JP2002198590A - フッ素分子レーザ装置、及びフッ素露光装置 - Google Patents

フッ素分子レーザ装置、及びフッ素露光装置

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JP2002198590A
JP2002198590A JP2000398410A JP2000398410A JP2002198590A JP 2002198590 A JP2002198590 A JP 2002198590A JP 2000398410 A JP2000398410 A JP 2000398410A JP 2000398410 A JP2000398410 A JP 2000398410A JP 2002198590 A JP2002198590 A JP 2002198590A
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gas
laser
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kpa
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Shinji Nagai
伸治 永井
Junichi Fujimoto
准一 藤本
Kazu Mizoguchi
計 溝口
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Gigaphoton Inc
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
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    • G03F7/70008Production of exposure light, i.e. light sources
    • G03F7/70025Production of exposure light, i.e. light sources by lasers

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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 色消し方式フッ素露光装置用の光源として、
0.75pm以下のスペクトル幅Δλのレーザ光を発振
することのできる、フッ素レーザ装置を提供する。 【解決手段】 バッファガス及びフッ素を含むレーザガ
スを封入するレーザチャンバ(2)と、高電圧(V)を印加し
て主放電を起こし、レーザガスを励起してフッ素分子レ
ーザ光11を発振させる一対の放電電極(4,5)とを備
え、フッ素露光装置(21)用の光源となるフッ素分子レー
ザ装置において、前記レーザチャンバ(2)内のレーザガ
スのガス圧力(p)を、フッ素露光装置(21)の要求するフ
ッ素分子レーザ光(11)のスペクトル幅(Δλ)に基づいて
変更自在としたことを特徴とするフッ素分子レーザ装
置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フッ素露光装置用
の光源であるフッ素分子レーザ装置、及びフッ素分子レ
ーザ装置から発振したフッ素分子レーザ光を用いた露光
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】フッ素分子レーザ装置から発振したフッ
素分子レーザ光を用いて、ウェハなどの露光を行なうフ
ッ素露光装置21の基本的な構成を、図7に示す。図7
において、フッ素露光装置21は、フッ素分子レーザ光
11(以下、レーザ光11と言う)を発振するフッ素分
子レーザ装置1(以下、フッ素レーザ装置1と言う)
と、これから発振したレーザ光11を用いてウェハの露
光を行なう露光機22とを備えている。フッ素レーザ装
置1は、フッ素を含むレーザガスが所定の圧力で封入さ
れたレーザチャンバ2を備えている。レーザチャンバ2
の内部に対向して配設された、一対の放電電極4,5間
に、高圧電源13から高電圧を印加することにより、レ
ーザ光11がパルス発振する。レーザ光11は、ウィン
ドウ7,9及び分散プリズム18,18を通過し、フロ
ントミラー8とリアミラー6との間で往復する間に主放
電26によって増幅され、一部がリアミラー6から出射
する。出射したレーザ光11は、露光機22に入射し、
レチクルと呼ばれるマスクのパターンをウェハに投影す
ることにより、ウェハの露光を行なう。
【0003】図8に示すように、レーザチャンバ2内部
で発振したレーザ光11中には、157.629nmを
中心とする複数の縦モードを有する波長λの長い発振線
A2と、中心波長157.523nmを中心とする縦モ
ードを有する波長λの短い発振線A1との、2本の発振
線群が混在している。前者の、波長の長い発振線群の方
が強度が強いため、これを強いライン光B2と呼び、波
長の短い発振線群を弱いライン光B1と呼ぶ。両者は波
長が異なるため、分散プリズム18,18に入射及び出
射する際の屈折角度に差が生じ、2個の分散プリズム1
8,18を通過するうち、その光路が少しずつずれてい
く。
【0004】その結果、分散プリズム18,18を通過
した強いライン光B2は、スリット16,17の開口部
を抜けてフロントミラー8から出射するのに対し、弱い
ライン光B1はウィンドウ7,9の前後方に配置された
スリット16,17で遮られ、発振しなくなる。このよ
うにして強いライン光B2のみを発振させることを、波
長のシングルライン化と言い、波長の狭帯域化の手段の
1つである。これにより、レーザ光11のスペクトル幅
Δλが狭くなり、フッ素露光装置21の、露光時の分解
能が向上する。分散プリズム18,18、及びリアミラ
ー8を合わせて、シングルライン化ユニット19と総称
する。尚、元のレーザ光11に3群以上の発振線群が混
在している場合もあるが、その場合もやはり、最も強い
1群の発振線のみを発振させるようにする。
【0005】放電励起方式のフッ素レーザ装置1のガス
圧力に関する記事が、例えば「レーザ研究」誌1991
年11月号(第19巻 第11号 「157nmF2レ
ーザー」)に記載されている。この記事の3ページに、
He/F2=2200/6Torrという記載がある。この
ように、従来技術においては、バッファガスをヘリウム
とした場合に、レーザチャンバ2内部のレーザガスのガ
ス圧力を約300kPa(3atm)程度として、レーザ
発振を行なっている。このとき、シングルライン化され
たレーザ光11のスペクトル幅Δλは、約1pmとな
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来技術には、次に述べるような問題がある。即ち、シン
グルライン化されたレーザ光11を用いるフッ素露光装
置21は、パターンをウェハに投影する光学系によっ
て、大きく分けて次の3種類がある。そして、それぞれ
の方式により、所定の分解能の露光を行なうために必要
なスペクトル幅Δλが異なっている。 1)反射屈折型縮小投影光学系(カタディオプトリク)
方式 2)色消しレンズ屈折型縮小投影光学系方式 3)単色レンズ屈折型縮小投影光学系方式
【0007】1)のカタディオプトリク方式は、反射光
学系を用いてパターンを縮小投影する方式であり、色収
差が殆んど発生しないために、必要とされるスペクトル
幅Δλは、比較的広い約1pm以下とされている。しか
しながら、カタディオプトリク方式は、レーザ光11の
光路が複雑であるため、光軸合わせが困難である。その
上、これまでに一般的に用いられてきた、屈折型縮小投
影光学系方式の技術の蓄積が応用できず、装置設計も困
難とされている。
【0008】上記2)及び3)は、いずれもレンズ等の
屈折光学系のみを用いた縮小投影レンズによって、パタ
ーンを縮小投影する方式である。2)では、縮小投影レ
ンズとして、色収差の影響を除去する色消しレンズを用
いるのに対し、3)においては、色収差を除去しない単
色レンズを用いている。このとき、3)の単色レンズ屈
折型縮小投影光学系方式は、色消しレンズを用いる必要
がないために縮小投影レンズの設計・製作が容易であ
る。しかしながら、同方式では縮小投影レンズに色収差
を除去する機能がないため、0.15pm以下と、非常
に狭いスペクトル幅Δλのレーザ光11を用いる必要が
ある。
【0009】ところが、フッ素レーザ装置1において、
レーザ光11を0.15pm以下のスペクトル幅Δλで
発振させるためには、エタロン等の狭帯域化素子を用い
る必要がある。この場合には、エタロンの表面に部分反
射膜をコーティングしなければならないが、この部分反
射膜はレーザ光11に対して耐性が弱く、温度が上昇し
て、エタロンが汚損されることがある。さらに、レーザ
光11の波長をエタロンによって狭帯域化するために
は、エタロンの面精度を例えば波長の1/100程度に
する必要がある。エタロンの材質としては、157nm
程度の波長を有するレーザ光11に対して透過率の高い
フッ化カルシウム(CaF2)が用いられるが、フッ化
カルシウムをこのように精度良く加工することは困難で
ある。
【0010】これに対し、2)の色消しレンズ屈折型縮
小投影光学系方式(以下、色消し方式と言う)のフッ素
露光装置21においては、必要とされるスペクトル幅Δ
λは、0.75pm以下とされており、好ましくは0.
6pm以下とされている。即ち、レーザ光11のスペク
トル幅Δλが0.75pm以下であれば、縮小投影レン
ズの材質として、例えば分散特性の互いに異なるフッ化
カルシウム(CaF2)及びフッ化バリウム(BaF2)
を用いることにより、色収差の除去が比較的容易に可能
である。或いは、縮小投影レンズの部品の1つを、逆分
散特性を有するフレネルレンズとすることによっても、
好適に色収差の除去が可能である。尚、以下の説明で
は、分散特性の互いに異なる材質を用いる場合、及びフ
レネルレンズを用いる場合について、いずれも色消し方
式と総称する。しかも、色消し方式のフッ素露光装置2
1は、レーザ光11がこれまでに生産された露光装置と
同様の光路を通過するため、光軸合わせが容易である。
さらに、シミュレーションソフト等の設計ツールを共用
化でき、設計コストの減少にも繋がる。
【0011】このように、フッ素レーザ装置を光源とし
て用いるフッ素露光装置としては、色消し方式が有望視
されているという技術的背景がある。これに鑑み、色消
し方式フッ素露光装置用の光源として、0.75pm以
下のスペクトル幅Δλのレーザ光を発振することのでき
る、フッ素レーザ装置が求められている。
【0012】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】上記の目
的を達成するためには、本発明によれば、バッファガス
及びフッ素を含むレーザガスを封入するレーザチャンバ
と、高電圧を印加して主放電を起こし、レーザガスを励
起してフッ素分子レーザ光を発振させる放電電極とを備
え、フッ素露光装置用の光源となるフッ素分子レーザ装
置において、前記レーザチャンバ内のレーザガスのガス
圧力を、フッ素露光装置の要求するフッ素分子レーザ光
のスペクトル幅に基づいて変更自在としている。フッ素
レーザ装置においては、ガス圧力が低いほどスペクトル
幅が狭くなる。従って、かかる構成によれば、フッ素レ
ーザ装置の要求するスペクトル幅に応じてガス圧力を変
更することにより、所望のスペクトル幅のレーザ光を得
ることが可能である。
【0013】また、本発明によれば、前記スペクトル幅
が0.3pm以上0.75pm以下であり、このスペク
トル幅に基づいてレーザガスのガス圧力を決定してい
る。かかる構成によれば、レーザ光のスペクトル幅が
0.3pm以上0.75pm以下となるので、例えばフ
ッ素露光装置に色消しレンズを用いることにより、好適
に色収差を除去することが可能である。従って、露光の
解像度が向上する。
【0014】また、本発明によれば、前記バッファガス
がヘリウムである場合には、前記ガス圧力を30kPa
以上255kPa以下とし、前記バッファガスがネオン
である場合には、前記ガス圧力を80kPa以上305
kPa以下とし、前記バッファガスがネオンとヘリウム
との混合ガスである場合には、前記ガス圧力を、30k
Pa以上305kPa以下の範囲でネオンとヘリウムと
の混合比に基づいて決定している。実験結果によれば、
このようにバッファガス別に圧力範囲を定めることによ
り、スペクトル幅を確実に選定可能である。従って、所
望する0.3pm以上0.75pm以下のスペクトル幅
を容易に得ることができる。
【0015】また、本発明によれば、前記バッファガス
がヘリウムである場合には、放電電極間の間隔を15.
7mm以上133.3mm以下とし、前記バッファガス
がネオンである場合には、放電電極間の間隔を13.1
mm以上50mm以下とし、前記バッファガスがネオン
とヘリウムとの混合ガスである場合には、前記間隔を、
13.1mm以上133.3mm以下の範囲でネオンと
ヘリウムとの混合比に基づいて決定している。このよう
に放電電極間の間隔を定めることにより、放電開始電圧
Vsを必要な値まで上げて、レーザ光のパルスエネルギ
ーを増大させることが可能となる。
【0016】また、本発明によれば、前記スペクトル幅
が0.45pm以上0.6pm以下であり、このスペク
トル幅に基づいてレーザガスのガス圧力を決定してい
る。かかる構成によれば、スペクトル幅をより狭くする
ことにより、このレーザ光で露光を行なう場合に、色収
差の除去がさらに容易となる。
【0017】また、本発明によれば、前記バッファガス
がヘリウムである場合には、前記ガス圧力を100kP
a以上180kPa以下とし、前記バッファガスがネオ
ンである場合には、前記ガス圧力を150kPa以上2
30kPa以下とし、前記バッファガスがネオンとヘリ
ウムとの混合ガスである場合には、前記ガス圧力を、1
00kPa以上230kPa以下の範囲でネオンとヘリ
ウムとの混合比に基づいて決定している。実験結果によ
れば、このようにバッファガス別に圧力範囲を定めるこ
とにより、スペクトル幅を確実に選定可能である。従っ
て、所望する0.45pm以上0.6pm以下のスペク
トル幅を容易に得ることができる。
【0018】また、本発明によれば、前記バッファガス
がヘリウムである場合には、放電電極間の間隔を22.
2mm以上38.1mm以下とし、前記バッファガスが
ネオンである場合には、放電電極間の間隔を17.4m
m以上25.8mm以下とし、前記バッファガスがネオ
ンとヘリウムとの混合ガスである場合には、前記間隔
を、17.4mm以上38.1mm以下の範囲でネオン
とヘリウムとの混合比に基づいて決定している。このよ
うに放電電極間の間隔を定めることにより、放電開始電
圧Vsを必要な値まで上げて、レーザ光のパルスエネル
ギーを増大させることが可能となる。
【0019】また、本発明によれば、レーザ光の発振線
群を、1群のみに選択するシングルライン化ユニットを
備えている。かかる構成によれば、シングルライン化ユ
ニットによって確実にレーザ光の発振線群の選択が可能
であり、不要な発振線群が発振することがなく、露光を
好適に行なうことが可能である。
【0020】また、本発明によれば、シード光を発振す
るシードレーザ装置と、シード光を増幅する増幅器とを
備えた注入同期式の構成としている。そして、シードレ
ーザ装置のガス圧力を制御することによってシード光の
スペクトル幅を狭くして増幅しているので、増幅器から
はスペクトル幅が狭く、充分なパルスエネルギーを有す
る増幅レーザ光が出射する。これを露光に用いることに
より、解像度が高く、歩留りの良い露光が可能である。
【0021】また、本発明のフッ素露光装置によれば、
ガス圧力を制御してスペクトル幅を狭くしたフッ素分子
レーザ装置を光源として用い、色消しレンズを使って色
収差を除去している。従って、光源であるフッ素レーザ
装置側としては、必要以上にレーザ光のスペクトル幅を
狭くする必要がない。また、露光機の側も、カタディオ
プトリク方式のように光軸合わせの困難な方式を用いる
ことがない。従って、製作しやすくバランスのよいフッ
素露光装置ができる。
【0022】また、本発明のフッ素露光装置は、前記縮
小投影レンズが、フレネルレンズを用いて色収差を除去
している。フレネルレンズは逆分散特性を有しており、
これによって色収差の除去が容易となる。また、厚みが
小さいため、縮小投影レンズが小型化される。
【0023】また、本発明のフッ素露光装置は、前記色
消しレンズが、バイナリオプティカルエレメントを用い
て色収差を除去している。バイナリオプティカルエレメ
ントは、面が曲面ではなく直線の組み合わせで構成され
ているので、コンピュータによって設計が容易であり、
またフォトリソグラフィ工程によって精度よく製作する
ことが可能である。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、図を参照しながら、本発明
に係る実施形態を詳細に説明する。まず、第1実施形態
を説明する。図1は、本実施形態に係るフッ素レーザ装
置1の構成図を示している。図1において、フッ素レー
ザ装置1は、フッ素(F2)、及びバッファガスである
ヘリウム(He)を含むレーザガスが、所定の圧力比で
密封されたレーザチャンバ2を備えている。レーザチャ
ンバ2の内部には、アノード4及びカソード5からなる
一対の放電電極4,5が、対向して配設されている。こ
の放電電極4,5間に、高圧電源13から高電圧Vを印
加することにより、パルス状の主放電26を起こしてレ
ーザガスを励起し、レーザ光11をパルス発振させる。
【0025】レーザチャンバ2の前後部には、レーザ光
11を透過するフロントウィンドウ7及びリアウィンド
ウ9が、それぞれ付設されている。尚、ウィンドウ7,
9は、光軸に対してブリュースター角をなしていると尚
良い。レーザチャンバ2の前方(図1中右方)及び後方
には、所定幅の開口部を有するフロントスリット16及
びリアスリット17が、それぞれ配置されている。フロ
ントスリット16の前方には、レーザ光11を部分透過
するフロントミラー6が設置されている。また、リアス
リット17の後方には2個の分散プリズム18,18が
配置され、分散プリズム18,18の後方には、レーザ
光11を全反射するリアミラー8が配置されている。レ
ーザチャンバ2内部で発振したレーザ光11は、ウィン
ドウ7,9及び分散プリズム18,18を通過し、リア
ミラー8とフロントミラー6との間で反射して往復され
るうちに増幅され、その一部がフロントミラー6を透過
して取り出される。
【0026】前述したように、分散プリズム18,18
を通過した強いライン光は、スリット16,17の開口
部を抜けて、フロントミラー8から出射する。これに対
し、弱いライン光は、2個の分散プリズム18,18を
通過する間に光路をずらされ、フロントスリット16及
びリアスリット17のいずれかで遮られて発振しなくな
る。このようにして、分散プリズム18,18、及びリ
アミラー8を備えたシングルライン化ユニット19によ
り、強いライン光のみを選択的に発振させてシングルラ
イン化を行なっている。
【0027】フロントミラー6の前方には、レーザ光1
1の一部をサンプリングするビームスプリッタ12が配
置されている。ビームスプリッタ12で図1中下方に反
射されたレーザ光は、パワー検出器47に入射する。パ
ワー検出器47は、パルスエネルギーに応じた電気信号
をレーザコントローラ46に出力する。レーザコントロ
ーラ46は、この電気信号に基づいて、レーザ光11の
パルスエネルギーを検出する。そして、パルスエネルギ
ーが一定となるように、高電圧Vの値を高圧電源13に
指令している。これを、パワーロック制御という。
【0028】レーザチャンバ2には、レーザガスを外部
へ排気する排気配管37と、レーザガスを内部に注入す
る注入配管38とが接続されている。排気配管37に
は、排気バルブ39とポンプ40とが接続されており、
排気バルブ39はレーザコントローラ46からの指示信
号に基づいて開閉動作する。尚、ポンプ40の排気側に
は図示しないフッ素処理装置が接続されており、排気ガ
スからフッ素を除去している。注入配管38には、フッ
素をバッファガスで希釈したフッ素ガスを封入したフッ
素ガスボンベ41と、バッファガスを封入したバッファ
ガスボンベ42とが接続されている。バッファガスとし
ては、例えばヘリウム、ネオン、又はヘリウム及びネオ
ンの混合ガスが用いられる。フッ素ガスボンベ41及び
バッファガスボンベ42は、レーザコントローラ46か
らの指示信号によって開閉動作するフッ素ガスバルブ4
3及びバッファガスバルブ44の開閉によって、レーザ
チャンバ2内部に注入される。
【0029】レーザチャンバ2には、内部のガス圧力p
を測定する圧力測定器45が接続されており、ガス圧力
pに応じた電気信号を、電気的に接続されたレーザコン
トローラ46に出力する。レーザコントローラ46は、
この電気信号に基づいて、レーザチャンバ2内部のガス
圧力pを検出自在となっている。このようにレーザコン
トローラ46は、圧力測定器45の信号に基づき、バル
ブ22,23及び、排気バルブ39を操作して、レーザ
チャンバ2内のガス圧力pを制御自在となっている。
【0030】フッ素装置においては、レーザチャンバ2
内部のレーザガスのガス圧力pと、レーザ光11のスペ
クトル幅Δλとの間には、密接な関係があることが知ら
れている。図2に、レーザ光11のスペクトル幅Δλと
ガス圧力pとの関係を、横軸にガス圧力p、縦軸にスペ
クトル幅Δλを取って示す。実線H1は、バッファガス
がヘリウムである場合(以下、ヘリウムバッファと言
う)、破線N1は、バッファガスがネオンである場合
(以下、ネオンバッファと言う)の、ガス圧力pとスペ
クトル幅Δλとの関係をそれぞれ示している。
【0031】即ち、図2に示すように、ガス圧力pが増
加するほどスペクトル幅Δλは広くなる。従って、ガス
圧力pを所定の範囲とすることにより、フッ素露光装置
21が要求するスペクトル幅Δλのレーザ光11を得る
ことが可能となる。上述したように、色消し方式のフッ
素露光装置21においては、スペクトル幅Δλとして、
0.75pm以下が要求されており、好ましくは0.6
pm以下とされている。また、スペクトル幅Δλを0.
3pm以下にしようとすると、狭帯域化素子を用いる必
要が生じ、充分なパルスエネルギーを得るには0.45
pm以上であることが好ましい。即ち、色消し方式のフ
ッ素露光装置21に用いられるレーザ光11のスペクト
ル幅Δλは0.3pm以上0.75pm以下が必要であ
り、好ましくは0.45pm以上0.6pm以下がよ
い。
【0032】図2において、ヘリウムバッファの場合に
は、直線H1に示すように0.75pmのスペクトル幅
Δλを達成するためのガス圧力pは、約255kPa
(2.55atm)となる。また、スペクトル幅Δλが
0.3pmの場合には、ガス圧力pは約30kPa
(0.3atm)となる。従って、ヘリウムバッファの場
合には、レーザガスのガス圧力pが、30kPa以上2
55kPa以下の範囲にあるようにすればよい。さらに
ヘリウムバッファの場合において、0.45pm以上
0.6pm以下のスペクトル幅Δλを得るためには、直
線H1に示すようにレーザガスのガス圧力pが、105
kPa以上180kPaの範囲にあるのがよい。
【0033】また、ネオンバッファの場合には、破線N
1に示すように、0.3pm以上0.75pm以下のス
ペクトル幅Δλを達成するためのガス圧力pは、80k
Pa以上305kPa以下となる。さらに、より好まし
い0.45pm以上0.6pm以下のスペクトル幅Δλ
を達成するためのガス圧力pは、155kPa以上23
0kPa以下となる。尚、バッファガスとしてヘリウム
とネオンとの混合ガスを用いた場合には、その分圧比に
応じて、ガス圧力pの下限と上限とを定めるようにす
る。即ち、スペクトル幅Δλが0.3〜0.75pmの
場合には、ガス圧力pの下限を30〜80kPaの間に
定め、上限を255〜305kPaの間に定めるように
すればよい。また、スペクトル幅Δλが0.45〜0.
6pmの場合には、ガス圧力pの下限を105〜155
kPaの間に定め、上限を180〜230kPaの間に
定めるようにすればよい。
【0034】尚、本実施形態ではシングルライン化ユニ
ット19によって波長をシングルライン化しているが、
これに限られるものではない。即ち、発振器の共振器長
を短くすることによっても発振波長が1本に自動選択さ
れるため、フロントミラー6とリアミラー8との間の距
離を短くし、シングルライン化ユニット19の代わりに
リアミラー8のみを配置しても良い。
【0035】以上説明したように、第1実施形態によれ
ば、フッ素露光装置21用光源のフッ素レーザ装置1に
おいて、所望されるスペクトル幅Δλに合わせ、ガス圧
力pを従来技術よりも低くして発振させている。これに
より、レーザ光11がより狭いスペクトル幅Δλで発振
するため、色消し方式のフッ素露光装置21に用いた場
合に、解像度の高い露光が可能となる。
【0036】次に、第2実施形態を説明する。第2実施
形態においては、第1実施形態で説明したフッ素レーザ
装置1から発振したレーザ光11の、パルスエネルギー
を増大させるための技術について説明する。即ち、第1
実施形態においては、ガス圧力pを従来技術より低くし
ているため、主放電26が起こりやすくなっている。そ
の結果、低い高電圧Vから主放電26が開始されるた
め、高い放電エネルギーを主放電に注入することが困難
となり、パルスエネルギーが低くなってしまう。その結
果、露光のために充分なパルスエネルギーが得られない
ということが起きる。高いパルスエネルギーのレーザ光
11を得るためには、主放電が開始する高電圧V(これ
を、放電開始電圧Vsと言う)を高くする必要がある。
以下に説明する本実施形態では、放電電極4,5の間隔
(以下、電極間隔dと言う)を広げることにより、これ
を達成している。
【0037】現状では、フッ素露光装置21において、
露光を好適に行なうためには10mJ程度のパルスエネ
ルギーが必要とされている。図3に、放電開始電圧Vs
と、レーザ光11のパルスエネルギーEとの関係を、ヘ
リウムバッファの場合について示す。横軸が放電開始電
圧Vs、縦軸がパルスエネルギーEである。図3に示す
ように、例えばパルスエネルギーE=10mJを得るた
めには、放電開始電圧Vsを約28kVとする必要があ
る。
【0038】図4に、実験によって求めた、放電開始電
圧Vsと、ガス圧力pと放電電極間隔dとの積であるp
d積との関係を、ヘリウムバッファの場合について示
す。横軸が放電開始電圧Vs、縦軸がpd積である。図
4に示すように、放電開始電圧Vsを28kVとするた
めには、pd積は約4000m・Paとなる。即ち、p
d積が約4000m・Paであるから、例えばスペクト
ル幅Δλを0.3〜0.75pmとするためには、ガス
圧力pが30〜255kPaに対して、電極間隔dを1
33.3〜15.7mmの範囲とする。また、スペクト
ル幅Δλを0.45〜0.6pmとするためには、ガス
圧力pが、105〜180kPaに対して、電極間隔d
を38.1〜22.2mmの範囲とする。
【0039】また、ネオンの場合には、例えばpd積を
約4000m・Paとすると、スペクトル幅Δλを0.
3〜0.75pmとするためには、ガス圧力pが80〜
305kPaに対して、電極間隔dを50.〜13.1
mmの範囲とする。また、スペクトル幅Δλを0.45
〜0.6pmとするためには、ガス圧力pが155〜2
30kPaに対して、電極間隔dを26.7〜17.4
mmの範囲とする。尚、図3のグラフ及び図4のグラフ
は、装置などによっても変動するため、その装置ごとに
対して、上記のような方法で電極間隔dを求めるように
する。
【0040】また、pd積と放電開始電圧Vsとの間に
は、下記の数式1に示すような関係がある。これを、パ
ッシェンの法則と言う。 Vs=B・pd/log(A・pd)…………(1) 数式1において、定数A及びBは、レーザガスの種類と
放電電極4,5の材質によって定まる定数である。従っ
て、実験によってこの定数A,Bを求め、計算によって
電極間隔dを算出するようにしてもよい。
【0041】以上説明したように、第2実施形態によれ
ば、圧力を下げたフッ素レーザ装置1において、電極間
隔dを広げている。これにより、放電開始電圧Vsが高
くなるため、レーザガスに対して一気に高いエネルギー
を注入することが可能となり、レーザ光11のパルスエ
ネルギーEが増大する。その結果、露光に必要な強さの
パルスエネルギーEを得ることが可能となり、フッ素レ
ーザ装置1をフッ素露光装置21用の光源として用いる
ことができる。
【0042】次に、第3実施形態を説明する。図5に、
第3実施形態に係る注入同期式フッ素レーザ装置34の
構成図を示す。図5において、注入同期式フッ素レーザ
装置34は、第1又は第2実施形態に係るフッ素レーザ
装置1と、フッ素レーザ装置1から出射したレーザ光1
1をシード光として増幅する増幅器33とを備えてい
る。増幅器33は、レーザガスを封入する増幅器チャン
バ27と、増幅器チャンバ27の両端部に設けられたウ
ィンドウ24,25と、ウィンドウ25の長手方向後方
(図5中左方)外側に設けられて略中央に導入孔29を
有する有孔凹面鏡32と、前方外側に設けられた凸面鏡
31とを有している。
【0043】増幅器チャンバ27の内部には所定位置に
増幅電極35,36が設置され、図示しない高圧電源に
より高電圧を印加可能となっている。増幅器チャンバ2
7内には図示しないファンが配設されており、チャンバ
2内のレーザガスを循環させて増幅電極35,36間に
導いている。図5において、フッ素レーザ装置1から発
振したレーザ光11は、有孔凹面鏡32の導入孔29か
らウィンドウ25を透過して増幅器チャンバ27に入射
し、凸面鏡31と有孔凹面鏡32との間で反射され、数
回往復する。このとき、増幅器チャンバ27内では、レ
ーザ光11の入射にタイミングを合わせて高圧電源から
増幅電極35,36間に高電圧が印加され、増幅放電が
起きる。この増幅放電により、レーザ光11は、増幅器
33内を往復する間に波長及びスペクトル幅Δλを保っ
たままパルスエネルギーEを増幅される。そして、凸面
鏡31の周囲から、断面がドーナツ状の増幅レーザ光2
0として取り出される。
【0044】以上説明したように第3実施形態によれ
ば、第1又は第2実施形態に係るフッ素レーザ装置1か
ら発振したレーザ光11をシード光として、増幅器33
によってパルスエネルギーEを増幅している。第1又は
第2実施形態に係るフッ素レーザ装置1からは、スペク
トル幅Δλが0.75pm以下(好ましくは0.6pm
以下)のレーザ光11が出射される。このレーザ光11
をシード光として増幅しているので、色消し方式のフッ
素露光装置21に用いるのに充分にスペクトル幅Δλが
狭く、かつパルスエネルギーの高い増幅レーザ光20を
取り出すことが可能である。そして、第3実施形態にお
いては、増幅器33によってパルスエネルギーを増大さ
せているので、必ずしも第2実施形態のようにフッ素レ
ーザ装置1の電極間隔dを広げなくともよい。
【0045】次に、第4実施形態について説明する。図
6に、第4実施形態に係るフッ素露光装置21の構成図
を示す。図6において、フッ素露光装置21は、第2実
施形態で説明したフッ素レーザ装置1と、このフッ素レ
ーザ装置1から発振されたレーザ光11を用いて露光を
行なう露光機22とを備えている。或いは、フッ素レー
ザ装置1の代わりに第3実施形態で説明した注入同期式
フッ素レーザ装置34を光源とし、レーザ光11の代わ
りに増幅レーザ光20を用いて露光を行なってもよい。
露光機22は、クリーンルーム内の床格子48上に設置
されており、フッ素レーザ装置1は、床格子48の下
の、一般に床54下と呼ばれるフロアーの床5454上
に設置されている。
【0046】フッ素レーザ装置1から出射したスペクト
ル幅Δλ約0.6pmのレーザ光11は、反射ミラー4
9で上方に反射して床格子48に設けられた開口部38
Aを通過し、露光機22内に入る。レーザ光11は、先
ず均一化光学系5039内で強度分布を均一化され、次
に、ビーム整形器55によってビーム断面を拡げられ
る。レーザ光11は、コンデンサレンズ51を介して、
レチクル52と呼ばれるマスクに照射される。レチクル
52に設けられたパターンを通過したレーザ光11は、
縮小投影レンズ56によって、移動自在のステージ57
に搭載されたウェハ53に照射される。これにより、レ
チクル52のパターンがウェハ53上に転写され、ウェ
ハ53が露光される。
【0047】このとき、縮小投影レンズ56は、フッ化
カルシウム及びフッ化バリウムからなる色消しレンズで
構成され、レーザ光11の色収差を除去している。或い
は、バイナリオプティカルエレメント等で形成された、
逆分散特性を有するフレネルレンズを用いて、色収差を
除去してもよい。バイナリオプティカルエレメントと
は、波長の長さ程度の段差を有する細かい階段状の回折
格子によって、光学部品を形成するものである。光学部
品の面が、曲面ではなく直線の組み合わせで構成されて
いるので、コンピュータによって設計が容易であり、ま
たフォトリソグラフィ工程によって精度よく製作するこ
とが可能である。尚、バイナリオプティカルエレメント
に関しては、Jpn.J.Appl.Phys.Vol.38(1999)pp.6968-69
75に詳細に紹介されている。
【0048】以上説明したように第4実施形態によれ
ば、フッ素露光装置21が、縮小投影レンズ56として
色消しレンズを用いている。そして、光源として、第2
実施形態で説明したフッ素レーザ装置1、又は第3実施
形態で説明した注入同期式フッ素レーザ装置34を備え
ている。上記フッ素レーザ装置1,34からは、スペク
トル幅Δλが0.75pm以下(好ましくは0.6pm
以下)で、露光に必要な大きさのパルスエネルギーを備
えたレーザ光11、又は増幅レーザ光20が発振する。
従って、フッ素レーザ装置1,34を光源とすることに
より、露光を好適に行なうことが可能である。
【0049】また、レーザ光11,20を、0.75p
m以下(好ましくは0.6pm以下)のスペクトル幅Δ
λに狭帯域化しているので、色消しレンズによって比較
的容易に色収差を除去することが可能である。従って、
露光の際に、色収差によって露光の解像度が低下するこ
とがなく、解像度の高い露光が可能である。また、色収
差を除去できるので、屈折型縮小投影光学系方式を採用
することが可能となる。これにより、カタディオプトリ
ク方式に比較すると装置の構成が単純となり、光軸合わ
せ等の調整も容易となる。即ち、光源であるフッ素レー
ザ装置1,34の側も、必要以上にレーザ光11,20
のスペクトル幅Δλを狭くする必要がなく、また、露光
機の側も、カタディオプトリク方式のように光軸合わせ
の困難な方式を用いることがない。従って、フッ素露光
装置全体として、製作しやすくバランスのよいフッ素露
光装置ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態に係るフッ素レーザ装置の構成
図。
【図2】スペクトル幅とガス圧力との関係を示すグラ
フ。
【図3】第2実施形態に係る放電開始電圧とパルスエネ
ルギーとの関係を示すグラフ。
【図4】放電開始電圧とpd積との関係を示すグラフ。
【図5】第3実施形態に係る注入同期式フッ素レーザ装
置の構成図。
【図6】第4実施形態に係るフッ素露光装置の構成図。
【図7】従来技術に係るフッ素レーザ装置の基本構成
図。
【図8】レーザ光の波長の説明図。
【符号の説明】
1:フッ素レーザ装置、2:レーザチャンバ、4:放電
電極、5:放電電極、6:フロントミラー、7:フロン
トウィンドウ、8:リアミラー、9:リアウィンドウ、
11:レーザ光、12:ビームスプリッタ、13:高圧
電源、16:フロントスリット、17:リアスリット、
18:分散プリズム、19:シングルライン化ユニッ
ト、20:増幅レーザ光、21:フッ素露光装置、2
2:露光機、24:ウィンドウ、25:ウィンドウ、2
6:主放電、27:増幅器チャンバ、29:導入孔、3
1:凸面鏡、32:有孔凹面鏡、33:増幅器、34:
注入同期式フッ素レーザ装置、35:増幅電極、36:
増幅電極、37:排気配管37、38:注入配管、3
9:排気バルブ39、40:ポンプ、41:フッ素ガス
ボンベ、42:バッファガスボンベ、43:フッ素ガス
バルブ、44:バッファガスバルブ、45:圧力測定
器、46:レーザコントローラ、47:パワー検出器、
48:床格子、49:反射ミラー、50:均一化光学
系、51:コンデンサレンズ、52:レチクル、53:
ウェハ、54:床、55:ビーム整形器、56:縮小投
影レンズ、57:ステージ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01S 3/104 H01L 21/30 515B 3/223 H01S 3/03 B 3/23 3/223 Z (72)発明者 溝口 計 神奈川県平塚市万田1200 ギガフォトン株 式会社内 Fターム(参考) 2H097 CA06 CA11 CA13 CA17 GB01 LA10 5F046 CA03 5F071 AA04 CC10 DD04 HH01 HH02 HH03 JJ10 5F072 AA04 HH01 HH02 JJ13 KK01 KK08 KK18 KK30 RR05 SS06 YY09

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 バッファガス及びフッ素を含むレーザガ
    スを封入するレーザチャンバ(2)と、 高電圧(V)を印加して主放電を起こし、レーザガスを励
    起してフッ素分子レーザ光(11)を発振させる放電電極
    (4,5)とを備え、 フッ素露光装置(21)用の光源となるフッ素分子レーザ装
    置において、 前記レーザチャンバ(2)内のレーザガスのガス圧力(p)
    を、フッ素露光装置(21)の要求するフッ素分子レーザ光
    (11)のスペクトル幅(Δλ)に基づいて変更自在としたこ
    とを特徴とするフッ素分子レーザ装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のフッ素分子レーザ装置に
    おいて、 前記スペクトル幅(Δλ)が0.3pm以上0.75pm
    以下であり、 このスペクトル幅(Δλ)に基づいてレーザガスのガス圧
    力(p)を決定することを特徴とするフッ素分子レーザ装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のフッ素分子レーザ装置に
    おいて、 前記バッファガスがヘリウムである場合には、前記ガス
    圧力(p)を30kPa以上255kPa以下とし、 前記バッファガスがネオンである場合には、前記ガス圧
    力(p)を80kPa以上305kPa以下とし、 前記バッファガスがネオンとヘリウムとの混合ガスであ
    る場合には、前記ガス圧力(p)を、30kPa以上30
    5kPa以下の範囲でネオンとヘリウムとの混合比に基
    づいて決定することを特徴とするフッ素分子レーザ装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のフッ素分子レーザ装置に
    おいて、 前記バッファガスがヘリウムである場合には、放電電極
    (4,5)間の間隔(d)を15.7mm以上133.3mm以
    下とし、 前記バッファガスがネオンである場合には、放電電極
    (4,5)間の間隔(d)を13.1mm以上50mm以下と
    し、 前記バッファガスがネオンとヘリウムとの混合ガスであ
    る場合には、前記間隔(d)を、13.1mm以上13
    3.3mm以下の範囲でネオンとヘリウムとの混合比に
    基づいて決定することを特徴とするフッ素分子レーザ装
    置。
  5. 【請求項5】 請求項1記載のフッ素分子レーザ装置に
    おいて、 前記スペクトル幅(Δλ)が0.45pm以上0.6pm
    以下であり、 このスペクトル幅(Δλ)に基づいてレーザガスのガス圧
    力(p)を決定することを特徴とするフッ素分子レーザ装
    置。
  6. 【請求項6】 請求項5記載のフッ素分子レーザ装置に
    おいて、 前記バッファガスがヘリウムである場合には、前記ガス
    圧力(p)を100kPa以上180kPa以下とし、 前記バッファガスがネオンである場合には、前記ガス圧
    力(p)を150kPa以上230kPa以下とし、 前記バッファガスがネオンとヘリウムとの混合ガスであ
    る場合には、前記ガス圧力(p)を、100kPa以上2
    30kPa以下の範囲でネオンとヘリウムとの混合比に
    基づいて決定することを特徴とするフッ素分子レーザ装
    置。
  7. 【請求項7】 請求項6記載のフッ素分子レーザ装置に
    おいて、 前記バッファガスがヘリウムである場合には、放電電極
    (4,5)間の間隔(d)を22.2mm以上38.1mm以下
    とし、 前記バッファガスがネオンである場合には、放電電極
    (4,5)間の間隔(d)を17.4mm以上25.8mm以下
    とし、 前記バッファガスがネオンとヘリウムとの混合ガスであ
    る場合には、前記間隔(d)を、17.4mm以上38.
    1mm以下の範囲でネオンとヘリウムとの混合比に基づ
    いて決定することを特徴とするフッ素分子レーザ装置。
  8. 【請求項8】 請求項1〜7のいずれかに記載のフッ素
    分子レーザ装置において、 レーザ光(11)の発振線群を、1群のみに選択するシング
    ルライン化ユニット(19)を備えたことを特徴とするフッ
    素分子レーザ装置。
  9. 【請求項9】 シード光を発振するシードレーザ装置
    と、 シード光を増幅する増幅器とを備えた注入同期式のフッ
    素分子レーザ装置において、 前記シードレーザ装置が、請求項1〜8のいずれかに記
    載のフッ素レーザ装置であることを特徴とする注入同期
    式のフッ素分子レーザ装置。
  10. 【請求項10】 フッ素分子レーザ装置(1)から発振し
    たフッ素分子レーザ光(11)を、色収差を除去する機能を
    備えた縮小投影レンズによって被露光物に投影して露光
    を行なう色消し方式のフッ素露光装置において、 前記フッ素分子レーザ装置(1)が、請求項1〜9のいず
    れかに記載のフッ素分子レーザ装置(1)であることを特
    徴とするフッ素露光装置。
  11. 【請求項11】 請求項10記載のフッ素露光装置にお
    いて、 前記縮小投影レンズが、フレネルレンズを用いて色収差
    を除去していることを特徴とするフッ素露光装置。
  12. 【請求項12】 請求項11記載のフッ素露光装置にお
    いて、 前記縮小投影レンズが、バイナリオプティカルエレメン
    トを用いて色収差を除去していることを特徴とするフッ
    素露光装置。
  13. 【請求項13】 請求項10記載のフッ素露光装置にお
    いて、 前記縮小投影レンズが、互いに屈折率の異なる少なくと
    も2種類以上の材料のレンズを備えていることを特徴と
    するフッ素露光装置。
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