JP2002222864A - クロックスキュー改善方法 - Google Patents

クロックスキュー改善方法

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JP2002222864A JP2001017544A JP2001017544A JP2002222864A JP 2002222864 A JP2002222864 A JP 2002222864A JP 2001017544 A JP2001017544 A JP 2001017544A JP 2001017544 A JP2001017544 A JP 2001017544A JP 2002222864 A JP2002222864 A JP 2002222864A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】LSIの配置配線後にクロックスキューの改善
が必要となったときにおいても、LSI全体の配置配線
を再実行することなくスキューを改善する。 【解決手段】クロック配線と周囲配線の種々の配線パタ
ンに対応する配線ブロックを登録したパタンテーブル1
0をあらかじめ作成しておき、クロック配線を単位ブロ
ックに分割(21)し、クロック遅延値が最大のクロッ
ク遅延値から目標スキュー値を減算して得られる値より
も小さいクロック配線を対象クロック配線として選択
(22)し、対象クロック配線の単位ブロックの内部パ
タンををパタンテーブルを参照して容量値がより大きい
配線ブロックの内部パタンに置換する(23)ことによ
り対象クロック配線のクロック遅延時間を増大させ、ク
ロックスキューを低減する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、クロックスキュー
の改善方法に関し、特に、LSIチップをレイアウトし
たのちのスキュー改善に適したクロックスキュー改善方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】LSIチップのレイアウトにおいては、
チップ内に散在するフリップフロップ(以下、F/Fと
略記する)などの複数の順序回路間に供給されるクロッ
ク信号の位相ずれ(クロックスキュー)を低減するため
に、ルートバッファからF/Fまでのクロック信号線を
ツリー状に枝分かれさせて等長となるように配置配線す
るクロックツリーシンセシス(以下、CTSと略す)が
広く使用されている。
【0003】図11は、CTSを用いたレイアウト設計
フロー図である。セル配置ステップ11では、LSIの
回路接続情報に従って基本回路セルを配置する。CTS
配線ステップ12では、メタル配線の単位長あたりの容
量値および抵抗値の情報を参照し、ルートバッファと各
F/Fとの間が等長となるように合わせ込んでクロック
信号を配線する。信号系配線ステップ13では、回路接
続情報に従ってクロック信号以外の信号の配線を実行
し、クロックスキュー計算ステップ14で、ルートバッ
ファからF/Fまでのクロック遅延をF/Fへの信号パ
ス毎に算出し、クロック遅延の最大値と最小値からクロ
ックスキュー値を計算する。クロックスキュー合否判定
ステップ15aでは、算出されたクロックスキュー値が
予め設定された目標値以下か否かを判断する。クロック
スキュー値が目標値以下の場合にはレイアウト設計を完
了して次の設計ステップである設計検証に進むが、目標
値を超える場合にはCTS配線ステップ12に戻り再実
行する。
【0004】図12(a)は、CTS配線の模式図であ
る。クロック信号は、クロック入力ピンCINからルー
トバッファ1に供給され、ルートバッファ1から複数の
F/F2へ等長のクロック配線3で供給される。
【0005】図1のCTSを用いてクロック系を配線す
る方法は、設計ルールが比較的緩い世代、すなわち、メ
タル配線の底面の面積が側面の面積よりもずっと大きい
世代においては非常に有効であり、ステップ15aでク
ロックスキュー値が目標値を超えることは殆どなかっ
た。
【0006】しかしながら、近年では微細化の進展に伴
って、メタル配線の側面の面積が底面の面積と同等以上
の状況になり、このため、図12(b)に示すように、
クロック配線に寄生する容量のうち底面容量C1よりも
隣接する信号配線との結合容量C2が支配的になりつつ
ある状況では、CTSを実行して配線長を等長に合わせ
込んでも、次の信号系配線ステップ13で配線される隣
接信号配線7とクロック配線3との結合容量C2の大小
によりクロック配線の寄生容量値は大きく変化してしま
うことになる。この結果として、クロックスキュー値が
増大し、目標値を超えて再度CTSを実行しなければな
らないケースが増えているが、CTSを再実行するとし
ても確実に改善する保証がないため試行錯誤的にならざ
るを得ず、結局は人手で煩雑な修正をせざるを得なくな
る場合も多く、いずれにしても設計の効率が低下し設計
期間が延長されてしまうという問題が生じてきた。
【0007】この問題を解決ものとして、特開平10−
135342号公報には、クロック配線専用の配線層を
設ける技術が開示されている。クロック配線を専用の配
線層に配線することにより隣接する信号配線をなくすこ
とができる。しかしながら、この第1の従来例のように
専用の配線層を設ける場合には、必然的に製造工程数が
増加するので、LSIの製造コストが増加することにな
り好ましくない。
【0008】また第2の従来例として、特開平9−28
3715号公報には、配線完了後に各クロック配線につ
いて隣接信号配線との間隔を調整して結合容量を増減す
ることによりクロック信号の遅延を調整し、クロックス
キュー値の改善を行う技術が記載されている。図13
(a)に示すように、クロック配線3と隣接信号配線7
0との間隔を調整することによりクロック信号の遅延値
を調整する。
【0009】この第2の従来例は、配線実行時に配線グ
リッドを設定しない配線方法をとる場合には、クロック
配線3と隣接信号配線70との間隔を微調整できるので
極めて有効である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、多くの
自動配置配線システムでは、配線処理の実行速度を向上
させるために予め設定された配線グリッド上に配線する
方法が採用されており、図13(b)および(c)に比
較して示すように、配線グリッドが設定されている場合
には、第2の従来例では寄生容量の微調整が困難となる
という問題点がある。すなわち、図13(b)で示すよ
うに、配線ピッチPxの配線グリッド上にクロック配線
3と隣接信号配線70とが配線され、配線幅、配線間隔
共にDであるとすると、図13(b)ではクロック配線
3と隣接信号配線7との間隔はDであるのに対して、隣
接信号配線7を1配線グリッド分(1配線ピッチ)移動
させた図13(c)では、クロック配線3と隣接信号配
線70との間隔は3Dとなる。このように3倍の間隔に
一挙に増大してしまうために細かなクロック遅延値の調
整ができず、スキュー改善が容易にはできない場合も生
じる。
【0011】本発明の目的は、クロック配線専用の配線
層を用いなくともクロック信号の遅延が等しくなるよう
に調整でき、また、配線グリッドを用いて配線する場合
においてもクロック遅延を精度良く調整できてクロック
スキュー低減が可能なクロックスキュー改善方法に関す
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のクロックスキュ
ー改善方法は、クロック配線パタンおよび周囲の配線パ
タンからなる内部パタンを有する方形の配線ブロックお
よび配線ブロック名と内部パタンに応じてクロック配線
に寄生する容量値とを対応させて容量値が小さい配線ブ
ロックから大きい配線ブロックへの順序で記録したパタ
ンテーブルを用いて、LSIチップにレイアウトされた
ルートバッファから複数の順序回路のクロック端子まで
のそれぞれのクロック配線間のスキューを低減するクロ
ックスキュー改善方法であって、それぞれのクロック配
線について配線パスに沿った領域を配線ブロックと同一
外形を有する複数の単位ブロックに分割する第1のステ
ップと、前記パタンテーブルを参照してそれぞれのクロ
ック配線におけるクロック信号遅延値を算出し最大のク
ロック信号遅延値から目標クロックスキュー値を減算し
て得た値よりもクロック遅延値が小さいクロック配線を
抽出してスキュー改善の処理対象クロック配線として選
択する第2のステップと、前記処理対象クロック配線に
ついて単位ブロック毎に内部パタンが一致する配線ブロ
ックを検索し単位ブロックの内部パタンを検索された配
線ブロックよりも容量値の大きい配線ブロックの内部パ
タンに置換する第3のステップと、置換後の単位ブロッ
クの容量値に基づいて各クロック配線におけるクロック
信号遅延値を算出し最大のクロック信号遅延値と比較し
てクロックスキュー値を求め所定のスキュー目標値以下
となったか否かを判断する第4のステップと、単位ブロ
ックの置換結果に基づきクロック配線の周囲の配線修正
を実行する第5のステップとを有している。
【0013】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して詳細に説明する。図1は、本発明の一実施の形態の
クロックスキュー改善処理16を含むレイアウト設計フ
ロー図である。
【0014】図1において、セル配置ステップ11から
クロックスキュー計算ステップ14までは図11に示し
た従来のレイアウト設計フローと同一であり、セル配置
ステップ11では、LSIの回路接続情報に従って基本
回路セルを配置し、CTS配線ステップ12では、ルー
トバッファと各F/Fとの間が等長となるように合わせ
込んでクロック信号を配線し、信号系配線ステップ13
では、回路接続情報に従ってクロック信号以外の信号の
配線を実行し、クロックスキュー計算ステップ14で、
ルートバッファからF/Fまでのクロック遅延をF/F
への信号パス毎に算出し、クロック遅延の最大値と最小
値からクロックスキュー値を計算する。
【0015】クロックスキュー合否判定ステップ15で
は、算出されたクロックスキュー値が予め設定された目
標値以下か否かを判断し、クロックスキュー値が目標値
以下の場合にはレイアウト設計を終了して次の設計ステ
ップである設計検証に進むが、目標値を超える場合には
クロックスキュー改善処理ステップ16を実行する。
【0016】クロックスキュー改善処理ステップ16で
は、クロック配線パタンおよび周囲の配線パタンからな
る内部パタンを有する方形の配線ブロックと内部パタン
に応じてクロック配線に寄生する容量値とを対応させて
容量値が小さい配線ブロックから大きい配線ブロックへ
の順序で記録したパタンテーブル10を用いて、LSI
チップにレイアウトされたルートバッファからF/F等
の複数の順序回路のクロック端子までのそれぞれのクロ
ック配線間のスキューを低減する。
【0017】クロックスキュー改善処理ステップ16
は、下位の処理ステップとして、配線パタン分割ステッ
プ21と、対象クロック配線選択ステップ22と、ブロ
ック置換ステップ23と、スキュー値判定ステップ24
と、配線修正ステップ25とを有している。
【0018】配線パタン分割ステップ21では、それぞ
れのクロック配線について、配線パスに沿った領域をパ
タンテーブル10に登録されている配線ブロックと同一
外形を有する複数の単位ブロックに分割する。
【0019】対象クロック配線選択ステップ22では、
パタンテーブルを参照してそれぞれのクロック配線にお
けるクロック信号遅延値を算出し、最大のクロック信号
遅延値から目標クロックスキュー値を減算して得た値よ
りもクロック遅延値が小さいクロック配線を抽出してス
キュー改善の処理対象クロック配線を選択する。
【0020】ブロック置換ステップ23では、処理対象
クロック配線について単位ブロック毎に内部パタンが一
致する配線ブロックを検索し、単位ブロックの内部パタ
ンを、検索された配線ブロックよりも容量値の大きい配
線ブロックの内部パタンに置換する。
【0021】スキュー値判定ステップ24では、置換後
の単位ブロックの容量値に基づいて各クロック配線にお
けるクロック信号遅延値を算出し、最大のクロック信号
遅延値と比較してクロックスキュー値を求め、所定のス
キュー目標値以下となったか否かを判断する。
【0022】配線修正ステップ25では、単位ブロック
の置換結果に基づきクロック配線の周囲の配線修正を実
行する。
【0023】図2は、クロックスキュー改善処理ステッ
プ16を実行するクロックスキュー改善手段31の構成
図である。クロックスキュー改善手段31は、クロック
スキュー改善処理に必要な論理演算、数値演算等を実行
するCPUと、配線パタン分割ステップ21、対象クロ
ック配線選択ステップ22、ブロック置換ステップ2
3、スキュー値判定ステップ24および配線修正ステッ
プ25の機能を実現するプログラム並びに処理中のデー
タを記憶する記憶部とを有しており、クロックスキュー
合否判定ステップ15までのレイアウト設計で作成され
たLSIの配置配線結果32を入力し、パタンテーブル
10を参照して配線パタン分割ステップ21から配線修
正ステップ25までのクロックスキュー改善処理を実行
し、クロックスキュー値が目標値内になるようにクロッ
ク配線の周囲の配線の一部が修正されたスキュー改善済
配置配線結果33を出力する。外部から入出力/表示手
段34を通じてクロックスキュー改善手段31の処理動
作の制御、処理データの修正変更、処理結果の表示等を
行うことができる。
【0024】図3は、パタンテーブル10の登録内容の
一例を示す図である。パタンテーブル10の内部では、
配線ブロック名と、クロック配線パタン3および周囲の
信号配線パタンとを内部パタンとして含む配線ブロック
7と、クロック配線パタン3に寄生する容量値とが対応
して登録され、容量値が小さい内部パタンから容量値が
大きい内部パタンに向けて順番に配列されている。な
お、配線ブロック7の内部パタンには、配線ブロック7
内の配線パタンと配線ブロック7の外形境界に中心線が
一致する配線の配線パタンとを含むものとする。
【0025】図4は、配線パタン分割ステップ21およ
び対象クロック配線選択ステップ22の詳細なフロー図
であり、図5は、配線パタン分割ステップ21の処理を
模式的に説明する図である。
【0026】配線パタン分割ステップ21では、図5
(a)のレイアウトパタン図に示すように、ルートバッ
ファ1とF/F2を接続するクロック配線のそれぞれに
ついて、クロック配線3の配線パスに沿った領域を、図
5(b)のように、パタンテーブル10に登録されてい
る配線ブロック7と同一外形を有する複数の単位ブロッ
ク8に分割し、個々のクロック配線と対応させて記録す
る。配線ブロック7の場合と同様に、単位ブロック8の
内部パタンには、単位ブロック8に含まれる配線パタン
と単位ブロック8の外形境界に中心線が一致する配線の
配線パタンとを含むものとする。なお、図5において、
4はメタル配線のパタンであり、5は上層メタル配線の
パタンであり、6はメタル配線4と上層メタル配線5と
を接続するためのスルーホールのパタンである。
【0027】配線ブロック7の大きさは任意に設定する
ことが可能であるが、図5以降の説明では、X方向に2
配線グリッド分(すなわちY方向配線の配線ピッチPy
の2倍)で、Y方向に2配線グリッド分(すなわちX方
向配線の配線ピッチPxの2倍)としている。このよう
にX方向、Y方向ともに2配線グリッドの小さな配線ブ
ロックを用いることによりパタンテーブル10に登録す
る配線ブロックの種類を少なくすることができるので、
対象クロック配線選択ステップ22においてパタンマッ
チング処理を高速に実行できる。
【0028】対象クロック配線選択ステップ22は、図
4に示すように、サブステップ40〜44を含んでい
る。サブステップ40では、クロック信号の遅延値の小
さい順にクロック配線の順位付け済であるか否かを判断
し、順位付け済である場合にはサブステップ41に進
む。
【0029】サブステップ41では、それぞれのクロッ
ク配線に対して図5(b)のように、クロック配線3に
対応するすべての単位ブロック8について図3のパタン
テーブル10を参照して単位ブロックと内部パタンが一
致する配線ブロックを抽出し、そのパタン番号と容量値
を単位ブロックの位置情報と対応させてクロックスキュ
ー改善手段31の記憶部に記憶し、図5(c)に示すよ
うに、クロック配線3に対応するすべての単位ブロック
の容量値を加算してクロック配線の容量値を算出する。
【0030】次に、サブステップ42で、算出された容
量値に基づいてクロック配線毎にクロック信号遅延値を
算出し、サブステップ43で、クロック配線をクロック
信号遅延値が最小のクロック配線から最大のクロック配
線までクロック信号遅延値にしたがい順位付けして記憶
部に記憶する。
【0031】サブステップ43の処理後およびサブステ
ップ40でクロック配線は順位付け済であると判断され
た場合にはサブステップ44に進み、スキュー値判定ス
テップ24までの処理が未了のクロック配線のうちでク
ロック信号遅延値が最小のクロック配線を処理対象クロ
ック配線として選択して対象クロック配線選択ステップ
22を終了する。
【0032】図6は、ブロック置換ステップ23の詳細
なフロー図である。処理対象クロック配線のクロック遅
延時間を増大させてクロックスキューの改善を図るため
に、ブロック置換ステップ23では、サブステップ51
〜55の処理を行う。各サブステップについて図5およ
びブロック置換処理を模式的に示す図である図7を参照
して説明する。
【0033】先ず、サブステップ51では、図5(b)
に示された処理対象クロック配線にかかわる単位ブロッ
ク8のうち置換処理が未処理で且つクロック配線3のパ
スに沿った距離においてF/F2に最も近い単位ブロッ
クを処理対象ブロックとして選択する。
【0034】次に、サブステップ52で、処理対象ブロ
ック内の配線パタンがクロック配線のみで、且つ、処理
対象ブロックに隣接する配線グリッドに信号配線パタン
がない孤立クロックパタン(図10(a)参照)に該当
するか否かを判断し、該当すると判断した場合にはブロ
ック置換ステップ23を終了する。該当しないと判断し
た場合にはサブステップ53へ進む。
【0035】サブステップ53では、処理対象ブロック
と内部パタンが一致する配線ブロックを検索する。パタ
ンテーブルに登録された処理対象ブロックと内部パタン
が一致する配線ブロックを、図4のサブステップ41と
同様のパタンマッチング処理を実行して新規に抽出して
も良いが、サブステップ41での抽出結果に基づいて予
めクロック配線毎に単位ブロックに対応する内部パタン
の配線ブロック名を記憶しておき、対象クロック配線名
と処理対象ブロックである単位ブロックの位置情報から
処理対象ブロックと内部パタンが一致する配線ブロック
名を検索しても良い。
【0036】次に、サブステップ54では、検索された
配線ブロックよりも容量値が大きく、且つ、処理対象ブ
ロックと置き換え配置が可能な配線ブロックである置換
配線ブロックがパタンテーブル10内に存在するか否か
を判断する。パタンテーブル10には、配線ブロックが
クロック配線の寄生容量が小さいものから大きいものへ
順番に登録されているので、処理対象ブロックに対応す
る内部パタンの配線ブロックを基点として配線ブロック
を順次取りだし、その内部パタンと処理対象ブロックの
内部パタンを置き換えたとしても異なるネット名の配線
間のショート等の違反が生じないときに置き換え可能と
判断する。置き換え可能な置換配線ブロックが存在しな
いと判断された場合にはブロック置換ステップ23を終
了し、置換配線ブロックが存在すると判断された場合に
はサブステップ55に進む。
【0037】サブステップ55では、処理対象ブロック
の内部パタンを切り取り前記置換配線ブロックの内部パ
タンと置換する。図5(a)のレイアウト結果に対して
F/F2に最も近い単位ブロックを処理対象ブロックと
してブロック置換ステップ23の処理を適用した結果が
図7(a)であり、配線パタンWP1が付加されてクロ
ック配線3の寄生容量が増加している。内部パタンの置
換時に、置換前の処理対象ブロックの内部パタンと置換
後の内部パタンとで同一の位置形状の配線パタンには、
置換前の処理対象ブロックにおけるそれぞれの配線パタ
ンが属する配線のネット名を継承して付し、新規に付加
された配線パタンには、対応すべきネット名を付する。
【0038】図8は、スキュー値判定ステップ24およ
び配線修正ステップ25の詳細フロー図である。スキュ
ー値判定ステップ24では、サブステップ61〜63の
処理を行う。
【0039】サブステップ61では、処理対象クロック
配線の寄生容量値を、ブロック置換ステップ23によっ
て変更された内部パタンに対応する容量値に更新し、ク
ロック信号遅延値を算出する。
【0040】次に、サブステップ62で、サブステップ
61で算出された処理対象クロック配線の遅延値と図4
のサブステップ42で求めた最大のクロック信号遅延値
とから処理対象クロック配線のスキュー値を算出し、所
定のスキュー目標値以下であるか否かを判断する。スキ
ュー目標値を超えると判断された場合にはブロック置換
ステップ23のサブステップ51に戻る。処理対象クロ
ック配線のスキュー値がスキュー目標値以下に低減され
たと判断される場合にはサブステップ63に進む。
【0041】サブステップ63では、すべてのクロック
配線のクロックスキューが所定のスキュー目標値以下で
あるか否かを判断する。目標値を超えるクロック配線が
存在していると判断された場合には対象クロック配線選
択ステップ22のサブステップ40に戻る。すべてのク
ロック配線が目標値以下であると判断されたときにはス
キュー値判定ステップ24を終了する。
【0042】図5(a)におけるF/F2に最も近い単
位ブロックを処理対象ブロックとしてブロック置換ステ
ップ23を完了した図7(a)の状態ではスキュー値が
目標値以下にならなかった場合には、サブステップ62
からブロック置換ステップ23に戻りサブステップ51
でF/F2に2番目に近い単位ブロック8を処理対象ブ
ロックに選択してサブステップ52〜55の処理を実行
し、図7(b)に示すように、処理対象ブロックの内部
パタンに配線パタンWP2を付加してクロック配線3の
寄生容量を増大させる。スキュー値判定ステップ24の
サブステップ61で対象クロック配線のクロック信号遅
延値を計算し、サブステップ62でスキュー値が目標値
以下にならなかった場合には、再度サブステップ51に
戻りF/F2から3番目に近い単位ブロックを処理対象
ブロックとしてサブステップ52〜55の処理を実行
し、図7(c)に示すように、配線パタンWP3、WP
4を付加してクロック配線3の寄生容量を増大させる。
【0043】このようにしてF/F2から遠い位置の単
位ブロックに向かって順次ブロック置換を実行し、サブ
ステップ62でスキュー値が目標値以下となったときに
対象クロック配線についての改善処理を終了し、他にも
目標値を超えるスキュー値のクロック配線が存在する場
合には対象クロック配線選択ステップ22に戻りサブス
テップ44で次の処理対象クロック配線として選択して
改善処理する。
【0044】すべてのクロック配線のスキュー値が所定
のスキュー目標値以下に改善されたのちには、配線修正
ステップ25で、単位ブロックの置換結果に基づきクロ
ック配線の周囲の配線修正を実行する。このとき、置換
処理済みの単位ブロックの内部パタンに関しては配線パ
タンの位置を固定し、それぞれの配線パタンに付された
ネット名が同一の配線パタン同士を接続したのち、単位
ブロックの外部の信号配線で不要となった配線があれば
除去してクロックスキュー改善処理16を終了する。
【0045】図7(d)は、配線修正ステップ25を完
了した改善処理後のレイアウトパタン図であり、図5
(a)の改善処理前のレイアウトパタン図と比較してク
ロック配線3と配線パタンWP1,WP2,WP3,W
P4等との結合容量が付加されている。以上の説明から
明らかなように、寄生容量の単位ブロック単位で増加さ
せられるので、配線グリッドを用いている場合において
もクロック遅延を精度良く調整でき、クロックスキュー
低減が可能となる。
【0046】図9は、本発明の第2の実施例におけるブ
ロック置換ステップ23aのフロー図である。ブロック
置換ステップ23aでは、処理対象ブロック内の配線パ
タンがクロック配線のみで、且つ、処理対象ブロックに
隣接する配線グリッドに信号配線パタンがない孤立クロ
ックパタンに該当する場合に、図10の孤立クロック配
線の改善模式図に示すようにして対象クロック配線の容
量を増加させる。このために、図9のブロック置換ステ
ップ23aには、図6のブロック置換ステップ23に含
まれるサブステップ51〜55に加えてサブステップ5
6が追加されている。サブステップ51〜55について
は図6のブロック置換ステップ23と同一であり、図1
のレイアウト設計フロー図でブロック置換ステップ23
と置き換えることができる。
【0047】ブロック置換ステップ23aにおいては、
サブステップ52で図10(a)のクロック配線3のよ
うに単位ブロック3内に他の信号配線がなく、単位ブロ
ック3に隣接する外部の配線グリッド上においても信号
配線が散在しない孤立クロックパタンに該当する場合に
サブステップ56に進み、図10(b)に示すように、
処理対象ブロックである単位ブロック8をクロック配線
パタンの両側に電源線パタン9または接地線パタンが配
置された配線ブロックに置換する。
【0048】サブステップ56が追加されたことによ
り、F/F2のクロック入力端子付近のクロック配線が
孤立して配線されている場合においても寄生容量の大き
い配線ブロックに置換することができるのでクロック遅
延時間の調整範囲が広くなるという利点が生じる。電源
線パタン9または接地線パタンは、配線修正ステップ2
5で、図10(c)に示すように、F/F2の内部電源
線または内部接地線に接続する。
【0049】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明を適用す
ることにより、クロック配線専用の配線層を用いなくと
もクロック信号の遅延が等しくなるように調整でき、ま
た、配線グリッドを用いて配線する場合においてもクロ
ック遅延を精度良く調整できるので、LSIの配置配線
後にクロックスキューの改善が必要となったときに、L
SI全体の配置配線を再実行することなく容易且つ確実
にクロックスキューを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のクロックスキュー改善処理を含むレイ
アウト設計フロー図である。
【図2】クロックスキュー改善手段の構成図である。
【図3】パタンテーブルの登録内容の一例を示す図であ
る。
【図4】配線パタン分割ステップおよび対象クロック配
線選択ステップの詳細なフロー図である。
【図5】配線パタン分割ステップの処理を模式的に説明
する図である。
【図6】ブロック置換ステップの詳細なフロー図であ
る。
【図7】ブロック置換の処理を模式的に示す図である
【図8】スキュー値判定ステップおよび配線修正ステッ
プの詳細フロー図である。
【図9】本発明の第2の実施例におけるブロック置換ス
テップのフロー図である。
【図10】孤立クロック配線の改善処理を模式的に示す
図である。
【図11】CTSを用いたレイアウト設計フロー図であ
る。
【図12】CTS配線の模式図およびその問題点を説明
する図である。
【図13】第2の従来例とその問題点を説明する図であ
る。
【符号の説明】
1 ルートバッファ 2 F/F 3 クロック配線 7 配線ブロック 8 単位ブロック 10 パタンテーブル 11 セル配置ステップ 12 CTS配線ステップ 13 信号系配線ステップ 14 クロックスキュー計算ステップ 15,15a クロックスキュー合否判定ステップ 16 クロックスキュー改善処理ステップ 21 パタン分割ステップ 22 対象クロック配線選択ステップ 23,23a ブロック置換ステップ 24 スキュー値判定ステップ 25 配線修正ステップ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロック配線パタンおよび周囲の配線パ
    タンからなる内部パタンを有する方形の配線ブロックお
    よび配線ブロック名と内部パタンに応じてクロック配線
    に寄生する容量値とを対応させて容量値が小さい配線ブ
    ロックから大きい配線ブロックへの順序で記録したパタ
    ンテーブルを用いて、LSIチップにレイアウトされた
    ルートバッファから複数の順序回路のクロック端子まで
    のそれぞれのクロック配線間のスキューを低減するクロ
    ックスキュー改善方法であって、 それぞれのクロック配線について配線パスに沿った領域
    を配線ブロックと同一外形を有する複数の単位ブロック
    に分割する第1のステップと、 前記パタンテーブルを参照してそれぞれのクロック配線
    におけるクロック信号遅延値を算出し最大のクロック信
    号遅延値から目標クロックスキュー値を減算して得た値
    よりもクロック遅延値が小さいクロック配線を抽出して
    スキュー改善の処理対象クロック配線として選択する第
    2のステップと、 前記処理対象クロック配線について単位ブロック毎に内
    部パタンが一致する配線ブロックを検索し単位ブロック
    の内部パタンを検索された配線ブロックよりも容量値の
    大きい配線ブロックの内部パタンに置換する第3のステ
    ップと、 置換後の単位ブロックの容量値に基づいて各クロック配
    線におけるクロック信号遅延値を算出し最大のクロック
    信号遅延値と比較してクロックスキュー値を求め所定の
    スキュー目標値以下となったか否かを判断する第4のス
    テップと、 単位ブロックの置換結果に基づきクロック配線の周囲の
    配線修正を実行する第5のステップとを有することを特
    徴とするクロックスキュー改善方法。
  2. 【請求項2】 前記第2のステップが、 それぞれのクロック配線に対して、対応するすべての単
    位ブロックについてパタンテーブルを参照して単位ブロ
    ックと内部パタンが一致する配線ブロックを検出し該配
    線ブロックに対応する容量値を抽出して加算しクロック
    配線の容量値を算出する第1のサブステップと、 算出された容量値に基づいてクロック配線毎にクロック
    信号遅延値を算出する第2のサブステップと、 クロック配線をクロック信号遅延値が最小のクロック配
    線から最大のクロック配線までクロック信号遅延値にし
    たがい順位付けする第3のサブステップと、 前記第4のステップまでの処理が未了のクロック配線の
    うちクロック信号遅延値が最小のクロック配線を処理対
    象クロック配線として選択する第4のサブステップとを
    有する請求項1記載のクロックスキュー改善方法。
  3. 【請求項3】 前記第3のステップが、 処理対象クロック配線にかかわる単位ブロックのうち置
    換処理が未処理で且つクロック配線のパスに沿った距離
    において順序回路に最も近い単位ブロックを処理対象ブ
    ロックとして選択する第1のサブステップと、 前記処理対象ブロック内の配線パタンがクロック配線の
    みで且つ前記処理対象ブロックに隣接する配線グリッド
    に信号配線パタンがない孤立クロックパタンに該当する
    か否かを判断し該当すると判断したときには前記第3の
    ステップを終了する第2のサブステップと、 前記第2のサブステップで孤立クロックパタンに該当し
    ないと判断されたときに進み、前記処理対象ブロックと
    内部パタンが一致する配線ブロックを検索する第3のサ
    ブステップと、 検索された配線ブロックよりも容量値が大きく且つ置き
    換え配置が可能な置換配線ブロックが前記パタンテーブ
    ル内に存在するか否かを判断し存在しないと判断したと
    きには前記第3のステップを終了する第4のサブステッ
    プと、 前記第4のサブステップで存在すると判断されたときに
    進み、前記処理対象ブロックの内部パタンを切り取り前
    記置換配線ブロックの内部パタンと置換する第5のサブ
    ステップとを有する請求項1および2記載のクロックス
    キュー改善方法。
  4. 【請求項4】 前記第3のステップが、 処理対象クロック配線にかかわる単位ブロックのうち置
    換処理が未処理で且つクロック配線のパスに沿った距離
    において順序回路に最も近い単位ブロックを処理対象ブ
    ロックとして選択する第1のサブステップと、 前記処理対象ブロック内の配線パタンがクロック配線の
    みで且つ前記処理対象ブロックに隣接する配線グリッド
    に信号配線パタンがない孤立クロックパタンに該当する
    か否かを判断する第2のサブステップと、 前記第2のサブステップで孤立クロックパタンに該当し
    ないと判断されたときに進み、前記処理対象ブロックと
    内部パタンが一致する配線ブロックを検索する第3のサ
    ブステップと、 検索された配線ブロックよりも容量値が大きく且つ置き
    換え配置が可能な置換配線ブロックが前記パタンテーブ
    ル内に存在するか否かを判断し存在しないと判断したと
    きには前記第3のステップを終了する第4のサブステッ
    プと、 前記第4のサブステップで存在すると判断されたときに
    進み、前記処理対象ブロックの内部パタンを切り取り前
    記置換配線ブロックの内部パタンと置換する第5のサブ
    ステップと、 前記第2のサブステップで孤立クロックパタンに該当す
    ると判断されたときに進み、前記処理対象ブロックをク
    ロック配線パタンの両側に電源線パタンまたは接地線パ
    タンが配置された配線ブロックに置換して前記第3のス
    テップを終了する第6のサブステップとを有する請求項
    1および2記載のクロックスキュー改善方法。
  5. 【請求項5】 前記第4のステップが、 処理対象クロック配線の容量値を更新しクロック信号遅
    延値を算出する第1のサブステップと、 前記処理対象クロック配線の遅延値と最大のクロック信
    号遅延値とから前記処理対象クロック配線のスキュー値
    を算出し所定のスキュー目標値以下であるか否かを判断
    し、目標値を超えるときには前記第3のステップに戻る
    第2のサブステップと、 前記第2のサブステップで目標値以下であると判断され
    たときに進み、すべてのクロック配線のクロックスキュ
    ーが前記所定のスキュー目標値以下であるか否かを判断
    し、目標値を超えるクロック配線が存在しているときに
    は前記第2のステップに戻り、すべてのクロック配線が
    目標値以下であるときには前記第4のステップを終了す
    る第3のサブステップとを有する請求項1,2,3およ
    び4記載のクロックスキュー改善方法。
  6. 【請求項6】 前記配線ブロックおよび前記単位ブロッ
    クの外形が、配線の長手方向に2配線ピッチの長さの辺
    を有しこれと直角方向に2配線ピッチの長さの辺を有す
    る方形である請求項1,2,3,4および5記載のクロ
    ックスキュー改善方法。
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