する
ように屈折させるfθレンズとを有するスキャン光学系
を備え、前記ガルバノメータが受けた前記レーザ光を前
記予め定めた前記照射面上に走査するレーザ加工装置に
おいて、前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前
記スキャン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器
が出射する前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの
振動を受けているときには、前記受けた前記レーザ光を
このレーザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射
し、周波数F+ΔFの振動を受けているときには、前記
受けた前記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた
前記Θの変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音
響回折素子と、予め定めた精度を有する光エンコーダを
備えた前記照射面上の予め定めた第2の軸(X軸と記載
する。)に沿って走査するための第2の前記ガルバノメ
ータにより、前記光音響回折素子が出射した前記レーザ
光を受け前記予め定めた精度で、反射方向を変動させな
がら前記X軸に対応する方向に前記受けた前記レーザ光
を反射し、予め定めた前記精度を有する前記光エンコー
ダを備えた前記照射面上の前記X軸に直行する第1の軸
(Y軸と記載する。)に沿って走査するための第1の前
記ガルバノメータにより、前記第2の前記ガルバノメー
タが反射した前記レーザ光を受け前記予め定めた精度
で、反射方向を変動させながら前記Y軸に対応する方向
に前記受けた前記レーザ光を反射し、2次元の前記fθ
レンズにより、この反射した前記レーザ光を入射し、前
記予め定めた照射面上での、前記入射した前記レーザ光
の前記Y軸に対応する方向の前記2次元の前記fθレン
ズへの前記入射角θyと前記2次元の前記fθレンズの
焦点距離fとの積f・θyに比例した前記Y軸方向の距
離の位置と、前記入射した前記レーザ光の前記X軸に対
応する方向の前記2次元の前記fθレンズへの前記入射
角θxと前記2次元の前記fθレンズの焦点距離fとの
積f・θxに比例した前記X軸方向の距離の位置とによ
り示される位置に、前記入射した前記レーザ光を屈折さ
せて照射するようにして、それぞれの前記ガルバノメー
タが受けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上
のYX平面に走査する前記スキャン光学系と、を備えて
構成されている。
【0011】本発明の第5のレーザ加工装置は、レーザ
光を受け反射方向を変動させながら前記受けたレーザ光
を反射するガルバノメータと、この反射した前記レーザ
光を入射し、予め定めた照射面上での、この入射した前
記レーザ光の入射角と自レンズの焦点距離との積に比例
した距離の位置に、前記受けた前記レーザ光を照射する
ように屈折させるfθレンズとを有するスキャン光学系
を備え、前記ガルバノメータが受けた前記レーザ光を前
記予め定めた前記照射面上に走査するレーザ加工装置に
おいて、前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前
記スキャン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器
が出射する前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの
振動を受けているときには、前記受けた前記レーザ光を
このレーザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射
し、周波数F+ΔFの振動を受けているときには、前記
受けた前記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた
前記Θの変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音
響回折素子と、予め定めた精度を有する光エンコーダを
備えた前記照射面上の予め定めた第1の軸(Y軸と記載
する。)に沿って走査するための第1の前記ガルバノメ
ータにより、前記光音響回折素子が出射した前記レーザ
光を受け前記予め定めた精度で、反射方向を変動させな
がら前記Y軸に対応する方向に前記受けた前記レーザ光
を反射し、予め定めた前記精度を有する前記光エンコー
ダを備えた前記照射面上の前記Y軸に直行する第2の軸
(X軸と記載する。)に沿って走査するための第2の前
記ガルバノメータにより、前記第2の前記ガルバノメー
タが反射した前記レーザ光を受け前記予め定めた精度
で、反射方向を変動させながら前記X軸に対応する方向
に前記受けた前記レーザ光を反射し、2次元の前記fθ
レンズにより、この反射した前記レーザ光を入射し、前
記予め定めた照射面上での、前記入射した前記レーザ光
の前記X軸に対応する方向の前記2次元の前記fθレン
ズへの前記入射角θxと前記2次元の前記fθレンズの
焦点距離fとの積f・θxに比例した前記X軸方向の距
離の位置と、前記入射した前記レーザ光の前記Y軸に対
応する方向の前記2次元の前記fθレンズへの前記入射
角θyと前記2次元の前記fθレンズの焦点距離fとの
積f・θyに比例した前記Y軸方向の距離の位置とによ
り示される位置に、前記入射した前記レーザ光を屈折さ
せて照射するようにして、それぞれの前記ガルバノメー
タが受けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上
のYX平面に走査する前記スキャン光学系と、を備えて
構成されている。
【0012】本発明の第1から第5のレーザ加工装置の
前記光音響回折素子は、前記振動の前記周波数F+ΔF
中の前記ΔFを±(予め定めた周波数)/k(kは、正
の整数)とすることにより、前記レーザ光の前記出射角
Θ+ΔΘ中の前記ΔΘの分解能を前記ガルバノメータの
有する前記光エンコーダの前記精度の1/kとするよう
にしている。
【0013】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0014】図1は、本発明のレーザ加工装置の一つの
実施の形態を示す構成図である。
【0015】図1に示す本実施の形態は、レーザ光を受
け反射方向を変動させながらこの受けたレーザ光を反射
するガルバノメータ5と、この反射したレーザ光を入射
し、予め定めた照射面上での、この入射したレーザ光の
入射角と自レンズの焦点距離との積に比例した距離の位
置に、この受けたレーザ光を照射するように屈折させる
例えば2次元のfθレンズ6(1次元でも良い)とを有
するスキャン光学系3を備え、このガルバノメータ5が
受けたレーザ光をこの予め定めた照射面(焦点距離の位
置にありレーザ光のスポットを結像させる面)上に走査
するレーザ加工装置において、レーザ光を出射するレー
ザ発振器1とスキャン光学系3との間に設けられ、レー
ザ発振器1が出射するレーザ光を入射角Θで受け、予め
定めた周波数Fの振動から変化させた周波数F+ΔFの
振動が加わることによりレーザ光を入射角ΘにΔFに応
じたこのΘの変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する
光音響回折素子2AODy(なお、図1には、光音響回
折素子2AODyと同じ種類のX軸の微小調整用に設け
た光音響回折素子AODxを光音響回折素子2AODy
の前段に設けてある。これは、光学系の補正用として用
いるものである。)と、予め定めた精度を有する光エン
コーダ4を備えたガルバノメータ5により、光音響回折
素子2AODyが出射したレーザ光を受けこの予め定め
た精度で、反射方向を変動させながらこの受けたレーザ
光を反射し、fθレンズ6により、この反射したレーザ
光を入射し、予め定めた照射面上での、この入射したレ
ーザ光のfθレンズ6への入射角θとfθレンズ6の焦
点距離fとの積f・θに比例した距離の位置に、この入
射したレーザ光を屈折させて照射するようにして、この
ガルバノメータ5が受けたレーザ光を予め定めた照射面
上に走査するスキャン光学系3とにより構成されてい
る。
【0016】光音響回折素子2AODyは、周波数F+
ΔF中のΔFを±(予め定めた周波数)/k(kは、正
の整数)とすることにより、レーザ光の出射角Θ+ΔΘ
中のΔΘの分解能をガルバノメータ5の有する光エンコ
ーダ4の精度の1/kとするようにしている。
【0017】次に、本実施の形態のレーザ加工装置の動
作を図2、図3、図4及び図5を参照して詳細に説明す
る。
【0018】図2は、制御部の一例を示す図である。制
御用コントローラとしての例えばパーソナルコンピュー
タ(PC)等のコンピュータにレーザ光の照射面上の最
終照射位置までの距離Aを示す位置指令とレーザ光の出
射を指令する出射指令が入力されると、PCは、この距
離Aをロータリ光エンコーダ方式のガルバノメータ5に
よるレーザ光の移動距離mΔa(ここでΔaは、光エン
コーダ4の精度に対応する照射面上の距離、すなわち分
解能)と、このΔa以下の残り分の微小距離B(B=A
−mΔa;mはBが最小となる整数)とに分解し、それ
ぞれを、ガルバノメータコントローラとAODyドライ
バー(RFドライバー)とに振り分けて出力する。すな
わち、ガルバノメータコントローラにmΔaを、AOD
yドライバーにnΔbをmとnとの整数を昇順にして出
力する。ここで、照射線を補間する補間用の信号Cは、
C=A−B+nΔb(ここでΔbは、光音響回折素子2
AODyの精度に対応する照射面上の距離、また、nは
Cの絶対値が最小となる整数)である(すなわちC=m
Δa+nΔb)。ガルバノメータ5はガルバノメータコ
ントローラによりガルバノメータドライバを介して制御
される。また、光音響回折素子2AODyと光音響回折
素子AODxとの制御は、PCで作られる補間制御値n
Δbあるいは蛇行補正用の制御信号に従って、PLL発
振器によって生成された厳密な周波数で動作される(す
なわち、AODyドライバーにより、予め定めた周波数
F(例えば、80[MHz])の振動を光音響回折素子
2AODyに加えたときに、この光音響回折素子2AO
Dyに入射角Θで入射するレーザ光を出射角Θで出射さ
せ、周波数F+ΔFの振動を光音響回折素子2AODy
に加えたときに、前記入射角Θで入射したレーザ光を出
射角Θ+ΔΘで出射させる。)。尚、X軸方向への蛇行
補正のため本実施例に示した光音響回折素子AODxに
は、通常、PC内で位置指令値の関数となっている(マ
ップ)補正パラメータを計算して、補正値が与えられる
ような制御をする。出射指令は、位置指令と同期して入
力され、PCからレーザコントローラに出力される。通
常本信号は非常に高速であるため、レーザ発振器1に設
けられた光変調器にON/OFF信号を出力する構成を
採るのが一般的である。
【0019】図3は、光エンコーダの精度を補間するた
めの光音響回折素子AODyを2段に分けた例を示す図
である。
【0020】図4は、光音響回折素子AODyを2段に
分けたときの制御部の一例を示す図である。この2段に
分けた各光音響回折素子2AODyは補間信号値に対し
て正負が反対の回折角が得られるRF信号を与えるよう
に構成してある。たとえば、AODy−1、AODy−
2のトランスジューサー(電圧を振動に変換する変換
器)に対して、RF周波数の中心周波数がFc[Hz]
で与えられているとすれば、AODy−1に補間信号F
c+δFc[Hz]と与えるとすれば、AODy−2に
は補間信号Fc−δFc[Hz]を与えるように制御す
る。AODy−1に補間信号Fc+δFcをRFドライ
バーに入力し、AODy−2には補間信号Fc+δFc
をRFドライバーに入力する。また、AODy−1とA
ODy−2の配置は、fθレンズ6の瞳位置であるガル
バノメータ5の回転軸上にレーザ光が通るようにL1=
L2になるようにしてある。
【0021】図5は、ガルバノメータをX軸用とY軸用
とを有した面走査用としたときの一例を示す図である。
【0022】図1において、レーザ発振器1が出射する
レーザ光を光音響回折素子AODxで受けこの光音響回
折素子AODxを図2に示すように制御して、X軸方向
への蛇行補正を行って出力し、光音響回折素子2AOD
yにより、光音響回折素子AODxが出力したレーザ光
を、照射面のY軸方向に対応するこの光音響回折素子2
AODy上の方向への偏角をΘとして受け(入射角Θ)
たときに、この光音響回折素子2AODyが予め定めた
周波数F(例えば、80[MHz])の振動を受けてい
るときには、この受けたレーザ光をこのレーザ光の入射
角Θと同じ方向と同じ大きさの角Θ(出射角Θ)で出射
し、周波数F+ΔFの振動を受けているときには、この
受けたレーザ光を入射角ΘにΔFに応じたΘの変動分を
加えた出射角Θ+ΔΘで出射する。予め定めた精度(1
角度秒=4.85[μrad])を有する光エンコーダ
4を備えた照射面上のY軸に沿って走査するためのガル
バノメータ5により、光音響回折素子2AODyが出射
したレーザ光を受けこの予め定めた精度で、反射方向を
変動させながらY軸に対応する方向にこの受けたレーザ
光を反射し、fθレンズ6により、この反射したレーザ
光を入射し、照射面上での、この入射したレーザ光のY
軸に対応する方向のfθレンズ6への入射角θyとfθ
レンズ6の焦点距離fとの積f・θyに比例したY軸方
向の距離の位置に、この入射したレーザ光を屈折させて
照射するようにして、レーザ発振器1の出射したレーザ
光を予め定めた照射面上に走査する。
【0023】ここで、照射面上でのレーザ光の走査を
0.1[μm]以下の分解能で制御をするために、ま
ず、現状のロータリ光エンコーダ4(回折干渉方式)の
精度で1[μm]の分解能を確保し、さらに光音響回折
素子2AODyによって(電気的に)1/10〜1/1
00に補間することにより、0.1[μm]〜0.01
[μm]の分解能を得るようにすることを説明する。光
音響回折素子2AODyを使用した音響光学効果による
レーザ光の偏向は、光音響回折素子2AODyに加えら
れた音波周波数がFからF+ΔFに変化したときに回折
光ビームの方向(レーザ光の偏向)が角ΘからΘ+ΔΘ
に変化する。ここで、λ:レーザ光の波長、n:光音響
回折素子2AODyの屈折率、V:光音響回折素子2A
ODyの媒質中の音速とすると、ΔΘは、ΔΘ=(λx
ΔF)/nxVで与えられる。ここで、レーザ光にN
d:YAGレーザのλ=1.064[μm]、光音響回
折素子2AODyの材質として溶融石英を用いると仮定
すると、V=5.97x103[m/s]、n=1.4
6であるから、ΔΘ=1.22x10-10ΔFとなる。
利用するロータリ光エンコーダ4の精度を1角度秒(=
4.85 [μrad])とすれば、この精度(分解
能)を1/kで補間することを考えるとΔF=(4.8
5x10-6)/(1.22x10-10xk)=(39.
8/k)[KHz]で示される単位の制御が必要にな
る。
【0024】ところで、RF(Radio Frequ
ency)は、PLL(PhaseLocked Lo
op)回路あるいは専用の周波数コントロール用LSI
などを用いれば簡単に1Hz単位の高安定度な周波数を
作ることができる。即ち、光音響回折素子2AODyに
印加するRF周波数を、例えば80.00[MHz]を
中心として、±(19.9/k)[KHz](ここで、
39.8[KHz]/2=19.9[KHz])で制御
する補間を行うことになる。また、PLL回路の電気的
な周波数安定度は0.1[Hz]程度であるから、制御
精度として0.5%の安定度を得ようとするとき、補間
間隔は0.2[KHz](0.1[Hz]/0.2[K
Hz]=0.5%)となる。従って、19.9[KH
z]/0.2[KHz]=99.5であるから、kの値
をk=100にすることができる。即ち、100分割で
補間させることが可能であることが判る。この結果、1
00倍の制御分解能を得ることができる。ここで、たと
えば、k=100として、1角度秒のロータリ光エンコ
ーダ4を用い、f=250[mm]のfθレンズ6を使
用したとすると、最小補間分解能(0.25x4.85
x10-6)/100[m]=0.0121[μm]とな
る(k=10のときには0.121[μm]となる)。
スキャンエリアがφ1000 [mm]を超すf=20
00[mm]の大型のfθレンズ6を使用しても最小補
間分解能=0.097[μm]((2x4.85x10
-6)/100[m]=0.097[μm])となり、今
後要求される0.1[μm]以下の加工精度を満足する
制御が可能になる。
【0025】以上の説明では、レーザ発振器1とガルバ
ノメータ5との間に、光エンコーダ4の精度(分解能)
を補間するための光音響回折素子2AODyを一つ設け
たが、図3と図4とに示すように、この光音響回折素子
2AODyを2段に分けても良い。光音響回折素子2A
ODyを2段にすることにより、fθレンズ6の瞳位置
を通り、fθレンズ6に入射する入射角を変化させるこ
とができるため、図1で示したような1段の光音響回折
素子2AODyによる補間制御と比較して、fθレンズ
6の歪みの影響をより小さくすることができる。この結
果補正を少なくできるため制御がより簡単にすることが
でき、より高速制御ができるようになる利点もある。
【0026】また、一つのガルバノメータ5をY軸用に
し線走査用としたが、図5に示すように、2つガルバノ
メータ5をX軸用とY軸用とにし面走査用としても良
い。このときには、スキャン光学系3は次のようにな
る。すなわち、このスキャン光学系3により、予め定め
た精度を有する光エンコーダ4を備えた照射面上の予め
定めた第2の軸(X軸)に沿って走査するための第2の
ガルバノメータ5により、光音響回折素子2AODyが
出射したレーザ光を受け予め定めた精度で、反射方向を
変動させながらX軸に対応する方向にこの受けたレーザ
光を反射し、予め定めた精度を有する光エンコーダ4を
備えた照射面上のX軸に直行する第1の軸(Y軸)に沿
って走査するための第1のガルバノメータ5により、第
2のガルバノメータ5が反射したレーザ光を受け予め定
めた精度で、反射方向を変動させながらY軸に対応する
方向に受けたレーザ光を反射し、2次元のfθレンズ6
により、この反射したレーザ光を入射し、予め定めた照
射面上での、入射したレーザ光のY軸に対応する方向の
2次元のfθレンズ6への入射角θyと2次元のfθレ
ンズ6の焦点距離fとの積f・θyに比例したY軸方向
の距離の位置と、入射したレーザ光のX軸に対応する方
向の2次元のfθレンズ6への入射角θxと2次元のf
θレンズ6の焦点距離fとの積f・θxに比例したX軸
方向の距離の位置とにより示される位置に、入射したレ
ーザ光を屈折させて照射するようにして、それぞれのガ
ルバノメータ5が受けたレーザ光を予め定めた照射面上
のYX平面に走査する。
【0027】更に、以上の説明で使用した軸の名称を示
すX(又はx)とY(又はy)とを読み替えても良い。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のレーザ加
工装置によれば、光音響回折素子により、レーザ発振器
が出射するレーザ光を入射角Θで受け、予め定めた周波
数Fの振動から変化させた周波数F+ΔFの振動が加わ
ることによりレーザ光を出射角Θ+ΔΘで出射し、予め
定めた精度を有する光エンコーダを備えたガルバノメー
タにより、光音響回折素子が出射したレーザ光を受けこ
の予め定めた精度で、反射方向を変動させながらこの受
けたレーザ光を反射し、fθレンズにより、このレーザ
光を屈折させて照射するようにして、このガルバノメー
タが受けたレーザ光を予め定めた照射面上に走査するた
め、光音響回折素子により、レーザ光の方向をガルバノ
メータに入る前にΔΘ分補正するので、光エンコーダを
使用したガルバノメータのみでのレーザ光の走査より高
精度の走査ができる。
【0029】また、光音響回折素子は、周波数F+ΔF
中のΔFを±(予め定めた周波数)/k(kは、正の整
数)とすることにより、レーザ光の出射角Θ+ΔΘ中の
ΔΘの分解能をガルバノメータの有する光エンコーダの
精度の1/kとするようにしているので、照射面上での
レーザ光の走査の分解能を光エンコーダの精度の1/k
とすることができる。具体的にF=80[MHz]、Δ
F=±19.9[KHz]/k、ΔΘ=1角度秒(=
4.85[μrad]:光エンコーダの精度)、fθレ
ンズの焦点距離f=250[mm]とすると、照射面上
でのレーザ光の走査の分解能(最小補間分解能)=fx
ΔΘ/k=0.25x4.85x10−16/k=1.
21/k[μm]となり、k=10にすると、最小補間
分解能=1.21/10[μm]=0.121[μ
m]、k=100にすると、最小補間分解能=1.21
/100[μm]=0.0121[μm]となり、今後
要求される0.1[μm]以下の加工精度を満足する制
御が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレーザ加工装置の一つの実施の形態を
示す構成図である。
【図2】制御部の一例を示す図である。
【図3】光エンコーダの精度を補間するための光音響回
折素子AODyを2段に分けた例を示す図である。
【図4】光音響回折素子AODyを2段に分けたときの
制御部の一例を示す図である。
【図5】ガルバノメータをX軸用とY軸用とを有した面
走査用としたときの一例を示す図である。
【図6】従来のレーザ加工装置の構成図である。
【符号の説明】
1 レーザ発振器 2 光音響回折素子 3 スキャン光学系 4 光エンコーダ 5 ガルバノメータ 6 fθレンズ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光を受け反射方向を変動させなが
    ら前記受けたレーザ光を反射するガルバノメータと、こ
    の反射した前記レーザ光を入射し、予め定めた照射面上
    での、この入射した前記レーザ光の入射角と自レンズの
    焦点距離との積に比例した距離の位置に、前記受けた前
    記レーザ光を照射するように屈折させるfθレンズとを
    有するスキャン光学系を備え、前記ガルバノメータが受
    けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上に走査
    するレーザ加工装置において、 前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前記スキャ
    ン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器が出射す
    る前記レーザ光を入射角Θで受け、予め定めた周波数F
    の振動から変化させた周波数F+ΔFの振動が加わるこ
    とにより前記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じ
    た前記Θの変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光
    音響回折素子と、 予め定めた精度を有する光エンコーダを備えた前記ガル
    バノメータにより、前記光音響回折素子が出射した前記
    レーザ光を受け前記予め定めた精度で、反射方向を変動
    させながら前記受けたレーザ光を反射し、前記fθレン
    ズにより、この反射した前記レーザ光を入射し、前記予
    め定めた照射面上での、前記入射した前記レーザ光の前
    記fθレンズへの入射角θと前記fθレンズの焦点距離
    fとの積f・θに比例した距離の位置に、前記入射した
    前記レーザ光を屈折させて照射するようにして、前記ガ
    ルバノメータが受けた前記レーザ光を前記予め定めた前
    記照射面上に走査する前記スキャン光学系と、 を備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
  2. 【請求項2】 レーザ光を受け反射方向を変動させなが
    ら前記受けたレーザ光を反射するガルバノメータと、こ
    の反射した前記レーザ光を入射し、予め定めた照射面上
    での、この入射した前記レーザ光の入射角と自レンズの
    焦点距離との積に比例した距離の位置に、前記受けた前
    記レーザ光を照射するように屈折させるfθレンズとを
    有するスキャン光学系を備え、前記ガルバノメータが受
    けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上に走査
    するレーザ加工装置において、 前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前記スキャ
    ン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器が出射す
    る前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの振動を受
    けているときには、前記受けた前記レーザ光をこのレー
    ザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射し、周波
    数F+ΔFの振動を受けているときには、前記受けた前
    記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた前記Θの
    変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音響回折素
    子と、 予め定めた精度を有する光エンコーダを備えた前記照射
    面上の第1の軸(Y軸と記載する。)に沿って走査する
    ための前記ガルバノメータにより、前記光音響回折素子
    が出射した前記レーザ光を受け前記予め定めた精度で、
    反射方向を変動させながら前記Y軸に対応する方向に前
    記受けた前記レーザ光を反射し、前記fθレンズによ
    り、この反射した前記レーザ光を入射し、前記予め定め
    た照射面上での、前記入射した前記レーザ光の前記Y軸
    に対応する方向の前記fθレンズへの入射角θyと前記
    fθレンズの焦点距離fとの積f・θyに比例した前記
    Y軸方向の距離の位置に、前記入射した前記レーザ光を
    屈折させて照射するようにして、前記ガルバノメータが
    受けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上に走
    査する前記スキャン光学系と、 を備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
  3. 【請求項3】 レーザ光を受け反射方向を変動させなが
    ら前記受けたレーザ光を反射するガルバノメータと、こ
    の反射した前記レーザ光を入射し、予め定めた照射面上
    での、この入射した前記レーザ光の入射角と自レンズの
    焦点距離との積に比例した距離の位置に、前記受けた前
    記レーザ光を照射するように屈折させるfθレンズとを
    有するスキャン光学系を備え、前記ガルバノメータが受
    けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上に走査
    するレーザ加工装置において、 前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前記スキャ
    ン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器が出射す
    る前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの振動を受
    けているときには、前記受けた前記レーザ光をこのレー
    ザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射し、周波
    数F+ΔFの振動を受けているときには、前記受けた前
    記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた前記Θの
    変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音響回折素
    子と、予め定めた精度を有する光エンコーダを備えた前
    記照射面上の第2の軸(X軸と記載する。)に沿って走
    査するための前記ガルバノメータにより、前記光音響回
    折素子が出射した前記レーザ光を受け前記予め定めた精
    度で、反射方向を変動させながら前記X軸に対応する方
    向に前記受けた前記レーザ光を反射し、前記fθレンズ
    により、この反射した前記レーザ光を入射し、前記予め
    定めた照射面上での、前記入射した前記レーザ光の前記
    X軸に対応する方向の前記fθレンズへの入射角θxと
    前記fθレンズの焦点距離fとの積f・θxに比例した
    前記X軸方向の距離の位置に、前記入射した前記レーザ
    光を屈折させて照射するようにして、前記ガルバノメー
    タが受けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上
    に走査する前記スキャン光学系と、 を備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
  4. 【請求項4】 前記fθレンズは、1次元のfθレンズ
    であることを特徴とする請求項1又は2記載のレーザ加
    工装置。
  5. 【請求項5】 前記fθレンズは、2次元のfθレンズ
    であることを特徴とする請求項1又は2記載のレーザ加
    工装置。
  6. 【請求項6】 レーザ光を受け反射方向を変動させなが
    ら前記受けたレーザ光を反射するガルバノメータと、こ
    の反射した前記レーザ光を入射し、予め定めた照射面上
    での、この入射した前記レーザ光の入射角と自レンズの
    焦点距離との積に比例した距離の位置に、前記受けた前
    記レーザ光を照射するように屈折させるfθレンズとを
    有するスキャン光学系を備え、前記ガルバノメータが受
    けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上に走査
    するレーザ加工装置において、 前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前記スキャ
    ン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器が出射す
    る前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの振動を受
    けているときには、前記受けた前記レーザ光をこのレー
    ザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射し、周波
    数F+ΔFの振動を受けているときには、前記受けた前
    記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた前記Θの
    変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音響回折素
    子と、 予め定めた精度を有する光エンコーダを備えた前記照射
    面上の予め定めた第2の軸(X軸と記載する。)に沿っ
    て走査するための第2の前記ガルバノメータにより、前
    記光音響回折素子が出射した前記レーザ光を受け前記予
    め定めた精度で、反射方向を変動させながら前記X軸に
    対応する方向に前記受けた前記レーザ光を反射し、予め
    定めた前記精度を有する前記光エンコーダを備えた前記
    照射面上の前記X軸に直行する第1の軸(Y軸と記載す
    る。)に沿って走査するための第1の前記ガルバノメー
    タにより、前記第2の前記ガルバノメータが反射した前
    記レーザ光を受け前記予め定めた精度で、反射方向を変
    動させながら前記Y軸に対応する方向に前記受けた前記
    レーザ光を反射し、2次元の前記fθレンズにより、こ
    の反射した前記レーザ光を入射し、前記予め定めた照射
    面上での、前記入射した前記レーザ光の前記Y軸に対応
    する方向の前記2次元の前記fθレンズへの前記入射角
    θyと前記2次元の前記fθレンズの焦点距離fとの積
    f・θyに比例した前記Y軸方向の距離の位置と、前記
    入射した前記レーザ光の前記X軸に対応する方向の前記
    2次元の前記fθレンズへの前記入射角θxと前記2次
    元の前記fθレンズの焦点距離fとの積f・θxに比例
    した前記X軸方向の距離の位置とにより示される位置
    に、前記入射した前記レーザ光を屈折させて照射するよ
    うにして、それぞれの前記ガルバノメータが受けた前記
    レーザ光を前記予め定めた前記照射面上のYX平面に走
    査する前記スキャン光学系と、 を備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
  7. 【請求項7】 レーザ光を受け反射方向を変動させなが
    ら前記受けたレーザ光を反射するガルバノメータと、こ
    の反射した前記レーザ光を入射し、予め定めた照射面上
    での、この入射した前記レーザ光の入射角と自レンズの
    焦点距離との積に比例した距離の位置に、前記受けた前
    記レーザ光を照射するように屈折させるfθレンズとを
    有するスキャン光学系を備え、前記ガルバノメータが受
    けた前記レーザ光を前記予め定めた前記照射面上に走査
    するレーザ加工装置において、 前記レーザ光を出射する前記レーザ発振器と前記スキャ
    ン光学系との間に設けられ、前記レーザ発振器が出射す
    る前記レーザ光を受け、予め定めた周波数Fの振動を受
    けているときには、前記受けた前記レーザ光をこのレー
    ザ光の入射角Θと同じ大きさの出射角Θで出射し、周波
    数F+ΔFの振動を受けているときには、前記受けた前
    記レーザ光を前記入射角Θに前記ΔFに応じた前記Θの
    変動分を加えた出射角Θ+ΔΘで出射する光音響回折素
    子と、 予め定めた精度を有する光エンコーダを備えた前記照射
    面上の予め定めた第1の軸(Y軸と記載する。)に沿っ
    て走査するための第1の前記ガルバノメータにより、前
    記光音響回折素子が出射した前記レーザ光を受け前記予
    め定めた精度で、反射方向を変動させながら前記Y軸に
    対応する方向に前記受けた前記レーザ光を反射し、予め
    定めた前記精度を有する前記光エンコーダを備えた前記
    照射面上の前記Y軸に直行する第2の軸(X軸と記載す
    る。)に沿って走査するための第2の前記ガルバノメー
    タにより、前記第2の前記ガルバノメータが反射した前
    記レーザ光を受け前記予め定めた精度で、反射方向を変
    動させながら前記X軸に対応する方向に前記受けた前記
    レーザ光を反射し、2次元の前記fθレンズにより、こ
    の反射した前記レーザ光を入射し、前記予め定めた照射
    面上での、前記入射した前記レーザ光の前記X軸に対応
    する方向の前記2次元の前記fθレンズへの前記入射角
    θxと前記2次元の前記fθレンズの焦点距離fとの積
    f・θxに比例した前記X軸方向の距離の位置と、前記
    入射した前記レーザ光の前記Y軸に対応する方向の前記
    2次元の前記fθレンズへの前記入射角θyと前記2次
    元の前記fθレンズの焦点距離fとの積f・θyに比例
    した前記Y軸方向の距離の位置とにより示される位置
    に、前記入射した前記レーザ光を屈折させて照射するよ
    うにして、それぞれの前記ガルバノメータが受けた前記
    レーザ光を前記予め定めた前記照射面上のYX平面に走
    査する前記スキャン光学系と、 を備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
  8. 【請求項8】 前記光音響回折素子は、前記振動の前記
    周波数F+ΔF中の前記ΔFを±(予め定めた周波数)
    /k(kは、正の整数)とすることにより、前記レーザ
    光の前記出射角Θ+ΔΘ中の前記ΔΘの分解能を前記ガ
    ルバノメータの有する前記光エンコーダの前記精度の1
    /kとするようにしたことを特徴とする請求項1、2、
    3、4、5、6又は7記載のレーザ加工装置。
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