JP2002175972A - Automated aligner - Google Patents

Automated aligner

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JP2002175972A
JP2002175972A JP2000373833A JP2000373833A JP2002175972A JP 2002175972 A JP2002175972 A JP 2002175972A JP 2000373833 A JP2000373833 A JP 2000373833A JP 2000373833 A JP2000373833 A JP 2000373833A JP 2002175972 A JP2002175972 A JP 2002175972A
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Japan
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substrate
holder
holder unit
unit
exposure
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JP2000373833A
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Japanese (ja)
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Masaru Ise
伊勢  勝
Masaaki Matsuda
政昭 松田
Shinichi Matsunaga
真一 松永
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Orc Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Orc Manufacturing Co Ltd
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/707Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automated aligner which minimizes the causes of dust attachment by reducing the number of delivering substrates, and can invert the substrates, even without an inversion mechanism for special use for the purpose, and can be improved in throughput. SOLUTION: The automatic aligner 1 aligns a substrate W and a mask M and then exposes the substrate W to light via an optical system 50, to form a prescribed pattern on the substrate W. The automatic aligner 1 comprises a first holder unit 10, which consists of a plurality of first holder sections 11A-11D, disposed so as to face respectively, oppositely to the positions, where the substrate is received and where the substrate is exposed to light; a rotation driving means 18 for rotating the first holder unit and stopping the rotation of the unit; and a first exposure mechanism 20, disposed adjacent to the first holder unit. At least the first holder unit or the first exposure mechanism is provided with a first movement means 25 for moving the first holder sections or a first translucent plate in the abutting direction.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、紫外線によりマス
クを介して基板に所定のパターンを露光処理するための
自動露光装置に関するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an automatic exposure apparatus for exposing a substrate to a predetermined pattern using ultraviolet rays through a mask.

【従来の技術】[Prior art]

【0002】従来、所定波長の紫外線を照射して基板に
所定パターンを露光処理する自動露光装置は、様々なも
のが提案されている。例えば、従来の自動露光装置は、
基板を搬送する基板搬送機構が、吸着パットを有するハ
ンドラにより基板の搬送位置を往復移動することで搬送
するものや、また、基板を載置する送りローラあるいは
送りベルトにより搬送するものが知られている。
Conventionally, various automatic exposure apparatuses have been proposed for exposing a substrate to a predetermined pattern by irradiating ultraviolet rays having a predetermined wavelength. For example, a conventional automatic exposure apparatus
A substrate transport mechanism that transports a substrate is known to transport a substrate by reciprocating a substrate transport position by a handler having a suction pad, or a substrate transport mechanism that transports a substrate by a feed roller or a feed belt. I have.

【0003】また、基板を垂直にした状態で整合作業お
よび露光作業を行なっている自動露光装置も提案されて
いる。図9(a)に示すように、自動露光装置80は、
基板Wの搬入および受渡機構81と、この受渡機構81
から基板Wを垂直状態として受け取る基板ホルダ82
と、この基板ホルダ82を移動させた位置に配置したマ
スクMのマスク保持機構83と、このマスク保持機構8
3に設けた撮像手段84と、この撮像手段84による撮
像作業を行なうための撮像ライト85と、基板ホルダ8
2の基板WにマスクMを介して平行光を照射するための
光学系86などを備えている。なお、この自動露光装置
80は、基板Wの反転操作を、受渡機構81が行なうよ
うに構成されている。
Further, there has been proposed an automatic exposure apparatus which performs an aligning operation and an exposure operation in a state in which a substrate is vertical. As shown in FIG. 9A, the automatic exposure apparatus 80
A mechanism W for carrying in and delivering the substrate W, and the delivery mechanism 81
Substrate holder 82 which receives substrate W in a vertical state from
A mask holding mechanism 83 for the mask M arranged at a position where the substrate holder 82 is moved;
3, an imaging light 85 for performing an imaging operation by the imaging means 84, and a substrate holder 8
An optical system 86 for irradiating parallel light to the second substrate W via a mask M is provided. Note that the automatic exposure apparatus 80 is configured such that the delivery mechanism 81 performs a reversing operation of the substrate W.

【0004】さらに、図9(b)に示すように、他の構
成における自動露光装置90は、基板Wの搬入機構91
と、この搬入機構91から基板Wを垂直にして受け取る
ホルダ部92と、このホルダ部92を移動させた位置に
設けたマスクMを備える露光部93と、この露光部93
から基板Wを受け取るためのハンドラ94と、基板Wと
マスクMの密着位置に平行光を照射するための光学系9
5と、両面の露光処理が終了した基板Wを搬出する搬出
機構96とから構成されている。なお、この自動露光装
置90は、基板Wの反転操作を、ハンドラ94,94を
用いて行なっている。
Further, as shown in FIG. 9B, an automatic exposure apparatus 90 having another configuration includes a substrate W loading mechanism 91.
A holder unit 92 for receiving the substrate W vertically from the loading mechanism 91; an exposure unit 93 having a mask M provided at a position where the holder unit 92 has been moved;
An optical system 9 for irradiating parallel light to a contact position between the substrate W and the mask M;
5 and an unloading mechanism 96 that unloads the substrate W that has been exposed on both sides. Note that the automatic exposure apparatus 90 performs the reversing operation of the substrate W using the handlers 94, 94.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の自動露
光装置では、さらに改良する余地があり、以下で示す問
題を解決する必要があった。 (1)従来の自動露光装置は、その基板搬送機構がハン
ドラなどを介して行なっている場合に、基板の搬送、位
置決め(整合)、露光などの一連の処理を行なう経路中
で、何度もその基板を受け渡す構成であるため、基板の
受け渡し回数が増えることから、受け渡しスペースおよ
び受け渡し時間などが必要になり、基板に塵埃が付着す
る機会が増えることになった。また、基板の受け渡し回
数が増えることによる落下などの原因要素を増すことに
なった。
However, there is room for further improvement in the conventional automatic exposure apparatus, and the following problems must be solved. (1) A conventional automatic exposure apparatus repeatedly performs a series of processes such as substrate transport, positioning (alignment), and exposure when its substrate transport mechanism is operating via a handler or the like. Since the substrate is transferred, the number of times the substrate is transferred increases, so a transfer space, a transfer time, and the like are required, and the opportunity for dust to adhere to the substrate increases. In addition, the number of causes such as a drop due to an increase in the number of times of transferring the substrate is increased.

【0006】(2)従来の自動露光装置は、基板の両面
を露光する場合に、基板の反転構成を別途に備えること
になった。また、垂直状態で基板を整合および露光する
場合の装置であっても、基板の反転作業を行なう場合に
は、一旦その基板を水平姿勢に戻して反転させているた
め、反転作業を行なう設置スペースを必要とするため装
置全体が大型化、複雑化して不都合であった。
(2) The conventional automatic exposure apparatus is provided with a separate substrate reversing structure when both surfaces of the substrate are exposed. Further, even in an apparatus for aligning and exposing a substrate in a vertical state, when performing a substrate reversing operation, the substrate is once returned to a horizontal position and reversed, so that an installation space for performing the reversing operation is required. However, the size of the entire apparatus becomes large and complicated, which is inconvenient.

【0007】(3)従来の自動露光装置は、ハンドラな
どによる受け渡し回数の増加および基板の吸着確認時
間、受け渡し待ち時間などによるタクトタイム(単位工
程の所要時間)が長くなってしまい、各工程でのタイミ
ングの調整が適正化できず、基板の単位時間当たりの処
理能力(スループット)に対しての向上を改善する余地
が残されていた。そして、基板を垂直状態として露光す
る装置であっても、基板の反転動作を水平状態に戻して
行なっているため、さらに垂直状態に基板の姿勢を戻し
て操作することから更なる基板の反転動作に伴う時間の
短縮が望まれていた。
(3) In the conventional automatic exposure apparatus, the number of times of delivery by a handler or the like increases, and the tact time (time required for a unit process) due to the time for confirming the suction of the substrate, the time for waiting for delivery, and the like becomes longer. However, there is room for improvement in the improvement of the processing capability (throughput) per unit time of the substrate. Even in an apparatus that exposes a substrate in a vertical state, the substrate inversion operation is performed by returning the substrate to a horizontal state. It has been desired to reduce the time associated with this.

【0008】本発明は、前記の問題点に鑑み創案された
ものであり、基板を受け渡す回数を減らすことで塵埃の
付着原因を最小限とし、また、専用の反転機構がなくて
も基板を反転でき、さらに、単位時間あたりの基板の処
理能力(スループット)を向上させる自動露光装置を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and minimizes the cause of dust adhesion by reducing the number of times of transferring a substrate. An object of the present invention is to provide an automatic exposure apparatus which can be inverted and further improves the processing capacity (throughput) of a substrate per unit time.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記の問題を
解決するため、つぎのように構成した。すなわち、基板
とマスクを整合させ、前記基板に所定パターンを、光学
系を介して露光処理するための自動露光装置において、
前記基板の授受位置および前記露光処理する位置にそれ
ぞれ対面する複数の第1ホルダ部を配置して備える第1
ホルダユニットと、この第1ホルダユニットを回転停止
動作させるための回転駆動手段と、前記第1ホルダユニ
ットに隣り合って設けた第1露光機構とを備え、前記第
1ホルダ部は、基板を受け取り保持するための保持手段
を有し、前記第1露光機構は、マスクを保持するための
第1透光板を備え、前記第1ホルダユニットまたは前記
第1露光機構は、その少なくとも一方に、前記第1ホル
ダ部と前記第1透光板を当接方向に移動させるための第
1移動手段を有する自動露光装置として構成した。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is configured as follows to solve the above-mentioned problem. That is, in an automatic exposure apparatus for aligning a substrate and a mask and performing a predetermined pattern on the substrate through an optical system,
A first holder including a plurality of first holders disposed to face the substrate transfer position and the exposure processing position, respectively;
A holder unit; a rotation drive unit for stopping the rotation of the first holder unit; and a first exposure mechanism provided adjacent to the first holder unit, wherein the first holder unit receives a substrate. Holding means for holding, the first exposure mechanism includes a first light-transmitting plate for holding a mask, and the first holder unit or the first exposure mechanism has at least one of: An automatic exposure apparatus having a first moving means for moving the first holder portion and the first light transmitting plate in the contact direction is configured.

【0010】このように構成されることにより、搬入さ
れてくる基板は、複数ある内の一つの第1ホルダ部によ
り保持される。そして、基板を保持した第1ホルダ部
は、第1ホルダユニットが第1回転駆動手段により回転
させられ、第1露光機構のマスクを有する第1透光板に
対面する。そして、第1ホルダ部または第1透光板が第
1移動手段を介してマスクと基板を当接させ、整合作業
が行なわれた後に露光処理作業が行われる。なお、授受
位置とは、基板の搬入位置および搬出位置をいう。
[0010] With this configuration, the incoming substrate is held by one of the plurality of first holders. Then, the first holder unit holding the substrate faces the first light transmitting plate having the mask of the first exposure mechanism when the first holder unit is rotated by the first rotation driving means. Then, the first holder portion or the first light transmitting plate makes the mask and the substrate come into contact with each other via the first moving means, and after the alignment operation is performed, the exposure processing operation is performed. Note that the transfer position refers to a carry-in position and a carry-out position of the substrate.

【0011】また、基板とマスクを整合させ、前記基板
に所定パターンを、光学系を介して露光処理するための
第1露光ステージおよび第2露光ステージを備える自動
露光装置において、前記第1露光ステージは、複数の第
1ホルダ部を備える第1ホルダユニットと、この第1ホ
ルダユニットに隣り合って設けられた第1露光機構と、
前記第1ホルダユニットを回転停止動作させるための第
1回転駆動手段とを備え、前記第2露光ステージは、前
記第1ホルダユニットに隣り合って設けられ、複数の第
2ホルダ部を備える第2ホルダユニットと、前記第2ホ
ルダユニットに隣り合って設けられた第2露光機構と、
前記第2ホルダユニットを回転停止動作させるための第
2回転駆動手段とを備えている。
In an automatic exposure apparatus having a first exposure stage and a second exposure stage for aligning a substrate with a mask and exposing a predetermined pattern on the substrate via an optical system, the first exposure stage A first holder unit including a plurality of first holder units, a first exposure mechanism provided adjacent to the first holder unit,
A first rotation driving unit for stopping the rotation of the first holder unit, wherein the second exposure stage is provided adjacent to the first holder unit and includes a plurality of second holder units. A holder unit, a second exposure mechanism provided adjacent to the second holder unit,
Second rotation driving means for stopping the rotation of the second holder unit.

【0012】そして、前記両ホルダ部は、前記基板を受
け取り保持するための保持手段を有し、前記両露光機構
は、それぞれ第1マスクを保持するための第1透光板お
よび第2マスクを保持するための第2透光板を備え、前
記第1ホルダユニットまたは前記第1露光機構は、その
対面する位置で、前記第1ホルダ部または第1透光板の
少なくとも一方を当接方向に移動させるための第1移動
手段と、前記第1ホルダユニットまたは前記第2ホルダ
ユニットは、その対面する位置で、前記第1ホルダ部ま
たは前記第2ホルダ部の少なくとも一方を当接方向に移
動させ前記基板を反転して受け渡すための反転受渡手段
と、前記第2ホルダユニットまたは前記第2露光機構
は、その対面する位置で、前記第2ホルダ部または前記
第2透光板の少なくとも一方を当接方向に移動させるた
めの第2移動手段とを備える自動露光装置として構成し
た。
The two holders have holding means for receiving and holding the substrate, and the two exposure mechanisms respectively have a first light transmitting plate and a second mask for holding a first mask. A second translucent plate for holding the first holder unit or the first exposing mechanism, at a position facing the first translucent plate, at least one of the first holder unit and the first translucent plate in a contact direction. The first moving means for moving and the first holder unit or the second holder unit move at least one of the first holder unit or the second holder unit in a contact direction at a position facing the first holder unit or the second holder unit. The reversing delivery means for reversing and delivering the substrate and the second holder unit or the second exposure mechanism are provided at least at a position facing the second holder unit or the second light transmitting plate. It was also constructed as an automatic exposure apparatus and a second moving means for moving the one in contact direction.

【0013】このように構成されることにより、基板
(No1)を受け取った複数ある内の一つの第1ホルダ部
は、第1ホルダユニットが回転駆動手段により回転して
所定位置で停止することで、第1露光機構のマスクを保
持する第1透光板と対面する。そして、第1移動手段に
よりマスクと基板とが当接して整合作業および露光処理
作業が行なわれる。このとき基板の搬入位置に対面して
いる他の第1ホルダ部に、次の基板(No2)が受け渡さ
れる。そして、片面の露光作業が終了した基板(No1)
は、第1ホルダ部に保持された状態で第1回転駆動手段
により第2ホルダユニットの複数ある内の一つの第2ホ
ルダ部に対面させられる。さらに、反転受渡手段により
その第2ホルダ部に基板(No1)が反転した状態で受け
渡される。なお、このとき基板(No2)は第1透光板の
マスクに対面する位置で第1駆動手段により当接して整
合作業および露光処理作業が行なわれる。さらに、他の
第1ホルダ部は基板の搬入位置で基板(No3)を受け取
る。
[0013] With this configuration, one of the plurality of first holder units that has received the substrate (No. 1) is stopped at a predetermined position by the rotation of the first holder unit by the rotation driving means. And the first light transmitting plate that holds the mask of the first exposure mechanism. Then, the mask and the substrate are brought into contact with each other by the first moving means, and the alignment operation and the exposure processing operation are performed. At this time, the next substrate (No. 2) is delivered to another first holder portion facing the substrate loading position. Then, the substrate on which one-sided exposure operation has been completed (No. 1)
Is held by the first holder while facing the second holder of one of the plurality of second holders. Further, the substrate (No. 1) is delivered to the second holder portion in an inverted state by the inversion delivery means. At this time, the substrate (No. 2) is brought into contact with the first driving means at a position facing the mask of the first light transmitting plate, and the alignment operation and the exposure processing operation are performed. Further, the other first holder portion receives the substrate (No. 3) at the substrate loading position.

【0014】一方、第2ホルダユニットは、第2回転駆
動手段により回転して所定位置で停止して第2ホルダ部
を、第2露光機構のマスクを有する第2透光板に対面さ
せる。さらに、第2移動手段により第2ホルダ部の基板
(No1)と第2透光体のマスクが当接して整合作業およ
び露光作業が行なわれ、基板(No1)の裏面の露光作業
が完了する。そして、第2ホルダユニットは、回転駆動
手段により回転して所定位置で停止し基板(No1)を第
2ホルダ部から搬出側に搬出できる状態となる。このよ
うに、第1ホルダユニットの複数の第1ホルダ部および
第2ホルダユニットの複数の第2ホルダ部にそれぞれ基
板を保持して基板の受け取り、整合作業、露光処理作
業、反転作業、基板の受け渡しを行なっている。
On the other hand, the second holder unit is rotated by the second rotation driving means and stopped at a predetermined position, so that the second holder unit faces the second light transmitting plate having the mask of the second exposure mechanism. Further, the substrate (No. 1) of the second holder portion and the mask of the second translucent member are brought into contact with each other by the second moving means, so that the aligning operation and the exposure operation are performed, and the exposure operation on the back surface of the substrate (No. 1) is completed. Then, the second holder unit is rotated by the rotation driving means and stopped at a predetermined position, so that the substrate (No. 1) can be unloaded from the second holder unit to the unloading side. As described above, the substrate is held by the plurality of first holder units of the first holder unit and the plurality of second holder units of the second holder unit, and the substrate is received, the aligning operation, the exposure processing operation, the reversing operation, and the We are delivering.

【0015】また、前記自動露光装置の第1ホルダユニ
ットは、その複数の前記第1ホルダ部を、前記基板を搬
入側から受け取る第1位置と、前記第1透光板の対面す
る第2位置と、前記第2ホルダユニットの第2ホルダ部
と対面する第3位置と、前記第1位置と前記第3位置と
の間の第4位置とに配置し、さらに、前記第2ホルダユ
ニットは、その複数の前記第2ホルダ部を、前記第3位
置に対面する第5位置と、前記第2透光板と対面する第
6位置と、前記基板を搬出する位置に対面する第7位置
と、前記第5位置および前記第7位置との間の第8位置
に配置して備える構成とした。
[0015] The first holder unit of the automatic exposure apparatus may include a plurality of first holder portions, a first position for receiving the substrate from a loading side, and a second position for facing the first light transmitting plate. And a third position facing the second holder portion of the second holder unit, and a fourth position between the first position and the third position, and the second holder unit further comprises: A plurality of the second holder portions, a fifth position facing the third position, a sixth position facing the second light-transmitting plate, a seventh position facing a position where the substrate is carried out, It was configured to be provided at an eighth position between the fifth position and the seventh position.

【0016】このように構成されることにより、第1ホ
ルダユニットは、第1回転駆動手段により回転して停止
すると、基板を保持する第1ホルダ部が、搬入位置、第
1露光機構および第2ホルダユニットに対面する位置に
配置させることができる。また、第2ホルダユニット
は、第2回転駆動手段により回転して停止すると、基板
を保持する第2ホルダ部が、第1ホルダユニット、第2
露光機構および搬出位置に対面する位置に配置させるこ
とができる。
With this configuration, when the first holder unit is rotated and stopped by the first rotation driving means, the first holder unit holding the substrate is moved to the carry-in position, the first exposure mechanism, and the second exposure unit. It can be arranged at a position facing the holder unit. When the second holder unit is rotated and stopped by the second rotation driving unit, the second holder unit holding the substrate is moved to the first holder unit and the second holder unit.
It can be arranged at a position facing the exposure mechanism and the unloading position.

【0017】さらに、前記自動露光装置は、その基板の
搬入される位置において、前記第1ホルダユニットの第
1ホルダ部にその基板を受け渡すための受渡機構を設け
ると共に、前記基板の搬出される位置において前記第2
ホルダユニットの第2ホルダ部から前記基板を受け取る
ための受取機構を設ける構成とした。
Further, the automatic exposure apparatus is provided with a delivery mechanism for delivering the substrate to a first holder portion of the first holder unit at a position where the substrate is carried in, and the substrate is carried out. Said second position
The receiving mechanism for receiving the substrate from the second holder section of the holder unit is provided.

【0018】このように構成されることにより、基板を
受渡機構により第1ホルダ部に受け渡し、受取機構によ
り第2ホルダ部から基板を受け取ることができ、基板の
処理姿勢を自在に設定できる。
With this configuration, the substrate can be transferred to the first holder by the transfer mechanism, and the substrate can be received from the second holder by the receiving mechanism, and the processing posture of the substrate can be set freely.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照して説明する。なお、ここでは自動露光装置
は、その一例である基板の両面を連続して露光処理する
装置として説明する。図1は自動露光装置の要部を示す
平面図、図2は自動露光装置の要部を示す正面図、図3
は自動露光機構の要部を示す側面図、図4は(a),
(b)は自動露光装置の投入機構の平面図および側面
図、図5(a),(b)は自動露光装置の第1および第
2露光機構の整合機構を示す部分断面図および部分正面
図、図6は自動露光装置の透光板の正面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Here, the automatic exposure apparatus will be described as an example of an apparatus that continuously performs exposure processing on both surfaces of a substrate. FIG. 1 is a plan view showing main parts of the automatic exposure apparatus, FIG. 2 is a front view showing main parts of the automatic exposure apparatus, and FIG.
FIG. 4 is a side view showing a main part of the automatic exposure mechanism, and FIG.
5B is a plan view and a side view of a loading mechanism of the automatic exposure apparatus, and FIGS. 5A and 5B are a partial cross-sectional view and a partial front view showing an alignment mechanism of the first and second exposure mechanisms of the automatic exposure apparatus. FIG. 6 is a front view of a light transmitting plate of the automatic exposure apparatus.

【0020】図1ないし図3に示すように、自動露光装
置1は、基板Wが搬入される位置に設けた搬入部2と、
この搬入部2から基板Wを受け取りその基板Wの一面を
露光するための第1露光ステージAと、この第1露光ス
テージに隣り合って設け、基板Wの他面を露光処理する
ための第2露光ステージBと、この第2露光ステージB
から基板を受け取り搬出するための搬出部60と、両露
光ステージA,Bに紫外線を含む光を照射するための光
学系50とを備えている。
As shown in FIGS. 1 to 3, the automatic exposure apparatus 1 includes a loading section 2 provided at a position where a substrate W is loaded,
A first exposure stage A for receiving the substrate W from the loading unit 2 and exposing one surface of the substrate W, and a second exposure stage A provided adjacent to the first exposure stage for exposing the other surface of the substrate W Exposure stage B and second exposure stage B
And an optical system 50 for irradiating the exposure stages A and B with light including ultraviolet rays.

【0021】第1露光ステージAは、複数(ここでは4
基)の第1ホルダ11A〜11Dを備える第1ホルダユ
ニット10と、この第1ホルダユニット10を回転停止
させるための第1回転駆動手段18と、第1ホルダユニ
ット10の第1ホルダ11Bに対面して(隣り合って)
設けた第1露光機構20とを備えている。
The first exposure stage A has a plurality (here, four).
A first holder unit 10 including first base units 11A to 11D, a first rotation driving unit 18 for stopping the rotation of the first holder unit 10, and a first holder 11B of the first holder unit 10. Do (adjacent)
And a first exposure mechanism 20 provided.

【0022】また、第2露光ステージBは、第1ホルダ
ユニット10に、隣り合って設けた第2ホルダユニット
30と、この第2ホルダユニット30を回転停止動作さ
せるための第2回転駆動手段38と、第2ホルダユニッ
ト30の第2ホルダ部30Bに対面して(隣り合って)
設けた第2露光機構40と、第2ホルダユニット30の
第2ホルダ部30Cに対面して設けた基板Wの搬出部6
0とを備えている。
The second exposure stage B includes a second holder unit 30 provided adjacent to the first holder unit 10 and a second rotation driving means 38 for stopping the rotation of the second holder unit 30. With the second holder unit 30B of the second holder unit 30 facing (adjacent to)
The second exposure mechanism 40 provided and the unloading unit 6 for the substrate W provided facing the second holder unit 30C of the second holder unit 30
0.

【0023】図2および図4に示すように、搬入部2
は、基板Wを載置して所定位置まで送る送りローラ3
と、この送りローラ3に載置されている基板Wの端面を
押動して予備位置決め作業を行なう予備位置決め機構5
と、この予備位置決め機構5により予備位置決めされた
基板Wを送りローラ3から持ち上げるための昇降板4
と、この昇降板4により送りローラ3から持ち上げられ
た基板Wを吸着保持して垂直状態に立ち上げ第1ホルダ
部11Aに受け渡すための投入機構6とを備えている。
As shown in FIG. 2 and FIG.
Is a feed roller 3 on which the substrate W is placed and fed to a predetermined position.
And a pre-positioning mechanism 5 for pressing the end face of the substrate W placed on the feed roller 3 to perform pre-positioning work.
A lifting plate 4 for lifting the substrate W pre-positioned by the pre-positioning mechanism 5 from the feed roller 3
And a loading mechanism 6 for sucking and holding the substrate W lifted from the feed roller 3 by the elevating plate 4 to rise vertically and deliver it to the first holder portion 11A.

【0024】投入機構6は、基板Wを吸着するための吸
着パッド6aと、この吸着パッド6aを支持する吸着支
持部6bと、この吸着支持部6bを立ち上げるための立
上アーム6cと、この立上アーム6cを第1ホルダ部1
1A(11B〜11D)側に移動させる移動部6dを備
えている。なお、投入機構6は、ここでは、昇降板4と
別体に形成しているが、昇降板4の基端側を回動させる
ことで、第1ホルダ部11A(11B〜11D)に受け
渡すことができる構成としてもよい。
The loading mechanism 6 includes a suction pad 6a for sucking the substrate W, a suction support 6b for supporting the suction pad 6a, a rising arm 6c for raising the suction support 6b, and a The rising arm 6c is connected to the first holder 1
A moving unit 6d for moving to the 1A (11B to 11D) side is provided. Here, the loading mechanism 6 is formed separately from the elevating plate 4, but is transferred to the first holder portions 11A (11B to 11D) by rotating the base end side of the elevating plate 4. It is good also as a structure which can be performed.

【0025】第1ホルダユニット10は、図1ないし図
3に示すように、第1ホルダ部11A〜11Dの側部を
互いに隣接させて、断面十字型の躯体17の周面に配置
して構成されている。また、第1ホルダユニット10
は、上下の取付板10a,10bに回動軸が設けられて
おり、第1回転駆動手段18により各第1ホルダ部11
A〜11Dが回転して90度毎に停止するように構成さ
れている。なお、第1回転駆動手段18は、サーボモー
タなどの回転数を制御して精密な回転駆動を行なうこと
ができるものを使用すると都合がよい。
As shown in FIGS. 1 to 3, the first holder unit 10 is configured such that the side portions of the first holder portions 11A to 11D are arranged adjacent to each other and are arranged on the peripheral surface of a frame 17 having a cross-shaped cross section. Have been. Also, the first holder unit 10
Each of the first holder portions 11 is provided with a rotating shaft provided on upper and lower mounting plates 10a and 10b.
A to 11D are configured to rotate and stop every 90 degrees. Note that it is convenient to use the first rotation driving means 18 such as a servomotor which can control the number of rotations and perform precise rotation driving.

【0026】各第1ホルダ部11A〜11Dは、図1に
示すように、それぞれが搬入部2に対面する第1位置
と、第1露光機構20に対面する第2位置と、第2ホル
ダユニット30に対面する第3位置と、前記第1位置お
よび第3位置との間である第4位置に対面するように配
置されている。そして、図3に示すように、各第1ホル
ダ部11A〜11Dは、垂直方向に支持され基板Wを吸
着保持するための保持手段としての吸着孔13を有する
平板12と、この平板12を保持する枠体部14と、こ
の枠体部14を第1ホルダユニット10の躯体17側に
前進後退自在に支持するスライド支持部15と、平板1
2の下端側に突出して設けられた押動ピン16とを備え
ている。なお、枠体部14は、基板Wを受け渡す動作を
行なうときに、その基板Wに対する衝撃を最小限にする
ために、緩衝部を備えていると都合がよい。
As shown in FIG. 1, each of the first holder portions 11A to 11D has a first position facing the carry-in portion 2, a second position facing the first exposure mechanism 20, and a second holder unit. It is arranged to face a third position facing 30 and a fourth position between the first position and the third position. Then, as shown in FIG. 3, each of the first holder portions 11A to 11D is vertically supported and has a flat plate 12 having a suction hole 13 as a holding means for sucking and holding the substrate W, and holds the flat plate 12. Frame part 14, a slide support part 15 for supporting the frame part 14 to the frame 17 side of the first holder unit 10 so as to be able to move forward and backward, and a flat plate 1.
2 and a push pin 16 protruding from the lower end side. Note that, when performing the operation of transferring the substrate W, the frame body portion 14 is preferably provided with a buffer portion in order to minimize an impact on the substrate W.

【0027】平板12は、真空ポンプ、リーク弁等(図
示せず)を適宜位置に備えており、吸着孔(溝などの凹
部も含む)13を介して基板Wを垂直状態で吸着保持す
ることができるように構成されている。また、図2に示
すように、基板Wの反転受渡位置である第2ユニットホ
ルダ30と対面する位置に各第1ホルダ部11A〜11
Dが到来すると、反転受渡手段27の一方のホルダ駆動
部28における係合部28aに、第1ホルダ部11Aの
押動ピン16は、係合するように構成されている。
The flat plate 12 is provided with a vacuum pump, a leak valve and the like (not shown) at appropriate positions, and sucks and holds the substrate W in a vertical state through suction holes (including recesses such as grooves) 13. It is configured to be able to. Further, as shown in FIG. 2, each of the first holder portions 11A to 11A is located at a position facing the second unit holder 30, which is the reverse transfer position of the substrate W.
When D arrives, the pushing pin 16 of the first holder portion 11A is configured to engage with the engaging portion 28a of the one holder driving portion 28 of the reversing delivery means 27.

【0028】スライド支持部15は、図1および図2に
示すように、平板12の上下位置でその平板12の左右
端に設けた支持脚がガイド部をスライドするように構成
されている。なお、スライド支持部15は、常に躯体1
7側に各第1ホルダ部11A〜11Dを付勢させるため
の弾性部材(スプリングなど)(図示せず)を備えてい
る。
As shown in FIGS. 1 and 2, the slide support portion 15 is configured such that support legs provided on the left and right ends of the flat plate 12 at upper and lower positions of the flat plate 12 slide on the guide portion. Note that the slide support 15 is always
An elastic member (such as a spring) (not shown) for urging each of the first holder portions 11A to 11D is provided on the side 7.

【0029】そのため、押動ピン15を介して各第1ホ
ルダ11A〜11Dが前進移動した後に、躯体17側に
おける基の位置に、その第1ホルダ11A(11B〜1
1D)が後退移動する場合は、ホルダ駆動部28の係合
部28aの動作を、躯体17に移動させれば、各第1ホ
ルダ部11A〜11Dがスライド支持部15の弾性部材
(図示せず)により後退移動する。
For this reason, after each of the first holders 11A to 11D moves forward through the push pin 15, the first holder 11A (11B to 1B) is moved to the base position on the frame 17 side.
1D), when the operation of the engaging portion 28a of the holder driving portion 28 is moved to the frame 17, the first holder portions 11A to 11D can be moved by the elastic members (not shown) of the slide supporting portion 15. ) To move backward.

【0030】なお、前記した反転受渡手段27は、第1
ホルダ部11A(11B〜11D)と第2ホルダ部31
A(31B〜31D)の対面する位置の下方に、ホルダ
駆動部28,29とを備えている。そして、各ホルダ駆
動部28,29は、押動ピン16,36を係合する係合
部28a,29aと、この係合部28a,29aに接続
されるロット部28b,29bと、このロット部28
b,29bを作動させるシリンダ部28c、29cとを
備えている。そして、この反転受渡手段27は、第1ホ
ルダ部11A(11B〜11D)と第2ホルダ部31A
(31B〜31D)の対面する位置に配置することで、
各ホルダ部(11A〜11D、31A〜31D)の全て
が前進後進移動する手段を備えることがなく都合がよ
い。
It should be noted that the above-mentioned reversal delivery means 27 is provided with the first
Holder 11A (11B-11D) and second holder 31
Holder driving units 28 and 29 are provided below the position facing A (31B to 31D). Each of the holder driving units 28 and 29 includes engaging portions 28a and 29a for engaging the push pins 16 and 36, lot portions 28b and 29b connected to the engaging portions 28a and 29a, and lot portions 28b and 29b. 28
b and 29b for operating cylinders 28c and 29b. The reversing / transfer means 27 includes a first holder 11A (11B to 11D) and a second holder 31A.
By arranging them at the positions facing (31B to 31D),
All the holder portions (11A to 11D, 31A to 31D) are convenient because they do not have a means for moving forward and backward.

【0031】なお、第2ホルダユニット30の第2ホル
ダ部31A〜31Dにおける配置以外の構成は、前記し
た第1ホルダユニット10における構成と、同じ構成で
あるため説明を省略する。また、第2ホルダ部31A〜
31Dは、第1ホルダユニットに対面する第5位置と、
第2露光機構40に対面する第6位置と、搬出部60に
対面する第7位置と、前記第5位置および第7位置の間
の第8位置に対面するように配置されている。
The configuration of the second holder unit 30 other than the arrangement in the second holder portions 31A to 31D is the same as the configuration of the first holder unit 10 described above, and thus the description thereof is omitted. Also, the second holder portions 31A-
31D is a fifth position facing the first holder unit;
It is arranged so as to face a sixth position facing the second exposure mechanism 40, a seventh position facing the unloading section 60, and an eighth position between the fifth position and the seventh position.

【0032】つぎに、図1および図3に示すように、第
1露光機構20は、マスクM(第1マスク)を保持する
透光板21(第1透光板)と、この透光板21を支持す
ると共に整合移動させる整合機構22と、この整合機構
22を支持する支持枠体部23と、この支持枠体部23
の所定位置に設けた撮像手段24とを備えている。そし
て、この第1露光機構20は、対面する第1ホルダ部1
1A(11B〜11D)側に透光板21を移動させるた
めの第1移動手段25をここでは備えている。
Next, as shown in FIGS. 1 and 3, the first exposure mechanism 20 includes a light transmitting plate 21 (first light transmitting plate) for holding a mask M (first mask), An alignment mechanism 22 for supporting and aligning and moving the support frame 21; a support frame 23 for supporting the alignment mechanism 22;
And imaging means 24 provided at a predetermined position. The first exposure mechanism 20 includes a first holder unit 1 facing the first exposure unit 20.
Here, a first moving unit 25 for moving the light transmitting plate 21 to the 1A (11B to 11D) side is provided here.

【0033】図5(a)、(b)に示すように、透光板
21は、透光板本体21bと、この透光板本体21bの
外周に設けられたフレーム体21aと、透光板本体21
bの所定位置にマスクMを保持するための保持機構(図
示せず)と、マスクMの周囲に設けられた土手ゴム(基
板WとマスクMを真空吸着するためのシール部材)21
cから構成されている。そして、透光板21は、そのフ
レーム体21aの位置に設けられた整合機構22によ
り、マスクMの位置をX,Y,θ方向に整合移動自在と
なるように構成されている。
As shown in FIGS. 5A and 5B, the light transmitting plate 21 includes a light transmitting plate main body 21b, a frame body 21a provided on the outer periphery of the light transmitting plate main body 21b, and a light transmitting plate. Body 21
b, a holding mechanism (not shown) for holding the mask M at a predetermined position, and a bank rubber (seal member for vacuum-sucking the substrate W and the mask M) provided around the mask M 21
c. The translucent plate 21 is configured so that the position of the mask M can be aligned and moved in the X, Y, and θ directions by an alignment mechanism 22 provided at the position of the frame body 21a.

【0034】整合機構22は、その一端がフレーム体2
1aに支持され、その他端が支持枠体部側に支持されて
いる。この整合機構22は、図5(a)、(b)に示す
ように、フレーム体21aに固設されたXレール基台2
2aと、このXレール基台22aに設けられたX方向レ
ール22bと、このX方向レール22bにスライド自在
に支持されるYレール基台22cと、このYレール基台
22cに設けられる駆動モータ22dと、Yレール基台
22cにスライド自在に支持されるY方向レール22e
と、このY方向レール22eを固定する支持基台22f
とを備えている。そして、支持基台22fは、その内部
に配置した回動支軸22gと、この回動支軸22gに軸
着された回動部22hと、この回動部22hを回動自在
に支持すると共に透光板21に固定支持される回動固定
部22jとを備えている。
The alignment mechanism 22 has one end thereof connected to the frame 2.
1a, and the other end is supported on the support frame portion side. As shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b), the alignment mechanism 22 includes an X-rail base 2 fixed to a frame body 21a.
2a, an X-direction rail 22b provided on the X-rail base 22a, a Y-rail base 22c slidably supported by the X-direction rail 22b, and a drive motor 22d provided on the Y-rail base 22c. And a Y-direction rail 22e slidably supported by the Y-rail base 22c.
And a support base 22f for fixing the Y-direction rail 22e.
And The support base 22f supports a rotation support shaft 22g disposed therein, a rotation portion 22h mounted on the rotation support shaft 22g, and the rotation portion 22h rotatably. A rotation fixing portion 22j fixedly supported by the light transmitting plate 21.

【0035】図6に示すように、整合機構22の駆動モ
ータ22dは、Yレール基台22cをX方向に整合移動
させることができる向きに配置されるものと、また、支
持基台22fをY方向に整合移動させることができる向
きに配置されるものとがある。そして、これら駆動モー
タ22dの移動方向を適宜組み合わせることで、マスク
Mの位置をθ方向にも整合移動させている。なお、駆動
モータ22dは、ここでは3箇所設置する構成として説
明したが、マスクMの整合移動をX,Y,θ方向に移動
できれば、2箇所あるいは4箇所以上であってもよい。
As shown in FIG. 6, the drive motor 22d of the aligning mechanism 22 is arranged so that the Y-rail base 22c can be aligned and moved in the X direction. Some are arranged in a direction that can be aligned and moved. By appropriately combining the moving directions of the drive motors 22d, the position of the mask M is also moved in the θ direction. Although the drive motor 22d has been described as being provided at three locations here, two or four or more drive motors may be provided as long as the alignment movement of the mask M can be moved in the X, Y, and θ directions.

【0036】図3に示すように、支持枠体部23は、整
合機構22の他端側を支持するための取付枠23aと、
この取付枠23aに設けられる撮像手段24の移動レー
ルなどを備えている。
As shown in FIG. 3, the support frame 23 includes a mounting frame 23a for supporting the other end of the alignment mechanism 22,
A moving rail of the imaging means 24 provided on the mounting frame 23a is provided.

【0037】図2および図3に示すように、撮像手段2
4は、マスクMのマスクマークMm(少なくとも2箇
所)と、基板WのワークマークWm(少なくとも2箇
所)とを撮像するためのCCDカメラなどを備えてお
り、図示しない制御手段に、撮像したマスクマークMm
およびワークマークWmの位置情報を検知して演算させ
るように接続されている。この撮像手段24からの位置
情報に基づいて整合機構22の各駆動モータ22dを、
駆動制御してマスクMの位置を整合移動させている。な
お、図2に示すように、両マークWm,Mmは、作業者
がディスプレイDにより視認できるように構成されてい
る。
As shown in FIG. 2 and FIG.
Reference numeral 4 denotes a CCD camera or the like for taking an image of the mask mark Mm (at least two places) of the mask M and the work mark Wm (at least two places) of the substrate W. Mark Mm
It is connected to detect and calculate the position information of the work mark Wm. Each drive motor 22d of the matching mechanism 22 is
The position of the mask M is moved by the drive control. In addition, as shown in FIG. 2, both marks Wm and Mm are configured so that an operator can visually recognize the marks on the display D.

【0038】図3に示すように、第1移動手段25は、
透光板21のマスクMを基板W側に移動させるためのも
のであり、支持枠部23の周縁位置に取り付けられた支
持脚25aと、この支持脚25aを保持して案内する案
内部25bと、この案内部25bを介して支持脚25a
を前進後退移動させるためのモータ25cなどを備えて
いる。なお、第1移動手段25は、透光板21のマスク
Mを基板Wに当接する際に衝撃を緩和するための弾性部
材(図示せず)を案内部25bと支持脚25aとの適正
位置に備えている。
As shown in FIG. 3, the first moving means 25 comprises:
It is for moving the mask M of the light transmitting plate 21 to the substrate W side, and includes a support leg 25a attached to a peripheral position of the support frame portion 23, and a guide portion 25b for holding and guiding the support leg 25a. , Support leg 25a through this guide portion 25b.
Is provided with a motor 25c for moving the motor forward and backward. The first moving means 25 moves an elastic member (not shown) for reducing an impact when the mask M of the light transmitting plate 21 contacts the substrate W at an appropriate position between the guide portion 25b and the support leg 25a. Have.

【0039】なお、第2移動手段38および第2露光機
構40についても、第1移動手段18および第1露光機
構20と同様の機構であるため、説明を省略する。
The second moving means 38 and the second exposing mechanism 40 are the same as the first moving means 18 and the first exposing mechanism 20 and will not be described.

【0040】図1および図3に示すように、光学系50
は、所定波長の紫外線を含む光を照射する放電灯51
と、この放電灯51に取り付けられる楕円反射鏡52
と、放電灯51および楕円反射鏡52からの照射光の光
路を変える第1反射鏡53と、この第1反射鏡53から
の反射光を受光して光(の分布)を均一にするフライア
イレンズ54と、このフライアイレンズ54から照射さ
れる光を一方と他方に振り分けて反射する第2反射鏡5
5と、この第2反射鏡55からの光を平行光として基板
W側に反射するコリメータ反射鏡56,57とを備えて
いる。
As shown in FIG. 1 and FIG.
Is a discharge lamp 51 for irradiating light containing ultraviolet light of a predetermined wavelength.
And an elliptical reflecting mirror 52 attached to the discharge lamp 51
A first reflecting mirror 53 that changes the optical path of the irradiation light from the discharge lamp 51 and the elliptical reflecting mirror 52; and a fly-eye that receives the reflected light from the first reflecting mirror 53 and makes the light (distribution) uniform. A lens 54 and a second reflecting mirror 5 for distributing and radiating light emitted from the fly-eye lens 54 to one and the other.
5 and collimator reflecting mirrors 56 and 57 for reflecting the light from the second reflecting mirror 55 as parallel light to the substrate W side.

【0041】図1および図2に示すように、基板Wの搬
出部60は、送りローラ61と、この送りローラ61の
下方から立ち上がり、その送りローラ61側に対面して
停止している第2ホルダ31A(31B〜31D)から
基板Wを受け取るための受取機構62とを備えている。
そして、受取機構62は、基板Wを吸着保持するための
吸着部63と、この吸着部63を支持する支持アーム6
4と、この支持アーム64を回動させる回動機構(図示
せず)などを有している。なお、吸着部63は、送りロ
ーラ61の間に入り込むことができる状態の基部(板状
も含む)に吸着パッド(吸着孔)を有するように構成さ
れている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the unloading section 60 for the substrate W is provided with a feed roller 61 and a second stop which rises from below the feed roller 61 and stops facing the feed roller 61. And a receiving mechanism 62 for receiving the substrate W from the holder 31A (31B to 31D).
The receiving mechanism 62 includes a suction unit 63 for holding the substrate W by suction, and a support arm 6 for supporting the suction unit 63.
4 and a rotation mechanism (not shown) for rotating the support arm 64. The suction section 63 is configured to have a suction pad (suction hole) on a base (including a plate shape) in a state where the suction section 63 can enter between the feed rollers 61.

【0042】つぎに、図7ないし図9を中心に基板Wの
処理状態を説明する。はじめに、図2および図7(a)
に示すように、基板Wは、送りローラ3の上に載置され
所定位置まで送られて停止させられると、予備位置決め
機構5の動作により端面を押動されて予備位置決め作業
が施される。そして、昇降板4により基板Wは、送りロ
ーラ3から持ち上げられ、投入機構6に受け渡される。
図2および図7(b)、(c)に示すように、投入機構
6は、その吸着パッド6aに基板Wを受け取ると、立上
アーム6cを垂直に立ち上げて移動部6dにより第1ホ
ルダ部11Aに基板Wを受け渡す。そして、図7(d)
に示すように、基板Wを受け渡した立上アーム6cは、
後退して基の位置に戻り待機する。
Next, the processing state of the substrate W will be described mainly with reference to FIGS. First, FIG. 2 and FIG.
As shown in (1), when the substrate W is placed on the feed roller 3 and sent to a predetermined position and stopped, the end face is pushed by the operation of the pre-positioning mechanism 5 to perform pre-positioning work. Then, the substrate W is lifted from the feed roller 3 by the elevating plate 4 and delivered to the loading mechanism 6.
As shown in FIGS. 2 and 7 (b) and 7 (c), when the loading mechanism 6 receives the substrate W on the suction pad 6a, the loading mechanism 6 vertically raises the rising arm 6c and moves the first holder by the moving unit 6d. The substrate W is transferred to the unit 11A. Then, FIG.
As shown in the figure, the rising arm 6c that has delivered the substrate W
Retreat to the original position and wait.

【0043】図2および図7(e)に示すように、基板
Wを受け取った第1ホルダ部11Aは、第1ホルダユニ
ット10が第1回転駆動手段18により90度回転する
ことで第1露光機構20の対面する位置に停止する。図
3および図7(f)に示すように、第1露光機構20
は、第1ホルダ部11Aが対面する位置で停止すると、
第1移動手段25により透光板21を前進移動させ、マ
スクMと基板Wを当接させ図示しない密着機構(真空密
着機構)により密着状態とする。
As shown in FIG. 2 and FIG. 7 (e), the first holder 11A receiving the substrate W is rotated by the first rotation unit 18 by 90 degrees by the first holder unit 10 to perform the first exposure. It stops at the position where the mechanism 20 faces. As shown in FIGS. 3 and 7F, the first exposure mechanism 20
Stops at the position where the first holder 11A faces,
The light transmitting plate 21 is moved forward by the first moving means 25, and the mask M and the substrate W are brought into contact with each other and brought into close contact by a contact mechanism (vacuum contact mechanism) not shown.

【0044】そして、図3に示すように、撮像手段24
により両マークWm、Mm(図2参照)の整合状態を認
識する。ここで両マークWm、Mmが許容範囲外のズレ
を生じていた場合は、基板WとマスクMの密着状態を解
除して整合機構22によりマスクMの位置を整合移動さ
せる。そして、再び基板WとマスクMを密着させ、撮像
手段24により確認し、許容範囲内であれば、光学系5
0を介して露光処理作業を行なう。露光処理作業が終了
すると第1露光機構は、図7(g)に示すように、第1
移動手段25により第1ホルダ部11Aより離間して基
の位置に戻って待機する。
Then, as shown in FIG.
Thus, the matching state of both marks Wm and Mm (see FIG. 2) is recognized. If the marks Wm and Mm are out of the allowable range, the close contact between the substrate W and the mask M is released, and the position of the mask M is moved by the alignment mechanism 22. Then, the substrate W and the mask M are again brought into close contact with each other and checked by the image pickup means 24.
Exposure processing operation is performed via the “0”. When the exposure processing operation is completed, the first exposure mechanism moves the first exposure mechanism as shown in FIG.
The moving means 25 separates from the first holder 11A and returns to the original position and waits.

【0045】一方、図7(e)〜(g)に示すように、
第1ホルダ部11Aが、第1露光機構20の位置に配置
されると、投入部2に配置する次の第1ホルダ部11B
は、前記したような予備位置決め作業が行なわれた次の
基板Wを投入機構6により受け渡されて受け取る。
On the other hand, as shown in FIGS.
When the first holder unit 11A is arranged at the position of the first exposure mechanism 20, the next first holder unit 11B arranged in the input unit 2
Is transferred and received by the loading mechanism 6 after the substrate W on which the preliminary positioning operation as described above has been performed.

【0046】図7(g),(h)および図3に示すよう
に、第1露光機構20が基の位置に戻ると、第1ホルダ
ユニット10が、第1回転駆動手段18により90度回
転することで、第1ホルダ部11Aを、第2ホルダユニ
ット30の第2ホルダ部31Aと対面する位置に配置す
る。このとき、第1ホルダ部11Bは、次の基板Wを保
持して第1露光機構20に対面する位置に配置され、さ
らに、第1ホルダ部11Cは、基板Wの投入部2に対面
する位置に配置される。
As shown in FIGS. 7 (g), (h) and FIG. 3, when the first exposure mechanism 20 returns to the original position, the first holder unit 10 is rotated by 90 degrees by the first rotation driving means 18. By doing so, the first holder 11A is arranged at a position facing the second holder 31A of the second holder unit 30. At this time, the first holder unit 11B is disposed at a position that holds the next substrate W and faces the first exposure mechanism 20, and further, the first holder unit 11C is positioned at a position that faces the loading unit 2 of the substrate W. Placed in

【0047】図7(h),図8(a)および図2に示す
ように、片面を露光処理した基板Wを保持する第1ホル
ダ部11Aと第2ホルダ部31Aとが対面すると、その
押動ピン16,36が反転受渡手段27の係合部28
a,29aに係合した状態となる。そのため、反転受渡
手段27のホルダ駆動部28,29を作動させることに
より、係合部28a,29aが押動ピン16,36を前
方に移動させ、両ホルダ部11A,31Aとが基板Wを
受け渡すことができるように移動する。すなわち、両ホ
ルダ部11A,31Aの両者が、基板Wに当接する状態
に移動する。なお、このとき、基板Wに対する衝撃を最
小限にするための緩衝部を備えていると都合がよい。
As shown in FIG. 7 (h), FIG. 8 (a) and FIG. 2, when the first holder 11A and the second holder 31A holding the substrate W whose one side has been exposed face each other, the pressing is performed. The moving pins 16 and 36 are engaged with the engaging portions 28 of
a, 29a. Therefore, by operating the holder driving portions 28 and 29 of the reversing delivery means 27, the engaging portions 28a and 29a move the push pins 16 and 36 forward, and the holders 11A and 31A receive the substrate W. Move to be able to pass. That is, both of the holder portions 11A and 31A move to a state where they come into contact with the substrate W. At this time, it is convenient to provide a buffer for minimizing the impact on the substrate W.

【0048】図8(b)および図2に示すように、基板
Wを受け渡した両ホルダ部11A,31Aは、反転受渡
手段27のホルダ駆動部28,29により係合部28
a,29aをそれぞれの躯体17,37側に移動させる
ことで、スライド支持部15,35に備えている弾性部
材(図示せず)により、それぞれ後退移動する。
As shown in FIGS. 8B and 2, the holder portions 11 A and 31 A which have delivered the substrate W are engaged with the engaging portions 28 by the holder driving portions 28 and 29 of the reverse transfer means 27.
By moving a and 29a toward the respective frame bodies 17 and 37, the elastic members (not shown) provided on the slide support portions 15 and 35 retreat respectively.

【0049】このとき、図8(a)に示すように、第1
ホルダ部11Bと第1露光機構20は、前記した動作に
より次の基板Wを露光処理している。さらに、第1ホル
ダ部11Cが3枚目の基板Wを投入機構6から受け取っ
ている。
At this time, as shown in FIG.
The holder 11B and the first exposure mechanism 20 perform exposure processing on the next substrate W by the above-described operation. Further, the first holder unit 11 </ b> C receives the third substrate W from the loading mechanism 6.

【0050】図8(c)および図1に示すように、第1
ホルダ部11Aから第2ホルダ部31Aに基板Wの受け
渡しが行なわれると、基板Wはその表裏が反転された状
態となっている。そして、第2ホルダユニット30は、
第2回転駆動手段38により90度回転して停止する。
そのため、図8(d)に示すように、基板Wを保持する
第2ホルダ部31Aは、第2露光機構40に対面する位
置に配置される。そして、第2露光機構は、第2移動手
段45を介してマスクMを有する透光板41を基板Wに
当接し、整合作業(図7(f)および図3で説明した動
作と同じ)を行ない、つぎに露光処理作業を行なう。こ
のとき、図1に示すように、光学系50からの光照射
は、第2反射鏡の角度を変えることで平行光を第2露光
機構40側に振り向けている。
As shown in FIG. 8 (c) and FIG.
When the substrate W is transferred from the holder 11A to the second holder 31A, the substrate W is in a state where the substrate W is turned upside down. And the second holder unit 30
The second rotation drive means 38 rotates 90 degrees and stops.
Therefore, as shown in FIG. 8D, the second holder 31A holding the substrate W is arranged at a position facing the second exposure mechanism 40. Then, the second exposure mechanism contacts the light transmitting plate 41 having the mask M with the substrate W via the second moving unit 45, and performs the alignment operation (the same operation as that described with reference to FIGS. 7F and 3). Then, an exposure processing operation is performed. At this time, as shown in FIG. 1, the light irradiation from the optical system 50 directs the parallel light toward the second exposure mechanism 40 by changing the angle of the second reflecting mirror.

【0051】図8(d)に示すように、第2ホルダユニ
ット30で露光処理が行なわれている間に、すでに片面
の露光処理を終えたつぎの基板Wを保持する第1ホルダ
部11Bが、第1回転駆動手段18を介して第2ホルダ
ユニット30の第2ホルダ部31Bに対面する位置に配
置される。そして、3枚目の基板Wを保持している第1
ホルダ部11Cが、第1露光機構20と対面する位置に
配置される。また、投入部2の対面する位置の第1ホル
ダ部11Dは、あらたな基板Wを投入機構6により受け
渡される。
As shown in FIG. 8D, while the exposure processing is being performed in the second holder unit 30, the first holder portion 11B that holds the next substrate W that has already been subjected to the exposure processing on one side is formed. The second holder unit 30 is disposed at a position facing the second holder unit 31B via the first rotation drive unit 18. Then, the first substrate W holding the third substrate W
The holder unit 11C is arranged at a position facing the first exposure mechanism 20. Further, a new substrate W is transferred by the loading mechanism 6 to the first holder portion 11 </ b> D at a position facing the loading section 2.

【0052】そして、図8(e)および図3に示すよう
に、第1ホルダ部11Bが、保持する基板Wを、図8
(a)で説明した動作により第2ホルダ31Bに表裏反
転した状態で受け渡す。第2ホルダユニット30の第2
ホルダ31A,31Bでのそれぞれの露光処理および反
転受渡処理が終了すると、第2回転駆動手段38により
第2ホルダユニット30は、90度回転して基板Wの両
面を露光処理し終わった基板Wを保持する第2ホルダ3
1Aを搬出部に対面させる位置に配置する。そして、図
8(f)および図3に示すように、搬出部60に対面す
る位置の第2ホルダ部31Aは、待機していた受渡機構
62の支持アーム64が回動機構(図示せず)により回
動して吸着部63に基板Wを受け渡す。基板Wを受け取
った受渡機構62は、送りローラ61に基板Wを載置し
て、基の位置に戻って受渡作業を終了する。
Then, as shown in FIG. 8E and FIG. 3, the substrate W held by the first holder 11B is
By the operation described in (a), it is delivered to the second holder 31B in a state of being turned upside down. The second of the second holder unit 30
When the respective exposure processing and the reversal delivery processing in the holders 31A and 31B are completed, the second holder unit 30 rotates the substrate W by 90 degrees by the second rotation driving unit 38 to remove the substrate W on which both surfaces of the substrate W have been exposed. Second holder 3 to be held
1A is arranged at a position facing the unloading section. Then, as shown in FIG. 8F and FIG. 3, the second holder portion 31A at the position facing the unloading portion 60 is configured such that the support arm 64 of the transfer mechanism 62, which has been waiting, is rotated by a rotation mechanism (not shown). To transfer the substrate W to the suction section 63. The delivery mechanism 62 that has received the substrate W places the substrate W on the feed roller 61, returns to the original position, and ends the delivery operation.

【0053】なお、図8(e)、(f)に示すように、
第2ホルダ部31Aの基板を受渡機構62が受け取って
いる際に、第1ホルダユニット10側では第1ホルダ部
11Cが保持している基板Wに、整合作業および露光処
理作業が施される。それと共に、搬入部2からあらたな
基板Wが第1ホルダ部11Dに受け渡される。
As shown in FIGS. 8E and 8F,
When the delivery mechanism 62 is receiving the substrate of the second holder 31A, the alignment and exposure processing operations are performed on the substrate W held by the first holder 11C on the first holder unit 10 side. At the same time, a new substrate W is transferred from the loading unit 2 to the first holder unit 11D.

【0054】なお、光学系50は、その第2反射鏡54
の動作により第1露光機構20および第2露光機構40
に、交互に平行光を照射して一方づつ露光処理作業を行
なう構成としており、必要に応じて放電灯51からの照
射光を遮断する必要がある場合は、シャッター機構(図
示せず)により行なう構成としてもよい。
The optical system 50 includes a second reflecting mirror 54.
The first exposure mechanism 20 and the second exposure mechanism 40
The exposure operation is performed one by one by alternately irradiating parallel light. When it is necessary to shut off the irradiation light from the discharge lamp 51 as necessary, it is performed by a shutter mechanism (not shown). It may be configured.

【0055】このように、基板Wが各第1ホルダ部11
A〜11Dおよび第2ホルダ31A〜31Dに順次保持
され、両露光機構20,40により整合作業および露光
処理作業が行なわれ、対面する第1ホルダユニット10
と第2ホルダユニット30の間では反転受渡手段27に
より基板Wが反転して受け渡され、搬出部60から受渡
機構62を介して送りローラ61に受け渡された後に搬
出されることになる。
As described above, the substrate W is mounted on each of the first holder portions 11.
A to 11D and the second holders 31A to 31D are sequentially held, and the aligning operation and the exposure processing operation are performed by the two exposure mechanisms 20 and 40.
The substrate W is transferred between the second holder unit 30 and the second holder unit 30 by being turned over by the reversing and transferring means 27, transferred from the unloading unit 60 to the feed roller 61 via the transfer mechanism 62, and then unloaded.

【0056】そのため、それぞれの位置で作業が常に行
なわれることになり、搬入から搬出までの間に無駄な時
間を最小限に抑えて一連の露光に伴う作業を行なうこと
が可能となる。また、両露光機構20,40の位置での
露光処理作業に費やされる時間は、他の作業時間と比べ
ると一番多くかかるため、両露光機構20,40による
動作時間を基準として他の作業を行なうようにすれば、
時間をロスすることがない。
Therefore, the work is always performed at each position, and it is possible to perform a series of exposure-related work while minimizing wasted time from carry-in to carry-out. In addition, since the time spent for the exposure processing work at the positions of the two exposure mechanisms 20 and 40 is the largest compared with the other work time, other work is performed based on the operation time by the two exposure mechanisms 20 and 40. If you do it,
No time is lost.

【0057】なお、本発明における各ホルダ部の配置
は、第1位置から第4位置までとして説明したが、躯体
の構成を五角形として各ホルダ部を第1位置から第5位
置(第6位置から第10位置)までの五箇所とし、整合
作業と露光処理作業を別々の場所で行なう構成としても
構わない。
Although the arrangement of each holder in the present invention has been described as being from the first position to the fourth position, the structure of the skeleton is pentagonal and each holder is moved from the first position to the fifth position (from the sixth position). There may be a configuration in which the alignment work and the exposure processing work are performed at different places, with five places up to the tenth position).

【0058】また、自動露光装置は、その構成を、搬入
部と、第1ホルダユニットと、第1露光機構と、搬出部
とからなるものであれば、その第1ホルダユニットに備
える第1ホルダ部は三角形(第1位置から第三位置)の
躯体に備えられてもよい。
Further, if the automatic exposure apparatus comprises a carry-in section, a first holder unit, a first exposure mechanism, and a carry-out section, a first holder provided in the first holder unit is provided. The portion may be provided on a skeleton of a triangle (from the first position to the third position).

【0059】さらに、本発明における自動露光装置は、
基板を垂直にした状態で搬送露光を行なう構成として述
べたが、基板Wを水平な状態として構成することも可能
である。また、自動露光装置は、両面自動露光装置とし
て説明したが、使用態様によっては、搬入、第1露光ス
テージ、光学系および搬出部を全体の構成として用いて
も構わない。
Further, the automatic exposure apparatus according to the present invention
Although the transport exposure is performed in a state where the substrate is vertical, the substrate W may be configured in a horizontal state. Although the automatic exposure apparatus has been described as a double-sided automatic exposure apparatus, the loading, the first exposure stage, the optical system, and the unloading section may be used as an entire configuration depending on the use mode.

【0060】さらに、本発明における本装置は、基板を
垂直方向で搬送、露光する場合は、搬入部に予備位置決
め機構を備えていることから、整合機構での整合作業が
迅速にかつ精度よく行なうことができる。
Further, in the apparatus according to the present invention, when the substrate is transported and exposed in the vertical direction, since the carry-in portion is provided with the preliminary positioning mechanism, the aligning operation by the aligning mechanism is performed quickly and accurately. be able to.

【0061】また、本発明における各ホルダ部の基板を
保持する手段は、真空吸着を例示して説明したが、他の
負圧吸着手段としてベルヌーイ吸着手段(エジェクター
機構など(この場合は、基板との密着度が小さくても基
板を吸着保持、移動できる))であることや、また、機
械的な支持機構であっても構わない。さらに、マスクお
よび基板とを撮像手段で撮像する際、あるいは、露光処
理する際は、真空密着以外の他の方法で密着させる構成
としてもよく、また、プロキシミテの方式であっても構
わないものである。さらに、整合作業は、マスク側を整
合移動させる構成としたが、基板側を整合移動させる構
成としてもよい。
In the present invention, the means for holding the substrate in each holder portion has been described by exemplifying vacuum suction. However, other negative pressure suction means such as Bernoulli suction means (ejector mechanism or the like (in this case, Can be held and moved even if the degree of adhesion of the substrate is small) or a mechanical support mechanism. Further, when the mask and the substrate are imaged by the imaging means, or when the exposure processing is performed, the mask and the substrate may be adhered by a method other than the vacuum adhesion, or a proximity method may be used. is there. Further, in the alignment operation, the mask side is aligned and moved, but the substrate side may be aligned and moved.

【0062】[0062]

【発明の効果】本発明は、以上のように構成しているた
め以下の優れた効果を奏する。 (1)自動露光装置は、基板を複数ある内の一つの第1
ホルダ部に受け取り、第1回転駆動手段により第1ホル
ダユニットを回転させることで、基板を各処理位置に搬
送することができる。そのため、自動露光装置は、基板
の受け渡しを最小限とすることで、塵埃の付着および受
け渡しによる落下、変形、受け渡しミスのなどの原因を
最小限とすることができる。また、自動露光装置は、基
板の受け渡しを最小限とすることで、各位置までの搬送
時間を迅速に行なうことができ、スループットを向上す
ることが可能となる。なお、基板の搬送および処理姿勢
を垂直とすることで、基板に対する塵埃の付着の原因を
ほとんど解消することができる。
The present invention has the following advantages because of the construction described above. (1) The automatic exposure apparatus uses the first one of a plurality of substrates.
The substrate can be transported to each processing position by receiving it in the holder unit and rotating the first holder unit by the first rotation drive unit. Therefore, the automatic exposure apparatus can minimize causes such as dropping, deformation, and a delivery error due to the attachment and transfer of dust by minimizing the delivery of the substrate. In addition, the automatic exposure apparatus minimizes the transfer of the substrate, so that the transfer time to each position can be quickly performed, and the throughput can be improved. In addition, by making the transporting and processing posture of the substrate vertical, the cause of the adhesion of dust to the substrate can be almost eliminated.

【0063】(2)自動露光装置は、第1ホルダ部を複
数備える第1ホルダユニットと、第2ホルダ部を複数備
える第2ホルダユニットとを隣り合わせて使用すること
で、基板の両面を露光処理する構成とすることで、基板
の反転動作についても専用の機構を設けることなく、第
1ホルダ部および第2ホルダ部の間で基板の受け渡しを
行なうことができる。そのため、自動露光装置は、基板
の受け渡しを最小限として、基板の両面を露光処理する
装置としてのタクトタイム(装置内における単位工程
(受け渡し,搬送等)の所要時間)の適正化を図りスル
ープットの向上を可能とする。
(2) The automatic exposure apparatus uses a first holder unit having a plurality of first holder portions and a second holder unit having a plurality of second holder portions adjacent to each other to perform exposure processing on both surfaces of the substrate. With this configuration, it is possible to transfer the substrate between the first holder portion and the second holder portion without providing a dedicated mechanism for the inversion operation of the substrate. For this reason, the automatic exposure apparatus minimizes the transfer of the substrate and optimizes the tact time (the time required for unit processes (transfer, transport, etc.) in the apparatus) as an apparatus for exposing both sides of the substrate to improve the throughput. Enables improvement.

【0064】(3)自動露光装置は、両ホルダ部をそれ
ぞれ4箇所の位置に配置して各位置で基板に対しての作
業を行なうため、前記の効果に加えタクトタイムの最適
化を達成し、更なるスループットの向上を達成すること
が可能となる。
(3) In the automatic exposure apparatus, since both holders are arranged at four positions and work is performed on the substrate at each position, the tact time can be optimized in addition to the above effects. , It is possible to further improve the throughput.

【0065】(4)自動露光装置は、投入部に投入機構
および搬出部に受渡機構をそれぞれ備えているため、搬
入部で基板の予備位置決め機構を設けた場合は、予備位
置決めした状態を維持して搬送することができ、また、
搬出部で基板を第2ホルダ部から受け取ることができる
ため、各ホルダユニットおよび各ホルダ部側に受け渡し
するための機構を持つ必要がなく操作性に優れた構成と
することが可能となる。また、基板の板厚が厚いものか
ら薄いものまで対応して保持することができる。
(4) Since the automatic exposure apparatus is provided with a loading mechanism in the loading section and a delivery mechanism in the unloading section, if a preliminary positioning mechanism for the substrate is provided in the loading section, the pre-positioned state is maintained. Can be transported,
Since the substrate can be received from the second holder unit at the unloading unit, there is no need to have a mechanism for transferring the substrate to each holder unit and each holder unit side, and a configuration excellent in operability can be achieved. Further, the substrate can be held correspondingly from thick to thin.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明にかかる自動露光装置の要部を示す平
面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a main part of an automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図2】 本発明にかかる自動露光装置の要部を示す正
面図である。
FIG. 2 is a front view showing a main part of the automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図3】 本発明にかかる自動露光装置の要部を示す側
面図である。
FIG. 3 is a side view showing a main part of the automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図4】 (a),(b)は本発明にかかる自動露光装
置の投入機構の平面図および側面図である
FIGS. 4A and 4B are a plan view and a side view of an input mechanism of the automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図5】 (a),(b)は本発明にかかる自動露光装
置の第1および第2露光機構の整合機構を示す部分断面
図および部分正面図である。
FIGS. 5A and 5B are a partial cross-sectional view and a partial front view showing an alignment mechanism of first and second exposure mechanisms of the automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図6】 本発明にかかる自動露光装置の透光板の正面
図である。
FIG. 6 is a front view of a light transmitting plate of the automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図7】 (a)〜(h)は本発明にかかる自動露光装
置の動作を説明する模式図である。
FIGS. 7A to 7H are schematic diagrams illustrating the operation of the automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図8】 (a)〜(f)は本発明にかかる自動露光装
置の動作を説明する模式図である。
FIGS. 8A to 8F are schematic diagrams illustrating the operation of the automatic exposure apparatus according to the present invention.

【図9】 (a),(b)は従来の自動露光装置の構成
を示す模式図である。
FIGS. 9A and 9B are schematic diagrams showing a configuration of a conventional automatic exposure apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 自動露光装置 2 搬入
部 3 送りローラ 4 昇降
板 5 予備位置決め機構 6 投入
機構 10 第1ホルダユニット 10a,10b取付板 11A〜11D 第1
ホルダ部 12,32 平板 13,33 吸着
孔(保持手段) 14,34 枠体部 15,35 スラ
イド支持部 16,36 押動ピン 17,37 躯体 18 第1回転駆動手段 20 第1
露光機構 21,41 透光体(第1透光板、第2透光板) 22,42 整合機構 23,43 支持
枠体部 24,44 撮像手段 25 第1
移動手段 27 反転受渡手段 28,29 ホル
ダ駆動部 30 第2ホルダユニット 31A〜31D
第1ホルダ部 38 第2回転駆動手 40 第2
露光機構 45 第2移動手段 50 光学系 41 コリ
メータ反射鏡 60 搬出部 61 送り
ローラ 62 受取機構 A 第1露光ステージ B 第2
露光ステージ D ディスプレイ M マスク(第1マスク,第2マスク) Mm マスクマーク W 基板 Wm ワー
クマーク
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Automatic exposure apparatus 2 Carry-in part 3 Feed roller 4 Elevating plate 5 Pre-positioning mechanism 6 Feeding mechanism 10 1st holder unit 10a, 10b mounting plate 11A-11D 1st
Holder part 12, 32 Flat plate 13, 33 Suction hole (holding means) 14, 34 Frame part 15, 35 Slide support part 16, 36 Pushing pin 17, 37 Frame 18 First rotation driving means 20 First
Exposure mechanism 21, 41 Light transmitting body (first light transmitting plate, second light transmitting plate) 22, 42 Alignment mechanism 23, 43 Supporting frame portion 24, 44 Imaging means 25 First
Moving means 27 Reverse transfer means 28, 29 Holder driving unit 30 Second holder unit 31A to 31D
1st holder part 38 2nd rotation drive hand 40 2nd
Exposure mechanism 45 Second moving means 50 Optical system 41 Collimator reflecting mirror 60 Unloading section 61 Feed roller 62 Receiving mechanism A First exposure stage B Second
Exposure stage D Display M Mask (first mask, second mask) Mm Mask mark W Substrate Wm Work mark

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松永 真一 東京都調布市調布ケ丘3丁目34番地1号 株式会社オーク製作所内 Fターム(参考) 2H097 AA12 BA10 CA12 DB20 DC01 GA00 KA03 KA29 5F046 AA21 BA01 CC01 CC10 CD01 CD04  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Shinichi Matsunaga 3-34-1, Chofugaoka, Chofu-shi, Tokyo F-term in Oak Manufacturing Co., Ltd. (reference) 2H097 AA12 BA10 CA12 DB20 DC01 GA00 KA03 KA29 5F046 AA21 BA01 CC01 CC10 CD01 CD04

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板とマスクを整合させ、前記基板に所定
パターンを、光学系を介して露光処理するための自動露
光装置において、 前記基板の授受位置および前記露光処理する位置にそれ
ぞれ対面する複数の第1ホルダ部を配置して備える第1
ホルダユニットと、この第1ホルダユニットを回転停止
動作させるための第1回転駆動手段と、前記第1ホルダ
ユニットに隣り合って設けた第1露光機構とを備え、 前記第1ホルダ部は、基板を受け取り保持するための保
持手段を有し、前記第1露光機構は、マスクを保持する
ための第1透光板を備え、 前記第1ホルダユニットまたは前記第1露光機構は、そ
の少なくとも一方に、前記第1ホルダ部と前記第1透光
板を当接方向に移動させるための第1移動手段を有する
ことを特徴とする自動露光装置。
1. An automatic exposure apparatus for aligning a substrate and a mask and exposing a predetermined pattern on the substrate via an optical system, comprising: a plurality of substrates each facing a transfer position of the substrate and a position to be exposed; A first holder portion is arranged and provided.
A holder unit; first rotation driving means for stopping the rotation of the first holder unit; and a first exposure mechanism provided adjacent to the first holder unit. Holding means for receiving and holding the image, the first exposure mechanism includes a first light transmitting plate for holding a mask, and the first holder unit or the first exposure mechanism has at least one of them. An automatic exposure apparatus having a first moving means for moving the first holder portion and the first light transmitting plate in a contact direction.
【請求項2】基板とマスクを整合させ、前記基板に所定
パターンを、光学系を介して露光処理するための第1露
光ステージおよび第2露光ステージを備える自動露光装
置において、 前記第1露光ステージは、複数の第1ホルダ部を備える
第1ホルダユニットと、この第1ホルダユニットに隣り
合って設けられた第1露光機構と、前記第1ホルダユニ
ットを回転停止動作させるための第1回転駆動手段とを
備え、 前記第2露光ステージは、前記第1ホルダユニットに隣
り合って設けられ、複数の第2ホルダ部を備える第2ホ
ルダユニットと、前記第2ホルダユニットに隣り合って
設けられた第2露光機構と、前記第2ホルダユニットを
回転停止動作させるための第2回転駆動手段とを備え、 前記両ホルダ部は、前記基板を受け取り保持するための
保持手段を有し、前記両露光機構は、それぞれ第1マス
クを保持するための第1透光板および第2マスクを保持
するための第2透光板を備え、 前記第1ホルダユニットまたは前記第1露光機構は、そ
の対面する位置で、前記第1ホルダ部または第1透光板
の少なくとも一方を当接方向に移動させるための第1移
動手段と、前記第1ホルダユニットまたは前記第2ホル
ダユニットは、その対面する位置で、前記第1ホルダ部
または前記第2ホルダ部の少なくとも一方を当接方向に
移動させ前記基板を反転して受け渡すための反転受渡手
段と、前記第2ホルダユニットまたは前記第2露光機構
は、その対面する位置で、前記第2ホルダ部または前記
第2透光板の少なくとも一方を当接方向に移動させるた
めの第2移動手段とを備えることを特徴とする自動露光
装置。
2. An automatic exposure apparatus, comprising: a first exposure stage and a second exposure stage for aligning a substrate and a mask and exposing a predetermined pattern on the substrate via an optical system; Comprises a first holder unit having a plurality of first holder portions, a first exposure mechanism provided adjacent to the first holder unit, and a first rotation drive for stopping the rotation of the first holder unit. Means, the second exposure stage is provided adjacent to the first holder unit, and a second holder unit provided with a plurality of second holder units, and provided adjacent to the second holder unit. A second exposure mechanism; and second rotation driving means for stopping the rotation of the second holder unit. The holder sections receive and hold the substrate. The exposure mechanism includes a first light transmitting plate for holding a first mask and a second light transmitting plate for holding a second mask, respectively, and the first holder unit or The first exposure mechanism includes a first moving unit configured to move at least one of the first holder unit and the first light transmitting plate in a contact direction at a position facing the first exposure mechanism, and the first holder unit or the first moving unit. The two-holder unit is a reversing delivery unit for reversing and delivering the substrate by moving at least one of the first holder unit and the second holder unit in a contact direction at a position facing the second holder unit, The holder unit or the second exposure mechanism includes a second moving unit for moving at least one of the second holder unit or the second light transmitting plate in a contact direction at a position facing the holder unit or the second exposure mechanism. Automatic exposure apparatus according to.
【請求項3】前記第1ホルダユニットは、前記第1ホル
ダ部を、前記基板を搬入側から受け取る第1位置と、前
記第1透光板と対面する第2位置と、前記第2ホルダユ
ニットの第2ホルダ部と対面する第3位置と、前記第1
位置と前記第3位置との間の第4位置とに配置し、 前記第2ホルダユニットは、前記第2ホルダ部を、前記
第3位置に対面する第5位置と、前記第2透光板と対面
する第6位置と、前記基板を搬出する位置に対面する第
7位置と、前記第5位置および前記第7位置との間の第
8位置に配置して備えることを特徴とする請求項2に記
載の自動露光装置。
3. The first holder unit comprises: a first position for receiving the first holder portion from the loading side of the substrate; a second position for facing the first light transmitting plate; and the second holder unit. A third position facing the second holder portion of the
The second holder unit is arranged at a fourth position between the third position and the third position, and the second holder unit moves the second holder unit to a fifth position facing the third position, and the second light transmitting plate. A sixth position facing the substrate, a seventh position facing the position for unloading the substrate, and an eighth position between the fifth position and the seventh position. 3. The automatic exposure apparatus according to 2.
【請求項4】前記基板が搬入される位置おいて、前記第
1ホルダユニットの第1ホルダ部に、その基板を受け渡
すための投入機構を設けると共に、前記基板の搬出され
る位置において、前記第2ホルダユニットの第2ホルダ
部から前記基板を受け取るための受取機構を設けたこと
を特徴とする請求項2または請求項3に記載の自動露光
装置。
4. A loading mechanism for delivering the substrate to the first holder unit of the first holder unit at a position where the substrate is carried in, and at a position where the substrate is carried out, The automatic exposure apparatus according to claim 2 or 3, further comprising a receiving mechanism for receiving the substrate from the second holder unit of the second holder unit.
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