JP2002195813A - 反り測定装置および方法 - Google Patents
反り測定装置および方法Info
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- JP2002195813A JP2002195813A JP2000394098A JP2000394098A JP2002195813A JP 2002195813 A JP2002195813 A JP 2002195813A JP 2000394098 A JP2000394098 A JP 2000394098A JP 2000394098 A JP2000394098 A JP 2000394098A JP 2002195813 A JP2002195813 A JP 2002195813A
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- Japan
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- electronic component
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Abstract
(57)【要約】
【課題】電子部品収納用トレイの反りの測定に用いる装
置および方法を提供する。 【解決手段】斜面上を滑る電子部品収納用トレイの高さ
を、ラインセンサーにより測定する電子部品収納用トレ
イの反り測定装置および方法。
置および方法を提供する。 【解決手段】斜面上を滑る電子部品収納用トレイの高さ
を、ラインセンサーにより測定する電子部品収納用トレ
イの反り測定装置および方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＣ収納用トレイ等、電
子部品収納用トレイの反りの測定に用いる装置および方
法に関する。
子部品収納用トレイの反りの測定に用いる装置および方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣ収納用トレイ等、電子部品収納用ト
レイには導電性、衝撃強度、曲げ強度が求められるとと
もに寸法安定性がよく、反りの少ないことが求められ
る。反りとは電子部品収納用トレイを平板上に置き、電
子部品収納用トレイ底面の浮き上がり量を表わす。ＩＣ
等の電子部品を収納したトレイは積み重ねられた形で自
動機械にかけられ、ＩＣ底部に位置しているリードの検
査が実施された後、ＩＣは吸着され基板に実装される
が、電子部品収納用トレイの反りが大きい場合規定値よ
りＩＣの位置に誤差を生じてしまい、ＩＣの検査が出来
なかったり、実装時のＩＣ吸着に問題を生じる。更に反
りが大きいと、吸着時に自動機の吸着用アームと電子部
品収納用トレイ自体が接触する可能性があり、自動機械
からの電子部品収納用トレイ自体の落下、ＩＣの破損を
生じる場合がある。その為、例えば１５０ｍｍ×３００
ｍｍ角の電子部品収納用トレイにおいて最大の反りは１
ｍｍ以下でなければならない等厳密に規定されている。
レイには導電性、衝撃強度、曲げ強度が求められるとと
もに寸法安定性がよく、反りの少ないことが求められ
る。反りとは電子部品収納用トレイを平板上に置き、電
子部品収納用トレイ底面の浮き上がり量を表わす。ＩＣ
等の電子部品を収納したトレイは積み重ねられた形で自
動機械にかけられ、ＩＣ底部に位置しているリードの検
査が実施された後、ＩＣは吸着され基板に実装される
が、電子部品収納用トレイの反りが大きい場合規定値よ
りＩＣの位置に誤差を生じてしまい、ＩＣの検査が出来
なかったり、実装時のＩＣ吸着に問題を生じる。更に反
りが大きいと、吸着時に自動機の吸着用アームと電子部
品収納用トレイ自体が接触する可能性があり、自動機械
からの電子部品収納用トレイ自体の落下、ＩＣの破損を
生じる場合がある。その為、例えば１５０ｍｍ×３００
ｍｍ角の電子部品収納用トレイにおいて最大の反りは１
ｍｍ以下でなければならない等厳密に規定されている。
【０００３】電子部品収納用トレイは目的とする形状を
有する金型に溶融した熱可塑性樹脂を射出し作成される
が、その寸法を安定化させるため、成形品を数時間加熱
するアニールと呼ばれる工程処理が実施されることがあ
る。これはポリフェニレンエーテル樹脂等の耐熱性樹脂
にて成形された場合顕著であり百数十℃でアニールされ
ることがある。しかし反りは成形ショット毎、また炉中
のアニール位置等による個々のバラツキが大きく、しば
しば成形品の全数について検査が実施されることがあ
る。
有する金型に溶融した熱可塑性樹脂を射出し作成される
が、その寸法を安定化させるため、成形品を数時間加熱
するアニールと呼ばれる工程処理が実施されることがあ
る。これはポリフェニレンエーテル樹脂等の耐熱性樹脂
にて成形された場合顕著であり百数十℃でアニールされ
ることがある。しかし反りは成形ショット毎、また炉中
のアニール位置等による個々のバラツキが大きく、しば
しば成形品の全数について検査が実施されることがあ
る。
【０００４】反りの測定にはハイトゲージと呼ばれる定
盤からの高さを測定する機器を用い定盤上に静置した電
子部品収納用トレイの上面の複数箇所について定盤面か
ら電子部品収納用トレイ上面までの高さを測定する方法
がある。しかしこの方法は１枚当たりの測定に数分の時
間を要してしまい、製造時の全数品質検査作業としては
実用に適しにくく、また測定は電子部品収納用トレイ上
面の数点のみに限られてしまうという問題がある。別の
方法として、図２に示す様な電子部品収納用トレイを滑
らせる斜面に対し電子部品収納用トレイの反り許容量の
隙間１０を設け、同隙間を通過可能な電子部品収納用ト
レイを良品として分別する方法がある。しかしこの方法
では電子部品収納用トレイ壁面と空隙を形成する板との
衝突により電子部品収納用トレイ壁面が傷付き、或いは
破損する場合があり、また電子部品収納用トレイの種類
により電子部品収納用トレイ自体の高さ及び反りの許容
量が異なると、隙間の大きさを都度変更する必要があ
り、煩わしい調整作業が必要となる。
盤からの高さを測定する機器を用い定盤上に静置した電
子部品収納用トレイの上面の複数箇所について定盤面か
ら電子部品収納用トレイ上面までの高さを測定する方法
がある。しかしこの方法は１枚当たりの測定に数分の時
間を要してしまい、製造時の全数品質検査作業としては
実用に適しにくく、また測定は電子部品収納用トレイ上
面の数点のみに限られてしまうという問題がある。別の
方法として、図２に示す様な電子部品収納用トレイを滑
らせる斜面に対し電子部品収納用トレイの反り許容量の
隙間１０を設け、同隙間を通過可能な電子部品収納用ト
レイを良品として分別する方法がある。しかしこの方法
では電子部品収納用トレイ壁面と空隙を形成する板との
衝突により電子部品収納用トレイ壁面が傷付き、或いは
破損する場合があり、また電子部品収納用トレイの種類
により電子部品収納用トレイ自体の高さ及び反りの許容
量が異なると、隙間の大きさを都度変更する必要があ
り、煩わしい調整作業が必要となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は電子部品収納
用トレイの反りの測定における前記問題点を解決するも
のであり、様々な高さ、様々な許容高さの電子部品収納
用トレイに対し、隙間の変更等の煩わしい調整作業を必
要とすることなく、簡単に反りを測定することが可能な
測定装置を提供するものである。
用トレイの反りの測定における前記問題点を解決するも
のであり、様々な高さ、様々な許容高さの電子部品収納
用トレイに対し、隙間の変更等の煩わしい調整作業を必
要とすることなく、簡単に反りを測定することが可能な
測定装置を提供するものである。
【０００６】
【課題を解決する為の手段】すなわち本発明は斜面上を
滑る電子部品収納用トレイの高さを、ラインセンサーに
より測定する電子部品収納用トレイの反り測定方法であ
り、電子部品収納用トレイを滑らせる為の斜面と、斜面
上の電子部品収納用トレイの高さを測定するラインセン
サーを有する電子部品収納用トレイの反り測定装置であ
る。
滑る電子部品収納用トレイの高さを、ラインセンサーに
より測定する電子部品収納用トレイの反り測定方法であ
り、電子部品収納用トレイを滑らせる為の斜面と、斜面
上の電子部品収納用トレイの高さを測定するラインセン
サーを有する電子部品収納用トレイの反り測定装置であ
る。
【０００７】以下本発明を更に詳細に説明する。電子部
品収納用トレイとは電子部品を収納するトレイである。
本発明においてはその材質、形状等に限定されないが、
熱可塑性樹脂が好適に使用出来る。熱可塑性樹脂は射出
成形により，或いは押出機よりＴダイで押出されたシー
トを真空成形することにより目的とするトレイ形状に成
形される。トレイの形状としては、例えばその上面に複
数個の電子部品を並べて載置可能なもの、或いは上面に
液晶基板等の平滑な基板を載置可能なもの等がある。
品収納用トレイとは電子部品を収納するトレイである。
本発明においてはその材質、形状等に限定されないが、
熱可塑性樹脂が好適に使用出来る。熱可塑性樹脂は射出
成形により，或いは押出機よりＴダイで押出されたシー
トを真空成形することにより目的とするトレイ形状に成
形される。トレイの形状としては、例えばその上面に複
数個の電子部品を並べて載置可能なもの、或いは上面に
液晶基板等の平滑な基板を載置可能なもの等がある。
【０００８】電子部品収納用トレイを滑らせる斜面１は
電子部品収納用トレイが滑ることができれば特にその角
度、形状、材質等には限定されない。具体的には例えば
電子部品収納用トレイが滑ることができる程度に平滑で
ある金属板を用いる事が好ましい。その表面は平坦度の
バラツキが５０μｍ以下であることが好ましく、更に好
ましくは２０μｍ以下である。金属板は５ｍｍ以上の厚
みのものが好適に使用出来る。薄いと金属板自体の重量
により金属板が曲がり易く正確な測定が出来ないことが
ある。
電子部品収納用トレイが滑ることができれば特にその角
度、形状、材質等には限定されない。具体的には例えば
電子部品収納用トレイが滑ることができる程度に平滑で
ある金属板を用いる事が好ましい。その表面は平坦度の
バラツキが５０μｍ以下であることが好ましく、更に好
ましくは２０μｍ以下である。金属板は５ｍｍ以上の厚
みのものが好適に使用出来る。薄いと金属板自体の重量
により金属板が曲がり易く正確な測定が出来ないことが
ある。
【０００９】斜面１の角度は可変できることが好まし
く、その方法には特に限定されない。例えば斜面１の端
部に設けられたネジの位置４を変化させることにより変
化させることが可能である。傾斜角度が大きい場合、電
子部品収納用トレイの落下速度が速くまた斜面１との密
着性が悪くなるため、傾斜は小さく、好ましくは３０度
以下とするのが良い。また、電子部品収納用トレイの滑
走を滑らかにするため、斜面１に金属板の上に更に摩擦
係数の小さい素材、例えばテフロンテープ５を貼り付け
たり、更には斜面１全体をテフロン処理することも可能
である。斜面１の両端部には、測定物の落下を防ぐ目的
で落下防止壁を設けることができる。
く、その方法には特に限定されない。例えば斜面１の端
部に設けられたネジの位置４を変化させることにより変
化させることが可能である。傾斜角度が大きい場合、電
子部品収納用トレイの落下速度が速くまた斜面１との密
着性が悪くなるため、傾斜は小さく、好ましくは３０度
以下とするのが良い。また、電子部品収納用トレイの滑
走を滑らかにするため、斜面１に金属板の上に更に摩擦
係数の小さい素材、例えばテフロンテープ５を貼り付け
たり、更には斜面１全体をテフロン処理することも可能
である。斜面１の両端部には、測定物の落下を防ぐ目的
で落下防止壁を設けることができる。
【００１０】ラインセンサーは斜面を滑る電子部品収納
用トレイの高さを測定出来るものであり、その精度は５
０μｍより高精度であることが好ましい。斜面１の両側
にラインセンサー２、３を取りつけるのは好ましい構造
である。ラインセンサーとしてはその形式には特に限定
されないが、レーザー式ラインセンサーを好適に使用す
ることができ、これには例えばキーエンス社のＶＧ−０
３５等がある。これは投光器と受光器を有し、投光器か
ら発せられる赤色半導体レーザー光を受光器のＣＣＤイ
メージセンサでとらえる形式のものである。投光器と受
光器の間に測定物を置くと、測定物によりレーザー光が
さえぎられそれを受光器が感知し測定物の高さを測定す
ることができる。なおラインセンサーの取りつけ位置
は、ラインセンサーより下の斜面の長さが、測定するト
レイの長さ以上あることが必要である。斜面の長さが短
いと反り測定装置を設置した台とトレイが接触してトレ
イが浮き上がってしまい良好な測定が出来なくなる。ラ
インセンサーは電子部品収納用トレイの高さが測定でき
ればその取りつけ方法、測定方法に特に限定されない。
ラインセンサー２、３は斜面に対して直角方向に測定す
ると電子部品収納用トレイの高さをダイレクトに測定で
きる。更にトレイの形状によっては斜面に対して斜めに
測定することもできる。この場合測定される値を換算し
高さを測定することができる。
用トレイの高さを測定出来るものであり、その精度は５
０μｍより高精度であることが好ましい。斜面１の両側
にラインセンサー２、３を取りつけるのは好ましい構造
である。ラインセンサーとしてはその形式には特に限定
されないが、レーザー式ラインセンサーを好適に使用す
ることができ、これには例えばキーエンス社のＶＧ−０
３５等がある。これは投光器と受光器を有し、投光器か
ら発せられる赤色半導体レーザー光を受光器のＣＣＤイ
メージセンサでとらえる形式のものである。投光器と受
光器の間に測定物を置くと、測定物によりレーザー光が
さえぎられそれを受光器が感知し測定物の高さを測定す
ることができる。なおラインセンサーの取りつけ位置
は、ラインセンサーより下の斜面の長さが、測定するト
レイの長さ以上あることが必要である。斜面の長さが短
いと反り測定装置を設置した台とトレイが接触してトレ
イが浮き上がってしまい良好な測定が出来なくなる。ラ
インセンサーは電子部品収納用トレイの高さが測定でき
ればその取りつけ方法、測定方法に特に限定されない。
ラインセンサー２、３は斜面に対して直角方向に測定す
ると電子部品収納用トレイの高さをダイレクトに測定で
きる。更にトレイの形状によっては斜面に対して斜めに
測定することもできる。この場合測定される値を換算し
高さを測定することができる。
【００１１】滑り落ちる電子部品収納用トレイの高さが
ラインセンサーにより測定され、そのデータは、連続
的、或いはミリ秒に１回程度の頻度でコンピュータや、
コントローラ６に取り込まれる。測定高さを数値化し表
示させることもできる。同機器の一例として例えばキー
エンス社のコントローラＶＧ−３００がある。指定した
期間の最大高さから電子部品収納用トレイの厚さを引い
た値が反りの量となるが、その値を計算できるコントロ
ーラ７を設置することも可能である。更には測定物の有
無及び通過を判断する目的で斜面１の任意の箇所に光電
管センサー８、９を取り付け、コントローラ７と連動さ
せることにより、反りの測定値を都度自動的に表示する
ことも出来、より迅速な測定、判定が可能となる。同機
器の一例として、キーエンス社のＲＤ−５０がある。光
電管センサーは測定物の有無及び通過を判断することが
できればその測定位置には特に限定されない。
ラインセンサーにより測定され、そのデータは、連続
的、或いはミリ秒に１回程度の頻度でコンピュータや、
コントローラ６に取り込まれる。測定高さを数値化し表
示させることもできる。同機器の一例として例えばキー
エンス社のコントローラＶＧ−３００がある。指定した
期間の最大高さから電子部品収納用トレイの厚さを引い
た値が反りの量となるが、その値を計算できるコントロ
ーラ７を設置することも可能である。更には測定物の有
無及び通過を判断する目的で斜面１の任意の箇所に光電
管センサー８、９を取り付け、コントローラ７と連動さ
せることにより、反りの測定値を都度自動的に表示する
ことも出来、より迅速な測定、判定が可能となる。同機
器の一例として、キーエンス社のＲＤ−５０がある。光
電管センサーは測定物の有無及び通過を判断することが
できればその測定位置には特に限定されない。
【００１２】
【発明の効果】本発明の反り測定装置を使用することに
より従来と比較し反りを簡便に測定出来、電子部品収納
用トレイ生産時の品質検査効率を向上させることが出来
る。
より従来と比較し反りを簡便に測定出来、電子部品収納
用トレイ生産時の品質検査効率を向上させることが出来
る。
【図１】反り測定装置の斜視図の例
【図２】従来の反り測定装置の斜視図の例
１ 電子部品収納用トレイを滑らせる斜面 ２ ラインセンサー発光部 ３ ラインセンサー受光部 ４ 斜面１の角度を変える為のネジ ５ テフロンテープ ６ コントローラ ７ 最大高さ計算用のコントローラ ８ 光電管センサー発光部 ９ 光電管センサー受光部 １０ 電子部品収納用トレイ反り許容量の隙間
Claims (4)
- 【請求項１】斜面上を滑る電子部品収納用トレイの高さ
を、ラインセンサーにより測定する電子部品収納用トレ
イの反り測定方法。 - 【請求項２】電子部品収納用トレイを滑らせる為の斜面
と、斜面上の電子部品収納用トレイの高さを測定するラ
インセンサーを有する電子部品収納用トレイの反り測定
装置。 - 【請求項３】ラインセンサーが斜面に対して直角方向に
測定する請求項２の反り測定装置。 - 【請求項４】以下の要件の一以上を具備する請求項２ま
たは請求項３の反り測定装置。 １．ラインセンサーがレーザー式ラインセンサーである ２．電子部品収納用トレイ通過を感知するセンサーを有
する ３．斜面の角度が可変出来る ４．斜面の平坦度のバラツキが５０μｍ以下の金属板か
らなる ５．電子部品収納用トレイと接する斜面がテフロン（登
録商標）製である
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000394098A JP2002195813A (ja) | 2000-12-26 | 2000-12-26 | 反り測定装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000394098A JP2002195813A (ja) | 2000-12-26 | 2000-12-26 | 反り測定装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002195813A true JP2002195813A (ja) | 2002-07-10 |
Family
ID=18859783
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000394098A Pending JP2002195813A (ja) | 2000-12-26 | 2000-12-26 | 反り測定装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002195813A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101364244B1 (ko) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | 삼성중공업 주식회사 | 평탄도 측정 장치 |
-
2000
- 2000-12-26 JP JP2000394098A patent/JP2002195813A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101364244B1 (ko) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | 삼성중공업 주식회사 | 평탄도 측정 장치 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040216 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040304 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040629 |