JP2002174659A - Ｉｃテストシステム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 共用のデータに従ってＩＣ移載装置とＩＣ測
定装置が動作するようにし、測定前のデータの準備が簡
単で、読み込み操作が容易なＩＣテストシステムを提供
する。 【解決手段】 ＩＣ移載装置１用の動作設定データＤ１
に、ＩＣ測定装置２用の動作設定データＤ２を追加し、
又はＩＣ測定装置２用の動作設定データＤ２に、ＩＣ移
載装置１用の動作設定データＤ１を追加することによ
り、ＩＣ移載装置１とＩＣ測定装置２に共用の品種設定
データＤを準備して登録し、登録した品種設定データＤ
を読み込み、読み込んだ品種設定データＤに従って動作
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明はＩＣテストシステ
ム、特にＩＣ測定装置とＩＣ移載装置とキャリア搬送装
置を備えたＩＣテストシステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、ＩＣテストシステムは、図８に
示すようにＩＣ移載装置２１とＩＣ測定装置２２にキャ
リア搬送装置２３を組み込むことにより１組のシステム
として構築されている。

【０００３】このうち、ＩＣ移載装置２１とＩＣ測定装
置２２は、それぞれ単体で使用することもできる。

【０００４】ＩＣ移載装置１は、供給部２１Ａと収容部
２１Ｂと収容バッファ部２１Ｃと収納容器２１Ｄ及び２
１Ｅにより構成され、ＩＣ測定装置２は、測定部２２Ａ
と供給バッファ部２２Ｂと収容バッファ部２２Ｃとプレ
ヒート部２２Ｄにより構成されている。

【０００５】そして、１台のＩＣ移載装置２１に対し
て、ＩＣ測定装置２２は、図示するように複数台設ける
ことができる。

【０００６】また、ＩＣ測定装置２２では、前記測定部
２２Ａ〜プレヒート部２２Ｄが２つの領域に設けられて
おり、１台のＩＣ測定装置２２に対して、２台のＩＣテ
スタ（図示省略）をテストステーション（図示省略）を
介して接続させることができる。

【０００７】このようなＩＣテストシステムにおいて、
ＩＣ移載装置２１では、ＩＣ２４Ａを測定する前に、先
ず、フロッピー（登録商標）ディスクまたはハードディ
スク等から、動作設定データＤ１を読み込む（図６）。

【０００８】そして、読み込んだ動作設定データＤ１に
従い、次のような動作が行われる。

【０００９】即ち、供給部２１Ａにおいて、収納容器２
１Ｄ（例えば、トレー）に収納されている未測定のＩＣ
２４Ａを供給吸着ハンド２６により吸着して空のキャリ
ア２４に供給し（破線矢印ｊ）、未測定キャリア２４を
キャリア搬送装置２３に受け渡す（矢印ａ）。その後
は、後述するように、ＩＣ測定装置２２において測定が
行われ、測定後は、測定済のＩＣ２５Ａをのせた測定済
キャリア２５をキャリア搬送装置２３から受け取り（矢
印ｇ）、一時的に収容バッファ部２１Ｃにおいてストッ
クした後収容部２１Ｂへ搬送し（矢印ｈ）、測定済のＩ
Ｃ２５Ａを収容吸着ハンド２７により吸着して収納容器
２１Ｅ（例えば、トレー）に分類・収納すし（破線矢印
ｋ）、空のキャリア２４を供給部２１Ａへ戻す（矢印
ｍ）。

【００１０】一方、ＩＣ測定装置２２においても、ＩＣ
２４Ａを測定する前に、先ず、フロッピーディスクまた
はハードディスク等から、動作設定データＤ２を読み込
む（図７）。

【００１１】そして、読み込んだ動作設定データＤ２に
従い、次のような動作が行われる。

【００１２】即ち、未測定のＩＣ２４Ａをのせた未測定
キャリア２４をキャリア搬送装置２３から受け取って
（矢印ｂ）一時的に供給バッファ部２２Ｂにおいてスト
ックし、プレヒート部２２Ｄを経由して（矢印ｃ）測定
部２２Ａに搬送し（矢印ｄ）、未測定ＩＣ２４ＡをＩＣ
ソケット２８に接触させて既述したＩＣテスタ（図示省
略）により測定し、測定後は、測定済のＩＣ２５Ａをの
せた測定済キャリア２５を一時的に収容バッファ部２２
Ｃにおいてストックした後（矢印ｅ）、キャリア搬送装
置２３へ受け渡す（矢印ｆ）。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】（１）データの準備が
面倒である。上述したように、ＩＣ移載装置２１におい
ては、供給部２１Ａが、供給吸着ハンド２６により収納
容器２１Ｄであるトレーから未測定のＩＣ４Ａをキャリ
ア２４へ供給し（破線矢印ｊ）、また、収容部２１Ｂ
が、収容吸着ハンド２７により測定済のＩＣ５Ａをキャ
リア２５から収納容器２１Ｅであるトレーへ分類・収納
する（破線矢印ｋ）。

【００１４】従って、ＩＣ移載装置２１は、収納容器２
１Ｄと２１Ｅを形成するトレーの形状や、測定済のＩＣ
２５Ａの分類方法等により、動作が異なるため、ＩＣ移
載装置２１用の動作設定データＤ１が必要である（図
６）。

【００１５】また、ＩＣ測定装置２２においては、プレ
ヒート部２２Ｄが、キャリア２４にのせられた未測定の
ＩＣ４Ａを一括して所定の温度まで加熱し、測定部２２
Ａが、ＩＣ２４ＡをＩＣソケット２８に接触させて電気
的特性を測定する。

【００１６】従って、ＩＣ測定装置２２は、未測定のＩ
Ｃ４Ａが加熱される温度、電気的特性の測定方法の種類
等により、動作が異なるため、ＩＣ測定装置２２用の動
作設定データＤ２が必要である（図７）。

【００１７】即ち、従来のＩＣテストシステムでは、１
種類の品種のＩＣの電気的特性を測定する場合でも、そ
れぞれ構成の異なる２種類の動作設定データＤ１（図
６）とＤ２（図７）を準備しなければならない。

【００１８】そのため、データを準備するのが面倒で、
時間が長くなり、手間もかかるという弊害がある。

【００１９】（２）データの読み込み操作が煩わしい。

【００２０】更に、従来のＩＣテストシステムでは、動
作設定データＤ１（図６）をＩＣ移載装置２１に、動作
設計データＤ２（図７）をＩＣ測定装置２２に、それぞ
れ読み込ませなければならない。

【００２１】即ち、従来は、ＩＣ移載装置２２とＩＣ測
定装置２３の両装置について、それぞれに、データの読
み込み操作を行わなければならない。

【００２２】この結果、データの読み込み操作が煩わし
く、読み込みミス、読み忘れ等が発生し易いという弊害
がある。

【００２３】この発明の目的は、共用のデータに従って
ＩＣ移載装置とＩＣ測定装置が動作するようにし、デー
タの準備が簡単で、読み込み操作が容易なＩＣテストシ
ステムを提供する。

【００２４】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、この発明によれば、ＩＣテストシステムは、ＩＣ移
載装置１とＩＣ測定装置２とキャリア搬送装置３を備
え、ＩＣ移載装置１とＩＣ測定装置２はそれぞれ単体で
使用可能であり、ＩＣ移載装置１用の動作設定データＤ
１に、ＩＣ測定装置２用の動作設定データＤ２を追加
し、又はＩＣ測定装置２用の動作設定データＤ２に、Ｉ
Ｃ移載装置１用の動作設定データＤ１を追加することに
より、ＩＣ移載装置１とＩＣ測定装置２に共用の品種設
定データＤを準備して登録し、登録した品種設定データ
Ｄを読み込み、読み込んだ品種設定データＤに従って動
作する。

【００２５】この構成によれば、所定の品種のＩＣを測
定する場合には、その品種に対応した１種類の品種設定
データＤだけを準備し、その１種類の品種設定データＤ
をＩＣ移載装置１とＩＣ測定装置２のいずれか一方だけ
に読み込ませることが可能となったので、データの準備
が簡単で、読み込み操作が容易になる。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、この発明を実施の形態によ
り添付図面を参照して説明する。図１は、この発明の実
施形態を示すブロック図である。図１は図８を機能ブロ
ックに構成化したものであり、破線矢印は、未測定キャ
リア４と測定済キャリア５の搬送線を、実線矢印は、後
述する品種設定データＤ、ＩＣ測定装置２によるＩＣの
測定結果情報、制御手段１Ａ、２Ａの指令信号等の信号
線を、それぞれ示している。

【００２７】図１のＩＣテストシステムは、ＩＣ移載装
置１とＩＣ測定装置２にキャリア搬送装置３を組み込む
ことにより１組のシステムとして構築され、１台のＩＣ
移載装置１に対して、ＩＣ測定装置２は複数台設けるこ
とができると共に、１台のＩＣ測定装置２に対して、２
台のＩＣテスタ（図示省略）をテストステーション（図
示省略）を介して接続させることができる他、ＩＣ移載
装置１とＩＣ測定装置２は、それぞれ単体で使用するこ
ともでき、システム全体としての構成と作用は、図８の
ＩＣテストシステムと同様である。

【００２８】ＩＣ移載装置１は、制御手段１Ａ、入力手
段１Ｂ、外部記憶手段１Ｃ、記憶手段１Ｄ、通信手段１
Ｅ、未測定キャリア受渡し手段１Ｆ、測定済キャリア受
取り手段１Ｇ、ＩＣ供給手段１Ｈ、ＩＣ収容手段１Ｋ、
表示手段１Ｊから構成されている。

【００２９】制御手段１Ａは、例えばＣＰＵにより構成
され、後述する入力手段１Ｂ等を制御すると共に、ＩＣ
移載装置１全体を制御する。

【００３０】入力手段１Ｂは、例えばキーボードにより
構成され、品種設定データＤ（図２）の読み込み操作
や、その一部変更操作（図３）を行う。

【００３１】外部記憶手段１Ｃは、フロッピーディス
ク、ハードディスク等により構成され、前記品種設定デ
ータＤを予め登録しておく。

【００３２】この品種設定データＤは、ＩＣ移載装置１
用の動作設定データＤ１に（図６）、ＩＣ測定装置２用
の動作設定データＤ２（図７）を追加することにより、
準備する。

【００３３】又は、品種設定データＤは、ＩＣ測定装置
２用の動作設定データＤ２に（図７）、ＩＣ移載装置１
用の動作設定データＤ１（図６）を追加することによ
り、準備する。

【００３４】品種設定データＤは、ＩＣ移載装置１とＩ
Ｃ測定装置２に共用であり、ある品種のＩＣを測定する
場合には、その品種に対応した１種類の品種設定データ
Ｄだけを前記のとおり準備し、前記外部記憶手段１Ｃに
登録する。

【００３５】記憶手段１Ｄは、ＲＡＭ等により構成さ
れ、前記外部記憶手段１Ｃに登録された品種設定データ
Ｄを記憶する。

【００３６】通信手段１Ｅは、ＩＣ測定装置２を構成す
る通信手段２Ｅと協働し、品種設定データＤ、キャリア
上のＩＣの有無情報、ＩＣの測定結果情報等を送受信す
る。この場合の通信方式としては、ＬＡＮ、ＧＰ−ＩＢ
等が使用される。

【００３７】ＩＣ供給手段１Ｈと未測定キャリア受渡し
手段１Ｆは、供給部２１Ａを（図８）、測定済キャリア
受取り手段１Ｇは、収容バッファ部２１Ｃ（図８）を、
ＩＣ収容手段１Ｋは、収容部２１Ｂ（図８）をそれぞれ
構成している。例えば、ＩＣ供給手段１Ｈは、制御手段
１Ａからの指令に基づいて供給吸着ハンド２６（図８）
を作動させ、トレーに収納されている未測定ＩＣ４Ａを
空のキャリア４へ供給し、これにより、未測定ＩＣ４Ａ
が供給された未測定キャリア４が次段の未測定キャリア
受渡し手段１Ｆへ搬送される。

【００３８】また、表示手段１Ｊは、例えばＣＲＴ、液
晶またはプラズマディスプレイ等により構成され、画面
には、初期メニュー（図２）と、プルアップメニュー
（図３）が表示される。

【００３９】初期メニュー（図２）としては、読み込み
メニューＭ１と、変更メニューＭ２がある。

【００４０】入力手段１Ｂであるキーボードを操作する
ことにより、読み込みメニューＭ１のうちの、該当する
品種設定データＤを選択すれば、外部記憶手段１Ｃに登
録されている品種設定データＤが制御手段１Ａを介して
読み込まれ、記憶手段１Ｄに記憶される（図１、図４の
ステップ１０１））。

【００４１】また、既に記憶手段１Ｄに記憶されている
品種設定データＤの一部を変更する場合には、同様に、
入力手段１Ｂであるキーボードを操作することにより、
変更メニューＭ２のうちの、該当する変更項目、例えば
温度設定Ｑ（図２）を選択すれば、画面は、図３に示す
プルアップメニューＭ３に切り換わる。

【００４２】プルアップメニューＭ３には（図３）、図
２の温度設定Ｑの内容だけが抜き出されて表示されてお
り、例えば目的温度Ｑ１を変更したい場合には、入力手
段１Ｂであるキーボードを操作することにより、図示す
る８０°を１２５°に変更する。

【００４３】このように、記憶手段１Ｄに記憶されてい
る当初の品種設定プログラムＰ（図２）や、一部変更後
の品種設定プログラムＰ（図３）に従い、図１の破線矢
印で示すように、ＩＣ供給手段１Ｈが、未測定キャリア
４に未測定ＩＣ４Ａを供給し、未測定キャリア受渡し手
段１Ｆが、未測定キャリア４をキャリア搬送装置３へ受
け渡す。また、測定済キャリア受取り手段１Ｇが、測定
済キャリア５をキャリア搬送装置３から受け取り、ＩＣ
収容手段１Ｋが、測定済キャリア５からトレーへ測定済
ＩＣ５Ａを分類・収納する。

【００４４】一方、ＩＣ測定装置２は、制御手段２Ａ、
入力手段２Ｂ、外部記憶手段２Ｃ、記憶手段２Ｄ、通信
手段２Ｅ、未測定キャリア受取り手段２Ｆ、測定済キャ
リア受渡し手段２Ｇ、ＩＣ測定手段２Ｈ、表示手段２Ｊ
から構成されている。

【００４５】このうち、制御手段２Ａと、入力手段２Ｂ
と、外部記憶手段２Ｃと、記憶手段２Ｄと、通信手段２
Ｅと、表示手段２Ｊについては、ＩＣ移載装置１の各手
段と同様であるので、説明は省略する。

【００４６】未測定キャリア受取り手段２Ｆは、供給バ
ッファ部２２Ｂ（図８）を、ＩＣ測定手段２Ｈは、測定
部２２Ａ（図８）を、測定済キャリア受渡し手段２Ｇ
は、収容バッファ部２２Ｃ（図８）をそれぞれ構成して
いる。例えば、ＩＣ測定手段２Ｈは、制御手段１Ａから
の指令に基づいて未測定キャリア４上の未測定ＩＣ４Ａ
をＩＣソケット２８（図８）に接触させ、これにより、
ＩＣ４Ａの電気的特性がＩＣテスタ（図示省略）により
測定される。

【００４７】このような構成のＩＣ測定装置２において
も、既述したＩＣ移載装置１と同様に、前記記憶手段２
Ｄに記憶されている当初の品種設定データＤ（図２）
や、一部変更後の品種設定データＤ（図３）に従い、図
１の破線矢印で示すように、未測定キャリア受取り手段
２Ｆが、キャリア搬送装置３から未測定キャリア４を受
け取り、ＩＣ測定手段２Ｈが、キャリア４上の未測定Ｉ
Ｃ４Ａを測定し、測定済キャリア受渡し手段２Ｇが測定
済キャリア５をキャリア搬送装置３へ受け渡す。

【００４８】また、ＩＣ移載装置１とＩＣ測定装置２間
では、キャリア搬送装置３により、未測定キャリア４や
測定済キャリア５の搬送が自動的に行われる。

【００４９】以下、前記構成を備えたこの発明の動作
を、図４と図５に基づいて説明する。

【００５０】図４は、ＩＣ移載装置１の外部記憶手段１
Ｃに登録されている品種設定データＤを読み込んで、記
憶手段１Ｄに記憶させ、ＩＣ移載装置１とＩＣ測定装置
２で共用する場合の動作である。

【００５１】先ず、ステップ１０１では、ＩＣ移載装置
１において、キーボード等の入力手段１Ｂの操作を行
い、外部記憶手段１Ｃに登録されている品種設定データ
Ｄを、制御手段１Ａ（図１）を介して読み込み、記憶手
段１Ｄへ記憶する。

【００５２】ステップ１０２では、ＩＣ移載装置１を単
体で使用するか、ＩＣ測定装置２と接続して使用するか
を、制御手段１Ａが設定条件等から判断する。

【００５３】ＩＣ移載装置１を単体ではなくＩＣ測定装
置２と接続して使用する場合には（ＮＯ）、ステップ１
０３において、ＩＣ移載装置１の通信手段１Ｅが、記憶
手段１Ｄに記憶されている品種設定データＤをＩＣ測定
装置２へ送信する（図１）。

【００５４】また、ＩＣ移載装置１を単体で使用する場
合には（ＹＥＳ）、後述するステップ１０５へ進む。

【００５５】ステップ１０４においては、ＩＣ測定装置
２の通信手段２Ｅが、ＩＣ移載装置１から送信された品
種設定データＤを受信し、制御手段２Ａを介して、記憶
手段２Ｄへ記憶する（図１）。

【００５６】以下、ＩＣ移載装置１とＩＣ測定装置２
は、それぞれの記憶手段１Ｄと２Ｄに記憶した共用の品
種設定データＤに従って、動作する（図１）。

【００５７】ステップ１０５では、ＩＣ移載装置１のＩ
Ｃ供給手段１Ｈが、キャリア４に未測定ＩＣ４Ａを供給
し、ステップ１０６では、未測定キャリア受渡し手段１
Ｆが、未測定キャリア４をキャリア搬送装置３へ受渡
す。

【００５８】ステップ１０７では、ＩＣ測定装置２の未
測定キャリア受取り手段２Ｆが、未測定キャリア４をキ
ャリア搬送装置３から受取り、ステップ１０８では、Ｉ
Ｃ測定手段２Ｈが、キャリア４上の未測定ＩＣ４Ａを測
定し、ステップ１０９では、測定済キャリア受渡し手段
２Ｇが、測定済キャリア５をキャリア搬送装置３へ受渡
す。

【００５９】ステップ１１０では、ＩＣ移載装置１の測
定済キャリア受取り手段１Ｇが、測定済キャリア５をキ
ャリア搬送装置３から受取り、ステップ１１１では、Ｉ
Ｃ収容手段１Ｋが、測定済ＩＣ５Ａをキャリア５からト
レーに分類・収納する。

【００６０】ステップ１１２では、未測定ＩＣ４ＡがＩ
Ｃ移載装置１のトレーに有るか否かを確認し、未測定Ｉ
Ｃ４Ａが有る場合には（ＹＥＳ）、ステップ１０５へ進
み上記動作を繰り返す。未測定ＩＣ４Ａが無い場合には
（ＮＯ）、動作を終了する。

【００６１】ステップ１１３では、未測定キャリア４
が、ＩＣ移載装置１からキャリア搬送装置３へ受け渡さ
れたか否かを確認し、未測定キャリア４が受け渡された
場合には（ＹＥＳ）、ステップ１０７へ進み上記動作を
繰り返す。未測定キャリア４が受け渡されていない場合
には（ＮＯ）、動作を終了する。

【００６２】図５は、ＩＣ移載装置１の記憶手段１Ｄに
記憶されている品種設定データＤの一部を変更し、変更
後の品種設定データＤを、ＩＣ移載装置１とＩＣ測定装
置２で共用する場合の動作である。

【００６３】先ず、ステップ２０１では、ＩＣ移載装置
１の入力手段１Ｂにより、既に記憶手段１Ｄに記憶され
ている品種設定データＤを一部変更する。

【００６４】一部変更は、既述したように、入力手段１
Ｂであるキーボードを操作することにより、変更メニュ
ーＭ２（図２）のうちの、例えば温度設定Ｑを選択して
プルアップメニューＭ３（図３）に切り換え、目的温度
Ｑ１を８０°から１２５°に変更する。

【００６５】ステップ２０２以降の動作は、図４のステ
ップ１０２以降の動作と同様であるため、説明を省略す
る。

【００６６】尚、図４と図５は、品種設定データＤをＩ
Ｃ移載装置１へ読み込んだ場合の動作を示しているが、
品種設定データＤをＩＣ測定装置２へ読み込んでも同様
の効果を得る。

【００６７】

【発明の効果】この発明によれば、ＩＣテストシステム
を共用の品種設定データに従ってＩＣ移載装置とＩＣ測
定装置が動作するように構成したことにより、所定の品
種のＩＣを試験する場合には、その品種に対応した１種
類の品種設定データだけを準備し、しかもその１種類の
品種設定データをＩＣ移載装置とＩＣ測定装置のいずれ
か一方に読み込ませることが可能になり、データの準備
が簡単で、読み込み操作が容易になり、読み込みミス、
読み忘れ等が発生しなくなるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 この発明の実施形態を示すブロック図であ
る。

【図２】 この発明による初期メニュー画面を示す図で
ある。

【図３】 この発明によるプルアップメニュー画面を示
す図である。

【図４】 この発明の動作を示すフローチャートであ
る。

【図５】 この発明の他の実施形態の動作を示すフロー
チャートである。

【図６】 従来技術におけるＩＣ移載装置用の動作設定
データ読み込み画面を示す図である。

【図７】 従来技術におけるＩＣ測定装置用の動作設定
データ読み込み画面を示す図である。

【図８】 ＩＣテストシステムの一般的説明図である。

【符号の説明】

１ ＩＣ移載装置 １Ａ 制御手段 １Ｂ 入力手段 １Ｃ 外部記憶手段 １Ｄ 記憶手段 １Ｅ 通信手段 １Ｆ 未測定キャリア受渡し手段 １Ｇ 測定済キャリア受取り手段 １Ｈ ＩＣ供給手段 １Ｋ ＩＣ収容手段 １Ｊ 表示手段 ２ ＩＣ測定装置 ２Ａ 制御手段 ２Ｂ 入力手段 ２Ｃ 外部記憶手段 ２Ｄ 記憶手段 ２Ｅ 通信手段 ２Ｆ 未測定キャリア受取り手段 ２Ｇ 測定済キャリア受渡し手段 ２Ｈ ＩＣ測定手段 ２Ｊ 表示手段 ３ キャリア搬送装置 ４ 未測定キャリア ４Ａ 未測定ＩＣ ５ 測定済キャリア ５Ａ 測定済ＩＣ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＩＣ移載装置（１）とＩＣ測定装置
   （２）とキャリア搬送装置（３）を備え、ＩＣ移載装置
   （１）とＩＣ測定装置（２）はそれぞれ単体で使用可能
   であり、 ＩＣ移載装置（１）用の動作設定データ（Ｄ１）に、Ｉ
   Ｃ測定装置（２）用の動作設定データ（Ｄ２）を追加
   し、又はＩＣ測定装置（２）用の動作設定データ（Ｄ
   ２）に、ＩＣ移載装置（１）用の動作設定データ（Ｄ
   １）を追加することにより、ＩＣ移載装置（１）とＩＣ
   測定装置（２）に共用の品種設定データ（Ｄ）を準備し
   て登録し、 登録した品種設定データ（Ｄ）を読み込み、 読み込んだ品種設定データ（Ｄ）に従って動作すること
   を特徴とするＩＣテストシステム。
2. 【請求項２】 ＩＣ移載装置（１）では、外部記憶手段
   （１Ｃ）に登録されている前記品種設定データ（Ｄ）を
   入力手段（１Ｂ）により読み込んで記憶手段（１Ｄ）に
   記憶し、記憶した品種設定データ（Ｄ）に従って動作す
   ると共に、通信手段（１Ｅ）により品種設定データ
   （Ｄ）をＩＣ測定装置（２）に送信し、 ＩＣ測定装置（２）では、ＩＣ移載装置（１）から送信
   された品種設定データ（Ｄ）を通信手段（２Ｅ）により
   受信して記憶手段（２Ｄ）に記憶し、記憶した品種設定
   データ（Ｄ）に従って動作する請求項１記載のＩＣテス
   トシステム。
3. 【請求項３】 ＩＣ移載装置（１）では、記憶手段（１
   Ｄ）に記憶されている前記品種設定データ（Ｄ）を入力
   手段（１Ｂ）により一部変更し、変更後の品種設定デー
   タ（Ｄ）に従ってＩＣ移載装置（１）とＩＣ測定装置
   （２）が動作する請求項２記載のＩＣテストシステム。