JP2002181856A

JP2002181856A - 接地抵抗測定装置

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Publication number: JP2002181856A
Application number: JP2000383007A
Authority: JP
Inventors: Fumihiko Toho; 史彦東方
Original assignee: Hioki EE Corp
Current assignee: Hioki EE Corp
Priority date: 2000-12-18
Filing date: 2000-12-18
Publication date: 2002-06-26
Anticipated expiration: 2020-12-18
Also published as: JP4421769B2

Abstract

(57)【要約】【課題】高精度かつ短時間で接地抵抗を自動測定す
る。【解決手段】中心周波数と、中心周波数を中心として
第１の周波数だけ高周波側および低周波側にそれぞれ位
置する第１の高周波側周波数および第１の低周波側周波
数と、中心周波数を中心として第１の周波数よりも大き
い第２の周波数だけ高周波側および低周波側にそれぞれ
位置する第２の高周波側周波数および第２の低周波側周
波数とをそれぞれ測定周波数として接地抵抗を求めると
共に最小値を求める測定処理（ステップ５２〜５４）を
実行し、最小値に対応する測定周波数が中心周波数以外
の周波数のときに最小値に対応する測定周波数を新たな
中心周波数として測定処理（ステップ５５，５３）を行
い、最小値に対応する測定周波数が中心周波数であって
第１周波数が基準周波数以下のときに最小値を接地抵抗
として求める（ステップ５６，５８）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、信号電圧比を用い
て接地抵抗を測定する接地抵抗測定装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】この種の接地抵抗測定装置として、図３
に示す接地抵抗測定装置５１が従来から知られている。
この接地抵抗測定装置５１は、補助電極を用いないで接
地抵抗を測定可能に構成されており、第１端子２、装置
アースに接続された第２端子３、操作部５４、信号発生
部６、第１アンプ７、出力抵抗（抵抗値Ｒｏ：既知）
８、同期検波部１０、第２アンプ１１、演算部５２、第
３アンプ５３および表示部５５を備えている。また、第
１端子２には、リード線１４が接続され、第２端子３に
は、リターン線１５が接続されている。さらに、リード
線１４の先端には、金属棒等で構成され大地１７に埋設
された被測定接地棒１６が接続されている。この場合、
リターン線１５は、一定の長さ（通常、１０ｍ以上）を
有する絶縁被覆付きの導線で構成され、絶縁状態で大地
１７上に自由配置される。なお、リターン線１５に代え
て、大地１７から絶縁された状態で大地１７上に配設可
能な金属板を用いることもできる。

【０００３】操作部５４は、周波数設定信号を出力する
周波数設定手段（具体的には可変抵抗）を備え、この周
波数設定手段はオペレータによって操作される。信号発
生部６は、周波数設定信号によって特定される周波数の
高周波正弦波（以下、「高周波信号ｖｃ」ともいう）を
測定信号として生成する。したがって、信号発生部６
は、操作部５４内の周波数設定手段が操作された際に
は、その操作に応じた周波数の高周波信号ｖｃを生成す
る。第１アンプ７は、バッファとして機能し、入力した
高周波信号ｖｃを注入信号ｖｏとして低インピーダンス
で出力する。出力抵抗８は、第１アンプ７と第１端子２
との間に接続されている。したがって、第１アンプ７か
ら出力された注入信号ｖｏは、出力抵抗８を介してリー
ド線１４に供給される。また、リード線１４に供給され
た注入信号ｖｏは、被測定接地棒１６に注入され、リタ
ーン線１５と大地１７との大地間結合容量を介して、リ
ターン線１５および第２端子３からなる経路を経て接地
抵抗測定装置５１に帰還する。同期検波部１０は、第２
端子３と第１端子２との間に発生する電圧Ｖｍを入力
し、注入信号ｖｏで同期検波することにより、測定対象
信号としての電圧Ｖｍの実数成分（以下、「直流電圧成
分」ともいう）を抽出する。また、同期検波部１０は、
例えば、図４に示すように、注入信号ｖｏの電圧Ｖｏと
電圧Ｖｍとを乗算する乗算器１０ａと、乗算器１０ａに
おける出力電圧の直流電圧成分を通過させる低域フィル
タ１０ｂとで構成される。第２アンプ１１は、同期検波
部１０によって生成された直流電圧成分の電圧レベルを
調整し、最終的な直流電圧成分Ｖｍｒとして出力する。
演算部５２は、例えば乗算器を用いて構成され、直流電
圧成分Ｖｍｒを用いて予め決められた所定のアナログ演
算処理を行い、接地抵抗Ｒｇの抵抗値の大小に比例する
電圧を生成する。第３アンプ５３は、演算部５２によっ
て生成された電圧に対してスケーリング調整を行う。表
示部５５は、アナログメータで構成され、スケーリング
調整後の電圧に応じてメータ針を振らすことによって接
地抵抗Ｒｇを表示する。

【０００４】次に、この接地抵抗測定装置５１を用いた
接地抵抗測定方法の原理について説明する。最初に、接
地抵抗測定装置５１、リード線１４、リターン線１５、
大地１７および被測定接地棒１６を含めた測定系の等価
回路を図５に示す。この場合、同図において、Ｒｇは被
測定接地棒１６の接地抵抗、Ｌはリード線１４のインダ
クタンス成分、Ｃはリターン線１５の大地間結合容量、
Ｒはリターン線１５の皮膜による絶縁抵抗を意味する。
また、第１端子２および第２端子３間のインピーダンス
Ｚｍ（つまり、リード線１４、被測定接地棒１６、大地
１７およびリターン線１５からなるループのインピーダ
ンス）は、下記の（１）式で表される。Ｚｍ＝Ｒｍ＋Ｉｍ・・・・（１）式ただし、Ｒｍは実数成分、Ｉｍは虚数成分を意味し、そ
れぞれ下記の（２）式および（３）式で表される。Ｒｍ＝Ｒｇ＋Ｒ／（１＋（ωＣＲ）^２）・・・・・・・・・（２）式Ｉｍ＝ｊωＬ−ｊωＣＲ^２／（１＋（ωＣＲ）^２）・・・・（３）式

【０００５】一方、上記インピーダンスＺｍを形成する
ループの共振周波数においては、Ｉｍ＝０となるため、
（３）式より、下記の（４）式が成立する。Ｒ／（１＋（ωＣＲ）^２）＝Ｌ／ＣＲ・・・・・・・・・・（４）式この場合、（４）式は（２）式の右辺第２項と等しいた
め、ＣＲ≫Ｌの条件下では、（２）式の右辺第２項の値
がゼロとなる。この結果、下記の式が成立する。Ｒｍ≒Ｒｇしたがって、被測定接地棒１６の接地抵抗Ｒｇは、出力
抵抗８（抵抗値Ｒｏ）と接地抵抗Ｒｇとで注入信号ｖｏ
の電圧Ｖｏを分圧した電圧Ｖｍに基づいて算出すること
ができる。このため、この接地抵抗測定装置５１では、
まず、同期検波部１０が、注入信号ｖｏの周波数を上記
したループの共振周波数と等しくした状態で、第１端子
２での電圧Ｖｍを注入信号ｖｏの電圧Ｖｏで同期検波
し、第２アンプ１１が、電圧レベルを調整することによ
って直流電圧成分Ｖｍｒを生成する。次いで、演算部５
２が、下記の（５）式における右辺の（ｘ／（１−
ｘ））をアナログ演算することによって直流電圧を生成
し、第３アンプ５３が、演算部５２によって生成された
直流電圧を所定利得で増幅することによって接地抵抗Ｒ
ｇの抵抗値に応じた直流電圧を生成して表示部５５に出
力する。この結果、表示部５５が接地抵抗Ｒｇの抵抗値
を表示する。Ｒｇ＝Ｒｏ×Ｖｍｒ／（Ｖｏ−Ｖｍｒ）＝Ｒｏ×ｘ／（１−ｘ）・・（５）式ただし、ｘ＝Ｖｍｒ／Ｖｏ

【０００６】この場合、接地抵抗Ｒｇの抵抗値は、図６
に示すように、注入信号ｖｏの周波数がループの共振周
波数と等しいときに最小となる。したがって、オペレー
タは、表示部５５に表示される接地抵抗Ｒｇの値を監視
しつつ、操作部５４の周波数設定手段を操作して、共振
周波数が存在すると予測される下限周波数から上限周波
数までの範囲内で信号発生部６によって生成される高周
波信号ｖｃの周波数を変化させ、表示された接地抵抗Ｒ
ｇが最も小さくなる点（共振周波数）を探すことによ
り、その最も小さな値を接地抵抗Ｒｇとして測定する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところが、この従来の
接地抵抗測定装置５１には、以下の問題点がある。すな
わち、接地抵抗Ｒｇを測定する際に、オペレータは、表
示部５５に表示される接地抵抗Ｒｇを監視しつつ、操作
部５４の周波数設定手段を操作して信号発生部６によっ
て生成される高周波信号ｖｃの周波数を徐々に変化させ
ることにより、最も小さい接地抵抗Ｒｇを探し出す必要
がある。したがって、測定作業が煩雑であり、しかも、
測定に長時間を要するという問題点がある。

【０００８】一方、演算部５２が信号発生部６を制御し
て高周波信号ｖｃの周波数を例えば測定精度に基づいて
予め設定された周波数ステップずつ下限周波数から上限
周波数まで徐々に変化させながら接地抵抗Ｒｇを自動探
索する構成を採用することも考えられる。しかしなが
ら、この構成を採用した場合には、測定作業の簡略化を
図ることができるものの、測定精度を上げるために周波
数ステップが細かくなることに起因して、測定すべき周
波数ポイントが激増する結果、測定に膨大な時間を必要
とするという問題が生じる。

【０００９】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、高精度で、しかも短時間で接地抵抗を自動
的に測定可能な接地抵抗測定装置を提供することを主目
的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項１記載の接地抵抗測定装置は、被測定接地棒に接続
されるリード線、および絶縁状態で大地上に配置される
リターン導体が接続可能に構成されると共に前記被測定
接地棒の接地抵抗を測定可能に構成され、交流信号を生
成すると共にその周波数を可変制御可能に構成された信
号発生部と、前記リード線または前記リターン導体と前
記信号発生部との間に接続される出力抵抗と、当該出力
抵抗の前記リード線または前記リターン導体側の出力端
部の電圧を前記交流信号で同期検波することにより直流
電圧成分を生成する同期検波部と、前記接地抵抗を算出
する際に前記信号発生部における前記交流信号の測定用
周波数を変化させると共に前記出力抵抗の抵抗値に前記
直流電圧成分の電圧値を乗算した乗算値を前記交流信号
の電圧値から前記直流電圧成分の電圧値を減算した減算
値で除算した除算値の最小値を探索する演算制御部とを
備えた接地抵抗測定装置であって、前記演算制御部は、
予め設定された中心周波数と、当該中心周波数を中心と
して第１の周波数だけ高周波側および低周波側にそれぞ
れ位置する第１の高周波側周波数および第１の低周波側
周波数と、前記中心周波数を中心として前記第１の周波
数よりも大きい第２の周波数だけ高周波側および低周波
側にそれぞれ位置する第２の高周波側周波数および第２
の低周波側周波数とをそれぞれ前記測定用周波数として
前記除算値を求めると共に当該各除算値における最小値
を仮最小値として求める測定処理を実行し、前記仮最小
値に対応する前記測定用周波数が前記中心周波数以外の
他の前記測定用周波数のときに当該最小値に対応する前
記測定用周波数を新たな前記中心周波数として前記測定
処理を実行し、前記仮最小値に対応する前記測定用周波
数が前記中心周波数のときであって前記第１の周波数が
予め設定された基準周波数を超えるときに当該第１の周
波数を小値化させて新たな前記第１の周波数として前記
測定処理を実行し、前記仮最小値に対応する前記測定用
周波数が前記中心周波数のときであって前記第１の周波
数が前記基準周波数以下のときに当該仮最小値を前記除
算値の最小値として探索することを特徴とする。

【００１１】請求項２記載の接地抵抗測定装置は、請求
項１記載の接地抵抗測定装置において、前記演算制御部
は、前記各測定処理において、前記第２の周波数を一定
値に維持して前記第２の高周波側周波数および前記第２
の低周波側周波数を前記測定用周波数として設定するこ
とを特徴とする。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係る接地抵抗測定装置の好適な実施の形態について
説明する。なお、従来の接地抵抗測定装置５１と同一の
構成要素については同一の符号を付して、重複する説明
を省略する。

【００１３】接地抵抗測定装置１は、図１に示すよう
に、第１端子２、第２端子３、操作部４、表示部５、測
定信号としての高周波信号ｖｃを生成する信号発生部
６、高周波信号ｖｃを注入信号（交流信号）ｖｏとして
出力する第１アンプ７、抵抗値Ｒｏの出力抵抗８、同期
検波部１０、第２アンプ１１、および演算制御部１２を
備えている。また、第１端子２には、リード線１４が接
続され、第２端子３には、リターン線１５が接続されて
いる。この場合、リード線１４は、大地１７に埋設され
た被測定接地棒１６に接続される。一方、リターン線１
５は、大地１７と絶縁した状態で、その大地１７上に自
由配置される。

【００１４】表示部５は、例えばＬＣＤを用いて構成さ
れ、測定した接地抵抗Ｒｇを数値によってディジタル表
示する。また、信号発生部６は、一例としてＤＤＳ（Di
rectDigital Synthesizer）を用いて構成され、演算制
御部１２によって出力された周波数データＤF に応じた
周波数の高周波信号ｖｃを生成する。また、操作部４
は、演算制御部１２に対して接地抵抗Ｒｇの演算処理を
開始させるための開始信号Ｓａを出力する演算開始スイ
ッチ４１を備えている。同期検波部１０は、出力抵抗８
の第１端子２側の出力端部の電圧Ｖｍを注入信号ｖｏで
同期検波することによって直流電圧成分を生成する。第
２アンプ１１は、同期検波部１０によって生成された直
流電圧成分を直流電圧成分Ｖｍｒとして低インピーダン
スで出力する。

【００１５】演算制御部１２は、Ａ／Ｄコンバータと、
所定のソフトウェアに従って動作するＣＰＵ（若しくは
ＤＳＰ）と、ソフトウェアやデータを格納するメモリと
を備えて構成されている（いずれも図示せず）。この場
合、Ａ／Ｄコンバータは、第２アンプ１１によって電圧
レベル変換された直流電圧成分Ｖｍｒをディジタルデー
タに変換する。また、ＣＰＵは、演算開始スイッチ４１
から開始信号Ｓａが入力された際に、メモリに記憶され
ている接地抵抗測定用プログラムを実行して、測定用周
波数の設定、各測定用周波数に対応する周波数データＤ
F の信号発生部６への出力、および各測定周波数に対応
する各測定ポイントにおける接地抵抗Ｒｇの演算を繰り
返し行いながら接地抵抗Ｒｇの最小値を演算する。ま
た、ＣＰＵは、接地抵抗Ｒｇを演算する際に、出力抵抗
８の抵抗値Ｒｏと、注入信号ｖｏの電圧Ｖｏと、直流電
圧成分Ｖｍｒとを用いて、等価的に、出力抵抗８の抵抗
値Ｒｏに直流電圧成分Ｖｍｒを乗算した乗算値を、注入
信号ｖｏの電圧値Ｖｏから直流電圧成分Ｖｍｒを減算し
た減算値で除算し、その除算値を接地抵抗Ｒｇとして算
出する演算処理を行う。具体的には、上記（５）式に従
い、接地抵抗Ｒｇをディジタル演算する処理を行う。

【００１６】また、メモリには、後述する接地抵抗測定
処理の際に信号発生部６によって生成される測定用周波
数を決定するために予め設定された中心周波数の初期周
波数ｆC （例えば、下限周波数および上限周波数のほぼ
中心値とし、８００ｋＨｚとする）、中心周波数に対し
て加算または減算される第１の周波数の初期周波数ｆA
（例えば１００ｋＨｚとする）、第１の周波数よりも大
きい値であって中心周波数に対して加算または減算され
る第２の周波数ｆB （例えば、第２の周波数ｆB の２倍
の周波数値が下限周波数から上限周波数までの周波数幅
のほぼ１／２となる周波数とし、３００ｋＨｚとす
る）、および第１の周波数の初期周波数ｆAを段階的に
小値化制御する（小さい値に制御する）ための複数の小
値化制御用周波数（例えば５０ｋＨｚ、２０ｋＨｚ、１
０ｋＨｚとする）が記憶されている。

【００１７】次に、接地抵抗測定装置１による接地抵抗
測定処理について、図２を参照して説明する。

【００１８】最初に、測定に先立ち、第２端子３にリタ
ーン線１５を接続した後、リターン線１５を大地１７上
に配設する。次いで、大地１７に打ち込まれた被測定接
地棒１６と第１端子２とをリード線１４で接続する。こ
の後、接地抵抗測定装置１の電源を投入する。

【００１９】この接地抵抗測定処理では、まず、演算制
御部１２が、中心周波数の初期周波数ｆC 、第１の周波
数の初期周波数ｆA 、および第２の周波数の初期周波数
ｆBをメモリから読み出して初期化する（ステップ５
１）。次に、演算制御部１２は、中心周波数ｆC 、中心
周波数ｆC を中心として第１の周波数ｆA だけ高周波側
および低周波側にそれぞれ位置する第１の高周波側周波
数ｆAHおよび第１の低周波側周波数ｆAL、および中心周
波数ｆC を中心として第２の周波数ｆB だけ高周波側お
よび低周波側にそれぞれ位置する第２の高周波側周波数
ｆBHおよび第２の低周波側周波数ｆBLをそれぞれ周波数
ポイントとして設定する（ステップ５２）。これによ
り、低周波側から順に、周波数ポイントｒ１（５００ｋ
Ｈｚ）、周波数ポイントｒ２（７００ｋＨｚ）、周波数
ポイントｒ３（ｆC ：８００ｋＨｚ）、周波数ポイント
ｒ４（９００ｋＨｚ）、および周波数ポイントｒ５
（１．１ＭＨｚ）の５つの周波数ポイントが設定され
る。次に、演算制御部１２は、各周波数ポイントｒ１〜
ｒ５にそれぞれ対応する周波数データＤF を信号発生部
６へ順次出力しつつ、各周波数ポイントにおける接地抵
抗Ｒｇを順次測定する（ステップ５３）。

【００２０】続いて、演算制御部１２は、測定した各周
波数ポイントｒ１〜ｒ５の接地抵抗Ｒｇにおける最小値
を仮最小値として求め、この仮最小値に対応する周波数
ポイントが周波数ポイントｒ３であるか否かを判別する
（ステップ５４）。仮最小値に対応する周波数ポイント
が周波数ポイントｒ１，ｒ２，ｒ４，ｒ５のいずれかで
あると判別したときには、仮最小値に対応する周波数ポ
イントの周波数を新たな中心周波数ｆC に設定し（ステ
ップ５５）、その後ステップ５２に戻り、各周波数ポイ
ントｒ１〜ｒ５の再設定を行う。例えば、仮最小値に対
応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ１であると判
別したときには、周波数ポイントｒ１〜ｒ５の再設定時
には、周波数ポイントｒ１が新たな周波数ポイントｒ３
となるため、低周波側から順に、周波数ポイントｒ１
（２００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ２（４００ｋＨ
ｚ）、周波数ポイントｒ３（５００ｋＨｚ）、周波数ポ
イントｒ４（６００ｋＨｚ）、および周波数ポイントｒ
５（８００ｋＨｚ）の５つの周波数ポイントが新たに設
定される。また、仮最小値に対応する周波数ポイントが
周波数ポイントｒ４であると判別したときには、同様に
して低周波側から順に、周波数ポイントｒ１（６００ｋ
Ｈｚ）、周波数ポイントｒ２（８００ｋＨｚ）、周波数
ポイントｒ３（９００ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ４
（１ＭＨｚ）、および周波数ポイントｒ５（１．２ＭＨ
ｚ）の５つの周波数ポイントが新たに設定される。した
がって、再設定された周波数ポイントｒ３の周波数は、
直前に設定された周波数ポイントｒ３の周波数と比較し
て、求める共振周波数に近づくことになる。

【００２１】一方、ステップ５４において、仮最小値に
対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ３であると
判別した場合、演算制御部１２は、第１の周波数ｆA が
予め設定された基準周波数ｆREF （例えば１０ｋＨｚ）
以下であるか否かを判別する（ステップ５６）。この場
合、基準周波数ｆREF は、共振周波数の測定精度に応じ
た周波数値に規定されている。つまり、測定精度に５ｋ
Ｈｚまで要求されるときには、基準周波数ｆREF は５ｋ
Ｈｚに規定される。第１の周波数ｆA が基準周波数ｆRE
F を超えると判別したときには、演算制御部１２は、メ
モリから小値化制御用周波数を読み出し、第１の周波数
ｆA を小値化制御用周波数の内から１段階小さい周波数
に小値化（最初の時点では、１００ｋＨｚから５０ｋＨ
ｚ）して新たな第１の周波数ｆA とした後（ステップ５
７）、ステップ５２の処理に移行する。この場合、演算
制御部１２が、予め設定した一定の値を第１の周波数ｆ
Aから減算して新たな第１の周波数ｆA に設定すること
もできる。

【００２２】この際に、例えば、初期周波数ｆC が８０
０ｋＨｚの場合、第１の周波数ｆAを１００ｋＨｚから
５０ｋＨｚに小値化したときには、ステップ５２におけ
る周波数ポイントの再設定によって、低周波側から順
に、周波数ポイントｒ１（５００ｋＨｚ）、周波数ポイ
ントｒ２（７５０ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ３（８０
０ｋＨｚ）、周波数ポイントｒ４（８５０ｋＨｚ）、お
よび周波数ポイントｒ５（１．１ＭＨｚ）の５つの新た
な周波数ポイントが設定される。演算制御部１２は、こ
れらのステップ５６，５７を実行した後、周波数ポイン
トｒ３（中心周波数ｆC ）が仮最小値に対応する周波数
ポイントであると判別した都度、第１の周波数ｆA を小
値化する。この結果、中心周波数ｆC と第１の高周波側
周波数ｆAHおよび第１の低周波側周波数ｆALとの周波数
差が小さくなるため、共振周波数の測定精度を次第に高
めることができる。

【００２３】演算制御部１２は、これらステップ５２〜
５７を繰り返し行い、ステップ５６において第１の周波
数ｆA が基準周波数ｆREF 以下になったと判別したとき
に、周波数ポイントｒ３における接地抵抗Ｒｇを求める
接地抵抗Ｒｇとし（ステップ５８）、この接地抵抗Ｒｇ
を表示部５５に表示させて、この接地抵抗測定処理を終
了する。

【００２４】このように、この接地抵抗測定装置１によ
れば、初期周波数ｆC 、第１の高周波側周波数ｆAH、第
１の低周波側周波数ｆAL、第２の高周波側周波数ｆBH、
および第２の低周波側周波数ｆBLからなる５つの各周波
数ポイントにおいて、第１の周波数ｆA が基準周波数ｆ
REF 以下となるまで接地抵抗Ｒｇを測定することによ
り、予め設定された周波数ステップずつ下限周波数から
上限周波数まで徐々に変化させながら接地抵抗Ｒｇを自
動探索する従来方法と比較して、基準周波数ｆREF の精
度で、最小の接地抵抗Ｒｇを迅速に測定することができ
る。また、演算制御部１２が接地抵抗Ｒｇを自動測定す
るため、接地抵抗Ｒｇの測定が極めて容易となる。さら
に、第２の周波数ｆB の値を固定しておくことにより、
接地抵抗Ｒｇの測定中において測定条件の変動に起因し
て共振周波数が変化した場合であっても、仮最小値の周
波数ポイント確認処理（ステップ５４）、および初期周
波数ｆC を仮最小値に対応する周波数ポイントの周波数
に変更する処理（ステップ５５）を実行することによ
り、その変化した共振周波数に自動追従して測定するこ
とができる。

【００２５】なお、本発明は、上述した発明の実施の形
態に示した構成に限定されない。例えば、第１端子２に
リターン線１５を接続し、かつ、第２端子３にリード線
１４を接続して接地抵抗Ｒｇを測定することができる。
また、上記したステップ５７において、第１の周波数ｆ
A を急激に小さくしない限り、接地抵抗Ｒｇは、周波数
ポイントｒ３を中心としてその両側に位置する周波数ポ
イントｒ２，ｒ４間の範囲内に存在すると考えられる。
したがって、ステップ５４において、一旦、仮最小値に
対応する周波数ポイントが周波数ポイントｒ３であると
判別した後には、周波数ポイントｒ２〜ｒ４の３つの周
波数ポイントのみに基づく処理（ステップ５２，５３）
を実行して接地抵抗Ｒｇを求めることもできる。これに
より、測定対象となる周波数ポイントが減少する結果、
演算処理に要する時間を短縮することができるため、接
地抵抗Ｒｇを短時間で求めることができる。

【００２６】

【発明の効果】以上のように、請求項１記載の接地抵抗
測定装置によれば、演算制御部が、測定処理によって求
めた仮最小値に対応する測定用周波数が中心周波数のと
きであって第１の周波数が予め設定された基準周波数を
超えるときに第１の周波数を小値化させて新たな第１の
周波数として測定処理を実行し、第１の周波数が基準周
波数以下のときに仮最小値を除算値の最小値として探索
することにより、高精度で、しかも短時間で接地抵抗を
自動測定することができる。

【００２７】また、請求項２記載の接地抵抗測定装置に
よれば、演算制御部が、各測定処理において、第２の周
波数を一定値に維持して第２の高周波側周波数および第
２の低周波側周波数を測定用周波数として設定すること
により、測定中において測定条件の変動に起因して共振
周波数が変化した場合であっても、その変化した共振周
波数に自動追従して接地抵抗を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る接地抵抗測定装置１
の構成を示すブロック図である。

【図２】接地抵抗測定装置１による接地抵抗測定処理の
フローチャートである。

【図３】従来の接地抵抗測定装置５１の構成を示すブロ
ック図である。

【図４】接地抵抗測定装置５１における同期検波部１０
の構成を主として示すブロック図である。

【図５】接地抵抗Ｒｇを測定する測定系の等価回路図で
ある。

【図６】高周波信号ｖｃの周波数に対する接地抵抗Ｒｇ
の分布イメージを示す説明図である。

【符号の説明】

１接地抵抗測定装置４操作部６信号発生部８出力抵抗１０同期検波部１２演算制御部１４リード線１５リターン線１６被測定接地棒１７大地ｒ１〜ｒ５周波数ポイントＶｍｒ直流電圧成分ｖｃ高周波信号ｖｏ注入信号

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被測定接地棒に接続されるリード線、お
よび絶縁状態で大地上に配置されるリターン導体が接続
可能に構成されると共に前記被測定接地棒の接地抵抗を
測定可能に構成され、交流信号を生成すると共にその周波数を可変制御可能に
構成された信号発生部と、前記リード線または前記リタ
ーン導体と前記信号発生部との間に接続される出力抵抗
と、当該出力抵抗の前記リード線または前記リターン導
体側の出力端部の電圧を前記交流信号で同期検波するこ
とにより直流電圧成分を生成する同期検波部と、前記接
地抵抗を算出する際に前記信号発生部における前記交流
信号の測定用周波数を変化させると共に前記出力抵抗の
抵抗値に前記直流電圧成分の電圧値を乗算した乗算値を
前記交流信号の電圧値から前記直流電圧成分の電圧値を
減算した減算値で除算した除算値の最小値を探索する演
算制御部とを備えた接地抵抗測定装置であって、前記演算制御部は、予め設定された中心周波数と、当該
中心周波数を中心として第１の周波数だけ高周波側およ
び低周波側にそれぞれ位置する第１の高周波側周波数お
よび第１の低周波側周波数と、前記中心周波数を中心と
して前記第１の周波数よりも大きい第２の周波数だけ高
周波側および低周波側にそれぞれ位置する第２の高周波
側周波数および第２の低周波側周波数とをそれぞれ前記
測定用周波数として前記除算値を求めると共に当該各除
算値における最小値を仮最小値として求める測定処理を
実行し、前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周
波数以外の他の前記測定用周波数のときに当該最小値に
対応する前記測定用周波数を新たな前記中心周波数とし
て前記測定処理を実行し、前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周
波数のときであって前記第１の周波数が予め設定された
基準周波数を超えるときに当該第１の周波数を小値化さ
せて新たな前記第１の周波数として前記測定処理を実行
し、前記仮最小値に対応する前記測定用周波数が前記中心周
波数のときであって前記第１の周波数が前記基準周波数
以下のときに当該仮最小値を前記除算値の最小値として
探索することを特徴とする接地抵抗測定装置。
【請求項２】前記演算制御部は、前記各測定処理にお
いて、前記第２の周波数を一定値に維持して前記第２の
高周波側周波数および前記第２の低周波側周波数を前記
測定用周波数として設定することを特徴とする請求項１
記載の接地抵抗測定装置。