JP2002231789A - Pickup method of semiconductor chip - Google Patents

Pickup method of semiconductor chip

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JP2002231789A
JP2002231789A JP2001022980A JP2001022980A JP2002231789A JP 2002231789 A JP2002231789 A JP 2002231789A JP 2001022980 A JP2001022980 A JP 2001022980A JP 2001022980 A JP2001022980 A JP 2001022980A JP 2002231789 A JP2002231789 A JP 2002231789A
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Japan
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chip
semiconductor chip
pickup
wafer sheet
stage
Prior art date
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JP2001022980A
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Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Shimotahira
正 下田平
Kimiaki Takeda
公彰 竹田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform a pickup operation efficiently by shortening a time required for recognizing a chip. SOLUTION: When the positions of semiconductor chips 6 on a wafer sheet 5 are detected one stage after another in a predetermined order, the positions of the next stage adjacent thereto where the semiconductor chip 6 are absent are stored in a memory 16. After detecting the positions of the semiconductor chips of one stage on the wafer sheet 5 is finished, a pickup head 8 is moved to the nearest position (a) of the next stage that is obtained from the memory 16 and to the position not existing the following semiconductor chip 16.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ウェハから切り出
されウェハシートに貼着された状態の半導体チップのピ
ックアップ方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for picking up semiconductor chips cut from a wafer and attached to a wafer sheet.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造工程において、半導体
チップは多数の個片チップよりなるウェハから切り出さ
れる。この個片チップの切り出しは、粘着性のウェハシ
ートにウェハを貼着した状態で行われ、切り出された個
片チップはウェハシートから剥ぎ取られてピックアップ
される。従来、この個片チップのピックアップのための
位置合わせは、画像認識による位置検出によって行わ
れ、ウェハシート上で撮像された画面を基準の半導体チ
ップのパターンとパターンマッチングさせることにより
半導体チップの位置検出を行っている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device manufacturing process, a semiconductor chip is cut out from a wafer composed of a large number of individual chips. The individual chips are cut out with the wafer attached to an adhesive wafer sheet, and the cut individual chips are peeled off from the wafer sheet and picked up. Conventionally, the positioning of the individual chips for pick-up is performed by position detection by image recognition, and the position of the semiconductor chips is detected by pattern-matching a screen imaged on a wafer sheet with a pattern of a reference semiconductor chip. It is carried out.

【0003】図4は従来のピックアップ装置によるピッ
クアップ動作を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a pickup operation by a conventional pickup device.

【0004】図に示すように、ウェハ保持テーブル51
には半導体チップ52が多数貼着されたウェハシート5
3が装着されており、ウェハ保持テーブル51の上方に
備えたカメラによってウェハシート53上の半導体チッ
プ52を撮像することにより、半導体チップ52の位置
を検出し、その検出位置でピックアップヘッド(図示せ
ず)により半導体チップ52をピックアップする。
As shown in FIG. 1, a wafer holding table 51 is provided.
Is a wafer sheet 5 on which a large number of semiconductor chips 52 are attached.
3, a camera provided above the wafer holding table 51 picks up an image of the semiconductor chip 52 on the wafer sheet 53, thereby detecting the position of the semiconductor chip 52, and detecting the position of the semiconductor chip 52 at the detected position. ) Picks up the semiconductor chip 52.

【0005】このとき、チップ認識結果が“チップ無
し”の場合、ピックアップヘッドをピッチ送りしてチッ
プを探す。そして、設定回数(図示例では6回)のピッ
チ送りの結果、チップを探せなかった場合、列を下段へ
変更し、逆方向にピックアップヘッドをピッチ送りして
チップを探す。“チップ無し”の場合であっても設定回
数のピッチ送りを行うのは、ウェハシート53上の各半
導体チップ52の配列が、蛇行、歯抜け、貼り合わせに
よる列飛び等によって、必ずしも一定ピッチの規則的な
配列とはならないためである。
At this time, if the chip recognition result is "no chip", the pickup head is pitch-fed to search for a chip. If the chip cannot be found as a result of the pitch feeding of the set number of times (in the illustrated example, six times), the row is changed to the lower row, and the pickup head is pitch-fed in the reverse direction to search for the chip. Even if “no chip” is set, the pitch is fed the set number of times because the arrangement of the semiconductor chips 52 on the wafer sheet 53 is not necessarily constant pitch due to meandering, missing teeth, and skipping due to bonding. This is because it does not become a regular array.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の方法では、
“チップ無し”の場合のピッチ送り回数を、下段のチッ
プが多い場合を想定して多めに設定する必要がある。こ
の“チップ無し”の場合のピッチ送りの設定回数が多く
なると、それに応じて逆方向へのピックアップヘッドの
ピッチ送りの回数も大きくなるため、ピックアップ作業
に費やす時間も長くなる。
In the above conventional method,
The number of pitch feeds in the case of “no chip” needs to be set to a relatively large number, assuming that there are many lower chips. If the set number of pitch feeds in the case of “no chip” increases, the number of pitch feeds of the pickup head in the reverse direction increases accordingly, so that the time spent for the pick-up operation also increases.

【0007】そこで、本発明は、チップ認識時間を短縮
して効率的なピックアップ作業を行うことができる半導
体チップのピックアップ方法を提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method of picking up a semiconductor chip, which can shorten the chip recognition time and perform an efficient pick-up operation.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
本発明は、ウェハシート上の半導体チップの位置検出を
所定順序に従って1段ずつ行う際に隣接する次段の半導
体チップの無い位置を検出して記憶手段に記憶してお
き、ウェハシート上の半導体チップの1段の位置検出が
終わった後に記憶手段から取得した次段の半導体チップ
の無い最近の位置に基づいてピックアップ部を移動する
ように構成したものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-described problems, the present invention detects a position where there is no adjacent next-stage semiconductor chip when performing position detection of semiconductor chips on a wafer sheet one by one in a predetermined order. After the position detection of one stage of the semiconductor chip on the wafer sheet is completed, the pickup unit is moved based on the latest position without the next stage semiconductor chip acquired from the storage unit. It is what was constituted.

【0009】これにより、1段の位置検出が終わった
後、次段に位置する半導体チップの位置検出を所定順序
に従って行うことなく、次段の半導体チップの無い最近
の位置に基づいてピックアップ部を一気に移動すること
で、チップ認識時間を短縮して効率的なピックアップ作
業を行うことが可能となる。
Thus, after the position detection of one stage is completed, the position of the semiconductor chip located in the next stage is not detected in a predetermined order, and the pickup unit is moved based on the latest position where there is no semiconductor chip in the next stage. By moving at once, it is possible to shorten the chip recognition time and perform an efficient pickup operation.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】請求項1に記載の発明は、ウェハ
シートに所定のパターンで貼着された半導体チップのピ
ックアップ方法であって、前記ウェハシート上の半導体
チップの位置検出を所定順序に従って1段ずつ行う際に
隣接する次段の半導体チップの無い位置を検出して記憶
手段に記憶しておき、前記ウェハシート上の半導体チッ
プの1段の位置検出が終わった後に前記記憶手段から取
得した次段の半導体チップの無い最近の位置に基づいて
ピックアップ部を移動することを特徴とする半導体チッ
プのピックアップ方法であり、1段の位置検出が終わっ
た後、次段に位置する半導体チップの位置検出を所定順
序に従って行うことなく、次段の半導体チップの無い最
近の位置に基づいてピックアップ部を一気に移動するこ
とができる。
The invention according to claim 1 is a method for picking up semiconductor chips stuck on a wafer sheet in a predetermined pattern, wherein the position of the semiconductor chips on the wafer sheet is detected in a predetermined order. When performing one step at a time, a position where there is no adjacent next-stage semiconductor chip is detected and stored in the storage means, and is obtained from the storage means after the position detection of one step of the semiconductor chip on the wafer sheet is completed. A pickup unit that moves the pickup unit based on a recent position where there is no next-stage semiconductor chip. The pickup unit can be moved at a stroke based on a recent position where there is no next-stage semiconductor chip without performing position detection in a predetermined order.

【0011】請求項2に記載の発明は、ウェハシートに
所定のパターンで貼着された半導体チップのピックアッ
プ方法であって、前記ウェハシート上の半導体チップの
位置検出を所定順序に従って1段ずつ行う際に隣接する
次段の半導体チップの有無を検出してその位置とともに
記憶手段に記憶しておき、前記ウェハシート上の半導体
チップの1段の位置検出が終わった後に前記記憶手段か
ら取得した次段の最近の半導体チップの位置までピック
アップ部を移動することを特徴とする半導体チップのピ
ックアップ方法であり、1段の位置検出が終わった後、
次段に位置する半導体チップの位置検出を所定順序に従
って行うことなく、次段の最近の半導体チップの位置ま
でピックアップ部を一気に移動することができる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of picking up semiconductor chips adhered to a wafer sheet in a predetermined pattern, wherein the position of the semiconductor chips on the wafer sheet is detected one by one in a predetermined order. At this time, the presence or absence of an adjacent next-stage semiconductor chip is detected and stored together with the position in the storage means, and after the position of the first-stage semiconductor chip on the wafer sheet has been detected, the next information obtained from the storage means is obtained. A method for picking up a semiconductor chip, characterized by moving a pickup unit to a position of a recent semiconductor chip in a step, and after detecting the position of one step,
The pickup unit can be moved at a stroke to the position of the next-most recent semiconductor chip without detecting the position of the next-stage semiconductor chip in a predetermined order.

【0012】以下、本発明の実施の形態について、図面
を用いて説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】図1は本発明の実施の形態における半導体
チップのピックアップ装置の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a semiconductor chip pickup device according to an embodiment of the present invention.

【0014】まず、図1を参照して、半導体チップのピ
ックアップ装置の構成について説明する。図1におい
て、チップ供給部1は、XYテーブル2に立設されたブ
ラケット3上にウェハ保持テーブル4を結合して構成さ
れている。ウェハ保持テーブル4には半導体チップ(以
下、「チップ」と称す)6が多数貼着されたウェハシー
ト5が装着されている。ウェハ保持テーブル4の下方に
はエジェクタユニット7が配設されている。エジェクタ
ユニット7のピン7aはチップ6のピックアップ位置に
位置合わせされており、ピン7aを上方に突出させるこ
とにより、ウェハシート5上のチップ6を突き上げる。
First, the configuration of a semiconductor chip pickup device will be described with reference to FIG. In FIG. 1, a chip supply unit 1 is configured by connecting a wafer holding table 4 on a bracket 3 erected on an XY table 2. On the wafer holding table 4, a wafer sheet 5 on which a number of semiconductor chips (hereinafter, referred to as "chips") 6 are attached is mounted. An ejector unit 7 is provided below the wafer holding table 4. The pins 7a of the ejector unit 7 are aligned with the pickup positions of the chips 6, and the chips 6 on the wafer sheet 5 are pushed up by projecting the pins 7a upward.

【0015】チップ供給部1の上方には、移動テーブル
9に装着されたピックアップヘッド8が水平動自在に配
設されており、ピン7aによって突き上げられたチップ
6はピックアップヘッド8のノズル8aによって真空吸
着によりピックアップされる。ピックアップされたチッ
プ6は移動テーブル9によって移動し、保持テーブル1
0に載置されたワーク11上に実装される。
Above the chip supply unit 1, a pickup head 8 mounted on a moving table 9 is disposed so as to be movable horizontally. Picked up by suction. The picked-up chip 6 is moved by the moving table 9 and the holding table 1
The work 11 is mounted on the work 11 placed thereon.

【0016】ウェハ保持テーブル4の上方には、カメラ
13を備えた撮像部12が配設されている。撮像部12
はウェハシート5上のチップ6を撮像し、撮像によって
取得された画像データは画像認識部14に伝達される。
画像認識部14は画像データを画像処理し、チップ6の
位置を検出する。CPU15は全体制御部であり、画像
認識部14の認識結果を受け取る他、以下に説明する各
部を制御する。
Above the wafer holding table 4, an imaging unit 12 having a camera 13 is provided. Imaging unit 12
Captures an image of the chip 6 on the wafer sheet 5, and image data obtained by the imaging is transmitted to the image recognition unit 14.
The image recognition unit 14 performs image processing on the image data and detects the position of the chip 6. The CPU 15 is an overall control unit that receives the recognition result of the image recognition unit 14 and controls each unit described below.

【0017】記憶部16は各部の動作に必要なプログラ
ムや認識対象のチップ6のサイズやウェハシート5上で
の配列データなどの各種データを記憶する。ピックアッ
プヘッド駆動部17はピックアップヘッド8およびピッ
クアップヘッド8を移動させる移動テーブル9を駆動す
る。エジェクタ駆動部18はエジェクタユニット7を駆
動する。XYテーブル駆動部19はXYテーブル2を駆
動する。表示モニター20は撮像されたチップ6の画像
や操作・入力時の画面を表示する。キー入力部35はキ
ーボードなどの入力装置であり、操作入力やデータ入力
を行う。
The storage unit 16 stores various data such as programs necessary for the operation of each unit, the size of the chip 6 to be recognized, and array data on the wafer sheet 5. The pickup head driving section 17 drives the pickup head 8 and the moving table 9 for moving the pickup head 8. The ejector driving section 18 drives the ejector unit 7. The XY table driving section 19 drives the XY table 2. The display monitor 20 displays a captured image of the chip 6 and a screen for operation and input. The key input unit 35 is an input device such as a keyboard, and performs operation input and data input.

【0018】以下、図2および図3を参照して、図1の
半導体チップ装置によるピックアップ動作について説明
する。図2は図1の半導体チップのピックアップ装置に
よるピックアップ動作を示すフロー図、図3は同ピック
アップ動作を示す説明図である。
Hereinafter, the pickup operation of the semiconductor chip device of FIG. 1 will be described with reference to FIG. 2 and FIG. FIG. 2 is a flowchart showing a pickup operation of the semiconductor chip pickup device of FIG. 1 by the pickup device, and FIG. 3 is an explanatory diagram showing the pickup operation.

【0019】図3に示すようにウェハ保持テーブル4に
チップ6が多数貼着されたウェハシート5が装着された
状態において、図2に示すステップS101では、撮像
部12によってウェハシート5上を撮像し、撮像によっ
て取得された画像データに基づいて画像認識部14によ
りピックアップするチップ6の位置検出が行われる。図
3の右方向にピックアップヘッド8を移動させている場
合、画像認識部14はX0を中心とする撮像範囲AのX1
の位置のチップ6の有無を検出する。
As shown in FIG. 3, in a state in which a wafer sheet 5 on which a large number of chips 6 are adhered is mounted on the wafer holding table 4, in step S101 shown in FIG. Then, the position of the chip 6 to be picked up is detected by the image recognition unit 14 based on the image data obtained by the imaging. If a right direction in FIG. 3 and moves the pickup head 8, the image recognition unit 14 X 1 in the imaging range A around the X 0
The presence or absence of the chip 6 at the position is detected.

【0020】ステップS102では、CPU15は画像
認識部14の認識結果を受け取り、X1の位置のチップ
6の有無に関わらず、ステップS103において、現在
ピックアップヘッド8を移動させている段の次の段の認
識を行う。このとき、画像認識部14は撮像範囲Aのa
の位置(ピックアップするチップ6の位置X1に隣接す
る下の位置)のチップ6の有無を検出する。ここで、a
の位置にはチップ6が無いので、ステップS104から
ステップS105へと処理を進める。ステップS105
では、この次段のチップ無し位置aを記憶部16に記憶
する。
[0020] In step S102, CPU 15 receives the recognition result of the image recognition unit 14, or without chip 6 position of the X 1, in step S103, the next stage of stage that moves the current pickup head 8 Recognize At this time, the image recognition unit 14
Detecting the presence or absence of chip 6 position (position of the lower adjacent to the position X 1 of the chip 6 to be picked up). Where a
Since there is no chip 6 at the position, the process proceeds from step S104 to step S105. Step S105
Then, the next-stage chip-less position a is stored in the storage unit 16.

【0021】そして、ステップS106において、画像
認識部14は現在ピックアップヘッド8を移動させてい
る段のX1の位置のチップ6の有無を検出する。ステッ
プS106においてチップが有る場合、ステップS11
0でチップ無し回数をクリアし、ステップS101へ処
理を戻す。一方、ステップS106においてチップが無
い場合、ステップS107において、記憶部16に記憶
するチップ無し回数を1増やす。そして、ステップS1
08において、チップ無し回数が最大設定値すなわちピ
ッチ送り設定回数(図示例では“4”)でなければステ
ップS101へ処理を戻す。チップ無し回数が最大設定
値に達すると、ステップS109において、記憶部16
に記憶した次段のチップ無し位置aへピックアップヘッ
ド8を一気に移動する。ステップS110では、チップ
無し回数をクリアし、ステップS101へ処理を戻す。
[0021] Then, in step S106, the image recognition unit 14 detects the presence or absence of chip 6 position X 1 of the stage currently moves the pickup head 8. If there is a chip in step S106, step S11
The number of no chips is cleared with 0, and the process returns to step S101. On the other hand, if there is no chip in step S106, the number of chipless times stored in the storage unit 16 is increased by one in step S107. Then, step S1
At 08, if the number of no chips is not the maximum set value, that is, the set number of pitch feeds ("4" in the illustrated example), the process returns to step S101. When the number of chipless times reaches the maximum set value, in step S109, the storage unit 16
The pickup head 8 is moved at a stroke to the next-stage chipless position a stored in the step (a). In step S110, the number of no chips is cleared, and the process returns to step S101.

【0022】このように、ピックアップの目的とするX
1の位置のチップ6を認識する際、これに隣接する次段
のaの位置も認識して、チップ6の有無を確認し、チッ
プ6が無かった場合にその位置aを記憶部16に記憶す
ることによって、ピッチ送り設定回数に達したとき、最
後に記憶部16に記憶した次段の最近のチップ6の位置
aまでピックアップヘッド8を一気に移動させる。
As described above, the target X of the pickup
When recognizing the chip 6 at the position 1, the position of the next stage a is also recognized, and the presence or absence of the chip 6 is confirmed. If the chip 6 is not present, the position a is stored in the storage unit 16. By doing so, when the set number of pitch feeds is reached, the pickup head 8 is moved at a stroke to the position a of the latest chip 6 of the next stage stored in the storage unit 16 at last.

【0023】これにより、従来のように次段に位置する
チップ6の位置検出を所定順序に従って行うことなく、
ピックアップヘッド8を素早く次段のチップ6まで移動
することができ、チップ認識時間を短縮して効率的なピ
ックアップ作業を行うことが可能となる。
As a result, the position of the chip 6 located at the next stage is not detected in a predetermined order as in the prior art.
The pickup head 8 can be quickly moved to the next chip 6, so that the chip recognition time can be reduced and an efficient pickup operation can be performed.

【0024】なお、ステップS104において、次段に
チップ6が有る場合も、このステップS110において
チップ無し回数をクリアし、ステップS101へ処理を
戻す。すなわち、ピックアップの目的とする位置にチッ
プ6が無く、これに隣接する次段の位置(図3のY1
2の位置に対してそれぞれb,cの位置)にチップ6
が有る場合、チップ無し回数を増やさないため、次段の
チップ列が多くても取り残さずにチップ認識を行うこと
ができる。
If there is a chip 6 in the next stage in step S104, the number of no chips is cleared in step S110, and the process returns to step S101. That is, there is no chip 6 at the target position of the pickup, and the next stage position adjacent to the chip 6 (Y 1 , FIG. 3)
Respectively the position of Y 2 b, the position) of the c chip 6
In the case where there is, the chip recognition can be performed without leaving the chip row of the next stage even if there is a large number of chip rows, because the number of chipless times is not increased.

【0025】したがって、従来は次段のチップ6が多い
場合を想定して多めに設定する必要があったが、本実施
形態のピックアップ装置では取り残すことがないため、
ピッチ送り設定回数を減らしてチップ認識時間を短縮す
ることが可能である。
Therefore, in the past, it was necessary to set a relatively large number of chips 6 on the assumption that the number of chips 6 in the next stage was large.
It is possible to reduce the chip recognition time by reducing the set number of pitch feeds.

【0026】なお、本実施形態においては、ピックアッ
プする段の次段のチップ6の無い位置を記憶部16に記
憶しているが、ピックアップする段の次段のチップ6の
有無をその位置とともに記憶しておき、1段の位置検出
が終わった後に、この記憶部16に記憶した次段のチッ
プ6の有無とその位置に基づいてピックアップヘッド8
を次段の最近のチップ6の位置まで移動する構成として
もよい。
In this embodiment, the position where there is no chip 6 next to the stage to be picked up is stored in the storage unit 16, but the presence or absence of the chip 6 next to the stage to be picked up is stored together with the position. After the detection of the position of the first stage is completed, the pickup head 8 is determined based on the presence / absence of the next stage chip 6 stored in the storage unit 16 and its position.
May be moved to the position of the latest chip 6 at the next stage.

【0027】また、本実施形態においては、ピックアッ
プヘッド8を本発明のピックアップ部として移動する構
成として説明しているが、ピックアップヘッド8の代わ
りにチップ6のウェハシート5を保持するウェハ保持テ
ーブル4をピックアップ部として移動することも可能で
ある。
In this embodiment, the pickup head 8 is described as being moved as the pickup section of the present invention. However, the wafer holding table 4 for holding the wafer sheet 5 of the chip 6 instead of the pickup head 8 is described. Can be moved as a pickup unit.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明によれば、ウェハシートに所定の
パターンで貼着された半導体チップをピックアップ部で
ピックアップする際、1段の位置検出が終わった後、次
段に位置する半導体チップの位置検出を所定順序に従っ
て行うことなく、ピックアップヘッドを一気に移動する
ことができ、チップ認識時間を短縮して効率的なピック
アップ作業を行うことが可能となる。
According to the present invention, when a semiconductor chip stuck on a wafer sheet in a predetermined pattern is picked up by a pickup unit, after the position detection of one stage is completed, the semiconductor chip positioned at the next stage is picked up. The pickup head can be moved at a stroke without performing the position detection in a predetermined order, so that the chip recognition time can be reduced and an efficient pickup operation can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態における半導体チップのピ
ックアップ装置の構成図
FIG. 1 is a configuration diagram of a semiconductor chip pickup device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の半導体チップのピックアップ装置による
ピックアップ動作を示すフロー図
FIG. 2 is a flowchart showing a pickup operation of the semiconductor chip pickup device of FIG. 1;

【図3】図1の半導体チップのピックアップ装置による
ピックアップ動作を示す説明図
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a pickup operation of the semiconductor chip pickup device of FIG. 1 by a pickup device;

【図4】従来のピックアップ装置によるピックアップ動
作を示す説明図
FIG. 4 is an explanatory view showing a pickup operation by a conventional pickup device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 チップ供給部 2 XYテーブル 3 ブラケット 4 ウェハ保持テーブル 5 ウェハシート 6 半導体チップ 7 エジェクタユニット 7a ピン 8 ピックアップヘッド 8a ノズル 9 移動テーブル 10 保持テーブル 11 ワーク 12 撮像部 13 カメラ 14 画像認識部 15 CPU 16 記憶部 17 ピックアップヘッド駆動部 18 エジェクタ駆動部 19 XYテーブル駆動部 20 表示モニター 35 キー入力部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Chip supply part 2 XY table 3 Bracket 4 Wafer holding table 5 Wafer sheet 6 Semiconductor chip 7 Ejector unit 7a Pin 8 Pickup head 8a Nozzle 9 Moving table 10 Holding table 11 Work 12 Imaging part 13 Camera 14 Image recognition part 15 CPU 16 Storage Unit 17 Pickup head drive unit 18 Ejector drive unit 19 XY table drive unit 20 Display monitor 35 Key input unit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ウェハシートに所定のパターンで貼着さ
れた半導体チップのピックアップ方法であって、前記ウ
ェハシート上の半導体チップの位置検出を所定順序に従
って1段ずつ行う際に隣接する次段の半導体チップの無
い位置を検出して記憶手段に記憶しておき、前記ウェハ
シート上の半導体チップの1段の位置検出が終わった後
に前記記憶手段から取得した次段の半導体チップの無い
最近の位置に基づいてピックアップ部を移動することを
特徴とする半導体チップのピックアップ方法。
1. A method for picking up semiconductor chips stuck on a wafer sheet in a predetermined pattern, wherein the position of the semiconductor chips on the wafer sheet is detected step by step according to a predetermined order, and the position of the next adjacent chip is determined. The position where there is no semiconductor chip is detected and stored in the storage unit, and the latest position where there is no next-stage semiconductor chip obtained from the storage unit after the detection of the position of one stage of the semiconductor chip on the wafer sheet is completed. A pickup method for a semiconductor chip, wherein the pickup section is moved based on the following.
【請求項2】 ウェハシートに所定のパターンで貼着さ
れた半導体チップのピックアップ方法であって、前記ウ
ェハシート上の半導体チップの位置検出を所定順序に従
って1段ずつ行う際に隣接する次段の半導体チップの有
無を検出してその位置とともに記憶手段に記憶してお
き、前記ウェハシート上の半導体チップの1段の位置検
出が終わった後に前記記憶手段から取得した次段の最近
の半導体チップの位置までピックアップ部を移動するこ
とを特徴とする半導体チップのピックアップ方法。
2. A method for picking up semiconductor chips stuck on a wafer sheet in a predetermined pattern, the method comprising detecting a position of a semiconductor chip on the wafer sheet one by one in a predetermined order, and detecting a position of a semiconductor chip on an adjacent next stage. The presence / absence of the semiconductor chip is detected and stored together with the position in the storage means, and after the position detection of one step of the semiconductor chip on the wafer sheet is completed, the latest semiconductor chip of the next step obtained from the storage means is obtained. A pickup method for a semiconductor chip, comprising: moving a pickup unit to a position.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008283006A (en) * 2007-05-11 2008-11-20 Nidec Tosok Corp Wafer position correction method and bonding equipment
KR101837520B1 (en) 2014-04-01 2018-03-12 야마하하쓰도키 가부시키가이샤 Substrate processing apparatus

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