JP3259640B2 - 最適記録パワー検出方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光記録装置における
最適記録パワー検出方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ピットの両端に情報を持たせたエッジ記
録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記
録する光記録装置において、従来この種の最適記録パワ
ー検出手段は、記録パワーをパラメータとし、通常の再
生と同様の検出で信号を記録した時のエラーの個数をカ
ウントし行っており、この方法だと、記録パワーに対す
るエラー数の変化が少なく最適記録パワーの検出に誤差
が生じた。また、最適記録パワーを検出する半径位置は
一枚のディスクで数ヶ所に及んでいた。

【０００３】一方、最適パワー検出においては、記録レ
ーザパワーを設定し、テストセクタに対し書込み、その
後再生しエラーの個数をカウントする、同様の動作を記
録パワーを一定値ずらし繰返し行う、というシーケンス
をとっていた。記録後再生を行うには少なくともディス
クの一周の回転を待たねばならず、これを繰返し行う最
適記録パワー検出は非常に時間のかかる動作になる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記課題を解
決するためのものであり、最適記録パワー検出時のエラ
ーの発生を急峻にし、しかも、ディスクで３箇所以内の
テストゾーンのみで最適記録パワーの検出工程を行え
ば、ディスク全体の最適記録パワーの設定を行うことが
できる。また、連続消去、記録、再生を行うことで、最
適記録パワーの検出を従来の半分以下の時間で行うこと
を主な目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の最適記録パワー検出方法は、ピットの両端
に情報を持たせたエッジ記録で、少なくとも２値以上の
記録パワー値とパルスで記録する光記録装置において、
最適記録パワーを検出する時の記録パターンを、「最短
パターン」、「最短パターンの２倍以上のパターン」、
「最短パターン」、「最短パターンの２倍以上のパター
ン」の繰り返しで記録する第１の工程と、前記第１の工
程で記録した信号を再生する第２の工程と、前記第２の
工程で再生した信号のトップレベル及びボトムレベルを
検出し、前記トップレベル及び前記ボトムレベルからス
ライスレベルを設定する第３の工程と、前記スライスレ
ベルを固定して、前記スライスレベルで前記第２の工程
で再生した信号をコンパレートし、エラーレートを検出
する第４の工程と、前記第１の工程で記録する記録パワ
ーを変更するとともに、前記第１乃至第４の工程を繰り
返して、エラーレートの底部分の記録パワーを最適記録
パワーとする第５の工程と、を有することを特徴とす
る。

【０００６】

【０００７】

【０００８】

【０００９】

【００１０】

【００１１】

【００１２】

【００１３】

【００１４】

【００１５】

【００１６】

【００１７】

【００１８】

【００１９】

【００２０】

【００２１】

【００２２】

【００２３】

【作用】ピットエッジ記録において、電源投入時、ディ
スク交換時、及び、温度変化に対し最適条件で記録する
ための最適記録パワー検出時の記録パターンを、（最短
パターン）／（最短パターンの２倍以上のパターン）／
（最短パターン）／（最短パターンの２倍以上のパター
ン）の繰り返しで行うことにより、記録パワーに対する
エラー発生個数の変化が急峻になる。そのため、このエ
ラーレートの底部分の記録パワーを最適記録パワーとす
ることにより、最適記録パワーを非常に精度よく検出で
きる。

【００２４】

【００２５】

【００２６】

【００２７】

【００２８】

【発明の実施の形態】

（実施例１）図１は本発明の実施例１における記録波形
を示す概略図である。

【００２９】図１（ａ）にはアナログ再生波形を示す。
記録パターンは、１ー７変調で最短パターンである２Ｔ
を５Ｔ信号で挟んだ、５Ｔ、２Ｔ、の繰返しである（Ｔ
は検出ウィンドウの時間幅である。）。１０１は記録パ
ワーの小さい時の再生波形、１０２は記録パワーの大き
い時の再生波形を示す。ここで通常の再生時にはデータ
スライスレベルはスライスレベル補正回路が働くため
に、記録パワーの小さい時のスライスレベルは１０４の
レベルに補正され、記録パワーの大きい時のスライスレ
ベルは１０５のレベルに補正され、記録パワー変動に対
しエラーが起こりにくい回路となっている。そこで、ス
ライスレベル補正回路を働かせないようにして、データ
スライスレベルを一定値に固定すると、再生信号が変化
してもデータスライスレベルは変化せず、１０３のデー
タスライスレベルとなる。（ｂ）には（ａ）のアナログ
波形を１０３でデータスライスした後のデジタル波形を
示す。１０６はアナログ波形１０１のスライスされたデ
ジタル波形で、１０７はアナログ波形１０２のスライス
されたデジタル波形である。このように最短パターンは
記録パワーによって、データスライス後のパルス幅が大
きく変化しエラーの出る確率が急激に変化する。

【００３０】図２に記録パワーによる１セクター当りの
エラーバイト数を示す。２０１はデータスライスレベル
補正回路を働かせた場合のエラーバイト数を示し、２０
２はデータスライスレベルを一定値に固定した場合のエ
ラーバイト数を示す。このようにデータスライスレベル
を一定値に固定した場合の記録パワーに対する変化は非
常に急峻となり、エラーレートの底部分の記録パワーを
最適記録パワーとすることにより、最適記録パワーの検
出を非常に精度よく行える。

【００３１】（実施例２）図３にアナログ波形とエンベ
ロープ検出波形を示す。アナログ波形３０１は、反射率
の変動等の変動によりＡＣ、及びＤＣ成分の変動を起
す。エンベロープ検出回路により、３０２、３０３に示
す波形が得られる。図４にエンベロープ検出回路のブロ
ック図を示す。ブロック図の上半分がエンベロープのト
ップレベル検出回路、下半分がエンベロープのボトムレ
ベル検出回路を示す。これらはピーク検出を応用した回
路の一例であり、信号３０１をＡ／Ｄ変換した後計算に
よりエンベロープを算出する方法もとることが出来る。

【００３２】（実施例３）図５に最適パワー検出に用い
るデータスライスレベル生成回路のブロック図を示す。
アナログ信号３０１からエンベロープのトップレベル検
出回路によりトップレベル３０２が出力される。一方、
アナログ信号３０１からエンベロープのボトムレベル検
出回路によりボトムレベル３０３が出力される。抵抗５
０１、５０２によりトップレベルとボトムレベルは抵抗
分割されデータスライスレベル５０３を生成する。この
実施例では抵抗５０１は８．２ｋΩ、抵抗５０２は１２
ｋΩとし、トップレベルとボトムレベルの約６０％のレ
ベルをデータースライスレベルとした。

【００３３】（実施例４）図６に最適パワー検出に用い
る、Ａ／Ｄ回路を使用するデータスライスレベル生成回
路ブロック図を示す。アナログ信号３０１からエンベロ
ープのトップレベル検出回路によりトップレベル３０２
が出力される。一方、アナログ信号３０１からエンベロ
ープのボトムレベル検出回路によりボトムレベル３０３
が出力される。アナログのトップレベル信号はＡ／Ｄ６
０１によりデジタル化され、ボトムレベル信号はＡ／Ｄ
変換６０２によりデジタル化される。Ａ／Ｄ変換６０
１，６０２より出力されたデータを演算器６０３により
データースライスレベルのデータを算出し、Ｄ／Ａ変換
６０４によりデータスライスレベル６０５を生成する。
この実施例では、演算部６０３でのトップレベルとボト
ムレベルに対するデータスライスレベルを６０％とする
演算を行っている。

【００３４】（実施例５）図７に最適パワー検出に用い
る、Ａ／Ｄ回路を使用するもう一つの実施例に基づくデ
ータスライスレベル生成回路ブロック図を示す。アナロ
グ信号３０１からのアナログ信号をＡ／Ｄ変換器７０１
でアナログ／デジタル変換を行い、デジタル信号を処理
する演算部７０２で、トップレベルとボトムレベルを検
出する工程を経て、データースライスレベルの算出を行
う。その演算出力をＤ／Ａ変換器７０３によりデータス
ライスレベル７０４を生成する。ここでのデータスライ
スレベルは演算部で行うので、演算部にヘッドの現在の
位置情報または、ゾーン情報を与え、その情報によりデ
ータスライスレベルをきめ細かく設定している。ゾーン
とは、ディスクを径方向に複数に分割したときのそれぞ
れの領域をいう。

【００３５】（実施例６）図８に記録パワーに対するエ
ラーバイト数を、通常の再生時（データスライスレベル
補正時）と最適記録パワー検出時で示す。（ａ）は内
周、（ｂ）は外周を示す。まず、内周において（ａ）で
説明する。８０１に通常の再生時の記録パワーに対する
エラーバイト数を示す。８０２に最適記録パワー検出時
で、データスライスレベルをトップレベルとボトムレベ
ルに対し６０％に設定した時の記録パワーに対するエラ
ーバイト数を示し、８０３に最適記録パワー検出時で、
データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに
対し６３％に設定した時の記録パワーに対するエラーバ
イト数を示す。このように、内周の最適パワーは、デー
タスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し
６３％に設定した時に求めた最適記録パワーと一致し、
データスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに
対し６０％に設定した時に求めた最適記録パワーとは一
致しない。ここに、最適記録パワーとは、エラーバイト
数が最小となる底部分の中心部の記録パワーのことであ
る。

【００３６】一方、外周における現象を（ｂ）で説明す
る。８０４に通常の再生時の記録パワーに対するエラー
バイト数を示す。８０５に最適記録パワー検出時で、デ
ータスライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対
し６０％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイ
ト数を示し、８０６に最適記録パワー検出時で、データ
スライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６
３％に設定した時の記録パワーに対するエラーバイト数
を示す。このように、内周の最適パワーは、データスラ
イスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％
に設定した時に求めた最適記録パワーと一致し、データ
スライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対し６
３％に設定した時に求めた最適記録パワーとは一致しな
い。このように内周と外周での最適記録パワーの検出時
のデータスライスレベルの違いにより検出する最適記録
パワーが変化していることから、内周と外周でデータス
ライスレベルをトップレベルとボトムレベルに対する比
を変える必要がある。この実施例ではデータスライスレ
ベルをトップレベルとボトムレベルに対し６０％と６３
％の２種類持ち、内周では６３％、外周では６０％のス
ライスレベルとした。具体的な回路の一例を図９に示
す。アナログ信号３０１よりエンベロープ検出回路によ
り生成されたトップ信号３０２とボトム信号３０３を直
列に接続された抵抗９０１、９０２、９０３の両端に接
続し、抵抗９０１と９０２の間と抵抗９０２と９０３の
間、２つをアナログスイッチ９０４に入力し、どちらか
一方を制御線９０６で選択する。アナログスイッチ９０
４によって選択された信号がデータスライスレベル９０
５として得られる。

【００３７】（実施例７）図１０に各ゾーンにおける最
適記録パワーを示す。内周のテストゾーンにおける最適
記録パワーを１００１に，外周のテストゾーンにおける
最適記録パワーを１００２に示す。各ゾーンにおける最
適記録パワーを黒丸印の１００３に示す。予め標準ディ
スクで求めておいた近似式の２次の係数，０．０１と内
外周のテストゾーンで求めた最適記録パワーによって，
式

【００３８】

【数４】

【００３９】の係数Ａ，Ｂの値を求めることが出来る。
ここで求めた近似式による各ゾーンの最適記録パワーの
値を実線１００４で示す。このように内外周のみの最適
記録パワーの検出のみで各ゾーンの最適記録パワーが精
度±０．１ｍＷで求めることが出来る。図１１に各ゾー
ンの最適記録パワー設定工程を示す。内外周のテストゾ
ーンにより最適記録パワーを求め，予めメモリに貯えて
おいた２次の係数とにより，２次式の１次以下の係数を
算出し，２次式を完成させる。その後，ゾーンの情報を
与えることによりそのゾーンの最適記録パワーを算出を
行う。

【００４０】（実施例８）ゾーンに対する最適記録パワ
ーの近似式の２次の係数がばらつくディスクの場合を図
１２に示す。ディスクＡは２次の係数が小さく，ディス
クＢは大きい。従って，予め標準ディスクで２次の係数
を求めることができない。この場合，中周（ゾーン５）
のテストゾーンも内外周に加え最適記録パワー検出を行
い，その３点により，２次以下の係数３つを算出する。
ディスクＡでは，内，中，外周の最適パワー検出により
最適記録パワー１２０１，１２０２，１２０３を求め２
次近似式の係数を算出し各ゾーンの最適記録パワー１２
０７を得る。また２次の係数の大きいディスクＢでは，
内，中，外周の最適パワー検出により最適記録パワー１
２０４，１２０５，１２０６を求め２次近似式の係数を
算出し各ゾーンの最適記録パワー１２０８を得る。この
ように近似式の２次の係数がばらつくディスクの場合
は，内，中，外最適パワー検出により２次の係数も同時
に算出する。但，２次の係数の算出は，ディスク挿入時
のみ行い，その後の温度変化，経時変化に対応した最適
記録パワー検出の時点では，２次の係数はディスク挿入
時の値を用い，内外周のみの最適記録パワー検出で１次
以下の係数を算出して２次近似式を得る。つまり，ディ
スク挿入時は内，中，外周の３点で最適記録パワーを検
出し，２次以下の係数を算出し，２次の係数をメモリに
貯えておく。その後一定時間経過毎の，温度変化及び経
時変化に対応した最適記録パワー検出は，メモリに貯え
た２次の係数を用い内外周のみで行われる。

【００４１】（実施例９）図１３にパルストレイン記録
を行う時の４値記録パルス波形を示す。１３０１はプリ
ヒートパワー：Ｐａで，１３０２は記録パワー１：Ｐｗ
１，１３０３は記録パワー２：Ｐｗ２，１３０４は熱遮
断パワー：Ｐｃである。これらはエッジ記録の時エッジ
における熱制御を行う為に設定されたパワーである。こ
の実施例では熱干渉を抑える目的で，

【００４２】

【数５】

【００４３】という比に設定した。また，線速が変化に
応じて絶対パワーは変化させるが，上記のパルストレイ
ン内でのパワー比は変化させていない。図１４に内外周
におけるパルストレイン波形を示す。線速の遅い内周は
１４０１の波形になり，線速の速い外周では１４０２に
なる。この場合両者とも，プリヒートパワー：Ｐａ，記
録パワー１：Ｐｗ１，記録パワー２：Ｐｗ２，熱遮断パ
ワー：Ｐｃ，の比は同じである。

【００４４】（実施例１０）本実施例におけるエラー検
出工程の概略図を図１５に示す。記録パワーを例えば５
ｍＷ〜８ｍＷまで間隔０．２ｍＷで５セクター単位で記
録し，記録パワー毎のエラー数を検出する。まず１５０
１に示す工程でエラー訂正を中止し再生を行う。工程１
５０２では検出したセクター毎のエラーバイト数を計測
する。その結果，表１５０３に示した，セクター番号に
対するエラー数となる。工程１５０４によりエラーバイ
ト数の多い方から２番目までのセクターを除外し，工程
１５０５で残りの３セクターのエラーバイト数を合計す
る。工程１５０６により記録パワーと工程１５０５で求
めたエラーバイト数を対でメモリに格納する。この一連
の工程を各記録パワー毎に繰返し，一番エラーバイト数
の少なかった記録パワーを最適記録パワーとする。

【００４５】（実施例１１）図１６に実施例１０で示し
た記録パワーに対するエラーバイト数のグラフを示す。
この図を基に最適記録パワー検出工程を説明する。まず
記録パワー７．８ｍＷのエラーバイト数が５となり最小
値となっている。その隣記録パワーの低い７．６ｍＷで
のエラーバイト数は７となっておりエラーバイト数は２
増加している。また，７．４ｍＷはエラーバイト数１８
と１３増加となり，７．２ｍＷはエラーバイト数２３と
１８増加となる。一方，パワーその隣記録パワーの高い
８．０ｍＷでのエラーバイト数は６となっておりエラー
バイト数は１増加している。また，８．２ｍＷはエラー
バイト数１２と７増加となり，８．４ｍＷはエラーバイ
ト数２３と１８増加となる。このように，エラーバイト
数が最少のエラーバイト数に対する増加が５バイト以内
である記録パワーが複数個存在する場合，５バイト以内
である記録パワーの１ステップ小さい記録パワー，ここ
では７．４ｍＷと，２ステップ小さい記録パワー７．２
ｍＷのエラーバイト数が単調増加していて，且つ，１ス
テップ大きい記録パワー８．２ｍＷと２ステップ大きい
記録パワー８．４ｍＷにおいてのエラーバイト数も単調
増加しているという条件を満足すれば，最少のエラーバ
イト数に対する増加が５バイト以内の記録パワーの平均
を最適記録パワーとする。

【００４６】（実施例１２）図１７にテストゾーンにお
ける最適記録パワー検出に用いるセクターを示す。テス
トゾーンは，トラックに沿って開始位置１７０１を先頭
に外側に向かって終了位置１７０２まで設定されてい
る。最適記録パワー検出にはその一部を用いる。本実施
例では，２ｍＷのレンジで０．２ｍＷステップで記録パ
ワーを設定し各記録パワーで８セクター記録エリアを持
つ方法をとる。記録パワー設定のため２セクター要する
ので，１記録パワーステップ当り１０セクターを使用す
る。従って最適記録パワー検出には，１００セクター必
要となる。最適記録パワー検出は，先頭セクター位置１
７０３から終了セクター位置１７０４となる。テストゾ
ーンのセクター数より少なく最適記録パワー検出に要す
るセクターを十分少なくなるよう設定してあるので，最
適記録パワー検出の先頭セクターは，テストゾーン開始
セクター位置から，最適記録パワー検出の終了セクター
１７０４がテストゾーン終了位置１７０２と一致する時
の記録パワー検出開始セクター位置までの間で，設定可
能となる。実際の最適記録パワー検出開始セクターは上
記の設定可能セクター位置の範囲内でランダムに設定さ
れる。

【００４７】（実施例１３）図１８に最適記録パワー検
出工程の工程内容を示す。工程１８０１では最適記録パ
ワー検出開始セクターを設定可能セクター位置の範囲内
でランダムに設定する。次の工程１８０２において，最
適記録パワー検出開始セクターから終了セクターまで連
続消去を行う。１８０３で示したルーチンでは，連続記
録を行う。即ち，２セクター通過する時間を用い記録パ
ワーを設定した後８セクター記録し，その後シーク及び
トラックジャンプを行わず連続して記録パワー設定，記
録を指定された記録パワーになるまで繰返す。ルーチン
１８０３終了後，最適記録パワー検出開始セクターに戻
り，１８０４に示す連続再生工程を行う。この再生時に
実施例９，１０で示したエラーバイト数検出を行い最適
記録パワーを得る。

【００４８】（実施例１４）図１９に最適記録パワー検
出時の再生方法を示す。ディスクにおけるセクター内容
を１９０１〜１９０５に示す。セクターの先頭には，ア
ドレス情報があるＩＤ部１９０１があり，１９０２のギ
ャップ，１９０３のＶＦＯ，１９０４のシンクパター
ン，１９０５のデータ部の順番に配列されている。１９
０６で示したＩＤ部からデータ記録エリアのシンクパタ
ーンまでは，通常の再生をとる。つまり，上記の間はデ
ータスライスレベルもデーターパターンに追従させしか
もデータ検出ウインドウも１００％とする。これによ
り，アドレスデータを読み誤ることが無く，しかもデー
ター領域でのＰＬＬも良好に動作する。その後，１９０
７で示した領域では，データスライスレベルを固定し，
データ検出ウインドウも３０％程度狭く設定して，エラ
ー検出を行う。この領域は最適記録パワー検出の為の長
短の繰返しの特殊パターンが記録されている。この設定
の組合わせにより，最適記録パワー検出のために，記録
パワーを故意に変動させた時にもアドレス情報，精度の
良いＰＬＬ，及び，シンクパターンの確実な検出が行
え，確実で精度の良い最適記録パワー検出が出来る。

【００４９】

【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
ピットエッジ記録において、最適記録パワーを検出する
時の記録パターンを、「最短パターン」、「最短パター
ンの２倍以上のパターン」、「最短パターン」、「最短
パターンの２倍以上のパターン」の繰り返しで記録する
とともに、再生信号のトップレベル及びボトムレベルか
らスライスレベルを設定し、このスライスレベルを固定
してエラーレートを検出すると、記録パワーに対してエ
ラーレートが急激に変化するので、エラーレートの底部
分の記録パワーを最適記録パワーとして用いることによ
り、非常に正確に最適記録パワーを検出することができ
るという効果を奏する。

【００５０】

【００５１】

【００５２】

【００５３】

【００５４】

【００５５】

【００５６】

【００５７】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１の再生波形を示す概略図であ
る。

【図２】本発明の実施例１の記録パワーに対するエラー
数を示す図である。

【図３】本発明の実施例２のアナログ波形のエンベロー
プ検出波形を示図である。

【図４】本発明の実施例２のエンベロープ検出回路のブ
ロック図を示す。

【図５】本発明の実施例３のデータスライスレベル生成
回路のブロック図である。

【図６】本発明の実施例４のＡ／Ｄ回路を用いたデータ
スライスレベル生成回路のブロック図である。

【図７】本発明の実施例５のＡ／Ｄ回路を用いたデータ
スライスレベル生成回路のブロック図である。

【図８】本発明の実施例６の記録パワーに対するエラー
バイト数を示す図である。

【図９】本発明の実施例６のデータスライスレベル生成
回路のブロック図である。

【図１０】本発明の実施例７の各ゾーンにおける最適記
録パワーを示す図である。

【図１１】本発明の実施例７の最適記録パワー設定工程
を示す図である。

【図１２】本発明の実施例８の最適記録パワーの近似式
にばらつきがある場合のを示す図である。

【図１３】本発明の実施例９のパルストレイン記録波形
を示す図である。

【図１４】本発明の実施例９の内外周におけるパルスト
レイン記録波形を示す図である。

【図１５】本発明の実施例１０のエラー数検出工程を示
す概略図である。

【図１６】本発明の実施例１０の記録パワーに対するエ
ラーバイト数を示す図である。

【図１７】本発明の実施例１１のテストゾーンにおける
最適記録パワー検出に用いるセクターを示す図である。

【図１８】本発明の実施例１２の最適記録パワー検出工
程内容を示す概略図である。

【図１９】本発明の実施例１３の最適記録パワー検出時
の再生方法を示す図である。

【符号の説明】 ５０１，５０２・・・・スライスレベル設定用抵抗 ５０３・・・・・・・・データスライスレベル ６０１，６０２・・・・アナログ／デジタル変換器 ６０３・・・・・・・・演算器 ６０４・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器 ６０５・・・・・・・・データスライスレベル ７０１・・・・・・・・アナログ／デジタル変換器 ７０２・・・・・・・・演算器 ７０３・・・・・・・・デジタル／アナログ変換器 ７０４・・・・・・・・データスライスレベル ８０１・・・・・・・・内周通常再生時 ８０２・・・・・・・・データスライスレベル６０％時 ８０３・・・・・・・・データスライスレベル６３％時 ８０４・・・・・・・・外周通常再生時 ８０５・・・・・・・・データスライスレベル６０％時 ８０６・・・・・・・・データスライスレベル６３％時 ９０４・・・・・・・・アナログスイッチ ９０６・・・・・・・・位置信号制御線 １７０１・・・・・・・テストゾーン開始セクター １７０２・・・・・・・テストゾーン終了セクター １７０３・・・・・・・最適記録パワー検出開始セクタ
ー １７０４・・・・・・・最適記録パワー終了セクター １８０３・・・・・・・連続記録工程 １８０４・・・・・・・連続再生工程 １９０６・・・・・・・通常再生モード時 １９０７・・・・・・・最適記録パワー検出モード時

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−195716（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−225570（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−103576（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−139574（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−171663（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−187641（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−250466（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ピットの両端に情報を持たせたエッジ記
   録で、少なくとも２値以上の記録パワー値とパルスで記
   録する光記録装置において、 最適記録パワーを検出する時の記録パターンを、「最短
   パターン」、「最短パターンの２倍以上のパターン」、
   「最短パターン」、「最短パターンの２倍以上のパター
   ン」の繰り返しで記録する第１の工程と、 前記第１の工程で記録した信号を再生する第２の工程
   と、 前記第２の工程で再生した信号のトップレベル及びボト
   ムレベルを検出し、前記トップレベル及び前記ボトムレ
   ベルからスライスレベルを設定する第３の工程と、 前記スライスレベルを固定して、前記スライスレベルで
   前記第２の工程で再生した信号をコンパレートし、エラ
   ーレートを検出する第４の工程と、 前記第１の工程で記録する記録パワーを変更するととも
   に、前記第１乃至第４の工程を繰り返して、エラーレー
   トの底部分の記録パワーを最適記録パワーとする第５の
   工程と、 を有することを特徴とする最適記録パワー検出方法。