JP2002198700A - Mark detecting device - Google Patents

Mark detecting device

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JP2002198700A
JP2002198700A JP2000398471A JP2000398471A JP2002198700A JP 2002198700 A JP2002198700 A JP 2002198700A JP 2000398471 A JP2000398471 A JP 2000398471A JP 2000398471 A JP2000398471 A JP 2000398471A JP 2002198700 A JP2002198700 A JP 2002198700A
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JP
Japan
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circuit board
light
mark
irradiation angle
detecting device
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JP2000398471A
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Japanese (ja)
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Noriyuki Iguchi
範幸 井口
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Juki Corp
Original Assignee
Juki Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mark detecting device capable of accurately detecting the presence or absence of a mark on a circuit board. SOLUTION: This mark detecting device (30) using an optical sensor is provided with a projecting means (31) for irradiating the surface of a circuit board (12) with a laser beam (L) and a light receiving means (32) for receiving reflected lights so that a mark(bad mark B) attached to the surface of the circuit board for indicating the validity/invalidity of the circuit board. Also, this mark detecting device is provided with an irradiation angle changing means (40) for changing the irradiation angle of lights by the projecting means according to the surface state of the circuit board. Therefore, it is possible to easily change the irradiation angle of the laser beam according to the surface state of the circuit board, and to improve the detecting precision of the bad mark.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板の良否を
示すために回路基板に付されるマークの検出を正確に行
なうことができるマーク検出装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mark detecting device capable of accurately detecting a mark attached to a circuit board for indicating the quality of the circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】通常、電子部品を回路基板に装着するた
めの電子部品装着装置を用いて、回路基板を製造する際
には、電子部品装着装置による電子部品の実装を開始す
る前に、予め、例えば、配線パターンが正しく回路基板
上に形成されているかどうか、はんだが正しく塗布され
ているかどうか等の検査を行なう。そして回路基板が不
良品であると判断した場合は、回路基板上の所定位置
に、この回路基板が不良品であることを示すマーク(バ
ッドマーク)が付される。バッドマークとしては、例え
ば、シールや油性塗料等が用いられる。そして、これら
不良品と良品の回路基板を分別することなく、まとめて
電子部品装着装置内部に搬送する。
2. Description of the Related Art Normally, when manufacturing a circuit board using an electronic component mounting apparatus for mounting an electronic component on a circuit board, before mounting the electronic component by the electronic component mounting apparatus is started, For example, an inspection is performed to determine whether the wiring pattern is correctly formed on the circuit board, whether the solder is correctly applied, and the like. If it is determined that the circuit board is defective, a mark (bad mark) indicating that the circuit board is defective is attached at a predetermined position on the circuit board. As the bad mark, for example, a seal or an oil paint is used. Then, the defective and non-defective circuit boards are conveyed together into the electronic component mounting apparatus without being separated.

【0003】電子部品装着装置においては、回路基板へ
の電子部品の装着作業を開始する前に、光学センサ等を
用いて、各回路基板に対してバッドマークの検出作業を
行なう。そして、バッドマークが検出された回路基板に
対しては、部品装着を実行せず、バッドマークが検出さ
れなかった回路基板、即ち良品であると判断した回路基
板に対してのみ部品装着が実行される。
In an electronic component mounting apparatus, a bad mark is detected on each circuit board by using an optical sensor or the like before starting the operation of mounting the electronic component on the circuit board. Then, the component mounting is not performed on the circuit board on which the bad mark is detected, and the component mounting is performed only on the circuit board on which the bad mark is not detected, that is, the circuit board determined to be non-defective. You.

【0004】上述の光学センサを用いたバッドマークの
検出方法としては、例えば、光学センサが、いわゆるバ
ンドルファイバを備えており、中心部に配置されている
投光用光ファイバから回路基板に照射したレーザー光の
反射光を、投光用ファイバの周囲を囲むように配置され
ている複数の受光用ファイバ(バンドルファイバ)で検
出する構造となっている。そして、例えば、バッドマー
クとして黒色のシールを回路基板に貼付するものとする
と、回路基板表面とバッドマークとでは光の反射率が異
なることから、レーザー光が回路基板表面に直接照射さ
れた場合と、バッドマークに照射された場合とでは、受
光用光ファイバに届く反射光の光量が変化する。そし
て、この光量の強弱を検出することで、回路基板にバッ
ドマークが貼付されているか否か、即ち、回路基板が不
良品であるか否かの判断を行なう。上述のような光学セ
ンサを用いて回路基板上のバッドマーク検出作業を精度
良く行なうには、レーザー光を回路基板表面のバッドマ
ーク貼付部分に対して可能な限り垂直に照射する必要が
ある。
As a method of detecting a bad mark using the above-described optical sensor, for example, the optical sensor has a so-called bundle fiber, and a circuit board is irradiated from a light-projecting optical fiber arranged at the center. The structure is such that the reflected light of the laser light is detected by a plurality of light receiving fibers (bundle fibers) arranged so as to surround the light projecting fiber. And, for example, if a black seal is affixed to the circuit board as a bad mark, since the reflectance of light is different between the circuit board surface and the bad mark, there is a case where laser light is directly irradiated on the circuit board surface. The amount of reflected light reaching the light-receiving optical fiber varies between the case where the light beam is radiated to the bad mark. By detecting the intensity of the light quantity, it is determined whether or not a bad mark is attached to the circuit board, that is, whether or not the circuit board is defective. In order to accurately perform a bad mark detection operation on a circuit board using the above-described optical sensor, it is necessary to irradiate a laser beam as vertically as possible to a portion where the bad mark is attached on the circuit board surface.

【0005】ここで、一般的に、回路基板はガラスエポ
キシやセラミックス等から製造されるため、硬く、高い
強度を備えているが、回路基板搬送装置の構造等に起因
した若干の撓みや傾き等が回路基板に生じている場合が
ある。そして、この撓みや傾きは、回路基板の種類によ
らずほぼ一定方向に生じるので、実際のバッドマーク検
出作業においては、バッドマーク貼付部分に対してレー
ザー光を略垂直に照射すべく、通常、レーザー光を回路
基板搬送面の垂線方向に対して若干傾けた状態で照射し
ている。
Here, since the circuit board is generally made of glass epoxy or ceramics, it is hard and has high strength. However, the circuit board is slightly bent or tilted due to the structure of the circuit board transfer device. May occur on the circuit board. And, since this bending or inclination occurs in a substantially constant direction regardless of the type of the circuit board, in the actual bad mark detection work, in order to irradiate the laser beam substantially perpendicularly to the bad mark attaching portion, usually, The laser light is emitted in a state where the laser light is slightly inclined with respect to the direction perpendicular to the circuit board transfer surface.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、回路
基板のひとつとしてフレキシブル回路基板(FPC:Flexi
ble Printed Circuit)が用いられるようになってき
た。フレキシブル回路基板は、可撓性のある高分子樹脂
の絶縁体の表面に回路パターンを形成したプリント配線
板に電子部品を取り付けてなるものであり、薄く、容易
に曲げられるという特性を有している。そして、フレキ
シブル回路基板の製造工程においても、上述のようなセ
ラミックスなどから構成される通常の回路基板と同様
に、フレキシブル回路基板上のバッドマークの検出作業
が行なわれるが、可撓性を備えるというフレキシブル回
路基板の特性から、バッドマーク貼付部分の撓みや傾き
は、各フレキシブル回路基板毎に異なるものとなる。従
って、レーザー光を通常の回路基板と同様に、回路基板
搬送面に対して若干傾けた状態でレーザー光を照射する
と、回路基板の傾き度合いによっては、反射光の検出が
困難となり、正確なバッドマーク検出が行なえないとい
う問題があった。
By the way, in recent years, a flexible circuit board (FPC: Flexi
ble Printed Circuit) has been used. A flexible circuit board is made by attaching electronic components to a printed wiring board in which a circuit pattern is formed on the surface of a flexible polymer resin insulator, and has the property of being thin and easily bent. I have. In the manufacturing process of the flexible circuit board as well, the work of detecting the bad mark on the flexible circuit board is performed in the same manner as in the case of the ordinary circuit board made of ceramics or the like as described above. Due to the characteristics of the flexible circuit board, the bending and inclination of the portion where the bad mark is attached differ for each flexible circuit board. Therefore, if the laser light is irradiated while the laser light is slightly tilted with respect to the circuit board transfer surface, as in the case of a normal circuit board, it is difficult to detect the reflected light depending on the degree of inclination of the circuit board. There is a problem that mark detection cannot be performed.

【0007】本発明の課題は、上述の問題を考慮し、回
路基板上のマークの有無の検出を正確に行なうことがで
きるマーク検出装置を提供することである。
An object of the present invention is to provide a mark detection device capable of accurately detecting the presence or absence of a mark on a circuit board in consideration of the above problems.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、請求項1記載のマーク検出装置(30)は、回路基
板(12)の良否を示すために回路基板表面に付される
マーク(バッドマークB)を検出するために、回路基板
表面のマークが付される部分(バッドマーク貼付位置
X)に光(レーザー光L)を照射する投光手段(31)
と、回路基板からの反射光を受ける受光手段(32)と
を有する光学センサを用いたマーク検出装置であって、
前記投光手段による光の照射角を、回路基板の表面状態
に応じて変更可能な照射角変更手段(40)を備えるこ
とを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a mark detection device, comprising: a mark detecting device for determining whether a circuit board is good; Light emitting means (31) for irradiating light (laser light L) to a portion (bad mark attachment position X) on the surface of the circuit board where a mark is to be detected in order to detect a bad mark B)
And a light detecting means (32) for receiving light reflected from the circuit board, the mark detecting device using an optical sensor,
An illumination angle changing unit (40) capable of changing an irradiation angle of light by the light projecting unit according to a surface state of the circuit board is provided.

【0009】請求項1記載のマーク検出装置によれば、
回路基板の表面状態に応じて容易にレーザー光の照射角
を変更できるので、回路基板の良否判定の精度が向上す
る。また、回路基板の良否判定の精度が向上することに
より、不良回路基板に対する例えば、電子部品等の誤装
着を防ぐことができるので、回路基板製造コストを抑え
ることができる。
According to the mark detecting device of the first aspect,
Since the irradiation angle of the laser beam can be easily changed according to the surface condition of the circuit board, the accuracy of the quality judgment of the circuit board is improved. In addition, by improving the accuracy of the quality judgment of the circuit board, it is possible to prevent, for example, erroneous mounting of an electronic component or the like on the defective circuit board, so that the circuit board manufacturing cost can be reduced.

【0010】請求項2記載のマーク検出装置は、請求項
1記載のマーク検出装置であって、前記投光手段の投光
軸(31b)と前記受光手段の受光軸(32b)とが平
行に配置されることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the mark detecting apparatus according to the first aspect, wherein the light projecting axis of the light projecting means and the light receiving axis of the light receiving means are parallel. It is characterized by being arranged.

【0011】請求項2記載のマーク検出装置によれば、
請求項1と同様の効果を得られると共に、前記投光手段
の投光軸と前記受光手段の受光軸とが平行に配置された
光学センサを用いることにより、光学センサ周囲のスペ
ースが広がる。また、光学センサの重量を抑えることが
できる。また、投光手段の投光軸と受光手段の受光軸と
を平行に配置することにより、受光手段で受けることが
できる光の反射角が制限されることになるが、マーク検
出装置が、光の照射角を変更可能な構造を備えているの
で、回路基板の種類にかかわらずマークの検出ができ
る。
According to the mark detecting device of the second aspect,
The same effect as that of claim 1 can be obtained, and the space around the optical sensor is widened by using an optical sensor in which the light projecting axis of the light projecting means and the light receiving axis of the light receiving means are arranged in parallel. Further, the weight of the optical sensor can be reduced. Further, by arranging the light projecting axis of the light projecting means and the light receiving axis of the light receiving means in parallel, the reflection angle of light that can be received by the light receiving means is limited. Is provided, the mark can be detected regardless of the type of the circuit board.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本実施の形態にかかるマー
ク検出装置について図面を用いて説明する。図1に示す
ように、マーク検出装置30は、回路基板12に電子部
品を装着するための一般的な電子部品装着装置10に設
けられる。電子部品装着装置10は、電子部品を供給す
る電子部品供給手段11(例えば、テープフィーダ)、
電子部品を真空吸着して回路基板12上の所定位置に装
着する吸着ノズル13、回路基板12を搬送するための
回路基板搬送装置14、前記吸着ノズル13を支持する
と共に、吸着ノズル13を上下動及び回動させるヘッド
部15、ヘッド部を水平方向に移動させるXY移動機構
(図示せず)等を備える。そして、本実施の形態にかか
るマーク検出装置30は、ヘッド部15側に設けられる
支持板15aに取り付けられ、ヘッド部15と共に回路
基板12上の任意の位置に移動可能となっている。ま
た、回路基板12の搬送やヘッド部15の移動に用いら
れるモータやタイミングベルト等の駆動手段16(図2
を参照)、ヘッド部15の位置を検出するための位置検
出手段17等を備えている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a mark detecting device according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, the mark detection device 30 is provided in a general electronic component mounting device 10 for mounting electronic components on the circuit board 12. The electronic component mounting device 10 includes an electronic component supply unit 11 (for example, a tape feeder) that supplies an electronic component,
A suction nozzle 13 for vacuum-holding an electronic component and mounting it at a predetermined position on a circuit board 12, a circuit board transfer device 14 for transferring the circuit board 12, supporting the suction nozzle 13, and moving the suction nozzle 13 up and down. And an XY moving mechanism (not shown) for moving the head in the horizontal direction. The mark detection device 30 according to the present embodiment is attached to a support plate 15a provided on the head unit 15 side, and is movable with the head unit 15 to an arbitrary position on the circuit board 12. In addition, a driving unit 16 such as a motor and a timing belt used for transporting the circuit board 12 and moving the head unit 15 (FIG. 2)
), And a position detection unit 17 for detecting the position of the head unit 15.

【0013】そして、制御手段20(図2を参照)が前
記駆動手段16の駆動を制御することで、回路基板12
を電子部品装着装置10内部に搬送し、ヘッド部15を
電子部品供給手段11上の所定位置まで移動させ、吸着
ノズル13に電子部品を真空吸着させる。そして、ヘッ
ド部15を回路基板12上の所定位置に移動させ、回路
基板12上の所定位置において、吸着ノズル13の真空
吸着状態を解除して、電子部品を回路基板12に装着す
ることで電子部品の実装作業が行なわれる。なお、制御
手段20による駆動手段16の制御方法については周知
の技術であるため説明を省略し、以下、本実施の形態に
かかるマーク検出装置30についておもに説明する。
The control means 20 (see FIG. 2) controls the driving of the driving means 16 so that the circuit board 12
Is transported into the electronic component mounting apparatus 10, the head unit 15 is moved to a predetermined position on the electronic component supply unit 11, and the electronic component is vacuum-sucked by the suction nozzle 13. Then, the head unit 15 is moved to a predetermined position on the circuit board 12, the vacuum suction state of the suction nozzle 13 is released at the predetermined position on the circuit board 12, and the electronic component is mounted on the circuit board 12. A component mounting operation is performed. Since the control method of the drive means 16 by the control means 20 is a known technique, its description is omitted, and the mark detection device 30 according to the present embodiment will be mainly described below.

【0014】図3に示すように、マーク検出装置30
は、レーザー光Lを回路基板12表面の、バッドマーク
B(図4を参照)が貼付される位置(以下、「バッドマ
ーク貼付位置X」という。)に照射し、その反射光を検
出することで回路基板12にバッドマークBが付されて
いるか否かの判断、即ち、回路基板12の良否を判断す
るために設けられる装置である。
As shown in FIG.
Is to irradiate a laser beam L to a position on the surface of the circuit board 12 where a bad mark B (see FIG. 4) is attached (hereinafter, referred to as a “bad mark attaching position X”) and detect the reflected light. This is a device provided for determining whether or not the bad mark B is attached to the circuit board 12, that is, for determining whether the circuit board 12 is good.

【0015】なお、図4に示すように、本実施の形態に
おいては、バッドマークBとして黒色のシールを用い、
不良品であると判断された回路基板12のバッドマーク
貼付位置Xに、バッドマークBを貼付するものとする。
なお、図4に示す回路基板12は、いわゆる集合回路基
板12と呼ばれるものであり、分割前の2つの回路基板
12aをまとめて1枚の板体に配置したものである。そ
して、この状態で電子部品装着装置10による電子部品
の実装を行ない、その後の工程において、2つの回路基
板への分割作業が行なわれる。このような集合回路基板
の場合には、通常、2つの回路基板12aそれぞれに対
してバッドマーク貼付位置Xが設定されている。
In this embodiment, as shown in FIG. 4, a black seal is used as the bad mark B.
The bad mark B is to be attached to the bad mark attaching position X of the circuit board 12 determined to be defective.
The circuit board 12 shown in FIG. 4 is a so-called collective circuit board 12, in which two circuit boards 12a before division are collectively arranged on a single plate. Then, in this state, the electronic components are mounted by the electronic component mounting apparatus 10, and in a subsequent process, the division work into two circuit boards is performed. In the case of such an integrated circuit board, a bad mark sticking position X is usually set for each of the two circuit boards 12a.

【0016】マーク検出装置30は、投光手段31、受
光手段32、照射角変更手段40(図3、図5〜図9を
参照)を備える。なお、これら投光手段31、受光手段
32及び制御手段20等から光学センサが概略構成され
るものとする。投光手段31は、図9に示すように、投
光用光ファイバ31a、発行ダイオードなどの発光素子
(図示せず)等から構成され、バッドマーク貼付位置X
にレーザー光Lを照射するために設けられる。発光素子
から発生したレーザー光Lは、投光用光ファイバ31a
及びレンズ34を通過し、回路基板12の表面上に輝点
を作る。
The mark detecting device 30 includes a light projecting means 31, a light receiving means 32, and an irradiation angle changing means 40 (see FIGS. 3, 5 to 9). It is assumed that the light sensor 31, the light receiver 32, the controller 20 and the like constitute an optical sensor. As shown in FIG. 9, the light projecting means 31 includes a light projecting optical fiber 31a, a light emitting element (not shown) such as a light emitting diode, and the like.
Is provided for irradiating a laser beam L to the laser beam. The laser light L generated from the light emitting element is transmitted to the light projecting optical fiber 31a.
And passes through the lens 34 to form a bright spot on the surface of the circuit board 12.

【0017】受光手段32は、受光用光ファイバ32a
及び光量検出装置を備えている。受光用光ファイバ32
aは、前記投光用光ファイバ31aの外周方向に沿って
複数配置されている。従って、図9に示すように、前記
投光手段31の投光軸31bと前記受光手段32の受光
軸32bとが平行に配置されることになる。そして、複
数の受光用光ファイバ32aの周囲は、ゴムなどの保護
部材35で覆われている。バッドマーク貼付位置Xの表
面において反射したレーザー光Lはレンズ34及び受光
用光ファイバ32aを通過し、光量検出装置に至る。そ
して、光量検出装置において、反射光の光量を検出し、
このデータを制御手段20に出力する。なお、以下の説
明において、一体に設けられる投光用光ファイバ31a
及び受光用光ファイバ32aの先端部、レンズ34及び
これらを内部に収納する筒体36とで構成される部分を
投受光部37とする。
The light receiving means 32 includes a light receiving optical fiber 32a.
And a light amount detection device. Optical fiber for light reception 32
A is plurally arranged along the outer peripheral direction of the light projecting optical fiber 31a. Therefore, as shown in FIG. 9, the light projecting axis 31b of the light projecting means 31 and the light receiving axis 32b of the light receiving means 32 are arranged in parallel. The periphery of the plurality of light receiving optical fibers 32a is covered with a protective member 35 such as rubber. The laser light L reflected on the surface of the bad mark sticking position X passes through the lens 34 and the light receiving optical fiber 32a, and reaches the light amount detecting device. Then, the light amount detection device detects the light amount of the reflected light,
This data is output to the control means 20. In the following description, the light emitting optical fiber 31a provided integrally is provided.
A portion composed of the distal end of the light receiving optical fiber 32a, the lens 34, and the cylindrical body 36 accommodating them, is referred to as a light emitting / receiving section 37.

【0018】照射角変更手段40は、投受光部37の光
軸(投光軸31b及び受光軸32b)を調節するために
設けられ、図3に示すように、前記ヘッド部15側に設
けられる支持板15aに接合すると共に、前記投受光部
37を前後方向に移動可能に支持する。照射角変更手段
40は、図5に示すように、固定ブラケット50と可動
ブラケット60とを備える。固定ブラケット50は、前
記支持板15aを介し、ヘッド部15と接合すると共
に、可動ブラケット60を前後方向に沿って回動及び移
動可能に支持するための部材であり、第一のブラケット
51と第二のブラケット52とを備える。第一のブラケ
ット51は、側面視した場合に、その側面が略L字状と
なるように形成される板体であり、当接部51aと接合
部51bとから構成される。当接部51aには上下方向
に延在して長穴51cが設けられている。そして、当接
部51aは支持板15aに当接した状態で長穴51cの
部分でボルトナット等の周知の締結手段により接合され
る。なお、この長穴51cにより、照射角変更手段40
の上下方向の取り付け位置が調節可能となっている。接
合部51bは、前記当接部51aの上縁部分から前方に
延出して設けられる部材であり、その左側面部分におい
て、後述する第二のブラケット52と接合している。
The irradiation angle changing means 40 is provided for adjusting the optical axis (the light projecting axis 31b and the light receiving axis 32b) of the light projecting / receiving section 37, and is provided on the head section 15 side as shown in FIG. It is joined to the support plate 15a and supports the light emitting and receiving unit 37 so as to be movable in the front-rear direction. The irradiation angle changing means 40 includes a fixed bracket 50 and a movable bracket 60 as shown in FIG. The fixed bracket 50 is a member that is joined to the head unit 15 via the support plate 15a and that supports the movable bracket 60 so that it can rotate and move along the front-rear direction. And a second bracket 52. The first bracket 51 is a plate body formed such that the side surface thereof is substantially L-shaped when viewed from the side, and includes a contact portion 51a and a joint portion 51b. The contact portion 51a is provided with an elongated hole 51c extending vertically. The contact portion 51a is joined to the support plate 15a at a portion of the elongated hole 51c by a well-known fastening means such as a bolt and a nut while being in contact with the support plate 15a. The elongated hole 51c allows the irradiation angle changing means 40 to be used.
The vertical mounting position can be adjusted. The joining portion 51b is a member provided to extend forward from an upper edge portion of the contact portion 51a, and is joined to a second bracket 52 described later on a left side portion thereof.

【0019】第二のブラケット52は、側面視略L字状
の板体であり、接合部52aと支持部52bとから構成
される。接合部52aは、その上縁部分において、前記
第一のブラケット51の接合部51bと接合し、その下
面部分において、支持部52bと接合する。支持部52
bは、後述する可動ブラケット60を前後方向に沿って
回動及び移動可能に支持するためのスリット52cを備
えている。スリット52cは、後方に向かうにつれて上
昇していくように設けられている。従って、詳しい説明
は後述するが、このスリット52cに沿って、可動ブラ
ケット60が角度調整ネジ63を介して摺動自在に支持
されることになる。
The second bracket 52 is a substantially L-shaped plate in a side view, and includes a joint 52a and a support 52b. The joining portion 52a is joined at its upper edge to the joining portion 51b of the first bracket 51, and is joined at its lower surface to the support portion 52b. Support 52
b has a slit 52c for supporting a movable bracket 60 to be described later so as to be able to rotate and move along the front-rear direction. The slit 52c is provided so as to rise rearward. Therefore, as will be described in detail later, the movable bracket 60 is slidably supported along the slit 52c via the angle adjusting screw 63.

【0020】可動ブラケット60は、光学センサの光軸
を調節するために設けられる部材であり、前記投受光部
37と接合すると共に、前記固定ブラケット50によっ
て前後方向に移動及び回動可能に支持されている。可動
ブラケット60は、正面視した場合に、その側面が略L
字状となるように形成される板体であり、支持部61と
接合部62とを備える。支持部61の上方部分にはネジ
受け用穴61aが設けられている。そして、支持部61
は、前記第二のブラケット52の支持部52bと当接し
た状態で、前記スリット52c及びネジ受け用穴61a
に、角度調整ネジ63が挿通されることで固定されてい
る。接合部62は、前記支持部61の下縁部分から、第
二のブラケット52に対して反対側の水平方向に延出し
て設けられる部材であり、その一部に略半円状の切欠部
62aを備える。そして、この切欠部62aに、前記投
受光部37の筒体36を嵌合させ、周知の接合手段を用
いることで投受光部37と接合している。なお、前記接
合手段とは、例えば、投受光部37の外周に形成された
ネジに螺合する二つのナットであり、これらナットで接
合部62を上下から挟むことで接合される。従って、ス
リット52cに沿って可動ブラケット60を移動させる
ことで、投受光部37の前後方向及び上下方向への位置
決めが可能となり、また、可動ブラケット60を前後方
向に回動させることで、投受光部37によるレーザー光
Lの照射角が調節可能となっている。
The movable bracket 60 is a member provided for adjusting the optical axis of the optical sensor. The movable bracket 60 is joined to the light emitting and receiving unit 37 and is supported by the fixed bracket 50 so as to be movable and pivotable in the front-rear direction. ing. The movable bracket 60 has a side surface substantially L when viewed from the front.
It is a plate formed to have a character shape, and includes a support portion 61 and a joint portion 62. A screw receiving hole 61a is provided in an upper portion of the support portion 61. Then, the support portion 61
The slit 52c and the screw receiving hole 61a are in contact with the support portion 52b of the second bracket 52.
Is fixed by inserting an angle adjusting screw 63 therethrough. The joining portion 62 is a member provided to extend from the lower edge portion of the support portion 61 in the horizontal direction on the opposite side to the second bracket 52, and has a substantially semicircular cutout portion 62 a Is provided. Then, the cylindrical body 36 of the light emitting and receiving unit 37 is fitted into the cutout portion 62a, and is joined to the light emitting and receiving unit 37 by using a well-known joining means. The joining means is, for example, two nuts that are screwed into screws formed on the outer periphery of the light emitting and receiving unit 37, and is joined by sandwiching the joint 62 from above and below with these nuts. Therefore, by moving the movable bracket 60 along the slit 52c, it is possible to position the light emitting and receiving unit 37 in the front-rear direction and the up-down direction. The irradiation angle of the laser beam L by the section 37 can be adjusted.

【0021】制御手段20(図2を参照)は、電子部品
装着装置10が備える各駆動手段16の駆動を制御する
他、前記光量検出装置から出力された反射光の光量に関
するデータに基づいて、回路基板12上のバッドマーク
Bの有無を検出し、回路基板12の良否を判断するため
に設けられる。制御手段20は、CPU21、ROM2
2、RAM23、入力インターフェース24、出力イン
ターフェース25から構成される制御手段本体部26
と、入力部27、表示部28とを備える。
The control means 20 (see FIG. 2) controls the driving of each of the driving means 16 provided in the electronic component mounting apparatus 10, and further, based on data relating to the amount of reflected light output from the light amount detecting apparatus. The circuit board 12 is provided to detect the presence or absence of the bad mark B on the circuit board 12 and determine the quality of the circuit board 12. The control means 20 includes a CPU 21 and a ROM 2
2, a control unit main body 26 composed of a RAM 23, an input interface 24, and an output interface 25
And an input unit 27 and a display unit 28.

【0022】制御手段20には、通常、各駆動手段を制
御するためのプログラムの他に、回路基板データとし
て、例えば、各回路基板12に装着される電子部品の種
類、電子部品の装着位置、回路基板の材質、回路基板の
種類(集合回路基板、フレキシブル回路基板など)に関
するデータが予め入力されている。さらに、回路基板の
形状によってバッドマーク貼付位置Xが異なることや、
集合回路基板の場合には、分割前の各回路基板12a毎
にバッドマークBを貼付けるものとなっていることに対
応して、回路基板12の種類毎のバッドマーク貼付位置
Xに関するデータも入力されている。また、制御手段2
0には、これらデータの他に、各回路基板12の良否を
判断するために用いられる反射光の光量(基準光量)に
関するデータが入力されている。
The control means 20 usually includes, in addition to a program for controlling each driving means, circuit board data such as the type of electronic component mounted on each circuit board 12, the mounting position of the electronic component, and the like. Data relating to the material of the circuit board and the type of the circuit board (such as a collective circuit board and a flexible circuit board) are input in advance. Furthermore, the bad mark sticking position X differs depending on the shape of the circuit board,
In the case of a collective circuit board, data relating to the bad mark sticking position X for each type of the circuit board 12 is also input, corresponding to the fact that the bad mark B is stuck to each circuit board 12a before division. Have been. Control means 2
In addition to these data, data relating to the amount of reflected light (reference light amount) used to determine the quality of each circuit board 12 is input to 0.

【0023】本実施の形態にかかるマーク検出装置30
を用いた回路基板12の良否判定方法は、まず、作業者
が回路基板12の種類に対応して、例えば、回路基板1
2がフレキシブル回路基板の場合には、レーザー光Lの
照射方向が回路基板搬送面に対して垂直となるように投
受光部37の光軸の調節を行ない、また、回路基板12
がガラスエポキシやセラミックスなどの硬い材料から構
成される場合には、レーザー光Lの照射方向が、一定方
向に生じる回路基板12の傾きに対して略垂直となるよ
う回路基板搬送面の垂線方向に対して若干傾けた状態に
調節しておく。
The mark detecting device 30 according to the present embodiment
The method of determining whether the circuit board 12 is good or bad by using
2 is a flexible circuit board, the optical axis of the light emitting and receiving unit 37 is adjusted so that the irradiation direction of the laser beam L is perpendicular to the circuit board transport surface.
Is made of a hard material such as glass epoxy or ceramic, the irradiation direction of the laser light L is perpendicular to the circuit board transport surface so that the irradiation direction of the laser light L is substantially perpendicular to the inclination of the circuit board 12 generated in a certain direction. Adjust to a slightly inclined state.

【0024】そして、回路基板搬送装置14から回路基
板12が搬送されてくると、制御手段のCPU21が、
RAM23に記憶されている回路基板データから、回路
基板12の種類、例えば、集合回路基板であるか、フレ
キシブル回路基板であるか等を認識し、更に、回路基板
12の種類毎に設定されているバッドマーク貼付位置X
に関するデータを読み出す。そして、所定のバッドマー
ク貼付位置Xにおいて、レーザー光Lを照射し、得られ
た反射光の光量と、基準光量とを比較し、回路基板12
の良否を判断する。そして、回路基板12が良品である
と判断した場合には、その回路基板12への部品の実装
を行なうべく各駆動手段16を駆動させる。そして、回
路基板12が不良品であると判断した場合には、その回
路基板12への部品の実装を行ないように、各駆動手段
16を制御する。
When the circuit board 12 is transported from the circuit board transport device 14, the CPU 21 of the control means
From the circuit board data stored in the RAM 23, the type of the circuit board 12, for example, whether it is a collective circuit board or a flexible circuit board, etc., is recognized. Bad mark sticking position X
Read the data related to Then, at a predetermined bad mark sticking position X, a laser beam L is irradiated, and the light amount of the obtained reflected light is compared with a reference light amount.
Is determined. When it is determined that the circuit board 12 is a non-defective product, each driving unit 16 is driven to mount components on the circuit board 12. If it is determined that the circuit board 12 is defective, each driving unit 16 is controlled so that components are mounted on the circuit board 12.

【0025】本実施の形態で示したマーク検出装置30
によれば、回路基板12の表面状態に応じて容易にレー
ザー光Lの照射角を変更できるので、回路基板12の良
否判定の精度が向上する。また、フレキシブル回路基板
12に対しても正確な良否判定を行なうことができる。
また、回路基板12の良否判定の精度が向上することに
より、不良回路基板12に対する電子部品の誤装着を防
ぐことができるので、回路基板12製造コストを抑える
ことができる。また、前記投光手段31の投光軸31b
と前記受光手段32の受光軸32bとが平行に配置され
た光学センサを用いることにより、ヘッド部15回りの
スペースが広がる。また、光学センサの重量を抑えるこ
とができ、ひいてはヘッド部15全体の重量を抑えるこ
とができるので、ヘッド部15の位置決め精度が向上す
る。
The mark detection device 30 shown in the present embodiment
According to the method, the irradiation angle of the laser light L can be easily changed according to the surface condition of the circuit board 12, so that the accuracy of the quality judgment of the circuit board 12 is improved. In addition, accurate pass / fail judgment can be performed on the flexible circuit board 12.
Further, since the accuracy of the quality judgment of the circuit board 12 is improved, it is possible to prevent the electronic components from being erroneously mounted on the defective circuit board 12, so that the manufacturing cost of the circuit board 12 can be reduced. Further, a light projecting axis 31b of the light projecting means 31 is provided.
By using an optical sensor in which the light receiving shaft 32b of the light receiving means 32 is arranged in parallel with the light receiving means 32, the space around the head unit 15 is widened. Further, the weight of the optical sensor can be reduced, and the weight of the entire head 15 can be reduced, so that the positioning accuracy of the head 15 can be improved.

【0026】なお、本実施の形態においては、マーク検
出装置30を電子部品装着装置のヘッド部15に設ける
ものとしたが、ヘッド部15以外に設けるものとしても
良い。また、電子部品の装着が完了した回路基板12に
対してバッドマークBを検出するものとしても良い。ま
た、固定ブラケット50及び可動ブラケット60をそれ
ぞれ一体成形するものとしても良い。
In the present embodiment, the mark detection device 30 is provided in the head portion 15 of the electronic component mounting device. However, the mark detection device 30 may be provided in a portion other than the head portion 15. Further, the bad mark B may be detected for the circuit board 12 on which the mounting of the electronic component is completed. Alternatively, the fixed bracket 50 and the movable bracket 60 may be integrally formed.

【0027】また、固定ブラケット50及び可動ブラケ
ット60の形状については、本実施の形態で示したもの
に限定されず、レーザー光Lの照射角を容易に調節でき
る形状であれば良い。また、投光手段31と受光手段3
2とを分割して配置するものとしても良い。また、照射
角変更手段40による投受光部37の照射角の切り替え
を、本実施の形態で示したような手動によるものではな
く、例えば、モータやアクチュエータ等の駆動手段によ
るものとしても良い。また、この場合に、制御手段20
が前記回路基板データに基づき、各回路基板の種類に応
じた照射角にすべく、照射角変更手段40の駆動を制御
するものとしても良い。
The shapes of the fixed bracket 50 and the movable bracket 60 are not limited to those shown in the present embodiment, but may be any shapes that can easily adjust the irradiation angle of the laser beam L. Further, the light projecting means 31 and the light receiving means 3
2 may be divided and arranged. Further, the switching of the irradiation angle of the light emitting / receiving unit 37 by the irradiation angle changing unit 40 may be performed not by manual operation as described in the present embodiment but by a driving unit such as a motor or an actuator. In this case, the control means 20
However, based on the circuit board data, the driving of the irradiation angle changing means 40 may be controlled so as to set the irradiation angle according to the type of each circuit board.

【0028】[0028]

【発明の効果】請求項1記載のマーク検出装置によれ
ば、回路基板の表面状態に応じて容易にレーザー光の照
射角を変更できるので、回路基板の良否判定の精度が向
上する。また、回路基板の良否判定の精度が向上するこ
とにより、不良回路基板に対する例えば、電子部品等の
誤装着を防ぐことができるので、回路基板製造コストを
抑えることができる。
According to the mark detecting device of the present invention, the irradiation angle of the laser beam can be easily changed according to the surface condition of the circuit board, so that the accuracy of the quality judgment of the circuit board is improved. In addition, by improving the accuracy of the quality judgment of the circuit board, it is possible to prevent, for example, erroneous mounting of an electronic component or the like on the defective circuit board, so that the circuit board manufacturing cost can be reduced.

【0029】請求項2記載のマーク検出装置によれば、
請求項1と同様の効果を得られると共に、前記投光手段
の投光軸と前記受光手段の受光軸とが平行に配置された
光学センサを用いることにより、光学センサ周囲のスペ
ースが広がる。また、光学センサの重量を抑えることが
できる。また、投光手段の投光軸と受光手段の受光軸と
を平行に配置することにより、受光手段で受けることが
できる光の反射角が制限されることになるが、マーク検
出装置が、光の照射角を変更可能な構造を備えているの
で、回路基板の種類にかかわらずマークの検出ができ
る。
According to the mark detecting device of the second aspect,
The same effect as that of claim 1 can be obtained, and the space around the optical sensor is widened by using an optical sensor in which the light projecting axis of the light projecting means and the light receiving axis of the light receiving means are arranged in parallel. Further, the weight of the optical sensor can be reduced. Further, by arranging the light projecting axis of the light projecting means and the light receiving axis of the light receiving means in parallel, the reflection angle of light that can be received by the light receiving means is limited. Is provided, the mark can be detected regardless of the type of the circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施の形態にかかる電子部品装着装置を示す
正面図である。
FIG. 1 is a front view showing an electronic component mounting apparatus according to an embodiment.

【図2】電子部品装着装置の構造を示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a structure of an electronic component mounting device.

【図3】マーク検出装置を示す正面図(A)及び側面図
(B)である。
FIG. 3 is a front view (A) and a side view (B) showing a mark detection device.

【図4】回路基板上のバッドマーク貼付位置を示す平面
図である。
FIG. 4 is a plan view showing a position where a bad mark is attached on a circuit board.

【図5】照射角変更手段を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing an irradiation angle changing unit.

【図6】可動ブラケットを示す側面図(A)、平面図
(B)、正面図(C)である。
FIG. 6 is a side view (A), a plan view (B), and a front view (C) showing a movable bracket.

【図7】固定ブラケットを示す正面図(A)、側面図
(B)、平面図(C)である。
FIG. 7 is a front view (A), a side view (B), and a plan view (C) showing a fixing bracket.

【図8】照射角変更手段を示す正面図である。FIG. 8 is a front view showing an irradiation angle changing unit.

【図9】投受光部を示す縦断面図である。FIG. 9 is a vertical sectional view showing a light emitting and receiving unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

B マーク(バッドマーク) L 光(レーザー光) X バッドマーク貼付位置 12 回路基板 30 マーク検出装置 31 投光手段 31b 投光軸 32 受光手段 32b 受光軸 40 照射角変更手段 B mark (bad mark) L light (laser light) X bad mark sticking position 12 circuit board 30 mark detecting device 31 light emitting means 31b light emitting axis 32 light receiving means 32b light receiving axis 40 irradiation angle changing means

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回路基板の良否を示すために回路基板表面
に付されるマークを検出するために、回路基板表面のマ
ークが付される部分に光を照射する投光手段と、回路基
板からの反射光を受ける受光手段とを有する光学センサ
を用いたマーク検出装置であって、 前記投光手段による光の照射角を、回路基板の表面状態
に応じて変更可能な照射角変更手段を備えることを特徴
とするマーク検出装置。
1. A light projecting means for irradiating a mark on a surface of a circuit board with light to detect a mark on the surface of the circuit board to indicate the quality of the circuit board; And a light receiving means for receiving the reflected light of the mark detection device, comprising: an irradiation angle changing means capable of changing an irradiation angle of light by the light projecting means in accordance with a surface state of the circuit board. A mark detection device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】請求項1記載のマーク検出装置であって、 前記投光手段の投光軸と前記受光手段の受光軸とが平行
に配置されることを特徴とするマーク検出装置。
2. The mark detecting apparatus according to claim 1, wherein a light projecting axis of said light projecting means and a light receiving axis of said light receiving means are arranged in parallel.
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