JP2002221545A - 電流源負荷を備えた静電電圧計 - Google Patents

電流源負荷を備えた静電電圧計

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JP2002221545A JP2001360484A JP2001360484A JP2002221545A JP 2002221545 A JP2002221545 A JP 2002221545A JP 2001360484 A JP2001360484 A JP 2001360484A JP 2001360484 A JP2001360484 A JP 2001360484A JP 2002221545 A JP2002221545 A JP 2002221545A
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voltage
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高電圧の静電位に比例した電気信号を提供す
る。 【解決手段】 静電電圧計(ESV)は、静電位を表す
高電圧信号を受け取る高電圧入力部を有する。次に、前
記高電圧信号入力部は、静電位を表す電流信号を生成す
る。前記電流信号は、制御および検出回路に印加する。
高電圧電流源は、前記高電圧入力部と高電位の間に接続
する。前記高電圧電流源は、制御および検出回路用の能
動型負荷として機能する。電圧レベル決定部は、前記高
電圧入力部と高電圧電流源の間のノードに接続し、静電
位に比例した電気信号を提供する。ここに開示したES
Vは特に、電子写真現像システム内で現像を制御するた
めの感光体の静電位の測定において特に有用である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は静電位の測定に関す
る。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】高電圧環境で機能する
静電電圧計(ESV)を提供することを目的とする。
【0003】
【課題を解決するための手段】本発明は、プローブと検
出回路を備えたESVを実現し、測定対象の静電位に比
例した信号を提供する。検出回路は、測定する静電位を
受ける高電圧入力部を有する。この高電圧入力部は、静
電位を表す第一信号を生成する。検出回路はさらに、高
電圧入力部と高電位の間に接続した高電圧電流源を有す
る。電圧レベル決定部は、高電圧入力部と高電圧電流源
の間のノードに接続し、静電位に比例した電気信号を提
供する。
【0004】この発明の別の形態によると、静電位に比
例した電気信号を提供する装置は、受動型ではなく能動
型の高電圧電流源負荷を有する。高電圧電流源負荷のド
レイン回路はセンサ回路に接続する。高電圧電流源負荷
のソース回路は高電位に接続する。高電圧電流源負荷の
ゲート回路は、適切なバイアス回路に接続して高電圧M
OSFETでドレイン電流を設定する。電圧レベル決定
素子はセンサ回路とソース回路の間のノードに接続し、
測定する静電位に比例した電気信号を提供する。
【0005】この発明のさらに別の形態によると、静電
位に比例した電気信号を提供する装置は、センサ回路に
接続した能動型負荷を有する。この能動型負荷は、セン
サ回路に接続したドレイン回路、高電位に接続したソー
ス回路、および高電圧源調節器に接続したゲート回路を
有する。電圧レベル決定素子はセンサ回路とソース回路
の間のノードに接続し、静電位に比例した電気信号を提
供する。
【0006】
【発明の実施の形態】図1は、この発明の実施例による
静電電圧計(ESV)10を示している。ESV10
は、検出電極14からの信号に応じて低電圧電気信号V
を生成する。検出電極14は、測定中は帯電した面12
に近接して配置する。例えば、面12は電子写真複写機
内の感光体であり静電荷を有する。機械の動作中、現像
処理を制御するために面12の電位を測定することが望
ましい。
【0007】検出電極14は、振動チョッパや音叉等の
連続的な方法で閉鎖したときに電圧変動または電流信号
として入力接点18に入力信号を送り、その信号を用い
て面12の静電位を決定できる。高電圧入力段20は、
入力ノード18から入力信号を受け取り電流信号を生成
する。次に、その電流信号を制御および信号処理回路2
4に送り、低電圧電気信号Vに変換する。この低電圧電
気信号は、面12上の静電位に比例している。
【0008】図2では、図1のESV10をさらに詳し
く示している。NMOS電界効果型トランジスタ30
は、検出プローブ14内の電位を示す信号を受け取る。
検出プローブ14は静電的に帯電した物体の面12に近
接させることにより、面12に容量性結合する。トラン
ジスタ30、32はカスコード高電圧空乏モードNMO
Sドライバを構成し、約1700Vの範囲で動作する。
例えばツェナー・ダイオード等の保護素子35は、トラ
ンジスタ30のゲートと接合部38の間に接続する。こ
の保護素子35は、約2kVの静電気放電電圧に耐える
ことができ、過電圧損傷からトランジスタ30を保護す
るために機能する。
【0009】検出電極14の信号を閉鎖するかまたは変
調するために、変調器(図示せず)または同様の機構が
検出電極14を振動させるかまたは閉鎖する。容量結合
の変調を実現するのに、多数の方法が知られている。例
えば、その内容をここに援用するウェルナ(Werne
r)による米国特許第5,212,451号に記載され
ている単一ビーム変調器は、検出電極14で生成した信
号を適切に変調できる。
【0010】トランジスタ30は、ゲートソース電圧V
gsがほほ0に等しいときやや空乏モードであるので、ト
ランジスタ30は小さな量の電流が流れて動作中とな
る。従って、トランジスタ30のゲートで信号を変調す
ると、トランジスタ30のソースドレイン経路を通過す
る電流も変調される。より詳細には、トランジスタ30
は、ノード39を介して流れる約10μAの公称ドレイ
ンソースDC電流Id1を有する。トランジスタ30のゲ
ートに接続した入力ノード18における電圧変動は、ノ
ード39を介して流れる電流Id1にAC成分を印加す
る。
【0011】より詳細には、Q=CVであり、ここでC
は電極14と面12の間の静電容量、Vは電極14と面
12の間の電圧、Qは検出電極14と面12の間の電荷
である。電流iは20MΩの抵抗器34を流れて、トラ
ンジスタ30上にゲートソース電圧Vgsを生成し(数
1)として表すことができる。
【0012】
【数1】 dC/dtの項は、上記の閉鎖した容量結合を変調する
関数である。
【0013】AC信号処理回路72は、ノード39を介
して流れる電流信号Id1のAC成分を増幅、復調、およ
び積分することで、その信号のAC成分を処理する。そ
のAC成分は、検出電極14で受け取った信号の変調
と、電極14と面12の間の電位差を反映している。A
C信号処理回路72は、処理したDC電流信号をレベル
シフト回路(後述)を介して、pnpトランジスタ94
のエミッタに送るように機能する。トランジスタ94
は、コレクタ電流Icを接合部38に送り、ノード38
にDC電流フィードバックを提供し、ここで高電圧入力
段(後述)と高電圧電流源(後述)からの電流に加え
て、抵抗器70(後述)にかかる電圧を生成し、トラン
ジスタ30のソース電圧を生成して面12上の電圧をチ
ェックする。
【0014】結合したDCおよびAC信号からAC成分
をノード39で抽出し、回路72の入力にAC信号を送
るために、ESV10はノード39を介して流れる電流
信号Id1から、ノード29を介して流れるDC電流信号
d2を差し引く。NMOS電界効果型トランジスタ31
を有する分岐回路は、ノード29を介して流れるDC電
流信号Id2を決定する。低電圧空乏トランジスタ30と
高電圧トランジスタ32から構成したカスコード回路
は、低電圧空乏トランジスタ31と高電圧トランジスタ
33から構成したカスコード回路と共に、1700Vの
範囲で動作する密接に整合した集積型差動入力段を構成
する。ツェナー・ダイオードである保護素子35、37
も入力段に集積化され、約2kVの静電気放電電圧に耐
えることができる。抵抗器36は20MΩの抵抗器であ
り、トランジスタ31のゲート回路と接合部38の間に
接続する。これは、トランジスタ31上のR36にかか
る等価なDCゲート電圧を用いて、抵抗器34を通過す
るトランジスタ30のゲート電流によるDCゲート電圧
を相殺するために用いられる。トランジスタ31は、約
10μAの公称ドレインソース電流Id2を有する。
【0015】トランジスタ50、52、54、56は第
一電流ミラーシステムを構成し、ノード39を介してA
C信号処理回路72の入力に流れる電流をチェックする
電流を生成する。トランジスタ58、60、62、64
は第二電流ミラーシステムを構成し、トランジスタ65
を流れる電流を生成し、ノード29を介して流れる電流
をチェックする。従って、トランジスタ65、57は、
ノード39を介して流れる電流から、ノード29を介し
て流れる電流を効率良く差し引く。その結果得られる信
号は、DC成分を取り除いたAC信号である。
【0016】AC信号処理回路72は、レベルシフト回
路を介して制御用pnpトランジスタ94に出力信号を
生成する。レベルシフト回路は、抵抗器(80、84、
91、92)およびMOSFETトランジスタ(51、
53、55、59、82、86、88)を有する。
【0017】レベルシフト回路は、0〜5Vの範囲にあ
るAC信号処理回路72の出力を20〜150μAの範
囲の電流信号に変換する。レベルシフト回路の出力は、
pnpトランジスタ94のエミッタに印加する。トラン
ジスタ94のベースは一定の電圧に保持し、トランジス
タ94のエミッタに送る電流を制御することで接合部3
8に電流を送る。
【0018】この発明の一実施例では、能動型電流源負
荷40も接合部38に接続する。能動型電流負荷40
は、高電圧入力段に接続した「ドレイン」端子、抵抗器
43を介して負の高電圧源(−HV)に接続した「ソー
ス」端子、抵抗器46を介して高電圧源調節器に接続し
た「ゲート」端子を備えたMOSFET41を有する。
能動型電流源負荷40はさらに、MOSFET41のゲ
ートと高電圧源−HVの間に接続したツェナー・ダイオ
ード45と、MOSFET41のゲートと接地電位の間
に接続した抵抗器46を有する。負の高電圧源は、好ま
しくは−1200Vである。
【0019】電圧レベル決定部は、MOSFET30、
能動型電流源負荷40、および高電圧トランジスタ94
のコレクタを含む高電圧センサ回路部の間の接合部38
に接続する。電圧レベル決定部は、抵抗器70を介して
接合部38に接続した演算増幅器66を有する。抵抗器
70も抵抗器負荷であり、接合部38にフィードバック
電圧を生成するために、接合部38での電流の合計が通
過する。フィードバック抵抗器68を用いて、演算増幅
器66は静電面の電位を示す低DC電圧を生成する。
【0020】低DC電圧はさらに、面12上の電圧レベ
ルを示す表示デバイス(図示せず)用の入力として用い
ることも、測定した静電位の関数として静電処理を制御
するために用いることもできる。演算増幅器66の出力
は、最小および最大決定デバイス100にも供給する。
最小および最大決定デバイス100は、演算増幅器66
がそこに送る最小または最大値のいずれかをチェックし
保持する。
【0021】ESV10を完全なデバイスと見なすと、
所定の部品を制御回路の一部と考えることができる。制
御部には、第一対のMOSFET50/52、第二対の
MOSFET58/60、第三対のMOSFET54/
56、第四対のMOSFET62/64、第五対のMO
SFET51/53、第六対のMOSFET55/5
9、第七対のMOSFET57/65、MOSFET8
2/86/88、回路72、およびpnpトランジスタ
94が含まれる。高電圧電流源40は、トランジスタ9
4を介してMOSFET41に電流Icを流すことで、
トランジスタ94の負荷として機能する。
【0022】図3は、典型的なAC信号処理回路72を
さらに詳しく示している。AC信号処理回路72には、
演算増幅器73とフィードバック抵抗器74を備えたバ
ッファ回路、可変利得およびローパス・フィルタ回路7
5、および抵抗器76、演算増幅器77、コンデンサ7
8を含む積分器を有する。AC信号処理回路72は、そ
の内容を援用するウェルナ(Werner)などによる
米国特許第5,204,636号、「Dynamic
Limiting Circuit foran Am
plifier」に開示されているものと同様の動的に
制限した増幅器を有することができる。
【0023】図の実施例は、ESV内に流れる電流量が
僅かである静電位を測定できるデバイスを提供する。図
の実施例には、高電圧入力段の負荷として、高電圧電流
源を用いる特定用途向け集積回路(ASIC)ESVを
有する。高電圧電流源はさらに制御pnpトランジスタ
の負荷として機能し、相互コンダクタンス増幅器出力段
と共通点を持つ。この発明の利点の一つは、電流源の負
荷から得られる電流が一定で、それにかかる電圧に依存
しないことである。
【0024】別の利点は、負荷が能動型でシステム内の
浮遊容量の充電を促進して、より多くの電流を「出力
段」に設定できる。出力が正に駆動されると、図3の積
分段が抵抗器80を含む電圧電流変換段と、トランジス
タ82、88、53、55、59からなる電流ミラーシ
ステムに電圧出力を供給し、高電圧PNPトランジスタ
94のエミッタで必要とされる電流を供給して、制御ト
ランジスタ94のコレクタが必要とされる電流を送っ
て、抵抗器負荷70への電流供給を実現し接合部38を
正にする。出力が負に駆動されると、積分段がPNPト
ランジスタ94からの電流を減らす電圧を供給し、高電
圧電流源が出力電圧を負に引っぱる。高電圧電流源から
の電流は、0〜−1kVの範囲ではそれにかかる電圧に
依存しないので、浮遊容量を充電するのに十分な電流が
全出力範囲で利用できる。トランジスタ94からの電流
は減らされるので、浮遊容量を充電するために利用可能
な電流は、ソース端子が負のHV電源に近づくほど実際
には増大する。
【0025】この発明のさらに別の利点は、二つの単純
な抵抗器と一つの演算増幅器の構成を用いて、高電圧出
力を直接測定するためにHVが負のレールの近くでさえ
十分な電流が利用可能なことである。
【0026】さらなる利点と修正は、当業者には容易に
理解される。従って、より広い実施形態においてこの発
明は所定の細部、回路部品またはその値、代表的な装
置、または図示し説明した具体例には限定されない。そ
の結果、この発明の精神と範囲から逸脱することなく、
このような詳細から離れることができる。この発明は添
付の請求項で定義される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の好ましい実施例によるESVを示
す図である。
【図2】 この発明の実施例によるESVの電気回路図
である。
【図3】 図2の回路図の一部をさらに詳しく示す図で
ある。
【符号の説明】
10 静電電圧計(ESV)、14 検出電極、18
入力接点、20 高電圧入力段、24 信号処理回路。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 静電位を測定する装置であって、 静電位を表す第一信号を受け取り、前記静電位を表す第
    一信号を生成する高電圧信号入力部と、 前記高電圧信号入力部と高電圧源との間に接続した高電
    圧電流源と、 前記高電圧信号入力部と前記高電圧電流源との間の接合
    部に接続し、前記静電位に比例した電気信号を提供する
    電圧レベル決定回路と、 を有する装置。
  2. 【請求項2】 さらに、前記接合部と中間電圧源との間
    に接続した制御回路を有する請求項1記載の装置。
  3. 【請求項3】 前記高電圧信号入力部を、中間電圧源と
    前記高電圧電流源との間に接続した請求項1記載の装
    置。
  4. 【請求項4】 物体の静電位を測定する方法であって、 その表面に静電位を備えた物体の近傍にプローブを配置
    し、 前記静電位を表す第一信号を生成し、 前記第一信号をセンサ回路の入力部に印加し、 高電圧電流源を前記センサ回路に接続し、前記高電圧電
    流源を前記センサ回路の負荷として用いて、 前記センサ回路と前記高電圧電流源の間とのノードの電
    圧レベルを決定し、静電位に比例した電気信号を提供す
    る方法。
  5. 【請求項5】 静電位を測定する装置であって、 静電位を表す第一信号を受け取り、前記静電位を表す第
    一信号を生成する高電圧入力部と、 前記高電圧入力部に接続し、前記高電圧入力部に接続し
    た第一接続部、高電圧源に接続した第二接続部、および
    適切なバイアス網に接続した第三接続部を備えた能動型
    デバイスを含む高電圧電流源負荷と、 前記高電圧入力部と前記第一接続部との間の接合部に接
    続し、静電位に比例して検出した電気信号を提供する電
    圧レベル決定部と、 を有する装置。
  6. 【請求項6】 前記高電圧電流源負荷がさらに、前記第
    二接続部と前記高電圧源との間に接続した第一抵抗器、
    前記第三接続部と前記高電圧源との間に接続したツェナ
    ー・ダイオード、およびツェナーモードで前記ツェナー
    ・ダイオードを動作するのに適した前記電源と、前記第
    三接続部との間に接続した第二抵抗器を有する請求項5
    記載の装置。
  7. 【請求項7】 静電位に比例した電気信号を提供する装
    置であって、 静電位を表す第一信号を受け取り、前記静電位を表す第
    一信号を生成する高電圧入力部と、 前記高電圧入力部に接続し、前記高電圧入力部に接続し
    た第一接続部、高電圧源に接続した第二接続部、および
    高電圧源調節器に接続した第三接続部を含む能動型負荷
    と、 前記高電圧入力部と前記第一接続部との間の接合部に接
    続し、静電位に比例した電気信号を提供する電圧レベル
    決定部と、 を有する装置。
  8. 【請求項8】 能動型負荷を用いて物体の静電位を測定
    する方法であって、 前記静電位を表す第一信号を生成し、 負荷として機能する能動型デバイスを用いて前記第一信
    号を受け取り、 前記能動型デバイスに接続したノードの電圧レベルを決
    定して、前記静電位に比例した第二信号を提供する方
    法。
JP2001360484A 2000-11-29 2001-11-27 電流源負荷を備えた静電電圧計 Pending JP2002221545A (ja)

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