JP2002224627A - 基板の洗浄方法および装置 - Google Patents

基板の洗浄方法および装置

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JP2002224627A
JP2002224627A JP2001028446A JP2001028446A JP2002224627A JP 2002224627 A JP2002224627 A JP 2002224627A JP 2001028446 A JP2001028446 A JP 2001028446A JP 2001028446 A JP2001028446 A JP 2001028446A JP 2002224627 A JP2002224627 A JP 2002224627A
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JP2001028446A
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Hiroyuki Mori
宏幸 森
Hideto Goto
日出人 後藤
Takayuki Nibuya
貴行 丹生谷
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 対向する2つの主面の間隙に基板を配置して
密閉し、基板を効率的かつ確実に洗浄することができる
基板の洗浄方法および装置を提供する。 【解決手段】 洗浄用の流体は、流体配管26から2つ
の流体導入配管20に分岐され(導入路形成工程)、バ
ッファ部18に流入する。バッファ部18で対向する流
体の流れは、衝突して合流し、流体の流れの方向を90
°変えて導入部14に流入する(流路変更工程)。導入
部14に流入した流体は、流速を変えることなく、流れ
の幅を拡大するとともに流れの厚みを薄くされて洗浄処
理容器12内に流入する(入口整流工程)。洗浄処理容
器12に流入した流体は、ウエハ22の両面に沿って上
方に均一かつ高速に流れ、ウエハ22の表面に付着した
異物を溶解し、あるいは剥離させる(洗浄工程)。洗浄
後の流体は、流動状態を乱すことなく洗浄処理容器12
から排出部16に流出する(出口整流工程)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板の洗浄方法お
よび装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体集積回路等を形成するに
は、半導体ウエハやガラス基板用の基板に対して成膜、
酸化・拡散、エッチング等の各種処理が繰り返し施され
る。この場合、これらの処理を行う前に、必要に応じて
洗浄処理が行われ、ウエハ表面に付着した有機物、金属
不純物、パーティクルあるいは自然酸化膜等が除去され
る。
【0003】このような洗浄処理を行うための洗浄装置
として、従来、上方が開放された浸漬槽に満たされた薬
液に、複数のウエハをカセットに収容して浸漬し、ある
いは、カセットレスで浸漬するディップ方式の装置が用
いられている。
【0004】また、ウエハを1枚単位で処理する枚葉式
の洗浄方式の装置として、1枚のウエハをチャックで真
空吸着して水平に配置し、所定の回転数でウエハを回転
させながら、高圧流体をウエハに吹き付けたり、ブラッ
シングする方式のものも用いられている。
【0005】これらの従来の洗浄装置は、ウエハの中心
部と周縁部とで洗浄用の流体の流れが不均一となり、ま
た、ウエハの表裏面で流体の流れが不均一となり、ウエ
ハの全面にわたって効率的かつ確実な洗浄を行うことが
できないおそれがある。また、多くの洗浄装置では、大
気中への開放箇所を有する開放系で洗浄が行われるた
め、大気中の酸素によりウエハの金属配線等が酸化する
おそれもある。
【0006】これら従来の洗浄装置の不具合を解消する
ために、本出願人は、ウエハの金属配線等の酸化を防止
し、また、洗浄用の流体をウエハ表面に高速で流すこと
により洗浄を迅速かつ効率的に行うことを目的として、
対向する2つの主面の狭い間隙にウエハを配置して密閉
し、洗浄用の流体を流通させるタイプの洗浄装置を開発
した。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の本出
願人が開発した洗浄装置に関するものであり、対向する
2つの主面の間隙に基板を配置して密閉し、基板を効率
的かつ確実に洗浄することができる基板の洗浄方法およ
び装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係る基板の洗浄
方法は、洗浄用の流体を用いて基板を洗浄する基板の洗
浄方法において、密閉された扁平な洗浄処理容器の扁平
な面に平行に該基板を配置し、洗浄用の流体を該基板に
平行かつ一方向に均一に流して該基板を洗浄する洗浄工
程を有することを特徴とする。
【0009】また、上記の基板の洗浄方法を実現するた
めに、本発明に係る基板洗浄装置は、密閉した洗浄処理
容器を構成する対向する2つの主面の間に、基板を該2
つの主面と平行に配置して、洗浄用の流体を該基板の表
裏面上に平行かつ一方向に均一に流して該基板を洗浄す
るように構成したことを特徴とする。
【0010】ここで、基板とは、各種の処理を施して半
導体装置や液晶表示装置等を製造するために用いられる
半導体ウエハやガラス基板等をいう。
【0011】本発明の上記の構成により、基板の各部位
に対して洗浄用の流体を均一にかつ高速に流すことがで
きるため、基板をまんべんなく洗浄して付着物を確実に
かつ効率的に除去することができる。また、密閉した状
態で基板を洗浄するため、基板上に形成した金属配線等
が大気中の酸素によって酸化される不具合がない。
【0012】また、本発明に係る基板の洗浄方法は、前
記洗浄用の流体を整流して前記洗浄処理容器に流入させ
る入口整流工程をさらに有し、また、前記入口整流工程
において、扁平な整流側流入口を有する第1の流路に前
記洗浄用の流体を流入させた後、該第1の流路の扁平度
合いが該整流側流入口より高い整流側流出口から該洗浄
用の流体を流出させて前記洗浄処理容器に流入させるこ
とを特徴とする。
【0013】また、上記の基板の洗浄方法を実現するた
めに、本発明に係る基板洗浄装置は、前記洗浄処理容器
内における前記洗浄用の流体の流れを整流する整流手段
をさらに有し、また、前記整流手段は、前記洗浄処理容
器の入り口に設けられた流体導入部を備え、該流体導入
部は、扁平な整流側流入口と、扁平度合いが該整流側流
入口より高い整流側流出口とを有することを特徴とす
る。
【0014】本発明の上記の構成により、入口整流工程
において整流手段により均一でかつ高速な流れを形成す
ることができ、洗浄処理容器における流体の均一性およ
び高速性をより確実に発現することができる。
【0015】ここで、整流側流入口および整流側流出口
の断面積の大きさの関係は、整流側流出口の断面積が整
流側流入口の断面積よりも著しく大きくなって、洗浄用
の流体の流速が整流側流入口に比べて整流側流出口にお
いて著しく低下して本発明の洗浄効果に支障を来さない
程度であればよく、例えば、整流側流入口に比べて±3
0%程度の変動を許容するものであるであるが、より好
適には、前記整流側流出口の断面積の大きさが前記整流
側流入口の断面積の大きさを下回るようにする。
【0016】また、本発明に係る基板の洗浄方法は、前
記洗浄用の流体を第2の流路から前記第1の流路に流れ
方向を違えて導入する流体導入工程をさらに有し、ま
た、前記流体導入工程は、前記洗浄用の流体を導入する
2つ以上の前記第2の流路を設ける導入路形成工程と、
該2つ以上の第2の流路の流体を、1つの第3の流路に
流入して合流させ、該第3の流路を変更して前記第1の
流路に流入させる流路変更工程とをさらに有することを
特徴とする。
【0017】また、上記の基板の洗浄方法を実現するた
めに、本発明に係る基板洗浄装置は、前記流体導入部の
前記整流側流入口に設けられた流体緩衝部をさらに備
え、該流体緩衝部は、流れ方向を変更して前記洗浄用の
流体を前記流体導入部に流入させるように構成されてい
ることを特徴とする。
【0018】本発明の上記の構成により、より均一な流
れを形成することができ、洗浄処理容器における流体の
均一性を確実に発現することができる。
【0019】また、本発明に係る基板の洗浄方法におい
て、前記洗浄処理容器から流出する前記洗浄用の流体を
整流する出口整流工程をさらに有し、また、前記出口整
流工程において、扁平な整流側流入口を有する第4の流
路に前記洗浄用の流体を流入させた後、該第4の流路の
扁平度合いが該整流側流入口より低い整流側流出口から
該洗浄用の流体を流出させることを特徴とする。
【0020】また、上記の基板の洗浄方法を実現するた
めに、本発明に係る基板洗浄装置は、前記整流手段は、
前記洗浄処理容器の出口に設けられた流体排出部をさら
に備え、 該流体排出部は、扁平な整流側流入口と、扁
平度合いが該整流側流入口より低い整流側流出口とを有
することを特徴とする。
【0021】本発明の上記の構成により、より均一な流
れを形成することができ、洗浄処理容器における流体の
均一性を確実に発現することができる。
【0022】また、本発明に係る基板の洗浄方法および
装置は、前記洗浄用の流体を、下側から流入させ上側か
ら流出させることを特徴とする。
【0023】本発明の上記の構成により、下降流とした
ときに生じうる洗浄装置内の気体の残留箇所を発生する
ことがない。したがって、気体残留箇所での洗浄不良を
来すことがなく、また、気体残留箇所に起因する流体の
流動状態の不安定化を来すこともない。
【0024】また、本発明に係る基板の洗浄方法および
装置は、前記洗浄用の流体の流れ方向に対して直角に切
断したときの前記洗浄処理容器の内部断面積を前記基板
の直径位置における断面積の1.5〜〜300倍とし、
この内部断面積を有する扁平な面の間に前記洗浄用の流
体を流通させることを特徴とする。
【0025】
【発明の実施の形態】本発明に係る基板の洗浄方法およ
び装置の好適な実施の形態(以下、本実施の形態例とい
う。)について、基板としてウエハを例にとり、図を参
照して、以下に説明する。
【0026】まず、本実施の形態例に係る基板洗浄装置
について、図1〜図5を参照して説明する。
【0027】洗浄装置10は、洗浄処理容器12と、洗
浄処理容器12の両端に接続された導入部(流体導入部
第1の流路)14および排出部(流体排出部 第4の
流路)16を有する。これら導入部14および排出部1
6は、本発明の整流手段を構成する。また、導入部14
には、バッファ部((流体緩衝部 第3の流路)18が
接続され、バッファ部18には2つの流体導入配管(第
2の流路)20が接続されている。排出部16は図示し
ない流体排出配管に接続されている。これらバッファ部
18および2つの流体導入配管20は、本発明の流体緩
衝部を構成する。
【0028】ここで、洗浄処理容器12、導入部14お
よび排出部16、ならびに、バッファ部18および流体
導入配管20は、例えば、テフロン(ポリ四ふっ化エチ
レンの登録商標)材料により形成されている。
【0029】洗浄装置10は、縦型であり、図1、図2
中、導入部14より導入された洗浄液(洗浄用の流体)
が洗浄装置10の内部を上向きに流れ、排出部16より
排出配管に流出するように構成されている。洗浄装置1
0は、大気への開放箇所を有しない密閉系に構成されて
いる。なお、例えば、超臨界条件で洗浄する等の場合に
は、洗浄装置10を横置き形として、洗浄液を横方向に
流通させてもよい。
【0030】洗浄処理容器12は、図2中X1−X2方
向の厚みT1、言いかえれば、2つの主面12a、12
bの間の間隙の薄い扁平な直方体状に形成されている
(但し、図2の表示は、実寸法比率ではない。)。洗浄
処理容器12の寸法は、洗浄されるウエハ22の寸法に
応じて設定される。例えば、洗浄されるウエハ22の寸
法(径)が8インチ(200mm)のとき、洗浄処理容
器12は、内部空間Aの寸法(以下、各部材について、
内部空間寸法を単に寸法という。)として、厚みT1
が、例えば、5mm程度、長さL1および幅W1がそれ
ぞれ、例えば、230mm程度に形成される。
【0031】洗浄処理容器12は、X1−X2方向に対
向する2つの主面12a、12bのいずれか一方が装置
から着脱可能あるいは開閉可能に設けられており(図示
せず。)、図示しないウエハ搬送装置を用いて図2中X
1側またはX2側からウエハ22を洗浄処理容器12内
に搬入可能に構成されている。
【0032】ここで、上記した厚みT1は、搬送および
処理中に自重でウエハ22が撓む等して主面12a、1
2bに当たらない程度、また、ウエハ22の両面に洗浄
液を流すのに必要な程度の寸法であり、具体的には、ウ
エハ22の厚みの3倍程度以下に設定することができ
る。但し、厚みT1は、これに限定することなく、ウエ
ハ22の厚みの略1.5〜300倍程度とすることがで
き、言いかえれば、洗浄液の流れ方向に対して直角に切
断したときの洗浄処理容器12の内部断面積をウエハ2
2の直径位置における断面積の1.5〜〜300倍程度
とすることができる。
【0033】洗浄処理容器12の主面12bには、ウエ
ハ22を保持するための保持具(以下、単に保持具とい
う。)24a〜24dが取り付けられている。
【0034】導入部14は、図1および図3中、下方か
ら上方(Z2からZ1方向)に向けて末広がりで、図1
および図3中、紙面上下方向(図2中、X1−X2方
向)に扁平な形状に形成されている。すなわち、導入部
14の入り口側(整流側流入口)14aの寸法が、例え
ば、厚みT2が約10mm程度、幅W2が約160mm
程度あるのに対して、長さL2として約70mm程度離
間した出口側(整流側出口)14bの寸法が、厚みT3
約5mm程度、幅W3が約230mm程度に形成されて
いる。ここで、入り口側14aと出口側14bの流路の
断面積は同一寸法に形成されている。また、出口側14
bは、厚みT3が洗浄処理容器12の入り口の厚みT1
と略同じであり、幅W3が洗浄処理容器12の入り口の
幅W1と同じである。
【0035】なお、図3に示した上記の形状の導入部1
4に代えて、図9に示すように、薄い厚みの直方体状の
導入部15を用いてもよい。この場合、導入部15は、
洗浄液の流れ方向の長さ寸法L4をウエハ22の径の3
倍程度にすると好適であり、これにより、洗浄用容器1
2に流入する洗浄液の助走路となる導入部15における
洗浄液の助走距離を充分長くとることができるため、整
流効果を発揮することができる。また、このとき、導入
部15の2つの主面を波板状に形成することにより、同
一の整流効果を得るのに必要な導入部14aの長さ寸法
を上記長さ寸法L4よりも短くすることができ、導入部
15が小型化される。
【0036】バッファ部18は、図4に示すように、円
柱状であり、径Dが24mm程度、長さL3が220m
m程度に形成されている。バッファ部18の図4中両側
には2つの流体導入配管20からの流入口18aが形成
され、一方、上側には、導入部14への流出口18bが
形成されている。したがって、対向する2つの流体導入
配管20から流入口18aを通ってバッファ部18に水
平方向に流入する洗浄液は、Y1−Y2方向中間部で衝
突して合流し、流れの方向を上向きに変えて、流出口1
8bから流出する。ここで、バッファ部18は、洗浄液
を所定時間滞留させるだけの、例えば100cm程度
の空間容積を有するとともに、流出口18bの断面積の
寸法が2つの流入口18aの断面積の和よりも大きく形
成されている。
【0037】2つの流体導入配管20は、この場合、1
本の流体配管26より2本に分岐され、上記したように
対向して設けられた2つの流入口18aからバッファ部
18へ流入する。ここで、流体導入配管20は、例え
ば、直径が19mm程度の筒状である。
【0038】なお、流体導入配管20からバッファ部1
8を介して導入部14に流れ込む洗浄液の流れ方向の変
更角度θを図4の直角(90°)に代えて、図10に示
すように90°を越える値としてもよい。さらにまた、
この変更角度θは60〜120°の範囲内としてもよ
い。また、図4に示した上記の形状のバッファ部18お
よび2つの流体導入配管20からなる構成に代えて、図
11に示すように、バッファ部を省略し、1つの流体導
入配管20aを導入部14と直交する向きに接続し、洗
浄液の流れ方向を変更してもよい。
【0039】排出部16は、洗浄処理容器12を挟んで
導入部14と略対称形状に形成されている。すなわち、
排出部16は、流入口(整流側流入口)16aから流出
口(整流側流出口)16bに向けて漸次扁平度合いが大
きくかつ逆末広がり状に形成されている。
【0040】つぎに、上記のように構成した洗浄装置1
0を用いた基板(ウエハ)の洗浄方法について、さらに
図6を参照して説明する。
【0041】例えば、ウエハ22にドライエッチングを
施した後、またはドライエッチング後さらにアッシング
を施した後に、不要となるマスクであるレジストやエッ
チング残滓を除去する方法を例にとって説明する。
【0042】洗浄液は、酸化剤、キレート剤およびフッ
素化合物、必要に応じて有機溶剤を含有する洗浄剤を用
いる。また、洗浄後のリンス液として、例えば、超純水
を用いる。
【0043】洗浄する時の洗浄液の温度、言いかえれ
ば、ウエハ22の温度は、常温〜80℃程度とし、適宜
の手段により所定の温度に保持する。この温度は、エッ
チングの条件等に応じて適宜選択する。
【0044】ウエハ22の表面を通過して洗浄した後の
洗浄液は、通常、ウエハ22から除去された異物をフィ
ルタによって取り除いた後、循環使用される(図示せ
ず)。
【0045】まず、洗浄処理容器12の主面12aまた
は主面12bを開き、ウエハ搬送装置を用いてドライエ
ッチング等の処理が施されたウエハ22を洗浄処理容器
12内に搬入する。そして、ウエハ22の周縁を保持具
24a〜24cで保持して、ウエハ22を洗浄処理容器
12に固定する。
【0046】そして、洗浄液を洗浄装置10に流通して
ウエハ22を洗浄する。
【0047】このとき、まず、例えば、貯留槽(図示せ
ず。)の洗浄液を図示しないポンプで、例えば、50L
/s程度の流量に調整しながら、図4に示す流体配管2
6に送出する。
【0048】流体配管26の洗浄液は、2つの流体導入
配管20に分岐され(導入路形成工程 図6中S1)、
バッファ部18の両側の2つの流入口18aからバッフ
ァ部18へ流入する。
【0049】つぎに、流路変更工程(図6中S2)にお
いて、バッファ部18に流入した対向する洗浄液の流れ
は、略中央部で衝突して合流する。これにより、流体配
管26を流れる洗浄液あるいは2つの2つの流体導入配
管20を流れる洗浄液に流速の不均一な分布や乱れを生
じていても、バッファ部18でこれらの流速の不均一な
分布や乱れが打ち消されて解消する。
【0050】以上説明した導入路形成工程および流路変
更工程は、流体導入工程を構成する。
【0051】そして、洗浄液の流れの方向を90°変え
て流出口18bから導入部14に流出する。これによ
り、流速の不均一な分布や乱れはより確実に解消され
る。
【0052】また、洗浄液は、バッファ部18で所定の
時間滞留し、また、流速を落としてバッファ部18から
流出するため、流速の不均一な分布や乱れはより確実に
解消される。
【0053】バッファ部18の流出口18bに接続され
た入り口側14aから導入部14に流入した洗浄液は、
流速を変えることなく、漸次Y1−Y2方向の流れの幅
を拡大するとともにX1−X2方向の流れの厚みを薄く
されて出口側14bから洗浄処理容器12内に流出する
(入口整流工程 図6中S3)。
【0054】これにより、洗浄液の流れは一層均一化さ
れる。
【0055】ここで、バッファ部18には、図7に示す
ように、例えば、洗浄液の流れ方向に平行に複数の板材
28aを整列させた整流部材28を設けてもよい。これ
により、整流された状態でバッファ部18に流入した洗
浄液の流れをバッファ部18の中でY1−Y2方向に不
均一化するなんらかの事象が作用したとしても、流れの
不均一化を防止することができる。
【0056】また、例えば、図8に示すように、バッフ
ァ部18にルーバ状の整流部材30を設けてもよく、こ
の場合、整流部材30に入る洗浄液の流れに不均一な部
分が残っていたとしても、流速の速い流れほど整流部材
30が大きな流動抵抗として作用するため、整流部材3
0を出る洗浄液の流れは均一化される。
【0057】バッファ部18の出口側14bから洗浄処
理容器12に流入した洗浄液は、ウエハ22の両面に沿
って上方に流れ、ウエハ22の表面に付着した異物を溶
解し、あるいは剥離させる(洗浄工程 図6中S4)。
【0058】この場合、ポンプで所定の圧力で送出され
た洗浄液は、洗浄処理容器12の狭い厚みT1の部分を
通過するため、大きな流速を確保することができる。
【0059】洗浄処理容器12に流入した洗浄液は、ウ
エハ22の表面(表裏面)上を均一でかつ高速で流れる
ため、ウエハ22の表面の汚れ(異物)はまんべんなく
除去される。このとき、バッファ部18から洗浄処理容
器12に流入する洗浄液は、洗浄処理容器12内で流路
が広がる拡大流でなく縮流状態であるため、拡大流状態
のときに流路の隅部で生じうる渦流等に起因した流動状
態の乱れを来すことがない。
【0060】洗浄後の洗浄液は、洗浄処理容器12から
排出部16に流入し、流体排出配管に流出する(出口整
流工程 図6中S5)。
【0061】このとき、洗浄処理容器12から排出部1
6に流入する洗浄液の流路は徐々に断面形状を変えるよ
うに形成しているため、洗浄液の流れに乱れを生じるこ
とがなく、したがって、洗浄処理容器12内の洗浄液の
整流状態を乱すことがない。
【0062】上記のように構成した洗浄装置10を用い
て洗浄液やリンス液によりウエハ12を洗浄するとき、
洗浄処理容器12の厚みT1が薄いため、ウエハ20の
表面における洗浄液等の流速を、例えば、50cm/s
程度に設定することができ、この流速は、通常の洗浄装
置の、例えば、0.5cm/s程度の値に比べるとはる
かに高速である。また、このとき、導入配管18、バッ
ファ部18aによって流速を略均一化された洗浄液は、
導入部14を通過することによってさらに均一な流速に
整えられ、ウエハ20の幅方向(図1中Y1−Y2方
向)で均一な流速でウエハ20の表面を通過する。この
ため、洗浄装置10は、ウエハ20の付着物を確実にか
つ効率的に除去することができる。
【0063】以上説明した本実施の形態例に係る基板の
洗浄方法および装置は、ウエハに対して洗浄液を均一で
高速に流すことができるため、ウエハを効率的にまた確
実に洗浄することができる。
【0064】また、本実施の形態例に係る基板の洗浄方
法および装置は、密閉した系で洗浄を行うため、ウエハ
上に形成した金属配線等が大気中の酸素によって酸化さ
れる不具合がない。
【0065】また、本実施の形態例に係る基板の洗浄方
法および装置は、洗浄液を上向きに流して流出させるた
め、下降流としたときに生じ得る洗浄装置内の気体の残
留箇所を発生することがなく、したがって、気体残留箇
所での洗浄不良を来すことがない。また、気体残留箇所
に起因する洗浄液の流動状態の不安定化を来すこともな
い。
【0066】
【発明の効果】本発明に係る基板の洗浄方法および装置
によれば、密閉された扁平な洗浄処理容器の扁平な面に
平行に該基板を配置し、洗浄用の流体を基板に平行かつ
一方向に均一に流して基板を洗浄するため、基板をまん
べんなく洗浄して付着物を確実にかつ効率的に除去する
ことができる。
【0067】また、本発明に係る基板の洗浄方法および
装置によれば、整流手段を用いて洗浄処理容器内の洗浄
用流体を均一な流速分布に整流して流通させるため、洗
浄処理容器における流体の均一性をより確実に発現する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態例に係る洗浄装置の概略正面図で
ある。
【図2】本実施の形態例に係る洗浄装置の洗浄処理容器
の側断面図である。
【図3】本実施の形態例に係る洗浄装置の導入部の略正
面図である。
【図4】本実施の形態例に係る洗浄装置のバッファ部お
よび流体導入配管の略正面図である。
【図5】本実施の形態例に係る洗浄装置の排出部の略正
面図である。
【図6】本実施の形態例に係る基板の洗浄方法を説明す
るためのフロー図である。
【図7】本実施の形態例に係る洗浄装置の導入部に設け
た整流部材を説明するための導入部の正面図である。
【図8】本実施の形態例に係る洗浄装置の導入部に設け
た図6とは別の整流部材を説明するための導入部の正面
図である。
【図9】本実施の形態例に係る洗浄装置の導入部の変形
例である。
【図10】本実施の形態例に係る洗浄装置の流体緩衝部
の1つの変形例である。
【図11】本実施の形態例に係る洗浄装置の流体緩衝部
の他の1つの変形例である。
【符号の説明】
10 洗浄装置 12 洗浄処理容器 12a。12b 主面 14、15 導入部 14a 入り口側 14b 出口側 16 排出部 16a 流入口 16b 流出口 18 バッファ部 18a 流入口 18b 流出口 20、21 流体導入配管 22 ウエハ 24a〜24d 保持具 26 流体配管 28、30 整流部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丹生谷 貴行 東京都港区赤坂五丁目3番6号 TBS放 送センター 東京エレクトロン株式会社内 Fターム(参考) 3B201 AA02 AA03 AB53 BB02 BB82 BB87 BB95 CB01

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 洗浄用の流体を用いて基板を洗浄する基
    板の洗浄方法において、密閉された扁平な洗浄処理容器
    の扁平な面に平行に該基板を配置し、洗浄用の流体を該
    基板に平行かつ一方向に均一に流して該基板を洗浄する
    洗浄工程を有することを特徴とする基板の洗浄方法。
  2. 【請求項2】 前記洗浄用の流体を整流して前記洗浄処
    理容器に流入させる入口整流工程をさらに有することを
    特徴とする請求項1記載の基板の洗浄方法。
  3. 【請求項3】 前記入口整流工程において、扁平な整流
    側流入口を有する第1の流路に前記洗浄用の流体を流入
    させた後、該第1の流路の扁平度合いが該整流側流入口
    より高い整流側流出口から該洗浄用の流体を流出させて
    前記洗浄処理容器に流入させることを特徴とする請求項
    2記載の基板の洗浄方法。
  4. 【請求項4】 前記洗浄用の流体を第2の流路から前記
    第1の流路に流れ方向を違えて導入する流体導入工程を
    さらに有することを特徴とする請求項3記載の基板の洗
    浄方法。
  5. 【請求項5】 前記流体導入工程は、 前記洗浄用の流体を導入する2つ以上の前記第2の流路
    を設ける導入路形成工程と、 該2つ以上の第2の流路の流体を、1つの第3の流路に
    流入して合流させ、該第3の流路を変更して前記第1の
    流路に流入させる流路変更工程とをさらに有することを
    特徴とする請求項4記載の基板の洗浄方法。
  6. 【請求項6】 前記洗浄処理容器から流出する前記洗浄
    用の流体を整流する出口整流工程をさらに有することを
    特徴とする請求項1記載の基板の洗浄方法。
  7. 【請求項7】 前記出口整流工程において、扁平な整流
    側流入口を有する第4の流路に前記洗浄用の流体を流入
    させた後、該第4の流路の扁平度合いが該整流側流入口
    より低い整流側流出口から該洗浄用の流体を流出させる
    ことを特徴とする請求項6記載の基板の洗浄方法。
  8. 【請求項8】 前記洗浄用の流体を、下側から流入させ
    上側から流出させることを特徴とする請求項1〜7のい
    ずれか1項記載の基板の洗浄方法。
  9. 【請求項9】 前記洗浄用の流体の流れ方向に対して直
    角に切断したときの前記洗浄処理容器の内部断面積を前
    記基板の直径位置における断面積の1.5〜300倍と
    し、該内部断面積を有する隙間に該洗浄用の流体を流通
    させることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項記
    載の基板の洗浄方法。
  10. 【請求項10】 密閉した洗浄処理容器を構成する対向
    する2つの主面の間に、基板を該2つの主面と平行に配
    置して、洗浄用の流体を該基板の表裏面上に平行かつ一
    方向に均一に流して該基板を洗浄するように構成したこ
    とを特徴とする基板洗浄装置。
  11. 【請求項11】 前記洗浄処理容器内における前記洗浄
    用の流体の流れを整流する整流手段をさらに有すること
    を特徴とする請求項10記載の基板洗浄装置。
  12. 【請求項12】 前記整流手段は、前記洗浄処理容器の
    入り口に設けられた流体導入部を備え、 該流体導入部は、扁平な整流側流入口と、扁平度合いが
    該整流側流入口より高い整流側流出口とを有することを
    特徴とする請求項11記載の基板洗浄装置。
  13. 【請求項13】 前記流体導入部の前記整流側流入口に
    設けられた流体緩衝部をさらに備え、 該流体緩衝部は、流れ方向を変更して前記洗浄用の流体
    を前記流体導入部に流入させるように構成されているこ
    とを特徴とする請求項12記載の基板洗浄装置。
  14. 【請求項14】 前記整流手段は、前記洗浄処理容器の
    出口に設けられた流体排出部をさらに備え、 該流体排出部は、扁平な整流側流入口と、扁平度合いが
    該整流側流入口より低い整流側流出口とを有することを
    特徴とする請求項11記載の基板洗浄装置。
  15. 【請求項15】 前記洗浄用の流体を、下側から流入さ
    せ上側から流出させるように構成したことを特徴とする
    請求項10〜14のいずれか1項記載の基板洗浄装置。
  16. 【請求項16】 前記洗浄用の流体の流れ方向に対して
    直角に切断したときの前記洗浄処理容器の内部断面積が
    前記基板の直径位置における断面積の1.5〜300倍
    であることを特徴とする請求項10〜15のいずれか1
    項に記載の基板洗浄装置。
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