JP2002208606A - Device and method for arranging and transferring conductive ball - Google Patents

Device and method for arranging and transferring conductive ball

Info

Publication number
JP2002208606A
JP2002208606A JP2001005034A JP2001005034A JP2002208606A JP 2002208606 A JP2002208606 A JP 2002208606A JP 2001005034 A JP2001005034 A JP 2001005034A JP 2001005034 A JP2001005034 A JP 2001005034A JP 2002208606 A JP2002208606 A JP 2002208606A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
suction
balls
arranging
conductive
ball
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001005034A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4472194B2 (en
Inventor
Osamu Yamauchi
修 山内
Kohei Tatsumi
宏平 巽
Hideji Hashino
英児 橋野
Kazuo Niitsuma
和生 新妻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Shibuya Corp
Original Assignee
Shibuya Kogyo Co Ltd
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibuya Kogyo Co Ltd, Nippon Steel Corp filed Critical Shibuya Kogyo Co Ltd
Priority to JP2001005034A priority Critical patent/JP4472194B2/en
Publication of JP2002208606A publication Critical patent/JP2002208606A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4472194B2 publication Critical patent/JP4472194B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manipulator (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device and method for arranging and transferring conductive ball by which conductive balls can be arranged very effectively and precisely on a large-area wafer. SOLUTION: After the conductive balls 101 have been sucked to and arranged on an array board 12, the balls 101 are transferred collectively and jointed to objective electrodes to which the balls 101 are to be jointed. The board 12 has an air-permeable material 13 on its back, and the balls 101 are sucked to and arranged on the board 12 via the material 13. One or more shield plates 14-16 are provided on the rear face of the material 13, and the suction face used for sucking and arranging the balls 101 is divided into two or more suction faces by moving the plates 14-16 upward and downward directions, when the balls 101 are sucked to the board 12. The balls 101 are sucked gradually to the suction face starting from the outer peripheral sections or central parts of the divided suction faces.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、微細な導電性ボー
ルを配列基板上に一括保持して、プリント基板あるいは
チップ等の電子部品の電極上に一括配列させる装置およ
び方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus and a method for collectively holding fine conductive balls on an array substrate and arranging them on electrodes of an electronic component such as a printed circuit board or a chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】近時においては、半導体チップの電気的
接続に微細導電性ボールを用いたボールバンプが用いら
れるようになっている。ボールバンプを用いることによ
り、パッケージの小型化、多ピン化等の数々のメリット
を得ることができる。このような微細導電性ボールを用
いたバンプ形成技術はたとえば、特開平7−15376
5号公報に記載されている。
2. Description of the Related Art In recent years, ball bumps using fine conductive balls have been used for electrical connection of semiconductor chips. By using the ball bump, various advantages such as miniaturization of the package and increase in the number of pins can be obtained. A bump forming technique using such fine conductive balls is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-15376.
No. 5 publication.

【0003】上記公報に記載されているバンプ形成方法
は、少なくとも半導体チップ1つ分の金属ボール群を吸
着保持するようにしている。そして、複数の金属ボール
群を吸着保持するために、半導体チップ上のバンプ形成
位置に対応した全ての位置に吸着孔が形成されているボ
ール配列基板を用いる。このボール配列基板に微小金属
球を吸着保持した後、該ボール配列基板を接合用ステー
ジまで搬送して被接合部に接合するようにしている。
In the bump forming method described in the above publication, a metal ball group for at least one semiconductor chip is sucked and held. Then, in order to suction-hold a plurality of metal ball groups, a ball array substrate having suction holes formed at all positions corresponding to the bump formation positions on the semiconductor chip is used. After adsorbing and holding the minute metal spheres on the ball array substrate, the ball array substrate is transported to a bonding stage and bonded to a portion to be bonded.

【0004】この方法によれば、均一に形成された微細
導電性ボールをバンプ形成位置に一括接合することがで
きるので、高い信頼性が得られるバールバンプを容易か
つ効率的に形成することができる。ところで最近は、半
導体装置の微細化が益々進み、電極の配線ピッチは極め
て小さくなってきている。そのため電極上にボールバン
プを形成する場合に用いられる微細導電性ボールは、電
極の配線ピッチの微細化に応じて極めて微細になってき
ている。
According to this method, uniformly formed fine conductive balls can be collectively joined to a bump forming position, so that a crowbar bump having high reliability can be easily and efficiently formed. By the way, recently, the miniaturization of semiconductor devices has been increasingly advanced, and the wiring pitch of the electrodes has become extremely small. For this reason, fine conductive balls used for forming ball bumps on electrodes have become extremely fine as the wiring pitch of the electrodes becomes finer.

【0005】このような状況において半導体チップ1つ
分の配列を行うことは、工程が煩雑となりコスト面、時
間的にもデメリットが大きい。このためウエハを個々の
チップ毎に切断する前、すなわちダイシング工程を行う
前に、ウエハ上の複数のチップに相当する全ての電極上
にボールバンプを配置することが行われている。
In this situation, arranging one semiconductor chip in such a situation involves complicated steps, and has great disadvantages in terms of cost and time. Therefore, before the wafer is cut into individual chips, that is, before the dicing process is performed, ball bumps are arranged on all the electrodes corresponding to a plurality of chips on the wafer.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、複数の
半導体チップが形成されたウエハ上の全ての電極上に一
括してボールバンプを配置しようとした場合、ボール吸
引工程において吸引配列不良が発生し、吸引ヘッドへの
吸着配列時間が長くかかるという問題が生じていた。
However, when ball bumps are collectively arranged on all the electrodes on a wafer on which a plurality of semiconductor chips are formed, a suction arrangement defect occurs in a ball suction step, There has been a problem that it takes a long time to arrange the suction on the suction head.

【0007】この問題の要因としては、いくつかの要因
が挙げられる。第1に半導体チップ1つ分の導電性ボー
ルを吸着する場合と比較して、吸引の風量が極めて大き
くなることがある。風量が増大しても、ボール容器内の
導電性ボールの跳躍高さは半導体チップ1個分の吸着を
行う場合と変わりがないため、吸引ヘッドと容器との間
に流れ込む横風の速度は非常に大きくなる。容器に入れ
られた導電性ボールが容器の中央近傍に集中してしまう
ことになり、吸引ヘッドの周辺部で吸着を良好に行うこ
とが難しく、吸引配列に時間がかかる。特に電極面に配
置する導電性ボールの数は数十万個に及ぶため、一括し
て吸引しようとした場合、ボールが溜められている容器
内の中央近傍に跳躍したボールが集中してしまい、吸引
ヘッドの周辺部において十分に吸着を行うことができな
かった。
There are several factors as a cause of this problem. First, the suction air volume may be extremely large as compared with the case where the conductive balls for one semiconductor chip are sucked. Even if the air volume increases, the jump height of the conductive balls in the ball container is the same as when a single semiconductor chip is sucked, so the speed of the cross wind flowing between the suction head and the container is extremely high. growing. Since the conductive balls placed in the container are concentrated near the center of the container, it is difficult to perform good suction around the suction head, and it takes time to arrange the suction. In particular, since the number of conductive balls placed on the electrode surface reaches hundreds of thousands, when attempting to collectively suck, the jumping balls will concentrate near the center of the container where the balls are stored, Sufficient suction could not be performed in the peripheral portion of the suction head.

【0008】また、風量の増大により、吸引ヘッドと容
器との間でガスの乱れ(渦流)が発生し易くなり、容器
内の導電性ボールが吸引ヘッドに吸着され難くなること
も要因となっていた。
[0008] In addition, due to the increase in the air volume, turbulence (vortex) of gas is easily generated between the suction head and the container, and the conductive balls in the container are hardly attracted to the suction head. Was.

【0009】さらに、吸引ヘッドの面積が大きくなるた
め、吸着が不十分となっていた。また、周辺部の吸引を
行うために吸引圧力を多くかけると、吸引風が増加して
吸引したボールが変形するという問題も生じていた。ま
た、吸引ヘッドの面積が大きくなるため、吸引ポンプの
容量を大きくする必要もあり、製造コストの上昇も避け
ることができなかった。
Furthermore, since the area of the suction head is large, the suction is insufficient. Further, when a large suction pressure is applied to perform suction on the peripheral portion, a problem has arisen that suction air is increased and the sucked ball is deformed. In addition, since the area of the suction head is increased, the capacity of the suction pump must be increased, and an increase in manufacturing cost cannot be avoided.

【0010】本発明はこのような問題を解決するために
成されたものであり、吸引ヘッドに導電性ボールを吸着
して配列する際に、吸引ヘッドの中央近傍に容器内の導
電性ボールが集中して吸引されてしまうことを抑止して
吸着に要する時間を短縮するとともに、大面積のウエハ
に対して一括して導電性ボールを配置することのできる
導電性ボールの配列転写装置および方法を提供すること
を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem. When conductive balls are adsorbed and arranged on a suction head, the conductive balls in a container are provided near the center of the suction head. A conductive ball arrangement transfer apparatus and method capable of suppressing the concentrated suction and shortening the time required for suction, and capable of collectively arranging the conductive balls on a large-area wafer. The purpose is to provide.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明による導電性ボー
ルの転写配列装置は、導電性ボールを配列板に吸引配列
した後、そのボールを接合すべき接合対象物の電極に対
して前記導電性ボールを一括で転写接合するボール配列
転写装置であって、前記配列板の背面に通気性材料を有
し、この通気性材料を介して前記配列板にて吸引配列す
るとともに、前記通気性材料の後面に1以上の遮蔽板を
有し、この遮蔽板を上下させることにより、前記導電性
ボールを吸引配列するための吸引面を2以上分割して吸
引させることを特徴とする。
According to the present invention, there is provided an apparatus for transferring and arranging a conductive ball, comprising: arranging a conductive ball on an array plate by suction; A ball array transfer device that collectively transfers and joins balls, having a permeable material on the back surface of the arranging plate, and performing suction arrangement on the arranging plate through the permeable material, and One or more shielding plates are provided on the rear surface, and by moving the shielding plate up and down, a suction surface for arranging the conductive balls by suction is divided into two or more to suck.

【0012】また、本発明の導電性ボールの転写配列装
置において、分割吸引面の外周部または中心部から段階
的に吸引することを特徴とすることを特徴とする。ま
た、本発明の導電性ボールの転写配列装置において、圧
力センサと圧力調整弁を設け、吸引圧力を制御するよう
にしたことを特徴とする。また、本発明の導電性ボール
の転写配列装置において、分割吸引面が円形もしくは多
角形で分割されることを特徴とする。
Further, in the conductive ball transfer arrangement apparatus according to the present invention, suction is performed stepwise from an outer peripheral portion or a central portion of the divided suction surface. Further, in the conductive ball transfer arrangement apparatus of the present invention, a pressure sensor and a pressure regulating valve are provided to control a suction pressure. Further, in the conductive ball transfer arrangement device of the present invention, the divided suction surface is divided into a circle or a polygon.

【0013】本発明による導電性ボールの転写配列方法
は、導電性ボールを配列板に吸引配列した後、そのボー
ルを接合すべき接合対象物の電極に対して前記導電性ボ
ールを一括で転写接合するボール配列転写方法であっ
て、前記配列板の背面に設けた通気性材料を介して、前
記配列板にて吸引配列するとともに、前記通気性材料の
後面に1以上の遮蔽板を有し、この遮蔽板を上下させる
ことにより、前記導電性ボールを吸引配列するための吸
引面を2以上分割して吸引させることを特徴とする。
In the method of transferring and arranging conductive balls according to the present invention, after arranging the conductive balls by suction on an array plate, the conductive balls are collectively transferred and bonded to an electrode of an object to be bonded. A ball array transfer method, through a gas-permeable material provided on the back surface of the array plate, while suction arrangement with the array plate, having one or more shielding plate on the rear surface of the gas-permeable material, By moving the shielding plate up and down, a suction surface for arranging the conductive balls by suction is divided into two or more portions and sucked.

【0014】また、本発明の導電性ボールの転写配列方
法において、分割吸引面の外周部または中心部から段階
的に吸引することを特徴とすることを特徴とする。
Further, in the method for transferring and arranging conductive balls according to the present invention, suction is performed stepwise from an outer peripheral portion or a central portion of the divided suction surface.

【0015】本発明によれば、配列基板の吸引面を複数
の領域に分割し、各吸引面の吸引を独立して制御できる
ようにし、順次吸引を行うことにより、配列基板の周囲
から中心に向かって、あるいは中心から周囲に向かって
順次に導電性ボールの吸引を行うことができる。したが
って、大径ウエハの電極に配列される導電性ボールを一
度に吸引した場合であっても、適正かつ確実に配列する
ことができる。
According to the present invention, the suction surface of the array substrate is divided into a plurality of regions, and the suction of each suction surface can be controlled independently. The conductive balls can be suctioned toward the center or sequentially from the center to the periphery. Therefore, even if the conductive balls arranged on the electrodes of the large-diameter wafer are sucked at once, they can be arranged properly and reliably.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づき、本発明によ
る導電性ボールの転写配列装置および方法の好適な実施
の形態を説明する。図1は、本発明装置の要部構成例を
示している。本実施形態のボール転写配列装置は、導電
性ボールの転写配列ヘッド10(以下、単にヘッドとい
う)とボール容器100を有している。ボール容器10
0内には、複数の導電性ボール101が入れられてお
り、ヘッド10を用いて吸引することにより、ボール1
01(以下、単にボールという)をヘッド10の下部に
一括して吸着するようになっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of a conductive ball transfer arrangement apparatus and method according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration example of a main part of the apparatus of the present invention. The ball transfer arrangement device of this embodiment has a transfer arrangement head 10 (hereinafter, simply referred to as a head) for conductive balls and a ball container 100. Ball container 10
A plurality of conductive balls 101 are placed in the ball 1, and the ball 1 is sucked using the head 10.
01 (hereinafter, simply referred to as a ball) is collectively adsorbed to the lower portion of the head 10.

【0017】図1において、11はヘッド本体、12は
多数の吸引孔12aを有する配列基板、13は配列基板
12の背面に配置された通気性材料、14〜16は通気
性材料13の後面に配置された遮蔽板である。配列基板
12は、導電性ボール101を吸引する系とは別の吸引
系で真空吸引されることにより、ヘッド10のヘッド本
体11に保持される。なお、配列基板12は接着等の方
法によりヘッド本体11と一体に構成してもよい。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a head body, 12 denotes an array substrate having a large number of suction holes 12a, 13 denotes a permeable material disposed on the back of the array substrate 12, and 14 to 16 denote rear surfaces of the permeable material 13. It is an arranged shielding plate. The array substrate 12 is held on the head body 11 of the head 10 by being vacuum-sucked by a suction system different from the system for sucking the conductive balls 101. The array substrate 12 may be formed integrally with the head main body 11 by a method such as bonding.

【0018】ヘッド本体11内には配列基板12の内側
に真空室が形成されている。この例では3つの遮蔽板1
4〜16、すなわち中央部の円形遮蔽板14、その外側
のリングもしくはドーナッツ状の遮蔽板15および16
を有する(図3参照)。各遮蔽板14〜16はそれぞ
れ、昇降装置17〜19よって上下動可能に支持されて
いる。真空室はバキューム装置20によって真空吸引さ
れるようになっており、また適所にリークバルブ21が
接続されている。この圧力調整弁に加えて、ヘッド本体
11内の圧力を検出する圧力センサ22を有し、これら
により吸引圧力を適宜制御し得るようになっている。
A vacuum chamber is formed in the head body 11 inside the array substrate 12. In this example, three shielding plates 1
4 to 16, ie, a circular shielding plate 14 in the center, and a ring or donut-shaped shielding plate 15 and 16 on the outer side thereof
(See FIG. 3). Each of the shielding plates 14 to 16 is vertically movably supported by lifting devices 17 to 19, respectively. The vacuum chamber is evacuated by a vacuum device 20, and a leak valve 21 is connected to an appropriate position. In addition to the pressure regulating valve, a pressure sensor 22 for detecting the pressure in the head body 11 is provided, so that the suction pressure can be appropriately controlled.

【0019】このように遮蔽板14〜16を設けること
により、配列基板12の吸引面は、3つの領域、すなわ
ち吸引面S1〜S3に分割されるとともに、これに対応し
て真空室も実質的に3つの真空室A1〜A3に分割され
る。各真空室A1〜A3において各遮蔽板14〜16を昇
降装置17〜19よって上下動させることにより、各吸
引面S1〜S3を別個独立して吸引可能にし、配列基板1
2の周囲から中心に向かって、あるいは中心から周囲に
向かって順次にボール101の吸引を行うことができ
る。
By providing the shielding plates 14 to 16 as described above, the suction surface of the array substrate 12 is divided into three regions, namely, the suction surfaces S 1 to S 3 , and the vacuum chamber is correspondingly formed. It is divided into substantially three vacuum chambers a 1 to a 3. In each of the vacuum chambers A 1 to A 3 , each of the shielding plates 14 to 16 is moved up and down by the elevating devices 17 to 19 so that the suction surfaces S 1 to S 3 can be suctioned separately and independently.
The ball 101 can be sucked sequentially from the periphery to the center or from the center to the periphery.

【0020】半径200mmウエハ等の大径ウエハに形
成された複数の半導体チップの電極に一括して導電性ボ
ール101を配置する場合には、たとえば2000l/
min程度の流量の吸引を行う必要がある。配列基板1
2と容器100との間の風量が非常に大きくなり、特に
配列基板12の周辺領域での吸着が不十分となるが、分
割吸引を行うことにより1つの吸引面で吸引する際の風
量を低減させることができ、容器100の中央近傍に導
電性ボール101が集中してしまうことを抑止して配列
基板12における吸着効率を向上させることができる。
When the conductive balls 101 are collectively arranged on the electrodes of a plurality of semiconductor chips formed on a large diameter wafer such as a 200 mm radius wafer, for example, 2,000 l / l
It is necessary to perform suction at a flow rate of about min. Array board 1
The amount of air between the container 2 and the container 100 becomes extremely large, and in particular, the suction in the peripheral region of the arrayed substrate 12 becomes insufficient. However, by performing divided suction, the amount of air when suctioning with one suction surface is reduced. It is possible to prevent the conductive balls 101 from being concentrated near the center of the container 100 and improve the adsorption efficiency on the array substrate 12.

【0021】配列基板12の背面(上側)は通気性材料
13によって覆われている。そして、遮蔽板14〜16
の下面は直接配列基板12とは接触しておらず、遮蔽板
14〜16と配列基板12との間には通気性材料13が
介在している。通気性材料13は、たとえば多孔質の材
料から構成されており、所定の通気性が保たれた材料で
ある。
The rear surface (upper side) of the array substrate 12 is covered with a permeable material 13. And the shielding plates 14 to 16
Is not in direct contact with the arrangement substrate 12, and a permeable material 13 is interposed between the shielding plates 14 to 16 and the arrangement substrate 12. The gas permeable material 13 is made of, for example, a porous material, and is a material having a predetermined gas permeability.

【0022】たとえば、図2に示すように隣接する遮蔽
板15,16の一方を通気性材料13に接触させ、他方
の遮蔽板15を上昇させることで通気性材料13から放
すと、吸引面S3は実質的に閉鎖されるとともに、吸引
面S2は吸引可能になる。この場合、吸引面S2の上側に
は通気性材料13が配置されているため、吸引面S2
領域における吸引力を均一化することができる。
For example, as shown in FIG. 2, when one of the adjacent shielding plates 15 and 16 is brought into contact with the permeable material 13 and the other shielding plate 15 is lifted and released from the permeable material 13, the suction surface S with 3 is substantially closed, the suction surface S 2 becomes possible suction. In this case, the upper side of the suction surface S 2 because it is located breathable material 13, it is possible to equalize the suction force in the region of the suction surface S 2.

【0023】通気性材料13としては、通気性を有する
材料で、かつ吸引、転写に対する材料強度を有する材料
であれば種々の材料を用いることができるが、特に多孔
質のポーラスメタルや、ハニカムまたは多孔質板の表面
にメッシュ(金網)を付したもの、あるいは布等の織
物、スポンジ等の材料を使用することができる。特に、
通気性材料13として多孔質板の表面にメッシュを用い
た場合には、遮蔽板仕14〜16と配列基板12の間隔
を精度良く保つことができるというメリットがあり、ま
た、通気性材料13としてのメッシュは遮蔽板14〜1
6と配列基板12の双方に点接触で接するため、通気性
を良好に保つことが可能となる。
Various materials can be used as the gas permeable material 13 as long as it is a gas permeable material and has a material strength with respect to suction and transfer. Particularly, a porous porous metal, a honeycomb or a porous material can be used. A material in which a mesh (wire mesh) is attached to the surface of a porous plate, or a material such as a woven fabric such as a cloth or a sponge can be used. In particular,
When a mesh is used on the surface of the porous plate as the air permeable material 13, there is an advantage that the interval between the shield plates 14 to 16 and the array substrate 12 can be accurately maintained. Mesh is a shielding plate 14-1
6 and the array substrate 12 are in point contact with each other, so that good air permeability can be maintained.

【0024】ここで、本発明においては分割吸引面S1
〜S3とその外周部下方に設定された吸入口との面積比
が、各分割吸引面間で所定量以上変動しないようにし、
各吸引面S1〜S3で吸引した際に配列基板12と容器1
00との間に生じる横風により容器100の中央近傍に
導電性ボール101が集中することを抑止するようにし
ている。
Here, in the present invention, the divided suction surface S 1 is used.
To S 3 and the area ratio of the set inlet peripherally thereof downward, to avoid variations over a predetermined amount among the respective divided suction surface,
When suction is performed on each of the suction surfaces S 1 to S 3 , the array substrate 12 and the container 1
The conductive balls 101 are prevented from concentrating near the center of the container 100 due to the crosswind generated between the conductive balls 101 and 00.

【0025】なお、本実施形態においては、配列基板1
2の吸引面を図3に示すように同心円状に3分割する例
を説明したが、4分割またはそれ以上で分割してもよ
い。また形状についても、多角形状あるいはブロック状
に分割するようにしてもよい。
In this embodiment, the array substrate 1
Although the example in which the suction surface 2 is divided into three concentric circles as shown in FIG. 3 has been described, the suction surface may be divided into four or more. Also, the shape may be divided into a polygonal shape or a block shape.

【0026】以上説明したように本実施形態によれば、
配列基板12の吸引面を3つの領域に分割し、吸引面S
1〜S3の吸引を独立して制御できるようにしたため、吸
引面S1〜S3で順次吸引を行うことにより、配列基板1
の周囲から中心に向かって、あるいは中心から周囲に向
かって順次に導電性ボール101の吸引を行うことがで
きる。したがって、半径200mmウエハ等の大径ウエ
ハの電極に配列される導電性ボール101を一度に吸引
した場合であっても、吸引の風量によって導電性ボール
101が容器100の中央近傍に集中したり、あるいは
配列基板12と容器100との間で渦流が生じて、配列
基板12に対する吸引が不十分になることを抑止するこ
とができる。
As described above, according to the present embodiment,
The suction surface of the array substrate 12 is divided into three regions, and the suction surface S
Since the suction of S 1 to S 3 can be controlled independently, by sequentially performing suction on the suction surfaces S 1 to S 3 , the array substrate 1
The conductive balls 101 can be sequentially sucked from the periphery to the center or from the center to the periphery. Therefore, even when the conductive balls 101 arranged on the electrode of a large diameter wafer such as a 200 mm radius wafer are sucked at a time, the conductive balls 101 concentrate on the vicinity of the center of the container 100 due to the air volume of the suction. Alternatively, it is possible to prevent a vortex from being generated between the arrangement substrate 12 and the container 100 and insufficient suction to the arrangement substrate 12.

【0027】また、配列基板12と遮蔽板14〜16の
間に通気性材料13を介在させるようにしたため、各吸
引面S1〜S3の吸引孔12aにて均一かつ確実に導電性
ボール101を吸引配列することができる。さらに、配
列基板12と容器100との間における流速を各吸引面
1〜S3毎に略均等となるように吸引面S1〜S3の面積
を設定したため、配列基板12の各領域に均等に導電性
ボール101を吸引することができる。
Further, since the air-permeable material 13 is interposed between the array substrate 12 and the shielding plates 14 to 16, the conductive balls 101 are uniformly and reliably formed in the suction holes 12a of the suction surfaces S 1 to S 3. Can be arranged by suction. Moreover, setting the area of the suction surface S 1 to S 3 in a substantially uniform flow velocity for each suction surface S 1 to S 3 between the array substrate 12 and the container 100, to each area of the array substrate 12 The conductive balls 101 can be evenly sucked.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明によれば、配列板に導電性ボール
を配列する際に、配列板の中央近傍に容器内の導電性ボ
ールが集中してしまうことを抑止することができる。従
って、吸着の効率を向上させることができ、吸着に要す
る時間を短縮するとともに、大面積のウエハに対して一
括して導電性ボールを配置することを可能とした導電性
ボールの吸引配列装置及び吸引配列方法を提供すること
が可能となる。
According to the present invention, it is possible to prevent the conductive balls in the container from being concentrated near the center of the arrangement plate when the conductive balls are arranged on the arrangement plate. Therefore, it is possible to improve the efficiency of the suction, shorten the time required for the suction, and arrange the conductive ball suction array device capable of collectively arranging the conductive balls on a large-area wafer. It is possible to provide a suction arrangement method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態におけるボール転写配列装置
の要部面構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a main part surface of a ball transfer arrangement device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のP部拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of a part P in FIG.

【図3】本発明に係る遮蔽板まわりを示す平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view showing the periphery of a shielding plate according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 転写配列ヘッド 11 ヘッド本体 12 配列基板 13 通気性材料 14〜16 遮蔽板 17〜19 昇降装置 20 バキューム装置 21 リークバルブ 100 容器 101 導電性ボール REFERENCE SIGNS LIST 10 transfer arrangement head 11 head main body 12 arrangement substrate 13 air-permeable material 14 to 16 shielding plate 17 to 19 elevating device 20 vacuum device 21 leak valve 100 container 101 conductive ball

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 巽 宏平 富津市新富20−1 新日本製鐵株式会社技 術開発本部内 (72)発明者 橋野 英児 富津市新富20−1 新日本製鐵株式会社技 術開発本部内 (72)発明者 新妻 和生 石川県金沢市大豆田本町甲58番地 澁谷工 業株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kohei Tatsumi 20-1 Shintomi, Futtsu-shi Nippon Steel Corporation Technology Development Division (72) Inventor Hideji Hashino 20-1 Shintomi, Futtsu-shi Nippon Steel Corporation Technology Development Headquarters (72) Inventor Kazuo Niizuma 58 Shizuya Kogyo Co., Ltd.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導電性ボールを配列板に吸引配列した
後、そのボールを接合すべき接合対象物の電極に対して
前記導電性ボールを一括で転写接合するボール配列転写
装置であって、 前記配列板の背面に通気性材料を有し、この通気性材料
を介して前記配列板にて吸引配列するとともに、 前記通気性材料の後面に1以上の遮蔽板を有し、この遮
蔽板を上下させることにより、前記導電性ボールを吸引
配列するための吸引面を2以上分割して吸引させること
を特徴とする導電性ボールの配列転写装置。
1. A ball array transfer device which, after suction-arranging conductive balls on an array plate, collectively transfers and joins the conductive balls to an electrode of an object to be joined to which the balls are to be joined, A breathable material is provided on the back surface of the arranging plate, and suction arrangement is performed by the arranging plate through the permeable material. At least one shielding plate is provided on a rear surface of the permeable material, and the shielding plate is vertically moved. The conductive ball arrangement transfer device, wherein the suction surface for arranging the conductive balls by suction is divided into two or more and sucked.
【請求項2】 分割吸引面の外周部または中心部から段
階的に吸引することを特徴とすることを特徴とする請求
項1に記載の導電性ボールの配列転写装置。
2. The conductive ball array transfer device according to claim 1, wherein suction is performed stepwise from an outer peripheral portion or a central portion of the divided suction surface.
【請求項3】 圧力センサと圧力調整弁とを設け、吸引
圧力を制御するようにしたことを特徴とする請求項1ま
たは2に記載の導電性ボールの配列転写装置。
3. The conductive ball array transfer device according to claim 1, wherein a pressure sensor and a pressure regulating valve are provided to control a suction pressure.
【請求項4】 分割吸引面が円形もしくは多角形で分割
されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に
記載の導電性ボールの配列転写装置。
4. The conductive ball array transfer device according to claim 1, wherein the divided suction surface is divided into a circular shape or a polygonal shape.
【請求項5】 導電性ボールを配列板に吸引配列した
後、そのボールを接合すべき接合対象物の電極に対して
前記導電性ボールを一括で転写接合するボール配列転写
方法であって、 前記配列板の背面に設けた通気性材料を介して、前記配
列板にて吸引配列するとともに、 前記通気性材料の後面に1以上の遮蔽板を有し、この遮
蔽板を上下させることにより、前記導電性ボールを吸引
配列するための吸引面を2以上分割して吸引させること
を特徴とする請求項6に記載の導電性ボールの配列転写
方法。
5. A ball array transfer method, comprising: after electrically arranging a conductive ball on an array plate, transferring and bonding the conductive ball to an electrode of an object to be bonded to the ball at a time. Through the air-permeable material provided on the rear surface of the array plate, the array is suction-arranged by the array plate, and the air-permeable material has one or more shielding plates on the rear surface, and the shielding plate is moved up and down, 7. The method according to claim 6, wherein a suction surface for arranging the conductive balls by suction is divided into two or more and sucked.
【請求項6】 分割吸引面の外周部または中心部から段
階的に吸引することを特徴とすることを特徴とする請求
項5に記載の導電性ボールの配列転写方法。
6. The conductive ball array transfer method according to claim 5, wherein suction is performed stepwise from an outer peripheral portion or a central portion of the divided suction surface.
JP2001005034A 2001-01-12 2001-01-12 Conductive ball array transfer apparatus and method Expired - Fee Related JP4472194B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001005034A JP4472194B2 (en) 2001-01-12 2001-01-12 Conductive ball array transfer apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001005034A JP4472194B2 (en) 2001-01-12 2001-01-12 Conductive ball array transfer apparatus and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002208606A true JP2002208606A (en) 2002-07-26
JP4472194B2 JP4472194B2 (en) 2010-06-02

Family

ID=18873130

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001005034A Expired - Fee Related JP4472194B2 (en) 2001-01-12 2001-01-12 Conductive ball array transfer apparatus and method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4472194B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006302973A (en) * 2005-04-15 2006-11-02 Nippon Steel Corp Ball arranging head of ball mounting device
KR100924921B1 (en) 2006-10-31 2009-11-06 에이에스엠 어쌤블리 오토메이션 리미티드 Singulation handler system, carrier device and pick-up device for singulation handler system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006302973A (en) * 2005-04-15 2006-11-02 Nippon Steel Corp Ball arranging head of ball mounting device
KR100924921B1 (en) 2006-10-31 2009-11-06 에이에스엠 어쌤블리 오토메이션 리미티드 Singulation handler system, carrier device and pick-up device for singulation handler system

Also Published As

Publication number Publication date
JP4472194B2 (en) 2010-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002289635A (en) Ball transcriber and ball alignment apparatus
JP2008153324A (en) Method and apparatus for loading micro-balls
JP2002208606A (en) Device and method for arranging and transferring conductive ball
KR20130088245A (en) Method of ejecting a die from a wafer, die ejecting unit and die bonding apparatus including the same
JP5211724B2 (en) Ball suction head
JP4629218B2 (en) Conductive ball suction arrangement apparatus and suction arrangement method
JP2764532B2 (en) Bump bonding method and bonding apparatus
KR100771279B1 (en) Method for printing solder pastes using a mask and a jig used therefor
JP4439708B2 (en) Method and apparatus for sucking and arranging conductive balls
JP2004165492A (en) Ball mounting device and method therefor
JP3183702B2 (en) Bump forming method and apparatus
JP3684033B2 (en) Fine ball arrangement head and fine ball arrangement method using the same
JP3549340B2 (en) Bump forming method and apparatus
JP3586334B2 (en) Ball jumping device
KR20100010305A (en) A bonding stage of wire bonder capable of improving a productivity and manufacturing method of semiconductor package using the same
KR102442652B1 (en) Bonding apparatus
JP3087959B2 (en) Ball suction jig
KR102220338B1 (en) Apparatus and method of bonding chips
JP2003276160A (en) Printing method, printing apparatus, and semiconductor device
JPH1154517A (en) Method and device for arrangement of microscopic balls
JP4078262B2 (en) Ball array plate, ball array device, and ball array method
KR19980015015A (en) METHOD AND APPARATUS FOR SETTING SOLDER BALL IN AN INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE
JPH06314708A (en) Semiconductor manufacturing apparatus and manufacture of semiconductor device
JP2001053428A (en) Ball suction head
JP2004172393A (en) Holding tool, mounting device, and mounting method for ball body

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20061019

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071105

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20071105

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091026

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091110

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100106

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100202

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100303

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140312

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees