JP2002117544A - 最適記録パワー検出方法、工程、回路、及び、光記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】短時間に精度良く最適記録パワー検出を行うと
共に，あらゆる半径位置に対し正確に最適記録パワー設
定を実現する。 【解決手段】データスライスレベルを信号のエンベロー
プに対し，抵抗５０１，５０２で分割し固定データスラ
イスレベルを得る。このデータスライスレベルにより最
適記録パワー検出を行う。 【効果】どの様な環境下においても，誤差の極めて少な
い最適記録パワー検出が出来る。しかも，内外周の最適
記録パワー検出のみで，全ての半径位置に対する最適記
録パワーを設定出来る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光記録装置における
最適記録パワー検出手段、工程、及び、回路に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】ピットの両端に情報を持たせたエッジ記
録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記
録する光記録装置において、従来この種の最適記録パワ
ー検出手段は、記録パワーをパラメータとし、通常の再
生と同様の検出で信号を記録した時のエラーの個数をカ
ウントし行っており、この方法だと、記録パワーに対す
るエラー数の変化が少なく最適記録パワーの検出に誤差
が生じた。また、最適記録パワーを検出する半径位置は
一枚のディスクで数ヶ所に及んでいた。一方、最適パワ
ー検出においては、記録レーザパワーを設定し、テスト
セクタに対し書込み、その後再生しエラーの個数をカウ
ントする、同様の動作を記録パワーを一定値ずらし繰返
し行う、というシーケンスをとっていた。記録後再生を
行うには少なくともディスクの一周の回転を待たねばな
らず、これを繰返し行う最適記録パワー検出は非常に時
間のかかる動作になる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記課題を解
決するためのものであり、最適記録パワー検出時のエラ
ーの発生を急峻にし、しかも、ディスクで３箇所以内の
テストゾーンのみで最適記録パワーの検出工程を行え
ば、ディスク全体の最適記録パワーの設定を行うことが
できる。また、連続消去、記録、再生を行うことで、最
適記録パワーの検出を従来の半分以下の時間で行うこと
を主な目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の最適記録パワー検出方法は、 １） ピットの両端に情報を持たせたエッジ記録で、少
なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記録する光
記録装置において、最適記録パワーを検出する時の記録
パターンを、少なくとも最短パターンの倍のパターンで
最短パターンを挟んだパターン、即ち、（最短パター
ン），（最短パターンの２倍以上のパターン），（最短
パターン），（最短パターンの２倍以上のパターン）の
くり返しで行うことを特徴とする。 ２） 最適記録パワー検出工程実行時のみ、アナログ信
号をデジタル信号に変換するコンパレータのスライスレ
ベルを一定値に固定する工程と、データ検出ウインドウ
幅を通常再生時より狭くする工程を持つことを特徴とす
る。 ３） アナログ信号をデジタル信号に変換するコンパレ
ータのデータスライスレベルを、ディスクの内周で最適
記録パワーを検出するときと，外周で最適記録パワーを
検出するときとで異なる値とすることを特徴とする。

【０００５】上記課題を解決する本発明の最適記録パワ
ー検出回路は， １） アナログ信号のエンベロープを検出するピーク検
出回路を備えること，前記ピーク検出回路より検出し
た、信号の上のピークレベル（トップレベル）と下のピ
ークレベル（ボトムレベル）信号から抵抗分割でデータ
ースライスレベルを出力する回路を持つことを特徴とす
る。 ２） エンベロープ検出回路より検出した、信号の上の
ピークレベル（トップレベル）と下のピークレベル（ボ
トムレベル）信号をそれぞれアナログ／デジタル変換す
るＡ／Ｄ変換器と、トップレベルとボトムレベルからあ
る比率でデータスライスレベルを算出する演算器と、そ
の結果をデジタル／アナログ変換を行うＤ／Ａ変換器を
持つことを特徴とする ３） アナログ信号をアナログ／デジタル変換するＡ／
Ｄ変換器と演算を行う演算器と、演算器にヘッド位置、
又は、再生ゾーンを伝達する手段と、ヘッド位置、又
は、再生ゾーンによって、データスライスレベル算出時
の係数を変化させる演算方法を持った工程、及び、演算
器を持つことを特徴とする。

【０００６】上記課題を解決する本発明の光記録装置
は， １） 最適記録パワーを、ディスク半径位置に対する２
次の近似式

【０００７】

【数２】 で求める工程を持つことを特徴とする。 ２） 内周、中周、外周のドライブに割り当てられたテ
ストゾーンで最適記録パワーを求める工程と、７）記載
の近似式の係数Ａ、Ｂ、Ｃを決定する工程と、係数の決
定された２次近似式によりディスクの各半径位置に対す
る最適記録パワーを演算し決定する工程を持つことを特
徴とする。 ３） ディスクの挿入時おいては、内周、中周、外周の
ドライブに割り当てられたテストゾーンで最適記録パワ
ー検出工程を行い、７）記載の近似式の係数Ａ、Ｂ、Ｃ
を決定する工程と、そこで求めた係数Ａの値をメモリー
に保存する工程と、ディスク挿入後のホストコンピュー
タとの通信が無い一定時間毎（温度変化及び経時変化等
に対応する時間）に行う最適記録パワー検出工程におい
ては、メモリに保存した係数Ａと，内外周のみの２点の
最適記録パワー検出工程によって２次の近似式を決定す
る工程を有することを特徴とする。 ４） １）記載の近似式の係数Ａは、あらかじめ標準ド
ライブ等での最適記録パワー測定によって求め決定し、
係数Ａをドライブのメモリに保持しておく工程と、実際
のドライブでは内外周の２点のみの最適記録パワー検出
を行い係数Ｂ、Ｃを算出する工程を持ち、２次近次式に
よりディスクの各半径位置に対する最適記録パワーを決
定する工程を持つことを特徴とする。 ５） 記録パルスのパワー値を少なくとも３値以上で形
成する光変調記録において、３値以上のパワー値のそれ
ぞれの比をメモリに保持しておく工程と，最適記録パワ
ーを検出するいずれかのテストゾーンにおいても、メモ
リに保持されている比を読出し、その比を固定した状態
で記録パワーを変化させ、最適記録パワーを検出する工
程を持つこと，近似式によって各半径位置に対する最適
記録パワーの算出工程後，最適記録パワーに対する多値
の記録パルスをメモリに保存されている比で算出する工
程を持つことを特徴とする。

【０００８】上記課題を解決する本発明の最適記録パワ
ー検出工程は， １） 最適記録パワーを検出する為のエラー検出におい
て、一つの記録パワー値でエラー検出に用いるセクター
数を２セクター以上とし、１セクター内に発生するエラ
ーバイト数を検出し、エラー検出に用いたセクターの中
で最もエラーバイト数の多かったセクターから１ないし
２セクターを除いたセクターのエラーバイト数を加算
し、そのエラーバイト数が最も少ない記録パワーを最適
記録パワーとする工程を持つことを特徴とする。 ２） １）記載の最適記録パワー検出工程において、最
少のエラー数であった記録パワー値の大小両隣のエラー
数が一定以上、例えば５バイト以上あり、かつ最少のエ
ラー数であった記録パワーから記録パワー２ステップ以
上エラー数が単調増加になっていれば、最少であったエ
ラー数の記録パワーの値を最適記録パワーとする工程、
及び、最少のエラー数であった記録パワー値の大小両隣
のエラー数が一定以下の場合、その一定以下であったエ
ラー数の時の記録パワーの平均を計算し、その平均値を
最適記録パワーとする工程を持つことを特徴とする。 ３） 最適記録パワーを検出するテストゾーンの中で、
実際に記録試験に用いる領域は、その半径位置での最適
記録パワー検出工程が終了するまで、セクターが連続す
ること、又、最適記録パワー検出開始セクターは、最適
記録パワー検出に用いるセクター数がテストゾーン以内
で終わる位置で、かつ、最適記録パワー検出工程毎にラ
ンダムに設定する工程を持つことを特徴とする。 ４） 最適記録パワーを検出するテストゾーンの中で、
実際に記録試験に用いるセクターを、最初に連続して消
去のみを行う工程と、記録パワーの設定、記録、の繰返
しを連続したセクターで行う工程と、ここで、記録パワ
ーの設定には、１〜３セクター通過する時間で行い、実
際に記録試験に用いるセクター数は記録パワー設定に要
するセクター数も加算したものとする工程と、全記録試
験パワーで記録終了後、エラー数検出のため記録セクタ
ーを連続して再生を行う工程を持つことを特徴とする。 ５） 最適記録パワーを検出工程において、通常再生す
るモードと、最適記録パワー検出用モードを２つ持つ工
程と、プリピット部とデータ記録部でモードを切替える
工程を持つことを特徴とする。 ６） 最適記録パワーを検出する工程において、プリピ
ット部とデータ記録部のＶＦＯ部（データクロックを抽
出する部分）を、通常再生モードとする工程と、その後
に続くデータ部では最適記録パワー検出モードとする工
程を持つことを特徴とする。

【０００９】

【作用】１）ピットエッジ記録において、電源投入時、
ディスク交換時、及び、温度変化に対し最適条件で記録
するための最適記録パワー検出時の記録パターンを、最
短パターンを、少なくとも最短パターンの倍のパターン
で挟んだパターン、即ち、（最短パターン）／（最短パ
ターンの２倍のパターン）／（最短パターン）／（最短
パターンの２倍のパターン）のくり返しで行うことによ
り、記録パワーに対するエラー発生個数の変化が急峻に
なる。 ２）通常再生時には、アナログ信号をコンパレートする
データスライスレベルを、信号の変化に合わせスライス
レベル補正を行い、信号のエンベロープ変化等に対し安
定した検出が得られる方法を用いている。このデータス
ライスレベルを固定値にすると、記録パワーの変化によ
るアシンメトリの発生に追従できなくなり、記録パワー
に対し急激にエラーの発生個数が変化し、精度良い最適
記録パワー検出が可能になる。また、信号のエンベロー
プを検出しその一定割合をデータスライスレベルに用い
れば、ディスクの反射率変動等に伴うエンベロープ変動
には影響されず、しかも、記録パワー変動で発生するア
シンメトリには敏感にエラー発生個数が変化するデータ
スライスレベルが得られる。 ３）ディスク半径位置に対する最適記録パワーを２次式
で表現し、傾きを一次の係数、上に凸のふくらみを２次
の係数と出来るので、内外周のテストゾーンに加え中周
のテストゾーンのみでの最適記録パワー検出により、次
式に示す式により

【００１０】

【数３】 ２次式の係数Ａ，Ｂ、Ｃを決定できる。この係数を用い
ディスク全周にわたり精度の良い最適記録パワーを算出
出来る。また、あらかじめ２次の係数を標準ドライブで
求めておけば、実際のドライブでは内周と外周のみの最
適記録パワー検出で、ディスク全周にわたり精度の良い
最適記録パワーを算出出来る。

【００１１】

【発明の実施の形態】（実施例１）図１は本発明の実施
例１における記録波形を示す概略図である。図１（ａ）
にはアナログ再生波形を示す。記録パターンは、１ー７
変調で最短パターンである２Ｔを５Ｔ信号で挟んだ、５
Ｔ、２Ｔ、の繰返しである（Ｔは検出ウィンドウの時間
幅である。）。１０１は記録パワーの小さい時の再生波
形、１０２は記録パワーの大きい時の再生波形を示す。
ここで通常の再生時にはデータスライスレベルはスライ
スレベル補正回路が働くために、記録パワーの小さい時
のスライスレベルは１０４のレベルに補正され、記録パ
ワーの大きい時のスライスレベルは１０５のレベルに補
正され、記録パワー変動に対しエラーが起こりにくい回
路となっている。そこで、スライスレベル補正回路を働
かせないようにして、データスライスレベルを一定値に
固定すると、再生信号が変化してもデータスライスレベ
ルは変化せず、１０３のデータスライスレベルとなる。
（ｂ）には（ａ）のアナログ波形を１０３でデータスラ
イスした後のデジタル波形を示す。１０６はアナログ波
形１０１のスライスされたデジタル波形で、１０７はア
ナログ波形１０２のスライスされたデジタル波形であ
る。このように最短パターンは記録パワーによって、デ
ータスライス後のパルス幅が大きく変化しエラーの出る
確率が急激に変化する。

【００１２】図２に記録パワーによる１セクター当りの
エラーバイト数を示す。２０１はデータスライスレベル
補正回路を働かせた場合のエラーバイト数を示し、２０
２はデータスライスレベルを一定値に固定した場合のエ
ラーバイト数を示す。このようにデータスライスレベル
を一定値に固定した場合の記録パワーに対する変化は非
常に急峻となり、最適記録パワー検出を非常に精度よく
行える。

【００１３】（実施例２）図３にアナログ波形とエンベ
ロープ検出波形を示す。アナログ波形３０１は、反射率
の変動等の変動によりＡＣ、及びＤＣ成分の変動を起
す。エンベロープ検出回路により、３０２、３０３に示
す波形が得られる。図４にエンベロープ検出回路のブロ
ック図を示す。ブロック図の上半分がエンベロープのト
ップレベル検出回路、下半分がエンベロープのボトムレ
ベル検出回路を示す。これらはピーク検出を応用した回
路の一例であり、信号３０１をＡ／Ｄ変換した後計算に
よりエンベロープを算出する方法もとることが出来る。

【００１４】（実施例３）図５に最適パワー検出に用い
るデータスライスレベル生成回路のブロック図を示す。
アナログ信号３０１からエンベロープのトップレベル検
出回路によりトップレベル３０２が出力される。一方、
アナログ信号３０１からエンベロープのボトムレベル検
出回路によりボトムレベル３０３が出力される。抵抗５
０１、５０２によりトップレベルとボトムレベルは抵抗
分割されデータスライスレベル５０３を生成する。この
実施例では抵抗５０１は８．２ｋΩ、抵抗５０２は１２
ｋΩとし、トップレベルとボトムレベルの約６０％のレ
ベルをデータースライスレベルとした。

【００１５】（実施例４）図６に最適パワー検出に用い
る、Ａ／Ｄ回路を使用するデータスライスレベル生成回
路ブロック図を示す。アナログ信号３０１からエンベロ
ープのトップレベル検出回路によりトップレベル３０２
が出力される。一方、アナログ信号３０１からエンベロ
ープのボトムレベル検出回路によりボトムレベル３０３
が出力される。アナログのトップレベル信号はＡ／Ｄ６
０１によりデジタル化され、ボトムレベル信号はＡ／Ｄ
変換６０２によりデジタル化される。Ａ／Ｄ変換６０
１，６０２より出力されたデータを演算器６０３により
データースライスレベルのデータを算出し、Ｄ／Ａ変換
６０４によりデータスライスレベル６０５を生成する。
この実施例では、演算部６０３でのトップレベルとボト
ムレベルに対するデータスライスレベルを６０％とする
演算を行っている。

【００１６】（実施例５）図７に最適パワー検出に用い
る、Ａ／Ｄ回路を使用するもう一つの実施例に基づくデ
ータスライスレベル生成回路ブロック図を示す。アナロ
グ信号３０１からのアナログ信号をＡ／Ｄ変換器７０１
でアナログ／デジタル変換を行い、デジタル信号を処理
する演算部７０２で、トップレベルとボトムレベルを検
出する工程を経て、データースライスレベルの算出を行
う。その演算出力をＤ／Ａ変換器７０３によりデータス
ライスレベル７０４を生成する。ここでのデータスライ
スレベルは演算部で行うので、演算部にヘッドの現在の
位置情報または、ゾーン情報を与え、その情報によりデ
ータスライスレベルをきめ細かく設定している。ゾーン
とは、ディスクを径方向に複数に分割したときのそれぞ
れの領域をいう。

【００１７】（実施例６）図８に記録パワーに対するエ
ラーバイト数を、通常の再生時（データスライスレベル
補正時）と最適記録パワー検出時で示す。（ａ）は内
周、（ｂ）は外周を示す。まず、内周において（ａ）で
説明する。８０１に通常の再生時の記録パワーに対する
エラーバイト数を示す。８０２に最適記録パワー検出時
で、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベ
ルに対し６０％に設定した時の記録パワーに対するエラ
ーバイト数を示し、８０３に最適記録パワー検出時で、
データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに
対し６３％に設定した時の記録パワーに対するエラーバ
イト数を示す。このように、内周の最適パワーは、デー
タスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し
６３％に設定した時に求めた最適記録パワーと一致し、
データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに
対し６０％に設定した時に求めた最適記録パワーとは一
致しない。ここに、最適記録パワーとは、エラーバイト
数が最小となる底部分の中心部の記録パワーのことであ
る。

【００１８】一方、外周における現象を（ｂ）で説明す
る。８０４に通常の再生時の記録パワーに対するエラー
バイト数を示す。８０５に最適記録パワー検出時で、デ
ータスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対
し６０％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイ
ト数を示し、８０６に最適記録パワー検出時で、データ
スライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６
３％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数
を示す。このように、内周の最適パワーは、データスラ
イスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％
に設定した時に求めた最適記録パワーと一致し、データ
スライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６
３％に設定した時に求めた最適記録パワーとは一致しな
い。このように内周と外周での最適記録パワーの検出時
のデータスライスレベルの違いにより検出する最適記録
パワーが変化していることから、内周と外周でデータス
ライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対する比
を変える必要がある。この実施例ではデータスライスレ
ベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％と６３
％の２種類持ち、内周では６３％、外周では６０％のス
ライスレベルとした。具体的な回路の一例を図９に示
す。アナログ信号３０１よりエンベロープ検出回路によ
り生成されたトップ信号３０２とボトム信号３０３を直
列に接続された抵抗９０１、９０２、９０３の両端に接
続し、抵抗９０１と９０２の間と抵抗９０２と９０３の
間、２つをアナログスイッチ９０４に入力し、どちらか
一方を制御線９０６で選択する。アナログスイッチ９０
４によって選択された信号がデータスライスレベル９０
５として得られる。

【００１９】（実施例７）図１０に各ゾーンにおける最
適記録パワーを示す。内周のテストゾーンにおける最適
記録パワーを１００１に，外周のテストゾーンにおける
最適記録パワーを１００２に示す。各ゾーンにおける最
適記録パワーを黒丸印の１００３に示す。予め標準ディ
スクで求めておいた近似式の２次の係数，０．０１と内
外周のテストゾーンで求めた最適記録パワーによって，
式

【００２０】

【数４】 の係数Ａ，Ｂの値を求めることが出来る。ここで求めた
近似式による各ゾーンの最適記録パワーの値を実線１０
０４で示す。このように内外周のみの最適記録パワーの
検出のみで各ゾーンの最適記録パワーが精度±０．１ｍ
Ｗで求めることが出来る。図１１に各ゾーンの最適記録
パワー設定工程を示す。内外周のテストゾーンにより最
適記録パワーを求め，予めメモリに貯えておいた２次の
係数とにより，２次式の１次以下の係数を算出し，２次
式を完成させる。その後，ゾーンの情報を与えることに
よりそのゾーンの最適記録パワーを算出を行う。

【００２１】（実施例８）ゾーンに対する最適記録パワ
ーの近似式の２次の係数がばらつくディスクの場合を図
１２に示す。ディスクＡは２次の係数が小さく，ディス
クＢは大きい。従って，予め標準ディスクで２次の係数
を求めることができない。この場合，中周（ゾーン５）
のテストゾーンも内外周に加え最適記録パワー検出を行
い，その３点により，２次以下の係数３つを算出する。
ディスクＡでは，内，中，外周の最適パワー検出により
最適記録パワー１２０１，１２０２，１２０３を求め２
次近似式の係数を算出し各ゾーンの最適記録パワー１２
０７を得る。また２次の係数の大きいディスクＢでは，
内，中，外周の最適パワー検出により最適記録パワー１
２０４，１２０５，１２０６を求め２次近似式の係数を
算出し各ゾーンの最適記録パワー１２０８を得る。この
ように近似式の２次の係数がばらつくディスクの場合
は，内，中，外最適パワー検出により２次の係数も同時
に算出する。但，２次の係数の算出は，ディスク挿入時
のみ行い，その後の温度変化，経時変化に対応した最適
記録パワー検出の時点では，２次の係数はディスク挿入
時の値を用い，内外周のみの最適記録パワー検出で１次
以下の係数を算出して２次近似式を得る。つまり，ディ
スク挿入時は内，中，外周の３点で最適記録パワーを検
出し，２次以下の係数を算出し，２次の係数をメモリに
貯えておく。その後一定時間経過毎の，温度変化及び経
時変化に対応した最適記録パワー検出は，メモリに貯え
た２次の係数を用い内外周のみで行われる。

【００２２】（実施例９）図１３にパルストレイン記録
を行う時の４値記録パルス波形を示す。１３０１はプリ
ヒートパワー：Ｐａで，１３０２は記録パワー１：Ｐｗ
１，１３０３は記録パワー２：Ｐｗ２，１３０４は熱遮
断パワー：Ｐｃである。これらはエッジ記録の時エッジ
における熱制御を行う為に設定されたパワーである。こ
の実施例では熱干渉を抑える目的で，

【００２３】

【数５】 という比に設定した。また，線速が変化に応じて絶対パ
ワーは変化させるが，上記のパルストレイン内でのパワ
ー比は変化させていない。図１４に内外周におけるパル
ストレイン波形を示す。線速の遅い内周は１４０１の波
形になり，線速の速い外周では１４０２になる。この場
合両者とも，プリヒートパワー：Ｐａ，記録パワー１：
Ｐｗ１，記録パワー２：Ｐｗ２，熱遮断パワー：Ｐｃ，
の比は同じである。

【００２４】（実施例１０）本実施例におけるエラー検
出工程の概略図を図１５に示す。記録パワーを例えば５
ｍＷ〜８ｍＷまで間隔０．２ｍＷで５セクター単位で記
録し，記録パワー毎のエラー数を検出する。まず１５０
１に示す工程でエラー訂正を中止し再生を行う。工程１
５０２では検出したセクター毎のエラーバイト数を計測
する。その結果，表１５０３に示した，セクター番号に
対するエラー数となる。工程１５０４によりエラーバイ
ト数の多い方から２番目までのセクターを除外し，工程
１５０５で残りの３セクターのエラーバイト数を合計す
る。工程１５０６により記録パワーと工程１５０５で求
めたエラーバイト数を対でメモリに格納する。この一連
の工程を各記録パワー毎に繰返し，一番エラーバイト数
の少なかった記録パワーを最適記録パワーとする。

【００２５】（実施例１１）図１６に実施例１０で示し
た記録パワーに対するエラーバイト数のグラフを示す。
この図を基に最適記録パワー検出工程を説明する。まず
記録パワー７．８ｍＷのエラーバイト数が５となり最小
値となっている。その隣記録パワーの低い７．６ｍＷで
のエラーバイト数は７となっておりエラーバイト数は２
増加している。また，７．４ｍＷはエラーバイト数１８
と１３増加となり，７．２ｍＷはエラーバイト数２３と
１８増加となる。一方，パワーその隣記録パワーの高い
８．０ｍＷでのエラーバイト数は６となっておりエラー
バイト数は１増加している。また，８．２ｍＷはエラー
バイト数１２と７増加となり，８．４ｍＷはエラーバイ
ト数２３と１８増加となる。このように，エラーバイト
数が最少のエラーバイト数に対する増加が５バイト以内
である記録パワーが複数個存在する場合，５バイト以内
である記録パワーの１ステップ小さい記録パワー，ここ
では７．４ｍＷと，２ステップ小さい記録パワー７．２
ｍＷのエラーバイト数が単調増加していて，且つ，１ス
テップ大きい記録パワー８．２ｍＷと２ステップ大きい
記録パワー８．４ｍＷにおいてのエラーバイト数も単調
増加しているという条件を満足すれば，最少のエラーバ
イト数に対する増加が５バイト以内の記録パワーの平均
を最適記録パワーとする。

【００２６】（実施例１２）図１７にテストゾーンにお
ける最適記録パワー検出に用いるセクターを示す。テス
トゾーンは，トラックに沿って開始位置１７０１を先頭
に外側に向かって終了位置１７０２まで設定されてい
る。最適記録パワー検出にはその一部を用いる。本実施
例では，２ｍＷのレンジで０．２ｍＷステップで記録パ
ワーを設定し各記録パワーで８セクター記録エリアを持
つ方法をとる。記録パワー設定のため２セクター要する
ので，１記録パワーステップ当り１０セクターを使用す
る。従って最適記録パワー検出には，１００セクター必
要となる。最適記録パワー検出は，先頭セクター位置１
７０３から終了セクター位置１７０４となる。テストゾ
ーンのセクター数より少なく最適記録パワー検出に要す
るセクターを十分少なくなるよう設定してあるので，最
適記録パワー検出の先頭セクターは，テストゾーン開始
セクター位置から，最適記録パワー検出の終了セクター
１７０４がテストゾーン終了位置１７０２と一致する時
の記録パワー検出開始セクター位置までの間で，設定可
能となる。実際の最適記録パワー検出開始セクターは上
記の設定可能セクター位置の範囲内でランダムに設定さ
れる。

【００２７】（実施例１３）図１８に最適記録パワー検
出工程の工程内容を示す。工程１８０１では最適記録パ
ワー検出開始セクターを設定可能セクター位置の範囲内
でランダムに設定する。次の工程１８０２において，最
適記録パワー検出開始セクターから終了セクターまで連
続消去を行う。１８０３で示したルーチンでは，連続記
録を行う。即ち，２セクター通過する時間を用い記録パ
ワーを設定した後８セクター記録し，その後シーク及び
トラックジャンプを行わず連続して記録パワー設定，記
録を指定された記録パワーになるまで繰返す。ルーチン
１８０３終了後，最適記録パワー検出開始セクターに戻
り，１８０４に示す連続再生工程を行う。この再生時に
実施例９，１０で示したエラーバイト数検出を行い最適
記録パワーを得る。

【００２８】（実施例１４）図１９に最適記録パワー検
出時の再生方法を示す。ディスクにおけるセクター内容
を１９０１〜１９０５に示す。セクターの先頭には，ア
ドレス情報があるＩＤ部１９０１があり，１９０２のギ
ャップ，１９０３のＶＦＯ，１９０４のシンクパター
ン，１９０５のデータ部の順番に配列されている。１９
０６で示したＩＤ部からデータ記録エリアのシンクパタ
ーンまでは，通常の再生をとる。つまり，上記の間はデ
ータスライスレベルもデーターパターンに追従させしか
もデータ検出ウインドウも１００％とする。これによ
り，アドレスデータを読み誤ることが無く，しかもデー
ター領域でのＰＬＬも良好に動作する。その後，１９０
７で示した領域では，データスライスレベルを固定し，
データ検出ウインドウも３０％程度狭く設定して，エラ
ー検出を行う。この領域は最適記録パワー検出の為の長
短の繰返しの特殊パターンが記録されている。この設定
の組合わせにより，最適記録パワー検出のために，記録
パワーを故意に変動させた時にもアドレス情報，精度の
良いＰＬＬ，及び，シンクパターンの確実な検出が行
え，確実で精度の良い最適記録パワー検出が出来る。

【００２９】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、 １）請求項１，２，３によれば，ピットエッジ記録にお
いて，非常に正確に最適記録パワーが検出出来，しかも
検出した最適記録パワーは，記録パワーの小さい方にも
大きい方にもマージンが同じようにしかも広くとれる。 ２）請求項４．５によれば，反射率等のＤＣ的な変動，
及び，振幅変動がＲＦ信号に発生しても，常にＲＦ信号
のエンベロープに対し，一定の比でスライスレベルを固
定することが出来，信号変動に影響されない正確な最適
記録パワー検出が出来る。 ３）請求項６によれば，内周と外周とでアシンメトリに
対する最適記録パワーの異なるディスクにおいても，最
適記録パワーに対するアシンメトリに正確に合わせるこ
とが出来る。従って，内周，外周を問わず，記録パワー
マージンの中心値に最適記録パワー検出工程で検出した
値と正確に一致させることが出来る。 ４）請求項７，１０によれば，色々な記録感度を持つデ
ィスクでも，どの様な環境下においても，内外周のテス
トゾーンでの最適記録パワー検出を行うだけで，全ての
半径位置に対する最適記録パワーを設定できる。 ５）請求項８，９によれば，線速に対する記録感度の振
舞いが大きく異なるディスクにおいても，ディスク挿入
時に内中外周の３ポイントのみで最適記録パワーを検出
するだけで全ての半径位置に対する最適記録パワーを設
定できる。しかも，ディスク挿入後の温度変化及び経時
変化に対しては，内外周の２ポイントのみの最適記録パ
ワーを検出するだけで全ての半径位置に対する最適記録
パワーを設定できる。従って，最適記録パワー設定工程
はが非常に短時間で済み，ドライブ上のメモリのみで，
ホストとの通信の中断を無くすことが出来る。 ６）請求項１１によれば，多値の複雑な記録パルスを用
いて記録している記録方法においても，単純なパルスで
記録するのと同様に簡単に短時間で最適記録パワーを検
出することができる。 ７）請求項１２，１３によれば，非常に簡単な演算で，
しかも，誤差の極めて少ない最適記録パワー検出が出来
る。 ８）請求項１４，１５によれば，連続したセクターで，
連続消去，連続記録，連続再生を行うため，最少のセク
ター数で，しかも，短時間で最適記録パワー検出が出来
る。また，記録エリアは，毎回ランダムに設定されるた
め記録膜に対する損傷も軽減することが出来る。 ９）請求項１６，１７によれば，最適記録パワー検出工
程において，アドレス等のＩＤ部とデータのクロックを
生成するデータのＶＦＯ部のデータスライスレベルは，
通常のデータ追随方法を取り，データシンクパターン以
後は固定スライスレベルとするため，アドレス情報，及
び，データクロックの検出誤りが無くなり，純粋に記録
パワーのみでのデータエラー検出を行うことが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１の再生波形を示す概略図であ
る。

【図２】本発明の実施例１の記録パワーに対するエラー
数を示す図である。

【図３】本発明の実施例２のアナログ波形のエンベロー
プ検出波形を示図である。

【図４】本発明の実施例２のエンベロープ検出回路のブ
ロック図を示す。

【図５】本発明の実施例３のデータスライスレベル生成
回路のブロック図である。

【図６】本発明の実施例４のＡ／Ｄ回路を用いたデータ
スライスレベル生成回路のブロック図である。

【図７】本発明の実施例５のＡ／Ｄ回路を用いたデータ
スライスレベル生成回路のブロック図である。

【図８】本発明の実施例６の記録パワーに対するエラー
バイト数を示す図である。

【図９】本発明の実施例６のデータスライスレベル生成
回路のブロック図である。

【図１０】本発明の実施例７の各ゾーンにおける最適記
録パワーを示す図である。

【図１１】本発明の実施例７の最適記録パワー設定工程
を示す図である。

【図１２】本発明の実施例８の最適記録パワーの近似式
にばらつきがある場合のを示す図である。

【図１３】本発明の実施例９のパルストレイン記録波形
を示す図である。

【図１４】本発明の実施例９の内外周におけるパルスト
レイン記録波形を示す図である。

【図１５】本発明の実施例１０のエラー数検出工程を示
す概略図である。

【図１６】本発明の実施例１０の記録パワーに対するエ
ラーバイト数を示す図である。

【図１７】本発明の実施例１１のテストゾーンにおける
最適記録パワー検出に用いるセクターを示す図である。

【図１８】本発明の実施例１２の最適記録パワー検出工
程内容を示す概略図である。

【図１９】本発明の実施例１３の最適記録パワー検出時
の再生方法を示す図である。

【符号の説明】

５０１，５０２・・・・スライスレベル設定用抵抗 ５０３・・・・・・・・データスライスレベル ６０１，６０２・・・・アナログ／デジタル変換器 ６０３・・・・・・・・演算器 ６０４・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器 ６０５・・・・・・・・データスライスレベル ７０１・・・・・・・・アナログ／デジタル変換器 ７０２・・・・・・・・演算器 ７０３・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器 ７０４・・・・・・・・データスライスレベル ８０１・・・・・・・・内周通常再生時 ８０２・・・・・・・・データスライスレベル６０％時 ８０３・・・・・・・・データスライスレベル６３％時 ８０４・・・・・・・・外周通常再生時 ８０５・・・・・・・・データスライスレベル６０％時 ８０６・・・・・・・・データスライスレベル６３％時 ９０４・・・・・・・・アナログスイッチ ９０６・・・・・・・・位置信号制御線 １７０１・・・・・・・テストゾーン開始セクター １７０２・・・・・・・テストゾーン終了セクター １７０３・・・・・・・最適記録パワー検出開始セクタ
ー １７０４・・・・・・・最適記録パワー終了セクター １８０３・・・・・・・連続記録工程 １８０４・・・・・・・連続再生工程 １９０６・・・・・・・通常再生モード時 １９０７・・・・・・・最適記録パワー検出モード時

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成１３年１０月３日（２００１．１０．
３）

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】全文

【補正方法】変更

【補正内容】

【書類名】 明細書

【発明の名称】 最適記録パワー検出方法、工程、回
路、及び、光記録装置

【特許請求の範囲】

【数１】 で求める工程を持つことを特徴とする光記録装置

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光記録装置における
最適記録パワー検出方法、工程、及び、回路に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】ピットの両端に情報を持たせたエッジ記
録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記
録する光記録装置において、従来この種の最適記録パワ
ー検出手段は、記録パワーをパラメータとし、通常の再
生と同様の検出で信号を記録した時のエラーの個数をカ
ウントし行っており、この方法だと、記録パワーに対す
るエラー数の変化が少なく最適記録パワーの検出に誤差
が生じた。また、最適記録パワーを検出する半径位置は
一枚のディスクで数ヶ所に及んでいた。一方、最適パワ
ー検出においては、記録レーザパワーを設定し、テスト
セクタに対し書込み、その後再生しエラーの個数をカウ
ントする、同様の動作を記録パワーを一定値ずらし繰返
し行う、というシーケンスをとっていた。記録後再生を
行うには少なくともディスクの一周の回転を待たねばな
らず、これを繰返し行う最適記録パワー検出は非常に時
間のかかる動作になる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記課題を解
決するためのものであり、最適記録パワー検出時のエラ
ーの発生を急峻にし、しかも、ディスクで３箇所以内の
テストゾーンのみで最適記録パワーの検出工程を行え
ば、ディスク全体の最適記録パワーの設定を行うことが
できる。また、連続消去、記録、再生を行うことで、最
適記録パワーの検出を従来の半分以下の時間で行うこと
を主な目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の最適記録パワー検出方法は、 １） 最適記録パワー検出工程実行時のみ、アナログ信
号をデジタル信号に変換するコンパレータのスライスレ
ベルを一定値に固定する工程と、データ検出ウインドウ
幅を通常再生時より狭くする工程を持つことを特徴とす
る。 ２） アナログ信号をデジタル信号に変換するコンパレ
ータのデータスライスレベルを、ディスクの内周で最適
記録パワーを検出するときと，外周で最適記録パワーを
検出するときとで異なる値とすることを特徴とする。

【０００５】上記課題を解決する本発明の最適記録パワ
ー検出回路は， １） アナログ信号のエンベロープを検出するピーク検
出回路を備えること，前記ピーク検出回路より検出し
た、信号の上のピークレベル（トップレベル）と下のピ
ークレベル（ボトムレベル）信号から抵抗分割でデータ
ースライスレベルを出力する回路を持つことを特徴とす
る。 ２） エンベロープ検出回路より検出した、信号の上の
ピークレベル（トップレベル）と下のピークレベル（ボ
トムレベル）信号をそれぞれアナログ／デジタル変換す
るＡ／Ｄ変換器と、トップレベルとボトムレベルからあ
る比率でデータスライスレベルを算出する演算器と、そ
の結果をデジタル／アナログ変換を行うＤ／Ａ変換器を
持つことを特徴とする ３） アナログ信号をアナログ／デジタル変換するＡ／
Ｄ変換器と演算を行う演算器と、演算器にヘッド位置、
又は、再生ゾーンを伝達する手段と、ヘッド位置、又
は、再生ゾーンによって、データスライスレベル算出時
の係数を変化させる演算方法を持った工程、及び、演算
器を持つことを特徴とする。

【０００６】上記課題を解決する本発明の光記録装置
は， １） 最適記録パワーを、ディスク半径位置に対する２
次の近似式

【０００７】

【数２】

【０００８】で求める工程を持つことを特徴とする。 ２） 内周、中周、外周のドライブに割り当てられたテ
ストゾーンで最適記録パワーを求める工程と、７）記載
の近似式の係数Ａ、Ｂ、Ｃを決定する工程と、係数の決
定された２次近似式によりディスクの各半径位置に対す
る最適記録パワーを演算し決定する工程を持つことを特
徴とする。 ３） ディスクの挿入時おいては、内周、中周、外周の
ドライブに割り当てられたテストゾーンで最適記録パワ
ー検出工程を行い、７）記載の近似式の係数Ａ、Ｂ、Ｃ
を決定する工程と、そこで求めた係数Ａの値をメモリー
に保存する工程と、ディスク挿入後のホストコンピュー
タとの通信が無い一定時間毎（温度変化及び経時変化等
に対応する時間）に行う最適記録パワー検出工程におい
ては、メモリに保存した係数Ａと，内外周のみの２点の
最適記録パワー検出工程によって２次の近似式を決定す
る工程を有することを特徴とする。 ４） １）記載の近似式の係数Ａは、あらかじめ標準ド
ライブ等での最適記録パワー測定によって求め決定し、
係数Ａをドライブのメモリに保持しておく工程と、実際
のドライブでは内外周の２点のみの最適記録パワー検出
を行い係数Ｂ、Ｃを算出する工程を持ち、２次近次式に
よりディスクの各半径位置に対する最適記録パワーを決
定する工程を持つことを特徴とする。 ５） 記録パルスのパワー値を少なくとも３値以上で形
成する光変調記録において、３値以上のパワー値のそれ
ぞれの比をメモリに保持しておく工程と，最適記録パワ
ーを検出するいずれかのテストゾーンにおいても、メモ
リに保持されている比を読出し、その比を固定した状態
で記録パワーを変化させ、最適記録パワーを検出する工
程を持つこと，近似式によって各半径位置に対する最適
記録パワーの算出工程後，最適記録パワーに対する多値
の記録パルスをメモリに保存されている比で算出する工
程を持つことを特徴とする。

【０００９】上記課題を解決する本発明の最適記録パワ
ー検出工程は， １） 最適記録パワーを検出する為のエラー検出におい
て、一つの記録パワー値でエラー検出に用いるセクター
数を２セクター以上とし、１セクター内に発生するエラ
ーバイト数を検出し、エラー検出に用いたセクターの中
で最もエラーバイト数の多かったセクターから１ないし
２セクターを除いたセクターのエラーバイト数を加算
し、そのエラーバイト数が最も少ない記録パワーを最適
記録パワーとする工程を持つことを特徴とする。 ２） １）記載の最適記録パワー検出工程において、最
少のエラー数であった記録パワー値の大小両隣のエラー
数が一定以上、例えば５バイト以上あり、かつ最少のエ
ラー数であった記録パワーから記録パワー２ステップ以
上エラー数が単調増加になっていれば、最少であったエ
ラー数の記録パワーの値を最適記録パワーとする工程、
及び、最少のエラー数であった記録パワー値の大小両隣
のエラー数が一定以下の場合、その一定以下であったエ
ラー数の時の記録パワーの平均を計算し、その平均値を
最適記録パワーとする工程を持つことを特徴とする。 ３） 最適記録パワーを検出するテストゾーンの中で、
実際に記録試験に用いる領域は、その半径位置での最適
記録パワー検出工程が終了するまで、セクターが連続す
ること、又、最適記録パワー検出開始セクターは、最適
記録パワー検出に用いるセクター数がテストゾーン以内
で終わる位置で、かつ、最適記録パワー検出工程毎にラ
ンダムに設定する工程を持つことを特徴とする。 ４） 最適記録パワーを検出するテストゾーンの中で、
実際に記録試験に用いるセクターを、最初に連続して消
去のみを行う工程と、記録パワーの設定、記録、の繰返
しを連続したセクターで行う工程と、ここで、記録パワ
ーの設定には、１〜３セクター通過する時間で行い、実
際に記録試験に用いるセクター数は記録パワー設定に要
するセクター数も加算したものとする工程と、全記録試
験パワーで記録終了後、エラー数検出のため記録セクタ
ーを連続して再生を行う工程を持つことを特徴とする。 ５） 最適記録パワーを検出工程において、通常再生す
るモードと、最適記録パワー検出用モードを２つ持つ工
程と、プリピット部とデータ記録部でモードを切替える
工程を持つことを特徴とする。 ６） 最適記録パワーを検出する工程において、プリピ
ット部とデータ記録部のＶＦＯ部（データクロックを抽
出する部分）を、通常再生モードとする工程と、その後
に続くデータ部では最適記録パワー検出モードとする工
程を持つことを特徴とする。

【００１０】

【作用】１）通常再生時には、アナログ信号をコンパレ
ートするデータスライスレベルを、信号の変化に合わせ
スライスレベル補正を行い、信号のエンベロープ変化等
に対し安定した検出が得られる方法を用いている。この
データスライスレベルを固定値にすると、記録パワーの
変化によるアシンメトリの発生に追従できなくなり、記
録パワーに対し急激にエラーの発生個数が変化し、精度
良い最適記録パワー検出が可能になる。また、信号のエ
ンベロープを検出しその一定割合をデータスライスレベ
ルに用いれば、ディスクの反射率変動等に伴うエンベロ
ープ変動には影響されず、しかも、記録パワー変動で発
生するアシンメトリには敏感にエラー発生個数が変化す
るデータスライスレベルが得られる。 ３）ディスク半径位置に対する最適記録パワーを２次式
で表現し、傾きを一次の係数、上に凸のふくらみを２次
の係数と出来るので、内外周のテストゾーンに加え中周
のテストゾーンのみでの最適記録パワー検出により、次
式に示す式により

【００１１】

【数３】

【００１２】２次式の係数Ａ，Ｂ、Ｃを決定できる。こ
の係数を用いディスク全周にわたり精度の良い最適記録
パワーを算出出来る。また、あらかじめ２次の係数を標
準ドライブで求めておけば、実際のドライブでは内周と
外周のみの最適記録パワー検出で、ディスク全周にわた
り精度の良い最適記録パワーを算出出来る。

【００１３】

【発明の実施の形態】（実施例１）図１は本発明の実施
例１における記録波形を示す概略図である。図１（ａ）
にはアナログ再生波形を示す。記録パターンは、１ー７
変調で最短パターンである２Ｔを５Ｔ信号で挟んだ、５
Ｔ、２Ｔ、の繰返しである（Ｔは検出ウィンドウの時間
幅である。）。１０１は記録パワーの小さい時の再生波
形、１０２は記録パワーの大きい時の再生波形を示す。
ここで通常の再生時にはデータスライスレベルはスライ
スレベル補正回路が働くために、記録パワーの小さい時
のスライスレベルは１０４のレベルに補正され、記録パ
ワーの大きい時のスライスレベルは１０５のレベルに補
正され、記録パワー変動に対しエラーが起こりにくい回
路となっている。そこで、スライスレベル補正回路を働
かせないようにして、データスライスレベルを一定値に
固定すると、再生信号が変化してもデータスライスレベ
ルは変化せず、１０３のデータスライスレベルとなる。
（ｂ）には（ａ）のアナログ波形を１０３でデータスラ
イスした後のデジタル波形を示す。１０６はアナログ波
形１０１のスライスされたデジタル波形で、１０７はア
ナログ波形１０２のスライスされたデジタル波形であ
る。このように最短パターンは記録パワーによって、デ
ータスライス後のパルス幅が大きく変化しエラーの出る
確率が急激に変化する。

【００１４】図２に記録パワーによる１セクター当りの
エラーバイト数を示す。２０１はデータスライスレベル
補正回路を働かせた場合のエラーバイト数を示し、２０
２はデータスライスレベルを一定値に固定した場合のエ
ラーバイト数を示す。このようにデータスライスレベル
を一定値に固定した場合の記録パワーに対する変化は非
常に急峻となり、最適記録パワー検出を非常に精度よく
行える。

【００１５】図３にアナログ波形とエンベロープ検出波
形を示す。アナログ波形３０１は、反射率の変動等の変
動によりＡＣ、及びＤＣ成分の変動を起す。エンベロー
プ検出回路により、３０２、３０３に示す波形が得られ
る。図４にエンベロープ検出回路のブロック図を示す。
ブロック図の上半分がエンベロープのトップレベル検出
回路、下半分がエンベロープのボトムレベル検出回路を
示す。これらはピーク検出を応用した回路の一例であ
り、信号３０１をＡ／Ｄ変換した後計算によりエンベロ
ープを算出する方法もとることが出来る。

【００１６】図５に最適パワー検出に用いるデータスラ
イスレベル生成回路のブロック図を示す。アナログ信号
３０１からエンベロープのトップレベル検出回路により
トップレベル３０２が出力される。一方、アナログ信号
３０１からエンベロープのボトムレベル検出回路により
ボトムレベル３０３が出力される。抵抗５０１、５０２
によりトップレベルとボトムレベルは抵抗分割されデー
タスライスレベル５０３を生成する。この実施例では抵
抗５０１は８．２ｋΩ、抵抗５０２は１２ｋΩとし、ト
ップレベルとボトムレベルの約６０％のレベルをデータ
ースライスレベルとした。

【００１７】図６に最適パワー検出に用いる、Ａ／Ｄ回
路を使用するデータスライスレベル生成回路ブロック図
を示す。アナログ信号３０１からエンベロープのトップ
レベル検出回路によりトップレベル３０２が出力され
る。一方、アナログ信号３０１からエンベロープのボト
ムレベル検出回路によりボトムレベル３０３が出力され
る。アナログのトップレベル信号はＡ／Ｄ６０１により
デジタル化され、ボトムレベル信号はＡ／Ｄ変換６０２
によりデジタル化される。Ａ／Ｄ変換６０１，６０２よ
り出力されたデータを演算器６０３によりデータースラ
イスレベルのデータを算出し、Ｄ／Ａ変換６０４により
データスライスレベル６０５を生成する。この実施例で
は、演算部６０３でのトップレベルとボトムレベルに対
するデータスライスレベルを６０％とする演算を行って
いる。 （実施例２）図７に最適パワー検出に用いる、Ａ／Ｄ回
路を使用するもう一つの実施例に基づくデータスライス
レベル生成回路ブロック図を示す。アナログ信号３０１
からのアナログ信号をＡ／Ｄ変換器７０１でアナログ／
デジタル変換を行い、デジタル信号を処理する演算部７
０２で、トップレベルとボトムレベルを検出する工程を
経て、データースライスレベルの算出を行う。その演算
出力をＤ／Ａ変換器７０３によりデータスライスレベル
７０４を生成する。ここでのデータスライスレベルは演
算部で行うので、演算部にヘッドの現在の位置情報また
は、ゾーン情報を与え、その情報によりデータスライス
レベルをきめ細かく設定している。ゾーンとは、ディス
クを径方向に複数に分割したときのそれぞれの領域をい
う。

【００１８】図８に記録パワーに対するエラーバイト数
を、通常の再生時（データスライスレベル補正時）と最
適記録パワー検出時で示す。（ａ）は内周、（ｂ）は外
周を示す。まず、内周において（ａ）で説明する。８０
１に通常の再生時の記録パワーに対するエラーバイト数
を示す。８０２に最適記録パワー検出時で、データスラ
イスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％
に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数を示
し、８０３に最適記録パワー検出時で、データスライス
レベルをトップレベルとボトムレベルに対し６３％に設
定した時の記録パワーに対するエラーバイト数を示す。
このように、内周の最適パワーは、データスライスレベ
ルをトップレベルとボトムレベルに対し６３％に設定し
た時に求めた最適記録パワーと一致し、データスライス
レベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％に設
定した時に求めた最適記録パワーとは一致しない。ここ
に、最適記録パワーとは、エラーバイト数が最小となる
底部分の中心部の記録パワーのことである。

【００１９】一方、外周における現象を（ｂ）で説明す
る。８０４に通常の再生時の記録パワーに対するエラー
バイト数を示す。８０５に最適記録パワー検出時で、デ
ータスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対
し６０％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイ
ト数を示し、８０６に最適記録パワー検出時で、データ
スライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６
３％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数
を示す。このように、内周の最適パワーは、データスラ
イスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％
に設定した時に求めた最適記録パワーと一致し、データ
スライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６
３％に設定した時に求めた最適記録パワーとは一致しな
い。このように内周と外周での最適記録パワーの検出時
のデータスライスレベルの違いにより検出する最適記録
パワーが変化していることから、内周と外周でデータス
ライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対する比
を変える必要がある。この実施例ではデータスライスレ
ベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％と６３
％の２種類持ち、内周では６３％、外周では６０％のス
ライスレベルとした。具体的な回路の一例を図９に示
す。アナログ信号３０１よりエンベロープ検出回路によ
り生成されたトップ信号３０２とボトム信号３０３を直
列に接続された抵抗９０１、９０２、９０３の両端に接
続し、抵抗９０１と９０２の間と抵抗９０２と９０３の
間、２つをアナログスイッチ９０４に入力し、どちらか
一方を制御線９０６で選択する。アナログスイッチ９０
４によって選択された信号がデータスライスレベル９０
５として得られる。

【００２０】図１０に各ゾーンにおける最適記録パワー
を示す。内周のテストゾーンにおける最適記録パワーを
１００１に，外周のテストゾーンにおける最適記録パワ
ーを１００２に示す。各ゾーンにおける最適記録パワー
を黒丸印の１００３に示す。予め標準ディスクで求めて
おいた近似式の２次の係数，０．０１と内外周のテスト
ゾーンで求めた最適記録パワーによって，式

【００２１】

【数４】

【００２２】の係数Ａ，Ｂの値を求めることが出来る。
ここで求めた近似式による各ゾーンの最適記録パワーの
値を実線１００４で示す。このように内外周のみの最適
記録パワーの検出のみで各ゾーンの最適記録パワーが精
度±０．１ｍＷで求めることが出来る。図１１に各ゾー
ンの最適記録パワー設定工程を示す。内外周のテストゾ
ーンにより最適記録パワーを求め，予めメモリに貯えて
おいた２次の係数とにより，２次式の１次以下の係数を
算出し，２次式を完成させる。その後，ゾーンの情報を
与えることによりそのゾーンの最適記録パワーを算出を
行う。

【００２３】ゾーンに対する最適記録パワーの近似式の
２次の係数がばらつくディスクの場合を図１２に示す。
ディスクＡは２次の係数が小さく，ディスクＢは大き
い。従って，予め標準ディスクで２次の係数を求めるこ
とができない。この場合，中周（ゾーン５）のテストゾ
ーンも内外周に加え最適記録パワー検出を行い，その３
点により，２次以下の係数３つを算出する。ディスクＡ
では，内，中，外周の最適パワー検出により最適記録パ
ワー１２０１，１２０２，１２０３を求め２次近似式の
係数を算出し各ゾーンの最適記録パワー１２０７を得
る。また２次の係数の大きいディスクＢでは，内，中，
外周の最適パワー検出により最適記録パワー１２０４，
１２０５，１２０６を求め２次近似式の係数を算出し各
ゾーンの最適記録パワー１２０８を得る。このように近
似式の２次の係数がばらつくディスクの場合は，内，
中，外最適パワー検出により２次の係数も同時に算出す
る。但，２次の係数の算出は，ディスク挿入時のみ行
い，その後の温度変化，経時変化に対応した最適記録パ
ワー検出の時点では，２次の係数はディスク挿入時の値
を用い，内外周のみの最適記録パワー検出で１次以下の
係数を算出して２次近似式を得る。つまり，ディスク挿
入時は内，中，外周の３点で最適記録パワーを検出し，
２次以下の係数を算出し，２次の係数をメモリに貯えて
おく。その後一定時間経過毎の，温度変化及び経時変化
に対応した最適記録パワー検出は，メモリに貯えた２次
の係数を用い内外周のみで行われる。 （実施例３）図１３にパルストレイン記録を行う時の４
値記録パルス波形を示す。１３０１はプリヒートパワ
ー：Ｐａで，１３０２は記録パワー１：Ｐｗ１，１３０
３は記録パワー２：Ｐｗ２，１３０４は熱遮断パワー：
Ｐｃである。これらはエッジ記録の時エッジにおける熱
制御を行う為に設定されたパワーである。この実施例で
は熱干渉を抑える目的で，

【００２４】

【数５】

【００２５】という比に設定した。また，線速が変化に
応じて絶対パワーは変化させるが，上記のパルストレイ
ン内でのパワー比は変化させていない。図１４に内外周
におけるパルストレイン波形を示す。線速の遅い内周は
１４０１の波形になり，線速の速い外周では１４０２に
なる。この場合両者とも，プリヒートパワー：Ｐａ，記
録パワー１：Ｐｗ１，記録パワー２：Ｐｗ２，熱遮断パ
ワー：Ｐｃ，の比は同じである。

【００２６】本実施例におけるエラー検出工程の概略図
を図１５に示す。記録パワーを例えば５ｍＷ〜８ｍＷま
で間隔０．２ｍＷで５セクター単位で記録し，記録パワ
ー毎のエラー数を検出する。まず１５０１に示す工程で
エラー訂正を中止し再生を行う。工程１５０２では検出
したセクター毎のエラーバイト数を計測する。その結
果，表１５０３に示した，セクター番号に対するエラー
数となる。工程１５０４によりエラーバイト数の多い方
から２番目までのセクターを除外し，工程１５０５で残
りの３セクターのエラーバイト数を合計する。工程１５
０６により記録パワーと工程１５０５で求めたエラーバ
イト数を対でメモリに格納する。この一連の工程を各記
録パワー毎に繰返し，一番エラーバイト数の少なかった
記録パワーを最適記録パワーとする。

【００２７】図１６に本実施例で示した記録パワーに対
するエラーバイト数のグラフを示す。この図を基に最適
記録パワー検出工程を説明する。まず記録パワー７．８
ｍＷのエラーバイト数が５となり最小値となっている。
その隣記録パワーの低い７．６ｍＷでのエラーバイト数
は７となっておりエラーバイト数は２増加している。ま
た，７．４ｍＷはエラーバイト数１８と１３増加とな
り，７．２ｍＷはエラーバイト数２３と１８増加とな
る。一方，パワーその隣記録パワーの高い８．０ｍＷで
のエラーバイト数は６となっておりエラーバイト数は１
増加している。また，８．２ｍＷはエラーバイト数１２
と７増加となり，８．４ｍＷはエラーバイト数２３と１
８増加となる。このように，エラーバイト数が最少のエ
ラーバイト数に対する増加が５バイト以内である記録パ
ワーが複数個存在する場合，５バイト以内である記録パ
ワーの１ステップ小さい記録パワー，ここでは７．４ｍ
Ｗと，２ステップ小さい記録パワー７．２ｍＷのエラー
バイト数が単調増加していて，且つ，１ステップ大きい
記録パワー８．２ｍＷと２ステップ大きい記録パワー
８．４ｍＷにおいてのエラーバイト数も単調増加してい
るという条件を満足すれば，最少のエラーバイト数に対
する増加が５バイト以内の記録パワーの平均を最適記録
パワーとする。

【００２８】図１７にテストゾーンにおける最適記録パ
ワー検出に用いるセクターを示す。テストゾーンは，ト
ラックに沿って開始位置１７０１を先頭に外側に向かっ
て終了位置１７０２まで設定されている。最適記録パワ
ー検出にはその一部を用いる。本実施例では，２ｍＷの
レンジで０．２ｍＷステップで記録パワーを設定し各記
録パワーで８セクター記録エリアを持つ方法をとる。記
録パワー設定のため２セクター要するので，１記録パワ
ーステップ当り１０セクターを使用する。従って最適記
録パワー検出には，１００セクター必要となる。最適記
録パワー検出は，先頭セクター位置１７０３から終了セ
クター位置１７０４となる。テストゾーンのセクター数
より少なく最適記録パワー検出に要するセクターを十分
少なくなるよう設定してあるので，最適記録パワー検出
の先頭セクターは，テストゾーン開始セクター位置か
ら，最適記録パワー検出の終了セクター１７０４がテス
トゾーン終了位置１７０２と一致する時の記録パワー検
出開始セクター位置までの間で，設定可能となる。実際
の最適記録パワー検出開始セクターは上記の設定可能セ
クター位置の範囲内でランダムに設定される。

【００２９】図１８に最適記録パワー検出工程の工程内
容を示す。工程１８０１では最適記録パワー検出開始セ
クターを設定可能セクター位置の範囲内でランダムに設
定する。次の工程１８０２において，最適記録パワー検
出開始セクターから終了セクターまで連続消去を行う。
１８０３で示したルーチンでは，連続記録を行う。即
ち，２セクター通過する時間を用い記録パワーを設定し
た後８セクター記録し，その後シーク及びトラックジャ
ンプを行わず連続して記録パワー設定，記録を指定され
た記録パワーになるまで繰返す。ルーチン１８０３終了
後，最適記録パワー検出開始セクターに戻り，１８０４
に示す連続再生工程を行う。この再生時に実施例９，１
０で示したエラーバイト数検出を行い最適記録パワーを
得る。

【００３０】図１９に最適記録パワー検出時の再生方法
を示す。ディスクにおけるセクター内容を１９０１〜１
９０５に示す。セクターの先頭には，アドレス情報があ
るＩＤ部１９０１があり，１９０２のギャップ，１９０
３のＶＦＯ，１９０４のシンクパターン，１９０５のデ
ータ部の順番に配列されている。１９０６で示したＩＤ
部からデータ記録エリアのシンクパターンまでは，通常
の再生をとる。つまり，上記の間はデータスライスレベ
ルもデーターパターンに追従させしかもデータ検出ウイ
ンドウも１００％とする。これにより，アドレスデータ
を読み誤ることが無く，しかもデーター領域でのＰＬＬ
も良好に動作する。その後，１９０７で示した領域で
は，データスライスレベルを固定し，データ検出ウイン
ドウも３０％程度狭く設定して，エラー検出を行う。こ
の領域は最適記録パワー検出の為の長短の繰返しの特殊
パターンが記録されている。この設定の組合わせによ
り，最適記録パワー検出のために，記録パワーを故意に
変動させた時にもアドレス情報，精度の良いＰＬＬ，及
び，シンクパターンの確実な検出が行え，確実で精度の
良い最適記録パワー検出が出来る。

【００３１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、 １）請求項１、２によれば，ピットエッジ記録におい
て，非常に正確に最適記録パワーが検出出来，しかも検
出した最適記録パワーは，記録パワーの小さい方にも大
きい方にもマージンが同じようにしかも広くとれる。 ２）請求項３、４によれば，反射率等のＤＣ的な変動，
及び，振幅変動がＲＦ信号に発生しても，常にＲＦ信号
のエンベロープに対し，一定の比でスライスレベルを固
定することが出来，信号変動に影響されない正確な最適
記録パワー検出が出来る。 ３）請求項５によれば，内周と外周とでアシンメトリに
対する最適記録パワーの異なるディスクにおいても，最
適記録パワーに対するアシンメトリに正確に合わせるこ
とが出来る。従って，内周，外周を問わず，記録パワー
マージンの中心値に最適記録パワー検出工程で検出した
値と正確に一致させることが出来る。 ４）請求項６、９によれば，色々な記録感度を持つディ
スクでも，どの様な環境下においても，内外周のテスト
ゾーンでの最適記録パワー検出を行うだけで，全ての半
径位置に対する最適記録パワーを設定できる。 ５）請求項７、８によれば，線速に対する記録感度の振
舞いが大きく異なるディスクにおいても，ディスク挿入
時に内中外周の３ポイントのみで最適記録パワーを検出
するだけで全ての半径位置に対する最適記録パワーを設
定できる。しかも，ディスク挿入後の温度変化及び経時
変化に対しては，内外周の２ポイントのみの最適記録パ
ワーを検出するだけで全ての半径位置に対する最適記録
パワーを設定できる。従って，最適記録パワー設定工程
はが非常に短時間で済み，ドライブ上のメモリのみで，
ホストとの通信の中断を無くすことが出来る。 ６）請求項１０によれば，多値の複雑な記録パルスを用
いて記録している記録方法においても，単純なパルスで
記録するのと同様に簡単に短時間で最適記録パワーを検
出することができる。 ７）請求項１１、１２によれば，非常に簡単な演算で，
しかも，誤差の極めて少ない最適記録パワー検出が出来
る。 ８）請求項１３、１４によれば，連続したセクターで，
連続消去，連続記録，連続再生を行うため，最少のセク
ター数で，しかも，短時間で最適記録パワー検出が出来
る。また，記録エリアは，毎回ランダムに設定されるた
め記録膜に対する損傷も軽減することが出来る。 ９）請求項１５、１６によれば，最適記録パワー検出工
程において，アドレス等のＩＤ部とデータのクロックを
生成するデータのＶＦＯ部のデータスライスレベルは，
通常のデータ追随方法を取り，データシンクパターン以
後は固定スライスレベルとするため，アドレス情報，及
び，データクロックの検出誤りが無くなり，純粋に記録
パワーのみでのデータエラー検出を行うことが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１の再生波形を示す概略図であ
る。

【図２】本発明の実施例１の記録パワーに対するエラー
数を示す図である。

【図３】本発明の実施例１のアナログ波形のエンベロー
プ検出波形を示図である。

【図４】本発明の実施例１のエンベロープ検出回路のブ
ロック図を示す。

【図５】本発明の実施例１のデータスライスレベル生成
回路のブロック図である。

【図６】本発明の実施例１のＡ／Ｄ回路を用いたデータ
スライスレベル生成回路のブロック図である。

【図７】本発明の実施例２のＡ／Ｄ回路を用いたデータ
スライスレベル生成回路のブロック図である。

【図８】本発明の実施例２の記録パワーに対するエラー
バイト数を示す図である。

【図９】本発明の実施例２のデータスライスレベル生成
回路のブロック図である。

【図１０】本発明の実施例２の各ゾーンにおける最適記
録パワーを示す図である。

【図１１】本発明の実施例２の最適記録パワー設定工程
を示す図である。

【図１２】本発明の実施例２の最適記録パワーの近似式
にばらつきがある場合のを示す図である。

【図１３】本発明の実施例３のパルストレイン記録波形
を示す図である。

【図１４】本発明の実施例３の内外周におけるパルスト
レイン記録波形を示す図である。

【図１５】本発明の実施例３のエラー数検出工程を示す
概略図である。

【図１６】本発明の実施例３の記録パワーに対するエラ
ーバイト数を示す図である。

【図１７】本発明の実施例３のテストゾーンにおける最
適記録パワー検出に用いるセクターを示す図である。

【図１８】本発明の実施例３の最適記録パワー検出工程
内容を示す概略図である。

【図１９】本発明の実施例３の最適記録パワー検出時の
再生方法を示す図である。

【符号の説明】 ５０１，５０２・・・・スライスレベル設定用抵抗 ５０３・・・・・・・・データスライスレベル ６０１，６０２・・・・アナログ／デジタル変換器 ６０３・・・・・・・・演算器 ６０４・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器 ６０５・・・・・・・・データスライスレベル ７０１・・・・・・・・アナログ／デジタル変換器 ７０２・・・・・・・・演算器 ７０３・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器 ７０４・・・・・・・・データスライスレベル ８０１・・・・・・・・内周通常再生時 ８０２・・・・・・・・データスライスレベル６０％時 ８０３・・・・・・・・データスライスレベル６３％時 ８０４・・・・・・・・外周通常再生時 ８０５・・・・・・・・データスライスレベル６０％時 ８０６・・・・・・・・データスライスレベル６３％時 ９０４・・・・・・・・アナログスイッチ ９０６・・・・・・・・位置信号制御線 １７０１・・・・・・・テストゾーン開始セクター １７０２・・・・・・・テストゾーン終了セクター １７０３・・・・・・・最適記録パワー検出開始セクタ
ー １７０４・・・・・・・最適記録パワー終了セクター １８０３・・・・・・・連続記録工程 １８０４・・・・・・・連続再生工程 １９０６・・・・・・・通常再生モード時 １９０７・・・・・・・最適記録パワー検出モード時

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ピットの両端に情報を持たせたエッジ記
   録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記
   録する光記録装置において、最適記録パワーを検出する
   時の記録パターンを、少なくとも最短パターンの倍のパ
   ターンで最短パターンを挟んだパターン、即ち、（最短
   パターン），（最短パターンの２倍以上のパターン），
   （最短パターン），（最短パターンの２倍以上のパター
   ン）のくり返しで行うことを特徴とする最適記録パワー
   検出方法。
2. 【請求項２】 最適記録パワー検出工程実行時のみ、ア
   ナログ信号をデジタル信号に変換するコンパレータのス
   ライスレベルを一定値に固定し、データ検出ウインドウ
   幅を通常再生時より狭くすることを特徴とする最適記録
   パワー検出方法。
3. 【請求項３】 アナログ信号をデジタル信号に変換する
   コンパレータのデータスライスレベルを、ディスクの内
   周で最適記録パワーを検出するときと，外周で最適記録
   パワーを検出するときとで異なる値とすることを特徴と
   する最適記録パワー検出手段。
4. 【請求項４】 アナログ信号のエンベロープを検出する
   ピーク検出回路を備えること，前記ピーク検出回路より
   検出した、信号の上のピークレベル（トップレベル）と
   下のピークレベル（ボトムレベル）信号から抵抗分割で
   データースライスレベルを出力する回路を持つことを特
   徴とする最適記録パワー検出回路。
5. 【請求項５】 エンベロープ検出回路より検出した、信
   号の上のピークレベル（トップレベル）と下のピークレ
   ベル（ボトムレベル）信号をそれぞれアナログ／デジタ
   ル変換するＡ／Ｄ変換器と、トップレベルとボトムレベ
   ルからある比率でデータスライスレベルを算出する演算
   器と、その結果をデジタル／アナログ変換を行うＤ／Ａ
   変換器を持つことを特徴とする最適記録パワー検出回
   路。
6. 【請求項６】 アナログ信号をアナログ／デジタル変換
   するＡ／Ｄ変換器と演算を行う演算器と、演算器にヘッ
   ド位置、又は、再生ゾーンを伝達する手段と、ヘッド位
   置、又は、再生ゾーンによって、データスライスレベル
   算出時の係数を変化させる演算方法を持った工程、及
   び、演算器を持つことを特徴とする最適記録パワー検出
   回路。
7. 【請求項７】 最適記録パワーを、ディスク半径位置に
   対する２次の近似式 【数１】 で求める工程を持つことを特徴とする光記録装置
8. 【請求項８】 内周、中周、外周のドライブに割り当て
   られたテストゾーンで最適記録パワーを求める工程と、
   請求項７記載の近似式の係数Ａ、Ｂ、Ｃを決定する工程
   と、係数の決定された２次近似式によりディスクの各半
   径位置に対する最適記録パワーを演算し決定する工程を
   持つことを特徴とする光記録装置。
9. 【請求項９】 ディスクの挿入時においては、内周、中
   周、外周のドライブに割り当てられたテストゾーンで最
   適記録パワー検出工程を行い、請求項７記載の近似式の
   係数Ａ、Ｂ、Ｃを決定する工程と、そこで求めた係数Ａ
   の値をメモリーに保存する工程と、ディスク挿入後のホ
   ストコンピュータとの通信が無い一定時間毎（温度変化
   及び経時変化等に対応する時間）に行う最適記録パワー
   検出工程においては、メモリに保存した係数Ａと，内外
   周のみの２点の最適記録パワー検出工程によって２次の
   近似式を決定する工程を有することを特徴とする光記録
   装置。
10. 【請求項１０】 請求項７記載の近似式の係数Ａは、あ
    らかじめ標準ドライブ等での最適記録パワー測定によっ
    て求め決定し、係数Ａをドライブのメモリに保持してお
    く工程と、実際のドライブでは内外周の２点のみの最適
    記録パワー検出を行い係数Ｂ、Ｃを算出する工程を持
    ち、２次近次式によりディスクの各半径位置に対する最
    適記録パワーを決定する工程を持つことを特徴とする光
    記録装置。
11. 【請求項１１】 記録パルスのパワー値を少なくとも３
    値以上で形成する光変調記録において、３値以上のパワ
    ー値のそれぞれの比をメモリに保持しておく工程と，最
    適記録パワーを検出するいずれかのテストゾーンにおい
    ても、メモリに保持されている比を読出し、その比を固
    定した状態で記録パワーを変化させ、最適記録パワーを
    検出する工程を持つこと，近似式によって各半径位置に
    対する最適記録パワーの算出工程後，最適記録パワーに
    対する多値の記録パルスをメモリに保存されている比で
    算出する工程を持つことを特徴とする光記録装置。
12. 【請求項１２】 最適記録パワーを検出する為のエラー
    検出において、一つの記録パワー値でエラー検出に用い
    るセクター数を２セクター以上とし、１セクター内に発
    生するエラーバイト数を検出し、エラー検出に用いたセ
    クターの中で最もエラーバイト数の多かったセクターか
    ら１ないし２セクターを除いたセクターのエラーバイト
    数を加算し、そのエラーバイト数が最も少ない記録パワ
    ーを最適記録パワーとする工程を持つことを特徴とする
    最適記録パワー検出工程。
13. 【請求項１３】 請求項１２記載の最適記録パワー検出
    工程において、最少のエラー数であった記録パワー値の
    大小両隣のエラー数が一定以上、例えば５バイト以上あ
    り、かつ最少のエラー数であった記録パワーから記録パ
    ワー２ステップ以上エラー数が単調増加になっていれ
    ば、最少であったエラー数の記録パワーの値を最適記録
    パワーとする工程、及び、最少のエラー数であった記録
    パワー値の大小両隣のエラー数が一定以下の場合、その
    一定以下であったエラー数の時の記録パワーの平均を計
    算し、その平均値を最適記録パワーとする工程を持つこ
    とを特徴とする最適記録パワー検出工程。
14. 【請求項１４】 最適記録パワーを検出するテストゾー
    ンの中で、実際に記録試験に用いる領域は、その半径位
    置での最適記録パワー検出工程が終了するまで、セクタ
    ーが連続すること、又、最適記録パワー検出開始セクタ
    ーは、最適記録パワー検出に用いるセクター数がテスト
    ゾーン以内で終わる位置で、かつ、最適記録パワー検出
    工程毎にランダムに設定する工程を持つことを特徴とす
    る最適記録パワー検出工程。
15. 【請求項１５】 最適記録パワーを検出するテストゾー
    ンの中で、実際に記録試験に用いるセクターを、最初に
    連続して消去のみを行う工程と、記録パワーの設定、記
    録、の繰返しを連続したセクターで行う工程と、ここ
    で、記録パワーの設定には、１〜３セクター通過する時
    間で行い、実際に記録試験に用いるセクター数は記録パ
    ワー設定に要するセクター数も加算したものとする工程
    と、全記録試験パワーで記録終了後、エラー数検出のた
    め記録セクターを連続して再生を行う工程を持つことを
    特徴とする最適記録パワー検出工程。
16. 【請求項１６】 最適記録パワーを検出工程において、
    通常再生するモードと、最適記録パワー検出用のモード
    を２つ持つ工程と、プリピット部とデータ記録部でモー
    ドを切替える工程を持つことを特徴とする最適記録パワ
    ー検出工程。
17. 【請求項１７】 最適記録パワーを検出する工程におい
    て、プリピット部とデータ記録部のＶＦＯ部（データク
    ロックを抽出する部分）を、通常再生するモードとする
    工程と、その後に続くデータ部では最適記録パワー検出
    モードとする工程を持つことを特徴とする最適記録パワ
    ー検出工程。